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0
l
y( x)dx=0 bzw
i=1
n
y( x
i
)=0
2. mittlere Rauheit Ra
R
a
=
1
l
0
l
y( x)dx bzw R
a
=
1
n
i=1
n
y ( x
i
)
Bergflche und Talflche werden je fr sich gemittelt, die jeweilige Hhe ergibt mit der
Messstrecke ein Rechteck, dass die gleiche Flche hat. Ra wird weltweit angewandt.
3. quadratische Rauheit Rq
R
q
=
.
1
l
0
l
y ( x) dx bzw R
q
=
.
1
n
i=1
n
y ( x
i
) (Effektivwert)
Auch hier werden Berg- und Talflchen fr sich gemittelt, die Hhe entspricht dem
Effektivwert einer Wechselspannung mit gleichem Verlauf. Dieser Wert ist im
angelschsischen der Wichtigste, jedoch ist er in Europa nicht genormt.
4. maximale Rauhtiefe Rmax = ymax ymin
Rmax ist weltweit verbreitet. Aus der maximalen Rauhtiefe ergeben sich zwei genormte
Rauheitskennwerte:
a) gemittelte Rauhtiefe RZ nach DIN (in Europa verbreitet, Z steht fr Zehnpunkthhe).
Fnf Einzelmessungen werden an verschiedenen Stellen gemacht. Diese liefern fnf
maximale Rauhtiefen Zi , gebildet aus den jeweils hchsten und tiefsten Werten
(ymax,i ymin,i ). Aus diesen fnf maximalen Rauhtiefen wird der arithmetische
Mittelwert gebildet.
R
zDIN
=
1
5
i=1
5
Z
i
b) gemittelte Rauhtiefe RZ nach ISO (frher Ostblock, heute ganz Europa) Z steht auch
hier fr Zehnpunkthhe. Die fnf hchsten Spitzen und fnf tiefsten Tler innerhalb
einer Bezugsstrecken werden gemittelt und zunchst fr beide der mittlere Wert
berechnet. Diese beiden Mittelwerte werden addiert.
R
zISO
=
1
5
(
i=1
5
S
i
+
i=1
5
T
i
) mit Si: die 5 hchsten Spitzen , Ti: die 5 tiefsten Tler
Unterschiede: Bei ISO reicht ein langer Scan. Die Extrempunkte bei DIN und ISO
knnen durch Intervalleinteilung an verschiedenen Stellen liegen. Trotzdem variiert RZ
DIN und RZ ISO in der Regel um nicht mehr als 10%.
Neue Kennwerte aus dem Materialanteil :
Aus dem Rauheitsprofil wird der jeweilige Materialanteil in Abhngigkeit des Abstands
von der Mittellinie ermittelt. Der bergang von einem Material ins andere erfolgt an
einer rauhen Oberflche ber eine Strecke, die Rmax entspricht. An der Mittellinie ist
die Materialverteilung genau 50%. Die Zunahme des Materialanteils mit der Tiefe des
Rauheitsprofils wird berechnet. ( Abbott-Kurve) . Unterschieden wird in Spitzen-,
Kern- und Riefenbereich. In der Regel besitzt die Abbott-Kurve S-Form und damit
einen Wendepunkt. In der Mitte bildet sich ein Bereich mit minimaler Steigung.
Diese wird aus 40% der Abszisse, wo der Materialanteil abgetragen wird, gebildet. Die
Abbott- Kurve wird in diesem Bereich durch eine Gerade ersetzt und optimal
angenhert. Diese Gerade wird beidseitig verlngert. Sie schneidet die 0%- und 100%-
Linie. Der Hhenunterschied zwischen beiden Schnittpunkten ist die Kernrauhtiefe RK.
Von diesen Punkten aus wird eine Horizontale zur Abbott-
Kurve gelegt. Dadurch werden zwei fast dreieckige Bereiche,
der Spitzen- und der Riefenbereich, abgetrennt. Die Flchen
des Spitzen- und des Riefenbereiches werden berechnet.
Daraus ergeben sich zwei rechtwinklige Dreiecke mit der
gleichen Flche wie der Riefen- bzw. Spitzenbereich. Dabei
sind die Abschnitte auf den Horizontalen die Grundlinien der
Dreiecke. Die zugehrigen Hhen der Dreiecke sind die reduzierte
Spitzenhhe R PK (links) und die reduzierte Riefentiefe RVK (rechts). Die
Grundlinien der Dreiecke spiegeln den jeweiligen Materialanteil wieder.
Aus dem Spitzenbereich ergibt sich der Materialanteil 1 in %, genannt
MR1 (links) und aus dem Riefenbereich der Materialanteil 2 in %, MR2
(rechts).
