Mai 2014

ICS 17.220.20 VDI/VDE/DGQ/DKD-RICHTLINIEN May 2014

VEREIN
DEUTSCHER
VDI/VDE/DGQ/
INGENIEURE DKD 2622
VERBAND DER
Kalibrieren vom Messmitteln für elektrische Größen
Blatt 4 / Part 4
ELEKTROTECHNIK Oszilloskope
ELEKTRONIK
INFORMATIONSTECHNIK Calibration of measuring equipment for electrical
Former edition: 11/12 Draft, in German only

DEUTSCHE quantities
Frühere Ausgabe: 11.12 Entwurf, deutsch

GESELLSCHAFT FÜR
QUALITÄT Oscilloscopes
DEUTSCHER KALIBRIER- Ausg. deutsch/englisch
DIENST Issue German/English

Die deutsche Version dieser Richtlinie ist verbindlich. The German version of this standard shall be taken as authori-
tative. No guarantee can be given with respect to the English
translation.

Inhalt Seite Contents Page

Vorbemerkung ......................................................... 2
Einleitung ................................................................. 2
1 Anwendungsbereich......................................... 2
2 Normative Verweise .......................................... 3
3 Formelzeichen und Abkürzungen ................... 3
4 Vorbereitung der Kalibrierung ......................... 4
4.1 Beschaffenheits-, Sicherheits- und
Funktionsprüfung ....................................... 4
4.2 Einstellung der Referenz- und
Einsatzbedingungen ................................... 4
5 Durchführung der Kalibrierung ....................... 4
5.1 Grundprinzipien der Oszilloskope ............. 4
5.2 Beschreibung des
Kalibriergegenstands .................................. 6
5.3 Beschreibung der Kalibrierverfahren ......... 8
5.4 Messunsicherheitsermittlung ................... 27
6 Auswertung und Dokumentation ................... 27
Anhang Beispiele zur Berechnung der
Messunsicherheiten ............................ 28
A1 Kalibrierung der Vertikalablenkung
eines 100-MHz-Oszilloskops ................... 28
A2 Kalibrierung der Bandbreite B eines
500-MHz-Oszilloskops ............................ 33
A3 Kalibrierung der Anstiegszeit eines
20-GHz-Oszilloskops ............................... 44
A4 Kalibrierung der Triggerbandbreite
eines 500-MHz-Oszilloskops ................... 49
Schrifttum .............................................................. 52
Preliminary note....................................................... 2
Introduction ............................................................. 2
1 Scope ................................................................. 2
2 Normative references ....................................... 3
3 Symbols and abbreviations ............................. 3
4 Preparation for calibration ............................... 4
4.1 Visual inspection, safety check, and
preliminary function checks....................... 4
4.2 Adjustment of reference and operating
conditions................................................... 4
5 Performing the calibration ............................... 4
5.1 Fundamental principles of
oscilloscopes .............................................. 4
5.2 Description of the device under test........... 6
5.3 Description of calibration procedures ........ 8
5.4 Determination of measurement
uncertainties ............................................. 27
6 Evaluation and documentation...................... 27
Annex Examples of measurement
uncertainty calculation .......................... 28
A1 Calibration of the vertical deflection
of a 100 MHz oscilloscope ...................... 28
A2 Calibration of the bandwidth of a
500 MHz oscilloscope ............................. 33
A3 Calibration of the rise time of a
20 GHz oscilloscope ................................ 44
A4 Calibration of the trigger bandwidth of
a 500 MHz oscilloscope........................... 49
Bibliography .......................................................... 52

VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA)

Fachbereich Fertigungsmesstechnik
–2– VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Vorbemerkung
Der Inhalt dieser Richtlinie ist entstanden unter
Beachtung der Vorgaben und Empfehlungen der
Richtlinie VDI 1000.
Allen, die ehrenamtlich an der Erarbeitung dieser
VDI-Richtlinie mitgewirkt haben, sei gedankt.
Einleitung
Die Richtlinienreihe VDI/VDE/DGQ/DKD 2622
umfasst neben Blatt 1 „Grundlagen“ und Blatt 2
„Messunsicherheiten“ in Blatt 3 ff. Anweisungen
zur Kalibrierung von häufig eingesetzten Messmit-
teln für elektrische Größen. Die vorliegende Richt-
linie ist in Anlehnung an die Publikation
„Calibration Guide EURAMET cg-7 Version 1.0
(06/2011) Calibration of Oscilloscopes“ erarbeitet
worden.
Eine Liste der aktuell verfügbaren Blätter dieser
Richtlinienreihe ist im Internet abrufbar unter
www.vdi.de/2622.
1 Anwendungsbereich
Diese Richtlinie legt für die Kalibrierung von
Messmitteln für elektrische Größen allgemeingül-
tige Kalibrierverfahren fest und schafft damit für
die Prüfmittelüberwachung eine einheitliche über-
betriebliche Basis.
Die Richtlinie behandelt die Kalibrierung von Os-
zilloskopen. Sie erhebt nicht den Anspruch, alle
auch für die Kalibrierung wichtigen messtechni-
schen Einzelheiten der Oszilloskope vollständig zu
behandeln. In dieser Richtlinie werden entspre-
chende Normen und Unterlagen (siehe Schrifttum)
berücksichtigt. Zusätzlich sind die Herstelleranga-
ben bei der Kalibrierung für das jeweilige Oszil-
loskop zu beachten.
Zu den in dieser Richtlinie behandelten Oszillos-
kopen gehören sowohl Analogoszilloskope (AO)
als auch Digitalspeicheroszilloskope (DSO) sowie
Samplingoszilloskope und Transientenrekorder,
sowie daran angeschlossene Tastköpfe. Die Gül-
tigkeit der Kalibrierung eines Tastkopfs ist nur im
Zusammenhang mit dem kalibrierten Oszilloskop
und der verwendeten Adaption (Hinweis im Kalib-
rierschein) gegeben. Die Kalibrierung des Tast-
Preliminary note
The content of this standard has been developed in
strict accordance with the requirements and rec-
ommendations of the standard VDI 1000.
We wish to express our gratitude to all honorary
contributors to this standard.
Introduction
In addition to Part 1, “Fundamental principles”,
and Part 2, “Measurement uncertainty”, Part 3 et
seq. of the series of standards VDI/VDE/DGQ/
DKD 2622 contain instructions for the calibration
of frequently used measuring equipment for elec-
trical quantities. This standard has been prepared
following the publication “Calibration Guide
EURAMET cg-7 Version 1.0 (06/2011) Calibra-
tion of Oscilloscopes”.
A catalogue of all available parts of this series of
standards can be accessed on the Internet at
www.vdi.de/2622.
1 Scope
The standard specifies generally applicable calibra-
tion methods for the calibration of measuring
equipment for electrical quantities and thus creates
a uniform, cross-company basis for the monitoring
of test equipment.
This standard treats the calibration of oscillo-
scopes. It does not cover all technical details of
oscilloscopes, even when they are important for
calibration. The relevant standards and documents
(see Bibliography) have been taken into account in
this standard. In addition, for a specific oscillo-
scope calibration, the user must take into consid-
eration the documentation provided by the manu-
facturer of the oscilloscope in question.
In this standard, both analogue oscilloscopes (AO)
and digital storage oscilloscopes (DSO) as well as
sampling oscilloscopes and transient recorders
(along with probes connected to them) are dis-
cussed. The calibration of voltage probes is only
valid in combination with a calibrated oscillo-
scope. The calibration certificate must state which
adaptor was used between them as well as the os-
cilloscope channel used. The calibration of the test
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 –3–

kopfs ist eindeutig einem Kanal zuzuordnen. Der
verwendete Tastkopf ist im Kalibrierschein zu
identifizieren.
Bei der Kalibrierung kann die Messwertdarstellung
über eine Elektronenstrahlröhre, ein Display, einen
Anzeigewert oder als digitaler Datenstrom erfol-
gen.
probe needs to be assigned clearly to a channel.
The used test probe needs to be stated in the cali-
bration certificate.
The measured values are displayed as a waveform
by a cathode-ray tube (CRT), a display, an indi-
cated value or they can be processed and stored as
a digital data stream.

2 Normative Verweise 2 Normative references

Die folgenden zitierten Dokumente sind für die
Anwendung dieser Richtlinie erforderlich:
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 1:2001-01 Kali-
brieren von Messmitteln für elektrische Größen;
Grundlagen
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 2:2003-05 Kali-
brieren von Messmitteln für elektrische Größen;
Methoden zur Ermittlung der Messunsicherheit
The following referenced documents are indispen-
sable for the application of this standard:
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Part 1:2001-01 Cali-
bration of measuring equipment for electrical
quantities; Fundamentals
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Part 2:2003-05 Cali-
bration of measuring means for electrical quan-
tities; Methods for the determination of the
measurement uncertainty

3 Formelzeichen und Abkürzungen 3 Symbols and abbreviations

Formelzeichen Symbols
In dieser Richtlinie werden die nachfolgend aufge- The following symbols are used throughout this
führten Formelzeichen verwendet: standard:
Formel- Benennung Symbol Term
zeichen
B 3-dB-Bandbreite des Oszilloskops B 3-dB bandwidth of an oscilloscope
E Erwartungswert E expected value
FV Frequenzgang (Flatness) der Spannungs- FV flatness of the voltage characteristic
charakteristik
f Frequenz f frequency
fc Grenzfrequenz fc cut-off frequency
fRef Referenzfrequenz fRef reference frequency
P HF-Leistung P HF power
Pein auf das Messobjekt eingestrahlte HF-Leistung Pein incident HF power on measuring object
Pref auf das Messobjekt reflektierte HF-Leistung Pref reflected HF power on measuring object
Sr relative Steilheit einer Charakteristik Sr relative slope of a characteristic
ta Anstiegszeit des Oszilloskops (DUT) ta oscilloscope rise time (DUT)
ta_mess gemessene Anstiegszeit ta_mess measured rise time
ta_Normal Anstiegszeit des Puls-Normals ta_Normal rise time of the pulse standard
tr Anstiegszeit tr rise time
Uein auf das Messobjekt einfallende Spannung Uein voltage incident on measuring object
Uref am Messobjekt reflektierte Spannung Uref voltage reflected at measuring object
USS Spitze-Spitze-Spannung USS peak-to-peak voltage
UX NF-Spannung bzw. Überlagerung der ein- UX LF voltage or superpositioning of incident
fallenden und reflektierten Spannung and reflected voltage
UZ0 Spannung an einem angepassten UZ0 voltage at an adapted load resistance Z0
Lastwiderstand Z0
Z komplexe Impedanz Z complex impedance
Z0 Wellenwiderstand einer Leitung Z0 natural impedance of a transmission line
komplexer Spannungsreflexionsfaktor complex voltage reflection factor
–4– VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Abkürzungen
In dieser Richtlinie werden die nachfolgend aufge-
führten Abkürzungen verwendet:
A Abschwächer
AC Wechselstrom
ADC Analog-Digital-Konverter
AO Analogoszilloskop
CRT Kathodenstrahlröhre
DC Gleichspannung
DSO Digitalspeicheroszilloskop
DUT Messobjekt
4 Vorbereitung der Kalibrierung
4.1 Beschaffenheits-, Sicherheits- und
Funktionsprüfung
Vor der Kalibrierung ist der allgemeine äußere
Zustand und die Funktionsfähigkeit des Oszillos-
kops, z. B. die Funktion der Schalter, Einsteller,
Anzeigen sowie der Betriebsarten, zu überprüfen.
Soft- oder Firmware gestützte Geräte sind auf de-
ren korrekte Installation zu prüfen. Versionsnum-
mer oder -datum sollten dokumentiert werden.
Bei Mängeln, die die Funktion in unzulässiger
Weise beeinträchtigen können, erfolgt die Kalibrie-
rung erst nach deren Beseitigung.
4.2 Einstellung der Referenz- und
Einsatzbedingungen
Die Kalibrierung ist bei den für das Oszilloskop
und für die Kalibriereinrichtung geltenden Refe-
renzbedingungen (z. B. Umgebungstemperatur, Luft-
feuchte, Spannungsversorgung, Klirrfaktor) durch-
zuführen. Weichen die Einsatzbedingungen von
den Referenzbedingungen ab, so sind die zusätzli-
chen Anteile zur Messunsicherheit (vgl. Ab-
schnitt 5.4 und Anhang) zu berücksichtigen. Wäh-
rend der Kalibrierung muss sich der Messaufbau
im thermischen Gleichgewicht befinden. Die von
den Herstellern angegebenen Anwärmzeiten sind
einzuhalten.
5 Durchführung der Kalibrierung
5.1 Grundprinzipien der Oszilloskope
Bei den heute üblichen Oszilloskopen lassen sich
im Wesentlichen drei Grundprinzipien unterschei-
den [1]:
a) Analoge Echtzeitoszilloskope mit Bandbreiten
bis etwa 500 MHz. Sie haben meist umschaltba-
re Eingangsimpedanzen (z. B. zwischen nieder-
ohmig 50 und hochohmig 1 M ), die sich
mit der Frequenz verändern können (besonders
Abbreviations
The following abbreviations are used throughout
this standard:
A attenuator
AC alternating current
ADC analogue-to-digital converter
AO analogue oscilloscope
CRT cathode ray tube
DC direct current
DSO digital storage oscilloscope
DUT device under test
4 Preparation for calibration
4.1 Visual inspection, safety check, and
preliminary function checks
Prior to calibration, the overall external condition
and the functionality of the oscilloscope, e.g. the
functionality of control switches, knobs, display
and of the operating modes, must be inspected. A
check should also be made that the software and
firmware on which equipment depends has been
correctly installed. Software release numbers or
dates should be noted.
Defects that could unacceptably affect operation
must be remedied before calibration.
4.2 Adjustment of reference and operating
conditions
Calibration must be carried out under the reference
conditions valid for the calibration facility (e.g.
ambient temperature, humidity, stabilised voltage
supply, harmonic distortion) and for the individual
oscilloscope. If the operating conditions differ
from the reference conditions, additional meas-
urement uncertainty contributions (cf. Section 5.4
and Annex) will need to be included in the uncer-
tainty budget. During calibration, the measuring
set-up must be kept in thermal equilibrium. The
warm-up times specified by the manufacturer must
be observed.
5 Performing the calibration
5.1 Fundamental principles of oscilloscopes
The oscilloscopes in common use today can be
categorised into three different types [1]:
a) Analogue real-time oscilloscopes offering band-
widths up to about 500 MHz. In most cases,
their input impedance is switchable (e.g. be-
tween 50 !"#$!%&'()*+,(!*+)!- . !/%0/!%m-
pedance). The input impedance can vary with

bei hochohmigen Impedanzen). Es ist zu beach-
ten, dass Oszilloskophersteller den Ausdruck
„Eingangsimpedanz“ häufig missverständlich
benutzen, da er oft nur für Gleichspannung gilt.
Meistens ist die Eingangsimpedanz für Fre-
quenzen oberhalb der Gleichspannung nicht
spezifiziert (siehe Bild 1a).
b) Digitalspeicheroszilloskope mit Bandbreiten bis
20 GHz und darüber haben meist zwei zwi-
schen 1 M und 50 umschaltbare Eingangs-
impedanzen (siehe Bild 1b).
c) Samplingoszilloskope mit Bandbreiten von
zurzeit bis ca. 100 GHz. Sie haben nur eine
50- -Eingangsimpedanz für das Hochfre-
quenz(HF)-Leitungssystem mit einem der Band-
breite entsprechenden HF-Konnektor. Der Span-
nungsbereich des Eingangssignals ist auf weni-
ge Volt begrenzt (siehe Bild 1c).
Bild 1a. Vereinfachtes Blockschaltbild eines ana-
logen Echtzeitoszilloskops mit Leuchtschirm
Bild 1b. Vereinfachtes Blockschaltbild eines Digi-
tal-Speicheroszilloskops
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 –5–
frequency, especially in the case of high imped-
ances. Note that the manufacturers of oscillo-
scopes use the term “input impedance” in a mis-
leading way because it often only applies to
DC. In most cases, the input impedance at fre-
quencies above DC is not specified (see Fig-
ure 1a).
b) Digital storage oscilloscopes offering band-
widths up to 20 GHz and above. In most cases
they have two input impedances switchable be-
tween 1 M !and 50 (see Figure 1b).
c) Sampling oscilloscopes offering bandwidths
currently up to approx. 100 GHz. Their input
connectors only have one input impedance of
50 for the high-frequency (HF) line system
with an HF connector corresponding to the os-
cilloscope bandwidth. The voltage range of the
measurement signal is limited to a few volts
(see Figure 1c).
Figure 1a. Simplified block diagram of an ana-
logue real-time oscilloscope with cathode-ray tube
(CRT)
Figure 1b. Simplified block diagram of a digital
storage oscilloscope
–6– VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Bild 1c. Vereinfachtes Blockschaltbild eines Sam-
plingoszilloskops
5.2 Beschreibung des Kalibriergegenstands
Das Oszilloskop ist ein wichtiges Messgerät zur
Darstellung der Abhängigkeit zweier physikali-
scher Größen entsprechend der Funktion
y f (x) (1)
Dabei entspricht die y-Koordinate einer elektri-
schen Eingangsspannung. Die x-Koordinate ist in
der Regel eine Zeitfunktion, sie kann aber auch
einer elektrischen Eingangsspannung entsprechen.
Mit dem Oszilloskop können sowohl Gleich- und
Wechselspannungen als auch Wechselspannungen
mit Gleichanteilen analysiert werden.
Der Aufbau eines Oszilloskops (siehe Bild 2)
lässt sich prinzipiell unterteilen in
! ein Vertikalsystem,
! ein Horizontalsystem,
! eine Bildschirm-/Auswerteeinheit und
! ein Betriebssystem.
Zum Kalibrierumfang gehört im Allgemeinen die
Kalibrierung der
! Vertikalablenkung (Vertikalverstärkung),
! Horizontalablenkung (Zeitbasis),
! Bandbreite und/oder Anstiegszeit (siehe Ab-
schnitt 5.3.3 und Abschnitt 5.3.4),
! interne Kalibriersignale (interne Referenzen),
! Triggerschaltung (Verstärkung und Bandbreite)
(optional),
! X-Y-Modus (Verstärkung und Bandbreite) (op-
tional).
Bei Einschuboszilloskopen mit austauschbaren Ein-
schüben ist die Konfiguration (Seriennummern und
Einschubpositionen) zu dokumentieren. Die Kali-
brierung ist nur bei derselben Konfiguration gültig.
Figure 1c. Simplified block diagram of a sampling
oscilloscope
5.2 Description of the device under test
Oscilloscopes are important measurement instru-
ments for displaying the dependance of two physi-
cal values as expressed by the function
y f (x) (1)
The vertical or y-axis of the graticule typically
represents an electrical input voltage while the
horizontal or x-axis typically represents time. The
x-axis can correspond to an electrical input voltage
as well. An oscilloscope analyses DC voltages, AC
voltages, and AC voltages having a DC offset.
An oscilloscope system can basically be divided
into (see Figure 2)
! a vertical system,
! a horizontal system,
! a display unit,
! an operating system.
Oscilloscope calibration generally includes calibra-
tion of the
! vertical deflection (vertical gain),
! horizontal deflection (time-base),
! rise time and/or bandwidth (see Section 5.3.3
and Section 5.3.4),
! internal calibration signals (internal references),
! trigger circuit (gain and bandwidth) (optional),
! X-Y mode (gain and bandwidth) (optional).
For oscilloscopes with exchangeable plug-in units,
the individual configuration (serial number of
plug-in unit and plug-in position) should be docu-
mented. The calibration is valid only for the speci-
fied configuration.
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 –7–

Bei allen Kalibrierungen müssen sich die Einstell- The control buttons for the deflection coefficients
elemente für die Ablenkkoeffizienten in einer defi- must be put into a defined position for all calibra-
nierten Stellung befinden, die auch dokumentiert tions and must also be documented.
werden muss.

Bild 2. Aufbau und Merkmale eines Oszilloskops

Figure 2. Oscilloscope units and design criteria

–8– VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Die Erfassung der Messwerte kann dabei manuell
oder gesteuert erfolgen (z. B. über eine Schnittstel-
le):
visuell am Anzeigegitter
über Cursor-Messungen
über installierte Messfunktionen
(z. B. Amplitude, Periodendauer etc.)
In der Regel wird man diejenige Erfassungsmetho-
de wählen, die voraussichtlich die kleinste Mess-
unsicherheit liefert. Es ist zu dokumentieren, wel-
che der genannten Methoden gewählt wurde.
Bei verrauschten Signalen bzw. kleinen Signal-
Rauschverhältnissen kann man, um eine glattere
Signaldarstellung zu erhalten, die Mittelungsfunkti-
on („Averaging mode“) der Digitaloszilloskope
verwenden. Diese Mittelung sollte jedoch mit Vor-
sicht angewendet werden. Verrauschte Signale füh-
ren häufig zu Jittereffekten. Jitter ist die statistische
Streuung der zeitlichen Signalposition, z. B. durch
ein verrauschtes Triggersignal. Eine Mittelung von
Signalen, die durch Jitter gestört sind, kann die Sig-
nalform wesentlich verzerren. Die Bestimmung der
Amplitude, der Pulsbreite und der Anstiegszeit eines
gemittelten Wellenzugs, der durch Jitter beeinträch-
tigt ist, kann zu schlechten Ergebnissen führen. Es
ist leicht möglich, dass dadurch ein wesentlicher
Messunsicherheitseinfluss hervorgerufen wird. Jitter
wird in diesem Dokument nicht weiter behandelt,
mehr Details sind in [2] angegeben.
5.3 Beschreibung der Kalibrierverfahren
5.3.1 Kalibrierung der vertikalen Achse
(Amplitudenkalibrierung)
Bei der Durchführung der Amplitudenkalibrierung
der Vertikal- und Horizontalablenkung können
geschaltete Gleichspannungen,
Wechselspannungen (Sinuskurven) und
Impulse
verwendet werden. Die Messung der Amplitude ist
im niederfrequenten Bereich bis 50 kHz durchzu-
führen, der in der Regel als linearer Bereich der
Amplituden-Frequenz-Charakteristik der Oszillos-
kope angenommen werden kann (siehe Bild 9a in
Abschnitt 5.3.3).
Vorzugsweise ist bei Wechselspannungen eine
Wiederholungsfrequenz zwischen 1 kHz und
100 kHz zu verwenden. Die Messwertaufnahme
beim DSO sollte mit einer Aussteuerung ! 80 %
des Messgitters erfolgen (Bild 3), bei Analogos-
zilloskopen (AO) jedoch mit einer Aussteuerung
" 70 %. Dabei sind die vom Hersteller angegebe-
Measurement data can be acquired either manually
or automatically (e.g. via a data interface) by
visually reading off from the display grid,
using the cursor functions, or
using firmware functions
(e.g. amplitude, periodic time, etc.)
In most cases, the acquisition method chosen will
be the one expected to give the smallest associated
measurement uncertainty contribution. Which one
of the methods mentioned is selected should be
documented.
The averaging mode of digital oscilloscopes can be
used to obtain a smoother signal under noisy oper-
ating conditions or with low signal-to-noise ratios.
However, averaging has to be applied with care.
Noisy operating conditions often lead to jitter ef-
fects. Jitter is the random scattering of the signal
position over time, caused, for example, by a noisy
trigger signal. Averaging of signals affected by
jitter might result in a seriously distorted wave-
form. Evaluation of the amplitude, width and rise
time of an averaged waveform affected by jitter
can lead to erroneous results. This error contribu-
tion could easily become the dominating error of
the measurement. Jitter is not further discussed in
this document. For more details refer to [2].
5.3 Description of calibration procedures
5.3.1 Calibration of the vertical axis
(amplitude calibration)
Amplitude calibration of both the vertical and the
horizontal deflections can be performed by apply-
ing the following test signals:
switched DC voltage,
AC voltage (sine wave), and
pulses.
The amplitude should be measured in the low fre-
quency range up to 50 kHz which can usually be
assumed to be the linear range of the ampli-
tude/frequency characteristic of the oscilloscope
(see Figure 9a in Section 5.3.3).
In the case of an AC calibration signal, a repetition
frequency between 1 kHz and 100 kHz is recom-
mended. For DSOs, measured values should be
captured with a modulation amplitude of ! 80 %
coverage of the grid (Figure 3). In contrast, for
analogue oscilloscopes, a coverage of " 70 % is
preferable. Whatever the case, to avoid any over-

