DEUTSCHE NORM Entwurf August 2007

DIN IEC 62271-101/A1

(VDE 0671-101/A1)

Diese Norm ist zugleich eine VDE-Bestimmung im Sinne von VDE 0022. Sie ist nach
Durchführung des vom VDE-Präsidium beschlossenen Genehmigungsverfahrens unter
der oben angeführten Nummer in das VDE-Vorschriftenwerk aufgenommen und in der
„etz Elektrotechnik + Automation“ bekannt gegeben worden.

ICS 29.130.10 Einsprüche bis 2007-09-30

Vorgesehen als Änderung von
DIN EN 62271-101
(VDE 0671-101):2007-04
Entwurf

Hochspannungs-Schaltgeräte und -Schaltanlagen –

Teil 101: Synthetische Prüfung –
Einbeziehung der IEC 61633
(IEC 17A/767/CD:2006)

High-voltage switchgear and controlgear –

Part 101: Synthetic testing –
Inclusion of IEC 61633
(IEC 17A/767/CD:2006)

Appareillage à haute tension –

Partie 101: Essais synthétiques –
Inclusion de CEI 61633
(CEI 17A/767/CD:2006)

Anwendungswarnvermerk
Dieser Norm-Entwurf wird der Öffentlichkeit zur Prüfung und Stellungnahme vorgelegt.

Weil die beabsichtigte Norm von der vorliegenden Fassung abweichen kann, ist die Anwendung dieses
Entwurfes besonders zu vereinbaren.

Stellungnahmen werden erbeten

– vorzugsweise als Datei per E-Mail an dke@vde.com in Form einer Tabelle. Die Vorlage dieser
Tabelle kann im Internet unter www.dke.de/stellungnahme abgerufen werden
– oder in Papierform an die DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik
im DIN und VDE, Stresemannallee 15, 60596 Frankfurt am Main.

Die Empfänger dieses Norm-Entwurfs werden gebeten, mit ihren Kommentaren jegliche relevante
Patentrechte, die sie kennen, mitzuteilen und unterstützende Dokumentationen zur Verfügung zu stellen.

Gesamtumfang 24 Seiten

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE

 – Entwurf –
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Beginn der Gültigkeit

Diese Norm gilt ab ...

Nationales Vorwort
Das internationale Dokument IEC 17A/767/CD:2006 „High-voltage switchgear and controlgear – Part 101:
Synthetic testing – Inclusion of IEC 61633“ (CD, en: Committee Draft) ist unverändert in diesen Norm-Entwurf
übernommen worden. Dieser Norm-Entwurf enthält eine noch nicht autorisierte deutsche Übersetzung.

Um Zweifelsfälle in der Übersetzung auszuschließen, ist die englische Originalfassung des CD entsprechend
der diesbezüglich durch die IEC erteilten Erlaubnis beigefügt. Die Nutzungsbedingungen für den deutschen
Text des Norm-Entwurfes gelten gleichermaßen auch für den englischen IEC-Text.

Das internationale Dokument wurde vom SC 17A „High-voltage switchgear and controlgear“ der Internatio-
nalen Elektrotechnischen Kommission (IEC) erarbeitet und den nationalen Komitees zur Stellungnahme
vorgelegt.

Die IEC und das Europäische Komitee für Elektrotechnische Normung (CENELEC) haben vereinbart, dass
ein auf IEC-Ebene erarbeiteter Entwurf für eine Internationale Norm zeitgleich (parallel) bei IEC und
CENELEC zur Umfrage (CDV-Stadium) und Abstimmung als FDIS (en: Final Draft International Standard)
bzw. Schluss-Entwurf für eine Europäische Norm gestellt wird, um eine Beschleunigung und Straffung der
Normungsarbeit zu erreichen. Dokumente, die bei CENELEC als Europäische Norm angenommen und
ratifiziert werden, sind unverändert als Deutsche Normen zu übernehmen.

Da der Abstimmungszeitraum für einen FDIS bzw. Schluss-Entwurf prEN nur 2 Monate beträgt, und dann
keine sachlichen Stellungnahmen mehr abgegeben werden können, sondern nur noch eine „JA/NEIN“-
Entscheidung möglich ist, wobei eine „NEIN“-Entscheidung fundiert begründet werden muss, wird bereits der
CD als DIN-Norm-Entwurf veröffentlicht, um die Stellungnahmen aus der Öffentlichkeit frühzeitig be-
rücksichtigen zu können.

