Skript HPMT Plath Feb10

Dr.-Ing.
Ronald Plath
Technische Universitt Berlin
Institut fr Elektrische Energietechnik
Vorlesung
H OCHSPANNUNGSPRF - UND
MESSTECHNIK
Version 3.0
22. Februar 2010
ronald.plath@mailbox.tu-berlin.de
ISIS e-learning portal
Inhaltsverzeichnis
Teil I berblick
1
Prfarten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.1
Typprfungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2
Stckprfungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3
Sonderprfungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.4
Prqualifikationsprfungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.5
Vor-Ort-Prfungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.5.1
Inbetriebnahmeprfungen von Neuanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.5.2
Wiederholungsprfungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Entwicklungsprfungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Prfspannungen und Prfstrme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1
1.6
2
Wechselspannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.1
Betriebsfrequente Wechselspannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.2
Resonanzspannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.3
VLF 0,1 Hz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1.4
16 2/3 Hz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2
Gleichspannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3
Impulsspannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.1
Blitzstospannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.2
Schaltstospannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.3
Steilstospannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.3.4
VFT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.4
Betriebsfrequenter Wechselstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.5
Gleichstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.6
Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.6.1
Exponentialstostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.6.2
Rechteck-Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Prfobjekte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
3.1
Kabel und Kabelgarnituren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11

i
ii
Inhaltsverzeichnis
3.2
3.1.1
Kabel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
3.1.2
Kabelgarnituren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
Die Prfung von Kabeln und Kabelgarnituren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12

3.2.1
Entwicklungsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
3.2.2
Typprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
3.2.3
Auswahlprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
3.2.4
Stckprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
3.2.5
Prqualifikationsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
3.2.6
Qualittssicherung vor Ort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
3.3
Gasisolierte Leitungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
3.4
Transformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
3.5
3.6
3.7
3.4.1
ltransformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3.4.2
Trockentransformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3.4.3
Stromrichtertransformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3.4.4
Loktransformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
Die Prfung von Transformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17

3.5.1
Messung der Wicklungswiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3.5.2
bersetzung und Phasengruppe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
3.5.3
Kurzschluverluste und Kurzschluimpedanz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
3.5.4
Leerlaufverluste und Magnetisierungsstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.5
Fremdspannungsprfung und Verlustfaktormessung . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.6
Induzierte Spannungsprfung und Teilentladungsmessung . . . . . . . . . . 22
3.5.7
Blitz- und Schaltstoprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.8
Erwrmungsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.9
Nullimpedanz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.10
Stokurzschluprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.11
Geruschmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.12
Stufenschalter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.13
Isolationswiderstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
3.5.14
Qualittssicherung vor Ort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
Wandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.6.1
Spannungswandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.6.2
Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.6.3
Kombiwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Drosseln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.7.1
Kompensationsdrosseln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.7.2
Erdschlulschdrosseln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.7.3
Kurzschlustrombegrenzungsdrosseln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.7.4
Resonanzdrosseln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.7.5
TFH-Sperrdrosseln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Inhaltsverzeichnis
3.7.6
3.8
3.9
iii
HG-Glttungsdrosseln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Schaltgerte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
3.8.1
Leistungsschalter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
3.8.2
Trennschalter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
3.8.3
Erdungsschalter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
Die Prfung von Schaltgerten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

3.9.1
Strlichtbogenprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.9.2
Stokurzschluprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.9.3
Direkte Prfung des Schaltvermgens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.9.4
Synthetische Prfung des Schaltvermgens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
3.10 HG-Ventile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.11 Isolatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.12 Durchfhrungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.13 berspannungsableiter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.13.1
Aufbau und Wirkungsweise von Ableitern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.13.2
Ableitvermgen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.14 Die Prfung von berspannungsableitern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

3.14.1
Nenn-Ableitstostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3.14.2
Restspannungsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3.14.3
Arbeitsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3.14.4
Langwellenstostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.14.5
Leitungsentladungsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.14.6
Hochstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.15 Sicherungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.16 Motoren und Generatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.17 Generatorausleitungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.18 Kombinationen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
3.18.1
Schaltanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
3.18.2
Kompaktstationen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
Kalibrierung und Rckfhrbarkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
Normen, Erluterungen und Empfehlungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39

5.1
Der Normendschungel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
5.2
Internationale und nationale Normen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
5.3
5.2.1
Internationale Zusammenhnge . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
5.2.2
IEC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
5.2.3
CENELEC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
5.2.4
DIN, VDE und DKE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
5.2.5
ANSI und IEEE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
Erluterungen zu Normen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
iv
Inhaltsverzeichnis
5.4
5.3.1
IEC Guides . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
5.3.2
STL Guides . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
Cigr . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
Teil II Messung hoher Spannungen

6
Wechselspannungsmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
6.1
6.2
7
6.1.1
Ohmscher Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
6.1.2
Kapazitiver Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
6.1.3
Klassische Scheitelwertmesseinrichtungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
6.1.4
Elektronische und abtastende Scheitelwertmesseinrichtungen . . . . . . . 66
Messung mit Spannungswandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
Gleichspannungsmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
7.1
Messung mit Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
Hochohmige Vorwiderstnde und Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71

7.1.1
Hochohmiger Vorwiderstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
7.1.2
Messung mit Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
7.1.3
Einflu der Streukapazitten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
Stospannungsmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
8.1
8.2
8.3
8.4
Messkreis und bertragungsverhalten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75

8.1.1
Anforderungen an Stospannungsmesssysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
8.1.2
Transiente bertragungseigenschaften . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
8.1.3
Bestimmung der Impulsparameter der Blitzstospannung . . . . . . . . . . . 76
Stospannungsteilertypen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
8.2.1
Strgren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
8.2.2
Ohmscher Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
8.2.3
Kapazitive Stospannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
8.2.4
Universalteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
Kabel- und Messgerteanschluss . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89

8.3.1
Ohmscher Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
8.3.2
Kapazitiver Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
8.3.3
Gedmpft kapazitiver Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
Messgerte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
8.4.1
Stospannungsvoltmeter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
8.4.2
Analoge Oszilloskope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
8.4.3
Digitale Oszilloskope, Transientenrecorder . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
Teil III Erzeugung und Messung hoher Strme

9
Definitionen und Bestimmungsgren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105

9.1
Stationrer Gleichstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
Inhaltsverzeichnis
10
9.2
Stationrer Wechselstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
9.3
Kurzzeit-Gleichstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
9.4
Kurzzeit-Wechselstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
9.5
Impulsstrme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
9.5.1
Exponential-Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
9.5.2
Rechteck-Stostrom, Langwellen-Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
Erzeugung hoher Strme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109

10.1 Schwingender und Exponential-Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
10.2 Rechteck-Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
11
Messung hoher Strme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115

11.1 Niederohmige Messwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
11.1.1
Anforderungen an Stostrom-Messwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
11.1.2
Bifilare Messwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
11.1.3
Koaxiale Rohrwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
11.1.4
Koaxiale Reusenwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
11.1.5
Koaxiale Flchenwiderstndewiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
11.2 Rogowski-Spulen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120

11.2.1
Messprinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
11.2.2
Integrator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122
11.2.3
Streinflsse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
11.3 Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123

11.3.1
Konventionelle Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
11.3.2
Flusskompensierte Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
11.3.3
Nicht-konventionelle Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
Teil IV Elektromagnetische Vertrglichkeit

12
Einfhrung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
12.1 Begriffe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
12.2 Allgemeines . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
13
Beeinflussungsschema . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129
14
Strquellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
14.1 Sinusfrmige Dauersignale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
14.2 Breitbandige Dauersignale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132
14.3 Impulsfrmige, einmalige Signale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
15
Strbeeinflussung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
15.1 Galvanische Kopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
15.2 Kapazitive Kopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
15.3 Induktive Kopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 136
15.4 Feldkopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 136
vi
Inhaltsverzeichnis
16
Strsenken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137
17
EMV in der Hochspannungs-Prftechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139

17.1 EMV bei Stospannungs- und Stostromprfungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
17.1.1
Kopplung direkt zum Oszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
17.1.2
Kopplung zum Innenleiter des Messkabels . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
17.1.3
Strquelle verseuchtes Netz galvanische Kopplung . . . . . . . . . . . . . . 141
17.1.4
Messkabelmantel- und Gehusestrme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142
17.1.5
Spannungsflle am Schutzleiter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
17.1.6
Induktive und kapazitive Einkopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
17.1.7
Potentialanhebungen im Erdsystem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
17.1.8
Prfung der Strbeeinflussung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
17.1.9
Strfestigkeitsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
17.1.10 Beispiel EMV-Spezifikation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145

Teil V TE - Teilentladungen und ihre Messung
18
Entstehung von TE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149

18.1 Klassifikation von TE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149
19
18.1.1
uere TE: Korona . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153
18.1.2
Oberflchenentladungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153
18.1.3
Innere TE: Hohlraumentladungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
18.1.4
Electrical treeing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
Eigenschaften von TE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157

19.1 Wirkungen von TE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
19.1.1
Elektrische Wirkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
19.1.2
Akustische Wirkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
19.1.3
Optische Wirkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
19.1.4
Chemische Wirkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
19.1.5
Reduzierung der Lebensdauer von Isoliersystemen . . . . . . . . . . . . . . . . 160
19.2 TE als Signale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
20
19.2.1
TE im Zeit- und Frequenzbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
19.2.2
Ladungsbestimmung im Zeit- und Frequenzbereich . . . . . . . . . . . . . . . . 164
19.2.3
TE-Ausbreitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
19.2.4
berkopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
TE-Messung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
20.1 Ladungstransfer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
20.1.1
Wahre Ladung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
20.1.2
Scheinbare Ladung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
20.1.3
Geometrie- und Materialeinfluss . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 170
Inhaltsverzeichnis
vii
20.1.4
Energie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171
20.1.5
Messbare Ladung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171
20.2 TE-Auskopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 173

20.3 Kalibrierung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
20.3.1
Kalibrierung des TE-Messkreises . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
20.3.2
Kalibrierung von TE-Kalibratoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
20.4 TE-Messverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177

20.4.1
Strspannungsmessung und schmalbandige TE-Messung . . . . . . . . . . . 178
20.4.2
Quasi-breitbandige TE-Messung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 184
20.4.3
Digitale TE-Verfahren und Systeme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
20.4.4
HF/VHF/UHF TE-Messung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
20.4.5
Akustische TE-Detektion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
20.4.6
Optische TE-Detektion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
20.4.7
Detektion TE-bedingter chemischer Zersetzungsprodukte . . . . . . . . . . 188
20.5 Strquellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 190

20.6 Strunterdrckung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192
20.6.1
Filterung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192
20.6.2
Schirmung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193
20.6.3
Brckenschaltung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 194
20.6.4
Impulsdiskriminatorsystem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 194
20.6.5
Gating . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195
20.6.6
TE-Impulsformanalyse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 196
20.6.7
Synchrone Mehrkanal-TE-Messung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 199
20.7 Verarbeitung und Darstellung von TE-Messsignalen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 208

20.7.1
Direkte Darstellung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 208
20.7.2
Statistische Verfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
20.7.3
Puls-Sequenzanalyse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
20.7.4
TE-Ortung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 210
20.8 TE-Datenanalyse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211
21
20.8.1
TE-Mustererkennung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
20.8.2
TE-Diagnose . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 213
TE bei energietechnischen Betriebsmitteln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215

21.1 Kabel und Garnituren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215
21.1.1
Relevante Normen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215
21.1.2
Methodik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215
21.1.3
Kalibrierung und Empfindlichkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 216
21.1.4
Typische TE-Defekte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 216
21.1.5
TE-Fehlerortung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 216
21.1.6
Bewertung, Manahmen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 216
viii
Inhaltsverzeichnis
21.2 Transformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217

21.2.1
21.2.2
Methodik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217
21.2.3
21.2.4
21.2.5
TE-Fehlerortung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
21.2.6
21.3 Elektrische Maschinen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219

21.3.1
21.3.2
Methodik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219
21.3.3
21.3.4
21.3.5
TE-Fehlerortung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220
21.3.6
21.4 Gasisolierte Schaltanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 221
22
21.4.1
21.4.2
Methodik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 221
21.4.3
21.4.4
21.4.5
TE-Fehlerortung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
21.4.6
Geschichtliche Entwicklung der TE-Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 223

22.1 Analoge TE-Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 223
22.2 Digitale TE-Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 225
22.3 Anwendung der TE-Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 225
23
TE-Prfbestimmungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
23.1 Entwicklung der TE-Normung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
23.2 TE-Prfvorschriften fr bestimmte Betriebsmittel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 228
23.3 Aktuelle Tendenzen bei den TE-Normen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230
24
Typprfung eines digitalen TE-Messsystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 233

24.1 Einleitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 233
24.1.1
Standardisierung, Kalibrierung und Kalibratoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . 234
24.1.2
Qualifizierung und Typprfung von analogen TE-Messgerten . . . . . . 235
24.1.3
Digitale TE-Messung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 235
24.2 Funktionsweise des digitalen TE-Messsystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 235

24.3 Der programmierbare TE-Kalibrator PICOR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 236
24.3.1
Funktionsweise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 237
24.3.2
Beispiele fr die Kalibrierimpulse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 237
Inhaltsverzeichnis
ix
24.3.3
Unsicherheit der erzeugten Kalibrierimpulse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 240
24.4 Typprfung nach IEC 60270 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 240

24.4.1
Anforderungen der IEC60270 fr die Typprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . 240
24.4.2
Durchfhrung der Typprfung und Besonderheiten . . . . . . . . . . . . . . . . 241
24.4.3
Ergnzende Untersuchungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
24.5 Fazit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 247

Teil VI Dielektrische Diagnostik
25
Dynamik der Isolierstoffe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 257

25.1 Isolierstoffe im Zeitbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 257
25.2 Isolierstoffe im Frequenzbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 257
26
Diagnose VPE-isolierter Mittelspannungskabel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259

26.1 Vergleich von Diagnosesystemen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
26.1.1
Einleitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
26.1.2
Ziel der Untersuchung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 260
26.1.3
Vorstellung der Diagnosesysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 260
26.1.4
Vergleich der Diagnosesysteme im Labor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 262
26.1.5
Vor-Ort-Untersuchungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 264
26.1.6
Ergebnisse und Diskussion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 265
26.1.7
Zusammenfassende Beurteilung der Diagnosesysteme . . . . . . . . . . . . . 272
26.1.8
Offene Fragen und Probleme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
26.1.9
Entwicklungsstand, Weiterentwicklungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 275
26.1.10 Ausblick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 276

Teil VII Vor-Ort-Prftechnik
27
Vor-Ort-Prfung und Diagnose von Energiekabelanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 281

27.1 Spannungsprfung von
Mittelspannungskabelanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 281
27.1.1
DC-Prfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 281
27.1.2
Wechselspannungsprfung mit 45-65 Hz bzw. 20-300 Hz . . . . . . . . . . . 281
27.1.3
Wechselspannungsprfung mit 0,1 Hz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 282
27.2 TE-Messung und Ortung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 282

27.2.1
TE-Messung bei Wechselspannungsprfungen mit 0,1 Hz . . . . . . . . . . 283
27.2.2
TE-Messung bei Prfungen mit

oszillierenden Impulsspannungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 283
27.2.3
TE-Messung bei Wechselspannungsprfungen mit 20-300 Hz . . . . . . . 284
27.3 Integrale Diagnoseverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 284

27.3.1
Verlustfaktormessung bei 0,1 Hz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 285
27.3.2
Depolarisationsstromanalyse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 285
Inhaltsverzeichnis
27.3.3
Messung der Wiederkehrspannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 285

Hochspannungskabelanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 286
27.4.1
DC-Prfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 286
27.4.2
AC-Resonanzprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 286
27.5 TE-Messung und Ortung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 289

27.5.1
TE-Messung bei AC-Resonanzprfungen mit 20-300 Hz . . . . . . . . . . . 289
27.6 Fallstudie 1: 400-kV-VPE-Kabelanlage in London . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 290

27.6.1
Einleitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 290
27.6.2
Projektierungsphase . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 293
27.6.3
Prqualifikationsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 295
27.6.4
Projektspezifische Besonderheiten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 295
27.6.5
Inbetriebnahme - Prfprogramm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
27.6.6
Ausblick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 299
28
Gasisolierte Schaltanlagenprfung vor Ort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 301
29
Prfung von Leistungstransformatoren vor Ort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303

29.1 Fallstudie 1: HG-Transformatoren in Mosambik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
29.1.1
Einleitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
29.1.2
Projektspezifische Besonderheiten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 305
29.1.3
Instandsetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 306
29.1.4
Prfprogramm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 306
29.1.5
Ergebnisse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311
Teil VIII Monitoring

30
Anforderungen an Monitoring-Systeme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 323

30.1 berblick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 323
30.2 Einleitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 323
30.3 Anforderungen aus Anwendersicht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
30.3.1
Nutzen aus Anwendersicht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
30.3.2
Kosten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 325
30.4 Umgebungsbedingungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 326

30.4.1
Umwelt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 326
30.4.2
Betriebszustand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327
30.4.3
Netztopologie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327
30.5 Betriebliche elektrische Beanspruchungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327

30.5.1
Stationre Spannungen und Strme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327
30.5.2
Transiente Spannungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327
30.5.3
Transiente Strme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
30.6 Diagnosegren fr Online-Diagnosesysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
Inhaltsverzeichnis
xi
30.6.1
Temperatur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
30.6.2
Mechanische Gren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
30.6.3
Chemische Gren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
30.6.4
Elektrische Gren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
30.7 Betriebsmittel und Online-Diagnosegren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 330

30.7.1
berspannungsableiter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 330
30.7.2
Kabelanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 330
30.7.3
Schalter und Schaltanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
30.7.4
Motoren und Generatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
30.7.5
Transformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
30.8 Komponenten von Online-Diagnosesystemen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332

30.8.1
Sensorik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
30.8.2
Messwertbertragung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
30.8.3
Messwerterfassung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
30.8.4
Datenverarbeitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 333
30.9 Funktionale Anforderungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 333

30.9.1
Modularitt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 333
30.9.2
Schnittstellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 333
30.9.3
Kommunikation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 334
30.9.4
Benutzerschnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 334
30.9.5
Datenverarbeitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 334
30.9.6
Interpretation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 334
30.9.7
Robustheit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 335
30.9.8
Zuverlssigkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 336
30.9.9
Lebensdauer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 336
31
Monitoring an Leistungstransformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 337
32
Monitoring an Hochspannungskabelgarnituren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 339
33
Monitoring an gasisolierten Schaltanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 341
Teil IX Anhang
34
IEC-Normen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 345
34.1 Querschnittsnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 345
34.2 Produktnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 346
34.2.1
Kabelnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 346
34.2.2
Trafonormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 347
34.2.3
Wandlernormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 348
34.2.4
Maschinennormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 349
34.2.5
Niederspannungsschalternormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 349
xii
Inhaltsverzeichnis
34.2.6
Hochspannungsschalternormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 350
34.2.7
Ableiternormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 352
34.2.8
Kondensatornormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 352
34.2.9
Durchfhrungsnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353
34.2.10 Isolatorennormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353

34.2.11 Sicherungsnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353
34.2.12 Konverternormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 354
34.3 Umwelt- und Materialnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 354
35
Abbildungsverzeichnis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 365
36
Tabellenverzeichnis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 368
Sachverzeichnis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 369
Teil I
berblick
Kapitel 1
Prfarten
Zur berprfung der Funktionstchtigkeit, zur Sicherstellung eines geforderten Qualittsniveaus oder zur Zustandsbeurteilung werden energietechnische Gerte und Systeme Hochspannungsprfungen unterzogen. Die Prfpegel liegen dabei deutlich ber den hchsten im
Betrieb auftretenden Belastungen, um fr alterungsbedingte Degradationen, sowie gegen
atmosphrische und Schaltberspannungen einen ausreichenden Sicherheitsabstand whrend
der gesamten Betriebsdauer zu gewhrleisten.
Art und Umfang von Hochspannungsprfungen fr die unterschiedlichen Gerte und Systeme
werden durch technische Normen geregelt. Hierbei werden internationale Normen (IEC) und
nationale Normen (in Deutschland: DIN/VDE) unterschieden. Abnehmer energietechnische
Gerte und Systeme forden teilweise ber den in Normen geregelten Umfang hinausgehende
Prfungen, die z.T. in Form von Werksnormen festgelegt sind. Darberhinaus kommen bei den
internen Prfungen der Produzenten herstellerspezifische Prfvorschriften zur Anwendung.
Im Bereich von Forschung und Entwicklung dienen Hochspannungsprfungen der Gewinnung
empirischer Daten, mit denen Arbeitshypothesen, Simulationsrechnungen oder Entwicklungsmodelle berprft und weiterentwickelt werden. Trotz groer Fortschritte beispielsweise im
Bereich der Berechnung elektrischer Felder kann in der Hochspannungstechnik bisher nicht
auf praktische Untersuchungen verzichtet werden.
Abnahmeprfungen
Entwicklungsprfungen
AC
Hochspannungsprfungen
DC
Impuls
Blitzsto
Schaltsto
Sonderprfungen
Typprfungen
Stckprfungen
Forschungsprfungen
zerstrende
Prfungen
nichtzerstrende
Prfungen
Prqualifikationsprfungen
Abb. 1.1: bersicht Prfarten
1 Prfarten
Gegenstand der folgenden Betrachtungen sind im wesentlichen Hochspannungsprfungen,

wie sie in internationalen Normen festgelegt sind (s. Abschnitt 5). Nationale Normen verlieren
durch die Globalisierung wirtschaftlicher Unternehmungen zunehmend an Bedeutung, werden
auf europischer und internationaler Ebene harmonisiert, d.h. angeglichen und mssen deshalb
nicht extra behandelt werden.
Abbildung 1.1 gibt einen ersten berblick ber bliche Arten von Hochspannungsprfungen
in Anlehnung an [1]. Die hier gewhlten Unterscheidungen sind willkrlich, das Gebiet der
Hochspannungsprfungen entzieht sich aber einer streng formalen Gliederung.
Im folgenden wird auf die unterschiedlichen Prfarten nher eingegangen.
1.1 Typprfungen
Die Typprfung dient dem Nachweis der Betriebstauglichkeit, der Besttigung von Kundenanforderungen und der berprfung von in Normen spezifizierten Eigenschaften. Sie
erfolgt nach Entwicklungsabschluss, auf Kundenanforderung oder bei Konstruktions- und
Werkstoffnderungen.
Typprfungen werden nur an einem oder wenigen Exemplaren einer Typenreihe aus der normalen Produktion durchgefhrt. Das Ergebnis der Typprfung gilt dann stellvertretend fr alle
weiteren Exemplare der gleichen Typenreihe. Die Typprfung berprft somit die Designqualitt. Oft beinhaltet die Typprfung auch eine vollstndige Stckprfung (s. Abschnitt 1.2).
Typprfungen werden oft von unabhngigen, akkreditierten1 Die Typprffung wird oft in
unabhngigen, akkredietierten Prffeldern durchgefhrt und durch entsprechende Dokumente
besttigt. Derartige Typprfdokumente dienen den Herstellern bei ihren Kunden als herstellerunabhngige Nachweise der Normenkonformitt ihrer Erzeugnisse.
Abnehmer knnen bei Ihren Lieferanten auf der Durchfhrung bzw. Wiederholung einer
Typprfung bestehen. Es ist blich, dass Abnehmer an der Typprfung teilnehmen.
Als Beispiel fr Typprfungen ist die Erwrmungsprfung von Leistungstransformatoren zu
nennen.
1.2 Stckprfungen
Jedes einzelne gefertigte Exemplar muss einer Stckprfung unterzogen werden. Dies fhrt
dazu, da Stckprfungen aus logistischen Grnden vollstndig in den Produktionsablauf
integriert werden. Die Stckprfung dient der Kontrolle der Fertigungsqualitt der laufenden
Produktion.
Zur Vermeidung von Produktionsschritten bei fehlerhaften Teilprodukten werden Stckprfungen so frh wie mglich im Fertigungsablauf durchgefhrt. Beispielsweise werden
bersetzung und Vektorgruppe bei Leistungstransformatoren am nackten Aktivteil und nicht
erst am fertigen, lgefllten Transformator bestimmt.
Ein weiteres Beispiel fr Stckprfungen stellt die Kombination von Wechselspannungsprfung und TE-Messung bei kunststoffisolierten Hochspannungskabeln an jeder einzelnen
Fertigungslnge dar.
1
Die Akkreditierung von Prffeldern erfolgt nach ISO 17025 und erfordert u.a. ein umfassendes Qualittsmanagement und eine Kalibrierung aller Messmittel. Im Abschnitt 4 wird die Rckfhrbarkeit der Kalibrierungen
auf nationale Normale erlutert.
1.5 Vor-Ort-Prfungen
1.3 Sonderprfungen
Prfungen, die den blichen Rahmen von Stck- und Typprfungen berschreiten, werden als
Sonderprfungen bezeichnet.
Hierzu zhlt beispielsweise die berprfung der Stokurzschlustromfestigkeit von Transformatoren, die insbesondere bei Leistungstransformatoren mit sehr groen (Prf-) Aufwendungen verbunden ist.
1.4 Prqualifikationsprfungen
Prqualifikationsprfungen dienen der berprfung der Funktionstchtigkeit kompletter energietechnischer Systeme unter mglichst praxisnahen Bedingungen.
Bisher existieren nur fr kunststoffisolierte Hchstspannungskabel Vorschriften fr die Durchfhrung einer Prqualifikationsprfung innerhalb der entsprechenden Norm (IEC 62067).
Bis zur Inkraftsetzung dieser Norm wurden Prqualifikationsprfungen auf Grundlage einer
Cigr-Empfehlung durchgefhrt.
Die IEC 62067 sieht ab der Spannungsebene 220 kV eine Prqualifikationsprfung vor,
die u.a. in einer einjhrigen Beanspruchung mit einer Prfwechselspannung von 1,7 U0 und
180 Heizzyklen besteht. Durch diese akzellerierten Versuchsbedingungen soll die Funktionstchtigkeit eines Kabelsystems (Kabel und Garnituren) fr die gesamte Lebensdauer von ca.
40 Jahren nachgewiesen werden.
1.5 Vor-Ort-Prfungen
Obwohl die Funktionstchtigkeit energietechnischer Betriebsmittel in der Regel durch die
schon erwhnten Stck- und Typprfungen im Prffeld sichergestellt wird, gibt es Flle,
bei denen dieser Nachweis erst vor Ort erfolgen kann. Dies gilt fr Anlagen und Systeme,
die erst am Aufstellungsort vollstndig montiert werden knnen, z.B. Energiekabelanlagen
(s. berblick in Abb. 1.2) oder groe gekapselte Schaltanlagen.
Kabelanlagen
Mittelspannung
Masselkabel
Hochspannung
PE/VPE-Kabel
neu
alt
Inbetriebnahme
Diagnose
Montagequalitt
Alterungszustand
Wechselspannungsprfung
TE-Messung
am Kabelende
lkabel
PE/VPE-Kabel
neu
alt/neu
Inbetriebnahme
Wiederinbetriebnahme
nach Reparatur
Montagequalitt
Wechselspannungsprfung
TE-Messung
am Kabelende
selektiv an
allen Garnituren
Abb. 1.2: bersicht Vor-Ort-Prfungen an Kabelanlagen
1 Prfarten
1.5.1 Inbetriebnahmeprfungen von Neuanlagen

Inbetriebnahmeprfungen vermindern das Risiko, dass bei direktem Zuschalten einer evtl.
fehlerhaft montierten oder transportgeschdigten Neuanlage an das (sehr leistungsstarke)
Netz besteht: Netzrckwirkungen werden vermieden und mgliche Folgeschden wegen der
Leistungsbegrenzung mobiler Prfquellen klein gehalten.
Besondere Bedeutung haben Inbetriebnahmeprfungen bei der Errichtung von Neuanlagen,
die nicht in ihrer Gesamtheit bereits im Prffeld geprft werden knnen (z.B. Energiekabelanlagen). Hier werden Inbetriebnahmeprfungen in der Regel Spannungsprfungen durchgefhrt.
Die Inbetriebnahmeprfung dient hierbei der berprfung der Montagequalitt der vor Ort
montierten Komponenten (bei Kabelanlagen: Endverschlsse und Muffen).
1.5.2 Wiederholungsprfungen
Bei Ausfllen von Betriebsmitteln im Netz und nachfolgenden Reparaturen werden i.a. Wiederholungsprfungen durchgefhrt, um einerseits die Reparaturqualitt zu berprfen und
andererseits mgliche Folgeschden durch den Ausfall aufzudecken. So kann es beispielsweise
bei stark betriebsgealterten Mittelspannungskabelanlagen vorkommen, dass ein Ausfall nicht
aufgrund einer singulren Schwachstelle erfolgte, sondern auf eine integrale Schwchung
der gesamten Anlage hinweist. In diesem Fall wrden Wiederholungsprfungen nach der
Reparatur mit groer Wahrscheinlichkeit zu weiteren Durchschlgen fhren, die dann Anlass
fr den kompletten Austausch der Kabelanlage wren.
1.6 Entwicklungsprfungen
Die Neu- bzw. Weiterentwicklung hochspannungstechnischer Gerte oder Komponenten
werden zunchst durch Entwicklungsprfungen begleitet. Entwicklungsprfungen werden an
Materialproben, Modellprfkrpern und schlielich auch an full sized Gerten durchgefhrt,
um z.B. mglichst frhzeitig Erkenntnisse ber das Langzeitverhaltens durch Akzellerierung
mittels erhhter Belastungen zu gewinnen.
Im Unterschied zu Typ- und Stckprfungen geht es bei Entwicklungsprfungen nicht um
die berprfung festgelegter Grenzwerte, sondern um die Charakterisierung elektrischer
Eigenschaften sowie der Ermittlung von Dimensionierungskenngren.
Kapitel 2
Prfspannungen und Prfstrme
Kernbereich der Hochspannungsprf- und -messtechnik ist die Anwendung und Messung
hoher Spannungen. Die Festlegung der Hhe verschienener Prfspanungsformen im Verhltnis zur normalen Betriebsspannung (Nennspannung) wird durch die Isolationskoordination
bestimmt [2]. So liegt der Prfpegel bei Blitzstospannungsprfungen (Nachbildung sehr kurzeitiger atmosphrischer berspannungen) deutlich hher als der Wechselspannungsprfpegel
(Stokennlinie: die elektrische Festigkeit von Luft nimmt mit abnehmender Beanspruchungsdauer zu). Die Abhngigkeit der elektrischen Festigkeit luftisolierter Gerte (Freiluftisolation)
von der Spannungsform und der Schlagweite fhrt bei groen Schlagweiten (ab Nennspannung
UN = 220 kV) zur zustzlichen Notwendigkeit der Schaltstospannungsprfung, bei deren
Zeitparametern die elektrische Festigkeit der Luft ein relatives Minimum aufweist.
Abbildung 2.1 zeigt im berblick die gngigen Prfspannungsarten. Prfspannungsarten, die
bei Vor-Ort-Prfungen angewendet werden, sind blau markiert und werden im Kapitel VII
behandelt. Die Messung hoher Spannungen ist Thema des Kapitels II.
Prfspannung
Gleichspannung
Wechselspannung
Impulsspannung
Prftransformatoren
mit Gleichrichter
Greinacher-Kaskade
betriebsfrequente Wechselspannung
49...61 Hz
Blitzstospannung
- aperiodisch 1,2/50 s
- abgeschnitten
- oszillierend 10...300 kHz
Prftransformatoren
Resonanzkreis mit variabler Induktivitt
Resonanz-Wechselspannung
10...500 Hz
Resonanzkreis mit fester Induktivitt

und variabler Frequenz
Wechselspannung induz. Spannungsprfung

2 x fN, typ.100...400 Hz
Drehstromgeneratoren mit variabler Drehzahl
VLF Very Low Frequency

0.01...1 Hz, typ. 0.1 Hz
Marx-Generator, ggf. mit

Abschneidefunkenstrecke
bzw. Serieninduktivitt
Schaltstospannung
- aperiodisch 250/2500 s
- oszillierend 1...5 kHz
Marx-Generator, ggf. mit
Serieninduktivitt
Steilstospannung, VFT
Sinus-VLF
Cos-Rechteck-VLF
Abb. 2.1: bersicht Prfspannungsarten (blau: nur bei Vor-Ort-Prfungen)

Prfstrme werden hauptschlich fr Erwrmungsprfungen, Stokurzschlussprfungen und
Leistungsprfungen bentigt.
Konstante oder zyklische Dauerstrombeanspruchung mit AC oder DC:
Erwrmung
thermisch-mechanische Belastung (Expansion, Kontraktion)
Kontakte
Exponential- und Langwellenstostrme, AC-Kurzschlussstrme
Energieaufnahme (berspannungsableiter)
7
2 Prfspannungen und Prfstrme
mechanische Kurzschlussfestigkeit
dielektrische Festigkeit (u(t) = Ldi/dt)
AC-Starkstrme bei Leistungsprfungen
direkte und synthetische Prfung des Schaltvermgens
Strlichtbogenprfungen
Abbildung 2.2 zeigt im berblick die gngigen Prfstromarten. Die Erzeugung und Messung
hoher Strme wird im Kapitel III behandelt. In aller Regel werden Stromprfungen nur im
Labor durchgefhrt, nicht vor Ort.
Prfstrom
Gleichstrom
Hochstromtransformatoren
mit Gleichrichter
betriebsfrequenter Wechselstrom
49...61 Hz
Stostrom
Dauerwechselstrom
Exponential-Stostrom
- 1/20 s
- 4/10 s
- 8/20 s
- 30/80 s
- 10/350 s
- 10/700 s
Hochstromtransformatoren
Kurzzeitwechselstrom mit
berlagertem Gleichanteil
Kurzschlusstransformatoren,
Kurzschlussgeneratoren
RLC-Stostromkreis
Langwellen-Stostrom
- 500 ... 3200 s
LC-Kettenleiter
Abb. 2.2: bersicht Prfstromartenarten
2.1 Wechselspannung
2.1.1 Betriebsfrequente Wechselspannung
2.1.2 Resonanzspannung
Die Verwendung von umrichtergespeisten Serienresonanzkreisen zur Erzeugung hoher Resonanzspannungen wird im Abschnitt 27.4.2 ausfhrlich behandelt.
2.6 Stostrom
2.1.3 VLF 0,1 Hz

2.1.4 16 2/3 Hz
2.2 Gleichspannung
2.3 Impulsspannung
2.3.1 Blitzstospannung
2.3.1.1 aperiodisch 1,2/50 s
2.3.1.2 abgeschnitten
2.3.1.3 oszillierend 10. . . 300 kHz
2.3.2 Schaltstospannung
2.3.2.1 aperiodisch 250/2500 s
2.3.2.2 oszillierend 50 Hz. . . 1 kHz
Die Erzeugung und Verwendung von oszillierender Impulsspannungen wird im Abschnitt
27.2.2 ausfhrlich behandelt.
2.3.3 Steilstospannung
2.3.4 VFT
2.4 Betriebsfrequenter Wechselstrom
2.5 Gleichstrom
2.6 Stostrom
2.6.1 Exponentialstostrom
2.6.2 Rechteck-Stostrom
Kapitel 3
Prfobjekte
3.1 Kabel und Kabelgarnituren

3.1.1 Kabel
3.1.1.1 Massekabel
3.1.1.2 l-Papier-Kabel
3.1.1.3 PPL-Kabel
3.1.1.4 Kunststoffisolierte Kabel
PE-isolierte Kabel
VPE-isolierte Kabel
Quelle: Nexans
Abb. 3.1: 400 kV-VPE-Kabel
Querschnitt 2500 mm2, Auendurchmesser 14,2 cm, Gewicht 40 kg/m

20
400-kV-VPE-Einleiterkabel
11
12
3 Prfobjekte
EPR-isolierte Kabel
3.1.1.5 Seekabel
3.1.2 Kabelgarnituren
3.1.2.1 Verbindungsmuffen
3.1.2.2 Freiluftendverschlsse
3.1.2.3 Schaltanlageneinfhrungsendverschlsse
3.1.2.4 Trafoendverschlsse
3.2 Die Prfung von Kabeln und Kabelgarnituren

Die lckenlose Qualittssicherung von der Entwicklung von Komponenten bis zur Inbetriebnahme kompletter Kabelsysteme erfordert eine Vielzahl von Prfungen und Messungen, die
im folgenden vorgestellt werden.
Werden Kabelgarnituren und Kabel in einigen Eigenschaften im Entwicklungsstadium und
bei Auswahlprfungen noch separat geprft, so erfordern doch alle elektrischen Prfungen
mit nennenswerter Amplitude die Montage der Garnitur auf einem Kabel. Kabelgarnituren
werden so Systemprfungen unterzogen, die das korrekte Zusammenspiel von Garnitur und
Kabel fr die gesamte vorgesehene Betriebsdauer sicherstellen.
Durch Fortschritte der Vor-Ort-Prftechnik ist es heute mglich und sinnvoll, die Qualittssicherung bis zur Inbetriebnahme zu gewhrleisten. Inbetriebnahmeprfungen stellen sicher,
dass auch die Montagequalitt auf der Baustelle sichergestellt werden kann.
3.2.1 Entwicklungsprfung
Entwicklungsprfungen dienen der Simulation zuknftiger Betriebsbeanspruchungen und der
Abschtzung des Langzeitverhaltens aller Systemkomponenten durch Akzelerierung mittels
erhhter Belastungen. Die Ergebnisse der Entwicklungsprfungen gestatten die Festlegung
der Dimensionierungskenngren.
Entwicklungsprfungen werden begleitend zu Neu- und Weiterentwicklungen und zur berprfung neuer Werkstoffeigenschaften durchgefhrt. Als Prflinge werden zunchst Prfkrper
(z.B. Platten fr Werkstoffuntersuchungen), dann Modellkabel und schlielich auch full-sized
Kabel und Garnituren verwendet.
Zu Beginn einer Neuentwicklung werden Festlegungen zur maximalen Bemessungsspannung
Um , zum min. und max. Aderdurchmesser, zum maximalen Leiterquerschnitt und zur maximalen Feldstrke an der Oberflche der Isolierung getroffen. Mit modernen Berechnungsverfahren
knnen dann die elektrische Feldstrke und die Anpresskrfte bestimmt und optimiert werden.
Mit Prototypen der Garnituren werden elektrische Versuche durchgefhrt, z.B.:
Wechselspannungsprfungen bis zum Durchschlag (wenn mglich)
Begleitende Teilentladungsmessungen
Stospannungsprfungen
Lastwechselprfungen, bei Neukonstruktionen mit erhhter Zyklenzahl
Visuelle Inspektion und Bewertung
3.2 Die Prfung von Kabeln und Kabelgarnituren
13
3.2.2 Typprfung
Die primre Aufgabe der Typprfung ist der Nachweis der in den Normen festgelegten
Eigenschaften [36]. Typprfungen werden zum Nachweis der Betriebstauglichkeit und zur
Besttigung von Kundenanforderungen durchgefhrt.
Eine Typprfung erfolgt nach Abschluss einer Neu- bzw. (signifikanten) Weiterentwicklung,
z.B. durch Konstruktions- und Werkstoffnderungen oder auf Kundenanforderung. Bei der
Typprfung wird das komplette Kabelsystem, d.h. normalerweise Kabel und alle Garnituren
geprft.
Obwohl die Normen die Wiederholung einer erfolgreichen Typprfung fr nicht erforderlich
halten, kann man nach ca. 5 Jahren davon ausgehen, dass der kumulative Einfluss (auch
kleinerer) technologischer Vernderungen eine Wiederholung sinnvoll macht. Insbesondere
bei Projekten, bei denen Garnituren und Kabel von verschiedenen Herstellern stammen, sollte
eine System-Typprfung erwogen werden, auch wenn diese Garnituren und Kabel bereits in
anderen Kombinationen erfolgreich typgeprft wurden.
Bei Mittelspannungskabelgarnituren beinhaltet die vollstndige Typprfung zwei Prfreihen B1 und B2 (s. Abschnitte 3.2.2.1 und 3.2.2.2). Stck- und Auswahlprfungen wie bei
Kabeln sind bisher nicht vorgesehen, ihre Einfhrung ist aber Gegenstand aktueller berlegungen. hnliches gilt fr die Prfung von Matrialcharakteristiken z.B. fr Warm- und
Kaltschrumpfschluche fr Mittelspannung [7].
3.2.2.1 Prfreihe B1 Elektrische Typprfung von Mittelspannungskabelgarnituren

Die elektrische Typprfung von Mittelspannungskabelgarnituren in Verbindung mit extrudierten Kunststoffkabeln nach [6] beinhaltet bei folgende Schritte:
Gleichspannungsprfung (trocken) mit 6 U0 , 15 min
Wechselspannungsprfung (trocken) mit 4,5 U0 , 5 min
Tan-delta Messung bei maximaler Leitertemperatur
Stospannungsprfung (jeweils 10 positive und 10 negative Ste) bei max. Temperatur
Lastwechselprfung in Luft (63 Zyklen) bei 1,5 U0
Lastwechselprfung in Wasser (63 Zyklen) bei 1,5 U0
Wechselspannungsprfung (trocken) mit 3 U0 , 4 h
Stospannungsprfung (je 10 Ste mit pos. und neg. Polaritt) bei Umgebungstemperatur
3.2.2.2 Prfreihe B2 Kurzschlussfestigkeit von Mittelspannungskabelgarnituren

Die Feststellung der Kurzschlussfestigkeit nach [6] erfordert folgende Prfschritte:
Gleichspannungsprfung (trocken) mit 6 U0 , 15 min
Thermischer Kurzschlussstrom am Schirm, 2 Impulsbelastungen
Thermischer Kurzschlussstrom am Leiter, 2 Impulsbelastungen
Dynamischer Kurzschlussstrom, 1 Impulsbelastung
Stospannungsprfung (je 10 Ste mit pos. und neg. Polaritt) bei Umgebungstemperatur
14
3 Prfobjekte
3.2.2.3 Elektrische Typprfung von Hochspannungskabelgarnituren

Die elektrische Typprfung von Hochspannungskabelgarnituren nach IEC beinhaltet folgende
Schritte [3, 4]:
Biegeprfung des Kabels und anschlieende Montage der Garnituren
TE-Messung bei Raumtemperatur
Tan-delta Messung bei max. Temperatur
Lastwechselprfung (20 Zyklen) bei 2 U0
TE-Messung bei Raumtemperatur und maximaler Leitertemperatur 95C + 5 K
Stospannungsprfung (jeweils 10 positive und 10 negative Ste) bei max. Temperatur
mit anschlieender Wechselspannungsprfung (2,5 U0 , 15 min)
TE-Messung (in der Regel zusammen mit der vorangehenden AC-prfung)
Prfung des Gehuses bei erdverlegten Garnituren
Visuelle Inspektion
Elektrischer Widerstand der Leitschichten (an separaten Proben)
3.2.3 Auswahlprfung
Bei der Auswahlprfung werden einzelne Aufbauelemente nach Fertigung vorgegebener
Auftragsanteile auf die Einhaltung der in den Normen spezifizierten Eigenschaften geprft.
Dazu zhlen z.B.:
berprfungen der Geometrie (Wandstrken, Durchmesser u.a.)
Visuelle Inspektion
Da die Konstruktionsprinzipien und Werkstoffe von Kabelgarnituren stark variieren, knnen
die Normen keine einheitlichen Prfprozeduren definieren [8, 9].
3.2.4 Stckprfung
Auch die Stckprfung dient dem Nachweis der in den Normen spezifierten Eigenschaften.
Im Unterschied zur Auswahlprfung wird die Stckprfung an jedem gefertigten Stck
durchgefhrt. Es handelt sich hierbei um eine Fertigungskontrolle.
Bei Hochspannungsgarnituren in Aufschiebetechnik hat sich die Wechselspannungsprfung
mit begleitender TE-Messung zusammen mit einer detaillierten visuellen Inspektion als
Stckprfung bewhrt.
Bei bestimmten Garniturentypen (z.B. Warm- und Kaltschrumpfmuffen, Wickelmuffen) knnen prinzipbedingt keine elektrischen Stckprfungen vorgenommen werden.
3.2.5 Prqualifikationsprfung
Prqualifikationsprfungen werden erst ab UN = 220 kV in der Norm gefordert [4]. Im Unterschied zur Typprfung wird die Prqualifikationsprfung nur fr das System mit der hchsten
3.3 Gasisolierte Leitungen
15
Betriebsfeldstrke eines Fertigungstandortes durchgefhrt. Die Erfahrung zeigt aber, dass

Kunden von wichtigen EHV-Kabelprojekten eine projektspezifische Prqualifikationsprfung
fordern. Ein aktueller CIGRE-Bericht [10] empfiehlt, Prqualifikationsprfungen nicht von der
Nennspannung, sondern von der maximalen elektrischen Feldstrke abhngig zu machen, da
spezielle Kabelkonstruktionen mit reduzierter Isolierwandstrke schon bei Nennspannungen
von z.B. 110 kV Feldstrken von EHV-Kabeln bzw. EHV-Garnituren erreichen.
Im Unterschied zur Typprfung wird die Prqualifikationsprfung an mindestens 100 m Kabel
und allen Garnituren unter realittsnahen Verlegebedingungen durchgefhrt. Die Prfspannung
betrgt 1,7 U0 fr die Dauer von einem Jahr (8760 h). Whrend dieses Jahres mssen 180
Lastwechsel bis zur Leitertemperatur 90C + 5 K absolviert werden. Nach dieser Langzeitbeanspruchung ist eine visuelle Inspektion aller Komponenten erforderlich. Zustzlich wird ein
Kabelstck nach der Prqualifikationsprfung einer Blitzstospannungsprfung unterzogen.
3.2.6 Qualittssicherung vor Ort

Die Vor-Ort-Prfung und Diagnose von Energiekabelanlagen wird im Abschnitt 27 behandelt.
3.2.6.1 Kabellegung und Garniturenmontage

Die Qualittssicherung bei der Kabellegung betrifft nicht unmittelbar die Kabelgarnituren,
ist aber unzweifelhaft eine wesentliche Voraussetzung fr die ordentliche Errichtung einer
Kabelanlage. Die Kompetenz des Personals spielt bei der Kabellegung als auch bei der Montage der Garnituren die entscheidende Rolle, zustzlich sollten beispielsweise die auftretenden
Zugkrfte bei der Legung aufgezeichnet werden [7, 11, 12].
Projekte, bei denen Kabel und Garnituren von unterschiedlichen Herstellern stammen, Projektierung, Legung und Montage ebenfalls durch verschiedene Firmen erfolgt, bergen naturgem
kritischere Schnittstellen als turn-key Projekte. Dies sollte der sptere Betreiber durch ein
geignetes Qualittsmanagement angemessen bercksichtigen. Zwei in den Standards vorgesehene qualittssichernde Manahmen sind die Mantelprfung (Abschnitt 3.2.6.2) und die
Spannungsprfung der Hauptisolation (siehe Abschnitte 27.1 und 27.4).
3.2.6.2 Mantelprfung
Die Mantelspannungsprfung verlegter Kabel erfolgt mit 10- kV-Gleichspannung zwischen
Kabelschirm und umgebenden Erdreich und wird in der Regel von einer Ableitstrommessung
begleitet. Das Nichtbestehen der Mantelprfung zeigt die Beschdigung des Kabelmantels an.
Mantelfehler mssen geortet und repariert werden, da an diesen Stellen Feuchtigkeit ein- und
bei lteren Kabelanlagen Masse oder l austreten kann.
Die Mantelprfung wird im Rahmen der periodischen Instandhaltung wiederholt, da uere
Einflsse (z.B. mechanische Beschdigungen durch Bauarbeiten) als auch Korrosion zu
Mantelfehlern whrend des Betriebes verursachen knnen.
Bei enger Kabelfhrung ist zu beachten, dass die zur Mantelfehlerortung eingesetzten Stoverfahren u.U. auch benachbarte Kabel beschdigen knnen.
3.3 Gasisolierte Leitungen

Die Prfung von gasisolierten Rohrleitern wird z.B. in [13] und [14] beschrieben.
16
3 Prfobjekte
Abb. 3.2: GIL - Gasiolierter Rohrleiter von innen
Abb. 3.3: GIL - Gasiolierter Rohrleiter im Tunnel (links), Aufbau (rechts)
3.4 Transformatoren
Die IEC-Normen fr die Prfung von Leistungstransformatoren (Reihe IEC 60076) sind in
Tabelle 34.3 zusammengefasst:
Teil 1: Allgemeines, VDE 0532-76-1:2009-11 (Norm-Entwurf)
Teil 2: bertemperaturen fr flssigkeitsgefllte Transformatoren, VDE 0532-76-2:2009-11
(Norm-Entwurf)
Teil 3: Isolationspegel, Spannungsprfungen und uere Abstnde in Luft, VDE 0532-3:200111
Teil 4: Leitfaden zur Blitz- und Schaltstospannungsprfung von Leistungstransformatoren
und Drosselspulen, VDE 0532-76-4:2003-06
Teil 5: Kurzschlussfestigkeit, VDE 0532-76-5:2007-01
Teil 6: Drosselspulen, VDE 0532-76-6:2009-02
Teil 7: Leitfaden fr die Belastung von lgefllten Leistungstransformatoren, VDE 0532-767:2009-02
Teil 10: Bestimmung der Geruschpegel, VDE 0532-76-10:2002-04
Teil 11: Trockentransformatoren, VDE 0532-76-11:2005-04
Teil 12: Leitfaden fr die Belastung von Trockentransformatoren, VDE 0532-76-12:2008-01
(Norm-Entwurf)
Teil 13: Selbstgeschtzte flssigkeitsgefllte Transformatoren, VDE 0532-76-13:2007-07
3.5 Die Prfung von Transformatoren
17
Teil 15: Gasgefllte Leistungstransformatoren, VDE 0532-76-15:2008-01 (Norm-Entwurf)

Teil 16: Transformatoren fr Windenergieanlagen-Anwendungen, VDE 0532-76-16:2009-10
(Norm-Entwurf)
Einen umfangreichen berblick zu Transformatoren gibt [15]. Detaillierte Informationen zum
Prfen von Leistungstransformatoren finden sich in [16].
3.4.1 ltransformatoren
Abb. 3.4: ltransformator im Prffeld
3.4.2 Trockentransformatoren
3.4.3 Stromrichtertransformatoren
3.4.4 Loktransformatoren
3.5.1 Messung der Wicklungswiderstnde
Die Messung der Wicklungswiderstnde ist Bestandteil der Stckprfung von Transformatoren. Sind Umsteller oder Stufenschalter vorhanden, werden die Widerstnde in allen Stufen
gemessen.
Die Messung des ohmschen Wicklungswiderstands beinhaltet die Besonderheit, dass hier sehr
kleine ohmsche Werte (m bis ) bei gleichzeitig sehr hoher Induktivitt auftreten. Dies hat
mehrere Konsequenzen:
18
3 Prfobjekte
Abb. 3.5: Trockentransformator (Aufbau)
Zur Vermeidung von Messfehlern muss mglichst reiner Gleichstrom verwendet werden, schon eine sehr geringe Welligkeit wrde an der Induktivitt einen Spannungsfall
verursachen und einen ohmschen Widerstand vortuschen.
Die Messung des Gleichstromwiderstandes ist erst nach Abklingen der Zeitkonstante =
L/R mglich, ein geeignetes Messgert sollte den stationren Zustand selbst feststellen
knnen. Um den Einschwingvorgang kurz zu halten, kann ein regelbarer Widerstand zur
temporren Widerstandserhhung verwendet werden.
Die Amplitude des Gleichstromes sollte einerseits ausreichende Spannungsflle an u.U.
sehr niederohmigen Wicklungen hervorrufen, andererseits eine Erwrmung und damit
eine Widerstandsnderung whrend der Messung sicher vermeiden. Um eine Erwrmung
sicher zu vermeiden, sollte der Messstrom 10% des Nennstromes nicht berschreiten. Um
eine Sttigung des Kerns und damit eine minimale Induktivitt zu erzielen, sollte
der Messstrom mindestens 20% ber dem Magnetisierungsstrom liegen.
Eine abrupte Unterbrechung des Messstromes ist unbedingt zu vermeiden, da gem
u = L di/dt sehr hohe Spannungen auftreten wrden, die das Messgert zerstren und
Personen gefhrden knnten. Ein geeignetes Messgert muss den Strom am Ende der
Messung sanft abregeln, um berspannungen zu vermeiden.
Es ist mglich und durchaus noch in der Praxis verbreitet, mit einer Kombination aus stromstarker Batterie (z.B. Auto- oder LKW-Batterie), regelbaren Vorwiderstand zur Stromeinstellung,
Przisionsshunt zur Strommessung sowie genauen Voltmetern den Widerstand nach dem
ohmschen Gesetz R = u/i zu bestimmen. Hierbei mssen die o.g. Besonderheiten durch
das Bedienpersonal beachtet werden. In der Regel wird durch mehrere Personen eine (mehr
19
Abb. 3.6: 850 kV-HG-Transformator im Prffeld, Siemens
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oder weniger) synchrone Ablesung der Strom- und Spannungsmesswerte gewhrleistet. Zur
statistischen Absicherung
werden mehrere Messwerte aufgezeichnet.
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!"#$%&'"(#)'"*$+
(*,-*".)*
Abb. 3.7 zeigt ein modernes

Messgert fr die Widerstands- und(*,-*".)*
bersetzungsmessung an
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Abb. 3.7: Widerstands- und bersetzungsmessgert

Schuetz
Messtechnik
Typ MRC 7100
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Ist die Wicklung im Stern geschaltet, so ergibt sich fr die Verluste mageblicher Gesamtwiderstand als Summe6#-$*)4%4*"D$-%%)"'(*%
der drei Phasenwiderstnde. Diese werden aber als verkettete WiAB07)$!)65)+C4D)@
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den Sternpunkt mglich
ist. Es
ist i.a. unbekannt,
obHJE?@AA8
die Sternpunktausleitung
den gleichen
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Phasenausleitungen
Die Phasenwiderstnde
ergeben sich
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6.5&*8
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Widerstnden RA = R
RL2,L3 und R = R
wie
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R
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,Q$>B3708)$>_/*7$,''&Q !*19$7%19*8_$;*"5$-*$8B'"/*9#6)*$D
20
3 Prfobjekte
Ist nur der Summenwiderstand RY der Sternwicklung gefragt, so berechnet sich dieser einfach
zu:
1
RY = (RA + RB + RC ) = RL1 + RL2 + RL3
(3.1)
2
Bei einer Dreieckswicklung sind nur die verketteten Widerstnde der Messung zugnglich.
Die Phasenwiderstnde ergeben sich zu:
2
RA
2(RB RC )2 2RA (RB 2RC )
2(RA RB RC )
2
R 2(RB RC )2 2RA (RB 2RC )
= A
2(RA + RB RC )
2
R 2(RB RC )2 2RA (RB 2RC )
= A
2(RA RB + RC )
RL1 =
RL2
RL3
Bei Dreieckswicklungen mit hnlichen Phasenwiderstnden ergibt sich der fr Verlustmessungen relevante Wicklungswiderstand R4 mit dem mittleren verketteten Widerstand
Rm = 1/3 (RA + RB + RC ) vereinfachend zu:
R4 =
3
Rm
2
(3.2)
!"#$%&'"(#)'"*$+
!"#$%&''
3.5.2 bersetzung und Phasengruppe
(*,-*".)*
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/0#%*$#$1#02-*".)
9)*$ !"#$ %&''$ !()*+,),:

-)(./+012$ 3;+,2$ ;,$ <67=;,)2;6,
7;2$ 3+7$ >?@$ %&''$ AB0$ )B26:
7)2;*;+02+,$
>+**B,/$
3+0
#;CD.B,/*-;3+0*21,3+$
B,3
!()*+,-;,D+.$),$90+(*2067:$B,3
E;,F()*+,20),*5607)260+,G
3#4*56 15"76 7*"6 896 :";&*$7*
!"#$%&'"(#)'"6 45%6 896 #<0):'25-6 #$
7#%6 /0#%*$#$1#02-*".)6 6 #$-*+
%<02'%%*$=6
#9&6
7*"6
>4*"+
%:#$$9$-%%*5)*6 ?>@A6 481B6 7*"
Abb.
C$)*"%:#$$9$-%%*5)*6 ?C@A6 D*1*52%
(5)6 7*$6 7"*56 /0#%*$6 9$76 7*(
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I$%<029,6 5%)6 89"6 J25(5$5*"9$-6 7*"
K92*5)9$-%157*"%).$7*6 81*5:'25?$#<06 L*2G5$AF6 %'6 7#,6 %5<06 %)*)%
*5$*6
G5*":'25-*6
M57*"%)#$7%+
(*%%9$-6*"-54)B
3.8:
Schuetz
Messtechnik Typ PAW 7100
M5"76 Phasenanwahlgert
75*6 I9%1#026 7*"6 89
>+0D7).+
H+)2B0+*I
(*%%*$7*$6
M5<Y29$-6
#(
\*75*$-*".)6 \J36 VWXX6 G'"-*+
J$K6..*21,3;/+0$",*C(.B8$3+*$40),*:
5607)260*
$'((*$F6 %'6 5%)6 #9%6 81*56 !#%)*$
>@6 481B6 C@6 75*6 >@+!#%)*6 89
J$"B267)2;*C(+$!()*+,:$B,3$L2B5+,:
%*)8*$F6 1*$$6 #9&6 7*"6 >4*"+
B7*C().2B,/
%:#$$9$-%*5)*6 -*(*%%*$6 1*"7*$
J$D+;,$7),B+..+*$M7D.+77+,
%'22^6 75*6 C@+!#%)*6 1.02)6 75*
,62-+,3;/
C$)*"%:#$$9$-%%*5)*B6H*7'<06Y#$$
K9%#((*$6 (5)6 7*"6 N'"1#026 7*"
#9<06 _3CI`a6 -*(*%%*$6 1*"7*$=
@<0#2)-"9::*6 +6 8B6 K)B6 %5$76 OP *5$*6 >@+M5<Y29$-6 15"76 (5)6 *5$*"
C@+M5<Y29$-6 5$6 U*50*6 -*%<0#2)*)F
@<0#2)-"9::*$6 $#<06 QJR+E'"(6 5(
89-*0S"5-*$6 TUR6 VWXX6 5$%)#225*")6 +
%'6 7#,6 75*6 (#-$*)5%5*"*$7*
ZB=+(b0
H+)2B0+*I
5%)6 7*"6 :0#%*$+6
9$76 G*Y)'""5<0)5-*
M5"Y9$-6der
7*"6 >@+M5<Y29$-6
75*6 C@+
Sowohl
fr die Messung
Kurzschlussverluste
als auch der Leerlaufverluste von LeistungsI$%<029,6 7*%6 /";&25$-%6 #$6 7#%
M5<Y29$-6 9$)*"%);)8)^6 75*6 *"%)*
J$>+8AB.+;2B,/+,$G*"%<05*7*$*"6`.$-*$F
transformatoren
kommen
dreiphasige
Przisionsmesssysteme
zum Einsatz. Abb. 3.9 zeigt ein
(5)6L*2G5$%<090*$6'7*"6L*2G5$8#$-*$
M57*"%)#$7%+6 9$76 Z4*"%*)89$-%+
T*%%9$-6 15"76 7#$$6 %)*)%6 #$6 7*"
>@+M5<Y29$-6
G'"-*$'((*$F6Leistungen
7#$$
(*,-*".)6TUR6VWXX6%5<0*"-*%)*22)B
derartiges Messsystem,
das
dreiphasige
bei
Spannungen
bis 200 kV und Strme bis
15"76 +6 4*56 9$G*".$7*")6 &25*,*$7*$
E9$(*0"6YS$$*$6(5)67*(6;4*"67#%
T*,%)"'(6
+6 #9&6 75*6 C@+/')*$)5#2+
4000 A messen kann.
Zur Spannungsmessung
kommen hierbei Pressgas-Kondensatoren zum
/0#%*$#$1#02-*".)6 #$-*%<02'%+
9$76 7'")
EinsatzVWXX6
(siehe 75*
auchI$%<02;%%*6
Abb. 6.39(-*%<0#2)*)6
in Abschnitt
6.1.2). Zur Erzielung hchster Przision und Dyna%*$*(6
TUR6
-*(*%%*$B6
35*6
I9%1#026 7*"
M5<Y29$-%157*"%).$7*6
9$G*"Y*))*)
"5<0)5-*$6
M5<Y29$-%89'"7$9$-6
mik (Messbereich
ohne Umklemmen
des-*+
Stromwandlers: 4. . . 4000 A) werden elektronisch
%<05*0)65(6TUR6VWXX65$6I40.$-5-+
?E922*5)*"6
4*56
@)*"$%<0#2)9$Stromwandler
Abschnitt 11.3.2) verwendet.
Y*5)6
G'$6 7*"6 (s.
*5$-*-*4*$*$
*"&'"7*"25<0[A6flusskompensierte
'7*"6
G*"Y*))*)
-*(*%%*$61*"7*$B635*6$')1*$75-*
@<0#2)-"9::*6
9$76
&'2-*$7*$
I9%1#026 7*"6Am
@<0#2)-"9::*6
9$76eines
7*"
M5<Y29$-%1#02B
Beispiel
ltransformators mit zwei Wicklungen (Oberspannung OS und Unterspan896 (*%%*$7*$6 M5<Y29$-6 -*%<05*0)
nung
und drei H*)8)6
Phasen
L2 und
L3) soll die Bestimmung der Nennkurzschlussverluste
#(6 TUR6 VWXXF6
#$6US)
7#%6 *$)1*7*"
(9,6 (L1,
75*6 M5<Y29$-6
#$-*1.02)
1*"7*$F675*6-*(*%%*$61*"7*$6%'22^
*5$6 ;4*"-*'"7$*)*"6 U*<0$*"6 #$-*+
erlutert
werden.
Die
Wicklungen bestehen aus Kupfer. Die Vektorgruppe ist hierbei nicht von
%<02'%%*$6
15"76
'7*"6
7#%
7#896*b5%)5*"*$675*6!#%)*$=6EF6CF6NF
\*75*$-*".)6Bedeutung.
\J36 VWXXB6 M5"76 75* MB6 Q%)6 75*6 !#%)*6 E6 -*%*)8)F6 15"7
I9%1#026 7*"6 @<0#2)-"9::*6 #(
-*-*$6 7*$6 @)*"$:9$Y)6 -*(*%%*$F
\*75*$-*".)6 G'"-*$'((*$F6 %5$7
89%#((*$6(5)67*"6!#%)*6C6#2%'675*
H0)/+,N
Die
Bestimmung
der Kurzschlussverluste erfordert
zunchst die Bestimmung der DCM5<Y29$-6 C6 4*56 @)*"$%<0#2)9$-B
$9"6 75*6 15<0)5-%)*$6 W]6 @<0#2)+
'OOPQ$R$O&%S$T$'$U?B5V
J$)%:"*<0*$76
-"9::*$6 G*"&;-4#"B6
I22*"75$-%
Wicklungswiderstnde
ROS *"2#94)6
und R7#%6
(rein ohmscher
Anteil) gem Formel 3.1 und 3.2
U S@*)8*$
d5*"6*"0#2)*$6@5*6d52&*64*56)*<0$5%<0*$
YS$$*$6 #9&6 L9$7*$19$%<06 #9<0
G'$6 81*56 !#%)*$6 #9%6 75*%*$6 G5*"
c"#-*$69$761*5)*"*6Q$&'"(#)5'$*$
(Abschnitt
3.5.1) bei
der75*6Umgebungstemperatur
0 . Die Messung der Kurzschlussverluste
1*5)*"*6 @<0#2)-"9::*$6
G'"-*%*0*$
!#%)*$6
I$1#026 7*"6 G*"Y*))*)*$
;4*"6/"*5%*F6N*"%#$7669$76N*")"5*4
1*"7*$B
M5<Y29$-*$6 5$
erfolgt in der Regel'7*"6
bei 9$G*"Y*))*)*$6
einer anderen
Umgebungstemperatur
1 . Die IEC-Norm fordert schlieI40.$-5-Y*5)6 G'$67*"6 @<0#2)-"9::*
'OOPQ$R$O&%S$T$&'$UH)WV
I$&"#-*$6:*"6c#b
/";&25$-%B6 E5<0)6 (S-25<0*
3#%6 TUR6 lich
VWXX6den
%*24%)6
4*%5)8)der7*%6
Bezug
Kurzschlussverluste
auf IEC
= 75C. Die entsprechenden Korrekturen
L'(45$#)5'$*$6 1*"7*$6 (5)6 *5$*(
(*0"*"*6 T*,"'9)5$*$F6 75*6 *5$*
*C(B+2A:7+**2+C(,;D:/7=(X2:6,.;,+G3+
berechnen
sich mitc*02*"05$1*5%64*#$)1'")*)B
dem IEC-Temperaturkoeffizient
fr Kupfer CCu = 235 zu:
D*1*52%6 G'"-*-*4*$*6
U*50*$&'2-*
I$&"#-*$6:*"6*(#52
7*"6 T*%%9$-*$6 #4#"4*5)*$F6 1'4*5
\*%9<0*$6@5*69$%*"*60'(*:#-*69$)*"
-2*5<08*5)5-6*5$6/";&:"')'Y'226*"%)*22)
---G6(77+2+0G3+
15"7B
3.5.3 Kurzschluverluste und Kurzschluimpedanz
L@YME4Z$>ELL4E@Y[\<$]>^Y_$?(+;,*20)**+$%)_$9:&`a&O$4+.26PG$"B5.)/+$"F0;.$P''&G !*<0$5%<0*6e$7*"9$-*$6G'"4*0#2)*$B
eliminated.
a measurement.
The TMS 580 has distinguished itself in the rugged

environment of the transformer test facility. The design
of the system ensures that its control and
instrumentation function circuits remain unaffected by
existing interfering fields.
Excellent technical services are guaranteed by our

skilled and experienced engineers. They ensure
perfect operating condition over the systems entire
service life.
21
High operating convenience
reduces the learning
process and minimizes faulty operations. Intuitive
windows operating software helps getting familiar with
the instrument very fast.
Ap p lic a tion s
Transformer Manufacturers
Transmission Network Service Providers
Distribution Network Service Providers
Research Institutes
Subject to technical modifications without notice.
Abb. 3.9: Leistungsmesssystem Haefely TMS 580
k1 =
CCu + 1
CCu + 0
(3.3)
CCu + IEC
CCu + 1
(3.4)
und analog
kIEC =
Zur Messung der Kurzschlussverluste wird der Transformator auf der Unterspannungsseite
kurzgeschlossen und dreiphasig von der Oberspannung eingespeist. Dabei werden Spannungen
und Strme dreiphasig vektoriell mit hoher Przision gemessen. Hier ist insbesondere ein sehr
kleiner Winkelfehler unbedingt erforderlich, da Leistungstransformatoren einen sehr kleinen
Leistungsfakor cos aufweisen und ein Winkelfehler unmittelbar zu falschen Wirkleistungsmessergebnissen (Verluste) fhrt.
Der Oberspannungsnennstrom IOSN und der Unterspannungsnennstrom IU SN seien bekannt,
die gesamten Kurzschlussverluste PL gemessen. Der relevante IEC-Standard empfiehlt die
Messung der Kurzschlussverluste mit einem Messstrom IOSM von 50. . . 80% des Nennstroms IOSN , um eine hierbei ungewollte Erwrmung der Wicklung whrend der Messung
weitestgehend zu vermeiden.
Der ohmsche Verlustanteil Pj an den Kurzschlussverlusten bei Nennstrom berechnet sich fr
die Oberspannung zu:
2
PjOSN ,0 = IOS
ROS,0
(3.5)
N
und entsprechend fr die Niederspannungswicklung zu:
PjU SN ,0 = IU2 SN RU S,0
(3.6)
Nun muss noch die Temperaturkorrektur fr die ggf. unterschiedlichen Temperaturen 0 und
1 bei Messung der Wicklungswiderstnde und der Kurzschlussverluste erfolgen:
Pj,1 = k1 (PjOS,0 + PjU S,0 )
(3.7)
Danach wird noch gem IEC-Standard die quadratische Extrapolation der gemessenen
Kurzschlussverluste vom Messstrom IOSM auf den Nennstrom IOSN vorgenommen:
PLN ,1 =
IOSN
IOSM
2
PLM ,1
(3.8)
Die Stromverdrngungs- bzw. Streuverluste lassen sich aus der Differenz der gesamten Kurzschlussverluste und der ohmschen Gesamtverluste bestimmen:
PaN ,1 = PLN ,1 PjN ,1
(3.9)
Die ohmschen Verluste steigen mit der Temperatur, wogegen die Stromverdrngungs- bzw.
Streuverluste mit steigender Temperatur sinken. Entsprechend IEC erfolgt die Extrapolation
auf die Nenntemperatur IEC wie folgt:
22
3 Prfobjekte
PjN ,IEC = kIEC PjN ,1
(3.10)
PaN ,IEC = PaN ,1 /kIEC
(3.11)
und
Die gesamten Kurzschlussverluste bei der Temperatur IEC = 75C ergeben sich schlielich
zu:
PLN ,IEC = PjN ,IEC + PaN ,IEC
(3.12)
Nach IEC muss bei Transformatoren mit Stufenschalter die Bestimmung der Kurzschlussverluste auf der Stufe der hchsten Verluste erfolgen. In der Praxis wird diese Bestimmung auf
der Nennstufe als auch auf der kleinsten und grten Stufe durchgefhrt. In der Regel treten
die hchsten Kurzschlussverluste in der Stufe mit den kleinsten Spannungen und hchsten
Strmen auf.
3.5.4 Leerlaufverluste und Magnetisierungsstrom

3.5.5 Fremdspannungsprfung und Verlustfaktormessung
3.5.6 Induzierte Spannungsprfung und Teilentladungsmessung
3.5.7 Blitz- und Schaltstoprfung
3.5.8 Erwrmungsprfung
3.5.9 Nullimpedanz
3.5.10 Stokurzschluprfung
3.5.11 Geruschmessung
3.5.12 Stufenschalter
3.5.13 Isolationswiderstand
3.5.14 Qualittssicherung vor Ort
Die Vor-Ort-Prfung und Diagnose von Transformatoren wird im Abschnitt 29 behandelt.
3.7 Drosseln
23
3.6 Wandler
3.6.1 Spannungswandler
3.6.2 Stromwandler
3.6.3 Kombiwandler
3.7 Drosseln
3.7.1 Kompensationsdrosseln
Abb. 3.10: 400 kV-Kompensationsdrossel, Siemens
3.7.2 Erdschlulschdrosseln
3.7.3 Kurzschlustrombegrenzungsdrosseln
3.7.4 Resonanzdrosseln
3.7.5 TFH-Sperrdrosseln
3.7.6 HG-Glttungsdrosseln
24
3 Prfobjekte
Abb. 3.11: TFH-Sperrdrossel
Abb. 3.12: 500 kV-HG-Glttungsdrossel, Siemens
3.8 Schaltgerte
3.8.1 Leistungsschalter
3.8.1.1 Vakuum-Leistungsschalter
3.8.1.2 SF6 -Leistungsschalter
3.8.2 Trennschalter
3.8.2.1 Freiluft-Trennschalter
3.8.2.2 SF6 -Trennschalter
3.8.3 Erdungsschalter
3.9 Die Prfung von Schaltgerten
25

3.9.1 Strlichtbogenprfung
3.9.2 Stokurzschluprfung
3.9.3 Direkte Prfung des Schaltvermgens
nach [17]
Abb. 3.13: Direkte Prfung des Schaltvermgens
Abb. 3.14: Schaltungsvarianten des Stoleistungsgenerators im Siemens Schaltwerk Berlin
Abb. 3.15: Stokurzschlusstransformatoren
26
3 Prfobjekte
Abb. 3.16: Schaltungsvarianten der Stokurzschlusstransformatoren im Siemens Schaltwerk Berlin
3.9.4 Synthetische Prfung des Schaltvermgens

nach [17]
Das Schaltvermgen eines Leistungsschalters wird durch die Ausschaltleistung charakterisiert.
Die Ausschaltleistung ist als Produkt von Ausschaltstrom (Kurzschlusstrom) und wiederkehrender Spannung (Spannung ber der Schaltstrecke) definiert. Es handelt sich also nicht um
eine Leistung im physikalischen Sinn, da Strom und Spannung am Leistungsschalter nicht
gleichzeitig auftreten.
Dies legte schon frhzeitig den Gedanken nahe, durch eine geeignete Prfschaltung Hochstrom
und Hochspannung aus zwei unterschiedlichen Quellen zu gewinnen und zweckmig zu
berlagern. Die Grundschaltung ist in Abildung 3.17 dargestellt und wird als ZweikreisPrfschaltung bzw. synthetische Prfschaltung bezeichnet.
Die Hochstromquelle Gi zusammen mit dem Blockierschalter Sb dient zur Erzeugung des
Kurzschlussstromes ik durch den Prfling Sp . Nach dem ffnen beider Schalter Sb und Sp
wird mit der Schaltfunkenstrecke F die wiederkehrende Spannung uh aus der Hochspannungsquelle Gu an die geffnete Schaltstrecke des Prflings gelegt. Die Steuerung bernimmt
dabei die Aufgabe, die Wiederkehrspannung exakt im erforderlichen Zeitaugenblick zu ber-
27
Abb. 3.17: Elementarschaltplan der synthetische Prfschaltung
lagern. Der geffnete Blockierschalter verhindert eine Hochspannungsbeanspruchung der

Hochstromquelle.
Die Zuschaltung des Hochspannungskreises vor dem Nulldurchgang des betriebsfrequenten Stromes fhrt zu den synthetischen Prfschaltungen nach dem Prinzip der gesteuerten
Stromberlagerung. Die Zuschaltung nach dem Nulldurchgang dieses Stromes ergibt die
synthetischen Prfschaltungen nach dem Prinzip der gesteuerten Spannungsberlagerung. Als
Beispiel fr eine synthetische Prfschaltung mit Stromberlagerung wird die Funktionsweise
der Weil-Dobke-Schaltung (s. Abb. 3.18) erlutert. Anschlieend wird die Siemens-Schaltung
(s. Abb. 3.19 und 3.20) als Beispiel fr eine synthetische Prfschaltung mit Spannungsberlagerung beschrieben.
Abb. 3.18: Synthetische Prfschaltung nach F. Weil und G. Dobke

Im Anfangszustand der Weil-Dobke-Schaltung (s. Abb. 3.18) sind der Anlagenschalter Sa (Vereinigung von Sicherheits- und Draufschalter) ausgeschaltet, der Blockierschalter Sb und der
Prfling Sp eingeschaltet. Der Stoleistungsgenerator G ist erregt und die Kondensatorbatterie
C auf die Spannung Uh aufgeladen.
Das Hochstromintervall wird durch Schlieen des Draufschalters Sa und der Aktivierung
der Stoerregung des Stoleistungsgenerators G eingeleitet. Im gleichen Zeitraum erhalten
der Blockierschalter Sb und der Prfling Sp das Ausschaltkommando. Die Impedanz des
Hochstromkreises ist durch geeignete Einstellung des Transformators T bzw. der Generatorschaltung (s. Abb. 3.14) so gewhlt worden, dass der unbeeinflusste Kurzschlussstrom im
Augenblick der Kontakttrennung dem nachzuweisenden Ausschaltstrom entspricht.
Das berlagerungsintervall beginnt durch Triggerung der Schaltfunkenstrecke F kurz vor
dem Nulldurchgang des Kurzschlussstromes. Dadurch berlagert sich im Prfling Sp der
betriebsfrequente Kurzschlussstrom mit einem hherfrequenten Schwingstrom aus der Kondensatorbatterie C. Der Hochstromkreis ist fr den Hochspannungskreis kurzgeschlossen. Die
Gte der Stromberlagerung hngt stark von der Gre und der Frequenz s des Schwingstromes is ab.
28
3 Prfobjekte
Im Schwingstromintervall mssen die bisher vernachlssigten Einflsse von der Bogenspannung Ub und der Dmpfung s (resultierend aus Rh und Lh , s. Abb. 3.18 und Formel 3.13) im
Hochspannungskreis bercksichtigt werden. Mit
Rh
2Lh
r
1
s0 =
Lh C
q
2 2
s = s0
s
(3.14)
Uh Ub s t
e
sin s t
s Lh
(3.16)
s =
(3.13)
(3.15)
gilt fr den Verlauf des Schwingstromes

is =
Soll der Prfling Sp mit einem symmetrischen Auschaltstrom beansprucht werden, so gilt fr
den Einschaltzeitpunkt t0 des Draufschalters bei der Kreisfrequenz des Netzes :
t0 =

1
mit
= arctan
Lh
Rh
(3.17)
(3.18)
Fr sehr kleine Leistungsfaktoren, wie sie in Hochleistungsprffeldern blich sind, folgt fr
den Kurzschlussstrom durch den Prfling mit t1 als Zeitpunkt der Kontakttrennung und U
als Scheitelwert der wiederkehrenden Polspannung
ik =
h
i

U
Ub
sin (t t0 )
1 e(tt1 ) cos
cos
Lh
U
(3.19)
Abb. 3.19: Synthetische Einfrequenz-Prfschaltung mit Reihenschaltung des Hochspannungskreises nach E. Slamecka (Siemens-Schaltung)
Abb. 3.20: Vereinfachter Ersatzschaltplan der Siemens-Schaltung
29
30
3 Prfobjekte
3.10 HG-Ventile
3.11 Isolatoren
3.12 Durchfhrungen
3.13 berspannungsableiter
3.13.1 Aufbau und Wirkungsweise von Ableitern
Aufgabe: Begrenzung der berspannungen an Betriebsmitteln
Aufbau: Wesentliche Bestandteile sind in Reihe geschaltete Funkenstrecken (Lschfunkenstrecke) und spannungsabhngige Ableitwiderstnde
Arbeitsweise:
Ansprechen des Ableiters (Znden der Lschfunkenstrecke beim Erreichen einer bestimmten berspannung (Ansprechstospannung)
Ableiten des Stostromes ber den Ableitwiderstand R; R soll mglichst klein sein, damit
die Restspannung A klein ist
Lschung des anschlieend unter dem Einflu der Betriebsspannung flieenden Folgestromes durch die Lschfunkenstrecke sptestens im ersten Stromnulldurchgang. R
soll mglichst gro sein, damit der Folgestrom klein bleibt = spannungsabhngiger
Widerstand aus SiC oder ZnO
3.13.2 Ableitvermgen
Das Ableitvermgen eines Ableiters ist seine Fhigkeit, Stostrme in bestimmter Hhe,
Anzahl und Folge, die infolge von berspannungen nach dem Ansprechen flieen, ohne
Beschdigung abzuleiten. Das Ableitvermgen wird durch drei Kenngren charakterisiert:
Nenn-Ableitblitzstostrom
Langwellenstostrom oder Leitungsentladungsklasse
Hochstostrom
3.14 Die Prfung von berspannungsableitern

Die Prfvorschriften fr berspannungsableiter [18] fordern unter anderem folgende Prfungen:
Restspannung
Arbeitsprfung
3.14 Die Prfung von berspannungsableitern
31
Langwellenstostrom
Leitungsentladungsprfung
Hochstostrom
3.14.1 Nenn-Ableitstostrom
Der Nenn-Ableitstostrom ist der Scheitelwert des Stostromes der Form 8/20 s, den der
Ableiter bei anliegender Lschspannung in bestimmter Anzahl und Folge ableiten kann und bei
dem die hchstzulssige Restspannung nicht berschritten wird. bliche Werte: isN =5 kA,
10 kA
3.14.2 Restspannungsprfung
Die Prfung kann auch an Widerstnden allein durchgefhrt werden, wenn die Funkenstrecken nicht zur Restspannung beitragen. Auf jeden Prfling werden jeweils drei positive und
drei negative Stostrme mit etwa 80%, 100% und 120% isN gegeben (Stostromgenerator, s. Bild 10.1). Bei jedem Sto ist ein Strom-Zeit- und ein Spannungs-Zeit-Oszillogramm
aufzunehmen.
Die gemessenen Werte des Stostromes is und der zugehrigen Restspannung Ur sind in ein
Ur isN -Diagramm einzuzeichnen und aus der durch die Messpunkte gezogenen Kurve wird
die Restspannung beim Nenn-Ableitstostrom isN bestimmt. Sie mu kleiner als der Wert in
untenstehender Tabelle sein.
3.14.3 Arbeitsprfung
Der Nenn-Ableitstostrom wird in der Arbeitsprfung nachgewiesen. Er ist ein reprsentativer Wert fr die Beanspruchung eines Ableiters im Betrieb durch Wander wellen, die von
Blitzeinschlgen in die Leitung in grerer Entfernung vom Ableitereinbauort herrhren.
Diese Prfung dient gleichzeitig zur Kontrolle der Lschfhigkeit des Ableiters unter Nennspannung und des Verhaltens beim wiederholten Durchgang des Nenn-Ableitstostromes. Der
Nenn-Ableitstostrom wird auch allgemein zur Klassifizierung der Ableiter verwendet.
Das Ersatzschaltbild fr die Arbeitsprfung von Ableitern nach [19] zeigt Abbildung 3.21.
Der Ableiter oder Teilableiter (Test sample) wird ber die Impedanz Z1 und den Schalter S1
an eine Wechselspannungsquelle (Power-frequency supply) angeschlossen. Der Stostromgenerator ist ber R, L und eine Funkenstrecke mit den Teilfunkenstrecken G1 und G2 mit
dem Ableiter verbunden. G2 soll den netzfrequenten Strom zum Stostromgenerator nach
dem Ende des Stoes unterbrechen. R1 soll einen Punkt der Mehrfachfunkenstrecke G1 -G2
auf Erdpotential halten, wenn kein Strom fliet. Der Nenn-Ableitstostrom (10%) wird mit
Hilfe eines Synchronisiergertes (Tripping device) elektrisch vor dem Scheitel der Prfwechselspannung (Lschspannung des Ableiters) ausgelst, wobei die Polaritt von Stostrom und
Wechselspannungshalbperiode bereinstimmen soll.
Die Prfung erfolgt in vier Gruppen zu je fnf Sten. Die Pause zwischen den Sten einer
Gruppe soll 50. . . 60 s, die Pause zwischen den Gruppen 25. . . 30 min dauern. Bei jedem Sto
mu sich der Folgestrom ausbilden, Wechselspannung und Folgestrom sind mindestens beim
ersten und letzten Sto zu oszillografieren. Das Oszillogramm der Wechselspannung mu
neben der Halbperiode, in der der Sto ausgelst wurde, noch eine vorhergehende und eine
folgende Halbperiode zeigen.
Beurteilung der Ergebnisse:
32
It is the purpose of this annex to suggest a suitable test circuit (Figure H.1) for use in the high
current impulse operating duty test (see 8.5.4) and to describe the function of the various
circuit components rather than to specify a standard test circuit which should be used in all
tests wherever made. The requirements for the operating duty test such as the power-frequency
voltage and the characteristics of the current impulse are described in 8.5.1 and 8.5.4. The
exact method by which these requirements are met is not important. There are many possible
variations in the choice both of the circuit and values for the various components.
3 Prfobjekte
Test
sample
VD
To CRO
or MO
DC charging
circuit
To CRO
or MO
Push-button
Tripping device
Components
Power-frequency
supply
CRO cathode-ray oscillograph

MO magnetic oscillograph
VD voltage divider
S
switch
IEC
22 8 /04
Abb. 3.21: Arbeitsprfung von Ableitern

Figure H.1 Typical test circuit diagram for high current impulse operating duty test
Der Ableiter mu nach jedem Sto den eingeleiteten Folgestrom unterbrechen. Nach der
Prfung lt man den Ableiter auf Raumtemperatur abkhlen und mit dann nochmals seine
Ansprechwechselspannung und seine Restspannung beim Nenn-Ableitstrom. Beide Spannungswerte drfen um nicht mehr als 10% von den vor der Prfung ermittelten Werten
abweichen. Auerdem drfen die Oszillogramme der Arbeitsprfung keine Anzeichen von
Durch- oder berschlgen an den Ableiterwiderstnden zeigen.
3.14.4 Langwellenstostrom
Der Langwellenstostrom isl ist der Scheitelwert eines Stostromes von annhernd rechteckiger Wellenform und festgelegter Scheitelzeit, den ein Ableiter in bestimmter Anzahl und Folge
ableiten kann. Er ist ein reprsentativer Wert fr die Beanspruchung eines Ableiters im Betrieb
beim Ableiten von Schaltberspannungen. Der tatschlich flieende Langwellenstostrom ist
in seiner Dauer ts von der Lnge l des auf die berspannung aufgeladenen Leitungsstckes
und der Ausbreitungsgeschwindigkeit abhngig (doppelte Laufzeit der Welle auf der Leitung),
s. Formel 10.7.
Fr die Langwellen-Prfung wird als Stostromgenerator der in Abbildung 10.7 dargestellte
Kettenleiter verwendet. Scheitelwert und Scheitelzeit td des Langwellenstostromes hngen
von der Ableiterklassifizierung ab und sind obiger Tabelle zu entnehmen. Der Ableiter ist mit
insgesamt 20 Sten zu beanspruchen, deren zeitliche Folge in obiger Tabelle angegeben ist.
Spannung und Stostrom sind beim ersten und letzten Sto zu oszillografieren.
Aus dem Oszillogramm darf keine Beschdigung des Ableiters (Durchschlag, berschlag)
erkennbar sein. Die nach der Langwellenstostromprfung im abgekhlten Zustand gemessene
Ansprechwechselspannung darf um nicht mehr als 10% von dem vor der Prfung gemessenem
Wert abweichen.
Die Langwellen-Stostromprfung wird nu bei Ableitern mit nicht strombegrenzen den
Funkenstrecken durchgefhrt. Solche Ableiter mssen in Netzen unter 300 kV nur bei extremen
Schaltberspannungen einen Schutz gewhren.
Ableiter zum Schutz gegen Schaltberspannungen werden im allgemeinen nur in Hchstspannungsnetzen ab 300 kV eingesetzt, da sie hier fr die Isolationsbemessung magebend
sind. An solche Ableiter werden daher hohe Anforderungen bezglich des Langwellen-
3.17 Generatorausleitungen
33
Ableitvermgens gestellt. Deshalb sind sie mit magnetisch beblasenen (strombegrenzenden)

Funkenstrecken ausgerstet. Diese Ableiter werden anstelle der Prfung mit LangwellenAbleitstostrom einer Leitungsentladungsprfung unterzogen.
3.14.5 Leitungsentladungsprfung
Im Gegensatz zur Langwellenstostromprfung wird hier dem Ableiter nicht ein bestimmter
Strom aufgeprgt, sondern die gespeicherte Energie eines auf eine vorgeschriebene Schaltspannung aufgeladenen Kettenleiters ber den Ableiter entladen. Der Kettenleiter bildet dabei
das Netz wirklichkeitsgetreu nach. Bestimmend fr die Beanspruchung eines Ableiters in der
Leitungsentladungsprfung sind die Parameter des Kettenleiters und die Spannung U0 , auf
die aufgeladen wird. Wie untenstehendes Bild zeigt, bricht hier im Gegensatz zu Ableitern
ohne strombegrenzende Funkenstrecke der Strom infolge der Blasspulenwirkung auf den
Lichtbogen in der Funkenstrecke nach dem Scheitelwert zusammen.
Fr die Prfung wird als Stostromgenerator wieder der Kettenleiter in Abbildung 10.7 verwendet. Um die richtige Einstellung der Kettenleiterelemente Li und Ci zu berprfen, wird
der Prfling P durch einen Widerstand RP ersetzt (siehe nachfolgende Tabelle: Einstellwerte
des Kettenleiters), der Generator auf eine Spannung U = 0, 5 U0 aufgeladen und dann ber
RP entladen. Der Entladestrom mu ein Rechteckstrom mit der in der Tabelle angegebenen
Scheitelzeit und dem Scheitelwert sein.
Fr die Prfung des Ableiters wird der Belastungswiderstand RP wieder durch den Prfling P
mit der Lschspannung U l ersetzt. Die Ladespannung des Kettenleiters wird auf U0 eingestellt.
Der Prfablauf und die Beurteilung der Ergebnisse entspricht der LangwellenstostromPrfung.
3.14.6 Hochstrom
Als Hochstrom bezeichnet man den Scheitelwert des Stostromes der Form 4/10 s, den
der Ableiter oder Teilableiter bei der Prfung zweimal fhren mu. Die Prfung dient zum
Nachweis der berschlag- bzw. Durchschlagfestigkeit der Widerstnde.
Der einzustellende Scheitelwert ergibt sich aus obiger Tabelle. Auch hier sind wieder Spannung
am Prfling und Hochstrom zu oszillografieren.
Die Ableiterwiderstnde drfen keine berschlag- oder Durchschlagspuren aufweisen und
auch die Oszillogramme mssen zeigen, da die Widerstnde unbeschdigt geblieben sind.
3.15 Sicherungen
3.16 Motoren und Generatoren
3.17 Generatorausleitungen
34
3.18 Kombinationen
3.18.1 Schaltanlagen
3.18.2 Kompaktstationen
3 Prfobjekte
Kapitel 4
Kalibrierung und Rckfhrbarkeit
Um genaue und reproduzierbare Messungen zu gewhrleisten, mssen mess- und prftechnische Systeme und Komponenten regelmig kalibriert werden. Kalibrationen werden dabei
durch eine ununterbrochene Kette von Vergleichsmessungen auf nationale bzw. internationale
Normale bezogen. Dieses System bietet folgende Vorteile:
die Rckfhrbarkeit der Messwerte auf ein bekanntes und anerkanntes Normal,
die Anerkennung der Messeigenschaften des Mess-/Prfmittels im Ausland,
die Bestimmbarkeit der maximalen, mit den Messungen verbundenen Messunsicherheit.
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
16.11.2005 18:41 Uhr
Homepage | English Version
Kalibrierung
PTB > Themen-Rundgnge > Partnerin der Industrie > Kalibrierung >
Kalibrierhierarchie
Kalibrierhierarchie
.ORMAL0RFMITTEL
6ORAUSSETZUNGDER
+ALIBRIERUNG-ESSUNG
$OKUMENTATIONDER
+ALIBRIERUNG-ESSUNG
"EREITHALTUNG7EITERGABE
NATIONALER.ORMALE
'ESETZLICHER!UFTRAG
ZUR$ARSTELLUNGDER
3) %INHEITENUNDZUR
3ICHERUNGDERINTERNAT
6ERGLEICHBARKEIT
+ALIBRIERSCHEINFR
"EZUGSNORMAL
!KKREDITIERTE
+ALIBRIERLABORE
3ICHERUNGDER
METROLOG)NFRASTRUKTUR
+ALIBRIERSCHEIN
DES3TAATSINSTITUTES
+ALIBRIERSCHEINFR
'EBRAUCHSNORMAL
)NNERBETRIEBLICHE
+ALIBRIERLABORE
)NNERBETRIEBLICHE
0RFMITTELBERWACHUNG
+ALIBRIERSCHEIN
EINESAKKRED,ABORS
7ERKSKALIBRIERSCHEIN
7ERKSKALIBRIERSCHEIN
0RFZEICHENO
!NWENDER
!UFGABEN
-ETROLOGISCHES
3TAATSINSTITUT
Vom nationalen Normal bis zum Produkt
ALLE5NTERNEHMENS -ESSUNGENUND0RFUNGENIM
2AHMENVON13 -ANAHMEN
BEREICHE
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
Letzte nderung: 08.12.2003, WEB-Redaktion
http://www.ptb.de/de/wegweiser/industriekunden/kalibrierhierarchie.html
Abb. 4.1: Kalibrierhierarchie in Deutschland

Seite 1 von 2
Um die Rckfhrbarkeit sicher zu stellen, gibt es in vielen Lndern eine Hierarchie von
Kalibrierlaboren und Normalen (s. Abb. 4.1). Mit Abstand von der hchsten Kalibrierinstanz
eines Landes nimmt die Messunsicherheit zu. Abbildung 4.2 zeigt diese Kalibrierhierarchie
aus Sicht eines Herstellers, der die Rckfhrbarkeit in unterschiedlichen Lndern sicherstellen
muss.
Auf europischer bzw. internationaler Ebene stellen Staatsinstitute wie die PTB durch Ringvergleiche die Einheitlichkeit der nationalen Normale sicher. Das BIMP (Bureau International
des Poids Measures, Paris) sorgt an der Spitze fr ein einheitliches System von Maen (SIEinheitensystem) und gewhrleistet einheitliche Messstandards fr alle Lnder. Die nationalen
Metrologieinstitute (NMI = National Metrology Institutes) aller z.Z. 51 Mitgliedsstaaten der
Meterkonvention (Convention of the Metre) haben zustzlich eine besondere Vereinbarung,
das Mutual Recognition Agreement (MRA), unterzeichnet. Mit diesem Abkommen verpflichten sich die Unterzeichner unter anderem zur gegenseitigen Anerkennung der Mess- und
Kalibrierzertifikate der nationalen Metrologieinstitute.
In Deutschland ist die Physikalisch-Technische Bundesanstalt in Braunschweig (PTB) als
metrologisches Staatsinstitut die hchste Kalibrierinstanz. Die Aufgaben der PTB sind in
Abbildung 4.3 dargestellt.
Korrespondierend zu der Kalibrierhierarchie existiert eine Akkreditierungshierarchie: auf internationaler Ebene wird sie durch die ILAC International Laboratory Accreditation Cooparation
35
Messtechnische
Rckfhrbarkeit
36
4 Kalibrierung und Rckfhrbarkeit

Bureau International des Poids et Mesures (BIPM)
Nationale
Metrologieinstitute
Deutschland
(PTB)
Niederlande
(NMi)
USA
(NIST)
Frankreich
(BNM)
Grobritannien
(NPL)
Japan
(NMIJ AIST)
DKD
RvA (NKO)
A2LA
cofrac
UKAS
JNLA
esz GmbH
FLUKE
FLUKE
Verizon
Akkreditierungsstellen
Kalibrierlabors
Hersteller
National
Instruments
Fields of work and objectives
Arbeitsgeb
Abb. 4.2: Kalibrierhierarchie aus Sicht eines Herstellers
chen
te
e
Int
rs
Ber
le Angelegen
tiona
rna nternational affairs heite
r die
ogie f for eWirtscha
trol
cono
ogy
my ft
Me Metrol
Die primre Anforderung an die Kalibrierung besteht im Nachweis der

Dennoch haben alle Staaten ihre eigenen nationalen
Rckfhrbarkeit. Rckfhrbarkeit ist die Eigenschaft eines Messergebnisses,
Metrologieinstitute. Diese Stellen unterliegen den vom BIPM und seinen
etrol
durch eine ununterbrochene Kette von Vergleichsmessungen mit
verbundenen
Komitees festgelegten Richtlinien und gewhrleisten auf
lagen der M
und
als of metro ogie
Gr ndament
lo
y
Fu
angegebenen Messunsicherheiten auf geeignete Normale, im Allgemeinen
diese gWeise
einheitliche Messstandards fr ihr jeweiliges Land. Die
internationale bzw. nationale Normale, bezogen zu sein. Da die von
Nationalen Metrologieinstitute (NMI = National Metrology Institutes) aller
Darstellung und
Weitergabe der SI-Einheiten
nationalen und internationalen Gremien berwachten Normale umfassend
Mitgliedsstaaten der Meterkonvention haben zustzlich eine besondere
Realization and
SI units
quantifiziert und gepflegt sind, bietet die Fhigkeit zum Nachweis einerdissemination of the
Vereinbarung,
das Mutual Recognition Agreement (MRA), unterzeichnet.
ununterbrochenen Kette von Vergleichen zwischen den Messungen und
Mit diesem Abkommen verpflichten sich die Unterzeichner unter anderem
diesen Normalen Vorteile wie:
zur gegenseitigen Anerkennung der Mess- und Kalibrierzertifikate der
die Rckfhrbarkeit der Messwerte auf ein bekanntes und
Metrologieinstitute.
M e snationalen
se
Leistungssteigerung
Abbau technischer
der Wirtschaft,
Handelshemmnisse,
jedes Land eigene Akkreditierungsstellen, deren
anerkanntes Normal,
Schlielich unterhlt
Sicherung der
Vereinheitlichung des
Beschftigung
Messwesens
die Anerkennung der Messeigenschaften des Mess-/Prfmittels
Aufgabe in der berprfung
und Akkreditierung lokaler Mess- und
Removal of technical
Increasing the efficiency
barriers to trade,
im Ausland,
Prflaboratorien
besteht.
In Europa sind viele dieser Akkreditierungsstellen
of economy,
safeguarding
unification of metrology
of employment
Mitglied des multilateralen Abkommens EA Multilateral Agreement (MLA).
die Bestimmbarkeit der maximalen, mit den Messungen
Dahinter verbirgt sich ein Abkommen zwischen Akkreditierungsstellen zur
verbundenen Messunsicherheit.
gegenseitigen Anerkennung ausgesprochener Akkreditierungen und zur
Die Definition der Rckfhrung erfolgt auf verschiedenen Ebenen.
Frderung des
Untersttzung
dieser im eigenen Land.
An der Spitze sorgt das Internationale Bro fr Gewichte und Mae Verbraucherschutzes,
Sicherung
der Lebensbedingungen
Detaillierte Informationen zu diesen Vereinbarungen und
(BIPM = Bureau International des Poids et Mesures) fr die Sicherung eines
Promotion of consumer protection,
safeguarding of living
conditions
stehen unter http://www.bipm.fr/enus/ zum Abruf bereit.
Akkreditierungen
weltweit einheitlichen und eindeutigen Systems von Maen und deren
Die Kalibrierung von NI-Produkten zum Zeitpunkt der Herstellung ist auf
Rckfhrung auf das SI-Einheitensystem. Es tut dies infolge seiner
Me M e
y
t
trol trology for societ chaf
s
internationale
Standards wie zum Beispiel NIST-Standards rckfhrbar
Autorisierung durch die Meterkonvention (Convention of the Metre),
ogie
fr die Gesell
(NIST = National Institute of Standards and Technologies). Damit wird
einem diplomatischen Vertrag zwischen derzeit 51 Nationen. Das BIPM
sichergestellt, dass in einem Land durchgefhrte Kalibrierungen im Ausland
nimmt seine Aufgabe unter anderem durch Beteiligung an und Organisation
Abb.
4.3:
der
PTB
anerkannt
werden.
von internationalen Vergleichen nationaler Messstandards
sowie
die Aufgaben
6
Durchfhrung von Kalibrierungen fr Mitgliedslnder wahr.
reprsentiert. Auf europischer ist die EA European Cooperation for Accreditation und auf
nationaler Ebene in Deutschland der DAR Deutsche Akkreditierungsrat zu nennen.
Fr die DKD1 -Labore und weitere akkreditierte Prflabore der Hochspannungstechnik ist in
Deutschland die Organisation DATech zustndig. Die DATech ist eine Akkreditierungsstelle
nach der Normenreihe DIN EN ISO/IEC 17011. Die DATech nimmt folgende Aufgaben war
[20] :
4
0662 457990-0
Schweiz:
Tel.: 056 2005151
Deutschland:
Tel.: 089 7413130 sterreich: Tel.: nach
Zertifizierungsstellen
den
Kriterien
der
die Akkreditierung und berwachung von
Normenreihe DIN EN 45000;
National Instruments
die Akkreditierung und berwachung von Prflaboratorien nach Kriterien der Normenreihe DIN EN 45000 und DIN EN ISO/IEC 17000;
die Akkreditierung und berwachung von Inspektionsstellen nach den Kriterien der
Normenreihe DIN EN ISO/IEC 17000;
die Benennung von Begutachtern fr die Begutachtung von Zertifizierungsstellen, Inspektionsstellen und Prflaboratorien;
die Koordinierung der Zertifizierungs-, Inspektions- und Prfaktivitten im Bereich der
Elektrotechnik, des Maschinenbaus, der Feinmechanik und Optik sowie der Informationsund Kommunikationstechnik auf nationaler Ebene;
die Einbringung ihrer technisch-wissenschaftlichen Erkenntnisse sowie die der akkreditierten Zertifizierungs- und Inspektionsstellen und Prflaboratorien in die entsprechenden
1
Deutscher Kalibrierdienst
4 Kalibrierung und Rckfhrbarkeit
37
Normungsorganisationen und Komitees, insbesondere fr die Weiterentwicklung des

nationalen und internationalen Akkreditierungssystem;
die Organisation eines Erfahrungsaustausches zwischen
den Begutachtern
den akkreditierten Zertifizierungsstellen
den akkreditierten Inspektionsstellen
den akkreditierten Prflaboratorien
die Teilnahme am Erfahrungsaustausch zwischen inlndischen und auslndischen Akkreditierungsstellen;
Dienstleistungs- und Informationsfunktion fr andere, auch staatliche Akkreditierungsstellen.
Die DATech ist eine Akkreditierungsstelle nach der Normenreihe DIN EN ISO/IEC 17011. Sie
fhrt selbst keine Zertifizierungen, Inspektionen und Prfungen durch. Das Akkreditierungssystem der DATech ist fr jeden zugnglich, unabhngig von der Gre oder der Mitgliedschaft
in einer Vereinigung oder Gruppe.
Kapitel 5
Normen, Erluterungen und Empfehlungen
Allgemeine Aufgabe der Normung ist es, die in der Praxis bewhrten und anerkannten Prfund Messverfahren zu beschreiben, festzulegen und diese der ffentlichkeit zugnglich zu
machen. Hierbei sollen einerseits die Einzelheiten umfassend beschrieben werden, um eine
einheitliche Durchfhrung der Prfung an beliebiger Stelle zu ermglichen. Andererseits
sollen die Prfvorschriften die technische Weiterentwicklung der Prf- und Messeinrichtungen
bercksichtigen, so dass allzu starre Festlegungen auf bestimmte Gerte und deren Eigenschaften vernieden werden mssen. Von Zeit zu Zeit ist es unumgnglich, die Prfvorschriften
zu berarbeiten und dem neuesten Stand des Wissens und der Technik anzupassen. Die Vorschriften sollen fr Techniker und Ingenieure gleichernaen verstndlich sein, sie verlangen
jedoch eine fundierte Kenntnis der Zusammenhnge auf dem jeweiligen Fachgebiet. Die
Prfvorschriften selbst sollen keine Lehrbcher sein oder diese gar ersetzen. Bei juristischen
Auseinandersetzungen werden sie als Mastab fr technisch richtiges Verhalten angesehen
und sind die Beschreibung des Stands der Technik.
Bei einer Norm handelt es sich um ein Dokument mit folgenden Eigenschaften:
voluntary in application
established by all interested parties
reflects consensus
approved by a recognized body
meant for common and repeated use
Normung und Normen sollen bestimmte Wirkungen erzielen:
enhance the safety of products
allow economies of scale
help manufacturers comply with European legislation
promote the interoperability of products and services
encourage greater competition
facilitate trade by removing trade barriers
promote ecological safety and sustainability
help safeguard the environment
aid the transfer of research
Promote common understanding
39
40
5 Normen, Erluterungen und Empfehlungen
Information Technology Standards Making

Architecture
TE GSMPS
TM EEAVM SES
TTC
RCR
(UP)
WTSC
WRSC
ITU
Robotics
WRSC
TTA
STEP
AR
C
WTSC
ITU WDSC
PDES
1394
Trade Assn
ESCON
URSI
WRSC
CTSACIS
O/I
EC
MPE
G
SMPT
JPE
E
G
USCAR
SMC
ACM
VESA
PCI
SC
12
6
2
REG 14
IEC 9147
9147
22
46 48 52
AFNOR
AECMA
PASC
MUAHAG
BSI
86
Global/International
ILO
1014
Pos D 896
1101
VFEA
1394
13961073
1596 1284
MSC BASC
National
X12 DISA
HNF FCA
IPC
Quick
Ring
NSC
JSC
Regional
ASTM
MMCF SSA
UIG
BCS
IEEE 6
EWOS ETSI
SAE
NEMA
SEMI
CALCE GLH
IISP
GII
JTC1
11 1 2
10 802 1
- 8 7 31
2
9
4 13 1301
5 4
IETF
APEC
ABIG
20
5
6
5
UL
FCC
SIS
SNV
VDE
NNI
FAA
207
2 6 8
2 3
2
2
42
5
7
61
2
1 3
16
17
REG 7
15
COPANT ASEANNAFTA
ITS
ATM
Forum
Internal
ANA
BCAST
UNIONS
AES
MMC
9
8
ITI
DIN
EDI2
SC21
13
18
WTSC1
ITU-T 7
NIST
NSS
ANSI
N
SCTE
17
ISO6184
20 20
5
EDIFACT
5
10 11 8
1 WRSC
2 ITU-R
9
CMTT
4
CASCO
WHO
scc
CEN/
25 CENELEC
ECMA
1
3
CSA
EWOS WG22
WG25 WG26
97
CAC
VITA
V.34V.32
V.34V.32
V.35 VF-3
EIA/TI
A
4 ANSI
30
JEDE
0 4 CE-1
C
5 46
JC11 41
CEPT
CISPR-22
NA2
NA7
NA5SPSHF
NA3
NA4 ATM
RES
STDS
WTSC
NCTA
ETSI BT
Z34.2
T1S1
T1P1
T1A1ATIS T1
T1E1
T1M1
T1X1
TTC
(down)
ARINC
NIST
NA
Global Standards
Arena
SFF
MAP/
ASQC TOP
EISAPCMCIA RAB
ISA
EIAJ
JSA
SMTA
EDIF
Smart
House
IrDA
GHA
Abb. 5.1: Der Normendschungel - Beispiel Telekomunikation
5.1 Der Normendschungel

Einen tiefen Einblick in alle Aspekte der Normung wird in [21] gewhrt.
Courtesy of
AMP
Incorporated
5.2 Internationale und nationale Normen
41

Standardization world
5.2.1 Internationale Zusammenhnge
ISO/IEC/ITU
International
WTO
EC
CEN/CENELEC/ETSI
Europe
EFTA
Membership
NSBs for CEN & CENELEC
Companies for ETSI
National
National
authorities
Abb. 5.2: Die Welt der Normung

2005 CEN all rights reserved
CEN and CENELEC in Europe and beyond

Memoranda of
Understanding with
ISO
IEC
regional bodies
Partner
Standardization
Bodies
Affiliates
EC/EFTA
Affiliates
CEN
National
Members
36
2006 CEN all rights reserved 02.11.2006
CENELEC
Cooperating
Partners
Associates
Technical
Assistance
Programmes
rop
oped Eu
r
u
E yon
Be
2005 CEN all rights reserved

2006 CEN all rights reserved 02.11.2006
Abb. 5.3: Zusammenarbeit ISO-CEN und IEC-CENELEC
42
5.2.2 IEC
IEC (International Electrotechnical Commission) ist die internationale Organisation fr die
Erstellung von Sicherheitsnormen und anderen Normen im Bereich der Elektrotechnik.
Entsprechend dem wachsenden internationalen Warenaustausch haben die Publikationen der
International Electrotechnical Commission (IEC) zunehmend an Bedeutung gewonnen. Die
IEC, gegrndet im Jahr 1904, setzt sich aus Vertretern der einzelnen nationalen Komitees,
wie der DKE, zusammen und schliet praktisch alle Industrienationen ein. Ziel der internationalen Zusammenarbeit im Bereich der Normung ist die sachlich unvernderte bernahme
der IEC-Publikationen in das jeweilige nationale Vorschriftenwerk (Harmonisierung). Das
Technical Committee TC 42 befasst sich mit der allgemeinen Prf- und Messtechnik im
Hochspannungsbereich einschlielich TE.
Der Ablauf der IEC-Normungsarbeit gestaltet sich wie folgt (s. Abb. 5.4): zunchst wird
ein vorlufiges Arbeitsgebiet identifiziert und benannt (PWI preliminary work item). Daraus kann bei Zustimmung des vom IEC-Sekretariat beauftragten validation team ein neues
Normungsvorhaben entstehen (NP new work item proposal).
Wird dieses Vorhaben von den zustndigen IEC-Gremien akzeptiert, erstellt das zustndige
Komitee einen Entwurf zur Stellungnahme (CD committee draft), zu denen Einwnde anderer
nationaler Komitees eingeholt werden. Die gesammelten Einwnde werden ausgewertet
und zur Erstellung des Komitee-Entwurfs zur Abstimmung (CDV committee draft for vote)
bercksichtigt.
Abb. 5.4: IEC - Projekt

Das Abstimmungsergebnis1 zum (CDV) entscheidet, ob es zur berfhrung des Inhalts in
einen Normenentwurf (FDIS final draft international standard) kommt. Parallel zur CDVAbstimmung bei IEC wird eine Umfrage bei CENELEC (s. Abschnitt 5.2.3) durchgefhrt.
Bei Zustimmung zum CDV wird der internationale Normentwurf FDIS zur Abstimmung
gestellt. Liegen zwischen CD und CDV noch inhaltliche nderungen, so werden vom angenommenen CDV zum FDIS nur noch redaktionelle nderungen zugelassen.
Parallel zur FDIS-Abstimmung wird auch eine Abstimmung bei CENELEC durchgefhrt, bei
der ggf. noch nationale Zustze aufgenommen werden.
1
Bei IEC-Abstimmungen liegt keine Zustimmung vor, wenn mehr als 25% der P-Mitglieder (Participating
member im Unterschied zu Observer member) negativ stimmen.
43
Sehr lange Abstimmungsprozesse in der Vergangenheit von IEC-Normenprojekten fhrten zu

einer Straffung der organisatorischen Ablufe. Alle Schritte des IEC-Normungsprozesses sind
inzwischen mit maximalen Zeitdauern versehen (s. Abb. 5.5).
Abb. 5.5: IEC - Zeitablauf

In Abbildung 5.6 sind die verschiendenen Optionen bei IEC-Projekten dargestellt [22].
Die Straffung der Prozesse betrifft auch die Lebensdauer der Norm: es gibt keine nderungen
bzw. Ergnzungen mehr, stattdessen wird eine IEC-Norm in festgelegten Abstnden neu
herausgegeben.
Die Arbeit an der Neufassung wird von einem MT maintenance team wahrgenommen.
Annex F
(normative)
Options for development of a project
44F.1
Simplified diagram of options

Normal
procedure
Draft
submitted with
proposal
Fast-track
procedure 1)
Technical
Specification 2)
Proposal
stage
(see 2.3)
Acceptance of
proposal
Acceptance of
proposal
Acceptance of
proposal
Acceptance of
proposal
Acceptance of
proposal
Preparatory
stage
(see 2.4)
Preparation of
working draft
Study by
working
group 5)
Preparation of
draft
Approval of
draft PAS
Development
and acceptance
of committee
draft
Development
and acceptance
of committee
draft 5)
Acceptance of
draft
Acceptance of
draft
Development
and
acceptance of
enquiry draft
Development
and
acceptance of
enquiry draft
Acceptance of
enquiry draft
Approval of
FDIS 6)
Approval of
FDIS 6)
Approval of
FDIS 6)
Publication of
International
Standard
Publication of
International
Standard
Publication of
International
Standard
Publication of
Technical
Specification
Publication of
Technical
Report
Project stage
Committee
stage
(see 2.5)
Enquiry stage
(see 2.6)
Approval
stage
(see 2.7)
Publication
stage
(see 2.8)
Technical
Report 3)
Publicly
Available
Specification 4)
Publication of
PAS
Stages in italics, enclosed by dotted circles may be omitted.

1) See F.2.
2) See 3.1.
3) See 3.3.
4) See 3.2.
5) According to the result of the vote on the new work item proposal, both the preparatory stage and the committee stage
may be omitted.
6) May be omitted if the enquiry draft was approved without negative votes
Abb. 5.6: IEC - Optionen im Projektablauf

ISO/IEC Directives Part 1: Procedures, 2008
61
45
5.2.3 CENELEC
Das CENELEC (Europische Komitee fr elektrotechnische Normung) ist fr die elektrotechnische Normung in Europa zustndig (s. Abb. 5.7, [23]). Deutschland wird in der CENELEC
durch die DKE (s. Abschnitt 5.2.4) vertreten.
Abb. 5.7: Mitgliedslnder von CENELEC

Bei CENELEC wird die volle Harmonisierung der einzelnen nationalen elektrotechnischen
Vorschriften in der EU zum Abbau technischer Handelshemmnisse vollzogen. Die bisherigen
einzelstaatlichen, mitunter sehr unterschiedlichen elektrotechnischen Normen werden nach
und nach von den Europanormen (EN) abgelst. In Deutschland werden sie als DIN-ENNormen verbindlich bernommen. Sie haben juristisch einen hheren Stellenwert als IECPublikationen. Whrend in der Vergangenheit sachliche Unterschiede in den entsprechenden
IEC- und EN-Normen aufgetreten sind, soll dies zuknftig durch eine bessere Kooperation
vermieden werden. Sichergestellt wird dies auch dadurch, dass die in der Normung beteiligten
Mitarbeiter bei DKE, IEC und CENELEC dieselben sind.
Der organisatorische Aufbau der CENELEC ist in Abbildung 5.8 dargestellt [24].
Im Abschnitt 5.1.1 der CENELEC-Geschftsordnung (Teil 2: Gemeinsame Regeln fr die
Normungsarbeit) werden die Grundstze der Stillhaltevereinbarung erlutert:
Die Stillhalteverpflichtung ist eine von den CEN/CENELEC-Mitgliedern bernommene Verpflichtung,
nichts zu unternehmen, weder whrend der Vorbereitung einer EN (oder eines HD in CENELEC) noch
nach deren Annahme, was die angestrebte Harmonisierung beeintrchtigen knnte, und insbesondere
keine neue oder berarbeitete nationale Norm zu verffentlichen, die nicht vollstndig mit einer
existierenden EN (oder einem HD in CENELEC) bereinstimmt.
Seit 1996 regelt die Dresdner Vereinbarung zwischen CENELEC und IEC die gemeinsame
Planung neuer elektrotechnischer Normungsvorhaben und die Parallelabstimmungen im Laufe
des Normungsverfahrens. Damit wurden die notwendigen Voraussetzungen fr eine intensive
Abstimmung zwischen europischer und internationaler Normung im elektrotechnischen
Sektor geschaffen. Im Gegensatz zu CEN hat sich CENELEC verpflichtet, mglichst alle
neuen Normungsvorhaben auf internationaler Ebene von der IEC durchfhren zu lassen. Die
Abstimmung ber internationale Normen in der IEC findet immer auch parallel bei CENELEC
46
Abb. 5.8: Organistation von CENELEC
statt, so dass internationale automatisch auch europische Normungsvorhaben sind. Nur wenn
die IEC an einem Normungsvorhaben nicht interessiert ist, kann die Arbeit ausschlielich auf
europischer Ebene durchgefhrt werden. CENELEC muss jedoch in diesem Fall die IEC
ber die Arbeiten unterrichten und ihr im Rahmen der ffentlichen Umfrage in Europa die
Mglichkeit zur Kommentierung einrumen.
Die enge Verzahnung der europischen und internationalen Normungsarbeiten durch die
Wiener und Dresdner Vereinbarung haben dazu gefhrt, dass inzwischen ca. 55% aller von
CEN und ca. 70% aller von CENELEC verabschiedeten europischen Normen technisch
gleichwertig oder identisch mit ISO- bzw. IEC-Normen sind.
5.2.4 DIN, VDE und DKE

Fr die technischen Vorschriften sind in der Bundesrepublik Deutschland das Deutsche Institut
fr Normung (DIN) und der Verband Deutscher Elektrotechniker (VDE) zustndig. Beide
Vorschriftengremien knnen ihrerseits auf eine lange Tradition verweisen. Der VDE wurde
1893 gegrndet, das DIN besteht seit 1917. Auf verschiedenen Gebieten, insbesondere im
Bereich der Elektrotechnik, haben sich DIN und VDE zusammengeschlossen und bringen
als Deutsche Elektrotechnische Kommission im DIN und VDE (DKE) seit 1970 gemeinsame
Vorschriften heraus. Die Normungsarbeiten der einzelnen Komitees in der DKE werden von
Vertretem der Industrie, Hochschulinstituten und Behrden getragen, wobei mglichst ein
ausgewogenes Verhltnis zwischen Herstellern, Verbrauchern und Hochschulen angestrebt
wird.
Seit einigen Jahren konzentriert sich die Arbeit nahezu ausschlielich auf die internationale
Normung; rein nationale Prfvorschriften werden nur noch in begrndeten Einzelfllen herausgebracht. Fr die Grundlagen der Hochspannungs-Prf- und Messtechnik, einschlielich
TE, ist das Komitee K124 der DKE zustndig. In den anderen Industrielndern existieren
vergleichbare Normenorganisationen.
Die Abschnitte 5.2.4.1 bis 5.2.4.10 sind der Selbstdarstellung der DKE entnommen [25].
Die Hervorhebungen wurden nachtrglich hinzugefgt.
Erfolgreiche Normungsarbeit ist in einer globalen Welt auch

nur im Kontext einer weltweiten Normung erreichbar. Die
Grafik zeigt die grundstzlichen Aktivitten der DKE auf
europischer und internationaler Ebene.
47
Normungsarbeit
national
Normen-Anwender / interessierte Kreise
3.500 Technische Experten* in

130 Komitees und 160 Unterkomitees
DK-CENELEC**
German NSO**
Normungsarbeit
international / europisch
DK-IEC**
* Zustzlich arbeiten Technische Experten in etwa 300 DKE-Arbeitskreisen
Abb. 5.9: DKE
** Die DKE ist

DK-IEC: Deutsches Komitee der IEC
DK-CENELEC: Deutsches Komitee des CENELEC
German NSO: fr Deutschland zustndige Nationale Normungsorganisation des ETSI
5.2.4.1 Zustndigkeit von DIN und DKE
26 | 27
Das DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. ist auf der Grundlage seiner Satzung, der
seine Arbeit bestimmenden Norm DIN 820 Normungsarbeit, Grundstze, die gemeinsam
mit dem VDE aufgestellt ist, seiner tatschlichen Aufgabenwahrnehmung und des mit der
Bundesrepublik Deutschland geschlossenen Normenvertrages vom 5. Juni 1975 die fr die
Normung zustndige Institution der Bundesrepublik Deutschland.
Das DIN ist fr die entsprechenden Aufgaben das deutsche Mitglied in den europischen und
internationalen Normungsorganisationen, im elektrotechnischen Bereich ist das Mitglied die
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
5.2.4.2 Normen als anerkannte Regeln der Technik

Der Inhalt der Normen ist an den Erfordernissen der Allgemeinheit zu orientieren. Die Normen
haben den jeweiligen Stand der Wissenschaft und Technik zu bercksichtigen.
Bei sicherheitstechnischen Festlegungen in DIN- bzw. DIN-VDE-Normen besteht juristisch
eine tatschliche Rechtsvermutung dafr, dass sie fachgerecht, das heit, dass sie anerkannte
Regeln der Technik sind (siehe u.a. 2. DVO zum Energiewirtschaftsgesetz).
Die Normen bilden einen Mastab fr einwandfreies technisches Verhalten; dieser Mastab
ist auch im Rahmen der Rechtsordnung von Bedeutung.
Die Anwendung einer Norm ist grundstzlich freiwillig, eine Anwendungspflicht kann sich
aufgrund von Rechts- oder Verwaltungsvorschriften sowie aufgrund von Vertrgen oder
sonstigen Rechtsgrnden ergeben. Durch das Anwenden von Normen entzieht sich niemand
der Verantwortung fr eigenes Handeln. Jeder handelt insoweit auf eigene Gefahr.
Im Rahmen des Normenvertrages ist das DIN und damit auch die DKE verpflichtet,
bei Normungsaufgaben das ffentliche Interesse zu bercksichtigen;
48
dafr Sorge zu tragen, dass die DIN-Normen bei der Gesetzgebung in der ffentlichen
Verwaltung und im Rechtsverkehr als Umschreibung technischer Anforderungen herangezogen werden knnen;
die jeweils in Betracht kommenden behrdlichen Stellen an der Durchfhrung der Normungsarbeit zu beteiligen;
Antrge der Bundesregierung auf Durchfhrung von Normungsarbeiten, fr die von der
Bundesregierung ein ffentliches Interesse geltend gemacht wird, bevorzugt zu bearbeiten.
Andererseits hat die Bundesregierung bereits im Rahmen des Normenvertrages die Absicht
bekundet, in Rechtsvorschriften auf DIN-Normen Bezug zu nehmen, und zugesagt, sich in der
Verwaltung und bei Ausschreibungen der DIN-Normen zu bedienen.
5.2.4.3 Normungsarbeit durch Fachleute aller betroffenen Kreise

Die fachliche Arbeit in den Normungsgremien des DIN einschlielich DKE wird von technischen Experten geleistet.
Die technischen Experten - in den Komitees und Unterkomitees der DKE sind dies etwa 3500
- sind Fachleute aus allen wesentlichen betroffenen Kreisen z. B. Anwender, Behrden,
Berufsgenossenschaften, Berufs-, Fach- und Hochschulen, Handel, Handwerkswirtschaft, industrielle Hersteller, Prfinstitute, Sachversicherer, selbstndige Sachverstndige, Technische
berwacher, Verbraucher, Wissenschaft; sie mssen von den sie entsendenden Stellen (z. B.
Ausbildungs- und Forschungsinstituten, Behrden, Instituten, Verbnden, Vereinen) fr die
Arbeit in den Normungsgremien autorisiert sein.
Die Zusammensetzung der DKE-Komitees und Unterkomitees erfolgt, wie in allen Arbeitsausschssen des DIN, nach dem Grundsatz der Vertretung der betroffenen Kreise in einem
angemessenen Verhltnis. Dieses wird gewhrleistet durch eine im Einvernehmen mit den
betroffenen Fachkreisen erfolgende Besetzung, die der Besttigung durch den zustndigen
Fachbereichsvorsitzenden bedarf. Nach erfolgter Besttigung werden die Mitarbeiter von
Komitees und Unterkomitees berufen, wobei diese Berufung jeweils bis zum Ablauf einer
vierjhrigen Amtsperiode des Lenkungsausschusses der DKE gilt. Die berufenen Mitarbeiter handeln als Sachverstndige ihrer Fachrichtung, sind jedoch gehalten, die Auffassung
desjenigen Fachkreises zu vertreten, vom dem sie autorisiert sind.
5.2.4.4 Ergebnisse der Normungsarbeit