nen Arbeitsbereiche zu berücksichtigen, um die
Eingänge des Messobjekts nicht zu überlasten oder
zu übersteuern.
Bild 3. Kalibrierung der Vertikalablenkung bei DSO
Die Kalibrierung ist in jeder Spannungsteilerstel-
lung des hochohmigen Eingangs durchzuführen.
Wenn der Dynamikbereich der A/D-Konverter/
Abschwächer-Kombination das Gitter überschrei-
tet, sollte der Vertikalbereich des DSO entspre-
chend der Herstellerempfehlung kalibriert werden.
Besitzt der Eingang zusätzlich einschaltbar eine
niederohmige Eingangsimpedanz (z. B. 50 ) und/
oder eine zusätzlich einschaltbare Verstärkung
(z. B. × 5), so ist die Anzeigeabweichung in einem
beliebigen Messbereich zu prüfen. Die übrigen
anzuzeigenden Werte und Abweichungen können
aus den Werten der Messung des hochohmigen
Eingangs berechnet werden.
Bei Mehrkanalsystemen sind die Messungen mit
der Kanalnummer zu identifizieren. Die Kalibrie-
rung eines Tastkopfs ist nur sinnvoll in Verbin-
dung mit dem dazugehörigen kalibrierten Oszillos-
kop (angezeigt im Kalibrierschein). Die Tastkopf-
kalibrierung muss eindeutig auf den angewendeten
Messeingang (Kanalnummer) bezogen sein, und
der benutzte Tastkopf muss im Kalibrierschein
identifiziert sein.
In Tabelle 1 wird ein Überblick zu den mögli-
chen Varianten der Rückführung der Kalibrierung
der Vertikalablenkung bei Oszilloskopen gegeben.
Im Folgenden werden die Varianten der Tabelle 1
beschrieben.
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 –9–
loading of the device under test, the operating
ranges specified by the manufacturer should be
taken into account.
Figure 3. Calibration of vertical deflection (DSO)
Calibration must be carried out at each voltage
divider position of the high impedance input. Since
the dynamic range of the A/D-converter/attenuator
combination may extend beyond the grid, the ver-
tical ranges of a DSO should be calibrated accord-
ing to the manufacturer’s recommendation. If the
input can be alternatively switched to a low input
impedance (e.g. 50 ) and/or has a switchable am-
plification (e.g. × 5), the display accuracy should be
checked in any one of the measuring ranges. The
other values and deviations to be displayed may be
calculated from the results of the high impedance
measurement.
For multi-channel systems, the measurement re-
sults must be linked to the corresponding oscillo-
scope channel. A probe calibration is only valid in
combination with the corresponding calibrated
oscilloscope (as shown on the calibration certifi-
cate). The probe calibration must be clearly associ-
ated with the channel used. The probe used must
be identified on the calibration certificate.
Table 1 summarises the possible methods for
traceable calibration of the vertical deflection of
oscilloscopes.
The options shown in Table 1 are described below.
– 10 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Tabelle 1. Rückführungsvarianten der Kalibrierung
der Vertikalablenkung
Variante Bezugsnormal Gebrauchsnormal
1 Digitalvoltmeter Oszilloskopkalibrator
2 AC-Kalibrator
3 Impulsgenerator
5.3.1.1 Rückführung über Gleichspannung
Die Rückführung der Kalibrierung der Vertikalab-
lenkung erfolgt über die Messgröße Gleichspan-
nung (Bild 4).
Mithilfe des Bezugsnormals Digitalvoltmeter oder
DC-Kalibrator kann ein Amplitudenkalibrator (z. B.
Oszilloskopkalibrator) kalibriert werden. In der
Betriebsart „Geschaltet (Chopped)“ des Ampli-
tudenkalibrators erfolgt die Kalibrierung der Oszil-
loskope. Dabei ist die zusätzliche Unsicherheit in
Betracht zu ziehen, die beim Übergang vom „DC“-
Betrieb in die Betriebsart „Geschaltet“ entsteht.
5.3.1.2 Rückführung über Wechselspannung
Die Rückführung erfolgt über die Messgröße
Wechselspannung (Bild 5). Bezugsnormal kann
ein AC-Kalibrator bzw. ein Digitalvoltmeter sein.
Es muss sichergestellt sein, dass die Kurvenform
der Wechselspannung nur insoweit von der Sinus-
form abweicht, dass durch die Ermittlung des Schei-
telwerts über den Scheitelfaktor die Messunsicher-
heit der Kalibrierung nur unwesentlich beeinflusst
wird. Dies ist gegebenenfalls durch eine Klirr-
faktormessung zu untersuchen.
5.3.1.3 Rückführung über Impulsmessungen
Zur Rückführung wird ein kalibrierter Impulsgene-
rator benutzt (Bild 6).
5.3.2 Kalibrierung der horizontalen Achse
(Zeitbasiskalibrierung)
In einem AO muss der Zeitablenkgenerator die
richtige und zeitlineare Ablenkspannung im ge-
samten Frequenzbereich bis zu zehn Dekaden lie-
fern. Als kalibriert gilt dabei nur je ein in irgendei-
ner Weise definierter Einstellpunkt je Grobbereich.
Dehnungsfaktoren können in 1/2/5/10-Stufung
oder 1/3/10-Stufung vorliegen. Eine bestimmte
Stellung des Feinreglers (linker oder rechter An-
schlag, mechanischer Rastpunkt, Vorzugscode bei
inkrementeller Einstellung) – oft durch LED oder
Anzeige im Display markiert – definiert die nomi-
nelle kalibrierte Nennablenkgeschwindigkeit. Der
Regelbereich des Feinreglers muss eine Überlap-
pung der einzelnen unterschiedlich großen Teilbe-
reiche gewährleisten, ist aber nicht zu kalibrieren.
Table 1. Options for traceable vertical deflection
calibration
Option Reference Working standard
standard
1 digital voltmeter oscilloscope calibrator
2 AC calibrator
3 pulse generator
5.3.1.1 Traceability by DC
In this case, calibration of the vertical deflection is
performed with respect to a traceable DC voltage
(Figure 4).
Any amplitude calibrator (such as an oscilloscope
calibrator) can be calibrated with a digital voltme-
ter or a DC calibrator as reference standard. Oscil-
loscope calibration is then carried out in the
“chopped mode” of the amplitude calibrator. An
additional uncertainty contribution due to the
switching from DC mode to chopped mode must
be taken into account.
5.3.1.2 Traceability by AC
Calibration is performed using an AC voltage as
the measurement quantity. Either an AC calibrator
or a digital voltmeter is used as reference standard
(Figure 5). Since the peak value is calculated via
the peak factor, it must be ensured that a potential
deviation between the measurement AC waveform
and an ideal sinusoidal voltage only marginally
affects the measurement uncertainty of the calibra-
tion. This can be investigated by a harmonic distor-
tion measurement.
5.3.1.3 Traceability via pulse measurements
A calibrated pulse generator is used for traceable
calibration of the oscilloscope (Figure 6).
5.3.2 Calibration of the horizontal axis
(calibration of the time-base)
In an AO, the time-base generator output voltage
of the oscilloscope must be correct and linear over
the entire frequency range (up to ten decades).
Here only one defined point in each coarse range is
regarded as being calibrated. Expansion factors are
commonly realised in a 1/2/5/10 or in a 1/3/10
scaling. A defined position of the fine adjustment
knob (left or right stop, automatic snap-in point,
preferred code for incremental adjustment) – often
indicated by an LED or marked on the display –
defines the nominal calibrated sweep velocity. The
tuning range of the horizontal fine adjustment must
enable overlapping of the single, unequally sized
sub-ranges but does not need to be calibrated.
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 11 –

Oszilloskopkalibrator
Digitalvoltmeter DC mode
1) (Bezugsnormal) / (Transferstandard) /
digital voltmeter oscilloscope calibrator
(reference standard) DC mode (transfer
standard)

Oszilloskopkalibrator
Chopped mode
2) (Transferstandard) / Oszilloskop /
oscilloscope calibrator oscilloscope
chopped mode
Rückführung /
(transfer standard)
traceability

Bild 4. Rückführung der horizontalen Ablenkung Figure 4. Traceability of horizontal deflection by

über die Messgröße Gleichspannung measurand DC

AC Kalibrator
(Bezugsnormal) / Oszilloskop /
AC calibrator oscilloscope
(reference standard)
Rückführung /
traceability

Bild 5. Rückführung der horizontalen Ablenkung Figure 5. Traceability of horizontal deflection by

über die Messgröße Wechselspannung measurand AC

Pulsgenerator
(Bezugsnormal) / Oszilloskop /
pulse generator oscilloscope
(reference standard)
Rückführung /
traceability

Bild 6. Rückführung der horizontalen Ablenkung Figure 6. Traceability of horizontal deflection by

über die Impulsmessung pulse measurement

Pulsgenerator /
pulse generator

Universalzähler
(Bezugsnormal) / Oszilloskop /
universal counter oscilloscope
(reference standard)
Rückführung /
traceability

Bild 7. Rückführung der horizontalen Ablenkung Figure 7. Traceability of horizontal deflection by

(Zeitbasismessung) time-base measurement
– 12 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
A B
Bild 8. Kalibrierung der horizontalen Ablenkung
(Zeitablenkung)
Die zusätzliche Dehnung (Umschaltung der Nach-
verstärkung) um den Faktor 5 oder Faktor 10 ist zu
kalibrieren.
In einem DSO ist die Abweichung der Horizontab-
lenkung in der Regel von der Abweichung des
Sampling-Clock-Generators abhängig und deshalb
gibt es keine Abhängigkeit zwischen dem Display
und der Horizontalablenkung. Daher muss die
Horizontalablenkung nur in einem Messpunkt ge-
prüft werden.
Die Kalibrierung erfolgt gemäß Bild 7:
bei AO in allen Zeitbereichen
bei DSO in einem mittleren Zeitablenkbereich
Bei Doppelzeitbasisablenkungen sind beide Zeit-
basen unabhängig voneinander jeweils in der als
kalibriert gekennzeichneten Feinreglereinstellung
zu messen.
Kalibriersignale können im Prinzip beliebige peri-
odische Signale ausreichender Konstanz und Unsi-
cherheit sein. Vorzugsweise sind impulsförmige
Signale oder Synthesegeneratoren zu verwenden,
die durch phasenstarre Teilung aus einem rückge-
führten Grundtakt gewonnen werden.
Die Impulsfrequenz ist so zu wählen, dass mög-
lichst eine vollständige Impulsperiode pro Haupt-
gitterteilung abgebildet wird. Bei hohen Ablenkge-
schwindigkeiten ist das oft nicht möglich (Band-
breite des Vertikalsystems).
Gemäß Bild 8 ist bei Ablesung über das Gitter-
netz der horizontale Zeitabstand der abgebildeten
Impulsflanken (im Bereich der größten Anstiegs-
geschwindigkeit) von der zweiten (A) und der
vorletzten (B) senkrechten Hauptgitterlinien zu
bestimmen,
a) bei nicht variabler Impulsfrequenz durch Able-
sung/Interpolation,
b) bei variabler Impulsfrequenz durch Abgleich
auf Deckung mit den Hauptgitterlinien und Er-
Figure 8. Calibration of horizontal deflection (time-
base)
The additional expansion (switching of the
postamplification) by a factor of 5 or factor of 10
must be calibrated.
In a DSO, the accuracy of the horizontal deflection
is dependent on the accuracy of the sampling clock
generator and for this reason there is no depend-
ency between the display and the horizontal deflec-
tion. This means that the horizontal deflection only
needs to be checked at one point.
Calibration is carried out according to Figure 7:
for AO – in all time ranges
for DSO – in a medium-sized time-base range
For double time-base deflections, each time base
must be measured independently at the fine ad-
justment regulator setting marked as calibrated.
In principle, any stable and accurate periodic signal
can be used for calibration. By preference, pulsed
signals or synthesis generators which are generated
by phase-locked division from a traceable base
clock rate should be used.
A pulse frequency setting should be selected which
gives one complete pulse period per main grid
division. However, this is often not possible with
high sweep rates (bandwidth of the vertical sys-
tem).
According to Figure 8, when reading off via the
grid, the horizontal time interval between the pulse
edges (in the area of the highest rise rates) should
be determined from the second (A) and the penul-
timate (B) vertical main grid lines:
a) in case of a fixed pulse frequency, by reading/
interpolation
b) in case of a variable frequency, by adjustment
to coincidence with the main graticule lines and

fassung der tatsächlichen Periodendauer. Die
Deckung an der Hauptrasterlinie ist mithilfe des
Reglers für die horizontale Strahllage einzustel-
len und nach Periodendauerabgleichen nachzu-
regeln.
Bei Verwendung einer Messfunktion ist deren
genaue Bezeichnung anzugeben (z. B. „frequency“,
„period“, „pulse width“). Die Arbeitsbereiche und
Einschränkungen gemäß Herstellerangaben, spezi-
ell bei hohen Ablenkgeschwindigkeiten, sind zu
beachten. Es nicht sehr praktisch ein DSO mithilfe
des Gitters zu kalibrieren, da die Auflösungsmög-
lichkeit am Gitter verglichen mit der Genauigkeit
der Zeitablenkung sehr begrenzt ist. In solchen
Fällen kann die Verzögerungsfunktion des Oszil-
loskops verwendet werden, um eine höhere Auflö-
sung zu gewinnen, indem man über mehr als acht
Teilungen des Gitters misst. Im günstigen Fall,
wenn das zu untersuchende Oszilloskop einen
Ausgang für die Referenzfrequenz oder das ge-
choppte Kalibriersignal hat, kann die Frequenz aus
der Sampling-Clockrate gemessen und so die Ab-
weichung der Zeitbasis bestimmt werden.
5.3.3 Kalibrierung der Bandbreite
Die Bandbreite B wird durch denjenigen Frequenz-
punkt definiert, bei dem die angezeigte Span-
nungsamplitude bei konstanter Spannung am
Oszilloskopeingang auf 70,7 % (–3,01 dB) ab-
nimmt. Die Frequenz, welche die Bandbreite B
nach oben hin begrenzt, ist die obere Grenzfre-
quenz fc (Bild 9a).
Bild 9a. Frequenzgang
Die Definition des 3-dB-Punkts ist gegeben durch:
U ( fC )
!3,01 dB 20 " log10
U ( f Ref ) U konst.
ein
Dabei ist
U( fC) die angezeigte Spannungsamplitude im
Punkt –3,01-dB
U( fRef) die angezeigte Spannung bei der nieder-
frequenten Bezugsfrequenz fRef
Die 3-dB-Bandbreite ist dort erreicht, wo die ange-
zeigte Spannungsamplitude erstmalig einen Wert
von 70,7 % des Werts bei der Bezugsfrequenz
unterschreitet.
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 13 –
subsequent determination of the actual period
duration. Coincidence with the first main
graticule line can be adjusted with the horizon-
tal beam controller and must be corrected after
period duration adjustments.
When a measurement function is applied, it must
be specified precisely (e.g. frequency, period, pulse
width). Operating ranges and restrictions men-
tioned in the manufacturer’s specifications, espe-
cially for high sweep rates, must be taken into ac-
count. For a DSO, it may not be practical to cali-
brate via the grid due to its lack of resolution in
comparison with the accuracy of the time-base. In
such cases the delay function of the oscilloscope
can be applied to gain resolution by measuring for
a longer time than the eight divisions on the grid.
Ideally, if the oscilloscope under test has an output
for its frequency reference or if the chopped cali-
bration signal output is obtained from the clock,
then the frequency can be determined from the
sampling clock and thus the time base accuracy as
well.
5.3.3 Calibration of the bandwidth
The frequency point at which the amplitude re-
sponse – for a constant input voltage – decreases
down to 70,7 % (–3,01 dB) defines the bandwidth
B. The frequency which serves as an upper limit
for the bandwidth B is the high-frequency cut-off fc
(Figure 9a).
Figure 9a. Frequency response
The 3 dB point is defined by
U ( fC )
(2) !3,01 dB 20 " log10 (2)
U ( f Ref ) U const.
ein
where
U( fC) indicated voltage amplitude at the –3 dB
point
U( fRef) indicated voltage at the low-frequency
reference frequency fRef
The 3 dB bandwidth is reached at the point where
the indicated voltage drops for the first time below
70,7 % of the reference frequency value.
– 14 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Die zur Kalibrierung eingesetzten HF-Signalgene-
ratoren sind in ihrem unteren Frequenzbereich oft
nicht bis in den kHz-Bereich abstimmbar. Daher
wird ein Wert von ca. 5 % der nominalen Band-
breite als Bezugsfrequenz fRef (100 %-Amplitude)
zur Bestimmung der Bandbreite B verwendet
(Bild 9b). Besonders bei Oszilloskopen hoher
Bandbreite ist im Bereich der oberen Grenzfre-
quenz häufig eine starke Welligkeit der angezeig-
ten Amplitude über der Frequenz zu beobachten.
Bild 9b. Normierter Frequenzgang zur Messung
der Bandbreite mit relativer Steilheit
Bei der Messung der Bandbreite durch Bestimmung
der Spannungsabsenkung muss beachtet werden,
dass im Bereich der oberen Grenzfrequenz der Ab-
fall der Amplitudenanzeige mit der Frequenz bei
unterschiedlichen Oszilloskopen unterschiedlich
stark ist. Für viele analoge Oszilloskope folgt dieser
Abfall gemäß der Funktion eines Gauß-Tiefpasses
(er ergibt sich, wenn mehrere Elemente mit nahezu
gleichem Frequenzverlauf hintereinander geschaltet
werden). Für diesen Gauß-Tiefpass ist die relative
Steilheit Sr an der oberen Grenzfrequenz:
" U f! #
d$ % d$
$U f ! %
Sr ( & Ref '
) * 0,5
(3)
" f #
d$ %
& fc '
Das heißt, dass der Unsicherheitsbeitrag der Span-
nungsamplitudenmessung zur relativen Messunsi-
cherheit der Bandbreite mit dem Sensitivitätskoef-
fizienten | ci | ) 2 multipliziert werden muss (siehe
Modellgleichung aus Anhang A2). Digitale Oszil-
loskope haben häufig einen steileren Spannungsab-
fall im Bereich der oberen Grenzfrequenz (siehe
Abschnitt 5.3.4), sodass der Betrag des Sensitivi-
tätskoeffizienten | ci | < 2 werden kann. Die An-
nahme des Gauß-Tiefpass-Verhaltens stellt also
eine Worst-Case-Betrachtung dar. Eine genauere
Bestimmung der relativen Steilheit Sr des Abfalls
kann durch eine Änderung der Frequenz im 3-dB-
Punkt in beide Richtungen durch gleiche Beträge
von wenigen Prozent erfolgen, verbunden mit der
Messung der dadurch entstehenden Änderungen
der Amplitudenanzeigen.
HF generators used for calibration often cannot be
tuned down into kHz frequencies. For this reason
approx. 5 % of the nominal bandwidth B is defined
as the reference frequency fRef (100 % amplitude)
for determining the bandwidth B (Figure 9b).
Particularly with oscilloscopes having a large
bandwidth, a strongly oscillating frequency re-
sponse can be observed near the upper cut-off fre-
quency.
Figure 9b. Standardized frequency response for
measuring the bandwidth by relative slope
When measuring the bandwidth by determining the
voltage dip it should be noted that in the area of the
upper cut-off frequency the downward slope of the
displayed amplitude with frequency depends on the
oscilloscope type. For many analogue oscillo-
scopes, the frequency response roll-off has the
characteristic of a Gaussian low-pass filter (this is
typical when circuit elements with almost the same
frequency responses are cascaded). For Gaussian
low-pass filters, the relative slope Sr at the upper
cut-off frequency is given by:
" U f! #
%
$U f ! %
Sr ( & Ref '
) * 0,5
(3)
" f #
d$ %
& fc '
Thus, the uncertainty contributions of the voltage
amplitude measurement to the relative measure-
ment uncertainty of the bandwidth must be multi-
plied by the sensitivity coefficient | ci | ) 2 (see
Annex A2). Digital oscilloscopes often have a
steeper drop in voltage at the upper cut-off fre-
quency (see Section 5.3.4) which means that the
sensitivity coefficient can be | ci | < 2. The assump-
tion of a Gaussian low-pass filter characteristic
thus represents a worst-case scenario. A more pre-
cise determination of the relative steepness Sr of
the decrease can be carried out by changing the
frequency at the 3 dB point in both directions by
the same amounts of a few percent, combined with
measurement of the resulting changes in the ampli-
tude displayed.

Messung der Spannungsamplitude für die
Bandbreitenmessung
Im Frequenzbereich bis etwa 100 MHz sind die
Eingangsimpedanzen von Oszilloskopen meist
hochohmig (typisch 1 M ). Für höhere Frequenz-
bereiche sind sie jedoch fast immer niederohmig
(typisch 50 ), wie allgemein in der HF-Technik
für Generatoren und Empfänger üblich. Diese un-
terschiedlichen Eingangsimpedanzen der Oszillos-
kope bedingen verschiedene Arten der Span-
nungsmessung bei der Kalibrierung:
a) Im hochohmigen Bereich bis etwa 100 MHz
wird die Spannungsamplitude UX am Eingang
des Oszilloskops – wie in der NF-Technik üb-
lich – als Potenzialdifferenz zwischen den Lei-
tern gemessen. Bei dieser Messung ist die
Quellimpedanz klein gegenüber der Eingangs-
impedanz des Messobjekts.
b) Anders als in a sind in hochfrequenten 50- -
Leitungssystemen der Generatorausgangs- und
der Oszilloskopeingangswiderstand an den
50- -Leitungswellenwiderstand angepasst. In
diesem Fall wird üblicherweise die Spannungs-
amplitude Uein der auf das Oszilloskop einfal-
lenden Spannungswelle gemessen. Über den
Eingangsreflexionsfaktor X des Oszilloskops
stehen die beiden Spannungen durch
UX = Uein (1 + X) (4)
in Beziehung. Während Uein geringfügig vom
Reflexionsfaktor des Oszilloskops abhängt
(siehe Anhang A2), schwankt UX dagegen bei
nicht vernachlässigbar kleinen Werten von
! X!und höheren Frequenzen stark mit der
Phase von X. Das tritt z. B. auf, wenn bei der
Verwendung von Adaptoren die Referenzebene
der Spannungsmessung verschoben wird (siehe
Anhang A1). Darum wird als charakteristische
Spannung für Oszilloskope bei höheren Fre-
quenzen im 50- -Leitungssystem allgemein
Uein und nicht UX verwendet.
Um Missverständnisse zu vermeiden sollte im
Kalibrierschein stets angegeben werden, welche
der beiden Spannungen der Kalibrierung zugrunde
liegt.
Rückführung im hochohmigen Bereich
(meist nur bis 100 MHz)
a) mit Spannungsmessgerät
In diesem Bereich kann man bei der Messung
der Spannung UX mit einem kalibrierten HF-
Spannungsmessgerät (z. B. Thermokonverter)
kleine Messunsicherheiten erreichen. Das zu ka-
librierende Oszilloskop und das Spannungs-
messgerät werden mithilfe einer Leitungsver-
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 15 –
Measurement of voltage amplitudes for
measurement of the bandwidth
For frequencies up to 100 MHz, the input imped-
ance of oscilloscopes is typically high (1 M in
most cases), whereas at higher frequencies, the
input impedance is nearly always low (50 in
most cases) as is generally the case for generators
and receivers in HF technology. These different
input impedance levels mean that different voltage
measurement methods need to be applied in cali-
bration:
a) In the high impedance range up to about
100 MHz, the voltage amplitude UX at the oscil-
loscope input is measured as potential differ-
ence between conductors – a typical method for
low frequencies. In this frequency range, the
source impedance is generally low compared to
the load impedance.
b) Unlike a, in high-frequency 50 line systems,
both the generator source impedance and the
oscilloscope input impedance are matched to
the 50 natural impedance of the connecting
lines. In this case, the voltage amplitude Uein of
the voltage wave arriving at the oscilloscope
input, is usually measured. The two voltages
stand in relation via the input reflectance factor
X of the oscilloscope:
UX = Uein (1 + X) (4)
While Uein has a slight dependence on the re-
flectance factor of the oscilloscope (see An-
nex A2), UX varies markedly with the phase of
X when ! X! has values which are not negli-
gibly small and at higher frequencies. This hap-
pens, for example, when adaptors are used and
the reference plane for voltage measurement is
thus shifted (see Annex A1). For this reason,
the incident voltage wave Uein is used rather
than UX as the characteristic voltage of oscillo-
scopes for 50 line systems at higher frequen-
cies.
To avoid misunderstandings the calibration certifi-
cate must always state which of the two voltages
calibration is based on.
Traceability in the high-impedance range
(typically below 100 MHz)
a) calibration with voltmeter
In this frequency range, UX can be measured
with small uncertainties by using a calibrated
HF voltmeter (e.g. a thermal converter). The
oscilloscope under test and the voltmeter are
connected in parallel via a coaxial T-junction
(Figure 10). This results in a low source im-
– 16 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
zweigung (T-Stück) in koaxialer Ausführung
parallel geschaltet (Bild 10). Dadurch wird ei-
ne niedrige Quellimpedanz realisiert. Die Ver-
bindungen zwischen T-Stück und Spannungs-
messgerät bzw. Oszilloskop sind so kurz wie
möglich auszuführen. Es sind keine oder nur
kurze Adapter und keine Kabel zu verwenden.
Die zu messende Spannung bzw. Amplitude
wird von einem HF-Signalgenerator variabler
Frequenz über den dritten Anschluss in die Mit-
te des T-Stücks eingespeist. Diese Mitte des
T-Stücks ist die Referenzebene der Span-
nungsmessung.
Auch kalibrierte HF-Leistungsmessgeräte kön-
nen in der angegebenen Schaltung als Span-
nungsmessgerät eingesetzt werden, wenn ihre
Eingangsimpedanz Zin hinreichend genau be-
kannt ist. Mit einer unverzerrten Sinusspannung
als Messsignal ergibt sich mit dem Scheitelfak-
tor für Sinusspannungen eine Spitze-Spitze-
Spannung Uss aus
U SS 2 2 ! U ein 8 ! P ! Z in (5)
Dabei ist
P am Eingang des kalibrierten Leistungs-
messgeräts mit der Messspannung korres-
pondierende Wirkleistung
|Zin| Betrag der Eingangsimpedanz Zin des
Leistungsmessgeräts (meist 50 )
b) mit Oszilloskopkalibrator bzw. kalibriertem
HF-Generator
Oszilloskopkalibratoren für höhere Frequenzen
mit 50- -Ausgangswiderstand enthalten u. a.
einen in der Frequenz durchstimmbaren HF-
Signalgenerator und idealerweise auf der Ebene
des Oszilloskopeingangs einen symmetrischen
50- -Leistungsteiler im sogenannten aktiv ge-
regelten Kopf (active leveled head). An einem
angepassten 50- -Widerstand am Ausgang ge-
ben sie eine fein einstellbare und geregelte Si-
nusspannung UZ0 ab. Sie können auch für die
Kalibrierung hochohmiger Oszilloskope ver-
wendet werden, wenn zwischen Kalibrator und
Oszilloskop ein 50- -Durchführungsabschluss-
widerstand (feedthrough termination) geschaltet
wird (Bild 11).
pedance. The connections between the T-junc-
tion and both the oscilloscope and voltmeter
must be kept as short as possible. No adapters
or only short adapters and no cables should be
used.
The voltage or amplitude to be measured is ap-
plied via the third input to the middle of the
T-junction by a variable-frequency HF genera-
tor. The midpoint of the T-junction is defined as
the reference plane of the voltage measurement.
Instead of a voltmeter, a calibrated HF power
meter can also be used in the circuit in question
provided its input impedance Zin is known with
sufficient accuracy. For an undistorted sinusoi-
dal voltage as the measurement signal, with the
peak value for sinusoidal voltages a peak-to-
peak voltage Uss is given by
U SS 2 2 ! U ein 8 ! P ! Z in (5)
where
P active power at the input of the calibrated
power meter and corresponding to the
measurement voltage
|Zin| absolute value of the power meter input
impedance Zin (typically 50 )
b) calibration using an oscilloscope calibrator or a
calibrated HF generator
Oscilloscope calibrators for higher frequencies
with an output impedance of 50 include a
frequency-tuneable HF signal generator and
ideally, on the oscilloscope input plane, a sym-
metrical 50 power divider in the so-called ac-
tive levelled head. They deliver a stabilised,
finely adjustable sinusoidal output voltage UZ0
at a matched 50 load impedance at the out-
put. Oscilloscope calibrators can also be used
for calibrating high-impedance oscilloscopes by
inserting a 50 feedthrough termination be-
tween the calibrator and the oscilloscope (Fig-
ure 11).

