Methoden der Angewandten Physik II

Optischer Spektrumanalysator und Halbleiterlaser mit externer Kavit at

Versuchstermin: 24.04.2013

Alexandra Haack (309955), Martin Kossick (319988), Oliver Kirsch (314717)

Betreuer: Dipl.-Phys. P. Moser

Berlin, 14. Mai 2013

Inhaltsverzeichnis
Inhaltsverzeichnis 1 Einleitung 2 Versuchsaufbau 2.1 2.2 2.3 OSA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ECL . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . DFB Laser . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 3 3 3 4 6 7 7 7 7 7 8 8

3 Durchf uhrung 3.1 3.2 3.3 3.4 Fabry Perot Laserdiode (FP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Distributed Feedback Laserdiode (DFB) . . . . . . . . . . . . . . . . External Cavity Laser (ECL) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Optischer Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

4 Auswertung 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 4.6 Zentralwellenl ange und spektrale Breite einer FP-Laserdiode . . . . .

Zentralwellenl ange und Seitenmodenunterdr uckung einer DFB-Laserdiode 11 ECL im Laserbetrieb . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13 ECL im Sweep-Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13 Einuss der Au osung des OSA auf das Messsignal . . . . . . . . . . 14 Ausmessen einer Filtercharakteristik . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 18 18

5 Zusammenfassung 6 Literatur

1 Einleitung
In diesem Versuch besch aftigen wir uns mit der spektralen Zerlegung und Untersuchung von Licht mittels eines optischen Spektrumanalysators (OSA: optical spectrum analyzer). Ein OSA stellt ein vollst andiges System aus Monochromator, Detektor, elektronischer Ansteuerung und elektronischer Datenverarbeitung und auswertung dar. Als Lichtquelle stehen verschiedene Laserdioden zur Verf ugung, insbesondere die eines Halbleiterlasers mit externer Kavit at (ECL: external cavity laser).

2 Versuchsaufbau
2.1 OSA
Ein optischer Spektrumanalysator (OSA) erm oglicht die Untersuchung elektrischer Signale im Frequenzbereich. Es lassen sich die in einem Signal vertretenen harmonischen Schwingungen ausndig machen und deren Amplituden messen. Die Spektren werden numerisch u ber die diskrete Fouriertransformation (DFT) aus den Abtastwerten der Signale berechnet. Es kann zudem eine Signalanalyse sowohl im Frequenzals auch im Zeitbereich durchgef uhrt werden. Der prinzipielle Aufbau eines optischen Spektrumanalysators ist in Abbildung 1 schematisch dargestellt.

Abb. 1. schematisches Blockdiagramm eines OSA

Das Eingangssignal unserer Lichtquelle wird zun achst durch einen wellenl angenselektiven optischen Filter geleitet. Dieser besteht zumeist aus einem Gittermonochromator. Nach der Wellenl angenselektion f allt das optische Signal auf einen Photodetektor, der das Signal in einen elektrischen Strom umwandelt. Anschlieend wird der Photostrom verst arkt und mittels eines A/D-Wandlers digitalisiert. Das Signal wird dann auf einem Bildschirm dargestellt, bei der die Leistung in Abh angigkeit der Wellenl ange abgebildet ist. Bei diesem Versuch stehen verschiedene Lichtquellen zur Verf ugung. Zur Durchf uhrungen werden die entsprechenden Laserdioden mittels Glasfaserkabeln mit dem OSA verbunden. Im folgenden Abschnitt wird nun genauer auf die verwendeten Laserdioden eingegangen.

