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Reinhard Lerch

Elektrische
Messtechnik
Analoge, digitale
und computergesttzte Verfahren
7. Auflage

Elektrische Messtechnik

Reinhard Lerch

Elektrische Messtechnik
Analoge, digitale und computergesttzte
Verfahren
7., aktualisierte Auflage

Reinhard Lerch
Erlangen, Deutschland

Extras im Web http://www.springer.com/de/book/9783662469408

ISBN 978-3-662-46940-8
DOI 10.1007/978-3-662-46941-5

ISBN 978-3-662-46941-5 (eBook)

Die Deutsche Nationalbibliothek verzeichnet diese Publikation in der Deutschen Nationalbibliografie;


detaillierte bibliografische Daten sind im Internet ber http://dnb.d-nb.de abrufbar.
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Berlin Heidelberg

Vorwort zur siebten Auage

Nunmehr erscheint die 7. Auage dieses Werkes, dessen Erstausgabe bereits


u
uckliegt. Als Autor eines Buches u
ber 20 Jahre zur
ber Elektrische Mess
technik wird einem bei der Uberarbeitung
bewusst, wie rasch und in welch
geh
origem Umfang sich die technischen Inhalte auf diesem Gebiet andern.
Nachdem aber andererseits das Buch auch einen nicht unerheblichen Anteil
der Grundlagen in diesem Fach abdeckt, die sich im Laufe der Jahre nur wenig
oder gar nicht verandern, ist doch auch ein solider Anteil der Kapitel u
ber

die Jahre stabil geblieben und musste keine groeren Anderungen


erfahren.
Die Abschnitte u
ber die moderne digitale Messtechnik und insbesondere die
Kapitel zur computerunterst
utzten Messdatenerfassung sind hingegen daf
ur
um so volatiler. Dem wurde nat
urlich auch bei der Aufbereitung der 7. Auflage wieder Rechnung getragen. Wir haben speziell diese Abschnitte erganzt,
u
berarbeitet und neu aufbereitet. So wurden neue Unterkapitel zu den Themen Computerschnittstellen, Feldbusse, Einbindung des Ethernets in die heutige Automatisierungstechnik, Speicherprogrammierbare Steuerungen, Einplatinencomputer f
ur Embedded Systems und Digitaloszilloskope aufgenommen
bzw. bestehende auf den neuesten Stand gebracht. Daneben gab es in nahezu allen Kapiteln eine Reihe von Korrekturen, die notwendig wurden, sowie
Verbesserungen in didaktischer Hinsicht. Allen Lesern, die mich dabei unterst
utzt haben und Anregungen sowie Hinweise gegeben haben, sei an dieser
Stelle herzlich gedankt.
Ansonsten gilt der ausdr
uckliche Dank all meinen Mitarbeitern vom Lehrstuhl f
ur Sensorik der Friedrich-Alexander-Universitat Erlangen-N
urnberg.
Sie haben mich auch dieses Mal wieder tatkraftig unterst
utzt, die Neuauflage mit all ihren Erganzungen und Verbesserungen zeitgerecht fertigzustellen. Ohne deren Hilfe ware die Pege eines solch umfangreichen Werkes kaum
denkbar. Besonders bedanken mochte ich mich bei meinen wissenschaftlichen
Mitarbeitern, Herrn M.Sc. Michael Fink und Herrn Dipl.-Ing. Dominik Gedeon, die dieses Mal einen gehorigen Teil der Last getragen haben. Mein Kollege
und Honorarprofessor unserer Universitat, Prof. Dr. Klaus-Dieter Sommer,
hat dankenswerterweise den Abschnitt zur Erneuerung des SI-Systems ver-

VI

fasst. Auerdem wurde auf der beiliegenden DVD ein Kapitel zur Messunsicherheit aufgenommen, dessen Autor er ist. Auch daf
ur sei ihm herzlich
gedankt.
Des Weiteren gilt mein spezieller Dank Frau Christine Peter, die f
ur die
technische Erstellung des Manuskriptes verantwortlich zeichnete. Auch Herrn
Michael G
unther sei f
ur seine Mitwirkung beim Update technischer Inhalte
gedankt. Die Zusammenarbeit mit dem Springer-Verlag war wie immer ausgezeichnet und verlief in sehr freundschaftlicher Atmosphare.
email: reinhard.lerch@fau.de

Erlangen, im Sommer 2016

Reinhard Lerch

Vorwort zur sechsten Auage

Dank der regen Nachfrage kann bereits knapp zwei Jahre nach dem Erscheinen der letzten Auage nunmehr die 6. Auage dieses Werkes erscheinen.
Neben allf
alligen Korrekturen kleiner Fehler und Aktualisierungen auf dem
Gebiet Computerunterst
utzte Messdatenerfassung wurde bei der Neuaufbereitung ein umfangreicher Abschnitt zum Thema Energiemeter hinzugenommen. In diesem Abschnitt (Kap. 11.10) werden die technischen Aspekte der
modernen Leistungs- bzw. Energiemessung ausf
uhrlich diskutiert. Einen wesentlichen Teil nimmt dabei die Besprechung von integrierten Schaltkreisen
ein, die der Messung elektrischer Leistung und Energie im elektrischen Energieversorgungsnetz dienen. Diese integrierten Schaltkreise bilden ja auch das
Herzst
uck von neuartigen Energiemetern, den sog. Smart Metern, also elektronischen Energiezahlern, die leicht in moderne IT-Infrastrukturen eingebunden
werden k
onnen. Somit sind sie auch im Hinblick auf Energieeinsparung sowie
die Kanalisierung und Steuerung von Energie
ussen im Zuge der dezentralen elektrischen Energieversorgung unersetzlich geworden. Die Smart Meters
sind notwendig, um die derzeit in Diskussion bzw. Planung bendliche SmartGrid-Technologie des elektrischen Energieversorgungsnetzes zu realisieren.
Dar
uberhinaus werden auch die Verfahren vorgestellt, mit denen Leistungen bzw. Energien von Mikrowellenkomponenten gemessen werden, wie z. B.
Leistungssensoren f
ur den GHz-Bereich. In diesem Zusammenhang werden
die Hochfrequenz-Leistungsmessungen unter Verwendung von thermoelektrischen Umformern und Bolometern besprochen. Des Weiteren werden Leistungsmssk
opfe auf der Basis von kaskadierten logarithmischen Verstarkern
behandelt sowie solche, die mit Diodengleichrichtern arbeiten.
Bei all diesen Arbeiten konnte ich wieder auf das bewahrte Team meines Lehrstuhls vertrauen. Mein besonderer Dank gilt Frau Bettina Melberg
und Frau Cornelia Salley-Sippel f
ur ihre Unterst
utzung bei der Erstellung des
Layouts sowie den Herren Dipl.-Ing. Thorsten Albach, Dipl.-Ing. Dominik Gedeon, Dr. techn. Stefan J. Rupitsch, Dr.-Ing. Alexander Sutor und Michael
G
unther f
ur Ihre tatkraftige Mithilfe bei der inhaltlichen Gestaltung des Manuskriptes. F
ur die Unterst
utzung bei der technischen Erstellung des Werkes

VIII

sowie beim Marketing geb


uhrt Frau Hestermann-Beyerle und Frau KollmarThoni vom Springer-Verlag Heidelberg mein Dank.
Abschlieend darf ich mich bei allen Lesern bedanken, die dieses Werk
erwerben, und darf Ihnen groe Freude beim Lesen w
unschen.
email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2012

Reinhard Lerch

Vorwort zur fu
nften Auage

F
ur die 5. Auage dieses Buches sind wichtige inhaltliche Erweiterungen vorgenommen worden. So wurde beispielsweise im Kapitel Messverstarker ein
Abschnitt u
ugt
ber Operationsverstarker mit dierentiellem Ausgang hinzugef
und im Kapitel Analoges Messen elektrischer Groen ein Abschnitt u
ber
Strommezangen neu aufgenommen. Auerdem wurden dort die Operationsverst
arker-Datentabellen aktualisiert. Da insbesondere die Hard- und Software zur Messdatenerfassung und Laborautomation kontinuierlicher Innovation
unterliegen, wurden die entsprechenden Kapitel auf den neuesten Stand der
Technik gebracht, so zum Beispiel auch der Abschnitt u
ber PXI-Systeme, welche in letzter Zeit immer mehr an Bedeutung gewinnen. Auch der Abschnitt
u
ber Analog-Digital-Umsetzer wurde aktualisiert. Das Angebot an Software,

Rechenbeispielen und sonstigen Ubungsaufgaben,


die sich auf der beiliegenden DVD benden, wurde erganzt und ebenfalls auf den neuesten Stand gebracht. Weiterhin wurden alle Kapitel im Hinblick auf Inkompabilitaten in
der Schreibweise von Formeln und Formelzeichen u
uft und bestehende
berpr
Abweichungen korrigiert.
Bei all diesen Arbeiten konnte ich wieder auf das bewahrte Team meines
Lehrstuhls vertrauen. Mein besonderer Dank gilt Frau B. Melberg und Frau
C. Salley-Sippel sowie den Herren Dipl.-Ing. Th. Albach, Dr. techn. S. J.
Rupitsch, Dr.-Ing. A. Sutor und M. G
unther f
ur Ihre tatkraftige Mithilfe.
F
ur die Unterst
utzung bei der technischen Erstellung des Werkes sowie beim
Marketing geb
uhrt Frau Hestermann-Beyerle und Frau Kollmar-Thoni vom
Springer-Verlag Heidelberg mein Dank.
Abschlieend darf ich mich bei allen Lesern bedanken, die dieses Werk
kaufen, und darf Ihnen groe Freude beim Lesen w
unschen.
email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2010

Reinhard Lerch

Vorwort zur vierten Auage

Zun
achst einmal gilt mein besonders herzlicher Dank all denjenigen Lesern,
die im letzten Jahr dieses Buch kauich erworben haben. Denn dank ihnen
ist es m
oglich geworden, schon ein Jahr nach Erscheinen der letzten Auage die nunmehr 4. Edition dieses Werkes herauszugeben. Dadurch ist es in
relativ kurzer Frist gelungen, neben anstehenden kleineren Korrekturen wesentliche Erweiterungen bzw. Verbesserungen am Text und der beiliegenden
DVD vorzunehmen. Viele der Vorschlage dazu stammen von Fachkollegen an
Universit
aten und Fachhochschulen. In diesem Zusammenhang geb
uhrt meinen Kollegen aus dem Kreise des AHMT (Arbeitskreis der Hochschullehrer
Messtechnik; www.ahmt.de) mein besonderer Dank. Denn vor allem von ihnen kamen konstruktive Vorschlage, das vorliegende Werk in Richtung Messsignalverarbeitung, Korrelationsmesstechnik, Regressions- und Test-Verfahren
auszubauen. F
ur diese sehr wertvollen Hinweise und Anmerkungen bei der
Evaluierung der letzten Auage mochte ich an dieser Stelle nochmals meinen
besonderen Dank aussprechen.

Des Weiteren sind die Ubungsund Demonstrationsbeispiele auf beiliegender DVD in groem Umfang, insbesondere f
ur die eben genannten Kapitel, ausgebaut worden. Diese basieren im Wesentlichen auf dem Programm
LabVIEW (National Instruments), das auch bei dieser Auage auf der DVD
in seiner neuesten Version (Studentenversion) vorliegt. Mit Hilfe der auf der

DVD enthaltenen Ubungen,


Programmier- und Demonstrationsbeispielen ist
es m
oglich, dass der Leser sein mit dem Studium des Werkes erworbenes
Wissen unmittelbar auf praktische ingenieurmaige Problemstellungen an
wendet. Das dieses Lehrbuch begleitende Ubungsbuch
Elektrische Messtech

nik - Ubungsbuch rundet die Ubungsmoglichkeiten in den Bereichen ab, f


ur
die Computer
ubungen weniger geeignet sind als Rechnungen mit Papier und
Bleistift. F
ur die entsprechende Unterst
utzung beim Erstellen der DVD und
die gewinnbringende Kooperation mit der Firma National Instruments mochte
ich mich vor allem bei den Herren Marc Backmeyer und Dipl.-Ing. Rahman
Jamal bedanken.

XII

Mein vorrangiger Dank gilt aber vor allem meinem Team des Lehrstuhls f
ur
Sensorik, das durch seinen unerm
udlichen Einsatz in der letzen Zeit die schnelle Erstellung dieser 4. Auage ermoglicht hat. Hier sind vor allem zu nennen:
Herr Dipl.-Ing. Thorsten Albach, Frau Bettina Melberg, Frau Cornelia SalleySippel, Herr Dr.-Ing. Alexander Sutor.
Nicht zuletzt darf ich auch die wiederum exzellente Zusammenarbeit mit
dem herausgebenden Verlag und seinen Mitarbeitern, vor allem Frau Eva
Hestermann-Beyerle und Frau Monika Lempe, hervorheben.

email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2007

Reinhard Lerch

Vorwort zur dritten Auage

Dank der recht groen Beliebtheit dieses Buches ist es moglich, bereits zwei
Jahre nach Erscheinen der letzten Auage nunmehr die 3. Auage dieses Werkes vorstellen zu konnen.
Gegen
uber der 2. Auage wurden vor allem die Kapitel zur Rechnergest
utzten Medatenerfassung dem allerneuesten Stand der Technik angepat.
So wird der j
ungst eingef
uhrte LXI-Standard zur Vernetzung von Megeraten
ebenso behandelt wie die neuesten Entwicklungen auf dem Gebiet der Speicherprogrammierbaren Steuerungen (SPS), der Digitaloszilloskope, der USBMemodule sowie moderne Source Measuring Units. Damit ist dieser Block
auf nunmehr 200 Seiten bzw. ein Drittel des Gesamtwerkes angewachsen.
Das Kapitel Elektromechanische Megerate(Kapitel 6.1) wurde beibe
halten trotz der Tatsache, da es sich dabei um eine in ihrer Bedeutung
zur
uckgehende Megerateklasse handelt. Dennoch halte ich diesen Abschnitt
f
ur
auerst wertvoll f
ur Studierende des Faches Sensorik bzw. f
ur das gesamte Gebiet der Mechatronik, da man anhand der Funktionsprinzipien f
ur
elektromechanische Megerate sehr schon die Interaktionen zwischen mechanischen und elektromagnetischen Feldern lernen kann. Demzufolge sind die
hier behandelten elektromechanischen Grundprinzipien und Gesetzmaigkeiten (z. B. die Lorentzkraft oder die Wirbelstromdampfung) insbesondere f
ur
das Verst
andnis von modernen elektromechanischen Sensoren und Aktoren
wichtig.
An dieser Stelle gilt es auch, zunachst einmal all denjenigen herzlich zu
danken, die mich in den beiden letzten Jahren auf Fehler bzw. unklare Darstellungen in der 2. Auage aufmerksam gemacht haben. Meistens handelte es
sich dabei um Studierende der Technischen Fakultat der Friedrich-AlexanderUniversit
at Erlangen-N
urnberg oder auch um Studierende anderer Universit
aten und Fachhochschulen, die sich auf Pr
ufungen in ingenieurwissenschaftlichen F
achern vorbereitet haben. Alle berechtigten Einwande und Hinweise
wurden in der vorliegenden Auage ber
ucksichtigt.
Bei der Erweiterung des Buches haben mich die Mitarbeiter des Lehrstuhls f
ur Sensorik der Universitat Erlangen-N
urnberg wiederum mit groem

XIV

Einsatz unterst
utzt. In allererster Linie bin ich unserem akadem. Rat, Herrn
Dr.-Ing. Alexander Sutor, ebenso wie Herrn Dipl.-Ing. Martin Meiler, Herrn
Dipl.-Ing. Erich Leder sowie dem Leiter unserer Elektronikwerkstatt, Herrn
Michael G
unther, f
ur ihre Beitrage zu diesem Werk zu groem Dank verpichtet. F
ur ihren unerm
udlichen Einsatz bei der elektronischen Fertigstellung des
kamerafertigen Manuskriptes samt aller darin enthaltenen, teilweise dizilen
Graken gilt mein besonders herzlicher Dank wiederum Frau Cornelia SalleySippel und Frau Bettina Melberg.
Bedanken mochte ich mich auch bei den beiden verantwortlichen Mitarbeiterinnen des Springer-Verlages, Frau Eva Hestermann-Beyerle und Frau
Monika Lempe, f
ur die hervorragende Unterst
utzung und exzellente Zusammenarbeit.

Diesem Buch liegt eine CD-ROM mit Ubungsaufgaben


zur
R
Rechnergest
utzten Medatenerfassung in NI LabVIEW
sowie
zur Programmierung von Speicherprogrammierbaren SteuerunR
gen (SPS) mit CoDeSys
bei. Dabei gibt es Programmieraufgaben, deren L
osung via Internet auf eine am Lehrstuhl f
ur Sensorik (FriedrichAlexander-Universitat Erlangen-N
urnberg) aufgebaute Speicherprogrammierbare Steuerung heruntergeladen werden konnen. Anhand helligkeitsgesteuerter Lampen und LEDs lat sich mittels einer WebCam die erfolgreiche Programmierung dieser SPS beobachten.
Das oben gezeigte Icon weist an entsprechenden Stellen des Buches auf

thematisch passende Ubungsaufgaben


auf der CD-ROM hin. Weitere Ubungsbeispiele und Hinweise ndet man unter
www.lse.e-technik.uni-erlangen.de/elektrische_messtechnik

email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2006

Reinhard Lerch

Vorwort zur zweiten Auage

Die zweite Auage tragt insbesondere den aktuellen Entwicklungen im Bereich


Computerunterst
utzte Medatenerfassung Rechnung. Daher sind die entsprechenden Kapitel in der zweiten Auage stark angewachsen und nehmen nunmehr u
ber ein Drittel des Gesamtumfanges ein. Infolgedessen konnen alle wesentlichen Hard- und Software-Komponenten der modernen rechnergest
utzten
Medatenerfassung behandelt werden. So werden beispielsweise die weltweite
Vernetzung von Medaten- und Prozerechnern wie auch die Medatenerfassung unter Zuhilfenahme von Virtual Private Networks besprochen.
Die zweite Auage wurde ebenfalls erweitert auf dem Gebiet der Ausgleichsvorg
ange in elektrischen Netzwerken, was der detaillierten Erlauterung
der dynamischen Mefehler und ihrer Korrekturmoglichkeiten zugute kommt.
Auch die Analyse und Messung von nichtlinearen Bauelementen wurde in den
Sto aufgenommen.
Bei der Erweiterung des Buches haben mich die Mitarbeiter des Lehrstuhls
f
ur Sensorik der Universitat Erlangen-N
urnberg mit groem Engagement unterst
utzt. In allererster Linie bin ich Herrn Dr.-Ing. Alexander Sutor und
Herrn Dipl.-Ing. Martin Meiler f
ur ihre fachlichen Beitrage zu diesem Werk
zu groem Dank verpichtet. F
ur ihren unerm
udlichen Einsatz bei der Erstellung des Manuskriptes und der Graken gilt Frau Cornelia Salley-Sippel
und Frau Bettina Melberg mein besonderer Dank. An der Korrekturlesung
des Werkes waren alle Mitarbeiter des Lehrstuhls sowie Herr Dr.-Ing. G
unter
Pretzl vom Lehrstuhl f
ur Technische Elektronik und meine Ehefrau Elke beteiligt. Auch ihnen sei an dieser Stelle daf
ur herzlich gedankt. Dank gilt auch
den Mitarbeitern des Springer-Verlages f
ur die hervorragende Kooperation,
insbesondere Frau Eva Hestermann-Beyerle und Frau Monika Lempe.
email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2004

Reinhard Lerch

Vorwort zur ersten Auage

Die in der zweiten Halfte unseres Jahrhunderts erfolgten innovativen Entwicklungen auf dem Gebiet der Elektrotechnik haben f
ur die Elektrische
Metechnik eine Vielzahl neuer Verfahren und Meschaltungen mit sich gebracht. So basiert die Messung elektrischer und nicht-elektrischer Groen heute vorwiegend auf Schaltungen, die erst durch in j
ungster Vergangenheit entwickelte elektronische Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise, wie
beispielsweise Operationsverstarker, digitale Grundschaltungen und AnalogDigital- bzw. Digital-Analog-Umsetzer, ermoglicht wurden. Die Nutzung dieser modernen Elektronik und die enormen Fortschritte auf dem Gebiet der
Digitalrechner haben zu einer sehr engen Verechtung von Elektrischer Metechnik und Computertechnik bzw. Informatik gef
uhrt. Dies zeigt sich unter
anderem in der Tatsache, da die heutige Medatenerfassung und Mesignalverarbeitung zunehmend auf Digitalrechner oder digitale Signalprozessoren
verlagert werden und zum Teil in Software implementiert sind. Nachdem in
den letzten Jahren eine Vielzahl von leistungsfahigen Sensoren zur Detektion nicht-elektrischer Megroen entwickelt wurde, verstarkt sich der Trend,
da viele nicht-elektrotechnische Wissenschaftszweige, wie z. B. der Maschinenbau und die Verfahrenstechnik, ihre metechnischen Probleme mit rein
elektrotechnischen bzw. informationstechnischen Mitteln losen.
Es wurde versucht, dieser Entwicklung mit der Struktur des vorliegenden Werkes Rechnung zu tragen, ohne die klassischen Grundlagen zu vernachl
assigen. So werden nach einem einf
uhrenden Kapitel u
ber Mefehler,
die konventionellen elektromechanischen Mewerke besprochen, welche zwar
zunehmend von digitalen Megeraten abgelost werden, deren grundlegende
Wandlungsmechanismen aber f
ur das Gebiet der elektromechanischen Mewertaufnehmer (Sensoren) von groer Bedeutung sind. Nach den Abschnitten
zur Messung von elektrischer Spannung, elektrischem Strom und elektrischer
Impedanz folgen als thematische Schwerpunkte die Methoden und Verfahren sowie die daraus resultierenden elektronischen Schaltungen der modernen
Elektrischen Metechnik. Diese werden in den Kapiteln Operationsverstarker,
Darstellung elektrischer Signale, Digitale Metechnik, Messung von Frequenz

XVIII

und Zeit sowie Mesignalverarbeitung und Rechnergest


utzte Medatenerfassung behandelt.
Die in diesem Buch angesprochenen Themen und Fragestellungen decken
den Sto einer einf
uhrenden Vorlesung Elektrische Metechnik ab. Dar
uberhinaus ist die Thematik einer weiterf
uhrenden Vorlesung Rechnergest
utzte
Medatenverarbeitung und Mesignalverarbeitung enthalten, die als Wahlvorlesung f
ur Studenten hoherer Semester Bestandteil des an der Johannes Kepler
Universit
at Linz im Jahre 1990 eingerichteten Diplomingenieurstudienganges Mechatronik ist. Das Buch wendet sich jedoch nicht nur an Studenten
der Fachrichtungen Elektrotechnik, Mechatronik, Maschinenbau, Informationstechnik, Physik und Chemie sondern auch an die bereits auf dem Gebiet
der Metechnik praktisch tatigen Ingenieure und Naturwissenschaftler, die
ihr Wissen u
ber Metechnik aurischen bzw. vertiefen wollen. Mit dem vorliegenden Werk sollen sowohl Kenntnisse u
ber die bei der Messung elektrischer Gr
oen eingesetzten Standardverfahren vermittelt als auch der neueste
Stand der zur modernen Elektrischen Metechnik zahlenden computergest
utzten Medatenerfassung und Mesignalverarbeitung beschrieben werden.

zur ElekDas Buch ist in Verbindung mit dem Begleitwerk Ubungen

trischen Metechnik (R. Lerch; M. Kaltenbacher; F. Lindinger: Ubungen


zur Elektrischen Metechnik. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag 1996) zum

Selbststudium geeignet. In diesem Ubungsbuch


werden neben kurzen Repetitorien zahlreiche praktische Aufgaben und weiterf
uhrende Beispiele zu dem
gesamten im Lehrbuch behandelten Sto angeboten. F
ur das Verstandnis
des in den beiden genannten Werken dargebotenen Stoes werden lediglich
Grundkenntnisse auf den Gebieten Elektrotechnik, Mathematik sowie Schaltungstechnik erwartet.
Bei der Ausarbeitung des Manuskriptes habe ich viele Anregungen und
wesentliche Unterst
utzung von allen am Institut f
ur Elektrische Metechnik
der Universitat Linz tatigen Mitarbeitern erfahren. In allererster Linie bin ich
Herrn Dipl.-Ing. Manfred Kaltenbacher und Herrn Dipl.-Ing. Franz Lindinger f
ur ihre wesentlichen fachlichen Beitrage zu diesem Werk sowie ihren unerm
udlichen Einsatz im Zusammenhang mit der Erstellung des Manuskriptes
zu gr
otem Dank verpichtet. Die wahrlich nicht immer einfachen Aufgaben
des computergerechten Textschreibens sowie der Anfertigung von Abbildungen lagen in den Handen von Frau Waltraud Kratzer, die die immer wieder an
stehenden Texterweiterungen und Anderungen
der Abbildungen mit groem
Engagement und Sachverstand vorgenommen hat. Ihr geb
uhrt mein herzlicher
Dank, ebenso wie Frau Sylvia Prel, die ebenfalls viele der Graken angefertigt hat, wie auch Frau Ingrid Hagelm
uller, die f
ur die Texteingabe sowie die
Erstellung der Abbildungen der ersten Manuskriptversion verantwortlich war.
All denjenigen, die an der Korrekturlesung dieses Werkes beteiligt waren und
Verbesserungsvorschlage eingebracht haben, d. h. meinen Kollegen, meinen
Assistenten, insbesondere den Herren Dipl.-Ing. Todor Sheljaskov und Dipl.Ing. Roland Exler, den Linzer Mechatronik-Studenten sowie meiner Ehefrau

XIX

Elke, m
ochte ich ebenfalls meinen herzlichen Dank f
ur ihren groen Einsatz
aussprechen.
Mein Dank gilt auch dem Springer-Verlag, insbesondere Herrn Dr. Hubertus Riedesel, der die Anregung zur Abfassung des vorliegenden Werkes gab, sowie seinen Mitarbeiterinnen Frau Marianne Ozimkowski und Frau Gaby Maas
f
ur ihre Unterst
utzung bei der Erstellung des kamerafertigen Manuskriptes.
Allen eben genannten Personen mochte ich auch danken f
ur ihr Verstandnis
und ihre Geduld bei der mehrmals verzogerten Abgabe des Manuskriptes.
Da es erwartungsgema auch bei noch so sorgfaltiger Bearbeitung des Textes nicht m
oglich sein d
urfte, die Erstauage eines solchen Buches fehlerfrei zu
halten, m
ochte ich mich schon vorab bei allen Lesern f
ur diese Fehler entschuldigen und sie ermutigen, von ihnen eventuell entdeckte Fehler an die folgende
Adresse mitzuteilen:
O. Univ.-Prof. Dipl.-Ing. Dr. Reinhard Lerch
Institut f
ur Elektrische Metechnik
Johannes Kepler Universitat Linz
Altenberger Strae 69
A-4040 Linz
email: R.Lerch@jk.uni-linz.ac.at

Linz, im Januar 1996

Reinhard Lerch

Inhaltsverzeichnis

Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik . . . . .


1.1 Zur Historie und Bedeutung der Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . .
1.2 Der Begri des Messens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3 Begrisdenitionen in der Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.1 Allgemeine Begrie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.2 Messgerat und Messeinrichtung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.3 Messkette (Struktur einer elektrischen Messeinrichtung)
1.4 Vorschriften und Normen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.5 Klassizierung von Messmethoden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.5.1 Ausschlagmethode - Kompensationsmethode . . . . . . . . .
1.5.2 Analog - Digital . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.5.3 Kontinuierlich - Diskontinuierlich . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.5.4 Direkt - Indirekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.6 Die Informationstrager im Messsignal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

1
1
3
4
4
5
5
6
7
7
8
8
9
9

Die Grundlagen des Messens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


2.1 Masysteme, Einheiten, Naturkonstanten . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.1 Masysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.2 Naturkonstanten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.3 Das SI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.4 Das k
unftige SI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.5 Abgeleitete Einheiten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2 Groen- und Zahlenwertgleichungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

11
11
11
13
13
14
18
18

Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und

Vierpol-Ubertragungsverhalten
............................
3.1 Fourier-Transformation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.2 Ausgleichsvorgange in linearen Netzwerken . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.3 Die Laplace-Transformation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.4 Die Laplace-Transformierte elementarer Zeitfunktionen . . . . . .

21
21
25
28
31

XXII

Inhaltsverzeichnis

3.5

3.6
3.7
3.8
3.9
3.10
3.11
3.12
3.13

Die Eigenschaften der Laplace-Transformation


Laplace-Transformation einfacher mathematischer
Operationen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

3.5.1 Uberlagerung
....................................
3.5.2 Integration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.5.3 Dierentiation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.5.4 Produkt zweier Laplace-Funktionen Faltung . . . . . . .
3.5.5 Multiplikationssatz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.5.6 Verschiebung im Zeitbereich (Oberbereich) . . . . . . . . . .
3.5.7 Verschiebung im Laplace-Bereich (Unterbereich) . . . . . .
3.5.8 Dehnung bzw. Stauchung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.5.9 Anfangswert-Theorem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.5.10 Endwert-Theorem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.5.11 Tabelle mathematischer Operationen . . . . . . . . . . . . . . . .
Analyse eines RC-Netzwerkes mittels Laplace-Transformation .
Die R
ucktransformation von Laplace-Transformierten in den
Zeitbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
L
osung von linearen Dierentialgleichungen mit konstanten
Koezienten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Berechnung von Einschwingvorgangen in elektrischen
Netzwerken mit konzentrierten linearen passiven Bauelementen
R
ucktransformation mittels Residuenmethode Heavisidescher Entwicklungssatz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Vierpol-Ubertragungsfunktion
im Zeit- und Frequenzbereich . .
Beschreibung von linearen zeitinvarianten Netzwerken durch
ihre Sprungantwort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Bode-Diagramme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.13.1 Regeln f
ur Bode-Diagramme (reelle Pole und
Nullstellen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.13.2 Regeln f
ur Bode-Diagramme mit komplexen Polpaaren

Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und


Systeme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) . . . . . . . . . . . .
4.1.1 Vorbemerkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.1.2 Nichtlinearer Widerstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.1.3 Nichtlineare Induktivitat . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.1.4 Nichtlineare Kapazitat . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.2 Gesteuerte Quellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke . . . . . . . . . . . . . . . .

34
34
34
35
35
37
38
38
39
39
39
39
40
41
43
46
56
60
64
65
69
72

77
77
77
78
85
92
95
96

Messfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103
5.1 Systematische Messfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
5.2 Zufallige Messfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
5.2.1 Normalverteilung, Mittelwert, Standardabweichung . . . 106

Inhaltsverzeichnis XXIII

5.3
5.4

5.2.2 Vertrauensbereich f
ur den Schatzwert . . . . . . . . . . . . . . . 109
5.2.3 Fortpanzung zufalliger Fehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
Genauigkeitsklassen bei Messgeraten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
Dynamische Messfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114

5.4.1 Das Ubertragungsverhalten


von Messsystemen . . . . . . . 115
5.4.2 Denition des dynamischen Messfehlers . . . . . . . . . . . . . 119
5.4.3 Bestimmung des dynamischen Messfehlers . . . . . . . . . . . 120
5.4.4 Messsystem mit Tiefpassverhalten . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121

Analoges Messen elektrischer Gr


oen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
6.1 Elektromechanische Messgerate . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
6.1.1 Drehspulmesswerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126
6.1.2 Galvanometer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
6.1.3 Elektrodynamisches Messwerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134
6.1.4 Dreheisenmesswerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137
6.1.5 Drehspulquotientenmesswerk (Kreuzspulmesswerk) . . . 138
6.1.6 Drehmagnetmesswerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
6.1.7 Elektrostatisches Messwerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
6.1.8 Schaltzeichen f
ur Messgerate . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung . . . . . . . . . . . . . . 144
6.2.1 Messung von Gleichstromen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
6.2.2 Messung von Gleichspannungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
6.2.3 Gleichzeitiges Messen von Strom und Spannung . . . . . . 150
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung . . . . . . . . . . . 151
6.3.1 Begrisdenitionen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
6.3.2 Gleichrichtung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 152
6.3.3 Messung des Scheitelwertes (Spitzenwert, Peak Value) . 154
6.3.4 Messung des Gleichrichtwertes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
6.3.5 Messung des Eektivwertes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
6.3.6 Messwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
6.3.7 Strommesszange f
ur Wechselstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
6.3.8 Hallelement (Galvanomagnetischer Eekt) . . . . . . . . . . . 172
6.3.9 Strommesszange f
ur Gleichstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176

Messverst
arker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 179
7.1 Operationsverstarker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
7.1.1 Idealer Operationsverstarker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
7.1.2 Realer Operationsverstarker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
7.1.3 Denitionen von Operationsverstarker-Kenngroen . . . 184
7.1.4 Operationsverstarker-Grundschaltungen . . . . . . . . . . . . . 192
7.1.5 Operationsverstarker mit dierentiellem Ausgang . . . . . 204
7.2 Spezielle Messverstarker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
7.2.1 Dierenzverstarker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
7.2.2 Instrumentenverstarker (Instrumentierungsverstarker) . 211
7.2.3 Zerhacker-Verstarker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212

XXIV Inhaltsverzeichnis

7.3

7.2.4 Ladungsverstarker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 214


Rauschen von Messverstarkern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215

Messung der elektrischen Leistung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229


8.1 Leistungsmessung im Gleichstromkreis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 231
8.2.1 Begrisdenitionen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 231
8.2.2 Leistungsmessung im Einphasennetz . . . . . . . . . . . . . . . . 231
8.2.3 Leistungsmessung in Drehstromsystemen . . . . . . . . . . . . 233
8.3 Messung der elektrischen Arbeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241

Messung von elektrischen Impedanzen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245


9.1 Messung von ohmschen Widerstanden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
9.1.1 Strom- und Spannungsmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
9.1.2 Vergleich mit einem Referenzwiderstand . . . . . . . . . . . . . 246
9.1.3 Verwendung einer Konstantstromquelle . . . . . . . . . . . . . 248
9.1.4 Verwendung eines Kreuzspulinstrumentes . . . . . . . . . . . . 249
9.2 Kompensationsschaltungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
9.2.1 Gleichspannungskompensation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
9.2.2 Gleichstromkompensation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 251
9.3 Gleichstrom-Messbr
ucken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 252
9.3.1 Gleichstrom-Ausschlagbr
ucken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 253
9.3.2 Gleichstrom-Abgleichbr
ucken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 255
9.4 Messung von Schein- und Blindwiderstanden . . . . . . . . . . . . . . . 255
9.5 Wechselstrom-Messbr
ucken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
9.5.1 Wechselstrom-Abgleichbr
ucken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
9.5.2 Ein
usse von Erd- und Streukapazitaten . . . . . . . . . . . . 262
9.5.3 Halbautomatischer Br
uckenabgleich . . . . . . . . . . . . . . . . . 263
9.5.4 Wechselstrom-Ausschlagbr
ucken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale . . . . . . . . . . 273


10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
10.1.1 Aufbau und Funktion der Elektronenstrahl-Rohre . . . . 273
10.1.2 Zeitablenkung und Triggerung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 277
10.1.3 Funktionsgruppen eines Analog-Oszilloskops . . . . . . . . . 280
10.1.4 Sampling-Oszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 283
10.2 Spannungsteiler in Elektronenstrahl-Oszilloskopen . . . . . . . . . . . 286
10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie . . . . . . . 288
10.3.1 Statische Fehler (Fehler der Ablenkkoeizienten) . . . . . 288
10.3.2 Linearitatsfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 289
10.3.3 Dynamische Fehler des Oszilloskops . . . . . . . . . . . . . . . . . 290
10.4 Digital-Speicheroszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
10.4.1 Prinzipielle Funktionsweise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
10.4.2 Wiedergabe des aufgezeichneten Bildes . . . . . . . . . . . . . . 299
10.4.3 Betriebsarten des Digital-Speicheroszilloskops . . . . . . . . 301

Inhaltsverzeichnis

10.5
10.6
10.7
10.8
10.9

XXV

10.4.4 Einsatz von Digital-Oszilloskopen in Verbindung mit


Computern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 302
Vergleich Analog- und Digital-Oszilloskope . . . . . . . . . . . . . . . . . 302
Digital-Phosphor-Oszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
Analoger und digitaler Trigger . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
Mixed-Signal-Oszilloskope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 306
Stand der Technik bei Digital-Oszilloskopen . . . . . . . . . . . . . . . . 308

11 Digitale Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311


11.1 Duales Zahlensystem und Binarcodes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311
11.1.1 Dualzahlendarstellung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311
11.1.2 BCD-, Hexadezimal- und Gray-Code . . . . . . . . . . . . . . . . 312
11.1.3 Fehlererkennung und Fehlerkorrektur . . . . . . . . . . . . . . . 313
11.2 Binare Signale und ihre Verkn
upfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
11.2.1 Grundregeln bei der logischen Verkn
upfung . . . . . . . . . . 313
11.2.2 Digitale Grundschaltungen (Gatterschaltungen) . . . . . . 314
11.2.3 Digitale Addierer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 318
11.3 Bistabile Kippschaltungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 319
11.3.1 RS-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 320
11.3.2 Taktzustandgesteuertes RS-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . 321
11.3.3 Taktankengesteuertes RS-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . 322
11.3.4 Taktzustandgesteuertes D-Flip-Flop (Data-Latch) . . . . 322
11.3.5 Taktankengesteuertes D-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
11.3.6 Taktankengesteuertes JK-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . 325
11.3.7 Taktankengesteuertes T-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . . 326
11.4 Monostabile Kippstufe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327
11.5 Z
ahler-Schaltungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
11.5.1 Dualzahler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
11.5.2 BCD-Zahler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
11.6 Digital-Analog-Umsetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
11.6.1 Grundlagen und Kenngr
oen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
11.6.2 Schaltungstechnische Realisierungen . . . . . . . . . . . . . . . . 334
11.6.3 Fehler bei der Digital-Analog-Umsetzung . . . . . . . . . . . . 339
11.7 Analog-Digital-Umsetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 342
11.7.1 Abtastung (Sampling) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
11.7.2 Abtast-Halte-Schaltungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 346
11.7.3 Direktvergleichende Analog-Digital-Umsetzer . . . . . . . . 348
11.7.4 Analog-Digital-Umsetzung mit Delta-Sigma-Modulator 356
11.7.5 Time-Division-Multiplizierer (ImpulsbreitenMultiplizierer, Sagezahn-Multiplizierer) . . . . . . . . . . . . . 364
11.7.6 Analog-Digital-Umsetzung mit Zeit oder Frequenz . . . . 366
11.7.7 Vergleich der Grundprinzipien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 374
11.7.8 Fehler bei der Analog-Digital-Umsetzung . . . . . . . . . . . . 375
11.8 Digital-Multimeter (DMM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 379
11.8.1 Anzahl der Stellen und Genauigkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . 379

XXVI Inhaltsverzeichnis

11.8.2 Beispiel eines 4 1/2 -stelligen Digital-Multimeters . . . . . . 380


11.8.3 Messungen des echten Eektivwertes von Signalen
mit Gleichanteil . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 382
11.8.4 Gesamtfehler infolge Scheitelfaktor . . . . . . . . . . . . . . . . . 382
11.9 Strom-/Spannungsquellen mit R
uckmessfunktion (Source
Measure Units) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 383
11.9.1 Source Measure Units in automatischen Testsystemen . 383
11.9.2 Messung kleiner Strome bzw. Spannungen mit SMUs . 385
11.10 Elektronische Leistungsmesser . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387
11.10.1 Leistungsmessung mit Hallelement . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387
11.10.2 Integrierte Schaltkreise zur Leistungsmessung . . . . . . . . 388
11.10.3 Smart Meter f
ur die Messung des Verbrauchs an
elektrischer Energie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 398
11.10.4 Leistungsmessungs-IC f
ur HF-Anwendungen . . . . . . . . . 398
11.10.5 HF-Leistungsmessung mit kaskadiertem
logarithmischem Verstarker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 402
11.10.6 HF-Leistungsmessung mittels thermoelektrischem
Wandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 403
11.10.7 Thermoelement (Seebeck-Eekt) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 405
11.10.8 Bolometer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 407
11.10.9 HF-Leistungsmessung mit Diodengleichrichter . . . . . . . . 408
Messung von Frequenz und Zeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 411
Mechanische Frequenzmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 412
Digitale Frequenzmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 413
Digitale Zeitmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 414
12.3.1 Zeitintervallmessung (Zeitdierenzmessung) . . . . . . . . . . 414
12.3.2 Periodendauermessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 418
12.4 Digitale Phasenwinkelmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 419
12.5 Rechnender Zahler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 420
12.6 Zeit-Spannungs-Umsetzer (t/U-Umsetzer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421
12.7 Frequenz-Spannungs-Umsetzer (f/U-Umsetzer) . . . . . . . . . . . . . . 421
12.8 Oszillatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 422
12.8.1 Grundlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 422
12.8.2 Harmonische Oszillatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 424
12.8.3 LC-Oszillator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 425
12.8.4 Relaxationsoszillatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 427
12.8.5 Quarzoszillator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 430
12.8.6 Operationsverstarker-Schaltung eines Quarzoszillators . 433
12.8.7 Fehler von Schwingquarzen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 434
12.9 Fehler bei der digitalen Zeitintervall- bzw. Frequenzmessung . . 436
12.10 Atomuhren, Zeitzeichensender und Funknavigation . . . . . . . . . . 439
12.10.1 Atomuhren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 439
12.10.2 DCF-77 Zeitzeichensender . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 441
12.10.3 NAVSTAR/GPS-Satellitennavigation . . . . . . . . . . . . . . . 442

12 Die
12.1
12.2
12.3

Inhaltsverzeichnis XXVII

12.10.4 Galileo-Satellitennavigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 446


12.10.5 Storfaktoren bei der Satellitennavigation . . . . . . . . . . . . 449
13 Messsignalverarbeitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451
13.1 Aufgaben und Bedeutung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451
13.2 Signalarten und Analyseformen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 453
13.3 Multiplizieren, Dividieren, Quadrieren, Radizieren . . . . . . . . . . . 454
13.4 Ermittlung des Eektivwertes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 457
13.4.1 Messung des Eektivwertes f
ur beliebige Signalverlaufe 459
13.5 Bestimmung von Mittelungswerten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 460
13.6 Kenngroen nicht-sinusformiger periodischer Signale . . . . . . . . . 462
13.7 Messung von Signaleigenschaften mittels Korrelationsfunktion 465

13.8 Auere
Storeinwirkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 476
13.9 Optimallter (Wiener-Filter) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 479

13.9.1 Ubertragungsfunktion
eines Optimallters . . . . . . . . . . . 479
13.9.2 Beispiel f
ur ein Optimallter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 483
14 Regression, lineare Korrelation und HypothesenTestverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 491
14.1 Regressionsverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 491
14.1.1 Ausgleichsgerade (lineare Regression) . . . . . . . . . . . . . . . 492
14.1.2 G
ute der Anpassung bei der linearen Regression
(Varianz, Kovarianz, Restvarianz und
Korrelationskoezient) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 495
14.1.3 Ausgleichspolynome . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 499
14.1.4 Mehrfache lineare Regression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 500
14.2 Lineare Korrelation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 502
14.3 Testverfahren (Hypothesen-Testverfahren) . . . . . . . . . . . . . . . . . 505
14.3.1 Testen von Hypothesen, Entscheidungen . . . . . . . . . . . . . 505
14.3.2 Beispiele f
ur Tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 509
15 Grundlagen der Rechnergest
utzten Messdatenerfassung . . . 515
15.1 Grundstrukturen von rechnergest
utzten Messsystemen . . . . . . . 515
15.2 Basis-Hardware zur Messdatenerfassung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 522
15.2.1 Multifunktions-Einsteckkarten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 524
15.2.2 Multiplexer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 527
15.2.3 Storungen infolge Erdschleifen und Einkopplungen . . . . 529
15.2.4 Serielle Schnittstellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 531
15.2.5 Parallelbussysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 531
15.2.6 Datenlogger . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 531
15.3 Grundtypen des Datentransfers . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 532

XXVIIIInhaltsverzeichnis

16 Messdatenerfassung im Labor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 533


16.1 Die serielle RS232C-Schnittstelle (V.24-Schnittstelle) . . . . . . . . 535

16.1.1 Ubertragungsmedien
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 535
16.1.2 Leitungsbelegung und Steckerverbindung der
RS232C-Schnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 536
16.1.3 Pegelfestlegung und deren logische Zuordnung . . . . . . . . 539
16.1.4 Logikdenition f
ur Datenleitungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . 539
16.1.5 Logikdenition f
ur Steuer- und Meldeleitungen . . . . . . . 540
16.1.6 Synchronisierung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 540
16.1.7 Handshake-Verfahren (Quittierungsverfahren) . . . . . . . . 541
16.1.8 Software-Handshaking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 541
16.1.9 Hardware-Handshaking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 542
16.1.10 Hardware-Realisierung von seriellen Schnittstellen . . . . 543
16.2 Kenngroen der seriellen Daten
ubertragung . . . . . . . . . . . . . . . . 546
16.3 Die RS485-Schnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 547
16.3.1 Eine Twisted-Pair-Leitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 548
16.3.2 Zwei Twisted-Pair-Leitungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 548
16.4 Die 20 mA-Stromschleife . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 549
16.5 Inter Integrated Circuit (I2 C) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 549
16.6 Die USB-Schnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 551
16.7 Der IEC-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 555
16.7.1 Historie des IEC-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 555
16.7.2 Bezeichnungen des IEC-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 555
16.7.3 IEC-Bus-Komponenten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 556
16.7.4 Gerategrundfunktionen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 557
16.7.5 IEC-Bus-Leitungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 557
16.7.6 Bus-Logik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 559
16.7.7 Handshake-Verfahren (Dreidraht-Handshake) . . . . . . . . 560
16.7.8 Nachrichtenarten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 562
16.7.9 Schlusszeichen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 567
16.7.10 Statusabfrage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 567
16.7.11 IEC-Bus-Hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 568
16.8 VXI-Bus, PXI-Bus und MXI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 570
16.8.1 VXI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 571
16.8.2 Resource Manager (System Manager) . . . . . . . . . . . . . . . 573
16.8.3 Commander . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
16.8.4 Servant . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
16.8.5 Busgliederung/Teilbusse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
16.8.6 VXI- und IEC-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 574
16.8.7 PXI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 574
16.8.8 PCI-Express . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 577
16.8.9 PXI-Express (PXIe) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 578
16.8.10 MXI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 578
16.8.11 PXI MultiComputing (PXImc) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 580
16.8.12 Historie der bisher diskutierten Bus-Standards . . . . . . . 581

Inhaltsverzeichnis XXIX

17 Messdatenerfassung im Feld . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 583


17.1 Die speicherprogrammierbare Steuerung (SPS) . . . . . . . . . . . . . . 583
17.1.1 Aufbau einer SPS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 583
17.1.2 Programmstruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 583
17.1.3 Permanent-zyklischer Betrieb . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 584
17.1.4 Ausnahmen vom permanent-zyklischen Betrieb . . . . . . . 586
17.1.5 Besonderheiten der Programmierung . . . . . . . . . . . . . . . . 586
17.1.6 Programmiersprachen f
ur SPS nach IEC 61131-3 . . . . . 586
17.1.7 Beispiele f
ur die IEC-genormten SPSProgrammiersprachen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 588
17.2 Neue Entwicklungen bei Speicherprogrammierbaren
Steuerungen (SPS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 593
17.2.1 Vernetzung von Speicherprogrammierbaren
Steuerungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 593
17.2.2 Visualisierung von SPS-Daten und -Prozessen . . . . . . . . 597
17.2.3 Linux-basierte Speicherprogrammierbare Steuerungen . 602
17.2.4 SPS-Spezialklemmen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 603
17.2.5 EnOcean-Funkempfanger-Busklemmen . . . . . . . . . . . . . . 605
17.3 Einplatinen-Computer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 606
17.3.1 Einplatinen-Computer in der Mess- und
Automatisierungstechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 607
17.4 Hierarchie industrieller Bussysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 611
17.5 Vorschrift f
ur eine einheitliche Kommunikation: Das
ISO-Schichtenmodell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 612
17.6 Netzwerktopologien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 614
17.7 Bus-Zugrisverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 615
17.7.1 Klassizierung der Bus-Zugrisverfahren . . . . . . . . . . . . 616
17.8 Modulationsverfahren und Bitcodierung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 616
17.8.1 Alternierende Puls Modulation (APM) . . . . . . . . . . . . . . 616
17.8.2 Fehlererkennung und Datensicherung . . . . . . . . . . . . . . . 618
17.8.3 Bitcodierung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 619
17.9 Schnittstellenkonverter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 620
17.10 Der Feldbus (FAN) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 621
17.10.1 ASI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 624
17.10.2 CAN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 625
17.10.3 Flex Ray . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 628
17.10.4 PROFIBUS-DP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 630
17.10.5 FIP-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 633
17.10.6 INTERBUS-S . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 634
17.10.7 BITBUS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 636
17.10.8 KNX . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 637
17.10.9 LON (Local Operating Network) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 641
17.10.10DIN-Messbus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 642

XXX

Inhaltsverzeichnis

18 Vernetzung von Messdatenrechnern (Industrie-LAN, WAN)645


18.1 IP-Adressen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 646
18.2 Subnetzmasken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 647
18.3 Internet-Protokoll (IP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 648
18.4 Transmission Control Protocol (TCP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 648
18.5 Echtzeitfahigkeit des Ethernet . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 648

18.6 Ubergeordnete
Kommunikationsebenen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 649

18.7 Physikalische Ethernet-Ubertragung


. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 649
18.8 Ethernet-Telegrammstruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 650
18.9 Verbindung mehrerer lokaler Netze . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 650
18.10 Standort
ubergreifende Vernetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 652
18.10.1 Breitband-ISDN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 652
18.10.2 Datex-P . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 653
18.10.3 GSM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 653
18.10.4 Powerline-Kommunikation (Power Line
Communication, PLC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 654
18.10.5 Satellitenkommunikation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 655
18.10.6 Metropolitan Area Network (MAN) . . . . . . . . . . . . . . . . . 656
18.10.7 Wide Area Network (WAN) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 656
18.10.8 Hochgeschwindigkeits-Glasfasernetz FDDI . . . . . . . . . . . 657
18.11 Rechnernetze zur Messdaten
ubertragung . . . . . . . . . . . . . . . . . . 657
18.11.1 Spezielle Bussysteme zur Messdatenerfassung . . . . . . . . 658
18.11.2 Vernetzung von Messdatenerfassungssystemen
mittels Ethernet . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 658
18.12 Virtuelle Instrumentierung auf der Basis von USBMessmodulen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 660
18.12.1 Funktionsprinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 660
18.12.2 Beispiele f
ur USB-Messgerate . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 663
18.13 Ethernet-Nutzung zur Messdatenerfassung . . . . . . . . . . . . . . . . . 666
18.13.1 LXI - Ein neuer Standard f
ur die Messtechnik . . . . . . . . 666
18.13.2 Die technische Basis von LXI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 667
18.13.3 Die 3 Gerateklassen A, B und C des LXI-Standards . . . 669
18.13.4 Triggermoglichkeiten von LXI-Geraten . . . . . . . . . . . . . . 669
18.13.5 Triggerung gema IEEE-1588 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 671
18.13.6 Die aktuelle Situation des LXI-Standards . . . . . . . . . . . . 672
18.14 EtherCAT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 674
18.15 VPN - Virtual Private Network . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 677
19 Programmierung von Messdatenerfassungssystemen . . . . . . . 681
19.1 Allgemeine Bemerkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 681
19.2 IEC- und VXI-Bus-Kommunikation, SCPI-Standard . . . . . . . . . 682
19.2.1 Syntax der SCPI-Sprache . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 684
19.2.2 SCPI-Datenformate . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 687
19.3 Einsatz kommerzieller Software . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 688
19.4 Kategorien von Softwarelosungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 688

Inhaltsverzeichnis XXXI

19.4.1 Dialoggef
uhrte Komplettpakete (Fertiglosungen) . . . . . 688
19.4.2 Modul-Bibliotheken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 689
19.4.3 Graphikorientierte Entwicklungssysteme
(Programmgeneratoren) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 689
19.4.4 Systeme mit speziellen Kommandosprachen . . . . . . . . . . 690
19.5 LabVIEW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 691
19.6 LabWindows . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 695
19.7 MATLAB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 696
20 Geb
audeautomatisierung (Smart Home) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 701
20.1 Struktur des Gesamtsystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 702
20.2 Datenerfassung mit frequenzanaloger Schnittstelle . . . . . . . . . . . 703
20.3 Datenerfassung mit digitaler Schnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . 705
20.4 Datenerfassung mit energieautarker digitaler Funkschnittstelle 706
20.5 Lokale und weltweite Vernetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 709
20.5.1 LAN - lokales Netzwerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 709
20.5.2 Standort
ubergreifende Vernetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . 710
20.5.3 Weltweite Vernetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 711
20.6 Software . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 711
Literaturverzeichnis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 715
Index . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 723

1
Umfang und Bedeutung der Elektrischen
Messtechnik

1.1 Zur Historie und Bedeutung der Messtechnik


Die messtechnische Erfassung von physikalisch-technischen Gegenstanden und
Prozessen stellt zusammen mit der logischen Denkfahigkeit des Menschen, also
insbesondere auch der Fahigkeit, diese Objekte und Vorgange mathematisch
zu beschreiben, eine wesentliche Grundlage aller Natur- und Ingenieurwissenschaften dar. Schon der griechische Philosoph Platon (427-347 v. Chr.) hat auf
die groe Bedeutung der Messtechnik hingewiesen, als er im X. Buch seines
Werkes Der Staat schrieb [144]:

Dieselben Gegenstande erscheinen uns krumm oder gerade, je nachdem

wir sie in oder auer Wasser erblicken, ebenso hohl oder erhaben infolge der
Tauschung unseres Gesichtssinnes durch die Farben; und all dies deutet auf
eine Verwirrung in der Seele hin. (...)
Messen, Zahlen und Wagen zeigen sich dagegen als die willkommensten Helfer, so dass in uns nicht das scheinbar Groere oder Kleinere oder Zahlreichere
oder Schwerere von Ausschlag ist, sondern das Rechnende, Messende, Wagende.
Wie auch nicht!
Das ist die Aufgabe des vern
unftigen Teiles in unserer Seele.(...)
Der Teil, der auf Ma und Berechnung vertraut, ist wohl der beste Teil der
Seele?
Nat
urlich!
Sein Gegenteil gehort zu dem Schwachen in uns?
Notwendigerweise!
Zwischen der Messtechnik, deren grundlegende Aufgabe die experimentelle Bestimmung physikalischer Groen ist, und der Entwicklung der Industrielandschaft aber auch der kulturellen Entwicklung bestehen seit jeher groe
Abh
angigkeiten. Die Messtechnik spielte schon in der Antike eine zentrale
Rolle, insbesondere im Zusammenhang mit Messgroen, die Bestandteil des
t
aglichen Leben sind, wie z. B. Entfernungen oder das Gewicht von Waren.
Die entsprechenden Maeinheiten lieferte oft der menschliche Korper, wie u.a.

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_1

1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

die in fr
uheren Zeiten gebrauchlichen Einheiten Fu, Spanne oder Klaf

ter zeigen. Wie die Funde von Wagesteinen belegen, war das f
ur die Entwicklung der Ware-Geld-Beziehung notwendige, auf Gewichtseinheiten basierende Wiegen bereits Jahrtausende vor Christus eingef
uhrt. Eines der altesten, aus Babylon stammenden Masysteme enthielt auch schon Einheiten f
ur
die Gr
oen Lange (babylonische Elle), Flache, Volumen und Gewicht.

Um dem im Laufe der Jahrhunderte entstandenen Wildwuchs an Maeinheiten Einhalt zu gebieten, war es eine Forderung der Franzosischen Revolution,
dass einheitliche Mae vereinbart werden sollten. Schlielich wurde im Jahre
1799 die L
angeneinheit Meter als der vierzigmillionste Teil des Erdmeri
dians zun
achst in Frankreich, spater auch in Preuen und Sachsen, festgeschrieben, wahrend von der industriellen Entwicklung Englands die bekannten angels
achsischen Langenmaeinheiten ausgingen. Bis ins 19. Jahrhundert
hinein beschrankte man sich auf die Messung geometrischer, mechanischer
und thermischer Groen. F
ur die quantitative Erfassung weiterer wichtiger
Messgr
oen, wie z. B. die Ionendosis oder die Energiedosis von radioaktiver
Strahlung, standen bis dahin keine entsprechenden Messgerate zur Verf
ugung;
es bestand jedoch schon die Moglichkeit ihres qualitativen Nachweises.
Die Messtechnik hat auch ganz wesentlich zur Weiterentwicklung aller
Natur- und Ingenieurwissenschaften beigetragen. So verhalf beispielsweise die
Zeitmesstechnik zu Aussagen u
ber Unregelmaigkeiten bei der Erdrotation.
Heute ist die Messtechnik als ein zentrales Element der modernen Technologieund Industrielandschaft etabliert. Sie dient dort neben dem Warenaustausch
vor allem der Forschung und Entwicklung, der Fertigung sowie der Qualitatssicherung von Produkten. Eine Vielzahl technischer Funktionsablaufe muss
st
andig messtechnisch kontrolliert werden, um beispielsweise die gew
unschte
Qualit
at in der Fertigung zu erreichen oder auch um die notwendige Sicherheit
und Umweltvertraglichkeit von Prozessen zu gewahrleisten.
Ein Beispiel aus dem Bereich des Umweltschutzes zeigt auch, dass sich
manche der dort anstehenden Aufgaben erst mit der Entwicklung und Bereitstellung eines hochwertigen Messverfahrens losen lassen. So wurde am Institut
f
ur Hochfrequenztechnik der Universitat Erlangen ein Empfanger f
ur elektromagnetische Submillimeterwellen (Frequenzen im Terahertzbereich) entwickelt, welcher in Flugzeugen, die in groer Hohe iegen, eingesetzt werden kann, um dort Schadstokonzentrationen zuverlassig zu messen. Diese
Messungen basieren im Wesentlichen auf der Detektion elektromagnetischer
Strahlung, die bei einer Frequenz von 2,5 Terahertz von sog. Hydroxyl-Ionen
emittiert wird. Diese Hydroxyl-Ionen werden neben den Fluorkohlenwasserstoen (FCKW) als eine Substanz angesehen, die zum Abbau der Ozonschicht
f
uhrt.
Viele technische Fortschritte spiegeln sich in der Entwicklung von Messverfahren und dazugehorigen Messgeraten wider, die ihrerseits wiederum zu einer
Verbesserung des Kenntnisstandes auf dem Gebiet der Elektrotechnik beitragen. Eines der j
ungsten Beispiele daf
ur ist der Quanten-Halleekt, f
ur dessen
Entdeckung im Jahre 1985 der Nobelpreis an Prof. von Klitzing vergeben

1.2 Der Begri des Messens

wurde. Der Eekt konnte nur durch Bereitstellung und Nutzung einer sehr
hochwertigen Messtechnik entdeckt werden. Andererseits kann der QuantenHalleekt wiederum zur hochgenauen Denition der Einheit des ohmschen
Widerstandes genutzt werden, womit er zu einer groeren Prazision in der
Elektrischen Messtechnik beitragt.
In nahezu allen Disziplinen der Technik geht die entsprechende Messtechnik zunehmend in eine rein elektrische Messwertverarbeitung u
ber. Der allgemeine Trend besteht darin, f
ur die verschiedenen Messaufgaben Messwertaufnehmer zu entwickeln, welche die unterschiedlichsten nicht-elektrischen
Messgr
oen detektieren und in entsprechende elektrische Signale umsetzen.
Die weitere Verarbeitung dieser nunmehr elektrischen Signale (Messwerte) ist
dann weitgehend standardisiert und mittlerweile ein fester Bestandteil der
Elektrischen Messtechnik geworden. Der groe Vorzug der Elektrischen Messtechnik liegt dabei vor allem in der groen Prazision, mit der sich elektrische
Signale, etwa im Gegensatz zu mechanischen Groen, bei relativ geringem
Aufwand verarbeiten und speichern lassen.
Auch die Tatsache, dass sich die beiden Groen Frequenz und Zeit

mit Hilfe der Methoden der Elektrischen Messtechnik mit groer Genauigkeit
bestimmen lassen, bildet eine weitere Basis ihres Erfolges. So beruht beispielsweise das Prinzip des heute weltweit angewendeten Navigationssystems GPS
(Global Positioning System) auf einer prazisen Messung von Zeiten, in diesem
Fall von Laufzeiten, die ein elektromagnetisches Signal von einem in bekannter Position bendlichen Satelliten bis zu einem Empfangsort benotigt. An
diesem Empfangsort bendet sich ein portabler Empfanger, dessen geometrische Breiten-, Langen- und Hohenkoordinaten aus diesen Zeitmessungen mit
hoher Genauigkeit bestimmt werden konnen.

1.2 Der Begri des Messens


Unter Messen versteht man das quantitative Erfassen einer Groe, der sog.
Messgroe. Praziser formuliert heit Messen, eine zu messende Groe als Vielfaches einer allgemein anerkannten Einheitsgroe derselben physikalischen Dimension zu bestimmen, und zwar durch experimentellen Vergleich mit einer
Maverk
orperung dieser Einheit. Dabei bedienen wir uns sog. Messgerate.
Messger
ate konnen insbesondere auch den Teil der Natur erschlieen helfen,
f
ur den unsere Sinne keine Empndungen haben, wie z.B. der Schall im Ultraschallbereich oder alle Arten von ionisierender Strahlung. Zur Durchf
uhrung
von Messungen m
ussen die folgenden drei Voraussetzungen erf
ullt sein:

Existenz eines Zahlensystems


Denition einer Messgroe
Festlegung der Einheit.

Die Elektrische Messtechnik behandelt zunachst die Messung rein elektrischer


Gr
oen, wie Spannung, Strom, elektrische Leistung und Impedanz (Wider-

1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

stand, Induktivitat, Kapazitat). Nach der eigentlichen Gewinnung (Detektion) des Messsignals wird dieses verarbeitet, d. h. es wird u. a. kompensiert,
verstarkt,
ubertragen, linearisiert oder digitalisiert, bevor das Messergebnis
(Messwert) entweder

auf einer Anzeige (analog oder digital) ausgegeben,


mittels Schreiber oder Drucker dokumentiert oder
zur Regelung eines Prozesses benutzt wird.

Ein weiteres wichtiges Teilgebiet der Elektrischen Messtechnik beschaftigt sich


mit der Messung nicht-elektrischer Groen. Dazu bedient man sich sog. Sensoren (Aufnehmer, Messf
uhler, Detektoren), welche die jeweilige physikalische
Gr
oe in ein elektrisches Signal umwandeln, das dann leicht mit bewahrten
Methoden der Elektrischen Messtechnik weiterverarbeitet werden kann.
Zusammenfassend kann festgestellt werden, dass sich die Elektrische Messtechnik mit den folgenden Teilaufgaben beschaftigt:

Gewinnung des Messsignals, d. h. Detektion der (elektrischen oder nichtelektrischen) Messgroe und Umwandlung in ein f
ur die weitere Verarbeitung geeignetes elektrisches Signal

Verarbeitung und Ubertragung


des elektrischen Messsignals
Darstellung, Dokumentation und Speicherung der Messwerte.

Die Verarbeitung elektrischer Messsignale zeichnet sich gegen


uber den Messverfahren anderer Wissenschaftszweige durch folgende Vorz
uge aus:

leistungsarmes und damit r


uckwirkungsarmes Erfassen von Messgroen
groer Messbereichsumfang (hohe Dynamik)
einfache Verarbeitbarkeit der Messsignale mit Hilfe elektronischer
Schaltungen

leichte Ubertragbarkeit
und Speicherung der Messsignale mit
Standardverfahren der Nachrichtentechnik.

1.3 Begrisdenitionen in der Messtechnik


1.3.1 Allgemeine Begrie
Im Folgenden werden die wichtigsten Begrisdenitionen der Messtechnik
nach DIN 1319 (Grundbegrie der Messtechnik), VDI/VDE 2600 (Metrologie, Messtechnik) sowie DIN VDE 0410 (Bestimmungen f
ur elektrische Messger
ate) zusammengefasst:
Messen ist der experimentelle Vorgang, durch den ein spezieller Wert einer physikalischen Groe als Vielfaches einer Einheit oder eines Bezugswertes
ermittelt wird (DIN 1319).
Die Messgroe ist die physikalische Groe, deren Wert durch eine Messung
ermittelt werden soll (VDI/VDE 2600).

1.3 Begrisdenitionen in der Messtechnik

Der Messwert ist der gemessene spezielle Wert einer Messgroe, er wird als
Produkt aus Zahlenwert und Einheit angegeben (DIN 1319).
Das Messergebnis ist ein aus mehreren Messwerten einer physikalischen
Gr
oe oder aus Messwerten f
ur verschiedene Groen nach einer festgelegten
Beziehung ermittelter Wert oder Werteverlauf. Ein einzelner Messwert kann
aber auch bereits das Messergebnis darstellen (VDI/VDE 2600).
Messprinzip heit die charakteristische physikalische Erscheinung, die bei
der Messung benutzt wird (DIN 1319).
Messverfahren nennt man die spezielle Art der Anwendung eines Messprinzips (VDI/VDE 2600). Man unterscheidet dabei im Wesentlichen zwischen dem Ausschlagverfahren, bei dem der Ausschlag oder die Anzeige eines
Messwertes ein Ma f
ur die Messgroe ist (idealerweise proportional), und
dem Nullabgleichverfahren, bei dem die in Kap. 1.5.1 beschriebene Kompensationsmethode eingesetzt wird.
1.3.2 Messger
at und Messeinrichtung
Ein Messgerat liefert oder verkorpert Messwerte, auch die Verkn
upfung mehrerer voneinander unabhangiger Messwerte, z. B. das Verhaltnis von Messwerten (DIN 1319).
Eine Messeinrichtung besteht aus einem Messgerat oder mehreren zusammenh
angenden Messgeraten mit zusatzlichen Einrichtungen, die ein Ganzes
bilden (DIN 1319).
Als Hilfsgerate werden die Komponenten bezeichnet, die nicht unmittelbar
der Aufnahme, der Umformung oder der Ausgabe von Messwerten dienen.
Messsignale stellen Messgroen im Signalussweg einer Messeinrichtung
durch zugeordnete physikalische Groen gleicher oder anderer Art dar (VDI/
VDE 2600).
1.3.3 Messkette (Struktur einer elektrischen Messeinrichtung)
Eine komplette Messkette besteht aus den in Abb. 1.1 gezeigten Komponenten.
Grunds
atzlich besteht eine Messeinrichtung zur elektrischen Messung elektrischer bzw. nicht-elektrischer Groen aus den Messgeraten (Messgliedern), die
im Einzelnen folgende Aufgaben erf
ullen:

Aufnehmen der Messgroe


Weitergeben, Anpassen und Verarbeiten des Messsignals
Ausgeben des Messwertes.

Nach dem Gerateplan (Abb. 1.1) sind die hierf


ur notwendigen Messglieder in
einer Messkette zusammengeschaltet (VDI/VDE 2600, Bl. 3). Der Aufnehmer
wandelt die Messgroe entweder direkt oder u
ber andere physikalische Groen
in ein elektrisches Messsignal y1 um. Die Anpasser enthalten Messgerate, die
zwischen Aufnehmer und Ausgeber in der Messkette liegen. Dazu gehoren vor
allem Messverstarker und elektronische Rechengerate. Der Ausgeber gibt die

1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

Abb. 1.1. Struktur einer elektrischen Messeinrichtung nach VDI/VDE 2600

Messwerte z analog oder digital entweder direkt (d. h. sofort sichtbar und
verst
andlich) u
ber eine Anzeige, Schreiber bzw. Zahler oder aber indirekt,
d. h. nicht ohne Spezialvorrichtung lesbar, zur weiteren Informationsverarbeitung aus. Die Hauptaufgabe des Hilfsgerates ist es, die von den Messgeraten
eventuell benotigte Hilfsenergie zu liefern.

1.4 Vorschriften und Normen


In Tabelle 1.1 werden die wichtigsten nationalen und internationalen Institutionen angef
uhrt, die zur Normbildung und zur Denition von Vorschriften
Tabelle 1.1. Normbildende Institutionen und Standardisierungsgremien
ANSI
CCITT

American National Standards Institute, New York; USA/national


Comite Consultatif International Telegraphique et Telephonique,
Genf; international
CEE
Commission Internationale de Reglementation en vue
de lapprobation de lEquipment Electrique; Europa
CENELEC Comite Europeen de Coordination des Normes Electriques; Europa
DIN
Deutsches Institut f
ur Normung e. V., Berlin; national
EIA
Electronic Industry Association; USA/national
IEC
International Electrotechnical Commission; international
IEEE
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
New York; national/international
ISO
International Standards Organisation, Genf; international

OVE
Osterreichischer
Verband f
ur Elektrotechnik, Wien; national
VDE
Verband Deutscher Elektrotechniker e. V., Frankfurt; national
VDI
Verband Deutscher Ingenieure e. V., D
usseldorf; national
DKE
Deutsche Elektrotechnische Kommission im DIN und VDE; national

1.5 Klassizierung von Messmethoden

Tabelle 1.2. VDE-Vorschriften und DIN-Normen (Auswahl)


Norm

Inhalt

VDE 0410
VDE 0411
VDE 0414
VDE 0418
VDE 2600
DIN 1301
DIN 1304
DIN 1313
DIN 1319
DIN 1333
DIN 40108
DIN 40110
DIN 43710
DIN 43780
DIN 43802
DIN 43808
DIN 43821
DIN 43830
DIN 43850
DIN 5478
DIN 5483

Bestimmungen f
ur elektrische Messger
ate
Bestimmungen f
ur elektronische Messger
ate und Regler
Bestimmungen f
ur Messwandler
Bestimmungen f
ur Elektrizit
atsz
ahler
Metrologie (Messtechnik)
Einheiten
Formelzeichen
Physikalische Gr
oen und Gleichungen
Grundbegrie der Messtechnik
Zahlenangaben
Gleich- und Wechselstromsysteme
Wechselstromgr
oen
Thermospannungen und Werkstoe der Thermopaare
Genauigkeitsklassen von Messger
aten
Skalen und Zeiger f
ur elektrische Messinstrumente
Zungenfrequenzmesser
Widerstandsferngeber
Schreibende Messger
ate
Elektrizit
atsz
ahler
Mast
abe in graphischen Darstellungen
Zeitabh
angige Gr
oen

im Bereich der Elektrischen Messtechnik beitragen. In Tabelle 1.2 sind die


wichtigsten in der Elektrischen Messtechnik zu beachtenden Vorschriften und
Normen in tabellarischer Form zusammengefasst.

1.5 Klassizierung von Messmethoden


Eine Klassizierung von Messmethoden kann nach verschiedenen Kriterien
erfolgen. Die wichtigsten Klassizierungsmethoden werden in den folgenden
vier Abschnitten kurz beschrieben.
1.5.1 Ausschlagmethode - Kompensationsmethode
Bei der Ausschlagmethode wird die Messgroe direkt oder u
ber Zwischengr
oen in einen moglichst proportionalen Ausschlag umgewandelt, z. B. die
Winkelstellung eines Messgeratezeigers. Als Sonderfall kann dieser Ausschlag
auch in reiner Zahlendarstellung mit theoretisch unendlich vielen Nachkommastellen erfolgen. Ein charakteristisches Kennzeichen dieser Messmethode
ist der Entzug von Energie aus dem Messobjekt, was eine R
uckwirkung auf
die zu messende Groe zur Folge hat.

1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

Bei der Kompensationsmethode hingegen (Abb. 1.2) wird von der Messgroe
xE bzw. der daraus abgeleiteten Abbildungsgroe xB eine mittels einer Hilfsquelle erzeugte gleichartige und gleichgroe Kompensationsgroe xK (Vergleichsgr
oe) subtrahiert, so dass die Dierenz von Messgroe bzw. Abbildungsgr
oe und Kompensationsgroe gerade Null ergibt. Die Messgroe wird
dabei zun
achst mit Hilfe eines Aufnehmers in eine proportionale Abbildungsgr
oe xB umgewandelt. Die Kompensationsgroe mu sowohl einstellbar als
auch messbar sein. Da hierbei die zur Messung notwendige Energie aus der
Hilfsquelle und nicht aus dem Messobjekt stammt, ist diese Messmethode
r
uckwirkungsfrei, d.h. die Messgroe wird nicht durch Energieentzug wahrend
des Messvorganges verandert. Dem Nachteil des groeren geratetechnischen
Aufwandes stehen bei dieser Methode aber weitere Vorteile gegen
uber, wie
z. B. die Reduzierung des Storgroeneinusses beim Erzeugen der Kompensationsgr
oe in einer zweiten gleichartigen Messstrecke oder die leichte Realisierung groer Messbereiche [77].

Abb. 1.2. Signaluss bei der Kompensationsmethode

1.5.2 Analog - Digital


Bei den analogen Messmethoden wird die Messgroe durch eine eindeutige
und stetige Anzeigegroe (Messwert) dargestellt. Haug hat der Ausgeber
einer analog arbeitenden Messeinrichtung eine Skalenanzeige.
Im Gegensatz dazu wird bei den digitalen Messmethoden die Messgroe in
Form einer in festgelegten Schritten quantisierten Anzeigegroe dargestellt.
Der Ausgeber wird hier im Allgemeinen in Form einer Ziernanzeige oder
einer Bildschirmausgabe realisiert.
1.5.3 Kontinuierlich - Diskontinuierlich
Von kontinuierlichen Messvorgangen spricht man, wenn die Messgroe ohne
zeitliche Unterbrechung erfasst und auch dargestellt wird. Von einer diskon-

1.6 Die Informationstr


ager im Messsignal

tinuierlichen Messung ist die Rede, wenn die Messgroe nur zu bestimmten
(diskreten) Zeitpunkten erfasst (abgetastet) wird.
1.5.4 Direkt - Indirekt
Bei den direkten Messmethoden wird die Messgroe unmittelbar mit einer
Maverk
orperung derselben physikalischen Dimension verglichen. Bei den indirekten Methoden wird die Messgroe zunachst in eine proportionale Zwischengr
oe umgewandelt und erst diese wird schlielich mit der Maverkorperung verglichen. Die Bestimmung des Volumens eines Zylinders u
ber die Messung seines Durchmessers und seiner Lange ist ein typisches Beispiel f
ur eine
indirekte Messung.

1.6 Die Informationstr


ager im Messsignal
Der Tr
ager der Information in der Messtechnik ist das Messsignal, d. h. eine physikalische Groe mit einem informationstragenden Parameter, der eine
Information u
ber eine Messgroe aufnehmen kann. In der Elektrischen Messtechnik werden typischerweise elektrische Spannungen bzw. elektrische Strome
als Informationstrager benutzt. Dabei werden von einem Signal folgende Eigenschaften verlangt:

Das Signal ist eine physikalische Groe (Signaltrager, Informationstrager),


die sich zeitlich verandern lasst.
Der Signaltrager besitzt einen wahrnehmbaren Parameter (Informationsparameter), der die Werte der Messgroe eindeutig und reproduzierbar
wiedergeben kann, d. h. die Messgroe wird auf den Informationsparameter in mathematisch eineindeutiger Weise abgebildet.

Da in der Elektrischen Messtechnik die Messsignale im Allgemeinen in Form


elektrischer Spannungen bzw. elektrischer Strome verarbeitet werden, bieten
sich alle Standardformen des Informationsparameters an, die aus der elektrischen Nachrichtentechnik bekannt sind. Die den Messwert beschreibenden
Informationen werden dabei auf eine der folgenden Arten codiert:

Abb. 1.3. a) Amplitudenmoduliertes Signal (Der Messwert ist proportional zur Momentanamplitude.), b)Frequenzmoduliertes Signal (Der Messwert ist proportional
zur Momentanfrequenz.)

10

1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

Amplitudenanaloges Signal (Amplitudenmodulation - AM)


Messwert Amplitude (Abb. 1.3a)
Frequenzanaloges Signal (Frequenzmodulation - FM)
Messwert Frequenz eines zeitkontinuierlichen Signals oder einer Impulsfolge (Abb. 1.3b)
Zeitanaloges Signal (Pulsdauermodulation - PDM)
Messwert Pulsdauer (Abb. 1.4a)
Digitales Signal (Pulscodemodulation - PCM)
Der Messwert wird digital codiert (Abb. 1.4b).

Abb. 1.4. a) Pulsdauermoduliertes Signal (Der Messwert ist proportional zur Pulsdauer tX .), b) Pulscodemodulation (Der Messwert ist in Form einer Dualzahl codiert.)

2
Die Grundlagen des Messens

2.1 Masysteme, Einheiten, Naturkonstanten


2.1.1 Masysteme
Die Messung einer physikalischen Groe besteht im Vergleich mit einer Maeinheit, d. h. die physikalische Groe ergibt sich stets als Produkt aus einem
Zahlenwert und einer Maeinheit:
Physikalische Gr
oe = Zahlenwert Einheit
Man ist bestrebt, die Einheiten durch unvergangliche atomare Groen zu denieren, die prinzipiell an jedem Ort und zu jeder Zeit mit hoher Genauigkeit
bestimmt werden konnen. Die Generalkonferenz f
ur Mae und Gewichte hat
daher im Jahre 1960 das inzwischen weltweit eingef
uhrte Syst`eme Interna
tional dUnites (SI-System) vorgeschlagen, dessen Anwendung auch im deutschen Sprachraum gesetzlich vorgeschrieben ist. Das System deniert zunachst
die Basisgroen und die dazugehorigen Basiseinheiten, welche beide in Tabelle 2.1 zusammengefasst werden.
Tabelle 2.1. SI-Basisgr
oen und SI-Basiseinheiten
Basisgr
oe

Formelzeichen Basiseinheit Einheitenzeichen

L
ange
Masse
Zeit
Stromst
arke
Temperatur
Lichtst
arke
Stomenge

l
m
t
I
T
Iv
n

Meter
Kilogramm
Sekunde
Ampere
Kelvin
Candela
Mol

m
kg
s
A
K
cd
mol

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R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_2

12

2 Die Grundlagen des Messens

Die Basiseinheiten der sieben Basisgroen sind im SI-System exakt festgelegt


worden. Die entsprechenden Denitionen werden in der folgenden Aufstellung
beschrieben:

Mechanik
1 Meter (L
ange)
L
ange der Strecke, die Licht im Vakuum wahrend des Zeitintervalls von
(1/299 792 458) Sekunden durchlauft (1983).
1 Kilogramm (Masse)
Masse des internationalen Kilogrammprototyps (1889).
1 Sekunde (Zeit)

Die 9 192 631 770fache Periodendauer der dem Ubergang


zwischen den
beiden Hyperfeinstrukturniveaus des Grundzustandes von Atomen des
Nuklids 133 Cs entsprechenden Strahlung (1967).
Elektrotechnik
1 Ampere (Stromst
arke)
St
arke eines zeitlich unveranderlichen elektrischen Stromes, der, durch
zwei im Vakuum parallel im Abstand von 1 m voneinander angeordnete, geradlinige, unendlich lange Leiter von vernachlassigbar kleinem,
kreisformigem Querschnitt ieend, zwischen diesen Leitern pro 1 m
Leiterlange elektrodynamisch die Kraft 0, 2 106 N hervorrufen w
urde
(1948).
Thermodynamik
1 Kelvin (Temperatur)
ist der 273,16te Teil der thermodynamischen Temperatur des Tripelpunktes des Wassers (1967).
Optik
1 Candela (Lichtst
arke)
ist die Lichtstarke in einer bestimmten Richtung einer Strahlungsquelle,
die monochromatische Strahlung der Frequenz 540 1012 Hertz aussendet und deren Strahlstarke in dieser Richtung (1/683) Watt je Steradiant betragt (1979).
Chemie
1 Mol (Stomenge)
ist die Stomenge eines Systems bestimmter Zusammensetzung, das
aus ebenso vielen Teilchen besteht, wie Atome in (12/1000) kg des Nuklids 12 C enthalten sind (1971).

2.1 Masysteme, Einheiten, Naturkonstanten

13

2.1.2 Naturkonstanten
Zahlenwerte und Einheiten von Naturkonstanten werden derzeit durch das
System der Einheiten, das SI-System, festgelegt (Tab. 2.2). So ergibt sich
beispielsweise aus der Denition der Einheit der elektrischen Stromstarke die
magnetische Feldkonstante zu 0 = 4 107 Vs/Am = 1, 2566 106 Vs/Am
[163]. Es ist aber zu erwarten, dass in Zukunft sieben ausgewahlte physikalische Konstanten in der Hierarchie der Metrologie u
ber den Basiseinheiten
stehen. Bez
uglich der SI-Basiseinheiten Meter und Sekunde ist dies schon seit
einigen Jahrzehnten der Fall.
Tabelle 2.2. Wichtige Naturkonstanten
Naturkonstante
Elektrische Elementarladung
Elektrische Feldkonstante
Lichtgeschwindigkeit im Vakuum
Magnetische Feldkonstante
Masse des Elektrons
Plancksches Wirkungsquantum

Zeichen
e
0
c
0
m0
h

Zahlenwert
19

1, 6022 10
8, 8542 1012
299 792 458
1, 2566 106
9, 1095 1031
6, 6262 1034

Einheit
As
AsV1 m1
ms1
VsA1 m1
kg
Js

2.1.3 Das SI
Das SI besteht aus den sieben Basiseinheiten Kilogramm, Meter, Sekunde,
Ampere, Kelvin, Mol und Candela und daraus abgeleiteten Einheiten. Die abgeleiteten Einheiten lassen sich als Produkte von Potenzen der Basiseinheiten
denieren, daher ist das SI ein sog. koharentes System.
Die einzelnen Denitionen der Basiseinheiten sind aus aktueller Sicht vollig
unterschiedlich angelegt: Wahrend sich das Kilogramm noch auf den Internationalen Kilogramm-Prototypen beim Internationalen B
uro f
ur Ma und Gewicht (BIPM) in Paris, also einen Artefakt bezieht, ist die Ampere-Denition
in abstrakter Weise, d. h. experimentell nicht reproduzierbar, mit dem Wert
der magnetischen Feldkonstante verbunden. Dahingegen sind die Grundlagen
der Meter- und der Sekundendenition bereits Naturkonstanten, namlich die
Lichtgeschwindigkeit bzw. eine durch Hyperfeinwechselwirkung entstehende

Ubergangsfrequenz
zwischen Energieniveaus des Atoms 133 Cs.
Das derzeitige SI erf
ullt die heutigen Bed
urfnisse von Wissenschaft und
Technik, ist aber von der Idealvorstellung, immerwahrender Konstanz in

Zeit und Ort sowie (experimenteller) Nachvollziehbarkeit f


ur alle Volker

weit entfernt [67].

14

2 Die Grundlagen des Messens

2.1.4 Das k
unftige SI
Das k
unftige oder neue SI wird, mit Ausnahme der SI-Basiseinheit Candela,
der Einheit der Lichtstarke, alle Basiseinheiten mit Bezug auf Werte von Naturkonstanten denieren, davon ausgehend, dass diese Naturkonstanten, oder
auch einfach physikalische Konstanten genannt, zumindest nach menschlichem
Ermessen konstant u
ber Zeit und Ort sind. Zugleich soll ein konsistenter Denitionsansatz die Verstandlichkeit und Akzeptanz des Systems fordern sowie
es zumindest vom Grundsatz her f
ur Alle zuganglich machen.

Uber
jegliche Anderungen
des SI entscheidet die Generalkonferenz der Meterkonvention auf der Grundlage von Empfehlungen des Comite International
des Poids et Mesures (CIPM). Das CIPM hat sich nun schon soweit festgelegt,
dass das Meter (weiterhin) auf der Basis des Wertes der Lichtgeschwindigkeit
c deniert werden wird, das Kilogramm k
unftig mit Bezug auf den Wert der
Planck-Konstante h, die Sekunde (weiterhin) auf die Frequenz einer Strah
lung, die aus dem Ubergang
zwischen zwei Hyperfein-Strukturniveaus des
Grundzustandes von Atomen eines bestimmten Nuklids resultiert, das Ampere auf die Elementarladung e, das Kelvin auf die Boltzmann-Konstante k und
das Mol auf die Avogadrozahl NA [34][35]. Abbildung 2.1 illustriert diesen
Ansatz.
U=0

c, h, v, e, kB, NA, Kcd

Denierende Konstanten
(unsicherheitsfrei)

m, kg, s, A, K, mol, cd

SI-Basiseinheiten
(unsicherheitsbehaftet)

Messunsicherheit
(in Pfeilrichtung
ansteigend)

Pa, N, Hz, , W, ...


abgeleitete Einheiten
(unsicherheitsbehaftet)

0, R, , 0, NL, F, ...
andere physikalische Konstanten
(unsicherheitsbehaftet)

Weitergabe der Einheiten an


Wirtschaft und Gesellschaft

Abb. 2.1. Das neue SI-Einheiten-System: Zuordnung von Einheiten zu Konstanten

Die Denition eines neuen SI soll mit Blick auf evtl. gravierende wirtschaftliche Auswirkungen keinesfalls zu Skalenspr
ungen in Bezug auf das derzeitige SI f
uhren, wie das CIPM ausdr
ucklich fordert. Daher sind zunachst die
Werte der o. a. Konstanten mit hochster Genauigkeit auf der Grundlage des
derzeitigen SI zu bestimmen und international, moglichst auf experimentell

2.1 Masysteme, Einheiten, Naturkonstanten

15

unterschiedlichen Wegen, zu verizieren. Die Konsistenz der noch nicht neu


festgelegten Werte wird dann durch eine Ausgleichsrechnung der CODATA,
einer international anerkannten Expertenkommission, hergestellt werden.
V
ollig neu konnte auch die Art Denition der Basiseinheiten selbst werden. Es ist nicht auszuschlieen, dass eine sog. Gruppendenition Anwendung
ndet, die etwa wie folgt strukturiert und formuliert sein konnte:
Die Sekunde, Symbol s, ist die SI-Einheit der Zeit. Das Meter, Symbol m,
ist die SI-Einheit der Lange. Das Kilogramm, Symbol kg, ist die SI-Einheit
der Masse. Das Ampere, Symbol A, ist die SI-Einheit der Stromstarke. Das
Kelvin, Symbol K, ist die SI-Einheit der Temperatur. Das Mol, Symbol mol,
ist die SI-Einheit der Stomenge eines spezizierten elementaren Teilchens,
welches ein Atom, ein Molek
ul, ein Ion, ein Elektron oder ein anderes Partikel oder eine Gruppe von Partikeln sein kann. Die Candela, Symbol cd, ist
die Einheit der Lichtintensitat in einer gegebenen Richtung. Diese Einheiten sind deniert durch die xen numerischen Werte der Casium-Frequenz zu
uckt in der Einheit s1 , der Lichtgeschwindigkeit in
9, 192631770 109 ausgedr
uckt in der Einheit m s1 , der PlanckVakuum zu 2, 99792458 108 ausgedr
34
Konstante zu 6, 62607(0040) 10 ausgedr
uckt in der Einheit kg m2 s1 , der
19
Elementarladung zu 1, 60217(66208) 10
ausgedr
uckt in der Einheit A s,
uckt in der Einheit
der Boltzmann-Konstante zu 1, 3806(4852) 1023 ausgedr
kg m2 s2 K1 , der inversen Avogadrozahl zu 1/6,02214(0857) 1023 ausgedr
uckt in der Einheit mol, der Lichtausbeute einer monochromatischen Strahlung der Frequenz 540 1012 Hz zu 683 (Photometrisches Strahlungsaquivalent)
ausgedr
uckt in der Einheit kg1 m2 s3 cd sr. 1
Es wird in den Denitionen also keine experimentelle Grundlage f
ur die
Realisierung der Denitionen festgelegt werden. Diese werden sinnvollerweise
auf den derzeit entwickelten leistungsfahigen Experimenten zur Bestimmung
der physikalischen Konstanten beruhen und in einem vom CIPM zu verabschiedenden Mise en Pratique, also in der Hierarchie eine Stufe tiefer angesiedelt sein. Ziel dieser Strategie ist es, den Nationalen Metrologie-Instituten
eine m
oglichst hohe Flexibilitat bei Realisierung der Einheiten einzuraumen.
Eine weitere Konsequenz dieser voraussichtlichen k
unftigen Neufassung wird
sein, dass den auf xen Werten der Konstanten fuenden SI-Basiseinheiten
selbst eine Unsicherheit quantitativ zuzuordnen ist, resultierend aus der verbleibenden und unvermeidlichen Unvollkommenheit eines jeden Experiments.
Die derzeit f
ur Elektrotechniker besonders interessanten Experimente zur Bestimmung der quantitativen Zusammenhange von Planck-Konstante und Kilogramm, von Elementarladung und Ampere sowie von Boltzmann-Konstante
und Kelvin seien hier kurz benannt:
1

Die hier angegebenen Werte sind weiterhin Gegenstand aufw


andiger experimenteller Forschung und keinesfalls schon die Werte, die die Generalkonferenz f
ur Ma
und Gewicht der Internationalen Meterkonvention verabschieden wird. Sie dienen
lediglich einer ersten Orientierung. Die Werte in Klammern werden endg
ultig von
der CGPM im Ergebnis der internationalen Experimente und des erforderlichen
Werteausgleichs festgelegt.

16

2 Die Grundlagen des Messens

Planck-Konstante und Kilogramm


Die neue Denition der SI-Basiseinheit Kilogramm (kg) soll auf die PlanckKonstante h zur
uckgef
uhrt werden. Aus der Anzahl der Atome eines hinsichtlich seiner Masse und seines Volumens sehr genau (rel. Unsicherheit besser als 1 108 ) bekannten Siliziumskorpers, der gut bekannten
Rydberg-Konstanten sowie dem Verh
altnis der relativen atomaren Masse des Siliziums zu der des Elektrons kann die Planck-Konstante errechnet werden. Objekte zur experimentellen Bestimmung der PlanckKonstanten h sind als nahezu perfekte gefertigte Kugeln mit einer Masse
von 1 kg, die jeweils aus einem hochreinen isotopenangereicherten Silizium28-Einkristall (Isotopenreinheit 99,998 %) hochster Gitterperfektion bestehen. Masse und Volumen sowie die Oxidschicht an der Kugelober
ache sind genauestens gemessen und bekannt. Das Gleiche gilt f
ur die
eektive atomare Masse des Siliziums. Die indessen erreichte rel. Unsicherheit f
ur den mit diesem Experiment ermittelten Wert der PlanckKonstante ist kleiner als 2 108 . An der Neubestimmung der Konstanten auf dem sog. Silizium-Pfad sind f
uhrend die nationalen Metrolo
gieinstitute Deutschlands, die Physikalisch-Technische Bundesanstalt in
Braunschweig und Berlin (PTB), Italiens (IMGC), Japans (NMIJ) der
USA (NIST) und Kanadas (NRC) sowie das Internationale B
uro f
ur Ma
und Gewicht in Paris (BIPM) beteiligt. Das isotopenangereicherte Silizium
kommt aus der Russischen Foderation. Neben der Bestimmung der PlanckKonstante ermoglicht der Silizium-Pfad die Bestimmung der Avogadro
zahl und bildet damit auch die Grundlage f
ur die Denition der Einheit
der Stomenge, das Mol.
F
ur die k
unftige Massedenition auf dem sog. Silizium-Pfad kann man
dann in umgekehrter Richtung vorgehen: Die Zahl der Si-Atome N in
einem makroskopischen Kristall (von angenommen vollig isotopenreinem
Silizium) ware dann
N = 8VS /a(28 Si)3

(2.1)

mit
8:
Zahl der Si-Atome pro Elementarzelle
a(28 Si)3 : Volumen einer Si-Elementarzelle
Volumen der Kugel.
VS :
Die Masse der Kugel ergabe sich zu
ms = N m(28 Si) .

(2.2)

Da der experimentell ermittelte Wert h/m(28 Si) mit hoher Genauigkeit


bekannt ist, kann man schlielich als Bestimmungsgleichung schreiben
ms = h N

m(28 Si)
.
h

(2.3)

2.1 Masysteme, Einheiten, Naturkonstanten

17

Ein alternatives Experiment zur Bestimmung der Planck-Konstante und


sp
ater, nach Neudenition, der Darstellung des Kilogramms, ist mithilfe
der sog. Wattwaage moglich. Hierbei wird eine Spule bestromt (Strom
durch Spule: I0 ), so dass ein Magnetfeld entsteht, das mit der daraus resultierenden Magnetkraft einen Probekorper in der Schwebe halt. In diesem
Magnetfeld wird eine weitere Spule mit denierter Geschwindigkeit bewegt
und deren dabei induzierte Spannung U mit dem Strom I0 multipliziert.
Daraus ergibt sich eine sehr genau messbare Leistung. Mit der ebenfalls
hochgenau zu bestimmenden lokalen Erdbeschleunigung g an dem Messort l
asst sich aus der wirkenden kinetischen und der potenziellen Energie
des Probekorpers (in Verbindung mit den Denitionen f
ur das Meter und
die Sekunde) die Planck-Konstante ermitteln und festlegen. Eine groe
experimentelle Herausforderung ist dabei die Bestimmung von Weg und
Geschwindigkeit der bewegten Spule mit extrem geringer Messunsicherheit.
Elementarladung und Ampere
Das Ampere (1 A) entspricht dem Fluss von rund 1 1018 Elektronen pro
Sekunde (s. o.). Da die SI-Basiseinheit Sekunde mit einer rel. Unsicherheit
von besser als 1 1014 deniert werden kann, ist es denk- und realisierbar,
das Ampere durch das Zahlen von Elektronen in einem bestimmten Zeitintervall zu denieren bzw. in der derzeitigen Phase auf der Grundlage des
geltenden SI den Wert der Elementarladung e zu bestimmen. Um einen
entsprechenden messbaren Strom zu erzeugen, wurden sog. Einzelelektronenpumpen (SET-Devices; SET=Single Electron Tunneling) entwickelt,
die mit sehr hoher Taktfrequenz Einzel-Elektroden durch eine FeldeektHalbleiteranordnung durchtunneln und zugleich detektieren. Die erreich
bare relative Standardunsicherheit liegt derzeit schon unter 1 108 . Das
Hauptproblem besteht jedoch darin, dass die solcherart mit SET-Devices
erzeugten Strome noch zu schwach sind (kleiner 106 A) und damit noch
nicht den mit hoher Genauigkeit klassisch messbaren Bereich erreichen.
Boltzmann-Konstante und Kelvin
Die Denition der Einheit Kelvin (K) wird auf die Boltzmann-Konstante k
zur
uckgef
urt werden. Die Boltzmann-Konstante wird derzeit international
nach mehreren physikalischen Prinzipien bestimmt, aus deren Mittel sie
einmal festgelegt werden soll. Das am haugsten angewandte Messprinzip ist das der akustischen Gasthermometrie . Die Physikalisch-Technische
Bundesanstalt (PTB) in Braunschweig verwendet alternativ ein Dielektrizit
atskonstanten-Gasthermometer. Die dabei mit einer Messunsicherheit
von 4 ppm (4 106 ) ermittelte Boltzmann-Konstante betragt nach derzeitigem Stand
J
k = 1, 380 648 52 1023 .
(2.4)
K

18

2 Die Grundlagen des Messens

2.1.5 Abgeleitete Einheiten


Durch Multiplikation oder Divison der Basiseinheiten werden die f
ur die anderen physikalischen Groen benotigten Einheiten abgeleitet, d. h. das SI-System
der Einheiten ist ein sog. koharentes System. Einige wichtige und haug benutzte abgeleitete Einheiten haben einen eigenstandigen Namen (Tab. 2.3),
wie z. B. der Druck p, gemessen in der Einheit Pascal (Pa; 1 Pa = 1 N m2 ;
1 N = 1 kg m s2 ) und die (elektrische) Leistung Watt (W; 1 W = 1 J s1 ; 1 J
= 1 N m). Andere wiederum werden nur in Form ihrer multiplikativ verkn
upften Basiseinheiten ausgedr
uckt, wie beispielsweise die magnetische Feldstarke
H mit der Einheit Ampere/Meter (A/m). Durch Vorsatze entstehen dezimale
Vielfache oder Teile von Einheiten (Tab. 2.4), z. B. das Megapascal (MPa),
das 106 Pa entspricht, oder das Millimeter (mm), das 103 m entspricht.

2.2 Gr
oen- und Zahlenwertgleichungen
Die mathematische Beziehung zwischen physikalischen Groen wird durch
Gleichungen beschrieben. Man spricht von Groengleichungen, wenn sie ausschlielich den Zahlenfaktor  1 enthalten. Die elektrische Energie beispielsweise ist gegeben durch die Groengleichung (2.5). Darin bezeichnen U die
Gleichspannung, gemessen in Volt (V), I den Gleichstrom, gemessen in Ampere (A), und t die Zeit, gemessen in Sekunden (s)
E = U It .

(2.5)

Bei Verwendung koharenter Einheiten gelten f


ur die Einheiten die gleichen
Formeln. Gleichung (2.5) resultiert also in folgender Einheitengleichung
1 Ws = 1 VAs = 1 Nm .

(2.6)

In Zahlenwertgleichungen hingegen werden nicht-koharente Einheiten verkn


upft, wie z. B. bei der Berechnung der elektrischen Energie in der Einheit
Kilowattstunde (kWh)
E (kWh) = 0, 278 106 U (V) I (A) t (s) = 0, 278 106 E (Ws) .

(2.7)

Bei Zahlenwertgleichungen m
ussen die Einheiten mit angegeben werden. Verschiedene Einheiten werden in einer Einheitengleichung verkn
upft
1 kWh = 1000 VA 3600 s =

1
VAs .
0, 278 106

(2.8)

2.2 Gr
oen- und Zahlenwertgleichungen

19

Tabelle 2.3. Abgeleitete SI-Einheiten mit eigenst


andigen Namen
Gr
oe

Formel- Abgeleitete
zeichen SI-Einheit

Beziehung
zu SI-Einheiten

ebener Winkel
r
aumlicher Winkel
Frequenz
Kraft
Druck

f,
F
p

Radiant
Steradiant
Hertz
Newton
Pascal

rad
sr
Hz
N
Pa

1 rad
1 sr
1 Hz
1N
1 Pa

Energie, Arbeit,
W
armeenergie
Leistung,
Energiestrom
Ladung
Spannung
Widerstand
Leitwert
Kapazit
at

Joule

1J

Watt

W 1W

Q
U
R
G
C

Coulomb
Volt
Ohm
Siemens
Farad

C
V

S
F

magn. Fluss

Weber

Wb 1 Wb

magn. Flussdichte

Tesla

1T

Induktivit
at

Henry

1H

Lichtstrom
Beleuchtungsst
arke

Ev

Lumen
Lux

lm 1 lm
lx 1 lx

Aktivit
at einer radio- A
aktiven Substanz
Energiedosis
D

1C
1V
1
1S
1F

Becquerel Bq 1 Bq
Gray

=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=

1 m m1
1 m2 m2
1 s1
1 kg m s2
1 N m2
1 kg m1 s2
1 Nm
1 kg m2 s2
1 Nm s1
1 kg m2 s3
1 As
1 kg m2 s3 A1
1 kg m2 s3 A2
1 s3 A2 kg1 m2
1 As V1
1 A2 s4 kg1 m2
1 Vs
1 kg m2 s2 A1
1 V s m2
1 kg s2 A1
1 Wb A1
1 Vs A1
1 kg m2 s2 A2
1 cd sr
1 lm m2
1 cd sr m2
1 s 1

Gy 1 Gy = 1 J kg 1
= 1 m2 s2

Tabelle 2.4. Vors


atze zur Bezeichnung von dezimalen Vielfachen und Teilen von
Einheiten
Vorsatz Zeichen Zahlenwert Vorsatz Zeichen Zahlenwert
Atto
Femto
Piko
Nano
Mikro
Milli
Zenti
Dezi

a
f
p
n

m
c
d

1018
1015
1012
109
106
103
102
101

Deka
Hekto
Kilo
Mega
Giga
Tera
Peta
Exa

da
h
k
M
G
T
P
E

10+1
10+2
10+3
10+6
10+9
10+12
10+15
10+18

3
Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation

und Vierpol-Ubertragungsverhalten

3.1 Fourier-Transformation
Fourierreihen periodischer Funktionen
Wir beginnen mit der Beschreibung periodischer Funktionen mit Hilfe von
Fourier-Reihenentwicklungen und leiten daraus die Beschreibung auch nichtperiodischer Funktionen mittels der Fourier-Transformation ab.
Die periodische Funktion f (t) = f (t + T ) lasst sich bekanntlich in Form
einer trigonometrischen Reihe angeben [45]

a0 
+
(a cos(0 t) + b sin(0 t)) ,
2
=1

f (t) =

(3.1)

wobei sich die Fourierkoezienten a und b mit


a =

2
T

b =

2
T

+T /2

T /2

f (t) cos (0 t) dt

= 0, 1, 2,

(3.2)

f (t) sin (0 t) dt

= 1, 2,

(3.3)

+T /2

T /2

berechnen lassen und T die Periodendauer darstellt.


Eine alternative Darstellung kann in Form einer Cosinus-Reihe mit den
Koezienten c und Phasenwinkeln erfolgen
f (t) =

c cos(0 t + ) mit

0 = 0 .

(3.4)

=0

Mit der bekannten Beziehung


cos x =

1 jx
(e + ejx )
2

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_3

(3.5)

22

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

l
asst sich daraus eine aquivalente Exponentialreihe ableiten

f (t) =

d ej0 t

(3.6)

1
c ej ;
2
und d0 = c0 .

d = d =

mit d =

1
c ej
2

(3.7)
(3.8)

Um die komplexwertigen Koezienten d aus der Funktion f (t) zu erhalten,


l
osen wir Gl. (3.6) nach d auf. Dazu multiplizieren wir beide Seiten mit
ej0 t ( Z) und integrieren u
ber eine Periode (Periodendauer T = 2/0 )


f (t)e

j0 t

dt =

d ej()0 t dt .

(3.9)

Auf der rechten Seite lassen sich Integral und Summe vertauschen und d
kann vor das Integral gezogen werden. F
ur das Integral gilt dann

 T
2
0 f
ur =
.
(3.10)
ej()0 t dt =
, wenn 0 =
T f
ur =
T
0
Daraus folgt unmittelbar


f (t)ej0 t dt = T d .

(3.11)

Jetzt ersetzen wir noch durch , so dass sich die Koezienten folgendermaen berechnen lassen

1 T
d =
f (t)ej0 t dt.
(3.12)
T 0

Ubergang
zur Fourier-Transformation
Wir betrachten noch einmal die Exponentialentwicklung (Gl. (3.6)) und f
ugen
einige g
unstige Erweiterungen ein (s. auch [188], [189])
f (t) =

1  2d j0 t
e
0 .
2 = 0

(3.13)

In Gl. (3.12) verschieben wir die Integrationsgrenzen um eine halbe Periode


1
d =
T

T /2

T /2

f (t)ej0 t dt

mit

T =

2
.
0

(3.14)

Die Verallgemeinerung auf nicht-periodische Funktionen erreicht man, indem


man die Periodendauer T gehen lasst. Die diskreten Frequenzen 0

3.1 Fourier-Transformation

23

werden ersetzt durch die kontinuierliche Frequenz und die endlichen Frequenzschritte 0 durch das Dierential d.
Wenn man in Gl. (3.14) den Ausdruck T = 2/0 auf die linke Seite
bringt, erh
alt man die Fourier-Transformierte F (j) der Zeitfunktion f (t)

2d
=
f (t)ejt dt = F (j).
(3.15)
0

Zur R
ucktransformation wird in Gl. (3.13) die Summe u
ber die diskreten
ersetzt durch ein Integral u
ber . Wir setzen dementsprechend die FourierTransformierte F (j) nach Gl. (3.15) ein und erhalten die Fourier-R
ucktransformation (inverse Fourier-Transformation)

1
f (t) =
F (j)ejt d .
(3.16)
2
Es sei noch angemerkt, dass die Fourier-Transformation bzw. die FourierR
ucktransformation symbolisch folgendermaen geschrieben wird
F (j) = F {f (t)}
f (t) = F 1 {F (j)} .

(3.17)
(3.18)

Die absolute Integrierbarkeit einer Funktion f (t) ist hinreichende Bedingung


f
ur die Existenz ihrer Fouriertransformierten

|f (t)|dt < .
(3.19)
0

Beispiele zur Fourier-Transformation


Gegeben sei folgende Funktion

f1 (t) = pT (t) =

1
0

f
ur T t T
,
sonst

(3.20)

welche einen Rechteckimpuls beschreibt. Die Fourier-Transformierte dieser


Funktion l
asst sich mit Gl. (3.15) leicht berechnen

F 1 (j) =

ejt dt =

2
sin(T ) .

(3.21)

Die Anwendung des Satzes von LHospital liefert an der Stelle = 0 den
Grenzwert 2T . Abbildung 3.1 zeigt die Darstellung dieser Funktion im Zeitund Frequenzbereich.
Weiterhin sei ein zeitlich unendlich andauerndes Sinus-Signal gegeben
f2 (t) = sin 0 t.

(3.22)

24

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

p (t)
T

-T

Re {F1(j)}
2T

/T

Im {F1(j)} = 0

/T

2/T

Abb. 3.1. Der Rechteckimpuls im Zeit- und Frequenzbereich

Die Fourier-Transformierte dieses Signals lautet


F 2 (j) = j [( + 0 ) ( 0 )] =

[( 0 ) ( + 0 )] ,
j

(3.23)

wobei dem Dirac-Sto (s. Kap. 3.4) entspricht. Das Spektrum dieses Signals
ist in Abb. 3.2 dargestellt. Es enthalt nur einen Anteil bei der Frequenz 0
bzw. 0 .
Im {F2 (j)}

Re {F2 (j)} = 0
0
0

Abb. 3.2. Das Sinussignal im Frequenzbereich

3.2 Ausgleichsvorg
ange in linearen Netzwerken

25

Nun wollen wir durch Multiplikation der beiden Signale einen Teil des Sinussignals ausschneiden
f3 (t) = f1 (t) f2 (t) = pT (t) sin 0 t.

(3.24)

Die Multiplikation im Zeitbereich entspricht einer Faltung im Frequenzbereich


mit dem Vorfaktor 1/2 (s. Kap. 3.5.4), wodurch man leicht die FourierTransformierte F 3 (j) erhalt (: Faltungssymbol)

1 2
sin T [( 0 ) ( + 0 )]
2
j

sin T
1
[( 0 ) ( + 0 )]d
=
j


1 sin T ( 0 ) sin T ( + 0 )
.

=
j
0
+ 0

F 3 (j) =

(3.25)

In Abb. 3.3 ist der erste Term der Gl. (3.25) dargestellt. Bildlich gesprochen
wird durch das Ausschneiden der unendlich scharfe Dirac-Sto u
ber einen
Frequenzbereich um 0 verschmiert, wobei der Impuls umso unscharfer ist,

je k
urzer der Ausschnitt ist. F
ur ein unendlich langes Zeitfenster ergibt sich
wiederum der Dirac-Sto aus Abb. 3.2.
j . F3(j)
Re {F3 (j)} = 0
T
0 /

0 +/

Abb. 3.3. Das ausgeschnittene Sinussignal im Frequenzbereich

3.2 Ausgleichsvorg
ange in linearen Netzwerken
Es sollen die zeitlichen Verlaufe von Spannung und Strom in einem elektrischen Netzwerk ermittelt werden, wenn die Anregung einen beliebigen zeitlichen Verlauf zeigt. Schwerpunktmaig betrachtete Spezialfalle sind dabei eine zu einem bestimmten Zeitpunkt eingeschaltete periodische Anregung oder
eine nach dem Einschaltzeitpunkt konstante Anregung. Nach diesem (Ein-)
Schaltzeitpunkt lauft in dem Netzwerk ein sog. Einschwingvorgang ab, der
sich nach mehr oder weniger langer Zeit dem stationaren oder eingeschwun
genen Zustand annahert. Eine neuerliche Anderung
der Anregung, z. B. das
Abschalten der Anregung, ruft einen weiteren Ausgleichsvorgang hervor.

26

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

Wenn wir uns auf ein elektrisches Netzwerk mit konzentrierten linearen und
zeitinvarianten Elementen beschranken, so erfolgt die mathematische Beschreibung dieser Ausgleichsvorgange anhand einer linearen Dierentialgleichung (DGL) mit konstanten Koezienten.
Als Beispiel wollen wir den Einschwingvorgang einer RC-Tiefpassschaltung
betrachten, auf deren Eingangsklemmen zum Zeitpunkt t = 0 die Gleichspannung U0 aufgeschaltet wird (Abb. 3.4).
t=0

i=C
C

Uo

du c
dt
uc

Abb. 3.4. RC-Tiefpassschaltung, die zum Zeitpunkt t = 0 mit einer Gleichspannung


beaufschlagt wird.