Für diesen Norm-Entwurf ist das nationale Arbeitsgremium UK 432.1 „Hochspannungs-Schaltgeräte“ der
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE
(http://www.dke.de) zuständig.

Nationaler Anhang NA
(informativ)

Zusammenhang mit Europäischen und Internationalen Normen

Für den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des
Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die
Verweisung auf die jeweils neueste gültige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm.

Für den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in
Bezug genommene Ausgabe der Norm.

Eine Information über den Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen
ist in Tabelle NA.1 wiedergegeben.

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 — Entwurf —
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Tabelle NA.1

Klassifikation im
Europäische Norm Internationale Norm Deutsche Norm VDE-
Vorschriftenwerk
EN 62271-100 IEC 62271 100 DIN EN 62271-100 VDE 0671-100
(VDE 0671-100)
– IEC/TR2 61633 – –

Nationaler Anhang NB
(informativ)

Literaturhinweise

DIN EN 62271-100 (VDE 0671-100), Hochspannungs-Schaltgeräte und -Schaltanlagen – Teil 100:

Hochspannungs-Wechselstrom-Leistungsschalter.

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 – Entwurf –
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Hochspannungs-Schaltgeräte und -Schaltanlagen – Teil 101: Synthetische Prüfung –

Einbeziehung der IEC 61633
Seite 8

2 Normative Verweisungen
Streiche den Verweis auf IEC 61633.

Seite 15

4.2.4 Andere synthetische Prüfverfahren

Ersetze im zweiten Absatz „IEC 61633“ durch „IEC 62271-100, Anhang O“.

Seite 19

6 Besondere Anforderungen für die Durchführung synthetischer Einschalt- und

Ausschaltprüfungen im Hinblick auf die Anforderungen in IEC 62271-100, 6.102
bis 6.111
Ergänze am Ende des ersten Absatzes den folgenden Text:

IEC 62271-100, Anhang O, gibt Anleitungen zum Testen von metallgekapselten Leistungsschaltern und
Kesselleistungsschaltern (dead tanks).

Seite 19

Ergänze den folgenden Abschnitt:

6.102.4.2 Prüfen von Schalteinheiten

Für die Anwendung synthetischer Prüfverfahren an einer oder mehreren Schalteinheiten eines Leistungs-
schalters sind die Anforderungen in IEC 62271-100, 6.102.4.3, anzuwenden. Im Falle von metallgekapselten
Leistungsschaltern oder Kesselleistungsschaltern gibt Anhang N Einzelheiten einiger typischer Prüfkreise, in
IEC 62271-100, Anhang O, sind passende Prüfanleitungen beschrieben.

Seite 31

6.111 Prüfungen zum Schalten kapazitiver Ströme

Ergänze den folgenden Text:

Für metallgekapselte Leistungsschalter und Kesselleistungsschalter sind typische Prüfkreise in Anhang N

gegeben, zusätzliche Anleitungen sind in IEC 62271-100, Anhang O, beschrieben.

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E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Seite 72

G.1 Einleitung
Ergänze nach der Anmerkung den folgenden Text:

Für die Anwendbarkeit der beschriebenen Methoden im Falle von metallgekapselten Leistungsschaltern oder
Kesselleistungsschaltern siehe IEC 62271-100, Anhang N und Anhang O.

Seite 72

G.1.2 Wiederkehrspannung

Ersetze „IEC 61633, 4.3“ durch „IEC 62271-100, O.4.3“.

Ergänze den neuen Anhang N:

Anhang N
(informativ)

Typische Prüfkreise für metallgekapselte Leistungsschalter und

Kesselleistungsschalter

Dieser Anhang beschreibt einige typische synthetische Prüfkreise für Typprüfungen, die Kurzschluss-
Einschaltungen, -Ausschaltungen und Schaltleistungsprüfungen metallgekapselter Leistungsschalter und
Kesselleistungsschalter betreffen. Andere Methoden werden nicht ausgeschlossen, vorausgesetzt, sie liefern
die korrekten Beanspruchungen an den Polanschlüssen, zwischen den Polen und zwischen den Anschlüssen
und der Kapselung des Leistungsschalters.

