DEUTSCHE NORM März 1996

Elektroisolierstoffe
Bestimmung der Wirkung ionisierender Strahlung ß
Teil 1: Einfluß der Strahlenwirkung und Dosimetrie
(IEC 544-1:1994) Deutsche Fassung EN 60544-1:1994 EN 60544-1
Diese Norm ist zugleich eine VDE-Bestimmung im Sinne von VDE 0022. Sie ist nach Klassifikation

® Durchführung des vom VDE-Vorstand beschlossenen Genehmigungsverfahrens unter

nebenstehenden Nummern in das VDE-Vorschriftenwerk aufgenommen und in der etz VDE 0306
Elektrotechnische Zeitschrift bekanntgegeben worden. Teil 1

Diese Norm enthält die deutsche Übersetzung der Internationalen Norm IEC 544-1

ICS 29.040.20

Deskriptoren: Elektroisolierstoff, Bestrahlung, ionisierende Strahlung,

Prüfverfahren, Dosimetrie

Electrical insulating materials –

Determination of the effects of ionizing radiation –
Part 1: Radiation interaction and dosimetry
(IEC 544-1:1994);
German version EN 60544-1:1994

Matériaux isolants électriques –

Détermination des effets des rayonnements ionisants –
Partie 1: Interaction des rayonnements et dosimétrie
(CEI 544-1:1994);
Version allemande EN 60544-1:1994

Die Europäische Norm EN 60544-1:1994 hat den Status einer Deutschen Norm.

Beginn der Gültigkeit

Die EN 60544-1 wurde am 1994-07-05 angenommen.
Norm-Inhalt war veröffentlicht als E DIN EN 60544-1 (VDE 0306 Teil 1):1994-02.

Fortsetzung Seite 2 und

29 Seiten EN

Deutsche Elektrotechnische Kommission im DIN und VDE (DKE)

Normenausschuß Kerntechnik (NKe) im DIN Deutsches Institut für Normung e. V.

 DIN Deutsches Institut für Normung e.V. und VDE Verband Deutscher Elektrotechniker e.V. Ref. Nr. DIN EN 60544-1 (VDE 0306 Teil 1):1996-03
Preisgr. 20 K
VDE-Vertr.-Nr. 0306003
Beuth-Vertr.-Nr. 3320
Seite 2
DIN EN 60544-1 (VDE 0306 Teil 1):1996-03

Nationales Vorwort
Diese Norm enthält die Deutsche Fassung der EN 60544-1:1994, in der die Internationale Norm IEC 544-1, 2. Aus-
gabe 1994, „Electrical insulating materials – Determination of the effects of ionizing radiation – Part 1: Radiation
interaction and dosimetry“, unverändert übernommen worden ist.
Für die vorliegende Norm ist in Deutschland das nationale Arbeitsgremium AK 181.1.22 „Verhalten gegen ionisie-
rende Strahlung“ des UK 181.1 „Prüfverfahren für feste Isolierstoffe“ der DKE zuständig.
Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ist nachstehend wiederge-
geben.
Für den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Aus-
gabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verwei-
sung auf die jeweils neueste gültige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm.
Für den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug
genommene Ausgabe der Norm.
Zum Zeitpunkt der Veröffentlichung dieser Norm waren die angegebenen Ausgaben gültig.

Klassifikation im
Europäische Norm Internationale Norm Deutsche Norm
VDE-Vorschriftenwerk
– IEC 544-2:1991 DIN IEC 544-2 VDE 0306 Teil 2
(VDE 0306 Teil 2):1996-03
– IEC 544-4:1985 DIN VDE 0306-4 VDE 0306 Teil 4
(VDE 0306 Teil 4):1987-04

Nationaler Anhang NA (informativ)

Literaturhinweise
DIN IEC 544-2 Leitlinie zur Bestimmung der Wirkung ionisierender Strahlung auf Isolierstoffe –
(VDE 0306 Teil 2) Teil 2: Verfahren zur Bestrahlung und Prüfung;
(IEC 544-2:1991)
DIN VDE 0306-4 Leitlinie zur Bestimmung der Wirkung ionisierender Strahlung auf Isolierstoffe –
(VDE 0306 Teil 4) Klassifikationssystem für den Einsatz unter Strahlung;
Identisch mit IEC 544-4, Ausgabe 1985
EUROPÄISCHE NORM EN 60544-1
EUROPEAN STANDARD
NORME EUROPÉENNE Oktober 1994

ICS 29.040.20
Deskriptoren: Elektroisolierstoff, Strahlungswiderstand, Ionisierungsstrahlung, Wechselwirkung, radioaktive Dosis,
Dosimetrie, Röntgenstrahlung, Gammastrahlung, Berechnung, elektromagnetische Absorption

Deutsche Fassung

Elektroisolierstoffe – Bestimmung der Wirkung ionisierender Strahlung

Teil 1: Einfluß der Strahlenwirkung und Dosimetrie
(IEC 544-1:1994)

Electrical insulating materials Matériaux isolants électriques

Determination of the effects of ionizing radiation Détermination des effets des rayonnements ionisants
Part 1: Radiation interaction and dosimetry Partie 1: Interaction des rayonnements et dosimétrie
(IEC 544-1:1994) (CEI 544-1 : 1994)

Diese Europäische Norm wurde von CENELEC am 1994-07-05 angenommen.

Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschäftsordnung zu erfül-
len, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europäischen Norm ohne
jede Änderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist.
Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographi-
schen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf
Anfrage erhältlich.
Diese Europäische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch,
Französisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied
in eigener Verantwortung durch Übersetzung in seine Landessprache gemacht und dem
Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen
Fassungen.
CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien,
Dänemark, Deutschland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien,
Luxemburg, den Niederlanden, Norwegen, Österreich, Portugal, Schweden, der Schweiz,
Spanien und dem Vereinigten Königreich.

CENELEC
Europäisches Komitee für Elektrotechnische Normung
European Committee for Electrotechnical Standardization
Comité Européen de Normalisation Electrotechnique

Zentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brüssel

 1994 Das Copyright ist den CENELEC-Mitgliedern vorbehalten Ref. Nr. EN 60544-1:1994 D
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EN 60544-1:1994

Vorwort
Der Text des Schriftstücks IEC 15B(CO)91, wie ausgearbeitet vom Unterkomitee 15B: Endurance tests, des Tech-
nischen Komitees der IEC Nr. 15: Insulating materials, wurde im Oktober 1993 der IEC-CENELEC Parallelen
Abstimmung unterworfen.
Das Referenzdokument wurde von CENELEC am 5. Juli 1994 als EN 60544-1 genehmigt.
Nachstehende Daten wurden festgelegt:
– spätestes Datum der Veröffentlichung
einer identischen nationalen Norm (dop): 1995-07-01
– spätestes Datum für die Zurückziehung
entgegenstehender nationaler Normen (dow): 1995-07-01
Für Erzeugnisse, die vor 1995-07-01 der einschlägigen nationalen Norm entsprochen haben, wie durch den Her-
steller oder durch eine Zertifizierungsstelle nachgewiesen, darf diese vorhergehende Norm für die Fertigung bis
2000-07-01 noch weiter angewendet werden.
Anhänge, die als „normativ“bezeichnet sind, gehören zum Norm-Inhalt. Anhänge die als „informativ“bezeichnet
sind, enthalten nur Informationen.
In dieser Norm sind die Anhänge A, B und ZA normativ, und Anhang C ist informativ.

Anerkennungsnotiz
Der Text der Internationalen Norm IEC 544-1:1994 wurde von CENELEC als Europäische Norm ohne irgendeine
Abänderung genehmigt.
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Inhalt
Seite
Einleitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
1 Anwendungsbereich und Zweck . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
2 Normative Verweisungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
3 Begriffe [15] *) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
4 Gesichtspunkte bei der Bestimmung der Strahlenbeständigkeit von Isolierstoffen . . . . . . . . . . . 5
4.1 Messung des Strahlenfeldes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
4.2 Messung der Energiedosis und der Energiedosisleistung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
4.3 Strahleninduzierte Veränderungen und ihre Messung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
5 Dosimetrie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
5.1 Allgemeines . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
5.2 Absolutmethoden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
5.3 Relative Methoden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
5.4 Empfohlene Methoden zur Messung der Energiedosis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
6 Berechnung der Energiedosis bei Röntgen- oder Gammastrahlung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
6.1 Allgemeines . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
6.2 Berechnung der Energiedosis aus der Ionendosis [13], [14]. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
6.3 Berechnung der Energiedosis in einem Werkstoff aus derjenigen in einem anderen . . . . . . . . . . . . . . 9
6.4 Tiefendosisverteilung (Einschränkungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
7 Dosisbestimmung bei Elektronenstrahlen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
7.1 Allgemeines . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
7.2 Empfohlene Verfahren für die Elektronenstrahldosimetrie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
7.3 Bestrahlung mit Elektronenstrahlen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
7.4 Methoden zur Messung der Tiefendosisverteilung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
Tabellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13 bis 18
Bilder 19 bis 22
Anhang A (normativ) Dosisaufbaubereich und Sekundärelektronengleichgewicht . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Anhang B (normativ) Ableitung der Numerischen Faktoren fi 27
Anhang C (informativ) Literaturhinweise 28
Anhang ZA (normativ) Andere in dieser Norm zitierte internationale Publikationen mit den
Verweisungen auf die entsprechenden europäischen Publikationen . . . . . . . . . . . 29
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Einleitung
Die Erarbeitung geeigneter Kriterien für die Bestimmung der Strahlenbeständigkeit von Elektroisolierstoffen ist
sehr komplex, da derartige Kriterien von den Bedingungen abhängen, unter denen die Werkstoffe eingesetzt wer-
den. Wird beispielsweise ein isoliertes Kabel beim Brennelementwechsel in einem Kernreaktor gebogen, so wird
die Gebrauchsdauer diejenige Zeit sein, in der das Kabel eine Energiedosis erhält, die eine oder mehrere der für
die Flexibilität relevanten mechanischen Eigenschaften bis zu einem bestimmten Grad verschlechtert. Die Ein-
satztemperatur, die Zusammensetzung der umgebenden Atmosphäre und die Zeitspanne, in der die Energiedosis
erhalten wird (abhängig von Dosisleistung oder Fluß ), sind wichtige Faktoren für die Geschwindigkeit und den
Mechanismus der strahleninduzierten chemischen Veränderungen. In einigen Anwendungsfällen wird die Anwen-
dung durch vorübergehende Veränderungen begrenzt.
Zuerst müssen die Strahlenfelder, denen die Werkstoffe ausgesetzt sind, und die von den Werkstoffen empfan-
gene Energiedosis definiert werden. Danach müssen Verfahren für die Prüfung mechanischer und elektrischer
Eigenschaften erarbeitet werden, die die Veränderungen des Werkstoffs durch die Strahlung erfassen, und es
muß ein Zusammenhang zwischen diesen Eigenschaften und den praktischen Erfordernissen hergestellt werden,
um ein geeignetes Klassifikationssystem zu erhalten.
Dieser Teil der IEC 544 ist Einführungsteil in eine Reihe, die sich mit der Wirkung ionisierender Strahlung auf Iso-
lierstoffe befaß t. IEC 544-2 beschreibt ein Verfahren zur Einstellung und Kontrolle verschiedener Bedingungen
während der Bestrahlung, so daß die gewünschte Beanspruchung erhalten wird. Ferner werden bestimmte wich-
tige Bestrahlungsbedingungen, die Prüfverfahren zur Bestimmung der Eigenschaftsänderungen und zugehörige
Eigenschaftsgrenzwerte festgelegt. IEC 544-3:1979 wurde in die zweite Ausgabe von IEC 554-2 integriert. In
IEC 544-4 wird ein Klassifikationssystem hinsichtlich der Strahlenbeständigkeit von Isolierstoffen festgelegt. Es
enthält eine Reihe von Parametern zur Kennzeichnung der Brauchbarkeit für den Einsatz unter Strahlung. Es ist
eine Leitlinie für die Auswahl und die Kennzeichnung von Isolierstoffen und für deren Spezifikation.