F
ur Zeiten t > 0 kann die Maschengleichung
U0 + R i + uc = 0

(3.26)

unter Verwendung der Strom-Spannungs-Beziehung f


ur den Kondensator
i=C

duc
dt

(3.27)

zu einer Dierentialgleichung 1. Ordnung mit konstanten Koezienten umgeformt werden


duc
RC
+ uc = U0 .
(3.28)
dt

Die allgemeine Losung dieser Gleichung ergibt sich aus der Uberlagerung
der
L
osung der homogenen Dierentialgleichung
RC

duch
+ uch = 0
dt

(3.29)

und einer partikularen Losung der inhomogenen Dierentialgleichung. Eine


solche spezielle Losung ucp lasst sich leicht angeben, wenn man bedenkt, dass
f
ur t der Ausgleichsvorgang abgeschlossen sein muss. Dann ist der Kondensator auf die Spannung U0 aufgeladen und es iet kein Strom mehr. Somit
ist diese partikulare Losung
ucp = U0 .
(3.30)
Die allgemeine Losung der homogenen DGL (Gl. (3.29)) lautet mit der Zeitkonstanten = RC
uch = ket/ ,
(3.31)

3.2 Ausgleichsvorg
ange in linearen Netzwerken

27

wobei k eine noch festzulegende Konstante ist. Die Gesamtlosung lautet also
uc = uch + ucp = ket/ + U0 .

(3.32)

Aus dem Anfangswert der Kondensatorspannung zum Zeitpunkt t = 0


(uc (0) = 0) lasst sich die Konstante k bestimmen
k = U0 .

(3.33)

uc = U0 (1 et/ ) .

(3.34)

Die Gesamtlosung lautet somit

Abbildung 3.5 zeigt den zeitlichen Verlauf der Kondensatorspannung uc .


uC(t)
U0
U0 (1-e -t/ )

= RC

Abb. 3.5. Zeitlicher Verlauf der Ausgangsspannung des RC-Tiefpasses

Auch bei komplizierteren Netzwerken ist die Vorgehensweise analog, d.h. unter
Verwendung der Kirchhoschen Gesetze und den Strom-Spannungs-Beziehungen von Widerstand, Spule und Kondensator wird ein System von linearen

Dierentialgleichungen aufgestellt. Dessen Losung ergibt sich aus der Uberlagerung der allgemeinen Losung des homogenen Systems und einer partikul
aren L
osung des inhomogenen Systems. Wenn sich in einem Netzwerk nun
n unabh
angige Energiespeicher (Kondensatoren und/oder Spulen) benden,
so enth
alt die Losung n Konstanten, die so bestimmt werden m
ussen, dass
die n Anfangswerte (Spannung bei Kondensatoren und Strom bei Spulen)
der Energiespeicher erf
ullt werden, d. h. es muss ein lineares Dierentialgleichungssystem mit n Unbekannten gelost werden.
In aller Regel wendet man aber zur Berechnung von Einschwingvorgangen
eine elegantere Methode an, die uns das Auosen dieses linearen Dierentialgleichungssystems erspart. Diese basiert auf der sog. Laplace-Transformation,
die eine spezielle Spektralzerlegung der Zeitfunktionen durchf
uhrt. Dies f
uhrt
schlielich zu einem Rechengang, der die bekannten Methoden der komplexen
Wechselstromrechnung [4], [161] benutzt.

28

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

3.3 Die Laplace-Transformation


Die Laplace-Transformation ist eine Verallgemeinerung der Fourier-Transformation. F
ur die Berechnung von Einschwingvorgangen gen
ugt die Beschr
ankung auf Zeitfunktionen, die f
ur Zeiten t < 0 verschwinden. Man
spricht dann von einseitiger Laplace-Transformation. Bei dieser wird
nur u
ber positive t integriert. Ausgangspunkt ist die einseitige FourierTransformation

F (j) =
f (t)ejt dt
(3.35)
0

bzw. die inverse Fourier-Transformation



1
F (j)ejt d .
f (t) =
2

(3.36)

Beim Ubergang
zur Laplace-Transformation wird nun die in Gl. (3.35) noch
rein imagin
are Frequenz j durch die komplexe Frequenz
s = + j

(3.37)

ersetzt. Aus Gl. (3.35) wird dadurch die Basisgleichung der einseitigen
Laplace-Transformation (Laplace-Transformationsgleichung)

F ( + j) =
f (t)et ejt dt
(3.38)
0

bzw.

F (s) =

f (t)est dt .

(3.39)

Die hinreichende Bedingung f


ur die Fourier-Transformierbarkeit einer Funktion f (t) (Gl. (3.19))
 +
|f (t)| dt <
(3.40)

wird nunmehr entscharft, da Gl. (3.40) in



|f (t)| et dt <

(3.41)

u
ugen beispielsweise auch die Funktionen
bergeht. So gen

1 f
ur t 0
f (t) =
0 f
ur t < 0

(3.42)

f
ur > 0 und

f (t) =

e t
0

t0
t<0

(3.43)

3.3 Die Laplace-Transformation

29

f
ur > der Bedingung nach Gl. (3.41).
Wenn also der Wert in Abhangigkeit von f (t) nur gen
ugend gro

gew
ahlt wird, so existiert die Laplace-Transformierte F (s). Das entsprechende Integral (Gl. (3.39)) konvergiert absolut und gleichmaig f
ur alle s mit
> min , wobei der Wert min die von der jeweiligen Funktion f (t) abhangende Konvergenzabszisse beschreibt.
Das Beispiel Gl. (3.42) impliziert, dass die Laplace-Transformation (im Gegensatz zur Fourier-Transformation) auch im Falle f
ur t nicht verschwindender Funktionen ohne Distributionen auskommt. F
ur die Exponentialfunktion
(3.43) mit > 0 existiert keine Fourier-Transformierte, aber sehr wohl deren
Laplace-Transformierte.
Die der Fourier-R
ucktransformation entsprechende Laplace-R
ucktransformation ergibt sich unter Verwendung der Gln. (3.35) bis (3.38) f
ur t > 0
zu
 =+
1
f (t)et =
F ( + j) ejt d
(3.44)
2 =
bzw.
1
f (t) =
2

=+

F ( + j) e(+j)t d .

(3.45)

Unter Verwendung der komplexen Frequenz s = + j und der Beziehung


ds = jd l
asst sich die Laplace-R
ucktransformation in der Form
1
f (t) =
2j

s=+j

F (s)est ds

(3.46)

s=j

darstellen.
Das R
ucktransformations-Integral nach Gl. (3.46) existiert nur, wenn
F (s) an den Enden des Integrationspfades verschwindet. Der Integrationspfad
verl
auft in der komplexen s-Ebene (Abb. 3.6) parallel zur imaginaren Achse in
einem Bereich, wo > min gilt. F
ur > min ist F (s) eine holomorphe Funktion. Es sei erganzt, dass das Integral einer holomorphen Funktion nur von
den Endpunkten des Integrationspfades, nicht aber von dessen Wegf
uhrung
selbst, abh
angt.
Symbolische Darstellungen
Laplace-Transformation:
R
ucktransformation:

F (s) = L{f (t)} .

(3.47)

f (t) = L1 {F (s)} .

(3.48)

Die Zuordnung wird auch durch folgendes Symbolzeichen dargestellt


f (t) F (s) ,

(3.49)

30

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

wobei wegen der Eindeutigkeit der Zuordnung (Eineindeutigkeit) aller im


Bereich t > 0 stetiger Funktionen diese Zuordnung in beiden Richtungen
der Transformation gilt, sofern der jeweilige Konvergenzbereich des LaplaceIntegrals bekannt ist.
Laplace-Ebene (s-Ebene)
j.
harmonische Schwingungen
mit konstanter Amplitude
exponentiell
anwachsende
Schwingungen

exponentiell
abklingende
Schwingungen

= Re {s}

Abb. 3.6. Laplace-Ebene (s-Ebene)

W
ahrend die Fourier-Transformation auf die rein imaginare Achse j und
damit auf Sinusgroen mit konstanter Amplitude beschrankt bleibt, kann mit
einer komplexen Frequenz auch eine exponentiell anwachsende oder exponentiell abklingende Sinusgroe dargestellt werden (s. Abb. 3.6)
et cos(t + ) =
u(t) = U

1
(U e(+j)t + U e(j)t )
2

(3.50)

mit
ej
U= U

ej .
U =U

(3.51)
(3.52)

Die
aquivalente Darstellung in s bzw. s lautet
u(t) =

1
(U est + U es t )
2

(3.53)

s = j.

(3.54)

mit

Der Wert von stellt dabei das Dampfungsma dar ( < 0) und die Kreisfrequenz ( > 0). Es sei noch erganzt, dass die rein reelle Achse ( = 0) reine
Exponentialfunktionen mit reellen Exponenten verkorpert.

3.4 Die Laplace-Transformierte elementarer Zeitfunktionen

31

3.4 Die Laplace-Transformierte elementarer


Zeitfunktionen
Ziel dieses Abschnittes ist die Aufstellung einer Zuordnungstabelle, die elementare Zeitfunktionen und ihre entsprechenden einseitigen Laplace-Transformierten enthalt. Bei der einseitigen Laplace-Transformation wird vorausgesetzt, dass die zu transformierende Zeitfunktion f
ur Zeiten t < 0 stets identisch
Null ist.
Dies wird f
ur jede Zeitfunktion durch Multiplikation mit der im folgenden
denierten Sprungfunktion (t) erreicht. Aufgrund der eindeutigen Umkehr
barkeit der Transformation kann diese sowohl beim Ubergang
vom Zeit- in
den Laplace-Bereich als auch in umgekehrter Richtung verwendet werden.
Sprungfunktion
Die Sprungfunktion1 (t) beschreibt ein zum Zeitnullpunkt eingeschaltetes
zeitlich konstantes Signal

1 f
ur t 0
f (t) = (t) =
.
(3.55)
0 f
ur t < 0
Die Laplace-Transformierte lautet



1
F (s) =
est dt = est  .
s
0
0

(3.56)

F
ur Realteile > 0 konvergiert das Integral in Gl. (3.56) und man erhalt
F (s) =

1
.
s

(3.57)

Rampenfunktion
F
ur die ab dem Zeitnullpunkt linear ansteigende Rampenfunktion

t f
ur t 0
f (t) =
oder f (t) = (t) t
0 f
ur t < 0

(3.58)

erh
alt man die Laplace-Transformierte nach einmaliger partieller Integration



t st 
1 st
st
te dt = e  +
e dt .
(3.59)
F (s) =
s
s 0
0
0
Auch hier konvergiert das Integral nur f
ur komplexe Frequenzen s, deren Realteil positiv ist ( > 0). Man erhalt schlielich
F (s) =
1

1
.
s2

Die Sprungfunktion wird im Folgenden stets mit (t) bezeichnet.

(3.60)

32

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

Parabelfunktionen
Die Laplace-Transformierte einer Parabel n-ten Grades (n = 0, 1, 2, 3, ...) ergibt sich durch n-malige partielle Integration
 n
t
f
ur t 0
f (t) =
oder f (t) = (t) tn
(3.61)
0 f
ur t < 0
entsprechend zu
F (s) =

n!
.
sn+1

(3.62)

Exponentialfunktion
Die Laplace-Transformierte der Exponentialfunktion
 st
f
ur t 0
e0
oder f (t) = (t) es0 t
f (t) =
0 f
ur t < 0

(3.63)

ergibt sich zu


F (s) =

(s0 s)t



1
(s0 s)t 
e
dt =
 .
s0 s
0

(3.64)

F
ur > Re{s0 } erhalt man Konvergenz und es folgt
F (s) =

1
.
s s0

(3.65)

Hyperbelfunktionen
Da sich die Hyperbelfunktionen aus der Superposition von Exponentialfunktionen ergeben

1  s0 t
e + es0 t
2

1  s0 t
e es0 t ,
sinh(s0 t) =
2

cosh(s0 t) =

(3.66)
(3.67)

lassen sich ihre Laplace-Transformierten aufgrund ihrer linearen Transformationseigenschaften leicht angeben


1
s
1
1
L{(t) cosh(s0 t)} =
= 2
+
(3.68)
2 s s0
s + s0
s s20
bzw.
L{(t) sinh(s0 t)} =

1
2

1
1

s s0
s + s0

s0
.
s2 s20

(3.69)

3.4 Die Laplace-Transformierte elementarer Zeitfunktionen

33

sin- und cos-Funktionen


Der Spezialfall s0 = j0 liefert mit den Gln. (3.66), (3.67) und
cosh j0 t = cos 0 t
sinh j0 t = j sin 0 t

(3.70)
(3.71)

die Laplace-Transformierte harmonischer Signale


s
+ 02
0
L{(t) sin 0 t} = 2
.
s + 02

L{(t) cos 0 t} =

(3.72)

s2

(3.73)

Delta-Impuls (t)
Der Delta-Impuls (auch Dirac-Impuls bzw. Dirac-Sto genannt), der bei
der Analyse elektrischer Netzwerke groe Bedeutung hat, ist keine Funktion
im herk
ommlichen Sinne, sondern mathematisch gesehen eine sog. Distribution. Die Distribution lasst sich durch einen Grenz
ubergang denieren. Dazu
betrachten wir Abb. 3.7. Der dort gezeigte Signalverlauf lasst sich folgendermaen beschreiben
1
f
ur 0 < t < T
T = T
.
(3.74)
0 sonst
F
ur T 0 erhalt man daraus den Delta-Impuls.
+
F
ur den Dirac-Impuls gilt die Nebenbedingung (t)dt = 1. Die
Laplace-Transformierte des Zeitsignals nach Gl. (3.74) ergibt

 T
1 st
1 T st
1 esT
e dt =
.
(3.75)
FT (s) =
e dt =
T 0
sT
0 T
T

1
T

(t)

T
a)

t
b)

Abb. 3.7. Delta-Impuls: a) Zeitfunktion, welche durch den Grenz


ubergang T 0
den Delta-Puls deniert, b) Symbolische Darstellung: der Zahlenwert an der Spitze
+
des Pfeiles repr
asentiert den Fl
acheninhalt des Integrals (t)dt.

34

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

Die Laplace-Transformierte des Delta-Impulses erhalt man schlielich durch


den Grenz
ubergang T 0
1 esT
=1.
T 0
sT

lim FT (s) = F (s) = lim

T 0

(3.76)

3.5 Die Eigenschaften der Laplace-Transformation


Laplace-Transformation einfacher mathematischer
Operationen
Bei der Anwendung der Laplace-Transformation ist es allgemein von Interesse, wie sich die Transformation auf einfache mathematische Operationen
auswirkt. Bei der Losung von Dierentialgleichungen mit Hilfe der LaplaceTransformation ist es beispielsweise wichtig zu wissen, wie sich die Operationen Dierentiation oder Integration transformieren.

3.5.1 Uberlagerung
Wenn die Laplace-Transformierten zweier Zeitfunktionen f1 (t) und f2 (t) existieren
f1 (t) F1 (s)
f2 (t) F2 (s) ,

(3.77)
(3.78)

so gilt f
ur beliebige Konstanten c1 und c2 der Uberlagerungssatz
c1 f1 (t) + c2 f2 (t) c1 F1 (s) + c2 F2 (s) .

(3.79)

Seine G
ultigkeit folgt unmittelbar aus der Linearitat der Transformationsintegrale.
3.5.2 Integration
Die Laplace-Transformierte des Integrals
 t
f ( )d

(3.80)

ergibt sich durch Einsetzen in die Transformationsformel (Gl. (3.39)) und


partielle Integration zu
 t
1
(3.81)
f ( ) d F (s) ,
s
0
wobei F (s) die Laplace-Transformierte der Funktion f (t) ist.

3.5 Laplace-Transformation einfacher mathematischer Operationen

35

3.5.3 Dierentiation
Unter der Voraussetzung, dass die Funktion f (t) dierenzierbar ist und ihre
Laplace-Transformierte F (s) existiert, erh
alt man nach einmaliger partieller
Integration f
ur die Laplace-Transformierte der Ableitung

df (t) st

F (s) =
e dt
(3.82)
dt
0
die Zuordnung
df (t)
s F (s) f (0+ ) .
(3.83)
dt
Der rechtsseitige Grenzwert f (0+ ) ist der Funktionswert zum Zeitpunkt t = 0,
wenn man den Funktionsverlauf von f (t) von Zeiten t > 0 kommend bis hin
zum Grenzwert f
ur t 0 verfolgt. Wenn alle Ableitungen von f (t) bis zur nten sowie die entsprechenden Laplace-Transformierten existieren, kann analog
abgeleitet werden
dn f (t)
d(n1) f (t)
snF (s)sn1 f (0+ )sn2 f  (0+ )
| + . (3.84)
n
dt
dt(n1) t=0
Nachdem sich die Operationen Integration und Dierentiation im LaplaceBereich in eine Multiplikation mit 1s bzw. s u
uhren lassen, gehen lineaberf
re Dierentialgleichungen mit konstanten Koezienten, wie sie auch bei der
Analyse elektrischer Netzwerke auftreten, in lineare algebraische Gleichungen
u
ber. Damit lassen sich insbesondere Einschwingvorgange in linearen mechanischen und elektrischen Netzwerken einfach berechnen (s. auch Kap. 5.4).
3.5.4 Produkt zweier Laplace-Funktionen Faltung
Die f
ur die Netzwerkanalyse wichtigste Eigenschaft ist die Transformation
des zeitlichen Faltungsintegrals, das die Berechnung einer Systemantwort bei
bekannter Erregung und gegebener Impulsantwort des Systems erlaubt (s.
auch Kap. 3.11).
Das Produkt zweier Laplace-Funktionen F1 (s) F2 (s)

F1 (s) =
f1 ( )es d
(3.85)
0

F2 (s) =
f2 ()es d
(3.86)
0

l
asst sich (gleichmaige Konvergenz vorausgesetzt) als Doppelintegral formulieren
 
F1 (s) F2 (s) =
f1 ( )f2 ()es( +) d d .
(3.87)
0

Die Variablensubstitution t = + f
uhrt mit = t und d = dt zu


3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

36

t=

F1 (s) F2 (s) =



t=0

=t


f1 ( )f2 (t )d est dt .

(3.88)

=0

Die obere Grenze des inneren Integrals darf auf = t gesetzt werden, weil
f2 (t ) bei kausalen Netzwerken f
ur negative Zeiten verschwindet.
Das innere Integral ist gema der Laplace-Transformationsgleichung die
zu F1 (s) F2 (s) gehorende Zeitfunktion. Daher ist die Integraloperation
 t
f1 ( )f2 (t )d
(3.89)
0

das Zeitbereichsergebnis der Multiplikation F1 (s)F2 (s). Man bezeichnet diese


Operation als Faltung und k
urzt sie mit dem Symbol ab, um sie von der
gew
ohnlichen Multiplikation zu unterscheiden
 t
f1 (t) f2 (t) =
f1 ( )f2 (t )d .
(3.90)
0

Es gilt also die Zuordnung


f1 (t) f2 (t) F1(s) F2 (s) .

(3.91)

Das Faltungsprodukt ist kommutativ, d. h. es gilt


f1 f2 = f2 f1 .

(3.92)

Es sei erg
anzt, dass sich die Faltung nach Gl. (3.90) auch ausf
uhren lasst,
wenn f1 (t) und f2 (t) nur in rein graphischer oder numerischer Form gegeben
sind. Abbildung 3.8 soll die Faltungsoperation verdeutlichen.
f1 (t)

f2 (t)
f2 (-t)

t1

f 1, 2
t=0

-t 2

f1 ()
t > t2

f 2 (t)

t2

: f 2 (t - )

f 1 (t) * f2 (t)

Faltungsergebnis

t > t1 + t 2

t1

t2

t1

t1+ t2

Abb. 3.8. Zur Veranschaulichung des Faltungsintegrals

3.5 Laplace-Transformation einfacher mathematischer Operationen

37

Aufgrund des Vorfaktors 1/j in der R


ucktransformationsformel Gl. (3.46)
erscheint dieser auch bei der Umkehrung von Gl. (3.90) bzw. (3.91) wie folgt
f1 (t) f2 (t)

1
F1 (s) F2 (s) .
2j

(3.93)

Dies bedeutet, dass einer Multiplikation im Zeitbereich das mit dem Vorfaktor 1/2 versehene Faltungsprodukt der beiden entsprechenden LaplaceTransformierten entspricht. F
ur die Fourier-Transformation gelten diese Regeln analog. Der Vorfaktor betragt hier 1/2
f1 (t) f2 (t)

1
F (j) F 2 (jw) .
2 1

(3.94)

Analog zu Gl. (3.91) gilt


f1 (t) f2 (t) F 1 (j) F 2 (jw) .

(3.95)

3.5.5 Multiplikationssatz
Ausgehend von der Transformationsgleichung (Gl. 3.39)

F (s) =
f (t)est dt

(3.96)

erh
alt man durch Dierenzieren nach s

dF
=
f (t)(t) est dt = L{t f (t)} .
ds
0

(3.97)

Die n-malige Ableitung ergibt unmittelbar den Multiplikationssatz


dn F
= (1)n L{tn f (t)}
dsn

(3.98)

dn F
.
dsn

(3.99)

bzw.
tn f (t) (1)n

38

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

3.5.6 Verschiebung im Zeitbereich (Oberbereich)


Es soll eine Funktion f (t) im Zeitbereich um eine Zeit t0 > 0 verschoben
werden. F
ur die daraus resultierende Funktion (Abb. 3.9)
f1 (t)

f (t)

t0

Abb. 3.9. Verschiebung im Zeitbereich um die Zeit to


f1 (t) =

f (t t0 )
0

f
ur t t0
f
ur t < t0

bzw.

f1 (t) = (t t0 ) f (t t0 ) (3.100)

folgt deren Laplace-Transformierte



(s)
=
f (t t0 )est dt .
F1

(3.101)

t0

Durch die Variablensubstitution = t t0 wird


est = est0 es
und es folgt
F1 (s) = est0

f ( )es d = est0 F (s) .

(3.102)

(3.103)

Die Verschiebung im Zeitbereich um eine Zeit t0 entspricht also der Multiplikation im Frequenzbereich mit est0
(t t0 ) f (t t0 ) est0 F (s) .

(3.104)

3.5.7 Verschiebung im Laplace-Bereich (Unterbereich)


Wenn wir hingegen eine Verschiebung im Laplace-Bereich gema
F1 (s) = F (s + s0 )
vornehmen, folgt


F1 (s) =

f (t)es0 t est dt .

(3.105)

(3.106)

Dies bedeutet, dass F (s + s0 ) der mit es0 t multiplizierten Zeitfunktion f (t)


entspricht

3.5 Analyse eines RC-Netzwerkes mittels Laplace-Transformation

es0 t f (t) F (s + s0 ) .

39

(3.107)

Die Anwendung dieses Satzes auf Gl. (3.62) ergibt schlielich


tn s0 t
1
e

.
n!
(s + s0 )n+1

(3.108)

Demnach l
asst sich zu einer beliebigen rationalen Funktion in s die zugehorige Zeitfunktion direkt ermitteln. Dazu wird die Funktion in Partialbr
uche
zerlegt und anschlieend r
ucktransformiert. F
ur den Fall, dass die gebrochen
rationale Funktion denselben Zahler- und Nennergrad aufweist, muss vor der
Partialbruchzerlegung eine Polynomdivision durchgef
uhrt werden.
3.5.8 Dehnung bzw. Stauchung
Eine multiplikative reelle Konstante c, die auch als zeitlicher Dehnungsbzw. Stauchungsfaktor interpretiert werden kann, wirkt sich wie folgt auf die
Laplace-Transformation aus
1 s
f (ct) F
c
c

(c > 0) .

(3.109)

3.5.9 Anfangswert-Theorem
Mit Hilfe dieses Theorems kann aus einer Laplace-Transformierten F (s) direkt
der Anfangswert f (0+ ) der zugehorigen Zeitfunktion f (t) bestimmt werden,
ohne die Zeitfunktion selbst zu ermitteln [45]
lim f (t) = f (0+ ) =
t0

lim

sF (s) .

(3.110)

Re(s)

3.5.10 Endwert-Theorem
Mit Hilfe dieses Theorems kann aus einer Laplace-Transformierten F (s) direkt
der Grenzwert f (t ) der zugehorigen Zeitfunktion f (t) ermittelt werden,
ohne diese direkt zu kennen [45]
lim f (t) = lim sF (s).

s0

(3.111)

Voraussetzung hierf
ur ist nat
urlich die Existenz eines asymptotischen Grenzwertes im Zeitbereich.
3.5.11 Tabelle mathematischer Operationen
In Tabelle 3.1 sind nochmals die in den vorhergehenden Abschnitten diskutierten mathematischen Operationen bei der Laplace-Transformation zusammengestellt.


3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

40

Tabelle 3.1. Zusammenfassung der Laplace-Transformation einfacher mathematischer Operationen


f (t)

F (s)

Bezeichnung

c1 f1 (t) + c2 f2 (t)

c1 F1 (s) + c2 F2 (s)

(Uberlagerung)

1
s

(Integration)

t
0

f ( ) d

F (s)

df (t)
dt

s F (s) f (0+ )

dn f (t)
dtn

sn F (s) sn1 f (0+ ) ...


... sn2 dfdt(t) |t=0+
d(n1) f (t)
dt(n1)

(Dierentiation)

|t=0+

f1 (t) f2 (t)

F1 (s) F2 (s)

f1 (t) f2 (t)

1
F (s)
2j 1

tn f (t)

(1)n

(t t0 ) f (t t0 )

est0 F (s)

Zeitverschiebung

es0 t f (t)

F (s + s0 )

Frequenzverschiebung

f (ct)

1
F
c

lim f (t) = f (0+ )


t0

lim f (t)

Produkt im Laplace-Ber.

F2 (s)

dn F
dsn

s

lim

Multiplikationssatz

(c > 0)

Produkt im Zeitbereich

sF (s)

Dehnung/Stauchung

(Anfangswert-Theorem)

Re(s)

lim sF (s)

s0

(Endwert-Theorem)

3.6 Analyse eines RC-Netzwerkes mittels


Laplace-Transformation
Mit Hilfe der Laplace-Transformation lasst sich beispielsweise der bereits in
Kapitel 3.2 behandelte Einschwingvorgang einer RC-Tiefpassschaltung (Abb.
3.4) wesentlich eleganter berechnen als im Zeitbereich. Wir gehen dazu von der
DGL (Gl. (3.28)) aus, welche die Spannung uc (t) am Kondensator beschreibt
RC

duc (t)
+ uc (t) = u(t) .
dt

(3.112)

3.7 Die R
ucktransformation von Laplace-Transformierten in den Zeitbereich

41

Die Anwendung der Laplace-Transformation f


uhrt mit Einf
uhrung der Zeitkonstanten = RC zu folgender linearer Gleichung
[sUc (s) uc (0+ )] + Uc (s) = U (s) ,

(3.113)

wobei gilt
Uc (s) = L{uc (t)}

U (s) = L{u(t)} .

und

(3.114)

Diese Gleichung kann leicht nach Uc (s) aufgelost werden


Uc (s) =
bzw.

1
[U (s) + uc (0+ )]
1 + s

1
Uc (s) =
s+


1


1
+
U (s) + uc (0 ) .

(3.115)

(3.116)

Wenn wir voraussetzen, dass der Kondensator zu Beginn des Einschaltvorganges ungeladen ist
uc (0+ ) = 0
(3.117)
und zum Zeitnullpunkt eine Gleichspannung U0 eingeschaltet wird, erhalten
wir mit der Laplace-Transformierten der Sprungfunktion
1
s

(3.118)

U0
s

(3.119)

U0
.
s(1 + s )

(3.120)

(t)
U (s) =
und Gleichung (3.115)
Uc (s) =

Abschlieend erfolgt nun die R


ucktransformation von Gl. (3.120) in den Zeitbereich, was im folgenden Kapitel behandelt wird.

3.7 Die Ru
cktransformation von
Laplace-Transformierten in den Zeitbereich
Zur R
ucktransformation einer Laplace-Funktion in den Zeitbereich ist prinzipiell das Umkehrintegral oder R
ucktransformations-Integral (Gl. (3.46)) zu
l
osen
 s=+j
1
f (t) =
F (s)est ds .
(3.121)
2j s=j
Dieses Integral existiert, wenn F (s) f
ur gegen Null strebt. F
ur die
R
ucktransformation aus dem Laplace-Bereich in den Zeitbereich existieren die
bereits in Kapitel 3.3 eingef
uhrten Nomenklaturen

42

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten
Tabelle 3.2. Laplace-Transformierte einiger wichtiger Zeitfunktionen
f (t)

F (s)

(t)

(t)

1/s

(t) tn /n!

(n = 0, 1, )

(t) tn et /n!

1/(sn+1 )

(n = 0, 1, ) 1/(s + )n+1

(t) cos t

s/(s2 + 2 )

(t) sin t

/(s2 + 2 )

(t) sin(t + )

(s sin + cos )/(s2 + 2 )

(t) cos(t + )

(s cos sin )/(s2 + 2 )

(t) et sin(t + )

[(s + ) sin + cos ]/[(s + )2 + 2 ]

(t) et cos(t + )

(t) et sin t

[(s + ) cos sin ]/[(s + )2 + 2 ]




(s + )/ (s + )2 + 2


/ (s + )2 + 2

(t) t cos t

(s2 2 )/(s2 + 2 )2

(t) t sin t

2s/(s2 + 2 )2

(t) t2 sin t

2(3s2 2 )/(s2 + 2 )3

(t) t2 cos t

(t) sin2 t

2(s3 3 2 s)/(s2 + 2 )3


(s2 + 2 2 )/ s(s2 + 4 2 )


2 2 / s(s2 + 4 2 )

(t) cosh t

s/(s2 2 )

(t) sinh t

/(s2 2 )

(t) et cos t

(t) cos2 t

(t)

t
2

(t)

sin t
t

sinh(t)

(t) 1/ t

(t) 2 t/

s/(s2 2 )2
arctan s

1/ s

1/(s s)

3.8 L
osung von linearen Dierentialgleichungen mit konstanten Koezienten

43

f (t) = L1 {F (s)}

(3.122)

f (t) F (s) .

(3.123)

bzw.
Genauso wie bei der Fourier-Transformation ist die Zuordnung zwischen f (t)
und F (s) f
ur alle im Bereich t > 0 stetigen Funktionen umkehrbar eindeutig. Dies bedeutet, dass das Symbol in beiden Richtungen gelesen werden
kann. Diese Tatsache gibt Anlass zu folgender Strategie f
ur die R
ucktransformation:
Man zerlegt die r
uckzutransformierende Laplace-Funktion F (s) in eine Summe von Teilfunktionen
F (s) = F1 (s) + F2 (s) + Fn (s) ,

(3.124)

deren jeweilige R
ucktransformation aus Tab. 3.2 bekannt ist. Insbesondere
l
asst sich in Verbindung mit der Beziehung
(t)

tn s0 t
1
e

n!
(s + s0 )n+1

(3.125)

zu jeder rationalen Funktion in s die dazugehorige Zeitfunktion unmittelbar


angeben, nachdem man die Funktion in Partialbr
uche zerlegt hat.
Da andererseits die Losung von linearen Dierentialgleichungen mit konstanten Koezienten im Laplace-Bereich auf rationale Funktionen f
uhrt, lassen sich diese DGLn, die ja lineare elektrische Netzwerke mit konzentrierten
Elementen beschreiben, mit Hilfe der Laplace-Transformation besonders leicht
l
osen.

3.8 L
osung von linearen Dierentialgleichungen mit
konstanten Koezienten

Zwecks leichterer Uberpr


ufbarkeit der Losung wenden wir uns nochmals dem
Beispiel aus Kapitel 3.2 zu. Die Dierentialgleichung, die den Einschwingvorgang der RC-Schaltung aus Abb. 3.4 beschreibt, lautet (Gl. (3.28) bzw.
Gl. (3.112))
duc (t)
RC
(3.126)
+ uc (t) = u(t) .
dt
Die Anwendung der Laplace-Transformation f
uhrt mit = RC zu
[sUc (s) uc (0+ )] + Uc (s) = U (s) .

(3.127)

Diese algebraische Gleichung lasst sich leicht nach der gesuchten Groe Uc (s)
au
osen (vgl. Gl. (3.116))


1
1
+
U
(s)
+
u
Uc (s) =
(0
)
.
(3.128)
c
s + 1

44

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

F
ur den Fall, dass u(t) eine im Zeitnullpunkt t = 0 eingeschaltete Gleichspannung U0 ist, d. h.
U0
,
(3.129)
U (s) =
s
und der Kondensator zu diesem Zeitpunkt ungeladen ist (uc (0+ ) = 0), folgt
Uc (s) =

U0
.
s(s + 1 )

(3.130)

Diese rationale Funktion wird nun in Partialbr


uche zerlegt, d. h. also in rationale Grundfunktionen, die in Tab. 3.2 enthalten sind


U0
C2
C1
Uc (s) =
.
(3.131)
= U0
+
s+ s+
s(s + 1 )
Durch Koezientenvergleich erhalt man die Werte der Konstanten
=

1
;

=0

Daraus folgt

und C2 = C1 = 1 .

Uc (s) = U0

1
1
1 + s
s+

(3.132)

(3.133)

Gem
a Superpositionsregel und Tab. 3.2 ergibt sich folgende Zeitfunktion


uc (t) = U0 U0 et/ = U0 (1 et/ ) .
(3.134)
Der zeitliche Spannungsverlauf der Kondensatorspannung uc (t) wurde bereits
in Abb. 3.5 gezeigt. Das Ergebnis (Gl. (3.134)) entspricht der auf anderem
Wege ermittelten Losung der linearen Dierentialgleichung im Zeitbereich
(Gl. (3.34)).
L
osung f
ur eingeschaltete Sinusspannung
Wenn die RC-Tiefpassschaltung gema Abb. 3.4 nun mit einer bei t = 0
eingeschalteten harmonischen Wechselspannung beaufschlagt wird, so lasst
sich das Ergebnis analog ermitteln. Dazu wird zunachst die Eingangsspannung
u(t)
u(t) = (t) U0 sin 0 t
(3.135)
gem
a der Tab. 3.2 in den Laplace-Bereich transformiert
U (s) = U0

s2

0
.
+ 02

(3.136)

Durch Einsetzen in Gleichung (3.128) erh


alt man die Kondensatorspannung
Uc im Laplace-Bereich

3.8 L
osung von linearen Dierentialgleichungen mit konstanten Koezienten

1
s+

Uc (s) =


1

1 U0 0

s2 + 02


+
+ uc (0 ) .

45

(3.137)

Eine Partialbruchzerlegung f
uhrt zu


1
1
uc (0+ )
1 U0 0
s
+
+
.
Uc (s) =
1
1
2
02 + 2 s +
s2 + 0
s + 1

(3.138)

Die Zuordnungstabelle (Tab. 3.2) liefert


1

s2 + 02
s2

(t)

1
sin 0 t
0

(3.139)

(t) cos 0 t .
+ 02

(3.140)

Das Ergebnis im Zeitbereich lautet also




1
1 U0 0
t/
+
t/
+ uc (0 ) e
.
uc (t) = (t)
sin 0 t cos 0 t + e
02 + 12 0
(3.141)
Abbildung 3.10 zeigt den Spannungsverlauf f
ur einen anfanglich ungeladenen
Kondensator uc (0+ ) = 0. Nach dem Ausgleichsvorgang (et/ -Term), der mit
der Zeitkonstanten abklingt, bleiben nur noch die beiden sin / cos Wechselanteile u
brig, die zu einer einzigen Sinusfunktion zusammengefasst werden
k
onnen

1
1
sin 0 t 0 cos 0 t = 02 + 2 sin(0 t )
(3.142)

mit
= arctan(0 ) .
(3.143)
Dieser Teil der Losung beschreibt den eingeschwungenen Zustand, wie ihn
auch die einfache Wechselstromrechnung liefert. F
ur einen anfanglich ungeladenen Kondensator (uc (0+ ) = 0) folgt also
uC(t)

U0 1/

(1/)2+02

t=
0

sin(0 t-)

Abb. 3.10. Einschwingverhalten des RC-Netzwerkes nach dem Einschalten der


Sinus-Spannung. Der station
are Anteil ist gestrichelt gezeichnet.

46

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

uc (t) = (t)

1
U0


2
+
0

sin(0 t ) +

1
2

0
et/ .
02 + 12

(3.144)

3.9 Berechnung von Einschwingvorg


angen in
elektrischen Netzwerken mit konzentrierten linearen
passiven Bauelementen
In diesem Abschnitt soll das der linearen Netzwerkanalyse zugrundeliegende Schema erarbeitet werden, das die Berechnung von Ausgleichsvorgangen
mittels Laplace-Transformation behandelt.
Neben der bereits im vorhergehenden Abschnitt besprochenen Methode,
bei welcher die lineare Dierentialgleichung des gegebenen Netzwerkes auf
gestellt und mit Hilfe der Laplace-Transformation (Uberf
uhrung der DGL in
eine algebraische Gleichung) gelost wird, gibt es namlich auch die Moglichkeit,
das zu analysierende Netzwerk direkt im Laplace-Bereich (Frequenzbereich)
zu beschreiben. Dazu m
ussen die einzelnen Elemente (Widerstand, Kondensator oder Spule) mit Anfangswertgeneratoren versehen werden. Im Folgenden
wird gezeigt, wie man daraus unmittelbar eine lineare algebraische Gleichung
in der Laplace-Variablen s gewinnen kann, welche nach Auosen nach der
gesuchten Groe U (s) bzw. I(s) durch eine Laplace-R
ucktransformation den
gesuchten Spannungs- und Stromverlauf u(t) bzw. i(t) liefert (Abb. 3.11) [25].

lineare Differential-

gleichungen +
Anfangsbedingungen

LaplaceTransformation

lineare algebraische
Gleichungen in s

gesuchte Gren
In (s), Un (s)
im Laplace-Bereich

im Zeitbereich
in(t), un(t)

KirchhoffGleichungen
Auflsen nach den

Netzwerk mit Anfangsgesuchten


Spannungen und
wertgeneratoren
Strmen
im Frequenzbereich

LaplaceRcktransformation

Abb. 3.11. Prinzipielles Vorgehen bei der Berechnung von linearen Netzwerken mit
Hilfe der Laplace-Transformation

3.9 Einschwingvorg
ange in Netzwerken mit linearen Bauelementen

47

Zwecks Gewinnung eines Ersatzschaltbildes im Laplace-Bereich m


ussen sowohl die Kirchhoschen Gleichungen

u (t) = 0 (Maschengleichung)
und
(3.145)

i (t) = 0 (Knotengleichung)
als auch die die Netzwerkelemente beschreibenden Spannungs-Strom-Beziehungen
uR = RiR
diL
uL = L
dt
duC
iC = C
dt

(ohmscher Widerstand)

(3.146)

(Spule)
(Kondensator)

in den Laplace-Bereich transformiert werden.


Transformation der Kirchhoschen Gleichungen
Wenden wir uns zunachst den Kirchhoschen Gleichungen zu. Da die LaplaceTransformation eine lineare Operation ist, gelten die Kirchhoschen Gleichungen f
ur die Spannungen und Strome in derselben Form wie im Zeitbereich

U (s) = 0 (Maschengleichung)
und
(3.147)

I (s) = 0 (Knotengleichung) .
Transformation der Netzwerkelementgleichungen
1. Widerstandsgleichung
Da ein idealer ohmscher Widerstand keinerlei Zeitverhalten zeigt, bleibt
die Widerstandsgleichung bei der Laplace-Transformation unverandert
(Abb. 3.12)
UR (s) = RIR (s) .
(3.148)

iR(t)
R

u R(t)

I R(s)
R

UR(s)

Abb. 3.12. Transformation eines ohmschen Widerstandes in den Laplace-Bereich

48

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

2. Kondensatorgleichung
Bei der Transformation der Kondensatorgleichung m
ussen die Anfangswerte der Kondensatorspannung ber
ucksichtigt werden. Dazu betrachten
wir den allgemeinen Fall, dass ein urspr
unglich auf eine Spannung uC (0 )
aufgeladener Kondensator zum Zeitpunkt t = 0 mit einer idealen (Innenwiderstand Ri = 0) Spannungsquelle verbunden wird (Abb. 3.13).
Dabei springt die Kondensatorspannung2 von uC (0 ) auf uC (0+ ) = U0 .
i (t)
t=0
U0

uc (0-)

Abb. 3.13. Kondensator, der zum Zeitpunkt t = 0 mit einer idealen Spannungsquelle verbunden wird.

Dies geht einher mit einer ebenso sprunghaft stattndenden Ladungsanderung, die von einem diracformigen Strom begleitet wird [25]
i(t = 0) = C[uC (0+ ) uC (0 )](t) .

(3.149)

Damit kann die allgemeine Spannungs-Strom-Beziehung des Kondensators


abgeleitet werden


duC
iC (t) = C
+ [uC (0+ ) uC (0 )](t) .
(3.150)
dt
Mit der Laplace-Transformation geht Gl. (3.150) u
ber in
2

Anmerkung: Es sei an dieser Stelle ausdr


ucklich darauf hingewiesen, dass die
Kondensatorspannung und der Spulenstrom im Schaltzeitpunkt (hier t = 0)
nur im theoretischen Grenzfall bei idealen Netzwerkelementen, d. h. nicht verlustbhafteten Kapazit
aten bzw. Induktivit
aten, und idealen Quellen (ohne Innenwiderstand) springen k
onnen. In der Praxis kommen diese F
alle jedoch nicht
vor, so dass hierbei nicht zwischen einem rechtsseitigen und linksseitigen Grenzwert unterschieden werden muss. Es gilt hier stets uC (0 ) = uC (0+ ) bzw.
iL (0 ) = iL (0+ ). Das Einschlieen des o. g. theoretischen Grenzfalles und die
daraus resultierende Unterscheidung zwischen links- und rechtsseitigem Grenzwert wird jedoch hier in Anlehnung an die Lehre von Bosse [25] beibehalten,

weil sie aus Sicht des Autors das Ubertragen


des Netzwerkes vom Zeit- in den
Laplace-Bereich von der Vorstellung her erleichtert. Schlielich verbindet man
mit den Anfangswerten zum Zeitpunkt t = 0 gedanklich stets den Zustand
der Elemente (Kapazit
at bzw. Induktivit
at) unmittelbar vor dem Schalten.

Man muss bei der Analyse des Netzwerkes keine Uberlegungen


mehr anstellen,
was im Schaltzeitpunkt geschieht.

3.9 Einschwingvorg
ange in Netzwerken mit linearen Bauelementen



IC (s) = C sUC (s) uC (0+ ) + uC (0+ ) uC (0 )


uC (0 )
.
IC (s) = sC UC (s)
s

49

(3.151)
(3.152)

Ein Kondensator im Zeitbereich lasst sich also gema Abb. 3.14 in den
Laplace-Bereich transformieren. Die Spannungsquelle im Ersatzschaltbild
repr
asentiert die Kondensatorspannung zum Zeitnullpunkt. Es handelt
sich dabei um die Kondensatorspannung unmittelbar vor einem eventuell
zum Zeitnullpunkt stattndenden Spannungssprung.

iC (t)
C

u C (t)

I C (s)

uc (0-)
s
sC

UC (s)

Abb. 3.14. Transformation eines Kondensators in den Laplace-Bereich [25]

3. Spulengleichung
Die Strom-Spannungs-Beziehung einer Induktivitat
uL = L

diL
dt

(3.153)

besagt, dass die Spannung uL einen -Impuls erfahrt, wenn der Spulenstrom iL und damit der magnetische Fluss in der Spule springt.
Wenn man nun zulasst, dass der Strom zum Zeitnullpunkt t = 0 von
iL (0 ) auf iL (0+ ) springt, so ergibt sich die Spannungs-Strom-Beziehung
in folgender ausf
uhrlicher Form [25]


diL
uL = L
+ [iL (0+ ) iL (0 )](t) .
(3.154)
dt
Die Laplace-Transformation dieser Gleichung liefert mit Gl. (3.83)


(3.155)
UL (s) = L s IL (s) iL (0+ ) + iL (0+ ) iL (0 )

iL (0 )
.
(3.156)
UL (s) = sL IL (s)
s
Die entsprechende Ersatzschaltung wird in Abb. 3.15 gezeigt. Der Spule
mit der Impedanz sL ist eine Gleichstromquelle parallelgeschaltet, die den
im Zeitnullpunkt durch die Spule ieenden Strom reprasentiert und zwar

den Strom unmittelbar vor der eventuellen sprunghaften Anderung.


3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

50

iL (t)
L

u L(t)

I L(s)
i L(0-)
s

sL

UL(s)

Abb. 3.15. Transformation einer Induktivit


at in den Laplace-Bereich [25]

Die eben hergeleiteten Ersatzschaltungen f


ur Induktivitaten, Kapazitaten und
ohmsche Widerstande reduzieren sich auf die vereinfachte Form aus der Wechselstromrechnung, wenn die Elemente vor dem Schaltzeitpunkt (hier stets
als Zeitnullpunkt angenommen) energiefrei sind, d. h. die Kapazitaten sind
spannungs- und damit ladungsfrei und die Induktivitaten sind strom- bzw.
ussfrei.
Zusammenfassung der Regeln f
ur die Netzwerkanalyse im
Laplace-Bereich

Alle Zeitgroen werden f


ur t > 0 durch ihre Laplace-Transformierten ersetzt
F
ur die Impedanz im Laplace-Bereich
Z(s) =

U (s)
I(s)

(3.157)

gilt
ohmscher Widerstand
ZR (s) = R

(3.158)

ZL (s) = sL

(3.159)

Induktivitat
Kapazitat
1
.
(3.160)
sC
Die Anfangswerte der Kondensatorspannungen und Spulenstrome (Werte
zum Zeitpunkt t = 0 , also unmittelbar vor dem Schalt-Zeitpunkt t = 0)
werden durch zusatzliche Quellen (in Serienschaltung beim Kondensator
bzw. in Parallelschaltung bei der Spule) mit der Quellspannung uC (0 )/s
bzw. dem Quellstrom iL (0 )/s erfasst.
Die Spannungen und Strome lassen sich mit den Methoden der Wechselstromrechnung und der linearen Netzwerkanalyse berechnen:

beim Ubergang
zur Laplace-Transformation wird der Frequenzterm j
durch die komplexe Frequenz s ersetzt
ZC (s) =

3.9 Einschwingvorg
ange in Netzwerken mit linearen Bauelementen

51

die transformierten Spannungen U (s) bzw. Strome I(s) entsprechen


den komplexen Amplituden der Wechselstromrechnung; allerdings tragen die Laplace-Transformierten die Dimension einer Amplitudendichte
(Einheit V/Hz bzw. A/Hz).

Nach dem Losen der Netzwerkgleichungen im Frequenzbereich werden die


gesuchten Spannungen bzw. Strome in den Zeitbereich zur
ucktransformiert.

Beispiel Analyse eines Serienschwingkreises


F
ur den in Abb. 3.16 gezeigten Serienschwingkreis (Reihenschwingkreis) ist
der Strom i(t) f
ur t 0 zu berechnen. Dabei sind sowohl die Spannung u(t)
als auch die Anfangswerte des Spulenstromes iL (0 ) und der Kondensatorspannung uC (0 ) bekannt.
R

i(t)
u(t)
Abb. 3.16. Serienschwingkreis im Zeitbereich

Zur Berechnung wird zunachst das Zeitbereichsersatzschaltbild (Abb. 3.16) in


den Laplace-Bereich transformiert (Abb. 3.17).
Aus dem Ersatzschaltbild des Serienschwingkreises im Laplace-Bereich
kann die Spannung U (s) abgeleitet werden


iL (0 )
I(s) uc (0 )
U (s) = RI(s) + sL I(s)
+
+
.
(3.161)
s
sC
s
Diese Gleichung wird schlielich nach der gesuchten Groe I(s) aufgelost
I(s) =

U (s) + LiL (0 ) uc (0 )/s


.
1
R + sL + sC

(3.162)

Wir gehen davon aus, dass die beiden Energiespeicher zum Zeitnullpunkt leer
sind und zu diesem Zeitpunkt eine Gleichspannung mit dem Wert U0 aufgeschaltet wird
u(t) = (t) U0
(3.163)
iL (0 ) = 0

und

uc (0 ) = 0 .

(3.164)

Daraus folgt
I(s) =

U0
s(R + sL +

1
sC )

(3.165)

52

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

sL
sC

I(s)

uC(0-)
s

i L (0-)
s
U(s)

Abb. 3.17. Serienschwingkreis im Laplace-Bereich

bzw.
I(s) =

1
U0

L s2 + s R
L +

1
LC

(3.166)

Laplace-R
ucktransformation einer rationalen Funktion zweiten
Grades
Die Aufgabe, den Strom I(s) nach Gl. (3.166) in den Zeitbereich zur
uckzutransformieren, soll moglichst allgemein formuliert werden. Deshalb wird die
R
ucktransformierte folgender rationaler Funktion 2. Grades gesucht
F (s) =

A s+B
.
s2 + 2 d s + 02

Diese Funktion hat die beiden Pole s1 und s2



s1 = d + d2 02

s2 = d d2 02 .

(3.167)

(3.168)
(3.169)

F
ur 02 d2 liegen die Pole bei reellen und f
ur 02 > d2 bei komplexwertigen
Frequenzen.
Das mit einer Partialbruchzerlegung eventuell einhergehende Rechnen mit
komplexwertigen Groen lasst sich umgehen, indem man den Nenner von
Gl. (3.166) in eine Summe von Quadraten zerlegt
s2 + 2 d s + 02 = (s + d)2 + (02 d2 ) .

(3.170)

Mit der Hilfsgroe d (sie entspricht der Kreisfrequenz, die sich im gedampften
Schwingkreis einstellt)
d2 = 02 d2
(3.171)
l
asst sich F (s) wie folgt angeben
F (s) =

A(s + d) + B Ad
.
(s + d)2 + d2

(3.172)

3.9 Einschwingvorg
ange in Netzwerken mit linearen Bauelementen

53

Die Anwendung des Verschiebungssatzes (Gl. (3.105)) auf die Beziehungen


(t) cos 0 t

s
s2 + 02

(3.173)

(t) sin 0 t

0
s2 + 02

(3.174)

und

liefert f
ur d2 > 0, also f
ur komplexwertige Pole, die Laplace-Zuordnungen
s+d

(t) edt cos d t


(s + d)2 + d2

(3.175)

(t) edt sin d t .


(s + d)2 + d2

(3.176)

Unter Zuhilfenahme dieser Zuordnungen kann die zu F (s) gehorige Zeitfunktion f (t) angegeben werden


B Ad
f (t) = (t) edt A cos d t +
sin d t .
(3.177)
d
Sollten jedoch die Pole im Reellen liegen, so wird anstatt d die Hilfsgroe
r2 = d2 02

(3.178)

verwendet. Dies f
uhrt schlielich mit den Korrespondenzen
s+d

(t) edt cosh r t


(s + d)2 r2

(3.179)

(t) edt sinh r t


(s + d)2 r2

(3.180)

und

zu der entsprechenden Zeitfunktion


B Ad
dt
A cosh r t +
sinh r t .
f (t) = (t) e
r

(3.181)

Die L
osungen f
ur komplexwertige Pole (Gl. (3.177)) und f
ur reellwertige Pole
(Gl. (3.181)) lassen sich mit der Beziehung
d2 = r2

(3.182)

d = jr

(3.183)

bzw.
ineinander u
uhren.
berf

54

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

Es ist noch der sog. aperiodische Grenzfall zu behandeln, bei dem die
beiden Polstellen zusammenfallen, d. h. es gilt
s1 = s2
02 = d2

(3.184)
(3.185)

und
d = r = 0 .

(3.186)

Die physikalische Deutung von Gl. (3.186) besagt, dass sich in der Sprungantwort gerade keine Schwingung mehr einstellt. Zur Berechnung der entsprechenden Zeitfunktion f (t) ist ein Grenz
ubergang von Gl. (3.177) bzw.
Gl. (3.181) notwendig. Gleichung (3.177) beispielsweise f
uhrt mit
lim

d 0

zu

sin d t
=t
d

f (t) = (t) edt [A + (B Ad)t] .

(3.187)

(3.188)

Anwendung auf den Serienschwingkreis


Wenn man nun die eben abgeleiteten Transformationen auf die LaplaceGleichung anwendet, die den Strom im Serienschwingkreis beschreibt (Gl.
(3.166)), so folgt mit
R
2L
1
02 =
LC
d=

(3.189)
(3.190)

A=0
B=

(3.191)

U0
2dU0
=
R
L

und
d2

r2

1
=
LC

(3.192)


R2 C
1
4L

(3.193)

der Strom im Serienschwingkreis beim Anlegen eines Gleichspannungssprunges


U0 dt 2d
i(t) = (t)
e
sin d t ,
(3.194)
R
d
wenn die Pole komplexwertig sind, bzw.

3.9 Einschwingvorg
ange in Netzwerken mit linearen Bauelementen

U0 dt 2d
e
sinh r t
R
r
U0 d dt r t
e (e er t )
= (t)
R r

U0 t/1
e
et/2
= (t)
2r L

U0 (dr )t
e
e(d+r )t
= (t)
2r L

55

i(t) = (t)

(3.195)

f
ur reellwertige Pole, d. h. wenn
d2 02 = r2 > 0 .

(3.196)

Gleichung (3.194) beschreibt eine gedampfte Sinusschwingung mit der Abklingkonstanten d und der Kreisfrequenz


2
d
d = 0 1
.
(3.197)
0
F
ur verschwindende Dampfung (d = 0) handelt es sich dabei um eine harmo1
nische Schwingung mit der Kreisfrequenz 0 = LC
.
Abbildung 3.18 zeigt den Stromverlauf f
ur solche Dampfungswerte, bei denen die Pole konjugiert komplex sind, so dass eine abklingende Schwingung
entsteht. Liegen jedoch die Pole im Reellen, so dass i(t) durch Gl. (3.195)

i(t)
U0
d L

Hllkurve
U0 - d t
e
d L

d=
d=

0
4
0
2

aperiodischer Grenzfall (d = 0 )

U0

d L

Abb. 3.18. Der Stromverlauf des Serienschwingkreises f


ur verschiedene D
ampfungswerte sowie f
ur den aperiodischen Grenzfall. Die Polstellen sind konjugiert-komplex.

56

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

beschrieben wird, ergibt sich ein Zeitverlauf gema Abb. 3.19. Der zeitliche
Funktionsverlauf errechnet sich aus der Dierenz zweier Exponentialfunktionen mit negativen Exponenten. Der aperiodische Grenzfall 02 = d2 f
uhrt zu
i(t) = (t) 2

U0
Uo dt
d t edt = (t)
te
.
R
L

(3.198)

In den Abbildungen 3.18 und 3.19 ist dieser Stromverlauf zum Vergleich ebenfalls eingezeichnet.

i(t)
U0
2r L

U0 . - t /
1
e
2r L

2 0
aperiodischer Grenzfall (d = 0 )

d=

2 = d+
r

1 = d-
r

U0
2r L

U0 . - t /
e
2
2r L

Abb. 3.19. Vergleich des Stromverlaufs im aperiodischen Grenzfall mit dem Stromverlauf bei st
arkerer D
ampfung. Die Pole liegen im Reellen. Es bilden sich keine
harmonischen Schwingungen mehr aus.

3.10 Ru
cktransformation mittels Residuenmethode Heavisidescher Entwicklungssatz
Ist die Laplace-Transformierte F (s) als Quotient zweier Polynome gegeben
F (s) =

Z(s)
,
N (s)

(3.199)

und hat F (s) nur einfache Pole bei s1 sn


F (s) =

Z(s)
,
(s s1 )(s s2 ) (s sn )

(3.200)

so l
asst sich die zu F (s) gehorende Zeitfunktion f (t) nach der sog. Residuenmethode (auch als Heavisidescher Entwicklungssatz bezeichnet)
berechnen [25]

3.10 Heavisidescher Entwicklungssatz

f (t) =

n
n

Z(s ) s t 
e
=
r es t .
 (s )
N

=1
=1

57

(3.201)

Dabei stellt N  (s ) die Ableitung von N (s) nach s an der Stelle s dar. F
ur
den Fall, dass N (s) Mehrfachpolstellen enthalt, ist die Auswertung nach der
Residuenmethode etwas aufwendiger. Daher soll an dieser Stelle nur auf die
entsprechende Literatur verwiesen werden [25], [45].
Beispiel f
ur die Anwendung des Heavisideschen Entwicklungssatzes

Wir betrachten einen Vierpol (Abb. 3.20) mit folgendem Ubertragungsverhalten


GAP (s) =

s2 2ds + 02
U2 (s)
= 2
.
U1 (s)
s + 2ds + 02

(3.202)

Ein solcher Vierpol wird auch als Allpass bezeichnet, weil er alle Frequenzen bez
uglich ihren Amplituden gleichermaen behandelt. Das heit, f
ur jede
beliebige harmonische Anregung mit j ergibt sich ein konstanter Betrag der

Ubertragungsfunktion
von
|GAP (j)| =

|U 2 (j)|
=1.
|U 1 (j)|

(3.203)

Abb. 3.20. Vierpol mit Allpasscharakter

Nur die Phase bzw. die Laufzeit der Signale wird durch den Allpass beeinusst. Dies kann auch anhand der vollkommen symmetrischen Anordnung
der Pole und Nullstellen eines Allpasses in der s-Ebene veranschaulicht werden (Abb. 3.21). Die eingerahmten Pole bzw. Nullstellen entsprechen dem Fall
d2 > 02 ; die konjugiert-komplexen Paare dem Fall d2 < 02 . GAP (s) besitzt
Pole bei

s1,2 = d d2 02 .
(3.204)
Es sind wiederum die drei Standardfalle
d2 > 02

(3.205)

d2 < 02

(3.206)

58

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

j.
j . 02 - d 2
q1

s1

-d

+d
= Re {s}

s2

q2
- j . 2 - d 2
0

Abb. 3.21. Pol-Nullstellen-Diagramm (s. S. 62) eines Allpasses. x: Polstellen, o:


Nullstellen, 2 : d2 > o2 (s. Gl. (3.202))

und
d2 = 02

(3.207)

zu unterscheiden.
Die zu GAP (s) gehorende Zeitfunktion gAP (t) wird als Impulsantwort des
Vierpols bezeichnet (s. auch Kap. 3.11). Sie lasst sich nach der Residuenmethode erst berechnen, wenn wir eine Polynomdivision vornehmen. Damit
wird sichergestellt, dass der Grad des Zahlerpolynoms kleiner ist als der des
Nennerpolynoms
GAP (s) =

s2 2ds + 02
4ds
=1 2
s2 + 2ds + 02
s + 2ds + 02

GAP (s) = 1 + GAP (s) .

(3.208)
(3.209)

uck in den ZeitbeWir wollen nun GAP (s) mit Hilfe der Residuenmethode zur
reich transformieren

gAP (t) = (t) + gAP


(t) = (t) + r1 es1 t + r2 es2 t .

(3.210)

F
ur die beiden Residuen von GAP (s) ergibt sich
r1 =

2ds1
Z(s1 )
=
N  (s1 )
s1 + d

(3.211)

r2 =

2ds2
Z(s2 )
=
.
N  (s2 )
s2 + d

(3.212)

und

3.10 Heavisidescher Entwicklungssatz

Mit Gl. (3.204) folgt

bzw.

59


2d(d d2 02 )

r1 =
d2 02

(3.213)


2d(d + d2 02 )

r2 =
.
d2 02

(3.214)

Mit der Hilfsgroe


r =


d2 02

(3.215)

und Gl. (3.201) erhalt man

gAP
(t) = r1 edt er t + r2 edt er t .

(3.216)

Schlielich ergibt sich mit Gl. (3.209) die Impulsantwort


gAP (t) = (t) + edt (r1 er t + r2 er t ) .

(3.217)

Nun sind wiederum die drei bekannten Fallunterscheidungen zu treen:


1. d2 > 02 :
Es ergeben sich reelle Werte f
ur r1 , r2 und r .
2. d2 < 02 :
Es ergeben sich konjugiert-komplexe Werte r1 und r2 sowie ein rein imagin
arer Wert r . Mit der Beziehung d2 = r2 (Gl. (3.182)) folgt

2d(d jd )
d
(3.218)
= 2d 1 j
r 1,2 =
jd
d

gAP
(t) = r1 es1 t + r2 es2 t


d
d
ejd t + 1 j
ejd t
= 2d edt 1 + j
d
d





d  jd t
= 2d edt ejd t + ejd t + j
e
ejd t
d


d
gAP (t) = (t) 4dedt cos d t
sin d t .
(3.219)
d

3. d2 = 02 (aperiodischer Grenzfall):
Mit Anwendung der Regel von LHospital folgt
gAP (t) = (t) 4dedt (1 d t) .

(3.220)

Abbildung 3.22 zeigt die Impulsantworten des betrachteten Allpasses f


ur verschiedene Werte von d bez
uglich 0 .

60

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

g (t)
AP

d = 2

d <
0

t
2

d > 2
0

-4d
Abb. 3.22. Impulsantwort des Allpasses f
ur verschiedene Werte von d

3.11 Vierpol-Ubertragungsfunktion
im Zeit- und
Frequenzbereich
Wir gehen von einem Vierpol (Abb. 3.23) aus, der aus passiven linearen konzentrierten Netzwerkelementen aufgebaut ist. Der Zusammenhang zwischen
dem zeitlichen Verlauf des Ausgangssignals y(t) und der zeitabhangigen Eingangsgr
oe x(t) wird u
ber das Faltungsintegral hergestellt
 +
 +
y(t) = x(t) g(t) =
x( )g(t )d =
x(t )g( )d . (3.221)

Da wir kausale Systeme voraussetzen, deren Impulsantwort g(t) f


ur t < 0
verschwindet, und auch die Anregungsfunktion f
ur t < 0 zu Null angenommen
werden darf, kann die untere Grenze des Faltungsintegrals () durch 0

und die obere Grenze (+) durch t ersetzt werden

 t
 t
y(t) =
x( )g(t )d =
x(t )g( )d .
(3.222)
0

Dabei bezeichnet g(t) die sog. Impulsantwort oder Gewichtsfunktion.


Man erh
alt sie als Ausgangssignal f
ur den Fall, dass die Erregung am Ein-

x (t)

g (t)

y (t)

Abb. 3.23. Ein Vierpol kann durch seine Impulsantwort g(t) charakterisiert werden


3.11 Vierpol-Ubertragungsfunktion
im Zeit- und Frequenzbereich

61

gang ein Dirac-Impuls (t) ist, d. h. (Abb. 3.24)


y(t) = g(t)

f
ur

x(t) = (t) .

(3.223)

Im Laplace-Bereich vereinfacht sich das Faltungsintegral gema Kap. 3.5.4 zu


einer Multiplikation der entsprechenden Laplace-Transformierten der an der
Faltung beteiligten Funktionen, d. h.
y(t) = L1 {Y (s)} = L1 {G(s) X(s)} .

(3.224)

Dabei wird G(s) als Laplace-Ubertragungsfunktion


(auch Netzwerku
bertragungsfunktion) des Systems bzw. Vierpols bezeichnet. Im Folgen
den sollen die Eigenschaften und die Darstellungsmoglichkeiten dieser Ubertragungsfunktion G(s) und der dazugehorigen Zeitfunktion g(t) (Impulsantwort) n
aher betrachtet werden.
Dirac-Sto
x(t)

x(t)

(t)

t=0

lineares Netzwerk
Impulsantwort g(t)

Impulsantwort
y(t)

y(t)
g(t)
t

Abb. 3.24. Anregung eines linearen Systems durch einen Dirac-Sto

Es kann gezeigt werden, dass G(s) f


ur ein lineares passives Netzwerk aus
konzentrierten Elementen als Quotient zweier Polynome darstellbar ist
G(s) =

Z(s)
.
N (s)

(3.225)

Da G(s) gleichermaen auch als Quotient von Laplace-Ausgangsfunktion Y (s)


zu Laplace-Eingangsfunktion X(s) dargestellt werden kann
G(s) =

Y (s)
,
X(s)

(3.226)

sind die Koezienten der Polynome Z(s) und N (s) reell und identisch mit
den Koezienten der Dierentialgleichung (Gl. (5.69)), die den Zusammenhang zwischen y(t) und x(t) f
ur t > 0 beschreibt. Aus diesem Grund liegen die
Nullstellen der Polynome Z(s) und N (s) bei reellen, bei paarweise entgegengesetzt gleichen imaginaren oder bei paarweise konjugiert komplexen Werten.
Die Pole s von G(s), d. h. also die Nullstellen des Nennerpolynoms N (s),
werden auch als Eigenwerte des Netzwerkes bezeichnet. Liegen diese Pole
in der linken Laplace-Halbebene ( < 0), dann gilt das Netzwerk als stabil,
weil keine aufklingenden Schwingungen auftreten konnen. Dies liegt daran,
dass die Pole bzw. Eigenwerte s die Exponenten der in der Impulsantwort

62

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

auftretenden Schwingungen in der Form es t festlegen. Bei Netzwerken, die


nur aus passiven Elementen bestehen, liegen die Pole immer in der abgeschlossenen linken Halbebene. Die Nullstellen q des Zahlerpolynoms Z(s) hingegen
sind bzgl. ihrer Lage nicht auf die linke s-Halbebene beschrankt.

Zur anschaulichen Darstellung von Ubertragungsfunktionen


verwendet
man des
ofteren sog. Pol-Nullstellen-Diagramme. Abbildung 3.25 zeigt

die Pol-Nullstellenverteilung einer Ubertragungsfunktion


vom Grad n = 3,
d. h. sie weist drei Pole auf,
G(s) = const.

(s q1 )(s q2 )
.
(s s1 )(s s2 )(s s3 )

(3.227)

Die Pole sind im Diagramm mit Kreuzen (x) und die Nullstellen mit Rin
gen (o) gekennzeichnet. Das Pol-Nullstellen-Diagramm lasst das Ubertragungsverhalten des Vierpols, das ja durch G(s) mathematisch beschrieben
wird, f
ur beliebige s, insbesondere auch f
ur s = j, d. h. also f
ur ungedampfte
harmonische Schwingungen, unmittelbar erkennen. Wenn namlich das lineare
Netzwerk eine rein harmonische Anregung der Form
jt
jx () jt

x(t) = Re{X()e
} = Re{X()e
e }

(3.228)

erf
ahrt, f
uhrt dies im eingeschwungenen Zustand bei einem linearen Vierpol
stets zu einem Antwortsignal y(t) mit derselben Frequenz aber veranderter
Amplitude und Phasenlage
y(t) = Re{Y ()ejt } = Re{Y ()ejy () ejt } ,

(3.229)

=X
und |Y | = Y gilt. Die Ubertragungsfunktion

wobei |X|
G(j) des linearen
Systems ist dann folgendermaen deniert
j.
s1

s3

q1

q2

= Re {s}

s2

Abb. 3.25. Pol-Nullstellen-Diagramm einer Ubertragungsfunktion


mit 2 Nullstellen
(o) und 3 Polen (x)


3.11 Vierpol-Ubertragungsfunktion
im Zeit- und Frequenzbereich

G(j) =

Y ()
Y () j(y x )
= |G(j)|ej() .
=
e

X()
X()

63

(3.230)

Die komplexe Ubertragungsfunktion


G(j) lasst sich aufspalten in den Betragsgang |G(j)| und den dazugehorigen Phasengang arg{G(j)} = ().

F
ur den Sonderfall s = j beschreibt also diese Ubertragungsfunktion
das
Netzwerkverhalten f
ur den stationaren harmonischen Betrieb bei der Kreisfrequenz . Der Funktionsverlauf G(j) wird als Frequenzgang bezeichnet.
Er ist komplexwertig und wird daher oft in den Amplitudengang und den
Phasengang aufgespalten.
Amplitudengang: |G(j)|
Phasengang:
arg{G(j)}
Wir wollen zunachst den Amplitudengang betrachten
|G(j)| = |const.|

|j q1 ||j q2 |
.
|j s1 ||j s2 ||j s3 |

(3.231)

Die einzelnen Betragskomponenten in dieser Gleichung entsprechen den Distanzen des beliebig variierbaren Aufpunktes j zu den einzelnen Pol- und
Nullstellen s bzw. q . Das Verhaltnis dieser Betrage charakterisiert den Amplitudengang. Es lasst sich direkt aus dem Pol-Nullstellen-Diagramm ermitteln (Abb. 3.26). Es verdeutlicht auch, wie sich |G(j)| bei Annaherung an
eine Polstelle vergroert und bei Annaherung an eine Nullstelle verkleinert.
Der Phasenwinkel von G(j) lasst sich ebenfalls aus dem Diagramm bestimmen
j.
s1
P1

j s 3

j s 1
s = j

frei variierbares
j q = 2 + q 2

j q1

P3

N1

s3

q1

N2

q2

= Re {s}

j s2
2+
2R

= s

(s +  2
2I

P2

s2

Abb. 3.26. Bestimmung von Betrag und Phase einer Ubertragungsfunktion


anhand
der Einzelbeitr
age aller Nullstellen und Pole

64

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

<
) G(j) = N1 + N2 P1 P2 P3 .

(3.232)

Allgemein kann man feststellen, dass in der linken Halbebene liegende Pole
sowie die in der rechten Halbebene liegende Nullstellen mit wachsendem den
Phasenwinkel verringern, wahrend ihn die Nullstellen in der linken Halbebene
erh
ohen. Nullstellen auf der imaginaren Achse liefern einen Winkel von /2,

der beim Uberschreiten


einer Nullstelle um springt.
Der kleinstmogliche Winkelbeitrag ergibt sich, wenn alle Nullstellen von

G(s) in der linken Halbebene liegen. Ubertragungsnetzwerke


mit dieser Eigenschaft bezeichnet man als Minimalphasensysteme. Sobald Nullstellen

in der rechten Halbebene auftreten, enthalt das Ubertragungsnetzwerk


einen
Allpassanteil (s. auch Kap. 3.10).

3.12 Beschreibung von linearen zeitinvarianten


Netzwerken durch ihre Sprungantwort
Die Antwort y(t) eines vom Ruhezustand aus mit der Sprungfunktion (t)

0 f
ur t < 0
(t) =
(3.233)
1 f
ur t 0

angeregten Netzwerkes wird Sprungantwort h(t) oder auch Ubergangsfunktion


genannt (Abb. 3.27). Sie charakterisiert das Netzwerk ebenso vollstandig wie
die Impulsantwort g(t). Der Zusammenhang zwischen Sprungantwort h(t) und
Impulsantwort g(t) lasst sich leicht herleiten


g( )d .

h(t) =

(3.234)

Sprunganregung
x(t)

x(t)
t=0 t

Lineares
Netzwerk

y(t)

Sprungantwort
h(t)
y(t)
t

Abb. 3.27. Anregung eines linearen Netzwerkes durch einen Sprung

3.13 Bode-Diagramme

65

3.13 Bode-Diagramme

Wir betrachten die Ubertragungsfunktion


G(s) eines zeitinvarianten linearen
Netzwerkes. Diese lasst sich gema Gl. (3.227) durch eine gebrochen rationale
Funktion der Form
G(s) =

(s q1 )(s q2 ) (s qn )
(s s1 )(s s2 ) (s sm )

(3.235)

darstellen. F
ur den Spezialfall s = j folgt die Ubertragungsfunktion
G(j)
G(j) =

(j q1 )(j q2 ) (j qn )
.
(j s1 )(j s2 ) (j sm )

(3.236)

Als erstes Beispiel wollen wir die einfache Ubertragungsfunktion


G(j) =

10
j + 10

(3.237)

betrachten. Abbildung 3.283 zeigt den im linearen Mastab gezeichneten Amplitudengang.


G(j)
1

G (s) =

100

10
s + 10

200

300

Abb. 3.28. Amplitudengang der Ubertragungsfunktion


G(s) =
Darstellung

10
s+10

in linearer

In der Praxis ist es jedoch u


blich, solche Amplitudengange in doppelt logarithmischer Form aufzutragen. Dazu wird |G(j)| logarithmiert4 , mit 20 multipliziert und in der Einheit Dezibel dB dargestellt (Abb. 3.29)
3

Die Einheitenbezeichnung der Frequenzachse wird hier wie in den folgenden Diagrammen weggelassen, da es sich hierbei um abstrakte Beispiele ohne konkreten
Bezug zu realen Systemen handelt.
Der hier verwendete Logarithmus mit der Basis 10 (Zehnerlogarithmus) wird in
diesem Buch stets mit lg bezeichnet.

66

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

G(j)
0
dB
-10

G (s) =

10
s + 10

-20
-30

0,1

10

100

1000

Abb. 3.29. Amplitudengang in doppelt logarithmischer Darstellung (sowohl die


Abszisse als auch die Ordinate ist logarithmisch unterteilt)

|G(j)| = 20 lg |G(j)| dB .

(3.238)

Die graphische Darstellung des Phasenganges


(j) = arg{G(j)}

(3.239)

erfolgt in aller Regel einfachlogarithmisch, d. h. man tragt linear und logarithmisch auf. Abbildung 3.30 zeigt den Phasengang der oben betrachteten

Ubertragungsfunktion
(Gl. (3.237)). Man bezeichnet diese Darstellungen als
Bode-Diagramm.

Solange die Pole und Nullstellen der Ubertragungsfunktion


im Pol-Nullstellen-Diagramm auf der negativen reellen Achse liegen, konnen die Asymptoten
arg{G(j)}
0
G (s) =

10
s + 10

-45

-90
0,1

10

100

Abb. 3.30. Phasengang von G(s) =

1000

10
s+10

3.13 Bode-Diagramme

67

der Diagrammverlaufe nach einem einfachen Schema festgelegt werden. Dazu


betrachten wir wiederum beispielhaft die Funktion
G(s) =

10
,
s + 10

(3.240)

die einen Pol bei s1 = 10 hat.


Eine einfache Analyse der Situation f
uhrt zu Tab. 3.3 und dem in den
Abbn. 3.31 und 3.32 dargestellten asymptotischen Verhalten.

Tabelle 3.3. Analyse der Ubertragungsfunktion


G(s) =

10
s+10

20 lg |G(j)| dB Phase

G(j)

=0

0 dB

0o

< 0, 1|s1 |

0 dB

0o

< |s1 |

0 dB

= |s1 |

10
js1 +10

- 3 dB

> |s1 |

10
j

- 20 dB/Dekade

> 10|s1 |

10
j

- 20 dB/Dekade

G(j)

45o

90o

approximierter
exakter Verlauf

0
-3
-10
dB
-20

G (s) =

10
s + 10

-30

0,1

Abb. 3.31.
10
G(s) = s+10

10

100

1000

Mit Hilfe von Asymptoten bestimmter Amplitudengang von

68

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

arg{G(j)}
0
-6
exakter Verlauf
-45

G (s) =

10
s + 10

-84
-90

0,1

10

100

1000

Abb. 3.32. Mit Hilfslinien angen


aherter Phasengang von G(s) =

10
s+10

Hat die Ubertragungsfunktion


statt des Pols eine entsprechende Nullstelle bei
s = q1 , kehrt sich das Diagramm um (Abbn. 3.33 und 3.34).
G(j)
50
dB
40

G (s) = s + 10

30

exakter Verlauf

23
20

0,1

10

100

1000

Abb. 3.33. Mit Asymptoten angen


aherter Amplitudengang von G(s) = s + 10

3.13 Bode-Diagramme

69

arg{G(j)}
+90
+84
G (s) = s + 10
+45

exakter Verlauf

+6
0

0,1

10

100

1000

Abb. 3.34. Vergleich des exakt berechneten sowie des mit Hilfslinien angen
aherten

Phasenganges der Ubertragungsfunktion


G(s) = s + 10

3.13.1 Regeln f
ur Bode-Diagramme (reelle Pole und Nullstellen)

F
ur den Fall, dass die Ubertragungsfunktion
mehrere reelle Pole und Null
stellen enthalt, geht man folgendermaen vor: Man zerlegt die Ubertragungsfunktion multiplikativ in Systeme 1. Ordnung und addiert dann den
logarithmisch dargestellten Amplitudengang sowie die linear dargestellte Phase. Unter der Bedingung, dass sich alle Pole und Nullstellen auf der negativen
reellen Achse des Pol-Nullstellen-Diagramms benden und der gegenseitige
Abstand gen
ugend gro ist, lassen sich Regeln denieren, die das Abschatzen
der Amplituden- und Phasenverlaufe erleichtern [66], [151]:
Amplitudengang
1. Lage und Vielfachheit von Polen und Nullstellen bestimmen
2. Achsen zeichnen und Eckfrequenzen eintragen
3. Bei 0 beginnen:
a) weder Pol noch Nullstelle bei s = 0:
Steigung 0 dB/Dekade
b) pro Pol bei s = 0:
Steigung -20 dB/Dekade
c) pro Nullstelle bei s = 0:
Steigung +20 dB/Dekade
4. Gerade Linie bis zur nachsten Eckfrequenz
5. F
ur jeden Pol Steigung um 20 dB/Dekade verringern, f
ur jede Nullstelle
Steigung um 20 dB/Dekade erhohen. Punkte 4 und 5 so lange wiederholen,
bis alle Eckfrequenzen abgearbeitet sind
6. Beschriftung der vertikalen Achse durch Ausrechnen von |G(j)| in einem
waagrechten Bereich des Bode-Diagrammes.
7. Ecken um 3 dB pro Pol bzw. Nullstelle abrunden

70

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

Phasengang
1. Achsen zeichnen und Eckfrequenzen eintragen
2. Bei 0 beginnen:
a) weder Pol noch Nullstelle bei s = 0:
Phase 0
b) pro Pol bei s = 0:
Phase 90
c) pro Nullstelle bei s = 0:
Phase +90
d) Ein negativer reeller Vorfaktor bewirkt einen Phasenoset von 180 .
3. Gerade Linie bis 0, 1 nachste Eckfrequenz
4. Jeder Pol subtrahiert 90 , jede Nullstelle addiert 90 u
ber einen Bereich
von 0, 1 Eckfrequenz bis 10 Eckfrequenz verteilt. Auf diese Art alle
Eckfrequenzen abarbeiten
5. Phasenskizze glatten, so dass arctan-Verlaufe entstehen. Abrundungen ca.
6 pro Pol bzw. Nullstelle bei 0, 1 Eckfrequenz und 10 Eckfrequenz

Beispiel: Bode-Diagramm mit reeller Pol-Nullstellenverteilung

Betrachten wir folgende Laplace-Ubertragungsfunktion


G(s) =

s + 1000
.
(s + 10)2

(3.241)

Es benden sich weder Pole noch Nullstellen bei s = 0, daher ergibt sich
bei 0 f
ur den Amplitudengang |G(j)| = 20 dB und eine Steigung von
0 dB sowie f
ur den Phasengang arg{G(j)} = 0. Bei s = 10 bendet sich ein
doppelter Pol, daher fallt der Amplitudengang ab = 10 mit 40 dB/Dekade
ab und die Phase verringert sich auf 180 u
ber einen Bereich von = 1 bis
= 100 verteilt. Die Nullstelle bei s = 1000 f
uhrt dazu, dass die Steigung
des Amplitudenganges sich ab = 1000 auf 20 dB/Dekade erhoht und die
Phase auf 90 ansteigt. Die Abbildung 3.35 zeigt die approximierten sowie
die exakten Verlaufe.

3.13 Bode-Diagramme

71

G(j)
20
17
14
10

G (s) =

s + 1000
(s + 10)

dB
0,1

10

100

1000

10000

-20

-40
exakter Verlauf
-60

arg{G(j)}
0
0,1

-45

10

100

1000

10000

exakter Verlauf
G (s) =

s + 1000
(s + 10)

-90

-135

-180
Abb. 3.35. Approximierter und exakt berechneter Amplituden- und Phasengang

72

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

3.13.2 Regeln f
ur Bode-Diagramme mit komplexen Polpaaren

Wenn die Ubertragungsfunktion


ein komplexes Polpaar aufweist, bedeutet
dies, dass ein schwingungsfahiges System beschrieben wird, z. B. ein Resonanzkreis. Man hat zwei Falle zu unterscheiden (Abb. 3.36):
j.
schwach gedmpft

= Re {s}

stark gedmpft

Abb. 3.36. Konjugiert-komplexe Polstellen f


ur schwach ged
ampftes sowie stark
ged
ampftes System

schwach ged
ampftes System
Ob eine schwache oder eine starke Dampfung vorliegt, lasst sich an der Lage
der Doppelpolstelle ablesen. Gilt f
ur den Betrag des Imaginarteils |Im(si )|
|Re(si )|, so herrscht schwache Dampfung vor, was dazu f
uhrt, dass es im Amplitudengang zu einer deutlichen Resonanz
uberhohung kommt.
F
ur Frequenzen weit oberhalb der Eckfrequenz fallt der Amplitudengang mit 40 dB/Dekade aufgrund des doppelten Pols. Ferner ndet die Resonanz
uberh
ohung bei |Im (si )| statt, d.h. in der Nahe des Imaginarteils des
Pols. Diese ist umso ausgepragter, je naher der Pol an der imaginaren Achse
liegt. N
aher heit, dass der Winkel zwischen der Verbindungsgeraden (Pol

- Nullpunkt) und der imaginaren Achse kleiner ist. Die Phase fallt an dieser
Stelle wegen des doppelten Pols nahezu sprunghaft um 180 ab. Die Nahe der
Pole zur imaginaren Achse ist ein Ma f
ur die Steilheit dieses Phasensprungs.

3.13 Bode-Diagramme

73

stark ged
ampftes System
Bei stark ged
ampften Systemen ist der Realteil der konjugiert-komplexen Polstelle wesentlich groer als der Imaginarteil. Es gilt |Im(si )| |Re(si )|. Auch
hier f
allt der Amplitudengang mit 40 dB/Dekade f
ur Frequenzen oberhalb der

Eckfrequenz ab. Die Uberh


ohung im Amplitudengang infolge Resonanz geht
allerdings immer mehr zur
uck und verschwindet f
ur den Grenzfall, dass die
konjugiert-komplexe Polstelle in einen Doppelpol u
bergeht. In diesem Grenzfall zeigt der Amplitudengang den bereits oben diskutierten 6 dB-Abfall bei
der Eckfrequenz |Re(si )|.
Systeme mit mittlerer D
ampfung
F
ur F
alle, die zwischen den o. g. Extrema (|Im(si )| |Re(si )| und |Im(si )|
|Re(si )|) liegen, gelten folgende Regeln:

1. Ein Uberschwingen
tritt auf, sobald der Imaginarteil der Polstelle groer
wird als der Realteil, d. h. f
ur |Re(si )| < |Im(si )|.
2. Die Eckfrequenz ergibt sich aus dem Betrag der Polstelle

= Re(si )2 + Im(si )2 .
(3.242)

3. Das Maximum der Uberschwingungsamplitude


liegt zwischen der Frequenz = 0 und der Eckfrequenz aus Pkt. 2.
Beispiele: Bode-Diagramme f
ur komplexe Polpaare
Im Folgenden wollen wir zwei Beispiele diskutieren. Zunachst betrachten wir

die Ubertragungsfunktion
G(s) =

s2

1
.
+ 0, 4s + 1, 04

(3.243)

Sie besitzt lediglich ein komplexes Polpaar bei s1,2 = 0, 2 j. Daraus


folgt, dass f
ur kleine die Phase gleich Null ist. Auerdem erhalt man f
ur
0 einen waagrechten Amplitudenverlauf mit |G(j)| 0 dB. Das Polpaar f
uhrt zu einer deutlichen Resonanz
uberhohung an der Stelle 1; f
ur
h
ohere Frequenzen lasst sich der Amplitudenverlauf durch eine Gerade mit
40 dB/Dekade Steigung annahern. Die Phase fallt bei 1 um 180 ab

(Abb. 3.37). Um den Einuss der Pol-Nullstellenkonguration auf das Uber


tragungsverhalten eines Netzwerkes zu verdeutlichen, betrachten wir die Ubertragungsfunktion
G(s) =

s(s + 100)2 (s + 104 )


. (3.244)
(s + 0, 2 + j)(s + 0, 2 j)(s + 20 + 1000j)(s + 20 1000j)


3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

74

G(j)
20
17
10
dB
0,01

0,1

10

100

-20
G (s) =

1000

1
s2 + 0,4s + 1,04

-40

-60

arg{G(j)}
0
0,01

0,1

10

100

1000

-45
G (s) =

1
s2 + 0,4s + 1,04

-90

-135

-180
Abb. 3.37. Amplituden- und Phasengang mit einer Resonanz
uberh
ohung bei 1

3.13 Bode-Diagramme

75

j.
s5

s2
s1
s7

s4

= Re {s}

s3

s6
Abb. 3.38.
Gl. (3.244)

Pol(x)-Nullstellen(o)-Diagramm der Ubertragungsfunktion


nach

Diese Darstellung lasst die Lage der Pole und Nullstellen sofort erkennen
(Abb. 3.38). Die Nullstelle bei s1 = 0 f
uhrt dazu, dass die Amplitude f
ur kleine
mit 20 dB/Dekade ansteigt (Abb. 3.39). Die erste Resonanz
uberhohung wird
durch das komplexe Polpaar s2,3 = 0, 2 j verursacht und bendet sich bei
1. Hier
andert sich die Steigung um 40 dB/Dekade auf 20 dB/Dekade.
Als n
achstes folgt eine doppelte Nullstelle auf der reellen Achse bei s4 =
100. Daher andert sich die Steigung bei = 100 um +40 dB/Dekade auf
+20 dB/Dekade. Wegen des komplexen Polpaares s5,6 = 201000j kommt es
bei 1000 abermals zu einer Resonanz
uberhohung. Die Steigung des Amplitudenganges andert sich um 40 dB/Dekade auf 20 dB/Dekade. Schlielich gilt es noch die Nullstelle s7 = 104 zu beachten, welche dazu f
uhrt, dass
sich die Steigung bei = 104 um +20 dB/Dekade auf 0 dB/Dekade erhoht.
Beim Vergleich des approximierten Amplitudenganges (Abb. 3.39) mit der
exakten L
osung fallt auf, dass die zweite Resonanz wesentlich starker ausgepr
agt ist als die erste. Dies ist darauf zur
uckzuf
uhren, dass das Polpaar s5,6
n
aher an der imaginaren Achse liegt als das Polpaar s2,3 . Naher heit, dass

der Winkel der Pole mit der imaginaren Achse kleiner ist. Abschlieend muss
noch die vertikale Achse beschriftet werden. Hierzu benutzt man die Tatsache,
dass der Amplitudenverlauf f
ur waagrecht ist und dass die Amplitude
dort 0 dB betragt (lim |G(j)| = 1). F
ur die Phase bei kleinen Frequenzen erh
alt man wegen der Nullstelle bei s1 = 0 den Wert +90. Beim ersten
komplexen Polpaar andert sich die Phase um 180 auf 90 . Die doppelte Nullstelle bei s4 = 100 f
uhrt zu einem Anstieg um 180 auf (ungefahr)
zwei Dekaden verteilt. Das zweite komplexe Polpaar verursacht wiederum eine
Phasen
anderung um 180. Schlielich bleibt noch die Nullstelle s7 = 104

76

3 Ausgleichsvorg
ange, Frequenz-Transformation und Ubertragungsverhalten

G(j)

60

s (s + 100)2 (s + 104 )
(s + 0,2 + j) (s + 0,2 - j) (s + 20 + 1000j) (s + 20 - 1000j)

G (s) =

dB
40

exakter

20

Verlauf
approximierter

0
0,1

arg{G(j)}
+90

100

10

1000

10000

G (s) =

s (s + 100)2 (s + 10 )
(s + 0,2 + j) (s + 0,2 - j) (s + 20 + 1000j) (s + 20 - 1000j)

exakter

Verlauf
approximierter

+45

0
0,1

10

100

1000

10000

-45

-90
Abb. 3.39. Amplituden- und Phasengang mit zwei Resonanz
uberh
ohungen bei
1 und 1000

wodurch die Phase auf 0 zur


uckgeht. Betrachtet man den exakten Phasenverlauf in Abb. 3.39, so erkennt man, dass sich hier die starkere zweite Resonanz
in einem deutlich steileren Phasen
ubergang auswirkt.

4
Nichtlineare elektrische Bauelemente,
Schaltungen und Systeme

Im Gegensatz zu den vereinfachenden Annahmen, dass die in den betrachteten elektrischen Netzwerken enthaltenen Bauelemente zeitinvariant, d.h. keine
Funktion der Zeit darstellen, und linear sind, d. h. keine Abhangigkeiten der
Widerstands-, Kapazitats- und Induktivitatswerte von den angelegten Spannungen bzw. den durch sie ieenden Stromen vorhanden sind, wollen wir in
diesem Kapitel gerade diese Abhangigkeiten zulassen. Wir sprechen in diesem
Fall allgemein von zeitvarianten
R, L, C = f (t)

(4.1)

R, L, C = f (u, i)

(4.2)

bzw. nichtlinearen
Bauelementen und Netzwerken. Sie stellen eine Verallgemeinerung der linearen
Bauelemente und Netzwerke dar.

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)


4.1.1 Vorbemerkungen
Nichtlineare Bauelemente werden im Allgemeinen durch ihre Kennlinien beschrieben. Kennlinien konnen als geschlossene analytische Ausdr
ucke, in Form
von Tabellen oder als gemessene Kurven vorliegen. Bei einem Widerstand
spricht man von einer Strom-Spannungs-Kennlinie, bei einer Induktivitat
von einer Fluss-Strom-Kennlinie und bei einer Kapazitat von einer LadungsSpannungs-Kennlinie. Ist der Kennliniengraph punktsymmetrisch zum Ursprung, so bezeichnet man diesen als bilaterale Kennlinie. Kennlinien, die
bei sehr langsam veranderlichen oder zeitlich konstanten anregenden Groen
aufgenommen werden, heien statische Kennlinien.
Bei linearen Elementen und sinusformiger Anregung kann eine Kennlinie,
welche die Momentanwerte von Strom
und Spannung beschreibt, durch ein
fache Skalierung mit dem Faktor 2 auf beiden Achsen gema

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_4

78

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

U
Ue =
2

und

I
Ie =
2

(4.3)

in eine Kennlinie zur Beschreibung der Eektivwerte umgewandelt werden,


und I die Scheitelwerte von Spannung bzw. Strom bezeichnen.
wobei U
Bei Bauelementen mit nichtlinearer Kennlinie besteht nat
urlich keine lineare Beziehung mehr zwischen Strom und Spannung. Bei Anlegen einer sinusf
ormigen Wechselspannung an ein nichtlineares Element ist der Strom nicht
mehr sinusf
ormig. Er enthalt neben der Grundfrequenz noch hohere Harmonische. Der Eektivwert bestimmt sich dann zu


1 T 2
Ie =
i (t) dt .
(4.4)
T 0
Aus diesem Grunde gehen Momentanwert- und Eektivwertkennlinie nicht
mehr einfach durch Mastabsanderung auseinander hervor. Der Unterschied
zwischen beiden Kurven ist aber im Allgemeinen gering, da sich bei der Bildung des Eektivwertes die Oberwellen quadratisch zur Grundwelle addieren
und deren Amplituden (im Vergleich zur Grundwelle) mit der Ordnungszahl
der Harmonischen abnehmen.
4.1.2 Nichtlinearer Widerstand
Das Schaltsymbol f
ur einen nichtlinearen Widerstand ist in Abb. 4.1 gezeigt.
Man unterscheidet zwischen stromgesteuerten Widerst
anden, die in
der Form
u = R(i) i
(4.5)
und spannungsgesteuerten Widerst
anden, die in der Form
i = G(u) u

(4.6)

dargestellt werden. Im zeitvarianten Fall tritt zu der jeweiligen Abhangigkeit


noch die der Zeit t hinzu.
i
u
Abb. 4.1. Schaltsymbol f
ur nichtlinearen Widerstand

In Abb. 4.2 ist exemplarisch eine Strom-Spannungs-Kennlinie eines nichtlinearen (stromgesteuerten) Widerstandes gezeigt. An dieser Kennlinie sind nun
allgemein zwei verschiedene Groen zur Beschreibung des Bauteils deniert.
Betrachtet man einen speziellen Arbeitspunkt (u0 , i0 ), so wird die Steigung
der Ursprungsgeraden durch diesen Punkt als statischer Widerstand

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)

R s (i 0)

79

R(i 0)

u
u0

a)

i0

R s (i)
b)

R(i)
i

Abb. 4.2. a) Strom-Spannungs-Kennlinie eines nichtlinearen ohmschen Widerstandes mit Ursprungsgerade und Tangente im Arbeitspunkt (u0 , i0 ), b) statischer RS
und dierentieller Widerstand R

Rs (i0 ) =

u0
i0

(4.7)

bezeichnet (Abb. 4.2). Er ist eine Funktion des Arbeitspunktes. Die Steigung
der Tangente an die Kurve im Arbeitspunkt (i0 ) hingegen entspricht dem
dierentiellen Widerstand

du 
R(i0 ) =
.
(4.8)
di i=i0
Neben der Betrachtung der (statischen) Kennlinie des nichtlinearen Bauelements ist auch dessen Zeitverhalten von grundlegender Wichtigkeit. So reagiert ein reales nichtlineares Bauelement, je nach zugrundeliegendem physikalischem Mechanismus, der f
ur die Nichtlinearitat verantwortlich ist, nicht so
fort auf eine Anderung
der aueren elektrischen Groen. Innere physikalische
Vorg
ange, die zur Nichtlinearitat f
uhren, konnen z. B. einem Exponentialgesetz mit einer bestimmten Zeitkonstante gehorchen. Ist die Nichtlinearitat
des Bauteils temperaturbedingt, so kann die entsprechende Erwarmungszeitkonstante im Bereich von Sekunden oder Minuten liegen. Bauelemente mit
einer im Vergleich zur Periodendauer der anregenden Groe T groen Zeitkonstanten bezeichnet man als tr
age Bauelemente. Man hat drei Falle
zu unterscheiden [140]:

80

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

1. Die Periodendauer der anregenden Gr


oe ist sehr gro im Vergleich zur
Zeitkonstanten des nichtlinearen Bauelementes (T  ):
Hier verhalt sich das Bauelement tragheitslos. Ein nichtlinearer Widerstand verhalt sich hier wie sein dierentieller Widerstand im jeweiligen
Arbeitspunkt.
2. Die Periodendauer der anregenden Gr
oe ist sehr klein im Vergleich zur
Zeitkonstanten des nichtlinearen Bauelementes (T  ):
Das Bauelement ist trage, d. h. es andert seinen Widerstandswert fast
nicht. Somit verhalt es sich bei dieser Anregung wie ein lineares Bauelement mit konstantem Widerstandswert, der seinem statischen Widerstand
entspricht. Die Kennlinie geht u
ber in eine Ursprungsgerade mit dem Anstieg des statischen Widerstandes.
3. Die Periodendauer der anregenden Groe liegt in der Groenordnung der
Zeitkonstanten des nichtlinearen Bauelementes (T ):
Der Widerstandswert andert sich verz
ogert, d. h. die Kennlinie erhalt die
Form einer geschlossenen Kurve, die den Arbeitspunkt umfasst. Es tritt
also eine Hysterese auf und Strom sowie Spannung am Widerstand werden
gegeneinander in der Phase verschoben, so dass zusatzlich zum ohmschen
Widerstand kapazitive und induktive Anteile hinzutreten.

Abb. 4.3. Kennlinie eines bilateralen Widerstandes

Passive Widerst
ande sind Widerstande, die weder Quellen enthalten noch
Halbleitereigenschaften aufweisen. Sie zeigen eine bzgl. des Koordinatenursprunges im u iKennlinienfeld punktsymmetrische Kennlinie (Abb. 4.3).
Man bezeichnet diese Widerstande bzw. ihre entsprechende Kennlinie auch
als bilateral. Die Klemmen dieses Widerstandes sind beliebig vertauschbar.
Diese Punktsymmetrie geht verloren, wenn die Bauelemente Halbleiter mit

pnUberg
angen enthalten, wie z. B. Dioden. Abbildung 4.4 zeigt die typische
i uKennlinie einer Diode

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)

81

i
i

IS

Abb. 4.4. Typische Diodenkennlinie mit Schaltzeichen

i = Is (eu/UT 1),

(4.9)

wobei UT die Temperaturspannung bezeichnet


UT =

kT
e

(4.10)

mit
k: Boltzmannkonstante k = 1, 38 1023 Ws
K
e: Elektronenladung
e = 1, 6 1019 As
T : absolute Temperatur.
Eine besondere Eigenschaft weisen die sog. Tunneldioden auf; sie zeigen
n
amlich in ihrer i uKennlinie Bereiche mit negativer Steigung (Abb. 4.5).
Dies bedeutet, dass sich die Tunneldiode dort wie ein negativer dierentieller Widerstand verhalt. Bez
uglich eines vorgegebenen Stromwertes i kann es
i
i
di
<0
du
u

Abb. 4.5. Kennlinie und Schaltzeichen einer Tunneldiode

82

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

zu Mehrdeutigkeiten kommen. So weist die Kennlinie f


ur gewisse Stromwerte
beispielsweise 3 Schnittpunkte mit dazugehorigen Spannungswerten auf. Die
Tunneldiode ist daher als spannungsgesteuerter, zeitinvarianter nichtlinearer
Widerstand zu betrachten.
Aufgrund des negativen dierentiallen Widerstands eignen sich Tunneldioden f
ur den Aufbau von Oszillatorschaltungen. Eine solche Schaltung ist in
Abb. 4.6 gezeigt. Sie enthalt neben der Tunneldiode noch eine Induktivitat LS

Abb. 4.6. Einfache Oszillatorschaltung mit einer Tunneldiode und Induktivit


at.

mit zugeh
origem Wicklungswiderstand RS . Der Messwiderstand RShunt dient
der Strommessung im Experiment. Die Schaltung wird von einer Gleichspannungsquelle U0 > 0 mit vernachlassigbarem Innenwiderstand gespeist. Die
Dierentialgleichung des vorliegenden Netzwerks lautet f
ur Zeiten t 0
U0 = iD (t)(RS + RShunt ) + uD (t) + LS

diD (t)
.
dt

(4.11)

Diese muss zu jedem Zeitpunkt erf


ullt sein. Die Spannung an der Tunneldiode uD (t) ist dabei mit dem Strom iD (t) u
ber deren nichtlineare Kennlinie
(Abb. 4.7) verkn
upft. Da der Diodenstrom iD (t) auch durch die Spule iet,
k
onnen keine Unstetigkeiten (Spr
unge) in dessen zeitlichem Verlauf auftreten.
Abh
angig vom Wert der Gleichspannung U0 sind prinzipiell drei verschiedene
statische Arbeitspunkte (AP) denkbar: (i) AP auf dem linken steigenden Ast
der Kennlinie (bis Punkt B). (ii) AP auf dem fallenden Ast der Kennlinie
(zwischen den Punkten B und D). (iii) AP auf dem rechten steigenden Ast
der Kennlinie (ab D).
Wird nun die Quelle U0 zum Zeitpunkt t = 0 mit dem Netzwerk verbunden, steigt der Strom zunachst an. Wird die Spannung U0 derart gewahlt,
dass sich ein statischer AP (i) ergibt, so wird der steigende Kennlinienast bis
zu diesem Punkt durchlaufen und das Netzwerk hat einen stabilen Zustand
erreicht. Auch der AP (iii) stellt einen stabilen Zustand des Netwerks dar. Ein
AP im Bereich (ii) kann dagegen mit dem vorliegenden Netzwerk nicht erreicht
werden. Der Grund hierf
ur ist der negative dierentielle Widerstand der Tunneldiode in diesem Bereich. Wird nach Durchlaufen des steigenden Asts das
lokale Maximum der Kennlinie (Punkt B) u
usste der Strom
berschritten, m

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)

83

Strom iD
10

mA

u-i Diagramm der Oszillation

8
6

4
2

D
A

-2

Diodenkennlinie

-4
-6
-8
-10

-0.1

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

Spannung uD
Abb. 4.7. Gemessene Kennlinie der Tunneldiode und XY-Auftragung der Messdaten aus Abb 4.8.

wieder sinken, um den AP zu erreichen. Durch den negativen Spannungsbeitrag der Spule im Maschenumlauf, stellt dies aber keine g
ultige Losung der

DGL (4.11) dar. Nach Uberschreiten


von Punkt B springt daher die Spannung
bei konstantem Strom zum Punkt C auf der Kennlinie. Von hier aus wird der
steigende Ast der Kennlinie von C nach D durchlaufen. Am Punkt D der
Kennlinie m
usste wiederum der Ast mit negativem dierentiellen Widerstand
durchlaufen werden, um den AP zu erreichen, was aus den genannten Gr
unden
nicht m
oglich ist. Daher springt die Spannung am Punkt D bei konstantem
Strom zur
uck nach Punkt A. Die beim entsprechend Abb. 4.7 eingezeichneten
Durchlaufen der Kennlinie entstehenden Strom- und Spannungsverlaufe sind
in Abb. 4.8 als Oszillogram dargestellt.
Ein weiterer Typ von Widerstanden wird in der Sensorik zur Temperaturmessung eingesetzt. Es handelt sich dabei um sog. Heileiter (NTCWiderst
ande) oder um Kaltleiter (PTC-Widerst
ande) (NTC: Negative
Temperature Coecient; PTC: Positive Temperature Coecient). Ihr Widerstandswert ist temperaturabhangig (Abb. 4.9).
Heileiter bestehen aus oxidischen Mischkristallen, deren Kristallgitteraufbau an den Korngrenzen durch Mischung verschiedener Oxide gestort wird.

84

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Spannung uD

Strom iD
6

0.6

uD

mA

iD

0.5

0.4

0.3

0.2

0.1

-1

-0.1
0

0.5

1.5

2.5

3.5

ms

Zeit t
Abb. 4.8. Strom und Spannungsverl
aufe der Oszillatorschaltug mit Tunneldiode.

Dadurch wird der urspr


unglich hohe spezische Widerstand der reinen Oxide
stark vermindert. Dieser Eekt ist, wie die Kennlinie aus Abb. 4.9 belegt, stark
temperaturabhangig. Im Bereich der Raumtemperatur betragen die Temperaturkoezienten ca. 3 bis 6%/K. Heileiter werden bis zu Temperaturen
von mehreren Hundert Grad Celsius eingesetzt.
R
R0
3
Heileiter

Kaltleiter

- 100

- 50

+50

+100

Abb. 4.9. Widerstandscharakteristiken von Hei- und Kaltleitern

Kaltleiter hingegen weisen positive Temperaturkoezienten auf (Abb. 4.9).


Sie bestehen aus halbleitenden polykristallinen ferroelektrischen Keramiken,
z. B. Bariumtitanat (BaTiO3 ). Ihr ohmscher Widerstand steigt oberhalb der

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)

85

sog. Curie-Temperatur sprunghaft an (Abb. 4.9), da sich an den Korngrenzen


Sperrschichten ausbilden. Sie werden aufgrund ihrer relativ hohen Kennlinienstreuung in aller Regel weniger f
ur Messaufgaben als f
ur Regelungs- und

Uberwachungsaufgaben
herangezogen. Die Strom-Spannungs-Kennlinie eines
typischen Kaltleiters wird in Abb. 4.10 gezeigt. Sie hat zunachst den Charaki

iE

uE

u max

uD

Abb. 4.10. Strom-Spannungs-Kennlinie eines typischen Kaltleiters [185, 153]

ter eines nahezu linearen ohmschen Widerstandes. Wird die Spannung weiter
gesteigert, so steigt mit der zunehmend verbrauchten Leistung infolge Eigenerw
armung die Temperatur des Bauelementes an, bis zur sog. Einsetztemperatur, bei der sich der Widerstand nahezu sprunghaft andert, so dass der Strom
abnimmt (Werte uE , iE ). Der Kaltleiter konnte zwar prinzipiell bis zur Durchbruchspannung uD (Abb. 4.10) betrieben werden; aus Sicherheitsgr
unden beschr
ankt man sich aber auf Betriebsspannungen u umax . Auerdem muss
die Betriebsspannung auf umax begrenzt werden, um die ansonsten zu gro
werdende Eigenerwarmung zu vermeiden.
4.1.3 Nichtlineare Induktivit
at
Induktivit
aten weisen haug nichtlineare Eigenschaften auf, die auf die Magnetisierungseigenschaften der verwendeten permeablen Kernmaterialien zur
uckzuf
uhren sind. Auch konnen sie, insbesondere in elektrischen Maschinen,
ein zeitabh
angiges Verhalten zeigen. Das Schaltsymbol f
ur eine nichtlineare Induktivit
at ist in Abb. 4.11 dargestellt. Eine allgemeine, zeitvariante,
nichtlineare Induktivit
at kann durch eine Funktion
= fL (i(t), t)

(4.12)

beschrieben werden. Dabei bedeutet den magnetischen Fluss durch die Induktivit
at, welcher bei Betrachtung einer realen Spule dem mit der Windungs-

86

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

i
u
Abb. 4.11. Schaltsymbol f
ur nichtlineare Induktivit
at

zahl verketteten Gesamtuss entspricht. Die Induktivitat heit dann stromgesteuert. Es ist zu beachten, da in Gl. (4.12) neben der direkten Zeitabhangigkeit auerdem der Strom i(t) eine Funktion der Zeit darstellt. Im Weiteren
wird aus Gr
unden der Lesbarkeit nur noch i anstelle von i(t) geschrieben.
Die Zeitabh
angigkeit des Stromes ist aber insbesondere bei der Bildung der
Dierentialquotienten zu beachten.
Eine nichtlineare Induktivitat wird durch eine Fluss-Strom-Kennlinie beschrieben, wie sie bespielhaft in Abb. 4.12 dargestellt ist. Die Kennlinie ist
wiederum punktsymmetrisch zum Koordinatenursprung und wird daher auch
als bilateral bezeichnet. Bei einer zusatzlichen Zeitabhangigkeit ergibt sich
eine Fluss-Strom-Kurvenschar mit dem Scharparameter t. Mogliche Hystereseerscheinungen werden hier nicht ber
ucksichtigt.

Abb. 4.12. Fluss-Strom-Kennlinie einer nichtlinearen, s


attigungsbehafteten Induktivit
at. Der Begri S
attigungsu ist so zu verstehen, da ab Erreichen dieses Wertes
der Flu nur noch mit der Steigung der Vakkuumpermeabilit
at 0 ansteigt.

Die allgemeine Strom-Spannungs-Beziehung lautet nach dem Induktionsgesetz


u(i, t) =

d(i, t)
.
dt

(4.13)

Unter Ber
ucksichtigung der Zeitabhangigkeit des Stromes ergibt sich
u(i, t) =

(i, t) di (i, t)
+
.
i
dt
t

(4.14)

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)


(i, t) 
L(i0 , t) :=
i i=i0

Dabei wird der Term

87

(4.15)

als dierentielle Induktivit


at (im Arbeitspunkt (i0 )) deniert. Sie entspricht der Steigung der in Abb. 4.12 gezeigten Kennlinie in einem jeweils
betrachteten Arbeitspunkt (i0 , 0 ) zu einem xen Zeitpunkt t0 und wird auch
als Kleinsignalinduktivit
at in der Umgebung dieses Arbeitspunktes bezeichnet. Ihr typischer Verlauf ist in Abb. 4.13 zu sehen.
L

i
Abb. 4.13. Typischer Verlauf einer Kleinsignalinduktivit
at (dierentielle Induktivit
at)

Aus Gl. (4.15) ergibt sich



(i, t) =

L(i, t) di .

(4.16)

Unter Verwendung von Gl. (4.14) bis Gl. (4.16) ndet sich schlielich als
Linearisierung um den Arbeits (i0 )- bzw. Zeitpunkt t0


di 
dL(i, t) 
u(i, t) = L(i, t) 
+i
.
(4.17)
dt t=t0
dt i=i0
Es sind nun verschiedene Falle zu unterscheiden, bei denen sich die allgemeinen Gleichungen vereinfachen:
1. zeitvariante, nichtlineare Induktivit
at:
Dies ist der allgemeine Fall und wird durch Gl. (4.15) und Gl. (4.17) beschrieben.
2. zeitinvariante, nichtlineare Induktivit
at:
u(i) = L(i)

di
dt

und L(i) =

d(i)
di

(4.18)

88

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

3. zeitvariante, lineare Induktivit


at:
u(t) = L(t)

dL(t)
di
+i
dt
dt

und

L(t) =

(t)
i

(4.19)

4. zeitinvariante, lineare Induktivit


at:
Dies ist der einfachste Fall, die Induktivitat ist konstant und es gilt

di
und L = .
(4.20)
dt
i
Im Fall der linearen Induktivitat ergibt sich als Fluss-Strom-Kennlinie eine
Ursprungsgerade, deren Steigung der Induktivitat L entspricht. Zeitvarianz
f
uhrt hier zu einer Schar von Ursprungsgeraden mit dem Scharparameter t.
Neben der dierentiellen Induktivitat l
asst sich f
ur ein nichtlineares Bauelement auch eine statische Induktivit
at denieren, und zwar als die Steigung der Ursprungsgeraden durch den Arbeitspunkt (i0 , 0 ) der Fluss-StromKennlinie
0
Ls (i0 , t) =
.
(4.21)
i0
Im linearen Fall ist sie gleich der dierentiellen Induktivitat (vgl. Abb. 4.2).
Die in der nichtlinearen Kennlinie (Abb. 4.12) erkennbaren Sattigungseigenschaften sind auf magnetische Eigenschaften der meist verwendeten ferromagnetischen Spulenkernmaterialien zur
uckzuf
uhren. Da die Magnetisierungsvorg
ange in Ferromagnetika, wie z. B. Eisen, recht kompliziert sind, werden sie in aller Regel nicht auf die physikalischen Vorgange in der Mikrostruktur zur
uckgef
uhrt, sondern mit der experimentell bestimmten Abhangigkeit
 (= mades magnetischen Flusses bzw. der magnetischen Flussdichte B
 beschrieben.
gnetische Induktion) von der magnetischen Feldst
arke H


Die Funktion B = f (H) (Abb. 4.15) wird auch als Magnetisierungskennlinie oder Magnetisierungskurve bezeichnet.
Die Permeabilitat des Materials ist im nichtlinearen Fall nicht mehr konstant, sondern eine Funktion der anregenden magnetischen Feldstarke
u=L

 .
r = f (H)

(4.22)

Man bezeichnet die Permeabilitat (Kleinsignalpermeabilitat) in einem bestimmten Arbeitspunkt H0 als sog. dierentielle Permeabilit
at d . Sie
entspricht der Steigung der Magnetisierungskurve im jeweiligen Arbeitspunkt.
Abbildung 4.14 zeigt die Permeabilitatskurve von sog. Elektroblech.

