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(12) NACH DEM VERTRAG UBER DIE INTERNATIONALE ZUSAMMENARBEIT AUF DEM GEBIET DES PATENTWESENS (PCT) VEROFFENTLICHTE

INTERNATIONALE ANMELDUNG

(19) Weltorganisation fUr geistiges Eigentum Internationales Buro

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(43) Internationales Veroffentllchuugsdatum 14. Februar 2002 (14.02.2002)

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(10) Internationale Veroffentlichungsnummer

WO 02/13311 Al

(51) Internationale Patentklassiflkatlon":

C03C 17/10, C04B 20/10

HOIQ 7/00,

10122473.7

9. Mai 2001 (09.05.2001) DE

(21) Internationales Aktenzeichen:

PCTlEPOI/09154

(71) Anmelder (fur aile Bestimmungsstaaten mit Ausnahme von US): HERMSDORFER INSTITUT FUR TECHNISCHE KARAMIK E.V. [DEIDE]; Marie-Curic-Strassc 17, 07629 Hermsdorf (DE). COLFIRMIT RAJASIL GMBH & CO. KG [DEIDE]; Tholauer Strasse 25,95615 Marktredwitz (DE).

(22) Internationales Anmeldedatum:

S. August 2001 (OS.OS.2001)

(25) Einreichungssprache:

Deutsch

(72) Erfinder; und

(75) Erfinder/Anmelder (nur fur US): KUCHLER, Josef [DEIDE]; Friedrich-Ebert-Strasse 16, 95632 Wunsiedel (DE). KUHNERT, Jan-Thomas [DEIDE]; August-Bebel-Strasse 13,07404 Rudolstadt (DE). KUPFER, Klaus [DRf])R]; Rodelschwinghstrasse 10, 99425 Weimar

[Fortsetzung auf der nachsten Seite]

(26) Veroffentllchungssprache:

Deutsch

(30) Angaben zur Prioritat:

10039 125.7 10. August 2000 (1 0.OS.2000) DR

(54) Title: ELECTROMAGNETIC ABSORBER MATERIAL, METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF AND METHOD FOR THE PRODUCTION OF SHIELDING DEVICES THEREOF

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(54) Bezeichnung: ELEKTROMAGNETISCHES ABSORBERMATERIAL, VERFAHREN ZU DESSEN HERSTELLUNG UND VON ABSCHIRMEINRICHTUNGEN

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Martel mit beschichtetem leichtzuschlag

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-- Dichter Zuschlag (Martell)

-------- Mortel mit Loicbtzuschlaq (Mortel 2)

100 Ma% Ferrit (MorteI3.1)

........... 40 Ma% Ferrit, 60 Ma% KohlenstoH (Mortel 3.2) .. 100 Ma% Kohlenstoff (Mortel 3.3)

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500 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000

Frequenz f in MHz

FREQUENCY F IN MHL

A ... MORTIl,R \I\'ITH A LIGHTLY COATED AGGREGATE

B".SHIELD ABSORPTION IN Db/em

C DENSE AGGREGATE (MORTAR 1)

D MORTAR WIT, A LIGHT AGGREGATE (MORTAR 2)

E".1DDwt% FERRITE (MORTAR3.1)

F .. .4D wt % FERRITE, 60 wt % CARBON (MORTAR 3.2', G ... 100 wt % CARBON (MORTAR 3.3)

(57) Abstract: The invention relates to a method for effectively decreasing electromagnetic radiation by means of active absorbing ,..-.I material in a broad frequency band, preferably from 100 MHz - 10 GHz, wherein said material combines the desired shielding ;;:; properties with the heat insulating properties of a porous material in addition to providing a favourable ratio between density and ~ resistance. The inventive method is characterised by an absorber granulate which consists of a highly porous glass and/or ceramic ,..-.I granulate which is coated or filled with ferrite and/or an electrically conductive material .

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= (57) Zusammenfassung: Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, in einem breiten Frequenzband, vorzugsweise von 100 MHz

ObiS 10 GHz, die elektromagnetische Strahlung mittels eines Absorbermaterials wirksam zu verringcm, wobei dieses Material die > erwiinschten Abschirmeigenschaften mit den Warmedammeigenschaften

~ [Fortsetzung auf der nachsten Seite]

WO 02/13311 Al

11111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111

(DE). ROSSMAYER, Stefan [DEIDE]; Schafbrunnenweg 28, 95616 Marktredwitz (DE). SCHOPS, Wolfgang [DEIDE]; Hermann-Danz-Strasse 9, 07629 Hermsdorf (DE). ZIER, Hans-Werner [DEIDEJ; Washingtonstrasse 33, 99423 Weimar (DE).

Veroffentlicht:

mit internationalem Recherchenbericht

vor Ablauf der fur Anderungen der Anspruche geltenden Frist; Veroffentlichung wird wiederholt, falls Anderungen eintreifen

(74) Anwalt: DASCH, Gotz; Robert-Friese-Strasse 12,07629 Hermsdorf (DE).

Zur Erklarung der Zweibuchstaben-Codes und der anderen Abkurzungen wird auf die Erklarungen ("Guidance Notes on Codes and Abbreviations") am Anfangjeder regularen Ausgabe der PCT-Gazette verwiesen.