1 Anwendungsbereich und Zweck

Dieser Teil von IEC 544 befaß t sich eingehend mit den Gesichtspunkten, die bei der Ermittlung der Wirkung ioni-
sierender Strahlung auf alle Arten organischer Elektroisolierstoffe zu berücksichtigen sind. Er enthält ferner für
Röntgen-, Gamma- und Elektronenstrahlen eine Einführung in die Begriffe der Dosimetrie, eine Übersicht über die
gebräuchlichen dosimetrischen Verfahren und eine Anleitung zur Berechnung der Energiedosis.

2 Normative Verweisungen
Folgende Normen enthalten Festlegungen, die durch Verweisung in diesem Text Bestandteil der dieses Teiles der
IEC 544 sind. Zum Zeitpunkt der Veröffentlichung dieser Norm gelten die angegebenen Ausgaben. Alle Normen
unterliegen der Überarbeitung, und Anwender dieser Norm werden gebeten, die jeweils neueste Ausgabe der im
folgenden genannten Normen anzuwenden. Mitglieder von IEC und ISO führen Verzeichnisse der gültigen Inter-
nationalen Normen.
IEC 544-2:1991 Guide for determining the effects of ionizing radiation on insulating materials –
Part 2: Procedures of irradiation and test
IEC 544-4:1985 Guide for determining the effects of ionizing radiation on insulating materials –
Part 4: Classification system for service in radiation environments

3 Begriffe [15] *)
Für die Anwendung dieser Norm gelten folgende Definitionen.
3.1 Ionendosis (X): Die Ionendosis ist ein Maß für ein elektromagnetisches Strahlenfeld (Röntgen- oder Gam-
mastrahlen), dem ein Werkstoff ausgesetzt wird. Die Ionendosis ist der Quotient aus dQ und dm, wobei dQ der
Absolutwert der gesamten elektrischen Ladung der Ionen eines Vorzeichens ist, die in Luft der Masse dm gebildet
wird, wenn in diesem Masseelement alle Elektronen (und Positronen), die durch die Photonen freigesetzt werden,
komplett gestoppt werden:
dQ
X=
dm

Die SI-Einheit der Ionendosis ist Coulomb (C) je Kilogramm: C/kg. Die alte Einheit ist Röntgen (R), dabei gilt:
1 R = 2,58 × 10– 4 C/kg.

*) Die in Rechteckklammern angegebene Zahl verweist auf die im Anhang C aufgeführte Literatur.
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Die Ionendosis beschreibt daher die Wirkung eines elektromagnetischen Feldes auf Materie in Form der Ionisa-
tion, die die Strahlung im Referenzmaterial Luft erzeugt.
3.2 Elektronenladungsfluß (Q'): Die Elektronenladung dQ, die während der Zeit t die Fläche dA durchdringt,
dividiert durch dA:
dQ
Q′ =
dA
3.3 Elektronenstromdichte (j): Der Elektronenladungsfluß dQ' im Zeitintervall dt, dividiert durch dt.
d Q′ d2 Q
j= =
dt dA dt
3.4 Energiedosis (D): Die Energiedosis ist ein Maß für die vom bestrahlten Werkstoff aufgenommene Energie,
unabhängig von der Art des Strahlenfeldes. Die Energiedosis D ist der Quotient aus dε und dm, wobei dε die mitt-
lere Energie bedeutet, die von der ionisierenden Strahlung auf den Werkstoff in einem Massenelement dm über-
tragen wird:
dε
D=
dm
Die SI-Einheit ist Gray (Gy). Die alte Einheit ist Rad (rd):
1 Gy = 1 J · kg– 1 (= 102 rd).
Diese Definition für die Energiedosis berücksichtigt die Art des absorbierenden Stoffes nicht, und das Gray kann
nur mit Bezug auf ein bestimmtes Material verwendet werden. Die Energiedosis wird von der Zusammensetzung
des bestrahlten Materials mitbestimmt. In demselben Strahlenfeld erhalten daher verschiedene Materialien
gewöhnlich unterschiedliche Energiedosiswerte.
.
3.5 Energiedosisleistung (D) : Ableitung der Energiedosis dD nach der Zeit dt:
• dD
D=
dt
Die SI-Einheit der Energiedosisleistung ist Gray durch Sekunde oder Watt durch Kilogramm:
1 Gy · s– 1 = 1 W · kg– 1 (= 102 rd · s– 1 = 0,36 Mrd · h– 1).

4 Gesichtspunkte bei der Bestimmung der Strahlenbeständigkeit von Isolierstoffen

4.1 Messung des Strahlenfeldes

Für die verschiedenen Strahlenarten wird das jeweilige Strahlenfeld unterschiedlich beschrieben.
4.1.1 Ein elektromagnetisches Strahlenfeld kann mit Hilfe der Photonenfluß dichte und der Energieverteilung
beschrieben werden, jedoch ist es üblich, die Felder von Röntgen- und Gammastrahlen bis zu Energien von 3 MeV
durch die ionisierende Wirkung auf Luft zu beschreiben. Dafür wird die Größ e „Ionendosis“verwendet.
4.1.2 Ein Teilchenfeld wird gewöhnlich durch die Fluß dichte charakterisiert. Wenn die Teilchen eine Energiever-
teilung besitzen, etwa bei Elektronenstrahlen, werden zusätzliche Informationen über das Energiespektrum benö-
tigt.
4.1.3 In jedem Fall muß das Strahlenfeld so charakterisiert werden, daß die Energiedosis irgendeines in diesem
Feld bestrahlten Werkstoffes errechnet werden kann. Wenn unterschiedliche Werkstoffe demselben Fluß von Pho-
tonen oder Teilchen ausgesetzt werden, können sie unterschiedliche Energiemengen absorbieren. Es werden
daher Standardmethoden zur Messung dieser Charakteristika der Strahlenfelder beschrieben. Abschnitt 5 enthält
zu diesem Zweck eine Zusammenstellung von Methoden der Strahlendosimetrie mit Literaturhinweisen.

4.2 Messung der Energiedosis und der Energiedosisleistung

Im Rahmen der Strahlungsmeß technik liefern Strahlendetektoren, wie Ionisationskammern, Kalorimeter oder che-
mische Dosimeter, Meß werte, aus denen die Energiedosis bzw. die Energiedosisleistung für einen bestrahlten
Werkstoff berechnet werden können. Abschnitt 5 enthält zuverlässige herkömmliche Strahlungsmessmethoden.
Abschnitt 6 enthält werkstoff- und energieabhängige Umrechnungsfaktoren für die Berechnung der Energiedosis
oder der Energiedosisleistung in Werkstoffen aus den Meß werten für Röntgen- und Gammastrahlung, während
Abschnitt 7 Bestimmungsmethoden für Elektronenstrahlung behandelt.

4.3 Strahleninduzierte Veränderungen und ihre Messung

Obwohl die Wechselwirkung verschiedener Strahlenarten mit Materie in unterschiedlicher Weise verläuft, ist der
Primärprozeß stets die Bildung von Ionen und angeregten Zuständen der Moleküle, aus denen sich freie Radikale
bilden können. Ferner werden Elektronen freigesetzt, die an Stellen niedriger Potentialenergie eingefangen wer-
den. Das erste Phänomen führt zu bleibenden chemischen Änderungen des Materials und der elektrischen und
mechanischen Eigenschaften. Das zweite Phänomen führt zu vorübergehenden Änderungen elektrischer
Gebrauchseigenschaften [10].
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4.3.1 Bleibende Veränderungen

In polymeren Werkstoffen führt die Bildung freier Radikale während der Bestrahlung zu Abbau- und Vernetzungs-
prozessen, die die chemische Struktur des Isolierstoffes verändern, was im allgemeinen zur Verschlechterung der
mechanischen Eigenschaften führt. Diese Verschlechterung führt häufig zu bedeutenden Änderungen der elektri-
schen Eigenschaften. Jedoch können Änderungen wichtiger elektrischer Eigenschaften schon vor einer deutlichen
Verschlechterung der mechanischen eintreten. So kann eine Änderung des Verlustfaktors oder der Dielektrizitäts-
zahl die Funktion eines Resonanzkreises erheblich beeinträchtigen. Das Ausmaß an Spaltung und Vernetzung
hängt von der Energiedosis, der Energiedosisleistung, der Geometrie des Materials und von den Umgebungsbe-
dingungen während der Bestrahlung ab. Da die freien Radikale manchmal langsam zerfallen, muß mit weiteren
Veränderungen durch Nachreaktionen nach Beendigung der Bestrahlung gerechnet werden.