HF-Generator /
HF generator
HF-Voltmeter
(Referenzstandard) /
HF-voltmeter
T-Verzweigung /
(reference standard)
T-junction
Bild 10. Rückführung des hochohmigen Oszillos-
kops mit HF-Spannungsmessgerät
Durchführungsabschluss /
feedthrough termination
Oszilloskopkalibrator /
50
oscilloscope calibrator
Ausgang / output
50
Bild 11. Rückführung des hochohmigen Oszillo-
skops mit Oszilloskopkalibrator
Die Spannungsanzeige am Kalibrator gilt nur
für einen exakten 50- -Abschlusswiderstand.
Bei höheren Frequenzen muss die Verringerung
des 50- -Abschlusswiderstands berücksichtigt
werden, wenn die Oszilloskopeingangsimpe-
danz (meist R = 1 ! "#$%&'()*#&+,-.#'.,%#/'n-
gangskapazität C nicht mehr hinreichend ho-
chohmig ist (loading effect) (vgl. Bild 12).
Der 50- -Durchführungsabschluss muss direkt
an den Oszilloskopeingang angeschlossen wer-
den, damit die Eingangskapazität nicht vergrö-
ßert wird. Statt eines Oszilloskopkalibrators
kann auch ein HF-Generator eingesetzt werden,
wenn er bezüglich seiner Ausgangsspannung
UZ0 kalibriert wurde.
Rückführung im niederohmigen 50- -System
Für Oszilloskope mit 50- -Eingangswiderstand
wird als charakteristische Spannung die auf das
Eingangstor einfallende Spannung Uein bestimmt.
Sie berechnet sich aus der einfallenden Leistung
Pein gemäß
U ein Pein ! Z 0 (6)
Dabei ist
Z0 Nominalimpedanz des verwendeten HF-
Leitungssystem, meist ist Z0 = 50
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 17 –
Oszilloskop /
oscilloscope
Eingang / input
1M
Rückführung /
traceability
Figure 10. Traceability of high-impedance oscillo-
scopes with an HF voltmeter
Oszilloskop /
oscilloscope
Eingang / input
1M
Rückführung /
traceability
Figure 11. Traceability of a high-impedance oscillo-
scope with a calibrator
The voltage indication on the oscilloscope cali-
brator will only be valid when its output port is
terminated by a matched 50 ! "#$%&! '(! )*+),-!
frequencies, the reduction in the 50 ! "#$%! #f
the feedthrough termination must be taken into
account when the oscilloscope input impedance
(typically R = 1 . /! *0! 1#! "#1+,-! -,0*0(*2,!
enough due to its input capacitance C. This be-
haviour is termed the loading effect (cf. Fig-
ure 12). The 50 ! 3,,%()-#ugh termination
must be connected directly to the oscilloscope
input to prevent the input capacitance C in-
creasing. Instead of an oscilloscope calibrator,
an HF generator, calibrated with respect to its
output voltage UZ0, can also be used.
Traceability in the low-impedance 50 !"#$%!
system
For oscilloscopes having a 50 input impedance,
the characteristic voltage is the voltage Uein inci-
dent to the input port. This voltage is calculated
from the incident power Pein according to
U ein Pein ! Z 0 (6)
where
Z0 characteristic impedance of the HF line
system; in most cases Z0 = 50
– 18 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Bild 12. Relative Spannungsabweichung bei Kali-
brierung eines hochohmigen Oszilloskops (1 M )
mit einem 50- -Oszilloskopkalibrator (bzw. Sinus-
generator) mit Durchführungsabschluss
Die Eingangskapazität C des Oszilloskops ist der Pa-
rameter.
Rückführung mit Signalgenerator oder
Leistungsmesser
Mit einem Sinusgenerator wird entsprechend
Bild 13 dem Oszilloskop eine variable HF-
Leistung zugeführt, die über den Arm eines sym-
metrischen Leistungsteilers (Power-Splitter) mit-
hilfe eines kalibrierten Leistungsmessers gemessen
wird. Der Teiler enthält zwei Widerstände, die
gleich dem Bezugswellenwiderstand (50 ) sind.
Seine Symmetrie kann durch eine zweite Messung
mit vertauschten Anschlüssen geprüft bzw. durch
Mittelung der beiden Ergebnisse verbessert wer-
den. Leistungsteiler haben meist einen gut an das
50- -Leitungssystem angepassten Ausgangswi-
derstand, sodass auch bei nicht optimal angepass-
ten Oszilloskopen kleine Messunsicherheiten er-
reicht werden können (Anhang A2).
HF-Leistungsmesser basieren oft auf thermischen
Verfahren, wobei mit ihnen der Effektivwert der
Spannung bestimmt wird. Mit Oszilloskopen wer-
den dagegen v. a. Amplituden, also Spitzenwerte
gemessen. Für eine einfache Umrechnung muss ein
Sinussignal benutzt werden, das keine Oberwellen
oder andere Störungen enthält.
Rückführung mit Oszilloskopkalibrator
Die Anzeige am Kalibrator ist bereits als Spannung
UZ0 an einem Abschlusswiderstand der Nominal-
impedanz Z0 = 50 kalibriert. Bei hinreichend
guter Anpassung der Eingangsimpedanz des Oszil-
loskops bleiben die Abweichungen zwischen der
einfallenden Spannung Uein und der angezeigten
Spannung UZ0 klein. Statt eines Kalibrators kann
auch hier ein HF-Sinusgenerator eingesetzt wer-
den. Jedoch haben Kalibratoren den Vorteil, dass
ihre Ausgangsspannung meist wesentlich feiner
Figure 12. Relative voltage deviation during cali-
bration of a high-impedance oscilloscope (1 M )
using a 50 -output calibrator (or sinusoidal HF
generator) with a feedthrough termination
The oscilloscope input capacitance C is the parame-
ter.
Traceability with a signal generator or power
meter
A sinusoidal HF source generates the calibration
signal. The variable power incident to the oscillo-
scope is determined by a symmetrical power-
splitter and a calibrated power meter connected to
the second port of the splitter (Figure 13). The
splitter includes two resistors, each equal to the
reference natural line impedance (50 ). The
symmetry of the splitter can be checked by taking
a second measurement after swapping the output
ports or improved by taking the average of both
results. In most cases power splitters have an out-
put impedance which is well-adapted to the 50
line system which means that small measurement
uncertainties are possible even when oscilloscopes
have not been optimally adjusted (Annex A2).
HF power meters are often based on thermal meth-
ods whereby the rms value of the voltage is deter-
mined. With oscilloscopes on the other hand it is
primarily amplitudes which are measured – in
other words, peak values. For a simple conversion
a sine signal should be used which does not con-
tain any harmonics or other interference.
Traceability with an oscilloscope calibrator
The output voltage of an oscilloscope calibrator is
already calibrated with respect to UZ0, i.e. the cali-
brator output voltage applied to a matched load
(Z0 = 50 ). For well-matched oscilloscopes, the
difference between the incident voltage Uein and
the indicated voltage UZ0 will be small. Instead of a
calibrator, a HF generator can be used here too.
However, calibrators have the advantage of their
output voltage being in most cases much more
finely adjustable than with the usual HF generators

Leistungsmesser
(Bezugsnormal) /
power meter
(reference standard)
Bild 13. Rückführung über Leistungsmessgerät und
Power-Splitter
Oszilloskopkalibrator /
oscilloscope calibrator
Ausgang / output
50
Bild 14. Rückführung mit Oszilloskopkalibrator
einstellbar ist als bei üblichen HF-Generatoren
(typisch nur in 0,1-dB-Schritten) (siehe auch
Bild 14).
Einfluss durch Oberwellen
Viele HF-Leistungsmesser und HF-Voltmeter ver-
wenden thermoelektrische Sensoren, weshalb man
mit ihnen den Effektivwert der Spannung misst.
Bei der Kalibrierung von Oszilloskopen wird je-
doch oft die Amplitude benötigt, das heißt der
Spitzenwert der Spannung. Für eine reine Sinus-
welle als Messsignal wird die Abweichung durch
den Faktor 2 berücksichtigt. Harmonische Ver-
zerrungen können signifikante Messunsicherheiten
bei der Kalibrierung hervorrufen, weil ihr Beitrag
zur Änderung des Spitzenwerts von der Phasenlage
der Oberwelle abhängt. Für die thermoelektrischen
Leistungs- und Spannungsmesser ist der Einfluss
dagegen phasenunabhängig und auch wesentlich
kleiner. Zum Beispiel kann ein Oberwellengehalt
von –40 dBc (–30 dBc) im Messsignal im ungüns-
tigsten Fall eine Abweichung in der Spannungs-
amplitude gegenüber dem Effektivwert von etwa
1 % (3 %) hervorrufen. Für kleine Messunsicher-
heiten muss also eine spektral möglichst reine HF-
Spannung benutzt werden.
Messung des Frequenzgangs (Flatness)
Die Bandbreite gibt lediglich die maximale Fre-
quenz an, bis zu der das Messsignal um weniger
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 19 –
HF-Generator /
HF generator
Oszilloskop /
oscilloscope
Eingang / input
Power-Splitter / 50
power splitter
Rückführung /
traceability
Figure 13. Traceability with power meter and pow-
er splitter
Oszilloskop /
oscilloscope
Eingang / input
50
Rückführung /
traceability
Figure 14. Traceability with oscilloscope calibrator
(typically only in 0,1 dB steps) (see also Fig-
ure 14).
Influence of harmonics
Many HF power meters and HF voltmeters use
thermoelectric sensors which is why they are used
to measure the rms value of the voltage. However
it is often the amplitude which is required when
calibrating oscilloscopes – in other words, the peak
value of the voltage. For a pure sine wave as
measurement signal, deviation is taken into ac-
count by the factor 2 . Harmonic distortions can
cause significant uncertainties in calibration since
their contribution to the change in peak voltage
depends on the phase of the harmonic whereas
with thermoelectric power meters and voltmeters
theirinfluence is phase-independent and also con-
siderably smaller. As an example, in the worst
case, a harmonic content of –40 dBc (–30 dBc) in
the measurement signal can cause an uncertainty in
the measured voltage amplitude of about 1 %
(3 %) with respect to the rms value. In other words,
for small measurement uncertainties an HF voltage
must be used which is as spectrally pure as possi-
ble.
Measurement of frequency response (flatness)
The oscilloscope bandwidth is defined as the low-
est frequency at which an amplitude-invariant in-
– 20 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
oder gleich 3 dB bei der Darstellung abgeschwächt
wird. Die Bandbreitenangabe ist nicht ausreichend,
um sicherzustellen, dass das Oszilloskop ein hoch-
frequentes Signal exakt wiedergibt. Deshalb wird
auch oft zusätzlich der relative Frequenzgang ge-
messen, die sogenannte Flatness FU( f ). Sie ist ein
Maß für das Frequenzverhalten im gesamten Be-
reich von DC bis zur Grenzfrequenz B und ist fol-
gendermaßen definiert:
U f!
FU f ! "
U f Ref ! U
ein " konst.
Dabei ist
U( f ) am Oszilloskop angezeigte Spannung bei
der Messfrequenz f
U( fRef) am Oszilloskop angezeigte Spannung bei
der Referenzfrequenz fRef bei konstanter
Eingangsspannung
Die Flatness gibt die relative Abweichung an, mit
der die Amplitude des Eingangssignals als Funkti-
on der Frequenz am Display dargestellt wird. Für
eine präzise Wiedergabe einer Pulsamplitude ist es
wichtig, dass die Flatness bis zur höchsten Fre-
quenzkomponente, die im Puls enthalten ist, kon-
stant ist.
Für die Flatness-Messung werden die oben ange-
gebenen Spannungsmessmethoden benutzt.
5.3.4 Kalibrierung der Anstiegszeit
Bei Zeitmessungen interessiert die Anstiegszeit des
Oszilloskops ta, mit der ein eingespeister abrupter
Spannungssprung auf dem Bildschirm dargestellt
wird. Die Anstiegszeit wird bei Impulsen zwischen
denjenigen Zeitpunkten gemessen, an denen das
Signal 10 % und 90 % des Endwerts erreicht hat
(Bild 15).
Bild 15. Bestimmung der Anstiegszeit ta
Für die Kalibrierung der Anstiegszeit ta eines Os-
zilloskops wird an den Eingang ein Pulsgenerator
put signal is attenuated by 3 dB. The bandwidth as
characteristic quantity does not ensure that the
oscilloscope can accurately capture a HF signal.
The relative frequency response or flatness FU( f )
is therefore often introduced as an additional quan-
tity which serves as a measure of the frequency
response within the total frequency range between
DC and the oscilloscope’s cut-off frequency B. It is
defined by
U f!
(7) FU f ! " (7)
U f Ref ! U
ein " const.
where
U( f ) indicated voltage at the measuring
frequency f
U( fRef) indicated voltage at the (low) reference
frequency fRef measured for a constant
input voltage
Flatness is a measure of the uniformity of the dis-
played input signal amplitude as a function of fre-
quency. For precise pulse amplitude measure-
ments, it is important that the oscilloscope’s flat-
ness is constant right up to the highest frequency
component of the pulse.
The voltage measurement procedures given above
are applicable for measuring flatness.
5.3.4 Calibration of the rise time
With time measurements it is the oscilloscope rise
time ta which is of interest. This is the time needed
before an input abrupt jump in voltage appears on
the display. In the case of pulses the rise time is
measured between the times at which the signal
reaches 10 % and 90 % of its final value (Fig-
ure 15).
Figure 15. Definition of the rise time ta
To calibrate the oscilloscope rise time ta, a cali-
brated pulse generator (reference standard) with

(Normal) mit Ausgangspulsen der bekannten Puls-
anstiegszeit ta_Normal angeschlossen. Die zu messen-
de Anstiegszeit ta des Oszilloskop kann mit fol-
gender Beziehung bestimmt werden (siehe dazu
auch Tabelle 2):
2 2
ta ta_mess ! ta_Normal (8)
Tabelle 2. Größen für die Anstiegszeitkalibrierung
Symbol Bedeutung Bemerkung
ta Anstiegszeit des Messergebnis
Oszilloskops
(DUT)
ta_mess gemessene An- Anzeigewert am
stiegszeit Oszilloskop
ta_Normal Anstiegszeit des Wert aus Kalibrier-
Puls-Normals schein
Die Beiträge zur Messunsicherheit der gemessenen
Anstiegszeit ta_mess am Display entstehen bei der
Bestimmung der Basislinie (0 %), des Pulsdachs
(100 %, Dachwert), der 10%- und 90%-Markie-
rungen des Pulses (Bild 15) und der Abweichungen
der Oszilloskop-Zeitbasis (x-Achse). Die Anstiegs-
zeit ta_Normal des Pulsnormals muss kleiner sein als
die zu messende Anstiegszeit ta des Oszilloskops
(DUT) [3; 4]. Je kleiner die Anstiegszeit des Nor-
mals im Vergleich zur Anstiegszeit des Oszillo-
skops ist, desto geringer ist der Beitrag zur Ge-
samtmessunsicherheit.
Ein detailliertes Beispiel für die Berechnung der
Messunsicherheit für die Anstiegszeit eines Oszil-
loskops ist im Detail zusammen mit einem Budget
im Anhang A3 angegeben.
Die Tiefpasswirkung von analogen Oszilloskop-
verstärkern kann in guter Näherung mit dem theo-
retischen Gauß-Tiefpass beschrieben werden, für
den die Beziehung zwischen der Anstiegszeit ta der
Sprungantwort und der 3-dB-Bandbreite B gemäß
0 ,34
ta (9)
B B
gilt. In der Literatur findet man für den Gauß-
Tiefpass auch meist den genäherten Wert 0,35 als
Umrechnungsfaktor. Mit dieser Beziehung kann
die Anstiegszeit von Oszilloskopen aus der gemes-
senen 3-dB-Bandbreite berechnet werden, falls
keine Messung mit einem kalibrierten Impulsgene-
rator vorliegt. Aus der Bandbreite berechnete An-
stiegszeiten ta sind als solche im Kalibrierschein zu
kennzeichnen.
Die Frequenzantwort moderner digitaler Speicher-
oszilloskope (DSO) ist im Vergleich zu traditionel-
len analogen Oszilloskopen im unteren Frequenzbe-
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 21 –
output pulses of known rise time ta_Normal is con-
nected to the input. The oscilloscope rise time ta to
be measured can be calculated with (see also Ta-
ble 2):
2 2
ta ta_mess ! ta_Normal (8)
Table 2. Quantities for rise time calibration
Symbol Description Remark
ta rise time of the measurement
oscilloscope result
(DUT)
ta_mess measured rise value indicated on
time oscilloscope
ta_Normal rise time of the value stated on the
calibrated pulse calibration certifi-
standard cate
The measurement uncertainty contributions to the
measured rise time ta on the display arise during
determination of the base line value (0 % line), the
pulse top value (100 % line), the 10 % and 90 %
markers of the pulse (Figure 15) and the deviations
on the oscilloscope timebase (x axis). Note that the
pulse standard rise time ta_Normal must be smaller
than the rise time ta of the oscilloscope (DUT)
which is to be measured [3; 4]. The smaller the rise
time of the standard with respect to the oscillo-
scope rise time, the smaller will be the contribution
to the total uncertainty of measurement.
A detailed example of calculation of the measure-
ment uncertainty for calibrating the rise time of an
oscilloscope is given in Annex A3 together with a
measurement uncertainty budget.
The low-pass behaviour of analogue oscilloscope
amplifiers can be well approximated by a theoreti-
cal Gaussian low-pass response. Here the relation-
ship between the oscilloscope 3 dB bandwidth B
and the rise time ta of the step response is given by
0 ,34
ta (9)
In most cases the approximation 0,35 for the Gaus-
sian low-pass filter is found in the literature as a
conversion factor. With this formula the oscillo-
scope rise time can be calculated from the meas-
ured 3 dB bandwidth if a calibrated pulse generator
is not available. Rise times ta calculated from the
bandwidth should be marked as such on the cali-
bration certificate.
The frequency response of modern digital storage
oscilloscopes (DSO) is often flatter in the low fre-
quency range than is the case with traditional ana-
– 22 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
reich oft flacher und fällt um die Grenzfrequenz B
herum oft wesentlich schneller ab. Sie werden
daher auch als „Flat Response Oscilloscopes“ [5]
bezeichnet. Für diese digitalen Oszilloskope muss
man daher den Zusammenhang zwischen Band-
breite und Anstiegszeit durch die Beziehung
N N
ta (10)
B B
mit N = (0,4…0,5) beschreiben. Je größer N ist,
desto steiler ist der Abfall der Frequenzantwort im
Bereich der Grenzfrequenz. [6]
5.3.5 Kalibrieren der Triggerbandbreite und
Triggerempfindlichkeit
5.3.5.1 Triggerbandbreite
Die Kalibrierung der Grenzfrequenz des Trigger-
systems, der sogenannten Triggerbandbreite, dient
dem Anwender zur Bewertung der Oszilloskop-
funktion bei Betrieb mit Signalen, deren Frequenz
oberhalb der Nenn- oder 3-dB-Bandbreite liegt.
Zwar ermöglicht die Darstellung solcher Signale
kaum eine Aussage über die Spannung oder exakte
Kurvenform, dennoch ist neben einer quantitativen
Analyse die Messung der (Grund-)Frequenz des
Testsignals im HF-Bereich möglich, solange die
Triggerschaltung einwandfrei arbeitet. Somit wird
die Triggerbandbreite als diejenige Grenzfrequenz
definiert,
an der die Triggerschaltung beginnt, nicht mehr
anzusprechen (teilweise ungetriggerter Durch-
lauf der Messkurve oder Statusmeldung „unge-
triggert“) oder
aufgrund der endlichen Abtastrate kein Signal-
verlauf am Schirm zu erkennen und keine stabi-
le Messung auf dem Signal mehr möglich ist.
Sofern das Signal aufgrund des Frequenzgangs des
Oszilloskops so stark bedämpft wird, dass keine
ablesbare Darstellung bzw. Messung mehr möglich
ist, wird die Messung durch die Triggerempfind-
lichkeit beschränkt, sodass eine Auswertung der
tatsächlichen Triggerbandbreite nicht möglich ist
(Bild 16 und Bild 17). Ein Ergebnis ist dann
nicht oder nur in der Form „größer gleich“ angeb-
bar.
Kalibrierverfahren
Die Kalibrierung erfolgt mit Sinusspannungen über
einen variabel aussteuerbaren HF-Signalgenerator
oder Oszilloskopkalibrator am 50- -Eingang des
Oszilloskops (Bild 18).
Das Kalibriersignal mit bekannter Frequenz und
ausreichender Amplitude wird so am Oszilloskop
dargestellt, dass eine Bewertung des Signals in der
oben genannten Form oder Messung der Frequenz
logue oscilloscopes and often falls much faster
around the frequency limit B. For this reason they
are also often called “flat response oscilloscopes”
[5]. For these digital oscilloscopes the relationship
between bandwidth and rise time must be de-
scribed by
ta (10)
with N = (0,4…0,5). The higher value N has, the
steeper will be the fall in the frequency response in
the limit frequency range. [6]
5.3.5 Calibration of the trigger bandwidth and
trigger sensitivity
5.3.5.1 Trigger bandwidth
Calibration of the limit frequency of the trigger
system – the so-called trigger bandwidth – helps
the user in evaluating oscilloscope function when
working with signals whose frequency lies above
the nominal or 3 dB bandwidth. Although display-
ing such signals hardly supplies any information
about the voltage or the exact waveform, at least
the (fundamental) frequency of the test signal in
the HF range can be determined, along with a
qualitative waveform analysis, as long as the trig-
ger unit is operating properly. The trigger band-
width is thus defined as that frequency limit
beyond which the trigger switch starts failing to
respond (resulting in a partially untriggered
sweep and/or the status message “untriggered”)
or
beyond which, due to the finite sampling rate,
the waveform cannot be displayed and stable
measurement is no longer possible on the signal.
If the waveform can no longer be usefully dis-
played or measured due to excessive attenuation
caused by the frequency response of the oscillo-
scope, measurement will be limited by the trigger
sensitivity. In this case, the actual trigger band-
width cannot be determined (Figure 16 and Fig-
ure 17) and a result cannot then be given at all or
only in the form “greater than or equal to”.
Calibration procedure
The output of a frequency-tunable HF generator or
an oscilloscope calibrator is connected to the 50
input of the oscilloscope (Figure 18), calibrating
with sinusoidal voltages.
The test signal with a known frequency and ade-
quate level is displayed by the oscilloscope in such
a way that the signal can be evaluated as described
above or, with correct operation of the trigger unit,

bei ordnungsgemäßer Triggerung möglich ist. Die
Frequenz des Generators wird bis zur Trigger-
bandbreite kontinuierlich erhöht und das Ergebnis
am Oszilloskop protokolliert. Dabei ist es nötig,
dass die Aussteuerung am Bildschirm dem Fre-
quenzgang des Oszilloskops sowohl durch die
Generatorspannung als auch durch die Verstärker-
einstellung des Oszilloskops nachgeführt wird,
sodass die Darstellung bei etwa konstanten relati-
ven Amplitudenwerten des Anzeigerasters erfolgt
(z. B. 5 Skalenteile = 5 Skt). Der Triggerpegel ist
ständig so zu optimieren, dass auch bei hohen Fre-
quenzen noch eine Triggerung erfolgt (Tabel-
le 3). Bewertet wird die Funktion in den beiden
Betriebsarten „Automatik“ und „Normal“.
Bild 16. Gerade noch getriggerter Durchlauf in der
Nähe der Triggergrenzfrequenz
Bild 17. Aussetzen der Triggerung – ungetrigger-
ter Durchlauf
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 23 –
the frequency can be determined. Next, the test
signal frequency is continuously increased up to
the trigger bandwidth and the value of the latter is
recorded. As the frequency increases, the applied
signal amplitude must be adjusted by generator
level tuning and the oscilloscope amplifier setting
to achieve approximately constant amplitude val-
ues (e.g. 5 divisions) on the display. The trigger
level must be constantly optimised to ensure trig-
gering occurs even at high frequencies (Table 3).
The function is evaluated in both “automatic” and
“normal” modes.
Figure 16. Barely triggered sweep near the trigger
limit frequency
Figure 17. Failed triggering – untriggered sweep
– 24 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4