2.2 ECL
F ur viele Anwendungen, insbesondere in der Spektroskopie und Daten ubertragung, ist es von herausragender Bedeutung nur eine einzige longitudinale Mode eines Halbleiterlasers anzuregen. Um dies zu erreichen, muss ein wellenl angenselektives Element in die Laserkavit at eingebaut werden. Der grunds atzliche Unterschied eines ECL zu einem herk ommlichen Halbleiterlaser besteht darin, dass der Laserchip eines ECLs auf einer Seite entspiegelt ist, so dass die Lichtwellen aus dem Kristall austreten k onnen. Uber eine externe Optik wird die austretende Strahlung geb undelt und auf ein Beugungsgitter geleitet, welches in einiger Entfernung zum Chip platziert ist. An diesem wird das Licht u ber die Optik in den Chip zur uckreektiert. Das Gitter bildet in Zusammenhang mit der Optik den externen Resonator des Lasers. Die Ober ache des Gitters ist so gestaltet, dass Licht unterschiedlicher Wellenl angen in verschiedenen Winkeln reektiert wird (Grating). Durch diese Ober achenbeschaenheit wird, abh angig vom Winkel, Licht einer bestimmten Wellenl ange zur Optik zur uckreektiert. Licht anderer Wellenl angen wird in einem anderen Winkel abgestrahlt. Dieses Verhalten ist in Abbildung 2 angedeutet.

Abb. 2. schematischer Aufbau eines ECL mit Littrow-Gitter

Die G ute des Gratings ist daher magebend f ur die spektrale Schmalbandigkeit des emittierten Lichtes. Des weiteren ist der Abstand des Gitters zum Laserchip magebend f ur die Wellenl ange des ausgesendeten Lichtes. Bei Ver anderung des Gitterwinkels muss ebenfalls der Abstand des Gitters zum Laserchip in der Art ver andert werden, dass bei unterschiedlichen Wellenl angen immer genau gleich viele Schwingungsz uge zwischen Laserchip und Gitter passen. Die Mechanik zur Winkelverstellung muss daher so gestaltet sein, dass gleichzeitig mit der Winkel anderung eine Abstands anderung stattndet. Durch eine Anderung des Winkels kann somit das vom Laser abgegebene Licht in seiner Wellenl ange ver andert werden. Diese Frequenz- bzw. Wellenl angen anderung ist durch die groe absolute L ange des externen Resonators sehr klein, die Wellenl ange l at sich hier uber sehr fein einstellen. Die f ur einen Laser typischen Nebenmoden auf denen der Laser, neben der Hauptmode, sehr stark ged ampft schwingt, liegen bei einem ECL durch die groe Resonatorl ange sehr nahe bei der Hauptmode.

2.3 DFB Laser

Im Gegensatz zu dem ECL-Laser wird bei dem DFB-Laser das wellenl angenselektive Element in den Laser selbst integriert. Hierzu wird in den Wellenleiter ein BraggGitter einge atzt, wodurch eine Brechungsindexvariation entlang der Ausbreitungsrichtung mit einer Periode von realisiert wird. Dies ist in Abbildung 3 schematisch dargestellt.

Abb. 3. schematische Darstellung des Aufbaus einer DFB-Laserdiode

Durch das Gitter werden hin- und r ucklaufende Welle aneinander gekoppelt. Die Braggwellenl ange B , bei der die maximale Reexion auftritt, ist durch die folgende Beziehung gegeben: =m( B ) 2nef f

Hierbei entspricht der Gitterperiode, m der Ordnung der Bragg-Reektion und nef f dem eektiven Brechungsindex der optischen Mode im Wellenleiterresonator. Bei jeder Reexion erf ahrt die Welle einen \2-Phasenschub. Da die Welle jedoch doppelt reektiert wird, tritt ein Phasenschub von insgesamt auf, wodurch eine destruktive Intereferenz vorliegt. Der Grad der Reexion h angt von der Wellenl ange ab. Das Plateau bei dem maximale Reektivit at vorliegt, wird als Stopband bezeichnet, in dem keine Emission m oglich ist. Es gibt immer zwei gleichberechtigte Moden, bei denen die Reektivit at Null ist und somit das Gitter keinerlei Eekt hat. Theoretisch gibt es noch weitere Moden, jedoch ist hier meist der Gain zu schwach, als dass sie relevant w aren. Um nun doch nur eine Mode zu erhalten, gibt es mehrere M oglichkeiten. Man kann z.B. ein \4-Segment in die Mitte der DFB-Struktur einf ugen. So wird nur noch die Braggwellenl ange B verst arkt.