Die Ergebnisse der Normungsarbeit im DIN und damit auch in der DKE sind Deutsche
Normen, die hchstmglichen bereinstimmungsgrad mit Internationalen Normen haben
sollen. Fr Europische Normen besteht dabei die Verpflichtung der unvernderten bernahme
in das Deutsche Normenwerk als DIN EN; entgegenstehende nationale Normen mssen dann
zurckgezogen werden.
Normen der Elektrotechnik werden zustzlich als VDE-Bestimmung gekennzeichnet beziehungsweise klassifiziert, wenn sie Festlegungen ber die Abwendung von Gefahren fr
Menschen, Tiere und Sachen enthalten und sich diese Gefahren aus bestimmten (zwischen
DIN und VDE genau festgelegten) Gefahrenquellen ergeben oder wenn die Normen in den
Anwendungsbereich von Rechtsnormen fallen, die der Abwendung solcher Gefahren dienen.
5.2.4.5 Die Erarbeitung von Normen

Die anerkannten Regeln der Normung bieten ein Hchstma an demokratischer Erarbeitung von Normen in jeder Phase des Bearbeitungsprozesses. Vom Normungsantrag bis zur
Verabschiedung einer Norm wird der ffentlichkeit die Mglichkeit gegeben, sich ber die
Normungsarbeiten zu orientieren.
49
Die Ablaufschemen der Normungsvorgnge entsprechen dem Geschftsgang fr die Normungsarbeit (DIN 820-4), knnen aber je nach Art der Norm und Trgerorganisation Abweichungen aufweisen. Gemeinsam ist allen, dass Normen in einem mehrstufigen Verfahren
in demokratischer Weise unter Einbeziehung aller betroffenen Kreise im Konsensprinzip
erarbeitet werden.
Besonders hingewiesen wird auf die folgenden Tatsachen:
an der Erarbeitung von Norm-Entwrfen werden alle wesentlichen betroffenen Fachkreise
beteiligt;
alle Norm-Entwrfe werden einem ffentlichen Einspruchsverfahren unterworfen;
im Rahmen von Schlichtungs- und Schiedsverfahren werden gegen Norm-Entwrfe
aufrechterhaltene Einsprche beraten und beschieden.
Abb. 5.10: Werdegang einer DIN-Norm
5.2.4.6 Normungsantrag
Jedermann kann das Einleiten von Normungsarbeiten beantragen.
Der zustndige Normenausschuss - fr den Bereich der Elektrotechnik ist dies die DKE muss innerhalb von drei Monaten ber die Annahme oder Ablehnung eines Normungsantrages
entscheiden.
Die Ablehnung eines Normungsantrages muss dem Antragsteller mit Begrndung schriftlich
mitgeteilt werden. Ist der Antragsteller mit der Ablehnung seines Normungsantrags nicht
einverstanden, so kann er die Geschftsleitung des DIN einschalten. Gegen die Entscheidung
der Geschftsleitung kann das Prsidium des DIN angerufen werden, das dann verbindlich
entscheidet.
Wird der Normungsantrag vom zustndigen Normenausschuss angenommen, so wird der
Arbeitstitel der vorgesehenen Normungsaufgabe im DIN-Anzeiger fr technische Regeln
verffentlicht.
Gegen die Aufnahme eines neuen Normungsvorhabens kann der Vorsitzende des zustndigen
Normenausschusses angerufen werden. Ergeben die Verhandlungen mit dem Vorsitzenden
keine befriedigenden Ergebnisse, kann die Geschftsleitung des DIN eingeschaltet werden.
50
5.2.4.7 Bearbeitung von der Norm-Vorlage bis zum Norm-Entwurf

Die vorgesehene Fassung einer Norm muss vor ihrer endgltigen Festlegung der ffentlichkeit
zur Stellungnahme vorgelegt werden. Dies geschieht grundstzlich durch Verffentlichung
eines Norm-Entwurfes.
Die Erarbeitung eines zu verffentlichenden Norm-Entwurfes erfolgt auf Basis eines dem Normungsantrag beigefgten Vorschlages, oder einer von einem Expertenkreis zu erarbeitenden
ersten Norm-Vorlage. In jedem Fall ist der Antragsteller zur Behandlung seines Normungsantrages als Gast einzuladen, um seinen Antrag vor dem zustndigen Arbeitsausschuss zu
vertreten; er kann auch als Mitarbeiter aufgenommen werden.
Entsprechend den Beratungsergebnissen im zustndigen Arbeitsausschuss werden berarbeitete Versionen der Norm-Vorlage erstellt.
Ist das Bearbeiten einer Normungsaufgabe soweit gediehen, dass das Ergebnis der ffentlichkeit zur Stellungnahme vorgelegt werden kann, verabschiedet der Arbeitsausschuss die
Norm-Vorlage zum Druck als Norm-Entwurf und schliet damit seine Beratungen vorlufig
ab.
In Fllen, in denen die Bearbeitung der Norm-Vorlage vor Erreichen dieses Ergebnisses
vom Arbeitsprogramm abgesetzt wird, wird dies dem Antragsteller des entsprechenden Normungsantrages mit Begrndung mitgeteilt. Dem Antragsteller stehen dabei wiederum die
beschriebenen Einspruchsmglichkeiten zu.
Ein zu verffentlichender Norm-Entwurf soll mglichst in Form und Inhalt der beabsichtigten
Norm entsprechen. Vor dem Druckvorgang und der Freigabe zum Verkauf erfolgt daher
die redaktionelle berarbeitung im Sinne einer einheitlichen und widerspruchsfreien
Darstellung;
im Falle elektrotechnischer Sicherheitsnormen der DKE die Kennzeichnung des Manuskriptes mit einer VDE-Klassifikation;
eine berprfung und Freigabe durch eine eigens dafr zustndige Stelle innerhalb des
DIN.
Bei Norm-Entwrfen auf der Grundlage internationaler oder regionaler Norm-Entwrfe treten
die auf internationaler bzw. regionaler Ebene erarbeiteten Ergebnisse an die Stelle der national
erarbeiteten Norm-Vorlagen.
5.2.4.8 ffentliches Einspruchsverfahren

Das Erscheinen eines Norm-Entwurfes ist im DIN-Anzeiger fr technische Regeln bekanntzugeben. Norm-Entwrfe kann jedermann beziehen.
Alle Norm-Entwrfe werden dem Prsidium des DIN, elektrotechnische Normen zustzlich
dem Lenkungsausschuss der DKE und DIN-Entwrfe mit VDE-Klassifikation auch dem
Vorstand des VDE vorgelegt.
Zu den Norm-Entwrfen kann jedermann innerhalb einer in der ffentlichen Ankndigung
und auf dem Norm-Entwurf angegebenen Frist unter Angabe von Grnden Vorschlge, Stellungnahmen oder Einsprche einreichen. Zu der vom zustndigen Gremium durchzufhrenden
Einspruchsberatung sollen die Stellungnehmenden eingeladen werden, damit sie ihre Stellungnahme vertreten knnen.
Soweit ein Stellungnehmender nicht selbst an der Einspruchsberatung teilnimmt, ist er ber
das Beratungsergebnis zu unterrichten.
51
5.2.4.9 Schlichtungs- und Schiedsverfahren

Entscheidungen ber endgltige Festlegungen fr deutsche Normen, oder von allen Beteiligten
getragene Beitrge fr die internationale oder europische Normung, werden grundstzlich
im Konsens getroffen. Ist eine Konsensbildung bei der Festlegung von Norminhalten im
zustndigen Fachgremium nicht mglich, stehen dem Einsprechenden eindeutig geregelte
Schlichtungs- und Schiedsverfahren zur Verfgung.
Schlichtungs- und Schiedsverfahren laufen in allen Normenausschssen des DIN grundstzlich
nach den gleichen demokratischen Grundregeln ab. Da die Bezeichnung der ebenfalls von
Vertretern aller betroffenen Kreise gebildeten Instanzen verschieden ist, werden Schlichtungsund Schiedsverfahren im folgenden am Beispiel der DKE beschrieben.
Ein Stellungnehmender, der mit der Entscheidung des zustndigen Arbeitsgremiums nicht
einverstanden ist, kann sich innerhalb von einem Monat nach Erhalt der Entscheidung des
Arbeitsgremiums an den Vorsitzenden des zustndigen Fachbereichs der DKE wenden und
Schlichtung beantragen. Der Vorsitzende des Fachbereichs kann fr die Schlichtungsverhandlung seinen Beirat des Fachbereichs einschalten.
Wird innerhalb von zwei Monaten keine Einigung erzielt, kann innerhalb von zwei Monaten
nach Zugang des Berichts ber die Schlichtung bei dem Technischen Beirat Internationale
und Nationale Koordinierung (TBINK) der DKE Schlichtung beantragt werden. Gelingt es
jedoch dem TBINK innerhalb von zwei Monaten nicht, eine Einigung zu erzielen, so kann
innerhalb von zwei Monaten nach Zugang des Berichts ber die Schlichtung der Lenkungsausschuss der DKE angerufen werden, der unverzglich einen Schiedsausschuss zur endgltigen
Entscheidung einsetzt.
Fr das Schiedsverfahren gilt eine separate Geschftsordnung (analog der vom Prsidium des
DIN erlassenen Geschftsordnung), die u. a. folgendes regelt:
Der Schiedsausschuss besteht aus dem Vorsitzenden und vier Mitgliedern. Der Vorsitzende wird vom Lenkungsausschuss der DKE bestimmt. Zwei Mitglieder werden von dem
Stellungnehmenden und zwei von dem betroffenen Arbeitsgremium innerhalb von zwei
Monaten benannt. Mitarbeiter des betroffenen Arbeitsgremiums oder der Stellungnehmende drfen nicht Mitglieder des Schiedsausschusses sein.
Benennt eine Seite innerhalb dieser Frist ihre Mitglieder nicht, so bestimmt der Lenkungsausschuss die fehlenden Mitglieder. Der Schiedsausschuss soll seine Entscheidung
innerhalb von drei Monaten gefllt haben.
Der Schiedsausschuss befindet auch ber fachliche Fragen mit dem Recht der Zurckweisung an das betreffende Arbeitsgremium.
Keine aufschiebende Wirkung haben Schlichtungs- und Schiedsverfahren, denen ein
Antrag auf Herabsetzung des Sicherheitsniveaus zugrunde liegt. Hierber entscheidet falls erforderlich mehrheitlich - das zustndige Komitee.
5.2.4.10 Verffentlichung einer Norm

Soweit sich aus dem ffentlichen Einspruchsverfahren - ggf. einschlielich Schlichtungs- und
Schiedsverfahren - wesentliche nderungen gegenber dem Norm-Entwurf ergeben, wird ein
weiterer Norm-Entwurf verffentlicht, um der ffentlichkeit noch einmal Gelegenheit zur
Stellungnahme zu geben. Andernfalls verabschiedet das zustndige DKE-Arbeitsgremium das
den Beratungsergebnissen entsprechende Manuskript zur Verffentlichung als Deutsche Norm.
Der Verffentlichung und einer dementsprechenden Aufnahme in das Deutsche Normenwerk,
ggf. auch in das VDE-Vorschriftenwerk, gehen wiederum detailliert geregelte Prf- und
Freigabeverfahren voraus, die den ordnungsgemen Ablauf beim Zustandekommen der Norm
sicherstellen.
52
5.2.5 ANSI und IEEE
IEEE-SA Corporate Program

Structure
Abb. 5.11: IEEE - Organisation
5.3 Erluterungen zu Normen
53
5.3 Erluterungen zu Normen

5.3.1 IEC Guides
In einigen Fllen hat IEC application guides zu Normen herausgegeben, s. z.B. IEC 60071-2
in Tabelle 34.1, IEC 60076-10-1 in Tabelle 34.3.
5.3.2 STL Guides

STL Short Circuit Test Liaison
(The) . . . Short Circuit Testing Liaison (STL) . . . is a worldwide liaison body for the high voltage
electrical power equipment testing community. STL has a mission to facilitate the production of
equipment, by the use of unified interpretations of international and regional test standards, and
harmonized methods of measurements. An overall objective is to develop the uniform presentation
formats for test results and data, and common certificate front sheets, to make possible the operation of
a recognized worldwide documentation system. [26]
Die STL-Mitglieder:
ASTA
CESI
ESEF
JSTC
KEMA B.V.
PEHLA1
SATS
STLNA2
CPRI3
1
2
Association of Short-circuit Testing Authorities Inc.

United Kingdom
Centro Elettrotecnico Sperimentale Italiano S.p.a.
Italy
Ensemble des Stations dEssais Grande Puissance Francaises France
Japanese Short-Circuit Testing Committee
Japan
N.V. tot Keuring van Elektrotechnische Materialien
The Netherlands
Gesellschaft fr Elektrische Hochleistungsprfungen
Germany
Scandinavian Association for Testing Electric Power Equipment Norway
Short-Circuit Testing Liaison of the Nations of the Americas
Canada, Mexico
and USA
Central Power Research Institute
India
PEHLA-Mitglieder: IPH Berlin, FGH Mannheim, Siemens Berlin, Siemens Frankfurt, AREVA Kassel, ABB
Ratingen, ABB Baden
STLNA is a liaison body that brings together testing laboratories and certification bodies concerned with the
testing of medium and high voltage electrical power equipment. All major laboratories in North America with
greater than 500 MVA direct testing capabilities are represented, covering the complete NAFTA region. The
liaison members meet twice a year at the IEEE Switchgear meetings, to discuss harmonized measurement
procedures, accreditation, test reporting and test implementation matters. [27]
STL-Mitglied seit 19.05.2006
Tabelle 5.1: STL-Mitglieder
54
5.4 Cigr
Empfehlungen darber, welche Prf- und Messverfahren sich in der Praxis bewhrt haben
und daher fr die Normung geeignet sind, werden im Bereich Hochspannungstechnik von der
CIGRE (Conseil International des Grands Rseaux lectriques bzw. International Council
On Large Electric Systems) abgegeben [28].
CIGRE wurde 1921 in Paris gegrndet. Die Arbeit wurde seit Beginn in study committees
(SC) organisiert, deren Aktivitten in der Anfangsphase auf spezielle Gerte fokussiert war:
1921
1927
1935
1945
1947
1948
1949
1955
1963
Isoliermaterialien, Schalter, Isolatoren, Freileitungen, berspannungen

Hochspannungskabel
Freileitungsmasten und Fundamente
DC, EHV
Schutztechnik, Strungen, Stabilitt
HF Fernbertragung, Isolationskoordination
Transformatoren, Generatoren
Kondensatoren
Umspannwerke, schnelle Spannungsnderungen
Seit 1966 wurden vermehrt Systemaspekte behandelt und seit 1982 auch Simulation, Betrieb
und Regelung von Energienetzten betrachtet. Die sich ndernden Rahmenbedingungen wie z.B.
Liberalisierung des Strommarktes, Umweltaspekte und der technologische Wandel fhrten
1999 zur Formulierung des CIGRE New Masterplan, der wiederum 2002 zu einer weitgehenden
Reorganisation der CIGRE fhrte. Die seitdem gltige Organisationsstruktur der CIGRE ist in
Berlin, November 18, 2003
Abbildung 5.12 wiedergegeben [29].
2002 = A NEW ORGANISATION

ROTATING
ELECTRICAL MACHINES
SC A1
HV INSULATED
CABLES
SC B1
OVERHEAD
LINES
SC B2
TRANSFORMERS
SC A2
SUBSTATIONS
SC B3
HIGH VOLTAGE
EQUIPMENT
SC A3
HVDC & POWER

ELECTRONICS
SC B4
PROTECTION &
AUTOMATION
SC B5
2002
SYSTEM DEVELOPMENT
& ECONOMICS
SC C1
SYSTEM TECHNICAL
PERFORMANCE
SC C4
SYSTEM OPERATION
& CONTROL
SC C2
SYSTEM ENVIRONMENTAL
PERFORMANCE
SC C3 (NEW)
ELECTRICITY MARKETS
& REGULATION
SC C5 (NEW)
DISTRIBUTION SYSTEMS
& DISPERSED GENERATION
SC C6 (NEW)
MATERIALS & EMERGING

TECHNOLOGIES
SC D1
INFORMATION SYSTEMS
& TELECOMMUNICATIONS
SC D2
D
7
Abb. 5.12: CIGRE - Organisation seit 2002

In z.Z. ca. 250 international besetzten CIGRE-Arbeitsgruppen (57% WG working groups
und 33% TF task forces) werden die Einzelheiten der Prf- und Messverfahren umfassend
wissenschaftlich untersucht und, falls erforderlich, durch internationale Ringvergleiche besttigt. Fr die Grundlagen der Messtechnik im Hochspannungsbereich ist beispielsweise die
Arbeitsgruppe CIGRE D1.03 zustndig.
CIGR International Activities

5.4 Cigr
55
Biennial Paris Conference

2300 delegates
350 papers on focused targets
(preferential subjects)
Discussions and general reports
Symposia and
Regional Colloquia
200300 delegates
Topical subject
50100 papers
Study Committee Activities

Annual meetings
Working groups and task forces
Tutorials and workshops
Technical reports
Technology Transfer
CIGR Technical Library
ELECTRA magazine
Technical reports
CIGR website
Study Committees
Abb. 5.13: CIGRE-Aktivitten
CIGRs
Technical
Committee (TC)
Coordination
Study
Committees
Working Groups
7
Members nominated
by
National Committees
Manage studies in their

field of interest
Working Groups and
Task Forces are
operational arms
Task Forces
14
Abb. 5.14: CIGRE-Struktur

SC A1
SC A2
SC A3
SC B1
SC B2
SC B3
SC B4
SC B5
SC C1
SC C2
SC C3
SC C4
SC C5
SC C6
SC D1
SC D2
Rotating Electrical Machines

Transformers
High Voltage Equipment
Insulated Cables
Overhead Lines
Substations
HVDC and Power Electronics
Protections and Automations
System Development and Economics
System Control and Operation
System Environmental Performance
System Technical Performance
Electricity Markets and Regulation
Distribution Systems and Dispersed Energy
Materials and Emerging Technologies
Information Systems and Telecommunications
Tabelle 5.2: CIGRE study commitees
56
LITERATURVERZEICHNIS
Literaturverzeichnis
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2006.
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Pultrum, D. Quek, S. Sakuma, S. Swingler, C. Szczepanski und M. Torikka. Revision
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57
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[25] DKE. Normung, was ist das ? 2009. URL: http://www.dke.de/DKE/Normen+
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[27] NEMA. NEMA Position on Conformity Assessment. 2009. URL: http://www.
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[28] CIGRE. Conseil International des Grands Rseaux lectriques. 2009. URL: http:
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[29] A. Bolza und P. Adam. Structure and scope of the CIGRE Study Committees & main
actual subjects. In: Cigr information day. Berlin, Nov. 2003.
Teil II
Messung hoher Spannungen
Kapitel 6
Wechselspannungsmessung
Der Inhalt dieses Kapitels ist eine Vertiefung des Stoffes der Vorlesung Grundlagen der
Hochspannungsversuchstechnik. Es wird hier aber nicht mehr auf alle Messverfahren fr
Wechsel-, Gleich- und Stospannung eingegangen, sondern nur die Verfahren behandelt, die
praxisrelevant sind. Da diese Vorlesung nicht nur fr Studenten eingerichtet ist, die die o.a.
Vorlesung gehrt haben, werden die Grundlagen der Spannungsmessung kurz wiederholt.
6.1 Messung mit Spannungsteiler

Um hohe Spannungen mit Niederspannungsmesseinrichtungen (Zeigerinstrumenten oder
Oszilloskop) messen zu knnen, werden Spannungsteiler benutzt.
ZH
uH
uN
ZN
Abb. 6.1: Ersatzschaltbild Spannungsteiler

Ein Spannungsteiler besteht allgemein aus zwei in Reihe geschalteten Widerstnden ZH und
ZN , wobei die an ZN abgegriffene und dem Messgert zugefhrte Spannung uN ein getreues
Abbild des zeitlichen Verlaufes der Gesamtspannung uH sein soll.
Das bersetzungsverhltnis (Teilerverhltnis) eines Spannungsteilers soll demzufolge fr
alle Frequenzen konstant sein:
=
uH
= konst.
uN
(6.1)
Von den mglichen Teilerarten

ohmscher Teiler
kapazitiver Teiler
findet zur Messung hoher Wechselspannungen praktisch nur der kapazitive Teiler Verwendung,
da der ohmsche Teiler bei Wechselspannungsmessungen groe Nachteile hat.
61
62
6 Wechselspannungsmessung
6.1.1 Ohmscher Teiler

Nachteile ohmscher Teiler:
hohe Belastung der Prfspannungsquelle und hohe Verlustleistung im Teiler, wenn der
Hochspannungswiderstand RH nicht sehr gro ist (z.B. fr uH = 1 MV, RH = 10 M
Verlustleistung P = u2H /RH im Teiler 100 kW, also viel zu hoch)
0
es sind sehr hochohmige Widerstnde RH (mit RH = RH
) erforderlich; in diesem Fall
wird das Teilerverhltnis jedoch durch die unvermeidbaren Erdkapazitten Ce0 verflscht
und auerdem frequenzabhngig.
6.1.2 Kapazitiver Teiler

Bei Wechselspannung wird daher bei hheren Spannungen ausschlielich der kapazitive Spannungsteiler eingesetzt, dessen Teilerverhltnis fr zeitlich beliebig vernderliche Spannungen
konstant und frequenzunabhngig ist:
CH
uH
uN
CN
Abb. 6.2: Ersatzschaltbild kapazitiver Spannungsteiler
uH
1
=
Cres
CH + CN
idt =
CH CN
uN =
CN
idt
idt
uH
CH + CN
=
uN
CH
(6.2)
frequenzunabhngig !
Der Hochspannungskondensator CH kann dabei als Pressgaskondensator oder (meist) als
Reihenschaltung mehrerer lkondensatoren ausgefhrt werden:
Pressgaskondensator:
Aufbau als koaxialer Zylinderkondensator, daher vllig abgeschirmte Kapazitt, d.h.
praktisch kein Fremdfeldeinflu; ideale Bauform, aber teuer. Pressgaskondensatoren
werden daher nur als CH verwendet, wenn sie ohnehin fr die Verlustfaktormessung mit
der Scheringbrcke bentigt werden. Gase sind praktisch dielektrisch verlustfrei, so dass
fr Pressgaskondensatoren i.a. Verlustfaktoren 105 garantiert werden.
Typische Ausfhrungsformen und der innere Aufbau sind in Abbildung 6.3 dargestellt.
Hierbei bedeuten
63
Abb. 6.3: Pressgaskondensatoren 5. . . 800 kV (Haefely)
1 Hochspannungselektrode, 2 Messelektrode (Schering-Brcke), 0 Schirmelektrode, 3 Messelektrode

(Spannungsmessung), E Erdelektrode, C12 Anschluss fr Schering-Brcke, C13 Anschluss fr Spannungsmessung, F berspannungsableiter, CS Sekundrkapazitt, L Dmpfungsdrossel
lkondensator:
Im allgemeinen fr kapazitive Teiler bei Wechselspannungsmessung verwendet; bliche
Kapazittswerte der Hochspannungskapazitt: 50. . . 500 pF; die Hochspannungskapazitt
CH besteht bei hohen Spannungen aus einer Reihenschaltung vieler Einzelkondensatoren,
so dass insbesondere bei Teilern mit Bauhhen > 2 m auch hier die Erdkapazitten das
nominelle Teilerverhltnis, nicht aber den Frequenzgang verndern. Das bertragungsverhalten bleibt frequenzunabhngig.
CH
CH
uH
CH
Ce
Ce
Ce
Ce
CN
uN
Abb. 6.4: Ersatzschaltbild kapazitiver Spannungsteiler mit verteilten Erdkapazitten

Die verteilten Erdkapazitten Ce = Ce0 fhren zu einer nichtlinearen Spannungsverteilung
(Kettenleiter!) und bewirken eine Vergrerung des bersetzungsverhltnisses, da ein Teil des
ber den Teilerkopf eintretenden Stromes ber die Erdkapazitten abfliet und daher nichts
64
zum Spannungsabfall am Niederspannungsteil beitrgt.

0
Fr ein groes Teilerverhltnis, also CH CN , und Ce < CH = CH
kann das Ersatzschaltbild weiter vereinfacht werden und man erhlt als Teilerverhltnis (Lsung aus dem
Kettenleiter-Ersatzschaltbild):

CH + CN
Ce
1+
CH
6 CH
(6.3)
Beispiel: Fr CH = 3 Ce bewirkt die Erdkapazitt eine Vergrerung des Teilerverhltnisses

um etwa 5 % .
2 CH
uH
2 CH
2
3
Ce
CN
uN
Abb. 6.5: Vereinfachtes Ersatzschaltbild fr kapazitive Spannungsteiler mit verteilten

Erdkapazitten
Der kapazitive Teiler weist gegenber dem ohmschen Teiler folgende Vorteile auf: den einfacheren Aufbau, er ist billiger, induktivittsrmer, zeigt eine geringere Spannungs- und
Temperaturabhngigkeit und stellt eine geringere Belastung des Prfkreises dar.
6.1.3 Klassische Scheitelwertmesseinrichtungen

Die in diesem Abschnitt behandelten Grundschaltungen zur Scheitelwertmessung sind durch
aktive elektronische Schaltungen und zunehmend durch digitale Messsysteme verdrngt
worden.
6.1.3.1 Grundschaltung nach Davis, Bowdler und Standring

Bild 6.6 zeigt die Grundschaltung nach Davis, Bowdler und Standring. Der Messkondensator
CM wird ber den Gleichrichter G in erster Nherung auf den Scheitelwert u
N = uM der am
Niederspannungsteil CN des kapazitiven Teilers abfallenden Spannung uN aufgeladen. Die
Spannung u
N an CM wird mit einem elektrostatischen Spannungsmesser gemessen. Daraus
ergeben sich die folgenden quantitativen Zusammenhnge:
u
H = u
N
CH + CN
CH + CN
uM
CH
CH
(6.4)
Bei dieser Grundschaltung zur Scheitelwertmessung treten folgende Fehlerquellen auf:

Beim Rckgang der Hochspannung uH muss auch uM kleiner werden RM erforderlich
zur Entladung von CM , dann entldt sich CM aber auch zwischen zwei positiven Scheiteln
65
CH
i
uH
iM
iN
CN
uN
RE
CM
RM
uM
Abb. 6.6: Scheitelwertmessung nach Davis, Bowdler und Standring
der Wechselspannung ber RM uM < u

N (angezeigt wird der Effektivwert von
uM frequenzabhngiger Entladefehler).
Im allgemeinen wird folgende Zeitkonstante gewhlt: M = RM CM 1 sec
Eine zu groe Zeitkonstante M fhrt zu einer groen Einstellzeit der Messanordnung
beim Spannungsrckgang; bei zu kleiner Zeitkonstante M tritt dagegen ein groer Entladefehler auf.
Fr die Zeit, in der CM auf den Scheitelwert nachgeladen wird, liegt CM parallel zu CN ,
dies verursacht eine Vergrerung des Teilerverhltnisses und damit einen frequenzabhngigen Nachladefehler.
Wegen der Nachladung von CM ber G ist der Strom iN durch CN in der positiven und
negativen Halbperiode verschieden (Bild 6.7). Wegen A2 < A1 erfolgt eine allmhliche
negative Aufladung von CN . Zur Vermeidung dieser Gleichspannungskomponente dient
RE parallel zu CN , was allerdings eine Verflschung des Teilerverhltnisses zur Folge
hat.
Die Messung ist befriedigend genau, wenn RM sehr hochohmig ist, hat dann aber den
Nachteil der Trgheit der Anzeige beim Abwrtsregeln der Hochspannung.
Abb. 6.7: Zur Erluterung der Aufladung des Kondensators CN bei Grundschaltung zur
Scheitelspannungsmessung von Davis, Bowdler, Standring
66
6.1.3.2 Zweiwegschaltung nach Rabus

Hier ist RE ersetzt worden durch einen Ausgleichszweig (RM , CM , G), der bis auf das Anzeigeinstrument identisch ist mit dem Messzweig. Der durch RE verursachte Fehler verschwindet.
Der Entlade- und der Nachladefehler bleiben jedoch weiterhin bestehen.
CH
Ausgleichszweig
RM
CM
CN
Messzweig
CM
RM
Abb. 6.8: Zweiwegschaltung nach Rabus
6.1.3.3 Zweiwegschaltung, Bauart Siemens

Wie Schaltung in Abb. 6.8, jedoch wird anstelle des elektrostatischen Spannungsmessers
hier ein A-Meter (Drehspulinstrument) mit RM als Vorwiderstand verwendet, womit der
arithmetische Mittelwert der Spannung an CM gemessen wird.
CH
G
RM
CM
CN
RM
CM
Abb. 6.9: Zweiwegschaltung, Bauart Siemens
6.1.4 Elektronische und abtastende Scheitelwertmesseinrichtungen

Die beschriebenen Schaltungen weisen als grundstzlichen Nachteil Nachlade- und Entladefehler auf. Diese werden in modernen Scheitelspannungsmesseinrichtungen durch Verwendung
aktiver Bauelemente (Operationsverstrker) bzw. zunehmend durch die Abtastung des Eingangssignals auf vernachlssigbar kleine Werte verringert.
Zwei Beispiele sollen im folgenden die Funktionsweisen erlutern. Der Text ist den jeweiligen
Gertebeschreibungen der Hersteller entnommen.
*2
>
+ 344340)
67
5
"
6
7
8
6.1.4.1 Haefely Peakvoltmeter Typ 51 und DMI551
"
Abb. 6.10: Peakvoltmeter Haefely DMI551

Abb. 6.11 zeigt das Funktionsprinzip des (lteren) Haefely Peakvoltmeters Typ 51. Der Hochspannungsteiler mit einem festen bersetzungsverhltnis von 8000 liefert das Messsignal
zum ohmsch-kapazitiven Eingangsteiler des Instruments. Fr bestehende Teiler mit anderem
bersetzungsverhltnis kann ein Ankopplungsvierpol geliefert werden. Nach dem Eingangsteiler wird das Signal hochohmig abgekoppelt und den Funktionsschaltungen Scheitelwert,
Effektivwert und Scheitelwertspeicher zugefhrt. ber die Funktionswahl wird der Messwert
zur analogen Leuchtkettenanzeige und zur Ausgangsbuchse Analog Output gefhrt. Der
angezeigte Analogwert ist vom gewhlten Eingangsbereich (% of Range) abhngig. Die
Funktionswahl speist auch den Analogrechner, welcher eine Echtwertanzeige unabhngig vom
gewhlten Bereich ermglicht. Nach dem Rechner wird das Signal digitalisiert und durch ein
Digitalinstrument angezeigt.
Die Funktionen knnen mittels Tasten gewhlt werden. In der Scheitelwertmessschaltung wird
ein Messkondensator durch eine, aus elektronischen Bauelementen gebildete, ideale Diode
mit jeder positiven Halbwelle aufgeladen. Eine nachfolgende Rippelkompensationsschaltung
ermglicht eine kleine Zeitkonstante fr Auf- und Entladen bei
voller Messgenauigkeit zwischen 15 Hz bis 1000 Hz. Es wird der positive Scheitelwert / 2 in kV angezeigt. Mit Hilfe
des Effektivwertwandlers kann der echte Effektivwert (True RMS) gemessen und angezeigt
werden.
Hochspannungsteiler
WahlFunktionsBereich
Scheitelwertmessung
Eingangsteiler
Effektivwertmessung
Funktionswahl
Rechner
A/DWandler
Scheitelwertspeicher
Anzeige
digital
Anzeige
analog
SpannungsKomparator
SignalSpeicher
Abschaltsignal
Wahl
MaximalSpannung
Abb. 6.11: Blockschaltbild Peakvoltmeter Haefely 51
Der Scheitelwertspeicher (Peak/ 2 Memory) hlt den hchsten whrend einer Prfung
aufgetretenen Scheitelwert fest. Ist der momentan gemessene Wert kleiner als der gespeicherte,
"
68
leuchtet die Taste Memory Reset auf. Durch Drcken der Taste Peak/ 2 Memory erscheint
der gespeicherte Scheitelwert auf der Anzeige. Mit der Taste Memory Reset wird der
Speicher gelscht und eine neue Messung
kann erfolgen. Der Spannungsbegrenzer Voltage
Limiter erlaubt mittels eines in kV/ 2 geeichten digitalen Schalters die Vorwahl eines
gewnschten maximalen Scheitelwerts. Bei Erreichen dieses Maximalwertes wird ein RelaisWechselkontakt bettigt und die Rckstelltaste Reset leuchtet auf. Der Relaiskontakt kann
zum Abschalten oder Steuern der Speisegruppe der Wechselspannungs-Prfanlage dienen
oder z.B. eine optische oder akustische Warneinrichtung bettigen.
Der Ankopplungsvierpol besteht aus einem Sekundrteil in einem separaten Gehuse. Die
DataistSheet
no. Hochspannungskondensator
5.56/5
Eingangsbuchse diese Gehuses
an den
angeschlossen. Beim
Ankopplungsvierpol Typ 565, bzw. 566 sind zwei Ausgangsbuchsen vorgesehen, die eine fr
AC/DC Peak
MU17
and 18
TE-Messung, die andere fr Spannungsmessung.
DieseVoltmeter
beiden Messungen
knnen gleichzeitig
ausgefhrt werden.
6.1.4.2 Highvolt Peakvoltmeter Typ MU16/17
Survey of measurements and features

Peak + ; Peak Peak average
Peak /
2+ ;
Peak / 2 Average
RMS
min. and max. peak

average of both peak values
min. and max. peak /
arithmetic mean
real r.m.s.
peak related to r.m.s. / 2

Peak factor / 2
ripple amplitude
Ripple
Frequency
Frequency
graphic representation of the waveform
measurement storage before disruptive discharge
Interfaces
V.24
(RS232)
PROFIBUS-DP (RS485)
Abb. 6.12: Peakvoltmeter Highvolt MU17

Application
Das AC/DC-Peakvoltmeter
MU16/17
ist berallMU17
dortand
einsetzbar,
von
Span- graphically. A special adThe AC/DC
Peak Voltmeters
MU18 are wo mit
formHilfe
can be
represented
used und
for allGleichspannungen
measurements of AC nach
and DC
voltages
vantage
for practical measurements is the storage
nungsteilern hohe Wechselden
einschlgigen
internationalen
especially in HVAC and HVDC test systems in conof values occurring during a disruptive discharge at
Standards, besonders dennection
IEC-Publikationen
und 61083-1,
und
angezeigt
with HV dividers.60060-2
The measurements
meet gemessen
the test
object.
An internal testing procedure enall requirements
of the related international stanables a rapid check of the device. Two serial interoder sofort weiterverarbeitet
werden sollen.
dard IEC 60060-2. Measurements are displayed or
faces provide the possibility of connection to auto-
processed.
matic
and evaluation systems: A
Das Gert MU16 besitzt instantaneously
im Unterschied
zum MU17 keinen eigenen Bedienundcontrol
Anzeigeteil.
The voltmeter MU17 directly displays the measured
PROFIBUS-DP interface for time-critical communiBedienung und Messwertanzeige
erfolgen
ausschlielich
mit
Hilfe
externer
Steuergerte,
dasHIGHVOLT control systems)
value under consideration of the scale factor of the
cation (especially with
external Prfanlagensteuerungen
voltage divider. AC and DC voltages
with
and
a V.24
knnen beispielsweise spezielle
oder Standard-PCs
sein.
Dieinterface
gesamtefor conventional connections
up to 1000 V can be measured without
are available.
Kommunikation erfolgt peak
bervalues
eine der
seriellen Schnittstellen. Die Profibus-Schnittstelle
ist
any voltage divider. Furthermore the voltage wavebesonders fr zeitkritische Prozesse vorgesehen, die V.24-Schnittstelle fr konventionelle
Anwendungen.
Das Gert MU16 ermittelt die Messwerte direkt, d.h. unter Einbeziehung des Teilerverhltnisses des externen Spannungsteilers.
Ohne Spannungsteiler knnen Wechsel- und Gleichspannun HIGHVOLT Prftechnik Dresden GmbH - 0407 - 5-56-5.doc - Subject to change without prior notice
gen bis 1000 VP EAK (Scheitelspannung) gemessen werden. Neben den Scheitelwerten beider
Polaritten werden gleichzeitig auch Effektiv- und Mittelwert gemessen. Durch eine interne
automatische Messbereichsumschaltung wird trotz eines groen Eingangsspannungsbereiches eine hohe Messgenauigkeit erreicht. Dem praktischen Arbeiten im Hochspannungslabor
kommt besonders entgegen, dass bei Prflingsdurchschlag der hchste erreichte Spannungswert gespeichert wird. Testbetriebsarten ermglichen eine schnelle berprfung des Gertes.
Die zu messenden Spannungen gelangen vom Gerteeingang (INPUT) ber internen Teiler,
Eingangsverstrker und programmierbaren Verstrker zum A/D-Wandler. Dieser tastet das
Eingangssignal mit hoher Frequenz ab. Die so gewonnenen Digitalwerte werden vom Einchipmikrorechner 1 sofort bezglich Scheitelwert, Mittelwert und Effektivwert ausgewertet
6.2 Messung mit Spannungswandler

INPUT
69
CHECK-IN
prog.
Verstrker
A/D-Wandler
Einchipmikrorechner
1
Einchipmikrorechner
2
Profibus
D/A-Wandler
V.24
CHECK-OUT
OUTPUT
Abb. 6.13: Blockschaltbild Peakvoltmeter Highvolt MU16
und sofort an Einchipmikrorechner 2 weitergeleitet. Der programmierbare Verstrker wird auf

einen optimalen Messbereich geschaltet. Durchschlge werden erkannt. Die Messwerte werden intern gespeichert und sind somit auch nach einem Durchschlag verfgbar. Fr spezielle
Regelaufgaben wird eine dem Scheitelwert proportionale Gleichspannung am Ausgang OUTPUT zur Verfgung gestellt. Einchipmikrorechner 2 organisiert den gesamten Datenaustausch
ber die Profibus- oder V.24-Schnittstelle.
6.2 Messung mit Spannungswandler

In Umspannwerken u.a. betrieblichen Einrichtungen werden zur Spannungsmessung praktisch
ausschlielich induktive Spannungswandler eingesetzt. In der traditionellen elektromagnetischen Schutztechnik weisen Wandler gegenber Spannungsteilern den Vorteil auf, die erforderliche Leistung fr die angeschlossenen Schutzgerte zu liefern. Desweiteren entladen induktive
Spannungswandler die entsprechenden Leitungsabschnitte nach dem Ausschalten und Tragen
damit zur Sicherheit bei. Spannungsteiler entladen abgeschaltete Leitungen praktisch nicht.
Der Vorteil der Energieversorgung angeschlossener Schutzgerte tritt mit der zunehmenden
Verbreitung elektronischer Schutzgerte in den Hintergrund und stellt sich im Hochspannungsprffeld mit i.a. leistungsschwachen Spannungsquellen ohnehin eher als Nachteil dar.
Darberhinaus kann der konstruktive Aufbau induktiver Spannungswandler keine Frequenzunabhngigkeit des bersetzungsverhltnisses gewhrleisten, so dass die ersten Eigenresonanzen schon merkbare Abweichungen bei wenigen 100 Hz verursachen. Zur Messung transienter
Spannungen sind induktive Spannungswandler deshalb vllig ungeeignet.
Kapitel 7
Gleichspannungsmessung
7.1 Hochohmige Vorwiderstnde und Spannungsteiler

Hohe Gleichspannungen knnen ohne groen Aufwand
durch Reihenschaltung eines hochohmigen Vorwiderstandes RH mit einem Amperemeter
(Drehspulinstrument) bzw.
mit Hilfe eines ohmschen Spannungsteilers und eines zum Niederspannungswiderstand
parallelgeschalteten Spannungsmessers (Drehspulinstrument, elektrostatischer Spannungsmesser oder Digitalvoltmeter)
gemessen werden, sofern nicht der Messstrom die Gleichspannungsquelle unzulssig stark
belastet.
Der Hochspannungswiderstand RH wird ausgefhrt als
Drahtwiderstand aus Hochohmkordel oder Schniewindt-Widerstandsgewebe (Hochohmkordel = mit Widerstandsdraht bewickelte Glasseidenschnur; Widerstandsgewebe = isolierendes Glasseidengewebeband mit manderfrmig eingewebtem Widerstandsdraht).
Vorteile: hohe zeitliche Konstanz und geringe Temperaturabhngigkeit des Widerstandes.
Nachteil: sehr teuer.
Reihenschaltung sehr vieler Einzelwiderstnde, z.B. Widerstandskette aus ElektronikWiderstnden, aufgewickelt auf einen Hartpapierzylinder und unter l gesetzt zur besseren Wrmeabfuhr und zur Vermeidung von Sprherscheinungen. Verwendet werden
Kohleschicht-, Metallfilm- oder Massewiderstnde. Nachteil derartiger Widerstnde: vergleichsweise starke Spannungs- und Temperaturabhngigkeit.
Der Ohmwert des Widerstandes wird durch zwei Kriterien bestimmt: Einerseits soll der
Messstrom mglichst gro sein, um den durch Kriechstrme verursachten Messfehler zu
unterdrcken (imin 0,5 mA); andererseits soll die Verlustleistung mglichst gering bleiben.
Sowohl beim Vorwiderstand wie beim Spannungsteiler mssen durch eine geeignete hochspannungstechnische Konstruktion Teilentladungen vermieden werden, da TE zu Leckstrmen
fhren wrden, die durch das Messinstrument am geerdeten Ende nicht erfat werden.
7.1.1 Hochohmiger Vorwiderstand

uH = i RH
mit RH RM
(7.1)
Die Hhe des Messstromes ist, wegen der Belastung der Spannungsquelle und der Erwrmung
des Messwiderstandes, i.a. auf einige 10 bis einige 100 A bei voller Hochspannung begrenzt.
Der Widerstandswert ist insbesondere bei Verwendung von Kohleschicht- und Massewiderstnden spannungs- und temperaturabhngig (Nachteil!).
71
72
7 Gleichspannungsmessung
i
RH
uH
RM
A
Abb. 7.1: Ohmscher Vorwiderstand
7.1.2 Messung mit Spannungsteiler
RH
uH
RN
uN
RM
Abb. 7.2: Ohmscher Spannungsteiler
uH = uN
RH + RN
RN
mit RN =
0
RN
RM
0
RN + RM
(7.2)
Der Einflu der Spannungs- und Temperaturabhngigkeit kann weitgehend eliminiert werden,
wenn der gesamte Spannungsteiler aus gleichartigen Bauelementen besteht. Gegenber der
Messung mit hochohmigem Vorwiderstand ist bei der Messung mit einem Spannungsteiler
eine grere Empfindlichkeit der Messinstrumente oder eine hhere Leistungsaufnahme des
Widerstandes erforderlich.
7.1.3 Einflu der Streukapazitten

Die verteilten Erdkapazitten Ce0 eines rumlich ausgedehnten hochohmigen Widerstands
verursachen bei hohen Frequenzen eine nichtlineare Spannungsverteilung entlang des Wider0
stands RH bzw. entlang der Widerstandsreihenschaltung bestehend aus RH
.
Dies fhrt bei schnell vernderlichen Vorgngen, wie z.B. bei einem berschlag am Prfobjekt, zu einer starken berbeanspruchung und damit eventuell sogar zur Zerstrung der
ersten hochspannungsseitigen Widerstandselemente. Als Abhilfe schaltet man zwischen die
einzelnen Widerstandswindungen Steuerkondensatoren CS0 , die bei transienten Vorgngen die
Spannungsverteilung vergleichmigen (s. Abb. 7.3).
7.1 Hochohmige Vorwiderstnde und Spannungsteiler
73
Ce
RH
CS
CS
Ce
RH
uH
CS
Ce
RH
CS
RH
Ce
CS
Abb. 7.3: Streukapazitten beim ohmschen Teiler
Fr die folgenden Betrachtungen werden die verteilt angreifenden Erdkapazitten und die
Streukapazitten zwischen den Teilwiderstnden stark vereinfachend zu zwei Streukapazitten CStr,H und CStr,N zusammengefasst (s. Abb. 7.4). Fr die Problematik der transienten
Spannungsaufteilung beim ohmschen Teiler ist diese Vereinfachung ausreichend.
Das Verhltnis der Streukapazitten CStr,H /CStr,N entspricht in der Regel nicht dem Verhltnis der Widerstnde RH /RN , so dass beim Prflingsdurchschlag an RN eine transiente
Spannung uN,tr auftreten kann, die viel grer als
uN,tr uH
RN
RH + RN
(7.3)
sein kann.
CStr,H
RH
CStr,N
RN
uH
uN
RM
Abb. 7.4: Einflu der Streukapazitten beim ohmschen Teiler
Zum Schutz der bedienenden Person und des angeschlossenen Instruments beim Prflingsdurchschlag wird vor dem Instrument eine Schutzeinrichtung (s. Abb. 7.5) bestehend aus
Edelgasableiter A, Widerstand RV und Kondensator CN geschaltet, so dass folgende Bedingungen eingehalten werden:
CN CStr,H CStr,N
(7.4)
74
7 Gleichspannungsmessung
CN bildet so mit CStr,H einen kapazitiven Teiler, der transiente Hochspannungen an seinem
Niederspannungszweig auf gefahrlose Pegel reduziert. RV und CN stellen zudem einen
Tiefpafilter dar. Hohe Transienten fhren zu einem hohen Strom durch RV und CN , der
resultierende Spannungsabfall an RV fhrt schlielich zum Ansprechen des Gasableiters A
und damit zu einer Begrenzung der transienten Spannung uN .
CStr,H
RH
CStr,N
RN
Schutz
Meinstrument
uH
A
RV
CN
uN
Abb. 7.5: Schutzschaltung beim ohmschen Teiler
RM
Kapitel 8
Stospannungsmessung
Zwischen den Messverfahren fr Blitz- und Schaltstospannungen gibt es keine wesentlichen

Unterschiede. Es mssen lediglich u.U. die unterschiedlichen Stirn- und Rckenhalbwertzeiten und damit das unterschiedliche Frequenzspektrum der Schalt- und Blitzstospannungen
bercksichtigt werden. Interessierende Messgren bei Stospannungen:
Scheitelwert
Messung mit der Kugelfunkenstrecke oder (heute meist) mit Spannungsteiler und Stovoltmeter
Zeitlicher Verlauf
Messung mit Spannungsteiler und Oszilloskop, wobei zur Aufzeichnung des zeitlichen
Verlaufs (schnellvernderlicher, einmaliger Vorgang!) Oszilloskope mit photographischer
Aufzeichnung, Analog- und heute vorwiegend Digitalspeicheroszilloskope eingesetzt
werden
8.1 Messkreis und bertragungsverhalten
Erzeugungskreis
Messsystem
4
5
1
2
3
4
5
6
7
8
Stospannungsgenerator
Zuleitung zum Prfling
Prfling
Zuleitung zum Teiler
Spannungsteiler
Messkabel
Oszilloskop
Erdrckleitung
8
Abb. 8.1: Stospannungsmesskreis
Bild 8.1 zeigt den prinzipiellen Aufbau eines Hochspannungsprfkreises.
8.1.1 Anforderungen an Stospannungsmesssysteme

Getreues Abbild der am Prfling 3 liegenden Hochspannung auf der Niederspannungsseite am
Oszilloskop 7; also gutes Impulsbertragungsverhalten des Messsystems.
75
76
8 Stospannungsmessung
Die Rckwirkung des Spannungsteilers 5 auf die zu messende Hochspannung soll vernachlssigbar bleiben bzw. soll derart sein, dass die erzeugte Hochspannung eine gewollte Kurvenform
annimmt; der Teiler wirkt z.B. als Belastungskapazitt des Stospannungsgenerators.
8.1.2 Ermittlung und Beeinflussung der transienten

bertragungseigenschaften
Entsprechend der IEC-Empfehlung 60-1 bis 4 kann man den Hochspannungsteil eines Messsystems in drei Komponenten zerlegen (Dreikomponenten-Messsystem).
Das Dreikomponenten-Messsystem besteht aus einem Dmpfungswiderstand am Eingang der
Zuleitung, aus der Zuleitung und aus der Impedanz am Ende der Zuleitung, dem Spannungsteiler. Der Niederspannungsteil ist Teil der Abschlussimpedanz. Kabel und Messgert sind
ebenfalls Teile des Messsystems, sind aber fr die bertragungseigenschaften des Spannungsteilers normalerweise keine begrenzenden Elemente.
In der Praxis fehlt speziell im Megavolt-Bereich der Dmpfungswiderstand am Eingang zur
Zuleitung, da dieser Widerstand fr die volle Spannung ausgelegt werden mte und dann
sehr schwer und unhandlich wird. Fehlt dieser Widerstand im praktischen Prfaufbau, mssen
auch die bertragungseigenschaften des Messsystems ohne Widerstand gemessen werden.
Man spricht in diesen Fllen von einem Zweikomponenten-Messsystem.
Die bertragungseigenschaften kennzeichnen die Brauchbarkeit eines Messsystems fr die
Messung von Impulsspannungen. Gemessen werden die bertragungseigenschaften normalerweise mit Niederspannung, indem am Eingang zum Messsystem ein schneller Spannungszusammenbruch erzeugt wird. Bild 8.2 zeigt den Messaufbau fr die Rechteckstoantwort,
Bild 8.3 ein typisches Messergebnis.
Rechteckgenerator
2
3
Dmpfungswiderstand in der Zuleitung

Zuleitung
Hochspannungsteil des Spannungsteilers
5
6
Niederspannungsteil des Spannungsteilers

Abschlusswiderstand des Messkabels
7
8
Messkabel
Oszilloskop
Abb. 8.2: Messaufbau zur Ermittlung der transienten bertragungseigenschaften der

Rechteckstoantwort
8.1.3 Bestimmung der Impulsparameter der Blitzstospannung

In der Praxis weicht der tatschliche Spannugsverlauf einer Blitzstospannung durch berlagerte berschwingungen (superimposed overshoot) vom idealen Doppelexponentialverlauf ab.
8.1 Messkreis und bertragungsverhalten
77
0,5
0,4
0,3
0,2
U [V]
0,1
0
-0,1
-0,2
-0,3
-0,4
-0,5
0,0E+00
5,0E-07
1,0E-06
1,5E-06
2,0E-06
2,5E-06
3,0E-06
t [s]
Abb. 8.3: Rechteckstoantwort eines 2,4MV-Stospannungsteiler (Typ Haefely CZ2400)
Um die Parameter (insbesondere den Scheitelwert der Prfspannung) der Blitzstospannung

trotzdem einheitlich zu bestimmen, sieht die IEC 60060-1 [1] folgendes Verfahren vor.
Mit den Definitionen
Ut Prfspannung (test voltage)
Um (t) Ausgleichskurve (base curve)
Ump Scheitelwert der Ausgleichskurve (base curve)
U (t) originaler, rauschfreier Spannungsverlauf (recorded curve)
Ue Scheitelwert des originalen, rauschfreien Spannungsverlaufs (recorded curve)
berschwingamplitude (overshoot magnitude)
f Frequenz in MHz
k(f ) Prfspannungsfaktor (test voltage factor)
H(f ) Transferfunktion
R(t) Rest (residual curve)
Rf (t) gefilterter Rest
Ut (t) Prfspannungsverlauf (test voltage curve)
Das Verfahren beruht auf folgender empirischer Gleichung:
Ut = Ump + k(f )(Ue Ump ) = Ump + k(f )
(8.1)
Der Prfspannungsfaktor wird mittels folgender frequenzabhngigen Gleichung bestimmt (s.

Abbildung 8.4):
1
k(f ) =
(8.2)
1 + 2.2f 2
Die Norm unterscheidet nun bei der Auswertung zwischen Berechnungen mit digitalen Daten
(digital waveforms) und der manuellen Auswertung (manual calculation from graphical
waveforms). An dieser Stelle soll die Prozedur der Auswertung fr digitale Daten vorgestellt
werden, da die Verwendung von Transientenrecordern bzw. digitalen Speicheroszilloskopen
zur Messung von Blitzstospannungen heute gngige Praxis ist.
78
1.0
0.8
k (f)
0.6
0.4
0.2
0.0
1000
104
105
106
107
108
f [Hz]
Abb. 8.4: Frequenzgang des Prfspannungsfaktors k(f )
1. Bestimmung von Um (t) durch Kurvenanpassung von U (t) an eine Doppelexponentialfunktion
2. Bestimmung von Ump aus Um (t)
3. Bestimmung von Ue aus U (t)
4. Berechnung von = Ue Ump
5. Berechnung von R(t) = U (t) Um (t)
6. Konstruktion eines digitalen Filters mit H(f ) = k(f )
7. Anwendung des digitalen Filters auf R(t) zur Bestimmung von Rf (t)
8. Berechnung von Ut (t) = Um (t) + Rf (t)
9. Bestimmung von Ut aus Ut (t)
10. Darstellung von U (t) und Ut (t)
11. Nennung der folgenden Parameter: Ut , Anstiegszeit (front time), Rckenhalbwertszeit
(time to half value) und
8.2 Stospannungsteilertypen
Bild 8.5 zeigt eine bersicht ber die wichtigsten Stospannungsteilertypen.
In Bild 8.6 sind die Anwendungsbereiche der einzelnen Spannungsteilertypen nach dem
Frequenzbereich der Stospannung dargestellt. Der Einflu der Zuleitung zum Teiler ist
bercksichtigt.
Bild 8.6
und 8.7 neu
zeichnen
Das normierte Amplituden-Frequenzspektrum fr die volle Blitzstospannung und fr abgeschnittene Blitzstospannungen in Abhngigkeit von der Abschneidezeit tc zeigt Bild 8.7.
8.2.1 Strgren
Im wesentlichen sind es drei Strgren, die das bertragungsverhalten eines Spannungsteilers
beeinflussen:
die Erdkapazitt des Teilers
die Schleifeninduktivitt Generator-Zuleitung-Teiler, die zusammen mit einer Kapazitt
des Teilers einen Schwingkreis bildet
79
Spannungsteiler
Ohmsche
Teiler
niederohmig
Kapazitive
Teiler
hochohmig
(gesteuert)
rein
kapazitiv
RH
RH
CH
CH
RN
RN
CN
CN
1,2/50 ms
full and
front-chopped
2 MV
DC
AC 50 Hz
250/2500 ms
2 MV
schwach
gedmpft
ZH
CH
ZN
CN
AC 2 MV
250/2500 ms 2 MV
optimal
gedmpft
Universalteiler
RH
CH
RN
CN
1,2/50 ms front
chopped 10 MV
AC 2,5 MV; 250/2500 ms 3,5 MV

1,2/50 ms 10 MV
RH
RN
ZH
CH
ZN
CN
front chopped
10 MV
1,2/50 ms 10 MV
250/2500 ms 3,5 MV
AC 2,5 MV
DC 2,5 MV
Abb. 8.5: Stospannungsteilertypen
Abb. 8.6: Anwendung der Stospannungsteilertypen
die Wanderwellenvorgnge entlang eines Teilers vom Kopf zum Fu und zurck.
Die einzelnen Streinflsse sind bei den verschiedenen Teilerarten jedoch sehr unterschiedlich
und hngen auch vom Frequenzbereich der zu messenden Spannung ab, also ob Gleich-,
Wechsel-, Blitz- oder Schaltstospannung gemessen wird. Da die Rckwirkung der Teiler
auf den Prfkreis ebenfalls unterschiedlich ist, sind fr die Messung der verschiedenen Spannungsarten unterschiedliche Teiler am besten geeignet.
8.2.2 Ohmscher Spannungsteiler

hochohmige Teiler
ungesteuerte hochohmige Teiler nur fr Gleichspannungsmessung geeignet; lediglich der
kapazitiv gesteuerte hochohmige Teiler wird gelegentlich auch fr Schaltstospannung
80
Abb. 8.7: Frequenzspektren voller und abgeschnittener Blitzstospannungen
und noch seltener fr Wechselspannung eingesetzt, da bei ihm durch die kapazitive
Steuerung der Einflu der Erdkapazitten auf das bertragungsverhalten reduziert wird.
niederohmige Teiler
ausschlielich fr Blitzstospannung eingesetzt, RH < 20 k
CP
CP
RH
L
RH
L
uH
Ce
Ce
Ce
Ce
Ce
CP
RH
L
CP
RN
LN
uN
Abb. 8.8: Ersatzschaltbild eines ohmschen Spannungsteilers mit verteilten Erd- und Parallelkapazitten
Abb. 8.9: Berechnete Sprungantwort ohmscher Spannungsteiler

Bei ohmschen Spannungsteilern fr hohe Spannungen und damit groen linearen Abmessungen des Teilerwiderstandes R mssen vor allem die verteilten Erdkapazitten bercksichtigt
81
werden (Ce0 10. . . 15 pF je m Bauhhe des Teilers). Die Erdkapazitten verursachen eine
schleichende Annherung der Sprungantwort an ihren Endwert (z.B. Kurve 1 im Bild 8.9),
wobei fr den Teiler gilt:
Bandbreite: fB =
Antwort: T =
1, 46
RCe
RCe
6
(8.3)
(8.4)
D.h., ein hochohmiger Teiler, wie er wegen der thermischen Belastung fr die Messung von
Gleichspannungen verwendet wird, kann nur eine sehr beschrnkte Bandbreite aufweisen; fr
die Messung von Stospannungen muss also der Teilerwiderstand R stark reduziert werden.
Die Vorschriften (IEC, VDE) fordern fr die Messung einer Blitzstospannung eine Antwortzeit des Spannungsteilers von (s. Tabelle S. 1-19)
T < 200 ns fr vollen Blitzsto
T > 0, 05 Tc fr abgeschnittene Blitzstospannung, d.h. mit Tc = 0, 5 s ergibt sich T <
25 ns (Tc : Abschneidezeit)
Beispiel:
1-MV-Teiler, 2 m Bauhhe, Ce 10 pF/m Bauhhe, also
R
6T
6 25 ns
= 7, 5 k
=
Ce
20 pF
zur Messung bei nach 0,5 s abgeschnittener Blitzstospannung

Zur Messung von Blitzstospannungen sind ohmsche Teiler mit R 20 k (abhngig von
Spannungshhe und minimaler Abschneidezeit) fr Spannungen bis U < 2 MV geeignet.
Gegenber kapazitiven Teilern bringen sie keine zustzliche Belastungskapazitt fr den
Generator. Ohmsche Teiler werden daher insbesondere dann eingesetzt, wenn bei der Prfung
von Gerten mit hoher Eigenkapazitt keine zustzliche Erhhung der wirksamen Belastungskapazitt mehr zulssig ist. Die Belastungsgrenze ist bei gegebenem Dmpfungswiderstand
des Generators durch die Abhngigkeit der Stirnzeit von dem Produkt Rd Cb (Dmpfungswiderstand Belastungskapazitt) vorgegeben.
Fr die Schaltstospannungsmessung scheidet der niederohmige Teiler aus, da der Rcken
der Schaltstospannung beeinflut wird. Bei einer Erdkapazitt von etwa 10 pF/m ergibt
sich fr einen 4,8 MV-Teiler mit einer Hhe von ca. 10 m eine Erdkapazitt von 100 pF und
nach der Formel T = RC/6 mit T = 200 ns ein Widerstand von 12 k. Dieser Widerstand
ist aber wesentlich zu klein, da fr einen 4 MV-Stogenerator mit 200 kJ Energieinhalt ein
Entladewiderstand von etwa 130 k fr die Schaltstospannung erforderlich ist.
8.2.2.1 Kapazitiv gesteuerter ohmscher Teiler

Um den fr die Wiedergabe schnell vernderlicher Spannungen nachteiligen Einflu der Erdkapazitten Ce zu verringern, muss die kapazitive Feldverteilung der ohmschen Feldverteilung
angeglichen werden. Dies fhrt zum kapazitiv gesteuerten ohmschen Teiler.
Durch eine groe Steuerelektrode am Teilerkopf oder durch mehrere ber die Teilerlnge
verteilte Schirmringe wird eine Angleichung der kapazitiven an die ohmsche Spannungsverteilung erreicht und in der Umgebung der Widerstandssule ein homogenes Feld erzwungen.
Verkleinerung der Erdkapazitten gnstigere bertragungseigenschaften (vgl. Kurven 2
und 5 im Bild 8.9)
Schwierigkeit: Die Parallelkapazitt CSt bildet mit der Induktivitt Lschl der Messschleife
Prfling-Zuleitung-Teiler einen Reihenresonanzkreis schwingende bergangsfunktion.
Abhilfe: Dmpfungswiderstand Rd in der Zuleitung zum Teiler
82
Abb. 8.10: Kapazitiv gesteuerter ohmscher Teiler 1
Abb. 8.11: Kapazitiv gesteuerter ohmscher Teiler 2
Abb. 8.12: Dmpfungswiderstand in der Teilerzuleitung
8.2.3 Kapazitive Stospannungsteiler

rein kapazitiv
hauptschlich bei Wechselspannung und Schaltstospannung eingesetzt; lediglich bei
relativ kleinen Spannungen (bis ca. 200 kV) auch fr Blitzstospannung geeignet, wobei
grere Messfehler im Frontteil (Schwingungen) und im Scheitel auftreten knnen
schwach oder optimal gedmpft
insbesondere fr Schalt- und Blitzstospannungsmessung geeignet. Bei Schaltstospannung allerdings Messfehler im Rcken.
Bild 8.13 zeigt das generelle Ersatzschild kapazitiver Spannungsteiler. Fr rein kapazitive
0
Spannungsteiler ist RN = RH 0, fr gedmpft-kapazitive Spannungsteiler gilt RN =
0
RH > 0.
83
CP
CP
Ce
Ce
Ce
Ce
Ce
RH
L
CH
RH
L
CH
CP
RH
L
CH
CP
RN
LN
CN
uH
uN
Abb. 8.13: Ersatzschaltbild eines gedmpft-kapazitiven Spannungsteilers mit verteilten