Weitere Kennwerte : #mittlerer Rillenabstand Sm
In das gemessene Oberflchenprofil wird die Mittellinie hineingelegt und jeweils die
Abstnde zwischen den Schnittpunkten von Mittellinie und den abfallenden Flanken
des Profils bestimmt. Der Mittelwert dieser Abstnde ist der
mittlere Rillenabstand.
S
m
=
1
n
i=1
n
S
mi
#Dichte der Profilkuppen D
Aus Sm und der Messstrecke lm ergibt sich D=lm/Sm
#Schiefe des Profils SK
Die Schiefe des Profils ergibt sich aus der Amplitudendichteverteilung (ADV)
gelegentlich auch Amplitudendichtekurve (ADK) genannt. Dazu wird zu jeder
horizontalen Schnittlinie durch das Profil die Zahl der Schnittpunkte zur Zahl aller
Messpunkte gebildet. Daraus ergibt sich eine Verteilung von Schnittpunkten (ADV).
Die Abweichung des Maximums der ADV von der Mittellinie ist die Schiefe des
Profils. Sie wird nach folgender Formel berechnet:
S
k
=
1
R
g
1
n
i=1
n
y
i
mit #Rq: RMS Rauheit #n: Zahl der Messpunkte
#Yi: Abweichung jedes Messpunktes von der Mittellinie
Die Schiefe des Profils ist im Angelschsischen weit verbreitet, sie ist in der DIN
beschrieben aber nicht genormt. Derzeit scheinen fr Europa die Kennwerte Ra ,
Rmax , RZ sowie RK , RPK und RVK , eventuell auch MR1 und MR2 die Wichtigsten
zu sein. Im Angelschsischen bleibt jedoch Rq der mit Abstand Wichtigste, gefolgt von
R a , Rmax , auerdem Sm , D und SK.
2.2 Einfluss der Rauheit auf optische Messungen
2.2.1 Effektive Medium Theorie
Die raue Oberflche ndert die Art des bergangs von einem
Medium ins andere. Der bergang ist nicht scharf oder abrupt
sondern stetig. Die Abbottkurve gibt an, wie das eine Material
ab- und das andere zunimmt. Fr optische Messungen ist nicht
der Materialanteil entscheidend, sondern Brechungsindex n und
Absorptionskonstante k bzw. die komplexe
Dielektrizittskonstante.
Problem: Die Fresnel-Formeln kennen nur glatte Grenzflchen
und keine stetigen bergnge. Daher Nherung: Einteilung des
bergangs in viele (n) Teilschichten, z.B. n=10. Jede Teilschicht
setzt sich anders zusammen und so ergibt sich ein Stufenprofil
fr Brechungsindex und Absorptionskonstante. Fr jede Teilschicht lsst sich die
Materialzusammensetzung gem der Abbottkurve berechnen, wenn diese nicht zur
Verfgung steht, lsst sich die Verteilung z.B. linear annhern.
2.2.2 Von der Materialzusammensetzung zur komplexen Dielektrizittskonstante:
i
(Effective Medium Theory)
2.2.2.1 Ansatz: Lorentz-Lorenz (1904)
Das Material ist zusammengesetzt aus kleinen Bereichen des ersten und zweiten
Anteils. #Anteil 1. Material: q1 #Anteil 2. Material: q2 q1 + q2 = 1
Jedes Material wird theoretisch von Vakuum umgeben und der Volumenanteil
infinitesimal klein. Dann ergibt sich aus den Maxwellschen Gleichungen:
e
eff
1
e
eff
+2
=q
1
e
1
1
e
1
+2
+q
2
e
2
1
e
2
+2
Der Ansatz hat den groen Vorteil, dass sich eff freistellen und direkt berechnen lsst.
Aber das Modell mit dem infinitesimal kleinen Vakuumanteil fhrt prinzipiell zu
falschen Werten.
2.2.2.2 Ansatz: Maxwell, Garnett (1906)
Statt Vakuum wird ein bestimmtes Host-Material angenommen, in welches kleine
Anteile von Fremdmaterial eingebettet sind. Eigentlich wurde dieses Material fr fein
verteilte Farbpigmente in einem Trgermaterial entwickelt, z.B. fr Farbschichten,
Oberflchendekoration und hnliches. Damit ist die Dielektrizittskonstante des
Vakuums ( = 1) durch die Dielektrizittskonstante des Grundmaterials H zu ersetzen:
e
eff
e
H
e
eff
+2e
H
=q
1
e
1
e
H
e
1
+2e
H
+q
2
e
2
e
H
e
2
+2e
H
Weil q1 und q2 in diesem Modell Beimengungen sind, gilt in einem tatschlich
existierenden Grundmaterial: q1 + q2 1, also Gleichheit notfalls erlaubt. Vorteil dieses
Ansatzes: eff ist direkt berechenbar, wenn H, q1, 1, q2, 2 bekannt sind, denn eff lsst
sich freistellen. Aber was ist H bei einer rauen Oberflche?