3 Durchfu hrung
3.1 Fabry Perot Laserdiode (FP)
Es wurde das Spektrum einer FP-Laserdiode bei verschiedenen Str omen analysiert, wobei die Gr oe des Betriebsstroms jeweils zwischen dem Schwellstrom und dem ca. dreifachen des Schwellstroms liegt. Mittels der gewonnenen Daten wurde dann die Zentralwellenl ange und spektrale Breite f ur die jeweiligen Betriebsstr ome bestimmt.

3.2 Distributed Feedback Laserdiode (DFB)

Analog zur FP-Laserdiode wurde hier das Spektrum einer DFB-Laserdiode bei verschiedenen Str omen untersucht und anschlieend die jeweilige Zentralwellenl ange und Seitenmodenunterdr uckung bestimmt.

3.3 External Cavity Laser (ECL)

Es wurde das Spektrum eines ECL-Lasers mit Hilfe des OSA vermessen. Der eingestellte Sollwert der Zentralwellenl ange des verwendeten ECL-Lasers betr agt ECL = 1380 nm. Es wurden ferner Messungen im Sweep-Modus sowie Messungen bei verschiedenen nominellen Au osungen des OSA durchgef uhrt. Die Messungen mit verschieden Au osungen des OSA wurden anschlieend mit einer breitbandig emittierenden Weilichtquelle wiederholt. Die Weilichtquelle hat im untersuchten Wellenl angenbereich eine weitgehend konstante Spektrale Intensit at.

3.4 Optischer Filter

Abschlieend wurde die Durchlasskurve eines Filter analysiert unter Verwendung der FP-Laserdiode, die unterhalb der Laserschwelle betrieben wurde.

4 Auswertung
4.1 Zentralwellenl ange und spektrale Breite einer FP-Laserdiode
Die FP-Laserdiode wurde bei 3 verschiedenen Str omen (11 mA, 20 mA, 29 mA) betrieben und es wurde das jeweilige Spektrum aufgenommen. Mit Hilfe der MarkerFunktion des OSA wurden jeweils Leistung und Wellenl ange ermittelt. Es werden nur Moden ber ucksichtigt, die mehr als 10% der Leistung bezogen auf die maximale Mode aufweisen. Es ergeben sich folgende Spektren:

Abb. 4. Spektrum einer FP-Laserdiode bei 11 mA

Abb. 5. Spektrum einer FP-Laserdiode bei 20 mA

Abb. 6. Spektrum einer FP-Laserdiode bei 29 mA

Mit Hilfe der folgenden Formeln k onnen nun die Zentralwellenl ange und die spektrale Breite der FP-Laserdiode zu den jeweiligen Betriebsstr omen berechnet werden:

c = =

Pi i Pi (Pi (i C )2 Pi

Es ergeben sich folgende Werte: C (11 mA) = 1539.67 nm C (20 mA) = 1541.85 nm C (29 mA) = 1543.01 nm (11 mA) = 1.14 nm (20 mA) = 0.82 nm (29 mA) = 1.38 nm

Man erkennt deutlich, dass sich mit zunehmendem Strom die Zentralwellenl ange zu h oheren Wellenl angen verschiebt. Erkl art werden k onnte dies einerseits durch eine Ausdehnung des Resonators, induziert durch z.B. eine W armeausdehnung des Diodenmaterials. Dadurch nimmt die Wellenl ange der verst arkten Moden zu. Andererseits andert sich mit der Temperatur auch das Verst arkungsprol des Lasers. Mit h oherer Temperatur verringert sich der Bandabstand, wodurch sich das Maximum des Verst arkungsprol zu l angeren Wellenl angen verschiebt. Da beide Anderungen verschieden stark Einu auf den Laser nehmen, werden je nach Temperatur unterschiedliche Resonatormoden verst arkt. Es werden mit hoher Wahrscheinlichkeit immer jene Moden verst arkt, die in der N ahe des Maximums 9