Erd- und Parallelkapazitten
8.2.3.1 Rein kapazitiver Teiler

Der rein kapazitive Teiler neigt bei der Messung von Blitzstospannungen zu Schwingungen,
die erhebliche Fehlmessungen verursachen knnen.
Abb. 8.14: bergangsfunktion rein kapazitiver Spannungsteiler

Die Schwingungen des rein kapazitiven Teilers entstehen durch
1. das Zusammenwirken der Teilerkapazitt CH mit der Messkreisinduktivitt L (Eigenfrequenz des Hochspannungsmesskreises; s. Bild 8.13, RH und RN Null) und
2. Wanderwellenschwingungen innerhalb des Teilers durch die Induktivitt des Teilers und
seine Erdkapazitten. Die Kondensatoren des Teilers sind stets induktivittsbehaftet.
Wegen L und Ce muss der Hochspannungsteil als Leitung mit Laufzeiteigenschaften
aufgefasst werden.
Als Abhilfe gegen die Schwingneigung des rein kapazitiven Teilers wirkt ein Dmpfungswiderstand Rd in der Zuleitung zum Teiler.
Sollen neben der Schwingneigung auch innere Laufzeitresonanzen minimiert werden, so
0
mssen verteilte Dmpfungswiderstnde RH in den Hochspannungsteil des Teilers integriert
werden. Das fhrt zum gedmpft-kapazitiven Teiler.
84
Beispiel Bild 8.14:

Berechnete bergangsfunktion eines rein kapazitiven Spannungsteilers
mit RH = RN = 0, CH = 100pF, Cp = 0, Ce = 25 pF, L = 4 H,
= LCe = 10 ns
Der rein kapazitive Teiler ist
fr Schaltstospannung geeignet, da Schwingungen im ersten Teil des Spannungsanstiegs
bereits abgeklungen sind
fr Blitzstospannungen geringer Spannungshhe (100. . . 200 kV) bedingt geeignet, da die
Eigenfrequenzschwingungen wegen der kleinen Induktivitt eine hohe Frequenz haben,
die von Blitzstospannungen nur geringfgig angeregt werden bzw. durch Zuleitungswiderstand Rd leicht gedmpft werden knnen und Wanderwellenschwingungen wegen der
kleinen Teilerhhe und damit kleiner Teilerinduktivitt nicht auftreten.
fr Blitzstospannungen im MV-Bereich nicht geeignet. Der externe Widerstand Rd
dmpft nur die Eigenfrequenzschwingungen. Auerdem ist Rd recht schwer und unhandlich fr hohe Spannungen.
Da mit einem Teiler i.a. sowohl Blitz- als auch Schaltstospannungen gemessen werden sollen,
ist der Einsatz rein kapazitiver Teiler auf relativ kleine Spannungen begrenzt (100. . . 200 kV).
8.2.3.2 Gedmpft-kapazitive Spannungsteiler
1.6
1.4
1.2
G(t)
0.8
(1)
(2)
(3)
(4)
0.6
0.4
R = 250
R = 750
R = 1000
R = 2000
0.2
5 108
1 107
1.5 107
2 107
t (s)
Abb. 8.15: bergangsfunktion fr gedmpft kapazitive Spannungsteiler
Beispiel Bild 8.15:

bergangsfunktion eines gedmpft-kapazitiven Spannungsteilers
Anzahl Stufen n = 10, C = 150 pF, L = 2, 5 H, Ce = 40 pF
Variation des Widerstandes: 250, 750, 1000 (optimal) und 2000
Einflu des Teilerwiderstandes R = RH + RN :
(1) R zu klein Verhalten wie kapazitiver Teiler
(2) mit steigendem R wird bergangsfunktion besser
p
(3) beste bergangsfunktion bei optimaler Dmpfung, d.h. R 4 L/Ce )
85
(4) R zu gro zu langsamer Anstieg

In den letzten Jahren sind zwei Ausfhrungsformen von gedmpft-kapazitiven Spannungsteilern bekannt geworden.
- der optimal gedmpfte kapazitive Teiler
- der schwach gedmpfte kapazitive Teiler
Beide Spannungsteiler bestehen im Hochspannungsteil aus einer Serienschaltung von Kondensatoren und Widerstnden.
Optimal gedmpft kapazitiver Spannungsteiler

Der optimal gedmpft kapazitive Spannungsteiler hat nach der Dimensionierungsvorschrift
r
L
RH 4
(8.5)
Ce
einen Widerstand zwischen 400 und 1200 , wobei L die Induktivitt und Ce die Erdkapazitt
des Spannungsteilers darstellen.
Die bergangsfunktion dieses Teilers ist optimal und entspricht den Kurven 2 oder 3 in obigem
Bild.
Im Niederspannungsteil des Teilers ist ein Widerstand RN (R2 im Bild 8.10) erforderlich, um
ein gutes bertragungsverhalten fr hohe Frequenzen zu erreichen.
Resonanzschwingungen durch die Schleifeninduktivitt Generator-Zuleitung-Teiler und die
Teilerkapazitt - wie beim rein kapazitiven Teiler (s. Bild 8.11) knnen beim optimal gedmpft
kapazitiven Teiler nicht auftreten, da sie durch den Dmpfungswiderstand im Teiler gedmpft
werden. Aber es treten zustzlich noch Wanderwellenschwingungen auf der Zuleitung zwischen Generator und Teiler auf. Deshalb muss die Zuleitung am Anfang oder Ende mit einem
Widerstand gleich dem Wellenwiderstand der Zuleitung (Rd = ZZuleitung ) abgeschlossen
werden (Ersatzschalt s. Abb. 8.16, Sprungantworten mit und ohne RD s. Abb. 8.17).
Abb. 8.16: Ersatzschild Bestimmung der Sprungantwort eines optimal gedmpft kapazitiven Spannungsteilers
Abb. 8.17: Sprungantwort eines optimal gedmpft kapazitiven Spannungsteilers, a) mit

RD , b) ohne RD
86
Ein weiterer Punkt ist die Beeinflussung der Impulsform durch den optimal gedmpft kapazitiven Spannungsteiler. In Bild 8.18 ist das Ersatzschaltbild fr die Bestimmung des Spannungsanstieges des optimal gedmpften kapazitiven Spannungsteilers dargestellt.
Abb. 8.18: Ersatzschaltbild zur Bestimmung des Spannungsanstiegs beim optimal gedmpften kapazitiven Spannungsteiler
Im Spannungsverlauf in Abbildung 8.19 ist im ersten Augenblick eine Spannungsteilung an
den Widerstnden Rd und Rt zu erkennen, so dass die Spannung am Prfling sprungartig ansteigt, wenn zustzlich die Induktivitt vernachlssigt wird. Bei kleinen Belastungskapazitten
bzw. bei vorhandenen Induktivitten erfolgt die Aufladung der Belastungskapazitt mit der
Zeitkonstanten 1 = Rd Cb und eine Umladung mit der Zeitkonstanten 2 = RT CT . Damit
erscheint im Spannungsanstieg eine mehr oder weniger ausgeprgte Knickstelle, die unter
Umstnden einen normgerechten Spannungsverlauf verhindert.
Abb. 8.19: Rckwirkung durch den optimal gedmpften kapazitiven Spannungsteiler

ohne Belastungskapazitt
Damit kann der optimal gedmpft kapazitive Spannungsteiler nicht gleichzeitig bei kleinen
Prflingskapazitten als Belastungskondensator eingesetzt werden.
Als Abhilfe bleibt dann nur die Trennung der Aufgaben, d.h. eine zustzliche Belastungskapazitt zum Spannungsteiler.
Schwach gedmpft kapazitiver Spannungsteiler

Der schwach gedmpft kapazitive Spannungsteiler ist mit seinem Widerstandswert so dimensioniert, dass auch bei kleiner Kapazitt des Prflings der Spannungsverlauf nicht wesentlich
beeinflut wird.
Der Widerstand gengt der Bedingung
RH = (0, 25 . . . 1, 5)
L
C
(8.6)
wobei die L Induktivitt des Messkreises und C die gesamte Kapazitt des Spannungsteilers
darstellt. Diese Dimensionierungsangabe fhrt auerdem dazu, dass der Widerstandswert
87
etwa der Impedanz der Zuleitung entspricht, so dass die Problematik mit dem Abschluss der
Zuleitung vllig entfllt. Der Widerstandswert betrgt etwa 200 . Das bertragungsverhalten
entspricht etwa der Kurve 1 im Bild 8.15 und hat daher ein relativ starkes berschwingen
zur Folge. Dieses berschwingen ist bei einer Anregung mit Blitzstospannung 1,2/50 s
natrlich bei weitem nicht so gro wie in Bild 8.15. Aber man muss bei diesem Teiler mit
einem greren Messfehler rechnen als beim optimal gedmpft kapazitiven Teiler. Dafr hat
er aber die geschilderten anderen Vorteile.
Abb. 8.20: Ersatzschaltbild zur Bestimmung des Spannungsanstiegs beim schwach gedmpften kapazitiven Spannungsteiler
Der schwach gedmpft kapazitive Teiler enthlt blicherweise keinen Widerstand RN im
Niederspannungsteil (s. Bild 8.20). Whrend der Hochspannungsteil aus einer Reihenschaltung aus RH und CH besteht, existiert im Niederspannungsteil nur die Kapazitt CN . Die
Teilerantwort ist daher relativ langsam (s. Bild 8.21 Kurve a, Anstiegszeit ca. 100 ns), weil
CN erst ber RH aufgeladen werden muss. Ist H = RH CH aber klein gegenber der zu
messenden Anstiegszeit ( 5 x kleiner), dann kann auch auf RN verzichtet werden.
Abb. 8.21: Einflu von Widerstand und Induktivitt im Niederspannungsteil

Mit einem Widerstand RN im Niederspannungsteil (s. Bild 8.20) wird der Anstieg der Rechteckstoantwort (partielle Antwortzeit Ta ) aufgestellt (Bild 8.21 Kurve b, Anstiegszeit ca.
30 ns), da fr steile Vorgnge das Teilerverhltnis durch RH /RN gegeben ist, also an RN
bei steilen Vorgngen bereits eine Spannung entsteht und nicht erst CN aufgeladen werden
muss. Mit RN erreicht man also eine Verbesserung des bertragungsverhaltens bei hohen
Frequenzen.
Den gleichen Effekt erreicht man mit einer Induktivitt LN im Niederspannungsteil (s.
Bild 8.20, Erhhung der Steilheit durch 5 x LN in Bild 8.21 Kurve c gegenber b). Wenn
LN zu gro ist, knnen aber Schwingungen auftreten (s. Bild 8.21 c). Im allgemeinen ist
LN schon relativ gro und man muss durch die Konstruktion versuchen, LN klein zu halten,
denn es sollte LH /LN CN /CH sein. Das ist durch einen sehr sorgfltigen Aufbau des
Niederspannungsteils zu erreichen (s. Bild 8.22). RN und CN besteht aus vielen mglichst
koaxial angeordneten, parallel geschalteten Elementen.
88
Abb. 8.22: Induktivittsarmer Aufbau des Niederspannungsteils

optimal
schwach
gedmpft kapazitiver Teiler
RH = 600 . . . 1200
RH = 50 . . . 500
fr U = 0, 6 . . . 10 MV
RN erforderlich zur Messung
hoher Frequenzen
mit und ohne RN :

ohne RN , wenn TH RH CH
Anstiegszeit der Stospannung
Rd in Zuleitung
Rd in Zuleitung
erforderlich
nicht erforderlich
Zustzliches Cb erforderlich
Teiler wirkt als Cb
Messung Blitzstospannung,
voll und im Rcken abgeschnitten
ja
ja
Messung Schaltstospannung
ja
ja
Messung Steilstospannung und
in der Front abgeschnittene
Blitzstospannung
ja
nein
nein
Impulsformung, als Grundbelastung
eines Stospannungsgenerators (Cb )
ja
vorwiegend in der Forschung
Einsatz
vorwiegend in Industrieprffeldern
Tabelle 8.1: Vergleich: optimal und schwach gedmpfter kapazitiver Teiler
8.2.4 Universalteiler
Der Universalteiler besteht aus einem schwach oder optimal gedmpft kapazitiven Teiler, dem
ein hochohmiger ohmscher Teiler parallel geschaltet ist.
Bei Stospannungen mit groer Rckenhalbwertzeit (Schaltstospannung 2500 s und grer)
wird die Niederspannungskapazitt CN eines gedmpft kapazitiven Teilers im Rcken der
Stospannung ber den Eingangswiderstand des angeschlossenen Messgertes entladen, so
dass ein zu schneller Spannungsabfall vorgetuscht wird. Dieser Fehler wird durch einen
parallel geschalteten ohmschen Teiler beseitigt (s. Bild 8.23, [2]).
Der Aufwand beim Universalteiler ist wesentlich grer als beim gedmpft kapazitivem Teiler.
Er wird deshalb vorwiegend fr Forschungszwecke eingesetzt. Fr Industrieprffelder reicht
der gedmpft kapazitive Teiler aus, da der Messfehler in der Rckenhalbwertzeit bei der Messung einer Schaltstospannung im allgemeinen innerhalb der in der VDE-Bestimmung 0432
Teil 3 festgelegten Messunsicherheit von 10% = 250 s liegt.
Mit dem Universalteiler knnen alle Spannungsarten Gleichspannung, Wechselspannung
(auch VLF !), Schalt- und Blitzstospannung bis zu hchsten Frequenzen, also auch Steilstospannung mit gleicher Genauigkeit gemessen werden.
arm
Abb. 8.24: Universalteiler - Aufbau TUB-IHS
Abbildung 8.24 zeigt den Aufbau eines Universalteilers aus einer Serienschaltung induktivittsarmen keramischen Scheibenkondensatoren (links), der hochohmigen parallen Widerstandskette (Bild mitte) und der mit den Kondensatoren in Reihe geschalteten Dmpfungswiderstnden
(rechts) [3].
8.3 Kabel- und Messgerteanschluss, bersetzungsverhltnis

Das Messgert wird ber ein Koaxialkabel an den Teiler angeschlossen. Um Wanderwellenschwingungen auf dem Kabel zu vermeiden, muss das Kabel an einem Ende mit einem
ohmschen Widerstand gleich dem Wellenwiderstand des Kabels abgeschlossen werden.
8.3.1 Ohmscher Spannungsteiler

Ra = ZK = 50 . . . 120
Das Messkabel wird am Leitungsende mit Ra = ZK abgeschlossen (s. Abb. 8.25). Ra geht in
das bersetzungsverhltnis des Teilers gem Formel (8.7) ein.
mit RN =
0
RN
Ra
0
RN + Ra
(8.7)
ergibt sich das bersetzungsverhltnis des ohmschen Teilers damit wie gewohnt zu:
=
RH + RN
uH
=
uN
RN
(s.a. Formel (7.2))
(8.8)
Nissin Electric Co., Ltd.

Kyoto, Japan
STEP VOLTAGE
A
Abb. 8.23: Ersatzschaltbild Universalteiler
FUNDAMENTAL CIRCUIT AND RESPONSE

CHARACTERISTICS OF UNIVERSAL VOLTAGE DIVIDER
89
Equivalent network for calculating the response

characteristic of the universal divider.
Figure 1 shows fundamental

a
circuit
ofthe voltage divider
developed. Basically, this is the damped capacitive divider to which
resistance divider is connected in parallel fordc measurement.
Fig.1.
measurement;
In Fig. 1, the following symbols are used:
: The series damping resistance;
element;
: The parallel resistance fordc
of each arm element;
: The series capacitance used in each high voltage
R d
: Thestray
groundcapacitance
C,
8.3 Kabel- und Messgerteanschluss
90
RH
ZK
uH
uN RN
Ra
Abb. 8.25: Kabel- und Messgerteanschluss ohmscher Teiler
8.3.2 Kapazitiver Spannungsteiler

Re = ZK = 50 . . . 120
Re
CH
ZK
CK
uH
uN CN
Abb. 8.26: Kabel- und Messgerteanschluss kapazitiver Teiler
Das bersetzungsverhltnis des kapazitiven Teilers ohne Bercksichtigung der Erdkapazitten

betrgt (s. Abb. 8.26):
1 =
2 =
CH + CN
CH
CH + CN + CK
CH
fr sehr hohe Frequenzen
fr niedrige Frequenzen
(8.9)
(8.10)
Fr niedrige Frequenzen muss die Kapazitt des Messkabels bercksichtigt werden, da nach
der doppelten Laufzeit des Kabels die Kabelkapazitten parallel zu CN wirkt. Fr kleine
Kabellngen kann jedoch CK gegenber CN vernachlssigt werden ( 1 ' 2 ).
Das bersetzungsverhltnis wird durch die Strgre Erdkapazitt Ce zwar gendert, bleibt
jedoch frequenzunabhngig (s. Formel (6.3), S. 64).
Ein Abschluss am Kabelende mit Ra = ZK wie beim ohmschen Spannungsteiler ist hier
nicht mglich, da dann Ra parallel zu CN liegt und das bersetzungsverhltnis des Teilers
stark frequenzabhngig wird. Der Abschlusswiderstand wird als Serienwiderstand zwischen
Teiler und Kabel geschaltet Re = ZK . Der Wellenwiderstand und Re des Kabels bilden einen
Spannungsteiler, so dass in das Kabel eine Welle uN (t)/2 einluft. Am offenen Leitungsende
(Eingangswiderstand des Oszilloskops 1 M ) wird die Spannung verdoppelt, so dass
am Oszilloskop uN (t) erscheint. Die rcklaufende Spannungswelle wird am Widerstand Re
absorbiert (wirksam ist Re in Reihe mit CN , aber CN bildet hier fr die steilen Vorgnge
einen Kurzschluss).
8.3 Kabel- und Messgerteanschluss
91
8.3.3 Gedmpft kapazitiver Teiler
CH = n CH
RH = n1 RH
uH
ZK - RN
uN
ZK
CK
CN
RN
Abb. 8.27: Kabel- und Messgerteanschluss gedmpft kapazitiver Teiler

Das bersetzungsverhltnis des gedmpft kapazitiven Teilers ist zunchst frequenzabhngig:
Fr hohe Frequenzen wirkt der Teiler wie ein niederohmiger ohmscher Spannungsteiler
keine Steuerung durch Schirmelektroden notwendig.
R =
RH + RN
RN
(8.11)
Fr niedrige Frequenzen nhert sich der Teiler dann dem kapazitiven Teiler an
C =
CH + CN
CH
(8.12)
0
0
Das bersetzungsverhltnis des Teilers ist frequenzunabhngig, wenn RH
CH
= RH CH =
RN CN (gleiche Zeitkonstanten) ist.
Bei langen Messkabeln geht auch noch die Kabelkapazitt CK in das bersetzungsverhltnis
ein.
Whrend bei der Messung einer Stospannung im ersten Augenblick das bersetzungsverhltnis
UH
CH + CN
RH + RN
1 =
=
=
(8.13)
UN
CH
RN
betrgt, wird nach der doppelten Laufzeit des Messvorganges im Kabel die Kabelkapazitt CK
zur Niederspannungskapazitt CN zugeschaltet, d.h. wirksam, und das bersetzungsverhltnis
ndert sich in
CH + CN + CK
2 =
(8.14)
CH
Betrgt z.B. CK = 0, 1 CN , dann ndert sich wegen CH CN das bersetzungsverhltnis
um 10%, so dass bei einem lngeren Messkabel ein zustzlicher Fehler im bertragungsverhalten auftritt. Dieser Fehler kann durch eine Abschlussimpedanz am Ende des Kabels
weitgehend aufgehoben werden (Burch-Abschluss [46]). Diese Abschlussimpedanz besteht
aus einer Serienschaltung von Ra und Ca . Ein optimales bertragungsverhalten bekommt
man, wenn nherungsweise
Ra = ZK und
CH + CN = Ca + CK
(8.15)
92
mit ZK Wellenwiderstand und CK Kapazitt des Messkabels gewhlt werden. Ein zustzlicher
Fehler tritt durch die bei groen Kabellngen nicht mehr zu vernachlssigende Dmpfung
der Koaxialkabel auf (Lngswiderstand RK im Kabel; ohmscher Teiler aus RK und Ra ).
Deshalb ist eine przise Auslegung der Abschlussimpedanz praktisch nur messtechnisch
mglich. Dieser sogenannte Burch-Abschluss kann auch als Spannungsteiler ausgefhrt
werden, wodurch das bersetzungsverhltnis der Messeinrichtung verndert werden kann.
CH
RH
ZK
ZK - RN
CK
CN
Ca1
RN
Ra1
Ca2
Ra2
Abb. 8.28: Burch-Abschluss als Spannungsteiler
Die Abgleichbedingung fr den Burch-Abschluss gem Formel (8.15) gilt auch fr den
Burch-Abschluss als Spannungsteiler und wird durch entsprechende Zusammenfassungen (s.
Bild 8.28) erweitert:
Ra = Ra1 + Ra2
(8.16)
Ca =
Ca1 Ca2
Ca1 + Ca2
(8.17)
Zustzlich muss mit der folgenden Bedingung die Frequenzunabhngigkeit des bersetzungsverhltnisses eingehalten werden:
Ra1 Ca1 = Ra2 Ca2
(8.18)
Fr den Anschluss des gedmpft kapazitiven Teilers an ein Messgert gelten die gleichen
Aussagen wie beim kapazitiven Teiler. Da im Niederspannungsteil RN vorhanden ist, muss
hier aber der Abschlusswiderstand am Anfang des Kabels ZK RN betragen, der sich aber
nur geringfgig von ZK unterscheidet, da RN in der Grenordnung von 1 liegt.
8.4 Messgerte
8.4.1 Stospannungsvoltmeter
Mit einem Stospannungsvoltmeter kann der Scheitelwert von Stospannungen gemessen
werden. Es wird ber einen Spannungsteiler an die zu messende Hochspannung angeschlossen.
Die prinzipielle Wirkungsweise der Scheitelwertmessung wird mit Hilfe der vereinfachten
Schaltung in Abbildung 8.29 erlutert:
Der Messkondensator CM wird ber den Gleichrichter G auf den Scheitelwert u
N der am
Niederspannungsteil eines Spannungsteilers abfallenden Spannung uN (t) aufgeladen. Die
Spannung u
N wird mit einem elektrostatischen Spannungsmesser gemessen.
Diese einfache Schaltung weist zwei grundstzliche Fehler auf:
8.4 Messgerte
93
Abb. 8.29: Schaltung zur Scheitelwertmessung von Stospannungen
1. Wegen des endlichen Durchlawiderstandes des Gleichrichters wird CM nicht ganz auf
den Scheitelwert der Stospannung aufgeladen. Der Scheitelfehler wird klein gehalten,
wenn die Aufladezeitkonstante und damit CM einen kleinen Wert hat.
2. Die kleine Kapazitt CM (einige 10 pF, wegen angestrebter kleiner Einstellzeit) entldt
sich ber den endlichen Sperrwiderstand des Gleichrichters verhltnismig schnell, so
dass die Spannung an CM whrend der zur Ablesung bentigten Zeit bereits absinkt.
Die wirklich gebauten Stospannungsvoltmeter sind meist aufwendige elektronische Schaltungen, bei denen diese Fehler weitgehendst vermieden werden.
Erreichbare Genauigkeit: 1 % fr volle Blitzstospannungen und Schaltstospannungen
sowie fr nach > 1 s abgeschnittene Blitzstospannungen.
In der nachfolgenden Schaltung werden die oben aufgefhrten Fehler auf vernachlssigbar
kleine Werte verringert.
Abb. 8.30: Scheitelspannungsmesseinrichtung

Der Kondensator CM wird ber den Verstrker V1 und die Dioden D1 und D3 auf den
Scheitelwert u
1 der zu messenden Spannung u1 aufgeladen. Diese Spannung steht auch am
niederohmigen Ausgang des Verstrkers V2 (Spannungsfolger, Impedanzwandler) an und
wird ber den Widerstand R1 auf den Eingang des Verstrkers V1 rckgekoppelt. Durch die
Gegenkopplung ber die beiden Verstrker V1 und V2 werden die Durchlaspannungen der
Ladediode D1 und der weiteren Diode D3 und auch die Offsetspannung des Verstrkers V2
eliminiert. Fr u1 < uCM , also im Rcken einer Stospannung bzw. bei Spannungsverringerung u1 infolge berlagerter Schwingungen in der Stirn einer Stospannung, hlt die Diode
D2 die Gegenkopplung am Verstrker V1 aufrecht und vermeidet so die bersteuerung von V1 .
Durch die Diode D3 und den Widerstand R2 wird die Entladung des Speicherkondensators
CM ber den Sperrwiderstand der Ladediode D1 weitgehend verhindert. Der Widerstand R3
bestimmt die Entladung des Speicherkondensators CM . Die Zeitkonstante wird relativ gro
gewhlt. Hufig wird das Messsignal vom Ausgang des Verstrkers V2 in eine zweite gleich
aufgebaute Speicherstufe umgespeichert. Dort steht dann der Scheitelwert des Messsignals als
Analogwert mit einer Zeitkonstanten von einigen 100 s zur Weiterverarbeitung bereit.
94
8.4.2 Analoge Oszilloskope

Zur Aufzeichnung des zeitlichen Verlaufs einer Stospannung werden vorwiegend digitale
Oszilloskope benutzt (s. Abschnitt 8.4.3). In einigen Prffeldern sind aber auch heute noch
analoge Oszilloskope zur Blitz- und Schaltstomessung im Einsatz.
Bei den analogen Oszilloskopen unterscheidet man zwischen speziell fr die Stospannungsmessung entwickelten Stooszilloskopen (sehr teuer, da nur geringe Stckzahlen hergestellt
werden) und den fr allgemeine Messzwecke entwickelten Standardoszilloskopen. Die unterschiedlichen Eigenschaften der beiden Typen sind in Tabelle 8.2 gegenbergestellt. Bei den
Standardoszilloskopen werden heute fast ausschlielich Speichersoszilloskope eingesetzt.
Stooszilloskop
Standardoszilloskop
hohe EMV infolge guter Abschirmmanahmen geringe EMV Oszilloskop muss hufig in
bei allen wichtigen Gerteteilen, hherer Ein- geschirmter Messkabine betrieben werden
gangsspannung und Verzicht auf Eingangsverstrker
Eingangsabschwcher nur bis ca. 1 : 5 whlbar Eingangsverstrker z.B. 5 mV/div bis 5 V/div
groer Dynamikbereich
keine Speicherung des Vorgangs
Speicherung des Vorgangs mglich
Ermittlung der Spannungs-Zeitwerte ber Ka- Ermittlung der Spannungs- und Zeitwerte einlibrierspannungslinien und Zeitmarken
fach mit Hilfe des Rasters
Tabelle 8.2: Vergleich: Stooszilloskop und Standardoszilloskop
8.4.3 Digitale Oszilloskope, Transientenrecorder

In Bild 8.31 sind die wesentlichen Funktionsblcke eines digitalen Speichersystems dargestellt.
Die analogen Eingangsverstrker sind oft digital programmierbar. Dadurch kann das Gert
auch von einem bergeordneten Rechner fernbedient werden. Nach den analogen Eingangsverstrkern erfolgt die Digitalisierung der Eingangssignale durch den A/D-Wandler. Dabei
werden die anfallenden Daten in einem unterschiedlich groen Speicher abgelegt.
Zur Darstellung der gemessenen Signale wurden bei den ersten Transientenrecordern durch
einen D/A-Wandler wieder in analoge Signale umgewandelt und auf einer Oszilloskop-Rhre
angezeigt. Heute basieren Transientenrecorder und Digitaloszilloskope in der Regel auf
Computerarchitekuren inkl. Bildschirm.
Abb. 8.31: Grundstzlicher Aufbau eines digitalen Speichersystems

Der wesentliche Unterschied im Vergleich zu analogen Speicheroszilloskopen besteht darin,
dass das analoge Eingangssignal abgetastet und in Form einer Reihe von diskreten, digitalisierten Amplitudenwerten abgespeichert wird (s. Bild 8.32).
8.4.3.1 Analog-Digital-Wandler
Die zwei wichtigsten Eigenschaften eines A/D-Wandlers sind die
0.3
0.2
0.1
8.4 Messgerte
0
time (ns)
0.1
0.2
0.3
95
0.3
0.2
0.1
0.1
0.2
Sweep 1
Time from trigger to
next sample is 20 ps.
This waveform
segment is binned as
segment 2.
0.3
time (ns) eines analogen Signals

Abb. 8.32: Digitale Abtastung
1
1
0.3
0.2
0.1
0
time (ns)
0.1
0.2
0.3
Sweep 3
.
DR.
STRAUSS
This waveform
segment 1.
Manual
WinTR-AS / KAL
Sweep 2
This waveform
segment 4.
TR-AS - Measuring Systems
1.1 8.33:
DERA
6 Desktop System
Abb.
Stospannungsmesssystem
Haefely HIAS 743
1
0.3
0.2
0.1
0.1
0.2
0.3
front view:
3,5" Floppy
CD-ROM
Power control
Display control
Keyboard drawer
Abb. 8.34: Stospannungsmesssystem Dr. Strauss TR-AS 100-12

rear view:
Amplitudenauflsung
fan
Zeitauflsung (Abtastrate)
10 V direct input
BNC-cable
10 V divider output
1600 V input
Amplitudenauflsung
Sie gibt an, in wieviele digitale Stufen das analoge Eingangssignal umgewandelt wird. Die
Auflsung wird in Anzahl Bit angegeben und berechnet sich:
Auflsung = 2Anzahl Bit
Die kleinste digital noch
betrgt demzufolge:
fan wahrnehmbare Eingangsspannungsnderung
Network Connection
mains output
fiber glass
max. Eingangsspannungsbereich
connector
fuse / mains input Auflsung
type ST/SC
RX/TX
96
Dies entspricht der Wertigkeit eines LSB (Least Significant Bit).

Anzahl Bit Quantisierungsstufen Auflsung [ % ]
8
10
12
14
256
1024
4096
16384
0,4
0,1
0,025
0,006
Tabelle 8.3: A/D-Wandlung: Anzahl Bit und Auflsung

Typische in der Impulsmesstechnik verwendete ADUs haben 8 oder 10 Bit Auflsung.
Nicht zu verwechseln ist die Auflsung mit der Genauigkeit. Diese Daten sind nicht direkt
proportional.
Zeitauflsung:
So wie der ADU die Amplitude in diskrete Stufen einteilt, so wird auch in der Zeitachse
das Signal zu diskreten Zeitpunkten gemessen (sample). Dies bedeutet, dass fr schnelle,
nicht repetierende Signale der ADU in der Lage sein muss, eine Messung in sehr kurzer Zeit
durchzufhren. Die Angaben erfolgen in:
Messungen/Sekunde oder Abtastfrequenz, Abtastrate
sampling rate, MS/s (Mega Samples per second)
8.4.3.2 Fehler bei der Analog-Digital-Wandlung

Quantisierungsfehler:
Measurement (digitizing) Features
Aufgrund der begrenzten Auflsung

einesbit
Digitizers
weist einresolution,
idealer A/D-Wandler
einen
Real 12
amplitude
a factor
of 4
sogenannten Quantisierungsfehler auf:
better compared to a common 10 bit system. Together

with
the
detailed
E
0, 5powerful
LSB = software
2(n+1) analysis tools very
(8.19)
q =
impulse diagnostics are possible. The effect of
Der Quantisierungsfehler ist ein prinzipbedingter Fehler. Er betrgt z.B. fr einen 8-Bitamplitude resolution on measurement accuracy is
Digitizer 0,2%.
shown for 8, 10 and 12 bit recorders using a signal with
2 % full scale
deflection. The
difference between
the original signal
and a 12 bit
recorder is
negligible.
Abb. 8.35: Einfluss der Auflsung eines A/D-Wandlers
Variable memory depth up to 128k data points.

Der Einfluss der Auflsung ist in Bild 8.35 fr die Abtastung eines Sinus mit 2% der VollausA maximum of 128'000
steuerung des Messbereichs dargestellt.
samples can be recorded. A

variable memory depth allows
to choose
a suitable
record
Dadurch, dass der A/D-Wandler das analoge Signal nur zu ganz
bestimmten
Zeitpunkten
abtastet, geht die zwischen zwei Abtastzeitpunkten im Analogsignal
Information
lengthenthaltene
and helps
to avoid
verloren. Dieser Fehler ist um so grer, je langsamer die Abtastfrequenz
des Wandlers
je sizes.
unnecessarily
largeund
file
Abtastfehler:
120 MSPS and an analogue bandwidth of 50 MHz is

more than fast enough to capture all impulse shapes in
Excell
of this
require
DKD c
also av
Analy
Impu
accord
activat
param
8.4 Messgerte
97
hochfrequenter das Analogsignal ist (siehe Bild 8.36).Der maximal auftretende Fehler ergibt
sich dabei aus der maximalen Signalsteilheit S und dem Abtastintervall t zu
Cyclic & Pipelined Analog-/Digital-Wandler
ES =
0, 5 S t
(8.20)
Auch
dieser Fehler Kenngren
ist ein prinzipieller
1. Allgemeine
vonFehler.
Analog-/Digital-Wandlern
Dout
Auflsung: 3 Bits
1000
Genauigkeit : max. ULSB/2
INL -1.5 ULSB
0111
Differentielle Nichtlinearitt (DNL)
0110
Integrale Nichtlinearitt (INL)
0101
Missing Codes
0100
INL = +0.75 ULSB
0011
0010
DNL = +0.25 ULSB
0001
0000
DNL = +0.5 ULSB

1
Uin
Abb. 8.36: Abtastfehler eines Digitizers
Seminarvortrag von Dirk Franger
Folie 3 /24
Bei allen bisher beschriebenen Fehlern handelt es sich um prinzipielle Fehler, die also auch
bei idealen Analog-Digital-Wandlern auftreten. Hinzu kommen die Fehler der realen Digitizer.
Dabei sind zunchst Fehler bezglich Offset, Verstrkung, Linearitt und Monotonie zu nennen.
Neben der Definition dieser Fehlerarten ist im Bild 8.37 auch dargestellt, wie sie sich auf die
Form der digitalisierten Signale im Zeitbereich und im Frequenzbereich auswirken.
Der Offset-Fehler bringt zum digitalisierten Signal einen zustzlichen Gleichanteil. Er wird
normalerweise vom Hersteller bei der Kalibrierung abgeglichen. Ein anderer bei der Kalibrierung beachteter Fehler ist der Verstrkungsfehler, der sich durch eine Verflschung
der Signalamplitude bemerkbar macht. Offset- und Verstrkungsfehler knnen z.B. durch
Temperaturnderungen verursacht werden.
Linearittsfehler sind schwieriger zu beherrschen und werden meist durch geeignete schaltungstechnische Manahmen so klein wie mglich gehalten. Sie bewirken eine Verzerrung des
Messsignals (s. Abb. 8.37 und 8.38, [7]).
Von Monotonie spricht man, wenn ein Analog-Digital-Wandler bei einem angelegten Rampensignal stetig steigende Ausgangswerte liefert. Monotoniefehler bewirken Unstetigkeiten im
digitalisierten Messsignal.
Bei schnellen nderungen des analogen Eingangssignales treten abhngig vom Umsetzverfahren noch verschiedene Fehler auf. Sie bewirken, dass sich die Auflsung der Digitizer
mit zunehmender Signalfrequenz verschlechtert, dass also die Abweichungen zwischen dem
vorhandenen Analogsignal und dem digitalisierten Signal wesentlich grer werden als bei
einem idealen Wandler. Der Grund dafr ist, dass bei schnellen Signalnderungen zustzliche
dynamische Fehler in den A/D-Wandlern auftreten .
8.4.3.3 Vor- und Nachteile digitaler Messsysteme

Vorteile
Automatische Auswertung der Stokurvenform bzgl. Scheitelwert, Stirnzeit, Rckenhalbwertzeit, Abschneidezeit
Ue
Ue
fehler
M e s s g r u
Abb. 2: A/D-Wandler Verstrkungsfehler
98
Z(Ue)
e
Z(Ue)
e
Z(Ue)
e
eale Funktion
s A/D-Wandlers
near)
Ideale Funktio
des A/D-Wand
Ideale Funktion
des A/D-Wandlers
Ideale Funktion
des A/D-Wandlers
(linear)
0110
0110
0110
0101
0101
IST von
Intervall Ue
bei 0110
SOLL von Intervall Ue bei 0110
Nichtlinearitt
des A/D-Wandlers
0100
0100
Funktion des A/D-Wandlers

durch Offsetfehler verschoben
0011
0011
Max. Abweichung der nichtlinearen

Steigungskurve des A/D-Wandlers
von der idealen linearen Funktion
0010
0010
0001
0001
Nichtlinearitt
des A/D-Wandlers
0101
0100
0011
0010
0001
Ue
Ue
Ue
Ue
U
Ue e
Abb. 1: A/D-Wandler Offsetfehler

Abb.4:8.37:
Fehlerarten
von Digitizern
und ihre Auswirkungen:
Abb.
A/D-Wandler
integrale
Nichtlinearitt
entielle Nichtlinearitt
Abb. 2: A/D-Wandler Verstrkungs
integrale Nichtlinearitt
Z(Ue)
e
Z(Ue)
e
Linearittsfehler (Integrale Nichtlinearitt) des

A/D-Wandlers
rstrkungsfehler)
r ndert mit der Temperatur sein

oder der Verstrkungsabgleich wururchgefhrt. Somit weicht die Steiidealen Wert ab (Abb. 2).
inearitt des A/D-Wandlers
te eines A/D-Wandlers sind nicht alle

von dem idealen theoretischen Wert
htlinearitt gibt an um wie viel sich
nnungsintervall, bei der Umsetzung
Ue, von dem idealen Spannungsterscheidet (Abb. 3).
Funktion
Aufgrund der einzelnenIdeale
differentiellen
Linearittsfehler und
des A/D-Wandlers
deren Summierung ergibt
sich ein maximaler Fehler zwischen
(linear)
0110
der idealen Umsetzungsfunktion und der wirklichen Umsetzungsfunktion. Der Linearittsfehler gibt den grten Wert
des Abstandes zwischen den beiden Funktionen anIST
(Abb.
4).
0101
von
Intervall Ue
bei 0110
Wandelverfahren
0100
Nachfolgend werden das Single Slope, Dual Slope und das

Multi Slope Verfahren beschrieben. Diese
Sgezahn
A/D-UmSOLL von
Intervall U
e bei 0110
0011
setzer beruhen auf einem gemeinsamen Prinzip. Die Umsetzung der Eingangsspannung in eine dazu proportionale Zeit.
0010
0001
Nichtlinearitt
des A/D-Wandlers
0110
Ideale Fun
des A/D-W
(linear)
0101
0100
0011
0010
M
St
vo
0001
Ue
sfehler = k x Ue;
hltnis Ue(IST) zu Ue(SOLL)
Ue
Abb. 8.38: Fehlerarten

von Digitizern
und ihre Nichtlinearitt
Auswirkungen:
Abb. 3: A/D-Wandler
differentielle
nderungen vorbehalten
differentielle Nichtlinearitt
11
Optimale Darstellung der Ergebnisse
Steigungsfehler (Verstrkungsfehler)
Direkte Erstellung
des Prfprotokolls
des A/D-Wandlers
Abb. 4: A/D-Wandler integrale Nich
Linearittsfehler (Integral
A/D-Wandlers
Aufgrund der einzelnen differen

Derfalsch
Eingangsverstrker
ndert mit der
Temperatur
sein
Korrektur der
gemessenen Kurvenverlufe
mit Hilfe
von Rechteckstoantwortderen Summierung ergibt sich ein
Verstrkungsverhalten
oder
der
Verstrkungsabgleich
wurOszillogrammen
der idealen Umsetzungsfunktio
de nicht gewissenhaft durchgefhrt. Somit weicht die Stei Vergleich von
2 Stokurvenverlufen
direkt auf
demabBildschirm
setzungsfunktion. Der Linearitt
gung
der Funktion vom idealen
Wert
(Abb. 2).
des Abstandes zwischen den bei
Weitergehende numerische Auswertungen, z.B. FRA
Nachteile
Differentielle Nichtlinearitt des A/D-Wandlers
Wandelverfahren
Nachfolgend werden das Single

Die Quantisierungsschritte eines A/D-Wandlers sind nicht alle
Multi Slope Verfahren beschriebe
gleich gro und weichen von dem idealen theoretischen Wert
Der Amplituden- und Zeitauflsung sind zwar bei digitalen Systemen prinzipielle Grenzen
setzer beruhen auf einem gemei
ab. Die differentielle Nichtlinearitt gibt an um wie viel sich
gesetzt, doch limitieren diese bei den aktuell erreichten Grenzparametern (14-Bit-A/Dzung der Eingangsspannung in e
jeder wirkliche (IST) Spannungsintervall, bei der Umsetzung
der analogen Spannung Ue, von dem idealen Spannungsintervalle (SOLL) Ue unterscheidet (Abb. 3).
Differentieller Linearittsfehler = k x Ue;
99
Wandlung mit 200 MS/s) nicht mehr die erreichbare Systemleistung, sondern die bertragungseigenschaften des analogen Spannungsteilers und des analogen Eingangsteils.
Der verbleibende Nachteil bei digitalen Systemen ist die Strempfindlichkeit (EMV), die
umfangreiche Vorsorgemanahmen erzwingt.
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
IEC. IEC 60060-1 Ed.3.0 - High voltage test techniques - Part 1: General definitions
and test requirements. IEC 42/206/CD. 2006.
T. Harada, Y. Aoshima und T. Okamura. Development of a High Voltage Universal
Divider. In: IEEE Trans. Power App. Syst. 95.2 (Mrz 1976), S. 595602.
V. Boschet. Dimensionierung und Aufbau eines Universalspannungsteilers fr
300 kV. Diplomarbeit. Technische Universitt Berlin, 2006.
F.P. Burch. On Potential Dividers for Cathode Ray Oscillographs. In: Philosophical
Magazine. Bd. 13. 86. 1932, S. 760774.
N. Hylten-Cavallius, F.A. Chagas und A. Chakrabarti. A New Appproach to Minimize
Response Errors in the Measurement of High Voltage Impulses. In: IEEE Trans.
Power App. Syst. PAS-102.7 (Juli 1983), S. 20772091.
Y. Li und J. Rungis. Compensation of step response creeping of a damped capacitor
divider for switching impulses. In: 11th ISH. London, UK, Aug. 1999.
Hameg. Messgrundlagen. URL: http://www.hameg.com/dlkb.php?file=
10 (besucht am 30. 10. 2007).
Teil III
Erzeugung und Messung hoher Strme
103
Auf vielen Gebieten der Technik und Forschung treten hohe schnell vernderliche Strme
auf, z.B. in der Plasmaphysik zur Erzeugung hoher Magnetfelder, bei der Untersuchung der
transienten Vorgnge in Stromrichterschaltungen der Leistungselektronik, bei Nachstrommessungen an Hochleistungsschaltern und in der Blitzforschung. Die auftretenden Stromstrken
betragen einige 10 A bis ber 100 kA, die Stromanstiegszeiten sind in einigen Fllen nur
wenige Nanosekunden.
In Hochspannungs-bertragungssystemen breiten sich atmosphrische Entladungen als kurzzeitige steile Strom- und Spannungswellen aus und gefhrden die angeschlossenen Gerte.
Die Stromwellen haben Amplituden zwischen 1 und 100 kA; in Einzelfllen sind Werte bis
400 kA gemessen worden.
Kapitel 9
Definitionen und Bestimmungsgren
Fr die Prfung von Betriebsmitteln fr die Energieversorgung werden mehrere Formen von
Strmen unterschieden (Normentwurf IEC 62478 [1]):
Stationrer Gleichstrom, steady-state direct current
Stationrer Wechselstrom, steady-state alternating current
Kurzzeit-Gleichstrom, short-duration direct current
Kurzzeit-Wechselstrom, short-duration alternating current
Impulsstrme, impulse currents
Zur Nachbildung von Strmen als Folge von Blitzeinschlgen verwendet man einen Impulsstrom, der in kurzer Zeit von Null auf einen Maximalwert ansteigt und dann entweder
nherungsweise exponentiell oder in einer stark gedmpften Sinusschwingung wie der auf
Null abfllt (Exponential-Stostrom).
Die zweite Impulsstromart hat einen nahezu rechteckfrmigen Verlauf (Rechteck-Stostrom,
Langwellen-Stostrom) und tritt bei der Entladung langer Leitungen (Freileitungen, Kabel)
auf.
9.1 Stationrer Gleichstrom

9.2 Stationrer Wechselstrom
9.3 Kurzzeit-Gleichstrom
9.4 Kurzzeit-Wechselstrom
9.5 Impulsstrme
9.5.1 Exponential-Stostrom
Definitionen (s. auch Bild 9.1):
Scheitelwert im
T = t90% t10%
105
106
9 Definitionen und Bestimmungsgren
Stirnzeit1 T1 = 1, 25 T
virtueller Ursprung O1
Rckenhalbwertzeit T2
Festgelegte Prf-Stostrme fr Exponential-Stostrom: 1/20, 4/10, 8/20 und 30/80, 10/350,
10/700; z.B. 8/20 heit: T1 = 8 s und T2 = 20 s.
Zulssige Toleranzen bei Prfungen mit 1/20, 4/10, 8/20 und 30/80 Stostrmen:
Scheitelwert im 10%
Stirnzeit T1 10%
Rckenhalbwertzeit T2 10%
Bei schwingendem Stostrom soll der Scheitelwert entgegengesetzter Polaritt nicht mehr
als 20% des vorgegebenen Scheitelwertes erreichen.
Abb. 9.1: Zeitparameter Exponential-Stostrom

Stromamplitude auf den Scheitelwert i/im normiert
9.5.2 Rechteck-Stostrom, Langwellen-Stostrom

Definitionen (s. auch Bild 9.2):
Scheitelwert im
Scheiteldauer Td : Zeitintervall, in dem der Strom grer als 0, 9 im ist
Gesamtdauer Tt : Zeitintervall, in dem der Strom grer als 0, 1 im ist
Festgelegte Prf-Stostrme fr Rechteck-Stostrom: Td = 500 . . . 3200 s
Zulssige Toleranzen bei Prfungen mit Langwellen-Stostrmen:
Scheitelwert im + 20% 0%
Scheiteldauer Td + 20% 0%
Gesamtdauer Tt < 1, 5 Td
Scheitelwert entgegengesetzter Polaritt < 10% des vorgegebenen Scheitelwertes
1
Diese Definition weicht von der Stirnzeit-Definition bei Blitzstospannung ab.
9.5 Impulsstrme
Abb. 9.2: Zeitparameter Langwellen-Stostrom

Stromamplitude auf den Scheitelwert i/im normiert
107
Kapitel 10
Erzeugung hoher Strme
10.1 Schwingender und Exponential-Stostrom

Ein schwingender oder Exponential-Stostrom wird im allgemeinen in einem Stostromkreis
erzeugt, der aus einem Serienschwingkreis besteht. Eine auf die Spannung U0 aufgeladene
Stokapazitt C wird ber eine Induktivitt L und einen Widerstand R entladen. In den Gren
L und R sind die Induktivitten und Widerstnde des Stostromkreises und des Prflings
zusammengefat.
i(t)
SF
U0
R1
L1
RP
P
C
LP
Abb. 10.1: Stostromkreis mit kapazitivem Energiespeicher

C Stokapazitt, R1 , L1 Widerstand und Induktivitt des Stostromkreises
SF Schaltfunkenstrecke, P Prfling, RP , LP Widerstand und Induktivitt des Prflings
Widerstand und Induktivitt des Stostromkreises und des Prflings knnen zusammengefasst
werden:
R = R1 + RP
L = L1 + LP
Je nach Verhltnis des Widerstandes R zur Schwingkreisimpedanz unterscheidet man drei
Flle:
1. Periodischer Fall (gedmpfte Schwingung)
Fr schwache Dmpfung
R<2
resultiert als Stromverlauf

i(t) =
L
C
und
0 >
U0 t
e
sin(e t)
e L
(10.1)
mit folgenden Randbedingungen

Resonanzfrequenz
Dmpfungsexponent
0 =
1
LC
R
2L
109
110
10 Erzeugung hoher Strme
Eigenfrequenz e =
02 2
Den hchsten Stromscheitelwert erreicht man, wenn die Dmpfung klein gehalten wird.
Dann schwingt der Strom allerdings nahezu auf die Hhe des ersten Scheitelwertes durch.
Fr sehr schwache Dmpfung bzw. den ungedmpften Fall
r
L
R2
C
gilt fr das Maximum des Stostroms
im
U0
U0
p
=
Z
L/C
mit Z =
L
C
(10.2)
Die Schwingkreisimpedanz Z verhlt sich analog zum Wellenwiderstand bei Wanderwellenvorgngen.

Der Scheitelwert des Stostromes wird zum Zeitpunkt
tim =
LC
2
erreicht, da
e t 0 t =
t=
2
LC
2. Aperiodischer Grenzfall
Fr aperiodische Dmpfung
r
R=2
L
C

i(t) =
und
0 =
U0 t
e
0 L
(10.3)
Der Stromscheitelwert tritt auf zum Zeitpunkt

tim =
1
1
= = LC
0
und betrgt
im =
U
U0
p0
=
e 0 L
e L/C
(10.4)
Er ist also um den Faktor e kleiner als im ungedmpften Fall.

3. Aperiodischer Fall
Fr berkritische Dmpfung
r
R>2
L
C
0 <

i(t) =
U0 t
e
sinh(
t)
da fr 0 <
e =
und
q
2 02
(10.5)
02 2
sin( e ) = sinh(e )
Der Stromscheitelwert ist in diesem Fall immer kleiner als im aperiodischen Grenzfall.
Stossstrom.nb
10.2 Rechteck-Stostrom
111
75000
50000
25000
0.00001
0.00002
0.00003
0.00004
0.00005
0.00006
-25000
-50000
-75000
Abb. 10.2: Einfluss der Dmpfung auf die Stostrom-Kurvenform

U0 = 10 kV, C =80 F, L = 1 H, R = 0 . . . 5 , Raper = 0,224
Ist im Stromverlauf keine Schwingung zugelassen, mu man den aperiodischen Grenzfall

anstreben, um einen mglichst groen Stromscheitelwert zu erreichen. Bei schwingendem
Verlauf wird im um so grer, je hher der zulssige zweite Stromscheitelwert in der entgegengesetzten Polaritt ist. In beiden Fllen ist im 1/L, d.h. die Induktivitt des Stostromkreises
mu mglichst klein gehalten werden, damit ein hoher Stostrom entstehen kann. Deshalb
werden hufig viele Kondensatoreinheiten parallel geschaltet und ring- oder hufeisenfrmig
um den Prfling angeordnet (gedrngter Versuchsaufbau, s. Bilder 10.3 und 10.4).
Abb. 10.3: Impulsstrom-Generator, Fa. Haefely

Fr hhere Spannungen (U0 >100 kV) wird als Stostromkreis ein modifizierter MarxGenerator verwendet (RE entfernen, L in Reihe mit RD ).
Zur Erzeugung von Rechtecksten werden entsprechend abgeschlossene Wellenleiter und
Kettenleiter verwendet.
Fr den Wellenwiderstand des Kabels gilt
Z0 =
L0 /C 0
3.40/3
112
Abb. 10.4: Impulsstrom-Generator 200 kA, Fa. Highvolt
i(t)
G
R1
Kabel Z 0 er
SF
RP
P
U0
LP
R0
Abb. 10.5: Schaltung eines Wellenleiters zur Erzeugung von Rechteck-Stostrmen

P Prfling, RP , LP Widerstand und Induktivitt des Prflings
R0 Abschluwiderstand, Z0 Wellenwiderstand des Kabels, R1 Ladewiderstand
mit Induktivittsbelag des Kabels L0 und Kapazittsbelag des Kabels C 0

Ist R1 sehr hochohmig, R0 = Z0 RP und wird LP vernachlssigt, dann kann der Wellenleiter
als einseitig (R1 = , R0 + RP = Z0 ) abgeschlossen angenommen werden. Der Stostrom
hat dann die Hhe
U0
im =
(10.6)
2Z0
2l r
= 2l L0 C 0
(10.7)
Td = 2T =
c
mit
v Fortpflanzungsgeschwindigkeit der Wanderwellen auf dem Wellenleiter
c Lichtgeschwindigkeit
T Laufzeit im Wellenleiter
Bild 10.6
neu zeichnen
l Lnge des Wellenleiters
Am Prfling entsteht fr eine Dauer von der doppelten Laufzeit im Wellenleiter eine Rechteckspannung gleich der halben Ladespannung. Fr verhltnismig kurze Stromste bentigt
man aber schon relativ lange Wellenleiter.
Beispiel:
Fr einen Wellenleiter mit l =100 m und r = 4 resultiert eine Stostromdauer von
2l r
2 100 m 2
Td = 2T =
=
= 1, 3 s
c
300 m/s
113
Abb. 10.6: Schaltung eines Wellenleiters zur Erzeugung von Rechteck-Stostrmen

SF Schaltfunkenstrecke, t = 0 Ansprechzeitpunkt der SF
Fr Stostrme von 500 bis 3200 s Dauer werden daher Kettenleiter mit wesentlich greren
konzentrierten Kapazitten und Induktivitten verwendet.
i(t)
G
R1
C1
L1
C2
L2
L n-1
Cn-1
Cn
Ln
SF
U0
RP
LP
Abb. 10.7: Schaltung eines Kettenleiters zur Erzeugung von Rechteck-Stostrmen

L1 = L2 = . . . = Ln = Li
C1 = C2 = . . . = Cn = Ci
RP , LP Widerstand und Induktivitt des Prflings
Durch die endliche Anzahl der Kettenleiterelemente und den nicht ganz reflexionsfreien
Abschlu durch den Prfling (induktive Komponente LP , die aber vielfach gegenber L1
vernachlssigbar ist) wird der Stostrom, insbesondere im Anstieg und Abfall, geringe Schwingungen aufweisen. Die in VDE (IEC) festgelegte Form des Rechteck-Stostromes wird bei
Kettenleitern mit n 8 Stufen gut erfllt. Fr die Scheiteldauer gilt dann nherungsweise
p
Td 2(n 1) Li Ci
(10.8)
Bei der Stostromprfung eines Prflings ergeben sich die Werte der Kettenleiterele mente aus
der gewnschten Scheiteldauer Td und der Forderung nach einem angepaten Kettenleiterende
mit
114
RP = Z 0 =
zu
Ci =
Td
2(n 1)RP
und
Li
Ci
Li =
Td RP
2
= Ci RP
2(n 1)
(10.9)
(10.10)
Abb. 10.8: Impulsstrom-Generator zur Erzeugung von Rechteck-Stostrmen, Fa. Haefely

Td = 2000 s, 50 kJ
Kapitel 11
Messung hoher Strme
11.1 Niederohmige Messwiderstnde

Das gebruchlichste Verfahren zur Erfassung von Stostrmen ist die Messung des Spannungsabfalls an einem in den Stromkreis eingeschalteten Messwiderstand.
Abb. 11.1: Strommesssystem mit Messwiderstand

K Koaxialkabel mit Z Wellenwiderstand des koaxialen Messkabels
RM Messwiderstand, R = Z Abschlusswiderstand
Abb. 11.2: Ersatzschaltbild des Strommesssystems mit Messwiderstand ohne Bercksichtigung der Stromverdrngung
K Koaxialkabel mit Z Wellenwiderstand des koaxialen Messkabels
RM Messwiderstand, R = Z Abschlusswiderstand
Das vom Strom i(t) im Messkreis (schraffiert) hervorgerufene Magnetfeld induziert im Messkreis eine Spannung uL (t) = Ldi/dt, die sich dem Messsignal uR (t) = iRM (t) berlagert.
Die Wirkung dieses Magnetfeldes wird im Ersatzschaltbild durch die Induktivitt L bercksichtigt. Da im allgemeinen R = Z RM , ist R bei der Bestimmung von uM (t)
vernachlssigbar.
uM (t) = RM i(t) + L
di
dt
(11.1)
Die Induktivitt bewirkt am Ausgang des Messsystems eine induktive Spannungsspitze, die
um so hher ist, je steiler der Stostrom ist.
115
116
11 Messung hoher Strme
i(t)
uR(t)
uR(t) = i(t) R
uL(t)
uL(t) = L
uM (t)
di(t)
dt
t
uM (t) =
i(t) R + L
di(t)
dt
t
Abb. 11.3: berlagerung des ohmschen und induktiven Anteils im Messsignal
11.1.1 Anforderungen an Stostrom-Messwiderstnde

geringe Rckwirkung auf den Stostromkreis RM klein gegenber den Widerstnden im
Stostromkreis
kleines vom Strom i(t) im Messkreis hervorgerufenes Magnetfeld und damit kleine
Induktivitt im Ersatzschaltbild geeignete Formgebung und Wahl der geometrischen
Abmessungen
geringer Temperaturkoeffizient des Widerstandsmaterials Konstantan, Maganin
Die thermische Dauerbelastbarkeit ergibt sich aus der abfhrbaren Wrmemenge. Die Impulsstrombelastbarkeit hngt von der mechanischen Widerstandsfhigkeit gegen die auftretenden
Stromkrfte und von der Wrmekapazitt des aktiven Widerstandsteils ab, da eine bestimmte
Grenztemperatur nicht berschritten werden darf.
11.1.2 Bifilare Messwiderstnde

Bei einer lteren Ausfhrungsform von Messwiderstnden wurde die Gesamtinduktivitt durch
bifilare Konstruktion und Parallelschaltung mehrerer Teilwiderstnde ver kleinert. Die aus dem
Messwiderstand und den Messleitungen gebildete Schleife umfat aber immer noch einen
wenn auch kleinen Teil des mit dem zu messendem Strom verknpften magnetischen Flusses
L > 0.
11.1.3 Koaxiale Rohrwiderstnde

Bei einem koaxialen Rohrwiderstand kann die strende Wirkung des Magnetfeldes und damit
die Selbstinduktivitt des Messwiderstands weitgehendst vermieden werden. Voraussetzung
dafr ist, da der Raum zwischen dem Messabgriff 4 und dem Widerstandszylinder 2 feldfrei
ist. Das ist gegeben, wenn die Stromdichte im Zylinder 2 ber dem Umfang konstant ist.
Besonders kritisch sind hier die Anschlsse an dem Widerstandszylinder 2. Deshalb wird
117
Abb. 11.4: Bifilarer Messwiderstand

1 Messwiderstand, 2 Stromanschlsse aus massiven Kupferscheiben, 3 koaxiale Messanschlubuchse
4 Erdklemme, 5 Isolierring zwischen den Kupferscheiben
Abb. 11.5: Koaxialer Rohrwiderstand

1,6 Stromanschlsse, 2 Zylinder aus dnnem Widerstandsmaterial
3 Stromrckfhrungszylinder aus normal leitendem Material
4 Messabgriff, 5 koaxiale Messanschlubuchse
die Stromrckfhrung in einem koaxialen Zylinder 3 vorgenommen, der die Symmetrie der
Stromdichteverteilung im Zylinder 2 nicht strt. Ein koaxialer Rohrwiderstand verhlt sich
also nahezu wie ein reiner Wirkwiderstand.
Das bertragungsverhalten eines koaxialen Rohrwiderstands wird aber durch Stromverdrngungserscheinungen
im Widerstandszylinder beeinflut. Eine Stromverdrngung tritt auch beim bifilaren Messwiderstand auf. Sie ist dort aber gegenber der Induktivitt vernachlssigbar. Im Gegensatz
zur induktiven Spannungsspitze beim bifilaren Messwiderstand hat ein Rohrwiderstand einen
aperiodischen Verlauf der Ausgangs-Messspannung uM (t) bzw. der Sprungantwort g(t) bei
einem eingeprgten Sprungstrom der Amplitude I0
g(t) =
2 2
X
uM (t)
k t
=1+2
(1)k e 0 d2
I0 RM0
(11.2)
k=1
RM0 Gleichstromwiderstand
0 Permeabilittskonstante
d Wanddicke des Widerstandsrohres
spezifischer Widerstand des Widerstandsrohres
Die Anstiegszeit Ta und die -3 dB-Grenzfrequenz fG fr den Rohrwiderstand berechnen sich
zu
0 d2
(11.3)
Ta 0, 237
fG 1, 46
(11.4)
0 d2
118
WIDERSTNDE - ISM
10.11.2005 19:54 Uhr
Abb. 11.6: Koaxialer Rohrwiderstand Ofenrohr, Fa. IPH