Hysteresekurven
Wenn ein typisch ferromagnetisches Material, wie z. B. Eisen, aus einem vollig
unmagnetisierten Zustand heraus erregt wird, startet die Magnetisierungskurve im Ursprung, d. h. f
ur i = 0 und damit H = 0 ist auch der Wert der

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)

89

r
5000
4000
3000
2000
1000
0

A 5
cm

Abb. 4.14. Relative Permeabilit


at von Elektroblech als Funktion der magnetischen
Feldst
arke

Induktion B = 0. Mit zunehmendem Strom und damit zunehmender magnetischer Feldstarke1 H steigt die magnetische Flussdichte entsprechend der in
Abb. 4.15 mit Neukurve bezeichneten Kurve an.
B

2,0
T
1,5

Br

: weichmagnetisch

1,0

: hartmagnetisch

0,5

: Neukurve

0
-0,5

-Hc

-1,0

Hc : Koerzitivfeldstrke
Br : Remanenzinduktion

-Br

-1,5
-2,0

Hc

-100

-60

-20 0 20

60 A 100
cm

Abb. 4.15. Hystereseschleifen einer magnetisch harten und einer magnetisch weichen Eisensorte

Wenn dann ab einem bestimmten erreichten Wert f


ur H bzw. B die magnetische Erregung wieder verringert wird, nimmt die magnetische Flussdichte weniger ab, d. h. sie bleibt auf hoheren Werten, als dies der Neukurve entspricht.
1

Bei den in diesem Kapitel folgenden Betrachtungen k


onnen wir uns auf die Be und der magnetischen Feldst
betr
age der magnetischen Flussdichte B
arke H
schr
anken, die vereinfacht mit B bzw. H bezeichnet werden.

90

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Insbesondere nimmt sie noch einen positiven Wert Brem (Remanenzinduktion) an, wenn die magnetische Feldstarke bereits auf H = 0 reduziert wurde.
Der weitere Verlauf f
uhrt bis zu einem negativen Sattigungswert. F
ur danach
wieder ansteigende H-Werte wird bei H = 0 die negative Remanenzinduktion
Brem erreicht und schlielich m
undet die Kurve wieder in den o.g. positiven
Umkehrpunkt. Dazwischen erreicht bei der sog. Koerzitivfeldst
arke Hc die
magnetische Induktion den Wert B = 0. Die negative Koerzitivfeldstarke Hc
ergibt sich entsprechend im linken Kurvenast.
Man bezeichnet die so gewonnene Magnetisierungskennlinie auch als Hysteresekurve. Abbildung 4.16 zeigt solche Hysteresekurven f
ur verschiedene
Umkehrpunkte. Die von einer Hysteresekurve umschlossene Flache entspricht
B

Abb. 4.16. Hysteresekurven eines magnetischen Materials f


ur verschiedene Umkehrpunkte

der dem ferromagnetischen Material bei einem Ummagnetisierungszyklus zugef


uhrten Warmeenergie. Diese auch als Hystereseverlustenergie bezeichnete
Energie wird bei der Drehung (Umorientierung) der Elementardipole dem
Magnetfeld entzogen und in Warme umgewandelt.
Zur n
aherungsweisen Ber
ucksichtigung des Hysterese-Verhaltens bei der
Beschreibung der nichtlinearen Induktivitat kann das Bauelement um einen
nichtlinearen Wirkwiderstand erweitert werden. Dieser beschreibt nun die auftretenden Hystereseverluste. Beide Elemente konnen dann wieder durch eine
jeweils eindeutige Kennlinie beschrieben werden. Somit wird die Mehrdeutigkeit der Hysterese-Kennlinie eliminiert. Eine detaillierte Beschreibung der
Vorgehensweise ndet sich in [140].
Messung von Hysteresekurven
Die Hysteresekurven von magnetischen Materialien (Abb. 4.17a)

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)

B(H) = H

91

(4.23)

k
onnen mittels der in Abb. 4.17b gezeigten Anordnung gemessen werden.
Dazu wird ein Oszilloskop (Kap. 8) benotigt, dessen Horizontalkanal (xAblenkung) von auen angesteuert werden kann, d. h. es wird nicht die standardm
aige Zeitablenkung (Sagezahnspannung) auf das x-Plattenpaar gegeben. Stattdessen nimmt man eine Spannung uR , die proportional zum ErreB

Br
H

Hc
a)
Magnetische Probe
R

Oszilloskop
u

u0
I

uc

R shunt
uR

b)
Abb. 4.17. a) Hystereskurve von ferromagnetischem Material, b) Anordnung zur
Messung der Hysteresekurve

gerstrom I der Primarwicklung ist. Nach dem Durchutungsgesetz ist dieser


Strom n
amlich proportional der magnetischen Feldstarke
IH.

(4.24)

Nach dem Induktionsgesetz ist andererseits die an der Sekundarwicklung abgreifbare Spannung
dB
u
,
(4.25)
dt
so dass nach zeitlicher Integration dieser Spannung ein der magnetischen Induktion B proportionales Signal vorliegt

B udt .
(4.26)

92

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Diese Integration wird von dem an die Sekundarwicklung angeschlossenen


RC-Tiefpass vorgenommen. Die integrierte Spannung kann am Kondensator
in Form von uc abgegrien werden, d. h.
uc B .

(4.27)

Sie wird zur Darstellung der Hysteresekurve auf den Vertikalkanal gelegt.
4.1.4 Nichtlineare Kapazit
at
Das Schaltungssymbol f
ur eine nichtlineare Kapazit
at wird in Abb. 4.18
gezeigt. Eine allgemeine, zeitvariante, nichtlineare Kapazit
at kann durch
i
u
Abb. 4.18. Schaltsymbol f
ur eine nichtlineare Kapazit
at

eine Funktion
q = fC (u(t), t)

(4.28)

beschrieben werden. Dann heit die Kapazitat spannungsgesteuer t. Durch q


wird die im Kondensator gespeicherte elektrische Ladung beschrieben. Im

Weiteren wird f
ur die Spannung u(t) aus Gr
unden der Ubersicht
nur u geschrieben. Die Kennlinie beschreibt die von der Kapazitat gespeicherte Ladung
q als Funktion der angelegten Spannung (Abb. 4.19). Man spricht von einer
Ladungs-Spannungs-Kennlinie. Auch hier kann eine zusatzliche Zeitabhangigkeit durch eine Kennlinienschar mit dem Scharparameter t ausgedr
uckt werden.
q

Abb. 4.19. Bilaterale Ladungs-Spannungs-Kennlinie einer nichtlinearen Kapazit


at

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)

93

F
ur den allgemeinen Fall einer nichtlinearen und zeitvarianten Kapazitat gilt
folgende Strom-Spannungs-Beziehung
i(u, t) =
Dabei wird der Term

dq(u, t)
q(u, t) du q(u, t)
=
+
.
dt
u
dt
t

(4.29)


q(u, t) 
C(u0 , t) :=
u u=u0

(4.30)

als dierentielle Kapazit


at oder Kleinsignalkapazit
at deniert. Sie
entspricht der Steigung der Kennlinie aus Abb. 4.19 im jeweiligen Arbeitspunkt (u0 , q0 ) sowie zu einem Zeitpunkt t0 und hat typischerweise den in
Abb. 4.20 gezeigten Verlauf.
C

u
Abb. 4.20. Typischer Verlauf einer Kleinsignalkapazit
at

F
ur die Ladung ergibt sich aus Gl. (4.30)

q(u, t) = C(u, t) du

(4.31)

und unter Verwendung von Gl. (4.29) bis Gl. (4.31) folgt als Linearisierung
um den Arbeits- (i0 ) bzw. Zeitpunkt (t0 )


du 
dC(u, t) 
i(u, t) = C(u, t)
+u
.
(4.32)
dt t=t0
dt u=u0
Auch hier vereinfacht sich Gl. (4.32) in vielen praktischen Fallen:

zeitvariante, nichtlineare Kapazit


at:
Dies ist der allgemeine Fall, beschrieben durch Gl. (4.30) und Gl. (4.32).

zeitinvariante, nichtlineare Kapazit


at:
i(u) = C(u)

du
dt

und C(u) =

dq(u)
du

(4.33)

94

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

zeitvariante, lineare Kapazit


at:
i(t) = C(t)

dC(t)
du
+u
dt
dt

und

C(t) =

q(t)
u

(4.34)

zeitinvariante, lineare Kapazit


at:
In diesem Fall ist die Kapazitat konstant und es gilt
i=C

du
dt

und C =

q
.
u

(4.35)

Als Ladungs-Spannungs-Kennlinie der linearen Kapazitat ergibt sich wieder


eine Ursprungsgerade deren Steigung der Kapazitat C entspricht.
F
ur die statische Kapazit
at, deniert als die Steigung der Ursprungsgeraden durch den Arbeitspunkt der Ladungs-Spannungs-Kennlinie, ergibt sich
Cs (u0 , t) =

q0
.
u0

(4.36)

Im linearen Fall ist sie gleich der dierentiellen Kapazitat.


Kapazit
aten konnen nichtlineare Eigenschaften aufweisen, wenn als Dielektrikum ein ferroelektrischer Sto verwendet wird. Die im Dielektrikum stattndenden Polarisationsvorgange f
uhren zur gezeigten Kr
ummung der Kennlinie
und zu den ersichtlichen Sattigungserscheinungen. Wie bereits betrachtet zeigen die ferromagnetischen Materialien Hysterese-Verhalten in Bezug auf die

magnetischen Feldgroen. Ahnlich


zeigen auch die ferroelektrischen Materialien eine Hystereseerscheinung in Bezug auf die elektrischen Feldgroen D
(dielektrische Verschiebung) und E (elektrisches Feld). Auch hier kann das
Hysterese-Verhalten, analog zur hysteresebehafteten Induktivitat, naherungsweise durch eine Erweiterung um einen nichtlinearen Wirkwiderstand erfasst
werden. Eine mogliches zeitabhangiges Verhalten einer Kapazitat zeigt sich

beispielsweise durch Verstellen eines Drehkondensators oder durch das Andern


des Plattenabstandes eines Plattenkondensators.
Varaktordiode
Das klassische Beispiel f
ur eine nichtlineare Kapazitat ist die sog. Varaktordiode. Diese stellt eine im Sperrbereich betriebene Halbleiterdiode dar, welche
die Spannungsabhangigkeit der Kapazitat von Halbleiterdioden nutzt. Die
klassischen Sperrschicht-Varaktoren mit ihrer veranderlichen Sperrschichtkapazit
at werden oft zur Abstimmung von Schwingkreisen eingesetzt. Mit der
folgenden Gleichung kann in vielen Fallen die Abhangigkeit der Kapazitat C

von der Spannung u u


beschrieben werden
ber dem pn-Ubergang
C = (UD + u) k ,
1

(4.37)

ur den abrupten pn-Uberwobei UD die sog. Diusionsspannung darstellt. F


gang mit beidseitig konstanter Dotierung wird

4.2 Gesteuerte Quellen

95


e NA ND
2 (NA + ND )

=A

(4.38)

und k = 2. Dabei bedeuten A die Kapazitatsache, die Permittivitat des


Halbleitermaterials, e die Elementarladung, NA die Akzeptor-Konzentration
und ND die Donator-Konzentration. F
ur diesen Fall zeigt Abb. 4.21 einen

Funktionsverlauf. Beim pn-Ubergang


mit linear ortsveranderlicher Dotierung
C
60
pF
40
20
-6

-4

-2

u
b)

a)

Abb. 4.21. Varaktordiode: a) Kennlinie, b) Schaltzeichen

wird k = 3, wobei sich der Wert von gegen


uber dem vorgenannten Fall
entsprechend andert. Durch spezielle Dotierungsverlaufe konnen auch andere
k- und -Werte eingestellt werden.

4.2 Gesteuerte Quellen


uA
uE

uE . V

uA

Stg. V
uE

Abb. 4.22. Spannungsgesteuerte Spannungsquelle als Ersatzschaltung f


ur einen
idealen Verst
arker

Insbesondere zur vereinfachten Beschreibung aktiver Bauelemente, wie z. B.


Transistoren, oder ganzer Schaltungen, wie z. B. Operationsverstarker, verwendet man sog. gesteuerte Quellen. Gesteuerte Quellen sind Spannungs- oder
Stromquellen, deren Quellspannung bzw. deren Quellstrom von einer Steuergroe abh
angt. Diese Steuergroe ist in aller Regel eine Spannung oder ein

96

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Strom. So wird beispielsweise ein, abgesehen vom nicht unendlich hohen Verst
arkungsgrad, idealer Operationsverstarker durch die in Abb. 4.22 gezeigte
gesteuerte Quelle beschrieben. Wird zusatzlich die Begrenzung der Ausgangsspannung infolge Sattigung ber
ucksichtigt, so andert sich die approximierte
Kennlinie gema Abbildung 4.23.
uA
+UB
-UB/V
+UB/V

uE

-UB
Abb. 4.23. Kennlinie eines Verst
arkers (Verst
arkungsgrad V), bei dem die S
attigungserscheinungen ber
ucksichtigt sind (approximierter Verlauf)

Die Spannung der Quelle lasst sich nun wie folgt angeben:

f
ur UVB uE UVB
uE V
.
uA = +UB f
ur uE > UVB

UB f
ur uE < UVB

(4.39)

UB entspricht in der Praxis der um ca. 1 Volt reduzierten Versorgungsspannung des Operationsverstarkers.
Kollektor

uBE

Basis
iB

iC

u CE

Emitter

Abb. 4.24. Schaltzeichen eines Bipolartransistors

Auch Transistoren lassen sich in Form von gesteuerten Quellen darstellen. Bei
Bipolartransistoren (Abb. 4.24) ist der Basisstrom iB die steuernde Groe und
der Kollektorstrom die gesteuerte Groe (Abb. 4.25).

4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke


Die Analyse von elektrischen Netzwerken, die nichtlineare Bauelemente enthalten, ist in aller Regel bedeutend aufwendiger als die Analyse vergleichbarer linearer Netzwerke. Dies beginnt damit, dass das Superpositionsprinzip
nicht mehr anwendbar ist. Selbst einfache Netzwerke mit nur einem oder zwei
nichtlinearen Elementen erfordern oft numerische Losungen. Bei einfacheren

4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke

97

iB
iC
u CE

iB

u BE

u CE

a)

b)

Abb. 4.25. Transistorkennlinien: a) Eingangskennlinienfeld eines Bipolartransistors


und b) Ausgangskennlinienfeld

Netzwerken ist die graphische Bestimmung der (des) Arbeitspunkte(s) oft eine
Alternative mit Anschauungscharakter. Wir beginnen daher mit der graphii
Ri

Uo

RL

Abb. 4.26. Zu analysierendes Netzwerk

schen Bestimmung des Arbeitspunktes des in Abb. 4.26 gezeigten linearen


Widerstandsnetzwerkes, das von einer Quelle gespeist wird.
Bei der graphischen Losung werden die beiden Geraden, welche einerseits
den ohmschen Lastwiderstand RL und andererseits die Quelle mit dem Innenwiderstand Ri beschreiben, in das iu-Kennlinienfeld eingetragen (Abb. 4.27).
Der Schnittpunkt, der auch als Arbeitspunkt bezeichnet wird, liefert die Losung
f
ur den Strom iAP , der durch den Zweig des Netzwerkes iet, sowie die Spannung uAP am eingezeichneten Klemmenpaar
U0
,
Ri + RL
RL
= U0
.
Ri + RL

iAP =

(4.40)

uAP

(4.41)

Im Falle eines nichtlinearen Lastwiderstandes kann es keine, eine, mehrere


oder sogar unendlich viele Losungen, sprich Arbeitspunkte, geben (Abb. 4.28
und 4.29).
Formelm
aig lasst sich die Situation der mit einem nichtlinearen Widerstand belasteten Quelle folgendermaen beschreiben. Die unabhangige Quelle
mit Innenwiderstand Ri wird durch

98

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Arbeitspunkt

u = RL i

U0
u

u = U0 - R i i

AP

AP

U0
Ri

Abb. 4.27. Graphische Arbeitspunktbestimmung der Schaltung aus Abb. 4.26

u = U0 Ri i

(4.42)

charakterisiert.
Wenn sich der Lastwiderstand RL durch eine analytische Funktion der
Form
FRL (i, u) = 0
(4.43)
darstellen l
asst, so f
uhrt die Tatsache, dass der Strom durch die Quelle mit
dem durch den Lastwiderstand in Betrag und Richtung identisch ist, zu der
Gleichung
FRL (i, U0 Ri i) = 0 .
(4.44)

u
U0
Kennlinie der Quelle
Kennlinie des
nichtlinearen
Lastwiderstandes

Abb. 4.28. Graphische Bestimmung des Arbeitspunktes Beispiel f


ur nichtexistente L
osung

4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke

99

Dies ist im allgemeinen Fall eine nichtlineare transzendente Gleichung, die mit
Hilfe eines geeigneten numerischen Verfahrens, z.B. mit der Newton-RaphsonMethode, gel
ost werden kann.
Prinzipiell ist also eine Gleichung der Form
f (x) = 0

(4.45)

iterativ zu l
osen, bis ein gew
unschtes Abbruchkriterium unterschritten wird.
Dabei muss die Losung, wie Abb. 4.29 zeigt, nicht eindeutig sein, sondern sie
u

Kennlinie der Quelle

U0
uAP
Kennlinien zweier beispielhafter
nichtlinearer Lastwiderstnde
iAP

Abb. 4.29. Graphische Bestimmung des Arbeitspunktes der Schaltung aus


Abb. 4.26. Die durchgezogene Kennlinie liefert einen Arbeitspunkt, auf der gestrichelten sind zwei Arbeitspunkte m
oglich.

kann vom Startpunkt x(0) abhangen. Die Losung erhalt man durch fortlaufende Iterationen u
ber n
x(n+1) = x(n)

f (x(n) )
.
f  (x(n) )

(4.46)

Voraussetzung f
ur die Anwendbarkeit des Verfahrens ist die stetige Dierenzierbarkeit der Funktion f (x).
Beispiel Lineare Spannungsquelle mit Diode
Es soll die in Abb. 4.30 gezeigte Schaltung analysiert werden. Die Diode lasst
sich durch
u
i = Is (e UT 1)
(4.47)
beschreiben. Im konkreten Fall betragen die Werte f
ur den Sattigungssperrstrom der verwendeten Siliziumdiode
IS = 10 pA

(4.48)

100

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

und f
ur die Temperaturspannung bei Raumtemperatur
UT = 26 mV .

(4.49)

F
ur die Leerlaufspannung der Quelle gilt U0 = 3 V und f
ur ihren Innenwiderstand Ri = 1 k. Da in diesem Fall zu erwarten ist, dass i IS ist, vereinfacht
sich die Diodengleichung zu
u
i = IS e UT .
(4.50)

Ri

i
u

Uo

Abb. 4.30. Zu analysierende Schaltung

Wenn man jetzt die Quelle mit der Gleichung


u = U0 Ri i

(4.51)

ber
ucksichtigt, erhalt man folgende transzendente Gleichung zur Beschreibung
der Schaltung
u
f (u) = u U0 + Ri IS e UT = 0 .
(4.52)
Die Ableitung nach u ergibt
f =

Ri IS Uu
df
=1+
e T.
du
UT

(4.53)

Da wir wissen, dass die Durchlassspannung von Siliziumdioden bei etwa 0, 6 V


liegt, nehmen wir diesen Wert als Startwert u(0) f
ur das Iterationsverfahren.
Es ergeben sich die Iterationen von Spalte 1 der Tab. 4.1. Auch f
ur kleinere
Startwerte konvergiert der Algorithmus (Spalte 2). Je schlechter der Startwert
gew
ahlt wird, umso mehr Iterationen werden benotigt (Spalte 3).
Weitere Verfahren zur Analyse von nichtlinearen Netzwerken nden sich
in [189].

4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke

101

Tabelle 4.1. Iterative L


osung von Gl. (4.52) f
ur verschiedene Startwerte u(0)
Spalte 1
(0)

u(1)
(2)

(3)

(4)

u(5)
(6)

Spalte 2

(0)

0.6000 V u

0.5746 V u(1)

(2)

0.5503 V u

(3)

0.5284 V u

Spalte 3

(0)

0.4500 V u

2.0000 V

0.6127 V u(1)

1.9740 V

(2)

1.9481 V

(3)

1.9221 V

(4)

=
..
.

1.8961 V

0.5871 V u
0.5621 V u

(4)

0.5121 V u

0.5388 V u

0.5042 V u(5)

0.5193 V

(6)

0.5070 V u(58)

0.5110 V

(7)

(59)

0.5028 V u

(7)

0.5027 V u

0.5031 V u

0.5039 V

u(8)

0.5027 V u(8)

0.5027 V u(60)

0.5028 V

(61)

0.5027 V

5
Messfehler

Messungen sind in der Regel fehlerbehaftet, auch wenn sie noch so prazise durchgef
uhrt werden. Die Ermittlung und Angabe der entsprechenden
Messfehler sollte zu jeder zuverlassigen Messung gehoren, damit die aus dem
Messergebnis abgeleiteten Schl
usse bzw. Entscheidungen auf einer sicheren
Grundlage basieren. So besteht bei vielen Arten von Messungen die Gefahr,
dass sich die zu messenden Groen durch das Einbringen der Messgerate
ver
andern. Beispielsweise kann ein Spannungsmesser die zu messende Spannung ver
andern, weil er infolge seiner nicht idealen (d. h. nicht unendlich
hohen) Innenimpedanz die Spannungsquelle belastet. Generell ist darauf zu
achten, dass solche R
uckwirkungen der Messeinrichtung auf die Quelle, der die
Messgr
oe entstammt, so gering wie moglich gehalten werden. Eine weitere
typische Fehlerquelle besteht in der unsachgemaen Anwendung der Gerate,
wie z. B. dem Betrieb in einem nicht spezizierten Frequenz- oder Temperaturbereich. Aber selbst bei bestimmungsgerechter und r
uckwirkungsfreier
Anwendung von Messgeraten gibt es Messfehler, die zufalliger Natur sind, wie
z. B. die Ablesefehler.
Die Charakterisierung eines Messfehlers erfolgt durch Angabe des absoluten oder des relativen Messfehlers. Der absolute Messfehler F ist deniert als
Dierenz aus dem Messwert A (Anzeigewert) und dem wahren Wert W
F = AW .

(5.1)

Der relative Fehler f entspricht dem absoluten Fehler, bezogen auf den wahren
Wert
F
f=
100% .
(5.2)
W
Bei nicht bekanntem wahren Wert W und kleinem Messfehler (|F/A| 1)
darf folgende Naherung angewendet werden
f

F
100% .
A

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_5

(5.3)

104

5 Messfehler

Zur Charakterisierung von Messgeraten bezieht man den absoluten Messfehler des Ger
ates haug auf den Messbereichsumfang, die sog. Messspanne Msp,
welche der Dierenz zwischen Messbereichsendwert und Messbereichsanfangswert entspricht
F
f =
100% .
(5.4)
Msp
Die Gr
oe f wird als normierter bzw. zum Teil auch als reduzierter Fehler
bezeichnet.
In der Messtechnik unterscheidet man prinzipiell zwischen systematischen
Messfehlern und zufalligen Messfehlern. Der wesentliche Unterschied zwischen
diesen Fehlerarten liegt in der Vorhersagbarkeit und damit der Korrigierbarkeit der systematischen Fehler, welche bei den zufalligen nicht gegeben ist.
Die zuf
alligen Fehler lassen sich nur noch mit Hilfe von Wahrscheinlichkeiten beziern. Der Fehler beim Ablesen einer Messgerateskala ist ein typischer
zuf
alliger Fehler. Eine weitere Klassizierung unterscheidet zwischen statischen und dynamischen Fehlern. Wahrend sich die statischen Fehler nur auf
die statischen Eigenschaften der Messeinrichtung beziehen und damit nur f
ur
rein statische Messgroen bzw. f
ur den statischen Anteil von dynamischen
Messgr
oen relevant sind, beschreiben die dynamischen Messfehler das Verhalten bei zeitlich variablen Messgroen. Dynamische Messfehler sind die aus

den nicht idealen Ubertragungseigenschaften


des Messsystems resultierenden
Abweichungen vom wahren zeitlichen Verlauf der Messgroe.

5.1 Systematische Messfehler


Bei den systematischen Fehlern sind die Ursachen bekannt. Es gibt systematische Abweichungen, die wahrend einer Messung einen konstanten Betrag
und ein bestimmtes Vorzeichen haben (statische Messfehler) und solche, die
eine zeitliche Veranderung des Messwertes wahrend einer Messreihe bewirken
(dynamische Messfehler). Wenn die systematischen Fehler bekannt sind, kann
nach Gl. (5.1) der wahre Wert berechnet werden. Da systematische Fehler also
prinzipiell korrigierbar sind, sollten sie nach Moglichkeit im ersten Schritt der
Messwertverarbeitung berichtigt werden.
Fortpanzung systematischer Fehler
Ist das Messergebnis y eine Funktion mehrerer Messgroen xi (i = 1 ... n), so
muss die gesuchte Groe y durch Auswertung des sog. Aufgabengesetzes
y = Fkt.(x1 , ..., xn )

(5.5)

ermittelt werden. Mit dem wahren Wert yw ergibt sich schlielich der absolute
Messfehler y zu

5.1 Systematische Messfehler

105

y = y yw
= f (x1 + x1 , ..., xn + xn ) f (x1 , ..., xn ) .

(5.6)

uber der entsprechenWenn der absolute Einzelmessfehler xi klein ist gegen


den Einzelmessgroe xi (|xi | |xi |), lasst sich y aus den partiellen Ablei
tungen und den kleinen Anderungen
xi auf der Basis der nach den linearen
Gliedern abgebrochenen Taylorreihe der Funktion y entwickeln
y =

n

y
xi .
x
i
i=1

(5.7)

Aus Gl. (5.7) lassen sich die folgenden Regeln f


ur die Fortpanzung systematischer Fehler herleiten:

Bei der Addition von Messgroen werden die absoluten Fehler addiert.
Bei der Subtraktion von Messgroen werden die absoluten Fehler subtrahiert.
Bei der Multiplikation von Messgroen werden die relativen Fehler addiert.
Bei der Division von Messgroen werden die relativen Fehler subtrahiert.

Besteht das Aufgabengesetz beispielsweise aus einer Multiplikation von Messgr


oen mit gleichzeitiger Potenzierung
y = kxr11 xr22 xrnn ,

(5.8)

so ergibt sich der absolute Fehler y durch Auswertung von Gl. (5.7)
y = y

n

i=1

ri

xi
.
xi

(5.9)

Daraus kann der gesamte relative Fehler y/y als Summe der mit den Exponenten ri gewichteten relativen Einzelfehler fi errechnet werden

y  xi
ri
=
ri fi .
=
y
xi
i=1
i=1
n

(5.10)

Es sei an dieser Stelle darauf hingewiesen, dass die oben beschriebene vorzeichenbehaftete Behandlung von Fehlern nur Sinn macht, wenn man die Vorzeichen der Fehler explizit kennt. In vielen Fallen allerdings sind die Richtungsabweichungen der Fehler und damit ihre Vorzeichen unbekannt. Deshalb macht
man von Gl. (5.7) in abgewandelter Form Gebrauch

n 

 y



y =
(5.11)
 xi xi  ,
i=1
d. h. man geht vom worst case aus, dass alle Fehler in die selbe Richtung
weisen. Die Abweichung y entspricht also dann dem maximalen (Absolut-)
Fehler, der auftreten kann.

106

5 Messfehler

5.2 Zuf
allige Messfehler
5.2.1 Normalverteilung, Mittelwert, Standardabweichung
und Stichprobe
Zuf
allige Fehler sind nicht unmittelbar erfassbare Abweichungen vom wahren
Wert. Sie k
onnen nur in Form von Wahrscheinlichkeitsaussagen beschrieben
werden. Typischerweise liefern die Wiederholungen eines Messvorganges unterschiedliche, streuende Messwerte xi . Zur Beurteilung zufalliger Fehler ist es
daher notwendig, mehrere bzw. soviele Messungen wie moglich durchzuf
uhren.
Aus der Annahme, dass unendlich viele voneinander unabhangige, gleichverteilte (rein zufallige) Einussgroen wirksam sind und gen
ugend (theoretisch
unendlich) viele Einzelmessungen durchgef
uhrt wurden, liegt eine Normalverteilung (Gauverteilung) der Messwerte vor. Dies geht aus dem Normalverteilungsgesetz f
ur zufallige Fehler hervor. Die Abweichungen sind dann durch
folgende Eigenschaften charakterisiert: positive und negative Abweichungen
treten gleich haug auf und mit zunehmender Groe der Abweichung nimmt
die Wahrscheinlichkeit f
ur ihr Auftreten ab. Die Haugkeit ihres Auftretens
wird durch die Wahrscheinlichkeitsdichte p(x) beschrieben. Sie entspricht einer Gau- bzw. Normalverteilung (Abb. 5.1)
p(x) =

1 x 2
1
e 2 ( ) .
2

(5.12)

Der arithmetische Mittelwert aller Messwerte xi , der auch als Erwartungswert bezeichnet wird, ergibt schlielich den gesuchten wahren Wert xw
N
1 
xi .
N N
i=1

xw = = lim

Abb. 5.1. Gausche Verteilungsfunktion p(x)

(5.13)

5.2 Zuf
allige Messfehler

107

Ein Ma f
ur die Abweichung der Einzelwerte vom Mittelwert ist die mittlere quadratische Abweichung, die man als Standardabweichung und deren
Quadrat als Varianz 2 bezeichnet

N
1 
= ! lim
(xi )2 .
(5.14)
N N
i=1
Die statistische Sicherheit (Wahrscheinlichkeit) P f
ur das Auftreten eines einzelnen Messwertes in einem Intervall x1 x x2 errechnet sich wie folgt
 x2
 x2
2
2
1
P =
p(x) dx =
e(x) /2 dx

2
x1
x1
 x2
 x1
2
2
1
1
(x)2 /22
e
dx
e(x) /2 dx . (5.15)
=
2 0
2 0

2
Da das Integral ekx dx keine analytische Losung besitzt, wurde die sog.
Errorfunction erf(x) eingef
uhrt
 w
2
2
erf(w) =
ec dc ,
(5.16)
0
welche in Tafelwerken, z. B. in [1], tabelliert ist. Dabei besteht folgender Zusammenhang zwischen der Variablen c der Errorfunction und der Variablen x
der Wahrscheinlichkeitsdichte
c=

x
.
2

(5.17)

Aus Gl. (5.15) folgt unter Zuhilfenahme der Errorfunction die statistische
Sicherheit P



1
x2
x1

P =
erf
erf
.
(5.18)
2
2
2
Aufgrund des schiefsymmetrischen Verhaltens der Errorfunction
erf(w) = erf(w)

(5.19)

errechnet sich die statistische Sicherheit P f


ur das Auftreten eines Messwertes
xi im Bereich x zu

P () = erf
.
(5.20)
2
In Tab. 5.1 sind charakteristische Werte von P () notiert (s. auch Abb. 5.1).
Wenn im Rahmen einer Messreihe die Standardabweichung ermittelt wurde, l
asst sich mit Hilfe von Tab. 5.1 der zu einer bestimmten statistischen
Sicherheit P gehorende Vertrauensfaktor t bestimmen

108

5 Messfehler

Tabelle 5.1. Fehlerwahrscheinlichkeit P (statistische Sicherheit) bei symmetrischem Intervall x +

0,5 0,67 1 1,65 1,96 2,58 3,0 3,3


P [%] 38,3
50
68,3
90
95
99
99,73 99,9

= t .

(5.21)

Der zufallige Fehler Fxi eines Einzelmesswertes xi liegt dann mit einer statistischen Sicherheit (Wahrscheinlichkeit) von P innerhalb des Intervalls t
Fxi = t .

(5.22)

Bei der hier zunachst angenommenen unendlich hohen Anzahl von Messungen
h
angt der Vertrauensfaktor t in der nach Tab. 5.1 bezierten Weise nur von
der frei gewahlten statistischen Sicherheit P (Wahrscheinlichkeit) ab. Wenn
beispielsweise eine statistische Sicherheit von 95 % gefordert wird, betragt der
Vertrauensfaktor t nach Tab. 5.1 t = 1,96. Dies bedeutet, dass die Abweichung
des Einzelmesswertes vom wahren Wert = xw bei einer Wahrscheinlichkeit
von 95 % nicht groer ist als 1,96 .
Wird die Messung einer Messgroe mit denselben Mitteln und unter gleichen Bedingungen N-mal wiederholt, bezeichnet man dies als Stichprobe aus
der Grundgesamtheit der theoretisch unendlich vielen Messungen. F
ur den
praktischen Fall einer nur endlichen Anzahl von Messungen (N < ) kann
aus den einzelnen Messwerten xi (i = 1...N ) der Mittelwert (wahrer Wert
xw ) nicht mehr nach Gl. (5.13) gebildet werden, sondern nur noch ein Schatzwert x
angegeben werden
N
1 
x
=
xi .
(5.23)
N i=1
F
ur eine endliche Anzahl N von Messwerten deniert man anstelle der Standardabweichung die Schwankung s (empirische Standardabweichung) bzw.
die Streuung s2

s=!

1 
(xi x
)2 .
N 1 i=1
N

(5.24)

Der Wert von s wird auch als mittlerer quadratischer Fehler (vom Schatzwert)
der Messwerte xi bezeichnet.
Tip:

Diese Thematik kann man anhand der LabVIEW Ubungsaufgabe 2.2a auf der CD-ROM vertiefen.

5.2 Zuf
allige Messfehler

109

5.2.2 Vertrauensbereich f
ur den Sch
atzwert
Im Zusammenhang mit Messfehlerabschatzungen stellt sich im allgemeinen
auch die Frage nach der G
ute des im Rahmen einer Messserie ermittelten
Sch
atzwertes x
. Die Antwort auf diese Frage kann ebenfalls nur in Form einer statistischen Sicherheit P (Wahrscheinlichkeit) gegeben werden. Um die
G
ute des Sch
atzwertes x
anzugeben, muss festgestellt werden, wie nahe dieser
Sch
atzwert x
(Mittelwert aus N Messungen) dem wahren Wert xw (Mittelwert
f
ur N ) liegt. Dazu nehmen wir zunachst an, dass eine unendlich hohe
Anzahl von Einzelmessungen xi vorliegt. Die Standardabweichung dieser sog.
Grundgesamtheit wird mit bezeichnet. Wenn wir dieser Grundgesamtheit eine Stichprobe mit N Einzelmesswerten entnehmen, konnen wir deren Schatzwert x
errechnen (Abb. 5.2). Werden mehrere solcher Stichproben genommen,
so gelangt man zu einer Verteilung von Sch
atzwerten. Die Schwankung sx dieser Sch
atzwerteverteilung liefert schlielich den gesuchten Vertrauensbereich
des Sch
atzwertes x. In der Praxis jedoch wird man nicht mehrere Stichproben entnehmen, sondern sich auf eine beschranken. Dies f
uhrt letztendlich
zum selben Ergebnis, da wir davon ausgehen, dass alle in der Grundgesamtheit vorkommenden Messwerte xi voneinander unabhangig sind. Aus diesem
Grund l
asst sich die Schwankung sx berechnen, indem man das Gausche
Fehlerfortpanzungsgesetz (Kap. 5.2.3) auf die in Abb. 5.2 gezeigte Stichprobe selbst anwendet. Die Schwankung sx lasst sich demnach wie folgt ermitteln

Grundgesamtheit

N, ~
x, s
Stichprobe

s: Standardabweichung
der Grundgesamtheit
x w : wahrer Wert = Schtzwert
der Grundgesamtheit

Abb. 5.2. Grundgesamtheit von Messwerten mit einer Stichprobe zu N Einzelmesswerten. Die Stichprobe hat den Sch
atzwert x
und die Schwankung s.

110

5 Messfehler


sx = !

2
N

x
i=1

Mit

x
=
xi
xi

"

xi

N
1 
xi
N i=1

2 .

#
=

(5.25)

1
N

folgt aus dem Gauschen Fehlerfortpanzungsgesetz (Gl. (5.25))




N

1 2
1
1
!
=
N 2 = .
sx =
2
2
N
N
N
i=1

(5.26)

(5.27)

Die Schwankung der


ist also gema Gl. (5.27)
Verteilung der Schatzwerte x
um den Faktor 1/ N kleiner als die der Einzelwerte xi (s. auch Gl. (5.24)).
In der Praxis kann man den exakten Wert von nicht ermitteln, da unendlich viele Messungen vorausgesetzt werden. Daher wird man anstatt die
Schwankung s aus der aktuellen Stichprobenverteilung (Abb. 5.2) verwenden.
Die vollst
andige Angabe eines Messergebnisses x erfolgt durch Bezierung
des Sch
atzwertes x
und seiner Vertrauensgrenzen V in der Form
ts
x=x
V =x
.
N

(5.28)

Der zuf
allige Fehler Fx des Schatzwertes betragt demnach
ts
Fx = .
N

(5.29)

Der Vertrauensfaktor t ist bei einer endlichen Anzahl von Messwerten neben
der gew
ahlten statistischen Sicherheit P auch von der Anzahl N der Einzelmessungen abhangig. Die Funktion der entsprechenden Fehlerverteilung ist die
sog. Student-Verteilung (Abb. 5.3), die auch als t-Verteilung bezeichnet
wird. Die Student-Verteilung ist also die Verteilung der Stichprobe (N < ),
welche verstandlicherweise breiter ist als die Normalverteilung, weil die Vertrauensgrenzen bei gleicher statistischer Sicherheit P aufgrund der Tatsache,
dass man u
ur N
ber weniger Messwerte mittelt, groer sind als bei der f
geltenden Normalverteilung (Tab. 5.2). Mit einer f
ur die Praxis ausreichenden Genauigkeit gehen Student- und Normalverteilung ab N > 200 ineinander
u
ber.
Tip:
Auf der CDROM bendet sich das LabVIEW-Programm
student_density.vi, mit dem die Studentverteilung graphisch dargestellt werden kann. Der Wertebereich kann frei
gew
ahlt und Werte f
ur N konnen deniert werden.

5.2 Zuf
allige Messfehler

111

p(x)
pN
pt

Abb. 5.3. Vergleich von Normalverteilung pN und Student-Verteilung (t-Verteilung)


pt f
ur N = 5

F
ur N = 50 Messwerte beispielsweise bedeutet dies, dass der gefundene
Mittelwert (= Schatzwert
x
) mit einer Wahrscheinlichkeit von 99,73 % um

h
ochstens 3, 16 sx / 50 vom unbekannten wahren Wert xw abweicht. Der
Wert von t = 3, 16 kann Tab. 5.2 entnommen werden. Aus Tab. 5.2 ist auch
abzulesen, dass der Vertrauensfaktor f
ur die Normalverteilung (N ) mit
dem f
ur die Student-Verteilung (N < ) ab einer Losgroe von N > 200
nahezu identisch ist.
Die bei einer Wahrscheinlichkeit von 68,3 % bestehende Unsicherheit wird
als der mittlere Fehler x des Schatzwertes bezeichnet
s
x = |xw x
| = .
N

(5.30)

Die zuf
alligen Fehler konnen im Gegensatz zu den systematischen Fehlern
Tabelle 5.2. Abh
angigkeit des Vertrauensfaktors t von der Anzahl der Messungen
N bei verschiedener statistischer Sicherheit P
P = 68, 3% =
1, 0 P = 95% =
1, 96 P = 99% =
2, 58 P = 99, 73% =
3, 0

t/ N
t
t/ N
t
t/ N
t
t/ N

2
3
4
6
10
20
50
100
200
> 200

1,84
1,32
1,20
1,11
1,06
1,03
1,01
1,01
1,00
1,00

1,30
0,76
0,60
0,45
0,34
0,23
0,14
0,10
0,07
1,00

12,7
4,30
3,18
2,57
2,26
2,09
2,01
1,98
1,97
1,96

8,98
2,48
1,59
1,05
0,72
0,47
0,28
0,20
0,14
1,96

63,7
9,92
5,84
4,03
3,25
2,86
2,68
2,63
2,60
2,58

45,0
5,73
2,92
1,65
1,03
0,64
0,38
0,26
0,18
2,58

236
19,2
9,22
5,51
4,09
3,45
3,16
3,08
3,04
3,0

167
11,1
4,61
2,25
1,29
0,77
0,45
0,31
0,22
3,00

112

5 Messfehler

grunds
atzlich nicht korrigiert werden. Zufallige Fehler konnen allerdings durch
eine hinreichend groe Anzahl von Einzelmessungen beliebig klein gehalten
werden.
Tip:
Mit dem LabVIEW-Programm student_table.vi kann die
Tab. 5.2 berechnet werden. Die Wahrscheinlichkeiten sowie
die Werte f
ur N konnen eingestellt werden.

Beispiel Messreihe mit zuf


alligen Fehlern
Im Rahmen einer Messreihe wurden folgende 10 Werte gemessen:
i
xi

1
85,0

2
3
4
5
6
7
8
9
10
85,6 84,7 84,9 85,8 85,2 84,6 85,3 85,1 85,4

Der Sch
atzwert x
betragt nach Gl. (5.23)
1 
xi = 85, 16 .
10 i=1
10

x =

(5.31)

Die Schwankung s (empirische Standardabweichung) berechnet sich nach (Gl.


(5.24)) zu

s=!

1 
(xi x
)2 = 0, 381 .
10 1 i=1
10

(5.32)

Der zufallige Fehler Fxi der Einzelmessung beziert sich bei einer (frei gewahlten) statistischen Sicherheit von 95 % nach Tab. 5.2 auf
Fxi (95 %) = ts = 2, 26 0, 381 = 0, 861 .

(5.33)

Der zufallige Fehler des Schatzwertes Fx ergibt sich bei derselben statistischen
Sicherheit von 95 % zu
ts
Fx (95 %) = = 0, 272 .
N

(5.34)

Damit kann die vollstandige Angabe des Messergebnisses in folgender Form


geschehen
x = 85, 16 0, 272 ,
(5.35)
wobei sich die Angabe der absoluten Toleranzgrenzen von 0, 272 auf eine
gew
ahlte statistische Sicherheit von 95 % bezieht.

5.2 Zuf
allige Messfehler

113

Tip:
Eine LabVIEW-Aufgabe zum Thema Schwankung des
Sch
atzwertes in Abhangigkeit von der Probenlange ndet
sich auf der CD-ROM (Aufgabe 2.2b).

5.2.3 Fortpanzung zuf


alliger Fehler
Wenn die gesuchte Messgroe y eine Funktion mehrerer mit voneinander unabh
angigen zufalligen Fehlern behafteter Einzelmessgroen xi (i = 1, . . . , n)
ist
y = Fkt.(x1 , . . . , xn ) ,
(5.36)
l
asst sich der Mittelwert y , der dem wahren Wert yw entspricht, wie folgt
berechnen
yw = y = Fkt.(1 , . . . , n ) ,
(5.37)
wobei i die Mittelwerte der Einzelmessgroen xi bezeichnen (Anzahl der
jeweils aufgenommenen Messwerte N ). Unter der Voraussetzung kleiner Einzelstandardabweichungen i lasst sich die Standardabweichung y des
Mittelwertes y nach dem Gauschen Fehlerfortpanzungsgesetz (Gl. (5.38))
ermitteln

2 
n



y
!

y =
i2 .
(5.38)

xi
i=1

(1 ,2 ,...,n )

Ist beispielsweise das Aufgabengesetz vom Typ


y = kxr11 xr22 ,

(5.39)

so ergibt sich der mittlere relative Fehler fy (Wahrscheinlichkeit von 68,3 %)


zu
y
Fy
=
y
y


2
2
r1
r2
2
1 +
22 .
=
x1
x2

fy =

(5.40)

Dabei wurde ber


ucksichtigt, dass der absolute zufallige mittlere Fehler Fy ,
d. h. der Fehler f
ur eine Wahrscheinlichkeit von 68,3 %, gerade der Standardabweichung y entspricht.
Da im praktischen Fall die Anzahl der aufgenommenen Messwerte endlich
bleibt (N < ), handelt es sich bei dem errechneten Mittelwert nur um einen
Sch
atzwert y des wahren Wertes yw . Wenn xi den Schatzwert der Einzelmessgr
oe xi bezeichnet, gilt
n ) .
y = Fkt.(
x1 , . . . , x

(5.41)

114

5 Messfehler

Unter der Voraussetzung einer Normalverteilung und f


ur kleine Schwankungen
(si |xi |) berechnet sich die Schwankung sy des Schatzwertes y wiederum
nach dem Gauschen Fehlerfortpanzungsgesetz aus den Schwankungen si der
Einzelmessgr
oen

2 
n



y
!

s2i .
(5.42)
sy =

xi
i=1

(
x1 ,
x2 ,...,
xn )

5.3 Genauigkeitsklassen bei Messger


aten
F
ur standardmaige elektrische Messgerate wird vom Hersteller eine Genauigkeitsklasse, d. h. eine garantierte obere Fehlergrenze angegeben, die i. Allg.
mit G oder Gk bezeichnet wird. Sie gibt den Betrag der auf den Messbereichsendwert bezogenen maximal moglichen Abweichung x vom wahren Wert in
Prozent an


 x 
|Fehlangabe|

 100% =
G=
100% .
(5.43)

xend
|Messbereichsendwert|
Es gibt folgende genormte Genauigkeitsklassen nach VDE 0410:

Betriebsmessgerate: 1; 1,5; 2,5; 5,0


Feinmessgerate: 0,05; 0,1; 0,2; 0,5.

Der entsprechende maximale relative Fehler betragt demnach


x
xend G
=
.
x
x 100%

(5.44)

Er nimmt also stark zu, wenn der Messbereich nur im unteren Teil genutzt
wird. Der durch die Genauigkeitsklasse beschriebene Maximalfehler gilt selbstverst
andlich nur bei Einhaltung der ansonsten vom Hersteller spezizierten
Randbedingungen, wie der Einhaltung von Temperaturgrenzen, Frequenzbereich, Fremdfeldeinuss, Lage etc.. Bei Instrumenten, deren Messbereichsanfangswert nicht mit dem Nullpunkt identisch ist, wird die Fehlangabe statt
auf den Messbereichsendwert auf den Messbereichsumfang bezogen, die auch
als Messspanne Msp bezeichnet wird (Gl. (5.4)).

5.4 Dynamische Messfehler


Bei der Messung zeitlich variabler Groen treten infolge der nicht-idealen

Ubertragungseigenschaften
der Messsysteme stets dynamische Messfehler auf.
Diese sind im Wesentlichen auf Tragheiten der Messeinrichtungen (Tiefpassverhalten) zur
uckzuf
uhren, welche sich infolge ihrer Speichereigenschaften
bez
uglich mechanischer, thermischer oder elektromagnetischer Energie nicht

5.4 Dynamische Messfehler

115

vermeiden lassen. Da das Verstandnis von dynamischen Messfehlern grundlegende Kenntnisse auf dem Gebiet der systemtheoretischen Beschreibung von
Messsystemen verlangt, folgt zunachst ein Abschnitt, der die entsprechende
Systemtheorie kurz wiederholen soll (s. Kap. 3).

5.4.1 Das Ubertragungsverhalten


von Messsystemen

Beschreibung des Ubertragungsverhaltens


durch Impulsantwort
bzw. Sprungantwort
Ein lineares Messsystem liefert an seinem Ausgang die Impulsantwort g(t)
(Gewichtsfunktion), wenn die Eingangsgroe ein Dirac-Impuls (t) ist (Abb.
5.4) (Kap. 3.11).

Abb. 5.4. Impulsantwort g(t) eines linearen Messsystems

F
ur eine beliebige Anregungsfunktion x(t) ergibt sich das Ausgangssignal y(t)
durch Faltung mit der Impulsantwort (Kap. 3.11)


y(t) =

x( )g(t ) d =

x(t )g( )d = x(t)  g(t) .

(5.45)

Da wir kausale Messsysteme voraussetzen, deren Impulsantwort g(t) f


ur t < 0
verschwindet und auch die Anregungsfunktion x(t) f
ur t < 0 zu Null annehmen, kann man die untere Grenze des Faltungsintegrals () durch  0 und
die obere Grenze (+) durch  t ersetzen (Gl. (3.222))

y(t) =
0

x( )g(t ) d =

x(t )g( ) d .

(5.46)

Anstatt ein Messsystem durch seine Impulsantwort zu beschreiben, ist es in


der Messtechnik auch gebrauchlich, seine Sprungantwort h(t) anzugeben.
Diese erh
alt man als Ausgangssignal, wenn man als Anregungssignal x(t) eine
Sprungfunktion verwendet (Abb. 5.5), wobei die Sprungfunktion folgendermaen deniert ist

r t 0
1 fu
(t) =
(5.47)

0 fu
r t < 0 .
Der Zusammenhang zwischen Sprungantwort h(t) und Impulsantwort g(t)
wurde bereits in Kapitel 3.12 hergeleitet (Gl. (3.234))

116

5 Messfehler

h(t) =

g( ) d .

(5.48)

Der Wert, der sich nach einer Sprunganregung als stabiler Wert einstellt, wird
als Beharrungswert bezeichnet.

Abb. 5.5. Sprungantwort h(t) eines linearen Messsystems

Beschreibung des Ubertragungsverhaltens


durch

Ubertragungsfunktionen
Aus der linearen Systemtheorie wei man (Kap. 3.11), dass harmonische Anregungen der Form
jt
jx () jt

} = Re{X()e
e }
x(t) = Re{X()e

(5.49)

bei linearen Systemen im eingeschwungenen Zustand stets zu einem Antwortsignal y(t) mit derselben Frequenz aber veranderter Amplitude und Phasenlage f
uhren
y(t) = Re{Y ()ejt } = Re{Y ()ejy () ejt } ,
(5.50)

wobei |X| = X und |Y | = Y gilt. Die Ubertragungsfunktion G() des linearen


Systems ist dann folgendermaen deniert
G() =

Y ()
Y () j(y x )
= |G()|ej() .
=
e

X()
X()

(5.51)

Die komplexe Ubertragungsfunktion


G() lasst sich aufspalten in den Betragsgang |G()| und den dazugehorigen Phasengang arg{G()} = (). Daraus
lassen sich die Dampfung a() und deren Phase b() wie folgt errechnen
a() = 20 lg |G()| [dB]
b() = arg(G()) .

(5.52)
(5.53)

Die Ubertragungsfunktion
gibt also Auskunft dar
uber, wie das Messsystem
die Amplitude und die Phasenlage einer harmonischen Anregung verandert.

F
ur beliebige (nicht-periodische) Zeitsignale berechnet sich die Ubertragungsfunktion eines linearen Systems aus den Quotienten der FourierTransformierten (Tab. 5.3) F {y(t)} und F {x(t)} vom Ausgangs- und Eingangssignal y(t) bzw. x(t)
G() =

F {y(t)}
.
F {x(t)}

(5.54)

5.4 Dynamische Messfehler

117

Tabelle 5.3. Denitionsgleichungen der Laplace- und Fourier-Transformationen


(Kap. 3)
Fourier-Transformation
Fourier-R
ucktransformation
x(t) = F 1 {X ()}
F{x(t)} = X()
 +
 +
1
= 2
X()ejt d
= x(t)ejt dt

Laplace-Transformation
L{x(t)} = X(s)

= 0 x(t)est dt

Laplace-R
ucktransformation
x(t) = L1 {X (s)}
 +j
1
= 2j
X(s)est ds
j

Mit diesen Zusammenhangen und der Eigenschaft, dass eine Faltung zweier
Signale im Zeitbereich einer Multiplikation der Fourier-Transformierten im
Frequenzbereich entspricht, erhalt man aus Gl. (5.45)
Y () = X() G() .

(5.55)

Daraus folgt auch, dass die Fourier-Transformierte der Gewichtsfunktion der

Ubertragungsfunktion
entspricht.
G() = F {g(t)} .

(5.56)

Beschr
ankt man sich auf kausale Zeitsignale (x(t) = 0 f
ur t < 0), so ist es
zweckm
aig, anstatt der Fourier-Transformation die Laplace-Transformation

(Tab. 5.3) zu verwenden. Die Laplace-Ubertragungsfunktion


G(s) eines linearen Systems ist folgendermaen deniert
G(s) =

L{y(t)}
Y (s)
=
.
L{x(t)}
X(s)

(5.57)

Dabei sind L{x(t)} und L{y(t)} die Laplace-Transformierten (Tab. 5.3) der
Zeitfunktionen x(t) und y(t), wobei s = + j die Laplace-Variable darstellt.
Die Faltungsoperation (Gl. (5.46)) vereinfacht sich f
ur kausale Zeitsignale und
Systeme im Laplace-Bereich ebenfalls zu einer Multiplikation der entsprechenden Laplace-Transformierten (Kap. 3.5.4)
Y (s) = G(s)X(s) .

(5.58)

Die Ubertragungsfunktion
G(s) ist demnach auch die Laplace-Transformierte
der Impulsantwort g(t)
G(s) = L{g(t)} .
(5.59)
Entsprechend dem Integrationssatz der Laplace-Transformation (Kap. 3.5.2)
 t
$
1
L
(5.60)
f ( ) d = F (s) ,
s
0

118

5 Messfehler

wobei
L{f (t)} = F (s) ,

(5.61)

folgt aus Gl. (5.48) der Zusammenhang zwischen der Ubertragungsfunktion


G(s) und der Sprungantwort h(t)
$

G(s)
h(t) = L1
.
(5.62)
s
Zusammengesetzte Systeme
Die Gesamt
ubertragungsfunktionen der in Abb. 5.6 gezeigten zusammengesetzten Systeme ergeben sich wie folgt: Serienschaltung (Abb. 5.6a)
Y (s)
= G1 (s)G2 (s)
X(s)

(5.63)

Y (s)
= G1 (s) + G2 (s)
X(s)

(5.64)

G(s) =
Parallelschaltung (Abb. 5.6b)
G(s) =

R
uckkoppelschaltung (Kreisschaltung) (Abb. 5.6c)
G(s) =

Y (s)
G1 (s)
=
.
X(s)
1 + G1 (s)G2 (s)

(5.65)

Abb. 5.6. Zusammengesetzte Ubertragungssysteme:


a) Serienschaltung (Hintereinanderschaltung), b) Parallelschaltung, c) R
uckkoppelschaltung (Kreisschaltung)

5.4 Dynamische Messfehler

119

Beschreibung des Ubertragungsverhaltens


durch
Dierentialgleichungen
F
ur lineare Systeme kann der mathematische Zusammenhang zwischen dem
Anregungssignal x(t) und dem Ausgangssignal y(t) in Form einer Dierentialgleichung mit konstanten Koezienten beschrieben werden ( =d/dt)

a0 x + a1 x + . . . + an x(n) = b0 y + b1 y  + . . . + bm y (m) .

(5.66)

Gem
a dem Dierentiationssatz der Laplace-Transformation (Kap. 3.5.3)
L{f (n) (t)} = sn F (s) sn1 f (t)|t=0
. . . sf (t)(n2) |t=0 f (t)(n1) |t=0 ,

(5.67)

wobei f (n) die n-te Ableitung der Funktion f nach der Zeit t ist, kann
Gl. (5.66) f
ur den vereinfachten Fall, dass alle Anfangswerte f (t = 0) bis
f (t)(n1) |t=0 Null sind, folgendermaen im Laplace-Bereich dargestellt werden
a0 X(s) + a1 sX(s) + . . . + an sn X(s) = b0 Y (s) + b1 sY (s) + . . . + bm sm Y (s) .
(5.68)

Damit ergibt sich folgender fester Zusammenhang zwischen der Ubertragungsfunktion G(s) im Laplace-Bereich und den Koezienten der Dierentialgleichung
a 0 + a1 s + a2 s 2 + . . . + an s n
G(s) =
,
(5.69)
b 0 + b 1 s + b 2 s2 + . . . + b m sm
wobei stets n m gilt. Der Quotient E
E=

a0
b0

(5.70)

wird auch als Empndlichkeit des Messsystems bezeichnet.

Bei Kenntnis der Laplace-Ubertragungsfunktion


G(s) bzw. der Fourier
Ubertragungsfunktion G(), der Impulsantwort g(t) bzw. der Sprungantwort
h(t) oder auch der Koezienten ai und bj der Dierentialgleichung lassen sich
die dynamischen Messfehler eines Messsystems beschreiben. Die Denition
des dynamischen Messfehlers und seine Bestimmung anhand dieser Kennwerte
wird in den beiden folgenden Abschnitten beschrieben.
5.4.2 Denition des dynamischen Messfehlers
Beim Erfassen zeitlich veranderlicher Messgroen entstehen aufgrund der oben

beschriebenen (nicht-idealen) Ubertragungseigenschaften


unweigerlich dynamische Messfehler. Da sich im Falle linearer Messsysteme die dynamischen
Fehler von den statischen separieren lassen, konnen wir uns im Folgenden ohne Einschr
ankung der Allgemeinheit auf dynamische Messfehler konzentrieren

120

5 Messfehler

und die statischen ausschlieen. Der momentane dynamische Messfehler


Fdyn ist deniert als
Fdyn = x(t) xw (t) ,
(5.71)
wobei x(t) und xw (t) die zeitlichen Verlaufe des Messwertes bzw. des wahren
Wertes darstellen.
Praktischer als die Angabe der Momentanverlaufe von Fehlern ist die Angabe ihrer Mittelwerte. Wenn wir einen stationaren Verlauf der Messgroe
voraussetzen (stationar heit, dass die sich durch zeitliche Mittelung ergebenden Kenngroen, wie z. B. der quadratische Mittelwert des Signals (Kap.
6.3.1), konstant bleiben), lasst sich als wichtige Kenngroe der mittlere quadratische dynamische Fehler angeben

1 T 2
2
Fdyn
= lim
Fdyn (t) dt .
(5.72)
T T 0
Wenn der Messgroenverlauf periodisch ist, darf die Integrationszeit T auf die
2
Periodendauer begrenzt werden. Da Fdyn
einen absoluten Fehler beziert, ist
es zweckm
aig, diesen auf den quadratischen Mittelwert x2 des Messsignals
zu normieren (Kap. 6.3.1)
x2 =

1
T

x2 (t) dt .

(5.73)

Es ergibt sich somit der bezogene quadratische Mittelwert des dynamischen


2
Fehlers fdyn
2
fdyn
=

2
Fdyn

x2

(5.74)

5.4.3 Bestimmung des dynamischen Messfehlers


Im Folgenden wird angenommen, dass der dynamische Fehler durch das (nicht

ideale) Ubertragungsverhalten
des Messsystems, das sich durch die Ubertragungsfunktion G(s) beschreiben lasst (Abb. 5.7), verursacht wird. Bei deterministischen Anregungssignalen lasst sich der dynamische Messfehler mit der

bekannten Ubertragungsfunktion
des Messsystems G(s) ermitteln

Abb. 5.7. Dynamischer Messfehler aufgrund des (nicht-idealen) Ubertra


gungsverhaltens des Messsystems. G(s) ist die Ubertragungsfunktion
im LaplaceBereich.

5.4 Dynamische Messfehler

121

Fdyn (s) = X(s) Xw (s)


= Xw (s)[G(s) 1]


1
.
= X(s) 1
G(s)

(5.75)

F
ur den Fall, dass das Eingangssignal (wahrer Wert) des Messsystems bekannt ist (Vorw
artsanalyse), erhalt man den Momentanverlauf des absoluten Messfehlers Fdyn (t) durch folgende Laplace-R
ucktransformation
Fdyn (t) = L1 {Xw (s)[G(s) 1]} .

(5.76)

Im umgekehrten Fall (R
uckw
artsanalyse) ist der Messwert x(t) bekannt,
und man erhalt Fdyn (t) als
$


1
1
.
(5.77)
X(s) 1
Fdyn (t) = L
G(s)
5.4.4 Messsystem mit Tiefpassverhalten
In aller Regel zeigen Messsysteme ein mehr oder weniger ausgepragtes Tiefpassverhalten. Im Folgenden soll daher zunachst der aus einem Tiefpass 1.
Ordnung resultierende dynamische Fehler berechnet werden (Abb. 5.8), wenn
der wahre Wert zum Zeitpunkt t = 0 auf den Wert X0 springt.

xw (t)

Xw (s)

GM(s) =

1
1+s

X (s)

x (t)

Abb. 5.8. Messsystem (Tiefpass 1. Ordnung)

Vorw
artsanalyse
Wenn der wahre Wert bekannt ist, lasst sich gema Gl. (5.76) der absolute
dynamische Messfehler wie folgt berechnen
Fdyn (t) = L1 {Xw (s)[GM (s) 1]} = L1 {F (s)} .
Mit

X0
s

(5.79)



X0
1
X0 M
1 =
.
s 1 + sM
1 + sM

(5.80)

Xw (s) =
folgt
F (s) =

(5.78)

122

5 Messfehler

Der zeitliche Verlauf des dynamischen Messfehlers lautet


Fdyn (t) = X0 et/M .

(5.81)

Der mittlere quadratische dynamische Fehler betragt (Gl. (5.72))


2
Fdyn

1
= lim
T T

X02 e2t/M dt

T
1 2t/M 
X02 M
lim
e

T T
2
0

1  2T /M
X02 M
lim
e
=
1 =0.
T T
2

(5.82)

R
uckw
artsanalyse
Hier ist nur der gemessene Wert bekannt. Aus Gl. (5.77) folgt der dynamische
Fehler
$


1
1
.
(5.83)
Fdyn (t) = L
X(s) 1
GM (s)
Die Auswertung f
uhrt zum selben Ergebnis wie die Vorwartsanalyse

$
X0 M
1
= X0 et/M .
Fdyn (t) = L
1 + sM

(5.84)

Verringerung des dynamischen Fehlers durch Korrekturnetzwerk


Der vom Messsystem herr
uhrende dynamische Fehler kann durch ein nachgeschaltetes Korrekturnetzwerk zum Teil kompensiert werden. Dies soll anhand eines Beispiels demonstriert werden. Das Ausgangssignal des Messsystems (Tiefpass 1. Ordnung) wird aus diesem Grund mittels eines OszilloskopTastkopfes abgegrien (s. auch Kap. 10.2). Die gesamte Messkette wird in
Abb. 5.9 gezeigt.
Mit
RT
VR =
.
(5.85)
RE

lautet die Ubertragungsfunktion


der gesamten Messkette (Messsystem und
Tastkopf)
Gges (s) =

1
XT (s)
1 + sT
=
.

XW (s)
1 + sM 1 + sT + VR (1 + sE )

(5.86)

Dabei wird vorausgesetzt, dass die Ein- bzw. Ausgangsimpedanzen vom


Messsystem und dem Tastkopf so gewahlt wurden, dass die beiden Netzwerke

auch nach der Zusammenschaltung ihr urspr


ungliches Ubertragungsverhalten
beibehalten.

5.4 Dynamische Messfehler

123

Abb. 5.9. Messsystem mit Korrekturnetzwerk (Tastkopf). Die Zeitkonstanten sind


folgendermaen deniert: T = RT CT ; E = RE CE .

Um die Auswirkung des Korrekturnetzwerkes auf das Ausgangssignal zu demonstrieren, werten wir wiederum das Ausgangssignal xT (t) (bzw. zunachst
XT (s)) f
ur eine Sprunganregung aus
XT (s) =

1
X0
1
1 + sT

.
+VR E
s 1 + sM 1 + VR 1 + s T1+V
R

Mit
=

T + VR E
1 + VR

(5.87)

(5.88)

erh
alt man

1
1 + VR
1
1 + sT
=

.
X0
s 1 + sM 1 + s
Eine Partialbruchzerlegung
XT

XT

B
1 + VR
A
C
= +
+
X0
s
1 + sM
1 + s

(5.89)

(5.90)

liefert
A=1
M (T M )
M
(T )
.
C = C =
M

B = B =

Mit



B
1
X0
1
C
1
+
XT (s) =


1 + VR s M s + 1/M

s + 1/

ergibt sich die entsprechende Zeitfunktion zu




B t/M C t/
X0
(t) +
.
e
e
x(t) =
1 + VR
M

(5.91)
(5.92)
(5.93)

(5.94)

(5.95)

124

5 Messfehler

Abbildung 5.10 verdeutlicht die Verbesserung des dynamischen Verhaltens


der Messeinrichtung durch das nachgeschaltete Korrekturnetzwerk. Es wurden folgende Werte verwendet: X0 = 10 V; M = 100 s; VR = 9; E = 0
(Weglassen von CE ). Die Zeitkonstante T wird variiert.
x (t)
T

T = 1,17

1V
= 1,00

T = 0,81

0,5V

=0
T

100

500

t (s)

Abb. 5.10. Den schnellsten Einschwingvorgang ohne Uberschwingen


erh
alt man,
wenn die Nullstelle des Tastkopfes genau auf dem Pol des Tiefpasses liegt. Der Wert
T = 0 liefert den prinzipiellen Zeitverlauf der Sprungantwort des Messsystems ohne
Korrekturnetzwerk.

6
Analoges Messen elektrischer Gr
oen

Die Grundfunktionen eines Messgerates gliedern sich in die Aufnahme der


Messgroe, die Verarbeitung des Messsignals und in die Ausgabe des Messwertes (Abb. 6.1). Bei den Messgeraten zur Messung von elektrischem Strom bzw.
elektrischer Spannung unterscheidet man zwischen den klassischen elektromechanischen Instrumenten mit analogen Zeigerskalen und den moderneren
elektronischen, auf digitaler Basis arbeitenden Geraten mit interner AnalogDigital-Umsetzung und Ziern- oder Bildschirmausgabe. Obwohl die klassischen Zeigergerate in den letzten Jahren an Bedeutung verloren haben, sollen
diese im Kap. 6.1 ausf
uhrlich beschrieben werden, da die in diesen Geraten
genutzten Wandlungsprinzipien von grundlegender Bedeutung f
ur die Elektrische Messtechnik sind, insbesondere f
ur die Sensortechnik bei der Messung
mechanischer Groen. Auf die auf digitaler Basis arbeitenden Messgerate wird
in Kap. 11 n
aher eingegangen.

Abb. 6.1. Grundfunktionen eines Messger


ates

6.1 Elektromechanische Messger


ate
Elektromechanische Messgerate beruhen auf dem Prinzip, einer zu messenden
elektrischen Groe (i. Allg. Strom oder Spannung) mit Hilfe eines geeigneten
physikalischen Eektes eine Kraftwirkung zuzuordnen. Diese Kraft wird auf

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_6

126

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

einen Zeiger u
bertragen, der durch eine im Allgemeinen von einer Feder erzeugten Gegenkraft in einer Stellung verharrt, so dass der Zeigerausschlag ein
Ma f
ur die Messgroe darstellt, wenn moglich ihr proportional ist.
6.1.1 Drehspulmesswerk
Kraft auf einen stromdurchossenen Leiter im Magnetfeld
Einer der im Bereich der Elektromechanik vielfach genutzten Eekte ist die
Kraftwirkung auf einen stromdurchossenen Leiter im Magnetfeld. Wenn sich
ein gerader linienformiger Leiter der Lange l, der einen Strom I f
uhrt, in
 bendet
einem homogenen Magnetfeld mit der magnetischen Induktion B
(Abb. 6.2), wirkt auf ihn die mechanische Kraft F [25]
 .
F = I(l B)

(6.1)

Dabei zeigt l in die positive Stromrichtung des Leiters.

Abb. 6.2. Kraft auf einen stromdurchossenen Leiter im Magnetfeld

Aufbau und Prinzip


Das Drehspulmesswerk ist ein Standardmesswerk, bei dem der eben beschriebene physikalische Eekt genutzt wird, gema dem auf einen stromdurchossenen Leiter in einem Magnetfeld eine mechanische Kraft ausge
ubt wird.
Das Drehspulmesswerk besteht aus einem mit Polschuhen versehenen, feststehenden Dauermagneten, der in Verbindung mit einem zylindrischen Weicheisenkern in einem begrenzten Winkelabschnitt des Luftspaltes ein radial
homogenes B-Feld
erzeugt (Abb. 6.3). Der Weicheisenkern wird von einer
drehbar gelagerten Spule mit rechteckigem Spulenrahmen und Windungszahl
N umschlossen. Die Hohe des Spulenrahmens betragt l, seine Breite 2r. Wird
die Spule von einem Strom I durchossen, ergibt sich die Kraftwirkung auf
einen einzelnen Leiter nach Gl. (6.1). Das auf die aus N Leiterwindungen
 el berechnet sich somit zu
bestehende Spule wirkende Drehmoment M

6.1 Elektromechanische Messger


ate

127

Abb. 6.3. Drehspulmesswerk: a) Prinzipieller Aufbau, b) Schnitt durch den Spulenrahmen, c) Symbol

 el = 2Nr F
M

= 2Nr [I(l B)]
= 2N rIlBea ,

(6.2)

wobei der Einheitsvektor ea in Richtung der Drehachse zeigt. Durch eine an
der Spule angebrachte Spiralfeder (Federkonstante D) wird das R
uckstellmo
ment Mmech erzeugt
 mech = Dea .
(6.3)
M
 mech = 0 folgt der Winkel , bei
 el + M
Aus der Gleichgewichtsbedingung M
dem sich Gleichgewicht einstellt bzw. bei dem der Zeiger verharrt
=

2N lBr
I = Si I .
D

(6.4)

Dabei bezeichnet Si die Stromempndlichkeit des Drehspulmesswerkes. In


technischen Ausf
uhrungen wird anstatt der Spiralfeder oft ein Spannband
benutzt, das neben der Erzeugung des R
uckstellmomentes sowohl der Stromzuf
uhrung als auch der reibungsarmen Lagerung der Drehspule dient.
Dynamisches Verhalten eines Drehspulmesswerkes
F
ur eine winkelgeschwindigkeitsproportionale Dampfung mit dem Dampfungsmoment und dem Beschleunigungsmoment
(das Tragheitsmoment
der Drehspule wird mit bezeichnet) ergibt sich die den Winkelausschlag
beschreibende Dierentialgleichung zu

+ + D = Mel (t) ,

(6.5)

wobei ein Punkt u


ber dem Formelzeichen die zeitliche Ableitung der entsprechenden Formelgroe nach der Zeit und zwei Punkte die zweifache zeitliche
Ableitung bedeuten. Mit den Substitutionen f
ur die Eigenkreisfrequenz 0 des
unged
ampften Systems

128

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

und mit dem normierten Dampfungskoezient


0 =

(6.6)

=
2 D

(6.7)

ergibt sich die folgende Dierentialgleichung


1
2

+
+ = Mel (t) .
2
0
0
D

(6.8)

Von den L
osungen dieser Dierentialgleichung interessiert im Allgemeinen die
Antwort auf eine zeitlich sprunghaft ansteigende Eingangsgroe (Sprungantwort). In Abhangigkeit des (normierten) Dampfungskoeizienten erhalt man
die normierte Sprungantwort /0 , wobei 0 den Ausschlag f
ur t bezeichnet (Abb. 6.4):

keine D
ampfung (
= 0)

= 1 cos 0 t
0

(6.9)

periodische (schwingende) Einstellung < 1

0 0 t
e
= 1
cos(t )
0

mit
= 0

1 2

(6.10)

(6.11)

Abb. 6.4. Auf den Endausschlag 0 bezogene Sprungantwort eines Drehspulinstrumentes bei verschiedenen (normierten) D
ampfungskoeizienten

6.1 Elektromechanische Messger


ate

"

und


1 2

= arctan

(6.12)

aperiodischer Grenzfall (
= 1)

= 1 e0 t (1 + 0 t)
0

129

aperiodische (kriechende) Einstellung (


> 1)


1
1
1

et/1 + et/2
=1+
0
2
1
20 1
mit
1 =

0 (

und
2 =

0 (
+

1


1


(6.14)

(6.15)

2 1)

2 1)

(6.13)

(6.16)

D
ampfung beim Drehspulmesswerk
Ein D
ampfungsmoment entsteht, wenn die durch die Drehspulenbewegung im
Magnetfeld induzierte Spannung u
uhrt.
ber einen Widerstand zu einem Strom f
Nach der Lenzschen Regel wirkt dieser Ausgleichstrom dem Messstrom entgegen und d
ampft damit die Ausschlagbewegung des Zeigers. Bei einer Spule
mit Rahmenhohe l und Windungszahl N betragt die induzierte Spannung uind

d
d
 dA

B
uind = N
= N
dt
dt
%
'
&

B
 (v B)
 ds
=N
dA
A t
&
= N rB ds
= 2N lrB

d
.
dt

(6.17)


 d ist
Dabei wurde ber
ucksichtigt, dass B/t
= 0. Das Dampfungsmoment M
dem resultierenden Strom iind proportional
 d = 2Nr F = 2Nr [iind (l B)]

M

(6.18)

Md = 2N rlBiind .

(6.19)

Wenn die induzierte Spannung uind den Strom iind in einem Kreis mit Widerstand RK hervorruft, ergibt sich das Dampfungsmoment

130

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Md = (2N rlB)2

1 d
.
RK dt

(6.20)

Mit
Md =

(6.21)

folgt f
ur den (nicht-normierten) Dampfungskoeizienten aus Gl. (6.5)
=

(2N rlB)2
.
RK

(6.22)

Dabei setzt sich der Gesamtwiderstand des Messkreises RK , der sog. Schlieungswiderstand, aus dem Widerstand der Messspule RSP , einem eventuell
vorhandenen Abgleichwiderstand RT und dem Widerstand des aueren Kreises RA zusammen
RK = RSP + RT + RA .
(6.23)
Wenn ein Abgleichwiderstand RT vorhanden ist, kann dieser bei konstantem RA genutzt werden, um beispielsweise eine aperiodische Dampfung zu
erzielen. Die k
urzeste Einstellzeit wird allerdings f
ur einen Dampfungsgrad

< 1, also nach leichtem Uberschwingen


erreicht. Abbildung 6.5 zeigt die auf
die Periodendauer T0 der Grundschwingung bezogene Einstellzeit TE , die das
Messwerk nach einer Sprunganregung ben
otigt, um innerhalb einer Schwankungsbreite von 1,5 % des Endausschlages zu bleiben. Die f
ur den Wert
1,5 % ermittelte Zeit wird auch als Beruhigungszeit bezeichnet. Nachteilig an dem eben beschriebenen Dampfungsmechanismus ist allerdings, dass
die Gr
oe der Dampfung u
ber den Schlieungswiderstand RK vom jeweiligen
Widerstand RA des aueren Kreises abhangt.

Abb. 6.5. Bezogene Einstellzeit TE /T0 als Funktion des normierten D


ampfungskoeizienten bei einem zul
assigen Toleranzbereich von 1,5 % um den Endausschlag

6.1 Elektromechanische Messger


ate

131

Um diese Abhangigkeit zu vermeiden, setzt man vorzugsweise die sog. Rahmendampfung ein, bei der die Spule auf einen elektrisch leitenden Aluminiumrahmen aufgebracht wird. In dem Aluminiumrahmen werden infolge der
Drehbewegung elektrische Spannungen induziert, die im geschlossenen Rahmen Wirbelstrome zur Folge haben. In Verbindung mit dem Magnetfeld des
Permanentmagneten bilden sich infolge dieser Strome Krafte (Gegenkrafte)
aus, die gema der Lenzschen Regel so gerichtet sind, dass sie die Bewegung
bremsen und damit dampfen. Im Allgemeinen werden Drehspulinstrumente
so ausgelegt, dass die Rahmendampfung u
berwiegt, um die Dampfungswerte
von den oben beschriebenen Ein
ussen des jeweiligen Messkreises (Gln. (6.22)
und (6.23)) unbeeinusst zu lassen.
6.1.2 Galvanometer
Spezielle Bauformen des Drehspulinstrumentes, die darauf abzielen, eine besonders hohe Stromempndlichkeit zu erreichen, werden als Galvanometer
bezeichnet. Da sie im Allgemeinen zum Feststellen der Stromlosigkeit in
Messbr
ucken oder Kompensatoren eingesetzt werden, benotigen Galvanometer keine in Strom- bzw. Spannungswerten kalibrierte Skala. Wenn der mechanische Zeiger durch einen Lichtzeiger ersetzt wird, f
uhrt dies zu besonders
hoher Empndlichkeit. Dieser Lichtzeiger besteht aus einem am Spannband
befestigten Spiegel, dessen Winkelstellung mit Hilfe eines auf ihn auftreenden und aus seiner Ruhelage ausgelenkten Lichtstrahles detektiert wird (Abb.
6.6). Typische Werte f
ur die Stromempndlichkeit von solchen DrehspulSpiegelgalvanometern liegen zwischen Si = 10 mm/pA und Si = 105 mm/pA
f
ur 1 m Lichtzeigerlange. Die hohe Stromempndlichkeit Si wird durch Verwenden einer Feder mit kleiner Drehfederkonstante D erreicht (Gl. (6.4)).
Damit andererseits die Eigenfrequenz 0 nicht zu klein und damit die Einschwingdauer nicht zu gro werden, muss auch das Tragheitsmoment gema
Gl. (6.6) gering gehalten werden, was durch eine Spule mit geringem Rahmendurchmesser erreicht wird.
Das dynamische Verhalten von Galvanometern wird durch die dampfende
Wirkung des im Messkreis induzierten Stromes gesteuert. F
ur die aperiodische D
ampfung = 1 fordern die Gln. (6.7) und (6.22) einen Schlieungswiderstand RKaper , der sich wie folgt ergibt

Abb. 6.6. Spiegelgalvanometer

132

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

2
RKaper =
(N rlB)2 .
D

(6.24)

Durch eine geeignete Wahl des Abgleichwiderstandes RT kann nach Gl. (6.23)
das Galvanometer so eingestellt werden, dass sein Zeiger entweder schwingend
(RK > RKaper ) oder kriechend (RK < RKaper ) seine Endstellung erreicht. Die
Einstellung der Dampfung von Galvanometern lasst sich gema Gl. (6.22) bei
entsprechenden Bauformen auch durch Ver
andern der magnetischen Induktion
 in Form eines veranderlichen magnetischen Nebenschlusses erreichen. Es ist
B
allerdings zu beachten, dass durch diese Manahmen auch die Empndlichkeit
des Galvanometers verandert wird.
Kriechgalvanometer
Mit Hilfe eines kriechend gedampften Galvanometers (RK RKaper ), einem
sog. Kriechgalvanometer, bei dem auerdem das Richtmoment vernachlassigbar klein ist (D 0), kann ein

Spannungssto = u dt
(6.25)
unmittelbar gemessen werden. Da wegen der kriechenden Einstellung (RK ist
sehr klein) auerdem das Beschleunigungsmoment
vernachlassigt werden
darf, ist in diesem Fall nur das Dampfungsmoment relevant. Aus den Gln.
(6.2) und (6.5) folgt f
ur D = 0

+ = Mel (t) = 2N rlBi(t) .

(6.26)

Wegen der dominierenden Spulendampfung ergibt sich mit Gl. (6.20) aus

2N rlBu(t)
(2N rlB)2
=
RK
RK

(6.27)

unter Vernachlassigung des Beschleunigungsmoments die Spannung zu


u(t) = 2N lrB
bzw. der Spannungssto


t2

d
d
= cf
dt
dt

(6.28)

u(t) dt = cf [(t2 ) (t1 )]

t1

= cf [2 1 ] .

(6.29)

Bei bekannter Flussmeterkonstante cf kann die Groe des Spannungsstoes


unmittelbar aus der Dierenz der Winkelstellungen (2 1 ) des Zeigers zu
den Zeiten t2 und t1 ermittelt
werden. Eine solche Anordnung kann aufgrund
des Zusammenhanges = u dt zur Messung des magnetischen Flusses
bzw. der magnetischen Induktion unter Verwendung von Pr
ufspulen eingesetzt
werden.

6.1 Elektromechanische Messger


ate

133

Ballistisches Galvanometer
Das ballistische Galvanometer dient dem Zweck, die von einem Stromsto gelieferte Ladungsmenge zu messen. Dies wird dadurch erreicht, dass beim ballistischen Galvanometer ein im Vergleich zur Periodendauer der Messwerkgrundschwingung zeitlich sehr kurzer Stromsto einen Drehimpuls erzeugt.
Mit Hilfe von Gl. (6.2) lasst sich der Drehimpuls M (t) dt, welcher der Drehspule durch den Stromsto verliehen wird, wie folgt angeben


M (t) dt = 2N rlB
0

i(t) dt = 2N rlBQ0 .

(6.30)

Q0 ist die mit dem Stromsto zugef


uhrte Ladungsmenge. Die Integrationszeit
T in Gl. (6.30) wird so gewahlt, dass der Strompuls bei t = T bereits wieder abgeklungen ist. Aus diesem Drehimpuls resultiert eine Schwingbewegung
der Drehspule, die nach Gl. (6.5) beschrieben werden kann. Bei der Losung
dieser Dierentialgleichung gehen wir davon aus, dass der Drehimpuls der
Drehspule eine Anfangswinkelgeschwindigkeit (t
= 0) verleiht, aber bereits

zu Beginn der eigentlichen Schwingung die Anregung durch das Moment M
wieder abgeklungen ist. Damit kann man sich auf die Losung der homogenen
Dierentialgleichung beschranken

+ + D = 0 .

(6.31)

Mit den geltenden Anfangsbedingungen


(0) = 0

(6.32)

und

1 T
M (t)dt
0
1
Si DQ0
= Si 02 Q0
= 2N rlBQ0 =

(0)

= (0) (T ) =

(6.33)

folgt als L
osung der Dierentialgleichung f
ur den aperiodischen Grenzfall
(t) = (0)te0 t ,

(6.34)

wobei 0 die Kreisfrequenz der Grundschwingung der an der Drehfeder (Federkonstante D) aufgehangten Drehspule mit dem Tragheitsmoment bezeichnet

D
0 =
.
(6.35)

Es sei erw
ahnt, dass der Standardbetriebsfall f
ur das ballistische Galvanometer der aperiodische Grenzfall (
= 1) (Gl. (6.7)) ist.

134

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Beim ballistischen Galvanometer interessiert von der Drehbewegung im wesentlichen nur der sog. ballistische Ausschlag ball , welcher der ersten Schwingungsamplitude entspricht. Dieses Schwingungsmaximum erhalt man durch
Nullsetzen der Funktion (t)

(t)

= (0)e0 t (1 0 t) = 0 .

(6.36)

Daraus folgt, dass sich der als ballistische Ausschlag bezeichnete Maximalausschlag max zu einem Zeitpunkt t = 1/0 einstellt. Der dazugehorige Winkel
ball ergibt sich zu
ball = max =

(0)
Si 0
Q0 .
=
e0
e

(6.37)

Der ballistische Ausschlag ist somit proportional zur zugef


uhrten Ladungsmenge Q0 . Die Proportionalitatskonstante zwischen dem ballistischen Ausschlag ball und der Ladungsmenge Q0 wird als sog. ballistische Konstante
cball bezeichnet
e
eT0
cball =
=
,
(6.38)
Si 0
2Si
wobei cball folgendermaen deniert ist
T
Q0 =

i(t)dt = cball ball .

(6.39)

In Gl. (6.38) bezeichnen e die Eulersche Zahl (e = 2, 71828) und T0 die Periodendauer der ungedampften Messwerkgrundschwingung.
6.1.3 Elektrodynamisches Messwerk
Das elektrodynamische Messwerk besitzt,
ahnlich dem Drehspulmesswerk, eine bewegliche, von einem Messstrom durchossene Drehspule, die an einer
Drehfeder aufgehangt ist. Der Unterschied zum Drehspulmesswerk besteht
darin, dass das zur Erzeugung der mechanischen Auslenkkraft notwendige
Magnetfeld von einer zweiten, feststehenden Spule, der sog. Feldspule geliefert wird. Wenn diese Feldspule einen Eisenkern besitzt, spricht man von der
sog. eisengeschlossenen Form des elektrodynamischen Messwerkes (Abb. 6.7).
Die feststehende Spule mit der Windungszahl N1 wird vom Strom I1 , die bewegliche mit Windungszahl N2 vom Strom I2 durchossen. Mit dem auf die
Feldspule angewendeten Durchutungsgesetz [25]
&
 ds = N I
H
(6.40)
folgt
 L + lFe H
 Fe = N1 I1 ,
2bL H

(6.41)

6.1 Elektromechanische Messger


ate

135

I1
N1

N2

b)
feststehende
Spule

B
bL
a) Weicheisenkern

I2

hochpermeabler
Drehspule Weicheisenkern

c)

Abb. 6.7. Elektrodynamisches Messwerk (eisengeschlossen): a) Prinzipieller Aufbau, b) Schaltzeichen, c) Symbol f


ur die eisengeschlossene Form

wobei bL den radialen Abstand zwischen Weicheisenzylinder und Polschuh,


 Fe die magnetische
lFe die Wegl
ange des magnetischen Feldes im Eisen, H

Feldst
arke im Eisen und HL die magnetische Feldstarke im Luftspalt bezeich = H
 ergibt sich unter der Voraussetzung einer sehr groen Pernen. Mit B
meabilit
at des Eisenkerns (Fe 0 ) die im Luftspalt erzeugte magnetische
L
Induktion B
 L | = BL = 0 N1 I1 .
|B
(6.42)
2bL
 el auf die vom Strom I2 durchossene Drehspule mit der
Das Drehmoment M
Spulenquerschnittsache 2rl und der Windungszahl N2 betragt mit Gl. (6.2)
(ea : Einheitsvektor in Richtung der Drehachse)


 el = 2N2r F = 2N2r I2 (l B
 L)
M
= 2N2 rI2 lBLea =

0 rlN1 N2
I1 I2ea .
bL

(6.43)

Analog zum Drehspulmesswerk resultiert daraus f


ur das mit einer R
uckstellfeder der Federkonstanten D ausgestattete elektrodynamische Messwerk ein
Zeigerausschlag um den Winkel
=

0 rlN1 N2
I1 I2 = kI1 I2 .
bL D

(6.44)

Das elektrodynamische Messwerk ist also ein multiplizierendes Instrument,


welches das Produkt zweier Strome anzeigt. Wenn man das elektrodynamische
Messwerk mit sinusformigen Stromen i1 (t) und i2 (t) (Kap. 6.3) derselben
Frequenz speist

136

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

i1 (t) = I1 sin t
i2 (t) = I2 sin(t + ) ,

(6.45)
(6.46)

dann ist die Anzeige zu dem Produkt der Eektivwerte und dem Cosinus des
Phasenwinkels zwischen den Stromen proportional
= ki1 (t)i2 (t) = k
=k

1
T

1
T

i1 (t)i2 (t) dt
0

I1 I2 sin t sin(t + ) dt

0
 T

I1 I2
k
cos
I1 I2 [cos cos(2t + )] dt = k
2T 0
2
= kI1e I2e cos .

(6.47)

Bei der Auswertung von Gl. (6.47) wurde angenommen, dass die Tragheit des
Instrumentes so gro ist, dass es in Bezug auf die Wechselgroen eine zeitliche
T
Mittelung vornimmt, d. h. der Term 0 cos(2t + ) leistet keinen Beitrag
zum Zeigerausschlag .
Das Haupteinsatzgebiet von elektrodynamischen Messwerken liegt demzufolge auf dem Gebiet der Leistungsmessung. Man unterscheidet beim elektrodynamischen Messwerk zwei Bauformen: Das eisengeschlossene elektrodynamische Messwerk besitzt einen hochpermeablen Eisenkern, der oft aus geschichteten und isolierten Blechen aufgebaut ist, um die Wirbelstromverluste
gering zu halten. Dabei wird auch auf geringe Hystereseverluste geachtet. Die
eisengeschlossene Form ermoglicht geometrisch kleine Bauausf
uhrungen, bei
 L innerhalb des Luftspaltes stets in radialer
der die magnetische Induktion B

Richtung verlauft, so dass der Ubergang


vom Vektorprodukt zum Skalarprodukt in Gl. (6.43) analog zum Drehspulmesswerk erlaubt ist. Auerdem bleibt
der Fremdfeldeinuss bei dieser Bauform gering.
Beim eisenlosen elektrodynamischen Messwerk nach Abb. 6.8 lasst sich

Abb. 6.8. Elektrodynamisches Messwerk (eisenlos): a) Prinzip, b) Symbol

6.1 Elektromechanische Messger


ate

137

durch geeignete Bauformen der Spulen erreichen, dass die am Spulenrahmen


in tangentialer Richtung angreifende und f
ur die Drehbewegung magebende Kraftkomponente (in Abb. 6.8 eingezeichnet) in einem Drehwinkelbereich
von = 45 bei konstanten Stromen I1 und I2 praktisch einen konstanten Betrag hat. Denn durch spezielle Spulenformen wird gerade ein solches
Magnetfeld aufgebaut, dass die sich gema Gl. (6.43) ergebende Kraft eine
auf den Spulenrahmen bezogene konstante und nicht von der Winkelstellung
abh
angige Tangentialkomponente aufweist. Damit ist das mechanische Antriebsmoment und in Folge auch der Ausschlag wiederum proportional zum
Produkt I1 I2 aus Feld- und Drehspulenstrom.
Nachdem die magnetische Induktion der Feldspulen typischerweise in der
Gr
oenordnung B = 0, 01 T liegt, ist auf Messfehler durch Fremdfelder zu
achten, z. B. auch auf die Ausrichtung im Erdmagnetfeld (B = 104 T). Bei
eisenlosen Messwerken entfallen die Fehlerein
usse infolge von Wirbelstromund Hystereseverlusten, so dass sie als Prazisionsleistungsmesser eingesetzt
werden k
onnen.
6.1.4 Dreheisenmesswerk
Als physikalischen Eekt nutzt das Dreheisenmesswerk die Kraft zwischen
zwei Magnetpolen, wobei das benotigte Magnetfeld von dem zu messenden
Strom erzeugt wird. Man verwendet eine feststehende Spule, in deren Feld zwei
Eisenpl
attchen gleichsinnig magnetisiert werden und sich infolgedessen abstoen (Abb. 6.9). Die mechanische Kraft (Kraft zwischen zwei Magnetpolen) ist
proportional dem Quadrat der von der Spule erzeugten magnetischen Induktion, welche wiederum proportional dem durch die Spule ieenden Strom I
ist.

Abb. 6.9. Dreheisenmesswerk: a) Prinzip, b) Aufbau, c) Symbol

138

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Die in der Spule mit der Selbstinduktivitat L des Dreheisenmesswerks aufgrund des Messstromes I gespeicherte magnetische Energie Emagn betragt
Emagn =

1 2
LI .
2

(6.48)

Wenn das Messgerat als verlustfrei angenommen wird, entspricht die Reduzierung der magnetischen Feldenergie bei einer Zeigerdrehung exakt der Zunahme der in der Drehfeder gespeicherten potentiellen Energie (dEmech =
 el aus der Anderung

dEmagn ). Damit lasst sich das erzeugte Drehmoment M


der magnetischen Feldenergie errechnen
 el = dEmagn ea = 1 dL I 2ea .
M
d
2 d

(6.49)

Dabei bezeichnet ea den Einheitsvektor in Richtung der Drehachse. Da der


Term dL/d von der Winkelstellung abhangt, ergibt sich ein bauformabhangiger, im Allgemeinen nichtlinearer Verlauf des Drehmoments als Funktion des
Winkels . Mit dem durch eine Drehfeder (Drehfederkonstante D) erzeugten
 mech
Gegendrehmoment M
 mech = Dea
M

(6.50)

l
asst sich der Winkel des Zeigerausschlages f
ur den Gleichgewichtszustand
 el + M
 mech = 0) angeben
(M
=

1 dL 2
I = k()I 2 .
2D d

(6.51)

Durch entsprechende geometrische Formgebung der Plattchen, d. h. eine


Beeinussung des Terms dL/d bzw. k(), kann eine annahernd lineare
Abh
angigkeit des Ausschlags vom Strom I erreicht werden. Bei Wechselstrom schwankt das Drehmoment infolge der quadratischen Abhangigkeit vom
Strom mit der doppelten Frequenz. Infolge der mechanischen Tragheit des
Messwerkes wird damit der quadratische Mittelwert, also der Eektivwert,
angezeigt. Dies kann analog zum elektrodynamischen Messwerk abgeleitet
werden (Gl. (6.47)).
Der Energieverbrauch des Dreheiseninstrumentes und damit auch seine
R
uckwirkung auf den Messvorgang sind gr
oer als beim Drehspulinstrument.
Es wird als robustes und preiswertes Betriebsinstrument vorwiegend in der
elektrischen Energietechnik eingesetzt. Bei hoheren Frequenzen wird der Fehler vor allem von Wirbelstromverlusten in den Blechteilen des Messwerkes
bestimmt.
6.1.5 Drehspulquotientenmesswerk (Kreuzspulmesswerk)
Beim Drehspulquotientenmesswerk, das auch als Kreuzspulmesswerk bezeichnet wird, sind zwei Spulen mit rechteckigem Spulenquerschnitt und demselben

6.1 Elektromechanische Messger


ate

F1

Kreuzspule

F2
I2

I1

139

Permanentmagnet

B
a)

F2

=90

F1 r

b)

Abb. 6.10. Drehspulquotientenmesswerk: a) Prinzipieller Aufbau, b) Symbol

Rahmendurchmesser (Windungszahlen: N1 bzw. N2 ; Spulenstrome: I1 bzw.


I2 ) starr miteinander verbunden, so dass ihre Querschnittsebenen einen Winkel von = 90 bilden (Abb. 6.10) . Das Magnetfeld sei homogen zwischen den
Polen N und S, was bedeutet, dass es im Gegensatz zum Drehspulmesswerk
radial inhomogen ist. Die von den Messstromen I1 und I2 hervorgerufenen
mechanischen Krafte F1 und F2 ergeben sich zu

F1 = N1 I1 (l B)

(6.52)

F1 = N1 I1 lB

F2 = N2 I2 (l B)
F2 = N2 I2 lB .

(6.53)
(6.54)
(6.55)

Wenn ea den in Richtung der Drehachse der Spule zeigenden Einheitsvektor
 = 2r F die
und r den Radius der Spulenrahmen bezeichnen, folgen mit M


Einzeldrehmomente M1 und M2
 1 = 2rF1 sin ea
M
 2 = 2rF2 cos ea .
M

(6.56)
(6.57)

Nachdem Kreuzspulinstrumente keine Drehfedern zur Erzeugung der mechanischen R


uckstellkraft enthalten, lautet die Gleichgewichtsbedingung
2 = 0 .
1 +M
M

(6.58)

Daraus folgt der Zusammenhang zwischen den Stromen I1 und I2 sowie dem
Winkel des Zeigerausschlages
F2
N2 I2
=
F1
N1 I1

(6.59)

I2
.
= arctan k
I1

(6.60)

tan =
bzw.

140

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Es ist anzumerken, dass Drehspulquotientenmesswerke nach Gl. (6.60) unmittelbar zur Widerstandsmessung eingesetzt werden konnen, da ihr Ausschlag
vom Quotient zweier Strome bestimmt wird (Kap. 9.1.4).
F
ur Ausf
uhrungsformen, bei denen die Winkelstellung zwischen den beiden
Spulen nicht 90 sondern betragt, gilt
#
"I N
2 2
I1 N1 + cos
.
(6.61)
= arctan
sin
6.1.6 Drehmagnetmesswerk
Das Drehmagnetmesswerk besteht aus einer feststehenden, vom Messstrom I
durchossenen Feldspule der Lange l und Windungszahl N (Abb. 6.11). Bei
Vernachl
assigung der Streuverluste erzeugt der Strom in ihrem Inneren ein
 I , die sich aus dem DurchutungsMagnetfeld der magnetischen Feldstarke H
gesetz berechnet
&
 s = NI
Hd
(6.62)
HI =

N
I.
l

(6.63)

Abb. 6.11. Drehmagnetmesswerk: a) Prinzip, b) Symbol

In diesem Magnetfeld dreht sich ein Permanentmagnet. Die notwendige R


uck R eines zusatzlichen permanenten Richtmastellkraft wird durch das Feld H
 I I) und des Richtgneten gebildet. Die magnetischen Felder der Spule (H

magneten (HR = const.) u
berlagern sich vektoriell (Abb. 6.12) und der bewegliche Magnet zeigt in Richtung des resultierenden Feldes, dessen Richtung
(und St
arke) vom Strom I abhangt. Der Proportionalitatsfaktor k ist wiederum eine Funktion des Ausschlagwinkels , so dass die Skala nichtlinear geteilt
ist. F
ur obige Anordnung gilt nach Abb. 6.12

6.1 Elektromechanische Messger


ate

141

Abb. 6.12. Vektorielle Uberlagerung


der magnetischen Felder im Drehmagnetmesswerk

tan =

HI
N
=
I.
HR
lHR

(6.64)

Mit der Stromrichtung andert sich also auch das Vorzeichen des Drehwinkels,
der infolge der mechanischen Tragheit des Messwerkes letztlich ein Ma f
ur
den zeitlichen Mittelwert (Gleichstromwert) des Spulenstromes ist.
Die Vorz
uge des Drehmagnetmesswerkes liegen in seiner einfachen Konstruktion; so ist beispielsweise keine Stromzuf
uhrung zu den beweglichen Teilen notwendig, wie dies beim Drehspulmesswerk der Fall ist. Nachteilig wirkt
sich jedoch der hohe Eigenverbrauch und seine im Vergleich zum Drehspulmesswerk geringere Empndlichkeit aus.
6.1.7 Elektrostatisches Messwerk
Die nach dem elektrostatischen Prinzip arbeitenden Messwerke beruhen auf
der Coulombschen Anziehungskraft zwischen elektrischen Ladungen. Die elektrostatischen Messwerke dienen der Messung elektrischer Spannungen bzw.
Ladungen. Im allgemeinen wird eine feststehende Elektrode mit dem spannungsm
aig hohen Messpotential verbunden und eine mechanisch bewegliche,
meist drehbar gelagerte Elektrode auf Massepotential gelegt (Abb. 6.13).
Das aus der Coulombschen Anziehungskraft resultierende Drehmoment
 el l
M
asst sich auf der Basis des Energieerhaltungssatzes berechnen, demzufolge
sich die Zunahme der mechanischen Energie Emech aus der Abnahme der
elektrischen Energie Eel ergibt
bewegliche Platte

a)

feststehende Platte (Stator)

U
b)

Abb. 6.13. Elektrostatisches Messwerk: a) Prinzip, b) Symbol

142

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

dEmech = dEel .

(6.65)

Die elektrische Energie Eel entspricht der Energie, die im Kondensator gespeichert ist, w
ahrend sich die mechanische aus dem Produkt von Drehmoment
 el und Drehwinkel errechnet. Mit Gl. (6.65) folgt
M
Mel d =

1 2
u dC ,
2

(6.66)

wobei u die am Messwerk anliegende Spannung und C die Kapazitat zwischen


den Elektroden bezeichnen. Infolge des mit Federkraft erzeugten R
uckstellmomentes
Mmech = D
(6.67)
ergibt sich der Ausschlagwinkel aus der Gleichgewichtsbedingung (Mmech +
Mel = 0)
1 dC 2
=
u = k()u2 .
(6.68)
2D d
Bei angelegter Wechselspannung zeigt das Gerat den quadrierten Eektivwert der Spannung an, falls das Messwerk als mechanisch trage gegen
uber
der Wechselspannungsfrequenz bezeichnet werden kann. Diese Tatsache kann
wiederum analog zu Gl. (6.47) abgeleitet werden. Durch spezielle Plattengeometrien kann der Zusammenhang zwischen dem Ausschlagwinkel und der
angelegten Spannung u linearisiert werden. Absolute elektrostatische Hochspannungsmesser beruhen auf der Messung der Anziehungskraft zwischen parallelen Kondensatorplatten. Dabei werden Messgenauigkeiten im Bereich von
0,01 % erreicht [162].
Der ohmsche Innenwiderstand elektrostatischer Messwerke liegt in der
Gr
oenordnung 1012 bis 1014 . Die Hochfrequenztauglichkeit wird allerdings
durch den mit der Frequenz zunehmenden Blindstrom sowie den ebenfalls

Abb. 6.14. Aufbau eines elektrostatischen Messwerkes, das auf der Inuenz von
Ladungen basiert.

6.1 Elektromechanische Messger


ate

143

parasit
aren Einuss der Zuleitungsinduktivitaten begrenzt. Eine besondere
Bauform eines elektrostatischen Hochspannungsmesswerkes wird in Abb. 6.14
gezeigt. Es beruht auf der Inuenz von Ladung auf der beweglichen Rotorelektrode, die u
ber die Drehfeder geerdet ist. Die Dampfung des Messwerkes
wird bei dieser Bauform durch Luftkammerdampfung erzielt, also eine durch
die Bewegung der Rotorplatte hervorgerufene Stromungsdampfung.
6.1.8 Schaltzeichen f
ur Messger
ate
In Tabelle 6.1 sind die f
ur den Bereich der elektromechanischen Messgerate
wichtigsten Schaltzeichen und Symbole zusammengefasst.
Tabelle 6.1. Symbole f
ur Messger
ate nach VDE 0410 und DIN 43802

144

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung


In diesem Abschnitt wird die direkte Messung von Gleichstrom und Gleichspannung mit Hilfe von Strom- und Spannungs-Messwerken beschrieben.
6.2.1 Messung von Gleichstr
omen
Die Messung des Gleichstromes in einem Zweig eines beliebigen, aus ohmschen
Widerst
anden, Gleichspannungs- und Gleichstromquellen zusammengesetzten
linearen Netzwerkes kann nach dem in Abb. 6.15 gezeigten Prinzip der Ersatzspannungsquelle ohne Einschrankung der Allgemeinheit auf das in Abb.
6.16 dargestellte Problem reduziert werden. Wenn der Messzweig aus dem Widerstand RL besteht und das restliche Netzwerk durch die Spannungsquelle
(mit Leerlaufspannung UQ und Innenwiderstand RQ ) ersetzt wird, lasst sich
der zu messende Strom IL mit einem idealen, d. h. widerstandslosen (RM = 0)
Strommesser exakt bestimmen
IL =

UQ
.
RQ + RL

(6.69)

Bei einem realen Messgerat iet infolge des endlichen Innenwiderstandes RM


des Messgerates nicht mehr der urspr
unglich zu messende Strom IL (wahrer

Abb. 6.15. Aquivalenz


von einem Tor eines linearen Netzwerkes und einer Ersatzspannungsquelle bzw. einer Ersatzstromquelle

6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung

145

Abb. 6.16. Strommessung in einem Zweig eines Gleichstromnetzwerkes

Wert), sondern der geringere Strom IL


IL =

UQ
.
RQ + RL + RM

(6.70)

Nur f
ur RM (RQ + RL ) wird naherungsweise der wahre Wert gemessen
(IL IL ), ansonsten f
uhrt der endliche Innenwiderstand des Messgerates
bei der Strommessung zu einem Belastungsfehler. Dies ist ein systematischer Messfehler, der sich wie folgt ermitteln lasst. F
ur den vereinfachten Fall
RL = 0 (Kurzschluss) berechnen sich der wahre Wert IL und der tatsachlich
gemessene Wert IL zu
IL =

UQ
RQ

(6.71)

IL =

UQ
.
RQ + RM

(6.72)

Der relative Messfehler fI betragt in diesem Fall also


fI =

IL IL
1
=
.
RQ
IL
1 + RM

(6.73)

Bei unbekanntem Innenwiderstand der Quelle RQ , muss dieser vor einer Fehlerermittlung bzw. -korrektur nach Gl. (6.73) ebenfalls gemessen werden. Dies
kann im (theoretisch vereinfachten) Fall durch Messung von Leerlaufspannung
UQ und Kurzschlussstrom IK der Ersatzspannungsquelle geschehen. Der Innenwiderstand RQ ergibt sich bei Messungen von UQ und IK mit idealen
Messwerken zu
UQ
RQ =
.
(6.74)
IK
F
ur den allgemeinen Fall RL = 0 ist RQ durch (RQ + RL ) zu ersetzen. Das
negative Vorzeichen in Gl. (6.73) bedeutet, dass infolge des systematischen
Fehlers bei der Strommessung stets ein zu niedriger Wert gemessen wird. Man
kann aus Gl. (6.73) bzw. der entsprechenden graphischen Darstellung (Abb.
6.17) als Regel ableiten, dass bei der Strommessung der Innenwiderstand

146

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Abb. 6.17. Betrag des relativen Fehlers fI bei der Strommessung als Funktion
ateinnenwiderstand, RQ : Innenwiderstand der Ersatzspanvon RQ /RM . RM : Messger
nungsquelle

des Messger
ates moglichst klein sein sollte. Bei bekannten Innenwiderstanden
RMU bzw. RMI von Spannungs- bzw. Strommesswerk kann RQ aus der mit


systematischen Fehlern behafteten Spannung UQ
(UQ
ist der Messwert, den
ein an die Klemmen der Ersatzspannungsquelle angeschlossenes Spannungs

messwerk mit Innenwiderstand RMU anzeigt) und dem Strom IK
(IK
ist der
Messwert, den ein an die Klemmen der Ersatzspannungsquelle angeschlossenes Strommesswerk mit Innenwiderstand RMI anzeigt) ermittelt werden. Die
entsprechende Fehlerkorrektur liefert den exakten Wert von RQ


U
RMU RMI I Q
K
RQ =
.
(6.75)

UQ
I  RMU
K

Messbereichserweiterung f
ur die Strommessung
Zur Messung von Stromen, welche den Messbereich des unbeschalteten Messwerkes u
bersteigen, sind entsprechende Manahmen zur Messbereichserweiterung
zu treen. Drehspulmesswerke beispielsweise haben, je nach Auslegung, Endbereichswerte von nur IMend = 10 A...100 mA bei einem Spannungsabfall von
UMend = 2 mV...200 mV. Praktische Messgerate hingegen weisen mehrere umschaltbare Messbereiche auf, so dass auch wesentlich hohere Strome mit einund demselben Instrument gemessen werden konnen. Um einen Strommesser
f
ur einen h
oheren Messbereich vorzubereiten, wird dem Messwerk ein Widerstand RP , ein sogenannter Shunt, parallel geschaltet (Abb. 6.18). Wegen der
Parallelschaltung der Widerstande RM und RP gilt
RM IM = RP IP = RP (I IM ) .

(6.76)

6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung

IM

147

RM

IP
I

RP

Abb. 6.18. Messbereichserweiterung f


ur die Strommessung

Damit kann die Dimensionierung von RP f


ur einen geforderten Messbereichsendwert Iend = vi IMend nach folgender Formel erfolgen
RP = RM

RM
IMend
.
=
Iend IMend
vi 1

(6.77)

In Gl. (6.77) bezeichnet IMend den Strom durch das Messwerk bei Vollausschlag und vi den Faktor, um den der Strommessbereich erweitert wird. Abbildung 6.19 zeigt die Schaltung eines Vielfachmessgerates f
ur Strom mit den
Messbereichsendwerten 1 mA, 10 mA und 0,1 A. Durch die gezeigte Schaltung
(Abb. 6.19) wird vermieden, dass der Kontaktwiderstand des Schalters das
Verh
altnis RM /RP beeinusst.

Abb. 6.19. Vielfachmessger


at zur Strommessung (IMend =0,1 mA; Iend = 1 mA bis
0,1 A)

6.2.2 Messung von Gleichspannungen


Messwerke, die der Strommessung dienen, konnen prinzipiell auch zur Spannungsmessung eingesetzt werden, indem der bei Anlegen einer Spannung U
an das Messwerk ieende Strom mit dem Innenwiderstand RM multipliziert
und als Spannung ausgegeben wird. Abbildung 6.20 zeigt die entsprechende Messschaltung. F
ur eine nicht vorhandene Last (RL ) kann folgende
Maschengleichung angegeben werden
IM RQ + IM RM UQ = 0 .
Daraus folgt

(6.78)

148

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Abb. 6.20. Spannungsmessung in einem Zweig eines Gleichstromnetzwerkes

IM RM = UM = UQ IM RQ .