4.3.1.1 Umgebungsbedingungen und Materialgeometrie

Die Umgebungsbedingungen und die Form und Abmessung der Probekörper müssen bei der Messung der
Strahlenwirkung gut kontrolliert und dokumentiert werden. Wichtige Umgebungsbedingungen sind die Temperatur,
reaktive Medien und mechanische bzw. elektrische Beanspruchungen während der Bestrahlung. Bei Bestrahlung
in Luft hat sich die Bestrahlungszeit (Fluß - oder Dosisleistung) als sehr wichtiger Parameter erwiesen, da die
Sauerstoffdiffusion und die Zerfallskonstante der gebildeten Peroxide von Einfluß sind. Beide Einfluß größ en sind
zeitabhängig. Die Bedingungen, die die Sauerstoffdiffusion und die Gleichgewichtskonzentration in Werkstoffen
beeinflussen, müssen kontrolliert werden. Dazu gehören Temperatur, Sauerstoffdruck, Materialgeometrie und
Zeitspanne, während der die Energiedosis aufgebracht wird.
Wenn eine simultane Beanspruchung, z. B. Strahlung bei höherer Temperatur, durch aufeinanderfolgende Bean-
spruchungen simuliert werden soll, muß mit anderen Ergebnissen gerechnet werden. Ferner kann es zu unter-
schiedlichen Ergebnissen kommen, je nachdem, ob die Proben erst bestrahlt und dann erhitzt werden oder umge-
kehrt.

4.3.1.2 Nachreaktionen
In organischen Polymeren muß mit weiteren Veränderungen nach Beendigung der Strahleneinwirkung infolge von
Nachreaktionen gerechnet werden, die auf den Zerfall oder die Reaktion verschiedener noch vorhandener strah-
leninduzierter Reaktionsprodukte, wie freier Radikale, zurückzuführen sind. Die Reaktion von Luftsauerstoff mit
den verbliebenen freien Radikalen kann einen weiteren Abbau bewirken.

4.3.2 Vorübergehende Veränderungen

4.3.2.1 Messungen während der Bestrahlung gehören nicht zum Anwendungsbereich dieser Norm. Trotzdem
sollen einige grundlegende Gesichtspunkte kurz erläutert werden. Die vorübergehenden Strahlenwirkungen
erscheinen primär als Änderungen elektrischer Eigenschaften, etwa der induzierten Leitfähigkeit, sowohl während
als auch für eine gewisse Zeit nach der Bestrahlung. Daher können Messungen der induzierten Leitfähigkeit zur
Bestimmung vorübergehender Veränderungen dienen. Diese sind abhängig von der Dosisleistung.
4.3.2.2 Die Erfahrung
. hat gezeigt, daß die induzierte Leitfähigkeit gewöhnlich nicht exakt proportional der Ener-
giedosisleistung
. D ist, sondern daß
σi = k D α
gilt, wobei α < 1.
Zur Bestimmung von k und α sind mindestens zwei Messungen erforderlich. Der Zusammenhang wird noch
dadurch kompliziert, daß k und α auch von der aufgebrachten Energiedosis abhängen.
4.3.2.3 Die Messung der strahleninduzierten Leitfähigkeit ist dadurch problematisch, daß Photo- und Compton-
elektronen im Elektrodenmaterial dazu neigen, den in den Probekörpern selbst induzierten Strom zu beeinflussen.
Auch Ionenströme durch die ionisierte Atmosphäre können Fehler in die Messung bringen, wenn sie nicht elimi-
niert werden. Es sollen Meß verfahren angegeben werden, die die Störfaktoren soweit wie möglich ausschalten
und die dennoch relativ einfach durchzuführen sind.
4.3.2.4 Es wäre zweckmäß ig, einen einfachen Wert, wie etwa die induzierte Leitfähigkeit (σi) oder deren Verhält-
nis zu der unter gleichen Bedingungen gemessenen Dunkelleitfähigkeit (σo), σi/σo, bezogen auf die Einheit der
Dosisleistung, zur Charakterisierung der Empfindlichkeit eines Materials gegen vorübergehende Veränderungen
zu verwenden.

5 Dosimetrie

5.1 Allgemeines
Absolutmethoden sind solche, die eine Messung der Ionendosis, der Fluß dichte oder der Energiedosis mit
physikalischen Messungen ohne Kalibrierung der Meß geräte in einem bekannten Strahlenfeld gestatten. Aufgrund
vieler Untersuchungen auf dem Gebiet der instrumentellen Technik und der Grundlagen der strahleninduzierten
Reaktionen gibt es Absolutmethoden, wie die Kalorimetrie, die allgemein als primäre dosimetrische Standard-
methoden angesehen werden. Diese Methoden werden bei der Untersuchung der Strahlenwirkung gewöhnlich
nicht angewendet, weil sie aufwendig sind, stehen aber bei nationalen und internationalen Prüfanstalten für die
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Kalibrierung von Strahlenquellen zur Verfügung. Bei Photonenstrahlern beträgt die Meß unsicherheit der
Kalibrierung 2 % bis 3 %. Diese Methoden können bei Vergleichen zwischen verschiedenen Laboratorien
verwendet werden.
Auß er den Dosimetern, die auf den absoluten Standardmethoden beruhen, gibt es zahlreiche andere, gegen diese
kalibrierte Dosimeter, die als relative Dosimeter zur Messung der Energiedosis weit verbreitet sind [21]. Sie beru-
hen auf den verschiedensten meß baren chemischen Reaktionen oder Energieumwandlungen, hervorgerufen
durch die Energieübertragung auf das Dosimetermaterial aufgrund der Wechselwirkung mit dem Strahlenfeld. Es
gibt eine groß e Anzahl von Strahlungssensoren, wie Kunststoffilme oder anorganische Festkörper, die als Dosi-
meter verwendet werden, die relativ einfach zu handhaben sind und eine bereits analysierte Anzeige bieten. Sie
sind in vielen Fällen von Vorteil, in denen die Anforderung an die Genauigkeit weniger hoch ist.

5.2 Absolutmethoden

5.2.1 Gammastrahlen
5.2.1.1 Die offenen luftgefüllten Ionisationskammern werden zur Messung der Ionendosis X bis 3 MeV verwen-
det. Sie sind so ausgelegt, daß sie die in Luft gebildete Ladungsmenge dQ und die Luftmasse dm, in der die ioni-
sierenden Elektronen freigesetzt werden, messen.
5.2.1.2 Die Hohlraumionisationskammern sind. Strahlendetektoren, die zur Messung der Ionendosis verwendet
werden können, wenn die Energiedosisleistung D nicht zu hoch ist und Gleichgewichtsbedingungen herrschen [9].
Wenn sie zur Messung der Energiedosis in einem bestimmten Medium verwendet werden, dann müssen sowohl
die Wandungen als auch das Meß gas an dieses Medium angepaß t sein. Zwei Materialien sind dann für eine
bestimmte Strahlenart aneinander angepaß t, wenn die Absorption dieser Strahlung in beiden Medien zu der glei-
chen Fluß dichte und Energieverteilung der sekundär ionisierenden Teilchen führt.
5.2.1.3 Kalorimeter wirken über die Absorption von Strahlenenergie aus dem umgebenden Strahlenfeld und
deren Umwandlung in Wärme, und die Messung dieser Wärmemenge durch Messung des Temperaturanstiegs
[4]. Die erforderliche Kalibrierung der Wärmekapazität erfolgt elektrisch durch Messung der Menge an elektrischer
Energie, die aufgenommen werden muß , um den gleichen Temperaturanstieg wie durch die Strahlung zu errei-
chen. In einigen Systemen sind geringe Abweichungen der Energiemenge aufgrund exo- oder endothermer che-
mischer Reaktionen beobachtet worden, für die aber Korrekturen angebracht werden können. Infolge der
Umwandlung der absorbierten Energie nahezu unabhängig von der Strahlenart, stellt das Kalorimeter eine Abso-
lutmethode dar, mit der andere Standardmethoden kalibriert worden sind.

5.2.2 Elektronenstrahlen
5.2.2.1 Dosimetrische oder radiometrische Methoden ermöglichen die Bestimmung der Energiedosis oder der
Elektronenfluenz mit physikalischen Messungen ohne eine Kalibrierung. Zwei Absolutmethoden werden als dosi-
metrische oder radiometrische Referenzmethoden angesehen: die eine ist die kalorimetrische, die andere die
Elektronenstrom-Densitometrie. Diese Absolutmethoden werden hauptsächlich zur Kalibrierung von Routinedosi-
metern verwendet, und es ist allgemein schwierig, die Tiefendosisverteilung ohne die Verwendung von routinemä-
ß igen Filmdosimetern zu bestimmen.
5.2.2.2 Die Kalorimeter werden zur Messung der Energiedosis oder der Energiefluenz verwendet. Die Messung
der absorbierten Energie je Flächeneinheit des Targets ermöglicht die Kalibrierung der Energiedosis und von Rou-
tinedosimetern durch Integrierung über die relative Tiefendosisverteilung, wenn diese in demselben Targetmaterial
durch Verwendung von Routinedosimetern mit hoher räumlicher Auflösung bekannt ist. Einfache quasiadiabati-
sche Methoden können als partiell absorbierendes [25] oder total absorbierendes Kalorimeter eingesetzt werden.
5.2.2.3 Die Messung der Elektronenstromdichte ist eine radiometrische Methode [33] zur Messung der Elektro-
nenladung oder des Elektronenstroms je Flächeneinheit in Strahlenfeldern von Elektronenbeschleunigern. Diese
Methode ist keine dosimetrische Methode, ermöglicht aber die Kalibrierung der Energiedosis, wenn die durch-
schnittliche Elektronenenergie, die den Ladungsabsorber des Densidometers durchdringt, und die relative Tiefen-
dosisverteilung in demselben Material durch Verwendung eines Routinedosimeters bekannt ist. Der Faradaykäfig
ist für die Ladungsmessung von Elektronenstrahlen verwendet worden, ist aber nicht geeignet für die genaue Mes-
sung von Elektronenladungen oder Elektronenstrom je Flächeneinheit bei breiten Elektronenstrahlbündeln mit
breiter Winkelverteilung. Eine vereinfachte Methode, die eine Anordnung von Graphitabsorbern ohne Vakuum-
kammer verwendet, ist bei aufgestreuten breiten Strahlen von Elektronenbeschleunigern anwendbar [33], [35].
Die effektive Absorptionsfläche ist exakt definiert durch die spezielle Anordnung des Absorbers und die Elektro-
nenrückstreuungskorrektur bei Berücksichtigung schräger Einstrahlung. Der Einfluß der ionisierten Ladung aus
der umgebenden Luft kann durch Minimierung der externen elektrischen Feldbildung um den zentralen Absorber
vermieden werden.

