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Jurandir Peinado
Objetivos da aprendizagem
Apresentar a ferramenta CEP dos processos de gerenciamento da qualidade, de
acordo com o capítulo 8 do PMBOK®
Jurandir Peinado
CEP: Controle Estatístico de Processos
O Controle Estatístico de Processo, bastante conhecido no ambiente industrial pelas
suas iniciais CEP (ou SPC, do original em inglês Statistical Process Control) é uma
técnica estatística para verificar a qualidade um produto (produto = bens + serviços)
durante o processo de produção.
do
Processo → conjunto formado por máquinas, material, mão de obra,
meio de medição, métodos e meio ambiente
O CEP pode ser utilizado para o controle de grandezas variáveis que podem
ser medidas, como dimensões ou peso, por exemplo. Neste caso, utilizam-se
os gráficos de controle das médias e das amplitudes das amostras retiradas
durante o processo produtivo.
Ajuste das máquinas: Uma máquina de costura pode ter um ajuste de tensão
de linha ou fio ou largura de ponto ligeiramente diferente de outra máquina, as
costuras naturalmente serão diferentes. O ajuste de um torno, de uma fresa,
de uma retífica, de uma máquina de rebitar em uma linha de produção,
também são fontes de variação. Pode-se dizer que o ajuste de máquinas é
uma rica fonte de variação que precisa ser mantida sob verificação constante.
Encaixe
difícil do
parafuso
Encaixe
fácil do parafuso
Processo fora de controle: Um processo está fora de controle quando existem causas
especiais de variação atuando. Em outras palavras, as variações existentes entre cada
um dos produtos fabricados não são naturais, portanto possíveis de serem identificadas
e devem ser corrigidas. As variações ocorridas podem estar ou não dentro das
tolerâncias exigidas nas especificações do produto. o controle estatístico de processo
adequadamente implantado e utilizado visa eliminar as causas especiais, antes que
saiam das tolerâncias aceitáveis e o produto seja rejeitado gerando custos
desnecessários ao produto.
2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 1
0 1 2 0 1 2
a - Histograma com poucos lançamentos b - Histograma com mais lançamentos
2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 1 1
0 1 2 0 1 2
c - Histograma com ainda mais lançamentos d - Histograma após certa quantidade de lançamentos
A média, conforme o próprio nome diz, informa uma medida de tendência central, ou seja, um
valor que representa a maioria dos elementos da amostra, Na simbologia utilizada em
estatística a média é representada através da letra x com uma barra sobre a mesma
Valores
Média
Amplitude
O desvio padrão e curva de distribuição normal são utilizados para estimar a porcentagem de
elementos com valores em função do grau de afasta-mento do valor da média
-1s +1s
Valores
-2s +2s
-3s +3s
68,26%
95,44%
99,74%
A B
Valores
Valores
Média Média
Amplitude Amplitude
C D
Valores
Valores
Média Média
Amplitude Amplitude
2. Estabelecer um plano para a retirada das amostras das peças do processo, cada
amostra deve ter um determinado número de peças.
LSC x A R LSC D4 R
LM x LM R
LIC x A R LIC D3 R
N 2 3 4 5 6 7 8 9 10 12 15 18 20
A 1,88 1,02 0,73 0,58 0,48 0,42 0,37 0,34 0,31 0,27 0,22 0,19 0,18
D4 3,27 2,57 2,28 2,11 2,00 1,92 1,86 1,82 1,78 1,72 1,65 1,61 1,59
D3 0 0 0 0 0 0,08 0,14 0,18 0,22 0,28 0,35 0,39 0,41
x i
x i 1
n
Onde:
x= média
xi = medida do iésimo elemento da amostra
n = número de elementos da amostra
Comprimento (mm) 150 149 151 149 147 145 150 149 151
Jurandir Peinado
LSC LSC
LM
LM
LIC LIC
LSC LSC
LM LM
LIC LIC
Jurandir Peinado
Capabilidade do processo
O termo capabilidade tem a ver com a busca de uma forma para controlar e medir qual a
capacidade que um processo tem para cumprir às exigências de uma determinada
especificação.
a c
b d
Especificação do projeto
Especificação do projeto
Este índice mede a folga existente entre os limites das especificações (dados pelo projeto) e
os limites das especificações do processo (dados pelos limites dos gráficos de controle).
LSE LIE
Cp
LSC LIC
11,5 LSE
Diferença na
especificação
10,4 LSC
10,0 LM
9,6 LIC
Diferença no
processo
8,5 LIE
Limites do
3σ 3σ processo
6σ 6σ
Limites do processo
O índice de capabilidade unilateral foi criado para medir a capacidade de um processo quando
o valor médio da especificação é diferente do valor da média dos gráficos de controle.
LSE x x LIE
Cpk min ;
LSC x x LIC
Supondo que o fabricante de eixos cilíndricos do exemplo anterior, deseje
produzir no mesmo processo, com LSC = 10,4; LM = 10,0 e LIC = 9,6; deseje
produzir eixos com especificação de medida do diâmetro seja de 10,5 ± 0,6
mm, calcular o Cpk.
Diferença na
especificação
LSE = 11,1
Diferença no
processo
LME = 10,5
10,4 LSC
10,0 LM
LSE = 9,9
9,6 LIC
Elementos da Amostras
Amostra 8:00 9:00 10:00 11:00 12:00 13:00 14:00 15:00 16:00
1 44 50 42 40 44 50 41 44 44
2 41 40 40 43 44 48 47 48 45
3 46 44 40 43 49 50 48 41 45
4 49 49 42 46 45 43 50 42 44
5 49 41 42 44 44 50 45 41 50
Média Amplitude
Amostra
gramas gramas
1 501 2
2 504 4
3 498 2
4 499 1
5 512 5
6 497 2
Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Média 10,42 10,50 10,48 10,39 10,44 10,40 10,37 10,41 10,39 10,37
Amplitude 0,22 0,19 0,24 0,21 0,18 0,15 0,19 0,20 0,22 0,32
Amostra 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Média 10,54 10,48 10,35 10,44 10,58 10,30 10,32 10,33 10,40 10,42
Amplitude 0,33 0,29 0,22 0,18 0,19 0,20 0,20 0,14 0,22 0,23
O gráfico P pode ser utilizado, por exemplo, em uma indústria de confecções que deseja
controlar o número de peças de roupas produzidas que apresentaram determinado defeito que
provocou a necessidade de retrabalho na roupa, ou a venda do produto como segunda linha
ou até o descarte da peça.
Muitas vezes pode ser necessário controlar o número de defeitos em cada uma das peças da
amostra, independentemente do tipo de defeito que a peça apresentou. Em outras palavras,
um ou dois pequenos defeitos podem passar despercebidos pelo consumidor, porém, ele vai
notar quando existirem, por exemplo, dez “defeitos leves”.
Defeito grave: defeito considerado não crítico que pode resultar em falha ou
reduzir substancialmente a utilidade da unidade de produto para o fim a que se
destina.
Quando se faz a contagem dos defeitos em uma única peça ou produto, os defeitos das
diferentes classes podem ser ponderados diferentemente. Neste caso cada empresa
estabelece os padrões que lhes convier.
C
Defeitos de cada elemento da amostra
Número de elementos da amostra
LSC C 3 C
C C
LM C
LIC C 3 C