Stostrom fB = 10 MHz, 15 kA 0,1 s, 600
mpulsstrom Mewiderstnde
SM
Beschreibung
Abb. 11.7: Schnelle koaxialer Rohrwiderstnde, Fa. Hilo Test
mpulsstrommewiderstnde
ISMAnwendungsfllen,
ermglichen die
In einigen
wiegenaue
z.B. bei Messung
der Prfung des
von Leistungsschaltern, mssen hohe
impulsfrmige
mit vernderlicher
entsprechend groer
Stromfludauer
cheitelwerts und zeitlichen
VerlaufsStrme
schnell
hoher
Strme. gemessen werden. Ein groes
Problem dabei
ist die Energieaufnahmefhigkeit
Widerstands.von
Ist die Stromfludauer so
egenber anderen Meverfahren
besitzen
sie den Vorzug hoherdesBandbreite
kurz,
da
noch
keine
Wrmeabfuhr
an
die
Umgebung
erfolgen
kann,
so
wird die im Widerstand
leichstrom bis in den Megahertzbereich, geringer Rckwirkung auf den
umgesetzte elektrische Energie zu einer adiabatischen Erwrmung des Widerstandsmaterials
rbeitskreis und Unempfindlichkeit
gegen elektromagnetische
fhren und es gilt:
nterferenzerscheinungen. Ihre magnetische Schutzringkonstruktion
und die
Z
2
usschlieliche Verwendung nichtferromagnetischer
Q = RM Werkstoffe
i (t)dt = CWgewhrleisten
= M cW eine
berragende Genauigkeit. Die serienmig gefertigten
Modelle
besitzen
koaxial
0
ngeordnete Stromklemmen, die zusammen mit cder
extrem niedrigen 2r d l
W m V
=
= cW m
igeninduktivitt die Ausnutzung der vollenQBandbreite
l/( A) ermglichen. Der
l/(2r d)
requenzgang der Impulsstrommewiderstnde ISM besitzt den gleichen Verlauf
ie die Frequenzgnge gleichspannungsgekoppelter Oszilloskopverstrker mit der
pischen 3 db Bandbreite. Entsprechend werden die hochfrequenten
bertragungseigenschaften der Mewiderstnde treffender durch ihre
igenanstiegszeit und nicht wie frher blich, durch ihre Zeitkonstante
119
Q = cW m (2 r d)2
(11.5)
Q Wrmemenge im Widerstandszylinder
CW Wrmekapazitt des Widerstandszylinders
Temperaturerhhung im Widerstandszylinder
cW spez. Wrmekapazitt des Widerstandszylinders
M Gewicht des Widerstandszylinders
m spez. Gewicht des Widerstandszylinders
V Volumen des Widerstandszylinders
l Lnge des Widerstandszylinders
d Dicke des Widerstandszylinders
r Radius des Widerstandszylinders
A Querschnitt des Widerstandszylinders
elektrische Leitfhigkeit des Widerstandsmaterials
cW , r, und sind nur geringfgig variierbar. Als echte Konstruktionsvariable bleiben
nur r und d. Dem Zylinderdurchmesser 2 r sind aber Grenzen gesetzt. Messwiderstnde
hoher Wrmekapazitt besitzen also groe Wandstrken d und zeigen daher ausgeprgte
Stromverdrngungserscheinungen und damit begrenzte Bandbreite. Deshalb werden hier
anstelle des Widerstandszylinders Widerstandsstbe in Reusenform verwendet (s. Bild 11.9).
Abb. 11.8: Langsamer Reusenwiderstand, Fa. IPH
11.1.4 Koaxiale Reusenwiderstnde

Da der Raum innerhalb der durch die einzelnen Widerstandsstbe gebildeten Reuse nicht feldfrei ist, bekommt man beim Reusenwiderstand die vom bifilaren Messwiderstand her bekannte
induktive Spannungsspitze in der Antwort. Die induktive Spannungsspitze kompensiert die
schleichende Annherung der Sprungantwort an den Endwert infolge der Stromverdrngung
jedoch nur teilweise, so da eine zustzliche Kompensation des Frequenzgangs durch ein
Entzerrungsnetzwerk zwischen dem Messwiderstand und dem Koaxialkabel zum Oszilloskop
erfolgen mu.
Bild 11.10
neu zeichnen
120
Abb. 11.9: Koaxialer Reusenwiderstand, Fa. IPH

DC, AC 50 Hz, 200 kA 0,1 s, 50
Abb. 11.10: Ersatzschaltbild Reusenwiderstand
11.1.5 Koaxiale Flchenwiderstndewiderstnde

11.2 Rogowski-Spulen
11.2.1 Messprinzip
Eine Rogowski-Spule ist eine zu einem geschlossenen Ring gebogene langgestreckte Spule
geringen Durchmessers und hoher Windungszahl, deren Ausgangsspannung u2 im Idealfall
der zeitlichen nderung des den Ring durchsetzenden Stromes i1 proportional ist. Ein nachgeschaltetes Netzwerk mit integrierenden Eigenschaften wandelt diese Spannung in ein dem
Strom i1 proportionales Messsignal uM (t) um.
Die Wirkungsweise der Rogowski-Spule lt sich aus dem Durchflutungsgesetz und dem
Induktionsgesetz ableiten:
Das Linienintegral der magnetischen Feldstrke H auf einem beliebigen geschlossenen Weg s
ist gleich der Durchflutung durch die Flche, die von dem Integrationsweg umrandet wird.
I
Hds =
(11.6)
Wird als Integrationsweg die Achse l der Rogowski-Spule gewhlt, die den vom zu messenden
Strom i1 durchflossenen Leiter umgibt, so vereinfacht sich die Gleichung
11.2 Rogowski-Spulen
121
Abb. 11.11: Koaxialer Flchenshunt, Fa. IPH
Abb. 11.12: Prinzip einer Rogowski-Spule
Hs ds = = il =
1
0
Bs ds
(11.7)
Hs , Bs Komponenten der magnetischen Feldstrke H (Induktion B) in Achsrichtung der

Rogowski-Spule
ds Differentielle Lnge des Integrationsweges
Hat die Spule die Lnge l und n Windungen mit hinreichend kleiner und gleicher Ganghhe
s und gleicher Flche A, dann kann das Linienintegral durch folgende Summe angenhert
werden:
1
0
Bs ds =
n
1 X
Bs,k
0
k=l
(11.8)
122
mit s = il folgt
n
X
Bs,k =
k=l
0 il
s
(11.9)
Nach dem Induktionsgesetz wird in jeder Windung der Spule die Spannung
uk =
ds,k
dBs,k
=A
dt
dt
(11.10)
und in die gesamte Spule die Spannung
u2 =
n
X
uk = A
k=1
n
X
dBs,k
k=1
dt
(11.11)
induziert. Wird die drittletzte Gleichung nach t differenziert und in die letzte Gleichung
eingesetzt, so ergibt sich
0 A di1
s dt
(11.12)
0 nA di1
di1
=M
l
dt
dt
(11.13)
u2 =
und mit s = l/n folgt wiederum
u2 =
M Gegeninduktivitt zwischen Spule und Strompfad
11.2.2 Integrator
Um ein dem Strom i1 proportionales Messsignal zu erhalten, mu die Spannung u2 integriert
werden. Dies kann am einfachsten durch ein RC-Glied, besser jedoch durch Verwendung
eines kapazitiv gegengekoppelten integrierenden Operationsverstrkers erfolgen.
Bild 11.13
neu zeichnen
Abb. 11.13: Integrator
Integration des Messsignals u2 (t) durch ein RC-Glied, L Eigeninduktivitt der Spule
Diese Schaltung besitzt eine obere Grenzfrequenz, bedingt durch die Belastung der Spule mit
dem endlichen Wellenwiderstand Z, und eine untere Grenzfrequenz, bei der das Integrierglied
noch integrierende Eigenschaften besitzen soll.
Fr die obere Grenzfrequenz gilt: o L Z
Fr die untere Grenzfrequenz gilt: 1/(u C) R
Werden die obigen Ungleichungen durch geeignete Bemessung der Bauelemente erfllt, dann
erhlt man
123
uM (t) =
1
RC
u2 (t)dt =
M
i1 (t)
RC
(11.14)
11.2.3 Streinflsse
Die Rogowski-Spule ist zu einem geschlossenen Ring gebogen. Dieser Ring stellt zustzlich
eine einzige Windung dar, in der von auerhalb der Ringflche liegenden Strmen erzeugten
und diese durchsetzenden Magnetfeldern Strspannungen induziert werden knnen, die
Messfehler verursachen. Zur Kompensation dieser Strspannungen kann entweder eine einzige mit dem Ring rumlich parallel angeordnete Windung elektrisch gegensinnig in Reihe
geschaltet werden oder die Rogowski-Spule bifilar aufgebaut werden.
Um kapazitive Einstreuungen zu vermeiden, wird die Rogowski-Spule abgeschirmt. Die
Abschirmung mu geschlitzt sein, damit keine Kurzschluwindungen entstehen. Die Abschirmung wird mit dem ueren Mantel eines doppelt geschirmten koaxialen Messkabels
verbunden, dessen beide Mntel erst am Oszilloskop miteinander verbunden werden drfen,
um Kabelmantelstrme und Erdschleifen zu vermeiden.
Abb. 11.14: Strminimierung bei Messungen mit Rogowski-Spulen
Zur Vermeidung von Strspannungen

Kompensationswindung W parallel zum Spulenring; zustzlich Abschirmung S gegen
kapazitive Einstreuungen
bifilarer Aufbau; Spulen 1 und 2 sind gleichsinnig bereinander gewickelt
11.3 Stromwandler
11.3.1 Konventionelle Stromwandler
11.3.2 Flusskompensierte Stromwandler
11.3.3 Nicht-konventionelle Stromwandler
[1]
IEC. IEC 62478 Ed.1: High-current test techniques: Definitions and requirements for
test currents and measuring systems. Juni 2007.
Teil IV
Elektromagnetische Vertrglichkeit
Kapitel 12
Einfhrung
12.1 Begriffe
Strgre: Elektromagnetische Gre, die in einer elektrischen Einrichtung eine unerwnschte Beeinflussung hervorrufen kann. Strgre umfat als Oberbegriff die physikalisch konkreten Begriffe Strspannung, Strstrom, Strenergie, elektromagnetische
Strfelder, Strsignal usw.
Strquelle: Ursprung von Strgren
Strsenke: Elektrische Einrichtung, deren Funktion durch Strgrenbeeinflut werden
kann
Straussendung: Von Strquellen abgegebene Strgren
Kopplung: Strungsbertragung von der Strquelle zur Strsenke
Strfestigkeit: Eigenschaft von elektrischen Einrichtungen, trotz Einwirkung von Strgren bestimmter Werte zu funktionieren.
12.2 Allgemeines
Die technische Entwicklung ist auf vielen Gebieten (Medizin, Verkehr, Erzeugung und Verteilung elektrischer Energie) vom verstrkten Einsatz der Elektronik geprgt. In der elektrischen
Energietechnik bedingt die Elektronik vor allem Neuentwicklungen in der Leittechnik, d.h.
beim Regeln, Steuern, Messen, berwachen und Schtzen von Anlagen der Energietechnik.
Auch in der Hochspannungs-Prftechnik werden elektronische Gerte zur Messwerterfassung (z.B. Transientenrecorder, Digitaloszilloskope) und -auswertung sowie zum Steuern und
letztendlich Automatisieren des gesamten Prfablaufs (z.B. Personal Computer) immer mehr
eingesetzt.
Bei der technischen Entwicklung der elektronischen Bauteile ist ein bergang zu immer
kleineren Signalpegeln, immer hherer Integration und zunehmender Signalgeschwindigkeiten
zu beobachten. Das fhrt zu einer greren Empfindlichkeit der Bauelemente und Schaltungen
bei externen und internen Strsignalen. Deshalb gewinnt die EMV-Problematik immer mehr
an Bedeutung.
Unter Elektromagnetischer Vertrglichkeit (EMV) oder Electromagnetic Compatibility (EMC)
versteht man die Fhigkeit einer elektrischen Einrichtung, d.h. eines Systems, einer Anlage,
eines Gertes oder eines Gerteteils, in ihrer elektromagnetischen Umgebung zufriedenstellend
zu funktionieren und dabei die Umgebung, zu der auch andere Einrichtungen gehren knnen,
nicht unzulssig zu beeinflussen (VDE 0870).
Beispiele elektromagnetischer Unvertrglichkeit sind Strungen von Rundfunk- und Fernsehempfang durch ungengend entstrte Haushaltsgerte, Kraftfahrzeuge und Industrieanlagen.
Durch Blitzeinwirkungen knnen elektrische Gerte Fehlfunktionen aufweisen oder auch
zerstrt werden.
127
128
12 Einfhrung
In Hochspannungsprffeldern sind beim Messen von Stospannungen oder Stostrmen mit

einem Oszilloskop dem eigentlichen Messsignal hufig Strspannungen berlagert, die bei
Analogoszilloskopen auf verschiedenen Wegen das Ablenksystem erreichen knnen und u.U.
sogar nicht-kausale Kurvendarstellungen verursachen (s. Abb. 12.1, [1]).
Abb. 12.1: Oszillogramm des aperiodischen Stromverlaufs beim Entladen eines auf
100 kV aufgeladenen Kondensators
Kapitel 13
Beeinflussungsschema
Will man die Probleme der EMV beherrschen, mu man die Zusammenhnge zwischen
der Aussendung elektromagnetischer Strungen und der Beeinflubarkeit elektrischer Einrichtungen kennen. Das einfachste Beeinflussungsmodell bercksichtigt zwei Einrichtungen,
wobei die eine als Strquelle und die andere als Strsenke betrachtet wird. Zwischen beiden
Einrichtungen besteht eine Kopplung (s. Abb. 13.1).
Vertrglichkeit ist dann gegeben, wenn die von der Straussendung Sx herrhrende, ber
die Kopplung kxy gegebene Streinwirkung Sy geringer ist als die Strfestigkeit SF der
Strsenke:
SF > Sy = kxy Sx
(13.1)
Strquelle
Kopplung
strende Einrichtung Straussendung

SX
bertragungsweg
k XY = S Y / S X
Strsenke
Streinwirkung
gestrte Einrichtung
SY
Abb. 13.1: Beeinflussungsmechanismus

Wird dagegen durch die Straussendung die Strfestigkeit einer elektrischen Einrichtung
berschritten, so mssen Gegenmanahmen ergriffen werden. Grundstzlich kann man
3 Manahmen unterscheiden:
Reduzierung der Strsignale des Strers
Verringerung der Kopplung (Entkopplung) zwischen Strer und gestrter Einrichtung
Erhhung der Strfestigkeit der strbaren Einrichtung.
129
Kapitel 14
Strquellen
Folgende in ihrer Art unterschiedliche Strquellen kommen in Betracht (s. Abb. 14.1, [2]):
Abb. 14.1: berblick Strquellen
14.1 Sinusfrmige Dauersignale

Kommunikationssender (s. Abb. 14.2)
Starkstromkreise, die hohe Spannungen/Strme fhren
HF-Wrmegerte
Ultraschallgerte
Die Kommunikationssender verteilen sich ber einen extrem weiten Frequenzbereich (s. Abb. 14.3,
[2]).
131
132
14 Strquellen
Abb. 14.2: Kommunikationssender
Abb. 14.3: Belegung der Frequenzbnder durch Kommunikationssender
14.2 Breitbandige Dauersignale

Teilentladungen in Hochspannungsgerten
Korona auf Freileitungen
Kommutierungsvorgnge an Motoren und Thyristoren
Zndsysteme in Kraftfahrzeugen
getaktete Netzgerte
Gasentladungslampen
HF-Schweigerte
14.3 Impulsfrmige, einmalige Signale
133
14.3 Impulsfrmige, einmalige Signale

Schaltvorgnge durch Netzfehler bzw. Schalten von Betriebsmitteln (mechanische Kontakte, Halbleiter) in Hoch-, Mittel- und Niederspannungsnetzen und -Gerten
in Hochspannungsprffeldern: Auslsung von Stogeneratoren, Durch- und berschlge
an Prflingen
Blitzentladungen
Elektrostatische Entladungen von Personen
NEMP (Nuclear electromagnetic puls) als Folge von Nuklearexplosionen
Kapitel 15
Strbeeinflussung
Bei der bertragung der Strgre von der Strquelle zur Strsenke unterscheidet man 4
Kopplungsmglichkeiten, die in nachstehender Tabelle zusammengefat sind:
Strungsart
galvanisch
Strgre Koppelgre
i,
di
dt
Rk , L k
kapazitiv
du
dt
Ck
induktiv
di
dt
Mk
Leitungswellen
Strahlung
i
t
u
t
i
x
u
x
E, H
Mk , Ck
RS
Tabelle 15.1: Zusammenfassung der mglichen Strbeeinflussungen
15.1 Galvanische Kopplung

Zwei Stromkreise beeinflussen sich galvanisch, wenn sie ein gemeinsames Leitungsstck mit
der Impedanz Zk benutzen. Dies ist in aller Regel der Bezugsleiter oder Erde. Der im Stromkreis 1 ber die Koppelimpedanz Zk (Rk , Lk ) flieende Strom i1 erzeugt im Stromkreis 2 die
Strspannung
di1
ust = Rk i1 + Lk
(15.1)
dt
Bei niedrigen Frequenzen ist der ohmsche Widerstand des gemeinsamen Leitungsstcks fr die
Strbeeinflussung magebend. Mit zunehmender Frequenz wchst infolge des Skineffekts der
Wirkwiderstand, aber insbesondere gewinnt der induktive Anteil immer mehr an Bedeutung.
Die beeinflussende Strgre ist hier der Strom und seine Ableitung.
15.2 Kapazitive Kopplung

Eine kapazitive Kopplung ist gegeben, wenn Stromkreise ber eine Streu-Koppelkapazitt miteinander verbunden sind. Vom Stromkreis 1 fliet ber die Koppelkapazitt Ck ein Strstrom
135
136
15 Strbeeinflussung
ist mit
ist = Ck
duk
du1
= Ck
dt
dt
fr
1
Za
Ck
in den Stromkreis 2, der an der Impedanz Za bei Za = Ra Zb eine Strspannung

ust = Ra ist
(15.2)
hervorruft. Die Strbeeinflussung ist um so grer, je hher das duk /dt der Spannung zwischen
den beiden Stromkreisen und je hochohmiger das strbare System (Za ) ist.
15.3 Induktive Kopplung

Eine induktive Strbeeinflussung kommt zustande, wenn ein Stromkreis 1, durch den der
Strom i1 fliet, ber den magnetischen Flu H, d.h. ber eine Gegeninduktivitt Mk , mit
einem Stromkreis 2 verkoppelt ist. Durch nderung des Stromes i1 in der Strquelle 1 und die
daraus resultierende Flunderung wird in der Strsenke 2 die Strspannung
ust = Mk
di1
dt
(15.3)
induziert, d.h. schnelle zeitliche nderungen des Stromes im strenden Stromkreis erzeugen
hohe Strspannungen.
15.4 Feldkopplung
Zwei Stromkreise beeinflussen sich durch Strahlung, wenn sich vom strenden Kreis elektromagnetische Wellen ablsen, die vom gestrten Kreis empfangen werden. Das ist der Fall,
wenn der Abstand zwischen den Leitern des strenden Stromkreises und auch der Leiterabstand des gestrten Kreises ber einen gewissen Bruchteil der krzest auftretenden strenden
Wellenlnge ansteigt. Dann wirken beide Stromkreise als Sende- bzw. Empfangsantenne.
Vom Strer geht die freie Welle H0 , E0 aus. Im Nahfeld (r /2) kann je nach Strertyp
das elektrische (hochohmige Quelle: offener Dipol) oder magnetische Feld (niederohmige
Quelle: kurzgeschlossene Drahtschleife als Antenne) berwiegen. Hohe Strme erzeugen ein
berwiegend magnetisches Feld, hohe Spannungen ein berwiegend elektrisches Feld. Im
Fernfeld (r /2) besteht zwischen elektrischer und magnetischer Feldstrke der feste
Zusammenhang
|E0 | = Z0 |H0 | mit Z0 = 377 (Wellenwiderstand des freien Raumes)
(15.4)
Kapitel 16
Strsenken
Als Strsenken kommen insbesondere in Betracht:

Rundfunk- und Fernsehempfnger
Funkempfangseinrichtungen
Frequenzcodierte Signalgerte
Datenbertragungsanlagen
Datenverarbeitungsanlagen
Digitale und analoge Systeme
Prozerechner
Video-bertragungseinrichtungen
in der elektrischen Energieversorgung:
Mess-, Steuer- und Schutzeinrichtungen (Leittechnik)
in der Hochspannungsprftechnik Gerte zur Messwerterfassung und -auswertung sowie zur
Steuerung und Automatisierung des Prfablaufs, wie:
Oszilloskope
Transientenrecorder
Spannungsmesser fr Gleich-, Wechsel-, Stospannung
Personalcomputer
Zhler
Stoauslsegerte
TE-Messgerte
137
Kapitel 17
EMV in der Hochspannungs-Prftechnik
In der Hochspannungs-Prftechnik treten EMV-Probleme insbesondere in Stospannungsund Stostromprffeldern und bei TE-Prfungen auf. Aber auch bei Wechsel- und Gleichspannungsprfungen mu mit EMV-Problemen gerechnet werden, wenn Prflingsdurch- oder
-berschlge erfolgen knnen. Besonders kritisch sind hier Durchschlge in SF6 , die wegen der
extrem kurzen Durchschlagszeiten im ns-Bereich mit sehr hohen du/dt- und di/dt-Werten
verbunden sind.
Manahmen gegen elektromagnetische Strungen knnen grundstzlich an
der Strquelle
dem bertragungsweg und an
der Strsenke
getroffen werden. Ein Eingreifen an der Strsenke, also bei den Mess- und Steuereinrichtungen,
ist im allgemeinen kaum mglich, da diese Gerte von der Industrie fertig geliefert werden.
Eine Minderung der Straussendung von der Strquelle ist ebenfalls nur bedingt mglich, da
die die Straussendung bestimmenden Gren Spannung, Strom, deren zeitliche nderungen
sowie der geometrische Aufbau der Prfschaltung durch Prfparameter im wesentlichen
festgelegt sind. Die grten Einflumglichkeiten auf die Strunterdrckung hat man beim
bertragungsweg von der Prfschaltung zur strempfindlichen Elektronik.
Die wichtigsten nicht nur auf die Hochspannungs-Prftechnik beschrnkten Manahmen
zur Sicherstellung der EMV sind:
Filterung: Filter werden in den leitungsgebundenen bertragungsweg zwischen Strquelle und Strsenke eingefgt und haben die Aufgabe, leitungsgebundene Aussendungen zu
reduzieren oder die Strfestigkeit zu erhhen. Abbildung 17.1 zeigt das Ersatzschaltbild
eines Netzfilters fr Drehstromnetze [2].
Abb. 17.1: Netzfilter Fa. Siemens
139
140
17 EMV in der Hochspannungs-Prftechnik
berspannungsbegrenzung: Funkenstrecke (fr Niederspannung: Edelgasfunkenstrecke), Varistor (SiC oder ZnO), Zenerdiode. Diese Elemente werden hufig in Kombination
als Grob- und Feinschutz in den bertragungsweg eingefgt und reduzieren die Strspannungen in der Hhe.
Verkabelung, Leitungsfhrung, Kabelschirmung: Die EMV-gerechte Verkabelung ist
in Verbindung mit der Auswahl geeigneter bertragungsverfahren eine der wichtigsten
Grundmanahmen zur Sicherstellung der EMV Den korrekten Anschluss eines Kabelschirms zeigt Abb. 17.2, [2].
Abb. 17.2: Anschluss Kabelschirm

Potentialtrennung: In besonders kritischen Fllen erfolgt die Signalbertragung durch
Lichtwellenleiter oder Optokoppler.
Schirmung: Gerteschirmung, Raumschirmung. Schirmung dient zur Entkopplung von
Feldern zwischen zwei rumlichen Bereichen, d.h. mit ihr wird die Emission elektromagnetischer Strahlung vermindert und die Strfestigkeit erhht.
Massung, Erdung, Potentialausgleich: Die richtige, fachgerechte Massung oder Erdung
gewhrleistet den Personenschutz vor gefhrlichen Berhrungsspannungen und ist durch
Strstromableitung und niederimpedanten Potentialausgleich ein wichtiges Instrumentarium zur Minderung elektromagnetischer Beeinflussungen.
17.1 EMV bei Stospannungs- und Stostromprfungen

Die EMV-Problematik und die Manahmen zur Verringerung der Strbeeinflussung werden
am Beispiel der Stostrommessung mit einem Oszilloskop in einem Stostromkreis diskutiert
(s. Abb. 17.3, [2]). Die Ergebnisse sind unmittelbar auf Stospannungsprfungen bertragbar.
Entstehung von Kabelmantelstrmen durch induktive und kapazive Kopplung sowie durch
unterschiedliche Schutzleiterpotentiale.
Sind keine EMV-Manahmen ergriffen worden, sind hufig dem aperiodischen Verlauf des
Messsignals Strspannungen (Schwingungen) berlagert, die auf verschiedenen Wegen das
Ablenksystem des Oszilloskops erreichen knnen.
Die Ursachen der Strspannungen (Strquelle) sind Potentialanhebungen im Erdsystem und
die mit den schnell sich ndernden Spannungen und Strmen verknpften elektromagnetischen
Felder, die beim Auslsen des Stostromgenerators entstehen. Die bertragung der Strgren
zum Oszilloskop kann nun galvanisch, induktiv, kapazitiv und/oder durch Strahlung erfolgen
und wird nachfolgend im einzelnen diskutiert.
141
Abb. 17.3: Schematische Darstellung eines Stostromentladekreises

F S Schaltfunkenstrecke, CS Stokapazitt, RM Strommesswiderstand, L Arbeitsspule
17.1.1 Induktive, kapazitive oder Feldkopplung direkt zum Oszilloskop

Die vom Stostromkreis erzeugten elektromagnetischen Felder durchdringen das unvollkommen abschirmende Gehuse des Oszilloskops und rufen im Vertikalteil Strungen hervor
(insbesondere bei Oszilloskopen in Einschubtechnik).
Manahmen zur Verringerung der Strbeeinflussung:
Oszilloskope verwenden, bei denen die Einschbe am ganzen Umfang Kontaktfederleisten
zur besseren Kontaktierung mit dem Oszilloskopgehuse, also zur besseren Abschirmung
besitzen (z.B. bei Tektronix als Option erhltlich)
Oszilloskop in eine abgeschirmte Messkabine stellen. Vollgeschirmte Messkabinen besitzen Schirmdmpfungen von 80. . . 100 dB fr Frequenzen bis 35 GHz, entsprechend einem
Schirmfaktor von 1 : 10 000 bis 1 : 100 000
Fr geringere Frequenzen und Feldstrken reichen oft auch einseitig offene Blechksten
als Abschirmung
17.1.2 Induktive oder kapazitive Kopplung zum Innenleiter des Messkabels

Magnetische und elektrische Felder durchdringen die unvollkommene Abschirmung des koaxialen Messkabels (meist Cu-Geflecht). Elektrische Felder influenzieren auf dem Innenleiter
eine Strspannung. Magnetische Felder induzieren zu beiden Seiten des Innenleiters gegenphasige Spannungen, die sich wegen der immer vorhandenen Exzentrizitt des Innenleiters
nicht ganz aufheben.
Beide Strspannungen sind jedoch im allgemeinen gegenber den durch Kabelmantelstrme
hervorgerufenen Strspannungen vernachlssigbar (s. 17.1.4).
17.1.3 Strquelle verseuchtes Netz galvanische Kopplung

Das Oszilloskop fngt seine Strspannung als leitungsgebundene Strung ber seine Stromversorgung ein. Abhilfemanahme:
142
Verriegelung der Netzzuleitung mit einem Durchfhrungsfilter fr Funkentstrung, das

im allgemeinen aus zwei Querkapazitten und einer Lngsinduktivitt besteht.
Strspannungen in Versorgungsnetzen sind fr den hier betrachteten Fall im allgemeinen
jedoch unkritisch. Trotzdem werden hufig derartige Netzfilter zur Verringerung der strenden,
nachfolgend beschriebenen Kabelmantelstrme und Gehusestrme eingesetzt.
17.1.4 Messkabelmantel- und Gehusestrme

Fliet ber den Mantel oder Schirm des koaxialen Messkabels (zwischen Strommesswiderstand RM und Oszilloskop ein von einer ueren Strquelle hervorgerufener Strstrom ist ,
dann ruft dieser Strstrom an der inneren Oberflche des Kabelmantels einen Spannungsfall
hervor, der sich als Strspannung ust der im Koaxialkabel bertragenen Messspannung uM
berlagert. Ein Ma fr den Spannungsfall am Kabelmantel und damit fr dessen Schirmwirkung ist der Kopplungswiderstand RK des Kabels, der nach folgendem Bild fr eine
Leitungslnge l /4 (: Leitungswellenlnge) definiert ist zu:
RK () =
ust ()
ist ()
(17.1)
Der Kopplungswiderstand ist im allgemeinen komplex und frequenzabhngig. Bei Wechselstrmen ist niedriger Frequenz ist RK gleich dem Gleichstromwiderstand R0 des Auenleiters.
Mit zunehmender Frequenz nimmt der Kopplungswiderstand stark ab. Dieser Effekt wird
durch die Stromverdrngung hervorgerufen, die bewirkt, da sich der Strstrom ist an der
ueren Oberflche des Kabelmantels zusammenzieht, so da der Spannungsfall an der inneren Oberflche des Mantels sehr klein wird. Kabel mit einem Auenleiter aus massivem
Material haben also einen extrem niedrigen Kopplungswiderstand bei hohen Frequenzen
(z.B. Flexwell-Kabel der Fa. Kabelmetall mit einem Auenleiter aus gewelltem Metallrohr).
Kabel mssen jedoch im allgemeinen flexibel sein und haben daher einen Auenleiter aus
dnnem Drahtgeflecht oder gewendeltem Band. Bei diesen Konstruktionen dringt ein kleiner
Teil des magnetischen Auenfeldes des Strstroms in den vom Kabelmantel umschlossenen
Innenraum ein. Dieses Feld induziert nun eine mit der Frequenz wachsende Strspannung
im Koaxialsystem, so da RK von einer bestimmten Frequenz ab ansteigt. Daher haben
gewhnliche Koaxialkabel mit Geflechtschirm den im Bild gezeigten typischen Frequenzgang
des Kopplungswiderstands, der zuerst infolge des Skineffekts abfllt und dann infolge des
Durchgriffs des ueren Magnetfelds wieder ansteigt.
Der Kabelmantelstrom tritt ber die Oszilloskop-Eingangsbuchse in das Gehuse ein und
verlt dieses wieder ber seine Erdkapazitt und ber den Schutzleiter. Solche Gehusestrme
knnen im Oszilloskop in gleicher Weise Strspannung hervorrufen wie Kabelmantelstrme in
Messkabeln. Magebend ist der Kopplungswiderstand des Oszilloskopgehuses, also dessen
Abschirmwirkung, die insbesondere durch lange Gehusetrennfugen, schlechte Kontaktierung
der Mess- und Zeiteinschbe mit dem Gehuse und lange Lftungsschlitze beeinflut wird. Die
Gehusestrstrme knnen auf die Elektronik innerhalb des Oszilloskops sowohl galvanisch
(ein Teilstrstrom fliet ber die zur Gehusewand parallel geschalteten Masseverbindungen
der Elektronik) als auch kapazitiv und induktiv einwirken. Die Ursachen fr das Entstehen
von Kabelmantel- und Gehusestrmen sind:
Spannungsflle am Schutzleiter
Induktive und kapazitive Einkopplung beim Auslsen des Stokreises
Potentialanhebungen im Erdsystem des Stokreises.
Impedance
Impedanz
Ohm
50 2
50 0,2
50 0,2
75 3
75 3 %
75 3 %
Triaxial cable 50 (Audio cable)

Triaxial cable 75 (Video cable)
ber die Schutzleiter elektrischer Gerte flieen Ableitstrme, die lngs der Schutzleiter
Spannungsflle verursachen, so da zwischen den Schutzleiterkontakten verschiedener Steckdosen betrchtliche Spannungen vorhanden sein knnen. Werden nun mehrere elektronische
Gerte aus verschiedenen Steckdosen betrieben, so entstehen durch das Schutzleitersystem
zusammen mit den Mnteln der koaxialen Signalkabel sogenannte Ringerden, in denen Ausgleichsstrme flieen, die den Messsignalen eine Strspannung mit einer Grundfrequenz von
50 Hz berlagern (50 Hz-Brumm). Die treibende Spannung fr diese Ausgleichsstrme ist die
Schutzleiterspannung im Bild xxx auf Seite xxx. Abhilfemanahmen:
Type
Typ
RGT 178
RGT 174
Triax 8
Triax 11
Electrical and general properties
Part-no.
Best.-Nr.
017 820
017 410
121 730
017 910
375 029
466 140
8 Triaxial cables
17.1.5 Spannungsflle am Schutzleiter
143
Erdschleifen unterbrechen, indem nur ein Gert mit Schutzkontakt betrieben wird (die
anderen Gerte sind ber die Mntel der Signalleitungen geerdet) oder
die Schutzleiter aller Gerte in mglichst kurzer Entfernung vom Gert ber eine Potentialausgleichsschiene fhren.
Beim Auslsen des Stokreises entstehen magnetische und elektrische Felder, die in der
Erdschleife (schraffierte Flche in Abb. 17.3) und auf dem Kabelmantel (CStr ) treibende
Spannungen induzieren bzw. influenzieren, die Kabelmantel- und Gehusestrme verursachen.
Abhilfemanahmen:
1. screen /
2. screen
1. Schirm gegen
2. Schirm
250,0
826,1
255,0
700,0
550,0
Capacitance / Kapazitt pF/m
Wire /
1. screen
Ader gegen
1. Schirm
95
101
96
64
54
54
17.1.6 Induktive und kapazitive Einkopplung
Verlegung der Messleitungen in Stahlpanzerrohren, die an beiden Enden geerdet sind.

Triaxiales Messkabel mit doppelter Schirmung (s. Abb. 17.4)
0,6
1,5
1,5
1,4
0,5
0,4
Attenuation
Operating
Temperature
zul. Dmpfung
voltage
Temperaturbereich
dB/100 m at / bei Betriebsspannung C
100 MHz
U.max.
KVeff.
from / von to / bis
48
29
19
29
7,1
5,4
Abb. 17.4: Aufbau Triaxial-Kabel
17.1.7 Potentialanhebungen im Erdsystem
Triaxialkabel
Anf.
Lead time
Lieferzeit
Aufgrund der Erdstreukapazitt des Arbeitskreises wird auch diese Potentialanhebung wieder
zur treibenden Spannung fr Kabelmantelstrme. Offensichtlich gibt es zwar bestimmte
optimale Erdungsverhltnisse, ganz vermeiden lassen sich die Ursachen fr Kabelmantelstrme
jedoch nicht. Abhilfemanahmen:
Lag.
x
x
x
x
x
x
Triaxialkabel 50 (Audiokabel)
Triaxialkabel 75 (Videokabel)
+200
+70
+70
+200
+120
+60
Elektrische und allgemeine Daten
-55
-25
-5
-55
-40
-35
Wird der Stogenerator geerdet, dann ruft der Entladestrom des Generators an der Impedanz
Z der Rckleitung einen Spannungsfall hervor und hebt das Potential des Punktes P an.
Diese Potentialanhebung ist die treibende Spannung fr den Kabelmantelstrom ist. Es ist
deshalb besser, nicht den Fu des Stogenerators, sondern den Punkt P , also die Erdklemmen des Messwiderstandes, zu erden. Jetzt hebt sich das Potential des erdnahen Belags der
Stokapazitt an.
1
2
3
2
1/2/4
4/5/6
Cable group
Kabelgruppe
Geringe Impedanz der Erdrckleitung: breite Kupferbnder, engmaschiges Erdleitergeflecht oder am besten eine groe Metallplatte unter der gesamten Anlage.
144
Um Kabelmantel- und Gehusestrme grundstzlich zu unterdrcken, d.h. gleich welchen

Ursprungs, wird das Oszilloskop in eine Schirmkabine gestellt und das Messkabel mit einem
zweiten Schirm versehen, der am Messwiderstand mit dem inneren Schirm verbunden wird,
am anderen Ende aber nur mit der Schirmkabine. Der innere Schirm des Messkabels wird
mit dem Oszilloskop, darf aber nicht mit der Schirmkabine verbunden werden. Der Strstrom
fliet dann aufgrund der Stromverdrngung vorwiegend ber den zustzlichen ueren Schirm
und die uere Oberflche der Schirmkabine nach Erde ab. Er wird also am Kabelmantel und
am Oszilloskopgehuse vorbeigeleitet.
Abb. 17.5: Ferrite zur Erhhung der Kabelmantelimpedanz

Durch Ferritkerne, die ber das Messkabel geschoben werden, wird die Impedanz des Kabelmantels erhht und damit der Strstrom noch strker auf den ueren Schirm gezwungen
(s. Abb. 17.5, [2]).
17.1.8 Prfung der Strbeeinflussung

Die Prfung der Strbeeinflussung wird durchgefhrt zum Nachweis einer hinreichend kleinen
Empfindlichkeit des Messgertes (z.B. Oszilloskop) gegenber Strungen. Diese Empfindlichkeit ist definiert als die Ablenkung, die irgendein Signal bewirkt, das auf irgendeinem Weg
auerhalb der Eingangsklemmen in das Messgert eingekoppelt wird.
Bei den Prfungen wird unterschieden zwischen der Prfung der Gesamtstrbeeinflussung
des Messgertes und den Einzelprfungen zur Strfestigkeit gegenber den einzelnen verschiedenen Strungsursachen. Hier soll jedoch nur die Prfung der Gesamtstrbeeinflussung
behandelt werden.
Whrend dieser Prfung soll der Messaufbau (Erdung, Lage der Mess-, Steuer-, Versorgungskabel) und der Hochspannungskreis (Standort des Stospannungs- bzw. Stostromgenerators
sowie gegebenenfalls der Belastungskapazitt, der Abschneidefunkenstrecke, des Hochspannungsteilers und des Messshunts) mglichst genauso aufgebaut sein wie bei der Messung. Das
Messkabel soll am teilerseitigen bzw. messshuntseitigen Ende kurzgeschlossen und genauso
geerdet sein wie bei der blichen Messung. Bei der Strbeeinflussungsprfung soll nun der
Stogenerator auf die entsprechende Ladespannung aufgeladen und gezndet werden. Soll das
System fr die Prfung mit abgeschnittenen Stospannungen verwendet werden, so mu auch
die Strbeeinflussungsprfung mit abgeschnittenen Stospannungen durchgefhrt werden.
Das Ergebnis der Prfung gilt als zufriedenstellend, wenn die maximale Ablenkung der
Referenzlinie auf den Oszilloskopschirm geringer ist als 1 % der fr die Messung erwarteten
Ablenkung.
17.1.9 Strfestigkeitsprfung
nach [2]
Leistungsumfang und technische Spezifikation WWL-Mikrotron
145
Anhang HF-System
7.2.12 Ionisierende Strahlung

(a) Die Maximal zulssige ionisierende Strahlung darf 0,1 Sv/h nicht berschreiten.
Abb. 17.6: berblick Strfestigkeitsprfung
(b) Magebend ist der Wert, der auerhalb der in Kapitel 7.2.3 Anlagen-Layout
definierten Gehuse nachgewiesen werden kann. Zu beachten ist, dass ohne
zustzliche Bleiabschirmung der Kollektor des Klystrons diesen Wert im Betrieb
berschreitet.
17.1.10 Beispiel EMV-Spezifikation

7.2.13 EMV-Schirmung
(a) Alle mit Leistung gepulsten Baugruppen und Gertschaften sind in hermetisch
nach
HF-Gesichtspunkten
abgeschirmten
Gehusen
unterzubringen,
Hochstrompulse fhrende Leitungen sind auerhalb der geschirmten Gehuse
triaxial auszulegen, wobei der uere Schirm nicht die Pulsstrme fhren darf und
lediglich die geschirmten Gehuse untereinander verbindet.
(b) Die Beplankungen (auch Tren) von Gehusen, die mit hohem Strom gepulste
Signale enthalten, sind entlang der gesamten Anschlagsflchen mit hochfrequenztauglichen Kontakten (z.B. Federkontaktstreifen) zu versehen.
(c) Netz- und Hilfsspannungszufhrungen sowie Signal- und Steuerleitungen sind
ber Durchfhrungsfilter in die geschirmten Gehuse gefhrt.
(d) Luftein- und Auslsse der geschirmten Gehuse sowie ihre eventuellen Durchbrche fr Lichtwellenleiter oder Kunststoffrohre oder Schluche drfen keine
Unterbrechung der Schirmung darstellen und mssen entsprechend EMV-tauglich
ausgefhrt werden.
(e) Diese Spezifikation ist selbst dann zu beachten, wenn hiermit die Forderungen
Abb.
17.7:2.3.7
Auszug
aus einer
EMV-Spezifikation
entsprechend
Kapitel
Strpegel
verschrft
werden sollten.
7.2.14 Dokumentation
Die Dokumentationen zu dem Anlagenteil HF-Modulator erfolgen entsprechend den
Spezifikationen in Kapitel 2.4 Technische Dokumentation.
Spezifikationen
den KomponentenVertrglichkeit. 4. Aufl. Springer, Juli 1996.
[1] 7.3Adolf
J. Schwab. zu
Elektromagnetische
ISBN : 3-540-60787-0.
7.3.1 HF Signalquelle
[2] Adolf J. Schwab und W. Krner. Elektromagnetische Vertrglichkeit. 5. Aufl. Springer,
Der Auftraggeber
empfiehlt zur Speisung der HF-Anlage die Verwendung eines
Sep.(a)2007.
ISBN : 3-540-42004-5.
quarzstabilisierten Frequenzsynthesizers mit folgenden Spezifikationen:
Seite 39/86
Teil V
TE - Teilentladungen und ihre Messung
Kapitel 18
Entstehung von TE
Unter Teilentladungen (TE) versteht man elektrische Entladungen, die Isolierungen zwischen
zwei Leitern mit unterschiedlichem Potential nur teilweise berbrcken. Fr die Entstehung
von TE sind sowohl inhomogene1 elektrische Felder als auch die berschreitung der lokalen
elektrischen Festigkeit der beanspruchten Isolierung notwendige Vorraussetzungen. Unterhalb
des Paschen-Minimums kann es nicht zu Teilentladungen kommen.
Teilentladungen zeigen generell ein komplexes, stochastisches Verhalten. Dies wird einerseits
durch den Entladungsvorgang selbst (Verfgbarkeit des Startelektrons), insbesondere aber
dadurch verursacht, dass jeder einzelne TE-Impuls die Zndbedingungen fr den nachfolgenden TE-Impuls verndert. So beeinflusst jeder TE-Impuls das fr die Zndung des nchsten
TE-Impulses magebliche lokale elektrische Feld durch Ladungsbewegung, Oberflchenund Raumladungsaufbau. Der Oberflchen- bzw. Raumladungsaufbau unterliegt ebenso wie
Rekombinationsprozesse materialspezifischen Zeitkonstanten und dem lokalen elektrischen
Feldverlauf.
Bei TE-verursachter chemische Zersetzung ndert sich ggf. die Geometrie der Fehlerstelle, es
kann z.B. zu Gasdruckaufbau, leitfhigen Zersetzungsprodukten u.. kommen, dies verndert
die TE-Zndbedingungen kurz- und langfristig. Das TE-Zeitverhalten kann dadurch abhngig von den beteiligten Isoliermedien konstant, ansteigend oder abnehmend sein. In einigen
Fllen kann es auch zum vollstndigen (zeitweisen) Aussetzen der Teilentladungen kommen.
Einen berblick ber den Inhalt dieses Kapitels zeigt Abbildung 18.1.
Nach dem Ort ihres Auftretens werden uere und innere TE unterschieden. Die Feststellung
und Lokalisierung innerer TE steht im Zentrum entsprechender prfund messtechnischer
Bemhungen, da innere TE i.a. zur Degradation feststoff- genauer kunststoffisolierter Systeme
und letztendlich zum Versagen (Durchschlag) des Isolationssystems fhren. uere TE mssen
dagegen durch geeignete Manahmen verhindert werden, um eine empfindliche Messung
innerer TE zu gewhrleisten.
18.1 Klassifikation von TE

Nach [1] knnen TE nach den Medien, in denen sie auftreten, klassifiziert werden:
Gase (Abb. 18.2)
Flssigkeiten (Abb. 18.3)
Feststoffe (Abb. 18.4)
In diesen Medien knnen Teilentladungen in den dargestellten, typischen Anordnungen auftreten.
1
Bei homogenen oder schwach inhomogenen Feldern fhrt die berschreitung der elektrischen Festigkeit
unmittelbar zum vollstndigen Durchschlag.
149
150
18 Entstehung von TE
Ausbreitung
Ladung
Zeit
Frequenz
berkopplung
chemisch
Signale
optisch
induktiv
Wirkungen
Feld
akustisch
optisch
kapazitiv
akustisch
elektrisch
Auskopplung
Ladungstransfer
Eigenschaften
statistisch
schmalbandig
quasibreitbandig
Messung
Auswertung
direkt
Messverfahren
HF
VHF
UHF
akustisch
optisch
chemisch
Transformatoren
analog
digital
TE
GIS, GIL
Kalibrierung
uere
TE
Typen
Betriebsmittel
Motoren,
Generatoren
electrical
treeing
Kabel,
Garnituren
OberflchenTE
Strungen
innere
TE
Quellen
Unterdrckung
3PARD
3PTRD
3CFRD
CW
Impuls
CPWA
Filter
Gating
Schirm
Abb. 18.1: TE-berblick
Die Klassifikation von TE-Quellen kann auch nach dem Einfluss des Oberflchen-Beitrags zur
Ionisation erfolgen [2], dies zeigt Abbildung 18.5.
151
Abb. 18.2: TE-Fehlstellen in Gasen
Abb. 18.3: TE-Fehlstellen in Flssigkeiten
Abb. 18.4: TE-Fehlstellen in Feststoffen
152
Abb. 18.5: TE-Klassifikation
153
18.1.1 uere TE: Korona

Die wohl am lngsten bekannte Erscheinungsform von TE sind die ueren TE oder Korona,
die z.B. an scharfen Kanten oder Spitzen luftisolierter Betriebsmittel auftreten. Insbesondere
die Funkstrung durch Korona an Hochspannungsfreileitungen fhrte zu ersten Vorschriften
[3], die Grenzwerte fr Funkstrspannungen derartiger Betriebsmittel festlegten. Es handelt
sich hierbei nicht um isolationstechnische Grenzwerte, sondern um Grenzwerte fr die Beeinflussung empfindlicher Systeme (Radio, Fernsehen), also um Problemfelder, die heute im
Rahmen der EMV behandelt werden. Luft wird als selbstheilendes Isoliersystem durch TE
nicht gefhrdet. Da uere TE nicht nur Funkstrungen, sondern auch Wirkverluste verursachen, werden beispielsweise Freileitungen durch Bndelleiter feldtechnisch so dimensioniert,
dass die Koronaverluste klein sind. Weitere Sekundrerscheinungen uerer TE werden im
Abschnitt 19.1.4.1 erlutert.
Abb. 18.6: Polarittseffekt bei ueren TE durch Raumladungen
Die Vermeidung uerer TE hat groe Bedeutung fr die Realisierung empfindlicher TEPrfkreise, da uere TE hierbei als Strer betrachtet werden mssen, die sich der eigentlichen
Messung berlagern.
18.1.2 Oberflchenentladungen
Treten TE an der Grenzflche zwischen Luft und einem festen Isolierstoff auf, so spricht man
von Oberflchenentladungen. Eine typische Erscheinungsform von Oberflchenentladungen
sind Gleitentladungen.
Obwohl die Amplitude von Oberflchenentladungen sehr viel grer als die innerer TE sein
kann, ist die zerstrende Wirkung in der Nhe der TE-Einsetzspannung wegen der tangentialen
Einwirkung in der Regel gering und fhrt erst nach sehr langer Einwirkzeit zum Versagen der
Isolierung. Wird die TE-Einsetzspannung deutlich berschritten, so nimmt die Temperatur
der Gleitentladung stark zu und es kommt zu einer thermischen Zerstrung des Isolierstoffs
(s. Abschnitt 19.1.4.3).
154
18.1.3 Innere TE: Hohlraumentladungen

Innere TE wurden ursprnglich bei der Messung der dielektrischen Verluste von Isoliersystemen bemerkt. So ist bei der Verlustfaktormessung von l-Papier-Isolierungen der sogenannte
Ionisationsknick bekannt, ein berproportionaler Anstieg des Verlustfaktors ab einer bestimmten Spannungshhe. Hierbei treten innere TE als Volumeneffekt mit einer so hohen Amplitude
und Hufigkeit auf, dass sie messbar zu den Wirkverlusten beitragen. Der Ionisationsknick
bei l-Papier-Isolierungen ist ein indirektes Ma fr ihren Feuchtegehalt. Fr neue, trockene
l-Papier-Isolierungen hat der Ionisationsknick keine praktische Bedeutung.
Kritisch sind innere TE aber bei allen Kunststoffisolierungen, insbesondere bei Einstoffdielektrika. Im Unterschied zu anorganischen Isolierstoffen (Glas, Porzellan, Keramik) werden
organische Isolierungen durch die Einwirkung von TE zerstrt (s. Abschnitt 19.1.4.3).
Abb. 18.7: Hohlraumentladung

Ursachen fr das Entstehen von TE in festen Isolierstoffen knnen z.B. leitfhige Verunreinigungen oder Lunker (Hohlrume) sein, also Fertigungsfehler, die zu einer lokalen berschreitung der elektrischen Festigkeit des Isolierstoffs und damit zu inneren TE fhren.
In der Umgebung innerer Fehlstellen treten bei organischen Isolierstoffen irreversible Zerstrungen des Dielektrikums auf, die zur Ausbildung von verstelten TE-Kanlen (treeing,
s. Abschnitt 18.1.4) fhren knnen.
Mit dem Auftreten innerer TE ist hufig eine Verkrzung der Lebensdauer eines Gertes
verbunden. Es ist daher durch entsprechende Dimensionierung, Konstruktion und Fertigungsberwachung dafr Sorge zu tragen und in der Regel auch durch Prfungen nachzuweisen,
dass Betriebsmittel der elektrischen Energietechnik zumindest bei Betriebsspannung teilentladungsfrei sind.
18.1.4 Electrical treeing

Innere TE knnen in festen organischen Isolierstoffen ein kanalartiges Wachstum (treeing)
in Feldrichtung verursachen, das schlielich die Elektroden unterschiedlichen Potentials
verbindet und so einen vollstndigen Durchschlag einleitet [4].
Bild 18.8 zeigt electrical trees in einem Plexiglasblock, die sich nur in einer Ebene ausgebreitet haben. Dies wurde erreicht, indem der Plexiglasblock mit Elekronenstrahlen konstanter
Energie und damit Eindringtiefe beschossen wurde, die in genau einer Ebene eine hohe
Raumladungsdichte verursachten. Danach wurde mit einer geerdeten Spitze eine rckwrtige
Entladung ausgelst. Das natrliche Wachstum von electrical trees erfolgt natrlich umgekehrt
und beginnt an der Stelle hchster Feldstrke.
155
Abb. 18.8: electrical trees in Plexiglas
on the hasis of the oscilloscope

Kapitel 19 Figure 6 shows a typical pattern of the temperature
the non-inductive reference resistor rise on the sample surface being obtained by using the
to the sample (figure 1).Eigenschaften
Maximal thermovision
vondevice
TE in the IR spectrum. It can be seen
that the character of changes of the radiation in visible,
the PD-detector was 0.1 pC.
DPE samples with a needle-plane UV and IR wave spectra during the tree inception and
tion were used in this study (figure growth is identical in spite of the difference in the
mm in diameter with tip radius r of nature of the processes causing applicable radiations.
ed as a HV electrode. The bottom Radiation from the sample under test over a wide
was painted by a conductive powder frequency specwm may be caused by various processes
such as electroluminescence before the tree inception,
opposite planar electrode.
ionization and recombination inside the tree channels
and voids, dielectric loss, etc.
TE verursachen am Ort ihrer Entstehung sehr kurzzeitige Stromimpulse, die mit der Emission
von Schall, Licht, Wrme und in der Regel mit chemischen Reaktionen verbunden sind. TE
verursachen Wirkverluste.
19.1 Wirkungen von TE

19.1.1 Elektrische Wirkungen
Bei einer Teilentladung kommt es zu einem unipolaren Stromimpuls mit einer typischen
b )Anstiegszeit < 1 ns und typischen Impulsdauern von ca. 5. . . 20 ns. Dem Zeitverlauf der
Teilentladung
entspricht ein Spektrum, dass von DC bis in den Bereich einiger GHZ reichen
onfigmuon: a, the front view: and
b, the leftkann.
Die Ausbreitung von TE-Impulsen inund auerhalb energietechnischer Betriebsmittel fhrt
he samples was equal to 50 mm and

a)
b)
C)
zwar i.a. zu einer Begrenzung der Bandbreite, doch kann der hochfrequente Charakter uerer
th of a needle tip from a TE
surface
h
Figure
j
:
The
sample
Photographs
of
the
LDPE
sample
in
a visible (a
im Nahbereich zu Funkstrungen fhren. Die Messung von TE-verursachten
Funkstrunrange of 3.5 ...4.0 mm. Thegen
distance
and
b)
and
UV
(c)
specm:
a,
h
e
virgin
sample
without
voltage
begrndete die Entwicklung der TE-Messtechnik (s.22).
and plane was 7 mm. The test of aoolication: b. and c. under AC voltaee.
ormed under SO Hz ACAbbildung
voltage19.1 zeigt das Oszillogramm eines realen TE-Impulses, der bei electrical treeing in
PE gemessen
air. The test voltage was applied
to wurde [5].
.
esults and discussion
tree inception by using the opticalctor, it was found that the radiation
had appeared (figure 3).
appearance of the radiation is
e inception of PDs within tree
f PD-impulses being simultaneously

adiation appearance is demonstrated
established that both the radiation
ctivity are increased with the treeThe amplitude of PD-impulses is
urthermore, the front duration of PDwith time for the same sample as
5.
Abb. 19.1: TE-Impuls bei electrical treeing in PE
Figure 4: Typical farm of a single impulse of partial discharges

detected during a negative half-cycle of the applied voltage.
19.1.2 Akustische Wirkungen

Eine Teilentladung erzeugt genau wie ein vollstndiger Durchschlag eine Druckwelle,
die als Schallimpuls oder Vibration erfasst werden kann. Bild 19.2 zeigt Oszillogramme
157
229
polarization.
Figure 6 illustrates time plots for AE pulses generated in the pointplane system at the time interval of 4.096 ms. This interval covers the
158
19 Eigenschaften von TE
whole acoustic event occurring in one voltage half-cycle.
The characteristicsTE-Impulse
are plottedeiner
separately
for A E pulsesingenerated
during
positive
akustischer
Spitze-Platte-Anordnung
l, Bild 19.3
die entsprechenden
Spektren
[6].
and negative
voltage polarizations.
-$I
Figure 7 . Amplitud
in oil in the poin

voltage half cycles.
PD
"
05
I S
21
3.5
No.
[msl
oositive mlarization
1 Maximumvalue
2 f a t m a x . value
3 Meanvalue
4
5
6
7
8
9
0
05
IS
25
1s
ii
[msl
negatlve polarization
19.2:
in l generated
im Zeitbereich
Figure 6.Abb.
Time
plotAkustischer
of a seriesTE-Impuls
of AE pulses
by PD
in oil
in the point to plane system during the positive and negative voltage
half cycles.stellen akustische Signale von moving particles dar, kleine Partikel, die in
Eine Besonderheit
gasisolierten Schaltanlagen unter Einwirkung des elektrischen Feldes in Bewegung geraten,
sich vom Boden lsen knnen und dann bei Zurckfallen ein (rein mechanisches) AufprallGerusch
Theverursachen.
frequency spectra determined for AE pulses generated in the
point to plane system are depicted in Figures 7 and 8, the first showing
the amplitude spectra and the second the energy density. The frequency
characteristics
are plotted separately for both voltage half-cycles, with
19.1.3
Optische Wirkungen
the time interval equal to 4.096 ms. The values of descriptors associated
withimthe
spectra von
of Figures
and
8 are specifiedFeldregionen,
in Table 1,z.B.
separately
Bereits
Vorstadium
TE wurde7 in
hochbeanspruchten
vor einer in
VPE
Nadelelektrode,
Elektrolumineszenz
(EL) beobachtet
EL zeigt
offenbar
foreingebetteten
the two voltage
polarizations
and the amplitude
and [7].
energy
density
die elektrische Degradation des (berbeanspruchten) Materials als Vorstadium von TE an. Erst
mitspectra.
dem sogenannten Initialaufbruch kommt es zu messbaren TE-Impulsen, die deutlich
strkereFor
Lichtsignale
als ELFigure
emittieren.
comparison,
9 presents
Descriptor
the collection plots of amplitude
Diespectra
Spannungsabhngigkeit
der EL-Intensitt
und EL-Spektren
bei LDPEpolarization,
zeigen die Abbilobtained for both
positive and
negative voltage
dung 19.4 und 19.5 [8].
Die optischen TE-Spektren in SF6 zeigt Abb. 19.6 [9].
Abb. 19.7 und 19.8 zeigen optische Spektren von TE in l [10].
TE-Lichtemission zeigen ihre maximale spektrale Intensitt im UV-Bereich 230-405 nm
Wellenlnge. In der Dunkelheit knnen schwache optische Erscheinungen mit Hilfe eines
Restlichtverstrkers sichtbar gemacht werden. Abb. 19.9 zeigt die entsprechenden Lichterscheinungen bei electrical treeing in Plexiglas.
Mit geeigneten schmalbandigen optischen Filtern und entsprechender Verstrkung der gefilterten Signale ist es mglich, uere TE (Korona) auch bei Tageslicht sichtbar zu machen und so
rmsvalue
Peak factor
Valiance
Std. deviation
Median f
Bandwidth
of dominant f
(a) LDPE and (b) PET films.
Fig. 4: EL t
Vol. 8 No. 4, Aug
IEEE
Dielectrics
and Electrical Insulation
E.
ELTransactions
Temporal andon
Integral
Measurement
159
The temporal
behaviour of the light emission intensity
U6
during the stepped increase in applied voltage for LDPE and
PET are shown in Fig. 3 and 4 respectively. The light emitted
started at a threshold voltage of approximately 3-4 kV rms and
S
increased with
increasing applied voltage. Similar threshold
[I~V~HZI
voltage behaviour has been obtained by Mary et al [9] for
polyethylene naphthalate (PEN).
The emission was also stable within the period of time under
U
a constant voltage,
with the observed fluctuations consistent
f Ik-I
with photon counting statistics
(standard deviation equal to the
positive polarization
square root of the number of counts) which is a characteristic
of EL emission. The noise level corresponds to the sum of
readout noise sand dark current level. In general, all the tested
samples showed
[InV?HZ] the same behaviour of emission against time
U4
when ac voltage
was increased.
Fig. 5 shows the averaged light intensity obtained at constant
voltage versus the applied ac stress for both LDPE and PET
film samples. UThe error bars represent plus and minus one
standard deviation obtained from the series of exposures taken
at each voltage level. The light
for PET is significantly
negativelevel
polarization
higher than LDPE after the threshold voltage.
Figure
8. 19.3:
Energy
density spectrum
of ainseries
AE pulses generated
Abb.
Akustischer
TE-Impuls
l imofFrequenzbereich
by PD in oil in point to plane system d u r q the positive and negative
9
1550
voltage
half cycles.
Average Intensity (counts/0.5s)
1450
(14
02
8
1450
1350
5
1250
4
3
1150
Applied Voltage (kV)
Intensity (counts/0.5s)
2
1050
1
Noise Level
950
0
0
12
16
20
24
28
32
36
Time (minutes)
Abb.Fig.
19.4:3:
Spannungsabhngigkeit
der EL-Intensitt
bei LDPE
EL temporal behaviour
for LDPE.
1150
1050
06
1250
950
"1
02
1350
Fig. 5: EL intensity
F. EL spectral measur
Fig. 6 and 7 show th

LDPE and PET samp
wavelength was calibra
filters and sample and
The total light intensi
spectral measurement i
stable, which was foun
Figure 10. Time plots f
voltage
applied.
For pol
bo
and negative
voltage
noise of the CCD came
For both spectra, th
achieved its maximum
high red component
electrode effect [10]. I
detected over the sp
(consistent with previo
for PET. The graphs a
into the near infra-red
that PET has a broader
ultra violet.
The graphs also show
for each material does
zu lokalisieren (s. Abschnitt 20.7.4.3). In Abb. 19.10 sind die optischen Spektren von Korona
und Sonnenlicht dargestellt. I I k H Z l
*lk*1
po*Illvs polarization
negetlw polrrlzabon
Figure 9. Amplitude spectra for AE pulses generated in the pointplane system during the positive and negative voltage polarizations
19.1.4 Chemische Wirkungen
and the following time intervals: (a) 32 ps, (b)1.024 ms, (c) 4.096 ms.
19.1.4.1 Chemische Reaktionen der Luft bei Korona
168
interval 4.096 ms, separately for both voltage polarizations. In order to

discriminate between various PD types, the following denotations are
Bildung von Ozon und Stickoxiden, typischer Geruch
introduced: (a) surface discharges in oil, (b) gas bubble discharges in
oil, (c) discharges in indeterminate-potential particles moving in oil.
IDENTIFICATIONANALYSIS OF
A SPECIFIC PD
Fa.nl".
Falmzatl
Figure 11. Energy den

three analyzed PD types
larizations and the time i
of analyzed time intervals

spectra. Figures 12 and 13
tained for the four PD typ
are drawn making use of s
generated at the positive (
160
field. The light intensity increases with the increasing electrical

field at all wavelengths.
REFE
1200
1. Laurent, C., Massines, F. an

due to space charge effects in
IEEE Trans El., Vol. 4 No. 5, O
1000
Intensity (counts/15s)
800
600
40kV/mm
50kV/mm
60kV/mm
400
200
0
400
450
500
550
600
650
700
750
-200
Wavelength (nm)
2. Cariou-Saintemarie, N., D
Electroluminescence
meas
insulation, Eighth Internatio
Materials, Measurements a
No.473, 2000, pp. 430-3.
3. Laurent, C., Mayoux, C.