2.2.2.3 Ansatz: Bruggeman (1935)
Das Hostmaterial besitzt die gesuchte effektive Dielektrizittskonstante: Diese am
besten angepasste Modellvorstellung fhrt zu folgender Gleichung:
0=q
1
e
1
e
eff
e
1
+2e
eff
+q
2
e
2
e
eff
e
2
+2e
eff
mit q1 + q2 = 1
Zwar ist dies das mit Abstand beste Modell, aber die Gleichung lsst sich nur fr
Spezialflle nach eff auflsen, ist also allgemein nicht direkt lsbar, Sonderflle
ausgenommen. Die Gleichung besitzt zwar fr jedes sinnvolle 1 , 2, q1, q2 eine
Lsung, doch diese ist nicht unmittelbar berechenbar. Dazu ist die Gleichung numerisch
zu lsen. Noch schwieriger wird das Problem, wenn weitere Materialien hinzukommen,
z.B. durch eine dnne Schicht. Dazu lst sich jeder Ansatz auf m-viele Komponenten
verallgemeinern.
Sgezahn mit dnnem Film drauf; mittlerer Querschnitt
schneidet Substrat, Film & Luft Jeder Ansatz lsst sich auf
m-viele Komponenten verallgemeinern.
Die mathematischen Verhltnisse bleiben: Die Anstze von Lorentz-Lorenz und
Maxwell-Garnett sind stets lsbar, die Formel gem Bruggeman ist auer in
Sonderfllen nur numerisch lsbar. Heute wird in der Regel jede irgendwie
zusammengesetzte Schicht gem der Bruggeman-Formell berechnet. Diese wird auch
herangezogen, wenn bei der Auswertung von Ellipsometer-Messwerten raue
Oberflchen oder kolloidal zusammengesetzte Materialien bercksichtigt werden
mssen.
Praktisches Beispiel: Gelubte Festplatte (mit dnnem Gleitfilm versehen)
#Material des Gleitfilms: Mischung aus Palmitinsure und Stearinsure
#Dicke des Films: 0,6-0,8nm
#Mittlere Rauheitshhe, Rq=6-7nm
#Rauheit ist wesentlich grer als die Filmdicke.
#Hier stellt sich die Frage nach der Verteilung der dnnen Schicht.
Zwei extreme Modellvorstellungen sind mglich:
Lake-Modell: Der Gleitfilm sammelt sich in den Mulden wie Wasser in Seen
Snow-Modell: Der Gleitfilm bildet eine gleichmige Benetzung der Oberflche wie
Schnee im hgeligen Gelnde.
Ellipsymetrie Messungen zeigen: Snow-Modell ist verwirklicht .
Berechnung der Erwartungswerte fr Lube-Messungen unter Annahme der beiden
Extremflle :
2.2.3 Grundstzliches Messverfahren:
Gelubte Platte wird auf einem schrg gestellten Ellipsometer vermessen. Ohne die
Platte zu bewegen, wird das Lube mit einem Lsungsmittel abgewaschen. Platte ohne
Lube wird an der selben Stelle vermessen. Aus beiden Messungen ergibt sich eine
Differenz im -Wert, also . Dieser -Wert korreliert mit der Schichtdicke. Ein
Vergleich mit einer -Waage ergibt die Verteilung. Das Snow-Modell ist realisiert. Das
stimmt mit grundstzlichen chemischen berlegungen berein. Versuch das Ergebnis
zu verallgemeinern:
#Aufrauhen der Oberflche eines Siliziumwafers #Charakterisierung der rauen
Oberflche #Vermessen mit einem Ellipsometer
Ergebnis: Keine bereinstimmung zwischen theoretischer Vorhersage und Experiment.
Auch die Annahme einer dnnen SiO2 Schicht gem Snow-Modell hilft nicht weiter.
Also treten an der Oberflche weiter Effekte auf, die das Messsergebnis verndern.
2.2.3.1 Streung von Licht
Licht wird an der rauen Oberflche gestreut. Die Lichtstreuung polarisations Abhnging
und beeinflusst damit die Ellipsometriewerte, insbesondere =arctan(Ep/Es).