(81) Bestimmungsstaaten (national): CZ, JP, PL, RU, US.

(84) Bestimmungsstaaten (regional): europaisches Patent (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SR, TR).

eines porosen Materials sowie mit des sen giinstigen Verhaltnis zwischen Dichte und Festigkeit kombinieren solI. Diese Aufgabe wird durch ein Absorbergranulat gelost, welches es aus einem hcchporosen Glas- und/oder Keramikgranulat besteht, welches mit Ferrit und/oder einem elektrisch lcitfahigen Material beschichtet oder gefullt ist.

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ELEKTROMAGNETISCHES ABSORBERMATERIAL,VERFAHREN ZU DESSEN HERSTELLUNG UND VON ABSCHIRMEINRICHTUNGEN

Die Erfindung betrifft ein elektromagnetisches Absorbennaterial, Verfahren zu dessen Herstellung sowie Verfahren zur Herstellung von Abschirmeinrichtungen, wie beispielsweise von Absorberwanden, Absorberauskleidungen oder Absorbergehausen, darunter elektromagnetisch feldfreie, sogenannte AnechoicMefikammem, unter Verwendung dieses Absorbermaterials.

Die Erfindung ist sowohl auf die Schaffung moglichst feldfreier Bedingungen zur Durchfuhrung besonders genauer und/oder besonders empfindlicher elektrischer Messungen als auch auf den Schutz der Bevolkerung und insbesondere del' Beschaftigten bei der gewerblichen Anwendung elektromagnetischer Wechselfelder vor moglichen schadlichen Wirkungen derselben gerichtet.

Aus der Diskussion um den Begriff "Elektrosmog" laBt sich die Sensibilisierung der Bevolkerung fur die technisch bedingte Anreicherung del' nanirlichen Umwelt mit elektromagnetischer Strahlung ablesen. Sowohl del' Gesetzgeber als auch die Berufsgenossenschaften haben mit dem Erlaf bzw.· del' Verscharfung von Grenzwerten fur die maximale Leistungsdichte einer Strahlenquelle reagiert. Exemplarisch seien hier die 26. BImSch V (Verordnung libel' elektromagnetische Felder) und die Vorschrift DIN VDE 0848 (Sicherheit in elektromagnetischen Feldem) genannt. Dabei stutzen sich die zum Schutz del' Bevolkerung in del' 26. BImSch V festgelegten Grenzwerte auf intemationale Empfehlungen, wie z.B. die del' Intemationalen Kommission fur den Schutz vor nichtionisierender Strahlung (ICNIRP) oder del' Weltgesundheitsorganisation (WHO). Diese Empfehlungen werden immer wieder uberarbeitet, sobald neue wissenschaftliche Ergebnisse vorliegen. Die letzte Veroffentlichung der ICNIRP vom April 1998 bestatigt die Werte, die der 26. BImSchV zu Grunde liegen.

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Aus Tabelle 1 sind die fur die allgemeine Bevolkerung zulassigen Grenzwerte

, .

flir hochfrequente Felder nach DIN VDE 0848 zu entnehmen.

Tabelle 1 Grenzwerte fUr die allgemeine Bevolkerung

Effektivwerte der
Frequenz elektr. Feldstarke magn. Feldstarke
f[MHz] E [Vim] H [Aim]
10 - 400 27,5 0,073
400-2000 1,375 -If 0,0037 -If
2000 - 300000 61,0 0,16 Die in diesel' Vorschrift vorgenommene Aufteilung in die elektrische und magnetische Feldkomponente ist dem erheblichen Aufwand bei del' Messung der spezifischen Absorptionsrate (SAR [W IkgJ) geschuldet. Die SAR ist die weltweit anerkannte Basisgrolse fur thermische Wirkungen, da die vom Korper aufgenommene Strahlungsleistung maBgebend fur die biologische Wirkung von HF-Strahlung ist.

Nach derzeitigen Befunden fiihren SAR-Werte von 1 - 4 W/kg (gemittelt tiber den ganzen Korper) beim Menschen innerhalb von 30 Minuten zu einer Erhohung der Korpertemperatur von 1°C. Zum Schutz beruflich exponierter Personen wurde ein Ganzkorper-Sxk-Grenzwcrt von 0,4 W Ikg, fur die allgemeine Bevolkerung ein Wert von 0,08 W Ikg festgelegt.

Das Problem dieser Grenz- bzw. Vorsorgewerte besteht darin, daf allein durch deren Erlaf der Bevolkerung eine Gefahrdung suggeriert bzw. diese fur eine moglicherweise noch nicht sicher nachweisbare Langzeitwirkung sensibilisiert wird. Dies wird noch verstarkt durch die rein technische Diskussion, also dem ausschlieBlichen Bezug auf die thermischen Wirkungen. Derzeitig stattfindende oder bereits veroffentlichte Studien von WHO, ICNIRP sowie IEGMP zur Beeinflussung der Hirnstrome insbesondere durch Verwendung von Mobiltelefonen, bedingt durch deren Frequenz und Modulation, lassen die sog. athennischen Effekte verstarkt in den V ordergrund treten. Aus diesem Grund und in Erwartung von im Sinne del' Beeinflussung des menschlichen Korpers positiven Ergebnissen von derzeit stattfindenden Studien ist die Entwicklung eines Absorbergranulates zum Schutz der W ohnbevolkerung zwingend notwendig.