5.3 Relative Methoden

5.3.1 Die chemische Dosimetrie beruht auf dem Prinzip, daß durch Strahlung gewisse quantitative Reaktionen
ausgelöst werden, deren Umsatz direkt proportional der absorbierten Dosis ist. Am meisten verbreitet ist die Eisen-
sulfat-(Fricke-)Dosimetrie, die auch für Vergleiche zwischen Laboratorien geeignet ist [4], [9], [1]. Die Bedeutung
anderer Systeme beruht darauf, daß sie auß erhalb des Meß bereichs der Eisensulfat-Dosimetrie anwendbar sind.
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Das Alanine-Dosimeter (Aminosäure-Typ) wird von der IAEA als Transferstandard empfohlen [28], [29], [20].
Kunststoffe, mit und ohne Farbstoff, sind ebenso als chemische Dosimeter geeignet [18], [22], [23], [34], [32].
5.3.2 Andere, auf physikalischen Effekten basierende relative Methoden sind die Photolumineszenz und die
Thermolumineszenz [3], [26], [8].
5.3.3 Wenn die relativen Dosimeter von Umgebungsbedingungen (Temperatur und Feuchte vor und nach der
Bestrahlung, Atmosphäre, Licht usw.), Dosisleistung und Strahlenspektrum beeinfluß t werden, ist ihre Nutzung auf
Bedingungen beschränkt, die denen entsprechen, unter denen sie kalibriert worden sind. Die Genauigkeit kann
ferner durch Instabilität vor und nach der Bestrahlung, Änderung von Charge zu Charge, Nichtlinearität in der
Ansprechcharakteristik, Veränderungen in den Abmessungen, Verunreinigungen oder chemische Effekte u. a.,
beeinträchtigt werden.
5.3.4 In einigen Fällen können die Kalibrierkonstanten oder die Kalibrierkurven, die in Gammastrahlen erhalten
wurden, auch auf Elektronenstrahlen angewendet werden, wenn die Dosimetercharakteristiken von den Bestrah-
lungsparametern, wie Temperatur, Energiespektrum, Dosisleistung, Bestrahlungszeit u. a., bei Gamma- und Elek-
tronenstrahlen nicht unterschiedlich abhängen.

5.4 Empfohlene Methoden zur Messung der Energiedosis

5.4.1 In Tabelle 1 sind, ohne Anspruch auf Vollständigkeit, Absolutmethoden und relative Methoden mit einigen
ihrer Charakteristiken aufgeführt:
– Bereich der Energiedosis und -leistung;
– Einfluß der Energie der Strahlung;
– Einfluß von Temperatur und Feuchte;
– Werkstoff und Dicke von Film oder Target;
– Art der Anzeige;
– Besondere Vermerke zur Anwendung;
– Literaturhinweise.
5.4.2 Eine Schwierigkeit bei der Dosimetrie hoher Energiedosiswerte oder hoher Energiedosisleistungen, wie sie
bei der Bestrahlung von Isolierstoffen üblich sind, beruht auf mögliche Strahlenwirkungen oder -schäden in Teilen
des Dosimeters (z. B. Schädigung des Isolators einer Ionisationskammer).
Zur Vermeidung solcher Fehlerquellen sind besondere Prüfungen und Verfahren erforderlich. Für mehr Details zu
den meisten der tabellierten Methoden siehe [4] und die anderen Literaturhinweise in Tabelle 1.

6 Berechnung der Energiedosis bei Röntgen- oder Gammastrahlung

6.1 Allgemeines
Die Energiedosis ist der Parameter, auf den die Strahlenwirkungen bezogen werden.
Mit Hilfe der empfohlenen Methode kann die Energiedosis aus den Daten des Röntgen- oder Gammastrahlenfel-
des und der Zusammensetzung des Materials errechnet werden [1], [2]. Aus der Energiedosis in einem Material
kann die Energiedosis in einem anderen Material, das demselben Strahlenfeld ausgesetzt wird, berechnet wer-
den.

6.2 Berechnung der Energiedosis aus der Ionendosis [13], [14]

6.2.1 Die Energiedosis ist die Grundlage für den Vergleich der Wirkung verschiedener Strahlungen geworden
und ihre Bestimmung in einem bestrahlten Material ist daher notwendig. Sie kann aus der Ionendosis, die in Luft
an der Stelle des bestrahlten Probekörpers gemessen wird, errechnet werden. Die folgenden Abschnitte enthalten
die dafür notwendigen Beziehungen. Die Tabellen 2 und 3 liefern die erforderlichen Umrechnungsfaktoren und
geben Berechnungsbeispiele.
6.2.2 Die in einem Material m absorbierte Energiedosis Dm wird errechnet nach
Dm = fmX (1)
wobei der Umrechnungsfaktor fm der Quotient aus der Energiedosis und der Einheit der Ionendosis bedeutet. Zur
Berechnung von fm müssen die Zusammensetzung des Materials und die fi-Werte für die enthaltenen Elemente i
bekannt sein. Es gilt dann
fm = ∑
i
a i fi , (2)

Dabei sind:
ai Massenanteil des Elements i im Werkstoff
fi Energiedosis je Einheit der Ionendosis für das Element i.
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6.2.3 Die Tabelle 2 enthält Werte für fi in J/C für die aufgelisteten Elemente für Photonenenergien von 0,1 MeV
bis 3,0 MeV (Ableitung der fi-Werte siehe Anhang B). Die fi -Werte gelten nur unter den Bedingungen des
Ladungsgleichgewichts (Erläuterung siehe Anhang A).
Die Tabelle 3 enthält Werte für fm für einige gebräuchliche Werkstoffe für Photonenenergien von 1 MeV und
0,1 MeV, die mit Hilfe der Gleichung (2) berechnet worden sind.
6.2.4 Für verschiedene organische Werkstoffe kann für Bestrahlungen mit Photonen im Energiebereich von
0,5 MeV bis 1,5 MeV die Gleichung (2) näherungsweise vereinfacht werden zu:
fm = (32,9 aH – 1,94 aF – 1,55 aCt – 1,16 aP + 33,7) J/C
6.3 Berechnung der Energiedosis in einem Werkstoff aus derjenigen in einem anderen
6.3.1 Die numerischen Faktoren fm sind auch für den Vergleich von Energiedosiswerten in verschiedenen Mate-
rialien ohne Kenntnis der Ionendosis anwendbar, sofern diese konstant gehalten wird. Aus der Gleichung (B.2) ist
zu ersehen, daß bei konstanter Ionendosis das Verhältnis zwischen den Faktoren fm zweier Medien gleich ist dem
Verhältnis ihrer Massenenergie-Absorptionskoeffizienten (µen/ρ)m und damit dem Verhältnis der Energiedosis-
werte. Die in dem Medium 1 absorbierte Energiedosis D1 kann aus der im Medium 2 absorbierten Energiedosis
D2 unter Verwendung der Umrechnungsfaktoren f1 und f2 errechnet werden mit Hilfe der Gleichung
f1
D1 = ⋅ D2 (3)
f2
6.3.2 Wird die chemische Dosimetrie angewendet, so kann die Energiedosis direkt aus dem gemessenen che-
mischen Umsatz abgeleitet werden. Durch Verwendung des Verhältnisses der fm-Werte kann aus der Energie-
dosis in einem chemischen Dosimeter die Energiedosis in einem beliebigen anderen Material erhalten werden,
wenn die Energie der eingestrahlten Photonen bekannt ist (wobei die in Abschnitt 6.4 beschriebenen Grenzen zu
beachten sind).
6.3.3 Als Beispiel sei davon ausgegangen, daß in einem Fricke-Dosimeter nach einer einstündigen Bestrahlung
in einer Cobalt-60-Bestrahlungsanlage eine Energiedosis von DFricke = 5 Gy gemessen wird und daß die Energie-
dosis in Polyethylene nach ebenfalls einstündiger Bestrahlung in der gleichen Position ermittelt werden soll. Es
wird dann wie folgt vorgegangen:
Die Massenanteile im Fricke-Dosimeter betragen a H = 0,11, a O = 0,88 und a S = 0,013. In Tabelle 2 sind die fi-
Werte für 1,0 MeV aufgeführt. Werden die Werte für ai und fi in die Gleichung (2) eingesetzt, erhält man fFricke =
37,4 J/C. Nach Tabelle 3 beträgt fPE = 38,2 J/C, und nach Gleichung (3) wird dann
fPE
DPE = ⋅ DFricke = 1,02 ⋅ 5 Gy = 5,1Gy
fFricke
6.3.4 Auf die gleiche Weise kann mit den Umrechnungsfaktoren in Tabelle 3 die Energiedosis in irgendeinem der
tabellierten Materialien aus derjenigen in einem anderen der tabellierten Materialien errechnet werden, wenn die
Energie der aufgenommenen Strahlung entweder 0,1 MeV beträgt oder zwischen 0,5 MeV und 1,5 MeV liegt.