HF-Generator / Oszilloskop /
HF generator oscilloscope
Ausgang / output Eingang / input
50 50

Rückführung /
traceability

Bild 18. Aufbau zur Kalibrierung der Triggerband- Figure 18. Set-up for calibrating the trigger band-
breite width

Tabelle 3. Einstellungen für die Kalibrierung der Triggerbandbreite

Einstellung am Signalgenerator/Oszilloskopkalibrator Einstellung am Oszilloskop
Beginnend mit der ungefähren Spannung von Verstärkung beginnend bei 100 mV pro Ska-
Ueff = 176,8 mV (Uss = 500 mV), jedoch variabel für kon- lenteil, 50 ! !variabel für Darstel-
stante Aussteuerung am Bildschirm lung von 5 Skt
Zeitachse minimal bei höchster Auflösung
Frequenz variabel, steigend bis zur Triggerbandbreite Trigger AUTO oder NORM
pos. Flanke, beginnend bei
ca. 50 % des Kalibriersignals

Table 3. Settings for calibration of the trigger bandwidth

Setting at the signal generator/oscilloscope calibrator Setting at the oscilloscope
Effective value of voltage Ueff beginning at approx. gain starting at 100 mV/div,
176,8 mV (500 mV peak-to-peak) but variable for con- 50 !variable to display 5 div
stant amplitude on the screen
time axis minimal for at highest resolution
Variable frequency, continuously increasing up to the trigger AUTO or NORM
trigger bandwidth limit
pos. edge, starting at approx.
50 % of the test signal

5.3.5.2 Triggerempfindlichkeit 5.3.5.2 Trigger sensitivity

Die Triggerempfindlichkeit des Oszilloskops cha-
rakterisiert die Detektion von Signalübergängen
(Triggerereignisse) auf Basis der minimal benötig-
ten Spannungs- bzw. Aussteuerungsunterschiede
zwischen zwei Ereignissen. Das Ansprechen der
Triggerschaltung bei kleinen Spannungen stellt
somit dem Anwender maximale Möglichkeiten bei
der Analyse von Signalformen und deren Verlauf
zur Verfügung. Ähnlich wie die Triggerbandbreite
wird die Triggerempfindlichkeit definiert als dieje-
nige Aussteuerung am Signaleingang, die nötig ist,
um das Triggerereignis gerade noch als stehendes
Bild zu erfassen. Die Triggerschaltung beginnt bei
dieser Aussteuerung also nicht mehr anzusprechen
(teilweise ungetriggerter Durchlauf der Messkurve
oder Statusmeldung „ungetriggert“).
Typischerweise wird dabei der Nennwert der Trig-
gerempfindlichkeit verstärkerunabhängig in Ska-
lenteilen (Skt) vom Raster angegeben.
The trigger sensitivity of the oscilloscope charac-
terises the sensitivity of detection of trigger events
based on the minimal voltage or amplitude differ-
ences required between two events. The response
of the trigger circuit in the case of low voltages
thus gives the user the greatest number of possibili-
ties in analyzing signal waveforms and their be-
haviour. Similar to the definition of trigger band-
width, trigger sensitivity is defined as the ampli-
tude of the input signal which is required to only
just capture the input signal as a stationary pattern.
In other words, at this level the trigger circuit starts
to no longer respond (resulting in a partially un-
triggered sweep of the measurement curve and/or
the “untriggered” status message).
Typically, the nominal trigger sensitivity is given
in fractions of the scale division (DIV), regardless
of amplifier settings.

Kalibrierverfahren
Die Kalibrierung erfolgt im NF-Bereich mit Wech-
selspannungen über einen Oszilloskopkalibrator
oder AC/DC-Kalibrator am 1-M - oder 50- -
Eingang des Oszilloskops (z. B. bei 1 kHz) (siehe
Bild 19 und Tabelle 4).
Das Kalibriersignal wird mit bekannter Amplitude
so am Oszilloskop dargestellt, dass eine Bewertung
in der oben genannten Form (eindeutig stehendes
Bild) bei ordnungsgemäßer Triggerung möglich
ist. Die Amplitude des Generators wird bis zur
Triggerempfindlichkeit kontinuierlich verringert
und das Ergebnis am Oszilloskop protokolliert.
Bewertet wird die Funktion in den beiden Be-
triebsarten „Automatik“ und „Normal“ (siehe
Bild 20 und Bild 21).
5.3.6 Kalibrieren des X-Y-Modes
Der X-Y-Mode von Oszilloskopen wird zur Mes-
sung der Beziehung zwischen zwei Spannungen
verwendet, z. B. zur grafischen Darstellung einer
I-U-Kennlinie oder um die Phasenbeziehung sicht-
bar zu machen (Lissajous-Figur). Die Kalibrierung
dieses X-Y-Modes (Verstärkung und Bandbreite)
kann mit den gleichen Einrichtungen erfolgen, die
auch für die Kalibrierung der Vertikalablenkung
und der Bandbreite verwendet werden. Die Ver-
stärkung wird gewöhnlich nur in einem Skalenbe-
reich (1 V/Skt) kalibriert und die Bandbreite bei
0,1 V/Skt. Normalerweise ist die Horizontalband-
breite geringer als die Vertikalbandbreite.
5.3.7 Interne Kalibriersignale
Amplituden, Frequenzen und Anstiegszeiten der
internen Kalibriersignale sind entsprechend Ab-
schnitt 5.3.1 bis Abschnitt 5.3.2 zu kalibrieren.
Dazu kann das Oszilloskop selbst als Normal die-
nen, sofern es um seine systematische Abweichung
korrigiert wird und ausreichende Messunsicherhei-
ten liefern kann.
5.3.8 Cursormessungen
Wenn für die Amplituden- und Zeitmessungen
Cursor benutzt werden, müssen sie entsprechend
Abschnitt 5.3.1 und Abschnitt 5.3.2 kalibriert wer-
den. Zusätzlich muss eine Messung erfolgen, bei
der beide Cursor auf der gleichen Position stehen.
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 25 –
Calibration procedure
The calibration is performed in the low frequency
range using an oscilloscope calibrator or an
AC/DC calibrator with the output signal applied to
the 1 ! "#$"%& "'()*+"#,"+-."#/0'11#/0#)."2.343"5+"
1 kHz) (see Figure 19 and Table 4).
For a known amplitude, the test signal must be
displayed by the oscilloscope as a non-moving
waveform, i.e. with the trigger circuit operating
properly. Next, the generator amplitude is continu-
ously reduced until the trigger sensitivity limit is
reached and the result on the oscilloscope is re-
corded. This procedure is performed both in
“automatic” and in “normal” modes (see Fig-
ure 20 and Figure 21).
5.3.6 Calibration of the X-Y mode
The X-Y mode of oscilloscopes is used for measur-
ing the relation between two voltage signals, e.g.
for displaying I-V curves or to track phase differ-
ences (Lissajous pattern). Calibration of the X-Y
mode (gain and bandwidth) can be performed with
the same equipment as was used for calibration of
the vertical gain and the bandwidth. Usually gain
calibration will be done within one scale range
(1 V/div), and bandwidth at 0,1 V/div. The hori-
zontal bandwidth is generally smaller than the
vertical bandwidth.
5.3.7 Internal calibration signals
Amplitudes, frequencies and rise times of the in-
ternal calibration signals must be calibrated as
described in Section 5.3.1 and Section 5.3.2. Here
the oscilloscope itself can serve as a standard pro-
vided its systematic deviation is corrected and it
can deliver acceptable measurement uncertainties.
5.3.8 Cursor measurements
If cursors are used for amplitude and time meas-
urements they must be calibrated as described in
Section 5.3.1 and Section 5.3.2. In addition, one
measurement must be taken when the two cursors
are in the same position.
– 26 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4

Tabelle 4. Einstellungen für die Kalibrierung der Triggerempfindlichkeit

Einstellung am AC/DC-Kalibrator/Oszilloskop- Einstellung am Oszilloskop
kalibrator
Frequenz 1 kHz, Sinus oder Rechteck Verstärkung 1 V pro Skalenteil, 1 M 50
Zeitachse 500 µs
Amplitude der Spannung absteigend beginnend bei bei- Trigger AUTO oder NORM
spielsweise 2 V bzw. aufsteigend nach ungetriggertem
pos. Flanke, 0 V bzw. Null-
Durchlauf
durchlauf des Kalibriersignals

Table 4. Settings for calibrating the trigger sensitivity

Setting at the signal generator/oscilloscope calibrator Setting at the oscilloscope

Frequency 1 kHz, sinusoidal or rectangular gain 1 V/div, 1 M /50

time axis 500 µs
Voltage amplitude decreasing, beginning at 2 V, for trigger AUTO or NORM
example, or increasing after untriggered sweep
pos. edge, level 0 V or zero
crossing of test signal

Oszilloskopkalibrator / Oszilloskop /
oscilloscope calibrator oscilloscope

Rückführung /
traceability

Bild 19. Aufbau zur Kalibrierung der Triggerband- Figure 19. Set-up for calibrating trigger sensitivity
breite

Bild 20. Noch getriggerter Durchlauf in der Nähe Figure 20. Barely triggered sweep near the trigger
der Triggerempfindlichkeit sensitivity

Bild 21. Aussetzen der Triggerung (ungetriggerter
Durchlauf), zu erkennen an der fehlenden Status-
meldung der Triggerschaltung (z. B. Trig’d) oder
daran, dass kein stehendes Bild mehr erfasst wer-
den kann
5.4 Messunsicherheitsermittlung
Die Bestimmung der Unsicherheitsbeiträge der
Messgrößen und der Gesamtmessunsicherheit ist
entsprechend der anerkannten Regeln durchzufüh-
ren (z. B. VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 2 und
DIN V ENV 13005 (GUM), [7]), Beispiele sind im
Anhang angegeben.
Wichtige Einflussgrößen für die Messunsicherheit
sind:
Normal: Unsicherheit des Normals, Auflösung,
Klirrfaktor
Verfahren: Quellimpedanz des Normals, Ein-
gangsimpedanz des Oszilloskops, Fehlanpassung
Oszilloskop: Ableseunsicherheit, Breitbandrau-
schen, Schalterunsicherheiten
Wenn DSO kalibriert werden, kann die integrierte
Firmware (Mittelung oder Interpolation u. a.) ver-
wendet werden. Falls diese Funktionen die Kali-
brierergebnisse oder die Messunsicherheiten beein-
flussen, müssen sie im Kalibrierschein deutlich
angegeben werden.
6 Auswertung und Dokumentation
Im Kalibrierschein sind die Messergebnisse für
folgende Parameter unter Benennung aller für die
einzelne Messung zutreffenden Bedingungen und
Einstellwerte anzugeben:
Amplitude
Zeitablenkung
Anstiegszeit oder Bandbreite
interne Kalibriersignale
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 27 –
Figure 21. Triggering failure (untriggered sweep),
indicated by the missing status indication (e.g.
Trig’d) or by the fact that a stationary waveform
can no longer be obtained
5.4 Determination of measurement
uncertainties
Determination of the uncertainty contributions to
the measuring quantities and to total measurement
uncertainty must be carried out in accordance with
accepted rules (e.g. VDI/VDE/DGQ/DKD 2622
Part 2 and DIN V ENV 13005 (GUM), [7]). Ex-
amples are provided in the Annex.
The main sources of uncertainty are:
the standard: uncertainty of the calibrated refer-
ence standard, resolution, harmonic distortion
factor
the procedure: source impedance of the stan-
dard, input impedance of the oscilloscope,
mismatch
the oscilloscope: uncertainty of reading, broad-
band noise, uncertainty of switches.
In the case of DSO calibration, integrated firmware
functions (averaging or interpolation, etc.) can be
used. Since these functions may influence the cali-
bration result or the measurement uncertainty, they
must be stated clearly on the calibration certificate.
6 Evaluation and documentation
All measurement results for the following parame-
ters must be given on the calibration certificate,
along with all conditions and settings relevant to
the individual measurement:
amplitude
time deflection
rise time or bandwidth
internal calibration signals
– 28 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Anhang Beispiele zur Berechnung der
Messunsicherheiten
Die folgenden Beispiele geben Werte für Messun-
sicherheiten an, die unter optimalen Bedingungen
erreicht werden können, z. B. in nationalen metro-
logischen Instituten. Für typische Alltagskalibrie-
rungen sollen die Werte nicht als repräsentativ
angesehen werden. Sie müssen für jede besondere
Messsituation abgeleitet und angepasst werden.
Die folgenden Beispiele berücksichtigen nicht den
Einfluss des Rauschens. Abhängig von der Signal-
amplitude und der verwendeten Frequenz kann die
Messgröße signifikant durch Rauschen beeinflusst
werden. Das kann zu weiteren Messunsicherheits-
beiträgen führen, die auch berücksichtigt werden
müssen. Der Einfluss des Rauschens muss durch
wiederholte Messungen abgeschätzt werden. Mit
der Mittelungsfunktion von digitalen Oszillosko-
pen kann der Effekt vermindert werden. Sie sollte
aber mit Vorsicht benutzt werden, da Mittelungen
zu einer Verzerrung der Kurvenform führen kön-
nen (siehe auch die Bemerkungen über Mittelung
und Jitter am Ende von Abschnitt 5.2).
A1 Kalibrierung der Vertikalablenkung eines
100-MHz-Oszilloskops
A1.1 Kalibrierverfahren
Die Vertikalablenkung eines digitalen Oszilloskops
(DUT), das über eine Auflösung von 10 bit ver-
fügt, wird mithilfe eines Multifunktionskalibrators
unter Verwendung einer sinusförmigen Ausgangs-
wechselspannung kalibriert. Das Kalibrierverfahren
wird in Abschnitt 5.3.1.2 beschrieben, die Mess-
größe ist die relative Abweichung der y-Achse y.
U OSZ
y ! "1
U KAL
Es wird die bekannte Spannung UKAL des Kalibra-
tors an den Eingang des Oszilloskops angelegt,
sodass 80 % des Displaygitters ausgefüllt ist. Aus
dem Spannungswert UOSZ, der am Display abgele-
sen wird (Anzahl der vom Muster bedeckten Git-
terteilungen) und der Spannungsanzeige UKAL am
Kalibrator wird die Messgröße y bestimmt.
A1.2 Modellgleichung
y !
2 2 # T # (U KAL,Anz # RKAL $ %OKAL ) $ %U OSZ,Noise
Durch eine gute Näherung mit T & 1, und RKAL & 1
ergibt sich:
Annex Examples of measurement
uncertainty calculation
The following examples give values for uncertain-
ties which can be achieved under optimal operating
conditions such as exist at national metrology insti-
tutes. The values should by no means be regarded
as representative of typical everyday calibrations.
They need to be evaluated and adjusted individu-
ally for each particular measurement situation.
The following examples do not take into consid-
eration the effects of noise. Depending on the sig-
nal amplitudes and the operating frequencies, the
measured quantities might be seriously affected by
noise. This can lead to additional uncertainty con-
tributions which will also need to be taken into
account. The effect of noise must be estimated by
taking repeated measurements. The averaging
function of digital oscilloscopes can help to reduce
the effect but must be used with caution since av-
eraging can result in distorted waveforms (see also
the remarks about averaging and jitter at the end of
Section 5.2).
A1 Calibration of the vertical deflection of a
100 MHz oscilloscope
A1.1 Calibration procedure
The vertical deflection of a digital storage oscillo-
scope with a resolution of 10 bits is calibrated by
using a calibrated multi-function calibrator with a
sinusoidal AC output voltage. The calibration pro-
cedure is described in Section 5.3.1.2. The quantity
to be calibrated is the relative deviation of the
y-axis y, defined as
U OSZ
(A1) y ! "1 (A1)
U KAL
The known output voltage UKAL of the calibrator is
applied to the oscilloscope to give an 80 % cover-
age of the oscilloscope graticule. The quantity y is
determined from the value of the voltage UOSZ read
off from the oscilloscope display (number of divi-
sions covered by the pattern) and the calibrator out-
put voltage UKAL (on the calibrator display).
A1.2 Model equation
AY # EY # SOSZ
"1 (A2)
With T & 1 and RKAL & 1 as good approximations
one obtains:
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 29 –

AY ! EY ! SOSZ
y " #1
OKAL U OSZ,Noise
2 2 ! U KAL,Anz ! RKAL ! T ! (1 $ )(1 $ )
U KAL,Anz 2 2 ! U KAL,Anz
AY ! EY ! SOSZ
y " #1 (A3)
OKAL U OSZ,Noise
2 2 ! U KAL,Anz ! RKAL ! T ! (1 $ $ )
U KAL,Anz 2 2 ! U KAL,Anz

Dabei ist where

y relative Abweichung der Skala der
y-Achse
UOSZ gemessene Spannung am Oszilloskop
UKAL Kalibrierwert der Spannung des
Normals
AY angezeigte Skalenteile am Oszilloskop-
gitter in Skt
EY gewählte Empfindlichkeit (Messbereich
in V/Skt)
SOSZ Schalterunsicherheit des Oszilloskops
T Transmissionsfaktor bedingt durch die
Belastung am Kalibratorausgang
UKAL,Anz Spannungsanzeige des Kalibrators
(Effektivwert)
RKAL Auflösungsfaktor des Kalibrators
%OKAL Offsetspannung des Kalibrators
%UOSZ,Noise Rauschspannung des Oszilloskops
bezogen auf dessen Eingang
A1.3 Berechnung der Messunsicherheiten
Das Kalibrierverfahren basiert auf einer direkten
Messung, weil mittels eines Kalibrators mit be-
kannter Ausgangsspannung die Anzeige des Oszil-
loskops (DUT) unmittelbar kalibriert wird. Die
Gleichung (A2) bzw. Gleichung (A3) zur Bestim-
mung des Messergebnisses ist gleichzeitig die Mo-
dellgleichung für die Messunsicherheitsanalyse.
Als Wechselspannungsnormal dient ein Multifunk-
tionskalibrator mit einem sinusförmigen Kalibrier-
signal der Frequenz 1 kHz. Um den Skalenfaktor
des Oszilloskops über sechs Skalenteile zwischen
2 mV/Skt und 5 V/Skt messen zu können, muss die
Spitze-Spitze-Spannung USS des Kalibrators zwi-
schen USS = 12 mV und USS = 30 V aussteuerbar
sein. Für dieses Beispiel wurde ein Empfindlich-
keitsbereich von 500 mV/Skt ausgewählt.
Die Messunsicherheit umfasst im Allgemeinen viele
Komponenten. Einige davon können mithilfe der
Ermittlungsmethode A der Messunsicherheit (statis-
tische Analyse von Messwerten) ermittelt werden
(nach GUM). Die anderen Komponenten können
nach der Ermittlungsmethode B der Messunsicher-
heit (Grundlage sind Erfahrungen und weitere In-
y relative deviation of the vertical axis
scaling
UOSZ voltage measured at the oscilloscope
UKAL calibration value of the reference
standard voltage
AY indicated number of divisions on the
oscilloscope display, in div
EY selected sensitivity of the oscilloscope
(measuring range), in V/div
SOSZ switch uncertainty of the oscilloscope
T transmission factor due to the loading
effect at the calibrator output
UKAL,Anz voltage indication of the calibrator
(rms value)
RKAL readout factor of the calibrator
%OKAL offset voltage of the calibrator
%UOSZ,Noise noise voltage of oscilloscope with
respect to the input
A1.3 Calculation of measurement
uncertainties
Since a known calibrator output voltage is directly
applied to calibrate the indication of the DUT (os-
cilloscope), the calibration can be classified as a
direct measurement. To determine the measure-
ment result, Equation (A2) and/or Equation (A3)
can be applied. They also represent the model
equations for the uncertainty analysis. A multi-
function calibrator that generates a sinusoidal volt-
age of 1 kHz of known amplitude is used as AC
reference standard. To calibrate the scale factor of
the oscilloscope from 2 mV/div to 5 V/div – cover-
ing six divisions of the oscilloscope grid – the cali-
brator peak-to-peak voltage USS must be adjustable
between USS = 12 mV and USS = 30 V. In this ex-
ample, the oscilloscope sensitivity is set to
500 mV/div.
Measurement uncertainty generally covers a large
number of components. Some of these can be de-
termined using determination method A (according
to GUM) (statistical analysis of measured values)
while method B can be used with others (based on
experience and further information such as the cali-
bration certificate, manufacturer’s specifications,
– 30 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
formationen wie: Kalibrierschein, Hersteller-Spezi-
fikation etc.) ermittelt werden. Die Ermittlungsme-
thode A und Ermittlungsmethode B werden im nach-
folgenden Text kurz Typ-A-Methode und Typ-B-
Methode“ genannt (angelehnt an VIM 4, Referenz-
nummer 2.26, Messunsicherheit, Anmerkung 3).
A1.4 Beobachtungen
Die Messung der Anzeigeabweichung ys wurde
zwölfmal ausgeführt, und als arithmetischer Mit-
telwert für ys ergab sich ys = 0,0033 (0,33 %)
mit einer Standardmessunsicherheit des Mittel-
werts s( ys ) = 0,0012 (0,12 %).
A1.5 Beiträge zur Messunsicherheit
Angezeigte Skalenteile am Oszilloskopgitter (AY)
Die Anzahl der Oszilloskop-Skalenteile, die durch
die Sinusspannung des Kalibrators abgedeckt wer-
den, ist eine ganze Zahl, da die Einstellung nach
der Anzeige am Normal erfolgt. Die Anzahl AY
wird am Display abgelesen (6 Skt) und hat keine
Unsicherheit. Die geringe Abweichung zwischen
der genauen Anzahl von Skalenteilen und der Si-
nusspannung – bedingt durch die begrenzte Auflö-
sung der Ablesung am Display – ist in der Standard-
abweichung s( y) der Abweichung y enthalten.
Gewählte Empfindlichkeit (EY)
Mit der Empfindlichkeitseinstellung EY am Oszil-
loskop in V/Skt ergibt sich die am Oszilloskop
angezeigte Spannung zu UOSZ,Anz =AY EY. Wäh-
rend des Kalibrierprozesses wird UOSZ,Anz mit der
am Kalibrator gewählten Spannung UKAL,Anz ver-
glichen. Das Oszilloskop hat eine Auflösung von
10 Bit, die acht Skalenteile der gesamten Gitter-
höhe (Bild 8) werden also in 1024 digitale Inkre-
mente unterteilt. Die Kalibrierspannung bedeckt
aber nur sechs Skalenteile des Gitters. Sie kann
also nur mit einer relativen Auflösung von
!U/U =1/1024 6/8, das sind 0,073 %, erfasst wer-
den. Diese Abweichung kann als relative Abwei-
chung der Empfindlichkeit !AY/AY = 0,000173
betrachtet werden. Die Standardmessunsicherheit
von !AY wird mit der Typ-B-Methode unter An-
nahme einer Rechteckverteilung ermittelt.
Schalterunsicherheit des Oszilloskops (SOSZ)
Bei wiederholter Betätigung des Empfindlichkeits-
schalters zeigt sich eine geringe Schwankung der
tatsächlich eingestellten Empfindlichkeit. Sie wird
in der Modellgleichung (A2) durch den Faktor
SOSZ = 1+ SOSZ mit SOSZ = 0,001 berücksichtigt.
Die Standardmessunsicherheit von SOSZ wird mit
and so on). Determination method A and determina-
tion method B will henceforth be referred to as the
Type A method and the Type B method (following
VIM 4, Reference no. 2.26, Measurement uncer-
tainty, Note 3).
A1.4 Observations
The measurement of the display deviation ys was
repeated twelve times. This yielded ys = 0,0033
(0,33%) as the arithmetical mean value of with
ys
a standard deviation of the mean value
s( ys ) = 0,0012 (0,12%).
A1.5 Uncertainty contributions
Scale divisions displayed on the oscilloscope
graticule (AY)
The number of oscilloscope scale divisions AY
covered by the sine-wave pattern of the calibrator
voltage is a whole number since setting is carried
out at the standard following indication. The num-
ber AY is read off from the display (6 div) and has
no associated uncertainty. The minor deviation
between the precise number of scale divisions and
the sine-wave pattern – caused by a limited resolu-
tion of the display – are included in the standard
deviation s( y) of the deviation y.
Selected sensitivity (EY)
With the selected sensitivity EY of the oscilloscope,
in V/div, the indicated voltage of the oscilloscope
is given by UOSZ,Anz =AY EY. During the calibration
process, UOSZ,Anz is compared with the calibrator
voltage UKAL,Anz selected on the oscilloscope. The
oscilloscope has a resolution of 10 bits, i.e. the
eight scale divisions of the grid (Figure 8) are dis-
cretised into 1024 digital steps. Since the calibra-
tion signal covers only six scale divisions, it can be
displayed with a relative resolution U/U of only
1/1024 ! 6/8, that is, 0,073 %. This relative voltage
uncertainty can be considered as the relative devia-
tion of the sensitivity: AY/AY = 0,000173. The
standard measurement uncertainty of AY is calcu-
lated by the Type B method while assuming a rec-
tangular distribution.
Switching uncertainty of the oscilloscope (SOSZ)
Repeated operation of the sensitivity switch will
result in a minor variation in sensitivity. In Equa-
tion (A2), this variation due to switching is taken
into account by the factor SOSZ = 1+ SOSZ where
SOSZ = 0,001. The standard measurement uncer-
tainty of SOSZ is calculated by the Type B method

