Auswertung – Versuch D02b: Michelson Interferometer

2.1 Kennenlernen des Michelson Interferometers

Bei diesem Versuch geht es darum, das Michelson Interferometer (MI) aufzubauen, zu justieren und
zu verstehen. Dazu wird die Anleitung zum Aufbau befolgt, bis das Interferenzbild auf dem Schirm
wie gefordert eingestellt ist.

2.1.1 Auswertung

(A1)

Das für das Michelson Interferometer charakteristische Ringmuster entsteht durch Interferenz. Wie
in Abbildung 1 zu erkennen, teilt sich das Licht im Strahlteiler zwei Strahlen auf, die zu Spiegel 1 und
Spiegel 2 gehen. Von diesem reflektiert gehen sie zurück in den Strahlteiler und gelangen durch die-
sen (bei erfolgreicher Justierung) koaxial zum Schirm.

Da die Kohärenzbedingungen erfüllt sind, kommt es zwischen den beiden Strahlen zu Interferenz.
Das Interferenzbild hängt von dem Phasenunterschied zwischen den beiden Strahlen aus den unter-
schiedlichen Armen ab. Beträgt der Gangunterschied ein Vielfaches der Wellenlänge, kommt es zur
konstruktiven Interferenz, daher der Verstärkung der Strahlen. Sind die Phasen dagegen um 180°
gegeneinander verschoben, kommt es durch destruktive Interferenz zur Auslöschung.

Durch die Konkavlinse zwischen Laser und teildurchlässigem Spiegel wird der Strahl kegelförmig auf-
geweitet, wie in Abbildung 2 zu erkennen. Betrachtet man jeweils die äußeren Strahlen, wie sie in
der Abbildung schematisch dargestellt sind, wird deutlich, wie es zu dem Ringmuster auf dem Schirm
kommt. Je nach dem im Winkel α indem der betrachtete Strahl verläuft (in grün eingezeichnet),
kommt es fortlaufend zu größer werdenden Gangunterschieden, sodass sich (in der Ebene betrach-
tet) abwechselnd konstruktive und destruktive Interferenzen ergeben. Durch die (dreidimensional
betrachtete) Kegelform der Strahlen erhält man somit Ringe.

Abbildung 1: Strahlengang in einem MI [Sch15] Abbildung 2: Schematische Darstellung der

Lichtwege im MI [Sch15]
1
Folgende Parameter haben Einfluss auf deren Ausdehnung:

Durch Verwendung einer Konkavlinse mit einer größeren Aufweitung wird der Kegel insgesamt grö-
ßer, sodass auch das Interferenzbild größer auf dem Schirm zu sehen ist.

Vergrößert man den Abstand des Schirms zum Strahlteiler, haben die Strahlen des „Kegels“ eine län-
gere Strecke die Möglichkeit, auseinander zu laufen. Dadurch wird das Bild auf dem Schirm größer,
die Intensität pro Fläche aber entsprechend geringer.

Die letzte Einflussmöglichkeit auf die Ausdehnung ist, die Armlängen für Strahl 1 und Strahl 2 mög-
lichst genau aneinander anzugleichen. Dadurch erreicht man, dass die „Lichtkegel“ von Strahl 1 und
Strahl 2 ohne Verschiebung ineinander liegen. Nur dort wo sie ineinander liegen gibt es Interferenz.
Dementsprechend ist das Interferenzbild umso kleiner, je größer der Unterschied zwischen den Arm-
längen ist, weil die „Kegel“ dann nicht mit ihrer jeweils maximalen Ausdehnung übereinander liegen.

(A2)

Der erste Ausgang am Michelson-Interferometer ist der Schirm oder die Fotozelle. Durch den Strahl-
teiler gelangen aber auch die Hälfte der Strahlen zurück zum Eingang Richtung Laser.