Viele Prüfkreise sind mit unterschiedlichen Ausführungen möglich. Einige Beispiele sind in den Bildern N.1
bis N.8 gegeben:
– Prüfungen des Klemmenkurzschlusses an einer oder mehreren Schalteinheiten des metallgekapselten
Leistungsschalters oder Kesselleistungsschalters (Bilder N.1 bis N.4);
– Prüfungen des kapazitiven Schaltvermögens (Bilder N.5 bis N.7);
– Prüfungen des Schaltens unter Asynchronbedingungen (Bild N.8).

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 – Entwurf –
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Bild N.1a – Typischer Überlagerungsprüfkreis mit dem Spannungskreis parallel zu der/den zu

prüfenden Schalteinheit/en

Bild N.1b – Typischer Überlagerungsprüfkreis mit dem Spannungskreis parallel zu der/den

Schalteinheit/en des Hilfsschalters

Legende
Sa Schalteinheit/en des als Hilfsschalter verwendeten Leistungsschalters
St Schalteinheit/en des zu prüfenden Leistungsschalters
G Einspeisung von uE, angeschlossen an der Kapselung
u1 Spannung des Stromkreises
i Strom des Stromkreises
ih Überlagerungsstrom
Lh Induktivität des Spannungskreises
Zh Äquivalente Quellenimpedanz des Spannungskreises
Ch Kapazität des Spannungskreises, die zusammen mit Lh den größten Anteil der TRV bestimmt

Bild N.1 – Prüfkreis zur Prüfung einer Schalteinheit (Leistungsschalter mit einem von der
Wirkung der Gasströmung abhängigen Schaltverhalten)

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 — Entwurf —
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Charakteristische Spannungsverläufe eines Strom- Charakteristische Spannungsverläufe in einem

überlagerungskreises entsprechend den Bildern B.1 Spannungsüberlagerungskreis entsprechend den
und B.2 mit dem Spannungskreis parallel zu der/den Bildern C.1 und C.2 mit dem Spannungskreis parallel
Schalteinheit/en des zu prüfenden Leistungsschalters zu der/den Schalteinheit/en des Hilfsschalters

Legende
uE an die isolierte Kapselung angelegte Spannung
uB an die Schaltstrecke der zu prüfenden Schalteinheit/en angelegte Spannung (resultierende Spannung zwischen dem
nicht geerdeten Anschluss der zu prüfenden Schalteinheit und der Kapselung; eine lineare Aufteilung der Spannung
über den Schalteinheiten ist angenommen
u1 Spannung des Stromkreises
uA resultierende Spannung zwischen dem Anschluss der Schalteinheit/en des Hilfsschalters, die an den Stromkreis und
die Kapselung angeschlossen ist

Bild N.2 – Halbpolprüfung eines Leistungsschalters in einem Prüfkreis nach Bild N.1 –
Beispiel der geforderten Einschwingspannungen (TRVs), die zwischen den Anschlüssen
der/den zu prüfenden Schalteinheit/en und zwischen den unter Spannung stehenden Teilen und
der isolierten Kapselung anliegen

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 – Entwurf –
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Bild N.3a – Typischer Überlagerungskreis mit dem Spannungskreis parallel zu der/den zu

prüfenden Schalteinheit/en

Bild N.3b – Typischer Überlagerungskreis mit dem Spannungskreis parallel zu dem

Hilfsschalter

Legende
Sa Schalteinheit/en des als Hilfsschalter verwendeten Leistungsschalters
St Schalteinheit/en des zu prüfenden Leistungsschalters
G Einspeisung von uE, angeschlossen an der Kapselung
u1 Spannung des Stromkreises
i Strom des Stromkreises
ih Überlagerungsstrom
Lh Induktivität des Spannungskreises
Zh Äquivalente Quellenimpedanz des Spannungskreises
Ch Kapazität des Spannungskreises, die zusammen mit Lh den größten Anteil der TRV bestimmt

Bild N.3 – Synthetischer Prüfkreis zur Prüfung einer Schalteinheit (Leistungsschalter mit einem
von der Wirkung der Gasströmung zu vernachlässigenden Schaltverhalten)

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 — Entwurf —
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Legende
uE an die isolierte Kapselung angelegte Spannung
uB an die Schaltstrecke der zu prüfenden Schalteinheit/en angelegte Spannung
uC resultierende Spannung zwischen dem einspeiseseitigen Anschluss der zu prüfenden Schalteinheit/en und der
Kapselung

Bild N.4 – Halbpolprüfung eines Leistungsschalters in einem Prüfkreis nach Bild N.3 –
Beispiel der geforderten Einschwingspannungen (TRVs), die zwischen den Anschlüssen der zu
prüfenden Schalteinheit/en und zwischen den unter Spannung stehenden Teilen und der
isolierten Kapselung anliegen

