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CMOS zeichnet sich in beiden Ruhe - Zuständen (U = L oder U = H) durch vernachlässigbar kleine
A A
Stromaufnahme aus. Verluste entstehen beim Umschalten durch den Querstrom von V zu GND, aber auch durch
DD
die Verluste in den Transistoren durch den Ausgangsstrom.
Durch die Verwendung von MOSFETs als Schalter (in der Anordnung als T-Gates)
T Gates) ist teilweise eine andere
Schaltungstechnik zur Realisierung von logischen Grundfunktionen möglich. Die folgende Abbildung
Abb zeigt ein
einflankengetriggertes D-Flip-Flop
Flop mit CLEAR
Temperaturbereich
ich SN54XXxxx / HEC4xxx / CD4xxx -55°C bis +125°C
Die ersten drei Logikfamilien mit den Typenbezeichungen 4000 und aufwärts besitzen von den TTL-Schaltungen
TTL
abweichende Funktionen, Funktionsbezeichnungen und Pinbelegungen.
CMOS-Logikfamilien,
Logikfamilien, deren Bezeichungen mit 54XX bzw.
bzw. 74XX beginnen, sind funktions-
funktions und Pinkompatibel zu
TTL-Schaltkreisen,
Schaltkreisen, allerdings gelten CMOS Pegel.
Schaltungen mit dem Zusatz T (74HCTxx, 74ACTxx, 74AHCTxx) sind darüber hinaus am Eingang zu TTL-Pegeln
TTL
kompatibel, können also von TTL-Schaltkreisen
Schaltkreisen direkt
di angesteuert werden.
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Unbenutzte Eingänge:
Ein Verbinden unbenutzter Eingänge zu anderen benutzten Eingängen ist bei CMOS ungünstiger, weil dadurch
die Schaltung durch die zusätzliche Lastkapazität verlangsamt wird und die Verlustleistung ansteigt.
Das Gate-Oxid
Oxid der Feldeffekttransistoren ist durch elektrostatische Aufladung an den Eingängen gefährdet (auch
bei nicht versorgten ICs).
„Latch-up“:
Bei Überspannungen am Eingang kann der Ableitstrom über die Schutzdioden zum Beispiel zum Zünden dieser
Thyristorstruktur führen. Dadurch entsteht ein niederohmiger Pfad von V nach GND, der hohe Ströme
Ström und die
CC
Zerstörung des ICs zur Folge hat („latch
latch-up“).
Sind daher im Betrieb Eingangsspannungen zu erwarten, die mehr als 0.5V über V liegen, so ist der
CC
Ableitstrom durch einen Vorwiderstand zu begrenzen, um das Zünden des Thyristors zu verhindern.
Fan-Out
Betrachtet man nur die Gleichstromverhältnisse wie bei TTL, so kann man angeben wie viele Eingänge ein
CMOS - Ausgang aufgrund seines maximalen Ausgangstromes treiben kann. (Ein HC-Ausgang
HC Ausgang kann zum
Beispiel 10 TTL-Eingänge
Eingänge vom Typ LS ansteuern).
Wegen der niedrigen Eingangströme (nA) bei CMOS Gattern ist die Zahl der ansteuerbaren CMOS - Gatter
unter diesem Aspekt praktisch unbegrenzt.
Bei der Ansteuerung von CMOS – Eingängen sind jedoch andere Aspekte ausschlaggebend. Jeder
angeschaltete Eingang erhöht die Lastkapazität und vergrößert daher die Anstiegszeit der Ausgangsspannung
(und die Leistungsaufnahme).
Gattern
Die Verlustleistung von CMOS-Gattern
Da im Ruhezustand nur Sperrströme fließen, ist die Ruhestromaufnahme und die damit verbundene
Verlustleistung meist vernachlässigbar.
Beim Umschalten entstehen jedoch Verluste. Auch bei nicht beschaltetem Ausgang fließt während des
Umschaltens ein Querstrom von der Versorgung nach Masse.
Die Stromaufnahme ist umso geringer je schneller der Übergangsbereich durchlaufen wird,
Dieser Teil der Verlustleistung kann durch folgende Formel berechnet werden.
Dabei ist die Konstante Cpd die sogenannte power dissipation capacitance (lt.Datenblatt) und f die „Eingangs -
i
Frequenz“.