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Es sind zur Absorption von elektromagnetischen Wellen uberwiegend Ferrite und/oder leitfahige Substanzen in unterschiedlichen Mischungen sowie Matrices erhaltlich. So bietet z.B. Ferrite Domen Co. in RuBland verschiedene Ferrite als Mikrowellenabsorber in Pulverform an, welche eine Nutzfrequenz von 1 bis max. 40 GHz haben. Die Firma Spectro Dynamic Systems in den USA vertreibt silberbeschichtete Cenospheres zur HF-Absorption, wobei diese als Fullstoffe fur Farben und Harzsysteme zur Herstellung von Oberflachenbeschichtungen verwendet werden sollen. Die Dampfungsleistung wird in einem Ausfuhrungsbeispiel mit 60 dB von 100 MHz -10 GHz fur einen Film von 5 mm Starke angegeben. Die Firma TDK bietet eine Produktpalette Radiowellenabsorber mit einer Reflektionsdampfung grofser 20 dB an, wobei der Gesamtbereich von O,OJ bis zu 40 GHz tlberstrichen wird. Ein weiterer Absorber wird von der Firma Emerson & Cuming Microwave Products, Inc. unter der Bezeichnung ECCOSORB®MCS fur den Frequenzbereich 1 bis 8 GHz mit einer Dampfung von 6 - 63 dB/cm vertrieben.

In der Offenlegungsschrift DE 199 49 631 Al wird ein Verbundabsorber fur elektromagnetische Wellen beschrieben, wobei ein Ferritpulver mit einer DieIektrizitatskonstante nicht hoher als 4,9 in einem herkommlichen Harz dispergiert, als pyramidenformiger Absorber geformt und mit einer Ferritplatte verbunden wird. Angegeben wird die Zusammensetzung der Ferritplatte mit den Hauptbestandteilen Fe203, NiO, ZnO und CuO sowie dem harzgebundenen, pyramidenformigen Absorber mit den Hauptbestandteilen Fe203, NiO und ZnO. Die zu erzielende Dampfung wird im Frequenzbereich von 100 MHz bis 10 GHz mit mindestens 20 dB angegeben.

In der Offenlegungsschrift DE 195 25 636 Al wird ein Wandbelag zur Absorption elektromagnetischer Wellen beschrieben, der eine breitbandige Reflexion durch den Verbund einer F erritplatte mit einem der Wand zugewandten Widerstandsmaterial ermoglicht. Es werden keine MeBwerte fur die erzielte Reflektionsdampfung genannt.

Im US-Patent 5.323.160 wird die Herstellung eines Absorbers durch die Kombination zweier Weichferrite (Mn-Zn, Ni-Zn) mit variierender Schichtdicke beschrieben. Dabei sind diese Schichten auf jeden Fall auf einMetall als Trager aufgebracht. Die MeBwerte ergeben eine Dampfung von mindestens 20 dB im Bereich von 200 MHz bis 1 GHz.

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1m US-Patent 5.446.459 wird ein Breitbandabsorber benannt, welcher aus einem gesinterten Ferrit und einem CuO-Fe203-Spinellferrit besteht. Es wird eine Absorption gemessen mit Hilfe des Netzwerkanalysators HP 8510 A unter Verwendung einer koaxialen MeBleitung. Dabei werden fur unterschiedliche Zusammensetzungen Frequenzbereiche mit einer Dampfung grolier 20 dB angegeben. Diese liegen zwischen min. 98 MHz und max. 950 MHz.

In der Offenlegungsschrift EP 0 858 982 Al wird eine Zusammensetzung fur einen Absorber und dessen Herstellungsmethode beschrieben. Es handelt sich dabei urn eine Mischung aus Fe203, NiO, ZnO und CuO, welche gemahlen, geformt und gesintert wird. Die Absorptionsrate wird mittels dem Holaday HI-400 RF MeJ3system in unterschiedlichen Entfemungen von einem Mobiltelefon gemessen. Dabei .werden Absorptionsraten in Prozent angegeben.

In der Offenlegungsschrift DE 199 11 304 Al wird ein Anstrich oder Folie zur elektromagnetischen Abschirmung in einem weiten Frequenzbereich beschrieben. Dazu wird werden ein Ferritpulver mit einem leitfahigen Pulver gemischt und mit Hilfe eines streichfahigen Bindemittels zu Folien oder Anstrichen verarbeitet. Die gemessenen Dampfungswerte werden mit> 30 dB/mm angegeben.

Dem oben geschilderten Stand der Technik haftet der Mangel an, daB zum Teil unter Einsatz aufwendiger Verfahren und teuerer Materialien allein der Aspekt der elektromagnetischen Abschirmung, ohne Rucksicht auf die Anwendbarkeit dieser Technologien im Bauwesen, Beachtung findet.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, in einem breiten Frequenzband, vorzugsweise von 100 MHz bis 10 GHz, die elektromagnetische Strahlung inittels eines Absorbermaterials wirksam zu verringem, wobei dieses Material die erwunschten Abschirmeigenschaften mit den Warmedarnmeigenschaften eines porosen Materials sowie mit dessen gunstigen Verhaltnis zwischen Dichte und Festigkeit kombinieren solI.