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 – Entwurf –
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Bild 5a – Allgemeines Aussehen des Prüfkreises

Legende
Sa Hilfsschalter
St zu prüfender Leistungsschalter
ev Ladespannung des Spannungskreises
u1 Spannung des Stromkreises
ic Strom des Stromkreises
iv Überlagerungsstrom
iL Prüfstrom
uA resultierende Spannung zwischen dem einspeise-
seitigen Anschluss des Leistungsschalters und der
Kapselung
uB resultierende Spannung zwischen dem geerdeten
Anschluss des Leistungsschalters und der Kapse-
lung
uP Prüfspannung

Bild N.5b – Qualitative Strom- und Spannungsverläufe

Bild N.5 – Kapazitiver Stromüberlagerungskreis mit Einspeisung auf die Kapselung des
Leistungsschalters

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 — Entwurf —
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Legende
Sa Hilfsschalter
St zu prüfender Leistungsschalter
ev Ladespannung des Spannungskreises
u1 Spannung des Stromkreises
ic Strom des Stromkreises
iv Überlagerungsstrom
iL Prüfstrom
uA resultierende Spannung zwischen dem
einspeiseseitigen Anschluss des Leistungs-
schalters und der Kapselung
uB resultierende Spannung zwischen dem
geerdeten Anschluss des Leistungs-
schalters und der Kapselung
uP Prüfspannung

Bild N.6a – Allgemeines Aussehen des Prüfkreises

Bild N.6b – Qualitative Strom- und Spannungsverläufe

Bild N.6 – Kapazitiver synthetischer Prüfkreis mit zwei betriebsfrequenten Quellen und mit
Einspeisung auf die Kapselung des Leistungsschalters

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 – Entwurf –
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Legende
Sa Hilfsschalter
St zu prüfender Leistungsschalter
uE Gleichspannung, angelegt an die isolierte
Kapselung
u1 Spannung des Stromkreises
ic Strom des Stromkreises
iv Überlagerungsstrom
iL Prüfstrom
uA resultierende Spannung zwischen dem
einspeiseseitigen Anschluss der zu
prüfenden Schalteinheit/en und der
Kapselung
uB resultierende Spannung zwischen dem
geerdeten Anschluss der zu prüfenden
Schalteinheit/en und der Kapselung
uP Prüfspannung
Bild N.7a – Allgemeines Aussehen des Prüfkreises
Legende
N1)
2 × 2 × U r × N × K × kc
up =
n× 3
N1)
2 × U r × kc
uE =
n× 3
Ur Bemessungsspannung des Leistungs-
schalters
kC Multiplikationsfaktor für das Schalten
einphasiger kapazitiver Ströme
K Spannungsaufteilungsfaktor
N Anzahl zu prüfender Schalteinheiten
(N = 1)
n gesamte Anzahl Schalteinheiten eines
Pols (n = 2)

Bild N.7b – Qualitative Strom- und Spannungsverläufe

Bild N.7 – Kapazitiver synthetischer Stromüberlagerungs-Prüfkreis. Beispiel zum Prüfen einer
Schalteinheit an einem Halbpol eines Leistungsschalters mit zwei Schalteinheiten pro Pol.
Einspeisung auf die Kapselung mit einer Wechselspannungsquelle

N1)
Nationale Fußnote: Die in IEC 17A/767/CD fehlerhaften Gleichungen wurden korrigiert (siehe
IEC 17A/784/CC).

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 — Entwurf —
E DIN IEC 62271-101/A1 (VDE 0671-101/A1):2007-08

Legende
Sa Schalteinheit/en des als Hilfsschalter verwendeten Leistungsschalters
St Schalteinheit/en des zu prüfenden Leistungsschalters
uA Spannung an einem Anschluss des zu prüfenden Leistungsschalters
uB Spannung am anderen Anschluss des zu prüfenden Leistungsschalters
uP Prüfspannung
u1 Spannung des Stromkreises

i Strom des Stromkreises

L1 Induktivität des Stromkreises

Bild N.8 – Symmetrischer synthetischer Prüfkreis zum Prüfen des Ausschaltvermögens unter
Asynchronbedingungen an einem kompletten Leistungsschalterpol

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62271-101A1 Ed.1  IEC:200X –2– 17A/767/CD

FOREWORD
This amendment has been prepared by subcommittee 17A: High-voltage switchgear and
controlgear, of IEC technical committee 17: Switchgear and controlgear.