(6.79)

Der relative Messfehler fU (Belastungsfehler) betragt somit


fU =

UM UQ
1
=
.
M
UQ
1+ R
RQ

(6.80)

F
ur den Fall eines endlichen Lastwiderstandes RL verringert sich der relative Messfehler fU , da anstatt RQ in Gl. (6.80) jetzt der geringere Wert der
Parallelschaltung von RQ und RL einzusetzen ist
fU =

1+

1
+

RM
RQ

RM
RL

1
1 + RM

RQ +RL
RQ RL

(6.81)

Abbildung 6.21 zeigt den Betrag des relativen Messfehlers bei der Spannungsmessung. Aus den Gln. (6.80) und (6.81) und der entsprechenden graphischen
Darstellung kann die Regel abgeleitet werden, dass bei der Spannungsmessung
der Innenwiderstand des Messgerates moglichst gro sein sollte.

Abb. 6.21. Betrag des relativen Fehlers fU bei der Spannungsmessung als Funktion
ateinnenwiderstand; RQ Innenwiderstand der Quelle, deren
von RM /RQ . RM Messger
Leerlaufspannung gemessen wird.

6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung

149

Messbereichserweiterung f
ur die Spannungsmessung
Durch Vorschalten eines Prazisionswiderstandes RS kann eine Erweiterung des
Spannungsmessbereiches erfolgen (Abb. 6.22). F
ur einen geforderten Messbereichsendwert von Uend = vu UMend folgt f
ur die Dimensionierung von RS
RS =

vu 1
RM .
vi

(6.82)

Abb. 6.22. Messbereichserweiterung f


ur die Spannungsmessung

F
ur den Fall, dass keine Strommessbereichserweiterung (vi = 1 bzw. RP )
vorgenommen wird, gilt
RS = (vu 1)RM =

Uend
RM .
IMend

(6.83)

Durch Vorschalten von Widerstanden kann das in (Abb. 6.19) gezeigte Strommessger
at zu einem Universal-Vielfachmessgerat aufger
ustet werden (Abb.
6.23). Es ist anzumerken, dass der Innenwiderstand von Spannungsmessger
aten meistens auf den Messbereichsendwert bezogen wird. Die Angabe
100 k/V beispielsweise bedeutet, dass im Messbereich mit dem Endwert 10 V
der Innenwiderstand des Gerates 1 M betragt.

Abb. 6.23. Universal-Vielfachmessger


at f
ur Spannung und Strom

150

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

6.2.3 Gleichzeitiges Messen von Strom und Spannung


Bei der gleichzeitigen Messung von Strom und Spannung ergeben sich zusatzliche Fehler. Es gibt zwei Moglichkeiten der Schaltungsanordnung. Bei der
Variante nach Abb. 6.24a wird die Generatorspannung UM sowie der Laststrom IL pseudokorrekt angezeigt, bei der Variante nach Abb. 6.24b hingegen
wird die Lastspannung UL sowie der Generatorstrom IQ pseudorichtig gemessen. Der Begri pseudokorrekt bzw. pseudorichtig soll aussagen, dass

die entsprechenden Messwerke zwar die aktuelle Messgroe richtig messen,


dass jedoch durch das Vorhandensein eines realen (nicht-idealen) Messwerkes
die urspr
ungliche Messgroe infolge des oben besprochenen Belastungsfehlers
verf
alscht wird.

Abb. 6.24. Gleichzeitige Messung von Strom und Spannung: a) Messung pseudokorrekt f
ur Generatorspannung UM und Laststrom IL , b) Messung pseudokorrekt
f
ur Lastspannung UL und Generatorstrom IQ

Bei den nicht pseudokorrekt gemessenen Groen hingegen wird noch nicht

einmal die aktuelle Groe richtig angezeigt. So wird beispielsweise bei der
Schaltungsvariante nach Abb. 6.24a die aktuelle Lastspannung UL vom Spannungsmesser nicht erfasst. F
ur die Schaltungsvariante nach Abb. 6.24a ergibt
sich folgender relativer Messfehler fIL bei der Bestimmung des Laststromes
IL
RQ RL + RMI (RMU + RQ )
.
(6.84)
fIL =
RMU RQ + (RMI + RL )(RMU + RQ )
F
ur die Schaltungsvariante nach Abb. 6.24b hingegen errechnet sich der relative Fehler bei der Strommessung zu
fIL =

RQ RL + RMI (RMU + RL )
.
RMU RL + (RMI + RQ )(RMU + RL )

(6.85)

Bei den relativen Messfehlern nach den Gln. (6.84) und (6.85) ist als wahrer
Wert stets derjenige Laststrom angenommen, welcher bei nicht vorhandenen
bzw. idealen Messgeraten ieen w
urde.

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

151

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung


6.3.1 Begrisdenitionen
Es sei vorausgeschickt, dass die folgenden Denitionen gleichermaen f
ur eine
elektrische Spannung u(t) und f
ur einen elektrischen Strom i(t) gelten. Eine
Wechselspannung u(t) mit sinusformigem Zeitverlauf wird durch Gl. (6.86)
( den Scheitelwert der Wechselspannung, = 2f ihre
beschrieben, wobei U
Kreisfrequenz (Einheit (s1 )), f die Frequenz der Wechselspannung (Einheit
(Hz)) und den Phasenwinkel (Einheit (rad)) bezeichnen
( sin(t + ) .
u(t) = U

(6.86)

In der Messtechnik sind folgende Groen von Bedeutung:

Arithmetischer Mittelwert
1
u=
T

Gleichrichtwert
1
|u| =
T

u(t) dt

(6.87)

|u(t)| dt

(6.88)

Eektivwert (quadratischer Mittelwert)




1 T 2
Ue =
u (t) dt .
T 0

(6.89)

Eine Gleichspannung mit U = Ue setzt in einem Verbraucher (ohmscher


Widerstand) die gleiche Leistung um wie die Wechselspannung mit dem Effektivwert Ue . In den Gln. (6.87 - 6.89) versteht man unter T = 1/f die
Periodendauer der Wechselspannung (Einheit (s)). Es sei ausdr
ucklich darauf
hingewiesen, dass obige Denitionsgleichungen auch auf nicht-sinusformige
Zeitverl
aufe angewendet werden d
urfen, solange das Signal periodisch ist. Sie
gelten beispielsweise auch f
ur Wechselspannungen mit u
berlagertem Gleichanteil. Wie man den Eektivwert von Signalen ermittelt, die nicht periodisch
sind, wird in Kap. 13.4.1 behandelt. Weiterhin sind deniert:

Scheitelfaktor
Scheitelfaktor (crest factor) = C =

(
Scheitelwert
U
=
Eektivwert
Ue

(6.90)

Formfaktor
Formfaktor = F =

Ue
Eektivwert
=
.
Gleichrichtwert
|u|

(6.91)

152

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

F
ur rein sinusformige
Groen betragt der Scheitelfaktor C = 2 und der
Formfaktor F = /(2 2) = 1, 11. Setzt sich eine Spannung uges (t) aus ei
ner Uberlagerung
von n Teilspannungen ui (t) (Gleichspannungen oder Wechselspannungen mit sinusformigem Zeitverlauf und Frequenzen, die in einem
ganzzahligen Verhaltnis stehen) zusammen
uges (t) =

n


ui (t) ,

(6.92)

i=1

so ergibt sich deren Eektivwert Ueges aus der quadratischen Uberlagerung


der Eektivwerte der Teilspannungen

n

2 .
Ueges = !
Uie
(6.93)
i=1

Dies gilt insbesondere f


ur eine aus einem Gleich- (u ) und einem (reinen)
Wechselanteil (u ) zusammengesetzte Mischgroe der Form
u(t) = u + u (t) .

(6.94)

Der Eektivwert des Wechselanteils Ue ergibt sich gema Denitionsgleichung (6.89) zu




1 T 2
Ue =
u (t) dt .
(6.95)
T 0
Der Eektivwert der Mischspannung Ugese lasst sich schlielich anhand von
Gl. (6.93) berechnen

2
Ueges = u 2 + Ue
.
(6.96)
In diesem Zusammenhang sollen auch die folgenden Groen deniert werden:

Schwingungsgehalt s
s=

Ue
Ueges

(6.97)

Welligkeit w

Ue
.
(6.98)
u
Es sei nochmals darauf hingewiesen, dass alle obigen Denitionen in analoger
Weise f
ur einen Wechselstrom i(t) gelten.
w=

6.3.2 Gleichrichtung
Zur Messung von Wechselgroen mit Hilfe der in der elektrischen Messtechnik
vorzugsweise eingesetzten Messwerke ben
otigt man Schaltungen zur Gleichrichtung des Messstromes bzw. der Messspannung. In diesen Schaltungen verwendet man heute im Allgemeinen Halbleiterdioden, die der Einweg- bzw. der
Zweiweg-Gleichrichtung der elektrischen Wechselgroen dienen.

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

153

Einweg-Gleichrichtung
Wenn bei der Messung einer Wechselspannung eine Halbwelle unterdr
uckt
werden soll, so ist die Gleichrichtung mit einer einfachen Diode zu bewerkstelligen. Die Anordnung nach Abb. 6.25 misst den halben Gleichrichtwert
der angelegten Spannung bzw. des Stromes. Genaugenommen ist noch das
nicht-ideale Diodenverhalten in Form des Diodeninnenwiderstandes sowie der
Schwellenspannung von 0,7 V (bei Siliziumdioden) zu ber
ucksichtigen, die im

Abb. 6.25. Messung des halben Gleichrichtwertes einer Wechselspannung mit Hilfe
eines Drehspulmessger
ates

Durchlassbetrieb stets an der Diode abfallt. Aus dem nicht-idealen Diodenverhalten (s. dazu die Kennlinien (ideal, idealisiert und real) einer Siliziumdiode
in Abb. 6.26) resultiert das in Abb. 6.27 gezeigte Ersatzschaltbild einer Halbleiterdiode, das aus einer Serienschaltung von idealer Diode, Diodeninnenwiderstand und einer Spannungsquelle, welche die Schwellenspannung1 reprasentiert, besteht. Die Schwellenspannung von typischen Siliziumdioden betragt
ca. 0,7 V. Die Schwellenspannung von Germanium- und auch Schottky-Dioden
[183] liegen bei 0,3 V. Die parasitare Parallelkapazitat (= Sperrschichtkapazitat) Cg wirkt sich bei hoheren Frequenzen (typischerweise oberhalb 10 kHz)
aus, indem sie die Diode f
ur hochfrequente Strome u
uckt und damit zum
berbr
Teil ihre Gleichrichterwirkung aufhebt.
iD

iD

ideale
Diode

reale
Kennlinie
uD

idealisierte
Kennlinie
0,7 V

uD

Abb. 6.26. Kennlinie einer Siliziumdiode (ideal, idealisiert und real)

Die Schwellenspannung wird auch als Durchlassspannung, Schleusenspannung


oder Kniespannung bezeichnet.

154

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

0,7 V
iD

Cg

uD

Abb. 6.27. Ersatzschaltbild einer Siliziumdiode

Zweiweg-Gleichrichtung (Vollweg-Gleichrichtung)
Die Graetz-Schaltung (Abb. 6.28) ermoglicht die vollstandige Gleichrichtung
beider Halbwellen, womit der vollstandige Gleichrichtwert mit Hilfe eines
Drehspulmessgerates gemessen wird. Bei dieser Schaltung sind stets zwei der
vier Dioden in Durchlassrichtung geschaltet, so dass die am Messgerat anliegende Spannung uM im Vergleich zur Eingangsspannung u um den doppelten
Wert der Diodenschwellenspannung reduziert wird (Abb. 6.28b). Bei Anliegen
der positiven Halbwelle sind die Dioden D1 und D4 leitend, wahrend hingegen
bei der negativen Halbwelle die Dioden D2 und D3 leiten.

Abb. 6.28. a) Graetz-Schaltung zur Erfassung beider Halbwellen bei der Gleichrichtung, b) Spannungsverlauf

6.3.3 Messung des Scheitelwertes (Spitzenwert, Peak Value)


Der Scheitelwert US (Spitzenwert, Peak Value) ist der innerhalb eines denierten Zeitraumes betragsmaig grote Wert des Signals. Bei unsymmetrischem
Kurvenverlauf gilt
= max{U
+ , U
} ,
US = U
(6.99)
die im positiven bzw. negativen Amplitudenbereich liegen+ und U
wobei U
+ 0 und U
0). Zur Messung des positiven
den Spitzenwerte sind (U

Spannungs-Scheitelwertes (U+ ) dient die Schaltung nach Abb. 6.29. Es wird


hierbei der Ladekondensator auf den Spitzenwert der angelegten Spannung

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

155

Abb. 6.29. Schaltung zur Messung des Spannungs-Spitzenwertes (bei symmetrischem Spannungsverlauf)

aufgeladen und vom Messgerat gemessen. Zur Messung des negativen Spit muss lediglich die Diode in der Messschaltung (Abb. 6.29) umzenwertes U
gepolt werden. Die durch das Messgerat verursachten Ladungsverluste werden
durch kurzzeitige Ladestrome, die je Periode einmal auftreten, ausgeglichen
(Abb. 6.30). Zur exakten Messung des Spitzenwertes werden daher vorwiegend Ger
ate mit elektronischem Eingangsverstarker eingesetzt, welche sehr
hohe Eingangsimpedanzen aufweisen.

Abb. 6.30. Spannungsverlauf bei der Spitzenwertgleichrichtung nach Abb. 6.29

Zur Messung des Spitzenwertes von Spannungen mit unsymmetrischem Kurvenverlauf eignet sich die sog. Villard-Schaltung (Abb. 6.31), die auch als
ein-stuge Kaskadenschaltung bezeichnet wird. Die beiden Dioden laden den
Kondensator C2 auf die Summe der Betr
age von positivem und negativem
Spitzenwert auf. Es handelt sich also um die Messung des Spitze-Spitze-Wertes
(Peak to Peak Value) USS
+ + U
.
USS = U

(6.100)

Die Schaltung funktioniert so, dass wahrend der negativen Halbwelle nur
die Diode D1 leitet und den Kondensator C1 auf den negativen Spitzenwert
au
adt

156

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Abb. 6.31. Villard-Schaltung zur Messung des Spitze-Spitze-Wertes USS (Peak to


Peak Value) bei Spannungen mit unsymmetrischem Kurvenverlauf

.
uC1 = U

(6.101)

W
ahrend der positiven Halbwelle leitet D2 und ladt die Kapazitat C2 am
Ausgang auf die Spannung
+ = U
+ U
+
uA = uC1 + U

(6.102)

auf. In praktischen Schaltungen sind allerdings noch die Diodenschwellenspannungen und die Entladung durch den Innenwiderstand des angeschlossenen
Spannungsmesswerkes zu ber
ucksichtigen. Die Villard-Schaltung kann also
bei gew
ohnlicher symmetrischer Eingangsspannung zur Spannungsverdopplung eingesetzt werden. Sie lasst sich aber auch in Form einer mehrstugen
Kaskadenschaltung aufbauen, so dass in jeder Stufe die Spannung verdoppelt
wird. Allerdings treten dabei relativ hohe Innenwiderstande auf.
Die in Abb. 6.32 gezeigte Delon-Schaltung eignet sich ebenfalls zur Messung des Spitze-Spitze-Wertes USS . Wahrend der positiven Halbwelle wird C1
+ aufgeladen, wahrend in der negativen Halbwelle die Spanu
ber D1 auf U
ansteigt, so dass sich als Ausgangsspannung
nung am Kondensator C2 auf U
uA wiederum der nach Gl. (6.100) denierte Spitze-Spitze-Wert USS ergibt.
Die Delon-Schaltung wird auch als Greinacher-Schaltung oder als doppelte
Einweg-Gleichrichterschaltung bezeichnet.

Abb. 6.32. Delon-Schaltung zur Messung des Spitze-Spitze-Wertes USS

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

157

6.3.4 Messung des Gleichrichtwertes


Prinzipiell l
asst sich die Bestimmung des Gleichrichtwertes von Wechselgroen
mit Hilfe eines Doppelweggleichrichters durchf
uhren. Nachteilig wirkt sich allerdings die Nichtlinearitat der Dioden aus. Es besteht auerdem das Problem, dass die Diodenschwellenspannung zweifach vorhanden ist. Aus diesen
Gr
unden ist die Schaltungsvariante nach Abb. 6.34a g
unstiger, bei der in Reihe
mit dem Messgerat jeweils eine Diode und ein Vorwiderstand RV liegen. Der
Vorwiderstand dient der in Abb. 6.33 erlauterten Linearisierung der Kennlinie.
Da jedoch ein Teil des Stromes am Messwerk vorbeiiet, werden f
ur Wechselgr
oen sowohl die Empndlichkeit des Messgerates als auch sein Innenwiderstand geringer. Dies belegt das Beispiel eines Standard-Messgerates, dessen
Innenwiderstand mit RM = 33 k/V f
ur Gleichstrom und RM = 10 k/V f
ur
Wechselstrom angegeben wird.

Abb. 6.33. Linearisierung einer Diodenkennlinie durch eine Serienschaltung mit


einem hochohmigen Widerstand

Bei Verwendung eines Messwandlers (Transformator mit Mittelanzapfung)


(Abb. 6.34b) kann der Nachteil der Schaltungsvariante mit Vorwiderstanden
(Abb. 6.34a) vermieden werden. Die bessere Linearitat erreicht man bei dieser Schaltung durch Hochtransformieren der Spannung (
u < 1), wodurch die
Kennlinienkr
ummung der Diode einen geringeren Einuss hat. Dies geht allerdings wiederum auf Kosten des Innenwiderstandes, denn der Transformator

setzt diesen um den Faktor u2 herab (Zprimar = Zsekundar u


2 ; u: Ubersetzungsverh
altnis des Transformators; u
< 1, s. Abb. 6.34b). Auerdem lassen sich

158

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

iM

:1

RM

u
Z primr

iM

RM

Z sekundr

b)

a)

Abb. 6.34. Schaltungen zur Messung des Gleichrichtwertes von Spannungen: a)


Br
uckenschaltung mit Dioden und Widerst
anden, b) Transformatorbr
ucke

Messwandler nur zur Messung reiner Wechselspannungen (ohne Gleichanteil)


einsetzen.
6.3.5 Messung des Eektivwertes
Bei Verwendung eines Drehspulmesswerkes in Verbindung mit den oben gezeigten Vollweg-Gleichrichterschaltungen misst man den Gleichrichtwert |u|
einer Spannung (bzw. eines Stromes |i|). F
ur einen bekannten Zeitverlauf kann
dieser Gleichrichtwert in einen Eektivwert umgerechnet werden. Bei entsprechender Kalibrierung zeigt das Gerat dann den im Allgemeinen interessierenden Eektivwert an. Meistens erfolgt diese Kalibrierung f
ur rein sinusformige
Zeitverl
aufe (Formfaktor F = 1,11). F
ur nicht sinusformige Messgroen wird
somit ein falscher Messwert angezeigt.
Das Dreheiseninstrument hingegen lasst sich unmittelbar zur Eektivwertmessung einsetzen. Es handelt sich hierbei um einen echten Eektivwertmesser, da das Messwerk die Operationen Quadrieren und Mitteln bis zu Frequenzen in der Groenordnung von 1 kHz ohne weitere Beschaltung durchf
uhrt. Bei
Dreheiseninstrumenten ist allerdings zu beachten, dass ihr Innenwiderstand
nicht rein ohmsch ist, sondern auch merkliche induktive Anteile enthalt. Dies
kann aber durch Zuschalten von Kapazitaten f
ur einen bestimmten Frequenzbereich wieder kompensiert werden.
Auch das elektrodynamische Messwerk kann zur Eektivwertmessung eingesetzt werden. Zur Messung des Stromeektivwertes werden beide Spulen des
Messwerkes in der Regel parallel- oder auch in Reihe geschaltet. Aufgrund der
mechanischen Tragheit bildet das Messwerk den Mittelwert des Stromquadrates, d. h. der Ausschlagwinkel seines Zeigers ergibt sich wie folgt
= ki2 .

(6.103)

Somit entsteht eine Anzeige, die dem quadratischen Mittelwert des Stromes
und damit dem Quadrat des Eektivwertes proportional ist. Dabei ist allerdings darauf zu achten, dass die Innenwiderstande beider Pfade (feststehende
Spule und Drehspule) klein gegen
uber dem Widerstand des Messkreises sein

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

159

sollten, um die systematischen Belastungsfehler so gering wie moglich zu halten.


Verhalten von Standard-Zeigermesswerken bei Wechselstrom
In Tabelle 6.2 wird das Verhalten der Standard-Zeigermessgerate im Wechselstromfall zusammengefasst.
Tabelle 6.2. Das Verhalten von Standard-Zeigermessger
aten bei der Messung von
Wechselgr
oen
Typ

Anzeige

Verwendung

Drehspulmesswerk

i(t) = i

Universelles Messwerk
(hohe Empndlichkeit)

Drehspulmesswerk
mit Gleichrichter

|i(t)| |i| Formfaktor i. Allg. werden die Ger


ate
mit einem Formfaktor
F = 1, 11 f
ur rein sinusf
ormige
Wechselgr
oen kalibriert

elektrodynamisches
Messwerk

i1 (t)i2 (t)

Leistungsmessung
(Eektivwertmesser)

Dreheisenmesswerk

2
i(t)2 = Ie

robustes
Betriebsmessger
at
(Eektivwertmesser)



Drehspulquotienten- = arctan const.
messwerk = Kreuzspulinstrument

i2 (t)
i1 (t)

Drehmagnetmesswerk = arctan(const. i(t))

Widerstandsmessung

robustes Betriebsmessger
at

6.3.6 Messwandler
Messwandler haben die primare Aufgabe, hohe Strome bzw. Spannungen
auf einfach messbare Werte zu transformieren. Weiterhin werden sie aus
Sicherheitsgr
unden eingesetzt, wenn das Messgerat galvanisch von den spannungsf
uhrenden Leitern getrennt werden soll, wie z. B. bei Messungen an

Hochspannungsanlagen. Sie sind aber auch in der Lage, infolge ihrer Ubertragungseigenschaften bez
uglich hoher (Kurzschluss-) Strome Schutzfunktionen
auszu
uben.

Messwandler sind von ihrem Aufbau her Ubertrager


bzw. Transformatoren,
die aus einer auf einen gemeinsamen Eisenkern gewickelten Primarspule mit
Windungszahl N1 und einer Sekundarspule mit Windungszahl N2 bestehen

160

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Abb. 6.35. Transformator

(Abb. 6.35). Das entsprechende, aus diskreten Schaltelementen bestehende allgemeine Ersatzschaltbild eines Transformators wird in Abb. 6.36 gezeigt. In
diesem Ersatzschaltbild stellen die Widerstande R1 bzw. R2 die ohmschen Widerst
ande von Primar- bzw. Sekundarwicklung dar, wahrend R1E die Verluste
im Eisenkern beschreibt. Die Induktivitaten X1 bzw. X2 reprasentieren die
Streuverluste auf der Primar- bzw. Sekundarseite. X1h ist die Primarinduktivit
at, die den Magnetisierungsstrom tragt. F
ur einen idealen Transformator
gilt
R1 = R2 = 0
X1 = X2 = 0

(6.104)
(6.105)

X1h
R1E .

(6.106)
(6.107)

Das Ersatzschaltbild beschrankt sich damit auf den idealen Ubertrager


mit

dem Ubersetzungsverh
altnis u
. Die sekundarseitig angeschlossene Lastimpedanz (RL , XL ) wird B
urde genannt. In Abb. 6.37 wird ein zu dem Ersatzschaltbild von Abb. 6.36 aquivalentes Netzwerk gezeigt. Es wurden hier jedoch alle
sekund
arseitig auftretenden Groen (Strome und Spannungen) und Elemente

auf die Primarseite umgerechnet; auerdem wurde die infolge des Ubertragers
stets vorhandene Potentialtrennung zwischen Primar- und Sekundarseite nicht
ber
ucksichtigt. Prinzipiell ware auch ein weiteres Ersatzschaltbild denkbar, bei
dem alle primarseitigen Groen und Netzwerkelemente auf die Sekundarseite
transformiert werden.

Abb. 6.36. Ersatzschaltbild eines Transformators. Der im Ersatzschaltbild enthal

tene Ubertrager
(Ubersetzungsverh
altnis u
: 1) weist ideale Eigenschaften auf.

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

161

Abb. 6.37. Transformator-Ersatzschaltbild, bei dem alle sekund


arseitig auftretenden Gr
oen und Elemente auf die Prim
arseite umgerechnet wurden.

Stromwandler
Beim Stromwandler wird der zu messende (Wechsel-) Strom durch die Primarwicklung des Transformators geschickt, wahrend die Sekundarwicklung im
Idealfall von einem Strommesswerk kurzgeschlossen wird (Abb. 6.38). F
ur

einen idealen Stromwandler (Ubertrager)


ergibt sich das Verhaltnis von Primar
zu Sekund
arstrom aus dem Ubersetzungsverh
altnis u
, dessen Kehrwert im
Zusammenhang mit Messwandlern meistens mit ki bezeichnet wird
I1e
N2
1
=
= = ki .
I2e
N1
u

(6.108)

Der Stromwandler ist also ein sekundarseitig kurzgeschlossener bzw. niederohmig abgeschlossener Transformator, der nur aus wenigen Primarwindungen
besteht. Der Transformator ist i. Allg. so ausgelegt, dass bei primarem Nennstrom I1 = INenn der Sekundarstrom I2 = 5 A bzw. I2 = 1 A betragt. Bei
hohen Prim
arstromen I1 > 500 A gen
ugt primarseitig meist eine Windung.
Der Kern eines Stromwandlers ist lediglich f
ur den relativ geringen Differenzuss bemessen, da der vom Primarstrom erzeugte magnetische Fluss
im Falle des niederohmigen sekundarseitigen Abschlusses bzw. Kurzschlusses von dem vom Sekundarstrom herr
uhrenden Gegenuss kompensiert wird.
Eine Auftrennung des Sekundarkreises hatte zur Folge, dass der gesamte
Prim
aruss plotzlich vom Kern aufgenommen werden m
usste, was leicht zu

thermischer Uberlastung
f
uhren kann. Gleichzeitig w
urde eine sich aus dem

Ubersetzungsverh
altnis ergebende hohe Spannung an den Sekundarklemmen
anliegen.

Abb. 6.38. Stromwandlerschaltung mit standardm


aiger Bezeichnung der Anschlussklemmen. K, L: Prim
aranschlussklemmen; k, l: Sekund
aranschlussklemmen.

162

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Um Spannungs
uberschlage und Uberhitzung
zu vermeiden, d
urfen Stromwandler daher sekundarseitig nicht im Leerlauf betrieben werden. Oft werden

aus diesem Grund Uberspannungsableiter


an Stromwandlern angebracht. Abbildung 6.39 zeigt einen handels
ublichen Durchsteck-Stromwandler. Bei dieser
Ausf
uhrungsform wird der den Messstrom tragende Leiter durch den Messumformer gesteckt. Dabei wird der Leiter von einem Sondenkern, auf den eine
Sondenspule gewickelt ist, umschlossen. Dieses Funktionsprinzip ist prinzipiell
identisch mit dem einer Strommesszange f
ur Wechselstrom (s. Kap. 6.3.7).

Abb. 6.39. Durchsteck-Stromwandler f


ur Schienenmontage mit ki = 8 (s. Gl.
(6.108)) und prim
arseitigen Nennstrom von I1e =40 A.

Fehler des Stromwandlers


Der Fehler des Stromwandlers ist bei gegebenem Primarstrom I1 die Abweichung des mit der Nenn
ubersetzung kNi multiplizierten Sekundarstromes I2
vom Prim
arstrom. Der relative Fehler betragt
fi =

I2ist I2soll
I2e kNi I1e
100% =
100% .
I2soll
I1e

(6.109)

Neben diesem in Gl. (6.109) angegebenen Betragsfehler gibt es noch einen


Winkelfehler. Der entsprechende Fehlwinkel i ist die Voreilung des Sekundarstromes gegen
uber dem Primarstrom. Beide Fehler (Betragsfehler und Winkelfehler) lassen sich dem Zeigerdiagramm entnehmen, welches in Abb. 6.40

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

163

I1R1
j . I1X1

U1

U1h
.I2R2
.U2

. j.I2 X2
I2

I1h

I1

I1E

Abb. 6.40. Zeigerdiagramm eines Stromwandlers. I entspricht dem Magnetisierungsstrom (= Prim


arstrom bei sekund
arseitigem Leerlauf).

gezeigt ist. Man kann diesem Diagramm auch entnehmen, dass der Fehler des
Stromwandlers mit dem magnetischen Fluss bzw. dem Magnetisierungsstrom
I zunimmt.

Der Magnetisierungsstrom I ergibt sich als vektorielle Uberlagerung


aus
dem eigentlichen Magnetisierungsstrom I 1h und dem entsprechenden Verluststrom I 1E (Abb. 6.36 und 6.37). Durch geeignete Dimensionierung und Materialauswahl wird daher versucht, den Magnetisierungsstrom klein zu halten.
Die f
ur Stromwandler standardisierten Fehlerklassen sind in Tab. 6.3 notiert.
Die jeweilige Fehlerklasse beziert den maximalen relativen Betragsfehler nach
Gl. (6.109) in Prozent, wahrend der zulassige Winkelfehler von der aktuellen
Belastung durch die B
urde abhangt. Mit Hilfe der Operationsverstarkerschaltung nach Abb. 6.41 kann der mit dem Magnetisierungsstrom gekoppelte Fluss
ann
ahernd zu Null abgeglichen werden, so dass die Stromwandlerfehler sehr
klein werden, wenn es gelingt, die Streuverluste sowie die Windungsverluste
Tabelle 6.3. Fehlerklassen und Winkelfehler f
ur Messwandler bei 25 bis 100 %
Nennb
urde
Stromwandler Winkelfehler
Spannungswandler Winkelfehler
in Bogenminuten
in Bogenminuten
Fehlerklasse bei 1 . . . 1, 2Inenn Fehlerklasse 0, 1Inenn bei 0, 8 . . . 1, 2Unenn
0,1
0,2
0,5
1

5
10
30
60

0,1
0,2
0,5
1

5
10
20
40

164

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Abb. 6.41. Fehlerkompensierende Stromwandlerschaltung; P r: Prim


arwicklung;
Se: Sekund
arwicklung; F u
: F
uhlerwicklung; R: (rein) ohmscher Widerstand.

ebenfalls klein zu halten [174]. Der in der Schaltung verwendete ohmsche Widerstand sollte eine moglichst geringe parasitare Kapazitat bzw. Induktivitat
aufweisen, weil eventuelle Blindanteile einen entsprechenden Winkelfehler verursachen.
Spannungswandler
Beim Spannungswandler wird die zu messende Wechselspannung an die Prim
arwicklung des Transformators gelegt, w
ahrend an die Sekundarwicklung ein
Spannungsmesser mit sehr hohem Innenwiderstand angeschlossen wird (Abb.

6.42). F
ur einen idealen Spannungswandler (idealer Ubertrager)
ergibt sich

das Verh
altnis von Primar- zu Sekundarspannung wiederum aus dem Ubersetzungsverhaltnis u
, das bei Spannungswandlern meistens mit ku bezeichnet
wird
U1e
N1
=
=u
= ku .
(6.110)
U2e
N2
Spannungswandler sind also sekundarseitig im Leerlauf betriebene bzw. sehr
hochohmig abgeschlossene Transformatoren. Die Sekundarspannung betragt
bei prim
arseitig angelegter Nennspannung im Falle standardmaiger Auslegung U2 = 100 V.

Abb. 6.42. Spannungswandlerschaltung mit standardm


aiger Bezeichnung der Anschlussklemmen. U , V : Prim
aranschlussklemmen; u, v: Sekund
aranschlussklemmen.

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

165

Fehler des Spannungswandlers


Der Spannungsfehler eines Spannungswandlers ist bei gegebener Primarspannung U1 die Abweichung der mit der Nenn
ubersetzung kNu multiplizierten
Sekund
arspannung U2 von der Primarspannung. Der entsprechende relative
Fehler fu betragt
fu =

U2ist U2soll
U2e kNu U1e
100% =
100% .
U2soll
U1e

(6.111)

Abb. 6.43. Zeigerdiagramm eines Spannungswandlers

Sowohl dieser Betragsfehler als auch der ihm zugeordnete Winkelfehler (Winkel zwischen dem Spannungszeiger U 1 (Primarspannung) und dem Spannungszeiger U 2 (Sekundarspannung)) sind dem Zeigerdiagramm des Spannungswandlers (Abb. 6.43) zu entnehmen. Aus dem Zeigerdiagramm ist ersichtlich, dass der Fehler des Spannungswandlers sowohl vom Wandler selbst
als auch von der B
urde abhangt. Denn mit Verandern der B
urde andert sich
der Stromzeiger I 2 und somit das Teilzeigerdiagramm, bestehend aus den
Zeigern uU 2 , u
I 2 R2 , j
uI 2 X2 und U 1h , und damit letztlich auch der Fehler.
Die Genauigkeitsklassen beziern wiederum den zulassigen relativen Spannungsfehler fu nach Gl. (6.111) in Prozent. Der entsprechende Spannunsfehlwinkel u ist in Tab. 6.3 notiert.
F
ur Messspannungen oberhalb 200 kV verwendet man kapazitive Spannungsteiler, welche die Hochspannung auf etwa 10 % ihres urspr
unglichen Wertes herabsetzen (Abb. 6.44). Die nachgeschaltete Drossel wird so bemessen,

Spannungswandler
C1
Drossel

U1
C2

U2

Abb. 6.44. Grundschaltung des Spannungswandlers mit kapazitiver Teilung zur


Messung sehr hoher Spannungen. C1 , C2 : Hochspannungs-Kondensatoren.

166

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

dass bei Nennfrequenz im Messkreis Resonanz herrscht [166]. Die zu messende Spannung U 1 und die am Spannungsmessgerat anliegende Spannung U 2
haben in diesem Fall dieselbe Phasenlage.
6.3.7 Strommesszange f
ur Wechselstrom
Strommesszangen sind potentialfrei arbeitende Strommesser, die nach dem
Induktionsprinzip arbeiten. Es handelt sich dabei um Messsonden, die den
Messstrom f
uhrenden Leiter zangenformig umschlieen, ohne dass dabei irgendein elektrisch leitender Kontakt zwischen dem Leiter und der Messeinrichtung besteht (Abb. 6.45). Sie werden daher auch als Zangenamperemeter
bezeichnet. Man setzt sie heute sowohl im Bereich der Energie- als auch der
Nachrichtentechnik ein. Wahrend in der Energietechnik typischerweise hohe Str
ome (bis einige kA) niedriger Frequenz (bis 10 kHz) gemessen werden,
handelt es sich bei den nachrichtentechnischen Anwendungen eher um den
umgekehrten Fall niedriger Stromwerte (ab A) bei hoheren Frequenzen (bis
1 GHz). Die heutigen Zangenamperemeter sind im Allgemeinen in der Lage,

Abb. 6.45. Strommesszange

sowohl Wechselstrom als auch Gleichstrom zu messen. Das Funktionsprinzip


ist allerdings bei Gleichstrom ein ganzlich anderes. Wahrend Wechselstromzangen nach dem Induktionsprinzip arbeiten, basieren gleichstromgeeignete
Zangen auf einem Hallsensor, der das Magnetfeld in einem hochpermeablen
Kern misst, welcher den stromf
uhrenden Leiter wie im Wechselstromfall umschliet. Dieser gewichtige Unterschied f
uhrt zu der hier gewahlten Gliede-

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

167

rung. Wir werden im direkten Anschluss die Wechselstrommesszangen behandeln. Danach folgt zunachst eine allgemeine Einf
uhrung in den galvanomagnetischen Eekt sowie den Aufbau von Hallelementen, bevor abschlieend
die Gleichstrommesszangen besprochen werden.
Funktionsprinzip und Ersatzschaltbilder
Strommesszangen koppeln das den Wechselstrom f
uhrenden Leiter stets umgebende Magnetfeld rein induktiv in die Sondenspule der Strommesszange.
Abbildung 6.46 zeigt den prinzipiellen Aufbau einer Wechselstrommesszange
und Abb. 6.48 das entsprechende Ersatzschaltbild. Die an der Sondenspule abgreifbare elektrische Wechselspannung ist proportional zum Strom durch den
Messleiter. Diese Proportionalitat folgt unmittelbar aus dem Induktionsgesetz, das hier Anwendung ndet. Es handelt sich bei der Anordnung aus Mes
sleiter und Sondenspule namlich um einen Ubertrager
oder Transformator,
dessen Grundgleichungen (Gln. (6.112) und (6.113)) und Ersatzschaltbilder
(Abb. 6.47) hier gelten [4]
U 1 = jL1 I 1 jM I 2
U 2 = jM I 1 jL2 I 2 .

(6.112)
(6.113)
I mess

Kern

Sondenwicklung
I mess
ZL

a)
I mess

rm
b)

Kernquerschnittsflche A K

Abb. 6.46. Strommesszange: a) prinzipielle Anordnung [33]; b) Querschnittsgeometrie.

168

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

I1

L1 - M

L2 - M

2
I2

U1

U2

1'

2'

Abb. 6.47. Ersatzschaltbild eines Transformators. L1 und L2 sind die EigenInduktivit


aten von Prim
ar- bzw. Sekund
arwicklungen. M bezeichnet die Koppelinduktivit
at zwischen Prim
ar- und Sekund
arseite.

Die Prim
arseite des Transformators (Eigeninduktivitat L1 ) wird vom Messleiter und seine Sekundarseite (Eigeninduktivitat L2 ) von der Sondenspule
gebildet (s. Abb. 6.48). Die Koppelinduktivitat M sorgt f
ur die Kopplung
von Prim
ar- und Sekundarseite. Der Kern der Sondenspule, der gleichzeitig
den Messleiter umschliet, muss hochpermeabel sein, damit das Magnetfeld,
das der Messleiter generiert, sich vollstandig im Kern konzentriert. Dadurch
werden zu Messfehlern f
uhrende Streufelder vermieden.
Der Strom durch den Messleiter erzeugt in der Umgebung des Leiters ein
 bzw. H-Feldlinien

Magnetfeld, dessen Bden Leiter konzentrisch umschlieen.
 in radialer Entfernung r lasst sich aus dem
Die magnetische Feldstarke H
Maxwellschen Durchutungsgesetz berechnen

|H(r)|
=

I
.
2r

(6.114)

Aufgrund seiner hohen Permeabilitat konzentriert sich das Magnetfeld auf


den Kern der Sondenwicklung. In dieser wird nach dem Induktionsgesetz eine
Spannung induziert, die dem Messstrom proportional ist. Wenn die SondenI mess
L2 - M

L1 - M
ZE

UL

ZL

Messleiter

I mess
Abb. 6.48. Ersatzschaltbild einer Strommesszange, das aus konzentrierten Eleat des stromf
uhrenden Messleiters, M
menten besteht. L1 ist die Eigeninduktivit
at der Stromzangenwicklung. Z E
die Koppelinduktivit
at und L2 die Eigeninduktivit
die Lastimpedanz am Messort der Zange und Z L ist die Lastimpedanz des an die
Sondenwicklung angeschlossenen Spannungsmessger
ates.

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

169

spule (Kernquerschnittsache AK ) N Windungen aufweist, wird die Spannung



u0 (t) =

 ds = N = N
E
t
L


0 rK
AK


H

dA
t

(6.115)

 die induzierte elektrische Feldstarke, L die Gesamtlange


induziert, wobei E
der Spulenwindungen, den magnetischen Fluss, AK die Querschnittsache
und 0 rK die Permeabilitat des Sondenkerns bezeichnen.
Infolge der Annahme sinusformiger Zeitabhangigkeit lasst es sich die zeitliche Ableitung durch eine Multiplikation mit j im Komplexen ersetzen

=
( j .
t

(6.116)

Daraus folgt f
ur die komplexe Amplitude U 0 der induzierten (Leerlauf-) Spannung (s. auch Abb. 6.49)
Z i = jL 2
UL

U0= j mess

ZL

Abb. 6.49. (Sekund


arseitiges) Ersatzschaltbild einer Strommesszange. Z i = jL2
wird auch als Schleifenimpedanz der Strommesszange bezeichnet. Z L stellt die Lastimpedanz dar.


 A
 jN 0 rK H AK = jM I
jN 0 rK Hd
m
mess . (6.117)

U0 =
AK

Dabei approximiert man das Integral in Gl. (6.117) durch die mittlere Induktion B m bzw. die mittlere magnetische Feldstarke H m (s. auch Abb. 6.46b)
B m = 0 rK H m =

0 rK
I
.
2rm mess

(6.118)

Die Koppelinduktivitat M ergibt sich demnach wie folgt


M =N

0 rK AK
.
2rm

(6.119)

Die Messspannung U L lasst sich anhand von Abbildung 6.49 angeben. Sie
betr
agt
ZL
UL =
jM I mess .
(6.120)
Z L + jL2

170

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Um die Lastimpedanz Z E am Messort der Zange zu ermitteln, verwenden wir


die Ersatzschaltbilder aus Abbildung 6.48 bzw. 6.50. Die Impedanz ergibt sich
demnach zu
2M 2
Z E = jL1 +
.
(6.121)
Z L + jL2
Dabei ist L1 die primarseitige Eigeninduktivitat, d. h. die Eigeninduktivitat
des Messleiters, wenn sich die Zange am Messort bendet.
I mess 1

ZE

UL

ZL

I mess
2'

1'

Abb. 6.50. Transformatoren-Ersatzschaltbild einer Strommesszange. Z E bezeichnet


die Lastimpedanz der Strommesszange am Messort.

Ubertragungsfaktor
der Strommesszange (Transferimpedanz)

Der Ubertragungsfaktor
einer Strommesszange ist das Verhaltnis aus der an
der Sondenspule induzierten Spannung und dem Messstrom
Z Tr =

UL
.
I mess

(6.122)

Da dieser Ubertragungsfaktor
die Einheit einer Impedanz tragt, wird er auch
als Transferimpedanz Z Tr bezeichnet. Infolge der Spannungsteilung an Z L
und jL2 (s. Abb. 6.49) ergibt sich die Transferimpedanz zu (s. auch Gl.
(6.120))
UL
jM Z L
Z Tr =
=
.
(6.123)
I mess
Z L + jL2
In Abh
angigkeit der Lastimpedanz Z L (s. Abb. 6.49) unterscheidet man folgende F
alle:

1. hochohmige Last Z L :
Die Transferimpedanz hat (zeitlich gesehen) dierenzierenden Charakter
(Anstieg von 20 dB/Dek. im Bodediagramm, s. Kap. 3.13)
|Z L | L2 Z Tr = jM .

(6.124)

2. niederohmige Last Z L :
Die Transferimpedanz ist frequenzunabhangig (ebener Verlauf ohne Steigung im Bodediagramm)

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

|Z L | L2 Z Tr =

M
Z .
L2 L

171

(6.125)

Insgesamt ergibt sich der typische Hochpasscharakter (Abb. 6.51) mit einer
3 dB-Eckfrequenz fg von
1 |Z L |
,
(6.126)
fg =
2 L2
d. h., wenn |Z L | kleiner wird, verringert sich auch fg .
Dies bedeutet, dass bei hoherer Belastung (d. h. Z L wird kleiner) die Eckfrequenz sinkt. Der von Stromzangen prinzipiell nutzbare Frequenzbereich
geht von der Rauschgrenze, die stets im dierenzierenden Bereich liegt, bis
zu dem Resonanzbereich, der an den konstanten Frequenzgang oberhalb der
Eckfrequenz anschliet. Diese Resonanzen lassen sich nicht mehr anhand des
Ersatzschaltbildes (Abb. 6.48) beschreiben. Zur Erklarung dieses Phanomens
sei auf weiterf
uhrende Literatur verwiesen [119]. Abbildung 6.51 zeigt die
Transferimpedanz einer typischen Strommesszange. Im Allgemeinen wird man
bestrebt sein, den frequenzunabhangigen mittleren Teil oberhalb der Grenzfrequenz fg f
ur die Strommessung zu nutzen.
Z Tr
1000

100
10
1
0,1
1

10

100

MHz

1000
Frequenz

Abb. 6.51. Transferimpedanz einer Strommesszange [50]

Einf
ugeimpedanz einer Strommesszange
Die Strommesszange hat infolge der induktiven Kopplung zwischen ihrer Sondenspule und dem Messleiter eine R
uckwirkung auf die Strombelegung des
Leiters. Die Starke dieser R
uckwirkung lasst sich an der Groe der sog.
Einf
ugeimpedanz ablesen. Die Einf
ugeimpedanz Z ins der Strommesszange
entspricht der Impedanz Z E der Zange am Messort minus der Eigenimpedanz
des Messleiters Z 10 = jL10

172

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Z ins = Z E Z 10 = jL1 +

2M 2
jL10
Z L + jL2

(6.127)

mit (s. Gl. (6.119))


M =N

0 rK AK
.
2rm

(6.128)

Abbildung 6.52 zeigt die Einf


ugeimpedanz einer typischen Strommesszange.
Z ins
10

1
0,1
0,01
0,001

100

1k

10 k 100 k 1 M 10 M

Hz

1G
Frequenz

Abb. 6.52. Einf


ugeimpedanz einer Strommesszange [100]

6.3.8 Hallelement (Galvanomagnetischer Eekt)


Der Halleekt (galvanomagnetischer Eekt) wurde vom amerikanischen Physiker Edwin Herbert Hall im Jahre 1879 entdeckt und ist eine Folge der Lorentzkraft. Bewegt sich namlich ein geladenes Teilchen mit der Ladung q und

der Geschwindigkeit v in einem Magnetfeld der magnetischen Flussdichte B,
so wirkt auf dieses die mechanische Kraft (Lorentzkraft)

FL = Fmag = q(v B).

(6.129)

Diese Kraft bewirkt eine Ablenkung der Ladungstrager und f


uhrt in einem
Hallelement (Abb. 6.53) zu einer Ansammlung von Ladungstragern bzw. einer
 H normal
Auadung der Hilfselektroden, was wiederum ein elektrisches Feld E
zum Geschwindigkeitsvektor v zur Folge hat. Dieses elektrische Feld u
bt nun
seinerseits wiederum die Kraft
H
Fel = q E

(6.130)

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

ueres Magnetfeld

173

b
d

B
J

Sensorelektrode

EH

ez

UH

ey
ex

I
Abb. 6.53. Hallelement (Hallsensor)

auf die Ladungstrager aus. Der Gleichgewichtszustand stellt sich f


ur
Fmag + Fel = 0

(6.131)

ein.
Mit dem in Abb. 6.53 eingef
uhrten Koordinatensystem und der Festlegung
von Elektronen als Ladungstrager (q = e0 ; mit der Elementarladung e0 ) gilt
Fmag = e0 vB(ey ez ) = e0 vBex
H .
Fel = e0 E

(6.132)
(6.133)

Mit Hilfe der Gleichgewichtsbedingung (Gl. (6.131))


 H + e0 vBex
0 = e0 E

(6.134)

H
berechnet sich das im Hallelement einstellende maximale elektrische Feld E
zu
 H = vBex .
(6.135)
E
Nun kennt man noch den Zusammenhang zwischen der Geschwindigkeit v der
Ladungstr
ager und der elektrischen Stromdichte J
J = e0 nv = e0 nvey ,

(6.136)

wobei n die Ladungstragerdichte bezeichnet, d. h. die Anzahl der freien Ladungstr


ager pro Volumeneinheit. Dr
uckt man den Betrag der elektrischen
 durch den Strom I aus
Stromdichte |J|
 =
|J|

I
,
bd

(6.137)

so erh
alt man unter Ber
ucksichtigung von Gl. (6.135) den folgenden Ausdruck
H
f
ur die elektrische Feldstarke E
 H = 1 I Bex .
E
ne0 bd

(6.138)

174

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

Die an den (Sensor-)Elektroden messbare Hallspannung betragt somit


2
UH =

 H ds = 1 1 IB = RH 1 IB .
E
ne0 d
d

(6.139)

Dabei bezeichnet man den materialabhangigen Wert 1/(ne0 ) als Hallkonstante


RH = +

1
.
ne0

(6.140)

Man erkennt, dass f


ur eine groe Hallkonstante und somit eine hohe Empndlichkeit die Anzahl der Ladungstrager gering sein muss. Damit kommen f
ur
diesen Eekt nicht Metalle, sondern in erster Linie Halbleiter in Frage, wie
die folgende Gegen
uberstellung zeigt:
Kupfer : n = 8, 7 1022 1/cm3
Silizium : n = 1, 5 1010 1/cm3 .
Ein Hallsensor liefert gema Gl. (6.139) eine Ausgangsspannung UH , die direkt proportional der magnetischen Induktion B ist, welche ihn in senkrechter
Richtung durchsetzt. Allerdings hangt diese Hallspannung auch von der Umgebungstemperatur ab. Dies ist darauf zur
uckzuf
uhren, dass wiederum die
Ladungstr
agerbeweglichkeit und damit die Hallkonstante RH z. T. stark von
der Temperatur abhangig ist. In Tab. 6.4 ndet man die Kennwerte von typischen Hallelementen.
Tabelle 6.4. Kennwerte von typischen Hallelementen

Type

KSY10 SV200 Erkl


arung

Material
KH in V/AT
IN in mA
UH in mV bei B=0,5 T
R1 in k
R2 in k
in %/K

GaAs
170-230
5
25
1
1
-0,05

InAs
> 10
20
> 100
60
60
-0,1

Leerlaufempndlichkeit (=UH /(BI))


Nennstrom
Hallspannung
Bahnwiderstand im Strompfad
Bahnwiderstand im Spannungspfad
Temperaturkoezient

Abbildung 6.54 zeigt schematisch die Feldverteilung in einem Hallelement.


Bei nicht vorhandenem Magnetfeld (Bz = 0) handelt es sich um den Standardfall, dass die Strombahnen auf k
urzestem Wege von der Elektrode 1 zur

Elektrode 2 verlaufen. Die Aquipotentiallinien


verlaufen in vertikaler Richtung (y-Richtung). Bei eingeschaltetem Magnetfeld (Bz = 0) hingegen wirkt

die Lorentzkraft und es kommt zu Feldverzerrungen. Die Aquipotentiallinien verlaufen schrag, so dass an direkt gegen
uberliegenden Punkten (dort, wo

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

175

Ua
UH
quipotentialflchen
ohne / mit Magnetfeld
+

Elektrode

E ax
Flche A
_

Elektrode

jn
_ _

_
2

Potentialdifferenz der
quipotentiallinien = Hallspannung

EH

Beispiel:
n-Halbleiter
y

Abb. 6.54. Verlauf der Aquipotentiallinien


mit und ohne
aueres Magnetfeld. H
ist der Hallwinkel.

die Sensorelektroden angebracht sind) eine Hallspannung anliegt. Da die beiden stromzuf
uhrenden Elektroden 1 und 2 aufgrund ihrer (idealen) Leiterei
genschaften Aquipotential
achen darstellen, kommt es in ihrer Nahe zu einer
weiteren Feldverzerrung. Der in Abb. 6.54 eingezeichnete Hallwinkel lasst sich
wie folgt berechnen
H|
|E
H = arctan
.
(6.141)
 ax |
|E
 in einem Hallelement ergibt sich aus der Uberlagerung

Die Feldst
arke E
der
 ax , die durch die an die stromzuf
Feldst
arke E
uhrenden Elektroden angelegte
auere Spannung entsteht, mit der Feldstarke aufgrund des Halleektes, der

 H , die Gesamtfeldstarke
Hallfeldst
arke E
 =E
 ax + E
H = E
 ax v n B
z ,
E
dr

(6.142)

n
wobei vdr
die Driftgeschwindigkeit der (negativen) Ladungstrager darstellt.
Der sog. Hallwinkel H ist der Winkel zwischen dem resultierenden elektri und dem von auen angelegten Feld E
 ax .
schen Feld E
Eine typische Anwendung von Hallelementen ist die Messung von Gleichstr
omen mit Hilfe von Strommesszangen.

176

6 Analoges Messen elektrischer Gr


oen

6.3.9 Strommesszange f
ur Gleichstrom
Da das Induktionsprinzip wegen der fehlenden Zeitabhangigkeit nicht genutzt
werden kann, erfordert das Messen von Gleichstromen mittels Zangenamperemeter einen Sensor, der in der Lage ist, das vom Messleiter erzeugte

statische B-Feld
in eine proportionale Messspannung umzuwandeln. Standardm
aig geschieht dies mit Hilfe der im vorhergehenden Abschnitt beschriebenen Hallelemente, die sehr wohl in der Lage sind, auch zeitlich konstante
Magnetfelder zu bestimmen. Dazu wird das Hallelement in den bei einem
bestimmten Umfangswinkel in radialer Richtung geschlitzten Sondenkern eingebracht (s. Abb. 6.55). Aufgrund der im Vergleich zur Luftumgebung sehr hohen Permeabilitat des Kerns konzentriert sich auch hier (wie schon beim nicht
geschlitzten Sondenkern der Wechselstromsonde) das vom Strom im Messleiter erzeugte Magnetfeld im Kern. Die Feldlinien der magnetischen Induktion
 verlaufen wie schon bei der Wechselstromsonde (s. Kap. 6.3.7) im SondenB
kern prinzipiell in Umfangsrichtung. Aufgrund der Stetigkeitsbedingungen von
Magnetfeldern an permeablen Grenzschichten gehen die in normaler Richtung


aus der Sondenache austretenden B-Linien
kontinuierlich in die B-Linien
des
Luftspaltfeldes bzw. in das das Hallelement durchdringende Magnetfeld u
ber.
Der in den Sondenkern eingebrachte Schlitz nimmt das Hallelement so auf,

dass das B-Feld
das Hallplattchen in senkrechter Richtung durchsetzt. Die

Onung im Kern sollte moglichst klein gehalten werden, damit keine nennenswerten Streufelder seitlich austreten konnen.
Geht man wie schon beim Wechselstromzangenamperemeter von einer
 |=B
mittleren magnetischen Induktion |B
m
m
Feldlinien der
magnetischen
Induktion B

IS

Wicklungen zur
Erzeugung des
Kompensationsflusses

Hallelement

IH

I mess

stromfhrender Leiter

RM
UM

IS

Abb. 6.55. Prinzip einer Gleichstrommesszange mit Kompensationsprinzip nach


[158]. Die Messspannung UM ist proportional zum Messstrom Imess .

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung

B m = 0 rK H m =

0 rK
I
2rm mess

177

(6.143)

aus, so l
asst sich die Hallspannung nach Gl. (6.139) ermitteln
UH =

RH
RH 0 I mess
IH B m =
IH
.
d
d
2rm

(6.144)

Damit ist die Hallspannung proportional zum Messstrom. Bei der Messung
k
onnen aber verschiedene Fehler auftreten. Neben dem Erdmagnetfeld, das
die Genauigkeit im Allgemeinen negativ beeinussen wird, verfalscht auch die
Temperaturempndlichkeit des Hallelementes die Messung. Eine Moglichkeit,
die Messgenauigkeit zu erhohen, besteht in der Anwendung des Kompensationsprinzips (s. auch Kap. 9.2). Dazu wird im Sondenkern ein dem Magnetfeld
des Messstromes entgegengesetztes Magnetfeld erzeugt. Die Starke des Gegenfeldes entspricht genau der des primaren Feldes, so dass das Magnetfeld im
Sondenkern zu Null abgeglichen wird. Da somit die Hallspannung stets Null
ist, geht beispielsweise auch der (temperaturempndliche) Hallwiderstand RH
nicht mehr in die Messgenauigkeit ein. Um das Gegenfeld im Sondenkern zu erzeugen, wird eine Kompensationsspule auf den Kern gewickelt (s. Abb. 6.55),
die von einem geregelten Strom beschickt wird. Die Kompensationsschaltung
besteht aus dem Hallelement, dessen Hallspannung auf Null abgeglichen wird,
und einem Operationsverstarker, dessen Dierenzeingangsspannung im eingeregelten Zustand ebenfalls Null ist. Der Ausgangsstrom IS des Operationsverst
arkers wird durch die Kompensationswicklung geschickt und erzeugt das
Gegenfeld. Dieser Strom ist proportional zum Messstrom. Er wird mit Hilfe des Shunt-Widerstandes in eine Messspannung UM umgesetzt. Diese ist
die Ausgangsgroe der Gesamtanordnung und ein originalgetreues Abbild der
Messgr
oe, d. h. UM Imess .

7
Messverst
arker

Um mit Messgeraten auch Spannungen und Strome messen zu konnen,


die unterhalb der Ansprechempndlichkeit des Messwerkes liegen, werden
Messverstarker eingesetzt. Sie wandeln die zu messende Spannung bzw. den zu
messenden Strom in ein proportionales Signal hoherer Amplitude um. Dabei
werden folgende Eigenschaften der Messverstarker gefordert:

geringe R
uckwirkung auf die Messgroe
Signaltreue (Linearitat)
hohe Amplitudendynamik
(niedriges Eigenrauschen, geringe Verzerrungen bei groen Amplituden)
ausreichende Bandbreite
(Ausgangssignal muss dem Eingangssignal zeitlich folgen konnen)
eingepr
agtes Ausgangssignal (Spannung oder Strom).

W
ahrend man in der klassischen Messtechnik versucht hat, die R
uckwirkungsfreiheit einer Messung durch Kompensationsverfahren zu erreichen, bedient
sich die elektronische Messtechnik dazu eines Messverstarkers mit geeigneter
Eingangs- bzw. Ausgangsimpedanz. So kann beispielsweise die bei der Spannungsmessung stets vorhandene Belastung eines Messkreises infolge der endlichen Innenimpedanz des Messgerates und der daraus resultierende Messfehler
durch die Verwendung eines Messverstarkers mit sehr hohem Eingangswiderstand i. Allg. soweit reduziert werden, dass sie nicht mehr stort.
Elektronische Verstarkerschaltungen werden weiterhin eingesetzt, um die
in Form elektrischer Signale vorliegenden Messwerte in analoger Form weiterzuverarbeiten. So werden beispielsweise Verstarker verwendet, um Messwerte
zu addieren, subtrahieren, multiplizieren, logarithmieren, integrieren oder zu
differenzieren. Bei der Realisierung elektronischer Messverstarker werden, abgesehen von Anwendungen im Bereich sehr hoher Frequenzen (> 150 MHz)
oder hoher Spannungen (> 150 V), heute vorwiegend integrierte Operationsverst
arkerschaltungen eingesetzt. Diese Operationsverstarker (Operational
Amplier, OpAmp) dienen dabei nicht nur als reine Messverstarker sondern

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_7

180

7 Messverst
arker

auch als universelle Grundbausteine der gesamten analogen Signalverarbeitung. Abbildung 7.1 zeigt die standardmaig verwendeten Schaltsymbole f
ur
elektronische Messverstarker.

Eingang

Ausgang Eingang

Ausgang

a)

uE

uA uE

uA

uE

uA

b)
Abb. 7.1. Schaltsymbole f
ur elektronische Messverst
arker: a) allgemeine Symbole,
b) massebezogene Darstellungen (allgemein, nicht-invertierend, invertierend)

7.1 Operationsverst
arker
7.1.1 Idealer Operationsverst
arker
Abbildung 7.2 zeigt das Schaltbild eines (idealen) Operationsverstarkers. Er
besitzt stets einen invertierenden mit  N bzw.   gekennzeichneten und einen
mit  P bzw.  + gekennzeichneten nicht-invertierenden Eingang sowie einen
Ausgang. Sowohl die beiden Eingangsklemmen als auch die Ausgangsklemme bilden mit der Masseleitung jeweils ein elektrisches Tor. Das wichtigste
Kennzeichen eines (idealen) Operationsverstarkers ist, dass die Eigenschaften des mit ihm realisierten Verstarkers nur durch die auere Beschaltung
des Operationsverstarkerbausteins festgelegt werden, welche i. Allg. auf rein
passiven Bauelementen basiert. Ein idealer Operationsverstarker ist aquivalent einer spannungsgesteuerten Spannungsquelle mit der Leerlaufspannungs-

iN
iA

uD
uN

iP

u DV0
uA

uP

Abb. 7.2. Ersatzschaltbild eines (idealen) Operationsverst


arkers

7.1 Operationsverst
arker

181

verst
arkung V0 . F
ur die Ausgangsspannung uA gilt allgemein (Abb. 7.2)
uA = V0 uD = V0 (uP uN ) .

(7.1)

Die Eingangsstrome iN bzw iP des idealen Operationsverstarkers sind Null


iN = iP = 0 .

(7.2)

Infolgedessen muss f
ur den Eingangswiderstand rE , der bei einem realen Operationsverst
arker zwischen P - und N -Eingang liegt (Abb. 7.3),
rE

(7.3)

gelten. Der Ausgangswiderstand rA (Widerstand in Serie zur spannungsgesteuerten Spannungsquelle, s. Abb. 7.3) betragt wie bei einer idealen Spannungsquelle
rA = 0 .
(7.4)
Weiterhin sind beim idealen Operationsverstarker alle Eigenschaften frequenzund temperaturunabhangig.
+UB
iN

u gl Vgl

u'D

rE

UD0

uD

u DV0

rA

iA

iP

uN

r gl

uP
I N0

r gl

-UB

uA

I P0

Abb. 7.3. Kleinsignal-Ersatzschaltbild eines realen Operationsverst


arkers

7.1.2 Realer Operationsverst


arker
In Abb. 7.3 wird das Schaltbild und in Abb. 7.4 die Kennlinie der Leerlaufverst
arkung eines realen Operationsverstarkers gezeigt. Genauer gesagt handelt es sich dabei um einen dahingehend idealisierten Operationsverstarker,
dass er innerhalb seiner Aussteuerungsgrenzen (uAmin uA uAmax )

lineare Ubertragungseigenschaften
aufweist (s. Kennlinie der Leerlaufspannungsverst
arkung in Abb. 7.4). Die maximale und die minimale Ausgangsspannung uAmax bzw. uAmin liegen bei Standard-Operationsverstarkern betragsm
aig etwa um 1 bis 3 V unter der Betriebsspannung UB des Operationsverst
arkers. Die wesentlichen Unterschiede zum idealen Operationsverst
arker sind: a) Der Eingangs- und der Ausgangswiderstand nehmen end-

182

7 Messverst
arker

uA
+UB
u Amax
UD0

uD

u Amin
-UB
Abb. 7.4. Kennlinie der Leerlaufverst
arkung eines Operationsverst
arkers
(gestrichelt: mit Osetspannung)

liche Werte an: rE 1 M bis 1 T; rA 2 bis 100 , b) der reale


Verst
arkungsgrad liegt zwischen 104 V0 107 . F
ur den realen Operationsverst
arker sind die im Kap. 7.1.3 enthaltenen wichtigen Kenngroen deniert.
Zum Verst
andnis dieser Kenngroen ist die Erlauterung der Funktionsweise
einer R
uckkopplungsschaltung, und im speziellen Fall die Funktion einer Gegenkopplungsschaltung, gema Abb. 7.5 notwendig. Eine solche Gegenkopplungsschaltung enthalt einen Verstarker mit der Leerlaufverstarkung V0 , ein

R
uckkoppel-Netzwerk mit der Ubertragungsfunktion
Vg , welche im allgemeinen Fall frequenzabhangig sein kann, und einen Subtrahierer. Die Ausgangsspannung uA lasst sich anhand von Abb. 7.5 wie folgt angeben
uA = V0 uD = V0 (uE uA Vg ) .

(7.5)

Daraus folgt f
ur die Gesamtverstarkung V
V =

uA
=
uE

1
V0

1
.
+ Vg

(7.6)

Im Falle eines idealen Verstarkers (V0 ) ergibt sich die Gesamtverstarkung


der Gegenkopplungsschaltung zu
lim V = lim

V0

V0

1
Vg +

1
V0

1
.
Vg

(7.7)

Die Gegenkopplungsschaltung aus Abb. 7.5 lasst sich f


ur den Fall einer
sehr hohen Verstarkung (V0 ) (Gl. (7.7)) durch einen invertierenden
V0
uE

uD

Rckkoppel-Netzwerk

uA
Vg

Abb. 7.5. Gegenkopplungsschaltung

7.1 Operationsverst
arker

183

Verstarker nach Abb. 7.6 realisieren, wenn die Leerlaufverstarkung des dort
verwendeten Operationsverstarkers ebenfalls gegen einen unendlich hohen
Wert strebt. Da bei einem Operationsverstarker die Eingangsstrome idealerweise verschwinden (iP = iN = 0), ergibt sich aus der Schaltung nach Abb. 7.6
i1 + i2 = 0 .

(7.8)

Zwei im Schaltbild (Abb. 7.6) vorgenommene Maschenumlaufe ergeben weiterhin


uE = R1 i1 uD

(7.9)

uA = R2 i2 uD = V0 uD .

R2
i1

R1

i2

iN
uD

uE

(7.10)

V0
uA

Abb. 7.6. Invertierende Verst


arkerschaltung

Aus den Gln. (7.8 - 7.10) folgt die Gesamtverstarkung V


V =

R2
R
uA
1
=
uE
1 + V10 (1 +

R2
R1 )

(7.11)

F
ur einen idealen Operationsverstarker (V0 ) folgt f
ur die Gesamtverstarkung V schlielich
uA
R2
lim V =
=
.
(7.12)
V0
uE
R1
Ein Koezientenvergleich zwischen den Gln. (7.7) und (7.12) liefert die Be
ziehung zwischen der Ubertragungsfunktion
Vg des R
uckkoppel-Netzwerkes
(Abb. 7.5) und den Werten R1 und R2 der ohmschen Widerstande der Operationsverst
arkerschaltung nach Abb. 7.6
Vg =

R1
.
R2

(7.13)

Es sei nochmals darauf hingewiesen, dass die in Gl. (7.13) angef


uhrte Verstarkung Vg des R
uckkoppel-Netzwerkes nur dann mit der aus Gl. (7.6) bzw.
Gl. (7.7) identisch ist, wenn V0 einen sehr hohen Wert annimmt.
F
ur die Analyse von Operationsverstarkerschaltungen in Gegenkopplung
(R
uckkopplung vom Ausgang auf den invertierenden Eingang) ist es sinnvoll,

184

7 Messverst
arker

die Dierenzeingangsspannung uD zu betrachten. Ausgehend von Gl. (7.5)


ergibt sich
uE
uD =
.
(7.14)
V0 Vg + 1
Wird nun wiederum eine sehr hohe Leerlaufverstarkung (V0 ) angenommen, so verschwindet die Dierenzeingangsspannung
uE
= lim uD = 0 .
V0 V0 Vg + 1
V0
lim

(7.15)

Die verschwindende Dierenzeingangspannung uD (auch als virtueller Kurzschluss bezeichnet) erleichtert die Analyse von Operationsverstarkerschaltungen in Gegenkopplung erheblich. Man sollte sich aber dar
uber bewusst sein,
dass uD = 0 eine Idealisierende Annahme darstellt, deren G
ultigkeit sichergestellt sein muss. F
ur ein groes, aber endliches V0 darf beispielsweise Vg in
Gl. (7.15) nicht zu klein gewahlt werden, um uD = 0 zu gewahrleisten.
7.1.3 Denitionen von Operationsverst
arker-Kenngr
oen
Im Folgenden werden die wichtigsten Kenngroen von Operationsverstarkern
bzw. Operationsverstarkerschaltungen beschrieben. Die verwendeten Groenbezeichnungen beziehen sich auf die in Abb. 7.2 und Abb. 7.3 gezeigten Ersatzschaltbilder von idealem und realem Operationsverstarker sowie die in
Abb. 7.5 gezeigte Gegenkopplungsschaltung.

Leerlaufspannungsverst
arkung (open loop voltage gain) V0
Es handelt sich hierbei um die Dierenzverstarkung der oenen Schleife,
d. h. des nicht-r
uckgekoppelten, unbeschalteten Operationsverstarkers.
V0 =

uA
uD

- ideal: V0
- real: 104 V0 107
Leerlaufspannungsverst
arkungsma V0 [dB]

uA
V0 [dB] = 20 lg V0 = 20 lg
uD

(7.16)

(7.17)

- ideal: V0
- real: 80 dB V0 140 dB
Gleichtaktspannung (common mode voltage) ugl
Die Gleichtaktspannung entspricht dem arithmetischen Mittel der beiden
Eingangsspannungen uN und uP
ugl =

uP + uN
.
2

(7.18)

7.1 Operationsverst
arker

Gleichtaktspannungsverst
arkung (common mode voltage gain) Vgl
Bei einem realen Operationsverstarker erscheint die um den Faktor Vgl verst
arkte Gleichtaktspannung Ugl am Ausgang
Vgl =

185

uA
.
ugl

(7.19)

- ideal: Vgl = 0
- real: Vgl 1
Gleichtaktunterdr
uckung (common mode rejection ratio) CMRR


V0
(7.20)
CMRR [dB] = 20 lg
Vgl
- ideal: CMRR
- real: CMRR 100 dB

Verst
arkung der geschlossenen Schleife (closed loop voltage gain),
Gesamtverst
arkung V
Es handelt sich hierbei um die Gesamtverstarkung V des r
uckgekoppel
ten Verstarkers nach Abb. 7.5 (die Ubertragungsfunktion
des R
uckkoppelNetzwerkes wird mit Vg bezeichnet)
uA
uE

(7.21)

1
Vg

(7.22)

V0
1 + Vg V0

(7.23)

V =
- ideal (V0 ):
V =
- real (Gl. (7.6)):
V =

Ubertragungsfunktion
(frequency response) G()

Die komplexe Ubertragungsfunktion


G() von Operationsverstarkerschal
tungen, die auch als Ubertragungsfaktor
bezeichnet wird, entspricht der
komplexen Verstarkung, d. h. dem Verhaltnis der in Zeigerform dargestellten Ausgangsspannung U A zur Dierenzeingangsspannung U D . Die
se Ubertragungsfunktion
lasst sich f
ur reale Operationsverstarker nach
Gl. (7.24) approximieren
G() =

V
U A ()
 0
 .
=

U D ()
1 + j 1
1 + j 2

(7.24)

eines Tiefpasses mit den


G() entspricht also der Ubertragungsfunktion
beiden Eckfrequenzen 1 und 2 (2 > 1 ) [165]. Dies bedeutet, dass

186

7 Messverst
arker

der Betrag der Ubertragungsfunktion


ab der Frequenz 1 = 2f1 mit
20 dB/Dekade (=
( 6 dB/Oktave) und ab der Frequenz 2 = 2f2 mit
40 dB/Dekade (=
( 12 dB/Oktave) fallt. Der Wert V0 stellt die Gleichspannungsverstarkung dar. Bei unbeschalteten Operationsverstarkern liegt f1
typischerweise im Bereich einiger Hertz, wahrend f2 der oberen Grenzfrequenz des unbeschalteten Operationsverstarkers entspricht. Abbildung 7.7
zeigt den Frequenzgang der Leerlaufverstarkung des Universal-Operationsverst
arkers vom Typ A 741 nach Betrag und Phase (Tiefpass-Eckfrequenzen: f1 10 Hz und f2 5 MHz).

|G(w)| [dB]

j ()

120

80

-45
-90

40
0
-20

-135
100 102

104

-180

106 f (Hz)

a)

100 102

104

106 f (Hz)

b)

Abb. 7.7. Frequenzgang der Leerlaufspannungsverst


arkung des Operationsverst
arkers A 741 (UB = 15 V) bei einer Temperatur von 25 C: a) Betrag,
b) Phase

Gleichtakteingangswiderstand (common mode input resistance)


Der Gleichtakteingangswiderstand rgl wird wie folgt berechnet
rgl =

(7.25)

- ideal: rgl =
- real: rgl = 1 G . . . 100 T
Dierenzeingangswiderstand (dierential input resistance) rE
Da im Allgemeinen der Gleichtaktwiderstand rgl gro ist gegen
uber dem
Dierenzeingangswiderstand rE (rgl rE ), gilt folgende Denitionsgleichung f
ur den Dierenzeingangswiderstand
rE =

ugl
+ iN )

1
2 (iP

uD
iN )

1
2 (iP

- ideal: rE =
- real: rE = 1 M . . . 1 T
Ausgangswiderstand (output resistance) rA

(7.26)

7.1 Operationsverst
arker


uA 
rA =
iA 

(7.27)
uD =const.

- ideal: rA = 0
- real: rA = 2 . . . 100
Eingangsfehlspannung (input oset voltage), Osetspannung UD0
Durch nicht-identische Eingangstransistoren des bei Operationsverstarkern
stets vorhandenen Dierenzeingangsverstarkers [182] wird auch f
ur uN =
uP = 0 beim realen Operationsverstarker eine Ausgangsspannung uA = 0
erzeugt. Jene Spannungsdierenz UD0 , welche am Eingang angelegt werden muss, um die Ausgangspannung auf Null abzugleichen, wird als Eingangsfehlspannung oder als Eingangs-Osetspannung UD0 bezeichnet. Sie
erscheint im Schaltbild des realen Operationsverstarkers als Spannungsquelle am Eingang (Abb. 7.3).
- ideal: UD0 = 0
- real: UD0 = 0, 5 V . . . 5 mV
Gesamtausgangsspannung (output voltage) uA

Die Gesamtausgangsspannung uA ergibt sich als Uberlagerung


aus der verst
arkten Leerlauf-Dierenzeingangsspannung uD , die um die Osetspannung UD0 vermindert wird, und der mit der Gleichtaktverstarkung multiplizierten Gleichtaktspannung
uD = uP uN
uA = V0 uD + Vgl ugl = V0 (uD UD0 ) + Vgl ugl
= V0 (uP uN UD0 ) + Vgl ugl

187

(7.28)
(7.29)
(7.30)

Versorgungsspannungsunterdr
uckung (power supply rejection
ratio) PSRR
Die Versorgungsspannungsunterdr
uckung ist ein Ma daf
ur, welchen Einuss eine Spannungsschwankung der Versorgung auf die Ausgangsspannung hat


uA
PSRR [dB] = 20 lg
(7.31)
uB
- ideal: PSRR
- real: PSRR 100 dB
Grenzfrequenz (cuto frequency) fg , Bandbreite (bandwidth)
Die 3-dB-Grenzfrequenz fg ist jene Frequenz, bei der die Verstarkung gegen
uber
ihrem Gleichspannungswert um 3 dB (entspricht einem Faktor
von 1/ 2) gesunken ist. Diese obere Grenzfrequenz, die im Allgemeinen der
Bandbreite des Verstarkers entspricht, ist von der aueren Beschaltung des
Operationsverstarkers abhangig. F
ur unbeschaltete Operationsverstarker
liegt sie bei einigen Hertz (Abb. 7.7).
Anstiegsgeschwindigkeit (slew rate) SR
Die Anstiegsgeschwindigkeit (Einheit V/s) entspricht der zeitlichen Ableitung der Ausgangsspannung im Grosignalbetrieb bei Anlegen eines Spannungssprunges am Eingang

188

7 Messverst
arker

SR =


(7.32)
max

- ideal: SR
V
V
- real: SR = 0, 5 s
. . . 10.000 s
Eingangsruhestrom (input bias current) IB
Die Eingangstransistoren eines Operationsverstarkers weisen grundsatzlich
Basis- bzw. Gatestrome auf. Selbst bei Operationsverstarkerschaltungen
mit einer sog. inneren Bias-Stromversorgung sind die Strome IN und IP
noch ungleich Null und m
ussen durch die auere Beschaltung aufgebracht
werden. Trotz des moglichst symmetrischen Aufbaus der meisten Dierenzeingangsstufen ist dar
uber hinaus IN = IP . In Datenblattern sind
stets die Mittelwerte von IN und IP sowie der Betrag ihrer Abweichungen
voneinander angegeben. F
ur den mittleren Eingangsruhestrom (Biasstrom,
Input Bias Current) IB gilt dabei folgende Denition
IB =

uA
t

IN0 + IP0
2

- ideal: IB = 0
- real: IB = 3 fA(FET) . . . 1 A (bipolar, in Sonderfallen bis 25 A)
Eingangsfehlstrom (input oset current), Osetstrom ID0
Der Osetstrom ID0 eines Operationsverstarkers entspricht der Dierenz
der Eingangsruhestrome IN0 und IP0
ID0 = IN0 IP0

(7.33)

(7.34)

- ideal: ID0 = 0
- real: ID0 = 1 fA ... 20 nA
Osetspannungsdrift (oset voltage drift)
Die Osetspannungsdrift beschreibt die Abhangigkeit der Osetspannung
UD0 von der Temperatur
UD0
(7.35)

- ideal: 0
- real: 0, 01 V/C . . . 15 V/ C
Eingangsstromdrift
Die Eingangsstromdrift beschreibt die Temperaturabhangigkeit des Eingangsstromes

(iP , iN ) 
(7.36)
uN =const.,uP =const.
- ideal: 0
- real: 10 fA/ C . . . 1 A/ C
Verst
arkungs-Bandbreite-Produkt (gain bandwidth product) V fg
Wichtiger noch als der reine Verstarkungsfaktor ist das sogenannte Verstarkungs-Bandbreite-Produkt fg0 V0 , welches bei Universaltypen bei etwa

7.1 Operationsverst
arker

189

V0 fg0 = 106 Hz liegt und bei auf hohe Bandbreite ausgerichteten Operationsverst
arkern bis zu 3 109 Hz reicht. Durch eine Gegenkopplungsschaltung gema Abb. 7.5 wird der eektive Verstarkungsfaktor V und die eektive Grenzfrequenz fg der Messschaltung eingestellt. Das Produkt aus Verst
arkungsfaktor V und Bandbreite bzw. Grenzfrequenz fg ist f
ur GrenzV
V0
1
0,1
f g0

0,01
0,01

0,1

fg
10

100

f
f g0

Abb. 7.8. Zusammenhang zwischen Grenzfrequenz und Verst


arkungsfaktor eines
Operationsverst
arkers (Konstanz des Verst
arkungs-Bandbreite-Produktes V fg )

frequenzen oberhalb von fg0 (fg > fg0 ) bei einem bestimmten Operationsverst
arkertyp stets ein konstanter Wert (Abb. 7.8)
V fg = V0 fg0 .

(7.37)

Transitfrequenz (unity gain bandwidth) fT


Die Transitfrequenz fT ist jene Frequenz, bei der die Leerlaufspannungsverst
arkung auf 0 dB abgesunken ist.

In Tabelle 7.1 sind die Leistungsdaten einiger kommerziell erhaltlicher Operationsverst


arker zusammengefasst. Diese Zusammenstellung enthalt neben den
beiden Universaltypen (A 741, TL 081) Operationsverstarker, die im Hinblick auf bestimmte Leistungsdaten optimiert wurden, wie z. B. hohe Transitfrequenz und hohe Slew-Rate (LMH5401), geringes Rauschen (AD797) oder
hohe Ausgangsspannung (PA99).
Anmerkung zu Tabelle 7.1:
Rail to Rail heit, dass der jeweilige Operationsverstarker bez
uglich Eingangsspannung (IN) bzw. Ausgangsspannung (OUT) bis an die Grenzen der Betriebsspannung betrieben werden kann [182].

190

7 Messverst
arker
Tabelle 7.1: Leistungsdaten kommerziell erh
altlicher Operationsverst
arker
Bezeichnung A 741
Hersteller
Philips
OPV-Typ Urvater
UD0
IB
ID0
rgl
V0
CMRR
SR
fT
ts
u-Rauschen
bei
i-Rauschen
bei
Iout
Ub max
Preis ca.

1 mV
80 nA
20 nA
2 M
200 V/mV
90 dB
0,5 V/s
1 MHz
1 s

10 mA
18 V
0,3 EUR

Bezeichnung ACPL-790B
Hersteller
Avago
OPV-Typ Galvanische
Trennung
UD0
IB
ID0
rgl
V0
CMRR
SR
fT
ts
u-Rauschen
bei
i-Rauschen
bei
Iout
Ub max
Rail to Rail
Preis ca.

0,4 mV
-0,1 A

TL 081
TI
Universal
J-FET

LM324
NXP
Low Cost
Universal

LMH5401
TI
High Slew-Rate

3 mV
30 pA
5 pA
1012
200 V/mV
86 dB
13 V/s
3 MHz
0,2
s
18 nV Hz
1 kHz
10 fA HZ
1 kHz
50 mA
18 V
0,2 EUR

2 mV
45 nA
5 nA

0,4 mV
1 mA
4,6 k

100 V/mV
85 dB
0,3 V/s
1 MHz
12 s
40 nV/ Hz
1 kHz

8 mA
16 V
0,15 EUR

72 dB
17,5 kV/s
8 GHz
1 ns

1,25 nV/ Hz
> 10 MHz

3,5 pA/ Hz
> 200 MHz
50 mA
5,25 V
20,00 EUR

ADA4528
AD797
LTC2053
Analog Devices Analog Devices Linear Tech.
Zero Drift
Ultralow Noise Instrumentenverst
arker

0,3 V
220 pA
440 pA
27 k
225 k
1 V/V
140 dB
76 dB
158 dB
0,45 V/s
200 kHz
3 MHz
2,6 s
7 s

SNR: -62 dB 5,5 nV/ Hz


1 kHz
0,7 pA/ Hz
1 kHz
11 mA
30 mA
5,5 V
+6 V
IN + OUT
7 EUR
3 EUR

25 V
250 nA
100 nA
7,5 k
20 V/V
130 dB
20 V/s
110 MHz
800 ns
0,9 nV/ Hz
1 kHz
2 pA/ Hz
1 kHz
50 mA
18 V
10 USD

-5 V
4 nA
1 nA

113 dB
0,2 V/s
200 kHz

2,5 V/ Hz
DC - 10 Hz

1 mA
5,5 V
IN + OUT
8 EUR

7.1 Operationsverst
arker

Bezeichnung PA52
Hersteller
Apex
OPV-Typ High Output
Current

PA99A
Apex
High Output
Voltage

MCP6441
Microchip
Low Power
450 nA

LM4702
TI
Audioendstufen
Driver

UD0
IB
ID0
rgl
V0
CMRR
SR
fT
ts
u-Rauschen
bei
i-Rauschen
bei
Iout
Ub max
Rail to Rail
Preis ca.

5 mV
10 pA
10 pA
100 G
102 dB
100 dB
> 50 V/s
3 MHz
1 s
10 V RMS
100 kHz BW

2 mV
50 pA
5 pA
100 G
117 dB
134 dB
30 V/s
28 MHz

4 mV
1 pA
1 pA
10 T
110 dB
76 dB
3 V/ms
9 kHz

10 mV
500 nA

40 A
100 V

50 mA
1250 V

550 EUR

900 EUR

50 k
93 dB
15 V/s

190 nV/ Hz
1 kHz
0,6 fA/ Hz
1 kHz
3 mA
+6 V
IN + OUT
0,75 EUR

15 EUR

Bezeichnung LMC6041
Hersteller
National

MAX4223
Maxim

TLC081
TI

OPV-Typ

LTC6090
Linear
Technology
Ultralow Bias High Voltage

Current
Feedback

R/R Low cost

UD0
IB
ID0
rgl
V0
CMRR
SR
fT
ts
u-Rauschen
bei
i-Rauschen
bei
Iout
Ub max
Rail to Rail
Preis ca.

1 mV
2 fA
1 fA
> 10 T
120 dB
75 dB
0,02 V/s
75 kHz
200 s
83 nV/ Hz
1 kHz
0,2 fA/ Hz
1 kHz
22 mA
15,5 V
OUT
2 EUR

0,5 mV
4 A

80 mA
6V

390 V
2 pA
3 pA
1 T
120 dB
110 dB
16 V/s
10 MHz
180ns
12 nV/ Hz
1 kHz
0,6 fA/ Hz
1 kHz
55 mA
17 V

9 EUR

2 EUR

2 V RMS
20 kHz BW

300 V
3 pA
0,5 pA

45
10 kV/mV
140 dB
21 V/s
12 MHz
2 s
14 nV/ Hz
1 kHz
1 fA/ Hz
50 mA
140 V
OUT
10 EUR

61 dB
1100 V/s
1 GHz
8 ns

150V
0-30kHz
1,1 pA/ Hz
5,5 mA
100 V

191

192

7 Messverst
arker

7.1.4 Operationsverst
arker-Grundschaltungen
Ein Operationsverstarker kann durch entsprechende auere Beschaltung in
sehr vielf
altiger Weise f
ur Messaufgaben eingesetzt werden. Im Folgenden werden verschiedene Standard-Operationsverstarkerschaltungen vorgestellt, wobei jeweils das Verhaltnis von Ausgangsgr
oe (i. Allg. die Ausgangsspannung
uA ) zu Eingangsgroe (i. Allg. die Eingangsspannung uE ) angegeben wird.
Die Beziehung zwischen Ausgangs- und Eingangsgroe lasst sich leicht ableiten, wenn man den Operationsverstarker in der folgenden Weise idealisiert:
Eingangswiderstand rE , Eingangsstrome iN = 0 bzw. iP = 0, Leerlaufverst
arkung V0 . Wird der Operationsverstarker in Gegenkopplung
betrieben, kann zudem uD = 0 angenommen werden, (siehe Kap. 7.1.2) Die
Auswertung der aus dem jeweiligen Schaltbild resultierenden Knoten- und
Maschengleichungen liefert dann unmittelbar den gesuchten mathematischen
Zusammenhang zwischen Ausgangs- und Eingangsgroe.
Invertierender Verst
arker
Der invertierende Verstarker wurde bereits in Kap. 7.1.2 besprochen (s.
Abb. 7.6). F
ur einen idealen Operationsverstarker ergibt sich das Verhaltnis
von Ausgangsspannung uA zur Eingangsspannung uE zu (s. Gl. (7.12))
uA
R2
=
.
uE
R1

(7.38)

Invertierer
Der reine Invertierer (Abb. 7.9) hat die Aufgabe, die Polaritat der Eingangsspannung am Ausgang umzukehren
uA = uE ,

(7.39)

was dadurch erreicht wird, dass beim invertierenden Verstarker (Abb. 7.6) die
Widerst
ande R1 und R2 identisch gewahlt werden.

Abb. 7.9. Grundschaltung des Invertierers

7.1 Operationsverst
arker

193

Nicht-invertierender Spannungsverst
arker
Der nicht-invertierende Spannungsverstarker (Abb. 7.10) behalt die Polaritat
der Eingangsspannung bei und erlaubt die Einstellung des Verstarkungsfaktors u
ber die Widerstandskombination R1 und R2
uA
R2
=1+
.
uE
R1

(7.40)

Abb. 7.10. Nicht-invertierender Spannungsverst


arker

Addierender Verst
arker
Der addierende Verstarker (Abb. 7.11) addiert die Eingangsspannungen und
dreht die Polaritat nach der Summenbildung um. Mit Hilfe der Widerstandswerte R1 und R2 lassen sich die Eingangsspannungen u1 und u2 mit Gewichtsfaktoren versehen

u1
u2
uA = iG R3 = (i1 + i2 )R3 =
R3 .
+
(7.41)
R1
R2
Im Allgemeinen wahlt man R1 = R2 = R3 , so dass eine ungewichtete Summenbildung erzielt wird
uA = (u1 + u2 ) .
(7.42)

Abb. 7.11. Addierender Verst


arker

194

7 Messverst
arker

Subtrahierender Verst
arker
Der subtrahierende Verstarker (Abb. 7.12) erlaubt die Dierenzbildung der
beiden Eingangsspannungen u1 und u2 . F
ur beliebige Widerstandswerte lassen
sich wiederum Gewichtsfaktoren einstellen
uA = u2

R4 (R1 + R3 )
R3
u1
.
R1 (R2 + R4 )
R1

(7.43)

F
ur den Fall R1 /R3 = R2 /R4 ergibt sich die gew
unschte Subtraktion der
Eingangsspannungen mit zusatzlicher Verstarkung um den Faktor R3 /R1
uA =

R3
(u2 u1 ) .
R1

(7.44)

F
ur den reinen Subtrahierer wahlt man R1 = R2 = R3 = R4 , so dass ungewichtet subtrahiert wird
uA = u2 u1 .
(7.45)

Abb. 7.12. Subtrahierender Verst


arker

Impedanzwandler
Mit Hilfe des Impedanzwandlers (Abb. 7.13), der auch als Spannungsfolger
bezeichnet wird, werden Quellen mit hohem Innenwiderstand an Schaltungen
mit niedrigem Widerstand angepasst. So kann beispielsweise an hochohmigen
Schaltungen mit weniger hochohmigen Messwerken r
uckwirkungsfrei gemessen
werden. Die Eingangsspannung erscheint dabei unverandert am Ausgang
uA = uE .

(7.46)

7.1 Operationsverst
arker

195

Abb. 7.13. Impedanzwandler

Integrierender Verst
arker
In der analogen Signalverarbeitung ist der auf einem Operationsverstarker
basierende Integrierer (Integrator) eines der zentralen Elemente. Der integrierende Verstarker (Abb. 7.14) bildet das zeitliche Integral einer Eingangsspannung. F
ur den Fall, dass der Anfangswert der Ausgangsspannung uA zu
Beginn der Integration den Wert Null annimmt, folgt


 t
1 t
1 t
1
uA =
iG dt =
iE dt =
uE dt .
(7.47)
C 0
C 0
RC 0

Abb. 7.14. Integrierende Operationsverst


arkerschaltung

Dierenzierender Verst
arker (Prinzip)
Der dierenzierende Verstarker (Abb. 7.15) hat die Aufgabe, die Eingangsspannung uE zeitlich zu dierenzieren
duE
.
(7.48)
uA = iG R = iE R = RC
dt

Abb. 7.15. Prinzip einer dierenzierenden Operationsverst


arkerschaltung

196

7 Messverst
arker

Dierenzierender Verst
arker (praktische Realisierung)
Die Schwingneigung der Prinzipschaltung nach Abb. 7.15 kann vermieden werden, wenn die modizierte Dierenzierer-Schaltung nach Abb. 7.16 verwendet
wird. Die reine Dierenzierung der Eingangsspannung erreicht man durch die
Wahl entsprechender Zeitkonstanten R1 C1 und R2 C2 . Denn wahlt man diese
so klein, dass die hochste in der Eingangsspannung enthaltene Signalfrequenz
klein ist gegen
uber den Kehrwerten der beiden Zeitkonstanten
1
R1 C1
1
,

R2 C2

(7.49)
(7.50)

folgt wiederum
duE
.
(7.51)
dt
Eine modizierte Operationsverstarkerschaltung eines Dierenzierers wird in
[102] behandelt.
uA = R2 C1

Abb. 7.16. Dierenzierende Operationsverst


arkerschaltung (technisch verwendbar)

Logarithmierender Verst
arker mit Diode
Eine die Eingangsspannung logarithmierende Operationsverstarkerschaltung
enth
alt eine Diode im R
uckkoppelzweig (Abb. 7.17). Mit der f
ur den Durchlassbereich vereinfachten (Diodensperrstrom IS Diodenstrom iD ) Diodenkennlinie iD = f (uD )
uD
(7.52)
iD = IS e mUT
folgt unter Ber
ucksichtigung der Knotengleichung iD = iE die Ausgangsspannung uA als logarithmierte Eingangsspannung uE

iE
uE
f
ur uE > 0 .
uA = mUT ln
= mUT ln
(7.53)
IS
IS R

7.1 Operationsverst
arker

197

Dabei bezeichnen IS den temperaturabhangigen Sperrstrom der Diode, m =


1...2 den stromabhangigen Korrekturfaktor und UT die Temperaturspannung
der Diode
kT
UT =
,
(7.54)
e0
die bei einer Temperatur T = 25 C einen Wert von UT = 25, 7 mV aufweist.
In Gl. (7.54) wurden folgende Bezeichnungen verwendet: die Boltzmann-Konstante k = 1, 38 1023 Ws/K, die absolute Temperatur T (K) und die Elementarladung e0 = 1, 6 1019 As.

Abb. 7.17. Logarithmierende Operationsverst


arkerschaltung mit Diode

Logarithmierender Verst
arker mit Transistor
Der Einuss des stromabhangigen Korrekturfaktors m (Gl. (7.53)) lasst sich
umgehen, wenn man statt der Diode einen Transistor gema Abb. 7.18 einsetzt. F
ur den Kollektorstrom iC gilt bei kleinem Kollektorsperrstrom ICS
(ICS iC )
uBE
(7.55)
iC = ICS e UT ,
wobei uBE die Basis-Emitter-Spannung und UT die Temperaturspannung bezeichnen.

Abb. 7.18. Prinzipschaltung eines Logarithmierers mit Operationsverst


arker und
einem Transistor im R
uckkoppelzweig

F
ur die Ausgangsspannung uA des Logarithmierers folgt daraus f
ur uE > 0

198

7 Messverst
arker

uA = UT ln

uE
RICS

(7.56)

e-Funktionsgenerator
Wenn man in der logarithmierenden Operationsverstarkerschaltung (Abb.
7.19) Widerstand und Transistor vertauscht, invertiert man die mathematische Operation des Logarithmierens, d. h. der nat
urliche Logarithmus aus
Gl. (7.56) geht u
ur uE < 0 kann die Aus ber in eine Exponentialfunktion. F
gangsspannung wie folgt angegeben werden
uA = RiC = RICS euE /UT .

(7.57)

Abb. 7.19. Einfacher e-Funktionsgenerator

Komparator ohne Hysterese


Ein unbeschalteter Operationsverstarker, wie er in Abb. 7.20 gezeigt wird,
stellt einen Komparator ohne Hysterese dar. Seine Ausgangsspannung lauft
f
ur positive Eingangsspannungen uD > 0, d. h. u1 < u2 , auf ihren positiven
Grenzwert uAmax
uA = +uAmax f
ur u1 < u2 .
(7.58)
Umgekehrt wird f
ur eine negative Dierenzeingangsspannung uD < 0, d. h.
u1 > u2 , der negative Grenzwert erreicht, der dem positiven mit umgekehrtem
Vorzeichen entspricht
uA = uAmax

f
ur

u1 > u2 .

Abb. 7.20. Komparator ohne Hysterese

(7.59)

7.1 Operationsverst
arker

199

Invertierender Komparator mit Hysterese (Invertierender


Schmitt-Trigger)
Bei einem Komparator mit Hysterese, der auch als invertierender SchmittTrigger bezeichnet wird, gibt es im Gegensatz zu einem Komparator ohne
Hysterese zwei Schaltschwellen, die im Folgenden mit uEauf und uEab bezeichnet werden. Dieses Schaltverhalten wird u
ber eine Mitkopplung des Komparators erreicht (Abb. 7.21a), d. h. ein Teil der Ausgangsspannung uA wird
mit Hilfe des aus R1 und R2 bestehenden Spannungsteilers auf den nichtinvertierenden Eingang des Operationsverstarkers zur
uckgekoppelt. Bei vernachl
assigbarer Dierenzeingangsspannung liegt die Eingangsspannung uE am
Widerstand R1 des Spannungsteilers an, so dass unter Ber
ucksichtigung der
Tatsache, dass die Ausgangsspannung infolge der Mitkopplung nur die Werte
+uAmax bzw. uAmax annehmen kann, die Schaltschwellen uEauf bzw. uEab
(Abb. 7.21b) wie folgt hergeleitet werden konnen
R1
,
R1 + R2
R1
= +uAmax
.
R1 + R2

uEauf = uAmax
uEab

(7.60)
(7.61)

Es sei darauf hingewiesen, dass der einzige Unterschied zwischen der Schaltung eines Schmitt-Triggers (Abb. 7.21) und einem nicht-invertierenden Spannungsverst
arker (Abb. 7.10) die Form der R
uckkopplung ist. Wahrend der
nicht-invertierende Spannungsverstarker gegengekoppelt ist (R
uckkopplung
des Spannungsteilers auf den invertierenden Eingang des Operationsverstarkers) und damit absolut stabil arbeitet, ist die R
uckkopplung beim SchmittTrigger eine Mitkopplung (R
uckkopplung auf den nicht-invertierenden Eingang des Operationsverstarkers), so dass sich das gezeigte bistabile Verhalten
einstellt, d. h. die Ausgangsspannung lauft entweder auf ihren positiven oder
ihren negativen Endwert.

Abb. 7.21. Invertierender Schmitt-Trigger: a) Operationsverst


arkerschaltung, b)
Kennlinien des invertierenden Schmitt-Triggers

200

7 Messverst
arker

Multivibrator
Wenn die Ausgangsspannung eines invertierenden Schmitt-Triggers zeitlich
verz
ogert auf den Eingang zur
uckgef
uhrt wird, entsteht ein sog. Multivibrator. Dies ist ein Oszillator, der eine Rechteckschwingung liefert. Anhand des
Schaltbildes nach Abb. 7.22 lasst sich die Dierentialgleichung f
ur uC (t) ableiten, indem man die Knotenregel f
ur den Verbindungsknoten zwischen R und
C anwendet
duC
uAmax uC
=
.
(7.62)
dt
RC

Abb. 7.22. a) Multivibrator mit Komparator, b) Spannungsverl


aufe in der
Multivibrator-Schaltung

Mit der Anfangsbedingung uC (t = 0) = uEauf ergibt sich die Losung dieser


Dierentialgleichung zu


2R1 + R2 t/RC
uC (t) = uAmax 1
.
(7.63)
e
R1 + R2
Die Periodendauer T der Rechteckschwingung betragt somit

2R1
.
T = 2RC ln 1 +
R2
F
ur R1 = R2 folgt

T = 2RC ln 3 2, 2RC .

(7.64)

(7.65)

Voltmeterschaltung
Die Voltmeterschaltung (Abb. 7.23) ermoglicht eine hochohmige Spannungsmessung mit einem Strommessgerat. Es handelt sich dabei um einen Spannungsverst
arker mit Stromausgang. Bei Vernachlassigung der Dierenzeingangsspannung fallt die Eingangsspannung uE direkt am Widerstand R ab,
so dass

7.1 Operationsverst
arker

201

uE
(7.66)
R
gilt, woraus unmittelbar die gew
unschte Proportionalitat zwischen uE und iM
folgt
iM uE .
(7.67)
iM =

Abb. 7.23. Voltmeterschaltung

Stromgesteuerte Spannungsquelle
Abbildung 7.24 zeigt die Schaltung einer mit Hilfe eines Operationsverstarkers
realisierten stromgesteuerten Spannungsquelle. Bei einer stromgesteuerten
Spannungsquelle ist die Ausgangsspannung uA proportional dem Eingangsstrom iE . Wenn man den Operationsverstarkereingangsstrom iN vernachlassigt,
folgt unmittelbar der Zusammenhang zwischen Eingangsstrom iE und der
Ausgangsspannung uA
uA = iE R .
(7.68)
Prinzipiell konnte diese Schaltung auch der Strommessung mit niedrigem Innenwiderstand dienen. Der Nachteil, dass eine Eingangsklemme auf Massepotential liegt, wird allerdings erst durch die folgende Amperemeterschaltung
vermieden.

Abb. 7.24. Stromgesteuerte Spannungsquelle

202

7 Messverst
arker

Amperemeterschaltung
Die Amperemeterschaltung (Abb. 7.25) erlaubt die niederohmige Strommessung mit einem Spannungsmessgerat, wobei an den Messkontakten keine
Spannung abfallt, d. h. es wird leistungslos und damit ohne einen durch den
Innenwiderstand eines Messgerates bedingten systematischen Fehler gemessen. Bei Vernachlassigung der Eingangsdierenzspannungen der Operationsverst
arker verschwindet die Eingangsspannung uE
uE = 0 .

(7.69)

Weiterhin liegen die mit u gekennzeichneten Punkte auf gleichem Potential.


Die Potentialdierenz gegen Masse betragt u . Damit kann man bez
uglich
der Operationsverstarker 1 und 2 die beiden folgenden Spannungsumlaufe
angeben
u + iE R1 + u2 = 0
(7.70)
und

u iE R1 + u1 = 0 .

(7.71)

Die Subtraktion der Gl. (7.71) von Gl. (7.70) liefert


2iE R1 = (u2 u1 ) .

(7.72)

Die Dierenzbildung (u2 u1 ) der beiden Teilspannungen wird von dem nachfolgenden subtrahierenden Verstarker vorgenommen (siehe auch Abb. 7.12
bzw. Gl. (7.45)), so dass, wie bei der Strommessung gefordert, die Ausgangsspannung uA proportional dem Eingangsstrom iE ist
uA = u1 u2 = (u2 u1 ) = 2R1 iE .

Abb. 7.25. Erdfreie Amperemeterschaltung

(7.73)

7.1 Operationsverst
arker

203

u
R1
iE

iM
iE + iM
R2

Abb. 7.26. Stromverst


arker

Stromverst
arker
Beim Stromverstarker (Abb. 7.26) ist der Strom iM , welcher durch das am
Ausgang des Operationsverstarkers liegende Messwerk iet, proportional
zum Eingangsstrom iE . Wenn man wiederum die Dierenzeingangsspannung
des Operationsverstarkers vernachlassigt, fallt an den Widerstanden R1 und
R2 dieselbe Spannung u ab
iE R1 = u
(iE + iM )R2 = u .

(7.74)
(7.75)

Aus den Gln. (7.74) und (7.75) folgt


iM =

R1 + R2
iE
R2

(7.76)

bzw. die gew


unschte Proportionalitat zwischen dem Eingangsstrom iE und
dem Strom iM durch das Messgerat
iM iE .

(7.77)

Aktiver Vollweg-Gleichrichter
Mit Hilfe von Operationsverstarkern lassen sich auch mit realen Dioden nahezu ideale Gleichrichter in Form sog. aktiver Gleichrichterschaltungen realisieren. Der Hauptnachteil von nicht-aktiven Gleichrichterschaltungen, also
Schaltungen, die nur auf Dioden basieren, beruht auf der endlichen Diodenschwellenspannung (0,7 V bei Siliziumdioden (Kap. 6.3.2)). Abbildung 7.27
zeigt eine aktive Vollweg-Gleichrichterschaltung, deren Ausgangsspannung uA
dem Betrag der Eingangsspannung uE entspricht
uA = |uE | .

(7.78)

Der linke Abschnitt der Schaltung stellt einen aktiven Einweg-Gleichrichter


dar. Es gilt

204

7 Messverst
arker

Abb. 7.27. Aktive Vollweg-Gleichrichterschaltung

uA1 = uE f
ur uE 0

(7.79)

uA1 = 0 f
ur uE < 0 .

(7.80)

bzw.
Die rechte Teilschaltung ist ein addierender Verstarker (Abb. 7.11 bzw.
Gl. (7.41)), der in Verbindung mit dem Einweg-Gleichrichter insgesamt zu
einem Vollweg-Gleichrichter f
uhrt. Damit ergibt sich die Ausgangsspannung
uA f
ur negative Eingangsspannungswerte zu
uA = uE f
ur uE < 0 .

(7.81)

F
ur positive Eingangsspannungen uE folgt aus der f
ur den Addierer geltenden
Beziehung zwischen Ausgangsspannung und Eingangsspannung (Gl. (7.41))
#
"
uE uE
+ R
R = uE f
uA =
ur uE > 0 .
(7.82)
R
2
Die Auswirkungen von nicht vernachlassigbaren Diodenschwellenspannungen
bei endlicher Verstarkung der Operationsverstarker wird in [102] behandelt.
Es sei darauf hingewiesen, dass aus Osetspannungen und Eingangsstromen
des Operationsverstarkers weitere Fehler resultieren konnen.
7.1.5 Operationsverst
arker mit dierentiellem Ausgang
W
ahrend die bisher behandelten Standard-Operationsverstarker einen massebezogenen Ausgang (Single-ended Output) haben, nden seit einiger Zeit auch
spezielle Operationsverstarker mit einem dierentiellen Ausgang (Abb. 7.28a)
h
auger Anwendung. Statt des einen Ausgangs gibt es hierbei zwei Ausgangsleitungen, eine positive und eine negative. Die negative Ausgangsleitung ist am Invertierungszeichen zu erkennen. Die Ausgange sind hier wie
die Eing
ange dierentiell geschaltet. Dies bedeutet, dass die beiden Ausgange
gegen
uber Masse betragsmaig dieselbe Spannung aufweisen, sie haben nur
umgekehrte Vorzeichen. Im Gegensatz zu den bisher behandelten Schaltungen

7.1 Operationsverst
arker

205

mit Single-ended Ausgang sind nunmehr zwei R


uckkopplungschleifen notwendig (Abbn. 7.29 - 7.31), welche identisch aufgebaut sein m
ussen. Um einen
stabilen Betrieb zu ermoglichen, m
ussen die Ausgange auf den Eingang mit
jeweilig umgekehrter Polaritat (Vorzeichen) zur
uckgef
uhrt werden.
Ein weiterer Unterschied zum klassischen Operationsverstarker ist die
zus
atzliche Eingangsklemme uglA (Abb. 7.28b). Sie hat die Aufgabe, eventuell auf beiden Eingangen (uP und uN ) gleichsinnig lastende Storspannungen,
d. h. also Gleichtaktspannungen, am Ausgang zu kompensieren. Dies bedeutet, dass der Operationsverstarker mit dierentiellem Ausgang in der Lage ist,
Gleichtaktst
orungen zu unterdr
ucken. F
ur den Fall, dass kein Signal an den
uglA -Eingang angelegt wird, erscheint die halbe Betriebsspannung als Gleichtaktsignal am Ausgang. Ansonsten erhalt man das angelegte uglA -Signal als
Oset im Ausgangssignal.

Abb. 7.28. Dierentieller Operationsverst


arker: a) vereinfachte Darstellung; b)
Darstellung mit Eingang zur Regelung der Ausgangsgleichtaktspannung

206

7 Messverst
arker

Denitionen f
ur dierentielle Operationsverst
arker

Dierentielle Ausgangsspannung uDA

uDA = u+
A uA

Gleichtakt-Ausgangsspannung uglA
uglA =

(7.83)

u+
a + uA
2

(7.84)

(Gesamt-)Spannungsverstarkung VDA
VDA =

u+
uDA
A uA
=
= 2 V0
uP uN
uD

(7.85)

Abbildung 7.29 zeigt eine Verstarkerstufe mit dierentiellem Ausgang. Es gibt


nunnmehr zwei R
uckkopplungsschleifen, welche identische R
uckkopplungswiderst
ande (R1 ) enthalten. Die (dierentielle) Spannungsverstarkung ergibt
sich wie im Fall des Operationsverstarkers mit nicht-dierentiellem Ausgang
zu
u+ u
R1
A
V = A
,
(7.86)
+
=
R2
uE uE
d. h. wie gewohnt aus dem Verhaltnis der Widerstande von R
uckkopplungsund Eingangszweig. Es sei nochmals betont, dass im Gegensatz zum klassischen Operationsverstarker hier beide R
uckkopplungsschleifen geschlossen
werden m
ussen, um ein einwandfreies Arbeiten der Schaltung zu gewahrleisten. Im Falle von nicht identischen R
uckkopplungszweigen kommt es zu
Gleichtaktfehlern im Ausgangssignal. So f
uhrt beispielsweise eine Abweichung
von 0,1 % in den Widerstanden zu einem CMRR (s. Gl. (7.20)) von 60 dB.
In der Praxis ist oft die Konvertierung eines massebezogenen Signals in
ein nicht-massebezogenes dierentielles Signal gefragt. Abbildung 7.30 zeigt
die beiden Schaltungsvarianten, die diese Aufgabe erf
ullen. Sie arbeiten beide
gleichermaen, auch wenn einmal das Eingangssignal auf den invertierenden
und das andere Mal auf den nicht-invertierenden Eingang gelegt wird.
Die Verst
arkung V ergibt sich in beiden F
allen wiederum aus dem Verhaltnis
der Widerst
ande von R
uckkopplungs- und Eingangszweig
R1
_

uE

R2

uA
_

uE

uA

R2
R1

Abb. 7.29. Dierentielle Verst


arkerstufe

7.1 Operationsverst
arker

207

Abb. 7.30. Schaltungen zur Konvertierung von massebezogenen Eingangssignalen


(single-ended input) in dierentielle Ausgangssignale

V =

u+
R1
A uA
=
.
uE
R2

(7.87)

Hierbei ist zu beachten, dass der Innenwiderstand RiQ der am Eingang ange

schlossenen Quelle (z. B. RiQ = 50 ) in die Berechnung von R2 eingeht. R2
ist also um diesen Wert (50 ) zu vergroern.
Eine der Hauptanwendungen von dierentiellen Operationsverstarkern
ist die Ansteuerung von Analog-Digital-Umsetzern (s. Kap. 11.6). Moderne
Analog-Digital-Umsetzer (ADU bzw. ADC) besitzen in der Regel einen die
rentiellen Eingang mit zwei Eingangssignalen u+
IN und uIN (s. Abb. 7.31). Das
C1
R3
_
uE

R2

R1

+ UB

u+IN

u Esignal

R3

uE

C2

R2

u glA
R1

C2

u IN

ADU
u refADU

_U

C1
Abb. 7.31. Schaltung mit dierentiellem Operationsverst
arker zur Ansteuerung
eines Analog-Digital-Umsetzers

auf diesen dierentiellen Eingang bezogene Nullsignal entspricht der Gleich


taktspannung an seinem Eingang. Diese betragt 1/2 (u+
IN +uIN ). Das maximale
+

Eingangssignal uIN uIN darf die Versorgungsspannung nicht u


berschreiten;
sie liegt meist bei wenigen Volt (3 V - 5 V). Die Bezugspotentiale des dierentiellen Eingangs entsprechen dabei einerseits dem Massepotential der Schaltung

208

7 Messverst
arker

und andererseits dem Wert der Versorgungsspannung. In der potentialmaigen Mitte liegt das Nullsignal des ADU-Eingangs, welches, wie bereits oben
erw
ahnt, identisch ist mit der Gleichtaktspannung am Eingang des ADUs.
Die klassische Schaltungstechnik zur Ansteuerung von ADUs besteht in der
Verwendung von zwei Operationsverstarkern, die als Dierenzverstarker arbeiten. Zus
atzlich ist ein dritter Operationsverstarker notwendig, um den Differenzverst
arker mit der vom ADU benotigten Gleichtaktspannung vorzuspannen. Die Alternativlosung verwendet einen Transformator zur Signal
ubertragung am Eingang des ADU. Die letztgenannte Losung schliet allerdings die
Analog-Digital-Umsetzung von Gleichsignalen aus.
Hier bieten dierentielle Operationsverstarker nunmehr die Moglichkeit,
mit nur einem aktiven Bauteil und auch weniger passiven Bauelementen auszukommen [134]. Um ein massebezogenes Eingangssignal in der oben beschriebenen Weise auf das Eingangsspannungsintervall abzubilden, muss also die Gleichtaktspannung am Eingang des ADUs (entspricht dem Wert des
Nullsignals am Eingang) von der dierentiellen Ausgangsstufe des Operationsverst
arkers bereitgestellt werden. Da die Ausgangsgleichtaktspannung am
Eingang uglA vorgegeben werden kann, nutzt man die Moglichkeit von modernen ADUs, genau diesen Spannungswert bereitzustellen. Die Treiberstufe
f
ur den ADU auf Basis eines dierentiellen Operationverstarkers funktioniert
also, wenn man dieses Ausgangssignal des ADU auf den uglA -Eingang des
Operationsverstarkers gibt.
Diese Schaltung hat den Vorteil einer im Idealfall nahezu vollstandigen
Unterdr
uckung von Gleichtaktstorsignalen am Eingang. Zudem werden infolge der dierentiellen Ausf
uhrung die geradzahligen Vielfachen der Grundwelle
und damit die harmonischen Verzerrungen (s. a. Kap. 13.6 Klirrfaktor) re
duziert [134].
Tabelle 7.2: Leistungsdaten dierentieller Operationsverst
arker (Stand:
April 2016)
Bezeichnung

ADA4960-1

Hersteller

Analog
Devices

Auswahlkriterium

max. Leistung
SR
fT
u-Rauschen
Ubmax
Preis ca.