Messung der Lichtstreuung :
In diesem Beispiel wird das p-Licht bis zu 2,5mal strker gestreut alls s-Licht.
Allerdings ist dies von der Oberflchenstruktur stark abhngig. Damit ist die
Modelierung schwierig. Grundstzlich gilt jedoch:
Bei bekannter Oberflchentopografie, bekannter Schichtstruktur und bekannten
Einstrahlbedingungen ist die Streulichtverteilung berechenbar. Trotz grter
Forschungsanstrengung weltweit ist die Umkehrung nicht mglich, es sei denn,
Zusatzannahmen werden gemacht.
2.2.3.2 Modifikation des Einfallswinkels
Wenn Licht auf eine raue Oberflche fllt, dann wirkt das so, als ob der Einfallswinkel
ber einen gewissen Bereich verschmiert ist. Weil die Reflexion nicht linear vom
Einfallswinkel abhngt, kann nicht einfach ein mittlerer Einfallswinkel verwendet
werden. Eine Nherung fr den mittleren Steigungswinkel ergibt sich aus dem
Oberflchenprofil, nmlich aus mittlerer Rauheitshhe Rq oder RMS und mittlerer
Rauheitswellenlnge. Der mittlere Steigungswinkel gibt die mittlere Abweichung, um
die der Einfallswinkel nach oben oder unten variiert. Daher mssen die Fresnel-
Formeln fr den Einfallswinkelbereich angewendet werden. Reflexion, Absorption und
Transmission ergeben sich aus einer Faltung ber alle mglichen Einfallswinkel.
2.2.3.3 Depolarisation
Fllt das Licht seitlich au eine Struktur, z.B. auf eine Riefe so verkippt die
Einfallsebene. Als Konsequenz enthlt reines s-Licht dadurch eine p-Komponente und
umgekehrt. Auch hier ist eine mittlere Aufteilung aus dem mittleren Steigungswinkel
berechenbar. Damit sind Reflexion, Absorption und Transmission an einer rauen
Grenzflche eine Faltung aus Licht, das sich aus unterschiedlichen Polarisationen
zusammenstzt. Alle drei zustlichen Effekte lassen sich modellieren. Werden sie
bercksichtigt ist die bereinstmmung zwischen theoretischer Berechnung und
Experiment erheblich besser.
2.2.3.4 Schichdickenvariation
Liegt auf einer rauen Grenzflche eine dnne Schicht, so ist zustzlich in Abhngigkeit
von der Oberflchentopografie eine Variation der optischen Weglnge in der Schicht zu
bercksichtigen. Auf hier ist der mittlere Steigungswinkel von zentraler Bedeutung fr
die mathematische Nherung.
2.2.4 Entstehung von Steulicht an Inhomogenitten
Vorausetzungen zur Berechnung von Streulicht an Inhomogenitten:
1. Rauheit ist gering, genauer: Mittlere Rauheitshhe R q ist klein gegen die
Wellenlnge des Lichts.
2. Die mittlere Periodizittslnge der Rauheit ist gro gegen die mittlere Rauheitshhe,
d.h. Steigungen sind nicht alzu gro.
3. Die beleutete ist gro gegen die Wellenlnge und gegen die mitlere
Periodizittslnge, so dass Beugungseffekte und Randstrahlen vernachlssigbar sind.
Zur beschreibung der Steustrahlung gibt es verschiedene Anstze, die aber zu
weitgehend gleichen Ergebnissen kommen, die auch mit den Experimenten gut
bereinstimmen.
Kretschmann betrachtet dazu Polarisationsstrme, die an glatten und rauen
Grenzflchen auftreten. Die Differenz beider Strme ist die Quelle der Streustrahlung.