der Typ-B-Methode unter Annahme einer Recht-
eckverteilung berechnet.
Transmissionsfaktor (T )
Die Eingangsimpedanz des Oszilloskops beträgt
1 M und die Ausgangsimpedanz des Kalibrators
50 . Durch die Belastung des Kalibrators wird
die Spannung am Eingang des Oszilloskops um
0,005 % im Vergleich zur Leerlaufspannung ver-
mindert. Die Widerstandswerte sind nur Nominal-
werte, der Transmissionsfaktor T = 1 0,00005,
der die Spannungsänderung berücksichtigt, trägt
mit !T = 0,00005 zur Messunsicherheit bei. Die
Standardmessunsicherheit u(!T ) wird mit der Typ-
B-Methode unter Annahme einer Rechteckvertei-
lung berechnet.
Spannungsanzeige des Kalibrators (UKAL,Anz)
In der Spezifikation des Kalibrators für die relative
Abweichung zwischen dem Effektivwert der tat-
sächlichen Spannung am Ausgang und der Anzeige
UKAL,Anz wird ein Wert von UKAL,Anz/UKAL,Anz =
0,0015 angegeben. In dieser Abweichung sind die
Drift für zwölf Monate und die Abweichungen für
harmonische Fehlspannungen eingeschlossen. Die
Kalibrierung des Oszilloskops erfolgt jedoch mit
dem Spitze-Spitze-Wert der Spannung des Kali-
brators. Den Unterschied zum angezeigten Effek-
tivwert berücksichtigt der Faktor 2 2 in den Mo-
dellgleichungen (Gleichung (A2) bzw. Glei-
chung (A3)). Der Beitrag von !UKAL,Anz zur Mess-
unsicherheit wird mit der Typ-B-Methode unter
Annahme einer Rechteckverteilung berechnet.
Auflösungsfaktor des Kalibrators (RKAL)
Der Auflösungsfaktor des Kalibrators
RKAL = 1 + RKAL berücksichtigt die begrenzte Auf-
lösung der Kalibratoranzeige mit RKAL = 0,00001.
Die Standardmessunsicherheit u( RKAL) wird mit
der Typ-B-Methode berechnet unter Annahme
einer Rechteckverteilung.
Offsetspannung des Kalibrators ( OKAL)
Zur nominellen Kalibratorausgangsspannung
UKAL,Anz addiert sich gemäß Herstellerspezifikation
eine kleine Offsetspannung OKAL. Die relative
Abweichung der Kalibratorausgangsspannung
bedingt durch diese Offsetspannung beträgt
OKAL/UKAL,Anz = 0,0002. Dieser Unsicherheitsbei-
trag wird mit der Typ-B-Methode unter Annahme
einer Rechteckverteilung berechnet.
Rauschspannung des Kalibrators ( UOSZ,Noise)
Das am Oszilloskop angezeigte Spannungssignal
ist durch eine kleine Rauschspannung gestört, die
vom Eingangsverstärker der Vertikalablenkung
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 31 –
while assuming a rectangular distribution.
Transmission factor (T )
The oscilloscope has an input resistance of 1 M ,
while the calibrator has an output resistance of
50 . By the loading effect, the voltage at the input
of the oscilloscope is reduced by about 0,005 %
compared to the open circuit voltage of the calibra-
tor. Since the resistances are given only as nominal
values, the transmission factor T = 1 0,00005
which takes this voltage variation into considera-
tion contributes !T = 0,00005 to the measurement
uncertainty. The standard measurement uncertainty
u(!T ) is calculated by the Type B method while
assuming a rectangular distribution.
Voltage indication on the calibrator (UKAL,Anz)
The calibrator specifications give a value of
UKAL,Anz/UKAL,Anz = 0,0015 for the relative devia-
tion between the rms value of the actual output
voltage and UKAL,Anz, the indicated voltage. This
deviation covers the drift over twelve months as
well as the deviations caused by harmonics-related
fault voltages. The calibration of the oscilloscope
grid is however based on the peak-to-peak voltage
of the calibrator. The difference from the rms value
indicated is taken into account by the factor 2 ! 2
in the model equations (Equation (A2) and Equa-
tion (A3)). The contribution made to uncertainty
by the deviation UKAL,Anz is calculated by the
Type B method while assuming a rectangular dis-
tribution.
Resolution factor of the calibrator (RKAL)
The resolution factor RKAL = 1 + RKAL takes into
account the limited resolution of the calibrator
readout with RKAL = 0,00001. The standard meas-
urement uncertainty u( RKAL) is calculated by the
Type B method while assuming a rectangular dis-
tribution.
Offset voltage of the calibrator ( OKAL)
According to the manufacturer’s specifications a
small offset voltage OKAL is added to the nominal
calibrator output voltage UKAL,Anz. The relative
deviation of the calibrator output voltage due to
this offset amounts to OKAL/UKAL,Anz = 0,0002.
The uncertainty contribution of this relative devia-
tion is calculated by the Type B method while
assuming a rectangular distribution.
Noise voltage of the calibrator ( UOSZ,Noise)
The voltage signal displayed by the oscilloscope is
disturbed by a small amount of noise voltage gen-
erated in the oscilloscope’s input amplifier for
– 32 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4

hervorgerufen wird. Der Wert der Rauschspannung vertical deflection. This amount of noise voltage
bezogen auf den Eingang des Oszilloskops wird with respect to the input of the oscilloscope is de-
mit UOSZ,Noise bezeichnet. Die relative Abwei- noted by UOSZ,Noise. The relative deviation of the
chung der Kalibrierspannung aufgrund dieses Off- calibration voltage caused by this offset is
sets beträgt U OSZ,Noise ! U KAL,Anz " . Dieser U OSZ,Noise ! U KAL,Anz " . The uncertainty
Unsicherheitsbeitrag wird mit der Typ-B-Methode contribution of this relative deviation is determined
unter Annahme einer Rechteckverteilung berech- by the Type B method while evaluation assuming a
net. rectangular distribution.
A1.6 Messunsicherheitsbilanz für die Kali- A1.6 Uncertainty budget for calibration of
brierung der Abweichung y der the relative deviation y of the vertical
y-Achse axis
Die Messunsicherheitsbilanz für die Kalibrierung The measurement uncertainty budget for calibrat-
der Abweichung y der y-Achse ist Tabelle A1 ing the deviation y of the y-axis is shown in Ta-
zu entnehmen. ble A1.
A1.7 Erweiterte Messunsicherheit A1.7 Expanded uncertainty
Die erweiterte relative Messunsicherheit, die der The relative expanded uncertainty associated with
gemessenen Abweichung y der y-Achse beige- the measured deviation y of the y-axis amounts to:
ordnet ist, beträgt:
W( y ) ! k " w( y ) ! 2 " 0,176 % ! 0 ,352 % W( y ) ! k " w( y ) ! 2 " 0,176 % ! 0 ,352 %

A1.8 Messergebnis A1.8 Reported result

Die relative Abweichung der y-Achse y beträgt: The relative deviation of the vertical axis y is:
y = (0,33 # 0,35) % y = (0,33 # 0,35)%

Die angegebene erweiterte Messunsicherheit der
Abweichung y ergibt sich aus der Standardmessun-
sicherheit multipliziert mit dem Erweiterungsfaktor
k = 2, der für eine Normalverteilung mit einer Über-
deckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 % gilt.
The reported expanded uncertainty of the vertical
deflection y is obtained by multiplying the standard
uncertainty of measurement by a coverage factor
k = 2, which for a normal distribution corresponds
to a coverage probability of approximately 95 %.

Tabelle A1. Messunsicherheitsbilanz für die Kalibrierung der Abweichung y der y-Achse
Größe Schätzwert Relative Standard- Verteilung Sensitivitäts- Relativer Un-
messunsicherheit koeffizient sicherheitsbeitrag
a) b)
Xi xi w(xi) ci w(yi)

!y s
0,33 % 0,12 % Normal 1 0,12 %

AY 6 Div – – – –
EY 0,5 V/Skt 0,021 % Rechteck 1 0,0021 %
SOSZ 1 0,058 % Rechteck 1 0,058 %
T 1 0,0029 % Rechteck 1 0,0029 %
UKAL,Anz 1,0572 V 0,087 % Rechteck 1 0,087 %
RKAL 1 0,00058 % Rechteck 1 0,0006 %
1+ OKal 1 0,012 % Rechteck 1 0,0001 %
UKal,Anz

1+ UOSZ,Noise 1 0,034 % Rechteck 1 0,0005 %

2 2 UKal,Anz
!y 0,33 % 0,165 %
a)
Die Modellgleichung (A3) kann als Produkt der Eingangsgrößen geschrieben werden, deshalb kann die relative Messunsicherheit
w( y) des Messergebnisses aus der Wurzel der Quadratsumme der den Eingangswerten beigeordneten relativen Unsicherheiten
w(xi), multipliziert mit dem Quadrat der jeweiligen Sensitivitätskoeffizienten ci2 berechnet werden. Für die Modellgleichung in Ab-
schnitt A1.2 sind die Sensitivitätskoeffizienten alle |ci |= 1. [7]
b)
Die Unsicherheitsbeiträge werden alle als unkorreliert angenommen.
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 33 –

Table A1. Uncertainty budget for the relative deviation y of the vertical axis
Symbol Estimate Relative standard Distributi- Sensitivity Relative uncertainty
b)
Xi xi uncertainty of on coefficient contribution w(yi)
a)
measurement w(xi) ci
!y s
0,33 % 0,12 % Gaussian 1 0,12 %

AY 6 div – – – –
EY 0,5 V/div 0,021 % rectangular 1 0,0021 %
SOSZ 1 0,058 % rectangular 1 0,058 %
T 1 0,0029 % rectangular 1 0,0029 %
UKAL,Anz 1,0572 V 0,087 % rectangular 1 0,087 %
RKAL 1 0,00058 % rectangular 1 0,0006 %
1+ OKal 1 0,012 % rectangular 1 0,0001 %
UKal,Anz

1+ UOSZ,Noise 1 0,034 % rectangular 1 0,0005 %

2 2 UKal,Anz
!y 0,33 % 0,165 %
a)
The evaluation model can be written as a product of the input quantities (Equation (A3)). The relative standard uncertainty of meas-
urement w( y) of the measurement result can therefore be calculated from the root of the sum of the squares of the relative standard
measurement uncertainties w(xi) associated with the input values multiplied by the square of their sensitivity coefficients ci2. For the
model equation in Section A1.2, all of these sensitivity coefficients are |ci| = 1 [7].
b)
The uncertainty contributions are assumed to be uncorrelated.

A2 Kalibrierung der Bandbreite B eines A2 Calibration of the bandwidth B of a

500-MHz-Oszilloskops
A2.1 Kalibrierverfahren
Mit einem HF-Generator wird eine bekannte HF-
Leistung PLM in den 50- -Eingang des zu messen-
den Oszilloskops (DUT) eingespeist. Um den Leis-
tungspegel genau messen zu können, wird das
Signal mit einem resistiven Leistungsteiler aufge-
teilt und an einen kalibrierten Leistungsmesser
angeschlossen. Die Spannung UOSZ( f ), die mit
einem Pegel von etwa Ueff = 1 V, (US = 1,4 V,
USS = 2,8 V) in den Eingang des Oszilloskops ein-
gestrahlt wird, berechnet sich aus der eingestrahl-
ten Leistung PLM gemäß:
U OSZ ( f ) ! PLM ( f ) Z 0
Mit dieser auf einen konstanten Wert gehaltenen
Spannung wird die Frequenz des Generators solan-
ge erhöht, bis sich die am Oszilloskop angezeigte
Spannung UOSZ,Anz( fc) auf 70,7 % des Werts der
angezeigten Spannung UOSZ,Anz( fRef) bei einer nied-
rigen Referenzfrequenz fRef (NF) verringert (sie-
he Abschnitt 5.3.3). Die Grenzfrequenz fc , bei der
die Bedingung erfüllt ist, ist die 3-dB-Bandbreite B
des Oszilloskops.
Bei einer praktischen Messung kann es schwierig
sein, die Eingangsspannung bei der Frequenzerhö-
hung konstant zu halten. Geschickter kann es sein,
das Verhältnis kOSZ( f ) aus angezeigter Spannung
und eingestrahlter Spannung zu bestimmen:
500 MHz oscilloscope
A2.1 Calibration procedure
Using an HF generator a known HF power PLM is
applied to the 50 input of the oscilloscope under
test (DUT). To enable precise measurement of the
power level, the signal is divided by a resistive
power splitter and connected to a calibrated power
meter. The voltage UOSZ( f ) incident to the oscillo-
scope input has a level of about Ueff = 1 V
(US = 1,4 V, USS = 2,8 V) and is calculated from
the input power PLM thus:
(A4) U OSZ ( f ) ! PLM ( f ) Z 0 (A4)
With this voltage held at a constant value, the gen-
erator frequency is increased until the voltage
UOSZ,Anz( fc) displayed by the oscilloscope has
fallen to 70,7 % of the value of UOSZ,Anz( fRef) dis-
played at a low reference frequency fRef (NF) (see
Section 5.3.3). The cut-off frequency fc at which
this condition is fulfilled is the 3 dB bandwidth B
of the oscilloscope.
Keeping the input voltage constant while increas-
ing the frequency can be difficult for a practical
measurement. A more sophisticated way can be to
determine the ratio kOSZ( f ) between the displayed
and the incident voltages:
– 34 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4

U OSZ,Anz ( f ) U OSZ,Anz ( f )
kOSZ ( f ) (A5) kOSZ ( f ) ! (A5)
U OSZ ( f ) U OSZ ( f )
Bei der Beobachtung von kOSZ( f ) ist fc erreicht, With this ratio kOSZ( f ) being observed, fc will be
wenn die folgende Gleichung erfüllt ist: found when the following equation is satisfied:
U OSZ,Anz ( f c ) U OSZ,Anz ( f c )
kOSZ ( f c ) U OSZ ( f c ) kOSZ ( f c ) U OSZ ( f c )
kc 0,7071 (A6) ! kc ! ! 0,7071 (A6)
kOSZ ( f Ref ) U OSZ,Anz ( f Re f ) kOSZ ( f Ref ) U OSZ,Anz ( f Re f )

U OSZ ( f Re f )
Beide Verfahren zur Bestimmung von fc sind äqui-
valent, jedoch lässt sich das zweite Verfahren
leichter automatisieren.
A2.2 Modellgleichung
Die gesuchte 3-dB-Bandbreite B ist die Frequenz,
die man am Generator abliest, nachdem seine Fre-
quenz von fRef beginnend bis zur 3-dB-Grenz-
frequenz durchgestimmt wurde (Bild A1). Wäh-
rend dieses Prozesses muss die auf das Oszilloskop
eingestrahlte Spannung UOSZ( f ) konstant bleiben.
Da diese Spannung vielen Unsicherheitseinflüssen
unterliegt, die auch die Messunsicherheit der
Bandbreite B beeinflussen, wird neben der Glei-
chung für B eine zweite Modellgleichung für die
Spannungsmessung entwickelt, damit die Messun-
sicherheitsanalyse übersichtlich bleibt. Im Band-
breitenmodell werden die Spannungsbeiträge, die
mit dem Spannungsmodell berechnet werden, mit
dem Sensitivitätskoeffizienten 1/Sr fc/U (siehe
Abschnitt 5.3.3) multipliziert.
A2.2.1 Modell für die Bandbreitenmessung
Die 3-dB-Bandbreite B wird bestimmt durch:
f c " kc $kc #
B ! f Gen % f Gen % f Anz % & % ' (A7)
S r ( kc kc )
U OSZ ( f Re f )
Both methods of determining fc are equivalent.
However, the second method can be automated
more easily.
A2.2 Model equation
The 3 dB bandwidth B being sought is the fre-
quency indicated by the generator once its fre-
quency has been tuned, starting from fRef and con-
tinuing up to the 3 dB cut-off frequency (Fig-
ure A1). During this procedure, the voltage inci-
dent to the oscilloscope UOSZ( f ) must be kept con-
stant. As the measurement of this voltage has nu-
merous uncertainty contributions, which also influ-
ence the uncertainty of the bandwidth B, the equa-
tion for B is supplemented by the development of a
second model equation for voltage measurement in
order to obtain transparency in the uncertainty
analysis. In the bandwidth model, the voltage un-
certainty contributions calculated from the voltage
model are multiplied by the sensitivity coefficient
1/Sr fc/U (see Section 5.3.3).
A2.2.1 Model for bandwidth measurement
The oscilloscope 3 dB bandwidth B is determined
by
f c " kc $kc #
B ! f Gen % f Gen % f Anz % & % ' (A7)
S r ( kc kc )