des Verst arkungsprols liegen. FP-Lasermoden statistische Schwankungen blabla erkl aren. Dadurch kann es zu Modenspr ungen nach Durchschreiten eines bestimmten Parameterbereichs kommen. Neben einer Erh ohung der Temperatur durch zunehmenden Diodenstrom kommt es auch zur einer Erh ohung der Ladungstr agerkonzentration und somit zu einer periodischen Anderung des Brechungsindex im Lasermedium. Diese Anderung entspricht einer Variation der optischen Wegl ange im Resonator, was ebenfalls zu einer Anderung der Wellenl ange f uhrt. Die spektrale Breite f allt mit zunehmendem Betriebstrom zuerst ab und steigt danach an. Dies spiegelt sich auch in den Spektren wieder. Bei 11 mA und 20 mA sind 4 leistungsstarke Moden erkennbar, wobei bei 20 mA die Dierenz zwischen den Moden weitaus signikanter ist, was die geringere spektrale Breite erkl art. Bei 20 mA sind 5 leistungsstarke Moden erkennbar, die spektrale Breite ist gr oer im Vergleich zu 11 mA und 20 mA. Zu erwarten w are eigentlich eine Zunahme der spektralen Breite mit zunehmendem Betriebsstrom, da sie ebenso wie die Zentralwellenl ange durch die optische L ange des Laserresonators, seiner Brechzahl und geometrischer L ange bestimmt wird. Die Schwankungen der spektralen Breite sind daher vermutlich die statistische Natur der Modenanregung oder thermische Eekte zur uckzuf uhren. Um dies zu vermeiden sollten zur Auswertung statt einer Messung mehrere Messungen verwendet werden.

10

4.2 Zentralwellenl ange und Seitenmodenunterdr uckung einer DFB-Laserdiode

In diesem Versuchsabschnitt wurde das Spektrum einer DFB-Laserdiode zu je drei verschiedenen Betriebsstr omen aufgenommen. In den folgenden Spektren wird die
P logarithmische Leistungeinheit dBm (1 dBm = 10 log ( 1 mW )) verwendet zur besse-

ren Darstellung der Seitenmoden.

Abb. 7. Spektrum einer DFB-Laserdiode bei 11 mA

Abb. 8. Spektrum einer DFB-Laserdiode bei 20 mA

11

Abb. 9. Spektrum einer DFB-Laserdiode bei 29 mA

Anschlieend wurde die Zentralwellenl ange analog zur FP-Laserdiode und die Seitenmodenunterdr uckung ermittelt. Letztere berechnet sich aus dem Leistungsverh altnis der Hauptmode zur intensit atsst arksten Seitenmode in dB (1dB = 10log( PHauptmode ). N ebenmode Es ergeben sich folgende Werte: C (11 mA) = 1550.06 nm Seitenmodenunterdr uckung bei 11 mA: 28.20 dB C (20 mA) = 1550.14 nm Seitenmodenunterdr uckung bei 20 mA: 41.29 dB C (29 mA) = 1550.28 nm Seitenmodenunterdr uckung bei 29 mA: 44.09 dB Auch bei der DFB-Laserdiode verschiebt sich die Zentralwellenl ange mit steigendem Strom zu h oheren Wellenl angen. Wie bei der FP-Laserdiode ist hierf ur die stromin duzierte Temperatur anderung und damit einhergehend die Anderung der optischen Wegl ange der Kavit at als auch der Gitterkonstante verantwortlich. Der Einuss der Temperatur anderung auf das Verst arkungsprol ist jedoch minimiert, da Modenspr unge durch das einge atzte Gitter auszuschlieen sind. Daher ist die Verschiebung der Zentralwellenl ange mit steigendem Strom geringer als bei der FP-Laserdiode. Anhand der Auswertung der Seitenmodenunterdr uckung ist deutlich zu erkennen, dass mit zunehmenden Strom diese steigt und die Hauptmode st arker dominiert.
P

12

4.3 ECL im Laserbetrieb

Der ECL wird in Laserbetrieb bei einer eingestellten Soll-Wellenl ange von ECL = 1378.00 nm genommen. Am OSA messen wir eine Wellenl ange von OSA = 1377.98 nm, was der eingestellten Wellenl ange sehr genau entspricht. Die Dierenz zwischen eingestellter und gemessener Wellenl ange ist auf die Kalibrierung des OSA und des ECL zur uckzuf uhren.