Diese Aufgabe wird durch die in den Patentanspruchen beschriebene Erfindung gelost.

Die Vorteile der Erfindung werden durch den nachfolgenden Vergleich der Kennwerte der Mortel MI (herkommlicher kompakter Mortel) und M2 (mit ei-

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nem herkommlichen Leichtzuschlagstoff in Form von Blahglasgranulat ohne elektromagnetische Abschirmwirkung gefullter Mortel) mit den Kennwerten der erfindungsgemaf hergestellten Mortel M3.1, M3.2, M3.2 (beschichtetes Blahglasgranulat) sowie M4 (gefulltes Blahglasgranulat) deutlich

Die Erfindung wird nachstehend an verschiedenen Ausfuhrungsbeispielen naher beschrieben:

Zunachst werden 4 Ausfuhrungsbeispiele zur Herstellung eines beschichteten Blahglasgranulates nach Anspruch 1 aufgefuhrt:

Das eingesetzte Blahglasgranulat ist durch eine Porositat von etwa 82 % und eine Dichte von etwa 430 kg/m'' charakterisiert.

Beispiel 1

Es wurden jeweils 2,5 1 Blahglasgranulat der Korngrolse 0,25 mm ... 0,50 mm bzw. der Korngrobe 0,5 mm ... 1,0 mm vorgelegt. Die Suspension zur Beschichtung bestand aus 1500 g Ferritpulver, 375 g Binderlosung und 1350 g Wasser. Diese Suspension wurde mittels einer Zweistoffduse auf das sich in der Wirbelschicht befindliche Granulat aufgespriiht. Das erhaltene Granulat wurde anschlieBend zur Verfestigung des Binders bei 200°C tiber 16 h behandelt.

Beispiel 2

Es wurden jeweils 2,5 I Blahglasgranulat der Korngrofie 0,25 mm ... 0,50 mm bzw. der Korngrofse 0,5 mm ... 1,0 mm vorgelegt. Die Suspension zur Beschichtung bestand aus 1085 g Ferritpulver, 315 g Graphit, 375 g Binderlosung und 1300 g Wasser. Diese Suspension wurde mittels einer Zweistoffduse auf das sich in der Wirbelschicht befindliche Granulat aufgespriiht. Das erhaltene Granul at wurde anschlieBend zur Verfestigung des Binders bei 200°C tiber 16 h behandelt.

Beispiel 3

Es wurden jeweils 2 1 Blahglasgranulat der Komgrobe 0,25 mm ... 0,50 mm bzw. der Korngrolse 0,5 mm ... 1,0 mm auf dem Teller eines Tellergranulators TP 10 der Fa. Eirich vorgelegt. Eine Mischung aus 600 g Kohlenstoffpulver und 400 g Ferritpulver wurde mit einem MTI-Mischer vorgemischt und im Wechsel mit der oberflachlichen Befeuchtung des Granulates mit ca. 600 g Binderlosung

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auf das Granulat aufgebracht. Das erhaltene Granulat wurde anschlieBend zur Verfestigung des Binders bei 200°C tiber 16 h behandelt.

Beispiel 4

Es wurden jeweils 2 1 Blahglasgranulat der Komgrolse 0,25 mm ... 0,50 mm

. bzw. der Komgrofse 0,5 mm ... 1,0 mm auf dem Teller vorgelegt. 1000 g Kohlenstoffpulver wurde im Wechsel mit der oberflachlichen Befeuchtung des Granulates mit der Binderlosung auf das Granulat aufgebracht. Das erhaltene Granulat wurde anschlieBend zur Verfestigung des Binders bei -200 °C tiber 16 h behandelt.

Nachfolgend werden weitere Ausfiihrungsbeispiele 5 bis 7 zur Herstellung eines gefiillten Blahglasgranulates nach Anspruch 2 aufgefiihrt.

Tabelle 2 Ausgangsmischungen zur Herstellung gefiillter Blahglasgranulate (in Masseteilen):

Beispiel 5 Beispiel 6 Beispiel 7
Glasmehl 50 Teile 66 Teile 75 Teile
Ferritpulver 50 Teile 34 Teile 25 Teile
Kohlenstoffpulver 20 Teile 20 Teile 20 Teile Diese Mischungen wurden mit einem Binde- und Blahmittel granuliert, getrocknet und bei einer Temperatur groller del' Erweichungstemperatur des verwendeten Glases geblaht.

1m Vergleich zur Schuttdichte des zur Verwendung kommenden Quarzsandes mit 1200 - 1500 kg/m" ergeben sich folgende Schuttdichten exemplarisch:

Tabelle 3 Schuttdichten der gefiillten Blahglasgranulate (in kg/m')

Beispiel 5 Beispiel 6 Beispiel 7
I
0,25 - 0,5 mm 919 833 725
0,5 -1,0 mm 'i 822 784 656 WO 02/13311

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Zur Uberprufung der Wirksarnkeit der Erfindung nach den Anspruchen 1 sowie 2 und den diesen untergeordneten Anspruchen wurden vier Mortelversatze hergestellt.