electroluminescence during a
Phys., Vol. 58, No. 11, 1985, p
Abb. 19.5:
der EL-Spektren
Fig.Spannungsabhngigkeit
6: Spectral measurement
for LDPE.bei LDPE
Intensity (counts/15s)
discharges in SF6 gas

4. Alison, J.M., Champion, J.V
spectral lines in the
Dynamic
bipolar
re
0
- 800 nm .
1600
he spectrum in Figure 5
electroluminescence in poly
ws clearly the different
electrical tree initiation, J.
1400
ctral lines according to
1995, pp. 1693-1701.
applied voltage.
Both
1200
tinct peaks near the
m, 358 nm, 380 nm, and
1000
5. Champion, J.V., Dodd, S.J.
many
spectral lines.
40kV/mm
o of spectral intensity
measurement of light emissi
50kV/mm
800
near 340 nm ( excluding
electrical breakdown in epo
60kV/mm
aks probably emitted by
600
resins, J. Phys. D: Appl. Phys
an U times in Figure 5,
in
Figure 6.
819-28.
400
he spectral intensity
increase of wavelength
200
6. Wong,
K.I.,
Lewin,
0 nm(spectra1 lines 337,
230 340 450
560
670
780
890
ed) . But in the case
Electroluminescence
phenom
0
Wavelength
( m )
application (Figure 6 ) ,
400
450
500
550
600
650
700
750
film
under
applied
ac
voltage
were observed near 3110
Wavelength (nm)
Figure
7 . Emission
spectrum of inneedleAbb. 19.6:
TE-Lichtemissionsspektrum
SF6
a spectral line near
Electrical Insulation and Die
plane electrode discharge in the SF6 gas
.
No.03CH37471, 2003, pp. 245
Fig. 7: Spectral
for PET.
show that the
spectra
( 4 1 aluminium
wiremeasurement
)
wave1
the U00 -500 nm
19.1.4.2 Chemische Reaktionen
von SF6
were caused by corona
0
7. T. Mizuno, Y.S. Liu, W. Sh
needle point, seem to be
Investigation of charge
l
Applied
Voltage:G
-50kV
y the applied voltage
IV. CONCLUSIONS
polyethylene
by measurement
' Needle(Ql)-Plane
Electrode mit vorhandener Restluft
Bildung von SF6 -Zersetzungsprodukten,
Reaktionsprodukte
und
z
Restfeuchtigkeit, u.U.
hochtoxische Zersetzungsprodukte [11]
EL measurements have been made in two different

spectrum of creepage
ge was applied
to the
polymeric materials, LDPE and PET. In general, for the same
stuck on the insulation
applied voltage, the electroluminescence intensity was
) is very similar to
Degradation organischer
Isolierstoffe
significantly
greater for
PET compared with LDPE. The
edle-plane discharge 19.1.4.3
.
voltage, Jpn. J. Appl. Phys., V
8. Dodd, S.J., Lewin, P.L. an

electroluminescence measurem
spectra for both these materials were similar but EL from PET polyethylene using a charge
edle-plane
Trans. Dielectrics and Electr
had a greater
spectral range
that extendsGasdruckaufbau,
below 450 nm,
whilst, Tracking,
ture at the tip:0.5mm)
Bindungsenergie
der C-C-Bindung,
Materialerosion,
Treeing
for LDPE,anorganischer
EL was only
detected above
500 nm. TheEpoxidharz-Glimmer
different 2006, pp. 168-180.
Unempfindlichkeit
Isolierstoffe,
Verbundisolierstoffe:
the emission spectrum
of
spectra relate to different energy states for radiative decay in
(Barrierenisolierung)
arge
using a needle
D.,
Teyssedre,
230 materials.
340 450PET 560
670 contain
780 an
890aromatic 9. Mary,
molecules
curvature at the tip:0.5 the two different
Electroluminescence
in satu
distance of 15 mm, and molecular backbone and hence
do contain
in the
Wavelength
( MI chromophores
1
voltage.
The result
repeat units
of the
chain
[1]. In of
pureneedlepolyethylene, dependence and correlation w
7 and 8.
Figure
8 .polymer
Emission
spectrum
19.1.5
Reduzierung
der
Lebensdauer
von
Isoliersystemen
plane electrode
gas
nitudes in both figuges
chromophores
should notdischarge
be present in
butthe
maySFs
be introduced
as 2003 Annual Report Conferen
t in Figure 6.
(
1 aluminium wire )
Dielectric Phenomena, IEEE C
ensity ratio between the an impurity or additive [1]. It is this difference in the molecular
structure
of these polymers
give rise to the difference in
and the shorter
c. Discharge
from that
floating-electrode
10. Teyssedre, G., Cisse, L
Figure 7 , is
AC voltage was applied to the electrodes
smaller EL spectra.
re 6.
In Figure 8,
shown in '?inure 2.c . The floatinn electrode
Identification of the compon
is about 20mm in diameter. Figure-9 shows
can hardly be observed.
spectrum of PE excited in unif
the result.
lt shows that the ratio
The discharge magunitude was about 1200 pC
ity near 500 nm to
6, No. 1, February 1999, pp. 11
near 3110 nm varied

magnitude of discharge.
e spectra in the figures
ording
to
the test
and
the frequency was about

100 pps.
A condensing mirror was not used here.
Spectra
were observed in almost all the
measured range as in the needle-plane
discharge; however , no
peak was observed
161
Intensity
m]
8 00 . 00
10 00 . 00
nm ]
matrix sensitivity on the
Wavelength [ nm ]
Abb. 19.7: TE-Lichtemissionsspektrum in l
Fig. 2. Optical spectrum of partial discharges generated in the pointpoint system in oil, at the voltage of 0.8Ub.
ctrical discharges of the

upplied from a standard
tage adjustment from 0
a transformer tub filled
ub was tightly closed by
s made through which a
was introduced. The
oom with no additional
IPH TRAINING
Intenisty
Unit A1
meters of the particular

measuring line and the
were carried out have
2007
PD effects
Introduction to
PD Measurements
Degradation 3
Abb. 19.8: Spannungsabhngigkeit des TE-Lichtemissionsspektrums in l
MEASUREMENT
Wavelength [ nm ]
Fig. 3. Optical spectrum of surface partial discharges generated in
shows the influence of

harge generation in the
n oil in the range from
average light radiation

of the electric arc
in the point-point spark
he constant value of the
ng distance between the
Intensity
e light radiation spectra oil, at the voltage of 0.8Ub.

erated in the system
t type in oil (Fig. 2) and
plying voltage equal toAbb. 19.9: Lichterscheinungen bei electrical treeing in Plexiglas (Aufnahme mit Restlichtverstrker
f the spark gaps under
tion spectra emitted by
Isolierstoff
typische mittlere molare mittlere molekulare
Bindung Bindungsenergie Bindungsenergie
of 0.5Ub.
Polyethylen
(PE/VPE)
Polyvinylchlorid
(PVC)
Polytetrfluorethylen
(PTFE, Teflon)
Epoxidharze (EP)
C-C
C-H
C-Cl
348 kJ/mol
413 kJ/mol
328 kJ/mol
3.62 eV
4.30 eV
3.41 eV
C-F
485 kJ/mol
5.04 eV
C-O
358 kJ/mol
3.72 eV
Tabelle 19.1: Bindungsenergie organischer Isolierstoffe
Solar Blind Filter band

162
Corona discha
emit UV radia
from 230nm t
405nm.
405nm
Relative Intensity
100
200
x100
50
300
400
Wavelength (nm)
500
Abb. 19.10: Korona- und Tageslicht-Spektrum (Korona 100-mal verstrkt)
Typical Corona
Emission Spectrum
Corona radiati
radiat
between 240can be detecte
the DayCor ca
at full sunlight
to Ofils solar
filter.
19.2 TE als Signale
163
19.2 TE als Signale

Untersuchungen an verschiedenen Anordnungen haben ergeben, dass TE-Impulse Anstiegszeiten von wenigen ns und Rckenhalbwertzeiten von einigen 10 ns aufweisen. Zum besseren
Verstndnis der TE-Ausbreitung, berkopplung, Impuls-Verformung und Quasi-Integration
werden die TE-Impulse im folgenden als Signale im Zeit- und Frequenzbereich betrachtet.
19.2.1 TE im Zeit- und Frequenzbereich

Vereinfachend wird zunchst angenommen, dass sich ein TE-Impuls i(t) durch eine Doppelexponentitalfunktion darstellen lsst. Zur weiteren Vereinfachung ist die Zeitkonstante fr
beide Exponentialfunktionen identisch. Fr eine konstante Ladung q des TE-Impulses ergibt
sich dann Formel 19.1.
t
t
q
i(t) =
[e (1 e )]
(19.1)
2
Das Maximum im Impulsstromverlauf i(t) wird bei t = ln(2) erreicht. Das Strommaximum
ist proportional zur Impulsladung q und fllt mit dem Kehrwert der Zeitkonstante und
erreicht imax = q/(8 ). Die Impulsspannungsverlufe fr 5 ns 50 ns bei konstanter
Impulsladung q = 100 pC an einer Messimpedanz von 50 zeigt Abbildung 19.11.
0.05
1 = 5 ns
u(t)
0.04
0.03
q=
i(t)dt = const. = 100 pC
2 = 10 ns
0.02
3 = 20 ns
0.01
4 = 50 ns
0.00
2. ! 10"8
4. ! 10"8
6. ! 10"8
8. ! 10"8
1. ! 10"7
t
Abb. 19.11: Doppelexponentialimpulse im Zeitbereich
Mit Hilfe der Fourieranalyse kann das Spektrum der Stromimpulse berechnet werden.
Fr einen beliebigen, nicht-periodischen Stromimpuls i(t) ergibt sich das komlexe Frequenzspektrum F() aus der Fourier-Transformation:
+
Z
F() =
i(t)et dt
(19.2)
Der Betrag des komplexen Spektrums liefert das Amplitudenspektrum:

F() = |F()|
(19.3)
Zur quantitativen Darstellung wird das Amplitudenspektrum F() auf den Wert bei tiefen
Frequenzen 0 bezogen:
F()
F( 0)
bezogenes Amplitudenspektrum
(19.4)
164
1.000
0.500
1 = 5 ns
2 = 10 ns
F ()/F (0)
0.100
3 = 20 ns
0.050
4 = 50 ns
0.010
0.005
0.001
1 ! 106
5 ! 106
1 ! 107
5 ! 107
1 ! 108
5 ! 108
1 ! 109
[Hz]
Abb. 19.12: Doppelexponentialimpulse im Frequenzbereich

Aus Abbildung 19.12 ist ersichtlich, dass die spektrale Amplitudendichte mit wachsender
Frequenz zunchst annhernd konstant bleibt und dem Gleichanteil F( 0) entspricht.
Die -6dB-Grenzfrequenz, bei der die bezogene Amplitudendichte auf die Hlfte gefallen ist,
nimmt mit dem Kehrwert der Impuls-Zeitkonstante ab. Dieser prinzipielle Zusammenhang
gilt unabhngig von der tatschlichen Impulsform.
19.2.2 Ladungsbestimmung im Zeit- und Frequenzbereich

Die Ladung unipolarer Stromimpulse wird im Zeitbereich durch Integration des Stromverlaufs
i(t) bestimmt:
Z
q = i(t)dt
(19.5)
0
QuasiIntegration
im Frequenzbereich
Wie im Abschnitt 20.2 genauer erlutert wird, ist eine TE-Auskopplung mit einer unteren
Grenzfrequenz f1 = 0 i.a. nicht realisierbar. Dadurch geht zwangslufig der Gleichanteil
des Stromimpulses verloren, die Integration im Zeitbereich kann dadurch nur Null ergeben.
In der Praxis wird aber die Integration nach einer endlichen Zeit t abgebrochen, um
eine vertretbare zeitliche Auflsung aufeinanderfolgender Impulse zu erzielen. Bei einer
niedrigen unteren Grenzfrequenz f1 ergibt sich ein Stromverlauf i(t), bei dem der gegenpolare
Signalanteil sich als langer, langsamer Unterschwinger mit sehr kleiner Amplitude ergibt
(s. Abb. 19.13). Die Flche dieses zweiten langsamen Signalanteils A entspricht der Flche
des ersten, schnellen Signalanteils A+ , nur mit umgekehrten Vorzeichen, so dass gilt: A+ +
A = 0. Wird aber die Integration nach endlicher (sehr kurzer) Zeit abgebrochen, kann
der langsame, gegenpolare Signalanteil kaum zur Verminderung der Flche, d.h. der durch
Integration im Zeitbereich bestimmten Ladung q beitragen.
19.2 TE als Signale
165
0.8
i(t)
0.6
0.4
q(t) =
A+
!t
i(t)dt
0.2
0.0
1. ! 10"7
2. ! 10"7
3. ! 10"7
t [s]
Abb. 19.13: Impulsantwort Hochpass-Filter
4. ! 10"7
166
19.2.3 TE-Ausbreitung
19.2.3.1 TE-Ausbreitung durch kapazitive Kopplung
19.2.3.2 TE-Ausbreitung durch induktive Kopplung
19.2.3.3 Leitungsgebundene TE-Ausbreitung
19.2.3.4 TE-Ausbreitung durch Feldemission
19.2.4 berkopplung
Kapitel 20
TE-Messung
Die TE-Messung ist heute eine der wichtigsten zerstrungsfreien dielektrischen Prfmethoden
zum Nachweis der Gte der elektrischen Isolation eines Hochspannungsgertes.
Die TE-Messung dient
der Feststellung kritischer Schwachstellen in der Isolierung

der Lokalisierung von TE-Quellen
der Erkennung der Defektursache
der Einschtzung des Risikos
Einen berblick ber das Gebiet der TE-Messung am Beispiel von Hochspannungs-Kabelgarnituren
zeigt Abbildung 20.1.
Real
World
Interference
Cable system
accessories
AC line voltage
transient overvoltages
PD sensor type
PD sensor
capacitive /
inductive / field
PD Data
Acquisition
PreProcessing
Multiplexer
Multi-channel synchronous
Single-channel
Multi-channel
PD detection
Sensor frequency response

Analog / digital filter
CW reduction
Denoising
Multi-source
separation
Insulation system
design
PostProcessing
Trend analysis
Pattern recognition
Pulse sequence analysis
Defect
identification
Frequency range
HF / VHF / UHF
Pulse reduction
Gating: static / dynamic / 2

Pulse waveform analysis
3PARD / 3PTRD / 3CFRD
Geometry
propagation velocitiy
Experience
Defect
localization
Time domain reflectrometry

2-channel-delta t
spectral interference
Risk assesment
Abb. 20.1: TE-Messung berblick
20.1 Ladungstransfer
Der Transfer des bei einer inneren TE entstehenden wahren Ladungsumsatzes zu den Klemmen eines Prflings wird im folgenden durch das abc-Ersatzschaltbild (auch als PhilippowErsatzschild bezeichnet, s. Abschnitt 22) in Abbildung 20.2 erlutert1 .
1
Ein neuerer Ansatz wird in [12] prsentiert. Obwohl dieser feldtheoretische Ansatz grundstzlich der
vereinfachten Betrachtung mit konzentrierten Kapazitten berlegen ist, erscheint das Verstehen der fr die
TE-Messung wesentlichen Zusammenhnge mit dem Philippow-Ersatzschild hinreichend mglich und leichter
nachvollziehbar.
167
168
20 TE-Messung
dc
c Uc
d
Ua
b
I
II
II
Abb. 20.2: abc-Ersatzschaltbild
Beim abc-Ersatzschaltbild handelt es sich um einen idealisierten Plattenkondensator der Dicke

d mit einem flachen Hohlraum der Dicke dc . Der fehlerfreie Teil der Isolierung (II) wird
durch die Kapazitt a reprsentiert. Die TE-Fehlstelle (der Hohlraum, I) wird durch die
Reihenschaltung der Hohlraumkapazitt c und der verbleibenden Isolierstrecke der Kapazitt
b dargestellt. Der Hohlraumkapazitt c ist eine Funkenstrecke parallel geschaltet, die bei
berschreitung der lokalen Festigkeit zndet. Am Kondensator liegt die Wechselspannung
mit der Amplitude Ua , die Teilspannung ber dem Hohlraum wird mit Uc , die Teilspannung
ber der verbleibenden Isolierstrecke als Ub bezeichnet. Dann gilt:
Ua = Ub + Uc
c
Ua
Ub =
b+c
b
Uc =
Ua
b+c
IPH TRAINING
Unit A1
Introduction to
Wenn die Spannung Uc
PD Measurements
a-b-c circuit 2
(20.1)
2007
(20.2)
(20.3)
Principles of
die Durchschlagsspannung U+ des Hohlraums erreicht, entldt sich die

PD
charge
Hohlraumkapazitt2.3.2
c ber
die Funkenstrecke
(s.
Abb.
20.3).
Dietransfer
Spannung ber dem Hohlraum
OCCURENCE
AND REOCCURENCE
OF DISCHARGES
bricht auf eine Restspannung V+ ein, die typischerweise 100 V unterschreitet. Damit verlischt
When the voltage across Cc reaches the breakdown voltage of the cavity, a disdie Teilentladung.charge will occur. The voltage then drops until the discharge extinguishes, and is
called the extinction voltage.

When voltage Uc reaches the
breakdown voltage U+, a discharge
occurs in the cavity. The voltage then
drops to V+ (usually less than 100 V)
where the discharge extinguishes.
This voltage drop takes place in less
than 10-7 s, an extremely short
period compared with the duration
of voltage cycle. After the discharge
has been extinguished, the voltage
over the cavity increases again. The
discharges in the cavity cause
current impulses in the leads of the
sample.
2.5: Voltages Va andbei
Vc in
an ABC model
of a cavity in a dielectric material. The
Abb. 20.3:Fig.
Spannungsverlauf
Erreichen
der Hohlraum-Zndspannung
figure is from [Kreyger 1989], where it is in an 50Hz context.
As it can be seen on Fig. 2.5, the discharge pulses are generated just after the zero
Der Spannungszusammenbruch
im Hohlraum
erfolgt
in einigen
Diese
ist sehr voltviel
crossing. This is different
from corona
pulses,
which arens.
seen
whenZeit
the electrode
age is highest. der anliegenden Wechselspannung. Nachdem die Teilentladung
geringer als die Periodendauer
im Hohlraum verloschen
ist, kann FIELDS
die Spannung
berBY
dem
Hohlraum wieder ansteigen.Sie
2.3.3 ELECTRICAL
GENERATED
DISCHARGES
folgt dann wieder der anliegenden Wechselspannung Ua bis zum erneuten Erreichen der
The electromagnetic fields around a discharge in a cavity in a power cable are
Durchschlagsspannung
U . Jeder Spannungszusammenbruch ber dem Hohlraum verursacht
complex.+The field and charge behaviours of a spherical cavity subject to a uniform
dabei einen Nachladestromimpuls
i(t), derin zunchst
ausothers
der Reihenschaltung
von a undapb
electrical field are described
[Crichton and
1989]. It may be a reasonable
gespeist wird (s. Abb.
20.4), dato die
Schaltung
so imaspect
ersten
proximation
use externe
for a power
cable, assich
longi.a.
as induktiv
the cavity verhlt
is small.und
Another
is
the generation
of a plane
Augenblick vernachlssigt
werden
kann.wave front through the coaxial geometry. Such a wave front
cannot solely be described with the transmission line model. The transmission line
model assumes a geometry, where the length is considerably greater than the cross section dimensions. Hence, a transition zone exists, where neither the principles described
in [Crichton and others 1989] nor the transmission line model is adequate. This problem is far too complex to be treated analytically; concepts such as wave reflections,
induced- and counter-induced voltages, wave velocity etc. are to be considered simul-
Unit A1
Principles of
PD charge transfer
Introduction to
PD Measurements
a-b-c circuit 3
These small current impulses of very high frequency can not move out to the
external, mostly inductive circuit, so we can analyze them in the circuit presented,
obtained from a-b-c circuit.
169
Abb. 20.4: Umladung nach Verlschen der TE
Bild 21.4
neu zeichnen
20.1.1 Wahre Ladung

Im Hohlraum wird dabei die wahre Ladung qs umgesetzt. Die wahre Ladung berechnet
sich aus dem Produkt der momentanen Spannung ber dem Hohlraum Ucinn und der im
Umladevorgang wirksamen Kapazitt Ce , der Reihenschaltung von a und b parallel zu c :
qs = Ce Ucinn
mit
Ce = c +
(20.4)
ab
a+b
(20.5)
Im Moment der Entladung bricht die Spannung Uc auf ungefhr Null zusammen. Nach
Gleichung 20.1 sind dann Ua und Ub praktisch gleich.
Die Spannungsnderung an b ergibt sich fr a b zu2 :
Ub = Ucinn =
b
Ua
b + c inn
(20.6)
20.1.2 Scheinbare Ladung

Die Spannungsnderung Ub verursacht einen Ladungstransfer q, einen sehr kurzzeitigen, also
extrem hochfrequenten Ausgleichsvorgang in der Zuleitung des Prflings, der von der externen
Schaltung gespeist wird. Hierbei wird vorausgesetzt, dass der externe Nachladevorgang von
einer idealen Spannungsquelle erfolgt.
Reale Spannungsquellen verhalten sich aber bei hohen Frequenzen eher als hohe Impedanzen
(Streublindwiderstand des Hochspannungstrafos). Auerdem wird in TE-Prfkreisen die
Impedanz durch einen Sperrfilter Z vergrert, das von der Spannungsquelle kommende
hochfrequente Strspannungen vom Prfkreis fernhalten soll.
Deshalb wird parallel zum Prfling ein Rckschlusskondensator nierimpedant parallel geschaltet, ber den der impulsfrmige TE-Strom i(t) fliet. Dieser Rckschlusskondensator wird als
Koppelkondensator bezeichnet.
q = b Ubinn = b Ucinn =
b2
Ua
b + c inn
(20.7)
Die an den Klemmen des Prflings auftretende (engl.: appearing) Ladung q wird im englischen
Sprachraum als appearent charge, in deutschen Sprachraum leicht missverstndlich als
2
Bei den blichen kleinen Abmessungen eines Hohlraumes gilt stets Cgesamt ' a c b [13].
170
20 TE-Messung
scheinbare Ladung bezeichnet. Im Unterschied zur nicht zugnglichen wahren Ladung qs ist
die scheinbare Ladung q messbar.
Die relevante Norm [14] definiert die scheinbare Ladung in ihrer deutschsprachigen Ausgabe
[15] so:
Apparent charge q , of a pulse is that charge which, if injected within a very short time between the terminals
of the test object in a specific test circuit, would give the same reading on the measuring instrument as the PD
current pulse itself. Is usually expressed in pC.
The apparent charge is not equal to the amount of charge locally involved at the site of the discharge, which
can not measured directly.
Das Verhltnis zwischen der scheinbaren und der wahren Ladung betrgt fr b c :
q=
b
b
qs qs
b+c
c
(20.8)
Da nur die Gesamtkapazitt Cgesamt ' a der Messung zugnglich ist, nicht aber b oder c,
bleibt das Verhltnis zwischen wahrer und scheinbarer Ladung prinzipiell unbekannt. Aus der
Messung der scheinbaren Ladung kann nicht auf den Ladungsumsatz im Hohlraum geschlossen
werden. Generell ist die scheinbare Ladung sehr viel kleiner als die wahre Ladung.
TE-Detektoren messen die Spannungsnderung Ua am Prfling, die durch den externen
Ladungsumsatz q verursacht wird:
Ua =
b
1
q=
qs
a+b
c (a + b)
(20.9)
Die Spannungsnderung am Prfling ist proportional zu q als auch zu qs .
20.1.3 Geometrie- und Materialeinfluss

Im homogenen elektrischen Feld kann der qualitative Zusammenhang zwischen den Hohlraumabmessungen (Flche A und Dicke dc ) und dem Verhtnis q zu qs hergeleitet werden.
Zunchst gilt:
c = c
A
dc
(20.10)
b = b
A
db
(20.11)
und analog
Mit Gleichung 20.8 folgt damit:
ab dAb
b
ab dc
qs =
qs
=
A
c
c db
c dc
(20.12)
Mit db = d dc und dc d ergibt sich so:

q=
b dc
qs
c d
(20.13)
Nach Gleichung 20.4 und 20.5 gilt:

qs c +
ab
a+b
(20.14)
171
und so:
A
(20.15)
d
c
ing operation, gasses may be formed in the insulation.
These gasses may come from
qs c
chemical reactions. The oil filled spaces may then be filled with gas or air. Such a gas
A
filled void has a dielectric permittivity of
(20.16)
q !r=b 1.0.
d
The electrical field in the void is bigger than in the insulation. This is due to field
Die
wahre und[Tnnesen
die scheinbare
Ladung
nehmen
mit zunehmender
Flche
A void
des Hohlraums
enhancement
1995].
The field
enhancement
depends
on the
geometry.
zu
mit zunehmender
d des Prflingsisab.
Fr eineby
konstante Hohlraumgre wird
Forund
a spherical
void, theDicke
field enhancement
governed
IPH
TRAINING
2007
das
Verhltnis
q/qs mit zunehmender Spannungsebene (und damit zunehmender Isolierdicke)
!
3
kleiner,
wird unempfindlicher.
Evoid =d.h. die2 TE-Messung
" E0
( 2.3)
Introduction
to
!
!
2
+
of
Unit
A1
1
2
Die
scheinbare
Ladung
q ist grer bei einem gasgefllten Hohlraum (c 'Principles
1) als bei einem
PD Measurements
lgefllten Hohlraum (c & 2).
PD charge transfer
- where
is the permittivity of the void and !2 # 3.6 is the permittivity of the
!1 = 1.0
a-b-c circuit
11b
In
Abhngigkeit
von den beteiligten
Dielektrizittszahlen
b sowie
der to
Hohlraumgeosurrounding
insulation.
For ellipsoidal
voids with the main
parallel
the electric
c undaxis
metrie
kann es
einer
Feldberhhung
im Hohlraum
(s. Abb.voids
20.5).with the main
field, there
is zu
only
a small
field enhancement,
but kommen
for ellipsoidal
axis perpendicular to the electric field, the field enhancement is close to !2/!1:
E0
E1 # E0"3!!2/(!!1+2!!2)
E2 # E0"!2/!!1
E3 # E0
Fig. 2.2:
Electrical
field Feldberhhung
strength in a spherical
and two ellipsoidal
voids. E0 is the uniAbb.
20.5: Lokale
in Abhngigkeit
der Hohlraumgeometrie
form field in the surrounding insulation, and E1, E2 and E3 are the field strength in the
voids.
Local field enhancement by void geometry
The ellipsoidal cavity in the middle of Fig. 2.2 with the field strength E2 is often
seen in oil impregnated paper insulation, because of the layer build-up of the insula20.1.4
tion. Energie
The AC breakdown strength is 40 80 kV/mm for oil impregnated paper [Tanaka
Die
wird aus
der equivalenten
Kapazittstrength
Ce (s. Gleichung
20.5) und
and TE-Energie
Greenwood w1983],
whereas
the AC breakdown
for atmospheric
air dem
in a
Momentanwert
der
Prfwechselspannung
U
bei
Zndung
der
TE
berechnet:
spherical void with a diameter of 1 mm iscinn
3 4 kV/mm.
For a typical 10 kV system voltage cable,

the peak voltage is 8.2 kV. The insula1
2
w
=
C
U
(20.17)
tion thickness is about 2.6 mm [NKT PowereCables
field
cinn Division 1998]. If the electric
2
is assumed to be uniform (which is a reasonable assumption), the peak electric field
stress is 5 kV/mm. This is above the theoretical value of the AC breakdown strength
for air, 3 4 kV/mm, and a breakdown occurs in the void even without field enhancement. Messbare Ladung
20.1.5
When the field strength in the void is big enough, a partial breakdown occurs. The
breakdown
is limited
to der
theBegriff
void. This
is due to the
higher
breakdown
in auf
the
In
Abschnitt 20.1.2
wurde
der scheinbaren
Ladung
q eingefhrt
undstrength
dabei kurz
oil
filled
surroundings.
This
breakdown
also
called
a
partial
discharge
chemically
die Nachladung durch einen externen Koppelkondensator Ck eingegangen. Um die scheinbare
degrades
the oil and
paper a little.
A gas bubble
is generated,
along with
some fine
Ladung
vollstndig
messtechnisch
zu erfassen,
wre es allerdings
erforderlich,
die Randbedincarbon
particles.
The
electrical
breakdown
in
oil
is
influenced
by
the
presence
pargung Ck Ct (Prflingskapazitt) zu erfllen. Dies ist praktisch nicht mglich, daof
groe,
bis zu hohen Prfspannungen TE-freie Kondensatoren nicht nur sehr teuer sind, sondern auch
die Wechselspannungsquelle erheblich kapazitiv belasten wrden. In der Praxis haben sich
9
Koppelkapazitten von ca. 1 nF bewhrt.
Durch die endliche Kapazitt des Koppelkondensators kommt es zu einer kapazitiven Stromaufteilung, so dass nur ein Teil der scheinbaren Ladung als Ausgleichsvorgang (Stromimpuls)
in der Verbindung zwischen Prfling und Koppelkondensator messtechnisch erfasst werden
kann. Dieser Anteil wird als messbare Ladung qm bezeichnet:
qm = q
Ck
Ck + Ct
(20.18)
172
20 TE-Messung
Das Verhltnis (Ck + Ct )/Ck bzw. q/qm wird auch als Koppelfaktor bezeichnet und bei der
TE-Kalibrierung bestimmt (s. Abschnitt 20.3).
Abbildung 20.6 zeigt das Verhltniss qm /q fr verschiedene Koppelkapazitten als Funktion
der Prflingskapazitt.
Abb. 20.6: TE-Koppelverhltnis

60034-27 TS Ed.1/DTS IEC:200X
11
Das Verhltniss qm /q ist ein wichtiges Ma fr die Messempfindlichkeit bei einer TE-Prfung.
Gleichung
20.18 capacitor,
zeigt, dass
Prfobjekte
mittransmission
groer Kapazitt
Ct hochempfindliche
The high voltage
thefr
coupling
device, the
system and
the input impedance TEof the measurement
represent
a high-pass
filter. Therefore,
increased sind.
input impedance
or
Messgerte
und ein system
mglichst
groer
Koppelkondensator
erforderlich
Wie aber bereits
higher capacitance values lead to an increased sensitivity.
erwhnt, sind der sinnvollen maximalen Gre von Koppelkondensatoren durchaus Grenzen
gesetzt.
Figure 1 shows schematically the frequency response of an idealized PD pulse and the transfer
functions of different PD coupling units with a high voltage capacitor and a resistive measuring im-
Eine
groe
ist side.
nichtThe
nurmarked
fr einen
guten
Koppelfaktor
=R at the low voltage
overlap
of the
spectra of theerforderlich,
PD pulse andsie
thefhrt
pedance
Z mKoppelkapazitt
coupling
unit, here
shown for an RC
constant20.2)
of 5 nanoseconds,
determines
the signalder
energy
bei
gegebener
Messimpedanz
(s.time
Abschnitt
auch zu einer
Reduzierung
unteren
which can be measured. In practical cases such systems show band pass filter characteristics due
TE-Messfrequenz
(s. Abb. 20.7). Dies ist insbesondere fr normkonforme TE-Messungen
to parasitic L and C components.
(quasi-Integration im Frequnzbereich) von Bedeutung.
RC time constant of
coupling unit in [ns] : 5000 500
50
PD pulse
spectrum
time constant of PD coupling unit
for Z m=R: = RC
PD energy
detected
lower cut-off frequency:

f lo = 1/(2RC)
Figure Abb.
1 - Frequency
response
a PD pulse and coupling
of TE-Messfrequenz
various time constants
20.7: Einfluss
derofKoppelkapazitt
auf die units
untere
(the shaded area refers to a time constant of 5 ns)
PD pulses are attenuated and dispersed especially at higher frequencies while propagating through
the winding. Therefore measurement systems with lower cut-off frequency in the lower frequency
range usually provide an average good sensitivity to PD from the whole winding.
When taking measurements on individual winding components the high voltage coupling capacitor
is connected to the copper conductor. For PD measurements on complete windings the coupling
unit is connected to the terminals of the machine or inside the frame directly to the winding conductors.
The following low voltage coupling devices are typically combined with the high voltage capacitor:
RLC filters or four-terminal networks (see IEC 60270) wherein an inductance serves to suppress the power frequency component
High-frequency current transformers (RF-CT) which may also serve to galvanically separate
the high voltage circuitry from the measuring device.
20.2 TE-Auskopplung
173
20.2 TE-Auskopplung
Die messtechnische Erfassung von TE erfordert zuncht die Auskopplung des transienten
Ausgleichsvorgangs zwischen Prfling und Koppelkondensator. Dazu wird (in der Regel)
erdseitig ein Ankopplungsvierpol in die Verbindung zwischen Prfling und Koppelkondensator geschaltet. Hierbei handelt es sich um eine Messimpedanz, an der ein TE-Stromimpuls
einen Spannungsimpuls verursacht, der ber ein angeschlossenes TE-Messgert detektiert
wird. Da die Stromamplitude von TE-Impulsen im A-Bereich liegt, die netzfrequenten
kapazitiven Strme aber deutlich hhere Amplituden aufweisen (bis in den A-Bereich), ist
eine Trennung des niederfrequenten Verschiebestromes und des hherfrequenten TE-Stromes
unabdingbar. Dazu werden Ankopplungsvierpole als Weichenfilter ausgelegt, die nur den
hherfrequenten Stromanteil auskoppeln. Zustzlich realisieren die Ankopplungsvierpole oft
bereits eine Bandpassfilterung, um die erforderliche quasi-Integration der Stromimpulse durch
eine Tiefpass-Komponente zu untersttzen. Abbildung 20.8 zeigt die bertragungsfrequenzgnge verschiedener Ankopplungsvierpole.
10
Dmpfung [dB]
-10
-20
ERA No. 180
ERA No. 180 Mittelanzapfung
-30
ERA No. 197

ERA No. 197 Mittelanzapfung
MPD501 CPL
AKV TUB
-40
-50
0,01
0,10
1,00
10,00
100,00
Frequenz [MHz]
Abb. 20.8: Messbandbreiten von TE-Ankoppelvierpolen

Die Auskopplung von TE aus einem Prfobjekt wird normkonform in einem der beiden
grundlegenden Prfkreise nach [14]) durchgefhrt. Die Messimpedanz Zmi liegt entweder in
der Erdleitung des Koppelkondensators CK (s. Abb. 20.9) oder in Serie zum Prfobjekt Ca
(s. Abb. 20.10).
Am gebruchlichsten ist die TE-Auskopplung nach Abb. 20.9, da die Prfobjekte oft nicht
gegenber Erdpotential isoliert aufgestellt werden knnen und bei dieser Anordnung wegen der gesicherten hohen Spannungsfestigkeit des Koppelkondensators CK keine Gefahr
von Durchschlgen auf das Messsystem besteht. In dieser Variante kann die Messimpedanz
Zmi mit dem Koppelkondensator CK fest verbunden bleiben, dies vermeidet Fehler und
spart Zeit. Bei der TE-Auskopplung nach Abb. 20.10 ist aber, unter Bercksichtigung der
zum Koppelkondensator CK immer parallel liegenden Streukapazitten, eine etwas hhere
Messempfindlichkeit zu erreichen.
Diese beiden Varianten der TE-Auskopplung werden auch als Direkt-Detektionsmethoden
(straight detection) bezeichnet.
Weitere Auskopplungsverfahren zur besseren Strunterdrckung werden in den Abschnitten
20.6.3 und 20.6.4 erlutert.
Da die zu messenden impulsfrmigen TE-Strme meist im A-Bereich liegen, ist die Prfund Messschaltung besonders empfindlich gegenber Strungen, so da bei der TE-Messung
im allgemeinen umfangreiche EMV-Manahmen erforderlich sind.
CD Ankopplungsvierpol (Messimpedanz Zmi )
60270 IEC:2000
61
60270 IEC:2000
61
Alternative
position
Autre position
possible pour
le CD
Alternative position for CDfor CD
174
Z
UU~~
CD
Alternative
position
Autre position
possible pour
le CD
Alternative position for CDfor CD
CCkk
CCaa
20 TE-Messung
CD
OL
CCkk
CCkk
CCaa
UU~~
OL
CC
ZZmi
mi
CD
ZZmi
mi
CCkk
MI
CC
CD
MI
IEC
2229/2000
2229/2000
Figure 1a Coupling device CD in series with the couplingIEC
capacitor
Figure 1a Coupling device CD in series with the coupling capacitor
Abb. 20.9: TE-Auskopplung in Reihe mit dem Koppelkondensator

Z
UU~
UU~
C
Ca
CaC
CCk k CCk k
ZZmi
mi
ZZmi
mi
CD
CD
MI
CC
MI
CC
IEC
2230/2000
IEC 2230/2000
Figure 1b Coupling device CD in series with the test object
Figure 1b Coupling device CD in series with the test object
Abb. 20.10:Components
TE-Auskopplung in Reihe mit dem Prfling
U
high-voltage supply
Z mi
input impedance of measuring system
~
Components
Ck
Ca
CC
OL
MI
Z
U~
high-voltage supply
MI
measuring instrument
filter
CC connecting cable
Koppelkondensator
Z mi OL
inputoptical
impedance
of measuring system
link
Prfobjekt
test object
a
CC Cconnecting
cable
Koaxialkabel
coupling
k
OL Coptical
link capacitor
CD coupling device
Optische potentialfreie
bertragung
C a test object
MI
TE-Messgert
C k Zcoupling
capacitor
filter
Sperrimpedanz
CD coupling device
20.3 Kalibrierung
175
20.3 Kalibrierung
20.3.1 Kalibrierung des TE-Messkreises
60270
60270
IEC:2000
IEC:2000
67
67
nach [14]
Z
Z
Co
Co
Cs
C
CCsss
U
~~
UUU
~
C
Ckk
C
Ckk
C
Caaaa
CC
G
G
CC
CC
Z
mi
ZZZmi
mi
mi
CD
CD
MI
MI
IEC 2235/2000
IEC 2235/2000
Figure
4a
device
with
the
coupling
capacitor
Abb. 20.11:
TE-Kalibrierung
(TE-Auskopplung
in Reihe
mitthe
demcoupling
Koppelkondensator)
Figure
4a Coupling
Coupling
device CD
CD in
in series
series
with
capacitor
C
Cooo
C
C
o
ZZ
C
Cssss
CC
C
C
Caa
a
U
~~
UUU
~
G
G
C
kkkk
C
CC
CC
CC
ZZZmi
mi
mi
mi
CD
CD
MI
MI
IEC 2236/2000
2236/2000
IEC
Abb. 20.12:
TE-Kalibrierung
(TE-Auskopplung
in Reihe
dem
Prfling)
Figure
4b
device CD in series
object
Figure
4b Coupling
Coupling
withmit
the
test
object
Components
Components
U
U~~ high-voltage
high-voltage supply
G
step
G
step voltage generator
20.3.2 KalibrierungCCvon
TE-Kalibratoren
calibration
capacitor
calibration
00
ZZmi
input
mi
CC
CC connecting
connecting cable
nach [14]
C
Caa test
test object
C
Ckk
CD
CD
Css
C
MI
MI
ZZ
coupling
coupling capacitor
coupling device
coupling
stray capacitance
stray
measuring
filter
filter
60270 IEC:2000
75
60270 IEC:2000
176
75
20 TE-Messung
I(t)
I(t)
Co
Co
Rm
Rm
(t)
Um
U (t)
m
Uo U
o
Digital
Digital
oscilloscope
oscilloscope
Pulse
Pulse
calibrator
calibrator
IEC
IEC 2239/2000
2239/2000
Figure
A.1a
Measuringcircuit
circuit
Figure
A.1a
Measuring
Abb. 20.13: Kalibrierung eines TE-Kalibrators

100 mV
100 mV
Um(t)
Um(t)
R m = 33
R m = 33
0 mV
0 mV
0 ns
0 ns
200 ns
200 ns
400 ns
Time
400 ns
Time
400 mV
( t ) mV
U m400
Um(t)
200 mV
R m = 200
200 mV
R m = 200
0 mV
0 ns
0 mV
0 ns
400 ns
200 ns
200 ns
Time
400 ns
IEC
2240/2000
Figure A.1b Calibration pulses u m ( t ) of a typicalTime

calibrator which is fed to measuring
IECpC)
2240/2000
resistances R m = 33 and R m = 200 respectively ( q = 100
Abb. 20.14: Kalibrierung eines TE-Kalibrators
Figure
A.1um (Calibration
of calibrator
pulse calibrators
t ) of a typical
Figure A.1b Calibration
pulses
which is fed to measuring
resistances R m = 33 and R m = 200 respectively ( q = 100 pC)
Figure A.1 Calibration of pulse calibrators
20.4 TE-Messverfahren
177
Methoden nach [16]
TE-Detektion
Konventionelle Methoden (IEC 60270)
Nicht-konventionelle Methoden
Integration im Frequenzbereich
- schmalbandig
- quasi-breitbandig
Detektion elektomagnetischer Transienten

- HF/VHF (3 - 300MHz)
- UHF (300MHz - 3GHz)
Integration im Zeitbereich
- breitbandig
Akustische TE-Detektion (10 - 300kHz)

Detektion optischer Ereignisse
Analyse chemischer Komponenten
Abb. 20.15: Methoden der TE-Detektion
10
AC 50 Hz
0
-10
A [dB]
-20
TE
30kHz - 3MHz
UHF
-30
breit
-40
-50
-60
-70
1,E+01
quasi-breit
UKW
schmal
1,E+02
10kHz - 20MHz
1,E+03
1,E+04
1,E+05
1,E+06
1,E+07
1,E+08
1,E+09
Frequenz [Hz]
IPH-H-PL
Abb. 20.16: TE-Messbandbreiten
VL HPMT WS2000
178
20 TE-Messung
20.4.1 Strspannungsmessung und schmalbandige TE-Messung

In [14], Annex D wird auf die Verwendung von CISPR3 -konformen Strspannungs-Messempfngern
mit Quasi-Peak-Detektoren zur Messung der scheinbaren Ladung eingegangen.
Obwohl die TE-Messung ihre Ursprnge in der Funkstrspannungsmessung hat (s. Abschnitt 22), wird die TE-Intensitt i.a. als scheinbare Ladung gemessen, nicht als Spannung.
Trotzdem ist es mit Einschrnkungen mglich, Strspannungs-Messempfnger auch zu Messung der scheinbaren Ladung zu verwenden. Dazu muss auf die Bewertungsfunktion und die
Frequenzparameter nach CISPR [3] eingegangen werden.
Nach [3] werden vier verschiedene Frequenzbnder (A D) unterschieden (s. Abb. 20.17),
von denen nur das Band B (150 kHz 30 MHz) fr die TE-Messung relevant ist.
1
CISPR Band D:
300 MHz - 1 GHz
0,8
C: 30 MHz - 300 MHz
0,6
CISPR0,4Band B: 150 kHz - 30 MHz

0,2
CISPR Band A: 9 kHz - 150

kHz
0,001
0,01
0,1
10
100
1000
Frequenz [MHz]
Abb. 20.17: CISPR-Frequenzbnder

Von den verfgbaren Detektoren (PK peak, QP quasi-peak, RMS Effektivwert, AV Mittelwert)
ist fr die TE-Messung ausschlielich der Quasi-Peak-Detektor (QP-Detektor) relevant. Fr
jedes Frequenzband sind die Messbandbreite und die Zeitkonstanten des QP-Detektors przise
Messungen
und Funktionserweiterungen
definiert (s. Abb.Hufige
20.18, nach
[17]).
Frequenzband
6-dB-Mebandbreite
Ladezeit des
QP-Detektors
Entladezeit des
QP-Detektors
Zeitkonstante
Instrument
CISPR A
CISPR B
CISPR C
CISPR D
200 Hz
9 kHz
120 kHz
120 kHz
45 ms
1 ms
1 ms
1 ms
500 ms
160 ms
550 ms
550 ms
160 ms
160 ms
100 ms
100 ms
Abb. 20.18: CISPR-Anforderungen fr Quasi-Peak-Detektoren
5 dB
Diese Bewertung unterschiedlicher Pulsfolgefrequenzen ergibt, da sich

Dieangezeigten
prinzipielle Funktionsweise
verschiedenen
Detektoren zeigt
Abbildungunterschei20.19 [18].
die
Pegel am der
strksten
bei niedrigen
Pulsfolgen
Die Bewertungen
als FunktionPulsfolgefrequenz
der Pulswiederholfrequenz
im Band
B sind frFrequency,
unterschiedden.
Mit zunehmender
(Pulse
Repitition
liche Detektoren in Abbildung 20.20 dargestellt [17]. Die CISPR-Bewertung bercksichtigt
PRF),
etwa fr PRF >10 kHz, nhern sich die Pegelanzeigen aller Detekdas menschliche Hrempfinden, dass hufigere Gerusche strender als seltene Gerusche
wahrnimmt.
toren
(AV, RMS und QP) dem Wert des Spitzenwertdetektors an.
dB
0
10
20
In Abbildung 20.21 [14], Annex D, ist der fr die TE-Messung relevante Bereich der QPDetektion im CISPR Band B detailliert gezeigt, wobei die Bewertung f (N ) bei der Pulswiederholfrequenz
N = 100 Hz auf f (100) = 1 normiert wurde.
PK
Der Anzeigewert URDV eines CISPR-konformen Strspannungs-Messempfngers fr kurzzeitige, regelmig wiederholte Eingangsimpulse mit der Einzelladung q berechnet sich nach
[14], AnnexOP
D zu:
3
30
40
CISPR Comit International Spcial des Perturbations Radiolectriques
RMS
AV
Hufige Messungen und Funktionserweiterungen
43,5 dB
enz 1 kHz
nzen
Quaauch
ndern
d des
und
reite)
zeige
noch
nten-
179
Frequenzband
6-dB-Mebandbreite
Ladezeit des
QP-Detektors
Entladezeit des
QP-Detektors
Zeitkonstante
Instrument
CISPR A
CISPR B
CISPR C
CISPR D
200 Hz
9 kHz
120 kHz
120 kHz
45 ms
1 ms
1 ms
1 ms
500 ms
160 ms
550 ms
550 ms
160 ms
160 ms
100 ms
100 ms
Diese Bewertung unterschiedlicher Pulsfolgefrequenzen ergibt, da sich

die angezeigten Pegel am strksten bei niedrigen Pulsfolgen unterscheiden. Mit zunehmender Pulsfolgefrequenz (Pulse Repitition Frequency,
PRF), etwa fr PRF >10 kHz, nhern sich die Pegelanzeigen aller DetekAbb.
20.19:
fr Quasi-Peak-Detektoren
toren (AV,
RMS
undCISPR-Anforderungen
QP) dem Wert des Spitzenwertdetektors
an.
dB
0
PK
10
OP
20
RMS
30
AV
40
50
60
CISPR Band B (150 kHz bis 30 MHz)
70
80
100
2 3 5
101
2 3 5
102
2 3 5
103
2 3 5
104
2 3 5 105 Hz
Pulswiederholfrequenz
BildAbb.
6-19 20.20:
Pegelanzeige
fr unterschiedliche
Detektoren und
Detektor-Einfluss
auf den Anzeigewert
im Pulsfolgefrequenzen
CISPR Band B
relativ zur Spitzenwertanzeige
q f Zm f (N )
URDV
=
(20.19)
Fr die Kalibrierung der
QP-Anzeige
bei kSpektrumanalysatoren und Mei
mit empfngern gibt es spezielle Normimpulsgeneratoren. Auch an diese werden hohe Anforderungen gestellt. Zur Kalibrierung von Meempfngern
N Pulswiederholfrequenz
1 GHz sind Pulse mit einer Pulsbreite weit unter 1 ns erforderlich, in
f (N )bis
Bewertungsfunktion
f -6
dB-Bandbreite
der
Praxis 200 oder 250 ps. Daher sind neben der kurzen Pulsdauer auch
Zm Wert
der kurze
rein ohmschen
extrem
Anstiegs-Messimpedanz
und Abfallzeiten der Pulse zu realisieren. Zur Nachki Skalenfaktor q/URDV des Messgerts
bildung der Bewertungskurve nach CISPR mu die Pulsfrequenz des GenEin CISPR-konformer
misst demnach fr N = 100
erators variabelStrspannungs-Messempfnger
sein.
URDV ' 6, 36 103 q Zm
(20.20)
199
Z.B.: URDV =1 V fr Zm = 60 , N = 100 und q ' 2, 62 pC.
Es muss betont werden, dass die Umrechnung V pC keinesfalls generell mglich ist, sondern
nur fr den Sonderfall gleichhoher Impulse mit konstanter Pulsfolgefrequenz gilt. In der
Whenever measurements are performed with a radio disturbance meter, the records from the
test should include the readings obtained in microvolts and the determined equivalent
apparent charge in picocoulombs together with relevant information concerning the determination of the scale factor.
180
20 TE-Messung
f (N ) / f (100)
10
0,1
1
10
11000
000
100
N [1/s]
IEC
2241/2000
Abb. 20.21: CISPR Band B Bewertungsfunktion

Figure D.1 Variation of CISPR radio disturbance meter reading f ( N ) with
repetition frequency N , for constant pulses
Praxis muss deshalb mit greren Abweichungen gerechnet werden. Statt CISPR-konformen
Strspannungs-Messempfngern sollten fr TE-Messungen vorzugsweise schmalbandige
TE-Messgerte verwendet werden.
Abbildung 20.22 zeigt beispielhaft einen lteren Strspannungs-Messempfnger. Die Dynamik dieses Gerts ist sehr begrenzt, so dass die Amplitude der Eingangssignale mit einem
einstellbaren Dmpfungsglied feinstufig (in 5 dB-Stufen) angepasst werden muss. Der Frequenzbereich dieses Messempfngers betrgt 150 kHz 3 MHz und ist auf 5 Bnder (I - V)
aufgeteilt. Der eingebaute Lautsprecher dient sowohl der Identifizierung von Rundfunksendern
(Strquellen) als auch der akustischen Beurteilung von TE-Quellen.
Abb. 20.22: Strspannungs-Messempfnger Siemens

In Abbildung 20.23 wird beispielhaft ein moderner Strspannungs-Messempfnger gezeigt,
der vollautomatische Messungen nach allen gngigen Normen durchfhren kann.
20.4.1.1 Funktionsprinzip
Moderne schmalbandige TE-Messgerte (ohne Bewertungskreis) und Strspannungsmessgerte (mit nichtlinearem Bewertungskreis) arbeiten mit einer kontinuierlich einstellbaren
Mess- oder Mittenfrequenz im Bereich von z.B. 30 kHz bis 3 MHz und einer Bandbreite
des Filter-Verstrkers von typisch 9 kHz in Europa bzw. 10 kHz in den USA (jeweils -6 dBBandbreiten). Nach [14] werden folgende Frequenzparameter fr die Transferimpedanz Z(f )
schmalbandiger TE-Messsysteme empfohlen:
Mittenfrequenz: 50 kHz fm 1 MHz
181
Abb. 20.23: Strspannungs-Messempfnger Typ ESPI, Rohde & Schwarz
Bandbreite: 9 kHz f 30 kHz
Abb. 20.24: Schmalbandiges TE-Messsystem (Funktionsprinzip)
20.4.1.2 Bewertung
Die Sprungantwort eines schmalbandigen TE-Messgertes berechnet sich nach [13] nherungsweise gem Gleichung 20.21. Die Sprungantwort folgt damit einer Schwingung mit
der Frequenz fm , die durch die Si-Funktion moduliert (eingehllt) wird. Bis zum vollen Aufschwingen der Sprungantwort vergeht die Verzgerungszeit t0 . Die relative Amplitudendichte
des Spektrum I0 (2 fm ) nimmt fr tiefe Messfrequenzen den Wert 1 an.
URDV (t) = 2A0 f q Zm I0 (2 fm ) Si(( f (t t0 )) cos(2 fm (t t0 )) (20.21)

mit
Si(x) =
sin(x)
x
(20.22)
superimposal of pulses
(2) Narrow band system, (a) low pulse repetition rate, (b) increased rate, (c) high rate leading
to superimposal of pulses,
182
20 TE-Messung
(1) Wide band system: f at -3db: 210 kHz (2nd order-filters)
Die Sprungantwort
schmalbandiger TE-Messgerte
resultiert in einem vollstndigen
Verlust
a)
c)
b)
der TE-Impuls-Polarittsinformation.
2.0
2.0
2.0
Calibrator pulses (offset=1 V)

Filtered pulses (multiplier=500)


1.5
1.5
1.5
1.0
1.0
1.0
0.5
Signal (V)
Signal (V)
Signal (V)
Der grte Nachteil schmalbandiger TE-Messgerte ist die relativ groe Zeitdauer des Anund Ausschwingens. Wird die maximal zulssige TE-Impulsfolgefrequenz von fmax ' f
berschritten, kommt es zu berlagerungsfehlern durch Interferenz, die sowohl zu berh(a)
(b)
(c)
hungen (bis zur Verdoppelung) als auch zur Auslschung fhren knnen. Bei der Typprfung
von TE-Messgerten muss das Doppelimpuls-Verhalten (Impulsauflsezeit) quantifiziert werden, unabhngig von der tatschlichen Messbandbreite. Den qualitativen Zusammenhang fr
unterschiedliche
Impulsabstnde
zeigt
Abbildung
20.25.
(2)
Narrow band system:
f at -3db: 9 kHz
(2nd
order-filters)
0.5
0.0
0.0
-0.5
-0.5
-0.5
-1.0
-1.0
-20
-10
10
20
30
40
50
-1.0
-20
-10
Time (s)
10
20
30
40
50
-20
a)
1.0
1.0
0.5
0.0
-0.5
-0.5
200
300
Time (s)
400
500
600
Signal (V)
1.0
Signal (V)
1.5
0.0
-1.0
-100
30
40
50
Calibrator pulses (offset = 1 V)


1.5
100
20
2.0

0.5
10
c)
b)
2.0
Time (s)
1.5
-1.0
-100
-10
Time (s)
2.0
Signal (V)
0.5
0.0
0.5
0.0
-0.5
100
200
300
Time (s)
400
500
600
-1.0
-100
100
200
300
400
500
600
Time (s)
Figure 2 Typical pulse responses of wide band and narrow band PD systems
Abb. 20.25: Doppelimpulsantwort eines schmalbandigen TE-Messgerts

(1) Wide band systems
InDurch
accordance
with
IEC Bandbreite
60270, PD measuring
systems
as wide band
their harmonibandwidth
die sehr
kleine
und geeignete
Wahlarederdefined
Messfrequenz
lassenif sich
exceeds
100 kHz. insbesondere
With rotating machinery,
wide-band measuring
systems are typically
usedGrund
up to a
sche Strungen,
von Rundfunksendern,
leicht unterdrcken.
Aus diesem
bandwidth of approximately 1 MHz. Some systems use bandwidths up to 500 MHz. The system
werden auch
heute noch
vielfach
schmalbandige
ihrer
bandwidth
is determined
by the
frequency
response of Messgerte
the coupling trotz
unit and
by messtechnischen
the signal processNachteile
eingesetzt.
ing
in the measuring
instrument.
Most of the wide band PD measuring devices conform to the requirements of IEC 60270. The lower
limit frequency is set to 10 kHz to suppress mains frequency and its harmonics. The lower limit
frequency may be variable up to a few hundred kHz to suppress external disturbances, e.g. commutating pulses from power semiconductors. Typical bandwidths of many measuring devices vary between 100 kHz and 1 MHz.
Abb. 20.26: Doppelimpulsantwort eines schmalbandigen TE-Messgerts
183
184
20 TE-Messung
20.4.2 Quasi-breitbandige TE-Messung

20.4.2.1 Funktionsprinzip
Nach [14] werden folgende Frequenzparameter fr die Transferimpedanz Z(f ) quasibreitbandiger TE-Messsysteme empfohlen:
untere Grenzfrequenz: 30 kHz f1 100 kHz
obere Grenzfrequenz: f2 500 kHz
Bandbreite: 100 kHz f 400 kHz
Abb. 20.27: Quasi-breitbbandiges TE-Messsystem (Funktionsprinzip)
Abb. 20.28: Quasi-breitbbandiges TE-Messsystem ERA Detector Model 5
the lower trace the pulse response of the measuring system:

(1) Wide band system, (a) low pulse repetition rate, (b) increased rate, (c) high rate leading to
superimposal of pulses
(2) Narrow band system, (a) low pulse repetition rate, (b) increased rate, (c) high rate leading
to superimposal of pulses,
185
20.4.2.2 Bewertung
(1) Wide band system: f at -3db: 210 kHz (2nd order-filters)
a)
2.0


1.5
1.5
1.0
1.0
1.0
0.5
(a)
0.0
0.5
(b)
0.0
-0.5
(c)
Signal (V)
1.5
Signal (V)
Signal (V)
c)
b)
2.0
2.0
0.0
-0.5
-1.0
-0.5
-1.0
-20
-10
10
20
30
40
50
0.5
-1.0
-20
-10
Time (s)
10
20
30
40
50
-20
-10
Time (s)
10
20
30
40
50
Time (s)
(2) Narrow band system: f at -3db: 9 kHz (2nd order-filters)
a)
c)
b) quasi-breitbandigen TE-Messgerts
Abb. 20.29:
Doppelimpulsantwort eines
2.0
2.0
2.0


1.5
1.0
1.0
1.0
0.5
0.5
0.0
0.0
-0.5
-0.5
-1.0
-100
100
200
300
Time (s)
400
500
600
Signal (V)
1.5
Signal (V)
Signal (V)

1.5
-1.0
-100
0.5
0.0
-0.5
100
200
300
Time (s)
400
500
600
-1.0
-100
100
200
300
400
500
600
Time (s)
Figure 2 Typical pulse responses of wide band and narrow band PD systems
(1) Wide band systems
In accordance with IEC 60270, PD measuring systems are defined as wide band if their bandwidth
exceeds 100 kHz. With rotating machinery, wide-band measuring systems are typically used up to a
bandwidth of approximately 1 MHz. Some systems use bandwidths up to 500 MHz. The system
bandwidth is determined by the frequency response of the coupling unit and by the signal processing in the measuring instrument.
Most of the wide band PD measuring devices conform to the requirements of IEC 60270. The lower
limit frequency is set to 10 kHz to suppress mains frequency and its harmonics. The lower limit
frequency may be variable up to a few hundred kHz to suppress external disturbances, e.g. commutating pulses from power semiconductors. Typical bandwidths of many measuring devices vary between 100 kHz and 1 MHz.
186
20 TE-Messung
20.4.3 Digitale TE-Verfahren und Systeme

Es knnen drei prinzipielle Konzepte fr digitale TE-Messsysteme unterschieden werden:
1. phasensynchron (traditioneller Ansatz): analoger Bandpassfilter kombiniert mit einem
Spitzenwertdetektor oder pulsformenden Vorverstrker, einem langsamen A/D-Wandler,
Computer
2. Zeit-aufgelst A: breitbandiger Vorverstrker, Digitaloszilloskop (oder schneller A/DWandler), Computer
3. Zeit-aufgelst B: breitbandiger Vorverstrker, schneller A/D-Wandler, echtzeitfhige
Signalverarbeitung, Computer
Der folgende Abschnitt konzentriert sich auf die digitale Signalverarbeitung von TE-Impulsen.
Die phasensynchrone TE-Messung erfordert natrlich die parallele Erfassung der Phaselage der Prfwechselspannung. Eine einfache Lsung besteht hier in der Erfassung der ACNulldurchgnge, fortschrittliche Systeme digitalisieren die Kurvenform der Wechselspannung.
Eine Ausnahme bildet hier die TE-Messung bei Gleichspannung, die beispielsweise bei der
Prfung von HG-Transformatoren erforderlich ist: da bei DC keine Phaseninformation
existiert, knnen Auswertungen nur auf der TE-Amplitude und dem Zeitpunkt des Auftretens
basieren, wie z.B. bei Trenddiagrammen (s. Abb. 20.30) oder Hufigkeitsverteilungen.
Abb. 20.30: TE-Trend bei Gleichspannung
20.4.3.1 Phase-Resolved PD Measuring Systems
bersetzen
The first digital PD measuring systems were often directly connected to the peak-detector
output of an analog PD measuring instrument (s. Abb. 20.31).
Fehlende
Abbildung
21.30 TE-Trend bei DC
Abb. 20.31: Digitales TE-Messsystem (vereinfacht)
In this way, the analog bandpass filter ensured correct measurements of apparent charge by
quasi-integration of PD pulse currents. Compared to the original PD pulse, peak detectors
deliver slow signals, so the sampling rate of the A/D converter needs only be moderate.
187
Fehlende
Abbildung
21.31 Digitales TE-Messsystem (vereinfacht)
Abb. 20.32: Lissajous-Figur
The Lissajous figure of a digital PD measuring system (s. Abb. 20.32) will not deliver more
information than the Lissajous figure of an analog PD instrument. Contrary, due to certain
limitations of digital displays or due to slow signal processing, digital PD display time response
is usually worse compared to real-time display of analog instruments.
The main advantage of digital phase-resolved measuring systems is the capability to record
PD data; in this case the apparent charge (qi ) and the phase angle (i ) of each single PD pulse.
This data is used to apply statistic evaluation methods, e.g. to generate 2-D or 3-D histograms
with respect to PD amplitude, phase and frequency of occurrence (s. Abschnitt 20.7.2).
20.4.3.2 Time-Resolved PD Measuring Systems