4.4 ECL im Sweep-Mode

Um die Funktion der maximal m oglichen Laserausgangsleistung des ECL in Abh angigkeit der Wellenl ange zu bestimmen, betreiben wir den OSA im Sweep-Mode. Hier kann ein automatisches Durchstimmen der Wellenl ange vorgenommen werden. Das Resultat ist in Abb. 10 zu sehen.

Abb. 10. Spektrum des ECL

Es ist ersichtlich, dass der ECL u ber ein breites, kontinuierliches Gewinnspektrum verf ugt in einem Wellenl angenbereich zwischen circa 1260 nm und 1380 nm mit einer deutlichen Abh angigkeit der Ausgangsleistung von der Wellenl ange. Die Einbr uche im Kurvenlauf sind h ochstwahrscheinlich auf Woods-Anomalien zur uckzuf uhren. Schaut man sich das Leistungsprol genauer an, gleicht es einer Uberlagerung aus mehreren gauf ormigen Verteilungen. Mit Hilfe des Programms Peak-O-Mat t ten wir das Prol an. Die beste Ubereinstimmung erhalten wir bei einem Prol mit 3 gauf ormigen Verteilungen, was auf verschiedene Diodenmaterialien hinwei13

sen w urde. Eindeutig l asst sich jedoch sagen, dass der ECL im Bereich von 1330 nm die gr ote Ausgangsleistung besitzt.

Abb. 11. Spektrum des ECL und Fit mit 3 gauf ormigen Verteilungen

4.5 Einuss der Au osung des OSA auf das Messsignal

In dieser Versuchsdurchf uhrung vermessen wir das Spektrum des ECL bei verschiedenen nominellen Au osungen des OSA. Alle anderen Parameter, wie Sweep Time und Sensitivity, bleiben unver andert. Es ergeben sich folgende Spektren.

Abb. 12. Spektrum des ECL bei verschieden Au osungen des OSA

14

Man erkennt deutliche eine Plateu-Bildung mit gr oer werdender Au osung des OSA. Dies l asst sich durch folgenden Sachverhalt veranschaulichen: Das am Austrittsspalt des OSA gemessene Bild entspricht einer Faltung des am Detektor eintreenden Messsignals mit der Detektorau osung. Die Au osung des Detektors h angt dabei von der Spaltbreite ab. Vergr oert man die Breite des Ausgangsspalts, so trit bei einer bestimmten Stellung des Gitters ein gr oerer Winkelbereich der gebeugten Strahlung auf den Detektor. Es bildet sich ein Plateau aus, dessen Breite proportional zur Breite des Ausgangsspalts ist. Die Breite des Ausgangsspalts korreliert somit antiproportional mit der Au osung des OSA. Allerdings muss hier auch die Breite des Eingangsspalts ber ucksichtigt werden, da dieser auf den Ausgangsspalt abgebildet wird. Je breiter der Eingangsspalt ist, desto mehr u angen. berlappen sich die am Gitter gebeugten Bilder benachbarter Wellenl Ferner ist aus den Spektren ersichtlich, dass das vom ECL kommende Lasersignal auf einen gr oeren Spektralbereich als 0.2 nm ausgedehnt ist, da die Maximalintensit at hin zu geringerer Au osung gr oer wird.

W ahlt man nun als Lichtquelle Weilicht, zeigt diese bei verschieden eingestellten Au osungen des OSA ein deutlich anderes Verhaltenderen. Erh oht man die Au osung des OSA, steigt die Lichtleistung linear an. Dies ist in der folgenden Abbildung erkennbar.