Ml:

M2:

M3.l:

M3.2:

M3.3:

M4:

Mortel mit Quarzsand bis 1 mm als dichtem Zuschlag (in der nachstehenden Zusammensetzungstabelle mit [1] bezeichnet) gegenuber Mortel Ml ist die Quarzsandfraktion 0,25 mm ... 0,50 mm durch das gleiche Volumen an unbeschichtetem Blahglasgranulat und der gleichen Komfraktion (wie oben charakterisiert) (in der nachstehenden Zusammensetzungstabelle mit [2] bezeichnet) ausgetauscht

analog M2, jedoch mit einem mit Mn-Zn-Ferrit entsprechend Beispiel 1 beschichtetem Blahglasgranulat (in der nachstehenden Zusammensetzungstabelle mit [3] bezeichnet)

analog M2, jedoch mit einem sowohl mit Mn-Zn-Ferrit als auch mit Kohlenstoff entsprechend Beispiel 3 beschichtetem Blahglasgranulat (in der nachstehenden Zusammensetzungstabelle mit [4] bezeichnet).

analog M2, jedoch mit Kohlenstoff entsprechend Beispiel 4 beschichtetem Blahglasgranulat (in der nachstehenden Zusammensetzungstabelle mit [5] bezeichnet).

analog M2, jedoch mit Kohlenstoff und Ferrit entsprechend Beispiel 5 gefiilltem Blahglasgranulat (in der nachstehenden Zusammensetzungstabelle mit [6] bezeichnet).

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Tabelle 4 Zusammensetzung der Mortels (Angaben in g)

WeiBka WeiB- Feinsand Sand Zuschlag Zuschlag
lk- zement <0,125 0-0,25 0,25-0,5 0,5 - 1,0
hydrat mm mm mm mm
Mortel Ml 11,2 7,4 6,5 16,7 46,6 [1] 23,3 [1]
MortelM2 11,2 7,4 6,5 16,7 9,0 [2] 20,9 [1]
Mortel M3.1 11,2 7,4 6,5 16,7 23,6 [3] 11,0 [3]
Mortel M3.2 11,2 7,4 6,5 16,7 15,8[4] 8,3 [4]
Mortel M3.3 11,2 7,4 6,5 16,7 13,2 [5] 6,8 [5]
MortelM4 11,2 7,4 6,5 16,7 30,5 [6] 14,1 [6]
, ! Zuschlagarten:

[1] Quarzsande,

[2] Blahglas,

[3] beschichtetes Blahglas nach Beispiel 1,

[4] beschichtetes Blahglas nach Beispiel 3,

[5] beschichtetes Blahglas nach Beispiel 4,

[6] gefiilltes Blahglas nach Beispiel 5.

Die Messungen erfolgten mit Hilfe eines Netzwerkanalysators HP 8510 A und einer Koaxilalleitung 16/100. Dabei setzt sich die dargestellte Schirmdampfung S aus den Anteilen der Absorption A und der Reflexion R additiv zusammen.

Die Darstellung des Kurvenverlaufs der MeBergebnisse der Mortelmischungen sind Fig. 1 und Fig. 2 zu entnehmen.

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Patentansprllche

1. Elektromagnetisches Absorbergranulat, vorzugsweise fur einen Frequenzbereich von 100 MHz bis 10 GHz, dadurch gekennzeichnet, .daf es aus einem hochporosen Glas- und/oder Keramikgranulat besteht, welches mit Ferrit und/oder einem elektrisch leitfahigen Material beschichtet ist.

2. Elektromagnetisches Absorbergranulat, vorzugsweise fur einen Frequenzbereich von 100 MHz bis 10 GHz, dadurch gekennzeichnet, daf es aus einem hochporosen Glas- und/oder Keramikgranulat besteht, welches mit Ferrit und/oder einem elektrisch leitfahigen Material gefullt ist.

3. Absorbergranulat nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daf das elektrisch leitfahige Material Metall und/oder Kohlenstoff ist.

4. Beschichtetes Absorbergranulat nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daf die Granulatkorngrolse zwischen 0,2 und 5 mm und die Dicke der Beschichtung mit F errit und/oder elektrisch gut leitfahigem Material zwischen 10 urn und 300 urn liegt.

5. Beschichtetes Absorbergranulat nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daf die Dicke der Beschichtung mit Ferrit und/oder elektrisch gut leitfahigem Material zwischen 100 urn und 300 urn liegt, mit der Einschrankung, daf die Dicke der Beschichtung kleiner ist als 30 % des Durchmessers des unbeschichteten Granulates.

6. Absorbergranulat nach einem der bisherigen Anspruche, dadurch gekennzeichnet, daf der Ferrit ein Mn-Zn-, Ni-Zn-, ein Ba- und/oder Sr-Ferrit, ein Sc-, Co- oder Ti-substituierter Hexaferrit mit Granatstruktur ist.

