CARACTERIZACIÓN DE MATERIALES

Scanning probe microscopy

ESCUELA DE METALÚRGICA

17/05/2019
CARACTERIZACIÓN DE MATERIALES
 CARACETRIZACIÓN POR MICROSCOPÍA
De sonda de barrido (spm).
Consiste en una sonda puntiaguda que barre la
superficie de una muestra, monitoreándose las
interacciones que ocurren entre la punta y la
muestra.

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 MICROSCOPÍA EFECTO DE TÚNEL
En 1981, microscopio de efecto
túnel. IBM-ZÜRICH.

Heinrich Rohrer y
Gerd Binnig.

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 MICROSCOPÍA EFECTO DE TÚNEL

EL STM:

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 MICROSCOPÍA EFECTO DE TÚNEL
Principio de operación de un STM: una punta muy
fina recorre la superficie de la muestra a una
corriente de túnel constante. A - Cambio en la
topografía. B - Variación de la altura de barrido
debido a un cambio en la estructura electrónica C.

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 MICROSCOPÍA EFECTO DE TÚNEL

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ESQUEMA GENERAL DEL
FUNCIONAMIENTO DE UN EQUIPO
STM.

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VENTAJAS DEL STM
• Tubo piezoeléctrico: superficie de nivel
• Imágenes a escala atómica.
• Perfilador 3D.
• Las imágenes dependen de la densidad
electrónica.
• Trabaja en vacío, aire, liquido etc.

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 APLICACIONES
El STM y AFM han sido utilizados en el área de
investigación científica, en el desarrollo de la
nanotecnología en diferentes industrias, así como en
áreas como la Microelectrónica, Nanolitografía, capas
ultradelgadas.
Además de aplicaciones en la física de
semiconductores, en química reacciones superficiales
como la catálisis, en medicina y biología a sido usado
para estudios de ADN, además en avances sobre los
estudios de la Nanoingeniería.

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 APLICACIONES

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 APLICACIONES

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 CONCLUCIONES
• Para el estudio de las superficies las técnicas
mas empleadas son STM, AFM, SEM y TEM.
• El AFM permite una topografía real atómica de la
superficie analizada.
• El STM permite un limite de resolución en la
dirección perpendicular a la superficie de 0.01
Ӑ; y la resolución horizontal por debajo de 2 Ӑ.
• Mediante la utilización de AFM no solo se pueden
tener imágenes a escala atómica sino que
también se pueden medir las fuerzas aplicadas
sobre un material a una escala de (nN)
• La fuerza entre la superficie y la muestra es
alrededor de 10⁻⁹N.

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 REFERENCIAS
nanocienciainforma.wordpress.comscielo.
org.co.
http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-
oin/microscopia-de-fuerza-atomica/otros-
recursos-1/Apuntes_STM_y_AFM_00.pdf.
ASM. METAL HANDBOOK VOL.18

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Thanks a lot
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