6.4 Tiefendosisverteilung (Einschränkungen)

6.4.1 Die Verteilung der Energiedosis innerhalb einer bestrahlten Probe ist ungleichmäß ig und eine Funktion der
Probendicke, der Dichte und der Energie der aufgenommenen Strahlung. Daher müssen Toleranzen für die
Gleichmäß igkeit der Energiedosis angegeben werden. Die meisten der gebräuchlichen Bestrahlungsanlagen
haben Strahlenquellen im Energiebereich von 0,5 MeV bis 1,5 MeV. Läß t man für eine Punktquelle willkürlich eine
Abnahme der Dosiswerte von der vorderen zur hinteren Oberfläche der Probe von maximal 25 % zu (25 % Schwä-
chung innerhalb der Probe), so beträgt die zulässige Probendicke 2,8 cm für 0,5 MeV und 5,0 cm für 1,5 MeV, und
zwar bei Bestrahlung aus einer Richtung, wenn in der Probe kein Energieaufbau stattfindet und die Probe eine
Dichte von 1 hat (siehe Anhang A). Für andere Quellengeometrien (z. B. Flächenstrahler) gelten erheblich andere
Probendicken.
6.4.2 In Bild A.3 ist die Probendicke als Funktion der Energie für 10 % und 25 % Schwächung in einer Probe der
Dichte 1 für die Bestrahlung aus einer Richtung aufgetragen. Die Kurven verschieben sich für Werkstoffe höherer
Dichte nach links zu geringeren Schichtdicken und umgekehrt. Die genauen Schichtdicken für 10 % und 25 %
Schwächung können durch Division der Werte in Bild A.3 durch das Verhältnis der Elektronendichte des Materials
zu der des Wassers (3,3 ·1023 g– 1) erhalten werden. Da den Kurven nur eine Schwächung unter Vernachlässi-
gung eines Energieaufbaues zugrunde liegt, geben sie die maximale Schwächung für eine gegebene Energie und
Probendicke bei Bestrahlung aus einer Richtung wieder. Strahlung aus mehreren Richtungen wird stärker
geschwächt.
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7 Dosisbestimmung bei Elektronenstrahlen

7.1 Allgemeines
7.1.1 In diesem Abschnitt werden Dosisbestimmungsmethoden für Elektronenstrahlen hauptsächlich für einen
Energiebereich von einigen hundert keV bis zu einigen MeV und für Dosiswerte im Bereich von kGy bis MGy emp-
fohlen.
7.1.2 Das Strahlenfeld eines Elektronenstrahls wird gewöhnlich durch die Begriffe Elektronenenergiespektrum
und Elektronenstromdichte (die Elektronenladung, die auf die Flächeneinheit der bestrahlten Fläche je Zeiteinheit
auftrifft) charakterisiert. Beim gewöhnlichen Betrieb eines Elektronenbeschleunigers mit einer Strahlrastereinrich-
tung ändert sich die momentane Elektronenstromdichte an dem zu messenden Punkt in der bestrahlten Fläche
periodisch mit der Rasterfrequenz. In der Praxis wird das Strahlenfeld durch die mittlere Energie der Elektronen,
die das Strahlfenster und den Luftspalt durchdringen, sowie durch die Elektronenstromdichte, über die Vertei-
lungsperiode gemittelt, charakterisiert. Die mittlere Elektronenenergie an der Probenoberfläche Em ergibt sich
nach der Gleichung
Em = E0 – ∆Ew – ∆Ea, (4)
wobei E0 die Anfangs-Elektronenenergie vor dem Auftreffen auf das Strahlfenster und ∆Ew bzw. ∆Ea die mittleren
Energieverluste der Elektronen im Strahlfenster und im Luftspalt bedeuten. Jeder Energieverlust ist etwa gleich
dem Produkt aus dem Massen-Stoß bremsvermögen und der Dicke in g/cm2 oder kann näherungsweise nach Glei-
chung (6) errechnet werden, wenn die Probendicke viel kleiner ist als die Reichweite der Elektronen.
7.1.3 Die Verteilung der mittleren Elektronenstromdichte im Strahlenfeld bestimmt annähernd die seitliche Ver-
teilung der mittleren Energiedosisleistung im Material. Die seitliche Verteilung senkrecht zur Rasterachse des
Strahlenfeldes hat gewöhnlich eine Gauss-Verteilung. Die Breite in der halben Höhe des Maximums der Vertei-
lungskurve hängt ab von der Elektronenenergie, der Massenzahl und der Dicke des Strahlfensters, sowie der
Dicke des Luftspaltes zwischen Strahlfenster und Probe. Bei stationärer Bestrahlung wird die seitliche Gleichför-
migkeit der Dosis im Material hauptsächlich durch die Verteilung der mittleren Elektronenstromdichte bestimmt.
Die Bestrahlung unter Verwendung eines Transportsystems mit konstanter Geschwindigkeit ermöglicht eine ein-
heitliche seitliche Dosisverteilung im Material, wenn die aufgefächerte Intensität des gerasterten Strahles in der
Richtung der Rasterachse einheitlich ist.
7.1.4 Bei stationärer Bestrahlung wird gewöhnlich die über die Rasterperiode gemittelte Dosisleistung als mitt-
lere Dosisleistung angesehen. Zwei Faktoren erschweren die Abschätzung der mittleren Dosisleistung:
i) das Überlappen des Strahls und ii) die Bewegung der Probe in einem Transportsystem.
7.1.5 Das Maß für die Gleichförmigkeit der Dosis durch das Material hindurch ist die Tiefendosisverteilung, die
gewöhnlich von der seitlichen Dosisverteilung in den einzelnen Schichten unabhängig ist. Eine typische Tiefen-
dosisverteilung in einem homogenen Material, erhalten mit einem Elektronenbeschleuniger, ist in Bild 1 wiederge-
geben. Die Tiefendosisverteilung ist durch zwei Tiefenbereiche charakterisiert: einen Dosisaufbaubereich und
einen Bereich des Dosisabfalls. Der brauchbare Bereich Ru wächst etwa linear mit der Elektronenenergie, wenn
diese höher als 1 MeV ist, aber die Dosisänderung über die Tiefe ist bei Elektronenbestrahlung viel größ er als bei
Gammabestrahlung. Das Verhältnis von Oberflächendosis zur Maximaldosis und der brauchbare Bereich hängen
von einer Reihe von Bestrahlungsparametern ab, wie der Elektronenenergie, der atomaren Zusammensetzung
des Materials, der Dicke des Strahlfensters, der Dicke des Luftspaltes u. a. Unter typischen Bestrahlungsbedin-
gungen beträgt das Verhältnis 0,6 bis 0,8 für Elektronenenergien über 1 MeV.
7.1.6 Die Tiefendosisverteilung im Material je Einheit der Elektronenfluenz kann als Teil der Energieübertra-
gungsfunktion I(z) in einem Drei-Schichten-Absorber (Strahlfenster, Luftschicht und Probe) berechnet werden
[17], [31], wenn ein Schichtenmaterial durch das Strahlenfeld senkrecht zur Richtung der Strahlrasterung bewegt
wird, wobei angenommen wird, daß üblicherweise ein monoenergetischer und planparalleler Elektronenstrahl auf
das Strahlfenster trifft. Ein Beispiel für eine berechnete Energieübertragungsfunktion, I(z'), (z' Gesamttiefe in drei
Schichten) für eine Plattenschicht von Polyethylen, die mit 1-MeV-Elektronen bestrahlt worden ist, ist in Bild 2 wie-
dergegeben. Die Differenz der Werte von I(z') zwischen den drei Schichten ist der Differenz der Dosiswerte nicht
äquivalent. Bild 3 zeigt einen Vergleich der relativen Tiefendosis-Verteilung für einige typische Isolierstoffe, gemes-
sen unter den gleichen Bestrahlungsbedingungen. Die Unterschiede zwischen den typischen organischen Isolier-
stoffen beruhen auf den Unterschieden in dem Massenstoß bremsvermögen [7] und dem Massenstreuvermögen
unter Berücksichtigung der Vielfachstreuung [16], die hauptsächlich vom Gehalt an Wasserstoff und der effektiven
Ordnungszahl <Z> abhängt, und können nicht vernachlässigt werden.

7.2 Empfohlene Verfahren für die Elektronenstrahldosimetrie

Tabelle 1 gibt eine Liste von absoluten Methoden mit einigen ihrer hauptsächlichen Merkmale. Folgende Kriterien
sollten bei dosimetrischen Verfahren beachtet werden [12]:
1) Elektronenenergie im Verhältnis zur Probendicke;
2) Dosisbereich;
3) Mittlere Dosisleistung unter Berücksichtigung des zulässigen Temperaturanstiegs in der Probe und der ver-
fügbaren Bestrahlungszeit;
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4) die erforderliche Homogenität der Dosis innerhalb der Probe:

a) Grenzanforderungen für die Gleichmäß igkeit in der Tiefe,
b) Grenzanforderungen für die laterale Gleichmäß igkeit;
5) Bestrahlungsmethode, wobei die Probenanzahl, Probengröß e, Temperaturanstieg und die Homogenität
der Dosis in der Probe (stationäre oder gerasterte Bestrahlung) zu berücksichtigen ist;
6) Genauigkeitsanforderungen an die Dosimetrie;
7) Auswahl der Dosimeter unter den Kriterien:
a) meß barer Dosisbereich,
b) Dicke des Dosimeters, die für eine definierte räumliche Auflösung der Dosis erforderlich ist,
c) Genauigkeit oder Reproduzierbarkeit der festgelegten Dosiswerte,
d) Änderung der Ansprechbarkeit innerhalb des erwarteten Dosisleistungsbereiches,
e) begrenzte Änderung der Ansprechbarkeit während und nach der Bestrahlung durch die Umgebungs-
bedingungen (Wirkung von Licht, Temperatur, Feuchte, Gase, Lagerung),
f) Dauerhaftigkeit der Anzeige oder Stabilität der Dosimeteranzeige,
g) Verfügbarkeit von ausreichend entwickelten und bewährten Standardmeß methoden,
h) Leichtigkeit der Handhabung und die Art der Anzeige,
i) Verfügbarkeit der Anzeige für ausschließ lichen Dosimetergebrauch,
j) Reproduzierbarkeit zwischen verschiedenen Chargen,
k) Kosten.
8) Alle weiteren Bestrahlungsparameter (Strahlstrom, Rasterbreite, Breite des Luftspaltes, Geschwindigkeit
des Transportbandes, Platte hinter der Probe, Temperatur, Feuchte, momentane Dosisleistung, Rückstreu-
effekt, Schrägeinstrahlung der Elektronen, Ladungsansammlung im Isolator u.a.).

7.3 Bestrahlung mit Elektronenstrahlen

7.3.1 Die einseitige Bestrahlung einer Isolierstoffprobe wird gewöhnlich in zwei Probenanordnungen durchge-
führt, die die Änderung der Dosis in der Probe aufgrund der Tiefendosisverteilung berücksichtigt. Sie sind in Bild
4 dargestellt: a) hinter der Probe wird eine Rückplatte aus equivalentem Material angeordnet; und b) die Probe
wird sandwichartig zwischen zwei Platten aus equivalentem Material bestrahlt. Die Gesamtdicke dieser Proben-
anordnung sollte größ er sein als die Reichweite der Elektronen. Die Bestrahlung von zwei Seiten wird bei Proben
durchgeführt, deren Dicke im Vergleich zur Reichweite der Elektronen groß ist.
7.3.2 Die Beschleunigerspannung richtet sich vor allem nach der Erfordernis einer möglichst gleichförmigen
Dosis innerhalb der Probe. Strahlstrom und andere Bestrahlungsbedingungen, wie Breite des Luftspaltes, Para-
meter der Strahlrasterung, mechanische Rasterparameter des Transportsystems u. a., werden gewöhnlich so
gewählt, daß der Temperaturanstieg in der Probe minimiert wird und die Nutzung der Strahlung möglichst effektiv
ist.