Die Polarisation in einem Medium mit Dielektrizittskonstannte betrgt :
P = *E = (-1)*E
Fr den dadurch flieenden Polarisationsstrom IP gilt: Ip
(x , y , z )
=
c1
4n
6 E
6 t
( x , y , z )
An einer glatten Oberflche flieen oberhalb und unterhab der Grenzflche
verschiedene Polarisationsstrme
c
1
c
2
E
1,
I
1
p
E
2,
I
2
p
z=0 I
j
p
=
c
j
1
4n
6 E
j
6t
j=1 , 2
Ist die Grenzflche rau, so wird sie durch die Oberflchenfunktion z= S(x,y)
beschrieben :
c
1
c
2
E
1,
I
1
p
E
2,
I
2
p
z=S
(x , y)
Wegen der Voraussetzungen 1 und 2 knnen die Felder E j an der rauen Grenzflche
gleich denen an der glatten Grenzflche gesetzt werden. Damit ergibt sich eine
Differenz der Polarisationsstrme zwischen glatter und rauer Oberflche:
Ip=sign(S(x,y))*(Ip2(x,y,0)-Ip1(x,y,0))
Diese Formel ergibt sich aus der Bestrahlung der Strme an einem Ort infinitessimal
direkt ber oder unter der glatten Oberflche. Je nach Oberflchenfunktion S(x,y) liegt
dort einmal Material 1 anstelle von Material 2 oder umgekehrt. Wird das Streulicht in
grerer Entfernung von der Grenzflche gemessen wird und weil kleine Rauheiten
vorliegen, knnen diese Differenzen der Polarisationsstrme in die Grenzflche gelegt
werden (z=0). Damit diese Differenzen von Polarisationsstrmen ihrerseits keine neuen
Polarisationsstrme hervorrufen, werden sie in eine infinitessimal dnne
Vakuumschicht gelegt. Unterbercksichtigung der Oberflchenfunktion gilt fr die
Ortsabhngigkeit der Quelle der Streustrahlung: ip=IF(x,y).
Unterbercksichtigung der Oberflchenfunktion gilt fr die Ortsabhngigkeit der
Quelle der Streustrahlung:
ip(x,y,z)=(Ip2(x,y,0)-Ip1(x,y,0))*S(x,y)*(z)=IF(x,y)*(z) (z)=
1: z=0
0: sonst
Dann ist IF die Flchenstromdichte .
Das abgestrahlte Streulicht ergibt sich aus der Oberflchenfunktion S(x,y), den
optischen Konstanten der Schichten und den Einstrahl-Bedingungen.
Allerdings sind dabei Interferenzen zwischen den verschiedenen Abstrahlorten zu
bercksichtigen und deshalb muss die Oberflchenfunktion S(x,y) Fourier-transformiert
werden. Dadurch wird die raue Oberflche gedacht als berlagerung unendlich vieler
Sinus- bzw. Kosinusfunktionen. Jede Fourierkomponente fhrt zu einer nderung des
Ausfallswinkels bezogen auf die glatte Oberflche, also zu einer nderung des
Wellenvektors k
.
Diese nderung des Wellenvektors k
ist die entscheidende Variable fr die
Fouriertransformation der Oberflchenfunktions S(x,y), weil k
die
Richtungsnderung des jeweils gestreuten Anteils angibt. Die Fouriertransformierte der
Oberflchenfunktion ist damit s(k), das Rauheitsspektrum.
s
(Ak) =(
1
2n
)
1
A
( A)
s
(x , y)
exp (i Ak
x
xi Ak
x
y) dxdy
Unter bestimmten Voraussetzungen gilt dann:
s
(Ak) =
1
4n
c R
q
exp(
Ak c
4
) Rq=RMS =Korrelationslnge
Umgekehrt gilt fr das Streulicht:
dI
I
0
dD
=
1
4
(
o
0
c
)
4
.c
cos( O
0
)
s
(Ak)o
2
Die Dipolfunktion |W|
2
ergibt sich aus der Fresnel-Formel und einer trigometrischen
Funktion aus Einstrahlwinkel 0 und Abstrahlwinkel . sie ist daher bekannt und
berechenbar.
Damit ergibt sich folgende Situation:
Links steht das auftretende Streulicht, das gemessen wird. Rechts stehen Konstante,
eine bekannte Dipolfunktion |W|
2
und das unbekannte Rauheitsspektrum. Damit lsst
sich aus dieser Streulichtmessung das Rauheitsspektrum bestimmen. Daraus ergibt sich
mit dem Gau'schen Ansatz fr das Rauheitsspektrum Rq und .
Solche Streulichtmessungen sind an dnnen Schichten durchgefhrt worden zur :
#Charakterisierung von Oberflchen
#Wareneingangstest
#schnelle Fertigungskontrolle
Bsp.: Beschichtung eines Glassubstrats mit 50nm Silber
Messung des Streulicht ergibt : Bei Gleichverteilung der Rauheitskomponenten sollte
die Darstellung eine Gerade ergeben. Allerdings wird hufig bei kleinen k-Werten ein
grerer Anstieg beobachtet. Dies deutet auf eine grere Welligkeit hin (langwellige
Rauheit).
Ansonsten waren typ. Ergebnisse: RMS = (1,50,3)nm =110-130nm
ist die Korrelationslnge, sie gibt den Bereich um einen Punkt (x0,y0) an, in dem eine
Aussage ber S(x,y) gemacht werden kann, wenn S(x0,y0) bekannt ist.