Bild A1. Aufbau zur Messung der 3-dB-Bandbreite Figure A1. Set-up for measuring the 3 dB band-
eines Oszilloskops width of an oscilloscope
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 35 –

mit with
U OSZ f c U OSZ f Ref ! U OSZ f c U OSZ f Ref !
# U (f ) " U (f ) $ # U (f ) " U (f ) $
kc # OSZ c OSZ Ref
$ (A8) kc # OSZ c OSZ Ref
$ (A8)
% %
kc # U f U OSZ,Anz f Ref $ kc # U f U OSZ,Anz f Ref $
#" " #" "
OSZ,Anz c OSZ,Anz c
$ $
& U OSZ,Anz ( f c ) U OSZ,Anz ( f Ref ) ' & U OSZ,Anz ( f c ) U OSZ,Anz ( f Ref ) '
Dabei ist where
fGen am Generator angezeigte Fre- fGen frequency indicated at the
quenz, wenn: UOSZ( f ) = generator when UOSZ( f ) =
0,7071(UOSZ( fRef) 0,7071(UOSZ( fRef)
)fGen unbekannte Korrektur durch )fGen unknown correction caused by
Abweichung der Generator- deviations of the generator
frequenz frequency
)fAnz unbekannte Korrektur bedingt )fAnz unknown correction caused by
durch Abweichung der Anzei- readout inaccuracy
ge
*U * f + +
OSZ c unbekannte Korrektur bedingt *U * f + +
OSZ c unknown correction caused by
U OSZ * f c + durch Abweichung der HF- U OSZ * f c + a deviation of the HF voltage
Spannung, wenn f = fc when f = fc
*U * f + +
OSZ Ref unbekannte Korrektur bedingt U OSZ f Ref ! ! unknown correction caused by
U OSZ * f Ref + durch Abweichung der NF- U OSZ f Ref ! a deviation of the LF voltage
Spannung , wenn f = fRef when f = fRef
*U * fc ++
OSZ,Anz
unbekannte Korrektur bedingt U OSZ,Anz f c ! ! unknown correction caused by
U OSZ,Anz * f c + durch Abweichung der HF- U OSZ,Anz f c ! a deviation of the HF voltage
Spannungsanzeige am indication at the oscilloscope
Oszilloskop, wenn f = fc when f = fc
*U * f Ref + +
OSZ,Anz
unbekannte Korrektur bedingt U OSZ,Anz f Ref ! ! unknown correction caused by
U OSZ,Anz * f Ref + durch Abweichung der NF- U OSZ,Anz f Ref ! a deviation of the LF voltage
Spannungsanzeige am indication at the oscilloscope
Oszilloskop, wenn f = fRef when f = fRef
,kc relative Abweichung des "kc relative deviation of the volt-
kc Spannungsverhältnisses kc kc age ratio kc from the optimal
vom optimalen Wert 0,7071 value 0,7071
-U * f + . Sensitivitätskoeffizient der #U f ! $ sensitivity coefficient of the
d/ d%
1 U * f ref + 20 ' U f ref ! (&
Sr % relativen Spannungsabwei- Sr ) relative voltage deviation and
d -/ f .0 chung und der relativen Band- d #% f $& of the corresponding relative
1 fc 2 ' fc (
breitenabweichung im 3-dB- bandwidth deviation at the
Punkt 3 dB point
A2.2.2 Modell der Spannungsmessung A2.2.2 Model of voltage measurement
Die am 3-dB-Punkt auf das Oszilloskop einge- At the 3 dB point, the voltage UOSZ( f ) incident to
strahlte Spannung UOSZ( f ) wird berechnet aus: the oscilloscope is calculated from:
1
U OSZ f ! $ U LM f ! % 1 & '" Gen & '" LM & '" Anz ! % % 1 & 0 ,5 % 'PS ! % 1 & 'M LM ( 'M OSZ !
#cal f ! & #cal (A9)
& U Kon & U Ad & U Harm
Dabei ist where
ULM( f ) aus der Leistungsmesseranzeige PLM ULM( f ) voltage indication calculated from the
berechnete Spannungsanzeige power meter indication PLM calcu-
U LM $ PLM % Z 0 lated by U LM $ PLM % Z 0
– 36 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Z0 Nominalwert der Wellenleiterimpe-
danz (allgemein: 50 )
MLM Abweichung des Fehlanpassungsfak-
tors MLM des Leistungsmessers vom
Idealwert 1
MOSZ Abweichung des Fehlanpassungsfak-
tors MOSZ des Oszilloskops vom
Idealwert 1
PS Abweichung vom idealen Leistungs-
teilungsfaktor 1 des Leistungsteilers
durch Asymmetrie
UAd unbekannte Spannungskorrektur be-
dingt durch ein BNC-N-Adapter am
Eingang des Oszilloskops
UHarm unbekannte Korrektur bedingt durch
harmonische Verzerrungen im Mess-
signal
UKon Spannungskorrektur aufgrund von
Steckerinstabilitäten
!Anz unbekannte Korrektur durch begrenz-
te Auflösung der digitalen Span-
nungsmessung am Oszilloskop
!Gen unbekannte Korrektur durch begrenz-
te Auflösung der Amplitudenanzeige
am Generator
!LM unbekannte Korrektur durch die Leis-
tungsmesser-Nichtlinearität
"cal Drift von "cal seit der letzten Kalibrie-
rung des Leistungsmessers
"cal( f ) Kalibrierungsfaktor des Leistungs-
messers bei der Frequenz f
A2.3 Berechnung der Messunsicherheit
Die Kalibrierung ist eine direkte Messung, die
zwei Abgleichbedingungen einschließt:
a) Der Frequenzabgleich
UOSZ,Anz( fc) = 0,7071 UOSZ,Anz( fRef) ist zu erfül-
len.
b) Die Eingangsspannung UOSZ( f ) muss beim
Abgleich konstant bleiben.
Die beiden Modellgleichungen zur Bestimmung
des Messergebnisses sind gleichzeitig die Grund-
gleichungen für die Messunsicherheitsanalyse. Das
Normal bei der Messung ist der HF-Generator mit
einstellbarer Frequenz zusammen mit dem kalib-
rierten HF-Leistungsmesser zur genauen Bestim-
mung der eingestrahlten Spannung UOSZ( f ). Die
Unsicherheitsbeiträge der Messung rühren vom
Generatorsignal sowie vom Abgleichprozess her.
Ein zweiter Anteil hat seinen Ursprung in der Mes-
sung der eingestrahlten HF-Spannung UOSZ( f ). Die
Z0 nominal value of the line impedance
(typically 50 )
MLM deviation of the power meter’s mis-
match factor MLM from the ideal
value 1
MOSZ deviation of the oscilloscope’s mis-
match factor MOSZ from the ideal
value 1
PS deviation from the ideal power divi-
sion factor 1 of the splitter due to
asymmetry
UAd unknown voltage correction caused
by a BNC-N adapter at the input of
the oscilloscope
UHarm unknown correction caused by har-
monic distortions of the measuring
voltage signal
UKon unknown voltage correction caused
by connector instabilities
!Anz unknown correction caused by the
limited resolution of digital voltage
measurement in the oscilloscope
!Gen unknown correction caused by the
limited resolution of the generator
amplitude display
!LM unknown correction caused by power
meter non-linearity
"cal drift of "cal since the power meter’s
last calibration
"cal( f ) calibration factor of the power meter
at frequency f
A2.3 Calculating the measurement
uncertainty
The calibration procedure is a direct measurement
which includes two adjustment requirements:
a) Frequency is to be adjusted such that:
UOSZ,Anz( fc) = 0,7071 UOSZ,Anz( fRef)
b) During adjustment the oscilloscope input volt-
age UOSZ( f ) must be kept constant.
The two model equations for obtainingthe meas-
urement result are also the basic equations for the
uncertainty analysis. The relevant standard in
measurement is the HF generator with its adjust-
able frequency together with the calibrated HF
power meter for precise determination of the inci-
dent voltage UOSZ( f ). The uncertainty contribu-
tions to measurement stem from the generator sig-
nal and also from the adjustment process. Another
contribution originates in measurement of the inci-
dent HF voltage UOSZ( f ). The standard uncertain-

Standardmessunsicherheiten all dieser Komponen-
ten sind in Abschnitt A2.7 und Abschnitt A2.8
aufgelistet.
A2.4 Beobachtungen
Zur Bandbreitenmessung wurde der Abgleich drei-
mal durchgeführt und als Mittelwert für B wurde
B = 488,0 MHz festgestellt. Die Standardabwei-
chung dieses Mittelwerts wird im Budget angege-
ben. Während des Abgleichs wurde die eingestrahl-
te Spannung UOSZ( f ) auf einen konstanten Wert von
UOSZ( f ) = 1 V gehalten. Die Spannungsabweichun-
gen bei den Frequenzen fRef und der 3-dB-
Grenzfrequenz fc sind im Budget mit den Beiträgen
(UOSZ( fRef)) und (UOSZ( fc)) berücksichtigt.
A2.5 Beiträge zur Messunsicherheit der
Bandbreitenmessung
A2.5.1 fGen
Der Generator wird mit dem Sender DCF 77 syn-
chronisiert. Die verbleibende maximale relative
Frequenzabweichung von der angezeigten Fre-
quenz fGen = 488 MHz beträgt 1 10–6, und ent-
sprechend beträgt die Frequenzabweichung
!fGen = 0,00049 MHz. Die Standardmessunsicher-
heit u(!fGen) wird mit der Typ-B-Methode unter
Annahme einer Rechteckverteilung berechnet.
A2.5.2 !fAnz
Der Generator kann nur mit einer Auflösung von
100 kHz abgestimmt werden, sodass die Frequenz-
abweichung aufgrund dieser begrenzten Auflösung
!fAnz = 50 kHz beträgt. Die Standardmessunsicher-
heit u(!fAnz) wird mit der Typ-B-Methode unter
Annahme einer Rechteckverteilung berechnet.
A2.5.3 !UOSZ(fc)
Die Abweichung !UOSZ( fc) umfasst alle Abwei-
chungen bei der Messung der eingestrahlten Span-
nung im 3-dB-Punkt. Da dieser Beitrag gemäß
Gleichung (A8) des Spannungsmessmodells aus
mehreren einzelnen Abweichungen (Tabelle A2)
berechnet wurde, ist !UOSZ( fc) eine Standardmess-
unsicherheit.
A2.5.4 !UOSZ(fRef)
Die Abweichung !UOSZ( fRef) umfasst alle Abwei-
chungen bei der Messung der eingestrahlten Span-
nung bei der Referenzfrequenz fRef. Da dieser Bei-
trag gemäß Gleichung (A8) des Spannungsmess-
modells aus mehreren einzelnen Abweichungen
berechnet wurde, ist !UOSZ( fRef) eine Standardmess-
unsicherheit.
A2.5.5 !UOSZ,Anz(fc)
Die relative Auflösung bei der Ablesung einer
Spannungsamplitude bei fc am Gitter des Oszillos-
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 37 –
ties of all of these contributions are given in Sec-
tion A2.7 and Section A2.8.
A2.4 Observations
To determine the bandwidth, the frequency ad-
justment was repeated three times, which gave an
arithmetic mean value of B = 488,0 MHz. The
standard deviation of the result is given in the
budget. During the adjustment process, the oscillo-
scope input voltage UOSZ( f ) was kept constant at a
level of 1 V. Voltage deviations at fRef and at the
3 dB cut-off frequency fc are taken into account in
the budget by ! (UOSZ( fRef)) and ! (UOSZ( fc)), re-
spectively.
A2.5 Contributions to the measurement
uncertainty of bandwidth measurement
A2.5.1 !fGen
The generator is synchronized with the DCF 77
transmitter. The remaining maximum relative fre-
quency deviation from the indicated value fGen =
488 MHz is 1 10–6, and correspondingly the fre-
quency deviation is !fGen = 0,00049 MHz. The
standard measurement uncertainty u(!fGen) is calcu-
lated by the Type B method while assuming a rec-
tangular distribution.
A2.5.2 !fAnz
The tuning resolution of the signal generator is
limited to 100 kHz. The frequency deviation due to
this limited generator resolution is thus
!fAnz = 50 kHz. The standard measurement uncer-
tainty u(!fAnz) is calculated by the Type B method
while assuming a rectangular distribution.
A2.5.3 !UOSZ(fc)
The uncertainty !UOSZ( fc) comprises the sum of all
deviations related to incident voltage measurement
at the 3 dB point. Because this contribution is cal-
culated from several individual contributions (see
Table A2) in accordance with the voltage meas-
urement model (Equation (A8)), !UOSZ( fc) is a
standard measurement uncertainty.
A2.5.4 !UOSZ(fRef)
The uncertainty !UOSZ( fRef) comprises the sum of
all deviations related to incident voltage measure-
ment at the reference frequency fRef. Since this
contribution is calculated from several individual
contributions in accordance with the voltage meas-
urement model (Equation (A8)), !UOSZ( fRef) is a
standard measurement uncertainty.
A2.5.5 !UOSZ,Anz(fc)
The relative resolution when reading off a voltage
amplitude at fc from the graticule of the oscillo-
– 38 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
kop-Displays wird mit 0,2 % abgeschätzt. Die
abgelesene Spannung ist UOSZ,Anz ( fc) = 0,7071 V,
die Abweichung bedingt durch die begrenze Auf-
lösung beträgt UOSZ,Anz 0,0014 V. Die Standard-
messunsicherheit dieses Beitrags wird mit der Typ-
B-Methode unter Annahme einer Rechteckvertei-
lung berechnet.
Anmerkung: Dieses Beispiel berücksichtigt nicht das Rau-
schen und die Auflösung des ADC. Abhängig von der Fre-
quenz, dem Signal-Rauschverhältnis und dem Typ des Oszil-
loskops können diese beiden Beiträge die Spannungsablesung
zusätzlich beeinträchtigen und müssen dann berücksichtigt
werden. Im Besonderen kann die Ablesung von fc durch Rau-
schen beeinflusst werden.
A2.5.6 UOSZ,Anz(fRef)
Die relative Auflösung bei der Ablesung einer
Spannungsamplitude bei fRef am Gitter des Oszil-
loskop-Displays wird mit 0,2 % abgeschätzt. Die
abgelesene Spannung ist UOSZ,Anz( fRef) = 1 V, die
Abweichung bedingt durch die begrenze Auflö-
sung beträgt UOSZ,Anz = 0,002 V. Die Standard-
messunsicherheit dieses Beitrags wird mit der Typ-
B-Methode unter Annahme einer Rechteckvertei-
lung berechnet.
A2.5.7 !kc
Durch Wiederholungsversuche wurde festgestellt,
dass das umfangreiche Abgleichverfahren für kc
nur mit einer Abweichung von !kc = 0,004 mög-
lich ist, das heißt !kc/kc = 0,006. Die relative Stan-
dardmessunsicherheit dieses Beitrags wird mit der
Typ-B-Methode unter Annahme einer Rechteck-
verteilung berechnet.
A2.5.8 Sr
Dieser Sensitivitätskoeffizient wurde für einen
Gauß-Tiefpass berechnet, da er als Worst-Case-
Fall der möglichen Filterverhalten des DUT be-
trachtet werden kann (Abschnitt 5.3.3). Der Wert
für Sr wurde im 3-dB-Punkt zu Sr( fc) = 0,49 be-
rechnet und hat als Rechenwerte keine Messunsi-
cherheit.
A2.6 Beiträge zur Messunsicherheit der
Spannungsmessung
Die Werte für die einzelnen unten aufgeführten
Unsicherheitsbeiträge sind für die beiden Frequen-
zen fRef und fc verschieden. Für die Frequenz f = fc
sind die Werte in der Tabelle A2 aufgeführt. Für
die Frequenz f = fRef wurden die einzelnen Werte in
einer entsprechenden Tabelle ermittelt. Diese ist
aber nicht extra aufgeführt, sondern nur das Ender-
gebnis der tabellarischen Berechnung ist in Ab-
schnitt A2.9 genannt.
A2.6.1 ULM
Für den verwendeten Leistungsmesser kann man
für die Anzeige des Signals zwischen dem Leis-
scope is estimated to be 0,2 %. The voltage reading
is UOSZ,Anz ( fc) = 0,7071 V while the deviation
caused by the limited resolution is UOSZ,Anz =
0,0014 V. The standard measurement uncertainty
of this contribution is determined by the Type B
method while assuming a rectangular distribution.
Note: This example does not take noise or ADC resolution
into account. Depending on the frequency, the signal-to-noise
ratio and the type of oscilloscope these two contributions can
affect the voltage reading additionally and thus need to be
taken into account. Readings at fc in particular might be af-
fected by noise.
A2.5.6 UOSZ,Anz(fRef)
The relative resolution of the voltage reading at fRef
from the graticule of the oscilloscope display is
estimated to be 0,2 %. The voltage reading is
UOSZ,Anz( fRef) = 1 V while the deviation caused by
the limited resolution is UOSZ,Anz = 0,002 V. The
standard measurement uncertainty of this contribu-
tion is determined by the Type B method while
assuming a rectangular distribution.
A2.5.7 !kc
Repeated trials have shown that the complex ad-
justment procedure for kc is only possible within a
deviation of !kc = 0,004. In other words,
!kc/kc = 0,006. The relative standard measurement
uncertainty of this contribution is determined by
the Type B method while assuming a rectangular
distribution.
A2.5.8 Sr
This sensitivity coefficient has been calculated for
a Gaussian low-pass filter since its characteristic
can be assumed as the worst case scenario for the
filter behaviour of the DUT (Section 5.3.3). Sr has
been calculated at the 3 dB point as Sr( fc) = 0,49.
As a calculation quantity, this coefficient thus has
no associated uncertainty of measurement.
A2.6 Contributions to the measurement un-
certainty of voltage measurement
The values for the uncertainty contributions listed
below differ for the two frequencies fRef and fc. The
values for the frequency f = fc are shown in Ta-
ble A2. As regards frequency f = fRef, the individual
values were determined in a separate table. They
are not however listed as such but instead only the
end result of tabular calculation is given in Sec-
tion A2.9.
A2.6.1 ULM
The power meter readout is selectable between
“power mode” and “voltage mode”. In voltage

tungs- und dem Spannungsmodus wählen. Im
Spannungsmodus entspricht der angezeigte Wert
der auf den Leistungsmesser eingestrahlten Span-
nung ULM, die aus der eingestrahlten Leistung PLM
gemäß U LM ! PLM Z 0 errechnet wird. Z0 = 50
ist der Wellenwiderstand des koaxialen Leitungs-
system und hat als Nominalwert keine Messunsi-
cherheit, deshalb ist
U LM 1 PLM
! # "
U LM 2 PLM
Die relative Anzeige des Leistungsmessers ist be-
grenzt auf 0,05 %, die relative Abweichung von
ULM beträgt also "ULM/ULM = 0,025 % und die
absolute Spannungsabweichung beträgt damit:
"ULM = 0,0003 V. Die Standardmessunsicherheit
für "ULM wird mit der Typ-B-Methode unter An-
wendung einer Rechteckverteilung bestimmt.
A2.6.2 !Gen
Während der Bandbreitenmessung muss für
die eingestrahlte Spannung die Bedingung
UOSZ,Anz( fc) = 0,7071 " UOSZ,Anz( fRef) durch Ab-
gleich am HF-Signalgenerator immer erfüllt sein.
Diese Spannung kann am Generator nur in Schrit-
ten von 0,01 dB verändert werden, weshalb die
Bedingung nur mit einer Abweichung von
UGen = 0,001 V, das heißt bei einem Pegel von
1 V nur mit einer relativen Abweichung von
!Gen = 0,001 eingehalten werden kann. Die relati-
ve Standardmessunsicherheit u( !Gen) wird mit der
Typ-B-Methode unter Anwendung einer Recht-
eckverteilung berechnet.
A2.6.3 !Anz
Die digitale Spannungsmessung innerhalb des
Oszilloskops ruft eine relative Abweichung !Anz
hervor, die durch die begrenzte digitale Auflösung
entsteht. Bei einer 10-bit-Auflösung des gesamten
Schirms (acht Teilungen) hat die dargestellte
Spannung bei fRef (sechs Teilungen) eine relative
Abweichung von 0,13 %. Die dargestellte Span-
nung bei fc (hier nur 4,2 Teilungen) hat dagegen
eine relative Abweichung von 0,19 %. Die relative
Standardmessunsicherheit u( Anz) wird mit der
Typ-B-Methode unter Anwendung einer Recht-
eckverteilung berechnet.
A2.6.4 !LM
Im Allgemeinen werden Leistungsmesser bei ei-
nem Pegel zwischen 1 mW und 10 mW kalibriert.
Hier wird der Leistungsmesser jedoch bei 13 mW
betrieben, was durch eine relative Abweichung
!LM von 1,5 % berücksichtigt wird. Dieser Beitrag
kann wesentlich größer sein, wenn ein Leistungs-
messer mit Diodensensor (Diodensensoren sind für
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 39 –
mode, the indicated voltage is the voltage ULM
incident at the power meter. The incident voltage is
calculated from the measured incident power PLM
according to U LM # PLM " Z 0 , Z0 = 50 is the
natural impedance of the coaxial line system and
thus as a nominal value has no uncertainty of
measurement. Hence,
U LM 1 PLM
U LM 2 PLM
The power meter has a limited relative resolution
of 0,05 %. This means that ULM has a relative de-
viation of ULM/ULM = 0,025 % and an absolute
deviation of ULM = 0,0003 V. The standard meas-
urement uncertainty of ULM is calculated by the
Type B method while assuming a rectangular dis-
tribution.
A2.6.2 !Gen
During bandwidth measurement, the condition for
the incident voltage
UOSZ,Anz( fc) = 0,7071 " UOSZ,Anz( fRef) must be ful-
filled at all times, this being done by adjustment of
the HF signal generator output power. This output
signal can be varied only in increments of 0,01 dB.
For this reason the condition can be fulfilled only
with a deviation of UGen = 0,001 V – in other
words, at a voltage level of 1 V only with a relative
deviation of !Gen = 0,001. The relative standard
measurement uncertainty u( !Gen) is calculated by
the Type B method while assuming a rectangular
distribution.
A2.6.3 !Anz
Digital voltage measurement within the oscillo-
scope causes a relative deviation !Anz which is
due to the limited resolution. For a full-screen
(eight scale divisions) resolution of 10 bits the
voltage indicated at fRef (covering six scale divi-
sions) has a relative deviation of 0,13 %. On the
other hand, the voltage indicated at fc (here cover-
ing only 4,2 scale divisions) has a relative devia-
tion of 0,19 %. The relative standard measurement
uncertainty u( Anz) is calculated by the Type B
method while assuming a rectangular distribution.
A2.6.4 !LM
In general, power meters are calibrated at a level
between 1 mW and 10 mW. Here, however, the
power meter is operated at 13 mW. This is taken
into account by a relative deviation !LM of 1,5 %.
This contribution can be more significant when a
power meter is used which has diode sensors (di-
ode sensors are designed for low-level power
– 40 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Messungen bei niedrigen Leistungspegeln entwi-
ckelt worden) verwendet wird, die größere Nichtli-
nearitäten aufweisen. Wenn ein Kalibrierschein
über die Linearität nicht vorliegt, müssen die Her-
stellerangaben herangezogen werden. Die relative
Standardmessunsicherheit für !LM wird mit der
Typ-B-Methode unter Anwendung einer Recht-
eckverteilung berechnet.
A2.6.5 "cal
Für den Leistungsmesser ist der Kalibrierungsfak-
tor cal = PAnz/Pein – das Verhältnis der angezeigten
Leistung zu der auf den Messkopf eingestrahlten
Leistung – mit einer erweiterten Messunsicherheit
U( cal) kalibriert worden. Der Kalibrierungsfaktor
und die damit verbundenen Standardmessunsicher-
heit u( cal) sind im Kalibrierschein des Leistungs-
messers angegeben und damit direkt verfügbar.
A2.6.6 ! cal
Diese Korrektion beschreibt die mögliche Drift des
Werts für den Kalibrierungsfaktor seit der letzten
Kalibrierung. Die Standardmessunsicherheit u(! cal)
wird nach der Typ-B-Methode unter Annahme
einer Rechteckverteilung berechnet.
A2.6.7 !PS
Die eingestrahlten Leistungen Pinc,1 und Pinc,2 an
Tor 1 und Tor 2 des Leistungsteilers können
sich geringfügig unterscheiden. Es gilt
Pinc,1 = (1 + !PS) " Pinc,2 mit !PS << 1. Die Stan-
dardmessunsicherheit u(!PS) wird nach der Typ-
B-Methode unter Annahme einer Rechteckvertei-
lung berechnet.
A2.6.8 !MLM
Wegen der nicht perfekten Anpassung zwischen
dem Eingangstor des Leistungsmessers und dem
Ausgangstor des Leistungsteilers (Tor 1) tritt eine
kleine Abweichung der eingestrahlten Leistung
aufgrund von Reflexion auf. Diese kleine unbe-
kannte Abweichung wird in dem Modell durch den
„Spannungs-Mismatchfaktor“
MLM = 1 # |$LM| " |$PS1| = 1+ !MLM mit den zwei
Reflexionsfaktoren |$LM|,|$PS1| << 1 an den beiden
Toren berücksichtigt. Die Standardmessunsicherheit
aufgrund dieser Reflexion wird mit der Typ-B-
Methode bei Annahme einer U-Verteilung berech-
net.
A2.6.9 !MOSZ
Wegen der nicht perfekten Anpassung zwischen
dem Eingangstor des Oszilloskops und dem Aus-
gangstor des Leistungsteilers (Tor 2) tritt auch hier
eine kleine Abweichung der eingestrahlten Leis-
tung aufgrund von Reflexion auf. Diese kleine
unbekannte Abweichung wird in dem
measurements) with larger non-linearities. If a
calibration certificate for linearity is unavailable,
the manufacturer specifications will have to be
used. The relative standard measurement uncer-
tainty !%LM is calculated by the Type B method
while assuming a rectangular distribution.
A2.6.5 cal
For the power meter, the calibration factor
cal = PAnz/Pein – the ratio between the indicated
power and the power incident on the measuring
head – is calibrated with an expanded uncertainty
U( cal). Both the calibration factor and the associ-
ated standard measurement uncertainty u( cal) are
stated on the power meter calibration certificate
and are therefore directly available.
A2.6.6 ! cal
This correction describes the possible drift of the
calibration factor value since the last calibration.
The standard measurement uncertainty u(! cal) is
calculated by the Type B method while assuming a
rectangular distribution.
A2.6.7 !PS
There can be minor differences in the power levels
Pinc,1 and Pinc,2 input at port 1 and port 2 of the
power splitter. Here Pinc,1 = (1 + !PS) " Pinc,2 with
!PS << 1. The standard measurement uncertainty
u(!PS) is calculated by the Type B method while
assuming a rectangular distribution.
A2.6.8 !MLM
Due to the imperfect match between the power
meter input port and the power splitter output port
(port 1), a small amount of the incident power is
lost by reflections. This minor unknown deviation
of the incident power from the calculated value is
taken into account in the model by the voltage
mismatch factor MLM = 1 # |$LM| " |$PS1| = 1+ !MLM
with the two reflection factors |$LM|,|$PS1| << 1 at
the two ports. The standard measurement uncer-
tainty caused by this reflection is calculated by the
Type B method while assuming an U-shaped dis-
tribution.
A2.6.9 !MOSZ
Due to the imperfect match between the oscillo-
scope input port and the power splitter output port
(port 2), here too a small amount of the incident
power is lost by reflections. This minor unknown
deviation of the incident power from the
calculated value is taken into account in the