7.4 Methoden zur Messung der Tiefendosisverteilung

7.4.1 In der Praxis der Elektronenstrahldosimetrie geht es im Zusammenhang mit Isolierstoffen meist um die
Messung der Tiefendosisverteilung. Es gibt zwei Grundmethoden mit Filmdosimetern: entweder in einem Stapel
von Schichten aus dem Isolierstoff oder zwischen keilförmigen Isolierstoffproben, beide mit einigen Variationen,
wie in Bild 5 dargestellt.
7.4.2 Bei der Methode mit gleichmäß ig geschichteten Stapeln (uniform stack method) (siehe Bild 5a)) werden die
Filmdosimeter selbst als Isolierstoffequivalent bis zu einer Dicke geschichtet, die größ er als die Reichweite der
Elektronen ist. Diese Methode liefert die Tiefendosisverteilung im Dosimetermaterial und kann bei Materialien
angewendet werden, deren Zusammensetzung der des Filmdosimeters ähnlich ist. Die Methode wird für nieder-
energetische Elektronenstrahlen bis 300 keV angewendet.
7.4.3 Bei der Methode mit alternierenden Schichten (alternate stack method) (siehe Bild 5b)) werden Filmdosi-
meter und dünne Schichten aus einem equivalenten Isolierstoff mit einer dem Film ähnlichen Zusammensetzung
abwechselnd geschichtet. Diese Methode kann bei relativ hochenergetischen Elektronenstrahlen angewendet
werden.
7.4.4 Bei der Methode mit versetzt eingelegtem Film (shift insertion method) (siehe Bild 5c)) werden kleine
Stücke des Dosimeterfilms zwischen die Schichten eines equivalenten Isolierstoffs derart gelegt, daß sie sich nicht
überlappen.
7.4.5 Wenn die geschichteten Isolierstoffe in der lateralen Richtung gleichmäß ig mit Elektronenstrahlen bestrahlt
werden, ist die Energiedosis Di gegeben durch
( S / ρ )col, i
Di = f ⋅ Dd = Dd , (5)
(S / ρ )
col, d
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wobei Dd die Energiedosis im Dosimetermaterial und (S /ρ)col, i bzw. (S /ρ)col, d das Massenstoß bremsvermögen
für die Elektronen im Isolierstoff bzw. im Dosimetermaterial, über die angenäherten Elektronenspektren der beiden
Materialien gemittelt, bedeuten [24]. In Tabelle 4 finden sich molekulare Konstanten einiger wichtiger Isolierstoffe
und anderer Stoffe, in Tabelle 5 das Massenstoß bremsvermögen für Elektronen in diesen Materialien. Das Elek-
tronenenergiespektrum für die eingelegten Dosimeterfilme hängt von deren Tiefe im gestapelten Isolierstoff ab,
und es ist im allgemeinen nicht einfach zu bestimmen. Das Verhältnis f ist aber im interessierenden Energiebereich
nur wenig von der Energie abhängig, wie Tabelle 5 zeigt. Eine grobe Abschätzung der Durchschnittsenergie des
Elektronenspektrums im Dosimetermaterial gestattet die Bestimmung von f mit genügender Genauigkeit. Die
Abhängigkeit der mittleren Elektronenenergie En von der Tiefe in einem typischen wasserequivalenten Isolierstoff
ist in grober Annäherung durch die Gleichung
En = Em (1 – z/Rex) (6)
gegeben, worin Em die Energie der einfallenden Elektronen in MeV, z die Tiefe im Isolierstoff in g/cm2 und Rex die
extrapolierte Reichweite der Elektronen in g/cm2, definiert für die Elektronen-Übertragungskurven für Isolierstoffe,
bedeuten [30]. Die extrapolierten Reichweiten der Elektronen für einige wichtige Materialien sind in Tabelle 6 als
Funktion der Elektronenenergie tabelliert. Zum Massenstoß bremsvermögen zusammengesetzter Materialien und
Verbindungen siehe [12] und [7].
7.4.6 Beim Verfahren mit linearen Keilen (siehe Bild 5d)) wird ein Dosimeterfilm sandwichartig zwischen zwei
equivalente Isolierstoffe gelegt, wobei der obere die Form eines linearen Keiles mit einem Winkel von mindestens
45° hat. Die Tiefendosisverteilung im Dosimetermaterial wird mit einem densidometrischen Spurabtaster auf dem
Film gemessen. Die Tiefendosisverteilung im Isolierstoff ist mit Gleichung (5) zu errechnen.
7.4.7 Bei dem Verfahren mit Stufenkeilen (siehe Bild 5e)) hat der obere Isolierstoff im Sandwich die Gestalt eines
Stufenkeils. Die Verwendung linearer Keile hat zwei praktische Nachteile, besonders bei der Dosimetrie nieder-
energetischer Elektronen, nämlich die Schwierigkeit der Herstellung eines exakten Winkels bei schmalen Keilen
und die Unsicherheit bei der Bestimmung der absoluten Tiefe. Ein Stufenkeil mit spitzem Winkel kann durch
Schichtung von Isolierstoffilmen unterschiedlicher Länge hergestellt werden. Obgleich ein diskontinuierliches Tie-
fendosisprofil ähnlich einer Stufenfunktion erhalten wird, wird die Verteilung als Funktion der genauen Tiefe
bestimmt.
7.4.8 Bei dicken Keilen ist die durch Elektronenstrahlen induzierte Ladungsansammlung problematisch, weil sie
zu einem starken inneren elektrischen Feld führt, das das Durchdringen der auftreffenden Elektroden unterdrük-
ken kann [11]. Die Ladungsansammlung ist in geschichteten Filmen viel geringer als in einem massiven Isolierstoff
gleicher Dicke, weil entlang der Filmoberflächen relativ viel Ladung abfließ t.
 Tabelle 1: Gebräuchliche Methoden für die Messung der Energiedosis

Energiedosis-
Energiedosis-
Typ der leistungs- Energieab-
Methode bereich Temperaturabhängigkeit Bemerkungen Literatur
Anzeige bereich hängigkeit
Gy
Gy/s
Absolute Methoden

Kalorimeter Temperatur 10– 1 bis 104 3 ·10– 3 bis 1,5 · Unabhängig Unabhängig Adiabatischer Typ ist am [4]
104 geeignetsten. Sehr genau [27]
mit Thermistorempfängern.
Für hohe Dosisleistung direkte
elektrische Anzeige günstig.

Hohlraumionisations- Elektrischer Von sehr niedrig Vom Hersteller Unabhängig Direkte elektrische Anzeige. [9]
kammer Strom bis 3 ·102 angegeben Hohe Empfindlichkeit. [33]
Gut geeignet für niedrige [35]
Dosiswerte und niedrige
Dosisleistungen. Im Handel.
Relative Methoden

Chemische Umsetzung

Eisensulfat Spektral- 4 ·10– 2 bis 4 · Bis 30 Unabhängig von Geringer Einfluß Leicht selbst herstellbar. [1]
(Fricke-Dosimeter) photometrie 102 0,66 MeV bis 16 zwischen 0 °C und 50 °C [4]
MeV während der Bestrahlung. [9]
Sehr empfindlich bei
spektrophotometrischer
Anzeige.

Cersulfat Spektral- 5 ·102 bis 107 Bis 107 Ähnlich Geringer Einfluß Empfindlich gegen
photometrie Eisensulfat Verunreinigungen.
(fortgesetzt)

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 Tabelle 1 (fortgesetzt)

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Energiedosis- Energiedosis-
Typ der Energie-
Methode bereich leistungsbereich Temperaturabhängigkeit Bemerkungen Literatur
Anzeige abhängigkeit
Gy Gy/s
Gasbildung

Polyethylen Bildung von 102 bis 107 Von 3 ·10– 3 bis Unabhängig Abhängig unterhalb 80 °C Einfache Anzeige
Wasserstoff- 3 ·102
gas
Optische Dichte

Polymethylmethacrylat, 2 ·103 bis 3 · Bis 100 Gering [5]

gefärbt und ungefärbt Spektral- 104 [36]
photometrie
Radiochromatische 103 bis 106 Mindestens Unabhängig unterhalb UV-empfindlich [18]
Folie Spektral- bis 104 50 °C [22]
photometrie [23]

[32]
Cellulosetriacetat- 10 bis 3 ·105 Mindestens [34]
Folie Spektral- bis 107 Unabhängig
photometrie
Photolumineszenz

Phosphatglas, 10– 4 bis 102 Mindestens Ionendosis- Anzeigeinstrumente [3]

silber-aktiviert Lumineszenz bis 5 ·107 empfindlichkeit ist Korrekturkoeffizienten für und Gläsersortiment [6]
bei 30 keV bis 10- Abweichungen von ≥ 25 °C im Handel. [9]
bis 30mal größ er
als bei 1,2 MeV,
abhängig von Typ
und Größ e der
Gläser. Durch Ab-
schirmung ver-
bessert.
(fortgesetzt)
 Tabelle 1 (abgeschlossen)

Energie- Energiedosis-
Typ der Energie-
Methode dosisbereich leistungsbereich Temperaturabhängigkeit Bemerkungen Literatur
Anzeige abhängigkeit
Gy Gy/s
Thermolumineszenz

Lithiumfluorid Lumineszenz 10– 4 bis 3 ·102 Mindestens bis Ionendosis- Zeitstabiles Maximum Anzeigeinstrumente und [6]
5 ·102 empfindlichkeit bei 210 °C Dosimetrie-Salze im Handel. [8]
bei 50 keV etwa Ungeeignet für gemischte [9]
1,5mal größ er als Gamma- und [19]
bei 1,2 MeV Neutronenstrahlung. [26]
Freie Radikale

Alanin ESR-Spektral- 5 ·10– 1 bis 106 Gering Sehr gute Stabilität und [20]
photometrie Reproduzierbarkeit. [28]
[29]

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Tabelle 2: Numerische Faktoren fi (Energiedosis je Einheit der Ionendosis) in J/C

für die Berechnung der Energiedosis aus der Ionendosis für Elemente, die in Isolierstoffen
enthalten sind – Berechnet mit Gleichung (B.4)
(Zur Umrechnung in die alten Einheiten rd und R siehe Anmerkung in Anhang B.)

