Beruflich Dokumente
Kultur Dokumente
von
ultrakurzen elektromagnetischen
Pulsen
Anwendungen:
THz-Spektroskopie in der Zeitdomane
und
INAUGURAL-DISSERTATION
zur
Erlangung des Doktorgrades
der Fakultat fur Physik
der
Albert-Ludwigs-Universitat Freiburg i. Brsg.
vorgelegt
von
Carsten Winnewisser
Dekan:
Leiter der Arbeit:
Referent:
Koreferent:
zu Kapitel 3 und 4
zu Kapitel 5
Zusammenfassung
Diese Arbeit behandelt die Entwicklung eines elektrooptischen (eo) Detektors zum Nachweis sich frei ausbreitender gepulster Terahertz (THz) Strahlung
(THz-Pulse). Anhand der elektrooptischen Kristalle LiTaO3 , LiNbO3 und ZnTe
wird das neuartige eo-Detektion Verfahren vorgestellt, welches gleichzeitig von
drei Forschungsgruppen entwickelt wurde: von F. Heinz und Mitarbeiter an der
Columbia University, New York, NY, USA [77] der Gruppe von X.-C. Zhang
an dem Rensselaer Polytechnic Institute, Troy, NY USA [122] und von unserer
Freiburger Gruppe [56].
Mit ZnTe als geeignetstem eo-Detektionskristall wurde ein in der Zeitdomane
arbeitendes Terahertz-Spektrometer1 aufgebaut. Mit diesem Spektrometer, welches den Frequenzbereich von 100 GHz bis 2 THz abdeckt, konnten erstmalig Messungen mittels elektrooptischer Detektion2 durchgefuhrt werden. Folgende Proben wurden untersucht: Chlorwasserstogas, dielektrische Materialien, wie z.B. HDPE und Te
on, Photonische Kristalle und frequenz-selektiveKomponenten, insbesondere dichroitische Filter und deren Kombinationen zu
Bandpaltern. Es gelang erstmalig die Herstellung und Charakterisierung dichroitischer Filter mit Grenzfrequenzen oberhalb von 1 THz. Einige Ergebnisse
der eos-THz-TDS wurden mit einem Fourier Transform (FT) Spektrometer
bereinstimmung gefunden. Ein weiterer interessanter
uberpruft und engste U
Aspekt bei der Untersuchung dichroitischer Filter, die eine zweidimensionale Anordnung von Hohlleitern darstellen, ist die zeitaufgeloste Messung des
Transmissionsverhaltes der elektromagnetischen (em) Strahlung unterhalb der
Grenzfrequenz, also in der evaneszenten Region der Filter.
Neben dem extrem breitbandigen Mebereich von einigen THz bietet die eoDetektion die Moglichkeit einer zweidimensionalen Aufnahme der THz-Pulse in
Echtzeit, welche in dieser Arbeit durchgefuhrt wurde.
TDS) bezeichnet
Inhaltsverzeichnis
1 Einleitung
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
2.6
2.7
Einfuhrung . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lasersystem . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
THz-Puls Erzeugung und Ausbreitung . . . .
Die Dynamik der Ladungstrager in GaAs . .
Elektrisches Ober
achenfeld am THz-Emitter
Raumliches Prol am THz-Emitter . . . . . .
THz-Puls Propagation im freien Raum . . . .
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3.1 Einfuhrung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.2 eo-Detektor-Entwicklung . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.2.1 Der Pockels-Eekt . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.2.2 Der elektrooptische Modulator . . . . . . . . . . .
3.2.3 Elektrooptische Detektion von THz-Pulsen . . . .
3.2.4 Phasenschieber zwischen gekreuzten Polarisatoren
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SOS-Detektor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
LiTaO3 als elektrooptischer Detektions-Kristall . . . . . . . . . .
eo-Detektion in LiTaO3 , LiNbO3 und ZnTe . . . . . . . . . . . .
Soleil-Babinet Kompensator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Polarisations Charakteristik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Messung der THz-Feldstarke Verteilung . . . . . . . . . . . . . .
eo-sampling THz Time-Domain Spektrometer . . . . . . . . . . .
4.7.1 Optische Pumpenergie und angelegte gepulste Hochspannungscharakteristik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.7.2 Abhangigkeit der Intensitatsanderung des Probe-Pulses
von der optischen Vorspannung . . . . . . . . . . . . . . .
4.7.3 Bestimmung der THz-Feldstarke anhand der erzielten Phasenverzogerung in ZnTe . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
i
7
9
12
12
14
15
15
20
20
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22
28
29
33
38
39
40
44
48
51
57
61
62
63
65
ii
INHALTSVERZEICHNIS
67
115
5.1
5.2
5.3
5.4
5.5
Einfuhrung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
Konzept der THz-Spektroskopie in der Zeitdomane . . . . . . . . 68
Rotationsspektrum von HCl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
Dielektrische Materialien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
Frequenz-selektive Komponenten . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
5.5.1 Quasi-optische Filter und ihre elektrischen Ersatzschaltbilder . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
5.5.2 Elektromagnetische Felder in Hohlleitern . . . . . . . . . 79
5.5.3 Chen'sche Transmissionstheorie fur frequenz-selektive Komponenten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 86
5.5.4 Dichroitische Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
5.5.5 Kreuzschlitz Bandpalter . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
5.5.6 Transmissions- und Phasenmessungen frequenz-selektiver
Komponenten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
5.5.7 Bestimmung der frequenzabhangigen Phasen- und Gruppengeschwindigkeiten in dichroitischen Filtern . . . . . . . 104
5.6 Photonische Kristalle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108
6.1
6.2
6.3
6.4
6.5
Einleitung . . . . . . . . . . . . .
Zweidimensionale Detektion . . .
Auswertung eo-Detektionsbilder .
Messung des THz-Strahlprols .
Ausblick . . . . . . . . . . . . . .
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116
119
119
122
124
B Gruppenindex in ZnTe
126
127
D Hochspannungsquelle
129
E Dielektrische Materialien
133
F HDPE-Optik
136
Abbildungsverzeichnis
1.1 Prinzip der zeitaufgelosten Terahertz Spektroskopie . . . . . . . .
1.2 THz-Puls in der Zeit- und Frequenzdomane . . . . . . . . . . . .
1.3 Historische Meilensteine in der Mikrowellen-, Ferninfrarot- und
Infrarot-Spektroskopie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
2.6
2.7
2
3
4
Lasersystem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
Einzelschu-Autokorrelationssignal . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
Wellenlangenspektrum des Laserpulses . . . . . . . . . . . . . . . 11
Bandstruktur von GaAs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
Geometrie eines THz-Emitters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
THz-Puls Formen in unterschiedlichen Abstanden zum THz-Emitter 17
Strahldurchmesser fokusierter und unfokusierter THz-Pulse . . . 18
25
28
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5
4.6
4.7
4.8
4.9
4.10
4.11
39
41
42
43
44
46
48
50
52
52
53
Messaufbau . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Sattigungsverhalten des THz-Pulses . . . . . . . . . .
Messaufbau . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Erste elektrooptische THz-Puls Messungen . . . . . .
eo-Detektionssignale in verschiedenen eo-Kristallen . .
THz-Pulsformen in verschiedenen eo-Kristallen . . . .
Soleil-Babinet Kompensator . . . . . . . . . . . . . . .
Malus'sches Gesetz im optischen Bereich . . . . . . . .
Transmission von Polarisationsgittern . . . . . . . . .
Transmissionseigenschaften von Polarisationsgittern .
Polarisationsgitter; Malus'sches Gesetz im FIR-Bereich
iii
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31
31
33
35
37
iv
ABBILDUNGSVERZEICHNIS
4.12
4.13
4.14
4.15
4.16
4.17
4.18
4.19
4.20
4.21
4.22
54
55
55
57
58
59
60
61
63
64
66
ABBILDUNGSVERZEICHNIS
5.22
5.23
5.24
5.25
5.26
5.27
5.28
5.29
5.30
5.31
5.32
5.33
5.34
5.35
6.1
6.2
6.3
6.4
6.5
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118
120
121
122
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129
130
131
131
132
vi
ABBILDUNGSVERZEICHNIS
Tabellenverzeichnis
2.1 Parameter von GaAs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
3.1 Kristalle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
4.1 Parameter der elektrooptischen Kristalle . . . . . . . . . . . . . . 45
4.2 Experimentelle und simulierte Phasenverzogerungssignale in LiTaO3 ,
LiNbO3 und ZnTe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
4.3 Polarisationsgitter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
5.1 Parameter der frequenz-seletiven Komponenten . . . . . . . . . . 96
vii
Kapitel 1
Einleitung
Diese Arbeit ist im Gebiet der Optoelektronik anzusiedeln. Die Optoelektronik
{ auch als Photonik bezeichnet { verknupft die Gebiete der Optik, der Elektronik und der Materie. In dieser Arbeit wird eine optoelektronische Dipolantenne
durch Bestrahlung mit einem optischen kurzen Laserpuls bei = 800 nm zur
Emission ferninfraroter Strahlungspulse angeregt. Detektiert werden diese sogenannten THz-Pulse elektrooptisch.
berblick der wesentlichen Komponenten
Abb. 1.1 gibt einen vereinfachten U
eines in der Zeitdomane arbeitendes THz-Spektrometers, bestehend aus dem
optischen Kurzpuls-Laser, dem THz-Emitter und der Detektionseinheit.
Als Kurzpulslaser wird ein Ti:Saphir Laser mit den in Abb.1.1 angebenen
Charakteristiken verwendet. Die Pulse werden an einem Strahlteiler in einen
Pump- und Probe-Puls aufgespalten. Der Pump-Puls erzeugt in einem Emitter
(Halbleitermaterial) den THz-Puls, welcher nach Propagation im freien Raum
vom Probe-Puls mittels einer Verzogerungsstufe in der Detektionseinheit abgetastet wird. Als Detektionsverfahren bieten sich verschiedene Moglichkeiten an,
wobei in dieser Arbeit die neuartige eo-Detektion entwickelt und benutzt wurde.
In der Detektionseinheit wird der elektrische Feldvektor des THz-Pulses ETHz (t)
in der Zeitdomane registriert, siehe Abb. 1.2. Durch eine Fourier-Transformation
wird dieses Signal von der Zeit- in die Frequenzdomane transformiert. Hierbei werden die spektralen Eigenschaften des THz-Pulses in Form des Betrages
vom elektrischen Feld jETHz ( )j und der zugehorigen Phase ( ) sichtbar, vgl.
Abb. 1.2.
KAPITEL 1.
EINLEITUNG
ler und P. Uhd Jepsen beschrankte sich hauptsachlich auf die Unterstutzung im
Labor [45].
Die verschiedenen THz-Puls Detektionsverfahren sind Gegenstand des Kapitels 3, in dem die eo-Detektion im Detail dargestellt wird.
Kapitel 4 zeigt die ersten eo-Detektionsmessungen an LiTaO3 , LiNbO3 und
ZnTe. Diese Experimente sind in enger Zusammenarbeit mit P. Uhd Jepsen
wahrend seines Forschungsaufenthaltes in Freiburg 1995 entstanden. Seine Expertise und Computer-Meprogramme haben uns THz-Puls Anfangern in Freiburg einen guten Start auf dem Gebiet der zeitaufgelosten THz-Spektroskopie
gesichert. Aus dieser Zusammenarbeit sind die Veroentlichungen [57, 56, 111]
entstanden. Das Kapitel 4 schliet mit der Charakterisierung des entwickelten
eos-THz-TD Spektrometers ab.
Zeitaufgeloste THz-Spektroskopie zur Untersuchung von Gasen, dielektrischen
Medien, frequenz-selektiven-Komponenten und Photonischen Kristallen wird in
Kapitel 5 vorgestellt. Die Veroentlichungen, die aus diesen Arbeiten entstanden sind, wurden gemeinsam mit F. Lewen, 1. Physikalisches Institut, Universitat zu Koln und J. Weinzierl, Lehrstuhl fur Hochfrequenztechnik Universitat
Erlangen-Nurnberg geschrieben [112, 114, 113].
In Kapitel 6 wird gezeigt, wie die eo-Detektion zu einem Abbildungsverfahren
erweitert werden kann. Dabei wurden die THz-Pulse in Echtzeit zweidimensional detektiert.
KAPITEL 1.
EINLEITUNG
Historischer Abri
Dieser kurze historische Abri soll die mageblichen Entwicklungen der Spektroskopie zwischen Mikrowellen- und Infrarot-Bereich wiedergeben. Ferner soll er
illustrieren, wie sich die Hochfrequenzelektronik, d.h. die Mikrowellen- und die
optische Spektroskopie im elektromagnetischen (em) Spektrum frequenzmaig
aufeinander zu bewegt haben und inzwischen im THz-Bereich vollkommene
berlappungsbereich wird seit Mitte der
U berlappung erzielt haben. Dieser U
achziger Jahre durch die zeitaufgeloste THz-Spektroskopie (THz-TDS) erganzt,
vgl. Abb. 1.3.
1887 durch Heinrich Hertz Beweis erbracht, da elektromagnetische Wellen
existieren [51, 52]. Hertz erzeugte damals Wellenlangen in der Groenordnung
von 50 bis 600 cm (MHz-Bereich) und bewies damit die von Maxwell 1862 vorgestellte Theorie der elektromagnetischen Wellen.
~ [cm-1]
3x10
-4
3x10
-3
3x10
-2
3x10
-1
3x10
3x10
3x10
3x10
1880
1900
Hertz
Michelson/Morely
Radar
Freq. Multipliers
Magnetron
Maser
laser
pulsed Ruby-Laser
grating spectrometer
FTMW
FT
Auston-Switch
THz-TDS
eo-sampling THz-TDS
Year
1920
1940
1960
1980
2000
98100701.opj
10
-5
10
-4
10
-3
10
-2
10
-1
10
10
10
[THz]
5
von Linienspektrum und seiner Fourier-Transformierten (FT) hin [84]. Hiermit
war der Grundstein der Fourier-Transform-Spektroskopie (FTS) gelegt, die jedoch in der Praxis vorerst wegen des dabei anfallenden Rechenaufwands keine
unmittelbare Anwendung fand.
1935 wurde in England das Magnetron entwickelt, dessen potentielle und
strategische Anwendungsmoglichkeiten von den Englandern und Amerikanern
erkannt wurde. Wahrend des zweiten Weltkrieges wurden am Massachusetts Institute of Technology (MIT) die Entwicklungsarbeiten des Radars unter anderem von den Molekulspektroskopikern W. Gordy und C. Townes durchgefuhrt.
Nach dem Ende des zweiten Weltkrieges, dessen Ausgang entscheidend vom
Radar mitbestimmt wurde, setzte man die Technologie in der Festkorper- und
Molekulspektroskopie ein. Es entwickelte sich die Rotationsspektroskopie im
unteren GHz-Bereich (S and X-Bands). W. Gordy erreichte 1950 mit Hilfe der
Frequenzvervielfachung den mittleren GHz-Bereich [38].
Die beiden Disziplinen Mikrowellen- und Gitterspektroskopie bewegten sich
auf der Frequenzskala aufeinander zu und so wurde von W. Gordy [14] und L.
Genzel [34] in den funziger Jahren der Uberlapp
der beiden Disziplinen an der
Messung eines Rotationsubergangs von H2 S gezeigt. Zur gleichen Zeit erlebte
die Fourier-Transform-Spektroskopie eine Renaissance mit der Entwicklung von
Rechenanlagen und dem Fast-Fourier-Algorithmus. In der Folgezeit wurde die
Gitterspektroskopie aufgrund des Multiplex- und Lichtleitwert- Vorteils der FTS
verdrangt [43].
Der Entwicklung des gepulsten Lasers 1965 mit Zeitdauern im PicosekundenBereich [76] folgten immer weitere Kurzpulsrekorde bis hin zum Femtosekunden
Laser. Mit dem Ziel moglichst schnelle optoelektronische Schalter zu entwickeln,
wurden Halbleitermaterialien mit Ultrakurzpuls-Lasern kombiniert. Dies fuhrte
zu der eher zufalligen Entdeckung [78], da diese optisch angeregten Schalter
extrem kurze em-Pulse abstrahlen. Die mageblichen Arbeiten wurden von D.
Auston bei Bell Telephone Laboratories durchgefuhrt [4].
In Analogie zu den historischen Arbeiten von H. Hertz verwendete Auston
et al. einen optoelektronischen Schalter als Miniatur-Dipolantenne, die in den
freien Raum abstrahlt. Dadurch gelang es ihnen, die ersten frei propagierenden
elektromagnetischen Pulse mit Zeitdauern von ca. 1 ps zu erzeugen [5].
Die erste Anwendung dieser frei propagierenden Pulse als breitbandige Strahlungsquelle im Ferninfrarot-Bereich wird 1989 bei IBM von Grischkowsky et al.
durch die Terahertz Time-Domain Spectroscopy (THz-TDS) an Wasserdampf
im Bereich von 0.2 bis 1.45 THz demonstriert [104]. In der Zwischenzeit wurde die THz-TDS zur Messung von Gasen [48], dielektrischen Materialien und
Halbleitern [41], supraleitenden Materialien [79], Flussigkeiten [80, 100] und
Flammen [18] ausgeweitet.
Die THz-TD-Spektroskopie war jedoch nicht die erste zeitau
osende Technik, denn seit Ende der siebziger Jahre konnte sich die zeitau
osende Fourier
KAPITEL 1.
EINLEITUNG
Kapitel 2
KAPITEL 2.
kann durch Skalieren der aktiven Antennen
ache und der optischen Pump-Puls
Leistung, die Gesamtanzahl der generierten Photoladungstrager im Halbleiter
um einen Faktor von ca. 107 gesteigert werden und damit auch die Energie der
abgestrahlten THz-Pulse auf ungefahr 0.5 nJ.
In dieser Arbeit kommen ausschlielich gro
achige Halbleiterantennen zum
Einsatz, da zur erstmaligen Demonstration der elektrooptische Detektion groe
elektrische Feldstarken favorisiert wurden [57, 122]. Desweiteren sind auch hohe
elektrische Feldstarken in Hinsicht auf die zweidimensionale Detektion (Kap. 6)
von Vorteil.