The text of this amendment is based on the following documents:

FDIS Report on voting

17A/XXX/FDIS 17A/XXX/RVD

Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report
on voting indicated in the above table.

The committee has decided that the contents of this amendment and the base publication will
remain unchanged until the maintenance result date 1) indicated on the IEC web site under
"http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication. At this date, the
publication will be

• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
_____________

1) The National Committees are requested to note that for this publication the maintenance result date is ....
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X –3– 17A/767/CD

Amendment 1 to IEC 62271-101: incorporation of IEC 61633

Page 15

2 Normative references
Remove reference to IEC 61633.

Page 28

4.2.4 Other synthetic test methods

In the second paragraph replace IEC 61633 by “Annex O of IEC 62271-100”.

Page 39

6 Specific requirements for synthetic tests for making and breaking performance
related to the requirements of 6.102 through 6.111 of IEC 62271-100
Add the following text at the end on the first paragraph:

Annex O of IEC 62271-100 gives guidelines for testing of metal enclosed and dead tank
circuit breakers.

Page 39

Add the following subclause:

102.4.2 Unit testing.

For the application of the synthetic test methods to one or more units of a circuit breaker the
requirements of 6.102.4.2 of IEC 62271-100 are applicable. In the case of metal-enclosed or
dead tank circuit-breakers Annex N gives details of some typical test circuits and Annex O of
IEC 62271-100 outlines appropriate testing guidelines.

Page 61

6.111 Capacitive current switching tests

Add the following text:

For metal-enclosed and dead tank circuit-breakers typical test circuits are given in Annex N
and additional guidelines are given in Annex O of IEC 62271-100.
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X –4– 17A/767/CD

Page 141

G.1 Introduction
Add the following text below the note:

For applicability of the mentioned methods in case of metal-enclosed or dead tank circuit-
breakers see Annex N and Annex O of IEC 62271-100.

Page 141

G.1.2 Recovery voltage

Replace 4.3 of IEC 61633 by O.4.3 of IEC 62271-100 Annex O.

Add a new Annex N as follows:

Annex N
(informative)

Typical Test circuits for metal-enclosed and dead tank circuit breakers

This Annex outlines some typical synthetic test circuits for type testing relevant to short-circuit
making, breaking and switching performance of metal enclosed and dead tank circuit-
breakers. Other methods are not excluded provided that they supply the correct stresses to
the phase terminals, between the phases and between the terminals and the enclosure of the
circuit-breaker.

Many circuits are possible with different features. Some examples are given in Figures N.1 to
N.8 as follows:

- terminal fault tests on one or more units of metal-enclosed or dead tank circuit breakers
(Figures N.1 to N.4);
- capacitive current switching tests (Figures N.5 to N.7);
- out of phase switching tests (Figure N.8).
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X –5– 17A/767/CD

Figure N.1a – Typical injection circuit with voltage circuit in Parallel with the unit(s)
under test

Figure N.1b – Typical injection circuit with voltage circuit in parallel with the unit(s)
used as auxiliary circuit-breaker

Key
Sa unit(s) of the circuit-breaker used as auxiliary circuit-breaker
St unit(s) of the circuit-breaker used as test circuit-breaker
G Source supply of u E , applied to the enclosure
u1 voltage of the current circuit
i current of the current circuit
ih injected current
Lh inductance of the voltage circuit
Zh equivalent surge impedance of the voltage circuit
Ch capacitance of the voltage circuit which, together with L h , controls the major part of the TRV

Figure N.1 – Test circuit for unit testing (circuit-breaker with interaction due to gas
circulation)
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X –6– 17A/767/CD

Typical voltage waveshapes in a current Typical voltage waveshapes in a voltage

injection circuit, in accordance with injection circuit, in accordance with Figures
Figures B.1 and B.2, with the voltage C.1 and C.2, with the voltage circuit in
circuit in parallel with the unit(s) as test parallel with the unit(s) as auxiliary circuit-
circuit-breaker. breaker.