LTC6406

LMH6554

LTC6412

Linear
Texas
Linear
Technology Instruments Technology
2

4
330 mW

300 mW

63 mW

260 mW

8,7 kV/s

630 V/s

6,2 kV/s

5 GHz
3 GHz
2,8 GHz
800 MHz

1,6 nV/ Hz 1,6 nV/ Hz 0,9 nV/ Hz 2,7 nV/ Hz


5,25 V

3,5 V

5,5 V

3,8 V

14,99 EUR

7,23 EUR

9,03 EUR

10,50 EUR

7.2 Spezielle Messverst


arker

Bezeichnung
Hersteller
Auswahlkriterium

OPA1632

THS4532

LTC6409

LMH5401

Texas
Texas
Linear
Texas
Instruments Instruments Technology Instruments
5

max. Leistung

210 mW

2,5 mW

275 mW

275 mW

SR

50 V/s

200 V/s

3,3 kV/s

17,5 kV/s

fT
u-Rauschen
Ubmax
Preis ca.

209

180 MHz
36 MHz
10 GHz
8 GHz

1,3 nV/ Hz 10 nV/ Hz 1,1 nV/ Hz 1,25 nV/ Hz


32 V

5,5 V

5,25 V

5,5 V

5,72 EUR

5,54 EUR

11,41 EUR

13,35 EUR

1 Die Verst
arkung des ADA4960-1 kann mittels eines Widerstandes eingestellt
werden.
2 Hohe Linearit
at f
ur 16 Bit ADCs.
3 Der LMH6554 hat einen Abschalteingang, um die Leistungsaufnahme zu
reduzieren.
4 Die Verst
arkung des LTC6412 ist mittels einer analogen Steuerspannung
beeinussbar (AGC).
5 Audio Anwendung nur 0,000022% THD (Oberwellen).
6 Low Power.
7 Single-Ended to Dierential Ampliers.
8 Low Noise.

Es sei noch erwahnt, dass der durch die Bauelemente R1 und C1 gebildete
Tiefpass ein Anti-Aliasing-Filter (s. Kap. 11.7.1) darstellt. Es hat ein 3 dBGrenzfrequenz von
1
fg =
.
(7.88)
2R1 C1
Der Widerstand R3 entkoppelt den Ausgang des Operationsverstarkers von
C2 , dessen Aufgabe das schnelle Laden der Eingangskapazitat des Wandlers
(s. Kap. 11.7.2) ist. Typisch sind Werte R3 =10 bis 30 und C2 = 0,1 bis 2 nF.
Tabelle 7.1.5 enthalt typische Vertreter von kommerziell erhaltlichen Operationsverst
arkern mit dierentiellem Ausgang. Weitere Informationen zu differentiellen Operationsverstarkern ndet der interessierte Leser in [88], [89].

7.2 Spezielle Messverst


arker
7.2.1 Dierenzverst
arker
Ein Dierenzverstarker ist notwendig, um die Signale von Quellen mit oatendem Eingang (nicht massebezogenem Eingang) zu verstarken. Dabei handelt

210

7 Messverst
arker

es sich um Quellen, deren Potentiale gegen


uber Masse schwanken. Dies ist
z. B. bei Strommessungen mittels Shunt oft der Fall. Auch bei massebezogenen Signalquellen bietet der Dierenzverstarker den Vorteil hoher Gleichtaktunterdr
uckung (> 100 dB). Abbildung 7.32 zeigt den Schaltungsaufbau. Der

Abb. 7.32. Dierenzverst


arker

Verst
arkungsgrad dieser Schaltung kann leicht nach dem Superpositionsprinzip berechnet werden
uA
R1
V =
=
.
(7.89)
uE2 uE1
R2
Um die Eigenschaften des Dierenzverstarkers zu verbessern, insbesondere im
Hinblick auf eine Erhohung der Eingangsimpedanz werden sog. Instrumentenverstarker eingesetzt, die auch als Instrumentierungsverstarker bezeichnet
werden (s. Kap. 7.2.2). Diese besitzen eine sehr hohe Eingangsimpedanz. Dabei ist zu bedenken, dass der Innenwiderstand Ri einer an den Dierenzeingang des Verstarkers nach Abbildung 7.32 angeschlossenen Spannungsquelle
den Verst
arkungsgrad verandert (s. Abb. 7.33)
V V =

2R1
.
2R2 + Ri

Abb. 7.33. Dierenzverst


arker mit Signalquelle am Eingang

(7.90)

7.2 Spezielle Messverst


arker

211

7.2.2 Instrumentenverst
arker (Instrumentierungsverst
arker)
In der Elektrischen Messtechnik werden haug prazise arbeitende Messverst
arker benotigt, die in der Lage sind, einen hohen Gleichtaktstoranteil
m
oglichst vollstandig zu unterdr
ucken und nur den Dierenzanteil, der in
diesem Fall dem Nutzsignal entspricht, zu verstarken. Zur Erf
ullung die-

Abb. 7.34. Schaltung eines Instrumentenverst


arkers

ser Anforderungen scheiden somit alle Verstarkertypen aus, bei denen einer der Eingange auf Bezugspotential liegt. Mit dem in Abb. 7.34 gezeigten Instrumentenverstarker, der von einem Subtrahierverstarker mit zwei
vorgeschalteten Elektrometerverstarkern gebildet wird, werden die gestellten Anforderungen erf
ullt. Neben der hohen Gleichtaktunterdr
uckung zeichnet sich der Instrumentenverstarker vor allem durch gute Linearitatseigenschaften, hohen Eingangswiderstand sowie eine geringe Beeinussung durch
Eingangsst
orgroen aus. Die beiden Operationsverstarker 1 und 2 liefern die
Spannung u1


uE1 uE2
R1
R1
= 1+
uE1
uE2
u1 = uE1 + R1
(7.91)
R
R
R
bzw. die Spannung u2
uE1 uE2
=
u2 = uE2 R2
R


R2
R2
1+
uE2
uE1 .
R
R

(7.92)

F
ur eine reine Gleichtakteingangsspannung uE1 = uE2 = ugl ergibt sich demnach f
ur beide Stufen (1 und 2) eine Gleichtaktverstarkung vom Wert 1
u1
u2
=
=1.
ugl
ugl

(7.93)

212

7 Messverst
arker

Der nachgeschaltete Subtrahiererverstarker (OpAmp 3) liefert f


ur die folgendermaen dimensionierten Widerstande
R4
R6
=
R3
R5

(7.94)

die Ausgangsspannung uA (Gl. (7.43))


uA =

R4
(u2 u1 ) .
R3

(7.95)

Mit den Gln. (7.91) und (7.92) ergibt sich die Dierenzverstarkung zu

uA
R1 + R2
R4
.
(7.96)
1+
=
uE2 uE1
R3
R
Wenn man die Schaltung vollkommen symmetrisch aufbaut (R1 = R2 = R
und R3 = R4 = R5 = R6 ), folgt
2R
uA
.
=1+
uE2 uE1
R

(7.97)

Die Gleichtaktverstarkung der Gesamtschaltung ist dann aus Symmetriegr


unden (Gl. (7.93)) gleich Null. Die Dierenzverstarkung lasst sich u
ber R einstellen, ohne dass in die (abgeglichene) Stufe 3 eingegrien werden muss. Instrumentenverstarker sind komplett integriert als 1-Chip-Bausteine kommerziell
erh
altlich (z. B. LTC 2053 von Linear Technology (s. Tab. 7.1)).
7.2.3 Zerhacker-Verst
arker
Mit Hilfe von Zerhacker-Verstarkern, die auch unter dem Begri ChopperVerstarker bekannt sind, werden Gleichspannungen verstarkt, ohne dass groere Fehler durch Osetspannungen auftreten. Sie stellen hochwertige Gleichspannungsverstarker mit geringen Spannungsdriften (5. . . 25 nV/K) dar, allerdings weisen sie hohere Rauschpegel als Verstarker ohne Chopper auf.
Das Prinzip des Zerhacker-Verstarkers beruht auf der Umwandlung (Zerhacken) einer Gleichspannung in eine Wechselspannung, der Verstarkung dieser Wechselspannung mit einem Wechselspannungsverstarker und einer anschlieenden Synchron-Gleichrichtung. Abbildung 7.35 zeigt das Prinzip eines Eintakt-Zerhacker-Verstarkers. Der RC-Tiefpass am Eingang stellt sicher,
dass eventuell im Eingangssignal uE enthaltene hoher frequente Spektralanteile weggeltert werden; denn zum einwandfreien Funktionieren des ZerhackerVerst
arkers ist es notwendig, dass die Zerhackerfrequenz wesentlich groer
ist als die h
ochste zu verstarkende Signalfrequenz. Die Hochpasslternetzwerke C2 R2 und C3 R3 befreien Verstarkereingangs- und -ausgangssignal jeweils
vom Gleichspannungsanteil. F
ur den Fall eines idealen Wechselspannungsverst
arkers (frequenzunabhangige Verstarkung und keine Frequenzabhangigkeit der Phasenverschiebung) sorgt das synchrone Umschalten der beiden

7.2 Spezielle Messverst


arker

213

Abb. 7.35. Prinzipschaltung eines Zerhacker-Verst


arkers. Der Verst
arker V muss
keine Gleichspannungs
ubertragungseigenschaften aufweisen, da er als reiner Wechselspannungsverst
arker arbeitet. Die Signalverl
aufe gelten f
ur einen Verst
arker, der
einen Gesamt-Verst
arkungsfaktor (uA /uE ) von V = 2 aufweist.

Schalter S1 und S2 f
ur eine am Ausgangstiefpass R4 C4 anliegende Signalspannung, die im wesentlichen wieder eine Gleichspannung ist. Die Schalter
S1 und S2 arbeiten dabei als Synchrongleichrichter. Wenn f
ur die Zerhackerkreisfrequenz die Relation
1
takt
(7.98)
R4 C4
eingehalten wird, ergibt sich die Ausgangsspannung uA zu [93]
uA = V uE .

(7.99)

Als nachteilig kann sich bei Zerhacker-Verstarkern die geringe Signalbandbreite auswirken, welche auf die am Eingang notwendige Tiefpasslterung
zur
uckzuf
uhren ist. In der Praxis lassen sich nur Signalbandbreiten von etwa
0, 1 ftakt bis 0, 3 ftakt realisieren.

214

7 Messverst
arker

7.2.4 Ladungsverst
arker
Die elektrische Ladung kann mit Hilfe eines ballistischen Galvanometers gemessen werden. Das ballistische Galvanometer ist eine spezielle Ausf
uhrungsform des Drehspulmessgerates, dessen Wirkung darauf beruht, dass der ballistische Zeigerausschlag des Instrumentes unter bestimmten Bedingungen der
ihm zugef
uhrten elektrischen Ladung proportional ist (siehe Kap. 6.1.2). Mit
ballistischen Galvanometern sind Ladungsmessungen ab Q = 1 nC moglich,
wenn die Integrationszeit (jene Zeit, in der dem Drehspulmesswerk die Ladung
durch einen Strom zugef
uhrt wird) nicht groer ist als 10 % der Periodendauer der mechanischen Eigenschwingung des Galvanometers. In der modernen
(elektronischen) Messtechnik bedient man sich bei der Ladungsmessung elektronischer Verstarkerschaltungen, die als Ladungsverstarker bezeichnet werden. Mit Hilfe von Ladungsverstarkern lassen sich auch Ladungsmengen messen, die wesentlich kleiner sind als die oben angegebene Grenze von Q = 1 nC.
Beim Ladungsverstarker (Abb. 7.36) wird eine verlustarme Kapazitat C ver-

Abb. 7.36. Ladungsverst


arker

wendet, um die von einem Strom i(t) in einem denierten Zeitintervall [0,t]
gelieferte Ladung zu integrieren. Es gilt
 t
q(t) =
i(t ) dt = Cu(t) .
(7.100)
0

Bei Vernachlassigung der Eingangsdierenzspannung (uA = u(t)) folgt


uA (t) =

1
q(t) .
C

(7.101)

Die Ausgangsspannung uA (t) ist also proportional der vom Strom i(t) gelieferten Ladung q(t). Der eektive Eingangswiderstand eines idealen Ladungsverst
arkers betragt RE = 0. Problematisch sind bei Ladungs- und Integrationsverst
arkern die Nullpunktfehlergroen, die auch bei nicht vorhandenem
Eingangssignal eine Hochintegration der Ausgangsspannung bis zur Begrenzung durch eine der beiden Speisespannungen bewirken. Im Dauerbetrieb ist
entweder eine zyklische R
ucksetzung der Spannung an der Integrationskapazit
at notwendig, oder es muss mit einem hochohmigen Parallelwiderstand

7.3 Rauschen von Messverst


arkern

215

zur Kapazit
at daf
ur gesorgt werden, dass die durch Nullpunktfehler bedingte
langsame Auadung der Kapazitat durch einen ebenso groen Entladestrom
kompensiert wird.

7.3 Rauschen von Messverst


arkern
Unter Rauschen versteht man die statistische Abweichung eines Signals von
seinem Sollwert. Bei elektronischen Bauteilen und damit auch bei elektronischen Messverstarkern unterscheidet man die folgenden, auf unterschiedlichen
physikalischen Ursachen beruhenden Arten von Rauschen, welche verschiedenen Spektralbereichen zugeordnet werden konnen (Abb. 7.37).
spektrale Rauschleistungsdichte

PopcornRauschen
1/f - Rauschen
(Funkelrauschen)
Thermisches Rauschen,
Schrotrauschen

f
Abb. 7.37. Spektrale Zuordnung verschiedener Rauscharten

Thermisches Rauschen (Johnson-noise)


Das thermische Rauschen, das auch Widerstandsrauschen genannt wird,
ndet man in allen elektrischen Bauteilen mit Verlustwiderstanden. Es ist
auf willk
urliche Ladungstragerbewegungen (Warmebewegung der freien
Elektronen (Valenzelektronen)) zur
uckzuf
uhren, die mit der Temperatur
an Intensitat zunehmen. Ein ohmscher Widerstand kann bez
uglich seines
Rauschverhaltens durch eines der in Abb. 7.38 gezeigten Ersatzschaltbilder dargestellt werden [20]. Die Eektivwerte der dort gezeigten RauschErsatzspannungs- bzw. Rausch-Ersatzstromquelle lassen sich anhand der
sog. NYQUIST-Formel ermitteln:
NYQUIST-Formel in Bezug auf eine Ersatzspannungsquelle
2
Ure
= u2r (t) = 4kT RB

(7.102)

NYQUIST-Formel in Bezug auf eine Ersatzstromquelle (Abb. 7.38c)


2
Ire
= i2r (t) = 4kT

1
B.
R

(7.103)

216

7 Messverst
arker

R
R
ur
a)

G = 1R

bzw.
ir

b)

c)

Abb. 7.38. Ersatzrauschquellen eines ohmschen Widerstandes: a) rauschender


ohmscher Widerstand, b) Ersatzspannungsquelle: rauschfreier Widerstand mit
Rausch-Ersatzspannungsquelle, c) Ersatzstromquelle: rauschfreier Widerstand
(Leitwert G = 1/R) mit Rausch-Ersatzstromquelle

Dabei bezeichnen k = 1, 38 1023 Ws/K die Boltzmann-Konstante, T (K)


die absolute Temperatur, B (Hz) die Beobachtungsbandbreite, R () den
Wert des ohmschen Widerstandes, Ure die eektive Leerlaufspannung der
Rausch-Ersatzspannungsquelle und Ire den eektiven Kurzschlussstrom
der Rausch-Ersatzstromquelle. Das thermische Rauschen ist ein sog. Weies Rauschen, d. h. es zeigt im interessierenden Frequenzbereich keinerlei
spektrale Abhangigkeit.

Schrotrauschen (Schottky-Rauschen)
Das Schrotrauschen, das auch als Stromrauschen bzw. Schottky-Rauschen
bezeichnet wird, entsteht in Halbleitern, wenn Ladungstrager eine Sperrschicht passieren. Abbildung 7.39 zeigt die Rausch-Ersatzschaltung eines

rauschenden pn-Uberganges.
Es handelt sich hierbei ebenfalls um weies
Rauschen. Bei Operationsverstarkern wird das Schrotrauschen vom Eingangsruhestrom verursacht. Der entsprechende Eektivwert des Rauschstroms Irschrot ergibt sich aus dem Eingangsruhestrom IB , der Elektronenladung e0 sowie der Beobachtungsbandbreite B
2
Irschrot
= 2|e0 |IB B .

(7.104)

rauschfrei

rauschend
i rschrot

Abb. 7.39. Ersatzschaltung eines rauschenden pn-Uberganges


in Bezug auf sein
Schrotrauschen

1/f-Rauschen (Funkelrauschen)
Das 1/f-Rauschen, das auch als Funkelrauschen (Flicker Noise) bezeichnet

7.3 Rauschen von Messverst


arkern

217

wird, erzeugt ein Rauschsignal mit einer Spektralverteilung, die mit 1/f zu
h
oheren Frequenzen hin abfallt. Bei Halbleiterbauelementen werden Ober
acheneigenschaften daf
ur verantwortlich gemacht, genau genommen handelt es sich dabei um uktuierende Umladungen von Oberachenzustanden
[20]. Das Funkelrauschen ist von seiner spektralen Verteilung her gesehen
ein Rosa Rauschen, d. h. ein Rauschen, dessen charakteristisches Merkmal
eine konstante Rauschleistung pro Frequenzdekade ist.

Rekombinationsrauschen (r-g-noise) (Quantenrauschen)


Das Rekombinationsrauschen ist auf das willk
urliche Einfangen (Trapping)
und Freigeben von Ladungstragern in Halbleitern zur
uckzuf
uhren, d. h. es
wird durch die zufallige Generation bzw. Rekombination von Ladungstr
agern hervorgerufen.

Popcorn-Rauschen
Das Popcorn-Rauschen, das auch als Burst-Rauschen bezeichnet wird, ist
auf metallische Verunreinigungen im Halbleiter zur
uckzuf
uhren und auert

sich in Form zufallig auftretender Anderungen


der Gleichstrom-Parameter.
Es erscheint in der spektralen Rauschleistungsverteilung in Form eines
diracf
ormigen Gleichanteils bei der Frequenz f = 0 (Abb. 7.37) [64].

Die Beschreibung des Verst


arkerrauschens
Das Verst
arkerrauschen wird im Allgemeinen in Form der von den (internen) Rauschquellen des Verstarkers erzeugten Rauschleistung bzw. der daraus resultierenden Reduzierung des Signal/Rausch-Verhaltnisses zwischen
Eingangs- und Ausgangstor angegeben. Der Berechnung dieses Signal/RauschVerh
altnisses legt man bei Vierpolen und somit auch bei Verstarkern die
in Abb. 7.40 gezeigte Rauschersatzschaltung zugrunde. Dabei wird das eigentliche Verstarkerrauschen durch die Angabe einer Rauschspannungsquelle
und einer Rauschstromquelle beschrieben. Beide Rauschquellen sind auf den
Verst
arkereingang bezogen. Diese Rauschersatzquellen sind im Allgemeinen

durch die spektralen Werte der Rauschspannungsdichte


Ufr (f ) [nV/ Hz] bzw.

der Rauschstromdichte Ifr (f ) [pA/ Hz] gekennzeichnet. Die aquivalente Rauscheingangsspannung UrEges am Verstarkereingang erhalt man durch quadra
tische Uberlagerung
der von den Rauschquellen am Verstarkereingang hervorgerufenen Spannungsanteile. Diese wiederum ergeben sich aus der Integration
der spektralen Rauschdichtegroen u
ber das Frequenzintervall [fmin , fmax ],
in dem gemessen wird. Die Eektivwerte der Rauschspannung Ure sowie des
Rauschstromes Ire berechnen sich demnach wie folgt

2
=
Ure

2
Ire
=

fmax

fmin
 fmax
fmin

Ufr2 (f ) df

(7.105)

Ifr2 (f ) df .

(7.106)

218

7 Messverst
arker

Rauschspannungsquelle

ur

Rauschstromquelle
ir

uE

uA

uE

uA

RE

RE
Vierpol mit
Rauschquellen

rauschender Verstrker

rauschfreier Verstrker

Abb. 7.40. Ersatzschaltung eines rauschenden Verst


arkers

Infolge der ohmschen Spannungsteilung (Abb. 7.41) ergibt sich die quadrati
sche Uberlagerung
der Eektivwerte zu


2
RE
RE RQ
2
2
UrEges = Ure
+ Ire
.
(7.107)
RE + RQ
RE + RQ

Rausch-ErsatzSpannungsquelle
RQ

ir
uE

ur

uA
RE

U0Signal
Rausch-ErsatzStromquelle

Abb. 7.41. Rauschersatzschaltung eines mit einer Signalquelle beschalteten elektrischen Vierpoles

Die Spannung UrEges ist der Eektivwert der auf den Verstarkereingang bezogenen Rauschspannung, welche das gesamte Verstarkerrauschen im Frequenzintervall [fmin , fmax ] reprasentiert, d. h. der in Abb. 7.41 gezeigte eigentliche
Verst
arker ist frei von Rauschquellen. In obiger Ableitung wurde die Korrelation zwischen den beiden Rauschquellen vernachlassigt, was in vielen praktischen F
allen in erster Naherung erlaubt ist. F
ur den Fall nicht vernachlassigbarer Korrelation ndet sich die entsprechende Herleitung in der Literatur,
z. B. in [111].
Das Rauschen von Operationsverst
arkern
Im Gegensatz zu den oben beschriebenen Verstarkern ist beim Operationsverst
arker zu beachten, dass es sich hier nicht um ein Zweitor handelt. Der

7.3 Rauschen von Messverst


arkern

219

Eingang des Operationsverstarkers besteht strenggenommen aus drei Klemmen (invertierender Eingang, nichtinvertierender Eingang und Masse). Daher sind f
ur die Beschreibung des Rauschens von Operationsverstarkern drei
voneinander unabhangige Rauschquellen erforderlich. Abbildung 7.42 zeigt
ur
uD

uA

uD

uA

i r,1

i r,2

Abb. 7.42. Rauschersatzschaltung eines Operationsverst


arkers

einen Operationsverstarker und dessen Rauschersatzschaltung. Die Beschreibung mit einer Spannungsquelle und zwei Stromquellen ist die gangigste Darstellung, wenn auch prinzipiell andere Darstellungsformen moglich sind. F
ur
die Stromquellen gilt aus Symmetriegr
unden, dass die Rauschleistungsdichten
gleich sind
i2r,1 = i2r,2 .
(7.108)
Die Stromquellen sind dennoch als unkorreliert zu betrachten. Beispiele zum
Rauschen von Operationsverstarkern nden sich in [102].
Signal/Rausch-Verh
altnis
Das Signal/Rausch-Verhaltnis (Signal-to-Noise-Ratio) S/N an einem elektrischen Tor ist deniert als das Verhaltnis von Signalspannung zu Rauschspannung an diesem Tor. So ergibt sich das Signal/Rausch-Verhaltnis am Ausgangstor des Verstarkers zu


S
UArauschfrei
[dB] = 20 lg
,
(7.109)
N
UrA
wobei UArauschfrei das Nutzsignal am Verstarkerausgang (Eektivwert) und
UrA die Rauschspannung am Verstarkerausgang (Eektivwert) bezeichnen.
Das Signal/Rausch-Verhaltnis lasst sich aber auch auf den Verstarkereingang
beziehen. F
ur die in Abb. 7.41 gezeigte Beschaltung des Verstarkers gilt
#
" RE


S
UErauschfrei
RQ +RE U0Signal
[dB] = 20 lg
,
(7.110)
= 20 lg
N
UrEges
UrEges
wobei UErauschfrei das Nutzsignal am Verstarkereingang (Eektivwert) und
UrEges die Rauschspannung am Verstarkereingang (Eektivwert) bezeichnen.

220

7 Messverst
arker

Bei obiger Berechnung wurde die Signalquelle (Abb. 7.41) zunachst als rauschfrei angenommen. Soll das Rauschen des Innenwiderstandes RQ der Signal
quelle ber
ucksichtigt werden, muss UrEges in Gl. (7.110) durch UrEges
ersetzt
werden

2

RE

2
UrEges
= UrEges
+ 4kT RQ(fmax fmin )
,
(7.111)
RQ + RE
wobei UrEges die bereits in Gl. (7.107) berechnete, von den internen Rauschquellen des Verstarkers hervorgerufene Rauschspannung bezeichnet.
Rauschzahl
Die Rauschzahl F eines rauschenden (Verstarker-)Vierpols ist deniert als das
Verh
altnis von Signal/Rausch-Verhaltnis am Eingangstor zum Signal/RauschVerh
altnis am Ausgangstor
F =

PsE
PrE
PsA
PrA

PsE PrA
.
PsA PrE

(7.112)

Dabei bezeichnen PsE die Signalleistung am Eingang, PsA die Signalleistung


am Ausgang, PrE die Rauschleistung am Eingang (die von der Signalquelle oder von externen Storquellen eingespeiste Rauschleistung) und PrA die
Rauschleistung am Ausgang. Die Rauschzahl wird oft auch in logarithmischer
Form angegeben
F (dB) = 10 lg F .
(7.113)
Unter Einbeziehung der Leistungsverstarkung Vp des Vierpols
PsA
PsE

(7.114)

PrA
.
Vp PrE

(7.115)

Vp =
erh
alt man
F =

Wenn man voraussetzt, dass der Verstarker f


ur das Signal und das Rauschen
dieselbe Leistungsverstarkung aufweist, folgt f
ur die Rauschleistung PrA am
Ausgang
PrA = PrE Vp + PrAamp = PrE Vp + PrEamp Vp = PrEtot Vp ,

(7.116)

wenn PrEamp die auf den Verstarkereingang bezogene und PrAamp die auf
den Ausgang bezogene Rauschleistung des Verstarkers darstellen. Aus den
Gln. (7.115) und (7.116) folgt f
ur die Rauschzahl F
F =

PrEtot
PrAamp
PrEamp
=1+
=1+
= 1 + Fz .
PrE
PrE Vp
PrE

(7.117)

7.3 Rauschen von Messverst


arkern

221

Der Term Fz bezeichnet die sog. Zusatzrauschzahl, welche im Falle eines nichtrauschenden Verstarkers identisch Null ist, d. h. F = 1. Da die Leistungen
PrEtot und PrE am selben Widerstand, namlich dem Eingangswiderstand RE
des Verst
arkers, wirken, folgt mit den oben gewahlten Bezeichnungen und der
Rauschspannung UrEges aus Gl. (7.107)
F =1+

2
UrEges
= 1 + Fz .
2
UrQuelle

(7.118)


In Gl. (7.118) bezeichnet UrQuelle
die eektive Rauschspannung der Quelle,
die mit dem Teilerverhaltnis des Eingangsspannungsteilers gewichtet am Verst
arkereingang wirksam wird

UrQuelle
= UrQuelle

RE
.
RE + RQ

(7.119)

Wenn das Rauschen der Quelle durch das thermische Rauschen des Innenwiderstandes RQ der Quelle beschrieben werden kann, folgt f
ur die entsprechende Rauschspannung UrQuelle
2
UrQuelle
= 4kT RQ(fmax fmin ) .

(7.120)

Im Weiteren wollen wir annehmen, dass der Eingangswiderstand RE des


Verst
arkers wesentlich groer ist als der Innenwiderstand der Signalquelle
(RE RQ ). Unter dieser Annahme folgt mit Gl. (7.107) und den Gln. (7.118)(7.120)
2
2
2
Ure
+ Ire
RQ
F =1+
= 1 + Fz .
(7.121)
4kT RQ(fmax fmin )
Im Allgemeinen deniert man noch den sog.
aquivalenten Rauschwiderstand
Rr und den aquivalenten Rauschleitwert Gr des Vierpols, indem man den in
Gl. (7.121) vorkommenden Rauschleistungen diese Werte wie folgt zuordnet
2
Ure
= 4kT (fmax fmin )Rr
2
Ire
= 4kT (fmax fmin )Gr .

(7.122)
(7.123)

Damit l
asst sich Gl. (7.121) in folgender Form schreiben
F =1+

2
Rr + Gr RQ
.
RQ

(7.124)

Die durch Gl. (7.124) beschriebene Funktion F durchlauft in Abhangigkeit von


RQ ein charakteristisches Minimum (Abb. 7.43). Man spricht von Rauschanpassung, wenn der Minimalwert Fmin der Rauschzahl erreicht wird. Der dazu
notwendige optimale Innenwiderstand RQopt der Signalquelle ergibt sich durch
Ableitung von Gl. (7.124) nach RQ und anschlieendem Nullsetzen zu

222

7 Messverst
arker
log F

F min
R Q opt

log R Q

Abb. 7.43. Abh


angigkeit der Rauschzahl vom Quellenwiderstand RQ


RQopt =

Rr
.
Gr

(7.125)

Damit l
asst sich auch die bestenfalls erreichbare minimale Rauschzahl Fmin
angeben

Ure Ire
.
(7.126)
Fmin = 1 + 2 Rr Gr = 1 +
2kT (fmax fmin )
Rauschen von Kettenschaltungen
Um die resultierende Rauschzahl einer Verstarker-Kettenschaltung (Abb. 7.44)
zu ermitteln, wird zunachst jedem Vierpol eine Ersatzrauschspannungsquelle
(mit der eektiven Rauschspannung UrEgesi ) zugeordnet, welche die internen
Rauschquellen des Vierpoles aquivalent ersetzt. Wenn man alle Spannungen
auf den Eingang der ersten Vierpolstufe bezieht, folgt f
ur den Signal/RauschVerh
altnis
"
#
S
U0Signal
= 20 lg
(7.127)

N
UrEges

U0Signal
= 20 lg

U2
2
2
UrQuelle
+ UrEges1
+ rEges2
+
V2
u1

2
UrEges3
2 V2
Vu1
u2

+ ...

wobei UrEgesi die Ersatzrauschspannung des i-ten Vierpols und Vui die Spannungsverst
arkung des i-ten Vierpols bezeichnen.
Friis hat in einer grundlegenden Arbeit [60] die Gesamtrauschzahl Fges einer
Vierpol-Kettenschaltung abgeleitet (siehe auch [20])
Fges = F1 +

F2 1
F3 1
Fn 1
+
+ ...+
.
Vp1
Vp1 Vp2
Vp1 Vp2 . . . Vp(n1)

(7.128)

In Gl. (7.128) bezeichnen Fi die Rauschzahl des i-ten Vierpoles und Vpi seine
Leistungsverstarkung. F
ur mehrstuge Verstarkerschaltungen kann bei gen
u-

7.3 Rauschen von Messverst


arkern

UrQuelle UrEges1

223

UrEgesn

UrEges2
.....

RQ
U0Signal

Vierpol 1

Vierpol 2

Vierpol n

VU1

VU2

VUn
.....

Abb. 7.44. Rauschen von Vierpol-Kettenschaltungen

gend hoher Leistungsverstarkung der einzelnen Stufen folgende Naherung angenommen werden
F1

F2 1
F3 1
Fn 1

...
.
Vp1
Vp1 Vp2
Vp1 Vp2 . . . Vp(n1)

(7.129)

Dies bedeutet, dass das Rauschverhalten der Kettenschaltung im Wesentlichen


vom Rauschen der Eingangsstufe bestimmt wird.
Rauschmessung: Bestimmung der Rauschzahl
Ein ohmscher Widerstand gibt bei der absoluten Temperatur T gema den
Gln. (7.102) und (7.103) im Frequenzintervall B = fmax fmin bei Leistungsanpassung die Rauschleistung PrR ab
PrR = kT B ,

(7.130)

wobei k die Boltzmann-Konstante k = 1, 38 1023 Ws/K bezeichnet. Leistungsanpassung heit, dass der rauschende Widerstand seine Leistung an
einen Zweipol bzw. das Eingangstor eines Vierpols abgibt, dessen Innenwiderstandswert mit dem des Rauschwiderstandes u
bereinstimmt, so dass am Zweipol nur die Halfte der urspr
unglichen Rauschspannung (Gl. (7.102)) anliegt.
Die auf diese Weise von einem ohmschen Widerstand abgegebene Rauschleistung h
angt nicht vom Widerstandswert ab, sondern wird nur von der Temperatur des Widerstandes und der Beobachtungsbandbreite B bestimmt.
Gem
a einer zweiten Rauschzahl-Denition gibt die Rauschzahl F auch
an, um welchen Faktor ein Vierpol mit der Leistungsverstarkung Vp bei der
Referenztemperatur T0 = 290 K die thermische Rauschleistung PrR des Innenwiderstandes der Signalquelle durch sein Eigenrauschen vergroert [111].
Die Umrechnung in die urspr
ungliche Denition (Gl. (7.112)) lasst sich wie
folgt durchf
uhren
F =

PsE PrA
PrA
PrA
.
=
=
PsA PrE
Vp PrR
Vp kT0 B

(7.131)

Gleichung (7.130) ndet Anwendung, um die Rauscheigenschaften von Vierpolen durch Angabe einer ktiven Rauschtemperatur TR zu beschreiben. Dazu

224

7 Messverst
arker

wird der Rauschleistung PrE mit Hilfe von Gl. (7.130) die Temperatur T0 und
der Rauschleistung PrEamp die Temperatur TR zugeordnet (s. auch Abb. 7.45).

Abb. 7.45. Prinzipschaltung zur Messung der Rauschzahl eines Verst


arkers (=DUT
(Device Under Test)). Der Widerstand R gibt im Frequenzintervall B die temperaturabh
angige Rauschleistung PrE = PrR = kT B ab. Es wird Leistungsanpassung
zwischen dem als Rauschgenerator dienenden ohmschen Widerstand R und dem
Verst
arkereingang vorausgesetzt.

Mit Gl. (7.117) ergibt sich dann die ktive Rauschtemperatur TR zu


TR = (F 1)T0 .

(7.132)

Die Rauschmessung kann mit Hilfe der Prinzipschaltung nach Abb. 7.45 erfolgen. Dabei wird die Rauschleistung am Ausgang eines Verstarkers, dessen Rauschzahl gemessen werden soll, f
ur zwei unterschiedliche (aber bekannte) Eingangsrauschleistungen mit Hilfe eines Leistungsmessgerates gemessen.
Bei linearem Verhalten des Verstarkervierpols gilt f
ur die Gesamtrauschleistung PrA an seinem Ausgang in Abhangigkeit der am Eingang eingespeisten
Rauschleistung PrE = kT B (Abb. 7.46)
PrA0 = kT0 BVp + Pramp = kT0 BVp F

(7.133)

PrA1 = kT1 BVp + Pramp ,

(7.134)

bzw.
wobei Pramp die Gesamtrauschleistung der internen Rauschquellen des Verst
arkers bezeichnet. Infolge des linearen Verhaltens (Abb. 7.46) gilt weiterhin
F =

T1
T0 1
PrA1
PrA0 1

(7.135)


PrA1
T
10 lg
1 ,
(7.136)
T0
PrA0
wobei T = T1 T0 die Rauschtemperaturdierenz beschreibt. In der Praxis
werden keine rauschenden Widerstande sondern Rauschgeneratoren verwendet, die in der Lage sind, deniert einstellbare Rauschleistungen abzugeben.

bzw.

F (dB) = 10 lg

7.3 Rauschen von Messverst


arkern

225

PrA
PrA1
kTBVP

PrA0 = kT 0 BVP F
Pramp

-T R = -

Pramp
kBVP

T0

T1

P rE0

PrE1

PrE =kTB

Abb. 7.46. Rauschleistung am Vierpolausgang als Funktion der Temperatur des


Quellwiderstandes bzw. als Funktion der Eingangsrauschleistung. Die Steigung beider Geraden betr
agt kBVp

Im Allgemeinen wird dann auch die in dB gemessene Rauschleistungserhohung


ENR (Excess Noise Ratio)


T
EN R = 10 lg
(7.137)
T0
anstatt der Rauschtemperaturdierenz T angegeben. Der Quotient PrA1 /PrA0
wird oft auch als Y-Faktor bezeichnet
Y =

PrA1
.
PrA0

(7.138)

Daraus folgt
F (dB) = EN R 10 lg(Y 1) .

(7.139)

Bei vorgegebenem Wert von ENR kann mit Hilfe eines geeigneten Leistungsmessers der Y-Faktor gemessen und damit die Rauschzahl anhand von
Gl. (7.139) bestimmt werden. Diese Art der Rauschmessung wird oft auch als
Y-Faktor-Methode bezeichnet. Als Rauschgenerator (Noise Source) kann
man eine der handels
ublichen Rauschquellen verwenden. Einer der meist gebr
auchlichen Rauschgeneratoren ist die Rauschquelle No. 346 in Ausf
uhrungsform A, B bzw. C (Abb. 7.47). Diese Quelle ist in der Lage, Rauschsignale im
Frequenzbereich 10 MHz bis 26,5 GHz zu liefern. Ihr Excess Noise Ratio betr
agt 15 dB, entsprechend einer Rauschtemperatur von etwa 10.000 K (s. Gl.
(7.137)). Die Kalibrierung des ENR-Wertes hat aufgrund der hohen Bandbreite, die das Gerat abdeckt, f
ur spezische Frequenzbander separat zu erfolgen.
Abbildung 7.47b zeigt einen weiteren handels
ublichen Rauschgenerator, der
bis 50 GHz speziziert ist. Als eigentliche Rauschquellen werden in diesen
Rauschgeneratoren Siliziumdioden mit niedriger Kapazitat genutzt, die mit

226

7 Messverst
arker

Hilfe einer Konstantstromquelle im Bereich ihres Zenerdurchbruchs betrieben


werden. Die Dioden liefern in diesem Betriebszustand bis zu Frequenzen von
ca. 50 GHz ein nahezu konstantes Rauschspektrum [3], [74], [75].

a)

b)

Abb. 7.47. Standard-Rauschquellen: a) Rauschgenerator 346B; b) Rauschgenerator 4001A

Die Rauschzahl kann schlielich mit Hilfe eines Rauschzahlmessgerates (NFA


(Noise Figure Analyzer)) (Abb. 7.48) oder auch eines Spektrumanalysators ge-

Abb. 7.48. Rauschzahlmessger


at (Noise Figure Analyzer (NFA))

messen werden. Das Herz eines Noise-Figure-Analysators besteht aus einem


hochgenauen Leistungsmesser (Power Detector), der in Kombination mit einem Rauschgenerator die Rauschzahl nach der oben beschriebenen Y-FaktorMethode bestimmt. Da Spektrumanalysatoren in der Lage sind, spektrale
Leistungsdichteverteilungen zu messen, lat sich mit ihrer Hilfe ebenfalls die
Rauschzahl in Abhangigkeit der Frequenz bestimmen. Gegen
uber einem reinen Rauschzahlmessgerat besitzen sie den Vorteil einer universellen Verwendbarkeit.

7.3 Rauschen von Messverst


arkern

227

Rauschzahlmessung in geschirmter Umgebung


Die Messung von Rauschzahlen erweist sich in normaler Laborumgebung
aufgrund der dort im Allgemeinen vorhandenen Storein
usse oft als nicht
durchf
uhrbar. Dies gilt insbesondere dann, wenn eine niedrige Rauschzahl
(F < 3 dB) gemessen oder wenn eine hohe Messgenauigkeit gefordert wird.
Solche Messungen erfordern dann entweder einen speziellen EMV-Messraum
oder zumindest eine Messbox, die f
ur die notwendige Abschirmung gegen auere elektromagnetische Felder und auch Leitungsstorungen sorgt. Kommerziell
erh
altlich gibt es verschiedene Ausf
uhrungsformen solcher Messboxen. Eine
davon wird von dem Messgerate-Hersteller Rohde & Schwarz (R & S) angeboten [192]. Ihre aueren Abmessungen (BHT) betragen ca. 700 mm
300 mm 500 mm. Der Pr
uing (DUT (Device Under Test)) wird zur Messung in das geschirmte Innere der Messbox gegeben. Die Box weist in ihrer
H
ulle eine elektromagnetische Schirmung auf, die f
ur eine obere Frequenz von
3 GHz und ein (frequenzabhangiges) Schirmma von 40 bis 75 dB speziziert
ist. In Verbindung mit einem Rauschgenerator und einem Vorverstarker, die
sich ebenfalls beide in der Messbox benden, sowie einem auerhalb der Box
bendlichen Spektrumanalysator wird das Messsystem zur Rauschzahlmessung komplettiert (Abb. 7.49). Die Rauschmessung kann dabei automatisch
per Softwaresteuerung von statten gehen. Dazu wird eine spezielle Messsoftware (FS-3K) zur Verf
ugung gestellt, die seitens des Spektrumanalysators,
beispielsweise ein FSPx (x=3/7/13/30 steht f
ur die obere Grenzfrequenz des
Analysators in GHz) von R & S, eine 28 V Gleichspannung bereitstellt. Mittels dieser Spannung wird der Rauschgenerator gezielt ein- und ausschaltet.
Im ausgeschalteten Zustand betragt seine Rauschtemperatur T0 =290 K (s.
Abb. 7.46), wahrend sich im eingeschalteten Zustand die Rauschtemperatur
um T auf T1 erhoht. Der Wert von T lasst sich aus Gl. (7.137) aus dem
von Hersteller angegebenen ENR-Wert ermitteln. Das vor der Rauschquelle
angeordnete Filter dient der Eliminierung von Storungen, die sich eventuell
auf der 28V-Leitung benden. Das Mesignal gelangt nach der (eventuellen)
Vorverst
arkung auf den Eingang des Spektrumanalysators. Der Spektrumanalysator mit die frequenzabhangigen Signalleistungen (Y-Faktor) in Abhangigkeit des vom Rauschgenerator vorgegebenen ENR-Wertes. Der Vorverstarker
wird aus Entstorgr
unden von einem in der Mebox bendlichen Akkumulator gespeist. F
ur den Fall, da das Testobjekt einen Anschlu nach auen
ben
otigt, sind weitere Anschl
usse in Form entstorter Leitungsdurchf
uhrungen
vorhanden.

228

7 Messverst
arker
28 VDC

Spektrumanalysator FSPx

elektromagnetisch
geschirmte
Messbox
Device
under Test

Vorverstrker
Akku

optionale
Anschlussleitungen
fr DUT

DUT

Rauschgenerator

Filter

Abb. 7.49. Rausch-Messplatz mit elektromagnetisch geschirmter Messbox der Firma Rohde & Schwarz [192]

8
Messung der elektrischen Leistung

8.1 Leistungsmessung im Gleichstromkreis


Die elektrische Leistung P an einem elektrischen Tor ergibt sich aus dem
Produkt von Spannung U und Strom I
P = UI .

(8.1)

Diese Leistung kann mit Hilfe eines elektrodynamischen Messwerkes gemessen


werden. Dazu schickt man den Strom I durch die Feldspule (Widerstand RWA )
und legt die Spannung U an die Drehspule (Widerstand RWV ) an. Abbildung
8.1 zeigt die entsprechende Schaltung mit dem elektrodynamischen Messwerk.
Falls der Strom I2 durch die Drehspule gegen
uber dem Verbraucherstrom IV
vernachl
assigt werden darf, ist der Zeigerausschlag proportional zur Leistung PV des Verbrauchers
1 I2 = k(I
2 + IV )I2 kI
V I2
= kI
V UV = kUV IV = kPV .
= kI
RWV

(8.2)

Die Feldspule sollte wegen der Strommessung niederohmig und die Drehspule
wegen der Spannungsmessung hochohmig sein.

Abb. 8.1. Leistungsmessung mit einem elektrodynamischen Messwerk. Der Punkt


kennzeichnet die Polarit
at des Spannungspfades.

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_8

230

8 Messung der elektrischen Leistung

Abb. 8.2. Leistungsmessung mit einem elektrodynamischen Messwerk: a) Es werden der Quellstrom und die Verbraucherspannung richtig gemessen. b) Es werden
die Quellspannung und der Verbraucherstrom richtig gemessen.

Die von der Quelle gelieferte Leistung PQ teilt sich in die vom Verbraucher
umgesetzte Leistung PV und die vom Messgerat benotigte Leistung PM
PQ = PV + PM .

(8.3)

Wie anhand von Abb. 8.2 deutlich wird, kann ein elektrodynamisches Messwerk stromrichtig oder spannungsrichtig angeschlossen werden. Die Begrie
strom- und spannungsrichtig beziehen sich dabei entweder auf die Quellenseite (Quellentor) oder die Verbraucherseite (Verbrauchertor) des Messgerates.
Spannungsrichtig in Bezug auf die Verbraucherseite heit, dass die am Verbraucherwiderstand RV anliegende Spannung UV gemessen wird, wahrend der
Strom, der durch die Stromspule des Messgerates iet, dem Quellstrom, d. h.
also der Summe aus Verbraucherstrom IV und Drehspulenstrom I2 , entspricht
(Abb. 8.2a). Bei der in Bezug auf die Verbraucherseite stromrichtigen Messung
ist es umgekehrt, hier wird der richtige Wert des Verbraucherstroms gemessen,
w
ahrend am Spannungseingang die Summe aus Verbraucherspannung und
Feldspulenspannung anliegt. Eine korrekte Messung der Verbraucherleistung
PV bzw. der Quelleistung PQ ist erst moglich, wenn das elektrodynamische
Messwerk um eine Korrekturspule erweitert wird, welche dieselbe Windungszahl aufweist wie die Stromspule (Abb. 8.3). Durch diese Korrekturspule iet
der Strom, den auch die Drehspule f
uhrt (I2 ). Bei der Stromrichtung nach
Abb. 8.3a addiert sich die Wirkung dieses Korrekturspulenstroms zu der des
Feldspulenstroms I1 , so dass die Leistung quellrichtig gemessen wird. Bei Stromumkehr nach Abb. 8.3b kann die Leistung verbraucherrichtig gemessen werden. Es sollte jedoch erwahnt werden, dass generell bei allen Messungen durch
das Einbringen des elektrodynamischen Messwerkes systematische Messfehler

Abb. 8.3. Leistungsmessung mit einem elektrodynamischen Messwerk, das mit


einer Korrekturspule ausgestattet ist: a) Es wird die Quelleistung richtig gemessen.
b) Es wird die Verbraucherleistung richtig gemessen.

8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis

231

auftreten. So wird bei einer verbraucherrichtigen Messung beispielsweise zwar


die aktuelle Verbraucherleistung korrekt erfasst, die Verbraucherleistung jedoch, die bei nicht vorhandenem Messwerk im Verbraucher umgesetzt w
urde,
erh
alt man erst nach einer Fehlerkorrektur der systematischen Messfehler.

8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis


8.2.1 Begrisdenitionen
Nachdem sich mit Hilfe der Fourieranalyse jeder beliebige periodische Zeitverlauf einer Spannung bzw. eines Stromes in seine rein sinusformigen Spektralkomponenten zerlegen und in Form einer Fourierreihe darstellen lasst,
k
onnen wir uns im Folgenden ohne Einschrankung der Allgemeinheit auf rein
sinusf
ormige Zeitverlaufe beschranken
u(t) =
i(t) =

sin(t + u )
U
I sin(t + i ) .

(8.4)
(8.5)

Die entsprechenden Eektivwertbetrage erhalt man mit der Denition aus


Kap. 6.3.1

U
Ue =
2
I
Ie = .
2

(8.6)
(8.7)

Die Wechselgroen aus Gln. (8.4) und (8.5) lassen sich alternativ in komplexer
Schreibweise als Zeigergroen
eju U = U
eju
U =U
ji I = Ie
ji ,
I = Ie

(8.8)
(8.9)

oder als Eektivwertzeiger angeben


U e = Ue eju
I e = Ie eji .

(8.10)
(8.11)

8.2.2 Leistungsmessung im Einphasennetz


In (einphasigen) Wechselstromkreisen sind die folgenden Leistungsgroen deniert:

232

8 Messung der elektrischen Leistung

Komplexe Leistung P
Die komplexe Leistung P ist folgendermaen deniert
P = U e I e = Ue Ie eju i
= Ue Ie ejui

(8.12)

P = Re(P ) + jIm(P ) = PW + jPB .

(8.13)

Wirkleistung PW
Die Wirkleistung PW ist der Teil der komplexen elektrischen Leistung, der
in der Impedanz Z in eine andere (nicht-elektrische) Energieform, wie z. B.
in mechanische Energie oder in Warmeenergie umgesetzt wird. Sie entspricht
dem Produkt von Spannungs- und Stromeffektivwert, multipliziert mit dem
Cosinus der Phasenwinkeldierenz zwischen Strom und Spannung (Einheit
Watt (W))
PW = Re(P ) = Ue Ie cos ui .
(8.14)
Die Messung der Wirkleistung kann direkt mit Hilfe eines elektrodynamischen Messwerkes erfolgen, da bei diesem der Zeigerausschlag dem Produkt
I1e I2e cos proportional ist (Gl. (6.47)). Es gelten ansonsten die bereits f
ur
den Gleichstromkreis aufgestellten Regeln (Kap. 8.1).
Blindleistung PB
Die Blindleistung PB wird durch das Speicherverhalten einer komplexen Impedanz verursacht. Dieser Teil der Leistung pendelt periodisch zwischen der
Quelle und dem Verbraucher mit der Impedanz Z hin und her (Einheit VoltAmpere-reaktiv (VAR bzw. VAr))
PB = Im(P ) = Ue Ie sin ui .

(8.15)

Die Blindleistung wird ebenfalls mit Hilfe eines elektrodynamischen Messwerkes bestimmt. Allerdings muss ein 90 -Phasenschieber verwendet werden, der
den Strom des Spannungspfades gegen
uber der Spannung U V um 90 dreht

Abb. 8.4. Messung der Blindleistung in einem Wechselstromkreis mit Hilfe eines
elektrodynamischen Messwerkes und einem 90 -Phasenschieber.

8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis

233

(Abb. 8.4). F
ur den Zeigerausschlag gilt dann
1e I2e cos kIVe UVe cos( 90 ) = kIVe UVe sin .
= kI

(8.16)

Da die 90 -Phasenverschiebung frequenzabhangig ist, sind die Gerate zur


Blindleistungsmessung u
ur eine Frequenz von 50 Hz bzw. 60 Hz
blicherweise f
konzipiert. F
ur stark oberwellenhaltige Signale ergeben sich daher fehlerhafte Messwerte. Die Blindleistung wird bei induktiven Lasten positiv und bei
kapazitiven Lasten negativ angezeigt.
Scheinleistung PS
Die Scheinleistung ist die in einer komplexen Impedanz Z umgesetzte Leistung. Sie entspricht dem Produkt der Eektivwerte von Strom und Spannung
an der Impedanz Z (Einheit Volt-Ampere (VA))

2 + P2 .
(8.17)
PS = |P | = Ue Ie = PW
B
Messtechnisch lasst sich die Scheinleistung am einfachsten durch separate
Strom- und Spannungsmessungen der Eektivwerte Ie und Ue und die anschlieende Produktbildung gema Gl. (8.17) ermitteln.
8.2.3 Leistungsmessung in Drehstromsystemen
Prinzipielle Schaltungsvarianten in Drehstromsystemen
Bei Drehstromsystemen unterscheidet man zwischen dem 3-Leiter-System und
dem 4-Leiter-System, je nachdem, ob ein Neutralleiter vorhanden ist oder
nicht. Abbildung 8.5 zeigt beide Varianten. Die komplexen Verbraucher Z 1 ,

Abb. 8.5. a) 4-Leiter-Drehstromsystem mit Sternschaltung der Verbraucher (N:


Neutralleiter), b) 3-Leiter-Drehstromsystem mit Dreieckschaltung der Verbraucher

234

8 Messung der elektrischen Leistung

Z 2 und Z 3 k
onnen in Form einer Sternschaltung (Abb. 8.5a) oder einer Dreieckschaltung (Abb. 8.5b) zusammengeschaltet werden. Beim 4-Leiter-System
hat man zwischen den Leiterspannungen (verkettete Spannung) U 12 , U 23 und
U 31 (Spannungen zwischen zwei Auenleitern) und den Sternspannungen U 1N ,
U 2N und U 3N (Spannungen zwischen Auenleiter und Neutralleiter) zu unterscheiden (Abb. 8.5). Der Neutralleiter wird auch als Sternpunkt bezeichnet.
Im Falle eines 3-Leiter-Systems kann man sich zu messtechnischen Zwecken
(Abb. 8.9) einen k
unstlichen Sternpunkt N  schaen, indem man die drei Leiter L1 , L2 und L3 jeweils mit einem hochohmigen Widerstand R zu dem
k
unstlichen Sternpunkt N  verbindet.
Im Folgenden wollen wir zunachst eine symmetrische Belastung voraussetzen, d. h. die drei Lastimpedanzen sind identisch Z 1 = Z 2 = Z 3 . Im Zeigerdiagramm (Abb. 8.6) erkennt man, dass sowohl die Leiterspannungen als
auch die Sternspannungen um jeweils 120 gegeneinander phasenverschoben
sind. In Drehstromnetzen gilt generell
U 12 = U 1N U 2N
U 23 = U 2N U 3N

(8.18)
(8.19)

U 31 = U 3N U 1N .

(8.20)

Dabei sollte erwahnt werden, dass sich in 3-Leiter-Systemen die Bezeichnung


N auf den k
unstlichen Sternpunkt N  bezieht. Im Speziellen gilt bei symmetrischer Belastung
U 1N = U
U 2N = U e
U 3N = U e

(8.21)
j120
+j120

(8.22)
(8.23)

und
|U 31 | =

|U 1N |2 + |U 3N |2 2|U 1N ||U 3N | cos 120 = |U 1N | 3 . (8.24)

Die Leiterspannungen sind betragsmaig stets gleich

Abb. 8.6. Zeigerdiagramm eines symmetrisch belasteten Drehstromsystems. Leiterspannungen: U 12 , U 23 , U 31 ; Sternspannungen: U 1N , U 2N , U 3N

8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis

|U 12 | = |U 23 | = |U 31 | = |U | 3 = U 3

235

(8.25)

und ihre (Zeiger)-Summe ergibt Null


U 12 + U 23 + U 31 = 0 .

(8.26)

Die Str
ome des 4-Leiter-Systems gen
ugen folgender Bedingung
I1 + I2 + I3 = IN .

(8.27)

F
ur den Fall symmetrischer Belastung (gleiche Lastimpedanzen Z 1 = Z 2 =
Z 3 ) verschwindet der Strom im Neutralleiter des 4-Leiter-Systems. Weiterhin
gilt f
ur die Leiterstrome
I1 = I
I2 = I e
I3 = I e

(8.28)
j120
+j120

(8.29)
.

(8.30)

Aus Abb. 8.7 folgt der Zusammenhang zwischen Leiterstromen und Strangstr
omen bei einer Dreieckschaltung
1
|I 12 | = |I 23 | = |I 31 | = |I| .
3

(8.31)

Im 3-Leiter-System ist die Summe der drei Leiterstrome infolge des nicht
vorhandenen Neutralleiters stets Null
I1 + I2 + I3 = 0 .

(8.32)

Abb. 8.7. Zeigerdiagramm von Leiterstr


omen I i und Strangstr
omen I ij bei der
Dreieckschaltung. Die Form des gleichseitigen Dreiecks erh
alt man nur f
ur symmetrische (gleiche) Lasten Z i .

236

8 Messung der elektrischen Leistung

Messung der Wirkleistung in Drehstromsystemen


F
ur den Fall symmetrischer Belastung gen
ugt ein Leistungsmesser, i. Allg.
wiederum ein elektrodynamisches Messwerk. Die umgesetzte Gesamtleistung
ergibt sich dabei als die dreifache Einzelleistung, welche gerade von dem einen
Leistungsmesser angezeigt wird. F
ur den allgemeinen Fall unsymmetrischer
Belastung jedoch werden beim 4-Leiter-System drei und beim 3-Leiter-System
zwei Leistungsmesser benotigt. Es gilt die generelle Regel, dass n1 Leistungsmesser eingesetzt werden m
ussen, wenn n Leitungen zu einem Verbraucher
f
uhren, da eine der Leitungen stets als R
uckleitung angesehen werden kann.
4-Leiter-System
Zur Wirkleistungsmessung in einem 4-Leiter-System werden drei elektrodynamische Messwerke gema Abb. 8.8 zusammengeschaltet. Die Gesamtwirkleistung PWges ergibt sich als Summe der einzelnen Leistungen PWi
PWges = PW1 + PW2 + PW3
= U1Ne I1e cos 1 + U2Ne I2e cos 2 + U3Ne I3e cos 3 . (8.33)
Dabei bezeichnet i den Phasenwinkel zwischen dem Strom Ii und der Spannung UiN .

Abb. 8.8. Wirkleistungsmessung in einem 4-Leiter-Drehstromsystem

3-Leiter-System
Oft werden auch bei 3-Leiter-Systemen drei Leistungsmesser eingesetzt, um
die einzelnen Leistungen getrennt beobachten zu konnen. Das Messergebnis
ist damit auerdem genauer, insbesondere bei kleinen Leistungen und groen
Phasenwinkeln. Da das 3-Leiter-System keinen Mittelpunktleiter aufweist,

8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis

237

Abb. 8.9. Wirkleistungsmessung im 3-Leiter-System

m
ussen die drei Spannungspfade zu einem k
unstlichen Sternpunkt N  verbunden werden. Dies entspricht der Schaltung nach Abb. 8.9. Dabei m
ussen die
Widerst
ande bzw. Impedanzen der Spannungspfade aus Symmetriegr
unden
gleich sein. Die Gesamtwirkleistung lasst sich dann wiederum nach Gl. (8.33)
ermitteln.
Im 3-Leiter-System gen
ugen allerdings auch zwei Leistungsmesser, wenn
man sie in Form der sog. Aaronschaltung (Abb. 8.10) zusammenschaltet. Die
beiden Messwerke zeigen die von ihnen gemessenen Wirkleistungen PW1 und
PW2 an, die sich in der Summe wie folgt darstellen
PW1 + PW2 = U13e I1e cos(<)U 13 , I 1 ) + U23e I2e cos(<)U 23 , I 2 ) .

(8.34)

Die gesamte in einem Drehstromsystem umgesetzte komplexe Leistung P andererseits betragt denitionsgema
P = U 1N I 1 + U 2N I 2 + U 3N I 3 .

(8.35)

Im Falle eines 3-Leiter-Systems stellen die Werte von UiN die Spannungen dar,
die zwischen dem jeweiligen Leiter Li und dem k
unstlichen Sternpunkt liegen.

Abb. 8.10. Zwei-Wattmeter-Verfahren (Aaronschaltung)

238

8 Messung der elektrischen Leistung

Aus dem Spannungszeigerdiagramm (Abb. 8.6) lassen sich die folgenden Zusammenh
ange ablesen
U 1N = U 13 + U 3N
U 2N = U 23 + U 3N .

(8.36)
(8.37)

Da auerdem die Summe der drei Leiterstrome Null ergibt


0 = I1 + I2 + I3 ,

(8.38)

folgt aus Gl. (8.35) die gesamte komplexe Leistung P


P = U 13 I 1 + U 23 I 2 + U 3N (I 1 + I 2 + I 3 )
P = U 13 I 1 + U 23 I 2 .

(8.39)
(8.40)

Der Realteil von P entspricht also der im Drehstromsystem umgesetzten Wirkleistung PW


PW = Re(P ) = U13e I1e cos(<
)U 13 , I 1 ) + U23e I2e cos(<)U 23 , I 2 ) . (8.41)
Die Identit
at mit Gl. (8.34) beweist, dass sich diese Gesamtwirkleistung auch
als Summe von PW1 und PW2 ergibt, jenen Leistungen also, die mit den beiden
Leistungsmessern der Aaronschaltung (Abb. 8.10) gemessen werden.
Messung der Blindleistung
Zur Messung der Blindleistung in Drehstromnetzen wird die Tatsache genutzt,
dass bei (annahernd) symmetrischer Lastverteilung die Sternspannungen und
Leiterspannungen paarweise um 90 phasenverschoben sind (Abb. 8.11). Nach
diesem Prinzip arbeiten die Schaltungen nach Abb. 8.12 und 8.14.

Abb. 8.11. Spannungszeiger in Drehstromsystemen

8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis

239

4-Leiter-System
Die Blindleistung in einem 4-Leiter-Drehstromsystem kann mit Hilfe von drei
elektrodynamischen Messwerken ermittelt werden. Dazu werden diese gema
Abb. 8.12
angeschlossen. Die Gesamtblindleistung ergibt sich namlich aus der
durch 3 dividierten Summe (PB1 + PB2 + PB3 ) der Leistungen, welche die
Einzelmesswerke anzeigen
1
PBges = (PB1 + PB2 + PB3 ) .
3

(8.42)

Die Einzelleistungen PB1 , PB2 und PB3 lassen sich unter Zuhilfenahme des
Spannungszeigerdiagrammes (Abb. 8.11) und der Annahme RV = 0 wie folgt
ableiten
PB1 = U23e I1e cos(<
) U 23 , I 1 ) = U23e I1e cos(<) (U 1N , I 1 ) 90 )
= U23e I1e cos(1 90 ) = U23e I1e sin 1

= 3U1Ne I1e sin 1 .


(8.43)
Analog zu Gl. (8.43) gilt f
ur die Anzeigen PB2 und PB3
PB2 = U31e I2e cos(<
) U 31 , I 2 ) = U31e I2e cos(<) (U 2N , I 2 ) 90 )
= U31e I2e cos(2 90 ) = U31e I2e sin 2

= 3U2Ne I2e sin 2


(8.44)

) U 12 , I 3 ) = U12e I3e cos(<) (U 3N , I 3 ) 90 )


PB3 = U12e I3e cos(<
= U12e I3e cos(3 90 ) = U12e I3e sin 3

= 3U3Ne I3e sin 3 .

(8.45)

Abb. 8.12. Messung der Blindleistung im 4-Leiter-System. Die Leistungsmesser


haben identische Innenwiderst
ande.

240

8 Messung der elektrischen Leistung

Beim Anschlieen der Leistungsmesser ist auf die richtige Polaritat zu achten, welche durch die Punkte in Abb. 8.12 angezeigt wird. Wenn die Vorwiderst
ande RV so gewahlt werden,
dass an den Spannungspfaden der Mess
ger
ate eine um den Faktor 3 kleinere Spannung wirksam wird, ergibt sich
die Gesamtblindleistung als Summe der drei Anzeigewerte, was durch einen
Vergleich der Gln. (8.42 - 8.45) leicht veriziert werden kann.
3-Leiter-System
Im 3-Leiter-System gen
ugen wiederum zwei Leistungsmesser, deren Spannungspfade zu einem k
unstlichen Sternpunkt N  gema Abb. 8.14 zusammengeschaltet werden. Dabei ist wiederum auf die richtige Polaritat der Leistungsmesser zu achten, diein Abb. 8.14 durch einen Punkt am Messwerk
gekennzeichnet ist. Die mit 3 multiplizierte Summe PBges der von den beiden in Abb. 8.14 dargestellten Leistungsmessern angezeigten Leistung betragt

PBges = 3(PB3 + PB1 ) = 3(Re(U 1N I 3 U 3N I 1 )) .


(8.46)
Unter Zuhilfenahme der Abb. 8.13 kann Gl. (8.46) folgendermaen dargestellt
werden
1
PBges = Re((U 13 + U 12 )I 3 + (U 23 + U 13 )I 1 ) .
(8.47)
3
Indem man Gl. (8.47) wie folgt erweitert
1
PBges = Re ((U 13 + U 12 )I 3 + (U 23 + U 13 )I 1 + U 31 I 2 U 31 I 2 )
3
1
(8.48)
= Re (U 23 I 1 + U 31 I 2 + U 12 I 3 + U 13 (I 1 + I 2 + I 3 ))
3
und die Tatsache ber
ucksichtigt, dass die Summe der Leiterstrome im 3-LeiterSystem verschwindet

Abb. 8.13. Zusammenh


ange zwischen Stern- und verketteten Spannungen

8.3 Messung der elektrischen Arbeit

I 1 + I 2 + I 3 = I 1 + I 2 + I 3 = 0 ,

241

(8.49)

gelangt man zur allgemeinen Blindleistungs-Beziehung


1
PBges = Re(U 23 I 1 + U 31 I 2 + U 12 I 3 ) .
3

(8.50)

Abb. 8.14. Messung der Blindleistung im 3-Leiter-System. Der Punkt gibt die
Polarit
at des Spannungspfades an. Der Widerstand RWV entspricht dem Innenwiderstand des Spannungspfades der (identischen) Leistungsmesser.

8.3 Messung der elektrischen Arbeit


Die elektrische Arbeit (Energie) ergibt sich aus der zeitlichen Integration der
elektrischen Wirkleistung PW (t)

E=

PW (t) dt .

(8.51)

Zur Messung der elektrischen Energie werden im Wechselstromfall sog. Induktionsmesswerke eingesetzt, die u
blicherweise als Elektrizitatszahler bezeichnet
werden. In diesen Induktionsmesswerken wird vom Strom des Leistungskreises ein magnetisches Wechselfeld aufgebaut, das in einer elektrisch leitfahigen
Scheibe Induktionsspannungen und damit Wirbelstrome hervorruft. Auf diese
wirkt ein zweites, von der Spannung des Leistungskreises generiertes Magnetfeld, das in Verbindung mit den Wirbelstromen Krafte erzeugt, welche die
Scheibe in Rotation versetzen. Die Rotationsgeschwindigkeit der Scheibe ist
letztlich ein Ma f
ur die elektrische Momentanleistung. Induktionsmesswerke
k
onnen allerdings nur f
ur Wechselstromanwendungen eingesetzt werden, da
sie auf dem Induktionsprinzip beruhen.

242

8 Messung der elektrischen Leistung

Funktionsprinzip des Induktionsmesswerkes (Elektrizit


atsz
ahler)
Der prinzipielle Aufbau eines Elektrizitatszahlers wird in Abb. 8.16 gezeigt.
Die auf dem hufeisenformigen Joch (Stromeisen) bendliche Spule 1 f
uhrt den
Strom i(t) des Leistungskreises
i(t) = I sin(t + ) .

(8.52)

Der dadurch entstehende magnetische Fluss 1 durchsetzt die Aluminiumscheibe und induziert in dieser die Wirbelstrome iw . Entsprechend dem Durchutungsgesetz sowie dem Induktionsgesetz lassen sich die folgenden Zusammenh
ange f
ur den magnetischen Fluss 1
1 B1 0

N1 i(t)
N1
= 0
I sin(t + )
2
2

(8.53)

bzw. den Wirbelstrom iw ableiten


iw uind

d1
I cos(t + ) .
dt

(8.54)

Dabei bezeichnen B1 den Betrag der magnetischen Induktion im Stromeisen,


1 den magnetischen Fluss im Stromeisen, N1 die Windungszahl des Stromeisens, den Luftspalt in Strom- und Spannungseisen (die Aluminiumscheibe
z
ahlt in diesem Fall wegen r = 1 zum Luftspalt) und den Phasenwinkel
zwischen Spannung u und Strom i. Legt man die Spannung u(t) des Leistungskreises an die Spule 2 des Spannungseisens, welches die Aluminiumscheibe
U-f
ormig umschliet, entsteht im Luftspalt die magnetische Induktion B2 ,
welche sich wie folgt aus der angelegten Spannung u(t) u
ber den durch die
Spule ieenden Strom i2 (t) berechnen lasst
sin t
u(t) = U

1
1 t
i2 (t) =
u dt =
U cos t
L 0
L
i 2 N2
cos t .
U
B 2 0

(8.55)
(8.56)
(8.57)

Dieses magnetische Feld wirkt nun auf die in der Aluminiumscheibe induzierten
Wirbelstr
ome (Abb. 8.15) und verursacht eine mechanische Kraftwirkung. Die
entsprechende Volumenskraft fr (raumliche Kraftdichte) ergibt sich nach [170]
 2 1 H 2 grad ,
fr = Jw B
2

(8.58)

wobei Jw den Stromdichtevektor bezeichnet, der dem Wirbelstrom iw proportional ist. Da die Aluminiumscheibe eine konstante Permeabilitat aufweist,
verschwindet der Term grad, und der Betrag F der Gesamtkraft lasst sich
wie folgt ermitteln

8.3 Messung der elektrischen Arbeit

243

Abb. 8.15. Wirbelstr


ome in der Aluminiuml
auferscheibe eines Elektrizit
atsz
ahlers

cos(t + ) cos t .
F iw B2 IU

(8.59)

Das auf die Aluminiumscheibe wirkende mittlere Moment Mel erhalt man,
wenn man u
ber die Periodendauer T integriert

1 T
Mel
F (t) dt
(8.60)
T 0
I
I  T 1
U
U
(cos + cos(2t + )) dt =
cos .

T 0 2
2
Gleichung (8.60) sagt aus, dass das Antriebsmoment Mel proportional der
Wirkleistung PW des Leistungskreises ist
Mel = k1 Ue Ie cos = k1 PW .

(8.61)

In der Praxis entsteht aufgrund des relativ groen Luftspaltes sowie der Eisenund Kupferverluste keine exakte 90 -Verschiebung zwischen dem Strom i2
in der Spule 2 und der Spannung u des Leistungskreises. Die exakte 90 Phasenverschiebung erreicht man erst durch den in Abb. 8.16 gezeigten magnetischen Nebenschluss des Spannungseisens (Grobabgleich der 90 -Phasenverschiebung durch Veranderung von N ) und eine Hilfswicklung am Stromeisen, die u
ber den regelbaren Widerstand R kurzgeschlossen ist (Feinabgleich
der 90 -Phasenverschiebung durch Veranderung des Widerstandes R).
Der als Wirbelstrombremse wirkende Permanentmagnet (Abb. 8.16), der
auch als Bremsmagnet bezeichnet wird, erzeugt ein Bremsmoment mit dem

244

8 Messung der elektrischen Leistung

Abb. 8.16. Prinzipieller Aufbau eines Elektrizit


atsz
ahlers

Betrag Mbrems
Mbrems = k2 n ,

(8.62)

wobei n die Drehzahl der Aluminiumscheibe bezeichnet. Die Drehzahl n der


Scheibe l
asst sich nun aus der Gleichgewichtsbedingung Mbrems = Mel ermitteln
k1
n = Ue Ie cos = kPW .
(8.63)
k2
Nachdem die Drehzahl n der Scheibe proportional zur Wirkleistung PW ist,
erh
alt man die elektrische Energie durch Aufsummieren (zeitliche Integration)
der Umdrehungen der Aluminiumscheibe. Dies geschieht in einfacher Weise
mit Hilfe eines mechanischen Zahlwerkes.
Hinweis:
Die Leistungsmessung in Energieversorgungsnetzen und insbesondere beim
Endverbraucher hat in den letzten Jahren an Bedeutung gewonnen. Denn der
erste Schritt zu einer Energieverbrauchsreduzierung ist die komfortable und
eziente elektronische Messung von Wirk- und Scheinleistung sowie die des
Energieverbrauches. Dabei wird gefordert, dass die elektronischen Leistungsmesser in moderne Informationsarchitekturen, wie z. B. das Internet, einbindbar sind. Das Herzst
uck eines solchen elektronischen Energiemeters ist ein integrierter Schaltkreis, der mit zwei Eingangssignalen, welche dem Laststrom
bzw. der Lastspannung proportional sind, gespeist werden und der an seinem
Ausgang ein Signal liefert, das der verbrauchten Wirkleistung oder alternativ
der verbrauchten Energiemenge entspricht. Diese elektronischen Energiemeter
werden in Kap. 11.10 behandelt.

9
Messung von elektrischen Impedanzen

9.1 Messung von ohmschen Widerst


anden
Ein ohmscher Widerstand R unterscheidet sich von einer komplexen Impedanz
Z dadurch, dass er keine kapazitiven oder induktiven Anteile enthalt, was
eigentlich einen Idealfall darstellt, der in der Praxis nie ganz erreicht werden
kann. F
ur den ohmschen Widerstand gilt das Ohmsche Gesetz in der Form
R=

u(t)
,
i(t)

(9.1)

d. h. Strom und Spannung sind zu jedem beliebigen Zeitpunkt direkt proportional. Die Messung ohmscher Widerstande ist im Rahmen der messtechnischen Praxis eine wichtige Aufgabe, weil einige Sensoren als Widerstandsaufnehmer arbeiten; d. h. ihr Widerstandswert ist ein Ma f
ur die Messgroe.
9.1.1 Strom- und Spannungsmessung
Die Bestimmung des ohmschen Widerstandes kann durch eine Strom- und
eine Spannungsmessung erfolgen. Der Widerstandswert R wird dann nach
dem Ohmschen Gesetz (Gl. (9.1)) berechnet. Da hierbei stets zwei getrennte
Messungen erforderlich sind, tragen sowohl der Fehler der Strommessung als
auch der Fehler der Spannungsmessung zum Fehler des Messwertes R bei. Es
kommen die beiden in den Abb. 9.1a und 9.1b gezeigten Schaltungsvarianten
in Frage. Die jeweiligen systematischen Fehler konnen korrigiert werden, wenn
die Innenwiderstande des Spannungs- und des Strommessgerates bekannt sind.
In der stromrichtigen Schaltung (Abb. 9.1a) ist die Spannungsmessung fehlerhaft und der Spannungsabfall RMI I am Strommesser ist zwecks Korrektur
des systematischen Messfehlers von der gemessenen Spannung abzuziehen
RX =

U
U RMI I
=
RMI .
I
I

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_9

(9.2)

246

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Abb. 9.1. Bestimmung des ohmschen Widerstandes RX durch separate Strom- und
Spannungsmessung: a) Stromrichtige Schaltung, b) Spannungsrichtige Schaltung

In der spannungsrichtigen Schaltung (Abb. 9.1b) ist der gemessene Strom zu


gro, so dass vom gemessenen Wert I der Teilstrom U/RMU abzuziehen ist,
der durch den Spannungsmesser iet
RX =

U
.
I RU
MU

(9.3)

Da im Allgemeinen der Innenwiderstand des Strommessers RMI viel kleiner ist


als der des Spannungsmessers RMU , wird die stromrichtige Schaltungsvariante
f
ur groe Widerstande (RX RMI ) und die spannungsrichtige f
ur kleine
Widerst
ande (RX RMU ) eingesetzt.
9.1.2 Vergleich mit einem Referenzwiderstand
Spannungsvergleich
Der bei getrennter Spannungs- und Strommessung auftretende Fehler lasst
sich vermeiden, wenn ein Referenzwiderstand Rref zur Verf
ugung steht. Durch
Messung der beiden Spannungen URX und URref (Abb. 9.2) kann bei bekanntem Referenzwiderstand Rref der Widerstand RX bestimmt werden. Die
Spannung U0 , die an die aus den Widerstanden RX und Rref bestehende Serienschaltung angelegt wird, muss wahrend der beiden Messungen konstant
gehalten werden. Der Innenwiderstand des Messgerates geht f
ur den Fall, dass
er bei beiden Messungen derselbe ist (Vorsicht bei Messbereichsumschaltung),
nicht in den Fehler ein, da die beiden Spannungsmesswerte ins Verhaltnis gesetzt werden. Wenn man die Spannungen URref und URX in der Schaltung
nach Abb. 9.2 mit Hilfe eines Spannungsmessgerates mit Innenwiderstand
RMU misst, ergeben sich infolge des endlichen Innenwiderstandes RMU die


fehlerbehafteten Messwerte URref
und URX
(Rref RMU )
(Rref RMU ) + RX
(RX RMU )
= U0
.
(RX RMU ) + Rref


URref
= U0

URX

(9.4)
(9.5)

9.1 Messung von ohmschen Widerst


anden

247

Abb. 9.2. Messung eines ohmschen Widerstandes mit Hilfe eines Referenzwiderstandes Rref und einer Konstantspannungsquelle


Wenn man jedoch die beiden Messwerte URref
und URX
ins Verhaltnis setzt,
k
urzt sich der Innenwiderstand RMU heraus, so dass das Spannungsverhaltnis

URX
RX
URX
=
=

URref
Rref
URref

(9.6)

frei von systematischen Fehlern bleibt


RX =

URX
Rref .
URref

(9.7)

Stromvergleich
Alternativ kann ein Stromvergleich nach Abb. 9.3 genutzt werden, um den
ohmschen Widerstand RX zu bestimmen. Auch hier heben sich die systematischen Messfehler bei der Messung der Einzelstrome IRX und IRref auf und
gehen somit nicht in die Bestimmung von RX ein. Die infolge des Innenwiderstandes RMI des Strommessgerates mit systematischen Fehlern behafteten


Teilstr
ome IRref
und IRX
ergeben sich entsprechend der Stromteilerregel bei
parallelgeschalteten Widerstanden zu

Abb. 9.3. Messung eines ohmschen Widerstandes mit Hilfe eines Referenzwiderstandes Rref und einer Konstantstromquelle

248

9 Messung von elektrischen Impedanzen


IRref
= I0

= I0
IRX

RRref
RRref

RX
+ RMI + RX
RRref
.
+ RMI + RX

(9.8)
(9.9)

Das Verh
altnis dieser Teilstrome ist wiederum frei von Belastungsfehlern

IRref
RX
IRref
=
=

IRX
Rref
IRX

bzw.
RX =

IRref
Rref .
IRX

(9.10)

(9.11)

W
ahrend der beiden Strommessungen muss der in die Parallelschaltung eingespeiste Strom I0 sowie der Innenwiderstand RMI des Messgerates konstant
gehalten werden.
9.1.3 Verwendung einer Konstantstromquelle
Eine direkte und kontinuierliche Anzeige des Widerstandswertes ist mit Hilfe
einer Konstantstromquelle moglich (Abb. 9.4).

Abb. 9.4. Messung eines ohmschen Widerstandes unter Verwendung einer Konstantstromquelle

Der eingepr
agte Konstantstrom I0 iet dabei u
ber den zu messenden Widerstand RX , der gema Gl. (9.12) proportional zur gemessenen Spannung UX
ist
UX
RX =
.
(9.12)
I0
Mit der Korrektur des systematischen Fehlers, der durch den Innenwiderstand
RMU des angeschlossenen Spannungsmessers verursacht wird, erhalt man
RX =

UX
.
X
I0 RUMU

(9.13)

Eine auf einer Konstantstromquelle basierende Messschaltung wird in Abb. 9.5


gezeigt. Wenn man einen idealen Operationsverstarker voraussetzt (uD = 0),

9.1 Messung von ohmschen Widerst


anden

249

Abb. 9.5. Messung eines ohmschen Widerstandes mit Hilfe einer Konstantstromquelle. Bei der Verwendung in Digital-Multimetern werden die Spannungen an den
Abgripunkten (1) und (2) dem Analog-Digital-Umsetzer zugef
uhrt.

kann die Spannung UX auch mit einem nicht-idealen Spannungsmesser ohne


systematischen Messfehler gemessen werden, so dass die Auswertung f
ur RX
nach Gl. (9.12) vorgenommen werden kann
RX =

UX
UX
=
R0 .
I0
Uref

(9.14)

F
ur Pr
azisionsmessungen sind allerdings die nicht-idealen Eigenschaften des
Operationsverstarkers zu ber
ucksichtigen, wie z.B. endliche Verstarkung, Eingangsstrom oder Osetspannung. Als nachteilig kann sich auch die nichtmassebezogene Messung erweisen, da so leicht Storspannungen auftreten
k
onnen.
In Digital-Multimetern werden die beiden Spannungen Uref und UX (s.
Abgripunkte (1) und (2) in Abb. 9.5) vom Analog-Digital-Umsetzer digitalisiert und anschlieend nach Gl. (9.14) ausgewertet. Die relative Genauigkeit
f
ur diese Messung liegt bei Standard-Digital-Multimetern typischerweise bei
0,02 bis 0,2 % (s. auch Tab. 11.14).
9.1.4 Verwendung eines Kreuzspulinstrumentes
Da der Zeigerausschlag eines Kreuzspulinstrumentes eine Funktion des Verh
altnisses zweier Strome I2 /I1 ist (Gl. (6.60)), kann es unmittelbar zur Widerstandsmessung eingesetzt werden. Abbildung 9.6 zeigt die dazu notwendige
Beschaltung. Wenn der zu bestimmende Widerstand RX gegen
uber dem Spulenwiderstand R1 gro ist (RX R1 ) und auerdem der Widerstand R3 gro
im Vergleich zum Spulenwiderstand R2 (R3 R2 ) gewahlt wird, kann RX
mit Hilfe der Schaltung nach Abb. 9.6a unmittelbar gemessen werden. Der
zu bestimmende Widerstand RX ergibt sich dann aus der Stromteilerregel, da
die beiden Widerstande RX und R3 naherungsweise an der Speisespannung
U0 liegen. Der Zeigerausschlag hangt aber i.Allg. in nichtlinearer Weise vom
Stromverh
altnis I2 /I1 ab (Gl. (6.60))
RX = R3

I2
1
= R3 f () = R3 tan .
I1
k

(9.15)

250

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Abb. 9.6. Widerstandsmessung mit Hilfe eines Kreuzspulinstrumentes: a) Schaltungsvariante f


ur groe Widerst
ande, b) Schaltungsvariante f
ur kleine Widerst
ande

Zur Messung kleiner Widerstande wird die Schaltungsvariante nach Abb. 9.6b
eingesetzt. Unter der Voraussetzung (R1 + R1 ) RX und (R2 + R2 ) R3
gilt n
aherungsweise
RX =

UX
I1 (R1 + R1 )
(R1 + R1 )
R3 f() .

=
IX
I2 (R2 + R2 )/R3
(R2 + R2 )

(9.16)

9.2 Kompensationsschaltungen
Mit Hilfe sog. Kompensationsschaltungen kann die Beeinussung des Messvorganges durch das Messgerat infolge seiner nicht-idealen Innenimpedanz eliminiert werden. Strome und Spannungen werden dabei leistungslos gemessen,
d. h. Str
ome ohne Spannungsabfall u
ber den Messkontakten und Spannungen ohne (Parallel)-Strome durch ein angeschlossenes Spannungsmessgerat.
Die von klassischen Messgeraten jedoch stets benotigte Energie wird dabei
einer Hilfsquelle und nicht, wie bei Standardmessungen u
blich, der zu messenden Schaltung entnommen. Der Hauptvorzug der Kompensatoren besteht
also darin, dass bei der Messung keine Belastung des Messkreises erfolgt. Infolge der r
uckwirkungsfreien Messung wird eine sehr hohe Messgenauigkeit
erreicht. Als eigentliches Messinstrument ist dazu lediglich ein Galvanometer
zum Nullabgleich erforderlich. Da die Kompensationsschaltungen eine Vorstufe der Br
uckenschaltungen darstellen, die zur Messung von ohmschen Widerst
anden bzw. komplexen Impedanzen eingesetzt werden, sollen sie an dieser
Stelle besprochen werden.
9.2.1 Gleichspannungskompensation
Abbildung 9.7 zeigt das Kompensationsprinzip f
ur eine Gleichspannungsmessung. Der Abgri des Widerstandes wird dabei solange verandert, bis das
Galvanometer G stromlos ist. Es folgt damit

9.2 Kompensationsschaltungen

UX = UR =

R
U0 .
R0

251

(9.17)

Bei bekannten Groen U0 , R0 , R kann UX ohne einen durch den Leistungsverbrauch eines Messgerates hervorgerufenen Fehler bestimmt werden.

Abb. 9.7. Prinzip der Gleichspannungskompensation (UX U0 )

9.2.2 Gleichstromkompensation
Mit der Kompensationsschaltung nach Abb. 9.8 kann ein unbekannter Strom
IX kompensiert werden, indem Spannungsgleichheit an dem von dem Dierenzstrom (I0 IX ) durchossenen Widerstand R und an dem vom Strom IX
durchossenen Widerstand R1 erreicht wird
(I0 IX )R = IX R1 .

(9.18)

Weiterhin kann die folgende Maschengleichung aufgestellt werden


(I0 IX )R + I0 (R0 R) = U0 .

(9.19)

Aus den Gln. (9.18) und (9.19) kann unmittelbar der zu messende Strom IX
bestimmt werden
R
IX = U0
.
(9.20)
R0 (R1 + R) R2
Da u
ber den Messkontakten keine Spannung abfallt, wird leistungslos, d. h.
ohne Belastung des Messkreises, gemessen. Als Nulldetektoren verwendet man

Abb. 9.8. Gleichstromkompensationsschaltung. R0 ist der Gesamtwiderstand des


Spannungsteilers und R der Wert zwischen dem Teilerabgri und dem positiven Pol
der Spannungsquelle

252

9 Messung von elektrischen Impedanzen

empndliche Galvanometer mit Spannungsanzeigen im Bereich von 0,1 V bis


1 V bzw. empndliche Spannungsverstarker mit kleiner Osetspannung. In
der Praxis wird oft anstelle des Galvanometers ein Nullverstarker verwendet,
der ein motorbetatigtes Potentiometer ansteuert. Dabei wird der Schleifer eines Potentiometers mit Hilfe eines Stellmotors so lange verstellt, bis die Eingangsspannungsdierenz des Verstarkers zu Null abgeglichen ist. Damit ist die
Verstellung des Schleifers der zu messenden Spannung uE proportional. Ein
angekoppeltes Schreibgerat schreibt auf einem kontinuierlich bewegten Registrierpapier einen Linienzug, der f
ur den Fall entsprechend schneller Regelung
dem Signalverlauf uE (t) entspricht. Solche Anordnungen werden in Form sog.
Kompensationsschreiber realisiert (Abb. 9.9).

Abb. 9.9. Prinzip eines Kompensationsschreibers

9.3 Gleichstrom-Messbru
cken
Die genaue Bestimmung von ohmschen Widerstanden erfolgt in der Praxis oft
mit Hilfe von sog. Br
uckenschaltungen. Die dazu von Wheatstone vorgeschlagene Messbr
ucke (Wheatstonesche Messbr
ucke) besteht aus zwei parallelgeschalteten Spannungsteilern (Abb. 9.10), die mit der Spannung UE gespeist
werden. Beim Betrieb unterscheidet man zwischen dem Ausschlagverfahren
(Gleichstrom-Ausschlagbr
ucke), bei dem die Diagonalspannung UD mit einem hochohmigen Instrument gemessen wird, und dem Abgleich- oder Nullverfahren (Gleichstrom-Abgleichbr
ucke), bei dem die Diagonalspannung zu
Null abgeglichen wird.

Abb. 9.10. Wheatstonesche Messbr


ucke

9.3 Gleichstrom-Messbr
ucken

253

9.3.1 Gleichstrom-Ausschlagbr
ucken
Im nicht-abgeglichenen Zustand resultiert aus der Speisespannung UE eine
Diagonalspannung UD


R2 R3 R1 R4
R2
R4
.
(9.21)
= UE
UD = UE

R1 + R2
R3 + R4
(R1 + R2 )(R3 + R4 )
Durch Messung der Spannungen UD und UE kann bei drei bekannten Widerst
anden auf den vierten unbekannten Widerstand geschlossen werden. Die
Genauigkeit des Verfahrens hangt neben der Toleranz der Br
uckenwiderstande
von der Genauigkeit der Messgerate zur Bestimmung von UD und UE ab. Bei
der Messung der Spannung UD ist zu ber
ucksichtigen, dass der Innenwiderstand RM des Messgerates zu einem Fehler f
uhrt.

Abb. 9.11. a) Gleichstrom-Ausschlag-Br


uckenschaltung bei Ber
ucksichtigung der
Innenwiderst
ande von Speisespannungsquelle und Messger
at, b) bez
uglich der Klemmen 1 und 1 wirksame Ersatzspannungsquelle

Die unter Ber


ucksichtigung der Innenwiderstande der Quelle RI und des Messger
ates RM geltende Ersatzschaltung wird in Abb. 9.11a gezeigt. Die im Falle
oener Klemmen (RM ) eektiv wirksame Br
uckenspeisespannung UE
kann aus der Leerlaufspannung UE0 der Speisequelle mit
RB = (R1 + R2 )  (R3 + R4 )

(9.22)

wie folgt errechnet werden


RB
.
(9.23)
RI + RB
Damit l
asst sich auch die Leerlaufspannung UQ der Ersatzspannungsquelle
aus Abb. 9.11b angeben
UE = UE0

UQ = UD |RM = UE

R2 R3 R1 R4
(R1 + R2 )(R3 + R4 )
1

UQ = UD |RM = UE0


= UE0

1+

RI (R1 +R2 +R3 +R4 )


(R1 +R2 )(R3 +R4 )

(9.24)
R2 R3 R1 R4
(R1 + R2 )(R3 + R4 )

R2 R3 R1 R4
.
(R1 + R2 )(R3 + R4 ) + RI (R1 + R2 + R3 + R4 )

(9.25)

254

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Abb. 9.12. Dreieck-Stern-Umwandlung

Der Innenwiderstand RQ der Ersatzspannungsquelle ist der Widerstand, den


man von den Klemmen 1 und 1 des Netzwerkes aus sieht. Dieser lasst
sich durch eine sog. Dreieck-Stern-Umwandlung (Abb. 9.12) der Widerstande
R1 , R2 und RI zu der in der Abb. 9.13 gezeigten Schaltung vereinfachen. Die
beiden Schaltungen in Abb. 9.12 sind bez
uglich der aueren Klemmen 1, 2
und 3
aquivalent. Diese Umwandlung sowie die entsprechende Stern-DreieckUmwandlung sind z. B. in [139] beschrieben. Der Innenwiderstand RQ der
Ersatzspannungsquelle nach Abb. 9.13 ergibt sich dann zu
RQ = R1S + (R3 + R3S )  (R4 + R2S )
(R3 + R3S )(R4 + R2S )
.
= R1S +
R3 + R3S + R4 + R2S

(9.26)

Unter Ber
ucksichtigung des von den Widerstanden RM und RQ gebildeten
Spannungsteilers in Abb. 9.11b lasst sich die Diagonalspannung UD f
ur den
Fall nicht-idealer Innenwiderstande von Quelle und Messgerat wie folgt ableiten
RM
UD = UQ
.
(9.27)
RM + RQ
Aus dem Vergleich mit der Diagonalspannung UD des idealen Falles (Gl. (9.21))
l
asst sich schlielich der entsprechende Fehler ermitteln.

Abb. 9.13. Durch Dreieck-Stern-Umwandlung vereinfachte Schaltung aus Abb. 9.11

9.4 Messung von Schein- und Blindwiderst


anden

255

9.3.2 Gleichstrom-Abgleichbr
ucken
Zur Messung von ohmschen Widerstanden wird i. Allg. das Abgleichverfahren eingesetzt. Dabei wird einer der bekannten Br
uckenwiderstande, z. B. der
Widerstand R4 (Abb. 9.10), solange verandert, bis die Diagonalspannung UD
Null wird. Mit Gl. (9.21) folgt daraus


R2 R3 R1 R4
R2
R4
. (9.28)
= UE

UD = 0 = UE
R1 + R2
R3 + R4
(R1 + R2 )(R3 + R4 )
So kann ein unbekannter Widerstand, beispielsweise R2 , aus den u
brigen
bekannten Widerstandswerten ermittelt werden. Die Abgleichbedingung aus
Gl. (9.28) lautet
R2 R3 = R1 R4 ,
(9.29)
bzw. nach dem gesuchten Widerstandswert R2 aufgelost
R2 = R1

R4
.
R3

(9.30)

Bei Pr
azisionsmessbr
ucken werden als einstellbare Widerstande sehr genaue
Widerstandsdekaden verwendet. Die Messunsicherheiten liegen hierbei im Bereich 105 . Ein wesentlicher Vorzug des Abgleichverfahrens besteht darin, dass
keine Absolutwerte von Spannungen oder Stromen gemessen werden m
ussen.
Auch die Br
uckenspeisespannung UE geht nicht in die Messung ein, so dass
an deren Konstanz keine hohen Anforderungen gestellt werden m
ussen. Ein
weiterer Vorzug besteht in der Tatsache, dass die Diagonalspannung UD nur
mittels Nullgalvanometer zu Null abgeglichen und nicht absolut erfasst werden
muss.

9.4 Messung von Schein- und Blindwiderst


anden
Eine komplexe Impedanz (Scheinwiderstand) setzt sich aus einer Wirkkomponente R und einer Blindkomponente X zusammen
Z = Re(Z) + jIm(Z) = R + jX = |Z|ejz .

(9.31)

Bei vernachlassigbarem ohmschen Anteil ergeben sich f


ur

eine Kapazit
at C (idealer Kondensator)
Z = jX =

j
C

(9.32)

eine Induktivit
at L (ideale Spule)
Z = jX = jL .

(9.33)

Im realen verlustbehafteten Fall wendet man die im Folgenden beschriebenen


Ersatzschaltbilder an.

256

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Reihen- und Parallel-Ersatzschaltbilder einer verlustbehafteten


Induktivit
at
Die Reihen- und die Parallel-Ersatzschaltung einer verlustbehafteten Induktivit
at werden in Abb. 9.14 neben den entsprechenden Impedanz- bzw.
Admittanz-Diagrammen gezeigt. Die Impedanz Z und die Admittanz Y der
verlustbehafteten Spule ergeben sich wie folgt
Z = RS + jLS =

1
=
Y

1
RP

1
.
1
+ jL
P

(9.34)

Mit den Ersatzschaltbildelementen konnen der Verlustfaktor tan L sowie die


G
ute Q angegeben werden
tan L =

RS
1
LP
=
=
.
Q
LS
RP

(9.35)

Abb. 9.14. Ersatzschaltbilder einer verlustbehafteten Induktivit


at mit entsprechendem Impedanz- bzw. Admittanz-Diagramm: a) Reihenersatzschaltbild (Serienersatzschaltbild), b) Parallelersatzschaltbild

Reihen- und Parallel-Ersatzschaltbilder einer verlustbehafteten


Kapazit
at
Die Reihen- und die Parallel-Ersatzschaltung einer verlustbehafteten Kapazit
at werden in Abb. 9.15 neben den entsprechenden Impedanz- bzw.
Admittanz-Diagrammen gezeigt. Die Impedanz Z und die Admittanz Y des
verlustbehafteten Kondensators ergeben sich zu
Z = RS

j
1
=
=
CS
Y

1
RP

1
.
+ jCP

(9.36)

Mit den Ersatzschaltbildelementen lassen sich der Verlustfaktor tan C sowie


die G
ute Q bestimmen
tan C =

1
1
= RS CS =
.
Q
RP CP

(9.37)

9.4 Messung von Schein- und Blindwiderst


anden

257

Abb. 9.15. Ersatzschaltbilder einer verlustbehafteten Kapazit


at mit entsprechendem Impedanz- bzw. Admittanz-Diagramm: a) Reihenersatzschaltbild (Serienersatzschaltbild), b) Parallelersatzschaltbild

Ermittlung des Scheinwiderstandes


Zur Messung von Scheinwiderstanden wird eine Wechselspannungsquelle bekannter Frequenz benotigt, welche die Impedanz Z speist
Z = Re(Z) + jIm(Z) .

(9.38)

Der Scheinwiderstand |Z| kann nach separaten Messungen von Spannung und
Strom berechnet werden
Ue
|Z| =
.
(9.39)
Ie
Nachdem die komplexe Impedanz zwei skalare Unbekannte aufweist (Betrag
und Phase bzw. Real- und Imaginarteil), m
ussen zu ihrer vollstandigen Bestimmung immer zwei getrennte Groen gemessen werden, wie z.B. der Scheinwiderstand und der Phasenwinkel oder der Scheinwiderstand und der Wirkwiderstand.
Bei einer Spule beispielsweise konnen Schein- und Wirkwiderstand auf die
im folgenden beschriebene Art gemessen werden. Bei Anlegen einer Gleichspannung u ergibt sich wegen X = 0 (Gl. (9.31)) der Wirkwiderstand R aus
einer Gleichstrommessung
u
R=
.
(9.40)
i
Bei Anlegen einer Wechselspannung u lasst sich gema Gl. (9.39) der Scheinwiderstand |Z| aus der Messung der Eektivwerte von Spannung Ue und
Strom Ie ermitteln
Ue
u
|Z| =
=
.
(9.41)
Ie
i
Anhand der Gln. (9.38), (9.40) und (9.41) kann schlielich auch der Blindwiderstand X berechnet werden

X = L = |Z|2 R2 .
(9.42)

258

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Ermittlung einer komplexen Impedanz mittels der


3-Spannungsmesser-Methode
Verlustbehaftete Kondensatoren oder verlustbehaftete Spulen lassen sich mittels der sog. 3-Spannungsmesser-Methode anhand von drei unabhangigen
Spannungsmessungen ermitteln (Abb. 9.16). Dazu schaltet man der unbekannten Impedanz Z X einen ohmschen Widerstand RN in Serie und legt an
diese Serienschaltung eine Wechselspannung U an. Anschlieend misst man
die Betr
age bzw. Eektivwerte der Spannungen U N und U X , die an dem
Widerstand RN und der komplexen Impedanz Z X abfallen. Bei bekannter
Zeigerl
ange von U hat man nunmehr drei Spannungszeiger in der komplexen
Ebene, von denen man lediglich die Betrage kennt. Damit lasst sich aber bereits das in Abb. 9.16 gezeigte Zeigerdiagramm konstruieren. Allerdings gibt
es ein zweites spiegelbildliches Zeigerdiagramm, das ebenfalls moglich ware,
d. h. es l
asst sich letztlich nur der Betrag des Phasenwinkels , nicht aber sein
Vorzeichen bestimmen. Durch Anwendung des Cosinussatzes auf das Dreieck
der Spannungszeiger erhalt man den Phasenwinkel

2

|U | |U N |2 |U X |2
= arccos
.
(9.43)
2|U N ||U X |
Mit bekanntem Widerstandswert RN , dem ermittelten Phasenwinkel sowie
den Messwerten f
ur |U X | und |U N | kann nunmehr Z X in Form der Elemente
der Reihenersatzschaltung (Z X = RX + jXX ) angegeben werden
RX =

|U |
|U X |
cos = RN X cos ,
|I|
|U N |

(9.44)

XX =

|U |
|U X |
sin = RN X sin .
|I|
|U N |

(9.45)

Abb. 9.16. Bestimmung des Wirk- und Blindanteils verlustbehafteter passiver Bauelemente mit Hilfe der 3-Spannungsmesser-Methode. : Phasenwinkel von Z X

9.5 Wechselstrom-Messbr
ucken

259

9.5 Wechselstrom-Messbru
cken
9.5.1 Wechselstrom-Abgleichbr
ucken
Prinzipiell ist die Funktionsweise einer Wechselstrom-Messbr
ucke mit der in
Kap. 9.3 vorgestellten Gleichstrom-Messbr
ucke identisch. Die Bedingung f
ur
den Nullabgleich der Br
uckendiagonalspannung bezieht sich hier allerdings
auf die komplexen Impedanzen Z 1 , Z 2 , Z 3 , Z 4 (Abb. 9.17)
Z 2Z 3 = Z 1Z 4 .

(9.46)

Abb. 9.17. Wechselstrom-Messbr


ucke

Gleichung (9.46) lasst sich in eine Betrags- und eine Winkelgleichung zerlegen
|Z 2 ||Z 3 | = |Z 1 ||Z 4 |

(9.47)

2 + 3 = 1 + 4 .

(9.48)

Aus der Tatsache, dass Gl. (9.46) jeweils f


ur Real- und Imaginarteil erf
ullt
sein muss, ergeben sich mit
Z i = Ri + jXi

(9.49)

folgende, zu den Gln. (9.47) und (9.48) aquivalente, Abgleichbedingungen


R2 R3 X2 X3 = R1 R4 X1 X4

(9.50)

X2 R3 + R2 X3 = X1 R4 + R1 X4 .

(9.51)

Da beim Br
uckenabgleich zwei Bedingungen zu erf
ullen sind, m
ussen auch
zwei unabh
angig voneinander abgleichbare Elemente vorhanden sein.
Standard-Wechselstrom-Messbr
ucken sind beispielsweise die Kapazitatsmessbr
ucke nach Wien (Wien-Br
ucke) zur Messung verlustbehafteter Kondensatoren oder die Induktivitatsmessbr
ucke (Maxwell-Wien-Br
ucke) zur Bestimmung verlustbehafteter Induktivitaten. Solche Standard-Br
ucken werden
in den folgenden Abschnitten beschrieben.

260

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Wien-Br
ucke
Die Kapazit
atsmessbr
ucke nach Wien wird in Abb. 9.18 in zwei unterschiedlichen Darstellungen gezeigt, und zwar einmal nach Abb. 9.18a zur Ausmessung
der Elemente des Reihenersatzschaltbildes und in Abb. 9.18b zur Ausmessung
der Elemente des Parallelersatzschaltbildes einer verlustbehafteten Kapazitat.

Abb. 9.18. Zwei Schaltungsvarianten der Wien-Br


ucke: a) zum Bestimmen des
Reihenersatzschaltbildes einer verlustbehafteten Kapazit
at, b) zum Bestimmen des
Parallelersatzschaltbildes einer verlustbehafteten Kapazit
at

Die Abgleichbedingungen der Wien-Br


ucke lauten f
ur beide Varianten
R4
R3
R3
.
RX = R2
R4
CX = C2

(9.52)
(9.53)

Der Verlustfaktor der zu bestimmenden Kapazitat tan betragt damit bei der
Schaltungsvariante nach Abb. 9.18a (Reihenersatzschaltbild)
tan R = C2 R2

(9.54)

und bei der Schaltung nach Abb. 9.18b (Parallelersatzschaltbild)


tan P =

1
.
C2 R2

(9.55)

Schering-Messbr
ucke
Die Schering-Messbr
ucke wird vorwiegend zur Bestimmung der Elemente des
Ersatzschaltbildes von Hochspannungskondensatoren bzw. Hochspannungskabeln eingesetzt (Abb. 9.19). Nachdem die Br
ucke mit Hochspannung gespeist
wird, ist Vorsicht in der Hinsicht geboten, dass die Br
uckendiagonalspannung
nicht zu gro wird. Es werden dementsprechend folgende Groenverhaltnisse
gew
ahlt: |Z X | R2 und |Z 4 | 1/C3 . Die Kapazitat C3 muss also ein hochspannungsfester und verlustarmer Kondensator sein. Die Abgleichelemente

9.5 Wechselstrom-Messbr
ucken

261

Abb. 9.19. Schering-Messbr


ucke zur Messung von Hochspannungskondensatoren

sollten jedoch vorsichtshalber mit Uberspannungsableitern


gesch
utzt werden.
F
ur den Kapazitatswert CX folgt
CX = C3

R4
.
R2 [1 + (R4 C4 )2 ]

(9.56)

Der im Allgemeinen interessierende Verlustfaktor tan X ergibt sich mit Gleichung (9.48) zu
tan X = tan(90 4 ) =

1
= C4 R4 .
tan 4

(9.57)

Wien-Robinson-Br
ucke
Br
ucken mit frequenzabhangigem Abgleich, wie die Wien-Robinson-Br
ucke
(Abb. 9.20), konnen als einfache Frequenzmessgerate genutzt werden. Die Abgleichbedingungen der Wien-Robinson-Br
ucke lauten
C4
R1
R3
=

C3
R2
R4
C3 C4 =

1
2 R3 R4

(9.58)
.

(9.59)

H
aug w
ahlt man R2 = R3 = R4 = R, R1 = 2R und C3 = C4 = C. Damit ist
Gl. (9.58) automatisch erf
ullt, wahrend Gl. (9.59) eine neue Abgleichbedingung ergibt, aus der die Frequenz der Br
uckeneingangsspannung ermittelt
werden kann
1
=
.
(9.60)
RC

262

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Abb. 9.20. Wien-Robinson-Br


ucke

Maxwell-Wien-Br
ucke
Die Maxwell-Wien-Br
ucke (Abb. 9.21) wird zur Messung verlustbehafteter Induktivit
aten eingesetzt. Aus den Abgleichbedingungen dieser Br
ucke konnen
unmittelbar die Elemente LX und RX des Reihenersatzschaltbildes f
ur verlustbehaftete Spulen abgeleitet werden
LX = C4 R2 R3
R3
.
RX = R2
R4

(9.61)
(9.62)

Abb. 9.21. Maxwell-Wien-Br


ucke

9.5.2 Ein
usse von Erd- und Streukapazit
aten
Die Ein
usse von Erd- und Streukapazitaten kommen beim technischen Aufbau einer Wechselstrom-Messbr
ucke schnell zum Tragen. Abbildung 9.22 zeigt
s
amtliche Erd- und Streukapazitaten, welche beim Aufbau einer Messbr
ucke
auftreten k
onnen. Durch die Einf
uhrung denierter Erdungs- und Schirmverh
altnisse gilt es, die Ein
usse der parasitaren Kapazitaten zu eliminieren
oder diese zumindest vernachlassigbar klein zu machen.