Im weiteren Verlauf dieser Arbeit wird die gro
achige Halbleiterantenne
bestehend aus GaAs mit aufgebrachten Elektroden als THz-Emitter bezeichnet.
Wichtig fur die Entstehung eines spektral breitbandig (hochfrequenten) elektrischen Pulses ist die moglichst schnelle Bereitstellung von Ladungstragern im
Leitungsband, d.h. man benotigt einen moglichst kurzen Pump-Laserpuls. In
der vorliegenden Arbeit wurde als Laserquelle ein kommerzielles femtosekunden Lasersystem verwendet, welches im folgenden Abschnitt 2.2 kurz vorgestellt
wird. In den darauolgenden Abschnitten werden die relevanten theoretischen
Aspekte des hier benutzten THz-Emitters besprochen.
2.2.
LASERSYSTEM
2.2 Lasersystem
Zur Erzeugung der THz-Pulse wurde ein kommerzielles Femtosekunden-Lasersystem verwendet. Es handelt sich dabei um einen Titan:Saphir-Oszillator (NJA5) und einen regenerativen Titan:Saphir-Verstarker (TRA-1000) der Firma ClarkMXR. Ausfuhrlich ist dieses System in der Disseration von V. Schyja beschrieben [93]. Aus diesem Grunde wird hier nur eine kurze Zusammenfassung des
Systems gegeben.
Das Grundprinzip dieses regenerativen Lasersystems besteht in der zeitlichen Pulsaufweitung und Verstarkung gefolgt von einer Pulskompression, vgl.
Abb. 2.1. Ein erster Titan:Saphir-Oszillator fungiert als Masterlaser, der die im
sogenannten regenerativen Verstarker (Slavelaser) bereitgestellte Besetzungsinversion abbaut und hierdurch verstarkt wird. Der Puls erzielt wird dabei ein
Verstarkungsfaktor von ca. 105 .
Problematisch sind die hierbei erzielbaren Intensitaten von ca. 10 GW, die
das Lasermedium des Slavelasers, durch nichtlineare Eekte, die zu einem Zusammenbruch der Transparenz3 des Kristalls fuhren und diesen zerstoren wurden
[95]. Aus diesem Grunde arbeitet das System nach dem Prinzip des chirped pulse amplication (CPA) 4 [97]. Dies bedeutet, da der zu verstarkende fsec-Laserpuls im sogenannten Stretcher in einen ca. 0.5 ns langen Laserpuls aufgeweitet wird. Dieser zeitlich gestreckte Puls kann im regenerativen
Verstarker aufgrund der vergleichsweise geringen Intensitat ohne Zerstorung
des Titan:Saphir Kristalls verstarkt werden. Im sogenannten Kompressor wird
der verstarkte Puls wieder zu einem 100 fs Puls zeitlich rekomprimiert, und
besitzt eine Energie von ca. 1 mJ, was einer Leistung von 10 GW entspricht.
Dieses leistungsfahige Lasersystem liefert folgende Ausgangsdaten:
In Abb. 2.2 ist ein Einzelschu Autokorrelationssignal des regenerativ verstarkten fsec-Laserpulses dargestellt. Die Pulsbreite betragt p = 108 fs bei einer
Zentralwellenlange von z = 800 nm, siehe Abb. 2.3. Mit diesen Einstellungen
des Lasersystems wurden die Messungen in dieser Arbeit durchgefuhrt, es sei
denn es ist anders vermerkt.
3 im Englischen als optical breakdown bezeichnet
4 in Analogie zum Schall bedeutet chirped in diesem Zusammenhang, da die einzelnen
Frequenzen nicht in Phase sind, sondern sich zeitlich gegeneinander verzogert ausbreiten.
Dies bedeutet z.B. beim Schall, da sich die Tonhohe von hohen zu tiefen Frequenzen andert
(negative chirp).
10
KAPITEL 2.
Abbildung 2.1: Prinzip des regenerativen Titan:Saphir Lasersystems von ClarkMXR. Grak entnommen aus [115].
Intensity [a.u.]
1,0
0,5
108 fs
0,0
-400
-200
t [fs]
200
400
98122901.opj
2.2.
11
LASERSYSTEM
1,0
Intensity [a.u.]
0,8
0,6
FWHM
0,4
0,2
0,0
97120302.opj
760
780
800
820
840
[nm]
Abbildung 2.3: Wellenlangenspektrum des regenerativ verstarkter Laserpulses. Die Zentralwellenlange liegt bei 800 nm und besitzt eine Halbwertsbreite
(FWHM) von w = 14 nm.
12
KAPITEL 2.
und die beugungsbedingte Ausbreitung der spektralen elektrischen FeldKomponenten im freien Raum.
Diese Aspekte sind in der Diplomarbeit von A. Gurtler ausfuhrlich bearbeitet worden [44] und werden hier nur zusammenfassend wiedergegeben.
Als Halbleitermaterial mu ein Material gewahlt werden, dessen Bandabstand kleiner ist als die optische Energie des Pump-Laser-Pulses. Die Ladungstrager mit hohen Beweglichkeiten im Leitungsband sind unerlalich, um kurze
elektrische Pulse (THz-Pulse) zu erzeugen. Das Material sollte einen hohen spezischen Widerstand besitzen, damit groe elektrische Feldstarken an den Elektroden angelegt werden konnen. Und nicht zuletzt sollte das Material einfach zu
beziehen und kostengunstig sein. Diesen Anforderungen entspricht undotiertes,
hochohmiges GaAs am besten.
Der hier eingesetzte THz-Emitter besteht aus einem GaAs-Wafer, auf dem
1-2 cm lange Kupferelektroden in einem Abstand von 1 cm mit einer Mischung
aus Sekundenkleber und Leitsilber aufgebracht sind5. Ein Prototyp eines solchen THz-Emitters ist im Anhang in Abb. D.5 gezeigt. Die 'aktive' Flache der
Antenne wird durch die Apertur des Pump-Pulses bestimmt, und betragt 1 cm
falls nicht anders beschrieben. Genaueres ndet sich dazu im Anhang D.
onstarke unabhangig von der Orientierung des Wafers im Falle einer extern angelegten Hochspannung ist [10]. Dies steht im Gegensatz zu nicht elektrisch vorgespannten Wafern [88].
2.4.
13
DIE DYNAMIK DER LADUNGSTRAGER
IN GAAS
abgestrahlte THz-Feld. Wie in Abb. 2.4 dargestellt, besitzt GaAs einen Bandabstand von Eg = 1:43 eV bei Raumtemperatur. Damit haben die erzeugten
Ladungstrager eine U berschuenerige von ca. 120 meV, die das zeitliche Verhalten der Ladungstragerbeweglichkeit bestimmt. In der Literatur sind einige
Experimente zur Bestimmung der Ladungstragerdynamik beschrieben, jedoch
sind die Ergebnisse leider nicht direkt auf unseren konkreten Fall zu u bertragen
[44].
Abbildung 2.4: Der Bandabstand bei GaAs betragt 1.43 eV. Ladungstrager werden mittels eines 100 fs Laser-Pulses h = 1:55 eV vom Valenzband ins Leitungsband angeregt.
Die Materialparameter der GaAs-Wafer sind in Tabelle 2.1 zusammen gefat.
Kristallstruktur
Zinkblende
Orientierung
< 100 >
Bandabstand Eg
1,43 eV = 867
Gleichgewichtsbeweglichkeit dc
6 103
spezischer Widerstand
> 107
Lebensdauer der Photoladungstrager car
350
Dicke der Wafer
508
Brechungsindex n bei 0.5 THz
Absorption
nm
cm2 /Vs
cm
ps
m
3.54 [91]
5 cm 1[91]
14
KAPITEL 2.
ET Hz;in(t) = Eb
s (t)0
p
s (t)0 + 1 +
(2.1)
e(1 R)
s (t) =
h!
Zt
t t0
car
(2.2)
Hier stellt R die optische Re
ektivitat des GaAs, (t) die Beweglichkeit der
Ladungstrager, Iopt die optische Pumpintensitat und car die Lebensdauer der
Ladungstrager dar.
In einem einfachen Modell wachst die Beweglichkeit exponentiell von einem
Anfangswert i auf ihren Gleichgewichtswert dc an, der typischerweise nach
einigen Picosekunden erreicht wird [40, 99]:
i )e
(2.3)
2.6.
RAUMLICHES
PROFIL AM THZ-EMITTER
15
THz-Pulsformen lat sich aber eine phanomenologische Anstiegszeit fur die Ladungstragerbeweglichkeit von 600 fs abschatzen [44]. Momentan wird die Ladungstragerdynamik von M. Schall und P. Uhd Jepsen in einem Pump-Probe
Experiment bestimmt, aus denen Aufschlusse uber die tatsachliche Ladungstragerbeweglichkeit (t) erwartet werden.
Desweiteren erkennt man anhand von Gl. (2.1), da mit steigender Pumpleistung Iopt die elektrische Feldamplitude ET Hz ihren Sattigungsbereich erreicht.
Dieser Sachverhalt konnte experimentell bestatigt werden, vgl. Abb. 4.20. Ferner ist aus Gleichung (2.1) ersichtlich, da bei der optischen Sattigung das
emittierte elektrische Feld ET Hz die Groenordnung des Vorspannungsfelds Eb
erreichen sollte. Diese Ergebnisse konnten im Experiment von Darrow et al.
veriziert werden [23].
16
KAPITEL 2.
spielen [36]. So mu z.B. je nach gewahlter Pump-Puls Apertur die Beugung
der THz-Pulse an den Elektroden berucksichtigt werden.
eikr0
1Z
0
E (x ) 0 cos(n; r0 ) df 0 :
E (x) =
i A
r
(2.5)
Das von der Emitterober
ache abgestrahlte Feld stellt im Punkt
x eine Uber0
ikr
lagerung aus verschieden stark gewichteten Kugelwellen e r0 mit Amplitude
E (x0 ) dar. Diese sind mit einem Richtungsterm cos(n; r0 ) moduliert, der die
Abstrahlung in Vorwartsrichtung begunstigt.
Aufgrund der zeitlich sehr scharfen Anstiegs
anke besitzt der abgestrahlte em-Puls ein charakteristisches Frequenzspektrum, welches sich bis in den
Terahertz Bereich erstreckt. Deshalb mu man bei der Beschreibung der PulsAusbreitung von einer polychromen Version des Huygens Prinzips ausgehen.
Diese erhalt man durch Fourier Transformation der Rayleigh-Sommerfeldsche
Beugungsformel die in der Zeitdomane als breitbandiges Huygens-Fresnel Integral bezeichnet wird [37]:
E (x; t) =
cos(n; r0 ) d
E (x0 ; t
A 2cr 0 dt
r0 ) df 0
c
(2.6)
2.7.
17
In Abb. 2.6 sind drei THz-Puls Formen bei verschiedenen Abstanden z vom
THz-Emitter dargestellt. Aus Darstellungsgrunden sind die THz-Pulse relativ
zueinander auf der Zeitachse verschoben wurden. Im Nahfeld (z=11 mm) des
THz-Emitters ist ein in der Zeit gedehnter Puls mit einer Schulterstruktur zu
erkennen, die bei ca. 3.7 ps nach dem Hauptpuls auftritt. Die elektrischen Felder dieser Schulter entstehen an den Randern der Elektroden, wo das Ober
achenfeld Eb (x = l) maximal erhoht ist. Diese Felder besitzen gegenuber den
Feldkomponenten, die im Zentrum des THz-Emitters entstehen, eine groere
Laufzeit von ca. 3.6 ps zum Detektor. Je weiter der Detektor vom THz-Emitter
entfernt ist, desto geringer fallen die Laufzeitunterschiede zwischen zentralen
und an den Elektroden erzeugten elektrischen Feldern ins Gewicht, d.h. der
Winkelterm in Gl.(2.6) wird vernachlassigbar.
2,0
Experimental results
Scalar diffraction theory
1,5
z = 11 mm
1,0
z = 20 mm
0,5
z = 81 mm
0,0
99030602.opj
10
12
14
16
18
20
Abbildung 2.6: THz-Puls Formen bei unterschiedlichen Abstanden z zum THzEmitter, entnommen aus [44].
Man erkennt auch an Gl.( 2.6), da im Fernfeld die skalare Darstellung des
elektrischen Feldes proportional zur zeitlichen Ableitung des Ober
achenfeldes
ist. Dieses Ergebnis ist konsistent mit den Arbeiten von Taylor et al. die das
elektrische THz-Feld aus den Maxwellschen Gleichungen rein fur das Fernfeld
abgeleitet haben [99].
Vergleich man den dritten THz-Puls aus Abb. 2.6 mit dem in Abb. 1.2 dargestellten THz-Puls, so erkennt man einen deutlichen Unterschied der Pulsformen,
obwohl beide Pulse im Fernfeld detektiert wurden. Der Grund fur die bipolare7
THz-Pulsform in Abb. 1.2, liegt darin begrundet, da dieser Puls fokusiert wurde. Bei der Fokusierung eines Pulses werden die hochfrequenten Komponenten
(kleine Wellenlange) gema der Gauschen Optik besser fokusiert als die nie7 die THz-Feldamplitude schwingt von positiven zu negativen Werten durch
18
KAPITEL 2.
wunfocused = w0 1 +
v
u
u
t
cL 2
w02
cL
w02
=
1+
w0
cL
(2.7)
!2
(2.8)
Fokusiert man mit einer Optik der Brennweite f einen konvergenten Gauschen
Strahl mit Strahlradius w0 , so ist der Strahlradius wfocus im Abstand L = f
gegeben als [36]:
fc
wfocused =
(2.9)
w0
In Abb. 2.7 sind die jeweiligen Strahlradien (Gl. (2.8) und Gl. (2.9)) in Abhangig-
10
10
ratio
focused
Efocused / Eunfocused
beamradius x [mm]
unfocused
0
0,0
99031001.opj
0,5
1,0
1,5
2,0
0
2,5
[THz]
2.7.
19
u
w02
Efocused
= 2t1 +
Eunfocused
2cf
!2
(2.10)
die in Abb. 2.7 als schwarze Linie dargestellt ist. Oberhalb von 500 GHz zeigt
sich eine lineare Abhangigkeit zwischen fokusierten gegenuber den unfokusierten elektrischen Feldstarken aus: Efocused ( ) / Eunfocused ( ). Diese Beziehung
entspricht in der Zeitdomane einer zeitlichen Ableitung gema den Rechenregeln der Fourier Transformation (df=dt F ( )) [25].
Dies bedeutet im Falle eines fokusierten THz-Pulses, da seine zeitliche Pulsform in dem Bereich oberhalb von 500 GHz der zeitlichen Ableitung seiner unfokusierten Pulsform entspricht. Unterhalb von 500 GHz nahert sich Gl. (2.10)
einem konstanten Betrag, d.h. es kommt zu keiner Pulsmodikation im niederfrequenten Bereich. Im Falle der in dieser Arbeit dargestellten fokusierten
THz-Pulse handelt es sich somit aus einer Mischung dieser beiden Bereiche.
Kapitel 3
Detektion gepulster
THz-Strahlung
3.1 Einfuhrung
Zu den wichtigsten Komponenten des Experiments gehort neben dem Laser und
dem THz-Emitter als dritte Komponente die Detektion der erzeugten THzPulse, vgl. Abb. 1.1. Als Detektionsmoglichkeiten fur THz-Strahlung stehen
prinzipiell Bolometer, Mikrowellen Dioden, und photoleitende Detektorantennen zur Verfugung, auf die im folgenden kurz eingegangen wird.
Eine neue Methoden wird in dieser Arbeit vorgestellt, die elektrooptische
Detektion. Diese Methode wurde von unserer Arbeitsgruppe zeitgleich mit der
Forschergruppe um X.-C. Zhang im November 1995 auf einer Konferenz in
Triest vorgestellt wurde [57, 122]. Die theoretischen Grundlagen zur elektrooptischen Detektion von THz-Pulsen sind Schwerpunkt diesen Kapitels.
3.1.
EINFUHRUNG
21
Photoleitende Detektorantennen
Photoleitende Detektorantennen sind prinzipiell wie ein THz-Emitter aufgebaut. Auf einem Halbleitersubstrat sind Elektroden aufgebracht, die mit einem
empndlichen Strommegerat (Empndlichkeit im pA-Bereich) verbunden sind.
Wird die Detektorantenne mit einem optischen Laserpuls bzw. einem sogenannten Gatepulse photoleitend gemacht, so ist es moglich, ein zeitgleich die Detektorantenne erreichendes elektrisches Feld E zu detektieren. E kann als lineare
Funktion des Stroms I gemessen werden, der uber die Detektorelektroden
iet
[57, 91]. Um eine hohe zeitliche Au
osung des zu messenden elektrischen Feldes zu erhalten ist es notig, ein moglichst enges Zeitfenster zu erzeugen, in
dem der Detektor fur einfallende elektrische Felder sensitiv ist. Dies wird durch
fs-Laserpulse in Kombination mit Halbleitermaterialien erzielt, deren Photoladungstrager eine kurze Lebensdauer besitzen. Aus diesem Grunde verwendet
man radiation damaged Silicon-on-Saphir (SOS) Detektor-Chips. Die Lebensdauern der erzeugten Ladungstrager in dem mit Ionen beschossenen Silizium
liegen im Bereich von ca. 600 fs [26]. Jedoch zeichnet sich bei dieser Detektionsmethode fur extrem kurze THz-Pulse ein Problem der Zeitau
osung ab:
so konnen keine THz-Pulse mit Frequenzen groer als 5 THz aufgrund der zulangen Lebensdauern nachgewiesen werden [81]. Im Gegensatz dazu ist es mit
der elektrooptischen Methode inzwischen gelungen, THz-Pulse mit Frequenz
Komponenten bis zu 37 THz elektrooptisch nachzuweisen [117].
22
KAPITEL 3.