The pulse-shaping impact of the bandpass filter and the peak detector was intended for
phase-resolved PD measurements. Unfortunately, the original PD pulse current waveform is
completely lost in the process and replaced by the pulse response of the bandpass filter, or,
even worse, by the output signal of the peak detector.
To view the original PD pulse waveform, wide-band or ultra-wideband measuring systems are
required [19]. Instead of band-limiting filters such systems use wide-band preamplifiers and
(commercial) digitizers with GS/s sample rates and an appropriate analog bandwidth (1 GHz
or more). The stored oscillograms are transferred to the computer for digital processing.
The bottleneck of this design is the transfer of stored data to the computer and, eventually, the
re-trigger rate of the digitizer. To overcome these limitations, real-time measuring systems
were developed (see section 20.4.3.3).
Wide-band PD measuring systems are applied to research of PD physics in the lab, where test
set-ups on small test objects ensure wide-band transmission of PD pulses from their origin
to detection. In HV equipment, however, PD pulses are usually wave-shaped by propagation
(damping, dispersion, reflection) before detection. Nevertheless, UHF PD measurements are
widely used for on-site testing, because of good signal-to-noise ratio (SNR), especially in case
of GIS.
In contrast to wide-band PD measurements in the lab, on-site UHF PD measurements must
still overcome some interference, so high-pass filters or spectrum analyzers (used as narrowband UHF filters and frequency converters) are applied. Depending on the deployed filter,
information about PD pulse waveform will be reduced or even lost.
20.4.3.3 Wide-Band Real-Time Systems

Accelerated progress in digital techniques (hardware as well as software) made it possible to
combine continuous recording of PD data and wide-band PD measurements. Special designs
enable real-time performance.
188
20 TE-Messung
Table 20.1 shows the progress in relevant parameters of two similar designs. Both designs
consist of real-time pre-processing hardware, communication via optical fiber and a standard
PC.
PD A/D converter
analog bandwidth
App. Charge
pulse duration
phase angle
AC voltage u(t)
AC sample rate
absolute time
PD pulse rate
Data rate
1988 [10]
2005 [20]
?
14bit, 64MS/s
?
20MHz
1pC (9bit) 10fC (32bit float)4
10ns (16bit)
1ns (64bit)
0.4 (12bit)
0.004
(16bit)
full range (24bit)
?
20kS/s
1ns (64bit)
5000 PD/s
1.5 106 PD/s
600 kbit/s
64 Mbit/s
Tabelle 20.1: Fortschritt digitaler TE-Messtechnik

Fig. 20.33 shows the design of a real-time PD digital measuring system [20]. In contrast to
the design shown in fig. 20.31, bandpass filtering and peak detection are performed after
digitization. Bandpass center frequency and bandwidth are tunable for best SNR.
Fehlende
Abbildung
21.33 Modernes digitales TE-Messsystem (vereinfacht)
Abb. 20.33: Modernes digitales TE-Messsystem (vereinfacht)
In addition to early digital phase-resolved PD measuring systems (section 2.3), this advanced
system stores for each PD pulse a vector:
The channel number n and the absolute time ti of the PD pulse become important parameters
in multi-channel PD measurements (see section 20.6.7 ). The instantaneous value of the AC
voltage ui is required e.g. for a pulse-sequence analysis (s. Abschnitt 20.7.3).
20.4.3.4 MPD600
20.4.4 HF/VHF/UHF TE-Messung

20.4.5 Akustische TE-Detektion
20.4.6 Optische TE-Detektion
20.4.7 Detektion TE-bedingter chemischer Zersetzungsprodukte
[21]
Synchronous
PD detection
Motivation
Statistic &
Correlation
Benefits
Multi-channel synchronous
A/D conversion
Analog bandwidth:
Sampling rate:
Amplitude quantization:
2-channel synchronity:
25-channel synchronity:
20 MHz
64 MS/s
14 bit
2 ns
20 ns
189
Bandpass
filter
Peak
detection
Digital bandpass filter

Center frequency: 0 ... 20 MHz
Bandwidth:
9 kHz ... 3 MHz
Pulse parameter
extraction
O.F.
transmission
Pulse amplitude
! transmission rate: 1.6 M pulses/s
Pulse polarity
Time of arrival
AC phase angle
AC voltage 24 bit, 100 kS/s
Abb. 20.34: Digitales TE-Messsystem Omicron mtronix MPD600
Hochspannungselektrode
Nadel-PlattePrfkrper
iTE
Erdelektrode
50!
Messelektrode
Abb. 20.35: Schnittdarstellung koaxiales Prfgef fr UHF-TE-Auskopplung
190
20 TE-Messung
20.5 Strquellen
Strquellen knnen wie folgt klassifiziert werden [22]:
Schmalbandige Quellen (z.B. Rundfunk, Fernsehen, Mobilfunk: continuos wave CWStrer)
Breitbandige Quellen (Transiente Strer (Impulse), Rauschstrer)
Bei TE-Messungen ist es angebracht, transiente Strer mit Hinblick auf die Prfwechselspannung genauer zu differenzieren:
Periodische, phasenstarre transiente Strer (netzgefhrte Stromrichter)
Periodische, zur Wechselspannung schwebende transiente Strer (Stromrichter mit variabler Frequenz)
Stochastische transiente Strer geringer Hufigkeit (z.B. Schalthandlungen)
Stochastische transiente Strer hoher Hufigkeit (z.B. Korona, TE von in Betrieb befindlichen Anlagen)
Auch Mehrfach-TE-Quellen im Prfling knnen die Interpretation der TE-Messergebnisse
deutlich erschweren. Dies gilt insbesondere fr alle Auswerteverfahren, die auf Autokorrelation5 beruhen.
Im Bild 20.36 ist der grundlegende TE-Prf- und -Messkreis mit den mglichen Strquellen
dargestellt:
Abb. 20.36: Strquellen bei der TE-Messung
1 Stromversorgung fr den Hochspannungskreis. Strgren: Netzoberschwingungen und

periodische Impulsstrme z.B. von Stromrichtern.
2 Spannungssteller: Stelltransformator, Generator, Gleitkontakte des Stelltransformators
oder die Kohlebrsten des Generators knnen zu hochfrequenten Impulsstrungen fhren,
die vom Prftransformator 3 auf die Hochspannungsseite bertragen werden.
3 Prftransformator: Betriebsfrequente Verschiebungsstrme ik , it stellen die wesentlichste
Strung bei der Erfassung der sehr kleinen TE-Stromimpulse (A-Bereich) dar, da diese
5
Autokorrelations-Auswerteverfahren: Puls-Sequenz-Analyse, TDR, time-of-arrival
20.5 Strquellen
191
Strme je nach den Kapazittswerten von Ck und Ct im Bereich von mA bis A liegen. Im
Prftransformator selbst knnen TE erzeugt werden.
4 Hochspannungsfilter (Sperrimpedanz Z): Scharfe Kanten, Spitzen, rauhe Stellen und zu
kleine Abrundungsradien an diesen Elementen sowie schlechte Kontakte in Verbindungsleitungen knnen zu ueren TE fhren.
5 Verbindungsleitungen und Schirmelektroden. Probleme: s. 4
6 Kopplungskondensator kann selbst TE erzeugen.
7 Isoliert herumliegende metallische Gegenstnde im Prffeld (z.B. Leiter). Sie nehmen
im elektrischen Wechselfeld freies Potential an und es kommt bei zu hoher Feldstrke zu
impulsfrmigen Entladungen, die sich als Strung in den Prfkreis einkoppeln.
8 Schaltvorgnge in benachbarten Nieder- und Hochspannungsnetzen
9 Harmonische Signale von Rundfunksendern im Lang- und Mittelwellenbereich, bei TEFehlerortung und UHF-TE-Messungen stren auch Kurzwellen-, UKW- und VHF-Sender,
Radar usw.
10 Strstrme im Erdsystem des TE-Messgertes, Kabelmantelstrme
11 Stromversorgung fr das TE-Messgert. Strgren: s. 1
Die von den verschiedenen Strquellen herrhrenden Strsignale knnen unterteilt werden in:
Kontinuierliche Strsignale: Betriebsfrequente Wechselspannung mit ihren Oberschwingungen sowie Rundfunksender mit selektiven Frequenzen (s. Abb. 20.36: 1, 3, 9. . . 11)
Periodisch-impulsfrmige Strsignale: Typischerweise von Stromrichtern verursacht,
bei netzgefhrten Stromrichtern i.a. phasenstarre Signale (vier, sechs oder mehr Impulse
pro Periode der betrieblichen Wechselspannung), bei hher taktenden Stromrichtern (im
kHz-Bereich) komplette berdeckung der Periode
Stochastisch-impulsfrmige Strsignale: Signale von zeitlich kurzer Dauer, deren Spektrum einen entsprechend groen Frequenzbereich umfat (s. Abb. 20.36: 2, 4. . . 8, 10, 11),
Schaltvorgnge (besonders str-intensiv: VFT durch GIS-Trennerschaltungen), alle Arten
von TE (auerhalb des Prfobjekts), oft schwierig von TE aus dem Prfling zu unterscheiden
192
20 TE-Messung
20.6 Strunterdrckung
Die in Vorschriften festgelegten zulssigen Pegel der scheinbaren Ladung knnen sehr klein
sein. Sie liegen z.B. bei kunststoffisolierten Kabeln bei 5 pC. Werden an die Empfindlichkeit
der TE-Messung so hohe Ansprche gestellt, mssen die Strgren besonders wirkungsvoll
unterdrckt werden, denn die durch die Strquellen verursachten Strpegel drfen nicht hher
als 50% der zulssigen TE-Pegelwerte sein.
Dies wird erreicht durch
weitgehende Unterdrckung der durch Ck und Ct flieenden niederfrequenten Strme
ik und it in der Messimpedanz Zm , in dem parallel zu einem Messwiderstand RM eine
Induktivitt L mit L RM geschaltet wird.
TE-Freiheit des Prftransformators, des Kopplungskondensators und gegebenenfalls des
Hochspannungsfilters bis zur Prfspannung (s. Abb. 20.36: 3, 4, 6).
TE-freien Aufbau des gesamten Hochspannungsprfkreises. uere TE knnen bei entsprechend groen Radien (Abb. 20.37, [23]) und Vermeidung von Spitzen und Kanten an
Verbindungsleitungen und Abschirmkrpern aller elektrischen Komponenten ausgeschlossen werden (s. Abb. 20.36: 3. . . 6, uere TE am Prfobjekt).
Abb. 20.37: Notwendige Mindestradien zur Vermeidung uerer TE
20.6.1 Filterung
Zur Unterdrckung leitungsgebundener Strer muss der Anschlu aller Versorgungs- und
Nachrichtenleitungen ber Tiefpafilter erfolgen. Dazu zhlt auch der Filtereinbau fr die
Hochspannungsversorgung zwischen Spannungssteller (s. Abb. 20.36: 2) und Hochspannungstransformator (s. Abb. 20.36: 3).
Der Einsatz eines Hochspannungsfilters (s. Abb. 20.36:4) ist dagegen nur erforderlich, wenn
der Hochspannungsprftransformator nicht TE-frei ist oder die Filterung der Stromversorgung
nicht ausreicht (s. Abb. 20.36: 1, 2, 11).
Seit den Anfngen der TE-Messtechnik ist bekannt, dass Rundfunksender empfindliche TEMessungen stark erschweren bzw. unmglich machen. Es erscheint daher zunchst konsequent,
193
schmalbandige Messgerte mit variabler Mittenfrequenz (z.B. Strspannungsmessempfnger, Bandbreite 9 kHz, s. Abschnitt 20.4.1) zu verwenden, die eine Einstellung strarmer
Messfrequenzen ermglichen.
Durch die Verfgbarkeit quasi-breitbandiger TE-Messgerte wurden die schmalbandigen
TE-Messgerte praktisch vollstndig verdrngt, deren prinzipielle Schwche in der geringen
Impulsfolgefrequenzauflsung lag. Die Erhhung der Messbandbreite verbesserte zwar das Impulsauflsevermgen und verminderte das Rauschen, fhrte aber zu hherer Strempfindlichkeit durch Schmalbandstrer innerhalb der Messbandbreite. Um trotzdem hochempfindliche
TE-Messungen zu realisieren, wurden aufwendig geschirmte Messkabinen und Leitungsfilter
in allen Zuleitungen zwingend notwendig.
Bei TE-Messungen unter Vor-Ort-Bedingungen ist eine vollstndige Schirmung des Prfaufbaus kaum mglich. Filter zur Reduktion leitungsgebundener Strer knnen ggf. bei offline-Prfungen, d.h. bei Trennung des Prflings vom Netz und Speisung mit einer separaten
Hochspannungsquelle, zum Einsatz kommen. Fr diesen Fall hat sich die Prfung mit einer
von der Netzfrequenz abweichenden Prffrequenz bewhrt, da so alle durch Netzspannung
verursachten Strimpulse (Korona, andere TE-Quellen) keine Korrelation zur Phasenlage der
Prfwechselspannung aufweisen und dadurch schweben.
Bei online-TE-Messungen, d.h. bei TE-Messungen im normalen Betrieb ist eine Filterung
der Zuleitungen i.a. nicht mglich. In diesem Fall knnen Filter nur noch zur Verminderung
von Schmalbandstrern im TE-Messsignal dienen. Analoge Bandsperren, abgestimmt auf die
dominanten Schmalbandstrer eignen sich aber nur fr wenige Strer, da jede hochgtige
Bandsperre zu einer Verminderung des Impulsauflsevermgens fhrt. Die Verwendung
mehrer Bandsperren kann zu einer Verminderung des Signal-Str-Abstandes fhren, der die
beabsichtigte Verbesserung der Signalqualitt verhindert.
Die Grenzen analoger Filter wurden durch den Einsatz digitale Filter teilweise berwunden
[2426]. Die Dynamik wird hier von der Qualitt der Algorithmen und besonders von der
Quantisierungstiefe der A/D-Wandlung (Quantisierungsrauschen -6 dB/bit) begrenzt. Bei
Verwendung von Digitaloszilloskopen mit 8 bit A/D-Wandlung kann nur eine geringe Dynamik
(ca. 48 dB) erzielt werden.
Das fr die synchrone Mehrstellen-TE-Messung entwickelte Messsystem MPD600 (s. Abschnitte 20.6.7)
verfgt ber eine vollstndig digitale Bandpassfilterung, die sowohl in Mittenfrequenz als
auch in der Messbandbreite flexibel eingestellt werden kann und so die Vorteile schmal- und
breitbandiger TE-Messgerte in sich vereint. Zur Erzielung der erforderlichen Dynamik erfolgt
die A/D-Wandlung hierbei mit 14 bit und 64 MS/s.
20.6.2 Schirmung
Der Ausschluss feldgebundener Strquellen (s. Abb. 20.36: 8. . . 10) erfordert eine allseitige
elektromagnetische Schirmung des gesamten Prfkreises (Faraday-Kfig). Diese Manahme
ist technisch sehr aufwendig und mit sehr hohen Kosten verbunden. Besondere Sorgfalt ist bei
den notwendigen ffnungen zum vorzugsweise mit Eisen- oder Kupferblech ausgekleideten
Prfraum geboten.
Damit Tren die Schirmwirkung nicht unzulssig schwchen, mssen sie im geschlossenen
Zustand eine allseitig gut leitfhige Verbindung zur Wand haben. Dies wird ber Zargen
mit durchgehenden Kontaktfederleisten erreicht. Frischluftffnungen werden entweder mit
feinmaschigem Drahtgeflecht, besser aber mit einem Wabengitter geschirmt. Mit derart geschirmten Rumen erreicht man eine Dmpfung grer 60 dB, so da auch bei ungnstigem
Strpegel eine einwandfreie Messung mglich ist. Moderne Hochspannungsprffelder, in
denen TE-Messungen durchgefhrt werden sollen, sind hufig in der eben beschriebenen
Weise vollstndig geschirmt.
Steht dagegen nur ein offener oder ungeschirmter Prfraum zur Verfgung, wird die Messempfindlichkeit weitgehend durch den vorherrschenden Umgebungsstrpegel bestimmt. Damit
auch in diesem Fall Messungen mit einer ausreichenden Empfindlichkeit durchgefhrt werden
knnen, ist eine zustzliche Strunterdrckung durch geeignete Schaltungsmanahmen oder
194
20 TE-Messung
Verwendung speziell gestalteter TE-Messgerte notwendig, die im folgenden kurz beschrieben

werden.
20.6.3 Brckenschaltung
Im Unterschied zur einfachen Direktmessung (s. Abschnitt 20.2, Abb. 20.9 und 20.10) lassen sich mit der Brckenschaltung (s. Abb. 20.38, [14]) unerwnschte Strsignale (z.B.
Rundfunksender oder TE-Impulse des Hochspannungstransformators), die in die beiden
BrckenzweigeC
einkoppeln, wirkungsvoll unterdrcken.
60270
IEC:2000 a1 (Ck ) und Ca in gleicher
63Weise
Caa1
1
or
or
(C
(Ckk))
CCaa
U~
U~
MI
CC
CD
(CD)1
Z
Zmi
mi
Zmi
((Z
mi))11
CC
IEC
2231/2000
Figure 1c Balanced circuit arrangement
Abb. 20.38: TE-Auskopplung in Brckenschaltung

Gegenber der Direktmessung werden in der Brckenschaltung zwei einzeln abgleichbare Messimpedanzen CD1 Zund CD bentigt. Die Brcke wird so abgeglichen, dass die in den beiden
Schaltungszweigen flieenden gleichgerichteten Strstme iA und iB an den BrckeneleCaa1
menten GA und GB gleiche Spannungsflle uA undCor
u1 B hervorrufen. Die Differenzspannung
or
CCaa
uAB am Eingang des Messinstruments wird im(CIdealfall
gleich Null und das Strsignal
kk))
UU~~
somit eliminiert.
In der Praxis lassen sich mit Brckenschaltungen Strunterdrckungen
(Gleichtaktunterdrckungen) von 1 : 20 CC
bis 1 : 1000 je nach Aufbau
der Messobjekte Ca und
CC
Ck und der Art der Strquellen
erzielen.
Die
hohen
Werte
der
Strunterdrckung
erhlt man,
Zmi
CD
(CD)1
mi
mi))11
Z mi
((Z
wenn als Kopplungskondensator Ck das gleiche Gert wie das Prfobjekt
Ca gewhlt wird,
MI
beispielsweise bei der Wandlerprfung also ein zweiter Wandler mglichst gleicher Bauart,
da dann der ganze Schaltungsaufbau eine groe Symmetrie aufweist. Die Prfobjekte lassen
IEC 2232/2000
sich auerdem sehr nahe zusammenstellen, so da die wirksame Antennenflche
fr die
Figure 1d Polarity discrimination circuit arrangement
Einkopplung von Strsignalen in den Prfkreis minimal ist.
Components
Bei sehr ungnstigen Versuchsbedingungen (z.B. TE-Prfung in einer Freiluft-Schaltanlage mit

U ~ high-voltage supply
hohem Strpegel durch Koronaentladungen
und Rundfunksender) und bei verschiedenartigen
Z mi input impedance of measuring system
Prfobjekten Ca und Ck mu
mit
relativ
kleiner
Strunterdrckung gerechnet werden. Im
CC connecting cable
letzten Fall lt sich die Brcke
nicht
mehr
in
einem
greren Frequenzbereich abgleichen.
OL optical link
Ein schmalbandiges Messsystem
ermglicht
es
hier,
bei
einer Mittenfrequenz zu messen, bei
C a test
object
C k maximale
coupling capacitor
der die Brckenschaltung eine
Strunterdrckung zeigt.
CD
coupling device
MI
filter
Figure 1 Basic partial discharge test circuits

20.6.4 Impulsdiskriminatorsystem
Ein der Brckenschaltung vergleichbares Impulsdiskriminatorsystem (s. Abb. 20.39, [14]) kann
zur Unterdrckung von impulsfrmigen Strsignalen verwendet werden. Die im Prfobjekt auftretenden Teilentladungen erzeugen im Prfzweig Ca und im Kopplungskondensatorzweig Ck
Stromimpulse entgegengesetzter Polaritt, whrend vom Hochspannungspotential ausgehende
Strungen Gleichtaktsignale verursachen.
Eine geeignete Logik vergleicht die Polaritt der Signale in beiden Zweigen und ffnet nur
bei ungleicher Polaritt der Impulse ein Tor, ber das dann die vom Prfobjekt stammenden
IEC
2231/2000
Figure 1c Balanced circuit arrangement
195
C
Caa1
1
or
or
(Ckk))
CCaa
UU~~
CC
Zmi
mi
CD
CC
mi))11
Z mi
((Z
(CD)1
MI
IEC
2232/2000
Figure 1d Polarity discrimination circuit arrangement
Abb. 20.39: Impulsdiskriminatorsystem

Components
U~
high-voltage supply
Z mi
Ck
coupling capacitor
TE-Impulse dem Messgert CC

zugeleitet
werden. Der Vorteil dieses Verfahrens gegenber der
connecting cable
Brckenschaltung liegt darin,
da
sich
ungleiche Frequenzgnge der beiden Brckenzweige
OL optical link
nicht mehr bemerkbar machen.
C a test object
20.6.5 Gating
CD
coupling device
MI
filter
Figure 1 Basic partial discharge test circuits
20.6.5.1 Statisches Gating

Beim statischen Gating werden mit einem Tor periodisch wiederkehrende Zeitbereiche der
Periodendauer der Prfwechselspannung, in denen Strungen auftreten, ausgeblendet. Das
Verfahren ist daher geeignet zur Unterdrckung von phasenstarren Strimpulsen, wie z.B. Strungen durch thyristorgesteuerte Antriebe oder auch uere Teilentladungen in Luft, die in der
Umgebung der Prfspannungsscheitelwerte auftreten. Whrend der Ausblendung gleichzeitig
auftretende TE sind natrlich nicht messbar.
Bei digitalen TE-Messsystemen kann das statische Gating durch gleichzeitige Festlegung
des auszublendenen Phasenbereichs als auch des Ladungsbereichs besser auf statische Strer
angepasst werden, da diese in der Regel sowohl eine konstante Phasenlage als auch eine
konstante Ladungsamplitude aufweisen. Somit knnen evtl. TE mit gleicher Phasenlage
(wie die ausgeblendeten Strimpulse) aber abweichendender Amplitude weiterhin korrekt
dargestellt werden.
20.6.5.2 Getriggertes Gating

Ein impulsfrmiges Strsignal kann oft auch durch eine Antenne in der Nhe des Prfkreises
festgestellt werden. Sobald der Antennenverstrker ein Signal empfngt, wird der Messkreis
kurzzeitig gesperrt. In diesem Fall wird das Tor also vom Strsignal selbst getriggert. Dieses
Verfahren wird als getriggerters Gating bezeichnet.
20.6.5.3 Dynamisches Gating

Das digitale TE-Messsystem MPD600 (s. Abschnitt 20.4.3.4) verfgt zustzlich zu den Verfahren statisches Gating und getriggerters Gating erstmals ber das Verfahren des dynamischen Gatings (Dynamic Noise Gating, DyNG). Periodisch auftretende impulsfrmige Strer,
die zur Phasenlage der Prfwechselspannung schweben, knnen hiermit selektiv unterdrckt
werden. DyNG unterteilt hierzu die Periodenlnge (360) in eine einstellbare Anzahl von
Phasenklassen. Innerhalb jeder Phasenklasse wird die Anzahl auftretender Impulse (TE oder
Strer) pro Zeiteinheit gezhlt. Wenn in einem Zeitintervall von 80 s mindestens ein Impuls
196
20 TE-Messung
auftrat, wird der Zhler dieser Phasenklasse um Eins erhht. DyNG unterdrckt dann Impulse
innerhalb der Phasenklassen, in denen der Zhlerstand unterhalb einer einstellbaren Schwelle
liegt. Um sicherzustellen, dass nur periodische Strer, nicht aber stochastische TE unterdrckt
werden, kann die Abklingzeitkonstante der Phasenklassen-Zhler ebenfalls eingestellt werden.
20.6.6 TE-Impulsformanalyse
Die Analyse der Impulsform eignet sich prinzipiell fr die Separation von Strern und TE
als auch fr die Klassifizierung unterschiedlicher TE-Impulsformen. Diese Analyse kann
im Frequenzbereich (mit Spektrumanalysatoren) oder im Zeitbereich (mit Oszilloskopen)
erfolgen [27].
Die meisten Verfahren zur Impulsformanalyse (PD pulse current waveform analysis CPWA)
basieren auf einer sehr breitbandigen TE-Erfassung [2834].
Unterschiedliche TE-Quellen (z.B. Korona, Hohlraumentladungen, Oberflchenentladungen)
weisen Unterschiede in der Anstiegszeit und der Pulsbreite bzw. in der oberen Grenzfrequenz
der Impulsspektren auf. Diese Grenzfrequenzen unterscheiden sich aber erst im VHF- bzw.
UHF-Bereich. Bei tiefen Messfrequenzen knnen diese Unterschiede nicht festgestellt werden,
da die spektrale Energiedichte dort (noch) konstant ist. Normkonforme TE-Messungen nach
IEC 60270 [14] erfordern genau diese konstante spektrale Energiedichte fr die korrekte
quasi-Integration der TE-Strme im Frequenzbereich mittels Bandpassfilterung (genauer:
Tiefpassfilterung).
Wenn die TE-Detektion in unmittelbarer Nhe zum TE-Entstehungsort und ohne nennenswerte
Verformung der Originalimpulsform erfolgen kann, dann gestattet eine sehr breitbandige
Impulsformanalyse die Unterscheidung von verschiedenen TE-Ursachen [19, 35].
Die Alterung von Isolierstoffen kann die TE-Impulsform beeinflussen [36]. Bei GIS ist die
UHF-TE-Messung die Regel, hier eignet sich die Impulsformanalyse fr die TE-Separation
und Strreduzierung [37].
Bei Betriebsmitteln mit komplexer Impulsausbreitung wie z.B. Transformatoren oder elektrischen Maschinen (s. Abb.20.40) bewirkt die berlagerung der verschiedenen Signalausbreitungen (induktiv, kapazitiv, leitungsgebunden, elektromagnetisch) eine Deformation und
Bandbegrenzung der an den Klemmen detektierbaren TE-Impulse (s. Abb.20.41). Die detektierbare TE-Impulsform wird dann vom Ausbreitungsweg dominiert, die Information ber die
ON POWER DELIVERY, VOL. 21, NO. 3, JULY 2006
TE-Ursache geht IEEE
dabeiTRANSACTIONS
vollstndig verloren.
ed PD on a 35-MW stator, two

] are observed. The slow mode
of 9 m/ s is attributed to the
d the fast mode through the end
he EM coupling at the terminals
nents are highly attenuated with

the winding [10]. The travelinguency in the low-frequency band
frequency band above 120 kHz.
to 120 kHz [12]. The measured
e to an exponential injected PD
hree components [14]: capacitive
aveling-wave component caused
0.01 MHz), and an oscillating
circuit of the insulating system
0.1 MHz). The windings acted as
equency being dependent on the
w 1 MHz.
indings [2], the initial pulses are
nuated as they propagate through
20.40: Komplexe
Ausbreitung von TE-Impulsen 1
Fig. 1. Abb.
Measurement
setup.
In this work, the portable PD pulse sources were developed

using a mercury switch to generate the PD pulses. A computerized high-frequency measurement system was developed and
tested for PD propagation studies on the generator at a power
plant. The online and offline testing was done on the generator.
SHAOZHEN AND BIRLASEKARAN: STUDY OF PD PROPAGATION PHENOMENON
Fig. 14. Measured and simulated time-domain responses at E and F for the
injected PD at N.
1089
197
Fig. 16. Measured and simulated frequency-domain responses at E and F for

the injected PD at I.
Abb. 20.41: Komplexe Ausbreitung von TE-Impulsen 2
Viele TE-Sensoren zeichnen sich ihrerseits durch einen ausgeprgten Frequenzgang aus, das
zur weiteren Verminderung der in der Impulsform liegenden Originalinformation fhrt.
Bei Vor-Ort-TE-Messungen kommt erschwerend hinzu, dass der frequenzabhngige Strpegel in der Regel zu einer Reduktion der nutzbaren Messbandbreite fhrt. Im Grenzfall
wird dann die TE-Impulsform nicht durch die Ausbreitungsbedingungen, sondern durch die
Filtereigenschaften der TE-Messeinrichtung bestimmt.
Fig. 15.Problem
Measured and simulated
frequency-domain responses at E and F forwird durch die blicherweise verwendete MessEin weiteres
der Impulsformanalyse
the injected PD at N.
Fig. 17. Predicted frequency responses
at E.
technik verursacht. Messsysteme fr die Impulsformanalyse
triggern
auf Impulse und diFurther analysis on the quality of fitting is tested on the fregitalisieren
den relevanten
Zeitabschnitt.
Breitbandige
und
sehr
breitbandige
Messsysteme
quency-domain
responses shown
in Fig. 15. The measured
and
1) PD Injected at Various Locations: Since the generator
frequencies matched closely at E and F.
winding
is modeled with six sections,
the responses at E and
bentigensimulated
entsprechend
hohe
Abtastraten
fr
die
Digitalisierung
der
Eingangssignale.
Damit
2) PD Injected at I: The same network model was used to
F for the injected PD at N, 17%, 33%, 50%, 67%, 83%, and
the
responses at
E andAquisitionsspeichers
F for the injected PD at I terminal. die Dauer der kontinuierlichen Datenaufzeichbeschrnktpredict
die
Gre
des
100% of generator windings and transformers can be predicted
More attention was paid to matching the resonance frequencies
using the developed model. For more clarity, typical results at E
the developed
model. The
frequency-response
plot shown
nung. Diewith
Zeit
zwischen
zwei
aufeinander
folgende
Impulse
hat
fr18,die
Impulsformanalyse
and F are presented
in Figs.
17 and
respectively.
In Fig. 17,
in Fig. 16 shows the matching only at the lowest resonance frethe resonant
frequencies
and their magnitudes
varied
with Speicherung
locakeine Bedeutung.
Die
Triggerung
auf die conImpulse
selbst
verhindert
daher
die
quency. Near the
injection
node I, E had a high-frequency
tion. For the origin of the PD at 17% and 50% of the generator
tent of 4.1 MHz while at F, the matched dominant low frequency
winding,
two
resonant
frequencies
with
low
amplitude
are
obgroer unntzer
Das Prinzip der Triggerung funktioniert allerdings
nur bei
moved to 3.3Datenmengen.
MHz.
served. As the origin moves closer to the measuring terminal,
The effect of grounding N did not alter the measurement
gutem Signal-Str-Abstand.
the magnitude rises with one dominant low frequency peak. For
much. After validating the model for predicting the responses
at E and F for the injected PD at N and I, analysis was extended
the injected PD from the transformer in the form of noise, only
a dominant very low frequency is observed.

to predict the location
of PD for
online data.
In realen Systemen
knnen
Strer
jedoch ein Dilemma
wenn
die
Triggerschwelle
In Fig. 18,verursachen:
a significant increase in
the signal
is obtained
due
to a resonance
in the busbar
propagation
path. The resulting
res(threshold) auf einen
hohen
Wert
eingestellt
wird,
knnen
nur
groe
Impulse
getriggert
und
V. PREDICTION OF PD LOCATION
onance frequencies varied with the location of the PD. As the
main objectiveBei
of developing
model was to
iden- monitoring node moves
away,die
the resonance
frequencies move
digitalisiertThewerden.
einera network
niedrigen
Triggerschwelle
wird
Triggerung
durch Strer
tify the possible origin location of the PD and the type of PD.
to a low-frequency range.
wahrscheinlicher. In Abhngigkeit vom Signal-Str-Abstand und in Abhngigkeit von der TEWiederholrate im Verhltnis zur Strrate kann eine (zu) niedrige Triggerschwelle dazu fhren,
u.U. ausschlielich Strer zu digitalisieren. In jedem Fall wird die gewhlte Triggerschwelle
einen Einfluss auf die Ergebnisse der Impulsformanalyse ausben.
20.6.6.1 TE-Impulsformanalyse im Frequenzbereich

[28] [38]
20.6.6.2 TE-Impulsformanalyse im Zeitbereich

20.6.6.3 TE-Impulsformanalyse im Zeit-Frequenzbereich
t0 =
K
P
ti
i=0
K
P
si (ti )2
si (ti
(20.23)
)2
i=0
T =
K
P
i=0
(ti t0 )2 si (ti )2
K
P
i=0
si (ti
)2
(20.24)
198
20 TE-Messung
pe et al.: Adanced Suppression of Stochastic Pulse Shaped Partial Discharge Disturbances

Abb. 20.42: TE-Impulsformanalyse im Frequenzbereich: Toleranzband
Phase is dedicated to the

herefore the signals of both
nce objects are measured sierted. The acquired data are
cy domain and the complex
ed by iterative optimisation.
resents the measurement ittaneous ArD-conversion of
nversion, the correction usd reconversion of the corin. The Fourier conversion,
s carried out by means of a
DSP.. The principle of this
to work reducing noise amBut due to the DSP as bothe sampling rate is still lime real-time functionality has
so the influences on calibran more detail.
s, that are discussed here,

d disturbing pulses have difmentioned above performing
t the pulse shape becomes
of disturbances and the PD
st approach there is no need
of course procedures on the
with a processing in the
roblems with the calibration
Cavallini et al. w9x relies on

ciples with the components
er, feature extraction, pulse
ion. For data acquisition an
pplied that stores pulses exndition along with their time
ent snapshot. That snapshot
permanent storage for furaction is thereby performed
! T . based on the signal in
Figure 4. Principle of neural signal recognition of a measured PD

Abb. 20.43: TE-Impulsformanalyse im Zeitbereich
pulse on site, f c sensor. f 50 MHz.
K
P
by a neural network in time

fi2 domain
|Xi (fi )|2 w19, 21x. So-called
i=0
2
FFNN. are a suitable tool
neural feed forward
W networks
=
K
P
for fast and generalized recognition
|Xi (fi )|2of pulse shapes w20x.
i=0
The time domain measurement of a triggered signal in the
nanosecond range is shown in Figure 4 where the big dots
represent some of the digitized samples of the triggered
signal. Actually the signal is evaluated by both the big and
the small dots. In practice a number of up to ns128 samples has proven to be sufficient for signal recognition. At
the currently maximum sample rate of 200 MSrs this
(20.25)
Happe et al.: Adanced Suppression of Stochastic Pulse Shaped P
272
199
smaller than the disturbing

amplifiers that work well w
cept.
5 PD NOISE SU
CONVENTIONAL
SYS
Alternatively the describe

also be upgraded to gen
assessed data stream as an
quisition systems. Therefor
the measured data stream
reliably recognised while
stream is transmitted to th
analysis. This data stream c
evaluation system to a mod
tion. In this case the noise
intelligent noise filter for t
ure 9..
Abb. 20.44: TE-Impulsformanalyse im Zeitbereich
20.6.7 Synchrone Mehrkanal-TE-Messung
Therefore the analogue

about 120 ! s in a digital
hardware has executed the
circuit has an enable inpu
part of the signal stream
pressed. The output of the
logue noise reassessed PD
put of any commercial PD
the applied voltage has to
PD measuring device accor
can use his existing PD me
can perform an improved
identification or PD locali
tools.
Das Verfahren der synchronen Mehrstellen-TE-Messung beruht zunchst auf dem Vergleich
6 MEASURIN
der TE-Pegel von einzelnen TE-Impulsen, die durch Signalberkopplungen an allen MesCONC
sorten z.B. drei Transformatordurchfhrungen quasi zeitgleich beobachtet werden
(s. Abschnitt 20.6.7.1). Dies erfolgte bei TE-Messungen an Transformatoren bisher mit mehrThe inputs for this neura
kanaligen Speicheroszilloskopen, die einen TE-Impuls an verschieden Auskoppelstellen zeithigh frequency pulse sequ
gleich aufzeichneten [39, 40] . Mit Hilfe eines neuen, digitalen Mehrkanal-TE-Messsystems
(s. Abschnitt 20.4.3.4) konnten nun wesentlich weitergehende Auswertungen realisiert werden
sensor and the applied 50
[20, 41].
the drastic data compressio
the system is able to store t

Verschiedene TE-Fehlerorte haben unterschiedliche bertragungsfrequenzgnge zu den Klemhours on a common compu
men (Durchfhrungen) und liefern damit unterschiedliche TE-Pegelverhltnisse, die vom
TE-Fehlerort und den Frequenzparametern der TE-Messung, nicht aber von der Amplitudenof the authors that the noi
und Phasenstochastik der TE-Quelle abhngen.
diagnostic systems has still
Figure 8.
Neural
activation according
to Spektren
pulse shape.
a, internal
because otherwise an extre
Da nur TE-Pegel,
nicht
aber TE-Signalverlufe
oder
korreliert
werden, knnen
.; b, breitactivates class1 a1 s 0.97
disturbing
pulse
activates class3
synchrone pulse
Mehrstellen-TE-Messungen
sowohl
als auch
schmalbandig
bei geeigneten
have to be stored in the PC
a3 s 0.92.; c, corresponding weight matrices and biases.
Messfrequenzen
erfolgen. Damit knnen zunchst unterschiedliche TE- und Strimpuls-Orte
not capable to store such da
differenziert werden, was insbesondere bei Vor-Ort-TE-Messungen sehr vorteilhaft ist.
compressed information ca
Die erste Vorstellung

Verfahrens
erfolgte
2002 fr TE-Messungen
an DreiphasenWhile atdieses
present
the noise
recognition
system is already
sis of noise suppressed PD
Leistungstransformatoren
[42].
Die
bisherigen
Ergebnisse
der
synchronen
Mehrstellen-TEcapable of separating on-site online disturbances that have
e.g. to a more reliable ris
a peak value up to ten times higher than the PD signal,

current development aims at extending this ratio using
converters and neuroprocessors with higher resolution
given in Figure 10. Colum

measurement of a VOID-d
dom artificial disturbing pu
200
20 TE-Messung
7000
uc
500.0
E400.0- (
:30.
12.0 14.0
EquivaIent Baridwidth [MHz]
6.0 860
omplete pattern
10.0
TF map
Abb. 20.45: TE-Impulsformanalyse im Zeit-Frequenzbereich: TF map
Messung an Transformatoren [4347], an Motoren und Generatoren [4852] und Kabelanlagen

[5355] belegen die Leistungsfhigkeit dieses Verfahrens.
Der Einfluss der Ausbreitungswege auf die TE-Impulsverformung wird ausfhrlich in [56, 57]
behandelt.
20.6.7.1 3PARD
180
(A)
Phase [D)eg]
360
Durch eine geeignete Transformation der TE-Pegelverhltnisse knnen die Ergebnisse der synchronen Mehrstellen-TE-Messung anschaulich visualisiert, TE- und Strquellen unterschieden
und die Phasen-Amplituden-Histogramme fr jeden Fehlerort getrennt beurteilt werden.
(B)
Dazu wird die synchron erfasste TE-Amplitude innerhalb eines einstellbaren Korrelationsfensters verglichen. Das Korrelationsfenster hat typischerweise eine Dauer von wenigen
Mikrosekunden. Die Gruppenlaufzeit der drei digitalen Bandpassfilter wird zwar nahezu
perfekt kompensiert, doch knnen Laufzeitunterschiede der drei Signale bedingt durch die
drei unterschiedlichen Ausbreitungswege zwischen TE-Ursprung und der TE-Detektion eine
etwas lngere Korrelationszeit erforderlich machen. Umso kleiner die Korrelationszeit gewhlt
werden kann, umso geringer ist die Wahrscheinlichkeit, dass Fehlkorrelationen durch Strimpulse auftreten. Die 3PARD-Auswertung arbeitet optimal bei fast mode Impulsausbreitung.
(C)
Die Betrge der drei TE-Impulsamplituden (Tripel) werden zunchst logarithmiert (s. Abb. 20.46/I).
und danach vektoriell addiert (s. Abb. 20.46/II/III).
(D)
12. PD phenomena recorded in one phase of a

ator. The figure reports the complete pattern the T-F map
ecomposition of the complete pattern into 4 sub-patterns
by grouping pulses with similar T-F values (see ellipsis in
ap and the corresponding labels).
Abb. 20.46: 3PARD-Konstruktion
Die 3PARD-Transformation
ist praktisch
unabhngig von den Frequenzparametern
der BandDistrib'uted
0.00
MicrovoidS.
passfilter: die Wahl der Mittenfrequenzen und Bandbreiten kann so den Eigenschaften der
Ernbedded
j
_ Vor-Ort-Strbedingungen
.0
verwendeten TE-Sensoren
als auchDelatnithation
den (vorab unbekannten)
angepasst werden.
Conductorye'larnination
$ot Discharges
Stress Grading
0.00
0.0
.00
201
Die 3PARD-Transformation weist darber hinaus folgende Eigenschaften auf:

Die Position der Punkte im Diagramm hngt deterministisch vom bertragungsfrequenzgang
zwischen TE-Ursprung und TE-Detektion ab.
Die Position der Punkte im Diagramm ist unabhngig von der stochastischen TEAmplitude und AC- Phasenlage und eignet sich deshalb auch fr die Impulsseparation bei
DC-TE-Messungen (z.B. bei HG-Transformatoren [47]).
Der Abstand vom Ursprung wchst mit zunehmender Dmpfung der berkoppelten
Impulse.
Gleichtakt-Strer (alle drei korrelierten Impulsamplituden haben die gleiche Amplitude)
sammeln sich im Ursprung (Sternpunkt) des Diagramms.
Impulse einer Phase, die eine symmetrische berkopplung zu den Nachbarphasen aufweisen, werden auf der entsprechenden Diagrammachse abgebildet (typisch fr Kalibrierimpulse bei Dreiphasentransformatoren mit Dreieckswicklung und rotierenden Maschinen).
Unvermeidbares Rauschen fhrt zur Bildung von Wolken (cluster) anstelle von Punkten;
geringes Rauschen fhrt zu sehr konzentrierten, punkthnlichen cluster .
Abb. 20.47 zeigt die Leistungsfhigkeit der 3PARD-Transformation am Beispiel einer onlineTE-Messung an einem Hochspannungsmotor. Die Puls-Sequenz-Analyse wird durch TESeparation berhaupt erst mglich.
Abb. 20.47: 3PARD Mehrstellen-TE-Separation und Rcktransformation

Die 3PARD-Transformation und Rcktransformation steht beim MPD600 sowohl whrend
der TE-Messung als auch fr sptere Auswertungen zur Verfgung.
20.6.7.2 3PTRD
Bei dominanter slow mode Impulsausbreitung und evtl. groen Differenzen zwischen den
Ankunftszeiten der drei Impulse eignet sich die 3PARD-Auswertung nicht optimal, da die
dann erforderliche lange Korrelationszeit zuviele Fehlkorrelationen verursachen wrde.
Fr diesen Fall eignet sich die Korrelation der Impuls-Ankunftszeiten (statt der Impulsamplituden). Dieses neue Auswerteverfahren wurde erstmals in [58, 59] vorgestellt und knnte evtl.
den Weg zur elektrischen TE-Lokalisierung ebnen.
diesem Zweck wurde im Rahmen dieser Arbeit ein weiteres Verfahren entwickelt,
das sog. 3PTRD (3 Phase Time Relation Diagram).
Zentrales Element ist die Bewertung der Reihenfolge von Impulsen eines TE-
202
20 TE-Messung
Tripels. Da es insgesamt sechs Mglichkeiten der Impulsreihenfolge gibt, wird

Zentrales Element ist die Bewertung der Reihenfolge von Impulsen eines TE-Tripels. Da es
das dreiachsige Diagram in entsprechend sechs gleich groe Abschnitte
insgesamt sechs Mglichkeiten der Impulsreihenfolge gibt, wird das dreiachsige Diagramm in
unterteilt. Jede
wird im
Abschnitt abgebildet
entsprechend
sechsReihenfolgenkombination
gleich groe Abschnitte unterteilt.
Jedejeweiligen
Reihenfolgenkombination
wird im
jeweiligen
Sektor
abgebildet
(s.
Abb.
20.48).
(s. Abbildung 30).
Abb. 20.48: 3PTRD Visualisierungsabschnitte von Messzeitreihenfolgen der TE-Impulse
Abbildung 1: Visualisierungsabschnitte von Messzeitreihenfolgen der TE-Impulse eines Tripels im

eines Tripels
3PTRD
Die genauen
genauen
Abbildungskoordinaten
des Tripels
im 3PTRD
werden
vom
Vektor
Die
Abbildungskoordinaten
des Tripels
im 3PTRD
werden vom
Vektor
bestimmt,
dessen
Lnge
A
und
dessen
Winkel
nach
den
Gleichungen
20.26
und
20.27
berechnet
bestimmt, dessen Lnge A und dessen Winkel ! nach Gleichung 5 und 6
werden:
berechnet werden:
A = t3.T E t1.T E
(20.26)
&
#
(t
-t
)
t3.T E t2.T E
) = $$ (Lx + 3.TE 2.TE ' 60 !!
=
Lx +
60
(
t
t
)
3
.
TE
1
.
TE
%
"
t3.T E t1.T E
(Gleichung 5)
(20.27)
Dabei ist Lx der Winkel der Phasenachse, in der der erste Impuls des Tripels gemessen
wurde
L1 = 330, L2 = 90, L3 = 210), t1.T E ist der Messzeitpunkt des ersten, t2.T E
A = t 3(
.TE - t1.TE
der des zweiten und t3.T E der des letzen TE-Impulses des entsprechenden TE-Tripels. Die
Abbildungsmethodik ist so gewhlt, dass die grafische Transformation der Impulsparameter,
die untereinander einen bestimmten Unterscheidungs- bzw. Gleichheitsgrad aufweisen, analog
wie beim amplitudenbasierten 3PARD erfolgt. Abbildung 20.49 zeigt vier Kombinationen von
unterschiedlichen Zeitabstnden zwischen den Tripelimpulsen, wobei der erste Impuls in der
Phase L1, der zweite in L2 und der dritte in L3 gemessen wurde.
Ist z.B. die Zeitdifferenz zwischen den ersten zwei Impulsen minimal, d.h. t1.T E t2.T E 0,
so wird der resultierende Punkt zwischen den Achsen L1 und L2 abgebildet. Ist dagegen
die Zeitdifferenz zwischen den letzten zwei Impulsen gering (t2.T E t3.T E 0), so wird
dieser Tripel genau auf die Achse L1 abgebildet. Abbildung 20.50 zeigt das Beispiel einer
3PTRD-Auswertung einer online-TE-Messung.
Die PTRD-Transformation steht z.Z. nur fr die nachtrgliche Auswertung von aufgezeichneten TE-Messungen zur Verfgung. Wenn weitere Untersuchungen die Ntzlichkeit dieses
Auswerteverfahren besttigen, wird auch dieses Verfahren in das MPD600 implementiert und
dann ebenfalls schon whrend einer TE-Messung zur Verfgung stehen.
amplitudenbasierten 3PARD erfolgt. Die Abbildung 2 zeigt vier Kombinationen von

unterschiedlichen Zeitabstnden zwischen den Tripelimpulsen, wobei der erste
Impuls in der Phase L1, der zweite in L2 und der dritte in L3 gemessen wurde.
203
Abb. 20.49: 3PTRD vier Kombinationen von Zeitabstnden zwischen den Impuls-Tripeln
Abbildung 2: Abbildung von vier Kombinationen von Zeitabstnden zwischen den Tripelimpulsen im
3PTRD
Ist z.B. die Zeitdifferenz zwischen den ersten zwei Impulsen minimal (t1.TE t2.TE " 0),
so wird der resultierende Punkt zwischen den Achsen L1 und L2 abgebildet. Ist
dagegen die Zeitdifferenz zwischen den letzten zwei Impulsen gering (t2.TE t3.TE "
0), so wird dieser Tripel genau auf die Achse L1 abgebildet.
Abb. 20.50: 3PTRD Mehrstellen-TE-Separation an einem Hochspannungsmotor
20.6.7.3 3CFRD
Die Multispektrale TE-Messung beruht auf der Korrelation der Impulsamplituden, die mit drei
unterschiedlichen Bandpassfiltern zeitgleich gemessen wurden. Da die Bandpassfilterung beim
MPD600 digital erfolgt, kann dieses Verfahren bei einer Einkanal-TE-Messung angewendet
werden und erfordert nicht notwendigerweise die Verwendung von drei TE-Messkanlen. Es
eignet sich somit als universelles Verfahren, kann aber auch ggf. mit der Mehrstellen-TEMessung kombiniert werden.
Abbildung 20.51 zeigt ein Beispiel fr die Wahl unterschiedlicher Bandpasseinstellungen
(gelbe Bereiche) bei der Vor-Ort-TE-Messung an einem 420 MVA-Einphasentransformator
und die Transferfunktionen bei Einspeisung von Kalibrierimpulsen in die Hochspannungsdurchfhrung.
Zur Demonstration der Leistungsfhigkeit der 3CFRD-Auswertung wurde eine mglichst einfache Versuchsanordnung gewhlt. Sie besteht aus zwei gleichen Nadel-Platte-Anordnungen
(NP1 und NP2 ), die an einen Hochspannungstransformator und einen Koppelkondensator CK
mit einem Ankopplungsvierpol CD angeschlossen wurden (s. Abb. 20.52). In die Verbindung
von CK und NP2 wurde zur Verformung der TE-Impulse von NP2 eine einfache Luftspule L
(ca. 40 Windungen, einlagig) zwischengeschaltet.
204
20 TE-Messung
Abb. 20.51: 3CFRD Einstellung der drei Bandpassfilter
NP1
CK
NP2
CD
Abb. 20.52: 3CFRD Versuchsaufbau (proof-of-concept)
Die resultierenden TE-Impuls-Oszillogramme und Spektren von NP1 (links) und NP2 (rechts)
sind in Abbildung 20.53 dargestellt. Die Aufprgung einer Resonanz durch die Luftspule ist
klar erkennbar.
Bei den drei Bandpassfiltern wurden die Mittenfrequenzen 1, 2 und 5 MHz eingestellt. Die
Bandbreite betrug einheitlich 300 kHz. Das TE-Muster mit der berlagerung ist in Abb. 20.54/I
dargestellt. Das Ergebnis der 3CFRD-Transformation zeigt Abb. 20.54/II, zwei der drei cluster
reprsentieren die beiden TE-Quellen (NP1 und NP2 ), im dritten cluster sammeln sich Strer.
Abb. 20.53: 3CFRD TE-Impuls-Oszillogramme und Spektren

Die Rcktransformation der separierten cluster zeigt Abb. 20.54/III (nur die positiven TEImpulse). Die praktisch vollstndige berdeckung der beiden TE-Muster, wie sie bei konventionellen TE-Messungen auftreten wrde, konnte klar separiert werden.
Wenn einer der drei Bandpassfilter konform zu den Anforderungen in IEC 60270 [14] eingestellt wird, ermglicht diese Art der Auswertung normkonforme Kalibrierungen und TEMessungen. Die Wahl der Frequenzparameter der verbleibenden beiden Bandpassfilter knnen
mit Hinblick auf die optimale Str-Separation frei gewhlt werden.
Die 3CFRD-Auswertung wird in Krze auch fr den Einsatz bei laufenden TE-Messungen
mit nur einem MPD600-TE-Messkanal als Option zur Verfgung stehen.
Die Differenzierungsfhigkeit des 3CFRD-Verfahrens wird am folgenden praktisches Beispiel
demonstriert. Es handelte sich um eine TE-Messung an einem gieharzisolierten einphasigen
Spannungswandler VT im Labor. Hier wurden unterschiedliche Bandpasseinstellungen und
205
Abb. 20.54: 3CFRD Auswertung und Rcktransformation
TE-Auskoppelorte (Ankopplungsvierpole CD1 , CD2 und CD3 ) kombiniert. Abbildung 20.55

stellt den Versuchsaufbau dar.
VT
CK1
CK2
CD1
CD2
CD3
Abb. 20.55: 3CFRD Versuchsaufbau 20 kV Spannungswandler
Die Bandpass-Mittenfrequenzen fr die drei unterschiedlichen TE-Auskoppelorte wurden wie

folgt eingestellt:
CD1 400 kHz
CD2 5,8 MHz
CD3 8.4 MHz
Die niedrige Mittenfrequenz (400 kHz) stellte die normkorme Kalibrierung und TE-Messung
sicher. Die bei diesen Einstellungen detektierten TE-Muster weisen eine deutliche Selbsthnlichkeit auf (Abb. 20.56).
Das Ergebnis der 3CFRD-Auswertung (Abb. 20.57) zeigt jedoch eine Vielzahl von klar separierbaren clustern, die jeweils unterschiedliche TE- und Strquellen reprsentieren.
In Abbildung 20.58 sind schlielich die rcktransformierten TE-Muster der cluster 1 bis 10
dargestellt.
3-Kanal-TE-Messung an Gieharz-Spannungswandlern
TE-Auskopplung an
206
a) Koppelkondensator fm=400kHz, df=300kHz

b) Erdseite der OS-Wicklung fm=5.8MHz, df=300kHz
c) Sekundrwicklung ber 2. Koppelkondensator fm=8.44MHz, df=300kHz
Abb. 20.56: TE-Muster 20 kV Spannungswandler
Abb. 20.57: 3CFRD-Auswertung 20 kV Spannungswandler
20 TE-Messung
Abb. 20.58: TE-Muster 20 kV Spannungswandler nach 3CFRD-Separierung
207
208
20 TE-Messung
20.7 Verarbeitung und Darstellung von TE-Messsignalen

20.7.1 Direkte Darstellung
20.7.1.1 TE-Amplitude
Abb. 20.59: Ladungsanzeige des TE-Messsystem ERA Detector Model 5
20.7.1.2 TE-Spannungsabhngigkeit
TE-Hysteresekurve [60]
Abb. 20.60: TE-Spannungsabhngigkeit
20.7.1.3 Phasenlage der TE-Impulse

Ellipsendarstellung [13]
20.7 Verarbeitung und Darstellung von TE-Messsignalen
Abb. 20.61: Ellipsendarstellung von TE-Impulsen
20.7.2 Statistische Verfahren

20.7.2.1 Ampliduden-Histogramm
20.7.2.2 Phasen-Histogramm
20.7.2.3 Phasen-Ampliduden-Histogramm
PRPD, 2D, 3D
20.7.3 Puls-Sequenzanalyse
[6163]
209
210
20 TE-Messung
20.7.4 TE-Ortung
To estimate the criticality of PD, fault-type identification has to be complemented by PD
site localization. In expanded geometries, like long cables, PD identification without precise
localization would be useless.
20.7.4.1 Elektrische TE-Ortung

TDR, time-of-arrival, pulse waveform analysis
Time domain reflectometry (TDR) is suited for localization up to a length of a few km,
depending on the actual noise level. If stable triggering on the (first) PD pulse is possible,
averaging can lift the reflected pulse from noise (20.62). On-site conditions usually require
statistical analysis of TDR results (20.63).
Abb. 20.62: TDR Oszillogramm
2007
and also reflections and refractions at boundaries lead to a

Abb. 20.63: TDR statistische Auswertung
esulting into damping, absorption and scattering effects on the
ion.
Time-of-arrival measurements base on two or more synchronous PD measuring channels. For
PD detection methods
cables, Abb. 20.63 shows the result of a time-of-arrival measurement at both ends of the cable
(blue: feeding side, red: far end). Sensitivity for localization is definitely improved compared
to TDR.
methods primary the PD source and respectively the point of

ised. The ultrasonic
PD location has well been proven for high
When testing very long cable systems, best possible sensitivity and selectivity is achieved by
cation of this method
over
a bigger
of high
voltage
synchronousspans
multi-channel
PD detection
at eachpart
cable accessory
(see 27.18).
ers, cables etc.). Whereas the structure-borne sound of
M.
et.al.: designed sound sensors,
ounded housings 20.7.4.2
is captured
byMuhr
special
Akustische TE-Ortung
and sensing used for
piezo-electric
sensors (Fig. 7Sensors
a),
the
airborne
sound of outdoor
Hz
non-conventional
PD detection,
Ultraschall-Richtmikrophon
[16]
captured by sensitive microphones
(Fig.
7 b).
CIGRE 2006,
D1-102
b)
Abb. 20.64: Ultraschall-Richtmikrophon zur Ortung uerer TE (Korona)
Acoustic PD sensors for structure-borne sound

ctional microphone, frequency range 20 kHz to 100 kHz
ity the complete acoustic-mechanical system has to be designed

Further, an influence arises as a result of the sensor size.
Goal: To detect and locate corona on HV transmission

20.8 TE-Datenanalyse
211
lines and substations components
20.7.4.3 Optische TE-Ortung
Principle: BiBi-spectral imaging using solar blind UV filter
to detect corona
and
visibleUV-Kameras
imaging(Tageslichtof the
nur technology
bei uerer TE: Restlichverstrker
(Verdunkelung
notwendig),
tauglich)
surrounding scene
UV beam splitter
light
Visible
lens
Visible
camera
Image
mixer
Solar blind
filter
IPH TRAINING
UV lens
Unit A1
Introduction to
PD Measurements
Final
image
2007
UV camera
CCD camera
Optical PD detection
Abb. 20.65: Funktionsweise einer UV-Tageslichtkamera
UV channel detects corona
Visible channel locates corona source
Abb. 20.66: Ortung uerer TE (Korona) mit einer UV-Tageslichtkamera
Die TE-Datenanalyse besteht aus vier Schritten:
1. Strreduzierung zur Verbesserung der TE-Messempfindlichkeit 20.6
2. TE-Impulsformanalyse 20.6.6 und/oder synchrone Auswerteverfahren 20.6.7 zur Verbesserung der Selektivitt
3. TE-Ortung 20.7.4
4. TE-Mustererkennung zur Identifizierung der TE-Ursache 20.8.1
Die Schritte 1, 2 und 3 sind notwendige Voraussetzungen, um anschlieend eine mglichst
eindeutige Interpretation der TE-Messergebnisse zu gewhrleisten.
Der Schritt 4 gestattet zusammen mit den vorangegangen Schritten eine Abschtzung, wie
kritisch ein bestimmter TE-Defekt fr die Betriebssicherheit eines Hochspannungsgertes ist.
212
20 TE-Messung
20.8.1 TE-Mustererkennung
Pattern recognition as a methodical approach for PD fault-type identification (qualitative
location [64]) began with the availability of phase-resolved PD instruments [60]. Of course,
an instantaneous picture of PD on a Lissajous figure could not capture the complex stochastic
behavior of PD. But it helped the experienced test engineer to identify certain types of PD or
interference.
Digital phase-resolved PD measurement systems made the PRPD pattern very popular for PD
type identification [65].
Abb. 20.67: 2D und 3D PRPD

Fig. 20.67 shows a two-dimensional PRPD pattern together with a three-dimensional graph
of PD pulses with respect to amplitude, phase and time (colors red, green and blue represent
PD data simultaneously recorded from different phases of a three-phase HV motor [66]). Due
to the cumulative character of PRPD pattern, PD variation in time will blur the pattern. In
general, the stochastic PD behavior is frozen.
Abb. 20.68: 2D PRPD

PRPD pattern are phenomenological representations of cumulated PD stochastic behavior.
PRPD patterns describe PD; they do not explain PD physics.
As early as 15 years ago, in the discussion to [67], R.J. Van Brunt commented on stochastic
PD behavior caused by memory propagation effects:
". . . This implies that the partial-discharge phenomena will tend to exhibit non-stationary behavior thus
making it difficult to precisely define a particular discharge pattern for a specified set of defect site
conditions. In fact, there is no reason to doubt that one can ever define or control conditions well enough
. . . to ensure a particular type of stochastic behavior for the discharge. . . . "
R. Bartnikas remarked in the same discussion:

". . . The advent of computerized techniques in conjunction with digital instrumentation allows to
carry out pulse distribution measurements with greater speed, flexibility and ease. Visually impressive
three dimensional pulse distribution plots, depicting their evolvement with time are readily obtained
with little mental or physical effort on the part of the observer. A common and rather misleading
misconception lies in the presumption that computerized discharge measurements have contributed
greatly to our knowledge of the discharge mechanisms and even to marked improvements in the
measurement techniques themselves. A careful examination of the partial discharge field shows that this
is a rather overly optimistic and somewhat untempered contention. . . . "
Despite these appeals, not only human experts with appropriate experience use PRPD patterns
for PD fault-type identification. A lot of research work was focused on computer-aided or
automatic PD pattern recognition based on PRPD pattern [6870]. A survey on actual trends
in PD pattern classification is presented in [71]. This paper distinguishes between the feature
extraction process (from measurement data) and the pattern classification (pattern recognition)
process. The choice of PD features and classification methods still show weak relation to
PD physics. According to [71], best classification results were obtained when using several
features and a well-trained artificial neural network (ANN). Nevertheless, unknown new PD
patterns can still lead to wrong classification results.
Abb. 20.69: PSA-Muster
213
Fig. 20.69 shows the result of the pulse-sequence analysis (PSA, here: delta u / delta u pattern)
corresponding to the PRPD pattern shown in fig. 20.68. In contrast to the cumulative (integral)
PRPD pattern, PSA focuses on the pulse-to-pulse correlations of consecutive PD pulses, which
depend on the local electrical field, caused by space charge build-up and decrease. Therefore,
PSA provides an approach for better understanding of PD physics and can deliver more
meaningful features for PD pattern recognition.
20.8.2 TE-Diagnose
Kapitel 21
TE bei energietechnischen Betriebsmitteln
21.1 Kabel und Garnituren

21.1.1 Relevante Normen
21.1.1.1 IEC-Normen
[72, 73]
21.1.1.2 IEEE-Normen
21.1.2 Methodik
21.1.2.1 TE-Auskopplung am Kabelende
21.1.2.2 TE-Auskopplung mit Sensoren
Abb. 21.1: Richtkoppler-TE-Sensoren in einer Muffe
215
216
21 TE bei energietechnischen Betriebsmitteln
Inductive Sensor for PD Detection on CB Links of Cross-Bonding Joints
Abb. 21.2: Kapazitiver TE-Sensor fr Kabelgarnituren
Core
air gap to avoid core saturation
HF transformer winding
(coaxial cable RG400)
CB Link 10 x 40mm
PD Bandwidth:
approx. 1...8 MHz
Sensor suited for offline and online

PD measurements
Insulation
Test Parameters:
Core
Scale 1 : 1
LI
AC
AC
DC
15kV
15kV 1min
1kV 1h
10kV 1min
Design:
Year:
IPH Berlin
2005
Abb. 21.3: Induktiver TE-Sensor HF-Transformator
21.1.3 Kalibrierung und Empfindlichkeit

21.1.4 Typische TE-Defekte
21.1.5 TE-Fehlerortung
21.1.6 Bewertung, Manahmen
21.2 Transformatoren
217
21.2 Transformatoren
21.2.1.1 IEC-Normen
21.2.2 Methodik
60270 IEC:2000
65
21.2.3 Kalibrierung und

Z Empfindlichkeit
60270 IEC:2000
65
CC
C
Ck
mi
ZZmi
CCmm
MI
CD
UU~~
CC
Ca
C
Ck
mi
ZZmi
CCmm
MI
CD
IEC
UU~~
2233/2000
Components
Ca
U ~ low- or high-voltage supply
Z mi
CC
connecting cable
Ck
coupling capacitor
Cm
capacitance in parallel to Z mi
CD
coupling device
Ca
test object
IEC
2233/2000
MI
Components
Abb. 21.4: Kalibrierung bei
Transformatoren
mit gesteuerten Durchfhrungen (MessbeZ
filter
U ~ low- or high-voltage supply
lag)
Figure 2 Test
measurement
at a tapping
of a bushing
Z mi circuit
input for
impedance
of measuring
system
CC
Ck
coupling capacitor
connecting cable
Cm
capacitance in parallel to Z mi
CD
coupling device
Ca
test object
MI
filter
C
Caa
Ckk
U~
U
~ 2 Test circuit for measurement at a tapping of a bushing

Figure
ZZmi
mi
CD
MI
CC
IEC
2234/2000
Abb. 21.5: Kalibrierung Components

bei Transformatoren ohne gesteuerte Durchfhrungen
U~
low- or high-voltage supply
Z mi
CC
connecting cable
Ck
C
Caacapacitor
coupling
coupling device
CD
Ca
U~
U~
MI
Z
Ckk
test object
ZZmi
mi
filter
CD
MI
CC
Figure 3 Test circuit for measuring self-excited test objects

IEC
Components
U~
low- or high-voltage supply
Z mi
CC
connecting cable
Ck
coupling capacitor
CD
coupling device
2234/2000
218

21.2.5 TE-Fehlerortung
21.3 Elektrische Maschinen
219
21.3 Elektrische Maschinen

21.3.1.1 IEC-Normen
18
60034-27 TS Ed.1/DTS IEC:200X
21.3.2 Methodik
suppress conducted interference from the power supply. The PD coupling unit should be installed
as close to the winding terminals as possible. The stator core should normally be grounded.
In Figure 6 a test circuit is shown for a PD measurement on phase U with terminals U1, V1, W1
being the high voltage phase terminals and U2, V2, W2 being the star point side of the winding.
Ck
U1
U2
V1
V2
W1
W2
U~
[74]
Zm
PD
1= high voltage supply
Abb. 21.6: TE-Messung bei der offline-Prfung rotierender Maschinen

Figure 6 Test circuit for PD measurement (S1.1) on complete winding
7.3.2
Recommended standard measurements (SX.X)
For measurements on windings with open star point the winding connections given in Table 1 are
recommended. Table 2 shows the measurements recommended for closed accessible and inaccessible star point. To check the production quality after manufacturing and to have a baseline measurement, which facilitates future comparison and trending of partial discharge results, it is recom21 1 and 2 on new and aged windings.
60034-27
TSperform
Ed.1/DTS
IEC:200X
mended to
the
measurements
listed in Table
21.3.3 Kalibrierung und Empfindlichkeit
Table 1 - Connection diagram S1 for open star point
S1.3
W2
U1V1
S1.4
U2V2W2
U1
W1
U2
U1V1W1
Table 2 - Connection diagram S2 for closed star point

Ck
W1
PD
V2
V1
PG ID Number
Zm
S2.1
HV
Ground
Accessible star point

U2V2W2
CK
W2
U~
[74]
Normalization is in principle needed for each type of test circuit arrangement described in 7.3, beID Number
HV
Ground
CK
fore starting the actual PD test. In case a sequence of PD tests is performed, e.g. S1.1, S1.2, S1.3,
S1.1
U2
in which the symmetry of the three-phase
winding
canV1W1
be utilized, U1
normalization is necessary only
for the first of those measurements.
S1.2
V2
U1W1
V1
Cstray
U1V1W1
inaccessible star point

S2.2
U1V1W1
U1V1W1
1
A comparison of measurement results from S1.1 to S1.3 with measurement S1.4 for open star point
(Table 1) allows for the detection and distinction of specific partial discharge sources between two
1 PG = Pulse Generator according to IEC 60270
phases of the winding, e.g. due to manufacturing deficiencies or as a result of ageing during operation (see 9.2). Figure 7 Normalization of the test circuit for measurement S1.1
Abb. 21.7: TE-Kalibrierung bei rotierenden Maschinen
Depending on the size of the individual machine under test a separate normalization of each phase
may be advisable, since for very large machines symmetry of the three phases may not necessarily
apply because of the influence of circuit ring connection design.
The procedure of normalization for complete windings in accordance with Figure 7 should be performed with the following steps:
1)
The test circuit is selected in accordance with 7.3, depending on the type of measurement to
be performed (see Table 1 to 4, 7.3)
2)
All connecting leads to the phase terminals, the PD coupler and the test voltage supply
should be as short as possible and all components of the test circuit should be in the final
arrangement for measurement with the test voltage supply connected but not energized.
3)
The reference pulse generator is connected between the phase to be tested, and ground,
with leads as short as possible to avoid distortion of the signal because of lead inductance.
If possible the reference pulse generator should always be connected directly to the phase
terminal.
4)
The pulse generator should be adjusted to an adequate pulse magnitude in the relevant
range of magnitudes expected from the test object.
5)
The reference pulses of constant magnitude are measured by the PD device to determine a
scale factor for subsequent measurement.
Since the entire arrangement of the test object, connecting cables and measurement device with
filter and amplifier needs to be considered from a system perspective, the normalization of an individual test circuit for complete stator windings will still only hold for a given machine and a given
29
220 TS Ed.1/DTS IEC:200X

60034-27

For example, it may happen that two sub-patterns, appearing in one PD reading, may reach similar
PD magnitudes: One caused e.g. by delaminations within the main insulation of the slot section, the
other21.3.5
caused TE-Fehlerortung
e.g. by surface effects somewhere in the end-winding. Although both phenomena
generate PD that may reach similar magnitudes, the delamination PD in the slot section indicate a
more critical insulation condition, caused by overheating and/or thermal cycling, than the surface
PD in the end-winding area, e.g. caused by contamination or elevated humidity.