Key
uE voltage applied to the insulated enclosure
uB voltage applied to the contact gap of the unit(s) under test (resulting voltage between the
terminal not earthed of the unit under test and the enclosure; a linear distribution of the voltage
between the units is assumed)
u1 voltage of the current circuit
uA resulting voltage between the terminal of the auxiliary init(s) connected to the current circuit
and the enclosure

Figure N.2 – Half-pole testing of a circuit-breaker in test circuit given by Figure N.1.
Example of the required TRVs to be applied between the terminals of the unit(s) under
test and between the live parts and the insulated enclosure
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X –7– 17A/767/CD

Figure N.3a – Typical injection circuit with voltage circuit in parallel with the unit(s)
under test

Figure N.3b – Typical injection circuit with voltage circuit in parallel with the auxiliary
circuit-breaker

Key
Sa unit(s) of the circuit-breaker used as auxiliary circuit-breaker
St unit(s) of the circuit-breaker used as test circuit-breaker
G Source supply of u E , applied to the enclosure
u1 voltage of the current circuit
i current of the current circuit
ih injected current
Lh inductance of the voltage circuit
Zh equivalent surge impedance of the voltage circuit
Ch capacitance of the voltage circuit which, together with L h , controls the major part of the TRV

Figure N.3 – Synthetic test circuit for unit testing (circuit-breaker with negligible
interaction due to gas circulation)
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X –8– 17A/767/CD

Key
uE voltage applied to the insulated enclosure
uB voltage applied to the contact gap of the unit(s) under test
uC resulting voltage between the energized terminal of the unit(s) under test and the enclosure

Figure N.4 – Half-pole testing of a circuit-breaker in the test circuit of Figure N.3.
Example of the required TRVs to be applied between the terminals of the unit(s) under
test and between the live parts and the insulated enclosure
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X –9– 17A/767/CD

Figure 5a – General layout of the test circuit

Key
Sa auxiliary circuit-breakers
St circuit-breaker under test
ev charging voltage of the voltage circuit
u1 voltage of the current circuit
ic current of the current circuit
iv injected current
iL test current
uA resulting voltage between the
energized terminal of the circuit-
breaker and the enclosure
uB resulting voltage between the earthed
terminal of the circuit-breaker and the
enclosure
uP test voltage

Figure N.5b – Qualitative current and voltage waveshapes

Figure N.5 – Capacitive current injection circuit with enclosure of the circuit-breaker
energized
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X – 10 – 17A/767/CD

Key
Sa auxiliary circuit-breakers
St circuit-breaker under test
ev charging voltage of the voltage
circuit
u1 voltage of the current circuit
ic current of the current circuit
iv injected current
iL test current
uA resulting voltage between the
energized terminal of the circuit-
breaker and the enclosure
uB resulting voltage between the
earthed terminal of the circuit-
breaker and the enclosure
uP test voltage

Figure N.6a – General layout of the test circuit

Figure N.6b – Qualitative current and voltage waveshapes

Figure N.6 – Capacitive synthetic circuit using two power frequency sources and with
the enclosure of the circuit-breaker energized
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X – 11 – 17A/767/CD

Key
Sa auxiliary circuit-breakers
St circuit-breaker under test
uE d.c. voltage applied to the
insulated enclosure
u1 voltage of the current circuit
ic current of the current circuit
iv injected current
iL test current
uA resulting voltage between the
energized terminal of the unit(s)
under test and the enclosure
uB resulting voltage between the
earthed terminal of the unit(s)
under test and the enclosure
uP test voltage

Figure N.7a – General layout of the test circuit

2U r × N × K × k c
up =
n 3

m ×U r 3
uE
n 3
Ur rated voltage of the circuit-
breaker
kc multiplying factor for the single
phase capacitive current
switching tests
K voltage distribution factor
N number of units under tests (N =
1)
n total number of units of a pole (n
= 2)

Figure N.7b – Qualitative current and voltage waveshapes

Figure N.7 – Capacitive synthetic current injection circuit. Example of unit testing on
half a pole of a circuit-breaker with two units per pole. Enclosure energized with a.c.
voltage source
62271-101A1 Ed.1  IEC:200X – 12 – 17A/767/CD

Key
Sa unit(s) of the circuit-breaker used as auxiliary circuit-breaker
St unit(s) of the circuit-breaker used as test circuit-breaker
uA voltage applied to one terminal of the circuit-breaker under test
uB voltage applied to the other terminal of the circuit-breaker under test
uP test voltage
u1 voltage of the current circuit
i current of the current circuit
L1 inductances of the current circuit

Figure N.8 – Symmetrical synthetic test circuit for out-of-phase switching tests on a
complete pole of a circuit-breaker