3.2 eo-Detektor-Entwicklung
Die Grundidee der elektrooptischen Detektion von THz-Pulsen liegt in der Beobachtung der momentanen Brechungsindexanderung, die der THz-Puls in einem geeigneten Material hervorruft. Die durch den THz-Puls erzielte Modulation der Lichtintensitat eines optischen Probe-Pulses ergibt aufgrund des linearen
Pockels-Eekts direkten Aufschlu u ber seine elektrischen Feldstarke E .
Die Elektro-Optik ist ein Teilgebiet der Optoelektronik und behandelt die
Manipulation von em-Strahlung in transparenten elektrooptischen Medien. In
diesem Abschnitt wird die elektrooptische Detektion von THz-Pulsen in den
elektrooptischen Kristallen LiTaO3 , LiNbO3 und ZnTe diskutiert. Die Reihenfolge der genannten Kristalle entspricht der experimentellen Entwicklung innerhalb unserer Gruppe, d.h. erste Versuche, um THz-Pulse zu detektieren,
wurden mit den klassischen Kristallen der Elektro-Optik LiTaO3 und LiNbO3
durchgefuhrt. Diese Kristalle erlaubten, das Prinzip der elektrooptischen Detektion zu demonstrieren [56, 122]. Jedoch sollte sich im Laufe der Arbeiten
ZnTe [116, 111] als das bis dato am besten geeignete Detektions-Kristall fur
THz-Pulse erweisen. Der wesentliche Grund hierfur liegt in dem geringen Laufzeitunterschied zwischen THz-Puls und Probe-Puls im ZnTe Kristall.
Die optischen Eigenschaften elektrooptischer Materialien hangen vom elektrischen Feld ab, dem sie ausgesetzt sind. Es kommt zum elektrooptischen Ef nderung des Brechungsindizes in Abhangigkeit des angelegten
fekt, der eine A
aueren elektrischen Feldes bewirkt. Diese Brechungsindexanderung bewirkt
nderung des Polarisationszustands einer em-Welle, die das Meihrerseits eine A
dium transmittiert. In Verbindung mit Polarisatoren kann man einen elektrooptischen Modulator herstellen, mit dem die Intensitat eines ihn transmittierenden
Lichtstrahls durch Variation des angelegten elektrischen Felds moduliert werden kann. Man unterscheidet zwei Eekte: einen linear vom E -Feld abhangigen
Eekt, den Pockels-Eekt und den quadratischen, den Kerr-Eekt.
ij
ij xi xj = 1
mit i; j = 1; 2; 3
(3.1)
ij sind die Elemente des Impermeabilitatstensors = 0 1 = 1=n2 , wobei der Dielektrizitatstensor und n der Indextensor darstellen. Die Elemente
3.2.
23
EO-DETEKTOR-ENTWICKLUNG
der drei Tensoren hangen von der Wahl des Koordinatensystems relativ zur
Kristallstruktur ab. Es kann immer ein Koordinatensystem derart gefunden
werden, bezuglich dem die Tensoren Diagonalgestalt annehmen. Bei Strahlausbreitung entlang dieser Achsen sind die dielektrische Verschiebung D und die
elektrische Feldstarke E parallel und denieren die Hauptachsen des Koordinatensystems. Betrachtet man den experimentell interessanten Indextensor, so
geben seine Eigenwerte die Brechungsindizes n1 = n11 , n2 = n22 und n3 = n33
an, d.h. die Brechungsindizes in Richtung der Hauptachsen.
Bringt man das Medium in ein aueres elektrisches Feld E , so zeigt der
Brechungsindex eine elektrische Feldabhangigkeit. Es kommt zum sogenannten
elektrooptischen Eekt. Fur die Elemente des Impermeabilitatstensors bedeutet
dies: ij ! ij (E). Wird die elektrische Feldabhangigkeit in Form einer TaylorReihe dargestellt, nimmt das Indexellipsoid folgende Gestalt an:
0
XB
@ij
ij
rijk Ek +
|{z}
k P: K:
sijkl Ek El C
A xi xj = 1 ;
| {z }
kl K: K:
(3.2)
mit ij = ij (0). rijk und sijkl sind die elektrooptischen Tensoren dritten
und vierten Rangs. Sie besitzen 33 = 27 bzw. 34 = 81 Koezienten, die als
Pockels- bzw. Kerr-Koezienten bezeichnet werden. Sie beschreiben als Koezienten die lineare bzw. quadratische Abhangigkeit des Impermeabilitatstensors in Abhangigkeit vom aueren Feld. Bei den angewandten elektrischen
Feldstarken der THz-Pulse (E < 3 kV/cm) ist der Kerr-Eekt aufgrund der
sehr kleinen sijkl -Werte vernachlassigbar, so da im folgenden nur noch der
lineare Term, der Pockels-Eekt, betrachtet wird:
ij
ij +
rijk Ek xi xj = 1
(3.3)
Aus Symmetriegrunden konnen die Tensorkomponenten rijk gema der Kontraktionsregel1 in Tensorkomponenten rIk umgeschrieben werden [89].
Fur die experimentelle Anwendung ist die Anderung
des Impermeabilitatstensors bzw. des Indextensors n von Interesse.
Im Allgemeinen wird (E ) keine Diagonalform mehr aufweisen, so da die
neuen Hauptachsen des modizierten Indexellipsoids bestimmt werden mussen.
Dies lat sich auf das Eigenwertproblem
Det(
1) = 0
(3.4)
zuruckfuhren, wobei sich aus den Eigenwerten die modizierten Brechungsindizes bestimmen lassen.
1 die Indizes ijk der Pockels-Koezienten konnen auf durch zwei Indizes I und j charak-
! 1;
22
! 2;
33
! 3;
23
24
KAPITEL 3.
0 0 0
0 0 0
0 0 0
r41 0 0
0 r41 0
0 0 r41
kubisch 43m
ZnTe
C
C
C
C
C
C
C
C
C
A
B
B
B
B
B
B
B
B
B
@
0
0
0
0
r51
r22
r22 r13
r22 r13
0 r33
r51 0
0
0
0
0
1
C
C
C
C
C
C
C
C
C
A
trigonal 3m
LiTaO3 und LiNbO3
Kristallorientierung zwischen b- und c-cut unterschieden wird. b-cut bedeutet, da der Kristall entlang der x2 -Achse, d.h. entlang einer der ordentlichen Achsen (no ), geschnitten ist, so da die Stirn
ache des Kristalls
Doppelbrechung aufweist, vgl. Abbildung3.1(A). Im Gegensatz dazu bedeutet c-cut, da die auerordentliche (x3 ) Achse des Kristalls senkrecht
geschnitten wurde, so da die Stirn
ache keine Doppelbrechung aufweist,
vgl. Abbildung3.1(B).
{ b-cut: Das elektrische Feld des THz-Pulses wird entlang der x3 Richtung im Kristallsystem angelegt 4 , d.h. E = (0; 0; E3 ).
2 Hermann Mauguinsche Symbole fur Symmetrieoperationen: 3 = 3zahlige Drehung, m =
3.2.
25
EO-DETEKTOR-ENTWICKLUNG
x1 (no)
x2 (no)
gs
tun
rei
sb ng
u
A htu
ric
Eopt
x3 (ne)
ETHz
x3 (ne)
x1 (no)
s
ng
tu
rei
sb ng
u
u
A ht
ric
(A) b-cut
Eopt
x2 (no)
x1 (n)
x2 (n)
ETHz
s
ng
tu
rei
sb g
Au htun
ric
(B) c-cut
Eopt
x3 (n)
ETHz
(C) isotrop
26
KAPITEL 3.
b (E 3 ) =
n2 (E3 )
1
2
B no
=B
@
+ r13 E3
0
0
0
1 +r E
13 3
n2o
0
0
0
1 +r E
33 3
n2e
1
C
C
A
(3.5)
Weiterhin zeigt dieser Tensor Diagonalform, was bedeutet, da sich
der Indexellipsoid nicht gedreht, sondern nur aufgrund des elektro
optischen Eekts seine Ausdehnung geandert hat. Diese Anderung
der Brechungsindizes ist mit den Eigenwerten der obigen Matrix
hier direkt ablesbar:
1
1
1
10 = 2 = 2 + r13 E3 , n10 = no (1 + r13 n2o E3 ) 2 (3.6)
n10 no
1
1
1
20 = 2 = 2 + r13 E3 , n20 = no (1 + r13 n2o E3 ) 2 (3.7)
n20 no
1
1
1
30 = 2 = 2 + r33 E3 , n30 = no (1 + r33 n2e E3 ) 2 (3.8)
n30 ne
1
2
B no
r22 E2
0
0
0
0
C
1
1
B
c (E2 ) = 2
=@
2o + r22 E2 r42 E2 C
n
A (3.12)
n (E2 )
1
r42 E2
n2e
Dieser Tensor besitzt keine Diagonalform mehr, d.h. der Indexellipsoid hat sich gedreht und verformt. Die modizierten Brechungsindizes
nehmen folgende Gestalt an:
1
n10 = no + r22 n3o E2
(3.13)
2
1
r n3 E
(3.14)
n20 = no
2 22 o 2
n30 = ne ;
(3.15)
3.2.
27
EO-DETEKTOR-ENTWICKLUNG
2 E 2 vernachl
wobei der quadratische Term r42
assigt wurde.
2
ZnTe ist ein isotroper Kristall (n1 = n2 = n3 = n), an dem in x3 Richtung ein elektrisches Feld E = (0; 0; E3 ) angelegt wird. Analog zu
den beiden vorherigen Fallen folgt fur den Impermeabilitatstensor :
0
ZnTe (E3 ) =
1
2
n (E3 )
1
n21
B
=B
B r41 E3
@
r41 E3 0
1
0
n22
1
0
n2
1
C
C
C
A
(3.16)
n10 = n
1
n20 = n + r41 n3 E3
2
1
n30 = n
r n3 E3
2 41
(3.17)
(3.18)
(3.19)
28
KAPITEL 3.
x
z
y
nx
2. Polarisator
Ex
x
Ey
E
Ex
ny
Ey
eo-Krsitall
y
1. Polarisator
3.2.
29
EO-DETEKTOR-ENTWICKLUNG
wobei ! die Frequenz des optischen Probe-Pulses und nx0 ;y0 (Ey ) die aufgrund
des Pockels-Eekts modizierten Brechungsindizes darstellen. Die relative Phasenverzogerung zwischen den elektrischen Komponenten Ex und Ey betragt
nach Durchlaufen der Strecke dz im elektrooptischen Kristall:
= jy
x j =
!
c
ny0 (Ey )
nx0 (Ey )
dz
(3.22)
(3.23)
Cb
stat ist ein statischer Term, der Aufgrund der Doppelbrechung unabhangig vom elektrooptischen Eekt auftritt. Cb ist eine fur Kristallorientierung charakteristische Groe.
(3.24)
Cc
(3.25)
CZnTe
30
KAPITEL 3.
dn()
:
(3.26)
d
Der optische Probe-Puls kann als ein Gauscher Puls dargestellt werden:
nopt () = n()
z vg t
Iopt (z; t) = I0 exp
vg p
(3.27)
ETHz (z; t) =
E (z; ) exp(ik( )z
it) d
(3.28)
Aus Vereinfachungsgrunden wird jedoch nur die Zentralfrequenz, des THzPulses betrachtet, die bei den in dieser Arbeit erzeugten Pulsen bei Z =
500 GHz (Z = 0:6 mm) liegt. Es wird sich zeigen, da diese Vereinfachung ausreicht, um die elektrooptische Puls-Detektion ausreichend beschreiben zu konnen.
Im Allgemeinen besitzen THz- und Probe-Puls aufgrund der Dispersion des
Kristalls unterschiedliche Ausbreitungsgeschwindigkeiten. Ein Puls wird den
anderen u berholen, vgl. Abb. 3.3. Der THz-Puls durchlauft den Kristall in zRichtung. Fur sein elektrisches Feld wird folgender Ansatz gemacht:
z
ETHz (z; t) = ETHz (
+ t) e z
(3.29)
vTHz
Der 100 fs-Probepuls aus Gl. (3.27) wird als eine zeitliche Deltafunktion approximiert:
z
Iopt (z; t) (
+ t T)
(3.30)
vopt
wobei T die zeitliche Verzogerung des Probe- gegenuber dem THz-Puls darstellt, vgl. Abbildung3.4. Bei der Propagation durch den Kristall erfahrt der
6 cw steht fur continous wave und bedeutet eine kontinuierliche elektromagnetische Welle.
3.2.
31
EO-DETEKTOR-ENTWICKLUNG
crystal
orientation
crystal
crystal
v THz
v THz
x (n 1 )
v opt
vopt
y (n 2 )
z (n 3 )
t1
t2
>
t1
eo-Kristall
L
T
Probe-Puls
THz-Puls
Abbildung 3.4: Der Probe-Puls kommt um die Zeit T verzogert am Detektionskristall an. Durch Verschieben der Verzogerungsstufe kann T variiert werden,
wodurch der THz-Puls in der Zeitdomaine mittels des Probe-Pulses abgetastet
werden kann, vgl. z.B. Abb. 4.1.
32
KAPITEL 3.
Probe-Puls nur dann ein Phasenverzogerung, wenn orts- und zeitgleich das elektrische Feld des THz-Pulses den Brechungsindex andert. Voraussetzung dafur
ist, da die Brechungsindexanderung instantan erfolgt, d.h. ein lineares Abbild
der Feldstarke des THz-Puls ist. In diesem Fall entspricht das gesamte Phasenverzogerungssignal einer Integration uber die Strecke dz und u ber die Zeitdauer
dt der Puls-U berlagerung im Kristall:
Z L
Z 1
THz (T ) = C
dz
dt ETHz (z; t) Eopt (z; t)
(3.31)
0
1
C ist eine Kristall spezische Groe, die aufgrund des Pockels-Eekts auftritt, und in Abschnitt 3.2.2 fur das jeweilige Detektionskristall deniert wurde.
Durch Einsetzen der Gleichungen (3.29), (3.30) in Gl. (3.31) erhalt man:
THz (T ) = C
= C
Z L
0
Z L
1
z
z
dz
dt ETHz
+ t e z
+ (t
vTHz
vopt
1
Z
dz ETHz (
nTHz
c
nopt
)z + T e
c
{z
T)
z
=1; fur t=T vopt
(3.32)
Mit n = nTHz nopt wird der Brechungsindexunterschied zwischen den THzund dem optischen Puls deniert. Aufgrund der Annahme, da die Dispersion
im ferninfraroten Frequenzbereich zu vernachlassigen ist, wird n als konstant
approximiert und es folgt:
THz (T ) = C
Z L
ETHz
n
z+T e
dz
(3.33)
Aus diesem Integral lat sich das elektrische Feld des THz-Pulses anhand des
gemessenen Phasenverzogerungssignals THz (T ) bestimmen. Das ist Gegenstand von Kapitel 4.
3.2.
33
EO-DETEKTOR-ENTWICKLUNG
= x y = 2L(n1
n2 )= :
(3.34)
Fur gekreuzte Polarisatoren, die mit = 45o (= 45o ) orientiert sind, sehen
x
y
n1
Analyzer
f
Ex
Ey
Ex b
n2
Ey
Retarder
y
Polarizer
A1 = 21
"
11
11
and
A3 = 21
"
1 1
1 1
(3.35)
34
KAPITEL 3.
ix
A2 = e 0 ei0 y
(3.36)
AG = 14 (eix
eiy )
"
1 1
1 1
Die ein- und auslaufenden polarisierten ebenen Wellen seien durch die Jones
Vektoren Ei und E beschrieben:
"
1
mit Ei = p
2
E = AG Ei
1
1
E= p
4 2
(eix
eiy )
E= p
(ejx
2 2
"
1 1
1 1
ejy )
"
# "
1
1
1
1
Die Intensitat I des Probe-Puls erhalt man durch die Multiplikation des Jones
Vektors E an seinen hermitesch adjungierten Vektor Ey 7 . Damit erhalt man
fur die Intensitat hinter dem 2. Polarisator:
"
E
I = Ey E = [Ex Ey ] x
Ey
1
(1 cos(x y ))
(3.38)
2
y = die relative Phasenverschiebung zwischen Ex and Ey :
=) I =
Sei x
1
(1 cos())
2
= sin2 ( )
2
I () =
(3.39)
(3.40)
7 Die hermitesch adjungierte Matrix ist deniert als die komplex konjugierte der transponierten Matrix. Dies bedeutet, da Ey ein Zeilenvektor ist: Ey = [Ex Ey ]
3.2.
35
EO-DETEKTOR-ENTWICKLUNG
1,0
Intensity
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
90
180
270
360
97120801.opj
retardation [degrees]
36
KAPITEL 3.
gestellt. Um die linearen und nichtlinearen Charakteristiken der Transmissionsfunktion (Gl. (3.39)) zu diskutieren, ist es sinnvoll die Phasenverzogerung aufzuspalten in eine Beitrag = 0 , den wir als optische Vorspannung8 bezeichnen
wollen und eine zusatzliche kleine Phasenverzogerung , die beispielsweise die
THz-Puls-induzierte Phasenverzogerung THz darstellen kann. Somit erhalt
Gl. (3.39) folgende Gestalt:
1
(3.41)
I (0 + ) = [1 cos(0 + )]
2
1
I (0 + ) = [1 ( cos(0 ) cos() sin(0 ) sin())] (3.42)
2
Setzt man die Taylor-Approximationen der trigonometrischen Funktionen ein,
so erhalt man aus Gl. (3.42):
I (0 + )
3
2
3
2
12 [(0 60 ) + 12 (1 20 )2 16 (0 60 )3 + 20 ]
(3.43)
Nun sei die Phasenverzogerung aufgrund des THz-Puls und 0 sei eine optische Vorspannung, die aufgrund der statischen Anisotropie, z.B. aufgrund von
mechanischen Spannungen im elektrooptischen Kristall oder/und eines SoleilBabinet Kompensators hervorgerufen wird.