9.5 Wechselstrom-Messbr
ucken

263

Wagnerscher Hilfszweig
A

CAE

CAC

Z3

Z1

CAD

Z5
F

C
CCD

CAB
CCE
CBE

Z2

CBC

CDE
Z4

CBD

Z6

B
Abb. 9.22. Potentielle parasit
are Erd- und Streukapazit
aten bei Wechselstrombr
ucken

M
oglichkeiten, dies praktisch zu realisieren, sind die einseitige Erdung der
Speisespannungsquelle oder die einseitige Erdung der Nullanzeigeeinrichtung.
Eine weitere Moglichkeit zur Beseitigung der Erdkapazitaten stellt die Verwendung des Wagnerschen Hilfszweigs dar. Hierbei wird ein Hilfszweig
analog zu Z 3 und Z 4 eingef
uhrt (siehe Abb. 9.22), welcher zwischen den eingef
uhrten Hilfszweig-Impedanzen Z 5 und Z 6 auf Erdpotential liegt. Dieser
Punkt soll mit F bezeichnet werden. Nun wird abwechselnd der Zweig Z 3 ,Z 4
bzw. der Zweig Z 5 ,Z 6 hinzugeschaltet und beispielsweise anhand der Impedanzen Z 3 und Z 5 der jeweilige Zweig abgeglichen. Zeigt in beiden Fallen das
Anzeigeinstrument Null an, so liegen Punkt C und D ebenfalls auf Erdpotential und die hier angreifenden Erdkapazitaten werden wirkungslos [21]. Es sei
angemerkt, dass der Abgleich einer Messbr
ucke mit Wagnerschem Hilfszweig
aufwendig werden kann.
9.5.3 Halbautomatischer Br
uckenabgleich
Abgleich von Wechselstrom-Messbr
ucken
Da gem
a den Gln. (9.47) und (9.48) bzw. den Gln. (9.50) und (9.51) bei
Wechselstrom-Messbr
ucken stets zwei Abgleichbedingungen gleichzeitig zu
erf
ullen sind, m
ussen in der Br
ucke mindestens zwei voneinander unabhangig

264

9 Messung von elektrischen Impedanzen

verstimmbare Bauelemente enthalten sein, welche den Betrags- und den Phasenabgleich (bzw. den Real- und den Imaginarteilabgleich) ermoglichen. Da
sich diese beiden Abgleichvorgange in der Regel gegenseitig beeinussen, ist
ein stetiger Wechsel zwischen den beiden erforderlich. Dies bedeutet konkret,
dass man zunachst mit Hilfe eines Abgleichelementes die Diagonalspannung
in ein lokales Minimum bringt. Dann setzt man den Abgleich mit dem zweiten
Abgleichelement fort, bis wiederum ein neues lokales Minimum erreicht wird.
Dieses schrittweise und wechselseitige Abgleichen wird solange fortgesetzt, bis
die Diagonalspannung ein globales Minimum bzw. im Idealfall den Wert Null
erreicht hat. Die Geschwindigkeit, mit der dieses globale Minimum eingestellt
werden kann, also die Schnelligkeit des Abgleichvorganges, ist ein wesentliches
G
utekriterium einer Wechselstrom-Messbr
ucke. Die dabei erzielbare Konvergenz h
angt von der Br
uckenstruktur, der Wahl der Abgleichelemente und der
Empndlichkeit des Nullindikators ab. Es sei abschlieend darauf hingewiesen,
dass auch bei prinzipiell abgleichbaren Br
ucken die Konvergenz des Abgleichvorganges nicht allgemein sichergestellt ist und von Fall zu Fall u
uft
berpr
werden muss. Dazu bedient man sich meist graphischer Methoden, bei denen
die Diagonalspannung U D in Form von Ortskurven in der komplexen Ebene
aufgetragen wird [73]. Eine solche Ortskurve beschreibt den Real- und Imagin
arteil von U D in Form einer graphischen Kurve, wobei das Abgleichelement,
z. B. ein einstellbarer Widerstand, innerhalb eines bestimmten Wertebereiches
variiert wird. Jedem Punkt dieser Ortskurve kann dann ein bestimmter Wert
des Abgleichelements zugeordnet werden.
Phasenempndlicher Gleichrichter
Da beim halb- und vollautomatischen Abgleich von Wechselstrom-Messbr
ucken
sehr oft phasenempndliche Gleichrichter (Synchrongleichrichter) benotigt
werden, soll deren Funktionsweise zunachst erlautert werden. Bei einem phasenempndlichen Gleichrichter wird die Gleichrichterwirkung nicht, wie beim
normalen Gleichrichter u
blich, von der Polaritat der Eingangsspannung uE
gesteuert, sondern von der Phasenlage bzw. Polaritat einer separaten Steuerspannung bestimmt (Abb. 9.23). Die Ausgangsspannung u
A ergibt sich aufgrund der Tiefpasslterung als zeitlicher Mittelwert des Produktes aus uE (t)
und einem Schaltersignal s(t)
u
A = uE (t)s(t) ,

(9.63)

wobei das Schaltersignal s(t) von der Polaritat der Steuerspannung bestimmt
wird, d. h.

r ust > 0
+1 f u
s(t) = sign(ust ) =
.
(9.64)

1 f u
r ust < 0
F
ur den Fall, dass die Steuerspannung einen sinusformigen Zeitverlauf mit
derselben Frequenz wie die Eingangsspannung uE aufweist, jedoch zu dieser
phasenverschoben ist, ergibt sich

9.5 Wechselstrom-Messbr
ucken

265

Abb. 9.23. Phasenempndlicher Gleichrichter: a) Prinzipschaltung bestehend


aus Schmitt-Trigger, Multiplizierer und RC-Tiefpass, b) Spannungsverl
aufe f
ur sinusf
ormige Eingangs- und Steuerspannung, c) Schaltsymbol

E sin(t) sign(U
st sin(t ))
uA (t) = U

(9.65)

E sin(t + ) sign(U
st sin t) .
uA (t) = U

(9.66)

bzw.
Daraus kann der zeitliche Mittelwert u
A durch Integration u
ber die Periodendauer errechnet werden

1 T
st sin t) dt .
u
A =
(9.67)
UE sin(t + ) sign(U
T 0
Die Signum-Funktion kann ausgewertet werden, indem man das Integral in
zwei Teile aufspaltet
"
#
 T
E  T2
U
uA =
sin(t + ) dt
sin(t + ) dt .
(9.68)
T
T
0
2
Die Auswertung der beiden Teilintegrale liefert schlielich das Ergebnis, dass
die Ausgangsspannung u
A dem Gleichrichtwert der Eingangsspannung, die
mit dem Cosinus der Phasenwinkeldierenz zwischen der Eingangs- und
Steuerspannung multipliziert wurde, entspricht
u
A =

E 4T
E
E 4
U
2U
U
cos =
cos =
cos .
T
T 2

(9.69)

Sollten in der Steuerspannung ust (t) Spektralanteile enthalten sein, die nicht
mit der Frequenz der Eingangsspannung uE identisch sind, liefern diese infolge der zeitlichen Mittelwertbildung keinen Beitrag zur Ausgangsspannung u
A .

266

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Unter Verwendung von zwei phasenempndlichen Gleichrichtern, die aufgrund


ihrer Steuerspannungen um 90 gegeneinander phasenverschoben arbeiten,
l
asst sich eine Wechselspannung, die an beiden Eingangstoren als Eingangsspannung anliegt, in ihren Real- und Imaginarteil zerlegen. Wenn man in diesem Fall die beiden Ausgangsspannungen quadratisch addiert, erhalt man das
Quadrat des (mit dem Faktor 2/ multiplizierten) Betrages des komplexen
Zeigers der Eingangsspannung.
Halbautomatisch abgleichbare Wien-Br
ucke
Um den iterativen und wechselseitigen Abgleich von Wechselspannungs-Messbr
ucken nach Betrag und Phase zu umgehen, setzt man sog. halbautomatische Messbr
ucken ein, die nur noch einen einfachen manuellen Abgleich erfordern. Der zweite Abgleich erfolgt dabei automatisch im Gerat. Abbildung 9.24
zeigt das Prinzipschaltbild einer halbautomatisch abgleichbaren Wien-Br
ucke.
Wenn U R2 und U R4 die Spannungen an den Widerstanden R2 bzw. R4 bezeichnen, ergibt sich die Br
uckendiagonalspannung U D wie folgt
U D = U R4 U R2 = U R4 Re(U R2 ) jIm(U R2 ) .

(9.70)

Da U R4 rein reell ist (U R4 = UR4 ), kann die Aufspaltung von Gl. (9.70) in
Real- und Imaginarteil in einfacher Weise erfolgen
Re(U D ) = UR4 Re(U R2 )
Im(U D ) = Im(U R2 ) = f (R3 , R4 ) .

(9.71)
(9.72)

Phaseninformation
90 Phasenschieber

Nullabgleich
durch R 4
CX

RX

R3
UD

U E0

UD
C2

R 2 U R2

U st

Verstrker
U DV

R 4 U R4
Regler

Im ( U D )

R 2 : spannungssteuerbarer
Widerstand
Abb. 9.24. Halbautomatisch abgleichbare Wien-Br
ucke

9.5 Wechselstrom-Messbr
ucken

267

Der in der Schaltung nach Abb. 9.24 enthaltene phasenempndliche Gleichrichter ltert den Imaginarteil der Diagonalspannung U D heraus und gibt diese auf einen Regler, der den spannungssteuerbaren Widerstand R2 ansteuert.
Der Realteilabgleich wird per Hand an R4 vorgenommen, wahrend der Imagin
arteilabgleich automatisch durch den spannungssteuerbaren Widerstand
R2 erfolgt. Der Realteilabgleich kann anhand des Betrages der Diagonalspannung U D durchgef
uhrt werden, da mit Hilfe der eben beschriebenen Regelschleife der Imaginarteilabgleich standig nachgef
uhrt wird. Aus den Abgleichbedingungen ergeben sich schlielich die zu ermittelnden Bauelementgroen
der verlustbehafteten Kapazitat
R4
R3
R3
.
RX = R2
R4
CX = C2

(9.73)
(9.74)

9.5.4 Wechselstrom-Ausschlagbr
ucken
Mit Hilfe von Wechselstrom-Ausschlagbr
ucken werden oft die Impedanzanderungen von kapazitiven bzw. induktiven Sensoren gemessen. Dabei geht man
i. Allg. davon aus, dass die Kapazitaten bzw. Induktivitaten der Aufnehmer
verlustlos sind und verwendet die Schaltung nach Abb. 9.25. Bei einer solchen
Messbr
ucke stellt zumindest eine der Reaktanzen X1 oder X2 den Aufnehmer
dar, es k
onnen jedoch auch sowohl X1 als auch X2 dem Aufnehmer zugeordnet
sein. Die Diagonalspannung U D dieser Br
ucke ergibt sich analog zu Gl. (9.21)
UD = UE

j(X2 X1 ) R0
U (X2 X1 )
.
= E
j(X2 + X1 ) 2R0
2 (X2 + X1 )

(9.75)

Im Weiteren unterscheidet man zwischen Viertel-, Halb- und Vollbr


ucken.

Abb. 9.25. Wechselstrom-Ausschlag-Messbr


ucke

268

9 Messung von elektrischen Impedanzen

Viertelbr
ucke
Man spricht von einer Viertelbr
ucke, wenn X1 = X0 und X2 = X0 + X. Die
Diagonalspannung U D ist dann annahernd proportional zu X
UD =

U
UE
X
E X .
2 2X0 + X
4X0

(9.76)

Der Reaktanzanteil X stellt dabei ein Ma f


ur die aktuelle Messgroe des
Aufnehmers dar.
Halbbr
ucke
Bei der Halbbr
ucke wahlt man
X1 = X0 X

(9.77)

X2 = X0 + X .

(9.78)

und
Die Diagonalspannung U D ist damit exakt proportional zu X
UD =

U E X
.
2 X0

(9.79)

Auch hier ist X ein Ma f


ur die Messgroe; nach Moglichkeit sollte X proportional der vom Sensor zu detektierenden Messgroe sein. Die in Gln. (9.77)

und (9.78) vorkommenden entgegengesetzten Anderungen


X der Sensorreaktanz ergeben sich bei sog. Dierentialsensoren [184].
Anwendungsbeispiel f
ur eine Halbbr
ucke:
Tauchankersystem als Wegaufnehmer
Eine Spule mit verschiebbarem ferromagnetischem Kern (Abb. 9.26) kann als
einfacher Wegaufnehmer verwendet werden, da die Induktivitat in eindeutiger
Weise von der Position des Kerns abhangt. Nachteilig an diesem als Tauchankersystem bezeichneten Wegsensor ist allerdings die nichtlineare Abhangigkeit
von (Verschiebungs-)Weg und Induktivitat.
Die Anwendung des Dierenzprinzips f
uhrt in Erweiterung zu einem
Doppelspulen-Tauchankersystem nach Abb. 9.27. Dieser Dierentialsensor
weist eine wesentlich bessere Kennlinien-Linearitat als das einfache Tauchankersystem auf. Auerdem lasst sich das Dierenzprinzip zur Temperaturkompensation nutzen, wenn der Dierential-Tauchankergeber, wie in Abb.
9.27 dargestellt, in Halbbr
ucken-Schaltung verwendet wird. Bei der Halb
br
ucke werden namlich gleichsinnige Anderungen
bez
uglich der Induktivitat
der beiden Sensorspulen (Gleichtaktstorungen, wie Temperatureinuss, etc.)

eliminiert und gegensinnige Anderungen


(der eigentliche Messeekt) addiert.

9.5 Wechselstrom-Messbr
ucken

269

verschiebbarer
Kern
a)

x0

Spule

L, L d

Ld
L0

-3 -2 -1 0 1 2 3
b)

0 1 2 3

4 x0 6 7 8

Abb. 9.26. Tauchanker-System als Wegsensor. a) Aufbau; b) Induktivit


at L der
Tauchankerspule als Funktion der Kernposition x. Ld bezeichnet die im Arbeitsaherung linearsierte Induktivit
at.
punkt x0 in N

Der Messeekt f
uhrt zu gegensinnigen Anderungen
in den Induktivitaten der
Teilspulen, da sich der Kern aus der einen heraus und in die andere hinein
bewegt. Dies f
uhrt zum gew
unschten Ergebnis, dass die Br
uckendiagonalspan-x

x=0

+x
verschiebbarer
Kern

Spule 2

Spule 1

R0

UD
R0

UE
Abb. 9.27. Doppelspulen-Tauchankersystem in Halbbr
ucken-Schaltung

270

9 Messung von elektrischen Impedanzen

nung UD u
ber eine weite Wegstrecke linear von der Wegverschiebung (des
Kerns) abh
angt.
Vollbr
ucke
Bei den Vollbr
ucken (Abb. 9.28) andern sich alle vier Br
uckenreaktanzen um

den Betrag X. Die Anderungen


erfolgen in den Br
uckenzweigen 1 und 4
sowie den Br
uckenzweigen 2 und 3 jeweils gleichsinnig gema
X1 = X4 = X0 X

(9.80)

X2 = X3 = X0 + X .

(9.81)

und
Analog zu Gl. (9.21) kann die Diagonalspannung U D abgeleitet werden
UD = UE

X2 X3 X1 X4
.
(X1 + X2 )(X3 + X4 )

(9.82)

Die Auswertung von Gl. (9.82) ergibt, dass die Diagonalspannung U D der
doppelten der Halbbr
ucke entspricht
U D = UE

X
.
X0

(9.83)

Abb. 9.28. Wechselstrom-Vollbr


ucke

Anwendungsbeispiel f
ur eine Vollbr
ucke:
Druckmessung mit Halbleiter-DMS
Zur Messung von mechanischen Kraften oder auch Dr
ucken werden des ofteren
Dehnungsmessstreifen in Verbindung mit Federkorpern eingesetzt. Sie wandeln die kraft- bzw. druck-proportionale Langendehnung des Federkorpers in

9.5 Wechselstrom-Messbr
ucken

271

ein entsprechendes elektrisches Signal um, wenn sie mit einer Hilfsquelle gespeist werden. Dehnungsmessstreifen (DMS) andern ihren relativen ohmschen
Widerstand in Abhangigkeit einer mechanischen Langendehnung in linearer
Weise
R
l
=k
.
(9.84)
R
l
Standardm
aig werden trotz ihres geringen k-Faktors (k 2) metallische
DMS eingesetzt. Dehnungsmessstreifen aus monokristallinem Silizium hingegen zeigen sehr groe k-Faktoren (typische k-Faktoren im Bereich k = 100),
so dass gegen
uber den Metall-DMS eine wesentliche Erhohung der Empndlichkeit erreicht werden kann. Auf diesem Sachverhalt basiert die Technologie
der Silizium-Drucksensoren. Die Fertigung der Federkorper erfolgt in Form
d
unner Kreis- oder Rechteckmembranen. Da die Herstellung monokristalliner D
unnlme technologisch nur mit hohem Aufwand zu realisieren ist, wird
die gesamte Druckmembran aus monokristallinem Silizium hergestellt und die
Dehnungsmessstreifen in Form piezoresistiver Zonen (Widerstande) in diese
hineindiundiert (Abb. 9.29). Die Diusion erfolgt mit typischen Fremdatomen, wie etwa Bor. Die mechanische Bearbeitung des Siliziums geschieht mit
Methoden der sog. Silizium-Mikromechanik [80]. Dabei werden kleinste mechanische Strukturen aus Silizumwafern mit Hilfe von Fotolithographie und

anisotropen Atzverfahren
gefertigt. Dazu kommen noch D
unnschichtprozesse,
Kontaktierung
(Leiterbahn)
Membranzone
1

R2

R1
R4

2'
DMS
(piezoresistive
Widerstnde R 1
bis R 4 )
a)

R3

Druck p
DMS
(piezoresistive
Widerstnde)
Si 3N 4

Kontaktierung
(Leiterbahn)
SiO 2

1'
SiliziumSubstrat

Glastrger SiliziumEpitaxieschicht

b)

Abb. 9.29. a) Anordnung (Aufsicht) der piezoresistiven Widerst


ande
ande
(R1 , R2 , R3 , R4 ) in der Siliziummembran eines Drucksensors. Die Widerst
sind zu einer Vollbr
uckenschaltung verschaltet. An den Kontakten 1 und 1 kann die
Diagonalspannung abgegrien werden. An den Kontakten 2 und 2 wird die Speisespannung der Br
ucke zugef
uhrt; b) Aufbau des mikromechanisch hergestellten
Drucksensors im Querschnitt.

272

9 Messung von elektrischen Impedanzen

mit denen d
unne Schichten aus Siliziumoxid (SiO2 ) und Siliziumnitrid (Si3 N4 )
auf dem Siliziummaterial aufgebracht werden.
Silizium zeigt ausgezeichnete elastische Eigenschaften: Es ist mit konstantem Elastizitatsmodul dehnbar bis zu einer Bruchdehnung von ca. 0,5 %, wobei
die Reproduzierbarkeit der Dehnung und die Hysterese nicht schlechter sind
als bei anderen guten Federwerkstoen.
Die Verschaltung der 4 DMS (piezoresistive Widerstande) erfolgt vorteilhafterweise in Voll-Br
uckenschaltung. Dies ist moglich, da die Widerstande R1
und R4 , die nahe dem Zentrum der Membran angeordnet sind, eine im Vergleich zu den im Auenbereich der Membran angeordeneten Widerstanden R2
und R3 entgegengesetzte Dehnung erfahren. Dies liegt daran, dass in der Zone
zwischen diesen beiden Widerstandspaaren, also bei einem mittleren Radius,
die spannungsneutrale Faser liegt. In Zonen mit groeren (von der neutralen Faser aus gesehen) Radien wird die Membran gedehnt, wahrend sie bei
kleineren Radien gestaucht wird. Dies f
uhrt zu einer Vergroerung der Widerstandswerte bei R2 und R3 und zu einer Verringerung bei R1 und R4 .

Bei Umkehr des Druckes (Uberdruck


Unterdruck) kehren sich auch bei
den Widerstandswerten die Verhaltnisse um. Somit konnen die Widerstande
idealerweise zu einer Vollbr
ucke verschaltet werden. Dies f
uhrt, wie schon bei
dem Anwendungsbeispiel zur Halbbr
uckenschaltung, einerseits zu einer Linearisierung sowie andererseits zu einer Erhohung der Empndlichkeit gegen
uber
Viertel- bzw. Halbbr
uckenschaltungen. Man erreicht dadurch schlielich u
ber
weite Druckbereiche eine lineare Abhangigkeit der Br
uckendiagonalspannung
vom angelegten mechanischen Druck.
Bei Absolutdrucksensoren ist die untere Seite des Sensors gasdicht geschlossen, so dass im Sensor ein vorgegebener permanenter Druck eingestellt
werden kann. Bei Dierenzdrucksensoren hingegen ist die untere Seite
durchbohrt, so dass von unten ein Referenzdruck wirkt. Die Abb. 9.29b zeigt
den Aufbau eines monokristallinen (monolithischen) Silizium-Drucksensors.
Die Herstellung von Silizium-Drucksensoren mit niedrigen Temperaturkoezienten erfordert einigen Aufwand, insbesondere wegen der vergleichsweise starken Temperaturabhangigkeit des spezischen Widerstands und des k-Faktors
von Silizium. Eine Reduktion der Temperaturabhangigkeit kann u. a. durch
eine Konstantstromspeisung der Br
ucke erreicht werden, da der Widerstand
des Siliziums mit der Temperatur ansteigt, wahrend der k-Faktor hingegen
mit der Temperatur abnimmt.

10
Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer
Signale (Oszilloskope)

Es z
ahlt zu den Standardaufgaben der elektrischen Messtechnik, den Zeitverlauf von elektrischen Signalen unter Angabe von Zeit- und Amplitudenwerten darzustellen bzw. zu registrieren. Sehr haug wird dabei auf eine
Realzeitdarstellung Wert gelegt, bei der das Signal zeitgleich mit seinem
Auftreten bildlich dargestellt wird. In der Elektrischen Messtechnik setzt
man zu diesem Zweck Elektronenstrahl-Oszilloskope ein, welche der Visualisierung des Zeitverlaufes einer elektrischen Spannung u(t) dienen. Die im
Folgenden beschriebenen Oszilloskope sind Gerate, die eine solche bildliche

Darstellung des Signals entweder in Realzeit oder in Aquivalenzzeit


(zeitlich
gestaelte Abtastung periodischer Signale) erlauben. Die Gerate konnen dabei auf analoger oder digitaler Basis arbeiten. Sie werden dementsprechend
als Analog-Oszilloskope (analoge Elektronenstrahl-Oszilloskope) (Kap. 10.1)
bzw. als Digital-Oszilloskope (Digital-Speicheroszilloskope, Digital Sampling
Oscilloscope (DSO)) (Kap. 10.4) bezeichnet. Im Gegensatz zu den fr
uher verwendeten Oszillographen, welche die Registrierung von elektrischen Signalen
auf fotograschem Papier ermoglichten, handelt es sich bei den heute eingesetzten Oszilloskopen um Sichtgerate, bei denen ein Elektronenstrahl mit
konstanter Geschwindigkeit in horizontaler Richtung u
ber eine phosphoreszierende Schicht gef
uhrt wird und beim Auftreen auf diese Leuchtschicht f
ur
eine kurze Zeitdauer einen sichtbaren Punkt erzeugt. Die vertikale Strahlablenkung ist proportional der dargestellten Spannung, so dass bei entsprechend
schneller und permanenter Wiederholung des Schreibvorganges ein dauernd
sichtbares Leuchtbild der darzustellenden Signalspannung entsteht.

10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop


10.1.1 Aufbau und Funktion der Elektronenstrahl-R
ohre
Das analoge Elektronenstrahl-Oszilloskop besitzt als Herzst
uck eine Braunsche Rohre, in der ein Elektronenstrahl den Zeitverlauf des angelegten elek-

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_10

274

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.1. Elektronenstrahl-R


ohre (Braunsche R
ohre) mit elektrostatischer Strahlfokussierung und elektrostatischer Strahlablenkung

trischen Signals auf eine Leuchtschicht schreibt. Abbildung 10.1 zeigt den Aufbau einer solchen Elektronenstrahl-Rohre. Die Rohre besteht aus einem evakuierten Glaskolben, der die zur Erzeugung, Fokussierung und Ablenkung des
Elektronenstrahls erforderlichen Einheiten enthalt. Dabei werden die von einer
Gl
uh-Kathode emittierten Elektronen infolge der zwischen Kathode und Anode anliegenden elektrischen Spannung zunachst in Richtung des Leuchtschirmes beschleunigt. Auf diesem Wege wird der Elektronenstrahl durch weitere
elektrische Felder fokussiert, welche durch Anlegen von geeigneten elektrischen
Spannungen an den Wehnelt-Zylinder, die Anoden 1 und 2 sowie die beiden
Hilfsgitter erzeugt werden. Danach durchlaufen die Elektronen das Vertikal(y-Platten) sowie das Horizontal-Ablenksystem (x-Platten) und treen schlielich auf der Leuchtschicht der Rohrenvorderseite auf. Abbildung 10.2 verdeutlicht die Geometrie der vertikalen Strahlablenkung, die im Folgenden in
Abh
angigkeit der Ablenkspannung sowie der Geometrie des Ablenksystems
berechnet wird. Durch das Anlegen einer Spannung uz zwischen Kathode

Abb. 10.2. Geometrie der Strahlablenkung in einer Oszilloskop-R


ohre

10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop

275

und Anode entsteht ein elektrisches Feld Ez , welches die emittierten Elektronen (Masse m0 = 9, 1 1031 kg; Ladung e0 = 1, 6 1019 As) auf eine
Horizontalgeschwindigkeit vz beschleunigt. Aus Energieerhaltungsgr
unden ist
die kinetische Energie Wkin des Elektrons gleich der beim Durchlaufen des
elektrostatischen Feldes aufgenommenen elektrischen Energie Wel , sodass die
Horizontalgeschwindigkeit vz des Elektrons aus der Anodenspannung uz wie
folgt ermittelt werden kann
Wkin = Wel
1
m0 vz2 = e0 uz
2

e0
uz
vz = 2
m0
vz (kms1 ) = 1, 88 104

(10.1)
(10.2)
(10.3)

uz (kV) .

(10.4)

Die mechanische Kraft Fy , die das Elektron in vertikaler Richtung ablenkt,


ergibt sich aus dem Produkt von Elektronenladung und der Feldstarke Ey ,
die zwischen den Vertikalablenkplatten herrscht
Fy = m0 ay = e0 Ey .

(10.5)

Nach Durchlaufen der y-Plattenstrecke sz (Abb. 10.2) erreicht das Elektron


seine vorerst maximale y-Geschwindigkeit vymax , die sich aus dem Produkt von
y-Beschleunigung ay und der Verweilzeit Tz des Elektrons im y-Plattenpaar
errechnet
sz
vymax = ay Tz = ay .
(10.6)
vz
Dabei wurde die Ablenkspannung uy und damit die Vertikalbeschleunigung
ay f
ur die Verweildauer Tz des Elektrons im Vertikalablenksystem als konstant
angenommen. Die Ablenkung yL des Elektrons auf dem Schirm und damit die
Vertikalposition des Leuchtecks ergibt sich mit den in Abb. 10.2 bezeichneten
Gr
oen und unter Zuhilfenahme von Gln. (10.5) und (10.6)
yL = yp + vymax

lz
sz l z
sz l z
e0
= y p + ay
= yp +
Ey 2 .
vz
vz vz
m0
vz

(10.7)

Mit der Vertikalkomponente Ey der elektrischen Feldstarke zwischen den parallelen y-Ablenkplatten
uy
Ey =
(10.8)
dy
und Gl. (10.3) erhalt man schlielich den gesuchten Zusammenhang zwischen
der vertikalen Strahlablenkung yL , der Ablenkspannung uy , der Anodenspannung uz und den geometrischen Abmessungen des Vertikalablenksystems sowie dessen Distanz lz zur Leuchtschicht
yL = yp +

u y sz l z
.
uz 2dy

(10.9)

276

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Die absolute Auslenkung yL auf dem Leuchtschirm ist exakt proportional


der Ablenkspannung uy , wenn der Beitrag von yp (Abb. 10.2) vernachlassigt
werden darf (yp yL ), was in praktischen Fallen in der Regel erlaubt ist
u y sz l z
uz 2dy

(10.10)

e 0 u y sz l z
.
m0 dy vz2

(10.11)

yL
bzw.
yL

Die Proportionalitatskonstante zwischen uy und yL wird als Ablenkkoezient


Ky bezeichnet
uy
2dy
=
uz .
(10.12)
Ky =
yL
sz l z
Der Ablenkkoeizient wird i. Allg. in (V/cm) angegeben. Der Kehrwert
des Ablenkkoeizienten Ky wird Ablenkempndlichkeit genannt. Ein kleiner Vertikal-Ablenkkoeizient Ky und damit eine hohe Ablenkempndlichkeit
l
asst sich durch folgende Manahmen erreichen:
-

groe Plattenl
ange sz :
Wenn die Lange sz der y-Ablenkplatten gro ist, sind die Elektronen der
Beschleunigungskraft Fy langer ausgesetzt und infolgedessen nimmt die
Geschwindigkeitskomponente vymax zu, was wiederum zu hoheren Auslenkungen auf dem Schirm f
uhrt (Gln. (10.7 - 10.12)). Lange Platten f
uhren
allerdings zu Laufzeitfehlern, da sich wahrend der Verweilzeit der Elektronen zwischen den Platten die Ablenkspannung uy bereits zeitlich andern
kann (Kap. 10.3). So ist es zum Erreichen einer hohen Grenzfrequenz des
Ablenksystems gerade notwendig, auf eine kurze Einwirkdauer der Coulombschen Anziehungskraft Wert zu legen, d. h. man fordert dementsprechend eine hohe Elektronengeschwindigkeit im Ablenksystem und kurze
Ablenkplatten.
groer Abstand lz Ablenkplatten - Leuchtschirm:

Die Schirmauslenkung yL ist dem Abstand lz zwischen Ablenkplatten und


Schirm direkt proportional. Der Verlangerung dieses Abstandes steht allerdings der Wunsch nach kompakten Rohren mit kurzen Baulangen entgegen.
geringer Plattenabstand dy :
Je kleiner der Plattenabstand dy , desto hoher wird die Feldstarke Ey
(Gl. (10.8)) und damit auch die beschleunigende Kraft Fy (Gl. (10.5)).
Allerdings steht diese Forderung indirekt dem Wunsch nach langen yAblenkplatten entgegen. Denn bei langen Platten mit geringen Abstanden
l
auft man Gefahr, dass die Elektronen auf die Platten auftreen.
geringe Anodenspannung uz :

Da die Horizontalgeschwindigkeit vz proportional uz ist, sinkt mit der


Anodenspannung die Horizontalgeschwindigkeit und damit steigt die Verweildauer der Elektronen zwischen den Ablenkplatten. In ihrer Wirkung

10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop

277

ist diese Manahme vergleichbar mit der Verlangerung der Platten. Da


eine niedrige Elektronengeschwindigkeit aber aufgrund der niedrigen kinetischen Energie der auftreenden Elektronen auch zu einer Verringerung
der Strahlhelligkeit f
uhrt, verwendet man sog. Nachbeschleunigungselektroden (siehe Abb. 10.1). Diese auf hohem positivem Potential (10 bis 20 kV)
liegenden Elektroden haben die Aufgabe, die Elektronen zu beschleunigen,
nachdem sie das Ablenksystem bereits durchlaufen haben. Es wird damit
erreicht, dass einerseits die Elektronengeschwindigkeit im Ablenksystem
gering ist, wahrend sie andererseits beim Auftreen auf die Leuchtschicht
hoch ist. Es lassen sich also hohe Ablenkempndlichkeiten bei gleichzeitig hoher Strahlhelligkeit verwirklichen. Die Nachbeschleunigungselektrode
ist i. Allg. in Form einer Graphitwendel ausgef
uhrt, die so aufgebaut ist,
dass bei der Nachbeschleunigung eine moglichst geringe parasitare Richtungsbeeinussung stattndet. Aufgrund der Nachbeschleunigung kommt
es i. Allg. zu Linearitatsfehlern (Kap. 10.3.2), d. h. die Ablenkempndlichkeit am Rand ist nicht mehr mit der in der Bildmitte identisch.
Abschlieend sei bemerkt, dass die oben abgeleiteten Beziehungen in analoger Weise auch f
ur das Horizontal-Ablenksystem gelten. Die Horizontalablenkplatten sind meistens nach dem Vertikal-Ablenksystem angeordnet, was
aufgrund der geringeren Entfernung lz zum Leuchtschirm zu einer kleineren
Ablenkempndlichkeit f
uhrt (Gl. (10.12)).
10.1.2 Zeitablenkung und Triggerung

Ublicherweise
werden Oszilloskope als Spannungs-Zeit-Schreiber (y-t-Schreiber) genutzt. Dazu erzeugt der Horizontalverstarker (x-Verstarker) eine Spannung, die proportional zur Zeit ansteigt (Sagezahnspannung) (Abb. 10.3). Die
Anstiegszeit dieser Sagezahnspannung legt den Zeitmastab f
ur die x-Achse
fest. Der Zeitablenk-Koe izient dieser Sagezahnspannung Kx gibt somit jene Zeit an, die der Strahl zum Durchlaufen einer Rastereinheit benotigt, z. B.
Kx = 100 s/cm. Ein scheinbar stehendes Bild entsteht nur dann, wenn immer
wieder derselbe zeitliche Abschnitt eines Signals erfasst und dargestellt wird
(Abb. 10.5). Daf
ur sorgt die sog. Triggerschaltung, die erkennt, wann der entsprechende Signalausschnitt beginnt. Nach Eintreten dieses Triggerereignisses
wird die horizontale Strahlablenkung gestartet, d. h. es wird die Sagezahnspannung an die x-Ablenkplatten gelegt.
Eine Triggereinrichtung (Abb. 10.4) gestattet zunachst die Erzeugung einer beliebigen Vergleichsspannung mit Hilfe des Level-Potentiometers. Ein
Komparator vergleicht schlielich den so gewahlten Triggerpegel mit dem Eingangssignal, und wenn die Eingangsspannung den voreingestellten Pegelwert
u
bersteigt, liefert der Komparator eine positive Taktanke, die wiederum die
monostabile Kippstufe auslost. Bei in   -Stellung bendlichem Slope-Schalter
ist der Invertierer aktiv und das Monoop wird bei Unterschreiten des voreingestellten Pegels ausgelost, d. h. es wird auf die abfallende Flanke (negative

278

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.3. Erzeugung eines Oszillogramms (Schirmbildes) mit Hilfe der Spannung
agezahnspannung ux (t)
uy (t) und der S

Triggeranke (Abb. 10.5)) getriggert. Bei Anliegen eines periodischen Eingangssignals (Triggersignal) wird am Komparatorausgang ein Rechtecksignal
erzeugt, dessen Frequenz der des Triggersignals entspricht. Die monostabile Kippstufe erzeugt bei jeder positiven bzw. negativen Flanke des Rechtecksignals einen Impuls konstanter zeitlicher Lange, welcher wiederum den
S
agezahngenerator startet. Die Impulsdauer muss so kurz sein, dass auch bei
der h
ochsten Triggersignalfrequenz die entstehenden Triggerimpulse getrennt
werden k
onnen.

Abb. 10.4. Prinzipschaltbild einer Triggereinrichtung

10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop

279

Abb. 10.5. Prinzip der Triggerung: a) Generieren der S


agezahnspannung ux (t) bei
positiver und negativer Triggeranke, b) Schirmbilder bei positiver und negativer
Triggeranke

Mit Hilfe einer sog. verzogerten Zeitbasis gelingt es, einen beliebigen zeitlichen Ausschnitt eines dargestellten Oszilloskopbildes auf die gesamte Breite
des Schirmes zu expandieren. Diese Lupenwirkung lasst sich unter Verwendung von zwei unabhangigen Zeitbasen, der sog. Hauptzeitbasis (Main Time
Base MTB) und der verzogerten Zeitbasis (Delayed Time Base DTB), erreichen. Abbildung 10.6 erlautert die prinzipielle Arbeitsweise einer verzogerten
Zeitbasis. Sie enthalt am Eingang eine der Abb. 10.4 entsprechende Triggereinheit, welche die Hauptzeitbasis und damit die gewohnliche Schirmbilddarstellung startet. Die dazu notwendige Sagezahnspannung der Hauptzeitbasis
wird gleichzeitig mit Hilfe des gezeigten Komparators mit einem voreingestellten Spannungswert verglichen, der einem Wert tV auf der Zeitachse des
Schirmbildes entspricht. Bei Erreichen dieses Schwellwertes bzw. der Zeitmarke tV wird die verzogerte Zeitbasis gestartet, deren Sagezahnanstiegsgeschwindigkeit i. Allg. um ein Mehrfaches hoher liegt als die der Hauptzeitbasis. Wenn f
ur das dargestellte Schirmbild die Sagezahnspannung uXV der
verz
ogerten Zeitbasis verwendet wird, erscheint auf dem Schirmbild der mit
tV bezeichnete Ausschnitt des urspr
unglichen Bildes (Ablenkspannung uXH )
auf der ganzen Breite des Schirmes. Im urspr
unglichen Schirmbild wird dieser

280

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.6. Prinzip einer verz


ogerten Zeitbasis: a) Prinzipschaltbild, b) Ablenkung
mit Hauptzeitbasis, c) Ablenkung mit verz
ogerter Zeitbasis

Ausschnitt zwecks Positionierung der Zeitmarke tV und Einstellen der Lange


tV des zu spreizenden Bildausschnittes aufgehellt dargestellt. Von dieser Art
der Darstellung wird man vor allem dann Gebrauch machen, wenn ein zeitlich
zu spreizendes Signaldetail erst lange Zeit nach einer moglichen Triggerstelle
im Signal folgt.
10.1.3 Funktionsgruppen eines Analog-Oszilloskops
Abbildung 10.7 zeigt das Blockschaltbild eines 2-Kanal-Oszilloskops mit Standardausstattung, allerdings ohne verzogerte Zeitbasis. Als Eingange stehen
hier die beiden y-Eingange y1 und y2 zur Messung zeitabhangiger Spannungen, der z-Eingang zur Helligkeitsmodulation des Elektronenstrahles, der
Triggereingang zum externen Start der Zeitbasis sowie ein x-Eingang zur
Einspeisung einer beliebigen Horizontal-Ablenkspannung zur Verf
ugung. Sowohl der Eingang der Triggerschaltung als auch die Eingange der y-Verstarker
sind mit einem Gleichspannungseingang (DC) und einem Wechselspannungseingang (AC) versehen. Am Triggereingang ist ein Triggerlter vorhanden,
welches das Ausblenden von hohen oder tiefen Spektralanteilen mit Hilfe eines RC-Tief- bzw. Hochpasslters ermoglicht. Die Vertikalverstarker (Gleichund Wechselspannungsverstarker) sowie die Elektronenstrahl-Rohre samt ihrer Ablenksysteme bestimmen die obere Grenzfrequenz des Oszilloskops, welche wiederum wesentlich den technischen Aufwand und damit die Herstellungskosten beeinusst. Zur unverfalschten Darstellung bzw. Aufzeichnung
eines Signals ist es generell notwendig, dass das Messsystem (Oszilloskop) ei-

10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop

Abb. 10.7. Blockschaltbild eines 2-Kanal-Oszilloskops

281

282

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

ne Grenzfrequenz fgMesssystem aufweist, die mindestens so hoch liegt wie die


des zu messenden Signals
fgMesssystem fgSignal .

(10.13)

Im Falle von Oszilloskopen wird vom Hersteller anstatt der oberen Grenzfrequenz oft die Anstiegszeit tr (Risetime) angegeben. Sie ist die Zeit, die der
Strahl bei einem Spannungssprung am Eingang zum Schreiben des zwischen
10 und 90 % des Endwertes liegenden Signalverlaufes benotigt (Abb. 10.8).

Abb. 10.8. Denition der Anstiegszeit (Risetime) tr

Die obere Grenzfrequenz fg lasst sich aus der Anstiegszeit tr anhand der
N
aherungsformel
fg tr 0, 35
(10.14)
bestimmen, welche in Kap. 10.3.3 hergeleitet wird. Die Verzogerungsleitung
im y-Kanal hat die Aufgabe, die y-Spannung zeitlich verzogert auf die Ablenkplatten zu geben. Damit wird sichergestellt, dass bei Sprungsignalen auch
die ansteigende bzw. abfallende Flanke noch deutlich auf dem Schirm sichtbar ist. Ohne eine solche Verzogerungsleitung best
unde bei sehr schnellen
Signalen die Gefahr, dass die Flanke schon anliegt, bevor die Zeitbasis die
Strahlablenkung starten konnte. Zur gleichzeitigen Darstellung mehrerer, im
Allgemeinen zweier, Signale verwendet man in der Regel ebenfalls einstrahlige Elektronenstrahl-Rohren, deren Vertikalablenksystem im Wechsel von verschiedenen y-Kanalen u
ber einen elektronischen Umschalter angesteuert werden. Dieser in Abb. 10.7 mit ALT/CHOP bezeichnete Schalter wird u
bli
cherweise in Form eines schnellen Analog-Multiplexers [182] realisiert. Die
Ansteuerung der y-Platten geschieht dabei entweder im Alternierenden-Mode
oder im Chopper-Mode (Abb. 10.9):

Alternierender-Mode
W
ahrend einer vollstandigen x-Ablenkperiode wird immer nur das Signal
eines Kanals, z.B. das Signal y1 (t), an die y-Platten gelegt, wahrend in der
darauffolgenden Periode der x-Ablenkung das Signal y2 (t) des 2. Kanals
geschrieben wird. F
ur Phasenvergleiche zwischen den Signalen y1 (t) und

10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop

283

Abb. 10.9. Funktionsprinzip des Chopperbetriebs: a) Zeitverl


aufe der Eingangssignale, b) Schirmbilddarstellung

y2 (t) ist darauf zu achten, dass die Triggerung immer vom selben Kanal,
entweder Kanal 1 oder Kanal 2, ausgelost wird.
Chopper-Mode
Im Gegensatz zum alternierenden Mode wird in dieser Betriebsart wahrend
einer einzigen x-Ablenkperiode in zeitlich sehr kurzen Abstanden zwischen den Kanalen 1 und 2 umgeschaltet, so dass die Darstellung der
Signale y1 (t) und y2 (t) quasi zeitgleich, d. h. in einem, verglichen zur xAblenkperiode und damit auch zum alternierenden Betrieb, kurzzeitigen
Wechsel erfolgt.

10.1.4 Sampling-Oszilloskop
Das Sampling-Oszilloskop ist eine Ausf
uhrungsform des Oszilloskops, das auf
die Darstellung periodisch wiederkehrender Signale mit sehr hohen Frequenzanteilen spezialisiert ist, wie z. B. die Visualisierung von in konstanten zeitlichen Abst
anden wiederkehrenden kurzen Pulsen. Dabei darf die Grenzfrequenz des (periodisch wiederkehrenden) Messsignals sogar weit u
ber der oberen Grenzfrequenz des Oszilloskops liegen. Die Funktionsweise des Sampling
Oszilloskops beruht auf einer Signaldarstellung in Aquivalenzzeit,
deren Prinzip anhand von Abb. 10.10 verdeutlicht werden soll. Das Messsignal wird von
einem Sampling-Oszilloskop stroboskopartig abgetastet, wobei die Abtastzeitpunkte gegen
uber einem zeitlich festen Bezugspunkt im Signalverlauf, z. B.
dem Triggerpunkt, um ein ganzzahliges Vielfaches von T versetzt werden.
Dadurch gelingt die vollstandige Abtastung des Signals mit einer Abtastfrequenz fa , die kleiner ist als der Kehrwert der Signalperiodendauer Ts
fa <

1
.
Ts

(10.15)

Die Dauer der Abtastperiode Ta betragt im einfachen Fall (Abb. 10.10)


Ta = Ts + T ,

(10.16)

284

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.10. Sequentielle Abtastung einer periodischen Signalfunktion in Aquiva


lenzzeit: a) Darstellung im Realzeitmastab, b) Darstellung im Aquivalenzzeitmastab

und im allgemeinen Fall


Ta = kTs + T k = 1, 2, 3, ... .

(10.17)

Dadurch erreicht man pro Abtastperiode eine auf die Aquivalenzzeit,


d. h. auf
den einmaligen Puls, bezogene zeitliche Verschiebung des aktuellen Abtastzeitpunktes gegen
uber dem vorhergehenden um T . Mit fa = 1/Ta , fs = 1/Ts
und f
ur k = 1 lasst sich diese zeitliche Verschiebung T der Abtastzeitpunkte
aus den Gln. (10.16) bzw. (10.17) wie folgt ableiten
T =

1
1

.
fa
fs

(10.18)

Nach N Abtastungen ist eine Periode des Messsignals vollstandig abgetastet


(Rundungsfehler auer acht gelassen)
N=

Ts
fa
=
.
T
fs fa

(10.19)

Bei dieser Form der Signalerfassung muss der eigentliche Abtastvorgang der
einzelnen Signalwerte allerdings auch in Realzeit erfolgen, d. h. die Abtastung
muss so schnell erfolgen, dass das Signal wahrend dieser Zeit als konstant
angesehen werden kann, wohingegen die restliche Verarbeitung des Abtastwertes in einem gegen
uber der Realzeit gedehnten Mastab erfolgen darf. Die

10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop

285

Grenzfrequenz des Oszilloskops wird damit letztlich von der Geschwindigkeit


bestimmt, mit der ein einzelner Wert erfasst (abgetastet) werden kann.
Das zeitliche Dehnungsverhaltnis dvt , also das Verhaltnis von Realzeit zu

Aquivalenzzeit
(auf den abgetasteten Signalausschnitt bezogene Zeit) ergibt
sich zu (Abb. 10.10)
dvt =

Ta
fs
Tend
N Ta
=
=
=
.

Tend
N T
T
fs fa

(10.20)

Wie die beim Sampling-Oszilloskop vorkommende Unterabtastung mit dem


Shannonschen Abtasttheorem (Kap. 11.6.1) vereinbar ist, soll anhand von
Abb. 10.10 und 10.11 demonstriert werden. Infolge der Abtastung entstehen
jeweils Duplikate des Spektrums des abgetasteten Signals bei den ganzzahligen
Vielfachen der Abtastfrequenz fa [135]. Die Abstande der Spektrallinien ergeben sich stets als Kehrwert der Zeit, bei der der gesamte Abtastvorgang beendet wird. Im Falle der Abtastung nach Abb. 10.10a lassen sich zwei Endzeiten
denieren. Zum einen lasst sich die reale Endzeit Tend (Realzeit), nach der
die Abtastung aller N Signalperioden abgeschlossen ist (Abb. 10.10), gema
Gln. (10.16) und (10.19) wie folgt angeben
Tend = N Ta = N (Ts + T ) .

(10.21)

ur das abgetastete Spektrum


Damit ergibt sich der Spektrallinienabstand f0 f
f0 =

1
Tend

1
fs
=
.
N Ta
dvt

(10.22)

ist die, die auf den komprimierten Zeitmastab (AquiDie zweite Endzeit Tend
valenzzeit) bezogen wird (Abb. 10.10b)

Tend
=

Tend
= N T = Ts .
dvt

(10.23)


ist hier vereinbarungsgema (Gl. (10.19)) mit der PeriDiese Endzeit Tend
odendauer Ts des Signals identisch. Der Frequenzabstand f0 zwischen den

Abb. 10.11. Spektrum (schematisiert) bei Abtastung in Aquivalenzzeit

286

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

einzelnen Linien im Spektrum des Originalsignals (in Abb. 10.11 mit Origi
nalspektrum bezeichnet) entspricht damit der Wiederholfrequenz fs in der
Signalfunktion
1
f0 =  = f0 dvt = fs .
(10.24)
Tend
Unter Ber
ucksichtigung der oben abgeleiteten Zusammenhange lasst sich das
Originalspektrum gema dem in Abb. 10.11 gezeigten Schema aus dem real
erhaltenen abgetasteten Spektrum rekonstruieren. Denn aus den Gln. (10.20),
(10.22) und (10.24) folgt die Beziehung
nf0 = nfa + nf0
bzw.
nfs = nfa + n

fs
dvt

n = 1, 2, . . . , N

(10.25)

n = 1, 2, . . . , N ,

(10.26)

welche besagt, dass die n-te Spektrallinie des Originalspektrums identisch ist
mit der n-ten Spektrallinie des abgetasteten Spektrums, das bei der n-fachen
Abtastfrequenz entsteht.

10.2 Spannungsteiler in Elektronenstrahl-Oszilloskopen


Spannungsteiler kommen in Elektronenstrahl-Oszilloskopen als Eingangsteiler oder als Tastkopf (s. auch Abb. 10.13) vor. Zur Erzielung eines guten
dynamischen Verhaltens ist es notwendig, diese Spannungsteiler frequenzkompensiert auszuf
uhren. Die daraus resultierende Schaltung besteht aus einem
Spannungsteiler, dessen Impedanzen jeweils aus einer Parallelschaltung eines
ohmschen Widerstandes und einer Kapazitat bestehen (Abb. 10.12). Das Teilerverh
altnis V T , also das Verhaltnis von Eingangs- zu Ausgangsspannung,
ergibt sich zu
U
RT (1 + jRE CE )
V T = E1 = 1 +
.
(10.27)
U E2
RE (1 + jRT CT )
Wenn man die Zeitkonstanten 1 und 2 der beiden Impedanzen identisch
w
ahlt

Abb. 10.12. Eingangsspannungsteiler eines Oszilloskops

10.2 Spannungsteiler in Elektronenstrahl-Oszilloskopen

T = RT CT = RE CE = E ,
ergibt sich das frequenzunabhangige Teilerverhaltnis VTR


RT
V T 
= VTR = 1 +
.
RE
1 =2

287

(10.28)

(10.29)

Die Eingangsimpedanz Z Eges des Teilers ist aber auch in diesem Fall sehr wohl
frequenzabhangig. Sie betragt bei Frequenzkompensation, d. h. f
ur den Fall
T = E = ,
RT + RE
RT + RE
.
(10.30)
Z Eges =
=
1 + jRE CE
1 + j
Die entsprechende Eingangsadmittanz Y Eges ergibt sich dementsprechend zu
Y Eges =

1
+ jCEges ,
REges

(10.31)

wobei sich REges und CEges mit dem reellen Teilerverhaltnis VTR aus Gl. (10.29)
wie folgt berechnen

Abb. 10.13. Frequenzkompensation des Eingangsteilers: a) Ersatzschaltung eines


Tastteilers am Verst
arkereingang, b) Unterkompensation (VTC > VTR ), Kompensa
tion (VTC = VTR ) und Uberkompensation
(VTC < VTR )

288

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

REges = VTR RE
CE
.
CEges =
VTR

(10.32)
(10.33)

Der Abgleich von CT kann gema Abb. 10.13 auf sehr einfache Weise durch
Anlegen einer Rechteckspannung u
uft bzw. eingestellt werden.
berpr

10.3 Fehler der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie


10.3.1 Statische Fehler (Fehler der Ablenkkoe izienten)
Die einzelnen in Serie geschalteten Messglieder des x- und des y-Kanals sind
mit Empndlichkeitsfehlern behaftet, die sich infolge der Multiplikation der
Empndlichkeiten der einzelnen Stufen im jeweiligen Kanal zum Gesamtempndlichkeitsfehler summieren. Typische Werte der Fehlergrenzen von Ablenkkoeizienten liegen sowohl f
ur die Vertikal- als auch f
ur die HorizontalAblenkung bei etwa 1 - 3 %. Die Fehlerangaben konnen mit der absoluten
Gr
oe des Ablenkkoeizienten variieren, wobei i. Allg. die kleineren Ablenkkoeizienten groere Fehler aufweisen. Bei diesen Fehlern handelt es sich vorwiegend um systematische Fehler, die u
ber den gesamten Anzeigebereich konstant bleiben. Sie lassen sich also quantitativ ermitteln und korrigieren.
Beispiel Fehler bei der Anstiegszeit
Es sollen die maximalen Fehlergrenzen bei der Messung der Anstiegsgeschwindigkeit einer Rampenspannung ermittelt werden, wenn die relativen Fehler fy
und fx der Vertikal- bzw. der Horizontal-Ablenkeinheiten bekannt sind. Der
relative Gesamtfehler fan bei der Ermittlung der Anstiegsgeschwindigkeit ergibt sich zu
UMess
Uw
fan = tMessUw tw ,
(10.34)
tw

wobei UMess /tMess die mit dem Oszilloskop gemessene und Uw /tw die
wahre Anstiegsgeschwindigkeit ist. Aus Gl. (10.34) folgt mit den Denitionsgleichungen f
ur die relativen Fehler fy und fx von Vertikal- und HorizontalAblenkeinheit
UMess
= 1 fy
(10.35)
Uw
und
tMess
= 1 fx
(10.36)
tw
der relative Gesamtfehler fan
fan =

UMess tw
1 fy
1=
1.
Uw tMess
1 fx

(10.37)

10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie

289

F
ur kleine Fehler (|fy | 1) und (|fx | 1) gelten die Naherungen
1
1 fx
1 fx

(10.38)

(1 fy )(1 fx ) 1 fy fx .

(10.39)

und
Damit lassen sich die Fehlergrenzen bei der Messung der Anstiegszeit als Summe der relativen (Einzel)-Fehler von Vertikal- und Horizontal-Ablenksystem
angeben
fan = (|fy | + |fx |) .
(10.40)
10.3.2 Linearit
atsfehler
Nichtlinearitaten im Horizontal- sowie dem Vertikal-Ablenksystem f
uhren
zu Linearit
atsfehlern, die sich darin auern, dass die Ablenkkoeizienten
Ky und Kx innerhalb des Schirmbildes nicht mehr konstant sind. Typischerweise a
uern sich Linearitatsfehler in den Randbereichen des Schirmbildes (Abb. 10.14). Zur Angabe des Linearitatsfehlers werden die Ablenkkoeizienten Ky und Kx jeweils im Bereich 1 des Schirmbildes (Abb. 10.14)
gemittelt (K x1 bzw. K y1 ) und als wahre Werte herangezogen. Als Istwerte
nimmt man jeweils die im Bereich 2 gemittelten Ablenkkoezienten (K x2
bzw. K y2 ), also die der Randbereiche. Damit ergibt sich der relative Linearit
atsfehler fNLy des Vertikalablenksystems zu
fNLy =

K y2 K y1
.
K y1

(10.41)

Der entsprechende relative Linearitatsfehler fNLx des Horizontal-Ablenksystems ergibt sich dementsprechend

Abb. 10.14. Beispiel eines Linearit


atsfehlers bei der Vertikalablenkung. Die SollKennlinie ist eine Gerade.

290

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

fNLx =

K x2 K x1
.
K x1

(10.42)

Typische Werte f
ur die Linearitatsfehler liegen bei 2 - 5 %.
10.3.3 Dynamische Fehler des Oszilloskops
Da die Eingangsimpedanz eines Oszilloskops aus der Parallelschaltung eines
ohmschen Widerstandes und einer Kapazitat besteht und damit frequenzabh
angig ist, kann es bei der Messung von zeitlich veranderlichen Spannungen
zu dynamischen Messfehlern kommen. Der entsprechende systematische Fehler soll im Folgenden f
ur den Fall eines rein ohmschen Innenwiderstandes der
Signalquelle bestimmt werden (Abb. 10.15). Der Fehler f|U| in Bezug auf den
Betrag der gemessenen Spannung ergibt sich bei einer reinen Sinuswechselspannung U Q () der anregenden Signalquelle zu
f|U| =

|U E | |U Q |
= 
|U Q |
1+

1
1.
2
RQ
2
+ (RQ CE )
RE

(10.43)

Abb. 10.15. Beschaltung eines Oszilloskops mit einer Signalquelle

Dieser Betragsfehler ist in Abb. 10.16 als Funktion der Frequenz f


ur verschiedene Widerstandswerte der Signalquelle aufgetragen. F
ur RE und CE werden
dabei die Standardwerte RE = 1 M und CE = 20 pF verwendet. Bei Anregung durch einen Spannungssprung kommt es aufgrund des (verlangsamten)
Anstiegs gema einer Exponentialfunktion zu Verzerrungen. Die Auadung
des Eingangskondensators erfolgt dabei mit der Zeitkonstante
= CE

RE RQ
.
RE + RQ

(10.44)

Wenn man von einem urspr


unglich ungeladenen Kondensator ausgeht, betr
agt die Spannung uE (t) am Eingang des Oszilloskops bei einem Sprung der
Signalquellenspannung von 0 auf U0

10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie

291

Abb. 10.16. Systematischer Betragsfehler bei Oszilloskopen infolge der komplexen


Eingangsimpedanz Z E = (1 M  20 pF)

uE (t) = U0



RE
1 et/ .
RE + RQ

(10.45)

Abbildung 10.17 zeigt die Verzerrung eines anregenden Spannungssprunges


infolge einer Standardeingangsimpedanz f
ur verschiedene Widerstandswerte
RQ der Signalquelle.

Abb. 10.17. Verzerrung der (normierten) Sprungantwort bei Oszilloskopen infolge


der komplexen Eingangsimpedanz (1 M  20 pF) f
ur verschiedene Werte des Signalquellenwiderstandes RQ . Die Normierung erfolgte auf U0 = U0 RE /(RE + RQ ).
Die Sprunganregung ndet zum Zeitpunkt t = t0 statt.

292

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Verst
arker-Grenzfrequenzen
Die Oszilloskop-Verstarker enthalten RC-Glieder, die zu einem Tiefpassverhalten f
uhren, das modellhaft durch ein Verstarkerersatzschaltbild gema
Abb. 10.18 beschrieben werden kann. F
ur ausgangsseitigen Leerlauf ergibt

sich das Ubertragungsverhalten


des Verst
arkers im Frequenzbereich aus der

komplexen Ubertragungsfunktion
G()
G() =

UA
V
,
=
UE
1 + jRC

(10.46)

wobei R und C die Werte des Tiefpasses aus Abb. 10.18 bezeichnen und
V eine in erster Naherung frequenzunabhangige Verstarkung ist. Die obere
Grenzfrequenz fg des Verstarkers ist erreicht, wenn die Ausgangsspannung
auf -3 dB ihres Gleichspannungswertes ( = 0) abgesunken ist. Dies entspricht
einem Verh
altnis von


 UA 
1


(10.47)
= 0, 707 .
V U 
2
E f =fg
Mit Gl. (10.46) ergibt sich daraus die obere Kreisgrenzfrequenz g bzw. die
obere Grenzfrequenz fg des Verstarkers zu
g RC = 1

(10.48)

bzw.

1
.
2RC
Der Betragsfehler f|U| infolge dieser Bandbegrenzung betragt


 UA 

1
f|U| = 
V UE 
1
1
f|U| = 
1= 
2 1 .
1 + (RC)2
1 + ffg
fg =

(10.49)

(10.50)
(10.51)

Abb. 10.18. Einfaches Modell eines Verst


arkers mit der Verst
arkung V

10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie

293

Beispiel Fehler infolge oberer Grenzfrequenz


Mit einem Oszilloskop, das eine obere Grenzfrequenz von 40 MHz aufweist,
wird eine Spannungsamplitude bei 20 MHz bestimmt. Der relative Betragsfehler f|U| ergibt sich somit wie folgt
1
f|U| = 
 2 1 = 11% .
1 + 12

(10.52)

Dieser systematische Messfehler liee sich aber gema Gl. (10.53) zur Korrektur des Messwertes Umess nutzen


2
f
Uw = Umess 1 +
.
(10.53)
fg
Die anhand von Gl. (10.53) ermittelte Spannung Uw entspricht dem wahren
Wert im Sinne der Fehlerrechnung.
Aufgrund des Verstarker-Tiefpassverhaltens ergibt sich wiederum eine exponentiell ansteigende Sprungantwort


uA (t) = V U0 1 et/ ,
(10.54)
wobei die Zeitkonstante die des Eingangstiefpasses aus Abb. 10.18 ist. Die
Zeitkonstante ist demnach der Kehrwert der Kreisgrenzfrequenz g
1
1
=
.
(10.55)

RC
Somit lassen sich auch die Anstiegszeit tr und die Grenzfrequenz fg des Verst
arkers ineinander umrechnen. Die Anstiegszeit tr der Sprungantwort betragt
mit Gl. (10.54) und unter Ber
ucksichtigung der Anstiegszeitdenition (tr ist
die Zeit, die die Sprungantwort zwischen 10 und 90 % ihres Endwertes verweilt)
tr = t2 t1 = ( ln(0, 1) + ln(0, 9)) = 2, 197 .
(10.56)
g =

Mit der Beziehung (Gl. (10.49))


fg =
erh
alt man schlielich

1
1
=
2RC
2

(10.57)

2, 197
0, 35
=
.
(10.58)
2fg
fg
Die Angabe der Anstiegszeit von Oszilloskopen ist von unmittelbarer praktischer Bedeutung (Kap. 10.1.3), weil ihr Zahlenwert deutlich macht, welche
zeitliche Spannungsanderung noch korrekt darstellbar ist. Bei der Darstellung
einer Rechteckspannung werden beispielsweise die Flanken als zeitlich exponentiell ansteigend bzw. abfallend mit einer Zeitkonstanten auf dem Schirmbild erscheinen, die nach den Gln. (10.55), (10.57) bzw. (10.58) aus der Anstiegszeit oder auch der oberen Grenzfrequenz des Oszilloskops ermittelt werden k
onnen.
tr =

294

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Anstiegszeit und Grenzfrequenz des eigentlichen Ablenksystems


Selbst wenn die Anstiegszeit des y-Verstarkers beliebig klein bzw. seine Grenzfrequenz beliebig gro ware, gabe es ein weiteres Phanomen, das die Gesamtanstiegszeit des Horizontal-Ablenksystems nach unten begrenzt. Dies ist auf
die endliche Laufzeit der Elektronen zwischen den Platten des Ablenksystems
zur
uckzuf
uhren. Wenn man sich den das Schirmbild schreibenden Elektronenstrahl als eine Aneinanderreihung von gleich schnell iegenden Elektronen
vorstellt, so d
urfte klar werden, dass bei Anlegen eines Spannungssprunges
an den y-Ablenkplatten die Elektronen, die sich gerade am Eingang der yAblenkeinheit benden, zeitlich viel langer der in y-Richtung beschleunigenden Kraft ausgesetzt sind als die Elektronen, die bereits gerade die y-Platten
wieder verlassen. Diese endliche Verweilzeit zwischen den y-Platten f
uhrt im
Schirmbild bei Anlegen eines idealen Spannungssprunges zu einer mit der Zeit
linear ansteigenden Rampe (Abb. 10.19). Die Anstiegszeit dieser Rampe kann
anhand von Gl. (10.10) ermittelt werden, welche die Strahlablenkung yL auf
dem Schirm beschreibt, wenn dort anstatt der Plattenlange sz die aktuelle
Lau
ange vz tz des Elektrons nach erfolgtem Sprung, also das Produkt aus
Horizontalgeschwindigkeit vz und der aktuellen Verweildauer des Elektrons
im y-Plattenpaar eingesetzt wird
yL =

uy vz tz lz
.
uz 2dy

(10.59)

In Gl. (10.59) wurden die bereits in den Kap. 10.1.1 (Abb. 10.2) eingef
uhrten
Bezeichnungen verwendet. Mit Gl. (10.3) ergibt sich

lz
2e0 1
yL = u y
tz .
(10.60)
2dy m0 uz
Gleichung (10.60) verdeutlicht den linearen Anstieg der Strahlablenkung yL
mit der Verweildauer tz des Elektrons im y-Plattenpaar nach erfolgter Sprunganregung, wobei uy in diesem Fall der Amplitude des Spannungssprunges
entspricht. Erst wenn ein Elektron nach erfolgtem Sprung der Spannung uy

Abb. 10.19. Sprungantwort des Ablenksystems. tr : Anstiegszeit, yL : vertikale


Strahlablenkung

10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie

295

die gesamte Lange sz durchlaufen hat, erhalt man den Endwert yLend der
entsprechenden Strahlablenkung
yLend =

u y sz l z
.
uz 2dy

(10.61)

Nach Normierung der zeitabhangigen Ablenkung yL aus Gl. (10.60) auf den
station
aren Endwert yLend ergibt sich schlielich

2uz e0 tz
yL
=
.
(10.62)
yLend
m0 s z
Aus Gl. (10.62) folgt unmittelbar die Anstiegszeit tr (Zeit zwischen
yL = 0, 1yLend und yL = 0, 9yLend)

1 m0
tr = 0, 8sz
.
(10.63)
2uz e0
F
ur eine Plattenlange sz = 5 cm und eine Anodenspannung uz = 1 kV ergibt
sich bereits eine Anstiegszeit von tr = 2,1 ns.
Das diesem Laufzeitfehler entsprechende Frequenzverhalten lasst sich aus
dem Zeitverhalten der Ablenkkraft ermitteln. Die vertikale Ablenkkraft Fy
betr
agt
e0 uy (t)
Fy (t) = m0 ay (t) = e0 Ey (t) =
.
(10.64)
dy
Mit bekannter Kraft Fy kann unmittelbar die y-Komponente der Elektronengeschwindigkeit vy durch zeitliche Integration errechnet werden



Fy (t)
e0 1
uy (t) dt .
vy = ay (t) dt =
dt =
(10.65)
m0
m0 dy
Im Hinblick auf eine spektrale Bewertung des Laufzeitverhaltens wollen wir
0 cos t voraussetzen. Es soll also
eine harmonische Ablenkspannung uy (t) = U
zum Zeitpunkt t = 0 die Amplitude der Sinusschwingung dargestellt werden.
Die Geschwindigkeit vyp in y-Richtung, welche die Elektronen beim Verlassen
des y-Plattenpaares haben, lasst sich demnach wie folgt berechnen
vyp

e0 1
=
U0
m0 dy

ty
2

e0 1
cos t dt =
U0
ty
m
0 dy
2
sz
+ 2v
 z
e0 1 1

U0 sin t
=
sz
m0 dy

2v

z
sz
e0 2 1
.
=
U0 sin
m0 dy
2vz

sz
+ 2v
z

sz
2v
z

cos t dt

(10.66)

Unter Zuhilfenahme von Gl. (10.7) und Vernachlassigung von yp kann die
Strahlablenkung yL wie folgt angegeben werden

296

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

lz
lz
0 lz e0 1 1 sin
yL = vymax = vyp = 2U
vz
vz
vz m0 dy

sz
2vz

(10.67)

Bezieht man diese Ablenkung auf ihren wahren Wert (Gl. (10.10))
yLw =

l z sz
U0 ,
uz 2dy

(10.68)

so ergibt sich unter Beachtung der Energiebeziehung (Gl. (10.2))


e0 u z =

1
m0 vz2
2

(10.69)

der Amplitudengang der y-Ablenkeinheit wie folgt



sz

sin
2vz
yL

sz
= sinc
,
=
= sinc
sz
yLw
2v

z
0
2vz
wobei
0 =

2vz
.
sz

(10.70)

(10.71)

Dabei bezeichnet sinc(x) = sin(x)/x die Spaltfunktion. Die 3-dB-Grenzfrequenz dieses Amplitudenganges berechnet sich wiederum aus der Bedingung

yL 
1
= 0, 707
(10.72)
yLw f =fg
2
zu
1, 39
1, 39 2vz
0, 44
0 =
fg = 1, 39f0 =
=
2
2 sz
sz

2e0 uz
.
m0

(10.73)

So ergibt beispielsweise eine Plattenlange von sz = 5 cm und eine Anodenspannung von uz = 1 kV eine obere Grenzfrequenz der y-Ablenkeinheit von
fg = 165 MHz. Mit dem Ergebnis f
ur die Anstiegszeit tr (Gl. (10.63)) lasst
sich wiederum der Zusammenhang zwischen der Anstiegszeit tr und der oberen
Grenzfrequenz ableiten (Gl. (10.58))

0, 44 2e0 uz
1
1
fg =
= 0, 44 0, 8 = 0, 35 .
(10.74)
sz
m0
tr
tr
Abbildung 10.20 zeigt den Amplitudengang der Ablenkempndlichkeit. Zwei
naheliegende Manahmen zur Erhohung dieser Grenzfrequenz bzw. zur Verringerung der Anstiegszeit sind die Erhohung der Beschleunigungsspannung
sowie die Verk
urzung der Ablenkplattenl
ange. Diese Manahmen stehen jedoch insbesondere der Forderung nach hoher Ablenkempndlichkeit entgegen (Kap. 10.1.1). In Oszilloskopen mit Grenzfrequenzen oberhalb 200 MHz
nden daher besondere Formen von Ablenkplatten, die sog. WanderfeldAblenkplatten, Einsatz [113].

10.4 Digital-Speicheroszilloskop

297

Abb. 10.20. Amplitudengang der Ablenkempndlichkeit, bedingt durch den Laufzeitfehler der Elektronen w
ahrend ihrer Flugzeit zwischen den Ablenkplatten

10.4 Digital-Speicheroszilloskop
Im Gegensatz zum analogen Elektronenstrahl-Oszilloskop werden die Messsignale in Digital-Speicheroszilloskopen (DSO) intern in Form zeitlich diskreter Bin
arzahlen verarbeitet. Dadurch erm
oglichen diese Gerate vor allem den
kompatiblen Anschluss an die digitale Welt der rechnergesteuerten Messdatenerfassung sowie die der gesamten digitalen Signalverarbeitung. Andererseits
kann man sie auch wie konventionelle Analog-Oszilloskope betreiben.
Die Mitte der siebziger Jahre begonnene Entwicklung der Transientenrekorder zur digitalen Aufzeichnung von elektrischen Einzelvorgangen f
uhrte im
Laufe der letzten beiden Jahrzehnte im Zuge ihrer konsequenten Weiterentwicklung zum Digital-Speicheroszilloskop. Diese Entwicklung st
utzt sich im
wesentlichen auf die schnell voranschreitende Technologie der Analog-DigitalUmsetzer, welche das Herzst
uck eines jeden Digital-Speicheroszilloskops sind.
Die Vorz
uge des Digital-Speicheroszilloskops beruhen auf der leichten Speicherbarkeit von digitalen Messwerten, ihrer einfachen rechnergest
utzten Weiterverarbeitung sowie der gleichzeitig vorhandenen Moglichkeit einer komfortablen Bildschirmdarstellung. Die Grenzen der digitalen Speicherung und Verarbeitung liegen in den Nachteilen der notwendigen zeitlichen und amplitudenm
aigen Diskretisierung der urspr
unglich analogen Messwerte.
10.4.1 Prinzipielle Funktionsweise
Digital-Speicheroszilloskope bestehen aus den in Abb. 10.21 gezeigten Standardbaugruppen Messkanal, Triggermodul, dem Takt- und Steuerungsmodul
sowie der Anzeige. Die wesentliche Komponente eines jeden digitalen Speicher-

298

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.21. Blockschaltbild eines Digital-Speicheroszilloskops

10.4 Digital-Speicheroszilloskop

299

Oszilloskops bildet der Analog-Digital-Umsetzer mit einem nachgeschalteten


Speicher, den man sich zwecks einfacherer Erklarung in Form eines Schieberegisters (FIFO = First In First Out Speicher) vorstellen moge. Dieses
Schieberegister enthalt k Digitalworte zu je n Bit. Mit jedem Taktwechsel
wird der Inhalt des Schieberegisters um eine Wortstelle nach rechts verschoben, wobei das k-te Wort nach dem nachsten Wechsel in der Schalterstellung
S (Einspeichern) verlorengeht. Nur beim Auslesevorgang (Wiedergabe, Schalterstellung W ) wird das k-te Wort beim nachstfolgenden Taktwechsel an der 1.
Stelle wieder eingespeichert. Das Digitalwort an der k-ten Stelle wird mit Hilfe des Digital-Analog-Umsetzers jeweils in seinen entsprechenden Analogwert
umgewandelt und u
ber den y-Endverstarker auf die Vertikal-Ablenkplatten
gegeben. Die Schalterstellung (S/W ) wird letztlich von der Triggereinheit gesteuert, welche aus einem Schwellwertkomparator mit nachgeschaltetem FlipFlop, einem UND-Gatter sowie einem R
uckwartszahler besteht, der eine Voreinstellung von  p erhalt. Nach Eintreen des Triggerereignisses zahlt dieser
Z
ahler von  p auf  0 zur
uck und lost u
ber die Steuerung das Umschalten
des Schalters von Einspeichern (S) auf Wiedergabe (W ) aus. Das be

deutet, dass p Abtastwerte nach Eintreen des Triggerereignisses und (k p)


Abtastwerte vor Eintreen des Triggerereignisses im Schieberegister gespeichert werden, die letztlich in der Wiedergabephase im Schirmbild erscheinen.
Bei den (k p) Werten vor dem Triggerereignis spricht man vom sog. Pretrigger. W
ahlt man p = k, so wird nur das Signal nach dem Triggerzeitpunkt
dargestellt, so wie man es vom normalen Analog-Oszilloskop her gewohnt
ist. Bei der Einstellung p = 0 hingegen liegen alle k dargestellten Abtastwerte vor dem Triggerzeitpunkt. Diese Art der Messung ist interessant bei
der Kl
arung unvorhergesehener Ereignisse, weil man auf diese Weise das Signal vor Eintreten des Triggerereignisses speichern bzw. analysieren kann. Die
Horizontal-Ablenkung erfolgt ebenfalls auf digitaler Basis, und zwar mit Hilfe
eines gew
ohnlichen Vorwartszahlers, der mit einem nachgeschalteten DigitalAnalog-Umsetzer eine mit der Zeit ansteigende Rampenspannung erzeugt. Die
Anstiegsgeschwindigkeit wird u
ber das Teilungsverhaltnis r des Frequenzteilers vorgegeben. Nach Erreichen des Endwertes (der Strahl bendet sich dann
am rechten Bildschirmrand) wird der Zahler wieder zur
uckgesetzt, und der
Strahl springt an den linken Bildrand zur
uck.
10.4.2 Wiedergabe des aufgezeichneten Bildes
Die Wiedergabe des aufgezeichneten Bildes kann entweder, wie in Abb. 10.7
angedeutet, mit Hilfe einer konventionellen analogen Elektronenstrahl-Rohre
oder mit Hilfe eines mit magnetischer Ablenkung arbeitenden Rasterbildschirmes erfolgen. Bei neueren Geraten setzt sich allerdings die Verwendung von
TFT-LCD-Bildschirmen, die auch mehrfarbig ausgef
uhrt sein konnen, immer
mehr durch (Abb. 10.22). Bei der letztgenannten Methode werden die digitalen Amplitudenwerte (y-Werte) mit korrespondierenden x-Werten, welche den
zeitlichen Abtastpunkten entsprechen, verkn
upft und als (x, y)-Bildpunkte auf

300

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale


Vorverstrker
ADC

Datenspeicher

Bildspeicher

LCDDisplay

Abb. 10.22. Prinzip-Blockschaltbild eines digitalen Speicher-Oszilloskops

dem Rasterschirm in Form heller Bildpunkte dargestellt. Dies entspricht der


sog. Punktdarstellung. Als weitere wichtige Darstellungsarten werden die lineare Interpolation und die Sinusinterpolation verwendet (Abb. 10.23). Bei der
linearen Interpolation werden zeitlich aufeinanderfolgende Bildpunkte durch
Geraden verbunden, was bei der Darstellung glatter Signalverlaufe eine hohe
Anzahl von Abtastwerten erforderlich macht, z. B. mindestens 10 Abtastwerte
pro Periode bei Sinusschwingungen. F
ur die Darstellung glatter Signalverlaufe
ist die Sinusinterpolation empfehlenswert, bei der jedem einzelnen Abtastwert
x(i) ein sin t/t-Ausgangssignal (mit Maximalwert an der Abtaststelle x(t)) zugeordnet wird.

Das Ausgangssignal y(t) ergibt sich aus der additiven Uberlagerung


aller
sin t/t-Kurven gema

Abb. 10.23. Die wichtigsten Darstellungsarten von Digital-Speicheroszilloskopen:


a) Eingangssignal, b) Punktdarstellung, c) lineare Interpolation, d) Sinusinterpolation

10.4 Digital-Speicheroszilloskop

y(t) =

x(i)



sin ttTaa(i)

ttTaa(i)

301

(10.75)

wobei ta (i) der Abtastzeitpunkt des i-ten Abtastwertes x(i) und Ta die Dauer der Abtastperiode bezeichnen. Ein entsprechend dem Nyquist-Kriterium
abgetastetes, aus diskreten Abtastwerten bestehendes Signal kann namlich
wieder zu dem urspr
unglichen (zeitlich kontinuierlichen) Signal verzerrungsfrei rekonstruiert werden, wenn man die Abtastwerte in zeitlicher Folge auf
einen idealen Tiefpass mit der Grenzfrequenz
fg =

1
2Ta

(10.76)

gibt [135]. Dieser Tiefpass hat aber bez


uglich der einzelnen Abtastwerte genau die Impulsantwort, die durch Gl. (10.75) beschrieben wird. Um auch im
Zuge der in der Praxis unvermeidbaren zeitlichen Begrenzung bei der Realisierung der sin t/t-Funktion noch eine gute Rekonstruktion des Originalsignals
aus den Abtastwerten zu erhalten, ist es in der Praxis notwendig, mit mindestens 2,5 Abtastwerten pro Periode der hochsten im abzutastenden Signal
vorkommenden Frequenzkomponente zu arbeiten. Um auf der sicheren Seite
zu sein, wird in der Regel eine Abtastung von 10 Abtastwerten pro Periode
veranschlagt, wenn es die hardwaremaigen Voraussetzungen zulassen.
10.4.3 Aufzeichnungs-/Anzeigebetriebsarten des
Digital-Speicheroszilloskops
Recurrent-Mode (Refresh-Mode)
Diese Arbeitsweise ist ahnlich dem eines gewohnlichen analogen Oszilloskops.
Kennzeichnend dabei ist die standige Erneuerung des Speicherinhaltes, die
nach jedem Triggersignal erfolgt. Das Auslesen und die Anzeige der Speicherwerte erfolgt in den Pausen zwischen den Abtastphasen. Es konnen aber
auch alternativ die Daten nach der Speicherphase in einen zweiten Speicher
transferiert werden, aus dem sie dann zur Bilddarstellung beliebig oft und
unabh
angig von der eigentlichen Signalerfassung ausgelesen werden konnen.
Single Shot
Nach Eintreten des Triggerereignisses wird nur eine Aufnahme gemacht, auch
wenn danach die Triggerbedingungen erf
ullt sein sollten. Diese Einzelaufnahme kann im Gegensatz zum analogen Oszilloskop beliebig lange auf dem
Schirm dargestellt werden.

302

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Roll-Mode
Diese Aufzeichnungsart erlaubt das kontinuierliche Beobachten von langsamen
Vorg
angen, deren zeitlicher Verlauf mit dem menschlichen Auge gerade noch
wahrgenommen werden kann. Das aufgezeichnete Signal wird dabei, ahnlich
wie auf einem Schreiber, von links nach rechts u
ber den Bildschirm gezogen,
wobei der aktuelle Wert am gerade noch auersten rechten Bildrand erscheint,
w
ahrend der alteste Wert links aus dem Bild geschoben wird.
10.4.4 Einsatz von Digital-Oszilloskopen in Verbindung mit
Computern
Derzeit eingesetzte Digital-Oszilloskope sind in der Regel mit einer Schnittstelle zu Computern versehen, so dass die aufgezeichneten Signale zu einem Computer u
bertragen und dort weiterverarbeitet oder archiviert werden konnen.
Die so erhaltenen Signale werden auf dem PC mit Hilfe von Signalverarbeitungsroutinen ausgewertet und konnen bei der heute u
blichen Speichergroe
selbst bei grotem Umfang problemlos gespeichert werden. Dabei konnen
detaillierte Informationen u
ber das betrachtete Signal extrahiert und dargestellt werden. Weitere Informationen zu diesen neuen Digital-OszilloskopTechnologien nden sich in den Kapiteln 18.11 und 18.12.

10.5 Vergleich Analog- und Digital-Oszilloskope


In der Praxis werden f
ur verschiedene Aufgaben unterschiedliche Oszilloskope eingesetzt (Tab. 10.1). Analoge Oszilloskope werden vor allem bei schnelTabelle 10.1. Vergleich der Vorteile von Analog- und Digital-Oszilloskopen
Analog-Oszilloskop
+ schnelle Signalerfassung
+ Darstellung der Signalintensit
at
+ Echtzeitdarstellung der Signale

Digital-Oszilloskop
+ Simultanbetrieb auf mehreren Kan
alen
+ Single-Shot Aufnahme m
oglich
+ Signalspeicherung m
oglich
+ Weiterverarbeitung der Daten im Computer
+ Signalanalyse m
oglich (z. B. FFT)
+ Pre-Trigger-M
oglichkeiten

len Signalen verwendet, die in Echtzeit betrachtet werden und deren Intensit
ats
anderung bzw. Signalstreuung durch die helligkeitsmodulierte Darstellung sichtbar werden sollen. Analoge Oszilloskope eigenen sich daher in besonderem Mae f
ur periodische Signale.
Digitale Oszilloskope dagegen bieten den Vorteil, einmal aufgezeichnete
Signale langfristig und ohne Informationsverlust speichern zu konnen. Weiterhin erlauben sie einfache Analysefunktionalitaten, wie beispielsweise eine

10.6 Digital-Phosphor-Oszilloskop

303

Darstellung des betrachteten Signals im Frequenzbereich. Im Weiteren konnen


mit dem Digital-Oszilloskop aufgezeichnete Signale mittels eines Computers
weiterverarbeitet werden. Gemessene und aufgezeichnete Signale konnen bei
Bedarf wieder orginalgetreu abgerufen werden, so dass Vergleiche mit alteren
Messsignalen moglich sind.

10.6 Digital-Phosphor-Oszilloskop
Die Vorteile des Analog- sowie des Digital-Oszilloskops werden in einer neuartigen Oszilloskopart, dem sogenannten Digital-Phosphor-Oszilloskop (DPO),
vereint. Dieses ermoglicht die Darstellung von schnellen Signalen in Echtzeit
und kann ebenfalls die Signalintensitat bzw. Signalstreuung darstellen. Dadurch ist es moglich, selten auftretende Signalstorungen zu erkennen, was
insbesondere bei der Fehlersuche von Vorteil ist [178].
Das Digital-Phosphor-Oszilloskop kann die Vorteile von analogem und digitalem Oszilloskop nur deshalb vereinbaren, weil leistungsfahige Signalprozessoren die Signalabbildung u
bernehmen. Dabei werden die Signaldaten in
Echtzeit von einem Erfassungs-Prozessor verarbeitet und in geeigneter Weise gespeichert, wahrend ein spezieller Signalabbildungsprozessor parallel dazu
die Signaldarstellung erledigt. Der Aufbau eines solchen Oszilloskops ist schematisch in Abb. 10.24 dargestellt. Im Gegensatz zu einem digitalen SpeicherOszilloskop, welches keinen Mikroprozessor zur Aufbereitung der darzustellenden Daten besitzt (siehe Abb. 10.22), konnen Digital-Phosphor-Oszilloskope
die aufgezeichneten Daten schneller darstellen. Hierf
ur ist der spezielle Signalabbildungsprozessor verantwortlich, der die darzustellenden Werte entsprechend aufbereitet.

Vorverstrker
ADC

Digital
Phosphor
Acquisition
Rasterizer

Erfassungs-Prozessor
LCDFarbdisplay

Bildspeicher

Abb. 10.24. Prinzip-Blockschaltbild eines Digital-Phosphor-Oszilloskops

Durch die Nachbildung des Nachleuchteekts analoger Oszilloskope wurde

der Begri Digital-Phosphor gewahlt. Bei dieser Oszilloskopart werden die


vergangenen Bildsequenzen bzw. Signalverlaufe in einer dritten Dimension
gespeichert und dann auf dem Bildschirm ausgegeben.
Die Intensitat eines Signals ist ein Ma f
ur die Signal-Varianz. So wird
beispielsweise ein rauschfreies Sinussignal immer mit gleicher Intensitat dar-

304

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

gestellt. Wird nun dasselbe Sinussignal mit Rauschen u


berlagert, so ist die
Sinuswelle mit gleicher Intensitat dargestellt. Die durch das Rauschen verursachte Varianz des Sinussignals erscheint mit einer geringeren Intensitat auf
dem Display.
Digital-Phosphor-Oszilloskope konnen die Signale im Gegensatz zu Analog-Oszilloskopen farbig darstellen, wodurch sich die Signalverlaufe vom Beobachter leichter erkennen lassen. Abbildung 10.25 zeigt ein Digital-PhosphorOszilloskop moderner Bauart.

Abb. 10.25. Digital-Phosphor-Oszilloskop der Fa. Tektronix [178]

10.7 Analoger und digitaler Trigger


Standardm
aig wird das analoge Eingangssignal zum Festlegen des Triggerzeitpunktes herangezogen. Die Triggerung erfolgt also wie bei den klassischen
Analog-Oszilloskopen.
Im Gegensatz dazu spricht man von einem digitalen Trigger, wenn die
Triggerentscheidung auf der Basis des bereits digitalisierten Messsignals erfolgt. Das bedeutet, dass der Triggerzeitpunkt unabhangig von der Abtastrate und einem eventuellen zeitlichen Versatz (Jitterfehler) zwischen analogem
Eingangssignal und dem weiter verarbeiteten digitalisierten Signal ist. Diese
Art von Oszilloskopen erreichen damit eine hohere Messgenauigkeit infolge
geringer Jitterfehler (Trigger-Jitter < 1 ps) [154]. Zudem werden oft dieselben digitalen Filter f
ur das Triggersignal vorgesehen wie f
ur das Messsignal,

10.7 Analoger und digitaler Trigger

305

was das Ausltern von u


berlagerten Storsignalen, insbesondere Rauschen, erleichtert. Es kann auch das gelterte Triggersignal verwendet werden, um das
ungelterte Messsignal darzustellen.
Herk
ommliche Oszillographen triggern in der Regel auf einen Spannungspegel, d. h. die Zeitablenkung wird durch eine bestimmte Spannung am Eingang gestartet. Mit der sogenannten Zone Trigger beschreitet Rohde & Schwarz
einen neuartigen Weg. Das digitalisierte Eingangssignal wird dabei mittels eines ASIC (application-specic integrated circuit) in Echtzeit mit einem vorgegebenen Muster verglichen, so dass sowohl auf Spannungswerte als auch auf
Pulsfolgen, bestimmte Frequenzen oder sonstige Merkmale getriggert werden
kann. Diese Ereignisse konnen vom Anwender frei deniert werden. Es gibt
praktisch keinen Triggerjitter. Diese Art von Triggerung ist zum Beispiel in
den akkubetriebenen Handheld-Oszilloskopen der Fa. Rohde & Schwarz implementiert (siehe Bild 10.26).

Abb. 10.26. Akkubetriebenes Handheld Oszilloskop RTH1004 der Fa. Rohde & Schwarz. Die Abbildung erfolgt mit freundlicher Genehmigung des Herstellers.

Bei der digitalen Signalanalyse erlaubt ein sogenannter Serial Pattern Trigger
die Erkennung denierter Bitfolgen. Auf diese Art lassen sich spezielle Protokollsequenzen, wie der Header eines Telegrammrahmens, erkennen.

306

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

10.8 Mixed-Signal-Oszilloskope
Zur Analyse von digitalen Logikschaltungen hat man in fr
uheren Zeiten zwei
separate Messgerate eingesetzt:
- Oszilloskope und
- Logikanalysatoren.
Diese sind mittlerweile in Form von sogenannten Mixed-Signal-Oszilloskopen
in einem einzigen Gerat vereint. Solche Oszilloskope lassen sich vor allem f
ur
die messtechnische Analyse von sogenannten Mixed-Signal-Schaltungen einsetzen. Bei diesen kommen in einer Schaltung sowohl analoge Signale (meistens
handelt es sich dabei um Hochfrequenz-Signale) und digitale Signale (im Sinne
von Logik-Signalen) vor.
Dazu weisen diese Oszilloskope neben 2 bzw. 4 Analogeingangen 16 bzw.
32 Digitaleingange auf. Die anschlieende Analyse der digitalen Eingangssignale ist neben allgemeinen Logikanalysemoglichkeiten auf die Analyse
von Standard-Bus-Systemen abgestellt, z. B. USB, I2 C, PCI, CAN, FlexRay,
RS 232, RS 485, SPI.
Als wesentliche Leistungsmerkmale sind zu nennen:

Anzahl der Kanale (analog und digital)


Abtastrate bzw. Bandbreite der erfassbaren Signale
Anzahl der aufgezeichneten Punkte (=Aufzeichnungslange) und
Zeitau
osung der digitalen Eingangskanale.

Ist zus
atzlich noch ein analoger Spektrumsanalysator in das Gerat integriert,
wie das zum Beispiel bei den von Tektronix vertriebenen Mixed-DomainOszilloskopen der Fall ist, so ist als weiteres Leistungsmerkmal die

Bandbreite des HF-Bereiches

mit anzuf
uhren, die bei hochwertigen Geraten im einstelligen GHz liegt.
Mit Hilfe solcher Mixed-Domain-Oszilloskope ist nun erstmals die zeitgleiche bzw. zeitkorellierte Erfassung bzw. Darstellung von analogen, digitalen und HF-Signalen in einem einzigen Messgerat moglich. Dabei ist es
m
oglich, gleichzeitig das Zeitsignal und das mit Hilfe des (analogen) Spektralanalysators ermittelte Spektrum des Signals auf dem Bildschirm darzustellen.
Gew
ohnliche Digitaloszilloskope (DSOs) hingegen liefern als Ergebnis einer
Frequenzanalyse nur das per FFT (Fast Fourier Transformation) errechnete
Spektrum und das meist auch nur in sequentieller Reihenfolge mit der Signaldarstellung.
Mit Hilfe der Mixed-Signal-Oszilloskope ist vor allem auch ein Triggern
auf bestimmte Sequenzen, z. B. bestimmte Adressen, von Logiksignalen bis
hin zur automatischen Dekodierung verschiedener Datenformate moglich. F
ur
das genaue Messen des Timing-Verhaltens von Logik-Schaltungen ist eine hohe
zeitliche Auosung notwendig, die bei Ger
aten der Oberklasse im Bereich von
ca. 60 ps liegt, was einer Abtastrate von etwa 16 Gsamples/s entspricht.

10.8 Mixed-Signal-Oszilloskope

307

Als Beispiel f
ur eine typische Anwendung sei hier auf eine von der Firma
Tektronix vorgestellte Messung an einem seriellen USB-Interface verwiesen.
Bei seriellen Bus-Systemen enthalt ein einziges Signal alle wesentlichen Informationen, wie Adresse, Kontroll-Bits, Daten und Takt(Clock). Die Features automatischer Trigger, Dekodierung, Suche nach Bus-Ereignissen und
-Konditionen ermoglichen die eziente und sichere Analyse von eventuellen
Problemen. Abbildung 10.27 zeigt die mit einem Tektronix Mixed-Signal Oszilloskop der Serie MSO 4000 aufgenommenen und analysierten USB-Signale.

Abb. 10.27. Signale, die an einem USB-Interface mit Triggerung auf ein OUTZeichen aufgenommen wurden: oben: (D+)-Signal; unten: (D-)-Signal. Darunter ist
der dekodierte Inhalt des USB-Signals zu erkennen mit den Paketen: START, SYNC,
PID, Adresse, Ende-Zeichen, CRC, Daten und STOP.

308

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

10.9 Stand der Technik bei Digital-Oszilloskopen


Aufgrund der Tatsache, dass die Digital-Oszilloskope ihre analogen Counterparts mittlerweile vollstandig vom Markt verdrangt haben, ist die Produktvielfalt der angebotenen Digital-Oszilloskope heutzutage enorm gro. Zudem
werden die Produktzyklen aufgrund des rasanten Fortschritts der Digitaltechnik immer k
urzer. Lesern, die sich u
ber den jeweils aktuellen Stand auf dem
Markt der Digital-Oszilloskope informieren wollen, sei empfohlen, die Webseiten der f
uhrenden Hersteller zu besuchen. Die Webadressen der namhaften
Hersteller lauten:
Tektronix:
www.tektronix.com bzw. www.tek.com
Keysight:
www.keysight.com
LeCroy:
www.teledynelecroy.com
Fluke:
www.uke.com
Rigol:
www.rigol.eu
Rohde & Schwarz: www.rohde-schwarz.de
Yokogawa:
www.yokogawa-mt.de

Einen Uberblick
u
ber den derzeitigen Stand der Technik bieten die Tabellen 10.2 und 10.3, in denen die Oszilloskope von f
uhrenden Herstellern herausgegrien wurden.
Der in Tab. 10.2 angegebene theoretische Gewinn an Auosung infolge Oversampling bzw. Mittelung kann anhand der Zusammenhange (Gl. 11.85)
S
[dB] = (6N + 1, 76)
N

(10.77)

S/N [dB] = 10 lg m

(10.78)

bzw. (Gl. 11.43)


ermittelt werden. Dabei bezeichnen N die Auosung in Bit und m den Faktor

der Uberabtastung.
Der Zugewinn N [Bit] bez
uglich der Auosung lasst sich durch Gleichsetzen
obiger Gleichungen erreichen. Dies f
uhrt zu
N [Bit] =

10 lg m 1, 76
.
6

(10.79)

Die in Tab. 10.2 in der Spalte Theoretische Auosungszunahme angegebenen


Werte lassen sich direkt aus Gl. 10.79 ermitteln. Die leichten Abweichungen
ergeben sich aufgrund der Tatsache, dass vom Hersteller anstatt Gl. 11.85

bzw. Gl. 10.77 die Uberschlagsformel


S/N = 6N verwendet wurde.

10.9 Stand der Technik bei Digital-Oszilloskopen

309

Tabelle 10.2. Leistungsdaten von Digital-Oszilloskopen, beispielhaft dargestellt


anhand der Digital-Oszilloskop-Familien der Fa. Tektronix
Bandbreite Abtastrate Aufzeichnungs- Vertikale Au
osung
Produkt[GHz]
l
ange
[Bit]
Familie
TPS2000B 0, 1 0, 2 1 2 GS/s
2, 5 kPoints
8+
DPO2000B 0, 07 0, 2 2x 1 GS/s
1 MPoints
8+
+
MDO3000
0, 1 1 2x 2, 5 GS/s 10 MPoints
8 / <11**
MDO4000C 0, 2 1 2, 5 5 GS/s 20 MPoints
8+ / <11**
DPO7000
23
200 GS/s
1 GPoints
8+ / <11*
ProduktAnzahl
Theor. Au.- Prakt. Au.- Max. Au.
Mittelungen Zunahme [Bit] Zunahme [Bit] Average [Bit]
Familie
TPS2000B
4 - 128
3,5
3,0
11,0
DPO2000B
2 - 512
4,5
4,0
13,0
MDO3000
2 - 512
4,5
4,0
13,0
MDO4000C
2 - 512
4,5
4,0
13,0
DPO7000
2 - 10000
6,6
6,0
14,1

ProduktMax. UberTheor. Au.- Prakt. Au.- Max. Au.Familie


abtastzahl Zunahme [Bit] Zunahme [Bit] Zunahme [Bit]
TPS2000B
5.000
6,1
5,0
13,1
DPO2000B
5.000
6,1
5,0
13,1
MDO3000
5.000
6,1
5,0
13,1
MDO4000C
5.000
6,1
5,0
13,1
DPO7000
5.000
6,1
5,0
14,1
ProduktFamilie
TPS2000B
DPO2000B
MDO3000
MDO4000C
DPO7000
+

Stand
Dez. 2012
Feb. 2015
Feb. 2016
Feb. 2016
M
arz 2016

Preis
[Euro]
2.940
1.050
3.180
6.520
166.000

Besonderheit
Isolierte Eing
ange, Akkubetrieb
Low Coast
Mixed-Signal
Hohe Speichertiefe
Hohe Frequenz

= Single Shot; * = Average; ** = High Resolution

Die vier verschiedenen Aufzeichnungsmodi (= Aquisitionsmodi) Single Shot,


Average, High Resolution und Sequential Samling sind wie folgt charakterisiert:
Single Shot: Nicht repetierender Pulsbetrieb.

310

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Average: Das Signal muss periodisch sein und es wird ein und derselbe
(zeitliche) Signalabschnitt mehrmals aufgenommen und gemittelt.
High Resolution: Das Signal muss nicht periodisch sein. Es erfolgt eine
um den Faktor m hohere zeitliche Abtastung als in der Darstellung. Dabei werden m Samplewerte zu einem Darstellungswert gemittelt.
Sequential Sampling: Das Signal muss periodisch sein. Es wird im sequentiellen Samplingmode (s. Kap. 10.1.4) abgetastet.

Tabelle 10.3. Leistungsdaten von Digital-Oszilloskopen (Stand: 2016)


Modell

Hersteller

2025CL
DS1102E
1275
DSOX2014A
RTH1024
190-204
MSO4034B
DLM4038
HDO6054
RTO2044
LabMaster10-100Zi
Modell

2025CL
DS1102E
1275
DSOX2014A
RTH1024
190-204
MSO4034B
DLM4038
HDO6054
RTO2044
LabMaster10-100Zi

UNI-T
RIGOL
PeakTeck
Keysight
R&S
Fluke
Tektronix
Yokogawa
LeCroy
R&S
LeCroy

Bandbreite Anzahl
MHz
Kan
ale
25
2
100
2
300
2
100
4
200
4
200
4
350
4
350
8
500
4
4000
2
100.000
4 bis 80

Abtastrate
GSample/s
0,25
1
1,6
2
5
2,5
2,5
1,5
2
20
240

Speichertiefe
Mpts
1
1
10
1
0,5
0,04
20
1,25
250
50
32

Au
osung
vertikal
Bit
8
8
8
8
8
10
8
8
12
16
8

Besonderheit

Preis (ca.)
EUR
280,390,1.400,2.200,4.450,5.250,11.500
12.350,18.950,35.000,ca. 800.000,-

Low cost
Low cost
8 Zoll Display
Handheld
Handheld
12 Zoll Display
16 Dig. Channels
High Resolution
High Speed

11
Digitale Messtechnik

Da die moderne Messtechnik zunehmend die Verfahren der rechnergest


utzten
Messwerterfassung und digitalen Signalverarbeitung nutzt, zahlt es zu den
wichtigsten Aufgaben der Elektrischen Messtechnik, in analoger Form vorliegende Messsignale zu digitalisieren. Wahrend in der analogen Messtechnik alle
Messgr
oen in wertkontinuierlicher Form verarbeitet werden, kennt die digitale Messtechnik nur die binare Darstellungsform. Binare Signale konnen den
Wert  1 (alternativ  H f
ur High) oder  0 (alternativ  L f
ur Low) annehmen.
F
ur den Fall, dass der Wert  1 einem hohen Spannungspegel und der Wert  0
einem niedrigen Spannungspegel entspricht, bezeichnet man dies als positive
Logik, im umgekehrten Fall spricht man von negativer Logik. Binare Signale
bieten den groen Vorteil, dass sie sich durch nur zwei, eindeutig zu unterscheidende Betriebszustande der verarbeitenden elektronischen Komponenten darstellen lassen, wie z. B. Schalter EIN bzw. Schalter AUS. Alle auf

Halbleiterelementen basierenden Schalter sind bez


uglich ihrer High- und LowSpannungspegel mit so groz
ugigen Toleranzbandern versehen, dass Digital
schaltungen im Allgemeinen sehr zuverlassig funktionieren. Beim Ubergang
in
die Digitalwelt m
ussen die wert- und zeitkontinuierlichen Signale in wert- und
zeitdiskrete Signale gewandelt werden. Dazu bedient man sich entweder der
Analog-Digital-Umsetzer (Kap. 11.7) oder der Zahlerschaltungen (Kap. 11.5).
Zum Verst
andnis dieser Schaltungen sind Kenntnisse u
ber Binarcodes und
digitale Grundschaltungen, wie Gatter und bistabile Kippschaltungen, notwendig. Diese Grundlagen sind Inhalt der Kap. 11.1 bis 11.3.

11.1 Duales Zahlensystem und Bin


arcodes
11.1.1 Dualzahlendarstellung
Da Digitalschaltungen Signale nur in binarer Form verarbeiten konnen, muss
man bez
uglich der Zahlendarstellung vom u
blichen Dezimalsystem zum binaren System u
bergehen. Jede Dezimalzahl kann auch als Dualzahl dargestellt

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_11

312

11 Digitale Messtechnik

werden. Wenn wir uns zunachst auf ganze Zahlen beschranken, lasst sich die
Dezimalzahl Zdez mit Hilfe einer Zweierpotenzzerlegung in eine entsprechende
Dualzahlendarstellung konvertieren
Zdez = zN 2N + zN1 2N 1 + . . . + z1 21 + z0 20 .

(11.1)

Die entsprechende Dualzahl Zdual besteht dann aus den  0 - oder  1 -wertigen
Bin
arstellen zi , die mit den Koezienten der Zweierpotenzen identisch sind
Zdual = zN zN1 . . . z1 z0 .

(11.2)

So entspricht beispielsweise die Dezimalzahl  68 der Dualzahl  1000100. Die


 
0 - oder  1 -wertige digitale Informationseinheit wird dabei als 1 Bit und die
zu 8 Bit zusammengefasste Datenmenge als 1 Byte bezeichnet.
11.1.2 BCD-, Hexadezimal- und Gray-Code
In der Elektrischen Messtechnik wird oft der sog. BCD-Code (Binary Coded
Decimals) verwendet, bei dem die Dezimalziern 0 bis 9 mit einer vierstelligen
Dualzahl der Wertigkeit 8-4-2-1 dargestellt werden. So entspricht beispiels
weise die Dezimalzahl 68 der BCD-Zahl 0110 1000. Da die Dezimalzier bei
der BCD-Darstellung von einer vierstelligen Dualzahl mit den Stellenwerten
23 , 22 , 21 und 20 reprasentiert wird, wird dieser Code auch als 8-4-2-1-Code
bezeichnet.
Ein weiterer, insbesondere in der Computertechnik sehr verbreiteter Code
ist der Hexadezimalcode, der die Zahlen 0 bis 9 mit den entsprechenden Ziffern und die Zahlen 10 bis 15 mit den Buchstaben A bis F darstellt. Der in
Tabelle 11.1. Gebr
auchliche Formen bin
arer Zahlendarstellungen
Dezimalzahl Dualzahl BCD-Code Gray-Code Hexadezimalzahl
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15

00000
00001
00010
00011
00100
00101
00110
00111
01000
01001
01010
01011
01100
01101
01110
01111

0000
0000
0000
0000
0000
0000
0000
0000
0000
0000
0001
0001
0001
0001
0001
0001

0000
0001
0010
0011
0100
0101
0110
0111
1000
1001
0000
0001
0010
0011
0100
0101

0000
0001
0011
0010
0110
0111
0101
0100
1100
1101
1111
1110
1010
1011
1001
1000

0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
A
B
C
D
E
F

11.2 Bin
are Signale und ihre Verkn
upfung

313

der vierten Spalte von Tab. 11.1 enthaltene Gray-Code zeichnet sich dadurch

aus, dass beim Ubergang


von einer Zahl zur nachsthoheren nur ein einziges
Bit seine Wertigkeit andert, was oft zum Umgehen von Timing-Problemen in
Digitalschaltungen genutzt wird. Tabelle 11.1 zeigt die Darstellung der Dezimalzahlen 0 bis 15 mittels der oben besprochenen Codes.
11.1.3 Fehlererkennung und Fehlerkorrektur
Die Verf
alschung eines einzelnen oder auch einer ungeradzahligen Anzahl von
Bits im BCD-Code beispielsweise ist erkennbar, wenn pro 4-Bit-Wort ein 5.
Bit, ein sog. Pr
ufbit, angehangt wird. Dabei wird auf gerade oder ungerade
Paritat gepr
uft. Man spricht dann von einem fehlererkennenden Code [163].
Wenn neben dieser Erkennung eines Fehlers eine lokale Ortung des fehlerhaften Bits durchgef
uhrt werden soll, werden pro Dezimalstelle 8 Bit statt der
vier des BCD-Codes benotigt. Man bezeichnet diesen Code dann als einen
fehlerkorrigierenden Code.

11.2 Bin
are Signale und ihre Verknu
pfung
mittels digitaler Schaltungen
Die Funktionen digitaler Gerate basieren im Wesentlichen auf dem Zusammenwirken digitaler Grundschaltungen, die auch als Gatterschaltungen bezeichnet werden. Diese Gatterschaltungen f
uhren die logische Verkn
upfung
von Bin
arsignalen durch.
In Kap. 11.2.1 sollen zunachst einige wichtige mathematische Grundregeln
beschrieben werden, welche die Verkn
upfung von logischen Variablen beinhalten, bevor anschlieend die digitalen Grundschaltungen selbst erklart werden
(Kap. 11.2.2). In Abschnitt 11.2.3 wird schlielich eine komplexere, aus mehreren logischen Grundschaltungen zusammengesetzte Schaltung beschrieben.
11.2.1 Grundregeln bei der logischen Verkn
upfung bin
arer Signale
Die Grundlage der Mathematik von logischen Variablen bildet die Boolesche
Algebra [196]. Die drei grundlegenden Verkn
upfungen zwischen zwei logischen
Variablen (x1 und x2 ) zu einem Ergebnis y sind die Negation, die Konjunktion
und die Disjunktion:
Negation (NICHT-Verkn
upfung)
y = x

(11.3)

Konjunktion (UND-Verkn
upfung)
y = x1 x2 = x1 x2 = x1 x2

(11.4)

314

11 Digitale Messtechnik

Disjunktion (ODER-Verkn
upfung)
y = x1 x2 = x1 + x2 .

(11.5)

Die hardwaremaigen Implementierungen obiger Verkn


upfungen erfolgen mit
den in Kap. 11.2.2 beschriebenen Gatterschaltungen NICHT-Gatter, UNDGatter und ODER-Gatter. F
ur diese Grundrechenoperationen gelten eine Reihe von Gesetzen, wie die aus der Algebra reeller Zahlen bekannten Gesetze
Kommutativ-Gesetz, Assoziativ-Gesetz und Distributiv-Gesetz. Besondere Formen nehmen im Falle von binaren Variablen die folgenden Gesetze an:
Negationsgesetz

x
x=0

x+x
=1

Tautologie

x+x=x

xx = x

Absorptionsgesetz

x1 (x1 + x2 ) = x1

x1 + x1 x2 = x1

Morgansches Gesetz

x1 x2 = x
1 + x
2

x1 + x2 = x
1 x2 .

11.2.2 Digitale Grundschaltungen (Gatterschaltungen)


Im Folgenden werden die wichtigsten digitalen Grundschaltungen beschrieben, und zwar f
ur den Fall von zwei logischen Eingangsvariablen x1 und x2 .
Das jeweilige Ergebnis bzw. das Ausgangssignal wird mit y bezeichnet. Die
Gatterschaltungen werden jeweils sowohl mit dem fr
uher u
blichen Schaltzeichen als auch in Form des eckigen Schaltzeichens dargestellt, das der heutigen
Norm [43] entspricht.
NICHT-Gatter (NOT-Gatter)
Das NICHT-Gatter liefert am Ausgang das negierte Eingangssignal (Abb. 11.1).
Der kleine Kreis, der am Ausgang des Schaltsymbols eingezeichnet ist, deutet
in der Digitaltechnik stets darauf hin, dass das Binarsignal bzw. die logische
Variable an dieser Stelle negiert (invertiert) wird.
y = x
xy
0 1
1 0

11.2 Bin
are Signale und ihre Verkn
upfung

315

Abb. 11.1. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole f


ur das NICHT-Gatter (fr
uher
gebr
auchliche Form und normgerechte Darstellung)

UND-Gatter (AND-Gatter)
Mit dem UND-Gatter wird die Konjunktion realisiert, d. h. sein Ausgangssignal ist nur dann  1 , wenn alle Eingange auf  1 gesetzt sind (Abb. 11.2).
y = x1 x2
x1 x2 y
0
0
1
1

0
1
0
1

0
0
0
1

Abb. 11.2. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole f


ur das UND-Gatter

NAND-Gatter
Das NAND-Gatter entspricht dem UND-Gatter mit negiertem Ausgangssignal
(Abb. 11.3).
y = x1 x2
x1 x2 y
0
0
1
1

0
1
0
1

1
1
1
0

Abb. 11.3. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole f


ur das NAND-Gatter

316

11 Digitale Messtechnik

ODER-Gatter (OR-Gatter)
Mit dem ODER-Gatter wird die Disjunktion realisiert, d. h. sein Ausgang ist
dann  1 , wenn mindestens eine der Eingangsvariablen den Wert  1 aufweist
(Abb. 11.4).
y = x1 + x2
x1 x2 y
0
0
1
1

0
1
0
1

0
1
1
1

Abb. 11.4. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole f


ur das ODER-Gatter

NOR-Gatter
Das NOR-Gatter entspricht der ODER-Schaltung mit negiertem Ausgangssignal (Abb. 11.5).
y = x1 + x2
x1 x2 y
0
0
1
1

0
1 0
0 0
1 0

Abb. 11.5. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole f


ur das NOR-Gatter

11.2 Bin
are Signale und ihre Verkn
upfung

317

EXOR-Gatter (Antivalenz-Gatter, Exklusiv-Oder-Gatter)


Das Ausgangssignal des EXOR-Gatters ist  1 , wenn genau eine Eingangsvariable den Wert  1 hat (Abb. 11.6). Diese auch als Antivalenz-Gatter bezeichnete Schaltung liefert also nur dann eine  1 am Ausgang, wenn die beiden
Eingangsvariablen ungleiche binare Wertigkeit aufweisen.
y=x
1 x2 + x1 x2
x1 x2 y
0
0
1
1

0
1
0
1

0
1
1
0

Abb. 11.6. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole f


ur das EXOR-Gatter

Aquivalenz-Gatter

Der Ausgang des Aquivalenz-Gatters


wird auf  1 gesetzt, wenn die Eingangs
signale dieselbe binare Wertigkeit haben. Die Aquivalenz
entspricht also der
negierten Antivalenz (Abb. 11.7).
y=x
1 x
2 + x1 x2
x1 x2 y
0
0
1
1

0
1
0
1

1
0
0
1

Abb. 11.7. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole f


ur das Aquivalenz-Gatter

318

11 Digitale Messtechnik

11.2.3 Digitale Addierer


Halbaddierer
Die Addition von zwei einstelligen Dualzahlen kann in zwei verschiedenen

Ergebnis- sowie zwei unterschiedlichen Ubertragswerten


resultieren (Tab. 11.2).
Der entsprechende Addierer muss also einen Summenausgang s sowie einen

Ubertragsausgang
c besitzen. Die hardwaremaige Implementierung der daTabelle 11.2. Addition zweier einstelliger Dualzahlen

x + y = Summe s Ubertrag
c
0
0
1
1

0
1
0
1

0
1
1
0

0
0
0
1

zugeh
origen Wahrheitstabelle (Tab. 11.2) enthalt ein Antivalenz- und ein
UND-Gatter. Die entsprechende Schaltung (Abb. 11.8) wird als Halbaddierer bezeichnet, da sie nur f
ur die Addition der niedrigsten Dualzahlenstelle

eingesetzt werden kann. Bei allen anderen Stellen muss der Ubertrag
von der
n
achstniedrigeren Stelle ebenfalls Ber
ucksichtigung nden.