7. Absorbergranulat nach einem der bisherigen Anspruche, gekennzeichnet durch eine Kombination aus Kohlenstoff mit einem F errit, vorzugsweise einem Ni-Zn- oder Ba-Ferrit, wobei das Masseverhaltnis Kohlenstoff zu Ferrit grober ist als 0,225.

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8. Verfahren zur Herstellung eines beschichteten Absorbergranulates nach Anspruch 1 oder einem diesen untergeordneten Anspruch, dadurch gekennzeichnet, daf der Ferrit und/oder das elektrisch gut leitfahige Material fein gemahlen und mit einem Bindemittel als Suspension auf das Glas- und/oder Keramikgranulat aufgebracht werden.

9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daf die Suspension nach dem Wirbelschicht-, Mischgranulier-, Tellergranulier-· oder nach dem Tauchcoatingverfahren auf das Granulat aufgebracht wird.

10. Verfahren zur Herstellung eines gefullten Absorbergranulates nach Anspruch 2 oder einem diesen untergeordneten Anspruch, dadurch gekennzeichnet, daf aus Glasmehl, einem Blahmittel, Ferrit- und/oder elektrisch Ieitfahigem Pulver unter Zusatz eines Bindemittels ein Rohgranulat erzeugt, getrocknet und in einem thermischen Prozef verfestigt und geblaht wird.

11. Verfahren zur Herstellung von Abschirmeinrichtungen unter Verwendung des Absorbergranulates nach einem der Anspruche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daf es mit einem organischen und/oder anorganischen Bindemittel als Putz auf Mauerwerk aufgetragen wird.

12. Verfahren zur Herstellung von Abschirmeinrichtungen unter Verwendung des Absorbergranulates nach einem der Ansprtiche 1 bis 10" dadurch gekennzeichnet, daB es mit einem organischen und/oder anorganischen Bindemittel als

1-- I

Schicht auf vorzugsweise als Wande dienende Trager und/oder Platten aufge-

bracht wird.

13. Verfahren zur Herstellung von Abschirmeinrichtungen unter Verwendung des Absorbergranulates nach einem der Ansprtiche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daf es als Fullstoff in einer organischen und/oder anorganischen Matrix zu Formteilen verarbeitet wird.

14. Verfahren zur Herstellung von Abschirmeinrichtungen unter Verwendung des Absorbergranulates nach einem der Ansprilche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daf die Verarbeitung zu Formteilen vorzugsweise fur Absorbergehause durch Spritzen in eine Hohlform erfolgt.

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15. Verfahren zur Herstellung von Abschirmeinrichtungen unter Verwendung des Absorbergranulates nach einem der Anspruche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daB die Verarbeitung vorzugsweise zu Absorberauskleidungen durch Extrudieren erfolgt.

16. Verfahren zur Herstellung von Abschirmeinrichtungen unter Verwendung des Absorbergranulates nach einem der Anspruche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daf die Verarbeitung vorzugsweise zu Absorberauskleidungen durch

Walzen erfolgt. !

17. Verfahren zur Herstellung von Abschirmeinrichtungen unter Verwendung des Absorbergranulates nach einem der Anspruche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daf die Verarbeitung vorzugsweise zu Absorberauskleidungen durch Foliengielsen erfolgt.

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INTERNATIONAL SEARCH REPORT Intern ~I Application No
PCT Itt' 01/09154
A. CLASSIFICATION OF ~BJECT MATTER 3/2
IPe 7 H01Q17 00 C03C17/10 C04B20/10
According to I nternational Patent Classification (IPC) or to both national classification and IPC
8. FIELDS SEARCHED
Minimum documentation searched (classification system followed by classification symbols)
IPe 7 HOlO C03C C04B
Documentation searched other than minimum documentation to the extent that such documents are included in the fields searched
Electronic data base consulted during the international search (name of data base and, where practical, search terms used)
EPO-Internal
C. DOCUMENTS CONSIDERED TO BE RELEVANT
Category 0 Citation of document, wtth indication, where appropriate, ot the relevant passages Relevant to claim No.
X DE 198 60 878 A (HERMSDORFER INST FUER 1,3,6,8,
TECH KER) 29 June 2000 (2000-06-29) 13,16,17
abstract
column 3, 1 i ne 54 -column 4, 1 i ne 12;
claims 1,8-10,13
---
X EP 0 831 074 A (HONG SUNG YONG) 2
25 March 1998 (1998-03-25)
abstract
page 2, line 39 -page 3, 1 i ne 44; claims
1-11
---
X DE 41 42 480 A (KERASORB KERAMIK) 1,3
1 July 1993 (1993-07-01 )
A abstract 2,4-17
column 1, line 53 -column 5, line 13;
claims 1-17; figure
---
-I--
IT] Further documents are listed in the continuation of box C. [] Patent family members are listed in annex.
o Special categories of cited documents: 'T' later document published after the international filing date
'A' document defining the general state of the art which is not or priority date and not in conflict with the application but
cited to understand the principle or theory underlying the
considered to be of particular relevance invention
'E' earlier document but published on or after the international 'X' document of particular relevance; the claimed invention
filing date cannot be considered novel or cannot be considered to
'L' document which may throw doubts on priority clairn(s) or involve an inventive step when the document is taken alone
which is cited to establish the publication date of another 'Y' document of particular relevance; the claimed invention
citation or other special reason (as specified) cannot be considered to involve an inventive step when the
'0· document referring to an oral disclosure, use, exhibition or document is combined with one or more other such docu-
other means ments, such combination being obvious to a person skilled
'P' document published prior to the international filing date but in Iheart.
later Ihan the priority dale claimed '&' document member of the same patent family
Date of the actual completion of the International search Date of mailing of the International search report
19 December 2001 02/01/2002
Name and mailing address of the ISA Authorized officer
European Patent Office, P.B. 5818 Patentlaan 2
NL - 2280 HV Rijswijk
Tel. (+31-70) 340-2040, Tx. 31651 epa nl, Angrabeit, F
Fax: (+31-70) 340-3016 INTERNATIONAL SEARCH REPORT