Im Experiment wird der THz-Puls Zug (Repetitionsrate 1 kHz) regelmaig
unterbrochen. Die Photodiode sieht zwar den letzten Term in Gl. (3.43), jedoch der synchrone Lock-In Verstarker liefert als Ausgangssignal nur die Intensitatsanderung aufgrund von THz . Damit folgt fur das Lock-In Signal
ILI (0 + ):
1
[(
2 0
30
1
) + (1
6
2
20
)2
2
1
(
6 0
30
)3 ]
6
(3.44)
In Abbildung 3.7 ist diese Funktion fur verschiedene Werte von 0 dargestellt.
Ist keine optische Vorspannung vorhanden (0 = 0), so erhalt man eine quadratische Intensitatsanderung in Abhangigkeit von , bzw. im Falle der THz2 .
Pulse gilt I / ETHz
In Abbildung 3.7 ist die optische Vorspannung schrittweise bis 0 = 2
erhoht. Bei 0 = 2 ist die Intensitatsanderung des Probe-Puls linear zur Phasenverzogerung und damit linear zum elektrischen Feld des THz-Pulses. In
diesem Fall erhalt man neben einer linearen Kennlinie zusatzlich die beste
Dynamik, d.h. bei gleicher A nderung von erzielt man eine groere Intensitatsanderung. Zu beachten ist aber, da das Signal auf einem Untergrund der
halben Intensitat des Probe-Puls detektieren mu, vgl. Abb. 3.6. Aus diesem
Grund versucht man mit zwei abgeglichenen Photodioden im Subtraktionsmodus zu arbeiten. Dieser Sachverhalt wird in Abschnitt 4.7.3 genauer besprochen.
8 im Englischen als optical bias bezeichnet
3.2.
37
EO-DETEKTOR-ENTWICKLUNG
0,08
/2
0=/2
0,06
Intensity
0=/5
0,04
0=/10
0,02
0=0
0=/50
/4
2
0,00
-0,02
-0,04
-0,06
97120902.opj
-0,08
-10
-5
10
[degrees]
Abbildung 3.7: Darstellung von Gl. (3.44) fur verschieden groe optische Vorspannungen 0 .
Kapitel 4
38
4.1.
39
SOS-DETEKTOR
4.1 SOS-Detektor
Ausgangspunkt fur die elektrooptische Detektion war nach dem Aunden des
THz-Pulses im vorlaugen Versuchsaufbau den konventionellen SOS-Halbleiterdetektor durch ein elektrooptisches Kristall zu ersetzen. Dieser ursprungliche
Versuchsaufbau ist in Abbildung 4.1 dargestellt. Der optische Pump-Puls er-
BS
reg. amp.
Ti:sapphire
Pump
Pulse
Probe
Pulse
CH
HV
Emitter
THz
SOS-detector
T
LIA
Delay Line
PM
TS
40
KAPITEL 4.
(4.1)
In Gl. (4.1) ist die zeitliche Mittelung u ber das elektrische Feld nicht berucksichtig (Faktor: 21 ), da die Spitzen-Leistungsdichte des THz-Pulses bestimmt
werden soll.
4.2.
LITAO
2500
41
2500
2000
1500
2000
1500
1000
500
0
2
10
1000
500
2. Reflection
HV = 1.25kV/cm
-500
HV = 10kV/cm
-1000
t = 12,3ps
t = 12,3ps
95080902.opj
-1500
0
10
20
30
40
50
42
KAPITEL 4.
BS
reg. amp.
Ti:sapphire
Pump
Pulse
Probe
Pulse
CH
HV
Emitter
PM
THz
PR
eo-crystal
LIA
T
Delay Line
PP
PM
TS
PP
PD
Abbildung 4.3: BS - 10% Strahlteiler, Emitter - GaAs-Wafer (1 cm2 ), PM Parabolische Spiegel, Delay Line - Verzogerungsstufe, PR - Polarisationsdreher,
PP - Dunnschichtpolarisatoren TS - hyperhemispharische Saphir Optik mit
5 mm Radius und PD - Photodiode.
der eingelegten Grak gegen die angelegte Hochspannung am THz-Emitter im
Vergleich mit der Sattigungskurve aus Abb. 4.2 dargestellt.
Eine weitere zu beantwortende Frage bei der Detektion der Phasenverzogerungssignale lautet: Ist die gemessene Intensitatsanderung des Probe-Pulses
linear zur THz-induzierten Phasenverzogerung THz bzw. gilt, da die gemessene Spannung an der Photodiode proportional dem elektrischen Feld des
THz-Pulses ist, VP D / ETHz ? Bei gekreuzten Polarisatoren sollte dies, wie in
Abbschnitt 3.2.4 gezeigt, eine quadratische A nderung sein, jedoch sobald eine
geringe optische Vorspannung, d.h. eine zusatzliche Phasenverzogerung auftritt, erhalt man in gewissen Grenzen einen linearen Zusammenhang zwischen
Intensitatsanderung und THz-induzierter Phasenverzogerung. Diese zusatzliche optische Vorspannung ist meist aufgrund Kristallgitterversetzungen oder
mechanischen Spannung gegeben. Insbesondere, wenn ein Kristall mit b-cut
Geometrie verwendet wird ist eine statische Doppelbrechung vorhanden, die
eine ausreichend groe optische Vorspannung gewahrleistet.
Der Vergleich der gemessenen Sattigungsverhalten mit beiden Detektoren
bestatigt in Abb. 4.4, da die gemessen Intensitatsanderungen sich linear zu
den THz-induzierten Phasenverzogerungssignalen verhalten. Andernfalls sollten
die Sattigungskurven der beiden Detektionsmethoden keinen ahnlichen Verlauf
aufweisen.
4.2.
LITAO
43
10kV
arbitary units
1
1.25kV
0
-1
-2
950815a.org
10
15
20
25
delay [ps]
abitary units
1,5
1,0
0,5
2,0
10kV
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
0
10
12
HV bias [kV]
0,0
1.25kV
-0,5
-1,0
-1,5
0
10
15
20
25
Abbildung 4.4: Im oberen Bild sind die gemessenen Phasenverzogerungssignale in Abhangigkeit der Hochspannung Ub am THz-Emitter dargestellt. In der
unteren Grak ist die Ableitung des Phasenverzogerungssignals dargestellt. Sie
gibt in erster Naherung das elektrische Feld des THz-Pulses wider. Das Sattigungsverhalten der THz-Pulse in Abhangigkeit der angelegten Hochspannung
wird in der eingelegten Grak widergegeben. Die schwarzen Quadrate geben die
eo-Medaten im Vergleich zu den SOS-Medaten (schwarze Kreise) aus Abb. 4.2
an.
44
KAPITEL 4.
ZnTe
1,2
10
1,0
10 ZnTe
0.57 LiTaO 3;
b-cut (x4)
THz [degrees]
PD [mV]
0,8
0,6
0,4
LiTaO3 ( x 4)
0,2
6
0.23 LiNbO3;
c-cut (x4)
LiNbO3 ( x 4)
0,0
-2
-0,2
96070525.opj
96120602.opj
96070524.opj
-0,4
-6
-4
-2
-4
-6
-4
-2
T [ps]
T [ps]
Z L
ET Hz
z
n + T e
c
z dz
(4.2)
4.3.
eo-crystal
LiTaO3
LiNbO3
ZnTe
45
UND ZNTE
no
ne o e r13 r33
r22
ng;o ng;e
6.4 6.3 3 7.5 8 30
1
2.233 2.239
6.7 5.14 3.5 3 8.6 30.8
3.4
2.367 2.265
3.17
3
r41 =4.04 3.24
ETHz (T )
T Hz (T )
:
(1 R) CZnTe L
(4.4)
46
1,0
0,5
0,0
ZnTe
1,5
-0,5
1,0
0,5
0,0
LiNbO3, c-cut
-0,5
KAPITEL 4.
-1,0
E THz (T) [a.u.]
1,0
0,5
0,0
-0,5
-1,0
-5
10
15
time delay T [ps]
20
25
30
4.3.
LiNbO3 c-cut
LiTaO3 b-cut
ZnTe (110)
UND ZNTE
47
PD [V ] sym
THz [ ]
24
0.23
62.3
0.57
1160
10
48
KAPITEL 4.
dr
dp
4.4.
SOLEIL-BABINET KOMPENSATOR
49
In Abb. 4.8 ist die Transmission I = I (d) als schwarze Linie gegen die Skalenteile d dargestellt. Der Verlauf entspricht Gl. (3.39), deren Fit (oene Kreise)
uber die experimentelle Transmissionkurve gelegt ist. Die Graken (A) bis (C)
geben an den mit Kreisen markierten Stellen jeweils den Polarisationszustand
des Probe-Pulses an, der durch Verdrehen des 2. Polarisators bestimmt werden
kann.
Die Eichung des Soleil-Babinet Kompensators ergibt, da fur eine Phasenverzogerung von = 2 eine Verschiebung von 19.62 Skalenteilen benotigt wird,
d.h.
2
= 0:32 rad = 18:35 :
(4.5)
1 Skt =
19:62
50
KAPITEL 4.
4
PD [mV]
4
nur SBC
3
2
1
0
45
135
4
PD[mV]
PD [mV]
90
analyzer [degrees]
3
2
1
0
C
PD [mV]
45
90
135
45
90
135
4
3
2
1
0
97112602.org
0
-5
0
= 0
5
=/2
10
=
15
=3/2
20
=2 (=19.62 Skt)
25
Verschiebung d [Skt]
4.5.
POLARISATIONS CHARAKTERISTIK
51
52
KAPITEL 4.
rs
ze
ari
+HV
n
thi
wir
l
po
lse
THz
pu
P2
mp
pu
am
be
P1
THz-emitter
y
Abbildung 4.9: Messung der Transmission von Polarisationsgittern. Im THzStrahlengang sind zwei Polarisationsgitter hintereinander angeordnet, wobei ihre Polarisationsachsen Pi parallel ( = 0 ) zum elektrischen Vorspannungsfeld
des THz-Emitters orientiert sind. In dunkelgrau sind die mit Leitsilber aufgetragenen Elektroden angedeutet. Der gesamte Versuchsaufbau ist in Abbildung 4.3
dargestellt, wobei als ZnTe das Detektionskristall verwendet wurde.
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
96103030.opj, grf1
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
[THz]
Abbildung 4.10: Verhaltnis und Dierenz der Fourier transformierten Datensatze des THz-Pulses mit zwei Polarisationsgittern und nur einem Polarisationsgitter im THz-Strahlengang. Es zeigt sich, da innerhalb der Messgenauigkeit kein Ein
u des Polarisationsgitters auf die Transmission des breitbandigen
THz-Pulses mebar ist.
4.5.
53
POLARISATIONS CHARAKTERISTIK
(4.7)
Abb. 4.11 zeigt die theoretische Transmissionkurve der Gl. 4.7 zusammen mit
den erhaltenen Mewerten der maximale Feldamplitude des THz-Pulse. Das gemessene Extinktionsverhaltnis der Polarisationsgitter betragt 70. Dieser Wert
erscheint sehr gering, wenn man ihn mit den Extinktionswerten von optischen
Polarisatoren vergleicht. Fur den ferninfraroten Bereich ist dies ein moderater
Wert. Die Polarisations Charakteristik des gro
achigen THz-Emitters wur-
1,0
E = Eo cos
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
96120330.opj
-90
-45
45
90
135
Abbildung 4.11: Malus'sches Gesetz. Das Extinktionsverhaltnis der Polarisationsgitter betragt 70. Diese Messung belegt auch, da sich das gemessene Phasenverzogerungssignal linear mit der THz-Feldstarke verhalt.
de mittels des in Abb. 4.12 dargestellten Aufbaus bestimmt. Der THz-Emitter
wurde dazu zentrisch auf einer Rotationsstufe montiert, deren Drehachse identisch mit der optischen Achse (z -Achse) ist. Im THz-Strahlengang bendet sich
ein Polarisationsgitter, dessen Polarisationsachse P1 parallel zur y-Achse ausgerichtet ist. Der Pumplaser beleuchtet den GaAs-Wafer zentrisch mit einer
Laserpulsenergie ca. 10 J auf kreisformigen Flache mit einem Durchmesser
von ca. 2 mm. Die an den Elektroden angelegte Hochspannung (HV) betragt
6.25 kV bei einem Elektrodenabstand von 1 cm. In Abb. 4.13 ist die maximale
elektrische Feldamplitude des THz-Pulses gegen den Rotationswinkel des THzEmitters aufgetragen. Bei einem Rotationswinkel von = 0 ist die Transmission
maximal, da die elektrische Feldamplitude des THz-Pulses entlang der Polarisationsrichtung des Polarisators orientiert ist. Die gemessene negative elektrische
54
KAPITEL 4.
lse
THz
+HV
pu
THz
emitter
mp
pu
ETHz
P1
am
be
z
y
Abbildung 4.12: Polarisations Messung des THz-Pulses eines gro
achigen THzEmitters.
Feldstarke bei 180 spiegelt wieder, da die Intensitat des optischen Probestrahls aufgrund des Pockels-Eektes reduziert wurde. Die elektrische THzFeldstarke hat aufgrund der Drehung um 180 ein negatives Vorzeichen erhalten. Die den Polarisator transmittierende THz-Feldamplitude ETT Hz mu
folgender Gleichung
ETT Hz = ET0 Hz cos ;
(4.8)
genugen, die in Abb. 4.13 als schwarze Kurve dargestellt ist. Diese Messung belegt, da das emittierte elektrische Feld des THz-Pulses im Fernfeld als linear
polarisiert betrachtet werden kann. Die geringfugigen Abweichungen von der
theoretischen Kurve konnten auf Inhomogenitaten des elektrischen Vorspannungsfeldes Eb in dem GaAs-Wafer hinweisen.
4.5.
55
POLARISATIONS CHARAKTERISTIK
40
30
20
y
HV
10
0
Laser spot
-10
-20
-30
96121101.opj
-40
-45
45
90
rotation angle []
Abbildung 4.13: Polarisationsprol eines gro
achigen THz-Emitters. Aufgetragen ist die maximale elektrische Feldamplitude des THz-Pulses gegen den
Rotationswinkel des THz-Emitters. Diese Messung zeigt, da das elektrische
Feld des THz-Pulses linear polarisiert ist.
Stromschwankungen
3,5
3,0
2,5
[Hz]
I [ A]
R=270M
2,0
1,5
2,0
1,5 B
1,0
0,5
0,0
1,0 1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
E [kV/cm]
1,0
0,5
97020501.opj
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
E [kV/cm]
56
KAPITEL 4.
der Halbleiterphysik als low frequency oscillation (LFO) bekannt [69] und Gegenstand momentaner Forschung [68, 110]. Die Stromschwankungen, die sich
als niederfrequente Oszillationen darstellen, sind der Theorie nach Ladungsdomanen im Halbleiter, die sich durch eld enhanced trapping und detrapping
in tiefen Energieniveaus (EL2) erzeugen. Erklart wird dies damit, da diese
Ladungsdomanen sich in Abhangigkeit des angelegten aueren elektrischen Feldes von der Kathode zur Anode bewegen und somit zu den beoabachteten
Stromschwankungen fuhren. Es lat sich eine Domanengeschwindigkeit von ca.
1,6 cm/s bei einem elektrischen Vorspannungsfeld von knapp 2 kV/cm bei dem
verwendeten THz-Emitter in Dunkelheit bestimmen. Weitere Forschungen der
LFO in GaAs zeigen, da durch zusatzliche Beleuchtung von Photonen mit
Energien vergleichbar mit dem Bandabstand von GaAs zu choatischen Verhalten der Oszillationsfrequenz LFO fuhren [64]. Diese Arbeiten zeigen, da die
Ladungstragerdynamik in GaAs bei den von uns geschaenen Verhaltnissen
sehr komplex ist.
Ein Weg, diese LF-Oszillationen zu umgehen, besteht im Anlegen einer gepulsten Hochspannung synchron mit dem optischen Pumpstrahl.
4.6.
MESSUNG DER THZ-FELDSTARKE
VERTEILUNG
57
Pump
pulse
THz-Emitter
+
THz
Probe
HV
ZnTe
pulse
PP
PD
SB
PM
PP
Abbildung 4.15: Meaufbau zur Bestimmung der THz-Emissionsfeldstarke Verteilung. Der Abstand d zwischen THz-Emitter, Parabolspiegel und ZnTe betragt
jeweils d = f , mit f der Spiegelbrennweite des Parabolspiegels.
in Schritten von x = y = 3 mm verschoben und jeweils die detektierte
maximale THz-Feldstarke bestimmt. Die Ergebnisse sind in einem Konturplot
in Abb. 4.16 dargestellt. Zu erkennen ist ein deutliches Maximum der Emissionsstarke im Zentrum des THz-Emitters. Dieses Result verwundert in Anbetracht der Tatsache, da eine Felduberhohung an den Randern der Elektroden
zu erwarten ware [13]. Die Messungen wurden fur unterschiedliche Hochspannungen wiederholt. Hierbei wurde der THz-Emitter mittels eines Schrittmotors
in y-Richtung verschoben. Die Hohe des Emitter wurde auf x = 7 mm, d.h. mittig in Bezug auf die Elektrodenhohe eingestellt, vgl. Abb. 4.16. In Abb. 4.17 (A)
zeigen sich THz-Emissionsmaxima, die genau zwischen den Elektroden liegen.
Polt man die Elektrodenanschlusse um, so erkennt man einen symmetrischen
Verlauf zum oberen Teil von Abb. 4.17 (A), jedoch hat sich wie zu erwarten auch
die Polarisation des THz-Pulses um 180 gedreht. Legt man hingegen eine gepulste Hochspannung an den THz-Emitter, so zeigt sich eine THz-Emissionstarke
Verteilung, die jeweils Maxima an den Elektrodenrander aufweist, siehe Abb.
4.17 (B).
Qualitativ ahnliche Feldverlaufe bei gepulster Hochspannung wurden auch
von Budiarto et al. mittels eines Bolometers in einem vergleichbaren Meauf-
58
KAPITEL 4.