Abb. 11.8. Halbaddierer: a) Schaltung, b) Schaltsymbol

Tabelle 11.3. Wahrheitstabelle des dualen Volladdierers


xi yi ci si ci+1
0
0
0
0
1
1
1
1

0
0
1
1
0
0
1
1

0
1
0
1
0
1
0
1

0
1
1
0
1
0
0
1

0
0
0
1
0
1
1
1

11.3 Bistabile Kippschaltungen

319

Volladdierer

Zur Ber
ucksichtigung des Ubertragswertes
ci muss die Wahrheitstabelle (Tab.
11.2) entsprechend modiziert werden (Tab. 11.3). Abbildung 11.9 zeigt das

Abb. 11.9. Volladdierer: a) Schaltung, b) Schaltsymbol

aus dieser modizierten Wahrheitstabelle nach den Regeln der Booleschen


Algebra abgeleitete Schaltbild des Volladdierers. Ein aus einem Halbaddierer
und drei Volladdierern zusammengesetzter 4-Bit-Volladdierer ist in Abb. 11.10
dargestellt.

Abb. 11.10. 4-Bit-Volladdierer mit seriellem Ubertrag

11.3 Bistabile Kippschaltungen


Bei den bistabilen Kippschaltungen, die auch Flip-Flop-Schaltungen genannt
werden, h
angt das Ausgangssignal sowohl von den Eingangssignalen als auch
dem jeweiligen, von der Vorgeschichte bestimmten Zustand der Schaltung ab.
Im Gegensatz zu den in Kap. 11.2 behandelten kombinatorischen Schaltwerken
zeigen demnach die bistabilen Kippschaltungen Speicherwirkung. Der Begri
der Bistabilitat sagt aus, dass die Schaltung zwei stabile Zustande kennt, die
durch ein Setz-Signal bzw. ein R
ucksetz-Signal erreicht werden.

320

11 Digitale Messtechnik

11.3.1 RS-Flip-Flop
Die bekannteste bistabile Kippschaltung ist das asynchrone RS-Flip-Flop
(nicht-taktgesteuertes RS-Flip-Flop), dessen Realisierung mit Hilfe von zwei
r
uckgekoppelten NOR-Gattern erfolgen kann (Abb. 11.11). Durch die Signalkombination S = 1 und R = 0 wird das Flip-Flop gesetzt, d. h. der Ausgang
Q nimmt den Wert  1 an. Die Schaltung f
uhrt dabei folgende logische Operationen durch
Q = S+Q=1+Q=0

(11.6)

Q = R+Q=0+0=1.

(11.7)

Abb. 11.11. RS-Flip-Flop (R: Reset-Eingang; S: Set-Eingang; Q: Ausgang; Q:


invertierter Ausgang): a) Realisierung mit NOR-Gattern, b) Schaltsymbol, c) Zeitdiagramm

Mit der Eingangskombination S = 0 und R = 1 wird der Ausgang Q zur


uckgesetzt (Q = 0). Die Ergebnisse der u
brigen Eingangssignalkombinationen
nden sich in Tab. 11.4. Eine alternative Implementierung des RS-Flip-Flops
ergibt sich, indem man die NOR- durch NAND-Gatter ersetzt. Dabei ist zu
beachten, dass die Eingange des Flip-Flops nunmehr invertiert und die Zu vertauscht sind (Abb. 11.12). Die Aquivalenz

ordnung der Ausgange Q und Q


Tabelle 11.4. Wahrheitstabelle eines auf der Basis von NOR-Gattern realisierten
RS-Flip-Flops; (* je nach Innenschaltung des RS-Flip-Flops)
SRQ

0
1
0
1

Qn1
0
1
*

0
0
1
1

Qn1
1
0
*

speichern
setzen
r
ucksetzen
nicht erlaubt

11.3 Bistabile Kippschaltungen

321

Abb. 11.12. Realisierung eines RS-Flip-Flops mit NAND-Gattern

der Schaltungen folgt auch aus dem Morganschen Gesetz, das zwei logische
Variablen x1 und x2 nach den Regeln eines NOR- bzw. NAND-Gatters verkn
upft
x1 + x2 = x
1 x
2 .
(11.8)
Die oben beschriebenen Kippschaltungen gehoren zu der Klasse der transparenten Flip-Flops, zu denen auch die im Folgenden beschriebenen taktzustandgesteuerten und taktankengesteuerten RS-Flip-Flops zahlen.
11.3.2 Taktzustandgesteuertes RS-Flip-Flop
Das taktzustandgesteuerte RS-Flip-Flop, das auch statisch getaktetes RSFlip-Flop genannt wird, reagiert auf Eingangssignale nur dann, wenn die statische Taktvariable (Clock) C = 1 gesetzt wird (Abb. 11.13). Es entspricht
dann einem normalen RS-Flip-Flop. F
ur C = 0 hingegen speichert das FlipFlop gem
a der Wahrheitstabelle (Tab. 11.5) den alten Zustand, da in diesem
= S = 1 gilt.
Fall R

Abb. 11.13. Taktzustandgesteuertes (statisch getaktetes) RS-Flip-Flop: a) Schaltungstechnische Realisierung auf der Basis von NAND-Gattern (Die Schaltung innerhalb des gestrichelten Rahmens entspricht einem RS-Flip-Flop mit negiertem
Eingangssignal in NAND-Realisierung gem
a Abb. 11.12.), b) Schaltsymbol

322

11 Digitale Messtechnik

Tabelle 11.5. Wahrheitstabelle eines auf der Basis von NAND-Gattern realisierten
RS-Flip-Flops (* je nach Innenschaltung des RS-Flip-Flops)
SRQ

1
0
1
0

n1
Q
0
setzen
1
r
ucksetzen
*
nicht erlaubt

1
1
0
0

Qn1
1
0
*

11.3.3 Taktankengesteuertes RS-Flip-Flop

Das taktankengesteuerte RS-Flip-Flop zeigt Anderungen


am Ausgang erst
bei einer Flanke des Taktsignals. Das R- und S-Signal bereiten gema der
Wahrheitstabelle 11.4 das Flip-Flop zum Setzen, R
ucksetzen bzw. Speichern
vor, jedoch erst bei einem Wechsel des Taktsignals von  0 auf  1 (ansteigende
Taktanke) bzw. von  1 auf  0 (abfallende Taktanke) f
uhrt das Flip-Flop
die logische Operation durch. Abbildung 11.14 zeigt die Schaltsymbole des
taktankengesteuerten RS-Flip-Flops f
ur beide Varianten, also f
ur ansteigende Taktanken (Abb. 11.14a) und abfallende Taktanken (Abb. 11.14b). Das
Zeitdiagramm (Abb. 11.14c) gilt f
ur die Version, die auf die ansteigende Taktanke reagiert.

Abb. 11.14. Taktankengesteuertes RS-Flip-Flop: a) Schaltsymbol f


ur ansteigende
Taktanke, b) Schaltsymbol f
ur abfallende Taktanke, c) Zeitdiagramm f
ur die
Version mit ansteigender Taktanke: tS1 Setzvorgang vorbereitet, tS2 Setzvorgang
ucksetzvorgang vorbereitet, tR2 R
ucksetzvorgang durchgef
uhrt.
durchgef
uhrt, tR1 R

11.3.4 Taktzustandgesteuertes D-Flip-Flop (Data-Latch)


Das taktzustandgesteuerte D-Flip-Flop ist in der Lage, den Wert einer logischen Eingangsvariablen D zu speichern. Die entsprechende Schaltung wird
mit Hilfe eines taktzustandgesteuerten RS-Flip-Flops realisiert, bei dem eine
vorgenommen wird. Zusatzlich zu dem
Verdrahtung gema S = D und R = D

11.3 Bistabile Kippschaltungen

323

Abb. 11.15. Taktzustandgesteuertes (transparentes) D-Flip-Flop (Data-Latch): a)


Schaltungstechnische Realisierung. Die innerhalb des gestrichelten Rahmens bendliche Schaltung entspricht einem taktzustandgesteuerten RS-Flip-Flop. b) Schaltsymbol

RS-Flip-Flop wird noch ein Inverter benotigt (Abb. 11.15 ). Wenn die statische Taktvariable C = 1 gesetzt wird, erscheint der Wert von D am Ausgang
Q. Man spricht daher auch von einem transparenten D-Flip-Flop.
Tabelle 11.6. Wahrheitstabelle eines taktzustandgesteuerten D-Flip-Flops
C D Qn
0
0
1
1

0
1
0
1

Qn1
Qn1
0
1

F
ur C = 0 hingegen wird der Wert des Ausgangs Q gespeichert (Qn = Qn1 )
(Tab. 11.6). Die so aufgebaute Schaltung wird auch als Data-Latch bezeichnet.
Abbildung 11.16 zeigt eine aus nur vier Gattern bestehende schaltungstechnische Realisierung des taktzustandgesteuerten D-Flip-Flops.

Abb. 11.16. 4-Gatter-Realisierung eines taktzustandgesteuerten D-Flip-Flops

324

11 Digitale Messtechnik

11.3.5 Taktankengesteuertes D-Flip-Flop


Beim taktankengesteuerten D-Flip-Flop wird der Zustand des Eingangs D
mit der n
achsten Taktanke auf den Ausgang Q u
bertragen. Damit ergibt
sich die Ergebnisvariable Qn im n-ten Taktzyklus aus der Eingangsvariablen
Dn1 des vorhergehenden Taktzyklusses
Qn = Dn1 .

(11.9)

Die entsprechende Schaltung lasst sich analog zum taktzustandgesteuerten


D-Flip-Flop mit Hilfe eines taktankengesteuerten RS-Flip-Flops und eines
Inverters realisieren (Abb. 11.17). Es handelt sich hierbei um ein taktankengesteuertes RS-Flip-Flop, bei dem, wie auch bereits bei der Schaltung des
taktzustandgesteuerten D-Flip-Flops, der undenierte Zustand R = S = 1
durch die Verkopplung von R- und S-Eingang u
ber ein NICHT-Gatter verhindert wird. Das Signal D = 1 f
uhrt zum Setzen des Q-Ausgangs, wahrend
das Signal D = 0 das eindeutige R
ucksetzen bewirkt. Mit Hilfe der nach auen
gef
uhrten S- und R-Eingange (Abb. 11.17b) lasst sich wiederum ein eindeutig denierter Anfangszustand herstellen. Ein solches ankengetriggertes D-

Abb. 11.17. Taktankengesteuertes D-Flip-Flop: a) Realisierung mit Hilfe eines


taktankengesteuerten RS-Flip-Flops und eines Inverters, b) Schaltsymbol

Flip-Flop l
asst sich auch in Form einer Hintereinanderschaltung von zwei mit
komplementaren Taktsignalen belegten taktzustandgesteuerten D-Flip-Flops
implementieren (Abb. 11.18). Das in der Reihenfolge erste Flip-Flop wird als
Master-, das zweite als Slave-Flip-Flop bezeichnet. Wahrend einer negativen

Taktanke (Ubergang
des Taktsignals C von  1 auf  0 ) wird der Zustand von
D auf den Ausgang Q1 geschaltet, d. h. das Master-Flip-Flop u
bernimmt den

Zustand von D. Mit der darauolgenden positiven Taktanke (Ubergang


des
Taktsignals C von  0 auf  1 ) wird der Ausgang Q1 (nun gleicher Zustand wie
Eingang D) des Master-Flip-Flops u
ber das Slave-Flip-Flop auf den Ausgang
Q geschaltet, der damit denselben Zustand wie der Eingang D2 des SlaveFlip-Flops erhalt (Q = D2 ). Damit ist der Zustand des Ausgangs Q nach dem
Taktankenanstieg mit dem Zustand des Eingangs D davor identisch, was
schlielich Gl. (11.9) entspricht.

11.3 Bistabile Kippschaltungen

325

Abb. 11.18. Realisierung eines taktankengesteuerten D-Flip-Flops durch eine


Master-Slave-Anordnung, die aus einer Hintereinanderschaltung von zwei taktzustandgesteuerten Flip-Flops mit komplement
aren Takteing
angen besteht.

11.3.6 Taktankengesteuertes JK-Flip-Flop


Das taktankengesteuerte JK-Flip-Flop entspricht einem RS-Flip-Flop, bei
dem beide Eingange gesetzt sein d
urfen. Erreicht wird dieses durch eine R
uck
kopplung der Q- und Q-Ausg
ange u
ber zwei UND-Gatter auf den Eingang des
RS-Flip-Flops, das bei einer fallenden Taktanke schaltet (Abb. 11.19a). Die
freien Eing
ange der UND-Gatter bilden dabei den J- bzw. den K-Eingang.
Die Signalkombination J = 1 und K = 0 setzt den Q-Ausgang auf Q = 1,
w
ahrend ihn die Kombination J = 0 und K = 1 zur
ucksetzt. Die Eingangssignalkombination J = K = 1 bewirkt die Invertierung (Negierung) des aktuellen Zustandes (Tab. 11.7).

Abb. 11.19. Taktankengesteuertes JK-Flip-Flop: a) Prinzipieller Aufbau, b)


Schaltsymbol, c) Zeitdiagramm

326

11 Digitale Messtechnik
Tabelle 11.7. Wahrheitstabelle eines JK-Flip-Flops
J K Qn
0
1
0
1

0
0
1
1

Qn1
1
0
Qn1

speichern
setzen
r
ucksetzen
invertieren

11.3.7 Taktankengesteuertes T-Flip-Flop (Toggle-Flip-Flop)


Wenn man bei einem taktankengesteuerten JK-Flip-Flop den J- mit dem KEingang verbindet, erhalt man das taktankengesteuerte T-Flip-Flop
(T-Speicherglied), das auch als Toggle-Flip-Flop bezeichnet wird. Die entsprechende Wahrheitstabelle (Tab. 11.8) lasst sich anhand derjenigen f
ur das
Tabelle 11.8. Wahrheitstabelle eines taktankengesteuerten T-Flip-Flops
T Qn
0 Qn1 speichern
1 Qn1 invertieren

JK-Flip-Flop ableiten, indem man beachtet, dass J = K geschaltet ist. Der


Zustand der Ausgangsvariablen Q kann sich nur andern, wenn ein  1 -Signal
am T-Eingang anliegt. F
ur T = 1 invertiert dieses Flip-Flop nach jeder Taktanke den Ausgang, d. h. es liefert am Ausgang Impulse mit der doppelten
Periode des Taktsignals, was einer Halbierung der Eingangsfrequenz des Taktsignals entspricht (Abb. 11.20). Mit dieser Eigenschaft wird das T-Flip-Flop
zu einem wichtigen Baustein in Digitalzahlerschaltungen. Sowohl beim JKals auch beim T-Flip-Flop sind getrennte Setz- (S) und R
ucksetz-Eingange
(R) vorgesehen, mit deren Hilfe ein denierter Anfangszustand vorgegeben
werden kann.

Abb. 11.20. Taktankengesteuertes T-Flip-Flop (Toggle-Flip-Flop): a) Schaltsymbol f


ur invertierenden Taktanken-Eingang, b) Zeitdiagramm

11.4 Monostabile Kippstufe

327

11.4 Monostabile Kippstufe


Eine monostabile Kippstufe, die auch als Monoop oder Univibrator bezeichnet wird, kennt im Unterschied zu den im Kap. 11.3 behandelten bistabilen
Kippstufen nur einen einzigen stabilen Ausgangszustand. Monostabile Kippstufen haben die Aufgabe, bei einer ansteigenden oder abfallenden Taktanke
in ihrem Eingangssignal einen Rechteckpuls mit einer denierten Amplitude
U0 sowie einer denierten zeitlichen Lange T0 als Ausgangssignal zu liefern.
Eine Realisierungsmoglichkeit von Monoop-Schaltungen basiert auf der
in Abb. 11.21 gezeigten r
uckgekoppelten Gatterschaltung. Wenn die Eingangsspannung zunachst als Null angenommen wird (uE = 0), kann der sich daraus
ergebende stabile Zustand nur in einer Ausgangsspannung uA = 0 resultieren, da nach einer bestimmten Zeit kein Kondensatorladestrom mehr durch
den Widerstand iet. Die Spannung u2 ist dann identisch +U0 , was denitionsgem
a dem  1 -Pegel entspricht. Somit liegt der Ausgang des Invertierers
und damit auch der zweite Eingang des NOR-Gatters auf  0 -Pegel. Im Falle
eines am Eingang eintreenden positiven Pulses schaltet das Eingangsgatter
entsprechend seiner NOR-Funktion auf  0 -Pegel am Ausgang. Da die am Kondensator anliegende Spannung (u2 u1 ) nur mit der Zeitkonstanten = RC
ansteigt (die Umladung des Kondensators erfolgt u
ber den Widerstand R),
wird erst nach einer Zeit T0 der stabile Grundzustand wieder erreicht. Solange
aber die Umladung des Kondensators erfolgt, liegt u2 unterhalb der Schaltschwelle des Invertierers und die Ausgangsspannung uA auf hohem Potential

Abb. 11.21. Monostabile Kippstufe: a) Schaltungsvariante mit Standardgattern,


b) Signalverlauf, c) Schaltsymbol f
ur ansteigende und abfallende Flanke

328

11 Digitale Messtechnik

( 1 -Pegel). Die Zeit T0 wird von der Zeitkonstanten in Verbindung mit der
Schaltschwelle des Invertierers festgelegt.
Mit Hilfe der in Abb. 11.22 gezeigten Monoop-Realisierung auf der Basis von D-Flip-Flops ist es moglich, einen taktsynchronen Ausgangspuls zu
generieren. Die Dauer des Ausgangspulses entspricht dabei genau der Dauer
einer Periode des Referenztaktes. Das erste D-Flip-Flop schaltet namlich seinen Ausgang auf Q1 = 1, wenn bei einer positiven Flanke im Taktsignal uE
auf  1 -Pegel liegt. Gleichzeitig wird u
ber Q1 das zweite D-Flip-Flop aktiviert,
sodass mit der nachsten positiven Taktanke sein invertierter Ausgang auf
Q2 = 0 schaltet. Daraufhin sperrt das UND-Gatter und die Ausgangsspan
nung uA f
allt wieder auf uA = 0 ab. Die Schaltung reagiert erst wieder auf
einen positiven Impuls am Eingang, wenn die Eingangsspannung uE vorher
mindestens f
ur die Zeit einer Taktperiode gleich Null war. Bei dieser Realisierungsvariante ist allerdings zu beachten, dass kurze Triggerpulse in uE ,
die nicht von einer positiven Taktanke erfasst werden, keine Auslosung des
Monoops bewirken.

Abb. 11.22. Realisierung einer monostabilen Kippstufe auf der Basis von taktankengesteuerten D-Flip-Flops

11.5 Z
ahler-Schaltungen
Jede Z
ahlung bedeutet eine Summation, wobei bei Eintreten eines zu zahlenden Ereignisses der Zahlerstand jeweils um den Betrag 1 in positiver (Vorwartsz
ahlung) bzw. in negativer Richtung (R
uckwartszahlung) verandert wird. Ein

11.5 Z
ahler-Schaltungen

329

Z
ahler ist demnach ein Speicher, dessen Speicherplatze entsprechend dem vorgesehenen Zahlencode, z. B. dem Dualzahlencode oder dem BCD-Code, besetzt werden. Diese Speicherelemente m
ussen denierte stabile Zustande haben. Die wesentliche Eigenschaft einer Zahlerschaltung besteht darin, dass ihre
in einem vereinbarten Zahlencode vorliegende Ausgangsgroe der Anzahl der
am Eingang eingetroenen Zahlerereignisse entspricht. Diese Einzelereignisse
m
ussen in eindeutig trennbarer Form vorliegen. Es sind dies i.Allg. ansteigende

bzw. abfallende Flanken von elektrischen Pulsen oder auch das Uberoder Unterschreiten von Signalschwellwerten, insbesondere die Nulldurchgange von Signalspannungen. Die Schaltsymbole f
ur Vorwarts-, R
uckwarts- und den kombinierten Vorwarts-R
uckwartszahler werden in Abb. 11.23 gezeigt.

Abb. 11.23. Schaltsymbole f


ur Z
ahler: a) Vorw
artsz
ahler, b) R
uckw
artsz
ahler, c)
Vorw
arts-R
uckw
arts-Z
ahler mit umschaltbarer Z
ahlrichtung: ZR = 1: Z
ahlrichtung
vorw
arts, ZR = 0: Z
ahlrichtung r
uckw
arts

11.5.1 Dualz
ahler
Asynchroner Dualz
ahler
Die einfachsten elektronischen Zahler sind Dualzahler, also Zahler, deren
Z
ahlerstand in Form einer Dualzahl codiert ist. Der asynchrone Dualzahler
kann in Form hintereinandergeschalteter T-Flip-Flops aufgebaut werden
(Abb. 11.24), deren T-Eingange alle auf  1 gesetzt sind und deren Takteingange mit dem Q-Ausgang des jeweils vorhergehenden T-Flip-Flops verbunden
wurden. Wie bereits in Kap. 11.3.7 erlautert, untersetzt jedes dieser T-FlipFlops die Frequenz des vorhergehenden im Verhaltnis 2:1. Um die Summe der
Taktimpulse zu erhalten, m
ussen nur die Ausgange der Flip-Flops als Dualzahl interpretiert werden. Die Wertigkeit der n-ten Stufe betragt Qn = 2n .

Uber
die Reset-Leitung, die mit R bezeichnet ist, kann der Zahler auf Null
gesetzt werden.
Der gr
ote Nachteil der asynchron arbeitenden Zahler besteht darin, dass
der Ausgangszustand Qn der n-ten Stufe erst nach dem Umschalten (Kippen) aller (n 1) vorhergehenden Stufen erreicht wird, was zur Folge haben
kann, dass die Zahlpulse so schnell eintreen, dass die Flip-Flops der hoherwertigen Stufen nicht mehr rechtzeitig schalten. Dann entspricht der aktuelle
Z
ahlerstand nicht mehr der Anzahl der bereits eingetretenen Zahlereignisse.

330

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.24. Asynchroner Vorw


arts-Dualz
ahler: a) Schaltung auf der Basis von
Toggle-Flip-Flops, b) Zeitdiagramm

Synchroner Dualz
ahler
W
ahrend beim asynchronen Dualzahler nur das erste Flip-Flop vom Takt gesteuert wird und dadurch die eben beschriebenen Verzogerungen auftreten, ist
beim synchronen Dualzahler ein gleichzeitiges und damit schnelleres Schalten
der Flip-Flops durch einen gemeinsamen Takt gewahrleistet (Abb. 11.25).
Die Bedingung, dass ein in einem Dualzahler enthaltenes Flip-Flop nur
kippen darf, wenn alle niederwertigen Flip-Flops auf  1 gesetzt sind, wird
mit Hilfe der UND-Gatter erreicht. Diese werten die niederwertigen Ausgange
Q0 . . . QN1 aus und geben des Ergebnis auf den T-Eingang der n-ten Stufe,
welche dann wiederum bei der nachsten Taktanke den Zustand wechselt. Es
ist zu erw
ahnen, dass die bei realen Flip-Flops auftretenden Verzogerungszeiten zwischen Eintreen der Taktanke und dem Einstellen des entsprechenden Ergebniswertes am Ausgang daf
ur sorgen, dass keine undenierten
Schaltzust
ande auftreten.

Abb. 11.25. Schaltung eines synchronen Dualz


ahlers

11.5 Z
ahler-Schaltungen

331

11.5.2 BCD-Z
ahler
Asynchroner BCD-Z
ahler
Aus einem vierstelligen Dualzahler kann man einen BCD-Zahler aufbauen,

wenn die vierstelligen Dualzahler nach jeder 10. Taktanke einen Ubertrag


generieren und den Zahler wieder auf 0000 setzen. Der in binarer Form vorliegende Z
ahlerstand kann dann nach einer Dekodierung als Dezimalzahl ausgegeben werden. Mit BCD-Zahlern ist die Anzeige in Form von Dezimalzahlen
einfacher zu bewerkstelligen als mit reinen Dualzahlern, da sich jede Dekade f
ur sich dekodieren lasst. Abbildung 11.26 zeigt eine prinzipielle Realisie-

Abb. 11.26. Prinzipschaltbild eines asynchronen BCD-Z


ahlers

rungsm
oglichkeit f
ur einen asynchronen Vorwarts-BCD-Zahler. Dieser Aufbau
unterscheidet sich vom asynchronen Dualz
ahler (Abb. 11.24) durch die Hinzunahme von zwei UND- und einem ODER-Gatter. Das UND-Gatter zwischen
dem 1. und dem 2. T-Flip-Flop bewirkt, dass Q1 mit der 10. Taktanke nicht
gesetzt wird, solange Q3 = 1 ist. Dies ist eine Forderung, die sich unmittelbar
aus dem entsprechenden Zeitdiagramm (Abb. 11.27) ablesen lasst. Das zweite
UND-Gatter erreicht in Verbindung mit dem ODER-Gatter, dass Q3 nach
der 10. Taktanke wieder auf  0 geht, was ebenfalls nach dem Zeitdiagramm
gefordert wird.
Takt

1 2 3 4 5 6 7 8 9 1011

Q0

Q1

Q2

Q3

t
0 123 456 7 89 0 1

Abb. 11.27. Zeitdiagramm eines BCD-Z


ahlers

332

11 Digitale Messtechnik

Synchroner BCD-Z
ahler
Der synchrone BCD-Zahler weist im Vergleich zu der asynchronen Ausf
uhrung
den Vorteil auf, dass er hohere Zahlfrequenzen gestattet. Abbildung 11.28 zeigt
den prinzipiellen Aufbau eines synchronen BCD-Zahlers. Das UND-Gatter
zwischen dem 1. und 2. Flip-Flop bewirkt wiederum, dass Q1 mit der 10.
Taktanke nicht gesetzt wird. Die beiden weiteren UND-Gatter wirken in
ahnlicher Weise wie die entsprechenden im synchronen Dualzahler. Um zu

erreichen, dass die 4. Kippstufe nach der 10. Taktanke zur


uckgesetzt wird,
ist diese als JK-Flip-Flop ausgef
uhrt. Der J-Eingang entspricht J = Q0 Q1 Q3
und der K-Eingang ist mit Q0 verbunden. Damit wird erreicht, dass vor der 10.
Flanke J = 0 und K = 1 werden, woraufhin mit der 10. Taktanke Q3 wieder

zur
uckgesetzt wird. Der damit am Ausgang Q3 entstehende Ubergang
von  1
 

auf 0 kann der Erzeugung eines Ubertragssignals f


ur die nachste Zahldekade
dienen.

Abb. 11.28. Prinzipschaltbild eines synchronen BCD-Z


ahlers

11.6 Digital-Analog-Umsetzung
11.6.1 Grundlagen und Kenngr
oen
Eine h
aug gestellte Aufgabe der Elektrischen Messtechnik besteht darin, in
digitaler Form codierte Messsignale wieder in analoge Spannungswerte zur
uckzuwandeln. Dazu bedient man sich der Digital-Analog-Umsetzer (DAU), die
auch als Digital-Analog-Converter (DAC) bezeichnet werden. Abbildung 11.29
soll das Prinzip der Digital-Analog-Umsetzung veranschaulichen. Im Folgenden wird angenommen, dass der Digitalwert Z mit einer Auosung von N Bit
als Dualzahl im Dualcode vorliegt und in paralleler Form (1 Bit pro Datenleitung) zur Verf
ugung steht.
Weiterhin werden nur unipolare Digital-Analog-Umsetzer betrachtet, d. h.
solche, die nur positive Zahlen im Bereich

11.6 Digital-Analog-Umsetzung

333

Abb. 11.29. Prinzip der Digital-Analog-Umsetzung. Der Digitalwert Z wird in das


Eingangsregister geschrieben und vom eigentlichen Digital-Analog-Converter (DAC)
in die entsprechende Analogspannung uA (t) umgesetzt, welche wiederum von einem
Ausgangsverst
arker ausgegeben wird.

0 Z Zmax = 2N 1

(11.10)

verarbeiten konnen, wobei die Dualzahl Zdual = zN1 . . . z1 z0 durch ihre N


Bin
arstellen zi festgelegt wird
Z = zN1 2N 1 + . . . + z2 22 + z1 21 + z0 20 .

(11.11)

Diese am Eingang des DAC anstehende N-Bit-Dualzahl wird zunachst in ein


Eingangsregister u
bernommen und bei der nachstfolgenden Flanke des Taktsignals in ihren entsprechenden Analogwert umgesetzt (Abb. 11.29). Die aus
der Quantisierung resultierende Stufenbreite ULSB entspricht der Dierenz im
analogen Ausgangssignal zwischen zwei aufeinanderfolgenden Digitalwerten
ULSB =

UAmax
,
2N

(11.12)

wobei UAmax die maximal mogliche Ausgangsspannung des Digital-AnalogUmsetzers bezeichnet. Diese Stufenbreite entspricht auch dem zum niedrigstwertigen Bit gehorenden Analogwert. Das niedrigstwertige Bit wird auch als
Least Signicant Bit (LSB) bezeichnet. Die aus K Punktwerten bestehende

Ubertragungskennlinie
eines idealen unipolaren Digital-Analog-Umsetzers ist
in Abb. 11.30 dargestellt. Dabei ist K die Anzahl der diskreten Kennlinienpunkte, die sich aus der Bitanzahl N des Digital-Analog-Umsetzers ergibt
K = 2N .

(11.13)

Die analoge Ausgangsspannung uA des Digital-Analog-Converters liegt im


Intervall

334

11 Digitale Messtechnik
Analogspannung u A
7 U Amax
8

U Amax
2
U Amax
4
U Amax
8
000 001 010 011 100 101 110 111 Digitalwert Z

Abb. 11.30. Ubertragungskennlinie


eines idealen unipolaren 3-Bit-Digital-AnalogUmsetzers (ULSB = UAmax /8).

0 uA ULSB (2N 1) = UAmax

2N 1
= UAmax (1 2N ) .
2N

(11.14)

Weitere wichtige Kenngroen eines Digital-Analog-Umsetzers sind die Konversionsrate (wird teilweise auch als Umsetz- bzw. Wandlungsrate bezeichnet)
und Konversionszeit (Umsetzzeit bzw. Wandlungszeit). Die Konversionsrate
gibt an, wieviele Digitalwerte pro Zeiteinheit in analoge Werte umgesetzt werden k
onnen. Die Konversionszeit entspricht im Normalfall dem Reziprokwert
der Konversionsrate.
11.6.2 Schaltungstechnische Realisierungen von
Digital-Analog-Umsetzern
Summation gewichteter Spannungen bzw. Str
ome
In Abb. 11.31 sind zwei prinzipielle Schaltungsvarianten f
ur Digital-AnalogUmsetzer dargestellt. Der in Abb. 11.31a gezeigte Umsetzer enthalt einen
u/i-Verst
arker, der f
ur eine konstante Eingangsspannung Uref den konstanten
Ausgangsstrom Iref = Uref /Rref liefert. Wenn die parallel zu den ohmschen
Widerst
anden Ri liegenden Schalter Si von einem Digitalwort Z so gesteuert werden, dass sie bei Anliegen einer digitalen  1 onen (Si (zi = 1) = 1)
und bei einer digitalen  0 geschlossen bleiben (Si (zi = 0) = 0), gilt f
ur die
Ausgangsspannung
uA = Iref

N
1

i=0

Si Ri =

N 1
Uref 
Si Ri ,
Rref i=0

(11.15)

11.6 Digital-Analog-Umsetzung

335

Abb. 11.31. Prinzipielle Schaltungen von Digital-Analog-Umsetzern mit N -BitAu


osung: a) Variante mit u/i - Verst
arker, b) Variante mit i/u - Verst
arker

wobei die Widerstande Ri binar gewichtet sind


Ri = 2i R

i = 0, 1, ..., N 1 .

(11.16)

In der in Abb. 11.31b gezeigten Schaltungsvariante wird ein i/u-Verstarker


eingesetzt, der als invertierender Summierer betrieben wird. Im Gegensatz
zur vorher beschriebenen Schaltungsvariante sind die Schalter Si bei einer
digitalen  1 geschlossen (Si (zi = 1) = 1). F
ur die Ausgangsspannung uA gilt
demnach
N
1

1
uA = Rref Uref
,
(11.17)
Si
R
i
i=0
wobei die Widerstande Ri eine im Vergleich zu Gl. (11.16) reziproke binare
Gewichtung haben
Ri =

R
2i

i = 0, 1, 2, ..., N 1 ,

(11.18)

und Si = 1, wenn die i-te Binarstelle gleich  1 ist, ansonsten Si = 0.


Eine entsprechende auf Halbleiterschaltern basierende Realisierung wird
in Abb. 11.32 gezeigt. Die Schaltung ist so dimensioniert, dass bei einer auf
 
1 gesetzten Binarstelle zi (entspricht einer positiven Spannung im Bereich
von UB , d. h. U (zi = 1) UB ) der entsprechende Transistor onet und sein

336

11 Digitale Messtechnik

Kollektorstrom, der vom Widerstand R/2i bestimmt wird, u


ber den Sum
mationswiderstand Rref iet. Damit ist eine Summation gema Gl. (11.17)
gegeben. Die an den Widerstanden R/2i anliegende Spannung betragt Uref ,
da die Diodenschwellenspannung UD ungefahr der negativen Basis-EmitterSpannung UBE entspricht (UD UBE ). Uref wird z. B. mit Hilfe einer Zenerdiode konstant gehalten.

Abb. 11.32. Realisierung eines 4-Bit-Digital-Analog-Umsetzers auf der Basis eines


i/u-Verst
arkers

Bei solchen auf Widerstandsnetzwerken basierenden Digital-Analog-Umsetzern m


ussen allerdings sehr hohe Anforderungen an die Genauigkeit der in
diesen Schaltungen eingesetzten Widerst
ande gestellt werden. Denn bei einem Digital-Analog-Umsetzer mit einer Auosung von N Bit ergibt sich der
Zusammenhang zwischen der maximalen Ausgangsspannung uAmax und der
Quantisierungsschrittweite ULSB zu
uAmax = (2N 1)ULSB .

(11.19)

Wenn der maximale absolute Fehler |uA | der Ausgangsspannung uA kleiner


als ULSB /2 bleiben soll (|uA | ULSB /2), folgt aus der Anwendung des Fehlerfortpanzungsgesetzes f
ur systematische Fehler (Gl. (5.7)) auf Gl. (11.15)
|uA | =



N 1
1

 Uref N
Uref   Ri
1
Si 
Ri  =
Si |Ri | < ULSB .
Rref i=0
Ri
Rref i=0
2

(11.20)

Der Analogwert der ersten Quantisierungsstufe kann unter Beachtung von


Gl. (11.15) und (11.16) als Funktion der Referenzspannung sowie der Widerstandswerte R und Rref ausgedr
uckt werden
ULSB =

Uref
R.
Rref

(11.21)

11.6 Digital-Analog-Umsetzung

337

Damit folgt aus Gl. (11.20)


|uA | =

N 1
Uref 
1 Uref
Si |Ri | <
R.
Rref i=0
2 Rref

(11.22)

Im Worst-Case sind alle Si oen (Si = 1), so dass folgende Bedingung eingehalten werden muss
N
1

1
(11.23)
|Ri | < R .
2
i=0
Wenn wir gleiche relative Fehler f
ur die einzelnen binar gewichteten Widerst
ande Ri annehmen, folgt aus Gl. (11.16)
|Ri | = |R| 2i .

(11.24)

Setzt man nun diesen Zusammenhang in Gl. (11.23) ein, erhalt man schlielich den aus der Forderung |uA | ULSB /2 resultierenden maximal zulassigen relativen Fehler, den die Einzelwiderstande Ri aus der Schaltung nach
Abb. 11.31 haben d
urfen
|R|

N
1

i=0

bzw.

2i <

1
R
2

|R|
1
<
.
R
2(2N 1)

(11.25)

(11.26)

Diese Bedingung muss insbesondere bei dem Widerstand RN1 , der f


ur das
h
ochstwertige Bit, das sog. Most Signicant Bit (MSB), zustandig ist, beachtet
werden. Dieser Widerstand ist bez
uglich der Fehlertoleranzen der kritischste,
weil er gem
a Gl. (11.23) den groten absoluten Fehler verursachen kann. F
ur
einen 12-Bit-Umsetzer bedeutet dies, dass der Widerstand R11 mindestens
folgende Genauigkeitsforderung erf
ullen muss
|R11 |
1
= 0, 00012 =
0, 012% .
=
R11
2(212 1)

(11.27)

Leiternetzwerk
Der oben geschilderte Nachteil, dass Widerstande, die in ihren Werten zum
Teil um Gr
oenordnungen auseinanderliegen, mit sehr geringen Toleranzen
gefertigt werden m
ussen, lasst sich mit einem DAC auf der Basis eines R2R-Widerstandsnetzwerkes umgehen. Bei diesem meist verwendeten DACTyp wird die Gewichtung der Stufen durch Anwendung einer fortgesetzten
Spannungs- bzw. Stromteilung mit Hilfe eines Leiternetzwerkes realisiert. Die
entsprechende Schaltung, welche nur Widerstande mit den Werten R und 2R

338

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.33. Digital-Analog-Umsetzer mit R-2R-Widerstandsnetzwerk: a) Prinzipschaltung mit Stromquellen, b) Ersatzschaltung zwischen den Knoten  i und  i+1 ,
wenn zi = 1 und alle anderen Schalter oen, c) Prinzipschaltung mit Spannungsquelle.

ben
otigt, wird in Abb. 11.33 gezeigt. Der Ersatzschaltung (Abb. 11.33b), welche die Verhaltnisse zwischen zwei beliebigen Knoten i und i + 1 beschreibt,
kann man entnehmen (Stromteilerregel) [102], dass das Gewichtungsverhaltnis

11.6 Digital-Analog-Umsetzung

339

der Str
ome Ii+1 und Ii stets den Wert 1/2 annimmt
Ii+1
1
= .
Ii
2

(11.28)

Dabei wurde angenommen, dass der zur i-ten Binarstelle gehorende Schalter
geschlossen ist, wahrend alle anderen oen sind. Der Wert von 1/2 entspricht
andererseits genau der geforderten binaren Wertigkeit des Schalters Si . F
ur
die Spannung ui erhalt man mit Iref = Ii + Ii+1
ui = Ii R =

2
Iref R .
3

(11.29)

Infolge der Spannungsteilung zwischen den Knoten i und i + 1 folgt


1
ui+1
= .
ui
2

(11.30)

Die Ausgangsspannung uA ergibt sich mit Anwendung des Superpositionsprinzips zu


N
1

2
uA = Iref R
Si 2iN +1
(11.31)
3
i=0
unter Beachtung der binaren Gewichtung der Teilspannung ui . Bei der Schaltungsvariante nach Abb. 11.33c wird anstatt der N Stromquellen eine Referenzspannungsquelle benotigt. Infolge der fortgesetzten Spannungsteilung
ergibt sich die Ausgangsspannung uA zu
uA =

N
1

2
Uref
Si 2iN +1 .
3
i=0

(11.32)

11.6.3 Fehler bei der Digital-Analog-Umsetzung


Statische Fehler
Die statischen Fehler sollen anhand der Kennlinie uA (Z) eines 3-Bit-DigitalAnalog-Umsetzers (Abb. 11.34) dargestellt werden. In Abb. 11.34 sind neben
den Kennlinienpunkten des idealen 3-Bit-Digital-Analog-Converters die des
realen eingezeichnet. Durch die Punkte des realen DACs wird eine als Best
Straight-Line bezeichnete Bezugsgerade Ubest (Z) gelegt, welche garantiert,
dass die maximale Abweichung zwischen der Punktfolge und der Geraden minimal wird. Diese Bezugsgerade weist gegen
uber der Sollkennlinie Uideal(Z)
normalerweise einen Nullpunktfehler (Oset) sowie einen Steigungsfehler auf.
Da sich diese beiden Fehler im Allgemeinen durch entsprechende Abgleichmanahmen auf relativ einfache Weise eliminieren lassen, sollen sie hier keine
weitere Ber
ucksichtigung nden. Die verbleibenden Fehler sind die Abweichungen der Kennlinienpunkte von der Bezugsgeraden. Der entsprechende absolute
Fehler

340

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.34. Statische Fehler eines Digital-Analog-Umsetzers. Kennlinien von idealem und realem Digital-Analog-Umsetzer. Ubest ergibt sich als Best-Straight-Line
durch die realen Kennlinienpunkte.

FNLint (Z) = uA (Z) Ubest (Z)

(11.33)

uA (Z) Ubest (Z)


Ubest (Zmax )

(11.34)

bzw. relative Fehler


fNLint (Z) =

wird als integrale Nichtlinearitat bezeichnet (Abb. 11.34). Weiterhin weicht


beim realen Umsetzer auch die Schrittweite der analogen Ausgangsgroe von
ihrem Sollwert ULSB ab. Der entsprechende absolute Fehler
FNLdi (Z) = [uA (Z + 1) uA (Z)] ULSB

(11.35)

bzw. relative Fehler


fNLdi (Z) =

[uA (Z + 1) uA (Z)] ULSB


ULSB

(11.36)

wird als dierentielle Nichtlinearitat bezeichnet (Abb. 11.34). In den Datenbl


attern von Digital-Analog-Umsetzern werden im Allgemeinen nur die Maximalwerte |fNLint |max sowie |fNLdi |max angegeben. Die dierentielle Nichtlinearit
at von Digital-Analog-Umsetzern sollte 50% entsprechend 1/2 ULSB
(absolut) nicht u
bersteigen, da sonst das niedrigstwertige Bit wertlos ware.
Von einem Monotonie-Fehler spricht man, wenn der absolute dierentielle
Nichtlinearit
atsfehler kleiner als ULSB ist, so dass bei steigendem Digitalwert die analoge Ausgangsspannung abnimmt bzw. bei sinkendem Digitalwert
zunimmt.

11.6 Digital-Analog-Umsetzung

341

Dynamische Fehler
Neben den statischen Kennlinienfehlern treten bei Digital-Analog-Umsetzern
auch dynamische Fehler auf. Dazu sei beispielhaft eine Eingangs-Datenwortfolge nach Tab. 11.9 sowie der zugehorige ideale Ausgangsspannungsverlauf
nach Abb. 11.35a betrachtet. Als wichtigste Ursachen f
ur dynamische Fehler
sind zu nennen:

Ubersprechen

Das im Wesentlichen auf kapazitiver Kopplung beruhende Ubersprechen


der Schalter-Ansteuersignale in einem Digital-Analog-Umsetzer f
uhrt zu
aussteuerungsabhangigen Storspitzen im Ausgangssignal.
Zwischen-Codes

Wenn die Schalter die Operationen Onen


bzw. Schlieen unterschiedlich
schnell durchf
uhren, so ist dies vergleichbar mit der Ansteuerung eines Digital-Analog-Umsetzers mit einer gestorten Digitalwortfolge (s. Tab. 11.9
bzw. Abb. 11.35b).

Abb. 11.35. Dynamische Fehler bei Digital-Analog-Umsetzern: a) Ideale Ausgangsspannung, b) Fehler durch Zwischencodes, c) Fehler infolge Tiefpassverhaltens, d)

Uberlagerung
der dynamischen Fehler

342

11 Digitale Messtechnik

Tabelle 11.9. Digitalwortfolge in einem DAC. zEingang bezeichnet die am Eingang


anliegende und zwirksam die infolge der fehlerhaften Zwischencodes tats
achlich wirksame Codewortfolge.

zEingang zwirksam

t0
t1
t1 + td
t2
t2 + td
t3
t4
t4 + td
t5
t5 + td
t6

1000
0100
0100
0010
0010
0010
0101
0101
0111
0111
0111

1000
0000
0100
0110
0010
0010
0111
0101
0000
0111
0111

Tiefpassverhalten

Ein realer Umsetzer weist in seinem Ubertragungsverhalten


Tiefpassverhalten auf (Abb. 11.35c), das auf (parasitare) RC-Glieder sowie die Bandbegrenzung der verwendeten Verstarker zur
uckzuf
uhren ist. Dieses Tiefpassverhalten f
uhrt nach jedem Codewechsel zu dem in Abb. 11.35c gezeigten typischen Einschwingverhalten in der Ausgangsspannung in Form
von exponentiell ansteigenden oder abfallenden Flanken.
Die Zeitdierenz zwischen dem Anlegen des maximal darstellbaren
Digitalwertes Zmax (Full Scale Sprung) und dem Zeitpunkt, ab dem die
Ausgangsspannung des Digital-Analog Umsetzers ein Toleranzband von
ULSB /2 nicht mehr verlasst, wird als Einschwingzeit (Settling time) bezeichnet. Die Summenwirkung aller oben beschriebenen dynamischen Fehler wird in Abb. 11.35d gezeigt.

11.7 Analog-Digital-Umsetzung
Eine der Standardaufgaben der Elektrischen Messtechnik besteht darin, analoge Messsignale in entsprechende Digitalsignale, d. h. Binarzahlen, umzuwandeln. Selbst im Rahmen von einfacheren messtechnischen Aufgabenstellungen
werden analog arbeitende Messgerate immer hauger durch Digitalmessgerate
abgel
ost, und andererseits wird auch die Signalverarbeitung der aufgenomme
nen Messsignale zunehmend auf Digitalrechner verlagert. Ein Ubergang
in die
Digitalwelt ist heute nicht zuletzt wegen der preiswerten auf Personalcomputern basierenden Messdatenerfassungs- und Messsignalverarbeitungssysteme
attraktiv geworden. Als wesentliche Vorteile der digitalen Messtechnik gegen
uber der konventionellen Analogtechnik konnen angef
uhrt werden:

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

343

keine Ablesefehler
unempndlicher gegen auere Storein
usse, wie z.B. mechanische Ersch
utterungen oder Temperaturein
usse
M
oglichkeit der direkten computergest
utzten Weiterverarbeitung der Messdaten

direkte Ubernahme
der Messwerte in digitale Signalverarbeitungssysteme
einfache und langzeitsichere Speicherung.

11.7.1 Abtastung (Sampling)


Der erste Schritt bei einer Analog-Digital-Umsetzung besteht aus der zeitlichen Abtastung (Sampling) des urspr
unglich zeit- und wertkontinuierlichen Eingangssignals. Diese Abtastung wird mittels einer sog. Abtast-HalteSchaltung (Sample & Hold-Schaltung) vorgenommen. Durch diesen Abtastvorgang entsteht ein zeitdiskretes aber noch amplituden-kontinuierliches Signal (Abb. 11.36). In einem weiteren Schritt wandelt der eigentliche AnalogDigital-Umsetzer die zeitdiskreten wertkontinuierlichen Abtastwerte in zeitund wertdiskrete Signale, die schlielich in Form von Binarzahlen dargestellt
werden.
Es stellt sich zunachst die Frage, wie die Abtastfrequenz gewahlt werden muss, wenn die zeitdiskreten Abtastwerte das urspr
ungliche Signal ohne
Informationsverlust reprasentieren sollen, insbesondere im Hinblick auf eine

Abb. 11.36. Zeitliche und amplitudenm


aige Abtastung

344

11 Digitale Messtechnik

sp
atere R
uckumsetzung in ein zeitkontinuierliches Analogsignal. Die Verhaltnisse im Spektralbereich geben dar
uber Aufschluss. Abbildung 11.37 zeigt in
der linken Spalte die Zeitverlaufe des Originalsignals y(t), der Sampling-Pulse
(Abtastsignal) g(t) sowie des abgetasteten Signals y (t), das bereits durch eine
Folge von zeitdiskreten Werten reprasentiert wird. In der rechten Spalte sind
die entsprechenden Betrags-Spektren |Y (f )|, |G(f )| und |Y (f )| dargestellt.
Nachdem das abgetastete Signal y (t) durch Multiplikation des Originalsignals y(t) mit dem Abtastsignal g(t) entsteht, ergibt sich das Spektrum des
abgetasteten Signals Y (f ) aus dem Spektrum des Originalsignals Y (f ) durch
Faltung mit dem Spektrum G(f ) der diracformigen Abtastwerte [22], [165]
 +

Y (f ) =
Y ()G(f ) d .
(11.37)

Anhand des Spektrums Y (f ) erkennt man (Abb. 11.37c), dass das Originalsignal aus dem abgetasteten Signal zur
uckgewonnen werden kann, wenn das
Originalspektrum oberhalb der Frequenz fa /2 keine Anteile mehr enthalt.
Denn dann kann ein Tiefpasslter (Rekonstruktionslter) mit hoher Flankensteilheit und der Eckfrequenz fa /2 (Abb. 11.37c) aus dem Spektrum Y (f )
das Originalspektrum Y (f ) herausltern. Aus diesem lasst sich im Zeitbereich wieder das unverfalschte Originalsignal y(t) gewinnen. Wenn jedoch die

Abb. 11.37. Abtastung von Analogsignalen und die daraus resultierende Spektralverteilung: a) Urspr
ungliches Analogsignal mit dem h
ochsten Spektralanteil bei
f = fsmax , b) Abtastfunktion. (Die Abtastfrequenz fa entspricht dem Kehrwert der
zeitlichen Distanz Ta der Abtastwerte fa = 1/Ta .), c) abgetastetes Signal

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

345

Abb. 11.38. Verletzung des Abtasttheorems (fsmax > fa /2): a) Spektrum des
Originalsignals y(t), b) Spektrum des abgetasteten Signals y  (t)

Abtastfrequenz zu niedrig gewahlt wird, u


berlappen sich in Y (f ) das Basisspektrum und das nachsthohere Faltungsprodukt des Basisspektrums mit
der Spektrallinie bei f = fa . Aufgrund dieses sog. Aliasing-Eekts lasst sich
das Originalspektrum dann nicht mehr zur
uckgewinnen (Abb. 11.38). Um aus
dem abgetasteten Signal das urspr
ungliche Signal mit Hilfe eines (im Grenzfall
idealen) Tiefpasses (Abb. 11.37) wieder rekonstruieren zu konnen, d
urfen sich
also das Originalspektrum und das durch den Abtastvorgang entstehende, an
der Spektrallinie f = fa gespiegelte Original-Spektrum nicht u
berlappen. Aus
dieser Forderung resultiert das in Form von Gl. (11.38) formulierte Shannonsche Abtasttheorem, das auch als Nyquist-Kriterium bezeichnet wird
fa > 2fsmax .

(11.38)

Um sicherzustellen, dass die hochste im Originalsignal vorkommende Frequenz


fsmax kleiner ist als die halbe Abtastfrequenz, wird dem Sample & Hold-Glied
oft ein Tiefpass mit entsprechender Grenzfrequenz vorgeschaltet (Abb. 11.39).
Dieses Tiefpass-Filter wird auch als Anti-Aliasing-Filter bezeichnet.

Abb. 11.39. Prinzip der Analog-Digital-Umsetzung mit Anti-Aliasing-Filter und


Sample & Hold-Schaltung (siehe Kap. 11.7.2)

346

11 Digitale Messtechnik

11.7.2 Abtast-Halte-Schaltungen (Sample & Hold-Schaltungen)


Bei vielen Aufgaben der Elektrischen Messtechnik, so z. B. bei der AnalogDigital-Umsetzung von Messsignalen ist es notwendig, eine analoge, zeitlich
ver
anderliche Spannung u(t) zu einem bestimmten Zeitpunkt abzutasten und
den so erhaltenen Analogwert f
ur die Dauer eines festgelegten Zeitintervalles
zu speichern. Bei vielen Analog-Digital-Umsetzern beispielsweise muss das
Messsignal f
ur die Dauer des Konversionsvorganges zeitlich konstant gehalten
werden. Dazu setzt man Abtast-Halte-Schaltungen ein, die i. Allg. als FolgeHalte-Schaltungen (Track-and-Hold-Schaltungen) realisiert sind.

Abb. 11.40. Grundstruktur einer Folge-Halte-Schaltung

Das Prinzipschaltbild einer solchen Folge-Halte-Schaltung wird in Abb. 11.40


gezeigt. Je nach Schalterstellung ladt sich der Kondensator auf den Betrag
der Eingangsspannung uE (t) auf bzw. speichert den vor der Schalteronung
anliegenden Momentanwert der Eingangsspannung. Die beiden Operationsverst
arker dienen der Puerung von Eingang bzw. Ausgang. Abbildung 11.41
zeigt eine Realisierungsmoglichkeit der Folge-Halte-Schaltung. Zwischen einen
ersten Operationsverstarker, der als nicht-invertierender Verstarker arbeitet,
und einen zweiten als Integrierer eingesetzten Operationsverstarker ist ein IGFET (Isolated-Gate-FET) geschaltet. F
ur usamp = 0 ist der FET leitend und
die Ausgangsspannung uA entspricht der negativen Eingangsspannung uE ,
vorausgesetzt die Integrationszeitkonstante des integrierenden Verstarkers,

Abb. 11.41. Prinzipielle Realisierung einer Folge-Halte-Schaltung mit einem nichtinvertierenden und einem integrierenden Verst
arker

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

347

Abb. 11.42. Kenngr


oen von Sample & Hold-Schaltungen (s. auch Tab. 11.10)

die im Wesentlichen durch die maximalen Ausgangsstrome der Operationsverst


arker bestimmt wird, ist hinreichend klein. Wird der FET zum Zeitpunkt
t = t0 gesperrt, so bleibt auch die Kondensatorladung (Kondensatorspannung)
konstant und die Ausgangsspannung uA behalt den beim Sperren des Feldeffekttransistors anstehenden Wert uA (t) = uA (t0 ), bis der FET wieder leitend
geschaltet wird. Bei gesperrtem FET werden die Dioden leitend und vermei
den so eine Ubersteuerung
des Operationsverstarkers. Die Kenngroen von
Sample & Hold-Schaltungen werden anhand von Abb. 11.42 und Tab. 11.10
erl
autert.
Tabelle 11.10. Kenngr
oen von Folge-Halte-Schaltungen (s. auch Abb. 11.42)
Ausgangsspannung folgt der Eingangsspannung.
Ausgangsspannung ist eingefroren.
Dierenz zwischen Ausgangsspannung und Eingangsspannung im Sample-Betrieb.

Droop:
Anderung
der Ausgangsspannung im Hold-Betrieb aufgrund von Kondensatorleckstr
omen und Eingangsstr
omen der Operationsverst
arker (Haltedrift).
Slew Rate:
Max. Anstiegsgeschwindigkeit der Ausgangsspannung.
Zeit zwischen dem Hold-Befehl und dem vollst
andigen
Aperture Time tAP :

Onen
des Halbleiterschalters.

Settling Time:
Zeit zwischen Onen
bzw. Schlieen des Halbleiterschalters und dem Einschwingen der Ausgangsspannung
innerhalb einer bestimmten Fehlergrenze.
Aperture Time Jitter: Diese statistische und signalabh
angige Unsicherheit der
uhrt zu Amplitudenfehlern
Aperturzeit tAp f
u = (duE /dt)tAp .
Acquisition Time:
Zeit (Einstellzeit) zwischen dem Sample-Befehl bzw.
dem Hold-Befehl und dem Einschwingen innerhalb einer
bestimmten Fehlergrenze (beinhaltet Schaltzeit, Anstiegszeit durch Slew Rate und Settling Time).
(Sample) Track :
Hold:
Oset:

348

11 Digitale Messtechnik

11.7.3 Direktvergleichende Analog-Digital-Umsetzer


Bei den Analog-Digital-Umsetzern unterscheidet man prinzipiell zwischen den
in diesem Kapitel behandelten direktvergleichenden Umsetzern und denen, die eine Frequenz oder eine Zeit als Zwischengroe verwenden, wie beispielsweise die wichtige Klasse der integrierenden Umsetzer.
Parallel-Umsetzer (Flash-Converter, Vielfach-Diskriminator)

Abb. 11.43. 3-Bit-A/D-Umsetzer mit parallelen Komparatoren ULSB = Uref /2N =


Uref /8

Um eine sehr schnelle Umsetzung zu erreichen, werden Parallel-Umsetzer eingesetzt, die auch als Flash-Converter oder als Vielfach-Diskriminatoren bezeichnet werden. Bei diesem Umsetzertyp wird die umzusetzende Spannung
gleichzeitig mit (2N 1) Referenzspannungen verglichen (Abb. 11.43). Das

Abb. 11.44. Komparator-Schaltung. Die Ausgangsspannung uA = +UB entspricht


dem logischen Signal K = 1, w
ahrend uA = UB dem Wert K = 0 entspricht.

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

349

Kernst
uck eines Parallel-Umsetzers bilden die (2N 1) Komparatoren, deren Funktion nochmals anhand von Abb. 11.44 verdeutlicht werden soll. Die
Wandlung in einem Schritt bewirkt die hochstmogliche Umsetzungsgeschwindigkeit, das Bereitstellen der (2N 1) Komparatoren erweist sich jedoch als
aufwendig und f
uhrt damit zu hoheren Kosten. Die Signale eines aus sieben
Komparatoren aufgebauten 3-Bit-Parallel-Umsetzers sind in Tab. 11.11 enthalten.
Tabelle 11.11. Signale eines 3-Bit-Parallel-Umsetzers (s. auch Abb. 11.43)
Eingangsspannung

Komparatorsignale Bin
arcode Bin
arcode, in
K7 K6 K5 K4 K3 K2 K1 Z2 Z1 Z0 Analogspannung
uE umgerechnet

0 uE < 12 ULSB
1
U
2 LSB
3
U
2 LSB
5
U
2 LSB

0000000

000

uE < 32 ULSB

0000001

001

Uref /8

uE <

0000011

010

2 Uref /8

0000111

011

3 Uref /8

0001111

100

4 Uref /8

0011111

101

5 Uref /8

0111111

110

6 Uref /8

1111111

111

7 Uref /8

uE <

5
U
2 LSB
7
U
2 LSB

7
U
uE < 92 ULSB
2 LSB
9
U
uE < 11
ULSB
2 LSB
2
11
13
ULSB uE < 2 ULSB
2
13
ULSB uE
2

Sukzessive Approximation (W
ageverfahren, Stufenumsetzer)
Dieser Methode liegt das Balkenwaageprinzip zugrunde. Ein nach dem Prinzip der sukzessiven Approximation arbeitender Umsetzer, der auch als Stufenumsetzer bezeichnet wird, enthalt neben einem Modul zur Ablaufsteuerung und einem Speicherregister als zentrales Element einen Komparator und
einen Digital-Analog-Umsetzer (Abb. 11.45). In sukzessiven Schritten wird
mit Hilfe des Komparators gepr
uft, ob die zu wandelnde Spannung groer
oder kleiner ist als die vom DAC erzeugte Spannung u(Z). Zunachst wird das
h
ochstwertige Bit (MSB) gesetzt, das vom DAC in eine entsprechende Analogspannung u(Z) umgesetzt und mit der Eingangsspannung uE verglichen
wird. Je nachdem, ob das Ergebnis u(Z) kleiner oder groer ist als uE wird
die Referenzspannung zum Ergebnis addiert oder subtrahiert und die entsprechende Stelle der resultierenden Ausgangsbinarzahl auf  0 oder  1 gesetzt. In
jedem der darauolgenden Zeitzyklen wird der eben beschriebene Vergleichsvorgang f
ur die jeweils nachst niedrigere Binarstelle entsprechend wiederholt.
F
ur einen N -Bit-Umsetzer sind somit N Vergleichsschritte notwendig, die sequentiell abgearbeitet werden m
ussen.

350

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.45. 4-Bit-A/D-Umsetzer nach dem Prinzip der sukzessiven Approximation

Kaskadierter Vielfach-Diskriminator (Kombiniertes Parallel- und


W
ageverfahren)
Der kaskadierte Vielfach-Diskriminator schliet einen Kompromiss zwischenUmsetzungsgeschwindigkeit und Aufwand. Da f
ur hohere Auosungen beim
reinen Parallel-Umsetzer (Vielfach-Diskriminator) sehr viele Komparatoren
ben
otigt werden, z. B. 255 bei einem 8-Bit-ADC, kaskadiert man die VielfachDiskriminatoren. Dies f
uhrt zu einer erheblichen Reduzierung der Anzahl an
Komparatoren bei leichten Einbuen in bezug auf die Umsetzungsgeschwindigkeit. Abbildung 11.46 zeigt die Realisierung eines 8-Bit-Umsetzers durch
zwei kaskadierte 4-Bit-Umsetzer (Parallel-Umsetzer). Der erste ADC u
bernimmt die Grobquantisierung, also die Quantisierung der vier hoherwertigen
Bits. Das Ergebnis dieser Wandlung wird u
ber einen Digital-Analog-Umsetzer
wieder in eine Analogspannung umgesetzt und von der Eingangsspannung subtrahiert. Das Dierenzsignal wird vom zweiten (um den Faktor 16 feineren)

Abb. 11.46. Kaskadierter 8-Bit-Vielfach-Diskriminator

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

351

Analog-Digital-Converter quantisiert. Das Ergebnis dieser Umsetzung liefert


die vier niederwertigen Bits. Die Einsparung an Komparatoren (beim obigen
Beispiel reduziert sich ihre Zahl von 255 auf 30) geht auf Kosten der Umsetzungsgeschwindigkeit. Das in Abb. 11.46 gezeigte Umsetzungsprinzip wird
auch als Half-Flash-Umsetzer bezeichnet.
Umsetzer nach dem Subranging-Verfahren (Kaskadenverfahren)
Beim Subranging-Verfahren verwendet man einen N -Bit-Parallel-Umsetzer
(Flash-Converter) um einen 2N -Bit-Umsetzer nachzubilden [142]. Zur Umsetzung sind hier jedoch drei Zeitzyklen erforderlich. Gegen
uber dem eben
beschriebenen Half-Flash-Umsetzer spart man allerdings daf
ur auch einen der
beiden dort verwendeten Flash-Umsetzer ein. Das analoge Eingangssignal uE
wird in einem ersten Taktzyklus (S1 geschlossen, S2 oen) mit Hilfe eines
N -Bit-Umsetzers umgesetzt (Abb. 11.47). Das Ergebnis, das die N hochstwertigen Bits liefert, wird wiederum mit einem DAC in den entsprechenden
Analogwert zur
uckgewandelt und von der urspr
unglichen Eingangsspannung
uE subtrahiert. Die Dierenzspannung wird um den Faktor 2N verstarkt und
erneut auf den N -Bit-Parallel-Umsetzer gegeben (S1 oen, S2 geschlossen).
Durch Addition der Ergebnisse der 1. und 2. Umsetzung erhalt man schlielich das Endergebnis der Pseudo-2N -Bit-Umsetzung. In der Praxis verwendet man Direktumsetzer mit einer hoheren Auosung als notwendig [76]. Die
dadurch gewonnene Redundanz zieht man zur Korrektur von Linearitatsfehlern des Flash-Umsetzers heran. So wird beispielsweise zur Realisierung des
in Abb. 11.47 gezeigten 2(N 1)-Bit-ADC ein N -Bit-Flash-Converter eingesetzt. Bei der Realisierung der Schaltung muss darauf geachtet werden, dass
der Verst
arkungsgrad des Verstarkers sehr prazise abgeglichen ist, weil er das
Restsignal auf den vollen Skalenbereich verstarkt. Aus demselben Grund sollte
der DAC nur sehr geringe Linearitatsfehler aufweisen.

Abb. 11.47. Analog-Digital-Umsetzer nach dem Subranging-Verfahren. MSB und


LSB bezeichnen hier die h
oherwertigen bzw. die niederwertigen Bits.

352

11 Digitale Messtechnik

Da der Markt heute schnelle Direktumsetzer mit Umsetzzeiten von 10 ns


und darunter bietet, stellt der eigentliche Analog-Digital-Umsetzer bei den
Subranging-Architekturen heute kaum die zeitkritische Komponente dar. Diese liegt eher im R
uckkopplungszweig, da vor der zweiten Umsetzung das Eingangssignal des Flash-ADC, d. h. die Dierenz aus r
uckgewandelter Groe
und Eingangssignal, um einen recht hohen Faktor verstarkt werden und auf
die Genauigkeit des kompletten Wandlerbausteins eingeschwungen sein muss.
In der Praxis hangt deshalb die erreichbare Konversionszeit stark von der Geschwindigkeit des R
uckkopplungszweiges ab. Heute sind Subranging-Umsetzer
mit Konversionszeiten unter 100 ns kommerziell erhaltlich.
Steuerung
und
Umsetzlogik

S&H
uE

V = 1, 8, 64, 512
u(Z)

a)
u
Uref
ULSB0 =

Uref
{
16

(k+1)ULSB0
kULSB0

uE

4-BitFlash-ADC

u
Uref
u1+
8
ULSB1=

Uref
{
128

8ULSB1

uE

12-BitDAC

u
Uref
u 2+
64
Uref
{
ULSB2=
1024

u
Uref
u 3+
512
Uref
{
ULSB3 =
8192

8ULSB2

8ULSB3

uE

uE
u1

Verstrkung: V = 1
Konversionszyklus Nr.:
1
b)

u3

u2

V=8
2

V = 64

V = 512

2ULSB0
u 1 = kULSB0 - i
16

Abb. 11.48. 12-Bit-Analog-Digital-Umsetzer nach dem rekursiven SubrangingVerfahren. Zum Zwecke der Fehlerkorrektur werden anstatt der vier m
oglichen jeweils nur drei Bit genutzt, so dass die Gesamtwandlung vier Konversionszyklen anstatt der sonst drei erfordert: a) Prinzipieller Schaltungsaufbau, b) Ermittlung des
Digitalwertes durch sukzessive Eingrenzung (k und i sind nat
urliche Zahlen).

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

353

Umsetzer nach dem Recursive-Subranging-Verfahren


(Kaskadenverfahren)
Beim Recursive-Subranging-Analog-Digital-Converter (RSR-ADC) wird mit
Hilfe eines N -Bit-Parallel-Umsetzers eine Analog-Digital-Umsetzung, die zu
einem nN -Bit-Digitalwort f
uhrt, in theoretisch n Schritten durchgef
uhrt. Die
prinzipielle Funktionsweise basiert auf dem Prinzip der schrittweisen Naherung mit dem Unterschied, dass anstatt des einfachen Analog-Komparators,
der als 1-Bit-Umsetzer angesehen werden kann, ein N -Bit-Parallel-Umsetzer
verwendet wird. Allerdings muss auch hier die Genauigkeit der Verstarker f
ur
den vollen Skalenumfang von n N -Bit gewahrleistet sein. Wie beim reinen
Subranging-Verfahren wird mit Hilfe eines DAC der digitale Ergebniswert in
ein entsprechendes Analogsignal zur
uckgewandelt, das von der Eingangsspannung uE subtrahiert wird. Es wird dabei ein n N -Bit DAC verwendet. Die
wesentliche Verbesserung gegen
uber dem Verfahren der schrittweisen Naherung besteht darin, dass bei einer n N -Bit-Umsetzung nur noch n anstatt

der n N Zeitzyklen benotigt werden. Ahnlich


wie beim vorher beschriebenen
Subranging-Verfahren nutzt man das N -te Bit jeweils zur Fehlerkorrektur,
was allerdings einen weiteren Taktzyklus erforderlich macht. Abbildung 11.48
zeigt das Beispiel eines nach dem rekursiven Subranging-Verfahren arbeitenden ADC mit einer Auosung von 12 Bit. Er basiert auf einem 4-Bit-ParallelUmsetzer, von dem jeweils das LSB zur Fehlerkorrektur verwendet wird. Es
sind dadurch vier anstatt der drei theoretisch moglichen Zeitzyklen zur Wandlung eines Wertes notwendig [199].
Pipeline-Umsetzer
Die Pipeline-Umsetzer stellen eine Weiterentwicklung der Analog-Dital-Umsetzer dar, die nach dem oben beschriebenen Subranging-Verfahren (Kaskadenverfahren) arbeiten. Die Struktur dieser Umsetzer besteht aus einer Modulkette (Pipeline) von Flash-Umsetzern, die in Kooperation prinzipiell so
wie beim Subrangingverfahren funktionieren. Der wesentliche Unterschied
zum Subranging-Verfahren besteht darin, dass anstatt der zeitlich zyklischen
Verarbeitung eines Einzelwertes die aus der Prozessortechnologie bekannte
Pipeline-Technik angewendet wird. Pipeline-Technik bedeutet, dass alle Stufen zeitlich parallel arbeiten aber an verschiedenen Abtastwerten. Das heit,
dass zur Ermittlung eines vollstandigen Digitalwortes zwar alle Stufen zeitlich
nacheinander, also Taktzyklus f
ur Taktzyklus, durchlaufen werden m
ussen,
was zu einer Latenzzeit (Zeit zwischen Abtastzeitpunkt der analogen Eingangsspannung und Ausgabe des entsprechenden Digitalwortes) f
uhrt. Es
steht aber mit jedem Taktzyklus ein fertiges Digitalwort am Ausgang zur
Verf
ugung. Dies begr
undet sich damit, dass mit jedem Taktzyklus ein neuer Analog-Wert abgetastet und in jeder Stufe der Pipeline zeitlich parallel
ein Teilergebnis in Form einer bestimmten Anzahl von Bits zwischen MSB
und LSB errechnet wird. Diese zeitlich synchron vorliegenden Teilergebnisse

354

11 Digitale Messtechnik

Takt
uE

Stufe 1

Stufe 2

N+1 Bit

.....

Stufe 3

N+1

Stufe m

N+1

N+1

Zwischenspeicher-(Latch-) und Korrektur-Modul


m . N Bit (Endergebnis)
Abb. 11.49. Struktur eines Pipeline-Analog-Digital-Umsetzers. Da die einzelnen
Stufen zeitlich synchron an verschiedenen Abtastwerten arbeiten, m
ussen die mit
jedem Taktzyklus gelieferten Werte in einem Zwischenspeicher gehalten und entsprechend ihrer Zugeh
origkeit zum mN-Bit-Digitalwort zusammengesetzt werden.

geh
oren aber zu verschiedenen (wenn man zwei benachbarte Stufen betrachtet, zu zeitlich aufeinander folgenden) Analogwerten.
Abbildung 11.49 zeigt die Pipeline der Einzelmodule und Abb. 11.50 die
Struktur einer einzelnen Stufe. Sie besteht aus einem (N+1)-Bit-Parallelumsetzer (Flash-ADC), einem (N+1)-Bit-Digital-Analog-Umsetzer, einem Subtrahierer und einem Verstarker mit Verstarkungsgrad 2N . In der ersten Stufe der Pipeline werden die MSBs (Most signicant Bits) und in der letzten
die LSBs (Least signicant Bits) ermittelt. In den Zwischenstufen nimmt die
Wertigkeit um jeweils den Faktor 2N ab. Die Ergebnisse werden in Form des
sog. Residuums (dies ist die um den Faktor 2N verstarkte analoge Dierenzspannung zwischen dem Signalwert der (m-1)ten Stufe und der m-ten Stufe)
weitergereicht. Die Pipeline-ADCs erfordern ahnlich wie die ADCs nach dem
Subranging-Verfahren eine sehr hohe Linearitat der einzelnen Stufen, insbesondere Verstarker mit hoher Prazision. Mit Pipeline-Umsetzern erreicht man
bei einer vergleichbaren Anzahl von Komparatoren eine hohere Auosung.
Dies geht allerdings auf Kosten der Konversionsrate. Im Allgemeinen verwendet man das LSB einer jeweiligen Stufe zur Fehlerkorrektur, so dass aus einem
vierstugen Pipeline-ADC mit einem 4-Bit-Flash-ADC in jeder Stufe ein 12Bit-ADC resultiert. Diese Art der Fehlerkorrektur ist identisch mit der des
Residuum

Sample & Hold


ADC
N+1
uE

DAC
N+1

V=2 N
zur nchsten
Stufe der
Pipeline

CSamp
N+1 Bit

Abb. 11.50. Einzelne Stufe eines Pipeline-Analog-Digital-Umsetzers

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

355

Subranging-Verfahrens. Zusammenfassend kann festgestellt werden, dass ein


wesentlicher Unterschied zwischen Subranging- und Pipeline-Verfahren darin besteht, dass beim Subranging-ADC nur eine (N+1)-Bit-Stufe vorhanden ist, die zyklisch m mal nacheinander durchlaufen wird, wahrend der
Pipeline-ADC aus m aneinandergereihten (N+1)-Bit-Stufen besteht, die zeitlich synchron (an verschiedenen Abtastwerten bzw. Digitalworten arbeiten.
Dies bedeutet, dass der Hardwareaufwand zwar m mal so hoch ist wie beim
Subranging-Verfahren, daf
ur aber ist ein Pipeline-ADC bedeutend schneller
(s. Tab. 11.12).
Es sei noch erwahnt, dass im Grenzfall statt eines Mehrbit-Umsetzters
in der Einzelstufe ein 1-Bit-ADC (bzw. im Falle von Fehlerkorrektur ein 2Bit-ADC), d.h. also ein einfacher Komparator, verwendet werden kann, was
zu einfachen Schaltungen mit geringer Chipache f
uhrt. Da die hierbei verwendeten Komparatoren hochgenau sein m
ussen, ist man zu einem ZweiKomparatorprinzip (sog. Redundant Signed Digit Technik) u
bergegangen.
N
aheres dazu ndet der interessierte Leser in [65].
Inkrementaler Stufenumsetzer (Z
ahlverfahren)
Bei den auf dem Zahlverfahren basierenden Analog-Digital-Umsetzern wird
eine Vergleichsspannung u(Z) von einem DAC erzeugt, der eingangsseitig von
einem gew
ohnlichen Zahler angesteuert wird (Abb. 11.51). Sobald u(Z) die zu
wandelnde Spannung uE u
bersteigt, wird die Umsetzung gestoppt. Aus dem
Z
ahlerstand kann unmittelbar der Digitalwert der zu wandelnden Spannung
errechnet werden. Der wesentliche Vorzug des Verfahrens liegt im geringen
technischen Aufwand (es wird nur ein Komparator benotigt), wahrend als
Nachteil die niedrige Geschwindigkeit angef
uhrt werden muss. Die Anzahl der
zur Wandlung notwendigen Zeitzyklen hangt von der Groe der Eingangsspannung uE ab. Es konnen zum Erreichen des N -Bit-Ergebniswertes maximal 2N
Zeitschritte notwendig werden.

Abb. 11.51. A/D-Umsetzer nach dem Prinzip der inkrementalen Stufenumsetzung

356

11 Digitale Messtechnik

Nachlaufumsetzer (Z
ahlverfahren)
Der Nachlaufumsetzer zahlt im Gegensatz zu dem im vorhergehenden Abschnitt beschriebenen inkrementalen Stufenumsetzer r
uckwarts und vorwarts.
Der prinzipielle Aufbau des Nachlaufumsetzers (Abb. 11.52) unterscheidet sich
vom Inkrementalumsetzer im Grunde genommen nur in der Verwendung eines
kombinierten Vorwarts-R
uckwartszahlers anstatt des reinen Vorwartszahlers
beim inkrementalen Stufenumsetzer. Das Ausgangssignal des DAC wird da
durch der Eingangsspannung standig nachgef
uhrt. Dabei darf die Anderung
der Eingangsspannung wahrend einer Taktperiode des Zahlers nicht groer als
ULSB sein. Bei schnelleren Spannungsanderungen kann es recht lange dauern,
bis wieder ein Abgleich erreicht ist, im ung
unstigsten Fall bis zu 2N Taktperioden.

Abb. 11.52. A/D-Umsetzer nach dem Nachlauf-Prinzip. Das Ausgangssignal des


Komparators bestimmt die Z
ahlrichtung (vorw
arts, r
uckw
arts) des Z
ahlers.

11.7.4 Analog-Digital-Umsetzung mit Delta-Sigma-Modulator


Die Delta-Sigma-Umsetzung ist ein Konvertierungsverfahren, bei dem eine
Quantisierung mit niedriger Auflosung, typischerweise 1 Bit, verwendet wird.

Durch eine hohe Uberabtastung


des Analogsignals wird die eektive Auosung
erh
oht und damit das Quantisierungsrauschen reduziert. Ein nachfolgendes
Digitallter unterdr
uckt zusatzlich noch verbleibende Rauschanteile und sorgt
f
ur eine Bandbegrenzung.
Bevor das Prinzip des auf einem Delta-Sigma-Modulator basierenden ADC
beschrieben wird, soll zunachst die Funktionsweise eines Delta-Modulators
er
ortert werden. Die Delta-Modulation ist eine Sonderform der in der Nachrichtentechnik gebrauchlichen Dierenzpulscodemodulation (DPCM), bei der
die Dierenz zwischen einem Abtastwert und einem Vorhersagewert, z. B.
dem vorhergehenden Abtastwert, digital codiert wird [105]. Das urspr
ungliche Signal kann schlielich auf einfache Weise wiedergewonnen werden, indem

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

Eingangssignalfolge
u E(n Ta )

bertragenes Signal
u E (n Ta ) u E ((n-1) Ta )
+

357

Ausgangssignalfolge
(rekonstruiertes Eingangssignal)
u*(n
E Ta )

AbtastwertSpeicher
u*E ((n-1)Ta )

AbtastwertSpeicher
u E((n-1) Ta)

Modulator, Codierer

Demodulator, Decodierer

Abb. 11.53. Codierung und Decodierung eines Signals in Form von Dierenzwerten
zum vorhergehenden Abtastwert. Die Abtastwertspeicher beinhalten stets den vor
dem aktuellen Abtastwert uE (nTa ) angestandenen Abtastwert uE ((n 1)Ta ).

die Dierenzwerte zu dem jeweils vorhergehenden Abtastwert addiert werden


(Abb. 11.53).
Das Blockschaltbild eines Delta-Modulators wird in Abb. 11.54 gezeigt.
Das zu wandelnde Signal uE (t) wird zusammen mit einer R
uckf
uhrgroe
uR (t) einem Komparator mit nachgeschaltetem Schmitt-Trigger zugef
uhrt.
Der Schmitt-Trigger wiederum steuert ein D-Flip-Flop, das entweder  0 oder
 
1 am Ausgang Q liefert, je nachdem, ob die R
uckf
uhrgroe uR groer oder
kleiner ist als die Eingangsspannung uE . Das R
uckf
uhrsignal uR (t) entsteht
durch zeitliche Integration, d. h. also Mittelwertbildung, des digitalen Ausgangssignals Q. Damit kann aus der Impulsfolge am Ausgang des Delta
Modulators eindeutig auf die Anderung
des Eingangssignals geschlossen werden. F
ur eine originalgetreue Erfassung des Eingangssignals ist es allerdings
notwendig, dass dieses sehr hoch abgetastet wird, weil die Dierenz zum vorhergehenden Wert eben nur mit einem Bit quantisiert wird. Konkret bedeutet
dies, dass man in den Phasen, die in Abb. 11.54b mit Anstieg bzw. Abfall bezeichnet sind, keine Information dar
uber hat, wie lange es noch dauern wird,
bis der aktuelle Wert der Eingangsspannung wieder eingeholt wird, bzw. wie

weit sich die Eingangsspannung infolge schneller Anderung


bereits vom ange-

Abb. 11.54. Prinzip des Delta-Modulators: a) Prinzipschaltbild, b) Ausgangssignal


f
ur verschiedene Zust
ande der Eingangsspannung

358

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.55. Funktionsgruppen eines Delta-Sigma-Modulators mit nachgeschaltetem Digitallter zur Mittelwertbildung und Abtastratenreduzierung (Dezimation)

zeigten Wert entfernt hat. Damit d


urfte auch verstandlich werden, dass dieses
Verfahren mit hohem Oversampling (1/Ta 2fsmax (fsmax : hochste im Eingangssignal enthaltene Frequenzkomponente)) arbeiten muss [173].
Der Delta-Sigma-Modulator ist ein modizierter Delta-Modulator, bei dem
sich ein weiterer Integrierer im Vorwartszweig bendet. Dies setzt voraus,
dass die Eingangsspannung uE (t) keinen Gleichanteil enthalt. Dadurch kann
aus der digitalen Ausgangsimpulsfolge durch Mittelwertbildung direkt auf
das analoge Eingangssignal geschlossen werden, d. h. das Eingangssignal kann
durch einfache Tiefpasslterung des seriellen Bitstromes Q am Ausgang des
Delta-Modulators wieder rekonstruiert werden. Die dabei ablaufenden Signalverarbeitungsoperationen bestehen aus Integrieren, Dierenzieren und Tiefpassltern mit Abtastratenreduzierung, der sog. Dezimation (Abb. 11.55)
[133].
Um zu einer realisierbaren Struktur des Umsetzers aus Abb. 11.55 zu
gelangen, ersetzen wir zunachst den Komparator des Delta-Modulators in
Abb. 11.54 durch einen Dierenzverstarker, was an der Funktion nichts andert.
In Abb. 11.56 sind die Funktionsgruppen des Delta-Sigma-Umsetzers aus

u E(t)

dt

g (t)

Q (t)

Takt

dt

Abb. 11.56. Blockschaltbild eines Delta-Sigma-Modulators

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

u E(t)

dt

359

Q (t)

r (t)
Takt
Abb. 11.57. Funktionsgleiche Umwandlung des Blockschaltbildes aus Abb. 11.56

Abb. 11.55 in einem Blockschaltbild dargestellt. Man erkennt, dass sich die
Eingangsspannung des Schmitt-Triggers g(t) folgendermaen berechnet


g(t) = uE (t)dt Q(t)dt .
(11.39)
Da sich die linearen Operationen Integrieren und Subtrahieren vertauschen
lassen, kann man das Blockschaltbild vereinfachen und gelangt zu Abb. 11.57.
Durch diese Manahme fallt auch die Einschrankung weg, dass keine Gleichanteile in uE (t) zulassig sind.
Bez
uglich seiner Grundstruktur weist der ADC mit Delta-Sigma-Modulator

groe Ahnlichkeit
mit der Struktur eines ADC mit sukzessiver Approximation auf. Eine einfache schaltungstechnische Realisierung zeigt Abb. 11.58. Die
Schaltung um den Operationsverstarker stellt einen invertierenden Integrierer
mit Summationspunkt dar. Da die Summe aus der Eingangsspannung uE (t)
und der r
uckgekoppelten Spannung r(t) gebildet wird, muss der 1-Bit-DAC
die Spannung invertieren. Der nachgeschaltete Komparator wirkt ebenfalls
invertierend, um die Vorzeichenumkehr des Integrierers auszugleichen. Das
Komparatorausgangssignal erscheint mit dem Takt am Ausgang des taktankengesteuerten Flip-Flops. Die R
uckkopplung halt die Abweichung zwischen
C
u E(t)

invertierender
Komparator

r (t)
inv. summierender
Integrierer

Q (t)

Takt
Uref
1-Bit-DAC mit
Invertierer
Uref

Abb. 11.58. Schaltungstechnische Realisierung eines Delta-Sigma-Umsetzers

360

11 Digitale Messtechnik

uE (t) und Q(t) minimal. Der Mittelwert der 1-Bit-Datensequenz Q am Ausgang (Folge von  0 und  1 ) ist dabei der Eingangsspannung uE proportional.
Zur Mittelwertbildung wird ein digitales Tiefpasslter nachgeschaltet, welches
aus dem (hochfrequenten) Ausgangssignal das interessierende (niederfrequente) Signalband herausschneidet. Schlielich wird die Abtastrate durch den
Dezimator auf den gew
unschten Wert reduziert.
Abbildung 11.59 zeigt die Struktur eines allgemeinen Analog-DigitalUmsetzers in Delta-Sigma-Technik anhand eines Blockschaltbildes. Im Teilbild 11.59a wird die oben diskutierte konventionelle 1-Bit-Technik vorgestellt,
w
ahrend in Abb. 11.59b ein sog. Multi-Bit-Delta-Sigma-ADC gezeigt wird.
Diese Multi-Bit-Technik wird zur Erzielung von Signal/Rausch-Verhaltnissen
eingesetzt, welche sich mit der 1-Bit-Technik nicht mehr erzielen lassen, weil
dazu zu hohe Abtastraten erforderlich waren [106].

uE

+
_

b)

Dezimator

+
_

u E (t)dt

UQ

digitales
Mittelungsfilter

1-Bit-DAC

a)

uE

u E (t)dt

Dezimator

ADC

UQ

digitales
Mittelungsfilter

DAC

Abb. 11.59. Analog-Digital-Umsetzer auf der Basis eines Delta-Sigma-Modulators:


a) Grundstruktur in 1-Bit-Technik, b) Grundstruktur in Multi-Bit-Technik

Signal/Rausch-Verh
altnis und Uberabtastung

Allgemein l
asst sich sagen, dass man durch Uberabtastung
eines Signals das
Signal/Rausch-Verhaltnis (Signal to Noise Ratio, S/N) einer AD-Umsetzung
verbessern kann. Nehmen wir zum Beispiel an, ein Messsignal mit der Bandbegrenzung fb soll mit einem AD-Umsetzer digitalisiert werden. Nach dem
Nyquist-Kriterium muss dieses Messsignal mit mehr als der doppelten Bandbreite abgetastet werden. Betrachten wir zunachst den Grenzfall, dass die
Abtastfrequenz fs gerade 2fb betragt. Der ADC verursacht eine Quantisierungsrauschleistung PQ , deren Rauschleistungsdichte dann
pQ,N =

PQ
fb

(11.40)

betr
agt, unter der Voraussetzung, dass von weiem Rauschen ausgegangen werden kann. Tastet man das Signal mit einer hoheren Abtastfrequenz

11.7 Analog-Digital-Umsetzung
S

361

5DXVFKOHLVWXQJVGLFKWH

S 41
34
3 42
S 42

IE

IV


Abb. 11.60. Spektrale Verteilung des Quantisierungsrauschens PQ

fs > 2fb ab, so wird das Quantisierungsrauschen auf einen groeren Frequenzbereich verteilt (Abb. 11.60) und man erhalt f
ur die Rauschleistungsdichte bei

dieser Uberabtastung
2PQ
pQ,O =
.
(11.41)
fs
Wendet man eine ideale Tiefpasslterung mit der Grenzfrequenz fb an, so
reduziert sich das Rauschen im Signalband PQ,O zu
PQ,O = pQ,O fb =

2PQ fb
,
fs

(11.42)

und man erhalt f


ur den Gewinn S/N durch die Uberabtastung
(siehe
Gl. 7.109)

PQ
PQ
fs
= 10 lg
= 10 lg
= 10 lg m , (11.43)
S/N [dB] = 20 lg
PQ,O
PQ,O
2fb

wobei m der Faktor der Uberabtastung


ist. Durch eine Vergroerung der Uberabtastung um den Faktor 4 erhalt man also eine eine Verbesserung des S/N
um 6,02 dB. Dieser Zusammenhang ist in Abb. 11.61 dargestellt.

Der S/N-Gewinn durch die Uberabtastung


wird bei einem Delta-SigmaModulator durch die Methode des Noise-Shapings noch wesentlich verbessert [31]. Betrachten wir dazu das linearisierte Modell des Delta-SigmaUmsetzers im Laplace-Bereich (Abb. 11.62). Der Integrierer im Zeitbereich
wird durch eine Multiplikation mit k/s modelliert (s. Gl. (3.81)), wobei die
Verst
arkung k noch nicht naher bestimmt ist. Der Komparator wird im
Laplace-Bereich durch Addition des Quantisierungsrauschens N (s) beschrie
ben. Um die Ubertragungsfunktion
GUE f
ur die Eingangsspannung zu erhal-

362

11 Digitale Messtechnik
S/N
18

dB

12
6
0

1 2 3 4 5

10

15

20

Faktor der berabtastung m


Abb. 11.61. Gewinn an Signal/Rausch-Verh
altnis nach [180, 199]

ten, setzen wir zunachst das Quantisierungsrauschen N (s) 0 und erhalten


Q(s) = [UE (s) Q(s)]

k
.
s

(11.44)

Damit l
asst sich die Ubertragungsfunktion
GUE (s) =

k
Q(s)
=
UE (s)
s+k

(11.45)

berechnen. Um die Ubertragungsfunktion


GN (s) f
ur das Rauschen zu bestimmen, setzen wir dann die Eingangsspannung UE (s) 0 und erhalten (hier:
N (s) = 0)
Q(s) = N (s) Q(s)
GN (s) =

k
s

(11.46)

s
Q(s)
=
.
N (s)
s+k

(11.47)

Der Umsetzer wirkt also wie ein Tiefpass auf die Eingangsspannung, aber wie

ein Hochpass auf das Quantisierungsrauschen. Die Ubertragungsfunktionen


und der Einuss des dadurch entstehenden Noise-Shapings sind in Abb. 11.63
dargestellt. Der Ausdruck fp = k/2 steht f
ur die Frequenz, an der der
1 V

8 V
(

N
V

4 V

Abb. 11.62. Darstellung des Delta-Sigma-Umsetzers im Laplace-Bereich

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

363

G
GN

G UE

0 dB

P Q,mod

f
fb

fp

Abb. 11.63. Betragsfrequenzgang der Signal- und Rausch


ubertragungsfunktion

Pol in den Ubertragungsfunktionen


auftritt. Ublicherweise
wird man fp fb
w
ahlen, so dass f
ur GN (s) im interessierenden Frequenzbereich (f fb ) naherungsweise gilt
s
GN (s) .
(11.48)
k
F
ur die Rauschleistungsdichte nach der Modulation pQ,mod gilt dann (s. auch
Kap. 13.8)
2PQ 2
pQ,mod () = pQ,0 |GN (j)|2 =
.
(11.49)
fs k 2
Durch Integration erhalt man das Gesamtrauschen im Signalband

PQ,mod =

2fb

pQ,mod d =
0

2PQ 1
8(fb )3 .
fs k 2 3

Mit k = 2fp erhalt man nun f


ur den Gewinn S/N
#
"
3 fs fp2
PQ
.
= 10 lg
S/N [dB] = 10 lg
PQ,mod
4 fb3

Mit dem Faktor der Uberabtastung


m = fs /2fb ergibt sich
#
"
f 2
6 3 fp2
m 2 = 30 lg m 10 lg s2 .
S/N [dB] = 10 lg

fs
6fp

(11.50)

(11.51)

(11.52)

Der erste Term sagt aus, dass mit jeder Verdopplung der Uberabtastrate
das
Signal/Rausch-Verhaltnis um 9,03 dB zunimmt, was eine erhebliche Steige
rung gegen
uber der gewohnlichen Uberabtastung
bedeutet. Der zweite Term

364

11 Digitale Messtechnik

in Gl. 11.52 sollte moglichst klein sein, d. h. der Pol sollte betragsmaig
m
oglichst gro sein. Dies erfordert allerdings eine groere Verstarkung k. Da

die Ubertragungsfunktion
der oenen Schleife einem reinen Integrierer entspricht, sind dem in der Praxis stabilitatsbedingte Grenzen gesetzt.
Um das Signal/Rausch-Verhaltnis weiter zu steigern, konnen auch DeltaSigma-Umsetzer hoherer Ordnung aufgebaut werden [128]. Abbildung 11.64
zeigt einen Umsetzer zweiter Ordnung, mit dem ein S/N von 15,1 dB/Oktave
erreicht wird. Die Herleitung dieses Zusammenhangs soll dem ambitionierten

Leser als Ubung


dienen [102].
N(s)
UE(s)

k1
s

k2
s

Q(s)

Abb. 11.64. Delta-Sigma-Umsetzer 2.Ordnung

11.7.5 Time-Division-Multiplizierer (Impulsbreiten-Multiplizierer,


S
agezahn-Multiplizierer)
Ein weiteres AD-Umsetzverfahren, das insbesondere bei der Leistungsmessung eingesetzt wird, baut auf dem sog. Time-Division-Multiplizierer auf. Der
Time-Division-Multiplizierer ist eine spezielle Form eines Analog-Multiplizierers, der bevorzugt zur Leistungsmessung mit digitaler Ergebniswertausgabe
eingesetzt wird. Dazu wird eine Rechteckspannung mit fester Periodendauer
T gem
a Abb. 11.65 erzeugt. Die positiven und negativen Amplitudenwerte
entsprechen dabei einer Eingangsspannung u1 , wahrend die Dierenz (t1 t2 )
bez
uglich der zeitlichen Dauer von positiver und negativer Halbwelle proportional einer zweiten Eingangsspannung u2 ist. Das Tastverhaltnis t1 /t2 wird
durch einen Vergleich von u2 mit einer zeitlich sagezahnformigen Spannung
festgelegt (Abb. 11.65). F
ur u2 = 0 ist demnach das Tastverhaltnis t1 /t2 = 1.
Die Periodendauer T , die dem Kehrwert der Pulsfolgefrequenz f entspricht,
ergibt sich aus der Summe der Zeiten t1 und t2 von positiver und negativer
Rechteckhalbwelle
1
T = t1 + t2 = .
(11.53)
f
Aus dem in Abb. 11.65 gezeigten Zeitdiagramm lasst sich ablesen, dass die
mit Gl. (11.54) denierte Proportionalitatskonstante k
ku2 = t1 t2

(11.54)

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

365

Abb. 11.65. Prinzip des Time-Division-Multiplizierers. Der Mittelwert der Ausgangsspannung uA ist dem Produkt u1 u2 der Eingangsspannungen proportional: a)
Zeitverl
aufe von Eingangs- und Ausgangsspannungen, b) Prinzipschaltbild

dem Kehrwert der Steigung der Sagezahnspannung entspricht. Diese Konstante l


asst sich auch als Funktion der Periodendauer T bzw. der Pulsfolgefrequenz
f sowie den Sagezahnamplituden Umax ausdr
ucken
k=

1
T
=
.
2U max
2f U max

(11.55)

Am Ausgang des Tiefpasses (Abb. 11.65b) erhalt man den zeitlichen Mittelwert uA der Spannung uA (t)

t
T
1
T
1
1
uA =
uA (t) dt = u1 dt + u1 dt
T
T
0

t1

1
u1 u2
= (u1 t1 u1 t2 ) = f u1 (t1 t2 ) = f ku1 u2 =
. (11.56)
T
2U max
Dies bedeutet, dass die Ausgangsspannung uA proportional zum Produkt der
beiden Eingangsspannungen u1 und u2 ist. Die Frequenz f sollte dabei we-

366

11 Digitale Messtechnik

sentlich u
ber den Grenzfrequenzen der zu messenden Spannungen u1 und u2
liegen, da vorausgesetzt wird, dass u1 und u2 wahrend der Periode T konstant
sind.
Falls die Spannung u1 proportional der Spannung eines Leistungskreises
und die zweite Eingangsspannung u2 proportional dem Strom dieses Leistungskreises ist, stellt der Time-Division-Multiplizierer ein elektronisches
Wattmeter dar (Abb. 11.66). Wenn an den Time-Division-Multiplizierer ein
Spannungs-Frequenz-Umsetzer angeschlossen wird, ist die Frequenz ein Ma
f
ur die im Leistungskreis verbrauchte Leistung Pel , wahrend der Zahlerstand,
welcher in einem nachgeschalteten Zahler auauft, der innerhalb der ZahlerTorzeit verbrauchten elektrischen Energie Wel entspricht.

Abb. 11.66. Elektronischer Leistungsmesser bzw. Energiez


ahler auf der Basis eines
Time-Division-Multiplizierers. Es wird vorausgesetzt, dass infolge zeitlicher Mittelung am Ausgang des Time-Division-Multiplizierers bereits der der Wirkleistung
entsprechende Anteil der Momentanleistung vorliegt.

11.7.6 Analog-Digital-Umsetzung mit Zeit oder Frequenz als


Zwischengr
oen
Single-Slope-Umsetzer (u/t-Umsetzer)
Bei einem Single-Slope-Umsetzer, den man auch als Sagezahnumsetzer bezeichnet, wird mit Hilfe eines Zahlers die Zeit bestimmt, die vergeht, bis eine
zeitlich linear vom Wert Null ansteigende Spannung in bezug auf ihre Amplitude die zu wandelnde Eingangsspannung uE erreicht hat (Abb. 11.67). Bei
einem Spannungswert der Sagezahnspannung von Null wird der Zahler gestartet. Erreicht die Sagezahnspannung die zu wandelnde Eingangsspannung
uE (nach einer Zeit tX ), wird der Zahler wieder gestoppt. Der Zahlerstand
NX ist damit proportional der zu wandelnden Spannung uE . Mit dem Kehrwert K der Anstiegsgeschwindigkeit der Sagezahnspannung ergibt sich der
Zusammenhang zwischen der Messzeit tX (Torzeit des Zahlers) und der Eingangsspannung uE
tX = KuE .
(11.57)

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

K1

uE

y
&
K2

ZE

Takt f ref

367

uE
uS

NX 0

tX

uS
Start

Steuerung

Rcksetzen

a)

ZE

b)

Abb. 11.67. Single-Slope-Umsetzer (S


agezahnumsetzer): a) Prinzipschaltbild, b)
Signalverl
aufe

Mit Hilfe der Taktfrequenz fref kann der Zahlerstand NX berechnet werden
NX = tX fref = Kfref uE .

(11.58)

Gleichung (11.58) zeigt die gew


unschte Proportionalitat zwischen dem Zahlerstand NX und der Eingangsspannung uE . Als Nachteile dieses Verfahrens sind
unter anderem anzuf
uhren, dass Steigungsfehler der Sagezahnspannung (Konstante K in Gl. (11.58)) und Taktfrequenzfehler (fref in Gl. (11.58)) unmittelbar das Ergebnis verfalschen.
Dual-Slope-Umsetzer (Integrierender Zweirampen-Umsetzer)
Bei dieser Art der Analog-Digital-Umsetzung werden nicht einzelne Werte
der Eingangsspannung abgetastet, sondern der Mittelwert der Eingangsspannung u
ber ein bestimmtes Zeitintervall gebildet und dieser in eine Binarzahl
umgesetzt. Die Umsetzungszeit ist zwar hoher als bei den Momentanwertumsetzern, die Dual-Slope-Umsetzer liefern daf
ur allerdings im Allgemeinen eine
wesentlich h
ohere Genauigkeit.
Beim Dual-Slope-Umsetzer wird die Eingangsspannung innerhalb einer

Zeitspanne integriert, die durch das Uberlaufen


eines mit konstanter Taktfrequenz fref angesteuerten Zahlers festgelegt ist (Abb. 11.68). Der Schalter
S1 bendet sich wahrend dieser Zeit in Stellung 1. Diese Integration ndet
zwischen den Zeitpunkten t1 und t2 statt (Abb. 11.68b). Wenn der Zahler bei
einem Z
ahlerstand Nmax u
berlauft, ergibt sich die entsprechende Zeitdierenz
(t2 t1 ) wie folgt
Nmax
t 2 t1 =
.
(11.59)
fref
Ab dem Zeitpunkt t2 wird durch Umschalten von S1 die Referenzspannung
Uref integriert, so dass die Integratorausgangsspannung uA zu einem Zeitpunkt tX wieder den Wert Null erreicht. Daraufhin wird u
ber das Kompara-

368

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.68. Dual-Slope-Umsetzer: a) Prinzipschaltbild, b) Signalverl


aufe

torausgangssignal K mit Hilfe des nachgeschalteten UND-Gatters der Zahlvorgang gestoppt. Der dann erreichte Zahlerstand sei mit NX bezeichnet. Die
Zeitdierenz (tX t2 ) ist proportional zu diesem Zahlerstand NX gema
NX
.
fref

tX t2 =

(11.60)

Nachdem die Spannung uA zum Zeitpunkt tX wieder den Wert Null hat, kann
man die in den Zeitintervallen (t2 t1 ) und (tX t2 ) integrierten Ausgangsspannungs
anderungen gleichsetzen. Es gilt demnach
 t2
 tX
1
1
uE (t) dt =
Uref dt .
(11.61)
RC t1
RC t2
Mit
1
uE =
t 2 t1

t2

uE (t) dt
t1

(11.62)

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

369

folgt aus Gl. (11.61)


1
1
Uref (tX t2 ) .
uE (t2 t1 ) =
RC
RC

(11.63)

Die Zusammenhange in Gln. (11.59) und (11.60) bestatigen in Verbindung


mit Gl. (11.63) die gew
unschte Proportionalitat zwischen dem Zahlerstand
NX und dem Mittelwert der Eingangsspannung uE
NX =

uE
Nmax = const. uE .
Uref

(11.64)

Man erkennt, dass weder die Zeitkonstante RC des Integrierers noch die Taktfrequenz fref das Ergebnis verfalschen konnen. Mit Hilfe des Schalters S2 wird
sichergestellt, dass zu Beginn der nachsten Umsetzungsphase die Kondensatorspannung Null ist.
Spannungs-Frequenz-Umsetzer (u/f-Umsetzer)
Die Spannungs-Frequenz-Umsetzung kann als besondere Art der AnalogDigital-Umsetzung aufgefasst werden. Die zu wandelnde Spannung wird dabei
zun
achst in die proportionale Zwischengroe Frequenz umgesetzt, die wie
derum mit Hilfe eines Zahlers leicht in eine digitale Information gewandelt
werden kann (Abb. 11.69). Die Messunsicherheit kann dabei aufgrund der
u
blicherweise hohen Genauigkeit des Zeitnormals sehr klein gehalten werden.
Bei dieser Methode der Analog-Digital-Umsetzung ist allerdings zu beachten,
dass der Spannungswert 0 V aus verfahrenstechnischen Gr
unden nicht umgesetzt werden kann, was in praktischen Schaltungen durch Aufschalten eines
Spannungsosets am Eingang des u/f-Umsetzers und Subtraktion des entsprechenden Z
ahlerwertes vom aktuellen Zahlerstand umgangen werden kann.
Infolge der bei der Messung sehr niedriger Frequenzen auftretenden Fehler
geht man in diesen Fallen zu einer Messung der Periodendauer (reziproke Frequenzmessung) u
ber. Eine elegante Losung bietet sich in Form des rechnenden
Zahlers an, der das einfache Umschalten zwischen den beiden Messmethoden
direkte Frequenzmessung und reziproke Frequenzmessung ermoglicht (s.

Kap. 12.5) [199]. Ein weiterer Vorzug solcher Zahlverfahren besteht darin,
dass periodische Storspannungen ohne Einuss bleiben, wenn man eine Torzeit
w
ahlt, welche einem Vielfachen der Periodendauer des Storsignals entspricht.

Abb. 11.69. Prinzip der Analog-Digital-Umsetzung mit Hilfe von SpannungsFrequenz-Umsetzer und Z
ahler

370

11 Digitale Messtechnik

Ein Spannungs-Frequenz-Umsetzer ist ein Oszillator, dessen Schwingfrequenz


von einer von auen angelegten elektrischen Spannung gesteuert wird. Abbildung 11.70 zeigt eine mogliche Schaltungsrealisierung. Diese besteht aus einem
integrierenden Verstarker, der im zeitlichen Wechsel die Eingangsspannung uE
bzw. ihren invertierten Wert uE integriert. Das jeweilige Ergebnis dieser Integration wird mit Hilfe zweier Komparatoren mit den Referenzspannungen
+Uref und Uref verglichen. Wenn die Ausgangsspannung uA des integrierenden Verst
arkers den Wert uA = +Uref erreicht, schaltet der Komparator K1
und setzt das RS-Flip-Flop. Gleichzeitig wird von der Steuerung der Schalter
S am Eingang umgelegt, so dass nunmehr die Spannung +uE integriert wird.
Die Eingangsspannung uE wird also solange integriert (fallende Rampe), bis
die Integratorspannung die untere Schwelle (Uref ) unterschreitet, woraufhin die Steuerung den Eingangsschalter S umschaltet, so dass danach wieder
die invertierte Eingangsspannung integriert wird (steigende Rampe), bis die

Abb. 11.70. Spannungs-Frequenz-Umsetzer (u/f-Umsetzer): a) Prinzipschaltbild,


b) Signalverl
aufe am Ausgang des Integrierers (uA ) sowie am Ausgang des RS-FlipFlops (Q) f
ur eine kleine (linkes Teilbild) und eine gr
oere Eingangsspannung uE
(rechtes Teilbild)

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

371

obere Schwelle (+Uref ) erreicht ist. Im stetigen Wechsel zwischen diesen zwei
Zust
anden entsteht am Ausgang des Integrierers eine Schwingung mit einem
Zeitverlauf, der einem gleichschenkeligen Dreieck entspricht. Der Q-Ausgang
des RS-Flip-Flops liefert daraufhin eine unipolare Rechteckspannung mit derselben Frequenz. Anhand von Abb. 11.70b lassen sich die folgenden Zusammenh
ange ableiten

1
uA (t) =
u1 (t) dt
(11.65)
RC
1
uE (tmax tmin )
(11.66)
uAmax = +Uref = Uref +
RC
1
uE (TX + tmin tmax ) .
uAmin = Uref = Uref
(11.67)
RC
Die Subtraktion der Gln. (11.67) und (11.66) liefert
4Uref =

1
uE TX .
RC

(11.68)

Daraus l
asst sich schlielich der gesuchte Zusammenhang zwischen der Frequenz fX des Rechtecksignals am Ausgang des RS-Flip-Flops und der Eingangsspannung uE ableiten
fX =

1
1
uE = const. uE .
=
TX
4Uref RC

(11.69)

Die Frequenz des Rechtecksignals am Ausgang ist also gema Gl. (11.69)
proportional zur Eingangsspannung uE . Sie lasst sich aus dem Zahlerstand
bei vorgegebener Torzeit leicht ermitteln.
ADC nach dem Ladungskompensationsverfahren
(Charge-Balancing-Converter)
Eine Spannungs-Frequenz-Umsetzung lasst sich auch mit Hilfe eines sog.
Charge-Balancing-Converters durchf
uhren, dessen prinzipielle Funktionsweise anhand von Abb. 11.71 erlautert werden soll. Beim Charge-BalancingConverter wird die Eingangsspannung uE ebenfalls bis zu einem vorgegebenen
Schwellwert USW integriert. Bei Unterschreiten des Schwellwertes USW wird
f
ur eine Zeit T0 , die von der monostabilen Kippstufe deniert wird, zusatzlich
eine Stromquelle an den Ladekondensator angeschlossen. Mit diesem zusatzlichen (Ent-) Ladevorgang erreicht die Ausgangsspannung uA nach Ablauf der
Zeit T0 ihren Spitzenwert
uAmax = USW + uA .

(11.70)

Anschlieend ist wiederum ausschlielich die Eingangsspannung uE am Ladevorgang beteiligt, sodass sich der zeitliche Verlauf der Ausgangsspannung uA
f
ur diese Zeitphase wie folgt ergibt

372

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.71. Analog-Digital-Umsetzung nach dem Ladungskompensationsverfahren


(Charge-Balancing-Converter): a) Prinzipschaltbild, b) Signalverl
aufe

1
uA (t) = uAmax
RC

T0 +t

uE (t ) dt .

(11.71)

T0

Nach einer Zeit Tload wird (vom Abtrennen der Stromquelle an gerechnet)
wiederum der Schwellwert USW erreicht. Es gelten folgende Zusammenhange
1
uE Tload
(Ladevorgang)
RC


1
uE
Iref
T0 (Entladevorgang) .
uA =
C
R

uA = +

(11.72)
(11.73)

Aus den Gln. (11.72) und (11.73) kann bereits die Frequenz fX der Rechteckfolge angegeben werden, welche schlielich mit Hilfe des Zahlers und einer
Torzeitvorgabe bestimmt werden kann
fX =

1
1
=
uE .
Tload + T0
RIref T0

(11.74)

Gleichung (11.74) lasst erkennen, dass die Frequenz fX nicht mehr vom Kapazit
atswert des Ladekondensators C abhangt, was bedeutet, dass dieser nur
noch kurzzeitstabil sein muss.
Wenn man das in bezug auf Genauigkeit kritischste Bauelement, die Monoopstufe, durch ein D-Flip-Flop ersetzt, das von einem hochgenauen Taktgenerator angesteuert wird, gelangt man zum getakteten Ladungskompensations-Konverter (Abb. 11.72) [136]. Dieses Schaltungsprinzip weist den

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

373

Abb. 11.72. Getakteter Ladungskompensationskonverter [136]

groen Vorzug auf, dass die Dauer und damit auch die Groe der Ladungspulse
durch die Periodendauer derselben Frequenz (Taktfrequenz) bestimmt wird,
die auch die Torzeit des Zahlers festlegt. Damit wird vermieden, dass dieser
Frequenzwert die Messgenauigkeit beeintrachtigt. Die Auadung durch die
Eingangsspannung uE erfolgt kontinuierlich durch den dabei ieenden Eingangsstrom iE
uE
.
(11.75)
iE =
R
Zur Entladung wird wiederum eine Stromquelle verwendet, die von einem
D-Flip-Flop geschaltet wird, dessen Steuertakt mit dem Referenztakt fref
identisch ist. Der mittlere Entladestrom ientl ergibt sich demnach zu

ientl = Iref fS ,
fref

(11.76)

ur den Stromschalter ist.


wobei fS die mittlere Frequenz der Steuerimpulse f
Infolge der durch die Schaltersteuerung entstehenden R
uckkopplung wird sich
die mittlere Schaltersteuerfrequenz so einstellen, dass der zeitlich gemittelte
Entladestrom ientl gleich dem Ladestrom iE ist. Mit
iE = ientl

(11.77)

liefern die Gln. (11.75) und (11.76) den Zusammenhang zwischen der mittleren
Schaltfrequenz fS und der Eingangsspannung uE
fref
uE .
fS =
R Iref

(11.78)

Dieser Frequenzwert ist also wiederum der Eingangsspannung proportional.