Modell durch den „Spannungs-Mismatchfaktor“
MOSZ = 1 |!OSZ| " |!PS2| = 1 + #MOSZ mit den zwei
Reflexionsfaktoren |!OSZ|,|!PS2| << 1 an den beiden
Toren berücksichtigt. Die Standardmessunsicherheit
aufgrund dieser Reflexion wird mit der Typ-B-Me-
thode bei Annahme einer U-Verteilung berechnet.
A2.6.10 #UKon
Mit jeder Wiederholungsverbindung ändern sich
die Verluste im Eingangsstecker des Oszilloskops.
Diese schwankenden Verluste, die mit der Fre-
quenz ansteigen, werden durch die Abweichung
UKon berücksichtigt Sie wurden aufgrund von
Experimenten zu UKon = 0,0005 V bei fRef und
UKon = 0,001 V bei f = fc abgeschätzt. Die Stan-
dardmessunsicherheiten von UKon werden mit der
Typ-B-Methode bei Annahme einer Rechteckver-
teilung berechnet.
A2.6.11 UAd
Das Oszilloskop hat an seinem Eingangstor ein
BNC-Konnektor. Um das Oszilloskop mit dem
N-Konnektor-Leistungsteiler verbinden zu können,
muss ein BNC-N-Adapter zwischengeschaltet
werden. Die relativen Spannungsverluste, bedingt
durch diesen Adapter, betragen bei fc ca. 0,2 % und
müssen als Unsicherheitsbeitrag berücksichtigt
werden, bei fRef sind die Verluste vernachlässigbar.
Die Standardmessunsicherheiten von
UAd = 0,0014 V werden mit der Typ-B-Methode
bei Annahme einer Rechteckverteilung berechnet.
A2.6.12 UHarm
Für den HF-Generator sind im Datenblatt für den
Oberwellenabstand OA bei der Referenzfrequenz
fRef,OA = –45 dBc und bei der Frequenz fc = –40 dBc
angegeben. Bei einem Pegel von 1 V der Messspan-
nung UOSC betragen die möglichen Abweichungen
aufgrund von Oberwellen UHarm( fRef) = 0,0056 V
bei fRef und UHarm( fc) = 0,010 V bei fc. Die ent-
sprechenden Standardmessunsicherheiten werden
mit der Typ-B-Methode bei Annahme einer Recht-
eckverteilung berechnet.
Anmerkung: Moderne Oszilloskope bieten heute mehrere
verschiedene Methoden der Spannungsmessung an (wie Spit-
ze-Spitze bzw. Effektivwert u. a.). Auch für Sinussignale sind
für die Interpolation zwischen Datenpunkten manchmal unter-
schiedliche Methoden (wie sin(x)/x oder linear u. a.) verfügbar
(in den meisten Fällen liefert die sin(x)/x-Methode die besten
Ergebnisse). Wie bereits in Abschnitt 5.2 erwähnt, kann die
Methode der Messdatenverarbeitung das Messergebnis beein-
flussen. Deshalb sollte die für die Spannungsmessung gewähl-
te Methode im Kalibrierschein erwähnt werden.
A2.7 Messunsicherheitsbilanz für die
Bandbreitenmessung
Tabelle A2 zeigt die Messunsicherheitsbilanz für
die Bandbreitenmessung bei einer Spannung von 1 V.
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 41 –
model by the voltage mismatch factor
MOSZ = 1 |!OSZ| " |!PS2| = 1 + #MOSZ with the two
reflection factors |!OSZ|,|!PS2| << 1 at the two ports.
The standard measurement uncertainty caused by
this reflection is calculated by the Type B method
while assuming a U-shaped distribution.
A2.6.10 #UKon
With each repeated re-connection, losses in the
input connector of the oscilloscope will change.
These fluctuating losses which increase with fre-
quency are taken into consideration by the devia-
tion UKon. On the basis of experiments, UKon is
estimated as UKon = 0,0005 V at fRef and
UKon = 0,001 V at f = fc. The standard measure-
ment uncertainties of UKon are calculated by the
Type B method while assuming a rectangular dis-
tribution.
A2.6.11 UAd
The oscilloscope is equipped with a BNC connec-
tor at its input port. To connect the oscilloscope to
the N-connector splitter, a BNC-N adapter must be
used. The relative voltage losses arising with this
adapter are about 0,2 % at fc and must be taken into
consideration as an uncertainty contribution. At fRef
the losses are negligible. The standard measure-
ment uncertainties of UAd = 0,0014 V are calcu-
lated by the Type B method while assuming a rec-
tangular distribution.
A2.6.12 UHarm
For the HF generator the data sheet gives –45 dBc
at the reference frequency fRef,OA and –40 dBc at
frequeny fc for the harmonic spacing OA. With a
level of 1 V for the measurement voltage UOSC, the
possible deviations due to harmonics are
UHarm( fRef) = 0,0056 V at fRef and
UHarm( fc) = 0,010 V at fc. The corresponding stan-
dard measurement uncertainties are calculated by
the Type B method while assuming a rectangular
distribution.
Note: Today oscilloscopes offer a variety of different voltage
measurement modes (such as peak-to-peak, rms, etc.). Even
for sine-wave signals, different methods for interpolating
(such as sin(x)/x or linear, and others) between single data
points are sometimes available (in most cases, a sin(x)/x inter-
polation gives the best results). As has already been mentioned
in Section 5.2, how measurement data are processed can influ-
ence the measurement result. For this reason the method
which has been chosen for voltage measurement must be
stated on the calibration certificate.
A2.7 Uncertainty budget for bandwidth
measurement
Table A2 shows the measurement uncertainty bud-
get for bandwidth measurement with a voltage of 1 V.
– 42 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4

A2.8 Messunsicherheitsbilanz für die einge- A2.8 Uncertainty budget for the incident
strahlte Spannung bei f = fc voltage at f = fc
Tabelle A3 zeigt die Messunsicherheitsbilanz für Table A3 shows the measurement uncertainty
die eingestrahlte Spannung bei f = fc (eingestrahlte budget for the incident voltage at f = fc (incident
Spannung UOSZ ( fc) = 1 V bei der Frequenz voltage UOSZ ( fc) = 1 V at frequency
fc = 488,0 MHz mit LM! = 0,02, ! OSZ! = 0,08, fc = 488 MHz with !LM = 0,02, !OSZ = 0,08,
! PS1! = ! PS2! = 0,008). !PS1 = !PS2 = 0,008).
A2.9 Messunsicherheitsbilanz für die einge- A2.9 Uncertainty budget for the incident
strahlte Spannung bei f = fRef voltage at f = fRef
Die Messunsicherheitsbilanz für die eingestrahlte The measurement uncertainty budget for the inci-
Spannung wird ermittelt bei UOSZ ( fRef) = 1 V bei dent voltage is determined when UOSZ ( fRef) = 1 V
der Referenzfrequenz fRef = 1 MHz mit at the reference frequency fRef = 1 MHz with
! LM! = 0,008,! OSZ! = 0,02, ! PS1! = ! PS2! = 0,004). !LM = 0,008, !OSZ = 0,02, !PS1 = !PS2 = 0,004).
Mit den in Abschnitt A2.6.1 bis Abschnitt A2.6.12 Using the data given in Section A2.6.1 to Sec-
angegebenen Daten sowie einer Berechnung ent- tion A2.6.12 and also a calculation as described in
sprechend Abschnitt A2.8 ergibt sich als Resultat Section A2.8 one obtains the following as a result
für UOSZ( fRef): for UOSZ( fRef):
UOSZ ( fRef) = 1,0000 V und UOSZ ( fRef) = 1,0000 V and
u[UOSZ( fRef)] = 0,0093 V u[UOSZ( fRef)] = 0,0093 V
A2.10 Erweiterte Messunsicherheit A2.10 Expanded uncertainty
Die erweiterte Messunsicherheit, die der Bandbrei- The expanded uncertainty associated with the
te B des Oszilloskops beigeordnet ist, beträgt: measurement of the oscilloscope bandwidth B
amounts to:
U ( B) " k # u ( B) " 2 #14,37 MHz " 28,74 MHz U ( B) " k # u ( B) " 2 #14,37 MHz " 28,74 MHz

Tabelle A2. Messunsicherheitsbilanz für die Bandbreitenmessung bei einer Spannung von 1 V
Größe Schätzwert Standardmess- Verteilung Sensitivitäts- Unsicherheits-
a) b)
Xi xi unsicherheit u(xi) koeffizient ci beitrag u(yi)
fGen 488,0 MHz 0,50 MHz Normal 1 0,50 MHz
fGen 0 0,0003 MHz Rechteck 1 0,0003 MHz
fAnz 0 0,029 MHz Rechteck 1 0,029 MHz
UOSZ fc c) 0 0,0107 Normal 966 MHz 10,33 MHz
UOSZ (fc )

UOSZ fRef c) 0 0,0093 Normal 966 MHz 8,98 MHz

UOSZ (fRef )

UOSZ,Anz fc c) 0 0,002 Rechteck 966 MHz 1,93 MHz

UOSZ,Anz (fc )

UOSZ,Anz fRef c) 0 0,002 Rechteck 966 MHz 1,93 MHz

UOSZ,Anz (fRef )

kc/kc 0 0,0035 Rechteck 966 MHz 3,38 MHz

B 488,0 MHz 14,37 MHz
a)
Die Sensitivitätskoeffizienten ci wurden als partielle Ableitungen der Modellgleichung (A6) ermittelt.
b)
Die Unsicherheitsbeiträge werden alle als unkorreliert angenommen.
c)
Werte werden in Abschnitt A2.8 und Abschnitt A2.9 berechnet.
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 43 –

Table A2. Uncertainty budget for bandwidth measurement at a voltage level of 1 V

Symbol Estimate Standard meas- Distribu- Sensitivity Uncertainty
a) b)
Xi xi urement uncertain- tion coefficient ci contribution u(yi)
ty u(xi)
fGen 488,0 MHz 0,50 MHz Gaussian 1 0,50 MHz
fGen 0 0,0003 MHz rectangular 1 0,0003 MHz
fAnz 0 0,029 MHz rectangular 1 0,029 MHz
UOSZ fc c) 0 0,0107 Gaussian 966 MHz 10,33 MHz
UOSZ (fc )

UOSZ fRef c) 0 0,0093 Gaussian 966 MHz 8,98 MHz

UOSZ (fRef )

UOSZ,Anz fc c) 0 0,002 rectangular 966 MHz 1,93 MHz

UOSZ,Anz (fc )

UOSZ,Anz fRef c) 0 0,002 rectangular 966 MHz 1,93 MHz

UOSZ,Anz (fRef )

kc/kc 0 0,0035 rectangular 966 MHz 3,38 MHz

B 488,0 MHz 14,37 MHz
a)
The sensitivity coefficients ci are determined as partial derivatives of the model equation (A6).
b)
The uncertainty contributions are all assumed to be uncorrelated.
c)
Values are calculated in Section A2.8 and Section A2.9.

Tabelle A3. Messunsicherheitsbilanz für die eingestrahlte Spannung bei f = fc

Größe Schätzwert Standardmess- Verteilung Sensitivitätskoeffi- Unsicherheits-
a) b)
Xi xi unsicherheit u(xi) zient ci beitrag u(yi)
ULM(fc) 0,9955 V 0,0002 V Rechteck 1 0,0002 V
!Gen 0 0,0006 Rechteck 1V 0,0006 V
!Anz 0 0,0011 Rechteck 1V 0,0011 V
!LM 0 0,0087 Rechteck 1V 0,0087 V
"cal 0,9910 0,0025 Normal 0,505 V 0,0013 V
#"cal 0 0,0012 Rechteck 0,505 V 0,0006 V
Z0 50 – – – –
PS 0 0,0017 Rechteck 0,505 V 0,0009 V
MLM 0 0,0001 U-Form 1V 0,0001 V
MOSZ 0 0,0005 U-Form 1V 0,0005 V
UKon 0V 0,0006 V Rechteck 1 0,0006 V
UAd 0V 0,0008 V Rechteck 1 0,0008 V
UHarm 0V 0,0058 V Rechteck 1 0,0058 V
UOSZ(fc) 1V 0,0107 V
a)
Die Sensitivitätskoeffizienten ci wurden als partielle Ableitungen der Modellgleichung (A9) ermittelt.
b)
Die Unsicherheitsbeiträge werden alle als unkorreliert angenommen.
– 44 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4

Table A3. Uncertainty budget for the incident voltage at f = fc

Symbol Estimate Standard measurement Distribution Sensitivity coefficient Uncertainty con-
a) b)
Xi xi uncertainty u(xi) ci tribution u(yi)
ULM(fc) 0,9955 V 0,0002 V rectangular 1 0,0002 V
!Gen 0 0,0006 rectangular 1V 0,0006 V
!Anz 0 0,0011 rectangular 1V 0,0011 V
!LM 0 0,0087 rectangular 1V 0,0087 V
"cal 0,9910 0,0025 Gaussian 0,505 V 0,0013 V
#"cal 0 0,0012 rectangular 0,505 V 0,0006 V
Z0 50 – – – –
PS 0 0,0017 rectangular 0,505 V 0,0009 V
MLM 0 0,0001 U-shaped 1V 0,0001 V
MOSZ 0 0,0005 U-shaped 1V 0,0005 V
UKon 0V 0,0006 V rectangular 1 0,0006 V
UAd 0V 0,0008 V rectangular 1 0,0008 V
UHarm 0V 0,0058 V rectangular 1 0,0058 V
UOSZ(fc) 1V 0,0107 V
a)
The sensitivity coefficients ci are determined as partial derivatives of the model equation (A9).
b)
The uncertainty contributions are all assumed to be uncorrelated.

A2.11 Messergebnis A2.11 Measurement result

Das 500-MHz-Oszilloskop hat eine 3-dB-Band-
breite B von
B = 488 MHz 28,7 MHz
Die angegebene erweiterte Messunsicherheit der
3-dB-Bandbreite ergibt sich aus der Standardmess-
unsicherheit multipliziert mit dem Erweiterungs-
faktor k = 2, der für eine Normalverteilung mit
einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von etwa
95 % gilt.
A3 Kalibrierung der Anstiegszeit eines
20-GHz-Oszilloskops
A3.1 Kalibrierverfahren
In diesem Beispiel wird ein Oszilloskop (DUT) mit
einer Bandbreite von 20 GHz mittels eines Pulsge-
nerators (Puls-Normal) bekannter Anstiegszeit
kalibriert. Das Signal des Pulsgenerators wird an
den Eingang des Oszilloskops angelegt. Aus dem
vom Oszilloskop angezeigten Messsignal wird die
Eigenanstiegszeit berechnet (Bild A2).
The 500 MHz oscilloscope has a 3 dB bandwidth
B = 488 MHz 28,7 MHz
The reported expanded uncertainty of measure-
ment of the 3 dB bandwidth is given by the stan-
dard measurement uncertainty multiplied by a cov-
erage factor k = 2, which for a normal distribution
corresponds to a coverage probability of approxi-
mately 95 %.
A3 Calibration of the rise time of a 20 GHz
oscilloscope
A3.1 Calibration procedure
In this example, an oscilloscope with a bandwidth
of 20 GHz is calibrated by means of a pulse gen-
erator (pulse standard) with a known rise time. The
output signal of the pulse generator is applied to
the oscilloscope input. The oscilloscope’s inherent
rise time is calculated from the signal indication at
the oscilloscope display (Figure A2).

Bild A2. Schematischer Aufbau zur Kalibrierung der Figure A2. Schematic set-up for calibrating the
Anstiegszeit rise time

Der Aufbau besteht im Wesentlichen aus drei
Hauptkomponenten:
Grundgerät des Pulsgenerators
abgesetzter Pulskopf
Oszilloskop als Kalibriergegenstand (DUT)
Durch den direkten Anschluss des Pulskopfs an
das Oszilloskop werden mögliche Einflüsse von
Anschlussleitungen vermieden. Für eine gute Dar-
stellung der Anstiegs- bzw. Abfallflanke am Oszil-
loskop liefert der Pulsgenerator ein um ca. 50 ns
voreilendes Triggersignal.
A3.2 Modellgleichung
Die Anstiegszeit berechnet sich aus:
2 2
tr_dut ! t r_mess "t r_normal ) # $tmethod
mit
tr_mess ! t90 " t10 # $ttimebase # $ttoplevel # $treflevel (A11)
Dabei ist
tr_dut Anstiegszeit des Kalibriergegenstands
(Messergebnis)
tr_mess am Oszilloskop dargestelltes Messergeb-
nis
tr_normal Anstiegszeit des Pulsgenerators (im Ka-
librierschein des Normals angegebener
Wert
tmethod Korrektur bedingt durch die Abweichung
der geometrischen Subtraktion
t10 am Oszillokop gemessene Zeit auf dem
Niveau von 10 % der Spitzenspannung
t90 am Oszillokop gemessene Zeit auf dem
Niveau von 90 % der Spitzenspannung
$ttimebase Korrektur bedingt durch eine Abwei-
chung der Zeitbasis
$ttoplevel Korrektur bedingt durch eine Abwei-
chung der Werte der Topspannung
$treflevel Korrektur bedingt durch eine Abwei-
chung der Zeitwerte bei
10 % der Spitzenspannung und
90 % der Spitzenspannung
A3.3 Berechnung der Messunsicherheit
Das Kalibrierverfahren ist vom Grundprinzip eine
direkte Messung. Die für die Auswertung benutzte
Gleichung (A6) ist zugleich auch die Grundglei-
chung des Modells zur Unsicherheitsanalyse.
Zur Berechnung der Gesamtmessunsicherheit des
Messsystems wird von den folgenden Unsicher-
heitsbeiträgen ausgegangen:
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 45 –
The measuring set-up basically consists of three
main components:
the main part of the pulse generator
the external pulse head
the oscilloscope as object of calibration (DUT)
By connecting the external pulse head directly to
the oscilloscope, potential distortions due to con-
necting lines are eliminated. To provide a clear
display of the rising or the falling edge, the trigger
signal of the pulse generator leads the pulse by
approx. 50 ns.
A3.2 Model equation
The rise time of the oscilloscope is calculated thus:
2 2
(A10) tr_dut ! tr_mess " tr_normal ) # $tmethod (A10)
with
tr_mess ! t90 " t10 # $ttimebase # $ttoplevel # $treflevel (A11)
where
tr_dut rise time of the oscilloscope under cali-
bration (measurement result)
tr_mess measured rise time displayed by the os-
cilloscope
tr_normal rise time of the pulse standard (value
stated on the calibration certificate of the
standard)
tmethod correction due to the error of geometric
subtraction
t10 measured time at the oscilloscope at
10 % level of the top level voltage
t90 measured time at the oscilloscope at
90 % level of the top level voltage
$ttimebase correction due to a deviation of the time
base of the oscilloscope
$ttoplevel correction due to a deviation in the top
level voltage values
$treflevel correction due to a deviation in the time
values at
10 % of the top level voltage and
90 % of the top level voltage
A3.3 Calculating measurement uncertainty
The calibration method is based on a direct meas-
urement. Equation (A6) used for evaluation is also
the basic equation in the model for uncertainty
analysis.
To calculate the total measurement uncertainty of
the measuring system the following uncertainty
contributions are assumed:
– 46 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
a) Pulsnormal: Anstiegszeit
tr_normal = 6,0 ps 1,9 ps
b) Messung der Anstiegszeit mit dem Oszilloskop
tr_mess
Unsicherheitsbeiträge bzw. unbekannte Korrek-
turen bei der Messung der Anstiegszeit tr_mess
mit dem Oszilloskop entstehen bei Bestimmung
der Nulllinie (0%-Wert), des Pulsdachs (100%-
Wert, Topspannung), der 10%- und 90%-Mar-
ken des Pulses (0,1 ! Spitzenspannung und
0,9 ! Spitzenspannung) und Unvollkommenhei-
ten der Zeitbasis (Timebase Accuracy ttimebase).
In einigen Fällen kann es erforderlich sein, die
Anstiegszeit tr 20–80 zwischen den 20%- und 80%-
Marken des Pulsanstiegs oder -abfalls zu messen.
Für ein Gauß-Tiefpass gilt:
tr # tr10"90 # 1,5227 ! tr 20"80 (A12)
A3.4 Beiträge zur Messunsicherheit
A3.4.1 tr_normal
Das Pulsnormal ist ein Pulsgenerator, der Span-
nungspulse mit sehr steiler Abfallflanke mit einer
Amplitude von etwa 5 V erzeugt. Da der
Samplingkopf des Oszilloskops bei diesen hohen
Amplituden beschädigt werden könnte, wird dem
Pulskopf ein 20-dB-Abschwächer nachgeschaltet;
in dieser Konfiguration wird das Pulsnormal auch
kalibriert. Gemäß Kalibrierschein wird für die
Anstiegszeit tr_normal = 6,0 ps 1,9 ps angegeben
(Erweiterungsfaktor der Messunsicherheit k = 2).
Das Pulsnormal sollte nicht für die Kalibrierung
von Oszilloskopen mit einer Bandbreite über
30 GHz benutzt werden, da die Messunsicherheit
signifikant ansteigen kann, weil die Anstiegszeit
des Oszilloskops kürzer ist als die des Pulsnormals.
A3.4.2 tr_mess
Dieses Zwischenergebnis ist die am Oszilloskop
(DUT) abgelesene Anstiegszeit, die sich aus
tr_mess = t90 – t10 ergibt. In der Mittelwertsbetriebsart
(Average-Modus) des Oszilloskops wird zunächst
der 100 %-Wert (U100 %) der Pulsspannung ermit-
telt. Bei den beiden Spannungspegeln 0,9 ! U100 %
und 0,1 ! U100 % werden in einem 4 mV breiten
Messfenster die Verteilungen der Messpunkte (oh-
ne Mittelung) bestimmt. Der Messwert für die
Anstiegszeit tr_mess bestimmt sich aus der Differenz
der beiden Mittelwerte der Verteilungen, die Stan-
dardabweichungen der Mittelwerte sind die Un-
sicherheitsbeiträge von t90 und t10.
A3.4.3 t90
Dies ist die am Oszilloskop gemessene Zeit bei
dem Spannungspegel 0,9 ! U100 %. Die Standard-
a) for the pulse standard, the rise time
tr_normal = 6,0 ps 1,9 ps
b) for rise time measurement with the oscilloscope
tr_mess
Uncertainty contributions and unknown correc-
tions in rise time measurement arise during de-
termination of the base value (0 % voltage), the
top value (100 % voltage), the 10 % and 90 %
levels of the pulse (0,1 ! top level voltage and
0,9 ! top level voltage) and from imperfections
in the timebase (timebase accuracy ttimebase).
In some cases it may be necessary to determine the
rise time tr 20–80 between the 20 % and 80 % voltage
levels of the leading or falling edge. For a Gaus-
sian low-pass filter, the following conversion can
be applied:
tr # tr10"90 # 1,5227 ! tr 20"80 (A12)
A3.4 Uncertainty contributions
A3.4.1 tr_normal
A pulse generator is used as pulse standard. It gen-
erates voltage pulses having a steep falling edge
and an amplitude of about 5 V. To avoid any dam-
age to the oscilloscope’s sampling head due to the
high pulse amplitude, a 20 dB attenuator is con-
nected on the load side between pulse head and
oscilloscope input. The calibration certificate gives
tr_normal = 6,0 ps 1,9 ps for the rise time (coverage
factor of the uncertainty of measurement k = 2).
The pulse standard should not be used for calibrat-
ing oscilloscopes with a bandwidth above 30 GHz
since measurement uncertainty can increase sig-
nificantly due to the oscilloscope rise time being
shorter than the rise time of the pulse standard.
A3.4.2 tr_mess
This intermediate result is the rise time read off at
the oscilloscope (DUT) and is given by
tr_mess = t90 – t10. First, the 100 % level of the pulse
voltage U100 % is determined with the averaging
mode switched on. Next, at the two voltage levels
0,9 ! U100 % and 0,1 ! U100 %, the distributions of the
measurement points are determined (without aver-
aging) within a 4 mV window. The difference be-
tween the two mean values of the distributions
gives the measured value for the rise time tr_mess.
The standard deviations of the mean values s are
the uncertainty contributions of t90 and t10.
A3.4.3 t90
This is the measured time at the oscilloscope volt-
age level of 0,9 ! U100 %. The standard measurement