14
PR signal [ V]
22.75 -- 26.00
19.50 -- 22.75
16.25 -- 19.50
13.00 -- 16.25
9.750 -- 13.00
6.500 -- 9.750
3.250 -- 6.500
0 -- 3.250
12
[mm]
10
4
+ 6,8kV/cm
2
97012400.opj
0
0
10
12
[mm]
14
Current I [ A]
10.87
9.750
8.625
7.500
6.375
5.250
4.125
3.000
12
[mm]
10
---------
12.00
10.87
9.750
8.625
7.500
6.375
5.250
4.125
4
+ 6,8kV/cm
2
970124l2.eps
9701224l2.eps
97012400.opj, grf 1
0
0
10
12
[mm]
59
MESSUNG DER THZ-FELDSTARKE
VERTEILUNG
A)
static HV
B)
140
600
120
10kV
80
400
+HV
300
40
200
ETHz [a.u.]
60
20
0
10kV
500
ground
100
ETHz [a.u.]
pulsed HV
ground
4.6.
1.25kV
-20
-40
-60
+HV
100
1.25kV
0
-100
3kV
-200
6kV
5kV
-80
+HV
7.5kV
10kV
-140
-160
+HV
-400
ground
ground
-100
-120
-300
10kV
-500
9.6mm
97022750.opj
9.6mm
97022755.opj
97022751.opj
10
[mm]
15
10
15
[mm]
Abbildung 4.17: Es ist die maximale THz Feldstarke gegen die Position y in mm
aufgetragen. (A) bei statischer Hochspannung und (B) bei gepulster Hochspannung. Die an den Elektroden angelegte Hochspannung wurde in Schritten von
1.25 kV bis 10k kV erhoht. Als Rechtecke sind der Kupferelektroden skizziert.
Bei umgepolter Hochspannung wird der elektrische Feldvektor des THz-Pulses
ETHz um 180 Grad gedreht.
60
KAPITEL 4.
bau detektiert [13]. Zusatzlich haben Budiarto et al. mittels eines elektrooptischen Meaufbaus die elektrische Felduberhohung an den Elektroden des THzEmitters untersucht. Dazu wurde die beim Durchqueren eines Emitters auftretende Phasenverzogerung eines Infrarotlasers mit h = 1:18 eV, d.h. unterhalb
der Bandkante von GaAs, bei gepulster Hochspannung gemessen. Der elektro
optisch gemessene Feldverlauf am THz-Emitter zeigt eine starke Uberh
ohung
bereinstimmung mit den direkt gemessen
an den Elektroden in qualitativer U
THz-Feldamplituden. Es zeigte sich, da eine elektrooptische Messung mit statischer Hochspannungsquelle aufgrund der LF-Oszillationen nicht moglich war.
Budiarto et al. geben leider keine direkte THz-Feldamplituden Messung mit
konstanter Hochspannung an.
In Abb. 4.18 sind Vergleichsmessungen der erhaltenen THz-Feldstarken bei
statischem und gepulsten Hochspannungsfeld dargestellt. Bei diesen Messungen
war THz-Emitter zentrisch zum optische Pump-Puls orientiert, vgl. Abb. 4.15.
Im Gegensatz zum statisch Fall erkennt man keine Sattigungserscheinungen bei
gepulstem Hochspannungsfeld.
600
500
ETHz [a.u.]
pulsed HV
400
300
200
static HV
100
97022710.opj, grf5
0
2
10
12
14
HV [kV]
Abbildung 4.18: Vergleich der erzielten THz-Puls Feldstarken mit gepulstem gegenuber einem statischem Hochspannungsfeld. Hierbei liegt der optische PumpPuls zentrisch zwischen den Elektroden.
4.7.
61
Re ektivitat bei = 800 nm; im Englischen als pellicle beam splitter (PBS) bezeichnet.
62
KAPITEL 4.
einer Konstant-Spannungsquelle, vgl. Abbildung 4.18. Ausschlaggebend fur diese 16-fache Intensitatserhohung wird am ehesten die reduzierte Erwarmung des
GaAs-Wafers sein, die eine hohere Elektronenbeweglichkeit gestattet. Dazu werden voraussichtlich die LF-Oszillationen, die in Abschnitt 4.5.0.1 besprochen
wurden, unterdruckt.
Im Folgenden wird das THz-Spektrometer charakterisiert. Da man an einem
moglichst guten Signal zu Rausch Verhaltnis interessiert ist, wird wie in Abschnitt 3.2.4 dargestellt mit einem zirkular polarisierten Probe-Puls gearbeitet.
Der Soleil-Babinet Kompensator wird so eingestellt, da die Intensitat hinter
dem zweiten Polarisator zu gleichen Teilen auf die beiden Photodioden aufgespalten wird. Im Lock-In Verstarker werden die Signale der beiden Photodioden
voneinander subtrahiert. Dies bedeutet im Falle abgeglichener Photodioden,
da am Ausgang des Lock-In Verstarker kein Signal angezeigt wird. Erfahrt der
Probe-Puls aufgrund des THz-Pulses eine Phasenverzogerung, so wird die Intensitat an der einen Photodiode zunehmen und an der anderen abnehmen. Im
Subtraktionsmodus fuhrt diese Anordnung zu einem doppelten Signalgewinn
[19]. Die empirisch bestimmte optimale Unterbrechungsrate des Choppers von
ca. 135 Hz bei einer Integrationszeit von 100 ms am Lock-In Verstarker ergab
gute Signal zu Rausch Verhaltnisse. Der Probe-Puls Strahldurchmesser betragt
ca. 2 mm und eine Spitzen Pulsenergie unter 10 J. Sie wurde so eingestellt,
da beim Choppen des Probe-Pulses auf jeder Photodiode weniger als 5 mV
am Lock-In Verstarker gemessen wurden. Bei hoheren Pulsenergien arbeiten
die Photodioden nicht mehr im linearen Bereich ihrer Intensitat- Spannungscharakteristik.
4.7.
63
sp
ark
9kV pulsed
8kV pulsed
6kV pulsed
5kV pulsed
3,5kV pulsed
97022851.opj
0
0
50
100
150
200
64
KAPITEL 4.
Phasenverzogerung SBC am Soleil-Babinet Kompensator wurde so eingestellt, u ber einen maximalen Bereich ein linearer Zusammenhang zwischen
der THz-Puls induzierter Phasenverzogerung THz und gemessenen Intensitatsanderung des Probe-Strahls gewahrleistet ist. Mit dieser Einstellungen wurden die THz-TDS Messungen durchgefuhrt.
Strahlengang, so entspricht die THz -Charakteristik qualitativ dem theoretischen Intensitatsverlauf bei einer optischen Vorspannung von 0 = 10 ,
vgl. Abb. 3.7.
0,8
0,6
SBC 0=/4
no SBC (0 ~ /10 )
ZnTe
PD [mV]
0,4
0,2
0,0
0,10
-0,2
0,05
0,00
-0,4
-0,05
-0,10
-0,6
-0,8
-12
-10
-5
10
97121202.opj
-8
-4
12
pensator so ein, da die Anisotropie vom ZnTe-Kristall annaherend kompensiert wird, d.h. 0 = ZnTe + SBC 0, so erhalt man eine quadratische
4.7.
65
THz -Charakteristik, die man von einen idealen isotropen eo-Kristall erwartet, vgl. Dreiecke in Abb. 3.6.
(4.10)
im Fokus der HDPE-Optik im ZnTe-Kristall. Diese Groe kann als untere Grenze der THz-Feldstarke angesehen werden, da in der Formel keine Kristallimperfektionen berucksichtigt sind, die die theoretische Phasenverzogerung verkleinern. Die Fokus
ache A des THz-Pulses betragt ca. 1:52 10 5 m2 , bei einem gemessenen Fokusradius von 2.2 mm, vgl. Kapitel 6 Abb. 6.2. Mittels des Poynting
Theorems lat sich die Strahlungs
udichte (Leistungsdichte) S bestimmen:
(4.11)
In Gleichung (4.11) ist die zeitliche Mittelung uber das elektrische Feld nicht
berucksichtig (Faktor: 12 ), da es sich bei THz-Pulsen nicht um eine sinusformige
Welle handelt.
Die Strahlungsleistung P des THz-Pulses berechnet sich aus P = S A
403 J/s. Wenn jeder Puls eine mittlere Zeitdauer von ca. einer Picosekunde
besitzt, so ergibt sich eine Spitzenenergie pro Puls von Wmax 0:4 nJ.
66
KAPITEL 4.
5,0
0,27
Probe beam chopped
4,5
4,0
3,5
0,22
0
0,19
[ps]
3,0
0,16
2,5
0,14
2,0
0,11
1,5
0,08
1,0
0,05
0,5
d [Skt]
THz [degrees]
0,25
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
-0,2
0,03
98030503.opj
0,0
0,00
HV [kV]
Abbildung 4.22: Absolute Phasenverzogerung in ZnTe in Abhangigkeit der angelegten Hochspannung. Die eingelegte Grak zeigt einen Zeitscan des THzPulses, wenn der Probe-Puls gechoppt wird.
Kapitel 5
THz-Spektroskopie in der
Zeitdomane
5.1 Einfuhrung
Die THz-Spektroskopie in der Zeitdomane hat sich Ende der achtziger Jahre
mit der Bereitstellung des femtosekunden Lasers entwickelt. Durch die schnelle Anstiegs
anke der fs-Laser konnen in Halbleitersubstraten elektrische Pulse
im subpicosekunden Bereich erzeugt werden. Diese oftmals auch als Halbwellenpulse bezeichneten elektrischen Felder besitzen ein Frequenzspektrum bis in
den THz-Bereich hinein. In diesem Kapitel werden sie zur Untersuchung von
Medien im FIR benutzt.
Die Vorteile der THz-Spektroskopie in der Zeitdomane liegen in den folgenden Punkten:
Das Spektrometer arbeitet bei Raumtemperatur, d.h. aufgrund der koharenten Detektionseigenschaften entfallen die Probleme der thermischen Hintergrundsstrahlung, wie sie von den Mikrowellen- und FouriertransformSpektrometen bekannt sind. So wurden z.B. spektroskopische Messungen
im FIR-Bereich an Flammen durchgefuhrt, was fur die beiden klassischen
Spektrometer Disziplinen sehr schwer, wenn nicht gar unmoglich ware
[17, 18].
Aufgrund der Koharenz und der extrem hohen Zeitau
osung (fs) konnen
Pump-Probe Experimente durchgefuhrt werden [42, 58]. Bei diesem Meverfahren konnen physikalisch und chemisch interssante Vorgange im FIR
mit einer Zeitau
osung von einigen Femtosekunden untersucht werden.
Ferner wird direkt die elektrische Feldamplitude E (T ) und nicht die Inten-
sitat registriert, so da aufgrund der Fouriertransformation die spektralen Parameter Brechungsindex und Absorption direkt bestimmt werden
67
68
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
konnen. Daher mu die Kramers-Kronig Relation [89] nicht zur Berechnung benutzt werden.
Ein typischer THz-Puls umfat ein Frequenzspektrum von ca. 100 GHz
bis 2 THz bei einem Signal zu Rausch Verhaltnis von bis zu 10.000:1
(siehe Abb. 5.21). Es wurden auch schon THz-Pulse mit 30 fs-Laserpulsen
mit einer Bandbreite von bis zu 37 THz erzeugt [117], d.h. in der Zukunft kann diese Form der Spektroskopie eventuell extrem breitbandige
Messungen vom Mikrowellenbereich bis hin in der Infrarot-Bereich in einem THz-Puls ermoglichen. Jedoch kann die bisher mit dieser Methode
erreichte Frequenzau
osung von ca. 5 GHz nicht mit der hochau
osenden
Mikrowellenspektroskopie (Au
osung bis zu 1 kHz [62]) konkurrieren.
E ( ) =
Z +1
exp( i 2 T ) E (T ) dT
(5.1)
1 Sample-scan
2 Reference-scan
5.3.
69
(5.2)
Erot =
h2
=
J (J + 1)
2
2
= hcB J (J + 1)
J2rot
(5.3)
(5.4)
(5.5)
B=
h
82 c
(5.6)
bezeichnet.
Wenn das Molekul ein permanentes elektrisches Dipolmoment besitzt, gilt
die Auswahlregel J = 1, und das resultierende Spektrum besteht aus einer
aquidistanten Folge von Linien der Wellenzahl ~:
~ = 2B (J + 1) [cm 1 ]
(5.7)
70
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
Erot
42B
30B
20B
12B
6B
2B
0
b
r2
r1
m2
m1
1
0
4B
2B
8B
6B
12B
10B
~
5.3.
71
5,5
1.87THz
J''2 --> J'3
5,0
4,5
1.25THz
J''1 --> J'2
4,0
625GHz
J''0 --> J'1
Ref./HCl
3,5
3,0
2,5
2,0
1,5
1,0
0,5
0,0
0,0
97061613.opj
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
THz
72
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
1,2
1,54
index of refraction
nHDPE=1.528
1,50
1,0
0,8
HDPE
Teflon
0,6
1,48
0,4
1,46
nTeflon=1.440
1,42
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
-1
0,2
1,44
1,52
0,0
1,6
[THz]
Abbildung 5.3: Verhalten von Absorption und Brechungsindex von High Density
Polyethylene (HDPE)(schwarze Linien) und von Polytetra
uorethylene (Te
on)
(graue Linien). Es gilt zu beachten, da die Power-Absorption (P = 2 ) angegeben ist. Die Absorptionsdaten sind geglattet, der Fehler betragt 0:4 cm 1
und ist im wesentlichen durch Langzeitschwankungen der Laserintensitat bedingt. Die Phase ist in erster Naherung unabhangig von der Laser-Leistung
und besitzt einen relativen Fehler von 0.2%.
Te
on zeigen im gemessenen Frequenzbereich keine Dispersion bei einer geringen Absorption (< 1 cm 1 ). HDPE besitzt einen hoheren Brechungsindex und
ist zudem das mechanisch besser zu bearbeitende Material, so da aus HDPE Optiken mit verschiedenen Brennweiten hergestellt wurden. Genaueres zu
diesen Optiken ndet sich im Anhang E.
Mit der Motivation, strukturierte Flachen fur Anwendungen im FIR-Bereich
herzustellen, wie z.B. Fresnel-Optiken oder frequenz-selektive Ober
achen (siehe Abschnitt 5.5), wurden auch gebrauchliche Platinen aus der Elektronik spek4 Mittels eines Computerprogramms, welches in [91] genauer beschrieben ist, wurden die
5.4.
DIELEKTRISCHE MATERIALIEN
73
troskopiert. Jedoch erwiesen sich die Platinen als ungeeignet fur diese Zwecke,
da sie eine zu starke Dispersion im FIR Bereich aufweisen, siehe Anhang E.
Eine umfangreiche Au
istung von transparenten Materialen fur den FIRBereich bendet sich in dem Buch von Goldsmith [36].
74
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
5.5.
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
75
ImfU g
(5.8)
RefU g
Dieser Phasenwinkel ' beschreibt die zeitliche Verschiebung zwischen der komtan ' =
Im
UL
UL - UC
UC
U
UR
Re
Abbildung 5.4: Komplexe Darstellung der Gesamtspannung Uin in der Gauschen Zahlenebene. ' ist der Winkel zwischen Imaginar- und Realteil. Fur quasioptische Filter ist jedoch der Phasenwinkel zwischen der komplexen Einund der imaginaren Ausgangsspannung von Interesse.
plexen Spannungsamplitude Uin und der realen Spannungsamplitude UR bzw.
dem Strom I . Betrachten wir nun die verschiedenen quasi-optischen Filter und
ihre elektrischen Ersatzschaltbilder.
5.5.1.1 Hochpa-Filter
Ein quasi-optischer Hochpa-Filter kann durch einen elektrischen RL-Hochpa
beschrieben werden, siehe Abb. 5.5. Der komplexe Widerstand Z des induktiven
Hochpaes ist durch: ZL = i!L gegeben. Aus der Spannungsteilerformel erhalt
man die Frequenzabhangigkeit des Amplitudenverhaltnisses v der Betrage von
Aus- zu Eingangsspannung:
jU j
!L
1
v = in = p 2
=q
:
(5.9)
2
2
jUout j
R +! L
1 + !R2 L2 2
Die Grenzfrequenz5 c ist deniert als die Frequenz bei der das Amplitudenverhaltnis
jUinj = p1
(5.10)
jUout j
2
betragt. Durch Gleichsetzen von Gl. (5.10) mit Gl. (5.9) ergibt sich fur die
Grenzfrequenz:
1 R
c =
:
(5.11)
2 L
5 im Englischen als cuto-frequency bezeichnet
76
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
90
1,0
Inductive Grid
Uout/Uin
U OUT
45
0,6
0
0,4
-45
0,2
0,0
0
/
0,8
90
U OUT
Uout/Uin
U IN
0,6
0
0,4
0,0
0
-45
0,2
/
phase [degrees]
-90
98111112.opj
1,0
Capacitive Grid
phase [degrees]
U IN
0,8
-90
98111110.opj
5.5.
77
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
Resonant grid
Bandpass
t
G
C
1,0
C
Lowpass
Metal
R
U IN
Dielectric
Uout/Uin
Highpass
0,8
resonance filter
0,6
45
0,4
-45
0,2
U OUT
0,0
0
/
phase [degrees]
90
-90
98111113.opj
Abbildung 5.6: Ein Bandpalter (resonant grid) kann als eine Kombination von
induktivem Hochpa (inductive grid) und kapazitivem Tiefpa (capacitive grid)
beschrieben werden. Das Ersatzschaltbild ergibt einen LC-Parallelschwingkreis.
Die Amplituden- und Phasen-Charakteristik v bzw. sind als Funktionen der
normierten Frequenz r dargestellt. Ein Teil der Grak stammt aus [98].
78
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
ImfUin g ImfZ g !L
=
=
RefUin g RefZ g R
(5.12)
=
2
'=
2
!L
arctan
R
(5.13)
In Abb. 5.5 ist ( ) aufgetragen. Bei der Grenzfrequenz eilt die Amplitude der
Ausgangsspannung derjenigen der Eingangsspannung um 45 voraus. Fur hohere Frequenzen c strebt die Phasenverschiebung gegen Null.