Sichtbar ist hier, dass am einen Ausgang im Zentrum einer heller Punkt ist, dort also konstruktive
Interferenz stattfindet (siehe Abbildung 4). Gleichzeitig ist am anderen Ausgang in der Mitte ein
dunkler Punkt, dort herrscht also destruktive Interferenz (siehe Abbildung 3). Die Lichtwelle an bei-
den Ausgängen ist also um je π (180°) phasenverschoben.

Abbildung 3: Destruktive Interferenz an Abbildung 4: Konstruktive Interferenz am anderen

einem Ausgang [Mei12] Ausgang [Mei12]

Der Grund liegt in der Tatsache, dass Wellen bei Reflektionen an optisch dichteren Medien einen
Phasensprung von π erfahren, sowie im Aufbau des Strahlteilers (ST). Der besteht aus einem Glas-
körper, auf den von einer Seite eine reflektierende Schicht aufgedampft wurde. Läuft der Lichtstrahl

2
zuerst durch das Glas und kommt dann an die Schicht, findet kein Phasensprung statt. Wird der Licht-
strahl dagegen direkt an der Schicht reflektiert, kommt es zu einem Phasensprung von π. [Röd19, S.5]

Abbildung 5: Aufbau des Versuchs mit eingezeichneten Strahlengängen [Sch15]

Steht der Strahlteiler beispielsweise mit der reflektierenden Schicht Richtung Laser, erfährt der in
Abbildung 5 blaue Strahl am ST einen Phasensprung. Am Mikrometerspiegel (MS) erfolgt ein zweiter.
Der blaue Teilstrahl, der zum Schirm läuft, geht ohne Reflektion durch den ST und somit auch ohne
Phasensprung. Er ist also um 2π gegenüber dem einfallenden Strahl verschoben. Dagegen erfährt der
zum Laser gehende Strahl durch die erneute Reflektion an ST einen dritten Phasensprung zu 3π.

Der rote Teilstrahl durchläuft den ST ohne Reflektion und somit ohne Phasensprung. Erst am Piezo-
spiegel (PS) erfolgt ein Phasensprung. Auf dem Rückweg wird der zum Schirm abgehende Teilstrahl
an der Rückseite der Schicht am ST reflektiert, erfährt also auch keinen Phasensprung. Der andere
Teilstrahl durchläuft den ST wieder ohne Reflektion und Phasensprung und hat daher auch nur insge-
samt einen Phasensprung erfahren.

Der rote Teilstrahl hat auf dem Schirm also eine Phasenverschiebung von π zum ursprünglichen
Strahl, der blaue aber von 2π. Auf dem Schirm ist es zu diesem Zeitpunkt im Zentrum dunkel, da ein
Gangunterscheid von π destruktive Interferenz bedeutet.

Richtung Laser hat der rote Teilstrahl auch nur eine Phasenverschiebung von π, der blaue aber von
3π. Beide Teilstrahlen haben einen Gangunterscheid von 2π, sind also wieder in Phase und interferie-
ren dort konstruktiv.

Steht der ST nun mit der reflektierenden Schicht Richtung PS, erfährt der blaue Strahl zu beiden Aus-
gängen insgesamt nur einen Phasensprung von π am MS. Der rote strahl, der zum Laser zurückgeht,
ist durch die Reflektion am PS auch nur um π verschoben, sodass an diesem Ausgang konstruktive
Interferenz herrscht. Der rote Strahl zum Schirm erhält durch die Reflektion an ST allerdings noch

3
einen zweiten Phasensprung, sodass es durch den Gangunterscheid von π zu destruktiver Interferenz
kommt. In beiden Fällen sind die Interferenzmuster jeweils gegensätzlich zueinander.

Auch der Energieerhaltungssatz wird hier nicht verletzt. Es tritt immer nur konstruktive und destruk-
tive Interferenz gemeinsam auf. Dadurch gibt es immer Orte mit höherer Energie und Orte mit weni-
ger Energie. Die Energie wird also nur umverteilt, aber verschwindet nicht. [Urb06]

2.2 Charakterisierung einer Mikrometerschraube

In diesem Teil des Versuchs wird die Wegänderung Δd einer Mikrometerschraube untersucht, die
Spiegel 1 verschieben kann. Hierzu wird das Interferenzbild anstelle des Schirms auf einen Zähler
(eine Fotozelle mit Schaltung und Display) geleitet. Dieser zählt die hell-dunkel Durchgänge (Anzahl
der Perioden N), die auftreten wenn sich der Gangunterschied im Interferometer kontinuierlich än-
dert.