Photonenenergy
H C N O F Si S Ct P
MeV
0,10 59,3 31,1 32,4 33,8 34,7 64,7 87,2 99,2 72,9
0,15 64,7 33,0 33,4 33,8 32,7 41,1 47,3 48,8 42,2
0,20 66,3 33,6 33,6 34,1 32,3 36,7 38,8 38,8 36,7
0,30 66,7 33,7 33,8 33,8 31,9 34,6 35,2 36,8 33,9
0,40 66,7 33,6 33,7 33,7 31,9 34,0 34,3 33,1 32,0
0,50 66,7 33,7 33,7 33,7 31,9 33,6 34,0 32,7 32,7
0,60 66,7 33,7 33,7 33,7 32,0 33,7 33,8 32,5 32,7
0,80 66,7 33,6 33,7 33,7 31,9 33,6 33,4 32,3 32,7
1,0 66,7 33,6 33,7 33,7 31,9 33,4 33,7 32,1 32,4
1,5 66,7 33,7 33,7 33,7 31,8 33,7 33,6 31,9 32,4
2,0 66,7 33,7 33,7 33,7 31,9 33,8 33,8 32,4 32,8
3,0 65,1 33,5 33,7 33,8 32,2 34,5 34,5 33,5 33,5
Anwendungsbeispiel
Für Polytetrafluorethylen (PTFE) soll der numerische Faktor fPTFE für die Photonenenergie 1 MeV berechnet
werden. PTFE hat (wenn Kettenenden, Doppelbindungen und Verunreinigungen vernachlässigt werden) die
vereinfachte Formel (CF2)n; das bedeutet Massenanteile für Kohlenstoff von aC = 0,24 und für Fluor von a F
= 0,76.
Der Tabelle 2 werden für 1-MeV-Elektronen die Werte fc = 33,6 J/C und fF = 31,9 J/C entnommen. Eingesetzt
in Gleichung (2) ergibt sich:
fPTFE = (0,24 ·33,6) + (0,76 ·31,9) = 32,3 J/C.

Tabelle 3: Numerische Faktoren fm (Energiedosis je Einheit der Ionendosis) in J/C für die Berechnung
der Energiedosis aus der Ionendosis für einige wichtige Isolierstoffe und andere Stoffe.
(Zur Umrechnung in die alten Einheiten rd und R siehe Anmerkung in Anhang B.)

Werkstoff fm (J/C)
1 MeV 0,1 MeV
Polystyrol (CH)n 36,4 33,3
Polyethylen (CH2)n 38,2 34,9
Polyamid-6 (C6H11ON)n 36,8 34,5
Polydimethylsiloxan (C2H6OSi)n 36,0 47,0
Polyethylensulfid (C2H4S4)n 34,9 77,9
Vinylidenchlorid-Vinylchlorid-Copolymer (C4H5Ct3)n 33,7 77,5
Polytetrafluorethylen (CF2)n 32,3 33,8
Polychlortrifluorethylen (C2F3Ct)n 32,2 53,5
Polyvinylchlorid (C2H3Ct)n 34,5 70,5
Polyvinylidenchlorid (C2H2Ct2)n 33,3 81,4
Polyvinylpyrolidon (C6H9NO)n 36,4 33,7
Polyvinylcarbazol (C14H11N)n 35,7 32,9
Polyvinylacetat (C4H6O2)n 36,0 34,1
Polymethylmethacrylat (C5H8O2)n 36,4 34,1
Tributylphosphat (C4H9)3PO4 36,8 39,5
Fricke-Dosimeter – 37,4 37,2
ANMERKUNG: Die Werte für 1 MeV sind im Energiebereich 0,5 MeV bis 1,5 MeV anwendbar. Sie können für
Co-60- und Cs-137-Gammastrahlung verwendet werden; ebenso für Röntgenstrahlen von 2 MeV bis 3 MeV.
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Tabelle 4: Molekulare Konstanten für einige wichtige Isolierstoffe und andere Stoffe

Näherungs- Dichte
Werkstoff <Z>1) <A>2)
formel g/cm3
Kohlenstoff (Graphit) C 6 12,011 2,25
Wasser H2O 7,22 13,00 1,00
Luft (trocken) 7,38 14,77 1,205 × 10– 3
Polyamid (Nylon 6) (C6H11ON)n 5,92 10,80 1,14
Polyethylen (CH2)n 5,28 9,26 0,94
Polyethylenterephthalat (C10H8O4)n 6,46 12,41 1,40
Polymethylmethaacrylat (C5H8O2)n 6,24 11,56 1,19
Polystyrol (CH)n 5,61 10,44 1,06
Polytetrafluorethylen (CF2)n 8,28 17,25 2,20
Polyvinylchlorid (C2H3Ct)n 12,00 23,43 1,30
Polypropylen (C3H5)n 5,39 10,66 0,90
Polycarbonat (C15H14O3)n 6,10 12,16 1,20
1) Effektive Ordnungszahl
2) Effektive Atommasse
Die Größ en <Z> und <A> einer Verbindung oder einer Mischung werden beschrieben durch

<Z> = Σj WjZj und <A> = <Z> ( Σj Wj Zj/Aj)– 1

wobei Wj den Massenanteil, Zj die Ordnungszahl und Aj die Atommasse des Elementes j bedeuten.
 Tabelle 5: Massenstoßbremsvermögen für Elektronen in einigen wichtigen Isolierstoffen und anderen Stoffen in MeV · g–1 · cm2 [7]

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Poly- Poly-
Elektronen- Kohlen- Poly-
Luft Polyamid Poly- ethylen- methyl- Poly- Polyvinyl- Poly- Poly-
energie stoff Wasser tetrafluor-
(trocken) (Nylon-6) ethylen tereph- metha- styrol chlorid propylen carbonat
MeV (Graphit) ethylen
thalat crylat
0,1 3,671 4,115 3,633 4,152 4,384 3,832 4,006 4,034 3,421 3,604 4,287 3,920
0,15 2,883 3,238 2,861 3,263 3,443 3,015 3,152 3,172 2,697 2,843 3,367 3,084
0,2 2,482 2,793 2,470 2,813 2,967 2,603 2,719 2,735 2,330 2,457 2,902 2,660
0,3 2,083 2,355 2,084 2,369 2,497 2,195 2,292 2,305 1,968 2,077 2,443 2,242
0,5 1,782 2,034 1,802 2,032 2,142 1,889 1,957 1,984 1,699 1,793 2,098 1,930
0,7 1,673 1,917 1,706 1,906 2,008 1,776 1,856 1,864 1,600 1,690 1,969 1,813
1,0 1,609 1,849 1,661 1,832 1,930 1,710 1,788 1,794 1,534 1,633 1,893 1,746
1,5 1,584 1,822 1,661 1,801 1,895 1,684 1,760 1,766 1,522 1,615 1,860 1,719
2,0 1,587 1,824 1,684 1,802 1,895 1,686 1,762 1,768 1,525 1,623 1,861 1,721
3,0 1,611 1,846 1,740 1,823 1,917 1,709 1,784 1,791 1,546 1,653 1,883 1,744
5,0 1,658 1,892 1,833 1,870 1,965 1,756 1,832 1,839 1,589 1,708 1,931 1,791
10,0 1,730 1,968 1,979 1,946 2,042 1,831 1,908 1,916 1,657 1,791 2,008 1,867

Tabelle 6: Extrapolierte Reichweite von Elektronen1) in einigen wichtigen Isolierstoffen und anderen Stoffen in g · cm2 [30]

Elektronenenergie Polyamid Polyethylen- Polymethyl-

Kohlenstoff Aluminium Wasser Polyethylen
MeV (Nylon-6) terephthalat methacrylat
0,1 1,39 E-2 1,30 E-2 1,23 E-2 1,26 E-2 1,17 E-2 1,23 E-2 1,28 E-2
0,15 2,80 E-2 2,54 E-2 2,45 E-2 2,54 E-2 2,36 E-2 2,65 E-2 2,57 E-2
0,2 4,51 E-2 4,03 E-2 3,93 E-2 4,10 E-2 3,83 E-2 4,28 E-2 4,15 E-2
0,3 8,60 E-2 7,53 E-2 7,45 E-2 7,81 E-2 7,32 E-2 8,23 E-2 7,89 E-2
0,5 1,83 E-1 1,58 E-1 1,58 E-1 1,66 E-1 1,56 E-1 1,73 E-1 1,68 E-1
0,7 2,91 E-1 2,49 E-1 2,51 E-1 2,65 E-1 2,49 E-1 2,75 E-1 2,67 E-1
1,0 4,63 E-1 3,96 E-1 3,98 E-1 4,21 E-1 3,96 E-1 4,37 E-1 4,25 E-1
2,0 1,07 E+0 9,12 E-1 9,18 E-1 9,69 E-1 9,12 E-1 1,01 E+0 9,78 E-1
3,0 1,68 E+0 1,44 E+0 1,45 E+0 1,53 E-1 1,44 E+0 1,59 E+0 1,54 E+0
5,0 2,92 E+0 2,52 E+0 2,52 E+0 2,66 E+0 2,50 E+0 2,76 E+0 2,68 E+0
10,0 6,01 E+0 5,18 E+0 5,18 E+0 5,47 E+0 5,14 E+0 5,63 E+0 5,52 E+0
1) Die extrapolierte Reichweite ist die Eindringtiefe an dem Punkt, wo die Tangente an der steilsten Stelle des fast linear abfallenden Teils der Transmissionskurve für mono-
energetische Elektronen, wie sie üblicherweise auf den Schichtabsorber auftreffen, die x-Achse schneidet (Transmission = 0).
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Maximaldosis