Abb. 13. Lichtleistung einer Weilichtquelle in Abh angigkeit von der Au osung des OSA

15

Dieses Verhalten liegt in der konstanten spektralen Intensit at der Weilichtquelle im untersuchten Wellenl angenbereich begr undet. Wird eine gr obere Au osung verwendet, so f allt relativ zu der feineren Au osung eine gr oere Menge Weilicht auf den Detektor und tr agt zur gemessenen Intensit at bei. Auf Basis der 4 Messwerte haben wir einen Fit erstellt (siehe obige Abbildung). Aus dem Anstieg des Fits ergibt sich f ur die spektrale Leistung der Weilichtquelle ein Wert von (126 4) pW/nm.

4.6 Ausmessen einer Filtercharakteristik

Im abschlieenden Versuchsteil verwenden wir eine FP-Laserdiode um die Charakteristik eines Filters auszumessen. Die Laserdiode wird unterhalb des Schwellstroms bei 8 mA betrieben. In den folgendenen Abbildungen ist das gelterte und ungelterte Spektrum der Laserdiode dargestellt.

Abb. 14. Spektrum einer FP-Laserdiode unterhalb der Laserschwelle: ungeltert (rot), geltert (schwarz)

16

Abb. 15. Durchlasskurve eines Filters

Um die Filterfunktion (Durchlasskurve) zu bestimmen, wird das gelterte durch das ungelterte Signal dividiert. Das Ergebnis ist in der obigen Abbildung dargestellt. Wie zu erkennen ist handelt es sich um einen optischen Bandpasslter mit einer ann ahernd gauf ormigen Durchlasskurve. Mit Hilfe des Programms Peak-O-Mat wurde die Filterfunktion angettet. Sie hat ein Maximum bei 0 = 1552.0 nm und eine Halbwertsbreite von 12.9 nm.

17

5 Zusammenfassung
Im Rahmen dieses Versuchs konnten erfolgreich verschiedene Spektren einer FPLaserdiode und einer DFB-Laserdiode aufgenommen und untersucht werden. Die eingesetzte FP-Laserdiode hat eine Zentralwellenl ange von F P 1542 nm im Laserbetrieb. Die verwendete DFB-Laserdiode besitzt eine Zentralwellenl ange von DF B 1550 nm im Laserbetrieb bei einer relativ hohen Seite nmodenunterdr uckung von ca. 40 dB . Ferner wurde das spektrale Verhalten einer FP-Laserdiode mit externer Kavit at (ECL) untersucht. Die tats achlich gemessene Wellenl ange des ECL weicht nur sehr gering mit = 0.02mn von der eingestellten Sollwellenl ange von ECL = 1378.00 nm ab. Ein kontinuierlich-einstellbarer Laserbetrieb im Wellenl angenbereich von 1260 nm bis 1380 nm ist mit einer gewissen Leistungsabh angigkeit von der Wellenl ange m oglich. Die gr ote Ausgangsleistung besitzt der ECL im Bereich von 1330 nm. Dar uberhinaus wurde der Einuss der Au osung des OSA auf das Messsignal untersucht. Es konnte festgestellt werden, dass es ab einer Au osung gr oer als 0.1 nm zur Plateau-Bildung kommt. Im Vergleich dazu wurde die spektrale Leistung einer Weilichtquelle untersucht. Bei dieser steigt die Lichtleistung linear mit steigender Au osung an. Es ergibt sich f ur die spektrale Leistung ein Wert von (126 4) pW/nm. Abschlieend wurde eine Filter charakteristisch ausgemessen. Es handelt sich bei dem verwendeten Filter um einen optischen Bandpasslter mit einer ann ahernd gauf ormigen Durchlasskurve bei 0 = 1552.0 nm mit einer Halbwertsbreite von 12.9 nm.

6 Literatur
[1] AP-Skript, Optischer Spektrumanalysator und Halbleiterlaser mit externer Ka vit at. [2] H. J. Eichler, J. Eichler, Laser: Bauformen, Strahlf uhrung, Anwendungen, 7.Auage (Springer,2010).

18