2.2.1 Messwerte

Tabelle 1: Messwerte zum Versuchsaufbau

Δd in μm 2 ∙ Δd in μm 𝑁 in 1 𝑁 ∙ 𝜆 in μm
0 0 0 0
10 20 39 24,68
20 40 75 47,46
30 60 111 70,24
40 80 148 93,65
50 100 180 113,90
60 120 217 137,32
70 140 250 158,20
80 160 287 181,61
90 180 321 203,13
100 200 354 224,01

Mit 𝜆 = 𝜆𝐻𝑒𝑁𝑒 = 632,8 nm.

2.2.2 Begründung der Wahl der Messabweichungen u

Es ergeben sich bei beiden Messwerten Unsicherheiten. Der Abstand Δd lässt sich über die Mikrome-
terschraube an einer Skala in 10 μm Schritten ablesen. Die Werte sind nur auf ein Viertel der kleins-
ten Einheit ablesbar. Damit ergeben sich u (Δd) = 2,5 μm und dementsprechend u (2 ∙ Δd) = 5 μm.
Gleichzeitig ergeben sich Abweichungen dadurch, dass die Wegänderungen, die die Mikrometer-
schraube herbeiführt, nicht perfekt der Skala entsprechen. Da es bei dem Versuch das Ziel ist die
Güte der Mikrometerschraube zu bestimmen, werden diese Fehler durch die Analyse der Messdaten
betrachtet.

Für die Anzahl der Perioden N mit dem Zähler gibt es eine Vielzahl von Quellen für Unsicherheiten.
Dies wären zum einen Erschütterungen des Versuchsaufbaus, auf die das Interferometer empfindlich
reagiert. Zum Teil reicht das Hauchen mit Atemluft in einen der Interferometerarme aus, um einen
Ausschlag beim Zähler hervorzurufen. Wird auf dem gleichen Tisch während der Messung geschrie-
4
ben, können durch ruckartige Bewegungen auch gleich mehrere Ausschläge kurz hintereinander her-
beigeführt werden. Zum anderen kann es zu Fehlern beim Messgerät selbst kommen. Durch geringe
Intensitäten des Lichts können einzelne hell-dunkel-Durchgänge nicht vom Zähler erfasst werden,
besonders wenn die Mikrometerschraube zu schnell verstellt wird. Es kann dann passieren, dass die
Zeit in der das Interferenzbild sich von hell zu dunkel verändert zu kurz ist, um vom Zähler realisiert
zu werden. Auch sind Fehler in der Steuerung des Zählers möglich und können die Unsicherheit ver-
größern.

Daher wird die Unsicherheit für N auf u (𝑁) = 4 abgeschätzt. Entsprechend ergibt sich:

u (𝑁 ∙ 𝜆) = u (𝑁 ∙ 632,8 nm) = 2,53 μm.

Die Abweichungen werden in folgender Tabelle noch einmal zusammengefasst:

Tabelle 2: Unsicherheiten zu den Messwerten

u (Δd) in μm u (2 ∙ Δd) in μm u (𝑁) in 1 u (𝑁 ∙ 𝜆) in μm

2,5 5 4 2,53

2.2.3 Auswertung

(A3) und (A4)

Im Folgenden wird die doppelte Längenänderung 2 ∙ Δd gegen das Produkt 𝑁 ∙ 𝜆 aufgetragen:

Abbildung 6: Doppelte Längenänderung gegen das Produkt 𝑁 ∙ 𝜆 aufgetragen mit Fitanalyse

Die Ausgleichsgerade über die Messwerte liegt überall in den Fehlergrenzen. Auch durch den R^2-
Wert von circa 0,9994 wird eine große Übereinstimmung des Fits mit den Messwerten deutlich.