Inter"! al Application No

PCT/Ef' 01/09154

C.(Continuation) DOCUMENTS CONSIDERED TO BE RELEVANT

Oategory " Citation of document, with indication,where appropriate, of the relevant passages

Relevant to claim No.

X DE 197 18 694 A (rNST LUFT KAELTETECH GEM GMBH ;HERMSDORFER INST FUER TECH KER (DE» 5 November 1998 (1998-11-05)

column 1, line 34 -column 2, line 33; claims 1-3

x

x

x

US 5 786 785 A (GINDRUP WAYNE LAVAL ET AL) 28 July 1998 (1998-07-28)

the whole document

US 5 326 640 A (JAPKA JOSEPH E) 5 July 1994 (1994-07-05)

the whole document

US 3 721 982 A (WESCH L) 20 March 1973 (1973-03-20) the whole document

..

..... ,

2,10

2

1

1

INTERNATIONAL SEARCH REPORT

Interr II II.pplication No

rmation on patent family members

PCTIIP 01/09154

I

I

I

Publication dale

Patent document cited in search report

Publication date

Patent family member(s)

29-06-2000 DE

19860878 Al

29-06-2000

DE 19860878

A

EP 0831074

69705372 Dl 0831074 A2 2160899 T3

02-08-2001 25-03-1998 16-11-2001

A

25-03-1998 DE EP ES

DE 4142480

4142480 Al

01-07-1993

A

01-07-1993 DE

DE 19718694

05-11-1998 DE

19718694 Al

05-11-1998

A

US 5786785 A 28-07-1998 LU 87058 A2 23-03-2001
US 4624865 A 25-11-1986
US 4624798 A 25-11-1986
FR 2798389 Al 16-03-2001
TR 23267 A 04-08-1989
US 5892476 A 06-04-1999
AT 41260 T 15-03-1989
CA 1256628 Al 27-06-1989
DE 3477083 Dl 13-04-1989
EP 0162979 Al 04-12-1985
JP 1713879 C 27-11-1992
JP 3081241 B 27-12-1991
JP 60254514 A 16-12-1985 US 5326640

