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Microscopio electrónico de barrido

Instrumento que permite la observación y caracterización superficial de materiales


inorgánicos y orgánicos, entregando información morfológica del material analizado. A
partir de él se producen distintos tipos de señal que se generan desde la muestra y se
utilizan para examinar muchas de sus características.

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El microscopio electrónico de barrido (scanning electron microscope,
SEM) se basa en la obtención de una imagen de la muestra a partir del
barrido de la misma con un haz de electrones, como resultado de las
interacciones entre los electrones incidentes y la muestra. El SEM se
compone de varios elementos básicos: un cañón de electrones con un
filamento emisor de electrones, lentes magnéticas que dirigen y
focalizan el haz de electrones sobre la muestra, sistema de barrido,
portamuestras móvil y con giro universal, sistemas de obtención de la
imagen y de análisis