messunsicherheit von t90 wird gemäß der Typ-A-
Methode aus den Beobachtungen berechnet. Bei
t90 = 20 ps ergab sich u(t90) = 0,2 ps.
A3.4.4 t10
t10 ist die am Oszilloskop gemessene Zeit bei dem
Spannungspegel 0,1 U100 %. Die Standardmessun-
sicherheit von t10 wird gemäß der Typ-A-Methode
aus den Beobachtungen berechnet. Bei
t10 = 10,8 ps ergab sich u(t10) = 0,2 ps.
A3.4.5 ttimebase
Dies ist eine unbekannte Korrektur bedingt durch
die Digitalisierung des Zeitbasiswerts. Der Erwar-
tungswert (bester Schätzwert) für ttimebase ist
E[ ttimebase] = 0 ps, nur die Grenzen von ttimebase
sind mit –0,4 ps und 0,4 ps von der Kalibrierung
der Zeitbasis bekannt. Die Standardmessunsicher-
heit für ttimebase wird gemäß der Typ-B-Methode
bei Annahme einer Rechteckverteilung berechnet.
A3.4.6 ttoplevel
Unbekannte Korrektur bedingt durch eine Abwei-
chung des Dachwerts (100 %) der Pulsspannung.
Da das Pulsdach nicht ganz flach ist, kann man den
Dachwert U100 % nur mit einer relativen Abwei-
chung von 2 % ermitteln. Damit hat auch die am
Oszilloskop gemessene Anstiegszeit tr_mess die glei-
che relative Abweichung von 2 %. Mit
tr_mess = 9,2 ps berechnet sich die absolute Abwei-
chung bedingt durch die Abweichung des Dach-
werts zu toplevel = 0,18 ps. Der Erwartungswert für
ttoplevel ist E[ ttoplevel] = 0 ps, und nur die Grenzen
von ttoplevel sind mit +0,18 ps und –0,18 ps be-
kannt. Die Standardmessunsicherheit für ttoplevel
wird gemäß der Typ-B-Methode bei Annahme
einer Rechteckverteilung berechnet.
A3.4.7 treflevel
Unbekannte Korrektur aufgrund von Abweichun-
gen der 90%- und 10%-Spannungswerte der Dach-
spannung (100 %). Bei der Ermittlung der t90 % und
t10 % Werte – entsprechend der Spannungswerte
U90 % und U10 % – entstehen relative Abweichun-
gen, die mit 0,5 % des Dachspannungswerts abge-
schätzt werden. Bedingt durch die Steigung der
u-t-Charakteristik von !u/!t = 0,8 " 0,5 V / 9,2 ps
betragen die Abweichungen t90 % und t10 % der
beiden gemessenen Zeiten t90 % und t10 % je 0,06 ps.
Da diese beiden Abweichungen unkorreliert sind,
beträgt die gesamte Abweichung treflevel = 0,08 ps.
Der Erwartungswert für treflevel ist
E[ treflevel] = 0 ps, und nur die Grenzen von ttoplevel
sind mit +0,08 ps und –0,08 ps bekannt. Die Stan-
dardmessunsicherheit für treflevel wird gemäß der
Typ-B-Methode bei Annahme einer Rechteckver-
teilung berechnet.
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 47 –
uncertainty of t90 is calculated by the Type A
method from observations. For t90 = 20 ps one ob-
tains u(t90) = 0,2 ps.
A3.4.4 t10
This is the measured time at the oscilloscope volt-
age level of 0,1 " U100 %. The standard measurement
uncertainty of t10 is calculated by the Type A
method from observations. For t10 = 10,8 ps one
obtains u(t10) = 0,2 ps.
A3.4.5 ttimebase
This is an unknown correction arising from digiti-
zation of the timebase value. The expected value
(best estimated value) of ttimebase is
E[ ttimebase] = 0 ps. Only the lower and upper limits
ttimebase (–0,4 ps and 0,4 ps respectively) are
known from the timebase calibration. The standard
uncertainty of ttimebase is calculated by the Type B
method while assuming a rectangular distribution.
A3.4.6 ttoplevel
This is an unknown correction due to a deviation in
the top level (100 %) measurement of the pulse
voltage. Since the pulse top is not perfectly flat, the
top level voltage U100 % can only be determined
with a relative deviation no better than 2 %. The
the rise time tr_mess measured at the oscilloscope
thus has the same relative deviation of 2 %. With
tr_mess = 9,2 ps, the absolute deviation due to devia-
tion of the top level measurement amounts to
t toplevel = 0,18 ps. The expected value of ttoplevel is
E[ ttoplevel] = 0 ps. Only the lower and upper limits
pf ttoplevel (–0,18 ps and 0,18 ps respectively) are
known. The standard measurement uncertainty of
ttoplevel is calculated by the Type B method while
assuming a rectangular distribution.
A3.4.7 treflevel
This is an unknown correction due to deviations in
the 90 % and 10 % voltage levels of the top volt-
age (100 %). Relative deviations arise during de-
termination of the t90 % and t10 % values – which
correspond to the voltage levels U90 % and U10 % –
and these are estimated at 0,5% of the top voltage
value. As the gradient of the u-t characteristic is
given by !u/!t = 0,8 " 0,5 V / 9,2 ps, the deviations
t90 % and t10 % of the two measured times t90 % and
t10 % will be 0,06 ps in each case. As neither devia-
tion is correlated, the overall deviation is
treflevel = 0,08 ps. The expected value of treflevel is
E[ treflevel] = 0 ps. Here only the limits of ttoplevel
are known, namely +0,08 ps and –0,08 ps. The
standard measurement uncertainty for treflevel is
calculated by the Type B method while assuming a
rectangular distribution.
– 48 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4

A3.4.8 tmethod A3.4.8 tmethod

Unbekannte Korrektur aufgrund der vereinfachten
geometrischen Subtraktion der Anstiegszeit des
Pulsnormals von der gemessenen Anstiegszeit. Der
Erwartungswert E von tmethod ist null mit einer
maximalen Abweichung von ±0,37 ps (2 % von
18,5 ps). Da nur die Grenzen der Abweichung
bekannt sind, wird die Messunsicherheit von
tmethod mit der Typ-B-Methode bei Annahme einer
Rechteckverteilung berechnet.
A3.5 Messunsicherheitsbilanz
Tabelle A4 zeigt die Messunsicherheitsbilanz bei
der Anstiegszeit tr_DUT des 50-GHz-Oszilloskops.
A3.6 Erweiterte Messunsicherheit
Die erweiterte Messunsicherheit, die der Anstiegs-
zeit tr_dut des Oszilloskops beigeordnet ist, beträgt:
U (tr_dut ) ! k " u (tr_dut ) ! 2 " 0 ,98ps ! 2 ,0 ps
This is an unknown correction due to the simpli-
fied geometrical subtraction of the rise time of the
pulse standard from the measured rise time. The
expected value E of tmethod is zero with a maximal
deviation of ±0,37 ps (2 % of 18,5 ps). Since only
the limits of the deviation are known, the meas-
urement uncertainty of tmethod is calculated by the
Type B method while assuming a rectangular dis-
tribution.
A3.5 Uncertainty budget
Table A4 shows the measurement uncertainty
budget for rise time tr_DUT of the 50 GHz oscillo-
scope.
A3.6 Expanded uncertainty
The expanded uncertainty associated with meas-
urement of the oscilloscope rise time tr_dut is
U (tr_dut ) ! k " u (tr_dut ) ! 2 " 0 ,98ps ! 2 ,0 ps

A3.7 Messergebnis A3.7 Measurement result

Das 20-GHz-Oszilloskop hat eine Anstiegszeit von
tr_dut = 17,5 ps # 2,0 ps.
Die angegebene erweiterte Messunsicherheit der
Anstiegszeit ergibt sich aus der Standardmessunsi-
cherheit multipliziert mit dem Erweiterungsfaktor
k = 2, der für eine Normalverteilung mit einer
Überdeckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 %
gilt.
The 20 GHz oscilloscope has a rise time of
tr_dut = 17,5 ps # 2,0 ps.
The reported expanded uncertainty of the rise time
is obtained as the standard uncertainty of meas-
urement multiplied by a coverage factor k = 2,
which for a normal distribution corresponds to a
coverage probability of approximately 95 %.

Tabelle A4. Messunsicherheitsbilanz bei der Anstiegszeit tr_DUT des 50-GHz-Oszilloskops

Größe Schätzwert Standardmess- Verteilung Sensitivitäts- Unsicherheitsbeitrag
a) b)
Xi xi unsicherheit u(xi) koeffizient ci u(yi)
tnormal 6,00 ps 0,95 ps Normal 0,86 0,82 ps
t90 29,30 ps 0,20 ps Rechteck 1,3 0,26 ps
t10 10,80 ps 0,20 ps Rechteck 1,3 0,26 ps
tmethod 0,0 ps 0,21 ps Rechteck 1 0,21 ps
ttimebase 0,0 ps 0,23 ps Rechteck 1,3 0,30 ps
ttoplevel 0,0 ps 0,09 ps Rechteck 1,3 0,12 ps
treflevel 0,0 ps 0,05 ps Rechteck 1,3 0,07 ps
tr_dut 17,5 ps 0,98 ps
a)
Die Sensitivitätskoeffizienten ci wurden als partielle Ableitungen der Modellgleichung (A8) ermittelt.
b)
Die Unsicherheitsbeiträge werden alle als unkorreliert angenommen.
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 49 –

Table A4. Uncertainty budget (rise time tr_DUT of the 50 GHz oscilloscope)
Symbol Estimated value Standard measure- Distribution Sensitivity Uncertainty contribu-
a) b)
Xi xi ment uncertainty u(xi) coefficient ci tion u(yi)
tnormal 6,00 ps 0,95 ps normal 0,86 0,82 ps
t90 29,30 ps 0,20 ps rectangular 1,3 0,26 ps
t10 10,80 ps 0,20 ps rectangular 13 0,26 ps
tmethod 0,0 ps 0,21 ps rectangular 1 0,21 ps
ttimebase 0,0 ps 0,23 ps rectangular 1,3 0,30 ps
ttoplevel 0,0 ps 0,09 ps rectangular 1,3 0,12 ps
treflevel 0,0 ps 0,05 ps rectangular 1,3 0,07 ps
tr_dut 17,5 ps 0,98 ps
a)
The sensitivity coefficients ci are determined as partial derivatives of the model equation (A8).
b)
The uncertainty contributions are all assumed to be uncorrelated.

A4 Kalibrierung der Triggerbandbreite eines A4 Calibration of the trigger bandwidth of a

500-MHz-Oszilloskops 500 MHz oscilloscope
A4.1 Kalibrierverfahren A4.1 Calibration procedure
Als Beispiel wird die Messunsicherheitsanalyse für This example analyses the uncertainty of the trig-
die Triggerbandbreitenmessung eines 500-MHz- ger bandwidth measurement of a 500 MHz oscillo-
Oszilloskops angegeben. Für die Kalibrierung wird scope. As described in Section 5.3.5.1, an HF sig-
– wie in Abschnitt 5.3.5.1 beschrieben – ein HF- nal generator with continuously adjustable fre-
Generator mit kontinuierlich einstellbarer Frequenz quency is used for the calibration.
benutzt.
A4.2 Modellgleichung A4.2 Model eqation
Die Modellgleichung zur Bestimmung der Trig- The model equation for the trigger bandwidth is
gerbandbreite wird formuliert zu: given by
f Trigger f Generator ! "f Generator ! "f U f Trigger f Generator ! "f Generator ! "f U
(A13) (A13)
! "f Hysteresis ! "f Readout ! "f Hysteresis ! "f Readout
Dabei ist where
fTrigger gesuchte Triggergrenzfrequenz fTrigger trigger cut-off frequency to be calcu-
lated
fGenerator abgelesene Generatorfrequenz bei Aus- fGenerator frequency displayed by the generator
setzen der Triggerfunktion when trigger function starts to fail
"fGenerator unbekannte Korrektur bedingt durch "fGenerator unknown correction caused by devia-
die Abweichung der Generatorfrequenz tions of the generator frequency
"fU unbekannte Korrektur bedingt durch "fU unknown correction caused by voltage
die Spannungsdarstellung display
"fHysteresis unbekannte Korrektur bedingt durch "fHysteresis unknown correction caused by meas-
die Wiederholbarkeit der Messung und urement repeatability and hysteresis
Hysterese
"fReadout unbekannte Korrektur bedingt durch "fReadout unknown correction caused by the
Abweichungen bei der Ablesung readout inaccuracy
A4.3 Berechnung der Messunsicherheiten A4.3 Calculating measurement uncertainties
Das Kalibrierverfahren ist eine direkte Messme- The calibration procedure is a direct measurement.
thode. Die Modellgleichung zur Bestimmung des The model equation applied to calculate the meas-
Messergebnisses ist auch die Grundgleichung für urement result is also the basic equation of the
das Modell zur Messunsicherheitsanalyse. Als model for measurement uncertainty analysis. The
Normal dient ein HF-Generator mit kontinuierlich standard is a continuously adjustable HF signal
einstellbarer Frequenz. Die wesentlichen Un- generator. The main measurement uncertainty con-
– 50 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
sicherheitsbeiträge rühren von der Wiederholbar-
keit des Ergebnisses und der Frequenzunsicherheit
des Messsignals her.
A4.4 Beobachtungen
Die Triggerfrequenz fTrigger wurde zehnmal gemes-
sen. Im aufsteigenden Modus wurde für fTrigger ein
konstanter Wert von 633 MHz und im absteigen-
den Modus ein konstanter Wert von 632 MHz ge-
messen. Diese Werte waren durch die begrenzte
Abstimmung des Signalgenerators und Wiederhol-
barkeit von 1 MHz bedingt. Als Messergebnis
wurde der Wert fTrigger = 632,5 MHz bestimmt.
A4.5 Beiträge zur Messunsicherheit
A4.5.1 fGenerator
Der Generator wird mit dem Sender DCF 77 syn-
chronisiert, die verbleibende maximale relative
Frequenzabweichung von der angezeigten Fre-
quenz fGenerator ist deshalb 1 10–6 und die Fre-
quenzabweichung !fGenerator = 0,00063 MHz. Da
nur die oberen und unteren Grenzen der Abwei-
chung bekannt sind, wird die Standardmessunsi-
cherheit u(!fGenerator) mit der Typ-B-Methode unter
Annahme einer Rechteckverteilung ermittelt.
A4.5.2 !fU
Ein nicht perfektes Spannungssignal des Genera-
tors sowie Nichtlinearitäten des Eingangsverstär-
kers können die Triggerung beeinflussen. Diese
Einflüsse auf fTrigger werden mit der Abweichung
!fU erfasst. Die Messungen zeigen jedoch, dass
kleine Änderungen der Spannungsamplitude nahe
der Triggergrenze keinen messbaren Einfluss auf
den Triggerprozess haben.
A4.5.3 !fHysteresis
Bei Wiederholung der Messungen wurde ein
Hystereseintervall von "0,5 MHz beobachtet. Da
nur die oberen und unteren Grenzen des Intervalls
bekannt sind, wird die Standardmessunsicherheit
u(!fHysteresis) mit der Typ-B-Methode unter Annah-
me einer Rechteckverteilung ermittelt.
A4.5.4 !fReadout
Die Auflösung der Einstellung für die Generator-
frequenz ist auf 1 MHz begrenzt, der Unsicher-
heitsbeitrag für die Triggerfrequenz ist daher
!fReadout = 0,5 MHz. Die Standardmessunsicherheit
u(!fReadout) wird mit der Typ-B-Methode bei An-
nahme einer Rechteckverteilung bestimmt.
A4.6 Messunsicherheitsbilanz
Tabelle A5 zeigt die Messunsicherheitsbilanz
mit der Triggerbandbreite fTrigger eines 500-MHz-
Oszilloskops.
tributions derive from the repeatability of the result
and the frequency uncertainty of the measurement
signal.
A4.4 Observations
Trigger frequency fTrigger was measured ten times.
In ascending mode, trigger frequency measurement
gave a constant value of fTrigger = 633 MHz and in
descending mode a constant value of
fTrigger = 632 MHz. These values were due to the
limited adjustability of the signal generator and
repeatability of 1 MHz. The mean value
632,5 MHz was taken as the measurement result.
A4.5 Contributions to measurement uncer-
tainty
A4.5.1 !fGenerator
The generator is synchronized via the DCF77. The
remaining maximum relative frequency deviation
from the displayed value fGenerator is thus 1 10–6 and
the frequency deviation !fGenerator = 0,00063 MHz.
As only the lower and upper limits of this devia-
tion are known, the standard measurement uncer-
tainty u(!fGenerator) is calculated by the Type B
method while assuming a rectangular distribution.
A4.5.2 !fU
A non-ideal signal voltage signal from the genera-
tor as well as non-linearities of the input amplifier
may affect the trigger. The deviation !fU covers
these influences affecting fTrigger. However, meas-
urements reveal that small variations in the voltage
amplitude close to the trigger cut-off frequency
have no measurable effect on the trigger process.
A4.5.3 !fHysteresis
For repeated measurements, a hysteresis interval of
"0,5 MHz has been observed. As only the lower
and upper limits of the interval are known, the
standard measurement uncertainty !fHysteresis is cal-
culated by the Type B method while assuming a
rectangular distribution.
A4.5.4 !fReadout
The tuning resolution for the generator frequency
is limited to 1 MHz. The uncertainty contribution
for the trigger frequency is therefore
!fReadout = 0,5 MHz. The standard measurement
uncertainty u(!fReadout) is calculated by the Type B
method while assuming a rectangular distribution.
A4.6 Uncertainty budget
Table A5 shows the measurement uncertainty
budget for the trigger bandwidth fTrigger of a
500 MHz oscilloscope.
 VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4 – 51 –

A4.7 Erweiterte Messunsicherheit A4.7 Expanded uncertainty

Die erweiterte Messunsicherheit, die der Trigger-
bandbreite fTrigger des Oszilloskops beigeordnet ist,
beträgt:
U f Trigger ! " k # u f Trigger !
" 2 # 0 , 41 MHz
" 0 ,82 MHz
A4.8 Messergebnis
Das 500-MHz-Oszilloskop hat eine Triggerband-
breite fTrigger = 632,5 MHz $ 0,82 MHz.
Die angegebene erweiterte Messunsicherheit der
Triggerbandbreite fTrigger ergibt sich aus der Stan-
dardmessunsicherheit multipliziert mit dem Erwei-
terungsfaktor k = 2, der für eine Normalverteilung
mit einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von
etwa 95 % gilt.
The expanded uncertainty associated with the os-
cilloscope trigger bandwidth fTrigger is:
U f Trigger ! " k # u f Trigger !
" 2 # 0 , 41 MHz
" 0 ,82 MHz
A4.8 Measurement result
The 500 MHz-oscilloscope has a trigger bandwidth
of fTrigger = 632,5 MHz $ 0,82 MHz.
The reported expanded measurement uncertainty
of the trigger bandwidth fTrigger is obtained from the
standard measurement uncertainty multiplied by a
coverage factor k = 2, which for a normal distribu-
tion corresponds to a coverage probability of ap-
proximately 95 %.

Tabelle A5. Messunsicherheitsbilanz mit der Triggerbandbreite fTrigger eines 500-MHz-Oszillokops

Größe Schätzwert Standardmess- Verteilung Sensitivitätskoeffizient Unsicherheits-
a) b)
Xi xi unsicherheit u(xi) ci beitrag u(yi)
fTrigger 632,5 MHz 0 Normal 1 0
!fGenerator 0 0,0003 MHz Normal 1 0,0003 MHz

!fU 0 – Rechteck 1 –

!fHysteresis 0 0,29 MHz Rechteck 1 0,29 MHz

!fReadout 0 0,29 MHz Rechteck 1 0,29 MHz

fTrigger 632,5 MHz 0,41 MHz
a)
Die Sensitivitätskoeffizienten |ci| wurden als partielle Ableitungen der Modellgleichung (A8) ermittelt.
b)
Die Unsicherheitsbeiträge werden alle als unkorreliert angenommen.

Table A5. Measurement uncertainty budget for the trigger bandwidth fTrigger of a 500 MHz oscilloscope
Symbol Estimate Standard measure- Distribution Sensitivity coefficient Uncertainty con-
a) b)
Xi xi ment uncertainty u(xi) ci tribution u(yi)
fTrigger 632,5 MHz 0 normal 1 0
!fGenerator 0 0,0003 MHz normal 1 0,0003 MHz

!fU 0 – rectangular 1 –

!fHysteresis 0 0,29 MHz rectangular 1 0,29 MHz

!fReadout 0 0,29 MHz rectangular 1 0,29 MHz

fTrigger 632,5 MHz 0,41 MHz
a)
The sensitivity coefficients |ci| are determined as partial derivatives of the model equation (A8).
b)
The uncertainty contributions are all assumed to be uncorrelated.
– 52 – VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 4 / Part 4
Schrifttum / Bibliography
Technische Regeln / Technical rules
Calibration Guide EURAMET cg-7, Version 1.0 (06/2011)
Calibration of Oscilloscopes
http://www.euramet.org/fileadmin/docs/Publications/calguides
/EURAMET_cg-7__v_1.0_Calibration_of_Oscilloscopes_
01.pdf (Stand: 19.03.2014)
DIN V ENV 13005:1999-06 Leitfaden zur Angabe der Unsi-
cherheit beim Messen; Deutsche Fassung ENV 13005:1999
(Guide to the expression of uncertainty in measurement; Ger-
man version ENV 13005:1999). Berlin: Beuth Verlag
DKD-R 1-2:1994-04 Kalibrierung von Oszilloskopen. Braun-
schweig: DKD
ISO/IEC Guide 99:2007-12 International vocabulary of
metrology; Basic and general concepts and associated terms
(VIM) (Internationales Wörterbuch der Metrologie (VIM)).
Genf: ISO
VDI 1000:2010-06 VDI-Richtlinienarbeit; Grundsätze und
Anleitungen (VDI Guideline Work; Principles and proce-
dures). Berlin: Beuth Verlag
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 1:2013-07 (Entwurf / Draft)
Kalibrieren von Messmitteln für elektrische Größen; Grundla-
gen (Calibration of measuring equipment for electrical
quantities; Fundamentals). Berlin: Beuth Verlag
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 1:2001-01 Kalibrieren von
Messmitteln für elektrische Größen; Grundlagen (Calibration
of measuring equipment for electrical quantities;
Fundamentals). Berlin: Beuth Verlag
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 2:2013-10 (Entwurf / Draft)
Kalibrieren von Messmitteln für elektrische Größen; Metho-
den zur Ermittlung der Messunsicherheit (Calibration of
measuring means for electrical quantities; Methods for the
determination of the measurement uncertainty). Berlin: Beuth
Verlag
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 2:2003-05 Kalibrieren von
Messmitteln für elektrische Größen; Methoden zur Ermittlung
der Messunsicherheit (Calibration of measuring means for
electrical quantities; Methods for the determination of the
measurement uncertainty). Berlin: Beuth Verlag
Literatur / Literature
[1] Tektronix Inc., XYZs of Oscilloscopes, 2009
[2] Agilent Technologies: AC Voltage Measurement Errors
in Digital Multimeters, Application Note AN 1389-3,
2002
[3] Schuon, E.; Wolf, H.: Nachrichtenmesstechnik. Berlin,
Heidelberg, New York: Springer Verlag, 1981
[4] Agilent Technologies: Understanding oscilloscope
frequency response and its effects on rise-time accuracy,
Application Note 1420, 2002
[5] Käs, G.; Pauli, P.: Mikrowellentechnik. München:
Franzis-Verlag, 1991
[6] Hewlett Packard: Voltage and Time Resolution in Digi-
tizing Oscilloscopes, Application Note AN-348, 1986
[7] Johnson, R.A.: Understanding Microwave Power Split-
ters. In.: Microwave Journal, Dec. 1975, Reprint by HP
Nr 5952–9226
Weitere Literatur / Further Literature
Bachmair, H.: Messunsicherheitsbetrachtung für Mess- und
Prüfmittel für elektrische Größen, VDI Berichte 1445, VDI-
Verlag, 1998, S. 167–176
Engen, G.F.: Microwave Circuit Theory, Chapter 6, IEE
Electrical Measurements Series 9, Peter Peregrinus. London,
1992
Furrer, J.: Calibration of RF-Voltage on Oscilloscopes (Over-
view) 25th ANAMET Meeting March 13, 2006
Hewlett Packard: Evaluating Oscilloscope Vertical Noise
Characteristics, Application Note 1558
Hewlett Packard: Dynamic performance testing of A to D
converters, Product Note 5180A-2, 1982
Janik, D. et al.: Methoden der HF-Spannungsmessung im
Vergleich: Anwendung der Kalibrierung von Oszilloskopen
im GHz-Bereich. In: Bachmair, H.; Stumper, U. (Hg.): Aktu-
elle Probleme der Weitergabe von HF-Messgrößen. Vorträge
des 139. PTB-Seminars. PTB-Bericht E-58. Braunschweig:
PTB, 1998, S. 94–111
Juroschek, J.R.: A Direct Calibration Method for Measuring
Equivalent Source Match, Microwave Journal, Oct. 1997
Maichen, W.: Digital Timing Measurements Frontiers in Elec-
tronic Testing. Springer 2006
Mittermayer, C. et al.: On the Determination of Dynamic
Errors for Rise Time Measurement with an Oscilloscope,
IEEE IM-48 (1999), No. 6, pp. 1103–1107
Weller, D.: Relating wideband DSO rise time to bandwith,
Electronic design Europe, Dec. 2002, pp. 46–49