Wird der Ausgang mit Eingängen weiter Gatter beschaltet, so wirkt deren Eingangskapazität
Eingangskapazitä als Lastkapazität
C . Beim Aufladen oder Entladen der Lastkapazität fließt ein zusätzlicher Strom über den treibenden MOSFET.
L
Dabei wird Energie am treibenden MOSFET in Wärme umgesetzt.
Dieser von der Größe der Lastkapazität abhängige Teil der Verlustleistung
Verlustleistung kann wie folgt abgeschätzt werden:
Umgekehrt kann nicht garantiert werden, dass die TTL – Ausgangsspannungen im High – Zustand unter allen
Umständen (im worst case) ausreichen, um CMOS – Eingänge zu treiben.
Um einen ausreichenden Spannungspegel und eine ausreichend niedrige Anstiegszeit an CMOS – Eingängen
sicherzustellen, ist daher ein Pull – Up – Widerstand nötig (auch möglich bei Open – Kollektor – Ausgängen bei
TTL).
Eine andere, elegantere Möglichkeit besteht in der Verwendung von CMOS - Schaltkreisen mit TTL –
kompatiblen Eingängen ( HCT, ACT, AHCT). In diesem Fall ist kein
BICMOS
Die Bipolar-CMOS-Schaltungstechnologie
Schaltungstechnologie (BICMOS)
(BICMOS) entsteht durch Verbindung von Herstellungsschritten beider
Einzeltechnologien und stellt daher neben MOSFETs auch bipolare Transistoren zur Verfügung.
Obwohl aufwendiger und teurer als bipolar oder CMOS bietet BICMOS die Möglichkeit vorteilhafte Eigenschaften
beider Schaltungsarten zu kombinieren.
„rail-to-rail“ Ausgangsspannung
hohe Integrationsdichte
Aufnahme in mA t /t in ns I /I in mA
pLH pHL OH OL
Versorgungssysteme:
nominell 0.8V
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Low Voltage CMOS LVC 1.65 bis 3.6V 3.3V / 2.5V / 1.8V
Advanced Low Voltage CMOS ALVC 1.65 bis 3.6V 3.3V / 2.5V / 1.8V
Advanced Low Voltage BICMOS ALVT 2.3 bis 3.6V 3.3V / 2.5V
Advanced Ultra-Low Voltage CMOS AUC 0.8 bis 2.7V 2.5V / 1.8V / 1.2V / (0.8V)
Advanced Ultra-Low-Power CMOS AUP 0.8 bis 3.6V 3.3V / 2.5V / 1.8V und <r
Advanced Very-Low-Voltage CMOS AVC 1.4 bis 3.6V 3.3V / 2.5V / 1.8V
Weitere Eigenschaften:
kompatibilität kompatibilität
Zusatzfunktionen
verarbeitet werden
Partial Power Down (Live Insertion Level 1): vermeidet Leckströme über parasitäre Dioden
Hot Insertion (Live Insertion Level 2): wird ermöglicht durch hochohmige Pins beim
Widebus, Widebus+: Erweiterung von 8bit – Standard - Busfunktionen auf 16 und 32 bit
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Little Logic
Wird an der Peripherie von Prozessoren, ASICs oder PLDs zum Beispiel
Beispiel nur ein Gatter benötigt (um zum Beispiel
eine Adressleitung zu invertieren oder ähnliches), so würde der Einsatz eines 74XX00 oder 74XX04 einige
unbenutzte Gatter zur Folge haben. Durch die großen Packages wäre der Platzbedarf am PCB unnötig groß.
1G00 1 NAND-Gatter
TI bietet little logic für die Familien AHC/AHCT, LVC und AUC:
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Pin Assinments:
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Allgemeines:
Integrationsgrad:
Der Integrationsgrad bezeichnet die absolute Anzahl Transistoren in einem Integrierten Schaltkreis (engl.
Integrated Circuit, IC). Der Integrationsgrad ergibt sich aus der Integrationsdichte (Anzahl Transistoren pro
Flächeneinheit) und der Chipgröße (Fläche des IC).
Integrationsgrad bzw. logische Komplexität werden sehr häufig mit Bezeichnungen wie SSI,
SSI MSISp, LSI oder VLSI
(seltener auch ULSI oder SLSI)) charakterisiert.
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