Vergleicht man für den letzten Messwert die gemessene Wegänderung mit der soll-Wegänderung
der Mikrometerschraube, ergibt sich folgende Abweichung:
5
 2 ∙ 𝛥𝑑 − 𝑁 ∙ 𝜆 224,01 μm − 200 μm
= = 0,12 ≙ 12 %
2 ∙ 𝛥𝑑 200 μm

Betrachtet man die Steigung der Ausgleichsgerade von 1,133 wird deutlich beträgt die Abweichung
zur Steigung von 1 sogar 13,3 %. Das könnte darauf hin deuten, dass die Skala auf der Mikrometer-
schraube nicht perfekt skaliert ist. Wahrscheinlicher ist aber, dass die vom Zähler gemessenen Perio-
den zu 13 % gar nicht von der Wegänderung durch die Mikrometerschraube, sondern durch Störein-
flüsse zustande kamen.

Nimmt man an, dass die Störeinflüsse in jeden Messwert gleichmäßig eingeflossen sind, lässt sich
aber noch ein weiterer Fehler der Mikrometerschraube beobachten. Es fällt auf, dass die ersten
Messwerte (blau markiert) alle über der Ausgleichsgerade liegen und die hinteren Werte (grün mar-
kiert) unter der Geraden. Die Abweichung bewegt sich zwar innerhalb der Toleranzen und kann da-
her auch durch statistische Abweichungen hervorgerufen worden sein. Es besteht aber die Möglich-
keit, dass die Wegänderung der Mikrometerschraube nicht perfekt linear verläuft, beispielsweise
durch Unrundheiten des Gewindes.

2.3 Charakterisierung Piezo-Stelltrieb

Der Piezo-Stellantrieb verschiebt den Spiegel durch eine Änderung der angelegten Spannung. Die
eingebauten Piezokristalle ändern ihre Form bei Spannungsanlegung, auch der umgekehrte Effekt ist
möglich.

2.3.1 Messwerte

Tabelle 3: Messwerte aufsteigende Spannung

U in V Umin in V Umax in V N in 1 Nmin in 1 Nmax in 1

0,0 0,0 0,2 0 0 1
3,0 2,8 3,2 1 0 2
6,0 5,8 6,2 1 0 2
9,1 8,9 9,3 2 1 3
12,1 11,9 12,3 2 1 3
15,0 14,8 15,2 3 2 4
18,0 17,8 18,2 3 2 4
21,0 20,8 21,2 4 3 5
24,4 24,2 24,6 5 4 6
27,2 27,0 27,4 5 4 6
30,1 29,9 30,3 6 5 7
32,2 32,0 32,4 6 5 7

6
Tabelle 4: Messwerte absteigende Spannung

U in V Umin in V Umax in V N in 1 Nmin in 1 Nmax in 1

32,2 32,0 32,4 0 0 1
29,8 29,6 30,0 0 0 1
27,0 26,8 27,2 1 0 2
23,9 23,7 24,1 2 1 3
20,9 20,7 21,1 2 1 3
18,0 17,8 18,2 3 2 4
15,0 14,8 15,2 3 2 4
11,9 11,7 12,1 4 3 5
7,7 7,5 7,9 5 4 6
4,9 4,7 5,1 5 4 6
2,7 2,5 2,9 6 5 7
0,0 0,0 0,2 6 5 7

2.3.2 Begründung der Wahl der Messabweichungen u

Die Messunsicherheiten werden bei dem spannungsgesteuerten Piezokristallspiegel abgeschätzt. Das

Spannungsmessgerät gibt die Spannung auf eine Nachkommastelle genau an, sodass dort bereits
eine Rundungsunsicherheit von 0,05 V zustande kommt. Da es aber vorkommt, dass die Anzeige zwi-
schen zwei Werten hin- und herspringt, wird die Messunsicherheit etwas größer auf 0,2 V abge-
schätzt.