5.5.1.2 Tiefpa-Filter
Ein quasi-optischer Tiefpa-Filter kann durch einen elektrischen RC-Tiefpa
i beschrieben werden. Analog zu
mit dem komplexen Widerstand ZC = !C
den vorherigen Betrachtungen ergibt sich bei einem kapazitiven Tiefpa das
Amplitudenverhaltnis v zu [24]:
v=
jUin j = p 1
;
jUoutj
1 + ! 2 R2 C 2
(5.14)
c =
=
2
arctan
1
!RC
(5.16)
5.5.
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
79
jUinj
jUout j
1
1 + ZRp
2
1 + R2 1 !!L2 CL
(5.17)
r =
1 1
p
:
2 LC
(5.18)
!L
' = arctan
(1 !2 LC )R
(5.19)
bestimmt. Auch hier ist wieder der Phasenwinkel zwischen Eingangs- und
Ausgangsspannung von Interesse. D.h. fur Frequenzen unterhalb des Bandpasses betragt = 2 ' und fur Frequenzen > r gilt: = 2 '. In Abb. 5.6
ist der Phasenwinkel aufgetragen. Er andert sich von 2 nach 2 uber die
Resonanzfrequenz hinweg.
(5.20)
Ein genereller Losungsansatz konnte ein allgemeines Vektorfeld U (r; t) benutzen, jedoch betrachten wir aus Anschauungsgrunden direkt den speziellen Fall
eines elektrischen Vektorfeldes E (x; y; z ). Mit dem Separationsansatz fur die
80
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
Zeit t und die transversale und longitudiale Komponente des elektrischen Feldes nimmt der Losungsansatz folgende Gestalt an:
(5.21)
trans: comp:
r2tr + r2z
1 @2 i
E (z; t) = 0
c2 @t2
2i
(5.22)
(5.23)
2i
mit :
{z
=kc2
kc2 = 2 +
!2
:
c2
(5.24)
(5.25)
=
( ) =
kc2
2 q 2
c c
!2
c2
mit: kc =
2c
c
2
(5.26)
(5.27)
(5.29)
Hierbei ist die Rate, mit der sich die Phase der Welle wahrend ihrer Ausbreitung in z -Richtung andert.
Zu beachten sind die folgenden Spezialfalle:
5.5.
81
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
=) <+
2 q 2
=
c c
= 0
2
(5.30)
Below cutoff:
< c
Above cutoff:
> c
I0
Intensity
I0
98020201.opj
=) =+
= 0 q
2 2
=
c
c2
(5.31)
Damit ergibt sich die em-Welle zu: E (z; t) = E (x; y) exp( iz ) exp( i!t).
Die Welle breitet sich also mit konstanter Intensitat I = jE j2 im Hohlleiter
aus, siehe rechte Grak von Abb. 5.7. Oberhalb der Grenzfrequenz wird
die em-Welle im Hohlleiter nicht gedampft.
Phasengeschwindigkeit
Die Phasengeschwindigkeit vph ist deniert als diejenige Geschwindigkeit, bei
der fur alle Punkte der Wellenfront gilt: !t z = a mit a = konstant. Die
Phasengeschwindigkeit vph erhalt man durch zeitliche Dierenzierung von z :
vph =
dz d( !t a) !
=
=
dt
dt
(5.32)
82
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
vph =
(5.33)
1 ( c )2
Gruppengeschwindigkeit
Die Gruppengeschwindigkeit vg ist als :
s
d!
vg =
=c 1
d
c
2
(5.34)
vph
ref
w
[1/m] ;
v/c
[radians/m]
vg
0
/c
0
0
/c
Abbildung 5.8: In der linken Grak sind die Absorption (Gl. (5.30)) und die
Phase (Gl. (5.31)) fur einen verlustfreien Hohlleiter aufgetragen. In der rechten
Grak sind die Phasen- (Gl. (5.33)) bzw. Gruppengeschwindigkeit (Gl. (5.34))
oberhalb der Grenzfrequenz im Hohlleiter dargestellt.
6 Das magnetische Feld liegt vollkommen in der Ebene, die transversal zur Ausbreitungs-
richtung z orientiert ist, wobei fur das elektische Feld diese Einschrankung nicht gilt.
7 Das elektrische Feld liegt vollkommen in der Ebene, die transversal zur Ausbreitungsrichtung z orientiert ist, wobei fur das magnetische Feld diese Einschrankung nicht gilt.
5.5.
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
83
Ez
Et
waveg_1.cdr
Abbildung 5.9: Beispiel eines idealleitenden Hohlleiters mit kreisformigem Querschnitt. Gema der Stetigkeitsbedingung gilt fur die Randbedingung: n E =
0 =) Ez = 0.
Randbedingungen des Hohlleiters ergeben fur TM-Moden, da die tangentiale Komponente des elektrischen Feldes Ez an der ideal leitenden Ober
ache
des Hohlleiters gema der Stetigkeitsbedingung verschwindet [39], vergleiche
Abb. 5.9.
Somit lautet die Wellengleichung (5.24) mit den Randbedingungen fur TMModen:
h
(5.35)
Analog zu den vorangegangenen Betrachtungen ergibt die Randbedingung
fur die Wellengleichung der TE-Moden, da gema der Stetigkeitsbedingung
die Normalkomponete des B -Feldes an der Hohlleiterober
ache verschwinden
mu [39].
h
i
(x; y)
r2tr + kc2 Bz (x; y) = 0 mit den Randbedingungen: @Bz@n
jsurface = 0
(5.36)
Diese beiden partiellen Dierentialgleichungen 5.35 und 5.36 stellen ein Eigenwert Problem dar. Die Losungen bestehen aus diskreten Werten kc und werden
als die Eigenwerte des Wellenleiters bezeichnet.
84
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
(5.37)
circ_wg.cdr
U0z = C Jn (kc r)
(5.39)
hierbei ist C eine Konstante. Nimmt man die Randbedingungen fur TM-Moden
hinzu, d.h. U0z (r) = Ez (r)jsurface = 0, so ergibt sich r = d2 als Bedingung fur
eine Nullstelle der Besselfunktion (vergleiche Abb. 5.11):
d
Jn (kc ) = 0
(5.40)
2
Die Koordinate (kc d2 ) der Nullstellen der Besselfunktion sind mit pnm bezeichnet. Damit nden wir als Bedingung fur die Eigenwerte kc :
2p
kc = nm
(5.41)
d
Mit kc = 2c folgt:
=) c =
d
pnm
c = pnm
c
d
5.5.
85
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
1,2
J0(x)
1,0
0,8
0,6
J1(x)
J1(x)
0,4
p11=3.832
0,2
0,0
p11=1.841
-0,2
-0,4
p01=2.405
98020301.opj
-0,6
0
x
P
Abbildung 5.11: Besselfunktionen Jn (x = kc r) = 1
k=0 k!
( 1)k
kc r n+2k
(n+k+1) 2
d Jn (kc d2 )
=0
dr
(5.43)
d
=) c = 0
pnm
c = p0nm
c
d
Die kleinste Wert der pnm bzw. p0nm , an dem die erste Nullstelle der Besselfunktion bzw. der Ableitung der Besselfunktion auftritt, betragt p011 = 1:841,
vergleiche Abb. 5.11. Damit ist die TE11 -Mode die Mode mit der niedrigsten
Frequenz, die sich im Hohlleiter ausbreiten kann. In einen Hohlleiter mit einem
Durchmesser d von 220 m betragt die Grenzfrequenz der TE11 -Mode somit
799 GHz, die TM01 -Mode wird bei 1.043 THz und die TE21 -Mode bei 1.325 THz
anschwingen.
Setzt man Gl. (5.44) in Gl. (5.31) ein, so erhalt man die Phasenanderung:
s
2
( ) =
1
c
p0nm c 2
:
d
(5.45)
86
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
Dichroischer Filter
Skalares em-Wellenfeld
pq
s
Periodizitt gem
Floquets Theorem
Skalares em-Wellenfeld
pq
Wellenleitertheorie
=> Grenzfrequenz
Abbildung 5.12: Dichroitischer Filter und Skizze der Chenschen Transmissionstheorie. Ein skalares em Wellenfeld pq tritt auf die 3-dimensionale periodische
des dichroitischen Filters. Die Periodizitatsbedingung zwingt gema dem Floquetschem Theorem das skalare Wellenfeld in Floquetmoden.
Theorie in der Wellenlangendarstellung, anstatt einer Frequenzabhangigkeit, so
da Gl. (5.45) in Abhangigkeit der Wellenlange ausgedruckt werden mu. Fur
8 Diese Beschrankung resultiert im wesentlichen daraus, da man einerseits nicht in der
Lage war, im hochfrequenten THz-Bereich zu arbeiten und andererseits noch keine CNCMaschinen mit ausreichender Prazision besa, um solche Filterstrukturen im MikrometerBereich herzustellen.
5.5.
87
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
2
() =
1
0:586
d
2
(5.46)
T=
1
1 i(A + B tanh( 21 il))
1
;
1 i(A + B coth( 12 il))
(5.47)
R=
1
1
+
1
1 i(A + B tanh( 2 il)) 1 i(A + B coth( 12 il))
1 :
(5.48)
Die Lange des dichroitischen Filters l geht hier als Parameter ein. Gl. (5.47)
und Gl. (5.48) erfullen die Energieerhaltung: R R + T T = 1, wobei ohmsche
Verluste vernachlassigt werden. Die Transmission der Leistung ist gegeben als:
TP = T T :
(5.49)
Generell sind die Funktionen A und B abhangig von den geometrischen Verhaltnissen des Filters, insbesondere vom Lochdurchmesser d und dem Lochabstand
s. Gema der Theorie von Chen lassen sich die Funktionen A und B fur senkrechten Strahlungseinfall folgendermaen schreiben:
s
2
4
A = 12
3 s
"
J10 (x)
#2
x 2
1:841
12
r
2
4
3 s
J1 (x) 2
x
(5.50)
B = 0:21
2
s
d
i :
(5.51)
Die Gleichungen (5.47) und (5.48) gelten jeweils nur fur die erste im Hohlleiter
anschwingende Mode TE11 . Sie erweisen sich als sehr nutzlich, um die Transmissionscharakteristiken von dichroitischen Filtern im Millimeter- und Submillimeterbereich in Abhangigkeit der gewahlten Parameter l; d und s zu bestimmen.
88
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
h sin() = m
(5.52)
2c
p
s 3
(5.53)
h
b
s
d
Abbildung 5.13: Dichroitischer Filter mit hexagonaler Anordnung der Lochblenden mit Durchmesser d. Dieqdreieckige Elementarzellepmit einer Seitenlange s
2
besitzt eine Flache a = s2 34 , bei einer Hohe h = 2s 3. Die Flache einer der
drei oenen Kreissegmente innerhalb einer Elementarzelle betragt b = 6 ( d2 )2 .
5.5.4.2 Onungsverh
altnis der dichroitischen Filter
Das Onungsverh
altnis10 ist das Verhaltnis von Loch
ache zur Gesamt
ache.
Betrachtet man die Elementarzelle einer dichroitischen Filterplatte, welche in
9 im Englischen als diraction limit bezeichnet
10 im Englischen als porosity bezeichnet
5.5.
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
89
Abb. 5.13 dargestellt ist, so ist das Verhaltnis Q zwischen Loch- und Elementarzellen
ache gesucht:
d 2
3b
(5.54)
Q= = p
a
12 s
Fur hohe Frequenzen bzw. kleine Wellenlangen, die unter senkrechtem Einfall
auf den dichroitischen Filter treen und aufgrund ihrer kleinen Wellenlange
c keine nennenswerten Beugungsverluste erleiden, wird die Transmission
TP sich dem Oennungsverh
altnis Q angleichen, d.h. es gilt dann: TP = Q =
Tporosity .
90
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
eine moglichst hohe elektrische Leitfahigkeit zu erzielen, wurden die dichroitischen Filterplatten galvanisch vergoldet und anschlieend mit einem optischen
Mikroskop die geometrischen Parameter der Filter vermessen, siehe Tabelle 5.1.
bandpass filter
Abbildung 5.15: Mikroskopaufnahme eines galvanisierten Kreuzschlitz Bandpalter mit einer Resonanzfrequenz bei 280 GHz. Die geometrischen Parameter betragen G = 810 m, die Schlitzbreite L = 570 m, und die strap width
C = 650 m, und die Kupferfolie ist besitzt eine Dicke von t = 10 m. Die
Abbildung ist aus [98] entnommen.
den Parametern der verschiedenen Filter treten auf: Die Resonanzfrequenz r
wird durch die Schlitzbreite L deniert. Dies entspricht beim dichroitischen
Filter dem Lochdurchmesser. Die Gute des Bandpalters wird durch die Streifenbreite C und die Foliendicke t bestimmt. Beugungsverluste werden wie beim
dichroitischen Filter durch die Gitterperiode G festgelegt. Jochen Weinzierl aus
Erlangen benutzte ein kommerzielles Programm, Maxwell's Finite Integration
Algorithm (MAFIA) [21], um die Transmissionseigenschaften in Abhangigkeit
der Filtergeometrie zu bestimmen. Gema diesen Berechnungen sollten die geometrischen Parameter in ein bestimmtes Verhaltnis gesetzt werden, um einen
5.5.
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
91
92
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
(5.56)
5.5.
93
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
800
1,0
A1
600
A2
0,8
400
0,6
200
0
0,4
-200
0,2
-400
800
B1
600
B2
0,8
400
ETHz(t) [a.u.]
x2
0,6
200
0
0,4
-200
0,2
-400
0,0
1,0
0,0
1,0
400
C1
C2
300
0,8
200
0,6
x2
100
0,4
0
0,2
-100
-200
0,0
t [ps]
[THz]
Abbildung 5.17: Die linke Spalte zeigt die in der Zeitdomane gemessenen
Referenz-Pulse (graue Linie) und die Probe-Pulse (schwarze Linie) der dichroitischen Filter mit Grenzfrequenzen bei 155, 586, and 773 GHz. Die Amplituden
der Probe-Pulse B1 und C1 wurden zur besseren Sichtbarkeit mit dem Faktor
2 multipliziert. Die rechte Spalte zeigt die fouriertransformierten Datensatze
in der Frequenzdomane. Die kleinen Pfeile geben die starksten Wasserdampfabsorptionslinien bei 557, 752, 1097, 1160, 1229 und 1411 GHz in der Labor
Atmosphare an [104]. Aufgrund der verschieden groen Aperturen im THzStrahlengang zeigen die THz-Pulse unterschiedliche Frequenzverteilungen bzw.
Puls-Formen in der Zeitdomane.
94
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
~ [cm-1]
0,0
6,6
13,2
19,8
26,4
33,0
39,6
46,2
225
1,0
A
180
0,8
135
c=155 GHz
0,4
90
0,2
45
0,0
0
225
1,0
B
180
0,8
0,6
135
c=586GHz
0,4
90
0,2
45
0,0
1,0
225
C
0,8
180
0,6
135
c=773GHz
0,4
90
0,2
45
0,0
0,0
Power Transmittance TP
0,6
98010799.opj
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
[THz]
5.5.
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
95
und ist zusammen mit der Transmission TP in Abb. 5.18 als graue Linie dargestellt.
Die experimentelle Grenzfrequenz wird im wesentlichen vom Lochdurchmesser d bestimmt, vgl. Gl. (5.44). Diese Gleichung gilt fur unendlich lange
Hohlleiter. Die tatsachliche Grenzfrequenz verschiebt sich aufgrund evaneszenter Moden, die aus der endlichen Lange l des dichroitischen Filters resultieren.
D.h. also, da die Grenzfrequenz durch ein Zusammenspiel des Lochdurchmessers d und der Lange l bestimmt wird, vgl. hierzu auch Abb. 5.24. Die Lange
des dichroitischen Filters ist magebend dafur wie stark evaneszente Moden
unterdruckt werden. Durch die Variation von l lat sich daher die Anstiegs
anke der Transmissionkurve bestimmen, vgl. hierzu Abb. 5.7 und Abb. 5.24. Fur
Frequenzen unterhalb der Grenzfrequenz < c wirkt die dichroitische Filterplatte wie ein Spiegel, wahrend Frequenzen mit > c den Filter transmittieren.
Aus diesem Grunde werden dichroitische Filterplatten auch als Hochpa-Filter
bezeichnet. Die Bandbreite der Transmission wegen der Beugungsverluste limitiert, da das hexagonale Lochmuster als zweidimensionales Beugungsgitter
wirkt, vgl. Abschnitt 5.5.4.1. Oberhalb der Beugungsfrequenz11 di sinkt die
Transmission auf TP 0:3.
In Abb. 5.18 erkennt man, da theoretische und experimentelle Daten gut
ubereinstimmen, wenn auch die Theorie nur die Mode mit der niedrigsten Frequenz (TE11 ) berucksichtigt. Als Konsequenz tritt an der Beugungsfrequenz
di ein starker Einbruch der theoretischen Transmission auf. Im Experiment
wird dieser nicht beobachtet, da die nachst hohere Mode (TM01 ) bereits den
Waveguide transmittiert.
Mochte man eine scharfe Anstiegs
anke und eine 30%-Bandbreite um die
Zentralfrequenz der Transmission bei einer hohen Transmission (TP 1) erzielen, so sollten die Parameter der dichroitischen Filter in einen Verhaltnis der
Lange l zu Lochdurchmesser d und Lochabstand s von 1 : 1:2 : 1:6 benutzt
werden [2, 3].
96
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
Tabelle 5.1: Die Parameter der dichroitischen Filter (DF) und des KreuzschlitzBandpalters (BF) wurden mit einem optischen Mikroskop bestimmt. cexp ist
die experimentell bestimmte Grenzfrequenz bei -3 dB (50 %) der maximalen
Transmission.