Energiedosis

Oberflächendosis

0 RU Tiefe

Bild 1: Typische Tiefendosisverteilung in einem homogenen Material nach Bestrahlung

in einem strahlentechnischen Elektronenbeschleuniger

4
1 MeV-Elektronen
2)
MeV/(g/cm

3 Polyethylen

2
Luftschicht, 20 cm

Strahlfenster, 40 µm (Ti)
1

0 0,2 0,4 g/cm2 0,6

Tiefe

Bild 2: Beispiel für eine errechnete Energieübertragungsfunktion, I(z'), für eine Plattenschicht
von Polyethylen, die mit 1-MeV-Elektronen bestrahlt worden ist.
(z': Gesamttiefe im Drei-Schichten-Absorber: Strahlfenster, Luftschicht und Polyethylenschicht)
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4
1 MeV
MeV/(g/cm2)
____________ PE
–––––––– PMMA
– ·– · – · –· –·– PTFE
3
······················· PVC

Strahlfenster 40 µm (Ti)

2 Luftschicht 20 cm
I(Z’)

0 0,2 0,4 g/cm2 0,6

Tiefe

Bild 3: Beispiel für eine errechnete Energieübertragungsfunktion, I(z'),

für typische organische Isolierstoffe, die mit 1-MeV-Elektronen bestrahlt worden sind.
(z': Gesamttiefe im Drei-Schichten-Absorber: Strahlfenster, Luftschicht und Isolierstoffschicht)
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Energiedosis

Rückplatte
Probe aus equivalentem
Material

a) Tiefe

Equivalentes Material
Energiedosis

Probe

b) Tiefe

Bild 4: Zwei Methoden der Anordnung von Bestrahlungsproben zur Berücksichtigung

der typischen Tiefendosisverteilungen:
a) Probe und Rückplatte aus equivalentem Material
b) Probe sandwichartig zwischen zwei Platten aus equivalentem Material
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Dosimeterfilm
Bestrahlungsproben

a) b) c)

Keilabsorber Strahlrasterung

Dosimeterfilm

Transportsystem

d) e)

Bild 5: Methoden der Anordnung der Bestrahlungsproben für die Messung der Tiefendosisverteilung
bei Elektronenbestrahlung unter Verwendung eines Stapels von Schichten oder von keilförmigen
Proben von Isolierstoffen:
a) gleichmäßig geschichtete Stapel, b) alternierende Schichten, c) versetzt eingelegter Film,
d) lineare Keile, e) Stufenkeil
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Anhang A (normativ)

Dosisaufbaubereich und Sekundärelektronengleichgewicht

Wenn ein Material mit Röntgen- oder Gammastrahlen, die frei von Sekundärelektronen sind, aus einer Richtung
bestrahlt wird, so findet mit zunehmender Eindringtiefe im ersten Absorberteil eine Zunahme der Energieabgabe
statt (Dosisaufbaubereich), bis das Maximum der Tiefendosiskurve erreicht ist. Die Dicke dieser Dosisaufbau-
schicht ist eine Funktion der Energie der Strahlung und der Elektronendichte des bestrahlten Materials. Nach
Überschreiten des Maximums der Tiefendosiskurve nimmt mit weiter zunehmender Eindringtiefe die absorbierte
Energiemenge wieder ab. Von diesem Maximum ab liegt Sekundärelektronengleichgewicht vor.
In Bild A.1 ist ein typischer Verlauf der Energieabgabe als Funktion der Schichtdicke dargestellt. Wenn ein Material
von allen Seiten bestrahlt wird, muß es von allen Seiten mit einem Absorber umgeben werden, um das Sekundär-
elektronengleichgewicht in allen Teilen des Materials sicherzustellen. Bei sehr stark gestreuter Strahlung wird kein
Dosisaufbau beobachtet. Für gut definierte Bestrahlungsbedingungen wird aber auch hier die Verwendung von
Absorberschichten empfohlen.
In Bild A.2 ist die zur Erreichung des Sekundärelektronengleichgewichts erforderliche Absorberdicke als Funktion
der Strahlenenergie für ein Material der Elektronendichte von 3,3 ·1023 cm– 3 dargestellt. In Bild A.3 ist die Dicke
der Wasserschicht (oder eines anderen Materials der gleichen Elektronendichte) als Funktion der Strahlenenergie
für gegebene Schwächung bei Bestrahlung aus einer Richtung aufgetragen.
ANMERKUNG: Die Elektronendichte n eines Materials kann nach folgender Gleichung errechnet werden:

n=ρ
NA
M
Σ
i
[ N
]
Z i cm –3 = A Σ Ζ i g –1
M i
[ ] (A.1)

Dabei sind:
ρ Dichte in g/cm3;
NA 6,023 ·1023 mol– 1, Avogadrosche Zahl;
M Molmasse in g/Mol;
Zi Ordnungszahl des Elements i;
ΣiZi Gesamtanzahl der Elektronen je Molekül.
Da 1/M (ΣiZi) für die Elemente bis Z = 17 (ausgenommen Wasserstoff) praktisch den Wert 0,5 hat, kann für orga-
nische Werkstoffe näherungsweise geschrieben werden

n =ρ
NA
2 [ ]
= 3 ⋅ 10 23 ρ cm –3 = 3 ⋅ 10 23 g –1 [ ]
Die Bilder A.1 bis A.3 sind mit dieser Gleichung berechnet worden.
Die Tiefendosiskurve in Bild A.2 verschiebt sich für Werkstoffe höherer Elektronendichte nach links zu kleineren
Schichtdicken und umgekehrt. Diese Equivalenzschichtdicke kann durch Division der Werte in Bild A.2 durch das
Verhältnis der Elektronendichte des Werkstoffs und der des Wassers (3,3 × 1023 cm– 3) erhalten werden.
Wird beispielsweise eine Polytetrafluorethylen-(PTFE)-Folie mit Photonen der Energie 1,1 MeV bestrahlt, so ergibt
sich aus Bild A.2, daß 0,5 cm eines Werkstoffs mit einer Elektronendichte von 3,3 ·1023 cm– 3, z. B. Wasser, zur
Erreichung des Sekundärelektronengleichgewichts die Probe umgeben muß .
Für PTFE mit einer Dichte von ρ = 2,2 g/cm3 errechnet sich
nPTFE 3 ⋅ 10 23 ⋅ 2
= 3 ⋅ 10 23 = 2 und
nH O 2;3
2

dH
2O
dPTFE = = 0,25 cm
nPTFE / nH
2O

Das bedeutet, daß eine Schicht von 0,25 cm PTFE die Folie umgeben muß .
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Dosisaufbaubereich
Energiedosis

Bereich mit
Sekundärelektronengleichgewicht

Schichtdicke (cm)

Bild A.1: Energiedosis als Funktion der Schichtdicke (Eindringtiefe).

Im Dosisaufbaubereich links des Maximums herrschen undefinierte Verhältnisse,
daher muß die bestrahlte Probe ggf. unter Verwendung eines Absorbers ausreichend dick sein,
um in den brauchbaren Bereich des Sekundärelektronengleichgewichts
rechts des Maximums zu gelangen.
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Strahlenenergie (MeV)

Absorberdicke (cm)

Bild A.2: Die zur Erreichung des Sekundärelektronengleichgewichts erforderliche Absorberdicke

als Funktion der Strahlenenergie für ein Material der Elektronendichte 3,3 ·1023 cm–3 (z. B. Wasser)
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10 % Schwächung
Strahlenenergie (MeV)

25 % Schwächung

Schichtdicke (cm)

Bild A.3: Schichtdicke von Wasser (1 g/cm3) in Abhängigkeit von der Strahlenenergie
für eine vorgegebene Schwächung der Röntgen- oder Gammastrahlung aus einer Richtung
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Anhang B (normativ)

Ableitung der Numerischen Faktoren fi

Die Menge der absorbierten Energie bei Bestrahlung eines Materials mit Röntgen- oder Gammastrahlung wird
durch den Massenenergie-Absorptionskoeffizienten (µen/ρ)m des Materials bestimmt.
Dieser kann aus den Massen-Absorptionskoeffizienten erhalten werden, indem nur der Anteil der wirklich absor-
bierten Photonenenergie berücksichtigt wird, d. h. Korrekturen für Fluoreszenz, Streuungs-, Löschungs-, Strah-
lungs- und Bremsstrahlungsverluste angebracht werden.
Für den Massenenergie-Absorptionskoeffizienten eines Materials, ob einfach oder zusammengesetzt, gilt in guter
Näherung:

(µ en / ρ ) m = ∑ Wi (µ en / ρ )i (B.1)
i

wobei Wi bzw. (µen/ρ)i den Massenanteil bzw. den Massenenergie-Absorptionskoeffizienten des Bestandteils i
bedeutet.
Einer Ionendosis von 1 C/kg entspricht eine Energieabsorption von 33,68 J/kg (basierend auf dem Wert von
(33,7 + 0,2) eV für die Bildung eines Ionenpaares in Luft) im Fall des Sekundärelektronengleichgewichts. Damit
wird für ein beliebiges Material bei gleicher Ionendosis:

(µ en / ρ ) m (µ en / ρ ) m
Dm = DLuft = 33,68 X (B.2)
(µ en / ρ )Luft (µ en / ρ )Luft
Dabei sind:
Dm Energiedosis im Material m in Gy;
DLuft Energiedosis in Luft in Gy;
(µen/ρ)m Massenenergie-Absorptionskoeffizient des Materials m;
(µen/ρ)Luft Massenenergie-Absorptionskoeffizient für Luft;
X Ionendosis in C/kg.
Das Einsetzen der Gleichung (B.1) in Gleichung (B.2) ergibt:

Dm = X ∑Wf
i
i i (B.3)

(µ en / ρ )i
fi = 33,68 (J/C) (B.4)
(µ en / ρ )Luft
ANMERKUNG: Für die Angabe der numerischen Faktoren fi in den alten c.g.s. Einheiten rd/R (1 rd/R =
38,76 J/C) gilt:

(µ en / ρ )i
fi = 0, 870 (rd/R)
(µ en / ρ )Luft
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Anhang C (informativ)

Literaturhinweise
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Parts 39 and 45 (1976).
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Anhang ZA (normativ)

Andere in dieser Norm zitierte internationale Publikationen

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geändert wurden, durch (mod) angegeben, gelten die entsprechenden EN/HD.

Publikation Jahr Titel EN/HD Jahr

IEC 544-2 1991 Guide for determining the effects of ionizing radiation on insulating – –
materials – Part 2: Procedures for irradiation and test
IEC 544-4 1985 Part 4: Classification system for service in radiation environments – –