374

11 Digitale Messtechnik

11.7.7 Vergleich der Grundprinzipien direktvergleichender


Analog-Digital-Umsetzer
In Tab. 11.12 werden die sechs wesentlichen bei der Analog-Digital-Umsetzung
verwendeten Grundprinzipien verglichen. Tabelle 11.13 zeigt Analog-DigitalUmsetzer der oberen Leistungsklasse. Das Parallel-Verfahren ndet u
berall
dort Anwendung, wo es auf hochste Umsetzgeschwindigkeit (Konversionsrate)
ankommt. F
ur Auosungen oberhalb von 10 Bit greift man i.Allg. zu den Kaskadenverfahren, wo ein oder mehrere N -Bit-Parallel-Umsetzer in theoretisch
n Zeitzyklen einen Umsetzer mit einer Auosung von n N Bit realisieren.
Das Kaskadenverfahren ist ein kombiniertes Parallel-Wage-Verfahren. Das
reine W
ageverfahren bietet eine Kompromisslosung, einerseits zum ParallelVerfahren und andererseits zum Zahlverfahren. Im Bereich von 8 bis 10 Bit
ist es langsamer, aber wegen der wesentlich geringeren Anzahl von Komparatoren deutlich kosteng
unstiger als das Parallel-Verfahren, wahrend es bei
Tabelle 11.12. Grundprinzipien zur Analog-Digital-Umsetzung
Prinzip

Zahl
der Zyklen

Zahl der
Typ. Au
osung
Komparatoren Typ. Konversionsraten
14 N 24
< 2 MSamples/s

Delta-SigmaVerfahren
2N 1

N < 10
> 10 MSamples/s

ParallelVerfahren
(Flash)

1
(word at
a time)

W
ageVerfahren
(SAR)

N
(Bit at
time)

8 N 18
10 kSamples/s 2 MSamples/s

Z
ahlVerfahren

2N (max.)
(level at
a time)

8 N 20
< 1 kSamples/s

KaskadenVerfahren
(Kombiniertes
ParallelW
age-Verfahren)

n (bei
einer Aufl
osung von
n N Bit)

2N 1

PipelineVerfahren

1
(aber mit
Latenzzeit
von
n Zyklen)

8 N 16
1 MSamples/s 100 MSamples/s

n(2N -1)
8 N 16
bzw.
< 1 GSamples/s
n(2N+1 -1)
bei
Fehlerkorrektur

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

375

Au
osungen im Bereich 12 bis 16 Bit hohere Konversionsraten erlaubt als das
Z
ahlverfahren, allerdings bei hoheren Kosten. Die Zahlverfahren ermoglichen
h
ochste Genauigkeit bei deutlich niedrigeren Konversionsraten.
Tabelle 11.13. Analog-Digital-Umsetzer der oberen Leistungsklasse
Prinzip
Delta-SigmaVerfahren

Hersteller
Texas Instr.
Anal.Devices
Texas Instr.

Typ
ADS1253
AD7760
ADS1605
ADS1675

ParallelVerfahren
(Flash)

National
Semicond.

ADC12D1800 12 Bit

W
ageVerfahren
(SAR)

Analog
AD7641
Devices
AD7667
Texas Instr. ADS5500

KaskadenMaxim
Verfahren
(Kombiniertes Linear
ParallelTechnology
W
age-Verfahren
(Half-Flash))
PipelineVerfahren

Au
osung
24 Bit
24 Bit
16 Bit
24 Bit

Konversionsrate
20 kSamples/s
2,5 MSamples/s
5 MSamples/s
4 MSamples/s

Leistung
8 mW
958 mW
560 mW
575 mW

3,6 GSamples/s 4,1 W

18 Bit
16 Bit
14 Bit

2 MSamples/s
75 mW
1 MSample/s
133 mW
125 MSamples/s 780 mW

MAX1193

8 Bit

45 MSamples/s

LTC2242-12

12 Bit

250 MSamples/s 740 mW

8 Bit
12 Bit

250 MSamples/s 590 mW


1 GSamples/s
2,2 W

Anal.Devices AD9480
Texas Instr. ADS5400

57 mW

11.7.8 Fehler bei der Analog-Digital-Umsetzung


Statische Fehler
Bei einem realen Analog-Digital-Umsetzer entsteht durch die endliche Stellenzahl und die daraus resultierende (stufenformige) Quantisierung ein sy
stematischer Fehler, der sog. Quantisierungsfehler, welcher in der Ubertragungskennlinie des ADC abgelesen werden kann (Abb. 11.73). Er betragt
beim idealen Umsetzer maximal die Halfte der niedrigstwertigen Stelle ULSB .
Wird das digitalisierte Signal u
ber einen Digital-Analog-Umsetzer wieder in
ein Analogsignal umgesetzt, so auert sich dieser Fehler als eine Rauschspannung, die als Quantisierungsrauschen bezeichnet wird. Im Folgenden soll das
Signal/Rausch-Verhaltnis als Funktion der ADC-Auosung bestimmt werden.
Das Signal/Rausch-Verhaltnis S/N ist deniert als


S
Use
[dB] = 20 lg
,
(11.79)
N
Ure

376

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.73. Quantisierungsfehler bei der Analog-Digital-Umsetzung. Die Spannung uA (Z) ergibt sich durch ideale DA-Umsetzung der Zahl Z, die am Ausgang
des AD-Umsetzers auftritt: a) ideale und reale Kennlinie eines ADC, b) Quantisierungsfehler als Funktion der Eingangsspannung

wobei Use und Ure die jeweiligen Eektivwerte der Signalspannung (Nutzspannung) bzw. der Storspannung (Rauschspannung) bezeichnen. Zur Ermittlung des Signal/Rausch-Verhaltnisses eines N -Bit-Umsetzers nimmt man eine
Vollaussteuerung des ADC mit einem Sinussignal us (t) an
sin t .
us (t) = U
Wenn die maximale Aussteuerung des Umsetzers UAmax


UAmax = 2N 1 ULSB 2N ULSB

(11.80)

(11.81)

betr
agt, gilt somit
= UAmax .
2U

(11.82)

Damit ergibt sich der Eektivwert Use einer sinusformigen Signalspannung


an einem N -Bit-Umsetzer bei Vollaussteuerung zu

1 1 N
1 1
2 1 ULSB 2N ULSB .
Use =
22
22

(11.83)

Die eektive Rauschspannung des Umsetzers lasst sich aus dem Zeitverlauf
des Quantisierungsrauschens bestimmen, wenn keine sonstigen Fehlspannungen ber
ucksichtigt werden m
ussen. Wenn man annimmt, dass die Eingangsspannung uE zeitlich linear ansteigt, berechnet sich der Eektivwert Ure der

11.7 Analog-Digital-Umsetzung

377

Rauschspannung aus dem zeitlichen Verlauf des Quantisierungsrauschens zu


(der Zeitverlauf lasst sich aus Abb. 11.73b ablesen, wenn man ber
ucksichtigt,
dass uE zeitlich linear ansteigt)

+T
2
2

1
t
ULSB
Ure = !
ULSB
dt =
.
(11.84)
T
T
12
T
2

Das Signal/Rausch-Verhaltnis ergibt sich damit wie folgt


S
[dB] = 20 lg
N

Use
Ure


= 20 lg

1 1 2N ULSB
22
ULSB
12

"
= 20 lg

#
3 N
2 (11.85)
2

= (6N + 1, 76) .
In realen Analog-Digital-Convertern ergibt sich aufgrund zusatzlicher Fehler
eine h
ohere Rauschspannung und damit unter praktischen Gegebenheiten ein
geringeres Signal/Rausch-Verhaltnis als das in Gl. (11.85) angegebene. Solche

Fehler sind z. B. Osetfehler (Ubertragungskennlinie


geht nicht durch den

Ursprung) oder Verstarkungsfehler (Steigung der Ubertragungskennlinie


hat
nicht den Wert Eins).
Weitere Fehler treten insbesondere in Form von Nichtlinearitaten auf, die
sich darin
auern, dass die Stufen der Kennlinie verschieden hoch bzw. verschieden breit sind. Bei einer nichtlinearen Kennlinie liegen die Eckpunkte der
Stufenfunktion also nicht mehr auf einer Geraden (Abb. 11.74). Die Abweichungen der Eckpunkte ui der bez
uglich Oset- und Steigungsfehler korrigier-

Abb. 11.74. Ubertragungsverhalten


eines AD-Umsetzers mit Linearit
atsfehler. Die
Spannung uA (Z) ergibt sich durch ideale DA-Umsetzung der Zahl Z, die am Ausgang
des AD-Umsetzers auftritt. Die Spannung ui liegt in der Mitte des Spannungsintervalls, das durch die beiden benachbarten Schaltschwellen deniert wird.

378

11 Digitale Messtechnik

ten realen Kennlinie (Abb. 11.74) zu denen der realen Kennlinie ohne Linearit
atsfehler bilden den sog. integralen (totalen) Nichtlinearitatsfehler FNLint
bzw. fNLint
FNLint (i) = ui iULSB
(11.86)
bzw.
fNLint (i) =

ui iULSB
.
ULSB

(11.87)

Die Abweichungen von der idealen Stufenbreite ULSB werden als dierentielle
Nichtlinearitat FNLdi bzw. fNLdi bezeichnet
FNLdi (i) = (ui+1 ui ) ULSB
bzw.
fNLdi (i) =

(ui+1 ui ) ULSB
.
ULSB

(11.88)

(11.89)

Dynamische Fehler
Die Dauer eines Umsetzungsvorgangs ergibt sich aus der als Acquisition Time bezeichneten Summe von Aperture Time und Settling Time des Sample
& Hold-Gliedes (Tab. 11.10) sowie der Konversionszeit (Conversion Time)
des eigentlichen Analog-Digital-Umsetzers. Diese Zeiten begrenzen daher die
maximale Abtastfrequenz, d. h. ihre Summe muss kleiner sein als der Reziprokwert der doppelten Signalgrenzfrequenz fsmax , um das Shannonsche Abtasttheorem zu erf
ullen (Nyquist-Kriterium)
fa > 2fsmax .

(11.90)

Die maximal mogliche Abtastfrequenz famax errechnet sich dabei als Reziprokwert der Summe aller am Umsetzungsprozess beteiligten Zeiten
1
1
.
=
Tamin
ApertureTime + SettlingTime + ConversionTime
(11.91)
Schwankungen der Aperture Time, die auch als Apertur Jitter bzw. AperturUnsicherheit bezeichnet werden, bedeuten Schwankungen der Abtastzeitpunkte, was zu einem dynamischen Fehler f
uhrt. Dieser Fehler ist um so groer,

je gr
oer die zeitliche Anderung
der Eingangsspannung (duE /dt) ist. Diese zeitlichen Schwankungen der Abtastzeitpunkte machen sich in Form von
Amplitudenunsicherheiten bemerkbar, welche um so groer werden, je steiler
der zeitliche Anstieg der Eingangsspannung ist. Im Allgemeinen fordert man,
dass der daraus resultierende Betrag des absoluten Fehlers |U | kleiner als
1
/2 ULSB bleiben soll, da ansonsten das niedrigstwertige Bit (Least Signicant
Bit (LSB)) wertlos ware
1
|U | ULSB .
(11.92)
2
famax =

11.8 Digital-Multimeter (DMM)

379

Um die aus dieser Vorgabe (Gl. (11.92)) resultierende Forderung bez


uglich
der zeitlichen Schwankungen Tjitter der Abtastzeitpunkte herzuleiten, wollen
wir annehmen, dass die Eingangsspannung uE einen sinusformigen Zeitverlauf
aufweist
sin t .
uE (t) = U
(11.93)
Mit der Beziehung

U =

duE (t)
dt

(11.94)

max

folgt aus den Gln. (11.92) und (11.93) die entsprechende Forderung bez
uglich
des zeitlichen Jitters Tjitter
Tjitter

1 ULSB
.

2 U

(11.95)

= UAmax ) lasst sich daraus die Grenze f


ur
Bei Vollaussteuerung des ADC (2U
den absoluten Jitterfehler angeben
Tjitter

ULSB
1
1
= N
N .
UAmax
(2 1)
2

(11.96)

Soll beispielsweise mit Hilfe eines 8-Bit ADC ein 50-MHz-Signal umgesetzt
werden, leitet sich daraus die Forderung ab, dass die zeitliche AperturUnsicherheit Tjitter 12, 5 ps sein muss.

11.8 Digital-Multimeter (DMM)


11.8.1 Anzahl der Stellen und Genauigkeit
Digital-Multimeter (DMM) sind universelle Messgerate zur standardmaigen
Messung von Spannung, Strom und ohmschen Widerstanden. Sie bestehen neben einem Netzwerk von Messwiderstanden und einer Stromquelle zur Widerstandsmessung (s. Abb. 11.75) aus einem Eektivbaustein (s. Abschn. 11.8.2),
einem Analog-Digital-Converter (ADC) und einer Digitalanzeige. Als ADCs

Abb. 11.75. Blockschaltbild eines Digital-Multimeters

380

11 Digitale Messtechnik

verwenden sie meist Dual-Slope-Umsetzer, da diese bei ausreichender Messgeschwindigkeit hohe Messgenauigkeiten bei geringem Hardware-Aufwand garantieren. Digital-Multimeter arbeiten mit drei bis zehn (in Sonderfallen bis
zu einigen hundert) Wandlungen in der Sekunde. Je nach Genauigkeitsanforderungen liegt die Anzahl der angezeigten Stellen zwischen 3 1/2 und 8 1/2
(Tab. 11.14). Dabei bezeichnet die erste Zier die Zahl der angezeigten Nachkommastellen. Die f
uhrende eins wird als halbes Digit angegeben.
Tabelle 11.14. Daten von Digital-Multimetern
Anzahl
der Stellen

AnzeigeUmfang

Au
osung

typische Genauigkeit
(Gleichspannung)

3 1/2
4 1/2
5 1/2
7 1/2

5104
5105
5 106
5108

0,25 %
0,05 %
0,01 %
0,001 %

1,999
1,9999
1,99999
1,9999999

Es ist eine gewisse Diskrepanz zwischen der Auosung und der Genauigkeit festzustellen. Der grundsatzliche Fehler von Digital-Multimetern betragt
1 Digit, wobei 1 Digit der letzten angezeigten Nachkommastelle entspricht.
Ein typisches Geratebeispiel soll dies verdeutlichen.
So betr
agt die (relative) Auosung eines 3 1/2 -stelligen DMM 1/(2000) =
0, 0005. Die Genauigkeit wird jedoch mit 0, 25% angegeben, was 5 Digits entspricht (5/2000 = 0, 25%). Da sich die Verhaltnisse bei Digital-Multimetern
mit noch mehr Stellen eher verschlechtern, muss in der Praxis meist die letzte
angezeigte Stelle wegen ihrer groen Unsicherheit bei den Genauigkeitsbetrachtungen gestrichen werden.
11.8.2 Beispiel eines 4 1/2 -stelligen Digital-Multimeters
In diesem Abschnitt soll der Zusammenhang zwischen den angezeigten Stellen
des Digital-Multimeters und der Auosung seines Analog-Digital-Converters
(ADC) ermittelt werden. Nimmt man beispielsweise ein 4 1/2 -stelliges DMM,
so betr
agt seine relative Auosung 5 105 . Die entsprechende absolute
Au
osung ergibt sich zu 2 V 5 105 = 104 V. Dieser Wert entspricht gleichzeitig dem absoluten Spannungspegel des Least Signicant Bit (ULSB ) des
Analog-Digital-Converters. Mit dem Zusammenhang
Umax = (2N 1) ULSB
folgt
2 V = (2N 1) 104 V
2N 1 = 2 104

(11.97)

11.8 Digital-Multimeter (DMM)

381

2N 2 104
lg(2 104 )
N=
lg(2)
lg(2 104 )
= 14, 3 N = 15 .
lg(2)

(11.98)

Die entsprechenden Auosungen f


ur Digital-Multimeter mit anderer Stellenanzahl k
onnen Tab. 11.14 entnommen werden.
Im Allgemeinen bestimmt der Widerstand eines Eingangsspannungsteilers
den Eingangswiderstand des Digital-Multimeters (meistens in der Groenordnung 10 M), wahrend die eigentliche Messschaltung Innenwiderstande von
> 108 aufweist. Moderne leistungsfahige Digital-Multimeter (Abb. 11.77)
verf
ugen im Allgemeinen u
ber Standard-Rechnerschnittstellen, wie RS 232,
IEC-Bus, USB bzw. Ethernet (Kap. 16.7).
F
ur den Aufbau von Digital-Multimetern sind integrierte Schaltungen
erh
altlich, die bereits wesentliche Funktionen, wie Verstarkung, Vorzeichendetektion mit Invertierung, Tiefpass-Filterung, A/D-Umsetzung und Ausgangsregister aufweisen. Digital-Multimeter enthalten zur Wechselspannungsbzw. Wechselstrom-Messung entweder Gleichrichter-Schaltungen zur Bildung
des Gleichrichtmittelwertes oder eine Schaltung zur Bildung des echten Effektivwertes nach Gl. (6.89). Die letztgenannten beruhen auf einem integrierenden Operationsverstarker sowie einem als Quadrierer und einem als
Radizierer geschalteten Multiplizierermodul (Abb. 11.76). Die Operationsverst
arker-Schaltung realisiert einen Tiefpass 1. Ordnung mit der Eckfrequenz
fg = 1/(2RC). Solche Schaltungen weisen Fehler im Bereich von 0,5 % auf.
Schaltungen zur Gleichricht-Mittelwert-Bildung arbeiten mit kleineren Fehlern (0,1 %). Allerdings f
uhrt die Messung nicht-sinusformiger Groen zu entsprechenden Fehlern.

Abb. 11.76. Prinzipschaltung eines Eektivwertbausteines

382

11 Digitale Messtechnik

11.8.3 Messungen des echten Eektivwertes von Signalen mit


Gleichanteil
In den Schalterstellungen AC-Voltage (Wechselspannung) bzw. AC-Current (Wechselstrom) wird der Gleichanteil (DC-Anteil) bei der Messung unterdr
uckt. Das f
uhrt dazu, dass auch mit echter Eektivwertmessung ausgestattete Digital-Multimeter (DMM mit true RMS-Messung) nicht mehr den
echten Eektivwert messen, wenn das Messsignal einen Gleichanteil enthalt.
Hier hilft nur folgende Vorgehensweise:
Man muss zwei seperate Messungen durchf
uhren, und zwar wird einmal in
Schalterstellung AC der Eektivwert des reinen Wechselanteils (mit abgetrenntem Gleichanteil) gemessen und in einer zweiten Messung in Schalterstellung DC der reine Gleichanteil. Der Wechselanteil wird dabei automatisch
herausintegriert. Der echte Eektivwert des Gesamtsignals wird schlielich

durch eektivwertmaige, d. h. quadratische, Uberlagerung


gema

xrms(AC+DC) = x2rmsAC + x2rmsDC
(11.99)
bestimmt.
Bei der Messung des DC-Anteils sollte u
ber mindestens 10 Perioden der
Energieversorgungsnetzfrequenz (50 Hz in Europa bzw. 60 Hz in USA) gemittelt werden. Intelligente Multimeter, wie z.B. das Agilent 34411A (Abb. 11.77)
messen unmittelbar nach ihrer Inbetriebnahme die Netzfrequenz und stellen
die Integrationszeit des verwendeten Dual-Slope-ADC (Kap. 11.7.6) auf optimale Mittelung ein. So garantiert dieses Gerat im langsamen Messmodus f
ur
6 1/2 Stellen (Digits) eine Unterdr
uckung des Netzsignals um 70 dB.

Bei Uberlegungen
zur Messgenauigkeit von Digital-Multimetern bei ACMessungen muss des Weiteren der Scheitelfaktor (Crest Factor) (s. Gl. (6.90))
ins Kalk
ul gezogen werden. Denn je groer der Scheitelfaktor, um so groer
sind die Signalanteile bei (im Vergleich zur Grundwelle) hoheren Frequenzen
(h
oheren Harmonischen), so dass mit zunehmendem Scheitelfaktor auch die
Messfehler bei der echten Eektivwertmessung steigen (s. Kap. 11.8.4).
11.8.4 Gesamtfehler infolge Scheitelfaktor
Als Beispiel wird hier eine Abschatzung der Fa. Agilent u
ur
bernommen, die f
das 6 1/2 stellige DMM Modell 34411A (Abb. 11.77) gilt. Der Gesamtfehler
infolge Crest Factor (Scheitelfaktor) setzt sich wie folgt zusammen
Gesamtfehler = Fehler (Sinus) + Fehler (Crest Factor) + Fehler (Bandbreite)
(11.100)
Der Fehler (Bandbreite) ist der infolge der hoheren Harmonischen. Er wird
wie folgt abgeschatzt
Fehler (Bandbreite) =

(C.F.)2 F
,
4 BW

(11.101)

11.9 Strom-/Spannungsquellen mit R


uckmessfunktion (Source Measure Units)

383

Abb. 11.77. 6 1/2 stelliges Digital-Multimeter, Typ 34411A, der Fa. Agilent [2]

wobei C.F. der Crest Factor, F die Grundfrequenz des Messsignals und BW
die - 3 dB -Bandbreite (Bandwidth) des Messgerates ist (hier 1000 kHz). F
ur
einen beispielhaften C.F. = 3 und eine Fundamentalfrequenz F = 20 kHz
ergibt sich ein Fehler (Bandbreite) von 1, 4 %. Mit den Fehlerspezikationen
f
ur das o. g. Gerat summiert sich der Gesamtfehler zu
Gesamtfehler = 0, 08% + 0, 15% + 1, 4% = 1, 6% .

(11.102)

Dies bedeutet, dass der Bandbreitefehler infolge Scheitelfaktor den Gesamtfehler dominiert.

11.9 Strom-/Spannungsquellen mit Ru


ckmessfunktion
(Source Measure Units)
11.9.1 Source Measure Units in automatischen Testsystemen
Strom-/Spannungsquellen mit R
uckmessfunktion, auch als Source Measure
Units bezeichnet, bieten folgende vier Grundfunktionen bei der Messung elektrischer Gr
oen:

Spannungsquelle
Spannungsmesser
Stromquelle
Strommesser

So kann beispielsweise im Zuge der Pr


ufung elektrischer bzw. elektronischer
Bauelemente dem Pr
uing (Device under Test = D. u. T. bzw. DUT) ein
Konstantstrom eingepragt und gleichzeitig die Spannung an seinen Klemmen gemessen werden. Umgekehrt kann das Gerat die Stromaufnahme des

384

11 Digitale Messtechnik

Pr
uings messen, wahrend er mit einer Konstantspannung beaufschlagt wird.
Da diese Source Measure Units (SMUs) in aller Regel einen vollstandigen 4Quadrantenbetrieb erlauben, kann das gesamte Kennlinienfeld des Pr
uings
aufgenommen werden, indem Spannung bzw. Strom in systematischen Schritten ver
andert werden. Zwecks komfortabler Bedienung bzw. f
ur automatisierte Testablaufe in der Produktion beispielsweise sind alle Funktionen der
SMUs programmierbar. Hauptanwendungsgebiete sind die vollautomatisierte Charakterisierung von Halbleiterbauelementen, Leckstrommessungen an
MOSFETs oder Untersuchungen zur Elektromigration.
SMUs sind standardmaig mit IEC-Bus-Interfaces ausgestattet. Die neueren Generationen enthalten auch USB- und Ethernet-Schnittstellen. Um die
Testabl
aufe zu beschleunigen und die zentralen Steuerrechner zu entlasten,
besitzen die SMUs leistungsfahige Controller, so dass komplette Testreihen eigenst
andig ablaufen konnen. So werden bei den meisten Fertigungsendpr
ufungen von elektronischen Bauteilen und Komponenten sich standig wiederholende Testfolgen gefordert, bei denen eine Spannung oder ein Strom eingespeist
bzw. gemessen wird. Dabei wird festgestellt, ob das Bauteil innerhalb der spezizierten Grenzwerte liegt. F
ur die Fertigungskontrolle werden immer hau-

GPIB

Beladeroboter
Digital I/O
2602
SourceMeter

Test-Leitungen

TSP-Link
2602
SourceMeter

mechanische
Verbindung
DUT

Test-Leitungen

TSP-Link
2602
SourceMeter

Test-Leitungen

TSP-Link
Series 2600
SourceMeter

Test-Leitungen

Digital I/O (Trigger Signale)


weitere
Instrumente
Abb. 11.78. TSP-basierendes Testsystem mit mehreren Source Measure Units, die
u
ber TSP-Link vernetzt sind [91] (TSP = Test Script Processor)

11.9 Strom-/Spannungsquellen mit R


uckmessfunktion (Source Measure Units)

385

ger Testzeiten von unter 10 ms pro Bauteilpr


ufung verlangt, was zu erhohten
Anforderungen bez
uglich der Einschwingzeiten f
uhrt. Desofteren sind Chips
mit h
oheren Pinzahlen zu pr
ufen. Um die entsprechenden Pr
ufungen zahlreicher Zweitore zeitsynchron durchf
uhren zu konnen, werden mehrere SMUs
zu einem Testsystem zusammengeschaltet (Abb. 11.78). Die SMUs der 2600Familie der Fa. Keithley beispielsweise enthalten dazu einen sog. Test Script
Processor (TSP) und einen Hochgeschwindigkeitsbus (in Abb. 11.78 mit TSPLink bezeichnet) zur Vernetzung mehrerer SMUs im Master-Slave-Modus mit
entsprechenden Triggerfunktionen. Auf diese Weise ist ein echter Parallelbetrieb der angeschlossenen SMUs moglich [13].
11.9.2 Messung kleiner Str
ome bzw. Spannungen mit SMUs
Bei den im vorigen Abschnitt besprochenen automatisierten Testablaufen
besteht eine weitere Problematik in der genauen Messung geringer Spannungen und Strome, welche prazise Quellen- und Messfunktionen mit geringem St
orpegel obligatorisch machen. So sind Strom-/Spannungsquellen mit
R
uckmessfunktion kommerziell erhaltlich, die Strome im Sub-FemtoampereBereich messen konnen. Abbildung 11.79 zeigt ein solches Sub-FemtoampereMeter der Fa. Keithley, einem der f
uhrenden Hersteller auf diesem Gebiet.

Abb. 11.79. Source Measuring Unit (Typ 6430) der Fa. Keithley f
ur Messungen
im Sub-Femtoampere-Bereich. Spezikationen: Rauschgrenze: 0, 4 fA (peak-to-peak)
(= 4 1016 A); 6 1/2 stelliges Digital-Multimeter; 2000 Messungen pro Sekunde [91].

Das Ger
at arbeitet mit einem Remote-Vorverstarker, der u
ber ein 2 m langes Kabel an die eigentliche SMU angeschlossen ist. Dieser hochwertige
Messverst
arker ist mit einem extrem hohen Eingangswiderstand ausgestattet und mit einer sog. schwimmenden Masse (Guard) versehen. Er wird u
ber
ein Triax-Kabel angeschlossen. Bei den Triax-Kabeln bendet sich zwischen

386

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.80. Aufbau eines Triax-Kabels

dem zentralen Innenleiter und dem Auenleiter (Schirmgeecht wie beim


Koaxkabel) ein weiterer geochtener metallischer Leiter (= Schutzschirm =
Guard) zwecks Schirmung (Abb. 11.80). Abbildung 11.81 zeigt das Anschlussprinzip unter Verwendung von Triax-Kabeln. Die gezeigte Schaltung dient
der Unterdr
uckung von Leckstromen infolge des endlichen Kabelisolationswiderstandes. Die entsprechende Technik wird auch als Guard- oder Schutzschirmtechnik bezeichnet. Dabei wird der innere Leiter von dem Schutzschirm (Guard) umh
ullt. Mit Hilfe des Operationsverstarkers wird nun die
Potentialdierenz zwischen Innenleiter und Schutzschirm auf annahernd Null
gebracht, so dass keine Ausgleichsstrome durch den Isolationswiderstand RL
ieen k
onnen. Ein weiterer Vorteil dieser Schaltung ist, dass auch eine parallel
zu RL liegende Streu- bzw. Kabelkapazitat wirkungslos gemacht wird. Damit

wird das Ubertragungsverhalten


f
ur hoherfrequente Signale verbessert.
Quelle

Leitung mit Guard-Ring


(Triax-Kabel)
Guard

Ri

hochohmiger
Spannungsmesser

innerer Leiter

uD 0

RL

Spannungsmesser
uerer Leiter
Abb. 11.81. Prinzip der Triax-Kabel-Verbindung einer Spannungsquelle mit einem
hochohmigen Voltmeter

11.10 Elektronische Leistungsmesser

387

11.10 Elektronische Leistungsmesser


Elektronische Leistungsmesser haben in j
ungster Zeit stark an Bedeutung
gewonnen, insbesondere auch im hauslichen Bereich, wo sie in Haussteuerungen den Energieverbrauch von privaten und oentlichen Gebauden messen. In Kap. 11.7.5 wurde in Form des Time-Division-Multiplizierers ein
bereits seit langerer Zeit eingef
uhrter elektronischer Leistungsmesser vorgestellt. In diesem Abschnitt sollen neben der klassischen Leistungsmessung
mit einem Hallelement, die im Wesentlichen im Analogen stattndet, vor allem auf digitaler Signalverarbeitung basierende ICs behandelt werden, die in
modernen Leistungs- und Energiemessgeraten zum Einsatz kommen. Dabei
wird vorausgesetzt, dass die Strome und Spannungen aus dem elektrischen
Energieversorgungsnetz stammen, also bei einer Frequenz von 50 Hz harmonisch sind und der Oberwellenanteil gering bleibt. In Abschnitt 11.10.4 wird
ein Leistungsmessungs-IC behandelt, der f
ur Hochfrequenz-Anwendungen bis
6 GHz geeignet ist. Solch hohe Frequenzen erfordern allerdings wieder eine
analoge Signalverarbeitung.
11.10.1 Leistungsmessung mit Hallelement
Das in Kap. 6.3.8 behandelte Hallelement kann in idealer Weise zur Messung
der in einem Gleichstromkreis verbrauchten elektrischen Leistung eingesetzt
werden. Dazu muss der Strom IL dieses Kreises mit Hilfe eines als Spulenwicklung ausgef
uhrten Shunts (Strommesswiderstand) in ein magnetisches Feld
 dem Strom
umgesetzt werden (Abb. 11.82), dessen magnetische Induktion B

IL proportional ist. Dieses B-Feld durchsetzt das Hallplattchen in DickenRichtung (s. Abb. 6.53). Die Hallspannung UH ist daher gema Gl. (6.139)
 und damit auch proportional IL
proportional |B|
UH IL .

(11.103)

Hallelement
I H UL
UH UL. I L = P
Lastimpedanz

UL

IL
B

IL

als Wicklung
ausgefhrter Shunt

Abb. 11.82. Leistungsmessung im Gleichstromkreis mit Hallelement. Es wird die


in der Lastimpedanz umgesetzte Leistung P gemessen.

388

11 Digitale Messtechnik

Die leistungsbestimmende Spannung UL liegt an der Lastimpedanz an und


wird zum Erzeugen des Hallstromes herangezogen. Der durch das Hallelement
ieende Hallstrom IH ist somit proportional der Lastspannung UL
IH UL .

(11.104)

Da gem
a Gl. (6.139) die Hallspannung UH auch proportional dem Hallstrom
IH ist, folgt schlielich die Proportionalit
at zwischen der Hallspannung und
der in der Last umgesetzten Gleichstrom-Leistung P
P = UL IL UH .

(11.105)

ur die verbrauchte elekSomit liefert die Hallspannung UH ein lineares Ma f


trische Leistung P .
Das Hallelement u
bernimmt dabei die Aufgabe des (Analog-)Multiplizierers, der Strom und Spannung multipliziert. Es wird daher oft auch als Hall
Multiplizierer bezeichnet.
F
ur eine genaue Leistungsbestimmung muss darauf geachtet werden, dass
das Hallelement im linearen Bereich betrieben wird. F
ur typische Hallelemente
sollte die magnetische Induktion betragsmaig unter 100 mT bleiben, da f
ur
gr
oere Induktionswerte starke Nichtlinearitaten infolge Sattigung auftreten.
Ein weiterer Punkt, den es zu beachten gilt, ist die Temperaturempndlichkeit von Halbleiter-Hallelementen, die in aller Regel eine Temperaturkompensation erforderlich macht. Dies kann eleganterweise durch eine Anordnung in
Form einer Halbbr
uckenschaltung (s. Kap. 9.5.4) oder auch einer Vollbr
uckenschaltung geschehen.
11.10.2 Integrierte Schaltkreise zur Leistungsmessung
Die Messung der elektrischen Momentanleistung P (t) besteht stets aus der
Produktbildung der durch Einzelmessung gewonnenen Groen Strom iL (t)
und Spannung uL (t)
P (t) = uL (t) iL (t) .
(11.106)
Werden Spannung und Strom zunachst ohne Beachtung ihres Phasenbezugs zu
Eektivwerten verarbeitet und dann multipliziert, so erhalt man die Scheinleistung. Wenn die Spannung und der Strom in Phase sind, ergibt sich daraus
unmittelbar die Wirkleistung; sind sie hingegen um 90 phasenverschoben,
handelt es sich dabei um eine Blindleistung. Diese Zusammenhange werden
in Kap. 8 dieses Buches ausf
uhrlich beschrieben. Bei den in diesem Abschnitt
behandelten elektronischen Leistungsmessern handelt es sich in allererster Linie um Wirkleistungsmesser, da f
ur die nanzielle Abrechnung der Lieferung
elektrischer Energie durch einen Energieversorger die Wirkleistung bzw. Wirkenergie herangezogen wird.
Ein integrierter Schaltkreis zur Ermittlung der elektrischen Leistung besteht eingangsseitig aus zwei Kanalen, einem Strom- und einem Spannungsmesskanal. Die Spannung wird dabei entweder u
ber einen transformatorischen

11.10 Elektronische Leistungsmesser

389

Spannungswandler (s. Kap. 6.3.6) oder einen ohmschen Spannungsteiler abgegrien. Der Strom wird i. Allg. mit Hilfe eines Messshunts in eine proportionale Spannung umgewandelt. Eine weitere Moglichkeit, den Strom in eine
Spannung umzusetzen, besteht in der Verwendung einer sog. Rogowski-Spule
(Abb. 11.83). Hierbei wird der Leiter, der den zu messenden Laststrom f
uhrt,
durch eine konzentrisch gewickelte Spule hindurchgef
uhrt. Man benotigt einen

Wechselstrom, da erst durch die zeitliche Veranderung ( i


t = 0 bzw. t = 0;
: magnetischer Fluss) eine Spannung in der Spule induziert wird. Gema dem
Induktionsgesetz ist diese Spannung der zeitlichen Ableitung des Laststromes
proportional
di(t)
u
.
(11.107)
dt

stromfhrender
Leiter

i (t)

u(t)

di(t)
dt

u(t)

Abb. 11.83. Prinzip einer Rogowski-Spule. Die in der Spule induzierte Spannung
u(t) ist gem
a dem Induktionsgesetz proportional d(t)
u(t) bzw. di(t)
u(t).
dt
dt

In Abb. 11.84 ist die Struktur eines typischen Leistungsmessungs-ICs dargestellt. Die Ansteuerschaltung besteht aus einem Transformator-Wandler, der
den Laststrom iL in eine proportionale Spannung u1 wandelt. Diese steht
am Eingang des Strommesskanals zur Verf
ugung. Die Lastspannung uL wird
mit Hilfe eines ohmschen Spannungsteilers in eine proportionale Spannung
u2 umgesetzt. Die Eingangsspannungen u1 und u2 werden mit Hilfe je eines Verst
arkers, dessen Verstarkungsgrad programmiert werden kann, in ein
f
ur den jeweiligen Analog-Digital-Converter (ADC) normiertes Eingangssignal
konvertiert. Typischerweise werden hier 16-Bit-Umsetzer eingesetzt, die nach
dem Delta-Sigma-Verfahren arbeiten (s. Kap. 11.7.4). Nach der Digitalisierung
durch die ADCs werden die beiden in Form von Digitalwerten vorliegenden
Spannungen in einem Digital-Multiplizierer multipliziert. Um anschlieend die
korrekte Wirkleistung zu erhalten, muss unter Umstanden noch eine Phasenkorrektur zwischen Strom- und Spannungskanal durchgef
uhrt werden. Dabei
wird eine eventuell zwischen Strom- und Spannungsmesskanal vorhandene parasit
are Phasenverschiebung (Phasenoset) wieder korrigiert. Dies kann im

390

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.84. Vereinfachtes Blockschaltbild eines typischen ICs zur Leistungs- bzw.
Energiemessung mit digitaler Signalverarbeitung

11.10 Elektronische Leistungsmesser

391

Zuge der Kalibrierung erfolgen. Diese Phasenkorrektur entspricht einer zeitlichen Verschiebung der Abtastwerte, welche mit Hilfe eines Schieberegisters
vorgenommen wird (s. Abb. 11.84).
Nach dem digitalen Multiplizierer, der ausgangsseitig die Momentanleistung P (t) in Form von digitalen Abtastwerten liefert, folgt ein digitales Tiefpasslter, an dessen Ausgang die zeitlich gemittelte Leistung P (t) vorliegt.
Die Periodendauer der Mittelung ist so gewahlt, dass Schwankungen in der
Leistung noch sinnvoll dargestellt werden. Die Wirkleistung entspricht bei rein
sinusf
ormigen Groen dem Gleichanteil des Signals, da sich die Leistung wie
folgt errechnet (s. Abb. 11.85)
uL = u
L sin t

) {uL , iL })
iL = iL sin(t + <

(11.108)
(11.109)

P (t) = uL (t) iL (t)


u
LiL
u
LiL
cos(<
) {uL , iL })
cos(2t+ <
) {uL , iL })
=
2
2
uLiL
cos(<
) {uL , iL })
P (t) = Pwirk =
2
) {uL , iL }) .
= uLe iLe cos(<

(11.110)

(11.111)

Da die Wirkleistung jedoch auch zeitlichen Schwankungen unterworfen ist,


handelt es sich nicht mehr um einen (theoretisch) reinen Gleichanteil, sondern um den spektralen Anteil von P (t), der sich im Vergleich zum mit 2
spektrale
Leistung

u L. i L
cos
2

u L. i L
2

bertragungsfunktion
des Tiefpassfilters

1. Oberwelle

8Hz . 2

Kreisfrequenz

Abb. 11.85. Funktion des Tiefpasslters aus Abb. 11.84 zur Abtrennung des Wirkleistungsanteils. Die Eckfrequenz des Tiefpasslters liegt typischerweise bei fg =
8 Hz. Der Wert von 2 entspricht 100 Hz 2.

392

11 Digitale Messtechnik

ukturierenden Anteil nur langsam andert, d. h. seine Periodendauer ist gro


gegen die der 100 Hz-Oberwelle. Der als Ausgangssignal vorhandene Wirkleistungswert ergibt sich aus der Integration u
ber n Perioden der Grundfrequenz
P (t) = Pwirk

1
=
nT

nT
P (t)dt

(11.112)

T : Periodendauer.
Mit l
angerer Integrationsdauer erzielt man zwar hohere Genauigkeiten,
integriert aber auch unter Umstanden u
ber zu messende Fluktuationen der
Wirkleistung hinweg. Die Integration wird mit Hilfe des in Abb. 11.84 ge
zeigten Tiefpasslters vorgenommen. Dessen Laplace-Ubertragungsfunktion
(s. Kap. 3.13) lautet
GTP (s) =

1
1
=
,
1 + nT s
1 + sgr

(11.113)

wobei gr die Eckfrequenz des Tiefpasslters ist (s. auch Abb. 11.85). Um
den in Abb. 11.85 angegebenen Wert von gr = 8 Hz 2 zu erreichen, m
usste
u
ur eine groere Anzahl n von
ber eine Periode (n = 1) gemittelt werden. F
1
Mittelungsperioden ergaben sich geringere Eckfrequenzen gr = nT
.
Im Anschluss an das digitale Tiefpasslter folgt ein Digital-zu-FrequenzKonverter, der die Wirkleistung P (t) in eine Pulsfolge umwandelt. Die Pulsfolgefrequenz ist dabei proportional der Wirkleistung P (t). Dieses Pulsfolgesignal wird zum einen direkt ausgegeben. Es handelt sich dabei um ein
frequenzcodiertes Signal (s. Kap. 1.6), dessen aktuelle Pulsfolgefrequenz dem
momentanen Wert der verbrauchten Wirkleistung Pwirk = P (t) entspricht.
Zum anderen werden die Pulse mit Hilfe eines Zahlers akkumuliert, was einer zeitlichen Integration der Wirkleistung entspricht. Dies liefert als zweites
Ausgangssignal die verbrauchte (Wirk-)Energie
T
Ewirk =

Pwirk dt .

(11.114)

Diese kann in Werten mit der u


blichen Einheit kWh ausgegeben werden.
Energiemeter-IC mit Wirk- und Scheinleistungsbestimmung
Im Folgenden soll stellvertretend f
ur ahnliche kommerziell erhaltliche ICs
der integrierte Baustein ADE7763 [10] vorgestellt werden. Dieser integrierte
Schaltkreis erlaubt neben der Messung der Wirkleistung Pwirk sowie der verbrauchten Wirkenergie Ewirk auch die Bestimmung der Scheinleistung Pschein .
Als Eingangssignale m
ussen, wie bei dem im vorigen Abschnitt besprochenen Leistungs- bzw. Energiemesser, zwei Spannungssignale bereitgestellt
werden, die der Lastspannung bzw. dem Laststrom proportional sind

11.10 Elektronische Leistungsmesser

393

u1 iL

(11.115)

u2 uL .

(11.116)

Die beiden programmierbaren Eingangsverstarker (PGA) liefern wiederum


das normierte Signal f
ur zwei 16-Bit-Delta-Sigma-Umsetzer, die zeitlich synchron die beiden leistungsbestimmenden Signale u1 und u2 abtasten und in Digitalwerte umsetzen. Dem ADC des Spannungsmesskanals folgt wiederum ein
Schieberegister, das der Phasensynchronisierung von Strom- und Spannungsmesskanal dient. Der Strommesskanal kann alternativ auf einen Temperatursensor aufgeschaltet werden, der eine nachtragliche softwaremaige Temperaturkompensation erlaubt. Ein eventuell vorhandener Gleichspannungsoset
(DC-Oset) wird im Strommesskanal durch ein entsprechendes digitales Hochpasslter (Filter HP1 ) ausgeblendet. Diesem Digitallter folgt ein Integrierer, der bei Verwendung von Rogowski-Spulen zur Stromdetektion aktiv und
ansonsten u
uckt geschaltet wird. Im Fall von Rogowski-Stromsensoren
berbr
(Abb. 11.83) ist das erhaltene Spannungssignal (gema Gl. (11.107)) proportional der zeitlichen Ableitung von iL , so dass die Integration wiederum zu
einem dem Laststrom iL proportionalen Signal f
uhrt.
Der anschlieende Mulitplizierer multipliziert die beiden Signale u1 iL
und u2 uL zur Momentanleistung. Der Tiefpass TP2 ltert wiederum gema
Abb. 11.85 die Wirkleistung Pwirk in Form des Gleichanteils von P (t) heraus
P (t) = Pwirk .

(11.117)

Danach folgen noch ein Summierer zur Oset-Korrektur sowie ein Multiplizierer, der mittels eines Kalibrierfaktors die genaue (im Sinne von kalibriert)
Wirkleistung Pwirk liefert. Danach durchlauft das Signal auch hier einen DCF
(Digital-zu-Frequenz-Konverter) und einen Zahler, so dass am Ausgang wiederum ein Pulssignal zur Verf
ugung steht, dessen Pulsfolgefrequenz proportional der Wirkleistung ist. Der Zahler liefert schlielich die verbrauchte Wirkenergie in der Einheit kWh.
Die beiden in Abb. 11.86 gezeigten Betragsquadrat-Bausteine mit nachgeschalteten Tiefpassen bzw. Radizierern dienen der Bestimmung der jeweiligen Eektivwerte uLe bzw. iLe . Diese werden nach entsprechenden OsetKorrekturen, die durch Summationsbausteine erfolgen, in einem Multiplizierer
zur Scheinleistung
Pschein = uLe iLe = Pe
(11.118)
multipliziert. Nach Kalibrierung mit Hilfe eines weiteren Multiplizierers steht
diese am Ausgang in Form eines Digitalwertes zur Verf
ugung. Sowohl Pwirk als
auch Pschein = Pe lassen sich u
ber ein Register des Bus-Interfaces auslesen.

394

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.86. Vereinfachtes Blockschaltbild des Energiemeter-ICs ADE7763 (SinglePhase Active and Apparent Energy Metering IC) [10]

11.10 Elektronische Leistungsmesser

395

3-Phasen-Energiemeter-IC
Im Rahmen des Energiemeterings in Haussteuerungen muss der Energieverbrauch aller 3 Phasen des Drehstromnetzes gemessen werden (s. auch
Kap. 8.2.3). Dazu gibt es ebenfalls spezielle integrierte Bausteine, welche
gleichzeitig die Wirkleistungen aller 3 Phasen des Drehstromnetzes messen.
Hier soll ein solcher IC anhand des 3-Phasen-Energiemeter-ICs ADE7752 der
Fa. Analog Devices [9] vorgestellt werden. Abbildung 11.87 zeigt das vereinfachte Blockschaltbild dieses Schaltkreises. In Abb. 11.88 wird gezeigt, wie
die Strom- und die Spannungsmesskanale angekoppelt werden konnen. Dabei
ist sicherzustellen, dass bei Volllast, d. h. bei maximalem Strom bzw. bei der
h
ochsten zu messenden Spannung (i.Allg. Ue = 230 V) die Eingangsspannung
der ersten Verstarkerstufe (betragsmag) 500 mV nicht u
bersteigt. Es ist noch
zu erw
ahnen, dass die Tiefpasse am Eingang (Abb. 11.88) dem Zweck dienen,
h
oherfrequente Storsignale zu unterdr
ucken.
In einem 3-phasigen Energiemeter stehen nun f
ur jeden Strom- und
Spannungsmesskanal ein Analog-Digital-Konverter mit standardmaig 16-Bit
Au
osung bereit, um die verstarkten und damit pegelmaig normierten Eingangssignale in entsprechende Digitalwerte umzusetzen. Wie schon bei der
oben besprochenen einphasigen Energiemeterschaltung folgen f
ur jede Phase
(L1 , L2 , L3 ) ein digitales Hochpass-Filter (im Strommesskanal) zur Beseitigung des DC-Osets sowie eine Phasenkorrektur (im Spannungsmesskanal).
Danach u
bernimmt ein digitaler Multiplizierer die Produktbildung. Die
dadurch erhaltenen Momentanwirkleistungen PLi (t) (mit i=1,2,3) werden, wie
ebenfalls bereits oben beschrieben, je einem Tiefpasslter (Grenzfrequenz fg
= 8 Hz) zugef
uhrt. Diese Tiefpasslter liefern am Ausgang den Gleichanteil
von PLi (t), welcher der Wirkleistung der jeweiligen Phase entspricht
PLi (t) = Pwirk Li .

(11.119)

ur Absolutwert bzw.
Je nach Wert des Signals am ABS-Eingang (ABS steht f
Betragsbildung) wird der Wert von PLi entweder vorzeichenbehaftet oder betragsm
aig einem Summierer zugef
uhrt
Pwirk =

3


Pwirk Li

f
ur

ABS = 1

(11.120)

|Pwirk Li |

f
ur

ABS = 0 .

(11.121)

i=1

bzw.
Pwirk =

3

i=1

Die Option, die Summe der Betrage zu bilden (ABS = 0 ), bietet die Moglichkeit, auch dann einen korrekten Wert f
ur die Gesamtwirkleistung am Ausgang
zu erhalten, wenn das Energiemeter falsch an das Energienetz angeschlossen
ist, z. B. wenn die Anschl
usse des Stromwandlers verpolt wurden.

396

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.87. Vereinfachtes Blockschaltbild des 3-Phasen-Energiemeter-ICs


ADE7752 (Polyphase Energy Metering IC with Pulse Output) [9]

11.10 Elektronische Leistungsmesser

397

Am Ausgang konvertiert wiederum ein Digital-Frequenz-Konverter (DFC) den


Summenwert (Summe bzw. Absolut-Summe der 3 Wirkleistungen) in eine
Rechteckpulsfolge, dessen Pulsfolgefrequenz proportional dem Summenwert
bzw. dem Absolutsummenwert der 3 Einzelwirkleistungen ist.

i L(t)

500 mV

Stromwandler

Eingangsverstrker des ICs


Tiefpsse

a)
L1
(Ueff = 230 V)
500 mV

Spannungswandler

Eingangsverstrker des ICs


Tiefpsse

b1)
L1
(Ueff = 230 V)

500 mV
Eingangsverstrker des ICs
b2)

Abb. 11.88. Ankopplungsm


oglichkeiten des Strom- und Spannungsmesskanals an
das Energieversorgungsnetz: a) Strommesskanal; b1) Spannungsmesskanal u
ber
Wandler; b2) Spannungsmesskanal u
ber ohmschen Spannungsteiler.

398

11 Digitale Messtechnik

11.10.3 Smart Meter f


ur die Messung des Verbrauchs an
elektrischer Energie
Ein f
ur den elektrischen Energieverbrauch bestimmtes Smart Meter besteht
aus einem eichfahigen elektronischen Verbrauchszahler zur Messung des elektrischen Energieverbrauchs in einem Haushalt oder einem Unternehmen.
Dabei wird mit Hilfe der oben beschriebenen elektronischen Leistungsmesser der Energieverbrauch durch zeitliche Integration der momentanen elektrischen Wirkleistung bestimmt und abgespeichert. Die dabei typischerweise
verwendeten Zeitintervalle betragen 15 Minuten. Das heit, dass jede Viertelstunde der Verbrauch an elektrischer Energie an der Messstelle elektronisch
protokolliert wird. Diese Daten werden u
ber das Verbrauchsjahr summiert
und an den Energieverbraucher u
ber einen sicheren Informationskanal, z. B.
GSM, u
bermittelt. Dem Verbraucher selbst ist aber der Energieverbrauch als
Funktion der Zeit (mit den 15-min
utigen Abtastintervallen) zuganglich. Bei
Groverbrauchern (die Denition ist landerspezisch, z. B. 6 000 kW/Jahr in
Deutschland) werden die gemessenen Energieverbrauchswerte in taglichen Intervallen an den Energielieferanten u
bermittelt.
F
ur den Einsatz von solch intelligenten Stromzahlern sprechen verschiedene Gr
unde:
1. Der Verbraucher kann seinen Energieverbrauch genau im Auge behalten
und gegebenenfalls im Hinblick auf eine Verbrauchsminderung selbst steuernd eingreifen.
2. Es lassen sich tageszeit- bzw. in Zukunft auch lastabhangige Stromtarife
einf
uhren, d. h die elektrische Energie kann preiswerter bezogen werden,

wenn Uberschuss
herrscht.
3. In fernerer Zukunft wird unter Umstanden die lastabhangige Steuerung
des Stromnetzes oder Teilen davon (Inseln im Sinne der sog. SmartGrid-Technologie) notwendig, die mit Hilfe von Smart Metern geschehen k
onnte. Die Smart Meter dienen dann als Beobachter (im Sinne von
Energieverbrauchs-Sensoren) f
ur den aktuellen Vor-Ort-Energieverbrauch.
K
unftig soll zwischen Messstellenbetreiber unterschieden werden. Das w
urde
bedeuten, dass der intelligente Stromzahler von einem separaten Unternehmen
installiert oder zumindest gewartet wird. Mit welcher Geschwindigkeit die
Umr
ustung auf intelligente Stromzahler in Deutschland nun erfolgen wird, ist

derzeit schwer abschatzbar. In Osterreich


hingegen hat jeder Netzbetreiber
bis Ende 2019 daf
ur zu sorgen, dass 95 % der an sein Netz angeschlossenen
Z
ahler Smart Meter sind.
11.10.4 Leistungsmessungs-IC f
ur HF-Anwendungen
Die bisher behandelten Leistungsmessungs-Schaltkreise sind bez
uglich ihrer
h
ochsten Spektralkomponente, die sie verarbeiten konnen, auf den Energieversorgungsbereich beschrankt. In diesem Abschnitt sollen jedoch Schaltkreise

11.10 Elektronische Leistungsmesser

399

vorgestellt werden, welche die Leistungsmessung von Hochfrequenz-Signalen


gestatten. Stellvertretend f
ur ahnliche kommerziell erhaltliche Schaltkreise
wird hier der IC AD8362 der Fa. Analog Devices [7] behandelt. Dieser Schaltkreis erlaubt die wellenformunabhangige Leistungsmessung von elektrischen
Signalen in einem Frequenzbereich von 50 Hz bis 3,8 GHz. Der sehr ahnlich
aufgebaute Schaltkreis AD8363 [8] erweitert den messbaren Frequenzbereich
sogar bis 6 GHz. Die Dynamikbereiche umfassen 65 dB (AD8362) bzw. 50 dB
(AD8363). Dabei werden Absolutleistungen von 65 dBm1 (AD8362) bzw.
50 dBm (AD8363) bis 0 dBm gemessen. Typische Anwendungen liegen im
Bereich Mobilkommunikation, wie z. B. den Mobilfunkstandards [7]

GSM = Global System for Mobile Communication


LTE = Long Term Evolution
CDMA = Code Division Multiple Access
W-CDMA = Wideband Code Division Multiple Access.

Abbildung 11.89 zeigt das vereinfachte Blockschaltbild des Schaltkreises. Das


Eingangssignal, das von einer massebezogenen Quelle mit 50 -Innenwiderstand stammt, wird einem Eingangsteiler bzw. Verstarker mit steuerbarer
Verst
arkung zugef
uhrt. Darauf folgt ein hochgenauer Quadrierer-Baustein.
Dessen Ausgangssignal wird verglichen mit dem eines zweiten (identisch aufgebauten) Quadrierer-Bausteins, der vom Eingangssignal VTGT (Gleichspannung) gespeist wird. Die Dierenz dieser Signale wird mit Hilfe des Ausgangsverst
arkers verstarkt und gleichzeitig integriert bzw. tiefpassgeltert. Die Zeitkonstante wird dabei mit Hilfe des internen Kondensators CF bzw. der zusatzlichen, extern zuschaltbaren Kapazitat CFext festgelegt.
Im hier ausschlielich betrachteten Leistungsmesser-Mode wird die Ausgangsspannung VOUT auf den Eingang VSET zur
uckgekoppelt (VOUT =
VSET). Das Ausgangssignal ist dann proportional zum rms-Wert (= Eektivwert; rms steht f
ur root mean square) am Eingang, gemessen in der Einheit
dBm (1 dBm =
( 50 mV). Der IC ist noch f
ur weitere Betriebsmodi ausgelegt,
z. B. einem Mode, wo er als Leistungsregler arbeitet. Diese werden im entsprechenden Datenblatt [7] beschrieben.

Die Einheit dBm bezieht sich auf den logarithmischen Leistungspegel


Lp = 10 lg

P
dBm .
1 mW

400

11 Digitale Messtechnik

MesssignalEingang
VIN

Variable Gain
Amplifier
VSIG
VGA

Wide-BandQuadrierer
X2

Referenzsignal
VSET

X2

I SIG

VATG

I TGT

Ausgangs-Verstrker
und Tiefpass-Filter
Ausgangssignal
VOUT

CF
I diff
= I SIG - I TGT

Spannungsteiler
zur Einstellung
der Verstrkung
(V=5)

CFext

evtl.
zustzliche
externe
Kapazitt
a)

INHI
INLO

X2

CLPF

VTGT

VTGT

VOUT

X2
ACOM
VSET

b)

Abb. 11.89. Leistungsmessungs-IC AD8362 [7] der Fa. Analog Devices a)


Vereinfachtes Schaltbild; b) Vereinfachtes Blockschaltbild mit oziellen PINBezeichnungen des Herstellers
INHI, INLO: Dierentieller Eingang; VIN = INHI INLO
VSET:
Setpoint-Eingang (VSET = VOUT) im Leistungsmesser-Mode
VTGT:
Gleichspannungs-Eingang zur Festlegung der Empndlichkeit
(mV/dBm) bzw. des verarbeitbaren Crest-Faktors
ACOM:
Masse des Ausgangssignals
VOUT:
Ausgangssignal
CLPF:
Eingang f
ur zus
atzliche Kapazit
at des Integrierers

11.10 Elektronische Leistungsmesser

401

Die Dierenz der Ausgangsstrome ISIG und ITGT der beiden Quadrierer wird
mit Hilfe des integrierenden Ausgangsverstarkers und der aueren R
uckkopplung des Schaltkreises im zeitlichen Mittel zu Null geregelt, so dass gilt
Idi = ISIG ITGT = 0 .

(11.122)

Da die Quadrierer identisch sind, resultiert daraus die Forderung


VSIG 2 = VATG 2 ,

(11.123)

d. h.
VSIGe = rms{VSIG } = VATGe = rms{VATG } .

(11.124)

Dies wird durch Einstellen eines entsprechenden Verstarkungsgrades des VGA


(Variable Gain Amplier = Verstarker mit spannungsgesteuertem Verstarkungsgrad) erreicht. Dieser Verstarkungsgrad GSET ergibt sich aus der konstanten Grundverstarkung G0 und dem Quotienten2 VSET /VGNS wie folgt
GSET = G0 eVSET /VGNS .

(11.125)

Dabei ist VGNS die Spannung, welche den (logarithmischen) Leistungsmastab


(in dB pro Volt) deniert, und VSET ist die Spannung am VSET-Eingang des
ICs. Die Spannung VSIG ergibt sich damit zu
VSIG = GSET VIN = G0 VIN eVSET /VGNS .

(11.126)

Einsetzen in Gl. (11.123) liefert


(G0 VIN eVSET /VGNS )2 = (VATG )2

(11.127)

rms{G0 VIN /VATG } = eVSET /VGNS

(11.128)

VSET = VGNS ln(rms{VIN }/VZ ) ,

(11.129)

bzw.
und
wobei VZ folgendermaen deniert ist
VZ =

VATG
.
G0

(11.130)

Die Spannung VATG ergibt sich aus der am VTGT-Eingang angelegten Gleichspannung und dem konstanten Verstarkungsgrad des entsprechenden EingangsVerst
arkers. Sie bestimmt letztlich die Empndlichkeit. Im LeistungsmesserMode (s. o.) gilt infolge der direkten R
uckkopplung (s. o.)
VOUT = VSET .
2

(11.131)

Die elektrischen Spannungen werden in diesem Abschnitt mit V bezeichnet, um


zum Original-Datenblatt des ICs kompatibel zu bleiben.

402

11 Digitale Messtechnik

Daraus folgt
VOUT = VSLP lg(rms{VIN }/VZ ) ,

(11.132)

wobei VSLP die sog. Slope-Spannung VSLP mit der Einheit mV/dB ist
VSLP = VGNS ln(10) = 2, 303 VGNS .

(11.133)

Im IC wird mit Hilfe von Laser-Trimmung die Slope-Spannung auf den Wert
von 50 mV/dB abgeglichen. Abschlieend soll noch einmal erwahnt werden,
dass die Leistungsmessung hier auf eine Spannungsmessung reduziert wird. Es
wird n
amlich die Leistung unter der Annahme ermittelt, dass die Eingangsspannung, deren Eektivwert-Quadrat gemessen wird, an einer 50 Impedanz
anliegt, d. h. der leistungsmaige Bezugswert ist die 50 Impedanz.
11.10.5 HF-Leistungsmessung mit kaskadiertem logarithmischem
Verst
arker
Eine weitere Moglichkeit, Leistungen im HF-Bereich zu messen, besteht in
der Verwendung eines in Form einer Kaskade aufgebauten Verstarkers. Die
Kaskade besteht bei dem Analog IC AD8307 [6] aus 9 HF-Verstarkern, welche ihr jeweiliges Eingangssignal um 14,3 dB verstarken (Abb. 11.90). Das
Ausgangssignal einer jeden Verstarkerstufe wird mit Hilfe einer Diode gleichgerichtet und einem Summationsnetzwerk zugef
uhrt. Mit groer werdendem
Eingangssignal geht zunachst der in der Kaskade am weitesten hinten angeordnete Verstarker in die Sattigung. Steigt das Eingangssignal weiter an,
antworten die in der Verstarkerkette weiter vorn liegenden Stufen mit Sattigung. Die gleichgerichteten Signale der einzelnen Stufen werden so aufsummiert, dass das Ausgangssignal in logarithmischer Form vom Eingangssignal
HF-Signal
Eingang
+14,3 dB
1

Summationsnetzwerk
DC-Signal-Ausgang
(25 mV/dB)

Abb. 11.90. Prinzipschaltbild eines logarithmischen Verst


arkers in Kaskadenform
[6]. Die Leistungsmessung erfolgt von DC bis f = 500 MHz. Die 9 Verst
arkerstufen
haben jeweils +14,3 dB Verst
arkung bei einer 3 dB-Eckfrequenz von 900 MHz. Es
wird eine Signalquelle mit 50 Innenimpedanz vorausgesetzt.

11.10 Elektronische Leistungsmesser

403

abh
angt. Dadurch ist eine (lineare) Anzeige in dB-Werten moglich. Der Dynamikbereich umfasst 75 dBm bis + 17 dBm, hat also einen Umfang von 92 dB
(50 -Quelle vorausgesetzt). Der Frequenzbereich reicht von DC bis 500 MHz.
Die Empndlichkeit betragt 25 mV/dB.
11.10.6 HF-Leistungsmessung mittels thermoelektrischem
Wandler
Bei sehr hohen Frequenzen im Bereich oberhalb von 10 GHz sind Spannungsbzw. Strommessung kaum mehr moglich. Hier tritt die reine Leistungsmessung
an ihre Stelle. Diese wird dann im Allgemeinem mit Hilfe von thermischen
Leistungsmessern durchgef
uhrt. Dabei wird die zu messende HF-Leistung in
einem geeigneten Widerstand in Folge des von ihr erzeugten Warmestromes in eine proportionale Temperatur umgesetzt. Die Temperatur wiederum wird mittels eines thermoelektrischen Wandlers, eines sog. Thermoelements (s. Kap. 11.10.7), in ein proportionales elektrisches Signal umgewandelt (Abb. 11.91). Die neuesten Leistungssensoren der Fa. Rohde & Schwarz
beispielsweise erlauben auf diesem Weg hochgenaue Leistungsmessungen im
Mikrowellenbereich (bis f = 67 GHz) [157]. Die thermischen Leistungssensoren sind ab einer Leistung von 1 W einsetzbar. Unter Zuhilfenahme von
kalibrierten Dampfungsgliedern oder Richtkopplern kann der erfassbare Leistungsbereich bis in den Megawatt-Bereich erweitert werden.

Abb. 11.91. Thermoelektrischer Leistungsmesser. Das Thermoelement (s.


Kap. 11.10.7) misst die Temperatur des Abschlusswiderstandes, in dem die zu messende Leistung umgesetzt wird. Als Referenz dient die Umgebungstemperatur.

Die Vorz
uge der thermischen Leistungsmessung beruhen vor allem auf hoher
Messgenauigkeit. So werden HF-Signale ohne systematische Bewertungsfehler
in W
arme umgewandelt, unabhangig von der Kurvenform des Messsignals.
Bei modulierten Signalen gibt es keine prinzipiellen Linearitatsabweichungen.
Die Messdynamik liegt typischerweise zwischen 30 und 50 dB. Sie wird nach
unten durch die Empndlichkeit des thermischen Sensors einerseits und die
W
armeisolierung (gegen
uber der Umgebung) andererseits begrenzt. Die maximal messbare Leistung hangt von der Temperaturbestandigkeit der Werkstoe
sowie der Linearitat des Sensors ab.

404

11 Digitale Messtechnik

Abb. 11.92. Leistungsmesskopf NRP-Z51 der Fa. Rohde & Schwarz (Mae:
LBH, 17 cm4,8 cm3,1 cm). Der Messkopf enth
alt einen thermoelektrischen
Umformer, der die in einer denierten Impedanz umgesetzte HF-Leistung in W
arme
und anschlieend in eine
aquivalente Signalspannung umsetzt (Foto: Rohde &
Schwarz GmbH & Co KG, M
unchen) [154].

Abbildung 11.92 und 11.93 zeigen den thermoelektrischen Leistungsmesskopf


NRP-Z51 (bis NRP-Z57) der Fa. Rohde & Schwarz.
Die wesentlichen Komponenten sind dabei einmal der Abschlusswiderstand, in dem die HF-Leistung in Warme umgewandelt wird, sowie das Thermoelement (s. Kap. 11.10.7), das aus einem Metall-Halbleiter-Kontakt besteht. Der Abschlusswiderstand wird in D
unnlmtechnik hergestellt und besteht aus einer Tantalnitrid- oder aus einer Chrom-Schicht [155]. Die Empndlichkeit des Messkopfes betragt 200 V/mW. Da bei dieser Messzelle der Abschlusswiderstand und das Thermoelement galvanisch getrennt werden konnten, er
ubrigt sich der sonst u
bliche Koppelkondensator, so dass mit einem
einzigen Messkopf der gesamte Frequenzbereich von DC bis zur oberen Grenzfrequenz erfasst werden kann.
In der hier beschriebenen Messzelle nutzt man die relativ geringe Warmeleitf
ahigkeit von Silizium zum Erreichen einer hohen Warmeisolation. Zum anderen ist die thermoelektrische Kraft des Metall-Halbleiter-Thermoelements
mit etwa 700 V/K recht hoch. Ein weiterer Vorteil ist die geringe Warmekapazit
at des Sensors, was Ansprechzeiten im Millisekunden-Bereich ermoglicht.
Mit Hilfe einer Reihe von individuellen Messwertkorrekturen gelingt es, die
Messunsicherheit im Bereich von 0,04 dB (100 MHz) bis 0,25 dB (67 GHz) zu
halten [156].

11.10 Elektronische Leistungsmesser

405

(a) Innere Struktur

(b) Rasterelektronenmikroskop-Aufnahme
Abb. 11.93. Thermoelektrische Messumformerzelle R&S NRP-Z51 (Foto und Abbildung: Rohde & Schwarz GmbH & Co KG, M
unchen) [154]

11.10.7 Thermoelement (Seebeck-Eekt)


An der Ber
uhrungsstelle zweier unterschiedlicher Metalle A und B ndet stets
ein Elektronenaustausch statt. Das Metall mit der geringeren Austrittsarbeit
(beispielsweise Metall A) gibt Elektronen ab und wird somit positiv geladen.
Nach Einstellung des Gleichgewichtzustandes zwischen den von A nach B diffundierenden Elektronen und denen, die infolge des entstehenden elektrischen
 von B nach A bewegt werden, bildet sich an der Ber
Feldes E
uhrungsstelle eine Kontaktspannung U . Der entsprechende physikalische Eekt wird als
Seebeck-Eekt bezeichnet. Die Kontaktspannung kann folgendermaen berechnet werden [190].

406

11 Digitale Messtechnik

U=

kT
nA
ln
= kAB T ,
e0
nB

mit
kAB

k
=
ln
e0

nA
nB

(11.134)


(11.135)

wobei k = 1, 381 1023 Ws/K die Boltzmann-Konstante, T die absolute Temperatur der Kontaktstelle, e0 = 1, 6 1019 As die Elementarladung, nA und
nB die Anzahl der freien Elektronen pro Volumeneinheit der Metalle A und
ur die Materialkombination A/B entsprechende ThermokoB und kAB der f
ezient sind. Um die einzelnen Koezienten kAB nicht f
ur alle moglichen
Werkstokombinationen bestimmen zu m
ussen, wurde die Thermoelektrische
Spannungsreihe zusammengestellt. Diese beinhaltet die einzelnen Thermokoezienten der verschiedenen Materialien bezogen auf Platin. Tabelle 11.15
enth
alt die Werte der Thermokoezienten f
ur wichtige Werkstoe.
Tabelle 11.15. Thermokoezienten wichtiger Metalle
Material X

kXPt in mV/100K

Konstantan (CuNi)
Nickel (Ni)
Platin (Pt)
Kupfer (Cu)
Eisen (Fe)
Nickel-Chrom (NiCr)

3,47 bis 3,04


1,9
0
0,7
1,9
2,2

Abbildung 11.94 zeigt schematisch ein komplettes Thermoelement einschlielich seiner zwei Zuleitungen, die in diesem Fall aus Kupfer bestehen. Entsprechend Gl. (11.134) entsteht an allen vier Kontaktstellen zwischen zwei

Abb. 11.94. Thermoelement mit vier Kontaktstellen (Tm : Messtemperatur; Tr :


Referenztemperatur)

11.10 Elektronische Leistungsmesser

407

verschiedenen Metallen eine Thermospannung ui . Zum praktischen Messen


liegen drei der Kontaktstellen auf der Referenztemperatur Tr und eine Kontaktstelle auf der Messtemperatur Tm .
Aus der Denitionsgleichung (Gl. (11.134)) kann die Beziehung zwischen
Thermokoezienten abgeleitet werden
kAC = kAB + kBC

(11.136)

kAB = kBA .

(11.137)

und
Damit lassen sich die Thermospannungen ui in Abb. 11.94 gema Gl. (11.134)
berechnen
u1 = kCuFe Tr
u2 = kFeCuNi Tm

(11.138)
(11.139)

u3 = kCuNiFe Tr
u4 = kFeCu Tr .

(11.140)
(11.141)

Die gesamte Thermospannung uth , die an den aueren Klemmen (Abb. 11.94)

abgenommen werden kann, ergibt sich durch Uberlagerung


der vier Kontaktspannungen
uth = u1 + u2 + u3 + u4
uth = (kCuPt kFePt)Tr + (kFePt kCuNiPt )Tm

(11.142)

+(kCuNiPt kFePt )Tr + (kFePt kCuPt )Tr


= kCuNiPt (Tm Tr ) + kFePt(Tm Tr )
= (kFePt kCuNiPt )[Tm Tr ] = kFeCuNi [Tm Tr ] . (11.143)
Die Thermospannung nach Gl. (11.143) ist also direkt proportional zur Temperaturdierenz (Tm Tr ) zwischen Mess- und Referenzelement. Die Spannung
bei einer Temperaturdierenz von Tm Tr =1 K bezeichnet man als Thermoelektrische Kraft.
Mit dem Peltier-Eekt steht auch ein reziproker Eekt zum SeebeckEekt zur Verf
ugung. Fliet durch eine Kontaktstelle verschiedener Metalle
elektrischer Strom, so wird eine Erwarmung bzw. eine K
uhlung, je nach Stromrichtung, festgestellt. Dieser Eekt wird in Peltier-Elementen zur K
uhlung von
elektronischen Bauteilen oder f
ur Kleink
uhlschranke genutzt [190].
11.10.8 Bolometer
Abschlieend sei noch erwahnt, dass die auf thermoelektrischen Wandlern
beruhenden Leistungsmesser weitgehend die alteren thermischen Leistungsmesser, die mit Thermistoren arbeiten, abgelost haben. Es handelt sich dabei
um die sog. Bolometer. Diese haben einen temperaturabhangigen Widerstand,

408

11 Digitale Messtechnik

den Thermistor, der mit Hilfe einer Wheatstoneschen Messbr


ucke (s. Kap. 9.3)
ausgewertet wird. Dabei wird der in einem Br
uckenzweig bendliche Thermistor mit der zu messenden HF-Leistung gespeist. Andererseits wird in einem
Regelkreis genau soviel Gleichstromleistung zugef
uhrt, dass die Messbr
ucke
abgeglichen ist. Die Messbereichsdynamik von Bolometern (30 dB) ist allerdings deutlich geringer als die von den anderen thermischen Leistungsmessern.
11.10.9 HF-Leistungsmessung mit Diodengleichrichter
Wenn eine sehr hohe zeitliche Auosung gefordert wird, sind thermische Leistungsmesser zu trage. Es kommen dann im Allgemeinen Leistungsmesskopfe
mit Diodengleichrichtern zum Einsatz. Diese erlauben obere Grenzfrequenzen von u
ber 100 GHz. Hierbei richtet eine Halbleiterdiode (s. Kap. 4.1.2)
die an einem 50 -Abschlusswiderstand anliegende HF-Spannung gleich (Abb.
11.95). Die Dioden des Doppelweg-Gleichrichters speisen dabei je einen Ladekondensator, der dadurch aufgeladen wird. Je nach Zeitkonstante, also Produkt aus Kapazitatswert des Ladekondensators und vorgeschalteten ohmschen
Widerstand (Diodengleichstromwiderstand in Verbindung mit externen Widerst
anden) kann somit entweder die H
ullkurvenleistung oder die Spitzenleistung PEP (Peak Envelope Power) gemessen werden.
Als Dioden kommen vor allem sog. Zero-Bias-Schottky-Dioden zur Anwendung, welche im Gegensatz zu gewohnlichen Schottky-Dioden keine DCVorspannung brauchen [29]. Ansonsten zeichnen sich diese Dioden durch eine
geringe Sperrschichtkapazitat und geringes Eigenrauschen aus. Die mit solchen
Dioden ausgestatteten Leistungsmesskopfe erschlieen den Leistungsbereich
zwischen 100 pW und 100 mW. Gegen
uber thermischen Leistungsmessern weisen sie im oberen Leistungsbereich hohere Messunsicherheiten auf, sind daf
ur
aber schneller (hohere Messgeschwindigkeit) bzw. erlauben hohere Frequenzen (
uber 100 GHz). Der Leistungsbereich ist nach unten (ca. 100 pW) durch
Rauschen und Nullpunktdrift begrenzt. Im unteren Leistungsbereich arbeiten
sie im quadratischen Bereich der Diodenkennlinie, d. h. ihr Ausgangssignal
entspricht dem echten Eektivwert und Oberwellen werden leistungskorrekt
MesssignalEingang

RTP
50
AbschlussWiderstand

CL

Ua

CL

TP

Abb. 11.95. Prinzipschaltbild eines Leistungsmesskopfes mit Doppelweg-DiodenGleichrichtung. CL1 und CL2 sind die Ladekondensatoren. Ua ist die Gleichspannung
am Ausgang, die je nach Zeitkonstante der H
ullkurvenleistung oder der Spitzenleistung des HF-Signals entspricht. RTP und CTP bilden einen Tiefpass zur Entkopplung.

11.10 Elektronische Leistungsmesser

409

behandelt, und im Falle von H


ullkurvenmodulation wird die mittlere Leistung
angezeigt. Die abgegebene Gleichspannung ist proportional zur Leistung (typ.
1 mV/W). Bei Ausgangsspannungen zwischen 10 mV und einigen Volt zeigt
der Diodensensor starkere Nichtlinearitaten, die durch entsprechende Korrekturen bzw. Kalibriermanahmen auszugleichen sind.
Schottky-Diode
Im Gegensatz zur Standard-Halbleiterdiode (pn-Diode), die aus einer p- und
einer n-leitenden Silizium-Schicht besteht, setzt sich die sog. Schottky-Diode
aus einer Metallschicht und einer n-leitenden Siliziumschicht zusammen. Diese Diode wurde von dem Physiker Walter Schottky im Jahre 1938 vorgestellt.
Im Englischen wird sie als Hot Carrier Diode bezeichnet. Die f
ur das elementare Funktionieren dieser Diode notwendige Sperrschicht (auch als SchottkySperrschicht bezeichnet) entsteht an der Grenze zwischen Silizium und Metall.
Aus dem n-Silizium konnen die Elektronen leichter in die Metallschicht diffundieren als die Elektronen des Metalls in das Silizium eindringen konnen.
Infolge dieser Ladungstragerdiusion bildet sich eine Raumladungszone an
der Grenze zwischen Metall und n-Silizium, die sog. Sperrschicht, und es baut
sich ein entsprechendes elektrisches Feld auf, das die Ladungstragerdiusion
begrenzt. Bei Polung in Durchlassrichtung wird diese Raumladungszone abgebaut, w
ahrend sie sich in Sperrrichtung (Pluspol ist mit n-Si und Minuspol
mit Metall verbunden) weiter ausdehnt. Beim Betrieb in Durchlassrichtung
k
onnen die Elektronen somit ungehindert vom n-Silizium in das Metall ieen.
Unter dem Aspekt der Anwendung besteht der wesentliche Unterschied
zwischen normalen pn-Halbleiterdioden und den Schottky-Dioden darin, dass
Schottky-Dioden vergleichsweise sehr geringe Sattigungskapazitaten aufweisen. Dies begr
undet sich damit, dass im Gegensatz zur pn-Halbleiterdiode
keine Minoritatsladungstrager auftreten. Dadurch kann das Umschalten vom
Durchlasszustand in den Sperrzustand und auch umgekehrt sehr schnell
erfolgen. Infolgedessen eignen sich die Schottky-Dioden f
ur sehr schnelle
Schaltvorg
ange, wie sie bei Hochfrequenzanwendungen vorkommen. SchottkyDioden weisen eine niedrigere Schwellenspannung auf (ca. 0,4 V) als pn-Dioden
(ca. 0,7 V) (s. auch Abb. 6.27). Als Nachteil von Schottky-Dioden sind allerdings ihre im Vergleich zu pn-Dioden hoheren Leckstrome zu nennen.

12
Die Messung von Frequenz und Zeit

In der modernen Messtechnik werden in zunehmendem Mae die Zeit und Frequenz als informationstragende Parameter genutzt. Einer der Hauptvorz
uge
dieser Codierungsart liegt in der sehr hohen Genauigkeit, mit der Zeitintervalle und Frequenzen gemessen werden k
onnen. Ein weiterer Vorteil besteht
darin, dass sich die im Allgemeinen in analoger Form vorliegenden Messsignale auf einfache Weise mit Hilfe von Zahlerschaltungen digitalisieren lassen.
Zeit- und Frequenzmessungen sind eng miteinander verkn
upft, da beide mit
Hilfe von Z
ahlern durchgef
uhrt werden. Man kann erreichen, dass der Messfehler bei der Zeit- bzw. Frequenzmessung im Wesentlichen auf die Ungenauigkeit der eingesetzten Zeitbasis beschrankt bleibt, deren Genauigkeit wiederum von dem dort verwendeten frequenzbestimmenden Element deniert wird.
Dieses Frequenznormal basiert standardmaig auf einem Schwingquarz, der
zur Erh
ohung der Genauigkeit temperaturstabilisiert betrieben werden kann.
Selbst mit einfachen nicht temperaturstabilisierten Uhrenquarzen sind relative
Frequenzfehler von weniger als 105 moglich. Durch geeignete Temperaturregelungen lassen sich die relativen Fehler bez
uglich der Temperaturdrift sogar
noch um drei bis vier Groenordnungen reduzieren. Prazisionsfrequenzzahler
hingegen enthalten Rubidium-Elemente, die Genauigkeiten im Bereich 1010
bis 1011 ermoglichen. In speziell eingerichteten Laboratorien, wie z. B. der
Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) in Braunschweig, werden bei
der Zeitmessung sogar Genauigkeiten von 5 1015 erzielt [17].
Wenn zeitlich aquidistante Impulse (Pulsfolgefrequenz f ) eines Signals in
einem Z
ahler wahrend eines Zeitintervalls T summiert werden (Abb. 12.1),
ergibt sich der Zahlerstand NX aus dem Produkt dieser beiden Groen
NX = f T .

(12.1)

Bei der Zeitmessung wird die Anzahl NX der Impulse eines frequenzstabilen
Referenzsignals mit der Taktfrequenz fref mit Hilfe eines Zahlers wahrend der
zu messenden Zeit TX gezahlt. Damit berechnet sich die Zeit TX zu
TX =

NX
.
fref

Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_12

(12.2)

412

12 Die Messung von Frequenz und Zeit

Abb. 12.1. a) Prinzipschaltbild der digitalen Zeit- bzw. Frequenzmessung, b) Zeitdiagramm

Bei der Frequenzmessung hingegen werden die wahrend der Referenzzeit Tref
(Torzeit) einlaufenden Impulse des Messsignals gezahlt. Aus dem Zahlerstand
NX und der mit hoher Genauigkeit vorgegebenen Torzeit Tref kann die Frequenz fX bestimmt werden
NX
fX =
.
(12.3)
Tref

12.1 Mechanische Frequenzmessung


Zur Messung der Netzfrequenz mit Hilfe mechanischer Messwerke benden
sich teilweise noch die zur Kategorie der Vibrationsmesswerke zahlenden Zungenfrequenzmesser im Einsatz. Diese Messwerke besitzen bewegliche Komponenten, die infolge elektromagnetischer Anregung in resonante Schwingungen
versetzt werden. Nennenswerte Auslenkungen treten nur bei der jeweiligen
(mechanischen) Resonanzfrequenz der Zungen auf. Beim Zungenfrequenzmesser ist vor den Polschuhen eines Elektromagneten ein Kamm aus weichmagnetischen Stahlzungen angeordnet, welche sich in bezug auf ihre Resonanzfre
quenz unterscheiden (Abb. 12.2). Diese Messwerke dienen der Uberwachung
eines schmalen Frequenzbandes, typischerweise 47 - 53 Hz bzw. 46 - 54 Hz, in
dem die Netzversorgungsspannung liegt. Die Frequenzunterschiede der einzelnen Zungen liegen bei 0,5 Hz. Daneben gibt es auch Ausf
uhrungsformen f
ur
andere Frequenzbereiche, z. B. 10 Hz - 2 kHz.

12.2 Digitale Frequenzmessung

413

Abb. 12.2. Aufbau eines Zungenfrequenzmessers [174]

12.2 Digitale Frequenzmessung


Bei der digitalen Frequenzmessung wird das Messsignal zunachst in einem als
Impulsformer dienenden Schmitt-Trigger in eine Folge von Rechteckpulsen
gewandelt. Diese Pulse werden wahrend einer denierten Messzeit Tref , die
durch einen Referenztakt, einen Frequenzteiler mit Teilerverhaltnis Nref sowie ein Toggle-Flip-Flop vorgegeben wird, von einem Vorwartszahler zu einem
Z
ahlerstand NX summiert. Die prinzipielle Schaltung zur digitalen Frequenzmessung wird in Abb. 12.3 gezeigt. Die zu messende Frequenz fX ergibt sich
zu
NX
fref
fX =
=
NX .
(12.4)
Tref
Nref
Der Z
ahler muss zu Beginn jeder neuen Messperiode zur
uckgesetzt werden. Es
sei darauf hingewiesen, dass dieser R
ucksetzvorgang von der in Abb. 12.3 gezeigten Prinzipschaltung noch nicht automatisch vorgenommen wird. Soll das
Verh
altnis zweier Frequenzen gebildet werden, so ist dies mit Hilfe einer leicht
modizierten Schaltung (Abb. 12.4) ebenfalls moglich. Analog zur einfachen
digitalen Frequenzmessung kann das Frequenzverhaltnis abgeleitet werden.
Dazu ist in Gl. (12.4) fX durch f1 /N1 und Tref durch N2 /f2 zu ersetzen

Abb. 12.3. Digitale Frequenzmessung

414

12 Die Messung von Frequenz und Zeit

f1
N1
=
NX .
f2
N2

(12.5)

Abb. 12.4. Messung eines Frequenzverh


altnisses

12.3 Digitale Zeitmessung


12.3.1 Zeitintervallmessung (Zeitdierenzmessung)
Bei der digitalen Zeitintervallmessung werden die von einem Taktsignal mit
bekannter Referenzfrequenz wahrend der zu messenden Zeit TX in einen Zahler
einlaufenden Impulse gezahlt (Abb. 12.5). Der konstante Referenztakt wird
von einem Rechteckoszillator geliefert, der sich durch hohe Frequenzstabilit
at auszeichnet. Seine Pulse werden gezahlt, solange der zweite Eingang des
UND-Gatters auf  1 liegt. Dieses zweite Eingangssignal entspricht dem Ausgangssignal eines RS-Flip-Flops, dessen Setzen und R
ucksetzen mit der jeweils
ansteigenden Flanke des Start- bzw. Stopsignals erfolgt. Wird das RS-FlipFlop zur
uckgesetzt, sperrt das Gatter und der Zahler wird gestoppt. Aus dem
Z
ahlerstand NX und der bekannten Referenzfrequenz fref kann das Zeitintera
vall TX gem
1
TX =
NX
(12.6)
fref
ermittelt werden.
F
ur den Fall, dass Start- und Stop-Signal auf ein und derselben Leitung
einander folgen, wird anstatt des RS-Flip-Flops ein T-Flip-Flop eingesetzt
(Abb. 12.6). Infolge eines anfanglichen Resetsignals erscheint am Eingang des
ersten T-Flip-Flops ein  1 -Signal. Daraufhin wird mit der nachsten ansteigenden Flanke des Messsignals (Start-Marke) der Ausgang des ersten T-FlipFlops auf  1 gesetzt und bewirkt damit u
ber das UND-Gatter das Durchschalten des Referenztaktsignals auf den Zahler. Die nachste ansteigende Flanke
des Messsignals (Stop-Marke) stoppt den Zahlvorgang durch R
ucksetzen des
ersten T-Flip-Flops und das damit einhergehende Sperren des UND-Gatters.

12.3 Digitale Zeitmessung

Abb. 12.5. Digitale Zeitintervallmessung mit getrennten


Signalleitungen: a) Prinzipschaltbild, b) Zeitdiagramm

415

Start-/Stop-

Das gleichzeitige R
ucksetzen von T1 = Q2 = 1 auf T1 = Q2 = 0 bewirkt, dass
das erste T-Flip-Flop bis zum nachsten Resetimpuls verriegelt wird und nur
noch Speicherwirkung hat, woraufhin die Schaltung auf keine weiteren Startbzw. Stopimpulse mehr reagiert.
Aus Genauigkeitsgr
unden sollte die Taktfrequenz moglichst hoch liegen,
da die unweigerlich vorhandene Unsicherheit des Zahlerstandes bei 1 liegt.
Dieser sog. Quantisierungsfehler ist stets vorhanden, weil die Phasenlage zwischen Takt und den Intervallgrenzen des Zeitintervalls TX i.allg. nicht koharent
ist, was zu einer absoluten Messzeitunsicherheit TX f
uhrt. Der daraus resul-

Abb. 12.6.
Signalleitung

Digitale

Zeitintervallmessung

mit

gemeinsamer

Start-/Stop-

416

12 Die Messung von Frequenz und Zeit

tierende relative Messfehler betragt


 


 TX   1 
1
1
=


 TX   NX  = NX = fref TX .

(12.7)

Gleichung (12.7) sagt aus, dass der Fehler umso kleiner wird, je hoher die
Taktfrequenz fref und je langer das Zeitintervall TX ist.
Bei der Messung kleinerer Zeitintervalle werden daher oft sog. Zeitexpander eingesetzt. Ein Zeitexpander f
uhrt analog zu einem Frequenzteiler eine
Zeittransformation durch, d. h. ein kurzes Zeitintervall wird in ein langeres u
uhrt. Beim Schwebungsfrequenz-Zeitexpander werden zwei phasen berf
starr verbundene Rechteckoszillatoren G1 und G2 mit den Pulsfolgefrequenzen
f1 = 1/T1 und f2 = 1/T2 vom Start- bzw. vom Stop-Signal des zu messenden
Zeitintervalls TX gestartet (Abb. 12.7). Dabei wird vorausgesetzt, dass das
Zeitintervall TX k
urzer ist als die Periodendauer T1 . Da die Pulsfolgefrequenz
f2 geringf
ugig groer ist als f1 , wird nach einer Zeit TKoinzidenz erstmalig die
Phasenkoinzidenz der beiden Oszillatoren erreicht sein. Wenn man von Rundungsfehlern absieht, kann die Koinzidenzzeit TKoinzidenz wie folgt berechnet
werden
TKoinzidenz = TX + NX T2 = NX T1 .
(12.8)

Abb. 12.7. Zeitdiagramm eines Schwebungsfrequenz-Zeitexpanders (Rundungsfehler auer acht gelassen)

Das zu messende Zeitintervall TX und das Zeitexpansions-Verhaltnis dt ergeben sich zu


TX = NX (T1 T2 )
TKoinzidenz
T1
=
.
dt =
TX
T1 T2

(12.9)
(12.10)

Abbildung 12.8 zeigt eine entsprechende Schaltung mit den dazugehorigen

12.3 Digitale Zeitmessung

417

Signalverl
aufen. Nach einem anfanglichen Resetsignal ist die Schaltung vorbereitet, die Start- und Stop-Marke des zu messenden Zeitsignals TX in Form
einer ansteigenden bzw. abfallenden Flanke eines Rechteckpulses u
ber die Leitung uE zu empfangen. Das T1 -Flip-Flop startet daraufhin den Generator G1 ,
w
ahrend das T2 -Flip-Flop nach Ablauf des Zeitintervalls TX den Generator G2
in Gang setzt. Der Schaltung kommt nun noch die wesentliche Aufgabe zu, zu
erkennen, wann die erste ansteigende Taktanke des G2 -Signals (geringf
ugig)
fr
uher eintrit als die korrespondierende Flanke des G1 -Signals. Dann namlich

Abb. 12.8. Schwebungsfrequenz-Zeitexpander: a) Prinzipschaltung, b) Signalverl


aufe

418

12 Die Messung von Frequenz und Zeit

ist der Z
ahler, der die G1 -Pulse zahlt, zu stoppen und der Zahlerstand zur
Auswertung nach Gl. (12.9) heranzuziehen. Schaltungstechnisch wird dies
durch die R
uckkopplung der Q3 - und Q4 -Ausgange erreicht. Dadurch kann
das T4 -Flip-Flop erstmals kippen (dazu muss T4 = 1 sein und gleichzeitig
eine positive Taktanke am Takteingang anliegen), wenn die ansteigende G2 Taktanke fr
uher eintrit als die korrespondierende des G1 -Signals. Dies wird
m
oglich, da diese (korrespondierende) G1 -Taktanke jedesmal das T3 -FlipFlop auf Q3 = 1 bzw. Q3 = 0 schaltet, sodass das T4 -Flip-Flop wegen T4 = 0
gegen ein Umschalten verriegelt wird. Erst bei einem fr
uheren Eintreen ndet die ansteigende G2 -Flanke ein mit T4 = 1 umschaltbares T4 -Flip-Flop vor.
Durch diesen Schaltvorgang wird der Zahler u
ber das UND-Gatter an seinem
Eingang gestoppt. Gleichzeitig kann anhand des Q4 -Signals erkannt werden,
wann die Messung zu Ende ist.
12.3.2 Periodendauermessung
Bei der Periodendauermessung wird das Messsignal uE (t) von einem SchmittTrigger zun
achst in ein Rechtecksignal mit derselben Periodendauer umgeformt. Die beiden T-Flip-Flops der in Abb. 12.9 gezeigten Schaltung bewirken, dass bei einer ansteigenden Flanke der Signalspannung uSt das Q1 -Signal

auf  1 geht, wenn vorher beide Flip-Flops zur


uckgesetzt waren. Uber
das am
UND-Gatter anliegende Q1 -Signal (Q1 = 1) wird der Zahler dadurch f
ur genau eine Periode der Dauer TX geonet (Abb. 12.9b). Aus dem wahrend dieser

Abb. 12.9. Periodendauermessung: a) Prinzipschaltbild, b) Zeitdiagramm

12.4 Digitale Phasenwinkelmessung

419

Periode erhaltenen Zahlerstand NX kann die zu messende Periodendauer TX


ermittelt werden
NX
TX =
.
(12.11)
fref
Nach Ablauf dieser Periode wird das T1 -Flip-Flop u
ber das Q2 -Signal (Q2 = 0)
f
ur weitere Messungen gesperrt, bis die beiden T-Flip-Flops u
ber ein gemeinsames Resetsignal wieder zur
uckgesetzt werden.

12.4 Digitale Phasenwinkelmessung


Bei der digitalen Phasenwinkelmessung soll die Phasenwinkeldierenz X zwischen zwei Sinusspannungen u1 (t) und u2 (t) derselben Frequenz

Abb. 12.10. Digitale Phasenwinkelmessung: a) Prinzipschaltbild, b) Zeitdiagramm

420

12 Die Messung von Frequenz und Zeit

u1 (t) = u
1 sin t

(12.12)

2 sin(t + X )
u2 (t) = u

(12.13)

bestimmt werden. Eine solche Phasendierenzmessung kann auf die Messung


der Zeitdierenz
X
TX =
,
(12.14)

die zwischen zwei gleichsinnigen Nulldurchgangen der beiden Sinusspannungen vergeht, zur
uckgef
uhrt werden. Die Zeitdierenz TX kann mit Hilfe der in
Abb. 12.10a gezeigten Schaltung gemessen werden. Abbildung 12.10b soll die
prinzipielle Funktionsweise anhand der Signalverlaufe erlautern. Der Phasenwinkel X ergibt sich aus dem Zahlerstand NX und der Kreisfrequenz des
Eingangssignals
1
X = TX =
NX .
(12.15)
fref

12.5 Rechnender Z
ahler
Rechnende Zahler enthalten zwei Zahlwerke, welche die Pulse vom Referenztaktsignal und Messsignal getrennt zahlen (Abb. 12.11). Die Steuerfunktion
sowie die numerische Auswertung u
bernimmt ein Mikrocomputer. Der rechnende Z
ahler misst Frequenz und Periodendauer auf die gleiche Weise, wobei
bei beiden Messungen die Eingangsimpulse und die Pulse des Referenztaktsignals gez
ahlt werden. Anschlieend wird die Frequenz fX des Messsignals aus
dem Quotienten der beiden Zahlerstande NX und NY berechnet
fX =

NX
fref .
NY

(12.16)

Der Kehrwert 1/fX entspricht der Periodendauer des Eingangssignals. Wenn


die Messung mit dem Messsignal uE synchronisiert wird, bezeichnet man die
Messung als eingangssynchronisierte oder reziproke Messung; erfolgt die Synchronisierung hingegen mit dem Referenztakt der Zeitbasis, spricht man von
taktpulssynchronisierter oder konventioneller Messung.

Abb. 12.11. Rechnender Z


ahler

12.7 Frequenz-Spannungs-Umsetzer (f/U-Umsetzer)

421

12.6 Zeit-Spannungs-Umsetzer (t/U-Umsetzer)


Wenn die Impulsdauer der Informationstrager eines Messsignals ist (Pulsdauermodulation, Kap. 1.6), kann der Messwert mit Hilfe eines Zeit-SpannungsUmsetzers (t/U-Umsetzer), der im einfachsten Fall aus einem RC-Tiefpass
besteht, in eine analoge Spannung zur
uckgewandelt werden. Wenn namlich
das pulsdauermodulierte Signal uE (Rechteckpulsfolge mit konstanter Taktfrequenz 1/T0 und konstanter Amplitude U0 ) einem RC-Tiefpass zugef
uhrt
wird, kann an dessen Ausgang eine Spannung abgegrien werden, deren zeitlicher Mittelwert u
A proportional der Pulslange TX ist (Abb. 12.12)
 T0
 TX
TX
1
1
u
A = u
E =
uE (t) dt =
U0 dt = U0
.
(12.17)
T0 0
T0 0
T0
Bez
uglich der Zeitkonstanten des RC-Gliedes ist ein Kompromiss zu schlieen
zwischen dem Auosungsvermogen, das von der Restwelligkeit begrenzt wird,
und der Anzeigegeschwindigkeit, d. h. der Tragheit beim Einstellen auf neue
Messwerte.

Abb. 12.12. RC-Tiefpass als einfacher Zeit-Spannungs-Umsetzer

12.7 Frequenz-Spannungs-Umsetzer (f/U-Umsetzer)


Wenn die Frequenz der Informationstrager des Messsignals ist (Frequenzmodulation, Kap. 1.6), wird zur analogen Weiterverarbeitung der Messwerte eine
Frequenz-Spannungs-Umsetzung notwendig. Zur Analoganzeige drehzahlproportionaler Frequenzsignale wird beispielsweise oft ein mittelwertbildender
Frequenz-Spannungs-Umsetzer (f/U-Umsetzer) eingesetzt (Abb. 12.13). Nach
eventueller Pulsformung durch einen Schmitt-Trigger wird auf die Eingangsanke eines jeden Pulses hin ein Rechteckpuls denierter zeitlicher Lange T0
und Amplitude U0 erzeugt. Dies geschieht mit Hilfe einer monostabilen Kippstufe (Kap. 11.4). Der zeitliche Mittelwert der Ausgangsspannung uA ist proportional der momentanen Puls-Frequenz fX der Eingangsspannung uE
 TX
 T0
1
1
u
A =
uAM (t) dt =
U0 dt = U0 T0 fX .
(12.18)
TX 0
TX 0

422

12 Die Messung von Frequenz und Zeit

Die zeitliche Mittelwertbildung erfolgt wiederum mit Hilfe eines RC-Tiefpasses. Abbildung 12.13 zeigt das entsprechende Blockschaltbild der Gesamtschaltung, bestehend aus Impulsformer (Schmitt-Trigger), monostabiler Kippstufe (Monoop) und RC-Tiefpass, sowie den Spannungsverlauf uAM (t) f
ur
verschiedene Zeitverlaufe der Eingangsspannung uE . Ein solcher FrequenzSpannungs-Umsetzer wird in der Messtechnik auch oft als Zahlratenmesser
verwendet. Die Welligkeit der Ausgangsspannung kann bei geringen Zahlraten
bzw. kleiner Zeitkonstante sehr ausgepragt sein. Die Zeitkonstante lasst sich
allerdings nicht beliebig erhohen, da sich die Schaltung sonst unter Umstanden
nicht mehr schnell genug auf die aktuelle Zahlrate einstellen kann.

Abb. 12.13. Frequenz-Spannungs-Umsetzer: a) Prinzipschaltbild, b) Signalverl


aufe
f
ur zwei verschiedene Eingangsspannungen

12.8 Oszillatoren
12.8.1 Grundlagen
Unter dem Begri Oszillator versteht man in der Elektrotechnik eine Schaltung, die der Erzeugung ungedampfter Schwingungen mit denierter Frequenz
und konstanter Amplitude dient. Der Schwingungserzeuger (Oszillator) erscheint dabei in einem elektrischen Netzwerk als ein aus aktiven und passiven Bauelementen bestehender Zwei- oder Vierpol. Der Begri Oszillator ist
aber nicht auf das Gebiet der Elektrotechnik beschrankt. So bezeichnet ein
Oszillator allgemein ein schwingendes Gebilde, wie z. B. das einfache MasseFeder-System, welches einen typischen mechanischen Oszillator reprasentiert.
Man unterscheidet zwischen harmonischen Oszillatoren und Relaxationsoszillatoren. Harmonische Oszillatoren erzeugen Schwingungen mit harmonischem

12.8 Oszillatoren

423

(sinusf
ormigem) Zeitverlauf, wahrend die Relaxationsoszillatoren zur Generierung von Schwingungen mit nicht-sinusformigem Zeitverlauf, z. B. Rechteckspannungen, herangezogen werden.
Zur Erzeugung harmonischer Schwingungen ist eine R
uckstellkraft erforderlich, die proportional mit der Auslenkung (Schwingungsgroe) zunimmt.
Beim mechanischen Masse-Feder-Oszillator ergibt sich diese R
uckstellkraft
aus dem Hookeschen Gesetz
F = cx .
(12.19)
Dabei bezeichnen F die mechanische Kraft, die stets zur Gleichgewichtslage
hin gerichtet ist, c die Federkonstante und x die Auslenkung. In Verbindung
mit dem Newtonschen Gesetz ergibt sich die Schwingungsdierentialgleichung
f
ur das Masse-Feder-System wie folgt
m

d2 x
+ cx = 0 .
dt2

(12.20)

Dabei bezeichnen m die Masse des Schwingers und t die Zeitvariable. Die
L
osung von Gl. (12.20) liefert die harmonische Schwingung in Form einer
zeitlich sinusformigen Auslenkung
sin(0 t + )
x(t) = X

(12.21)

und sowie der Schwingkreisfrequenz 0 (Resonanzmit den Konstanten X


kreisfrequenz)

c
0 =
.
(12.22)
m
Analog dazu ergibt sich folgende Dierentialgleichung f
ur den elektrischen
LC-Schwingkreis (Parallelkreis)
C

d2 u
1
+ u=0.
dt2
L

(12.23)

In Gl. (12.23) bezeichnen C die Kapazitat, L die Induktivitat und u die Spannung an den beiden (parallelgeschalteten) Elementen. Die Losung ergibt sich
analog zu Gl. (12.21)
sin(0 t + u )
u(t) = U
(12.24)
mit

1
0 =
.
LC

(12.25)

Harmonische Oszillatoren werden oft auch direkt als Sinusgeneratoren bezeichnet.


Im Gegensatz zu den harmonischen Oszillatoren dienen die Relaxationsoszillatoren der Erzeugung periodischer Signale mit nicht-sinusformigem Verlauf, insbesondere werden sie zum Generieren von periodischen Rechteck- und
Dreiecksignalen herangezogen. Die Schaltungen von Relaxationsoszillatoren

424

12 Die Messung von Frequenz und Zeit

besitzen als zentrale Komponente einen Komparator mit Hysterese, der im


gleichm
aigen zeitlichen Wechsel seine beiden Ausgangsspannungszustande
+UAmax bzw. UAmax annimmt und damit eine periodische Rechteckspannung erzeugt (Kap. 12.8.4).
12.8.2 Harmonische Oszillatoren
Harmonische Oszillatoren bestehen aus einem Verstarker mit der komple
xen Ubertragungsfunktion
V () und einer R
uckkopplungsschleife (Mitkopp
lung) mit der komplexen Ubertragungsfunktion
K() (Abb. 12.14). Die Gesamt
ubertragungsfunktion des r
uckgekoppelten Systems lautet
UA
V
=
.
UE
1V K

(12.26)

Abb. 12.14. Prinzip einer harmonischen Oszillatoranordnung

Die Schwingbedingung ist erf


ullt, wenn sich f
ur ein verschwindendes Eingangssignal (U E 0) eine harmonische Ausgangsspannung U A mit konstanter
Amplitude einstellt. Die Schwingbedingung ergibt sich aus der Polstelle der
Gesamt
ubertragungsfunktion nach Gl. (12.26)
V K =1.

(12.27)

Wenn man Gl. (12.27) nach Betrag und Phase aufspaltet, ergeben sich zwei
Bedingungen, namlich die Amplitudenbedingung
| V |= | K |1

(12.28)

V + K = 2k ,

(12.29)

und die Phasenbedingung


wobei k eine ganze Zahl ist. Als Beispiel f
ur einen typischen Vertreter eines harmonischen Oszillators wird im folgenden Abschnitt der LC-Oszillator
besprochen.

12.8 Oszillatoren

425

12.8.3 LC-Oszillator
Abbildung 12.15 zeigt einen mit einem Operationsverstarker aufgebauten
LC-Oszillator, der im eingeschwungenen Zustand eine sinusformige Ausgangsspannung mit konstanter Frequenz und Amplitude liefert. Im Weiteren wird
ein idealer Operationsverstarker mit verschwindender Eingangsdierenzspannung (uD = 0) angenommen. Der Oszillator besteht also aus einem Elektrometerverst
arker mit der reellen Verstarkung V = V
V =

UA
,
UC

(12.30)

die sich aus dem Verhaltnis der beiden Widerstande R2 und R3 des Ausgangsspannungsteilers ergibt
R2 + R3
V =
.
(12.31)
R3

Abb. 12.15. Operationsverst


arker-Schaltung eines LC-Oszillators

Andererseits bilden der LC-Parallelschwingkreis, dessen Zweipol-Impedanz


mit Z LC bezeichnet werden soll, und der ohmsche Widerstand R1 einen Span
nungsteiler, welcher die Ubertragungsfunktion
K des R
uckkoppel-Netzwerkes
deniert
K=

UC
Z LC
1
=
=
UA
Z LC + R1
1 + ZR1

LC

=
1+

R1 (1 2 LC)
jL

(12.32)

Entsprechend der Schwingbedingung V K = 1 nach Gl. (12.27) folgt aus


Gl. (12.32)
R2 + R3
1
=1.
(12.33)
2
R
(1
1
0 LC)
R3
1+
j0 L

Gleichung (12.33) ist erf


ullt, wenn der Realteil des Ausdruckes auf der linken
Seite gleich Eins wird und der Imaginarteil verschwindet.

426

12 Die Messung von Frequenz und Zeit

Daraus folgt
R2 + R3
=V =1
R3
und die Resonanzkreisfrequenz 0 des Oszillators
1
0 =
.
LC

(12.34)

(12.35)

ullung von Gl. (12.34) R2 = 0 gewahlt


Wenn also der Widerstand R2 zur Erf
wird, stellt sich eine stabile harmonische Schwingung mit konstanter Amplitude ein. Die Frequenz f0 (Resonanzfrequenz) dieser Spannung betragt gema
Gl. (12.35)
1
1 1

f0 =
0 =
.
(12.36)
2
2 LC
Die diese Schwingung beschreibende allgemeine (d. h. die Schwingbedingung
muss nicht erf
ullt sein) Dierentialgleichung erhalt man, wenn man die Knotengleichung am nicht-invertierenden Eingang des Operationsverstarkers aufstellt, d. h. es m
ussen die drei in den Knoten einieenden Teilstrome von
Kondensator C, Spule L und Widerstand R1 in Summe Null ergeben. Damit
erh
alt man die folgende Dierentialgleichung
  t

uA (t) uC (t)
1
duC (t)



C
uC (t ) dt iL (t0 ) = 0 .
(12.37)
R1
dt
L t0
Mit dem (reellen) Verstarkungsgrad
V =

uA (t)
uC (t)

(12.38)

folgt aus Gl. (12.37) nach Dierentiation


d2 uC
1
1 V duC

+
uC = 0 .
+
dt2
R1 C
dt
LC

(12.39)

uhrt zu folgender Losung


Der f
ur den Oszillatorbetrieb relevante Fall 2 < 02 f
der Dierentialgleichung


et sin
uC (t) = U
(12.40)
02 2 t + uC ,
wobei gilt

1V
.
2R1 C
Demnach hat man die folgenden drei Falle zu unterscheiden:
=

(12.41)

1. V < 1, d. h. > 0
Die Amplitude der Ausgangsspannung nimmt exponentiell mit der Zeit
ab, d. h. die Schwingung ist gedampft.

12.8 Oszillatoren

427

2. V = 1, d. h. = 0
Dies ist der bereits oben behandelte Fall einer Sinusschwingung mit konstanter Amplitude und der Frequenz f0 . Mit diesem Wert f
ur bzw. V
ist die Schwingbedingung exakt erf
ullt.
3. V > 1, d. h. < 0
Bei Verstarkungsgraden V > 1 steigt die Amplitude der Ausgangsspannung exponentiell an. Dieser Zustand ist lediglich in der Einschaltphase (Anschwingphase) erw
unscht. Der exponentielle Anstieg wird automa
tisch durch die daraus resultierende Ubersteuerung
des Verstarkers beendet, woraufhin sich stets automatisch der gew
unschte stabile Zustand
(Verst
arkungsgrad V = 1) einstellt.
12.8.4 Relaxationsoszillatoren
Relaxationsoszillatoren sind auch unter den Namen Multivibratoren bzw. astabile Kippstufen bekannt. Sie sind in der Lage, eine Folge von Dreieck- oder
Rechteckpulsen zu liefern. Die frequenzbestimmenden Komponenten sind Widerst
ande, Kapazitaten oder auch Spannungen. Daher werden Relaxationsoszillatoren oft auch zur Messung dieser Groen eingesetzt, insbesondere in der
Sensortechnik bei der Messung nicht-elektrischer Groen.
Abbildung 12.16 zeigt zwei prinzipielle Schaltungsvarianten von Funktionsgeneratoren zur gleichzeitigen Erzeugung von Dreieck- und Rechtecksignalen.
Bei der Schaltungsvariante nach Abb. 12.16a wird je nach Schalterstellung
ein Kondensator mit dem Konstantstrom +Iref bzw. Iref aufgeladen. Die am
Kondensator anliegende Spannung uC (t) kann am Ausgang des nachgeschalteten Impedanzwandlers abgegrien werden. F
ur das Zeitintervall 0 t T /4
folgt

1 t
1
uC (t) =
Iref dt = Iref t .
(12.42)
C 0
C
A1 des Komparators zur Zeit t = T /4
Nach Erreichen der Schaltschwelle +U
(Abb. 12.16c) wird die Polaritat des Ladestromes gewechselt und der KonA1 entladen. Der Komdensator wird bis auf den negativen Schwellwert U
paratorausgang liefert infolge dieser standigen Polaritatswechsel eine Rechteckspannung uA2 mit der Frequenz f , welche mit der der Dreieckspannung
identisch ist
Iref
f=
.
(12.43)
A1
4C U