#
type
A
DF
B
DF
C
DF
1
DF
2
DF
3
DF
4 kask. DF
5 kask. DF
6 Kreuzschl.
BF
7 thin DF
cexp [GHz]
155
586
773
1112
155
242
155 and 242
242 and 242
rexp = 280
228
l [m]
d [m]
s [m]
920
1190
1520
258
300
425
290
235
297
153
168
226
920
1190
1520
700
740
970
920; 700 1190; 740 1520; 970
700; 700 740; 740 970; 970
t = 10 L = 570 G = 810
C = 650
125
740
970
FIR Bereich untersucht. Die Mekurve ist in Abb. 5.20 als graue Linie dargestellt und ist nahezu identisch mit den Mewerten der THz-TDS.
Mit einem weiteren Spektrometer der Firma Bruker wurde in Freiburg an
der Fakultat fur Physikalische Chemie der Filter im IR-Bereich spektroskopiert.
Man erkennt in der Abb. 5.20, da das Onungsverh
altnis bzw. die Porosity ab
ca. 100 THz ( = 3 m) mit Tporosity 0:52 erreicht wird. Der gema Gl. (5.54)
berechnete Wert betragt 0.50.
In Abb. 5.21 ist das Transmissionsverhalten des 1.11THz Filter in dB (dB=
10 log(TP )) dargestellt, um sein Dampfungsverhalten bei Frequenzen unterhalb
bereinstimmung mit der theoretischen
der Grenzfrequenz zu illustrieren. In U
Kurve fallt die Transmission fur Frequenzen, die kleiner als 1 THz sind, unter
-10 dB . An dieser Grak erkennt man das hohe Signal zu Rausch Verhaltnis
des Spektrometers, welches bei ca. 104 liegt.
5.5.
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
97
Filter, so addieren sich die individuellen Phasenanderungen zur Gesamtphasenanderung cas = 1 + 2 , die in Teil (D) dargestellt ist.
98
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
Phasenanderung des dicken Filters groer als die des dunnen. Dieser Sachverhalt wird im folgenden Abschnitt genauer besprochen.
5.5.
99
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
Reference Pulse
ETHz(t) [a.u.]
FSC-sample pulses: #1
#2
#3
#4
#5
#6
#7
-2
10 12 14 16 18
t [ps]
Abbildung 5.19: Der oberste Puls gibt einen typischen Referenz THz-Puls an.
Die Nummerierung der Probe-Messungen entspricht der Reihenfolge der in Tabelle 5.1 aufgefuhrten FSC. Alle dargestellten Messungen entsprechen einzelnen FSC bis auf die Probe-Messungen #4 und #5, die durch Kombination von
dichroitischen Filtern erzielt wurden. Die
achere Anstiegs
anke von ProbenMessung #7 begrundet sich in einem THz-Puls, der nur ein Frequenzspektrum
bis zu 1 THz besa.
100
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
~
27
-1
[cm ]
40
53
1,0
67
3340 6680
225
Chen's theory
180
0,6
135
c=1.11THz
FTS-data
0,4
90
0,2
45
[degrees]
Transmittance TP
THz-TDS-data
0,8
98013071.opj
0,0
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
100 200
200
100
[THz]
Abbildung 5.20: Transmission TP (Quadrate) des Filter # 1. Seine Grenzfrequenz betragt c = 1:11 THz bei -3 dB der maximalen Transmission von 0.94.
Die Transmission des Filters wurde auch mit einem Bruker Fourier Transform
Spektrometer (graue Linie) gemessen. Man erkennt, da ab ca. 30 THz die Beugungsverluste sich verringern und die Transmission die Porosity von ca. 52%
erreicht. Die Phasenanderung ist als dunne Linie dargestellt.
~ [cm-1]
0
13
20
27
33
40
47
c=1.11THz
53
60
67
diff=1.50THz
Transmittance [dB]
-10
center freq.
1.3THz
-20
-30
-40
-50
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
[THz]
5.5.
101
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
Transmittance
Phase
1,0
225
(C)
0,8
180
0,6
135
0,4
90
0,2
45
0,0
0
360
(B)
(D)
0,3
270
Transmittance TP
(A)
0,2
180
0,1
90
0
0,0
0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5
[THz]
Abbildung 5.22: (A) Transmissionskurven der Filter # 2 and # 3 mit Grenzfrequenzen bei c = 155 GHz und c = 242 GHz. (B) zeigt die Transmisionskurve
(Quadrate) wenn beide Filter in den THz-Strahlengang eingebracht werden.
Die entsprechende Probe-Messung ist in Fig. 5.19 mit Nummer 4 bezeichnet.
Die theoretische Transmissionskurve (schwarze Linie) erhalt man durch Multiplikation von TP1 mit TP2 . (C) zeigt die Phasenanderung der einzelnen Filter 1 und 2 , wahrend (D) die Phasenanderung der kaskadierten Filter
cas (gestrichelte schwarze Linie) im Vergleich mit addierten individuellen
Phasenanderungen (graue Linie) aus Teil (C) wiedergibt.
102
KAPITEL 5.
1,0
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
360
(A)
0,8
270
0,6
180
Transmittance TP
90
0,2
0,0
1,0
0
135
cross-shaped grid bandpass filter
(B)
90
0,8
45
0,4
0,6
0
0,4
-45
0,2
0,0
0,0
-90
0,2
0,4
0,6
0,8
-135
1,0
[THz]
5.5.
103
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
Transmittance
Phase
1,0
225
(B)
0,8
180
0,6
135
0,4
90
0,2
45
0,0
0,0
0,1
0,2
0,3
[THz]
0,4
0,5
0,0
0,1
0,2
0,3
0,4
Transmittance TP
(A)
0
0,5
[THz]
Abbildung 5.24: (A) Transmissionskurven des dunnen (l = 125 m) dichroitischen Filters # 7 mit c = 228 GHz (oene Kreise) und des dicken (l = 700m)
dichroitischen Filters # 3 mit c = 242 GHz (Quadrate). Die schwarzen Linien
geben die jeweiligen theoretischen Transmissionskurven an. (B) Die gestrichelte
Linie zeigt die Phasenanderung des dunnen Filters im Vergleich mit der Phasenanderung des dicken Filters.
104
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
(5.57)
In Abbildung 5.25 sind die Phasendierenzen von vier der sechs dichroitischen
Filtern dargestellt, die in Tabelle 5.1 aufgefuhrt sind. Die Phasendierenz
ist gegen die normierte Grenzfrequenz =c aufgetragen. Eine positive Phasen-
225
filter:
#1
#3
#7
#C
[degrees]
180
135
90
45
0
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
/ c
5.5.
105
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
Frequenz qc bei der Ausbreitung um die Lange l im Vakuum erfahren wurde:
2qc
l ;
(5.58)
c
wobei der Faktor q zwischen 0.4 und 2.4 in Schritten von 0.2 variiert wurde.
Die in dieser Form dargestellten Daten weisen auf einen linearen Zusammen-
vac =
225
0.4 c
0.6 c
0.8 c
c
1.2 c
1.4 c
1.6 c
1.8 c
2 c
2.2 c
[degrees]
180
135
90
45
98112706.opj
45
90 135 180 225 270 315 360 405 450 495 540
vac [degrees]
Abbildung 5.26: Phasenverhalten der dichroitischen Filter. Die Steigungen geben die Phasengeschwindigkeiten der jeweiligen Frequenzen qc an (mit q = 0:4
in Schritten von 0.2 bis q = 2:4). Eine Gerade mit der Steigung Null entspricht
einer Phasengeschwindigkeit vph = c.
hang zwischen der Phasendierenz und der Vakuumphase vac hin. Fuhrt
der Filter zu keiner zusatzlichen Phasenanderung = 0, so besitzt die entsprechende Gerade in der Grak 5.26 die Steigung m = 0 und die Phasengeschwindigkeit betragt vph = c. Bei positiver Phasendierenz ist die Steigung
m groer Null und die entsprechenden Frequenzen xc besitzen eine Phasengeschwindigkeit von vph = (m + 1) c > c. Je groer die Frequenzen im Vergleich
zur Grenzfrequenz sind, desto geringer ist die Phasenanderung, was einer geringeren Phasengeschwindigkeit im Hohlleiter entspricht. Die Geradengleichungen
der jeweiligen charakteristischen Frequenzen xc wurden durch einen linearen
Fit bestimmt.
In Abb. 5.27 sind die Phasengeschwindigkeiten vph gegen die normierte Grenzfrequenz =c aufgetragen. Fur hohe Frequenzen nahert sich die Phasengeschwindigkeit der Lichtgeschwindigkeit c an, wahrend an der Grenzfrequenz die
Phasengeschwindigkeit ca. 1.6 c erreicht. Fur Frequenzen oberhalb der Grenz bereinstimmung mit dem theoretischen
frequenz erkennt man eine qualitative U
106
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
2,2
vph / c
2,0
1,8
1,6
1,4
1,2
evanescent region
1,0
vg / c
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
2,2
/c
Evaneszente Region
Die Moden innerhalb der evaneszenten Region eines dichroitischen Filters stel berlagerung von exponentiell abklingenden elektrischen Feldern dar.
len eine U
Bei der Transmission eines em-Pulses in der evaneszenten Region werden die
hoherfrequenten Moden weniger stark gedampft als die niederfrequenten Moden. Dieses Phanomen wird in der Literatur als Analogie zwischen dem quantenmechanischen Tunnelproblem eines Teilchens und der Zeitverzogerung, die
ein evaneszentes Wellenpaket in einem Hohlleiter erfahrt, diskutiert [49, 71].
5.5.
107
FREQUENZ-SELEKTIVE KOMPONENTEN
100
(l=0) [degrees]
80
60
40
20
evanescent region
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
2,2
/c
108
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
Abbildung 5.29: Beispiele simpler ein-, zwei, und dreidimensionaler Photonischer Kristalle. Die verschiedenen Graustufen entsprechen Materialien mit verschiedenen Dielektrizitatskonstanten. Die Kristalle werden durch ihre Periodizitat entlang einer oder mehrerer Achsen deniert, entnommen aus [61].
Ausbreitungscharakteristiken em-Strahlung (Photonen) in Photonischen Kristallen zu untersuchen und damit die Theorie zu u berprufen. Die Photonischen
13 im Englischen als photonic band gap (PBG) bezeichnet
5.6.
PHOTONISCHE KRISTALLE
109
110
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
Abbildung 5.30: Photonische Bandstruktur eines eindimensionalen Photonischen Kristalls fur eine Ausbreitungsrichtung. Die Dielektrizitatskonstante alterniert zwischen = 13 und = 1. Entnommen aus [61].
Transmittance TP
1,6
a
THz
1,4
82GHz 164GHz
480GHz
726GHz
1,2
PBG's
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
[THz]
1,0
1,2
1,4
98021343.opj
5.6.
PHOTONISCHE KRISTALLE
111
mission (TP 0) den photonischen Bandlucken, die als kleine graue Pfeile
eingezeichnet sind.
Das eindimensionale Photonische Kristall ist wie bereits erwahnt als FabryPerot-Interferometer bzw. als Etalon schon lange bekannt, deren Transmissionsverhalten durch die Interferenz von Mehrfachre
exionen bestimmt wird. Der
freie Spektralbereich dieser Anordnung betragt [24]:
c
=
(5.59)
2nd
Mit den Werten fur GaAs aus Tabelle 2.1 ergibt sich = 84 GHz. Die freien
Spektralbereiche sind in Abb. 5.31 als schwarze Pfeile eingezeichnet.
112
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
durch die Messung der re
ektierten Strahlung erfolgen, die dann bei 700 GHz ein
Maximum besitzen sollte. Da dieses Transmissionsminimum durch Absorption
zustande kommt kann ausgeschlossen werden, da die Absorption von HPDE
vernachlassigbar gering ist, vgl. Abb. 5.3.
Mit ahnlichen Strukturen glaubt man im optischen Bereich die Lichtauskopplung aus Leuchtdioden (LED) optimieren zu konnen [29]. Hier konnte man
als Test einer solchen Struktur die Entspiegelung von z.B. GaAs im FIR-Bereich
vornehmen.
Detector
Emitter
Laserpulse
THz-pulse
BS
M
P
Si-lens
Delay-line
Si-lens
M
Abbildung 5.33: THz-TD-Spektrometer mit konventionellem Halbleiterdetektor, entnommen aus [92]. Der Photonische Kristall wurde im Zwischenfokus der
Parabolspiegel vermessen.
Vapor Deposition (LCVD) hergestellt, d.h. er wurde aus der Gasphase im einem Laserfokus ausgeschieden [106]. Diese Technik erlaubt die Herstellung dreidimensionaler Strukturen im m-Bereich. Ein vergleichbarer zu dem in dieser
Arbeit charakterisierten Kristall ist in Abb. 5.34 dargestellt.
Die sehr kleinen Abmessungen des Kristalls (3 1 0:5 mm3 ) erwiesen sich als
sehr problematisch bei den Transmissionsmessungen. Der Kristall wurde hinter
einer Apertur im Zwischenfokus der Parabolspiegel angeordnet. Die Apertur
(A) mute auf 1 mm verengt werden, um zu verhindern das em-Strahlung den
Kristall seitlich passieren konnte, vgl. Abb. 5.34. Die kleine Apertur hatte zur
Folge, da die Gesamtintensitat am Detektor sehr gering war, so da die Mes-
5.6.
PHOTONISCHE KRISTALLE
113
Ausblick
THz-Spektroskopie in der Zeitdomane wird in Zukunft sicherlich bei der Charakterisierung von Photonischen Kristallen einen Beitrag liefern konnen. Insbesondere konnte die Auswertung der Phaseninformation (die in diesen Beispielen
aus Zeitgrunden nicht erfolgte) im Hinblick auf das Verhalten der Phasengeschwindigkeiten evaneszenter Moden (vgl. hierzu Abschnitt 5.5.7) innerhalb der
Photonischen Kristalle interessante Ergebnisse liefern.
114
KAPITEL 5.
THZ-SPEKTROSKOPIE IN DER ZEITDOMANE
Transmittance TP
1,0
0,8
0,6
photonic band gap ?
0,4
0,2
0,0
0,0
98072305.opj
0,4
0,8
1,2
1,6
2,0
THz
Kapitel 6
2D-Aufnahme von
THz-Strahlprolen
6.1 Einleitung
Ausgangspunkt fur die vorliegende Arbeit war eine Diskussion im Dezember
1994 des Autors mit seinem jetzigen Betreuer inwieweit THz-Pulse zu Durchleuchtungsverfahren im medizinischen und technischen Bereich anwendbar sind.
Zu diesem Thema entwickelten wir konkrete Plane, die wir auf der Konferenz
fur Ultraschnelle Prozesse in der Spektroskopie (UPS) in Triest, Italien im November 1995 prasentierten [56]. Im direkten Anschlu an unsere Vorstellung
wurde bei dieser Konferenz ein analoger Ansatz von Zhang et al. vorgetragen
[122]. Fur eine Patentanmeldung unserer Idee versuchten wir 1995 vergeblich
Unterstutzung an den amtlichen Stellen der Universitat Freiburg. Ziel unseres
Ansatzes war die Idee das THz-Strahlprol in Echtzeit gro
achig zu detektieren und die durch Objekte im Strahlengang hervorgerufene Phasen- und Amplitudenanderungen zur Erkennung des Objektes zu verwenden. Geleitet wurde
unser Ansatz durch die bekannten Unzulanglichkeiten und Gefahren bei der
konventionellen mammographischen Untersuchung mit Rontgenstrahlen [123].
Die ersten Durchleuchtungsexperimente mit THz-Pulsen wurden 1995 von
B. B. Hu und M. Nuss berichtet [54], die weltweit groes Echo in der Presse
fanden [35, 1, 9]. Als Probenbeispiele untersuchten sie Mikroprozessoren und
Blatter von Baumen in einem THz-TD Spektrometer, dessen Aufbau vergleichbar mit dem aus Abb. 5.33 ist. Im Unterschied zu unserem Ansatz wurden dabei
Proben durch den Fokus zwischen zwei Parabolspiegeln gerastert. Danach werden die einzelnen Datensatze zu einem zweidimensionalen Durchleuchtungsbild
wieder zusammengesetzt. Die Aufnahmedauer einer solchen Durchleuchtungstechnik liegt in der Groenordnung von Minuten bis Stunden je nach Groe der
Probe und der erwunschten Orts- und Zeitau
osung.
Fur zukunfts- und anwendungsorientierte Durchleuchtungsapparate, die z.B.
in der Medizin, der Qualitatskontrolle bei Fliebandfertigungen oder Gepacksi115
116
KAPITEL 6.
6.2.
ZWEIDIMENSIONALE DETEKTION
117
Abbildung 6.1: Versuchsaufbau zur zweidimensionalen Detektion von THzPulsen. BS - 10% Strahlteiler, Emitter - GaAs-Wafer (1 cm2 ), HV - gepulste
Hochspannungsquelle, HDPE-lens - High Density Polyethylene Optik, Delay
Line - Verzogerungsstufe, PR - Polarisationsdreher, SBC - Soleil-Babinet Kompensator, PBS - Folienstrahlteiler, PP - Dunnschichtpolarisatoren, CCD - CCD
Kamera
bedeutet, da eine Bildaufnahme ca. 0.13 s braucht.
bersetzung des Strahlungsfeldes in den sichtbaren
Die in Abb. 6.2 zur U
Wellenlangenbereich erforderliche THz-Energie betrugt also 120 0:4 nJ (siehe Abschnitt 4.7.3). Das entspricht einer quasikontinuierlichen Intensitat von
von 50 nJ/0.13 s = 380 nW. In der Darstellung von Abb. 6.2 besitzt der THzPuls einen 1=e Strahlradius von ungefahr 100 Pixel. Damit liegt die mittlere
pro Pixel detektierte Leistung im Bereich von 380 nW/1002 12 pW. Diese Groenordnung verdeutlicht die extrem hohe Empndlichkeit der zeitaufgelosten eo-Detektion von THz-Pulsen, deren mittlere Photonenenergie bei ca.
2 meV liegt.