Bei der Fotozelle ist das Angeben der Messunsicherheit wie auch in Versuch 2.2 etwas komplizierter.
Es muss unterschieden werden zwischen der Messunsicherheit durch die Fotozelle selbst und äuße-
ren Einflüssen wie Erschütterungen (siehe Abschnitt 2.2.2). Insgesamt wird Fotozellenmessunsicher-
heit hier auf u (𝑁) = 1 abgeschätzt. Diese Abschätzung weicht von der in Versuch 2.2 ab, da bei die-
sem Versuchsteil die Messwerte in kürzeren Zeitabschnitten aufgenommen wurden und dadurch
weniger fehlerhafte Ausschläge des Zählers auftreten konnten. Außerdem wurde aufgrund der gerin-
gen Anzahl an Ausschlägen besser darauf geachtet, Störeinflüsse möglichst zu vermeiden.

2.3.3 Auswertung

In Folgendem wird die Spannung U gegen die Anzahl der Perioden N aufgetragen:

7
Abbildung 7: Messwerte mit Fitanalyse bei der Spannungsverringerung auf 0 V

Ein Hystereseeffekt lässt sich anhand der ermittelten Messwerte nicht ausreichend deutlich erken-
nen (vgl. Abbildung 7 und 9), da die Messwerte sich nur ändern, wenn der Kristall sich im Bereich der
halben Lichtwellenlänge bewegt. So kommt es zu einer undeutlichen Abstufung der Messwerte.

Piezoelemente haben, bei genauerer Messung, einen Hystereeffekt, da beim Anlegen der Spannung
Sättigungseffekte auftreten. Beim Herunterregeln der Spannung bleibt eine gewisse Remanenzaus-
dehnung zurück, die erst bei sehr geringen Spannungen verschwindet (siehe Abbildung 7). Der Hyste-
reseeffekt fällt mit einem maximalen Unterscheid von ungefähr 11% gering aus, sodass er mit unse-
ren Messwerten nicht erkennbar ist. [Pie15, S. 7]

Abbildung 8: Hystereseeigenschaft von Piezoelementen [Pie15, S. 7]

8
Abbildung 9: Messwerte mit Fitanalyse bei der Erhöhung der Spannung bis 32 V

Bei der Betrachtung von Abbildung 9 lässt sich erahnen, dass die Ausdehnung des Piezokristalls nicht
linear ist. Auch hier sind unsere Messwerte aber zu stufenförmig, um dies zu erkennen, sodass in
guter Näherung von Linearität gesprochen werden kann.

3. Literatur
[Sch15] Dr. Rüdiger Scholz und Kim-Alessandro Weber: Michelson-Interferometer, Leibniz
Universität Hannover, Juni 2015, https://www.praktikumphysik.uni-hannover.de
/fileadmin/praktische-physik/AP/Versuche/Neue/A/D02a_Michelson_
Interferometer.pdf (Zugriff am 08.12.2019)

[Mei12] Jürgen Meier: Michelson Interferometer, 2012, http://www.3d-meier.de/tut15/

Seite830.html (Zugriff am 08.12.2019)

[Röd19] F. Röder: Mach-Zehnder-Interferometer, Technische Universität Dresden, Fakultät

Physik (Physikalisches Grundpraktikum), 2019, https://tu-dresden.de/mn/physik/
ressourcen/dateien/studium/lehrveranstaltungen/praktika/pdf/IF2?lang=de
(Zugriff am 08.12.2019)
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[Urb06] Christoph Urbanek: Energie bleibt bei destruktiver Interferenz erhalten, 2006,
https://sciencev1.orf.at/ays/143381.html (Zugriff am 08.12.2019)

[Pie15] Piezosystem Jena GmbH: Piezoline, Jena, 2015, https://www.piezosystem.de/

fileadmin/redakteure/bilder/Sonstige/Piezofibel/Piezoline-piezosystem-jena.pdf
(Zugriff am 08.12.2019)

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