A

05-07-1994 NONE

US 3721982

A

20-03-1973 NONE

INTERNATIONALE..R RECHERCHENBERICHT ales Aktenzeichen
Interr
PCl/t!' 01/09154
A. KLASSIFIZIERUNG DF} ANMELDUNGSGEGEjSTANDES
IPK 7 HOlQ17 00 C03C17 10 C04B20/10
Nach der Internationalen Palenlklassifikation (IPK) oder nach der nationalen Klassifikation und der IPK
B. RECHERCHIERTE GEBIETE
Recherchierter Mindestpriifstoff (Klassifikalionssystem und Klassifikationssymbole )
IPK 7 HOlQ C03C C04B
Recherchierte aber nlcht zum MindestprOfstoff gehorende Ver6ffentlichungen, sowelt diese unter die recherchierten Gebiete fallen
Wahrend der inlernationalen Recherche konsultierte elektronische Datenbank (Name der Dalenbank und evtl. verwendete Suchbegriffe)
EPO-Internal
C. ALS WESENTLICH ANGESEHENE UNTERLAGEN
Kalegorieo Bezelchnung der Ver6ffentlichung, soweit erforderlich unler Angabe der in Betrachl kommenden Teile Betr, Anspruch Nr,
X DE 198 60 878 A (HERMSDORFER INST FUER 1,3,6,8,
TECH KER) 29. Juni 2000 (2000-06-29) 13,16,17
Zusammenfassung
Spalte 3, Zeile 54 -Spalte 4, Zeile 12;
AnsprOche 1,8-10,13
---
X EP 0 831 074 A (HONG SUNG YONG) 2
25. Marz 1998 (1998-03-25)
Zusammenfassung
Seite 2, Zeile 39 -Seite 3, Zeile 44;
AnsprOche 1-11
---
X DE 41 42 480 A (KERASORB KERAMIK) 1,3
1. Ju 1 i 1993 (1993-07-01)
A Zusammenfassung 2,4-17
Spalte 1, Zeil e 53 -Spalte 5, Zeile 13;
AnsprGche 1-17; Abbildung
---
-/--
[]] Weitere Ver6ffentllchungen sind der Fortsetzung von Feld C zu IRJ Siehe Anhang Patentfarnilie
enlnehmen
c Besondere Kalegorien von angegebenen Veriiffentlichungen : 'T' Spatsre Veroffentllchung, die nach dem internationalen Anmeldedatum
'A' Veroffenllichung, die den allgemeinen Stand der Technik defn iert, oder dem Prioritatsdaturn veriiffentlichl worden ist und mit der
aber nlcht als besonders bedeulsam anzusehen ist Anmeldung nicht kollldlert, sondern nur zum Verstandnis des der
Erfindung zugrundeliegenden Prinzips oder der ihr zugrundeliegenden
'E' aueres Dokument, das jedoch erst arn oder nach dem inlernationalen Theorie angegeben ist
Anmeldedatum ver6ffenUichl worden ist 'X' Ver6ffentlichung von besonderer Bedeulung; die beanspruchte Erfindung
'L' Veriiffentlichung, die geelgnel ist, einen Pnoritalsanspruch zweifel haft er- kann aile in aufgrund dieser Ver6ffenllichung nicht als neu oder auf
schelnen zu lassen, oder durch die das Veroffentlichungsdatum einer erfinderischer Tiitlgkelt beruhend belrachtel werden
anderen im Reche!chenberichl genannten Veriiffentlichung bele~t we~den 'Y' Verotfentllchunq von besonderer Bedeutung; die beanspruchte Erfindung
soli od~r die aus em em anderen besonderen Grund angegeben 151 (wle kann nicht als auf erfinderischer Tatlqkelt beruhend betrachtot
ausgefuhrt) werden, wenn die Ver6ffentlichung mit eineroder mehreren anderen
'0' V~r6ffenllichung, di.8 sich auf eine miindliche Offenbarung,. Ver6ffentlichungen dieser Kategorie in Verbindung gebracht wird und
erne Benutzung, erne Ausstellung oder andere Mal3nahmen bezleht diese Verbindung fUr einen Fachmann naheliegend lst
'P' Ver6ffenllichung, die vor dem internationalen Anmeldedatum, aber nacn " ... '., ,. .
dem beanspruchten Prioritiitsdalum veriiffentlicht worden ist & Veroffentlichung, die Mltglled derselben Patenttarnllle lst
Datum des Abschlusses der internationalen Recherche Absendedaturn des internationalen Recherchenberichls
19. Dezember 2001 02/01/2002
Name und Postanschrift der Internationalen Recherchenbehiirde Bevollmachtigter Bediensteler
Europaischss Patentaml, P.B_ 5818 Palenllaan 2
NL - 2280 HV Rijswijk
Tel. (+31-70) 340-2040, rx 31 651 epo nl, Angrabeit, F
Fax: (+31-70) 340-3016 INTERNATIONAl-ER RECHERCHENBERICHT

lnterr; lIes Aktenzeichen

PC1/tr 01/09154

C.(Fortsetzung) ALS WESENTLICH ANGESEHENE UNTERLAGEN

Kateqorle" Bezeichnung der Veroftentlichunq, sowejt ertordertich unler Angabe der in Belrachl kommenden Teile

Betr. Anspruch Nr.

X DE 197 18 694 A (INST LUFT KAELTETECH GEM GMBH ;HERMSDORFER INST FUER TECH KER (DE» 5. November 1998 (1998-11-05)

Spalte 1, Zeile 34 -Spalte 2, Zeile 33; AnsprUche 1-3

x

x

x

US 5 786 785 A (GINDRUP WAYNE LAVAL ET AL) 28. Juli 1998 (1998-07-28)

das ganze Dokument

US 5 326 640 A (JAPKA JOSEPH E) 5. Juli 1994 (1994-07-05)

das ganze Dokument

US 3 721 982 A (WESCH L) 20. Marz 1973 (1973-03-20) das ganze Dokument

2,10

2

1

1

INTERNATIONALEFLRECHERCHENBERICHT

Angaben zu Veroffenllichun lie zur selben Palenlfamilie gehoren

Intern lies Aktenzeichen

PCT!!:.? 01/09154

1m Hecherchenoerlcht I Datum der I

angefOhrtes Patentdokument Veroffentlichung

MitgJied(er) cler Patentfamilie

I Datum der

Veroffentlichung

DE 19860878

A

29-06-2000 DE

19860878 Al

29-06-2000

EP 0831074

A

25-03-1998 DE EP ES

DE 4142480

A

01-07-1993 DE

DE 19718694

A

05-11-1998 DE

US 5786785

A

28-07-1998 LU US US FR TR US AT CA DE EP JP JP JP

US 5326640

A

05-07-1994 KEINE

A

20-03-1973 KEINE

US 3721982

..

69705372 Dl 0831074 A2 2160899 T3

02-08-2001 25-03-1998 16-11-2001

4142480 Al

01-07-1993

19718694 Al

05-11-1998

87058 A2 4624865 A 4624798 A 2798389 Al

23267 A 5892476 A

41260 T 1256628 Al 3477083 Dl 0162979 Al 1713879 C 3081241 B

60254514 A

23-03-2001 25-11-1986 25-11-1986 16-03-2001 04-08-1989 06-04-1999 15-03-1989 27-06-1989 13-04-1989 04-12-1985 27-11-1992 27-12-1991 16-12-1985

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