Anmerkung zur gewahlten optischen Vorspannung 0 :
Bei der Detektion mit einer CCD-Kamera ist es ungunstig bei einer
optischen Vorspannung von 0 = =2 zu arbeiten, da die Modulation der Probe-Puls Intensitat aufgrund des THz-Pulses maximal 7 %
( = 4 , vgl. Abschnitt 4.7.3) betragt. D.h. eine CCD-Kamera mit
einem dynamischen Bereich von 8 Bit erlaubt somit nur eine maximale
Intensitatsanderung in digitalen Schritten von 1 bis 20 counts zu messen. Im Vergleich dazu betragt die gemessene Intensitatsanderung bis
zu 200 counts bei einer optischen Vorspannung von 0 0.
Bzgl. dieser Thematik ist jungst eine Arbeit von Jiang et al. erschienen
[59].
118
KAPITEL 6.
SV
]
S
V
V
\ VZ
XYYTUZ
[
^_
Abbildung 6.2: Obere Abbildung: CCD-Aufnahme der im Fokus der HPDEOptik (f = 66 mm) erzeugten Intensitatsanderung des Probe-Strahls bei Anwesenheit des THz-Pulses. Die untere Grak zeigt einen Schnitt aus der oberen
Abbildung in horizontaler Richtung. Durch die Medaten (Quadrate) wurde ein
Gausche Fitfunktion gelegt
6.3.
AUSWERTUNG EO-DETEKTIONSBILDER
119
120
KAPITEL 6.
6.4.
z [mm]
RSM
121
z [mm]
Dcz
f
2 !
1
2
2
2
2fc
D
1+
z
:
D
4cf
(6.1)
(6.2)
1 Die Berechnungen gema der Gleichungen (6.1) und (6.2) berucksichtigen die experimentelle Denition von z als Abstand von der HDPE-Optik zum Detektionskristall.
In Abb. 6.4 sind die Gleichungen (6.1) und (6.2) als durchgezogenen Linien
dargestellt1 . Bei den Berechnungen wurde die Zentralfrequenz des THz-Pulses
= Z = 500 GHz ( = 0:6 mm) eingesetzt. Die Amplitude E0 und die Apertur des Pumplaser-Pulses D wurden den Medaten angepat. Dabei wurde die
Apertur um 8 % gegenuber dem experimentellen Wert angepat. Theorie und
w(; z ) =
Der Strahldurchmesser w lat sich mit Hilfe von Gl. (2.9) und des konfokalen
Parameters z0 = w02 =c angeben als [36]:
ETHz (; z ) = E0 1 +
in Abhangigkeit vom Abstand z vom Fokus einer dunnen Optik mit Hilfe des
konfokalen Parameters z0 = w02 =c in folgender Form ausdrucken [36]:
Amplitude [counts]
122
KAPITEL 6.
experimentelle Daten stimmen bei den elektrischen Feldstarken recht gut u be bereinstimmung
rein, jedoch kann bei den Strahlradien nur eine qualitative U
zwischen Experiment und Theorie geltend gemacht werden. Der Grund fur die
Unterschiede liegt in der nichtlinearen Detektionscharakteristik (Kapitel 4.7.2)
der Probe-Puls Intensitat.
In Abb. 6.5 ist Spitzenintensitat der angepaten Gau-Amplituden des optischen Probe-Pulses in Abhangigkeit der angelegten Hochspannung am THzEmitter dargestellt. Es zeigt sich eine nicht lineare Abhangigkeit zwischen der
200
pixel counts
150
100
50
97072152.opj
10
HV [kV]
Abbildung 6.5: Hochspannungsabhangigkeit der detektierten Probe-Puls Intensitaten im Fokus der HDPE-Optik. Aufgetragen sind die getteten Intensitatsamplituden und mit deren Fehlergrenzen, die aus den Gauschen Fitfunktionen erhalten wurden.
gemessenen Intensitatsanderung des Probe-Pulses und der elektrischen Feldstarke
des THz-Pulses, vgl. hierzu Ausfuhrungen in Abschnitt 4.7.2. Somit werden hohe elektrische Feldstarken gegenuber niedrigen Feldstarken uberrepresentiert.
Aus diesem Grunde konnen die experimentellen Daten in Abb. 6.4 nur als eine
qualitative Bestatigung des erwarteten THz-Strahlprols entlang seiner Strahlachse verstanden werden.
6.5 Ausblick
Die hier vorliegenden Messungen demonstrieren, da es moglich ist THz-Pulse
zweidimensional zu detektieren. Ein entscheidender Punkt bei der Detektion ist
die Qualitat des eo-Kristalls. Ist das Kristall in seinen eo-Eigenschaften nicht
homogen, so wird die Abbildung verfalscht. Selbst ein ideal gezuchtetes Kristall
wird durch mechanische Belastungen in seinen elektrooptischen Eigenschaften
6.5.
AUSBLICK
123
nachhaltig gestort.
Zhang und Mitarbeiter haben ihr eo-Detektionskristall ortsaufgelost auf seine eo-Eigenschaften vermessen und korrigieren die unterschiedlich empndlichen eo-Regionen des Kristalls im ihrem Auswerteprogramm [60].
Eine weitere Notwendigkeit, um Proben zu durchleuchten, besteht darin,
da man eine CCD-Kamera mit hohem dynamischen Bereich, d.h. mehr als
16 Bit verwendet. So konnten Zhang und Mitarbeiter letzten Herbst auf der
IEEE-Konferenz Terahertz Electronics in Leeds, GB, von X.-C. der ersten mammograschen Untersuchungen vorgestellen [60].
Anhang A
= C
Z L
0
Z L
dz ETHz
vTHz
) THz (T ) = C
=
Dierenzierung nach T :
dTHz (T )
=
dT
z
vopt
{z
(A.1)
+ T = zc (nTHz
nopt ) + T =
c
c
d ETHz ( ) e n (
n
T)
(A.2)
Z T
c
c
c
Ce n T n
ETHz ( ) e n d
n
c L+T
(A.3)
Z T
c
c
c d
ETHz ( ) e n d
C
e n T n
n dT
c L+T
dF (u)
du
T)
z
=1; fur t=T vopt
d Ru
du a f (x)dx = f (u)
!
c
c c cn T Z T
n d
C
e
n L+T ETHz ( ) e
n n
c
c
c
c
Ce n T ETHz (T ) e n T
n
Z T
c
c
c c
Ce n T n
ETHz ( ) e n d
n n
c L+T
+T e
{z
n L+T
vopt
z
Mit wird folgende Substitution = vTHz
n z + T . , z = c ( T ); ) dz = c d
c
n
n
THz (T )
=
) ddT
1
z
z
+ t e z
+ (t
dz
dt ETHz
vTHz
vopt
1
Z
(A.4)
{z
c
c
THz (T )
CE (T )
n
n THz
n 1 dTHz (T ) c
ETHz (T ) =
(T )
c C
dT
n THz
=
124
c
CE (T )
n THz
125
Es folgt:
(A.5)
Anhang B
Gruppenindex in ZnTe
Frequenz [THz]
0,5
1,0
1,5
2,0
2,5
3,0
4,2
4,0
3,8
cw-Brechungsindex
Gruppenindex
Brechungsindex im FIR
3,6
3,4
3,2
3,0
2,8
2,6
2,4
2,2
500 600 700 800 900 1000 1100 1200 1300 1400 1500
Wellenlnge [nm]
126
Anhang C
1,0
0,5
0,0
-0,5
-1,0
LiTaO3, b-cut
1,0
0,0
t = 13.75 ps
-0,5
95121410.opj
-10
-5
5
10
time delay T [ps]
15
20
127
0,5
25
128
ANHANG C.
UND
B -CUT LINBO3
1,0
0,5
0,0
-0,5
LiNbO3, b-cut
1,0
0,0
0,5
-0,5
t = 9.5 ps
96010525.opj
-1,0
-10
-5
5
10
time delay T [ps]
15
20
25
Anhang D
Hochspannungsquelle
Als Hochspannungsquelle kann entweder eine konstante oder eine gepulste Hochspannungsquelle benutzt werden. Als gepulste Hochspannungsquelle wurde eine
Autozundspule benutzt. In Abb. D.2 ist die Hochspannungscharakteristik der
-12
Hochspannungspulse [kV]
-10
-8
-6
-4
-2
2
-200
200
400
600
800
t [s]
1000
1200
1400
1600
1800
98120801.opj
Abbildung D.1: Hochspannungspulse. Unterhalb von ca. 2 kV werden die abgegebenen Hochspannungspulse instabil.
Zundspule dargestellt. Die erzeugten Hochspannungspulse UHV verhalten sich
linear zur Primarspannung Upri [V]. Am Ausgang der Zundspule gilt der lineare
Zusammenhang UHV [kV] = 0:51 Upri 0:35. Am Ausgang eines 30 cm langen konventionellen Zundkabels, der als Zufuhrung an die Elektrode des THzEmitters benutzt wird, andert sich die Ausgangscharakteristik geringfuhig, es
gilt: UHV [kV] = 0:54 Upri 0:32. D.h. es besteht ein Oset der Primarspannung
von ca. 0.6 V, der bei der erzeugten Hochspannung berucksichigt werden mu.
129
130
ANHANG D.
HOCHSPANNUNGSQUELLE
-12
am Zndspulenausgang
nach 30cm Zndkabel
Hochspannungspuls [kV]
-10
-8
-6
-4
-2
97052201.opj
10
12
14
16
18
20
22
HV-Zundspulenschaltung
Die Zundspulenschaltung entspricht einer Transitor-Zundungsschaltung, wie sie
in der Automobiltechnik eingesetzt wird, vgl. Abb. D.3.
1 Uberlagsspannung
zwischen zwei spannungsfuhrenden Elektroden unter Normalbedingun-
131
Upri
Zndspule
L1
L2
UHV
132
ANHANG D.
HOCHSPANNUNGSQUELLE
Abbildung D.5: THz-Emitter. Die Kupferelektroden (A) und (B) sind mit einer
Mischung aus Leitsilber und Sekundenkleber in einem Abstand von ca. 1 cm
auf dem GaAs-Wafer (C) angebracht. Elektrode (A) ist an der Vorderseite und
Elektrode (B) auf der Ruckseite des GaAs-Wafers befestigt. (D) markiert Spuren von Funkenuberschlagen auf dem GaAs-Wafer.
Anhang E
Dielektrische Materialien
In den Abbildungen E.3, E.1, E.2 sind die optischen Eigenschaften eigenen Materialien im FIR-Bereich dargestellt. In diesen Darstellungen ist die Absorption
der Intensitat (P = 2) und nicht die Feldstarken Absorption () angegeben.
1,95
index of refraction
Delrin (POM)
1,90
1,85
1,80
1,75
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
0,8
1,0
1,2
[THz]
absorption [cm-1]
0
97052310.org
0,0
0,2
0,4
0,6
[THz]
Abbildung E.1: Delrin Polyformaldehyd (POM) ist ein fester gut zu bearbeitender Werksto, jedoch im FIR-Bereich als Optik und Fenstermaterial ungeeignet.
133
134
ANHANG E.
DIELEKTRISCHE MATERIALIEN
2,4
index of refraction
electronic braod
2,2
2,0
1,8
1,6
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
0,8
1,0
1,2
[THz]
50
absorption [cm-1]
40
30
20
10
0
97060627.org
-10
0,0
0,2
0,4
0,6
[THz]
135
7,2
7,0
120
LiNbO3
LiNbO3
100
6,8
80
6,6
5,4
60
5,3
40
5,2
20
5,1
7,2
7,0
0,5
1,0
1,5
2,0
0,0
0,5
1,0
1,5
2,0
120
LiTaO3
LiTaO3
100
80
6,8
60
6,6
40
6,4
20
6,2
0,5
1,0
1,5
2,0
0,0
0,5
1,0
1,5
2,0
40
3,50
3,45
-1
0,0
Index of refraction
0,0
ZnTe
ZnTe
30
3,40
3,35
20
3,30
3,25
10
3,20
3,15
3,10
0,0 0,5 1,0 1,5 2,0 2,5 3,0 3,5
Frequency [THz]
99011001.opj
Frequency [THz]
Anhang F
HDPE-Optik
Die Optikformel nach Gau wurde zur Berechnung der HDPE-Optik benutzt
[50]:
1 n2 n1 1
1
=
(F.1)
f
n1
R1 R2
hierbei ist Ri der Krummungsradius. Fur eine plan konvexe Optik gilt R2 = 1
und n1 = 1 fur Luft.
1
=) f =
R ;
(F.2)
n2 1 1
mit n2 = 1:53 fur HDPE. In Abb. F.1 ist die Optik illustriert. Fur einen gau-
n2
n1
R
f
Abbildung F.1: Eine ebene Welle verlat das dichtere Medium (n2 > n1 ) mit
Krummungsradius R.) Es bildet sich eine spharische Welle in n1 aus.
schen Strahl ist die Strahltaille W0; am Fokus der Optik mit Brennweite f
gegeben als [89]:
2 f
W0;
;
(F.3)
D
wobei die Wellenlange und D die Apertur vor der Optik ist. Im Falle eines
THz-Pulses betragt die Zentralwellenlange des THz-Pulses Z 0:6 mm und
136
137
die Apertur D am THz-Emitter 1 cm. Damit folgt fur eine Brennweite von
f = 66 cm ein Fokusdurchmesser W0; 2:5 cm.
Nachteilig bei einer Brechungsoptik sind naturlich die Fresnel-Verluste. Die
transmittierte elektrische Feldamplitude Et betragt hinter der HDPE-Optik
nurnoch:
2n1
Et =
n1 + n2
2
(F.4)
mit n1 = 1 for air, n2 = 1:53 fur HDPE und zl die Propagationslange innerhalb
des Optikmaterials HDPE betragt 5.9 mm bei einer Absorption von
0:4 cm 1 .
Dies bedeutet naturlich einen hohen Verlust an Intensitat, jedoch fur einen
Aufbau einer linearen optischen Bank benotigt man eine Brechungsoptik, vgl.
Kapitel 6.
HDPE-Optik
20
10
ZnTe
GaAs
-10
Probe-Puls
-20
99020901.opj
50
100
150
200
250
300
z [mm]
138
ANHANG F.
HDPE-OPTIK
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1996.
Danksagung
Auf der Suche nach einem physikalischen Promotionsthema mit medizinischen Anwendungspotential stie ich bei Prof. Hanspeter Helm an der Fakultat fur Physik der
Universitat Freiburg auf oenes Interesse. Besonders mochte ich ihm dafur danken,
da er es mir ermoglicht hat, unsere Idee eines bildgebenden Detektors fur THz-Pulse
zu verwirklichen. Ohne seine Unterstutzung und die Schaung einer hervorragenden
Laborausstattung ware diese Arbeit nicht moglich gewesen.
Weiterere Personen die groen Anteil am Erfolg dieser Arbeit haben, sind die Jungens der THz-Mannschaft bestehend aus Michael Schall, Andreas Gurtler, Markus
Walther und last not least Peter Uhd Jespen. Ihnen danke ich fur viele gewinnbringende Diskussionen und gute Stunden im Labor. Insbesondere mochte ich meinen Dank
Peter fur seine versierte THz-Starthilfe, seine vielen Erklarungen und die freundliche
Uberlassung
sehr guter von ihm geschriebener Computerprogramme aussprechen.
Unserem Lasertechniker Achim Holzer danke ich herzlich fur seine stete und fachmannische Hilfe bei all den groen und kleinen Problemen der Pumplaser.
Desweiteren gilt mein Dank fur eine gute und angenehme Arbeitsatmosphare der
ganzen Abteilung Helm bestehend aus: Marco Beckert, Andreas Blum, Marcus Braun,
Thomas Eckert, Alexander Hielscher, Rudiger Jansch, Wolfgang Kamke, Stefan Krieg,
Tobias Lang, Uwe Majer, Eric Meisl, Ivan Mistrick, Ulrich Muller, Stefan Nubach,
Uli Person, Regina Reinhard, Rainer Reichle, Christoph Schellhammer, Mark Schittenhelm, Ewald Schlotterer, Ralf Schmittgens, Volker Schyja, Christine Seiler, Isabella
Siegel, Stefan Sprengel, Daniela Wiedemann, Steen Wolf und Alf Zugenmaier.
Ohne die stete und schnelle Hilfe der Werkstatten der Fakultat fur Physik ware
diese Arbeit nicht moglich gewesen. Hierfur gilt den Mitgliedern der Werkstatten mein
besonderer Dank. Hervorheben mochte Karl Rich, der mit viel Engagement die dichroitische Filter und Parabolspiegel auf der CNC-Maschine hergestellt hat.
Frank Lewen (Universitat Koln) und Jochen Weinzierl (Universitat Erlangen) mochte
ich fur die erfolgreiche Zusammenarbeit auf dem Gebiet der frequenz-selektiven Komponenten herzlich danken.
Dr. M. Stuke (MPI fur biophy. Chemie in Gottingen) danke ich fur die gemeinsamen
THz-TDS Messungen an seinen dreidimensionalen Photonischen Kristallen.
Dr. G. Alber gilt mein Dank fur die Unterstutzung bei den theoretischen Betrachtungen der elektrooptischen Detektion.
Markus Rogalla (Universitat Freiburg) danke ich fur die freundliche Uberlassung
unserer ersten GaAs-Wafer und Harald Schneider (Fraunhofer-Institut fur angewandte
Festkorperforschung in Freiburg) fur LT-GaAs Proben.
M. Lock (Universitat Giessen) und B. Schubach (Universitat Freiburg) sei ebenfalls
gedankt fur die FT-Messungen der dichroitischen Filter.
Den Firmen Freiberger Compound Materials (Freiberg), der hollandischen Firma
Stork Screens B.V.(Boxmeer, NL) und QMC-Instruments Ltd.(London, GB) bin ich
dankbar fur die freundliche Uberlassung
diverser Probenmaterialien.
Diese Arbeit wurde teilweise aus den Mitteln des SFB 276 der DFG nanziert.
Abschlieend mochte ich all denen meinen herzlichen Dank aussprechen, die sich
die Muhe gemacht haben, diese Arbeit Korrektur zu lesen.
Last not least gilt mein Dank meinen Eltern fur die grozuge Unterstutzung meines
Studiums. Ohne diese Unterstutzung ware diese Arbeit auch nicht moglich gewesen.