10.3.2
Basic Interpretation
A basic procedure that can be applied for the identification and localization of typical PD sources in
[74] by using phase resolved PD patterns, is shown in Figure 9. Each sub-pattern that can be
windings,
separated from the complete PD reading can be classified in this way.
PD Data, pattern
from all phases in parallel
(according to clause 7)
PD Data, pattern
from single phase readings
Comparison of single
phase readings with
readings taken from all
phases in parallel
yes
Same pattern
in 2 or 3 phases?
no
Visible in
parallel reading?
yes
Phase to
ground PD
in these phases
no
Phase to phase
PD between
these phases
Source identification
a) Concerning
location
b) Concerning
physical process
Figure 9 Example
identification bei
androtierenden
localization
of PD sources
Abb. 21.8:forTE-Bewertung
Maschinen
The aim of PD pattern interpretation is to separate PD resulting from various PD sources within the
test object. With this information it is possible to: (see Annex E)
observe the trend behaviour of each PD source,
localize the various PD phenomena,
provide rough information concerning location for pinpointing,
assess the insulation condition, depending on PD source and PD location.
When analysing phase resolved PD patterns, again the most meaningful interpretation can be obtained by:
trending the PD pattern on the same stator over time, using the same test method and
equipment with same technical characteristics,
comparing PD patterns from several stators with same design, using the same test method
and equipment with same technical characteristics,
comparing PD patterns between different phases of one stator, using the same test method
and equipment with same technical characteristics.
the geometric proportions with its specific properties (damping, phase constants, propagation
constants) as well as discontinuities along the cable (connection bushings, change in the
profile, refraction and reflection) have to be taken into consideration. The applied sensor
design as well as the geometric arrangement and the mechanic assembly of equipment are
Schaltanlagen
decisive for21.4
theGasisolierte
sensitivity
and the accuracy. According to practical experience for221yoke coils
an equivalent
detection sensitivity
below 1 pC can be reached, even under heavy ambient
21.4PDGasisolierte
Schaltanlagen
noise.
IPH TRAINING
2007
For
capacitive
field
coupling
so-called film electrodes are mainly used, which cover a bandIntroduction
to Normen
Unit
A1
21.4.1
Relevante
PD Measurements
width from 1 MHz
to 50 MHz, i.e. the HF and VHF range. Practical experiences revealed that
an equivalent PD detection sensitivity down to 1 pC could be achieved for insulated bushings
21.4.1.1
and of about
10 pCIEC-Normen
for adjacent bushings. This sensor type can also be calibrated by feeding a
calibration pulse into the bushing.
HF/VHF
Directional
coupler sensors are based on the capacitive and
the inductive
principle using a
M. Muhr
et.al.:
Sensors
andVHF
sensingand
used UHF
for
bandwidth
from
about
2
MHz
to
500
MHz,
i.e.
the
complete
HF,
range is
typ.
3MHz
to
300MHz
non-conventional
PD
detection,
21.4.2
Methodik
covered. This advanced technology has well been proven for power cable accessories, where
CIGRE 2006, D1-102
an equivalent
UHF PD detection sensitivity below 1 pC could be achieved, even if the ambient
noise level [16]
is much higher. A sensitivity check can be performed for each sensor pair, where
typ.
to 3GHz
one sensor is300MHz
used as a source
and the second one as a receiver.
!
!
IPH TRAINING
propagation velocities appear and also reflections and refractions at boundarie

changed sound propagation, resulting into damping, absorption and scattering eff
Introduction
to
disc sensorUnit
A1 acoustic
measurable
compression.
PD Measurements
GIS - flange
PD detection meth
Using acoustic PD detection methods primary the PD source and respectively t

sealing
ring
origin is attempted to be
localised.
The ultrasonic PD location has well been prov
connecting leadenergy PD. The field of
plugapplication of this method spans over a bigger part of h
cover plate
equipment
(GIS, transformers, cables etc.). Whereas the structure-borne
Acoustic
et.al.: designed sou
Fig.encapsulated
3: SectionalAbb.
view
andUHF-TE-Sensor
mounting
offr
anGIS
UHF
PD disk
sensor M.
facilities
and grounded
housings
is captured
byMuhr
special
21.9:
Sensors and sensing used for
suchtyp.
as accelerometers
and piezo-electric sensors (Fig. 7non-conventional
a), the airborne
sound
10kHz to 300kHz
PD detection
If only the UHF range
of PD and
events
shall belines
evaluated,
i.e. frequencies
above
300
MHz
and
facilities
overhead
is captured
by sensitive
microphones
(Fig.
7
b).
CIGRE 2006, D1-102
up to 3 GHz, special designed capacitive sensors (antennas) are used, which have well been
proven in the past for GIS and recently also for transformers. Two types of UHF PD detection
systems can be termed, the narrow band technique with a bandwidth around 5 MHz and the
wide band technique using a bandwidth up to 2 GHz. While in new plants the UHF sensors
can be installed simply (disc sensor arranged in a montage flange) in existing plants, however,
only mobile window sensors can be used (Fig. 3, 4). Also field grading electrodes with their
impact as UHF loop antenna can serve for the detection of the PD signals.
insulating
material
a)
window flange
plexiglass disk
Abb. 21.10: Akustischer

TE-Sensor
fr GIS
Fig. 7: a)
Acoustic
PD
b)
sealing ring
lock screw
sensors for structure-borne sound

sensor disk directional microphone, frequency
b) Ultrasonic
range 20 kHz to 100 k
chassis
spring band
grip with cable

terminal
window sensor
Acoustic signal (mV)
insulating material
To reach an optimum sensitivity the complete acoustic-mechanical
system has to b
and examined
accordingly.
influence
arises
as a result of the s
21.4.3
und
Empfindlichkeit
Fig.
4: Kalibrierung
Sectional
view
and
mounting of anFurther,
UHF PDan
mobile
window
coupler
Comparative measurements revealed, that for GIS under on-site condition an
sensitivity
as lowcaused
as 5 by
pCthecould
be UHF
achieved
(Fig.
8). A correlation
to the P
The resulting attenuation
of PD pulses
applied
sensors
is dependent
on the
Kalibrierung gem [14]
apparent
charge material
measured
electrical
can not (TE,
be expected
frequency, the geometry,
the conductor
andbythe
mode of methods
the PD transients
TEM because a
or TM mode). An of
additional
attenuation
backtotoquantify
the reflection
the acoustic
methodcan
canalso
not be
be traced
conducted
suitableand
reference valu
refraction at discontinuities.
Along
with
the
dependency
of
the
facility
configuration,
the
function check of an acoustic system a representative wideband acoustic disturbi
used.
3
60
50
40
30
20
10
System noise
Introduction to
PD Measurements
222
cal
PROBE
OPTICAL HEAD
DETECTOR
GIS
ENCLOSURE
PHOTON
COUNTING
ELECTRONIC
BOX
OPTICAL FIBER
CABLE
probe 1
probe 2
CONTROL UNIT
60270 IEC:2000
probe n
69
Abb. 21.11: Optische TE-Detektion fr GIS

CCaa
U
UU~~
Coo
C
Ckk
MI
IEC
2237/2000
Components
Abb. 21.12: Kalibrierung bei GIS ber kapazitive Sensoren

U~
high-voltage supply
MI
Ca
test object
Ck
coupling capacitor
Co
calibration capacitor

21.4.5
G
TE-Fehlerortung
step voltage generator
Figure 4c Test circuit for measurement in GIS
21.4.6
Manahmen
FigureBewertung,
4 Connections
for the calibration of the complete test arrangement
B, C
6 dB
f1
f2
IEC
Key
A
bandpass of the measuring system
2238/2000
Kapitel 22
Geschichtliche Entwicklung der TE-Messtechnik
Die Schdlichkeit von Entladungen in Isolieranordnungen ist schon seit Anfang dieses Jahrhunderts bekannt. 1902 berichtete Perrine ber Schdigungen an Kabelisolierungen bei Anwesenheit von Hohlrumen [75]. Petersen wies 1912 auf die Feldstrkeerhhung in gasgefllten
Hohlrumen innerhalb eines Dielektrikums hin, so dass bei hoher Dielektrizittszahl bereits
relativ niedrige Betriebsspannungen zu TE fhren knnen [76]. Untersuchungen ber Koronaerscheinungen an Leitern und ber Gleitentladungen an Isolierstoffoberflchen erweiterten
die Kenntnisse ber Entladungsvorgnge [77, 78]. Zwei Beitrge, die sich mit den experimentellen und theoretischen Grundlagen zur Ernittlung der elektrischen Feldstrke innerhalb
der TE-Hohlrume beschftigen, erschienen 1919 [79, 80]. Gemant und v. Philippoff gaben
1932 zum ersten Mal das heute noch angewendete Ersatzschaltbild fr innere TE in lsolieranordnungen an [81]. TE-Messungen wurden zunehmend zur Beurteilung der Qualitt von
Isolierungen herangezogen [82]. Die Geschichte der TE-Messung wird beispielsweise in
[8385] ausfhrlicher dargestellt.
In den USA wurde 1940 von der National Electrical Manufacturers Association (NEMA)
die weltweit erste TE-Prfvorschrift herausgegeben, in der die Verwendung schmalbandiger
Funkstr-Messgerte vorgeschrieben wurde [86]. In den folgenden Jahren erschien eine
Vielzahl von Verffentlichungen, in denen die TE-Alterung und die Messtechnik behandelt
wurden. Insbesondere die CIGRE-Arbeitskreise beschftigten sich mit diesen Themen [87,
88].
22.1 Analoge TE-Messtechnik

Im Jahr 1952 wurde in Grobritannien von Mole das erste Gert fr die Messung von Impulsladungen, der ERA-Detektor1 , vorgestellt [89, 90]. Mit diesem TE-Messgert wurde
die TE-Messung als Messung der sogenannten scheinbaren Ladung q, wie sie heute in den
internationalen Vorschriften festgelegt ist, eingeleitet.
Noch etwas frher wurde in Deutschland das sogenannte Koske-Gert entwickelt, bei dem
die TE-Impulse mit Hilfe einer Rahmenantenne schmalbandig gemessen wurden [91, 92]. Das
Koske-Gert ist in Abbildung 22.1, das Funktionsprinzip in Abbildung 22.2, dargestellt.
Das Koske-Gert war damit der Vorlufer der ab 1958 in Deutschland zum Einsatz kommenden
Funkstr-Messgerte. Die praktische Geburtsstunde der TE-Messung als Mittel der Qualittsbeurteilung schlug 1955, als die Rheinisch-Westflischen Elektrizittswerke (RWE) in ihren
Lieferbedingungen fr gesteuerte Durchfhrungen eine TE-Abnahmeprfung mit dem KoskeGert verlangten. In der Folgezeit wurde diese Prfung auch bei anderen Betriebsmitteln
verlangt.
Koske selbst erkannte frh, dass diese neue Methode der Isolationsdiagnostik zur Etablierung
auch entsprechende Normen bentigt (s. Abb. 22.3, zitiert nach [92]).
1
Eine sptere Variante des ERA-Detektors, das Modell ERA-5, wurde im Abschnitt 20.4.2 beschrieben.
223
224
22 Geschichtliche Entwicklung der TE-Messtechnik
Abb. 22.1: Koske-Gert
Abb. 22.2: Koske-Gert (Funktionsprinzip)
Abb. 22.3: Vorwort
TE-Prfungen mit Funkstr-Messgerten erlangten im deutschsprachigen Raum immer mehr

an Bedeutung, da mit den Vorschriften fr diese Gerte (VDE 0876/12.55) klare Anforderungen an die Gerteeigenschaften vorlagen. Obwohl Funkstr-Messgerte aufgrund ihrer
Pulsbewertung zunchst nur fr die Messung von Funkstrungen, z.B. hervorgerufen durch
uere Entladungen (Korona), gedacht waren, wurden sie auch fr die Messung innerer
Teilentladungen herangezogen.
The introduction of the ERA detector in 1952, the first quasi-broadband PD instrument, paved
the way for the success of (apparent) charge measurements in pC instead of V as with RIV
measurements. Quasi-broadband PD instruments have a fixed center frequency and usually
can adjust their lower and upper cut-off frequency in some steps, resulting in a bandwidth of
100 kHz up to several 100 kHz. Compared to narrowband instruments, PD pulse resolution
was significantly improved.
22.3 Anwendung der TE-Messtechnik
225
Both type of instruments co-existed for a long period. RIV meter were adapted to the first
edition of an IEC standard on PD measurements (IEC 270, 1968), which required the measurement of apparent charge. Conversion of V into pC formed an obstacle, because conversion
validity depends on a constant PD repetition rate. Comparability of PD measurement results
was no easy issue.
Nevertheless, from a more general point of view, both analog PD instruments are based on
a similar design: both consist of a bandpass filter and a peak level indicator. As long as the
bandpass filter extracts PD pulses where spectral density is constant, the filter response peak is
proportional to the apparent charge of the PD current pulse. This frequency domain process is
called quasi-integration [93, 94].
The output of the bandpass filter superimposed on the AC voltage period shows the correlation
of PD pulses to AC phase. PD superimposed on a Lissajous figure is still a common way to
display PD (s. Abb. 22.4).
Abb. 22.4: Lissajous-Darstellung von Korona nahe der TE-Einsetzspannung

The first catalog for PD recognition (typical patterns), published by CIGRE in 1969, drew
heavily on Lissajous PD figures, besides time and voltage dependency [60].
This short and simplified history of analog PD measuring instruments already introduced most
of the components and concepts used also in digital PD measuring systems.
TE-Messverfahren werden ausfhrlich im Abschnitt 20.4 behandelt.
22.2 Digitale TE-Messtechnik

The existing analog PD instruments made stochastic properties of PD visible, but they could
not fulfill the demands of rising scientific interest in this subject. To approach the statistics
of PD, multichannel pulse height analyzers were developed [95]. PD pulses were sorted and
counted according to their height, resulting in pulse-height histograms.
The dedicated hardware of a multichannel pulse height analyzer was designed for only one
purpose. When minicomputers and PCs became available, flexible software-based systems
replaced the multichannel pulse height analyzers for research.
As early as 1976, the first computerized PD measuring system was introduced to the public
[96]. A survey on early designs and on related software is given in [67].
Abschnitt 20.4.3 geht auf die aktuelle digitale TE-Messtechnik genauer ein.
22.3 Anwendung der TE-Messtechnik

In der zweiten Hlfte dieses Jahrhunderts wurden zunehmend polymere Isolierstoffe in Hochspannungsisolierungen eingesetzt. Die TE-Messung als zerstrungsfreie Prfung und Qualittskriterium war inzwischen berall verbreitet, wenn auch das Phnomen der Teilentladung
und die damit verbundenen Alterungsmechanismen noch weitgehend unerforscht waren. Zur
Vereinheitlichung der Prfbedingungen erhob sich der Ruf nach Herausgabe internationaler
Vorschriften zur TE-Messung [97]. In den nchsten Jahren erschienen Verffentlichungen, die
die Erfahrungen mit TE-Messungen an verschiedenen Betriebsmitteln der Energietechnik zum
Inhalt hatten: lisolierte Transformatoren [98], Kondensatoren [99] und Hochspannungsschaltgerte [100]. Von Kreuger wurde 1961 auf die Mglichkeit, TE-Strstellen in Kabeln zu orten,
hingewiesen [101]. Kreuger brachte 1964 das Standardwerk ber TE heraus [102]. 1969 publizierte die CIGRE-Arbeitsgruppe WG 21.03 unter Leitung von Kreuger einen umfassenden
Bericht zur Erkennung unterschiedlicher Teilentladungsursachen und typischer Strer [60].
226
22 Geschichtliche Entwicklung der TE-Messtechnik
Eine Vielzahl weiterer Aufstze ber besondere Probleme der TE-Messtechnik folgte. Durch
Einfhrung immer neuer Techniken bei den Betriebsmitteln der Energieversorgung, z. B. die
gasisolierten Anlagen, ist ein Ende der Untersuchungen auf dem Gebiet der TE nicht abzusehen.
Neuartige TE-Messgerte und Detektoren wurden entwickelt. TE-Messsysteme mit rechnergesttzter Datenverarbeitung setzen sich zunehmend durch. Sie ermglichen die automatisierte
Dauerberwachung von Betriebsmitteln (Monitoring) und weitgehende Ausschaltung uerer
Strgren. Auch im Bereich der Niederspannungstechnik haben sich TE-Prfungen bewhrt.
Es wird damit zum Beispiel die Qualitt der sehr dnnen Festisolierung von Optokopplem,
Trennverstrkern, elektronischen Relais u.a. bei einigen Kilovolt berprft [103].
Kapitel 23
TE-Prfbestimmungen
23.1 Entwicklung der TE-Normung

Die 1940 in den USA herausgegebene Prfvorschrift NEMA 107 [86] stellt die Grundlage fr
die schmalbandige TE-Messung mit Funkstr-Messgerten dar. Sie wurde 1964 revidiert. In
Deutschland erfolgte 1957 die konstituierende Sitzung des VDE-Ausschusses, der sich die
Ausarbeitung der nationalen Vorschrift ber TE- Messungen zum Ziel gesetzt hatte. Etwa
zur gleichen Zeit setzten auch die internationalen Bemhungen zur TE-Normung durch die
IEC ein. Nach mehreren Norm-Entwrfen erschienen schlielich 1966 die Richtlinien fr
Teilentladungsmesseinrichtungen fr Isolationsprfungen mit Wechselspannungen bis 500 Hz
als VDE 0434 Teil 1/1.66 und die Richtlinien fr Teilentladungsprfungen an Betriebsmitteln
mit Wechselspannungen bis 500 Hz als VDE 0434 Teil 2/1.66. Diese Richtlinien sahen an
erster Stelle die Anwendung selektiver Strspannungs-Messgerte nach VDE 0876 fr die
TE-Messungen vor, aber auch breitbandige Scheitelwert-, Effektiv- und Mittelwertmessgerte waren grundstzlich zugelassen. Die Auswahl des TE-Messgertes und die Festlegung
zulssiger TE-Grenzwerte blieb den fr die einzelnen Betriebsmittel zustndigen Technischen
Komitees berlassen.
Die Internationalen Normungsarbeiten erstreckten sich ebenfalls ber einen lngeren Zeitraum.
1968 erschien die erste Ausgabe der IEC-Publikation 270 Partial discharge measurements,
welche die Messung der scheinbaren Ladung q in den Vordergrund stellte. Mit der Einfhrung
unterschiedlicher Messgren in den nationalen und internationalen Prfbestimmungen waren
natrlich Konflikte vorprogrammiert, die sich in der Folgezeit durch den zunehmenden internationalen Handelsverkehr immer deutlicher bemerkbar machten. TE-Prfungen in Deutschland
wurden deshalb zunehmend nach IEC 270 mit Angabe der scheinbaren Ladung q durchgefhrt.
1974 wurde mit der berarbeitung von VDE 0434 begonnen, um eine Harmonisierung mit
IEC 270 zu erreichen. Mehrere nderungen der VDE-Entwrfe waren erforderlich, um mit
der 1976 einsetzenden berarbeitung der IEC-Publikation Einklang zu erzielen. Die 1983
schlielich herausgegebene Fassung von DIN VDE 0434/05.83 stimmte daher weitgehend mit
der 1981 herausgegebenen 2. Ausgabe von IEC 270 berein. Als bevorzugte TE-Messgre
wurde nun auch in Deutschland offiziell die scheinbare Ladung q eingefhrt. Die vorher
verwendeten Strspannungs-Messgerte waren unter bestimmten Bedingungen weiterhin
fr TE-Messungen zulssig. Eine Umrechnung der Strspannung U, in die entsprechende
scheinbare Ladung ist jedoch nur bedingt mglich. Bei der Einsatzspannung tritt hufig
gerade je ein TE-Impuls in jeder positiven und negativen Spannungshlfte auf, so dass die
Impulsfolgefrequenz n = 100 s1 betrgt. Nur in diesem Fall gilt 1 V = 2,63 pC fr eine
Messimpedanz von 60 . Die Abweichungen der VDE- und IEC-Prfbestimmungen von
1983 bzw. 1981 sind bei praktischen TE-Prfungen meist von untergeordneter Bedeutung. Im
Abschnitt 5.21 wird in der deutschen Norm bei der Kalibrierung der TE-Messgerte neben
der Einspeisung der Kalibrierimpulse in die Messimpedanz auch die direkte Einspeisung in
das Messgert zugelassen. Dies erlaubt indirekt die getrennte Kalibrierung des Prfkreises
einschlielich der Messimpedanz, aber ohne das Messgert. Weiterhin soll die Anstiegszeit
der Kalibrierimpulse nicht grer als 0,03/f2 sein, wobei f2 die obere Grenzfrequenz des
Messgertes bezeichnet, whrend IEC 270 Anstiegszeiten kleiner als 0,1 s fordert. Weiterhin
stellt der deutsche Text klar, dass die geforderten Abklingzeiten zwischen 100 s und 1000 s
227
228
23 TE-Prfbestimmungen
sich auf die Rechteckspannung des TE-Kalibrators, und nicht auf den Kalibrierimpuls beziehen.
Eine detaillierte Gegenberstellung der ersten und zweiten Ausgabe der IEC 60270 gibt [104].
Seit 1993 befasste sich eine internationale IEC-Abeitsgruppe mit der neuerlichen Revision
von IEC 270. Parallel hierzu wurden im deutschen Arbeitskreis AK 124.04 Vorschlge ausgearbeitet und vom deutschen Vertreter in die IEC-Arbeitsgruppe eingebracht. Ein erster
Revisionsentwurf der IEC-Arbeitsgruppe wurde 1994 von den nationalen Komitees zurckgewiesen. Ein Hauptgrund hierin war in der sehr ausfhrlichen Beschreibung von Grundlagen
der TE-Messtechnik zu sehen, whrend klare Anforderungen an die Messgerte und zulssige
Grenzwerte fehlten. TE-Messgerte mit digitaler Datenauswertung wurden erstmals aufgenommen. Nach berarbeitung entstand ein zweiter Entwurf, der auch als Entwurf VDE 0434 [105]
ins Deutsche bersetzt wurde. Nach der grundstzlichen Zustimmung der IEC-Mitglieder auf
der TC42-Sitzung in Bologna (Mai 1998) lag dann ein dritter Entwurf [106] zur internationalen
Abstimmung vor. Um nicht noch mehr Zeit verstreichen zu lassen, fand ein paralleles Abstimmungsverfahren in IEC und CENELEC statt. Diesem CDV (committee draft for vote) wurden
von allen nationalen Komitees zugestimmt und im Jahr 2000 als IEC 60270 verffentlicht [14].
Die IEC 60270 wurde ohne inhaltliche nderungen im parallelen Abstimmungsverfahren auch
von CENELEC ratifiziert.
Die aktuelle DIN EN 60270 (Klassifikation 0434) [15] stellt die Anforderungen an die Kalibratoren und Messsysteme deutlich in den Vordergrund. Wie bereits in der Hochspannungsprftechnik mit IEC 60060-2 (Messsysteme) seit lngerer Zeit eingefhrt, werden jetzt auch
auf dem Gebiet der Teilentladungsmesstechnik Gerteidentfikationsakten gefordert. In diesen
Aufzeichnungen muss der Betreiber von TE-Messsystemen alle Gertedaten von der Anschaffung bis zum aktuellen Zeitpunkt auffhren. Jede Reparatur, jede Kalibrierung muss
mit ihrem Ergebnis aufgefhrt und bewertet werden. Es ist selbstverstndlich, dass dies nur
mglich geworden ist, in dem man auch genaue Kalibrierprozeduren angegeben hat. So muss
neben dem Kalibrator, auch das Messsystem regelmig berprft werden, wobei zum Beispiel das Bandpassverhalten, sowie die Anzeige bei unterschiedlicher TE-Repetitionsrate
kontrolliert werden muss. Erstmals ist auch eine Typprfung von TE-Messgerten vorgesehen
[107]. TE-Messgerte, die bereits vor Inkrafttreten der IEC 60270 verfgbar waren, genieen
Bestandsschutz. Man kann aber davon ausgehen, dass ltere TE-Messgerte u.U. nicht allen
Anforderungen der Typprfung nach IEC 60270 gengen.
Die letzte Revision hat einen wichtigen Beitrag fr die Vergleichbarkeit von Messergebnissen geleistet und hat 19 Jahre in Anspruch genommen. Die nchste berprfung auf die
Notwendigkeit einer berarbeitung wird voraussichtlich 2007 stattfinden.
23.2 TE-Prfvorschriften fr bestimmte Betriebsmittel

IEC 60270 bzw. DIN VDE 0434 sind als Richtlinie fr Technische Komitees bestimmt, die
TE-Prfungen fr die verschiedenen Betriebsmittel ausarbeiten. Unmittelbar nach Erscheinen der VDE-Richtlinie ber TE-Prfungen in 1966 wurden vom Technischen Komitee fr
Messwandler in VDE 414c/4.66 zum ersten Mal Grenzwerte fr TE-Strken festgelegt. Die
Technischen Komitees fr Betriebsmittel folgten dann mit entsprechenden Festlegungen. Eine
Vielzahl nationaler und TE-Prfvorschriften, die heute weitgehend harmonisiert sind, sind auf
dieser entstanden.
Tabelle 1 enthlt eine Zusammenstellung der abgeleiteten Prfvorschriften fr elektrische
Betriebsmittel. Die Umstellung auf die Messgre scheinbare Ladung ist inzwischen berall
vollzogen. Die niedrigsten TE-Grenzwerte gelten derzeit fr VPE-Kabel (5 pC), die hchsten
fr Drosseln (500 pC).
Die im Hochspannungsbereich inzwischen unverzichtbare TE-Prftechnik wurde auf die im
Niederspannungsbereich eingesetzten elektrischen Betriebsmittel wie Optokoppler und Trenntransformatoren bertragen. Eine von IEC 60270 abgeleitete Prfvorschrift fr Betriebsmittel
in Niederspannungsanlagen erschien 1990 als DIN VDE 0110 Teil 20, die zwei Jahre spter als
IEC 664-1, Anhang C und D, bemommen wurde. Bereits vorher wurden in DIN VDE 0884
fr Optokoppler TE-Grenzwerte (5 pC) festgelegt.
23.2 TE-Prfvorschriften fr bestimmte Betriebsmittel
229
Elekrisches
Betriebsmittel
Nationale Norm
(Klassifizierung)
Internationale
Norm
Festgelegte
Teilentladungsprfspannung
Durchfhrungen
DIN EN 60137
VDE 0674-5
IEC 60137
Ed. 6 CDV
1,5 Um / 3
1,05 Um / 3
2004-07
2005-12
1,5 Um / 3
1,05 Um / 3
DIN EN 60885-2
VDE 0481-855-2
2004-11
IEC 60885-2
Ed. 1
1987-03
Prfverfahren
DIN EN 60885-3
VDE 0481-855-3
2004-11
IEC 60885-3
Ed. 1
1988-07
Prfverfahren
Kabel
und Garnituren
>0,6/1 kV
DIN VDE 0271

VDE 0271
2007-01
3 U0 1
DIN VDE 0278-629-1 IEC 60502-2

VDE 0278-629-1
Ed. 2
2004-02
2005-03
> 36 kV
150 kV
DIN VDE 0276-632

VDE 0276-632
1999-05
3 U0
20 pC PVC
10 pC extrud.
VDE: Entwurf
IEC 60840
Ed. 3
2004-04
1,5 U0
nach 10 s 1,75 U0
5 pC extrud.
IEC 62067
Ed. 1.1
2006-03
1,5 U0
nach 10 s 1,75 U0
5 pC extrud.
DIN EN 60044-1
VDE 0414-44-1
2003-12
IEC 60044-1
Ed. 1.2
2003-02
Um (1,2
Um )
1,2 Um / 3
Um (1,2
Um )
1,2 Um / 3
Teil 2: Induktive
Spannungswandler
DIN EN 60044-2
VDE 0414-44-2
2003-12
IEC 60044-2
Ed. 1.2
2003-02
wie 60044-1
Teil 3: Kombinierte
Wandler
DIN EN 60044-3
VDE 0414-44-3
2003-12
IEC 60044-3
Ed. 2.0
2002-12
wie 60044-1
Kapazitive
Spannungswandler
DIN EN 60044-5
VDE 0414-44-5
2005-03
IEC 60044-5
Ed. 1.0
2004-04
Um (1,2
Um )
1,2 Um / 3
Elektronische
Spannungswandler
DIN EN 60044-7
VDE 0414-44-7
2000-11
IEC 60044-7
Ed. 1.0
1999-12
wie 60044-1
Elektronische
Stromwandler
DIN EN 60044-8
VDE 0414-44-8
2003-06
IEC 60044-8
Ed. 1.0
2002-07
wie 60044-1
Transformatoren
DIN EN 60076-3
VDE 0532-3
2001-11
IEC 60076-3
Ed. 2.0
2000-03
Drosseln
DIN EN 60076-6
VDE 0532-76-6
2006-12
IEC 60076-6
Ed. 1.0
2006-11
Trockentransformatoren
DIN EN 60076-11
VDE 0532-76-11
2005-04
IEC 60076-11
Ed. 1.0
2004-05
Stufenschalter
DIN EN 60214-1
VDE 0532-214-1
2003-12
IEC 60214-1
Ed. 1.0
2003-02
Drehende elektrische
DIN IEC 60034-27
IEC/TS 60034-27
auf Kundenwunsch 2 U0
10 pC (), (GH)
5 pC
nach 2,25 U0
Messwandler
Teil 1: Stromwandler
250 pC (HP)
100 pC
nach 2,25 U0
3,6/6(7,2) kV
20,8/36(42) kV
>150 kV
500 kV
Festgelegte Anmerkung
max. zul.
TE-Strke
U2 = 1,
3 Um / 3
1,1 Um / 3
10 pC (FL)
5 pC
50 pC (FE)
20 pC
10 pC
5 pC
300 pC nach U1
100 pC nach U2
500 pC IEC: FDIS
1,3 Ur
10 pC nach 1,8 Ur
U2 = 1,
3 Um / 3
1,1 Um / 3
50 pC nach U1
30 pC nach U2
Prfverfahren
230
23 TE-Prfbestimmungen
Elekrisches
Betriebsmittel
Nationale Norm
(Klassifizierung)
Internationale
Norm
Maschinen
Teil 27: Offline. . .
VDE 0530-27
2005-07
Ed. 1.0
2006-12
GIS
> 1 kV
52 kV
DIN EN 62271-200
VDE 0671-200
2004-10
IEC 62271-200
Ed. 1.0
2003-11
1,1 Um
10 pC nach 60 s Ud
> 52 kV
DIN EN 62271-203
VDE 0671-203
2004-11
IEC 62271-203
Ed. 1.0
2003-11
1,2 Um
5 pC nach 60 s Ud
berspannungsableiter DIN EN 60099-4

Teil 4: MetalloxidVDE 0675-4
ableiter
2005-06
IEC 60099-4
Ed. 2.1
2006-07
1,05 U0
10 pC nach
2. . . 10 s Um
Optokoppler
IEC 60747-5-5
Ed. 1.0
2006-10
U0
DIN IEC 60747-5-5

VDE 0884-5
2003-05
Festgelegte
Teilentladungsprfspannung
Festgelegte Anmerkung
max. zul.
TE-Strke
VDE: Entwurf
5 pC IEC: FDIS
Isolierflssigkeiten
DIN VDE 0380-5
Bestimmung der TE- VDE 0380-5
Einsatzspannung PDIV 1995-02
(Report)
IEC/TR 61294
Ed. 1.0
1993-10
Prfverfahren
Elektrische IsolierDIN IEC 61934

systeme: Elektrische
TE-Messungen wieder- 2005-02
holter Impulsspannung
mit kurzer Anstiegszeit
IEC/TS 61934
Ed. 1.0
2006-04
Prfverfahren
DIN: Entwurf
Tabelle 23.1: Zusammenstellung von zulssigen TE-Strken von elektrischen Betriebsmitteln (Stand: 31.01.2007)
Abkrzungen in Tabelle 23.1: ()] limprgniert, (GH)] gieharzimprgniert, (HP)] laminiertes Hartpapier,
(FL)] Flssigkeitsisolierung, (FE)] Feststoffisolierung
23.3 Aktuelle Tendenzen bei den TE-Normen

Im September 2005 begannen sowohl eine IEC- als auch eine CIGRE-Arbeitsgruppe (CIGRE TF D1.02.03) ergnzend zur konventionellen TE-Messung den Bereich der nichtkonventionellen TE-Messverfahren (optisch, akustisch, chemisch, HF/VHF/UHF) zu untersuchen. Dies fhrte bei IEC zur formalen Aufnahme der Normungsarbeit auf diesem
Gebiet: IEC 62478 Ed. 1.0 (Status 2006-05: ANW approved new work). Die CIGREArbeitsgruppe TF D1.02.03 hat bereits eine erste Verffentlichung vorgestellt [16]. Einige der
nicht-konventionellen TE-Messverfahren werden seit lngerer Zeit erfolgreich eingesetzt (z.B.
akustische TE-Fehlerortung an Transformatoren, UHF-Vor-Ort-TE-Messungen an gasisolierten Schaltanlagen). Insbesondere bei Vor-Ort-Prfungen mit ungnstigen Strbedingungen
ermglichen derartige Verfahren gegenber der konventionellen TE-Messung in der Regel
eine hhere Messempfindlichkeit und bessere Selektivitt und eignen sich damit gut fr TEMonitoring. Die UHF-TE-Messung wird inzwischen auch bei Vor-Ort-Prfungen von Transformatoren eingesetzt. HF/VHF/UHF-TE-Messungen kommen bei rotierenden Maschinen
und Hochspannungskabelgarnituren zum Einsatz. Die Vergleichbarkeit der UHF-TE-Messung
zur konventionellen TE-Messung ist Gegenstand aktueller Untersuchungen (s. z.B. fr GIS
[108]).
Durch den Einsatz von Umrichtern mit hohen Schaltfrequenzen fr Motoren gewinnt das
Problem der repetierenden berspannungsspitzen fr die Belastung von Motorenisolierungen
23.3 Aktuelle Tendenzen bei den TE-Normen
231
an Bedeutung. Zur TE-Messung bei deratigen Belastungen wird bei IEC voraussichtlich
die entsprechende technische Spezifikation berarbeitet: IEC/TS 61934 Ed. 2.0: Electrical
insulating materials and systems Electrical measurement of partial discharges (PD) under
short rise time and repetitive voltage impulses (Status: PWI possible new work item, 2006-0928).
Kapitel 24
Typprfung eines digitalen TE-Messsystems
24.1 Einleitung
Mit der Inkraftsetzung der 3. Fassung der Grundnorm fr Teilentladungsmessungen IEC 60270
im Dezember 2000 [14] bzw. als DIN EN 60270 in 2001 wurde erstmals die Typprfung von
TE-Messgerten vorgesehen. Dies erfolgte mit dem Zweck, eine bessere Vergleichbarkeit von
TE-Messergebnissen zu gewhrleisten. Fr alle TE-Messgerte, die nach Inkraftsetzung dieser
Norm entwickelt werden, erfolgt der Nachweis der Normenkonformitt mit einer Typprfung.
TE-Messgerte, die bereits vor Inkrafttreten der IEC 60270:2000 verfgbar waren, genieen
Bestandsschutz.
Ein Schwerpunkt dieses Beitrags sind weiterfhrende Untersuchungen zur Bestimmung der
(normkonformen) scheinbaren Ladung, da diese insbesondere bei Grenzwertberprfungen im
Rahmen von Stck- oder Typprfungen hochspannungstechnischer Komponenten und Systeme
auerordentliche Bedeutung hat. Zur berprfung der Messung der scheinbaren Ladung
sieht IEC 60270:2000 als Testsignale quidistante Ladungsimpulse gleicher Ladung vor,
deren Ladung und Impulsfrequenz variiert werden. Derartige synthetische Testsignale haben
kaum hnlichkeit mit TE-Signalen in der Praxis, die durch ein ausgeprgtes stochastisches
Verhalten in Amplitude und Impulsabstand gekennzeichnet sind. So knnen TE-Impulse in
der Isolierung verschiedener Betriebsmittel ganz unterschiedliche Kurvenformen aufweisen.
Sie haben z. B. eine lange oder kurze Impulsdauer und zeigen mehr oder weniger ausgeprgte
Oszillationen. Auf der anderen Seite sind TE-Messgerte im praktischen Einsatz, die sich in
ihrer Funktionsweise gravierend unterscheiden.
Zu Beginn der TE-Messtechnik auf der Grundlage der Impulsladungsmessung vor mehr als
einem halben Jahrhundert war es technisch unmglich, kurze Impulse mit der erforderlichen
hohen Bandbreite direkt zu messen. Die Ladungsmessung erfolgte daher mit mehr oder weniger
begrenzter Bandbreite des Messgertes durch eine Quasi-Integration der TE-Impulse, bei
der der Scheitelwert des bandbegrenzten Antwortsignals der Impulsladung proportional ist
[93]. Da dieses Messprinzip sich preisgnstig realisieren lsst, wird es auch heute noch gern
bei vielen TE-Messgerten angewandt.
Mit der heutigen Technik ist es aber auch mglich, TE-Impulse whrend einer oder mehrerer
Wechselspannungsperioden direkt mit der erforderlichen hohen Bandbreite zu erfassen, zu
digitalisieren und zu speichern. Aus den gespeicherten Messdaten kann dann mit geeigneter
Software die Impulsform, die Impulsladung durch Quasi-Integration und jede andere interessierende Messgre bestimmt werden. In der Normung [14] werden die unterschiedlichen
TE-Messgerte, darunter auch solche mit digitaler Technik, weitgehend bercksichtigt. Jedoch
beruhen einige Anforderungen noch auf der frher vorherrschenden Auffassung des Prinzips
der Quasi-Integration.
Auf Grund der Vielfalt sowohl der TE-Impulse als auch der TE-Messgerte ist es verstndlich,
dass ein bestimmtes TE-Messgert die Ladung von TE-Impulsen nur unter bestimmten Voraussetzungen richtig, d.h. normgem, erfassen kann. Hierber sollte die Typprfung eindeutig
Auskunft geben. Der Impulskalibrator ist hierbei ein wichtiges Mittel zur Bestimmung der
Eigenschaften des TE-Messgertes. Konventionelle Impulskalibratoren bestehen im Prinzip
aus einem Rechteckgenerator mit einigen Volt Ausgangsspannung, dem ein Kondensator
233
234
24 Typprfung eines digitalen TE-Messsystems
C0 nachgeschaltet ist. Durch Differenziation der Flanken der Rechteckspannung entstehen

positive und negative Stromimpulse mit der Ladung:
q0 = C0 U0
(24.1)
Hierbei bedeutet U0 die Spannungsamplitude des Rechteckgenerators im Leerlauf. Eine einfache Gleichrichterschaltung sorgt dafr, dass nur Impulse einer Polaritt durchgelassen werden.
Die Ladung der Kalibrierimpulse wird stufig durch Umschalten von C0 und gegebenenfalls
zustzlich fein durch Verndern von U0 auf den gewnschten Sollwert eingestellt. Die Wiederholfrequenz der Kalibrierimpulse ist gewhnlich auf 100 Hz festgelegt, was der Situation
beim TE-Einsatz in der positiven und negativen Halbschwingung der Prfspannung entspricht.
Die speziell bei Kabelprfungen verwendeten TE-Messgerte werden mit Impulsen variabler
Wiederholfrequenz und mit Doppelimpulsen kalibriert, um den kritischen Impulsabstand
hinsichtlich einer berlagerung der Antwortsignale im Messgert festzustellen.
Bei Einspeisung der Kalibrierimpulse in eine Schaltung ist deren Eingangskapazitt Ce zu
bercksichtigen, da sie die tatschlich eingespeiste Ladung
q0 = q0
C0
C0 + Ce
(24.2)
mitbestimmt. Die Impulsform wird auer von der Anstiegszeit der Rechteckspannung U0
und der gewhlten Ausgangskapazitt C0 auch von dem Eingangswiderstand Re und der
Eingangskapazitt Ce der Schaltung beeinflusst. Die Anstiegszeit der Rechteckspannung soll
nach [14] kleiner als 60 ns sein, damit das Spektrum der Kalibrierimpulse im Bereich der
Bandbreite eines TE-Messgertes mit Quasi-Integration annhernd konstant bleibt. Fr
Gerte mit Echtzeit-Integration nach Gleichung (24.4) macht diese Forderung wenig Sinn.
24.1.1 Standardisierung, Kalibrierung und Kalibratoren

Bereits mit der ersten Ausgabe der IEC 60270 im Jahr 1968 wurde die scheinbare Ladung
als Hauptgre festgelegt, um die TE-Intensitt auszudrcken. Die bis heute bliche Prozedur zur Kalibrierung eines TE-Messkreises wurde ebenfalls in wesentlichen Teilen schon
beschrieben, ohne jedoch Angaben zur erforderlichen Genauigkeit zu machen. Die zweite
Ausgabe der IEC 62070 erschien 1981 und behandelte insbesondere Fragen der Kalibrierung,
Empfindlichkeit und Messgenauigkeit detaillierter [104].
Schon 1992 wurde festgestellt, dass der Integrationsfehler von TE-Messgerten von der
Impulsdauer der TE- bzw. Kalibrierimpulse abhngt und ein fr derartige Untersuchungen
geeigneter TE-Kalibrator vorgestellt [109]. In [110] wurde auf die Schwche der 2. Ausgabe
der IEC 60270 hingewiesen, dass dort keine przise Definition fr die Eigenschaften von TEMessgerten angegeben werden und deshalb bei Verwendung unterschiedlicher TE-Messgerte
grere Unterschiede bei den TE-Messergebnissen auftreten knnen. Der Einfluss der Frequenzparameter der zur Quasi-Integration verwendeten Bandpass-Filter wurde in [111]
untersucht. In [112] wurde der Zusammenhang von Transferimpedanz mit dem Integrationsund berlagerungsfehler hergestellt. Dabei wurde festgestellt, dass diese beiden Fehler zusammenhngen: die Verminderung des einen Fehlers fhrt zwangslufig zur Vergrerung
des anderen Fehlers. Als praktische Lsung wurde empfohlen, TE-Messgerte mit hoher
Impulsfolgefrequenzauflsung (d.h. geringen berlagerungsfehler) zu verwenden und fr
die Kalibrierung die Kurvenform der Kalibrierimpulse an die tatschliche TE-Impulsform
anzupassen (Minimierung des Integrationsfehlers durch Kalibrierung).
Zur weiteren Verbesserung der Vergleichbarkeit und Genauigkeit von TE-Messungen konzentrierten sich die Untersuchungen in der Folgezeit auf Kalibratoren und deren Kalibrierung
[113118]. Das bliche Verfahren der Kalibrierung von Kalibratoren und die dabei festgestellten Unsicherheiten werden in diesem Beitrag in Abschnitt 24.3.3 behandelt.
24.2 Funktionsweise des digitalen TE-Messsystems
235
In Vorbereitung der 3. Ausgabe der IEC 60270 wurden auch die neuen Methoden zur Bewertung von TE-Messgerten vorgestellt, die dann u.a. als Typprfung Normbestandteil wurden
[119121].
24.1.2 Qualifizierung und Typprfung von analogen TE-Messgerten

Obwohl die IEC 60270 die Typprfung nur fr neue, d.h. nach 2000 vorgestellte TEMessgerte vorsieht, wurden bisher nur Typprfergebnisse von alten, d.h. bereits vor 2001
verfgbaren TE-Messgerten verffentlicht [122124]. Obwohl alte TE-Messgerte Bestandsschutz genieen, kann eine berprfung der Normkonformitt mittels Typprfung nur
empfohlen werden, da einige Gerte grere Abweichungen von der geforderten Impulsfolgeantwort zeigten (s. Abschnitt 24.4.1, Tabelle 24.1).
24.1.3 Digitale TE-Messung

Einen ersten berblick ber verschiedene Varianten der digitalen TE-Messung wurde in
[67] gegeben. Die mglichen Fehlerquellen bei der Digitalisierung der Ausgangssignale des
Quasi-Integrators wurden in [125] behandelt und stieen eine umfangreiche Diskussion
unter den Experten an (ebenfalls in [125]).
Beim Vergleich der TE-Messergebnisse eines analogen und eines digitalen TE-Messgerts
bei unterschiedlichen TE-Ursachen wurden in [126] Abweichungen bis 20% festgestellt.
Deshalb wurden verschiedene Verfahren zur Bestimmung der scheinbaren Ladung fr das
digitale TE-Messgert untersucht. Zur Nachbildung der normkonformen Impulsfolgeantwort
wurde folgende Rechenvorschrift vorgeschlagen (s. Formel (24.3) ), die gute bereinstimmung
sowohl mit dem analogen TE-Messgert als auch mit den Normanforderungen erzielte.
qspec =
j
P
i=1
Ri ni qi
100
mit
j
P
(24.3)
ni
i=1
qspec specified reading der scheinbaren Ladung

j Index der TE-Klasse
ni Anzahl der Impulse in einer bestimmten TE-Klasse
qi Amplitude der Impulse in einer bestimmten TE-Klasse
Ri Korrekturfaktor entsprechend Tabelle 24.1
In [127] wurde ber ein digitales TE-Messgert mit einer Impulsauflsezeit von 6 s berichtet,
das die TE-Daten kontinuierlich speichern konnte und sich damit insbesondere fr sptere
statistische Analyse empfahl. Ein hnliches Konzept wird in [128] beschrieben.
24.2 Funktionsweise des digitalen TE-Messsystems

Bei konventionellen digitalen TE-Messgerten erfolgt die Digitalisierung nach der zur QuasiIntegration bentigten analogen Bandpassfilterung, ggf. erst nach einem dem Bandpassfilter
nachgeschaltetem analogen Peak-Detektor.
Das der Typprfung unterzogene TE-Messsystem Mtronix MPD540 basiert dagegen auf der
direkten breitbandigen Digitalisierung der TE-Messsignale. Dies ermglicht wahlweise die
numerische Integration im Zeitbereich als auch die Quasi-Integration mittels digitalem
236
Bandpassfilter. Das digitale Filterdesign ermglicht eine in weiten Grenzen frei whlbare
Mittenfrequenz fm und eine einstellbare Bandbreite f .
Durch die direkte Digitalisierung des Eingangssignals knnen die ungefilterten TE-Impulse
IPH(Oszilloskopfunktion)
ON-SITE PD MEASUREMENTS
2006
im Zeitbereich
als auch im Frequenzbereich (Spektrum-Analyzer)
dargestellt werden. Smtliche Messdaten knnen fr offline-Auswertungen in Echtzeit auf
einer Festplatte gespeichert werden. Bild 24.1 zeigt das schematische Funktionsprinzip.
PD
FPGA
AA
Amp
A
D
E
E
E
E
O
O
O
O
Abb. 24.1: MPD540: Design und Funktionsprinzip (schematisch)

Das MPD540 verfgt neben dem TE-Messeingang (PD) ber einen Eingang zur Digitalisierung der Prfspannung (V). Dies gestattet neben der Phasensynchronisierung auch die
przise Messung des Scheitelwertes, des Effektivwertes und der Frequenz der Prfwechselspannung sowie die Darstellung der Spannungsform in Echtzeit. Die Digitalisierung des
Spannungssignals erfolgt mit einer Amplitudenquantisierung von 24 Bit und einer Abtastrate
von 100 kS/s. Die TE-Signale werden zunchst mit einem Tiefpassfilter (Anti-Alaising-Filter,
(AA) auf 20 MHz bandbegrenzt, um die Einhaltung des Nyquist-Kriteriums sicherzustellen.
Anschlieend erfolgt die einstellbare Verstrkung (Amp) zur optimalen Aussteuerung des A/DWandlers (A/D). Die Digitalisierung des TE-Signals erfolgt mit einer Amplitudenquantisierung
von 14 Bit und einer Abtastrate von 64 MS/s.
Sowohl der Spannungs- als auch der TE-Eingang sind mit aufwendigen Schutzschaltungen
(P) versehen, um auch unter kritischen ueren elektrischen Bedingungen (z.B. Durchschlag)
die interne hochintegrierte Elektronik zu schtzen.
Die digitalen Datenstrme des Spannungs- und TE-Kanals werden einem FPGA (Field
Programmable Gate Array) zugefhrt, dass die Echtzeit-Verarbeitung bernimmt. So werden
die digitale Filterung, die Peak-Detektion, die Bestimmung von qIEC , die Zeit- und Phasenmessung usw. im Datenfluss realisiert (pipeline-Architektur). Dies fhrt im Unterschied
zu blichen Wechselpuffer-Architekturen (z.B. Transientenrecorder, die periodisch ausgelesen werden) zu sehr hohen Durchsatzraten: bis zu 1,4106 TE-Impulse knnen pro Sekunde
dargestellt bzw. auf die Festplatte eines Computers geschrieben werden.
Das MPD540 verfgt ber keine eigenen Anzeige- oder Bedienelemente. Stattdessen werden
die Messdaten und Steuerbefehle optisch ber Glasfaser zum Computer bertragen. Die Messdaten gelangen ber ein Opto/USB-Interface in den Computer. Die optische Datenbertragung
stellt nicht nur eine sichere Potentialtrennung dar, sondern gestattet die Verbindung von bis
zu 25 MPD540 mit einem Computer. Dadurch sind synchrone Mehrkanal-TE-Messungen
mglich, ber die erstmals in [42] berichtet wurde.
24.3 Der programmierbare TE-Kalibrator PICOR

Die langjhrige Kalibrierpraxis zeigt, dass die Eigenschaften der ganz unterschiedlich aufgebauten TE-Messgerte mit den konventionellen TE-Kalibriereinrichtungen nicht zufriedenstellend bestimmt werden knnen. Dies gilt insbesondere fr digitale TE-Messgerte, deren
237
Transferimpedanz Z nicht ohne weiteres mit Sinusstrom messbar ist. In der PTB wurde daher
vor einigen Jahren im Rahmen eines von der EU gefrderten Vorhabens der programmierbare
TE-Kalibrator PICOR (Programmable Impulse Calibrator) entwickelt, mit dem sich Impulse
mit einer Reihe von Impulsformen und Impulsparametern erzeugen lassen [129, 130].
Die langjhrige Kalibrierpraxis zeigt, dass die Eigenschaften der ganz unterschiedlich au
rte mit den konventionellen TE-Kalibriereinrichtungen nicht zufriedenstellend bestimm
gilt insbesondere fr digitale TE-Messgerte, deren Transferimpedanz nicht ohne weitere
bar ist. In der PTB wurde daher vor einigen Jahren im Rahmen eines von der EU gefrde
24.3.1 Funktionsweise
grammierbare TE-Kalibrator PICOR (Programmable Impulse Calibrator) entwickelt, mi
einer Reihe von Impulsformen und Impulsparametern erzeugen lassen [20, 21]. Kernst
Kernstck vonDigital-Analog-Wandler
PICOR ist ein Digital-Analog-Wandler
(DAC)
Bit Auflsung
undeiner
einer Taktrate, die von 50 M
(DAC) mit
12 mit
Bit12Auflsung
und
Taktrate, die von
50
MHz
bis
3
mHz
variiert
werden
kann
(siehe
Bild
24.2).
Die
Analogbandwerden kann (siehe Bild 3.1). Die Analogbandbreite ist vom Hersteller mit 25 MHz an
breite ist vomHilfe
Hersteller
25 MHz
angegeben,
kann aber
mit Hilfe
von fnf internen
vonmit
fnf
internen
und einem
externen
Tiefpassfilter
bis und
auf 50 kHz reduziert werd
einem externen Tiefpassfilter bis auf 50 kHz reduziert werden. Die Ausgangsspannung betrgt
maximal
V an 50 .
Der DAC
ist als Einsteckkarte
in einem PC angeord
maximal 12 Vnung
an 50betrgt
. Der DAC
ist als12
Einsteckkarte
in einem
PC angeordnet,
der in der
resprache
Visual
Basic
programmiert
ist.
Die
Bedienung
von
PICOR
zur Eingabe der I
Softwaresprache Visual Basic programmiert ist. Die Bedienung von PICOR zur Eingabe der
mengefhrt
am
Bildschirm.
Impulsparameter erfolgt mengefhrt am Bildschirm.
Bild 3.1 Schaltprinzip des progra
Abb. 24.2: Schaltprinzip des programmierbaren Impulskalibrators PICOR mit Digitallibrators PICOR mit Digital-Analog-Wandler
Analog-Wandler
Die grundstzliche Wirkungsweise von PICOR zur Erzeugung der Kalibrierimpulse ist v
nes konventionellen
Derder
DAC
erzeugt anistseinem
Ausgang zunchst e
Die grundstzliche
Wirkungsweise vonTE-Kalibrators.
PICOR zur Erzeugung
Kalibrierimpulse
vergleichbar mit u
der
eines
TE-Kalibrators.
Der DAC
erzeugt an seinem
derkonventionellen
vom Kondensator
C0 in einen
Stromimpuls
i(t) =Ausgang
C0du1/dt mit entsprechender
1(t),
zunchst einen
Spannungssprung
C0 in
Stromimpuls
1 (t), der vom Kondensator
wird.
Die krzesteuAnstiegszeit
von u1 betrgt
10einen
ns bei
voller Bandbreite des DAC. Die
i(t) = C0 du1sprungs
/dt mit entsprechender
q umgewandelt
wird. u
Die
krzeste
Anstiegszeit
ist auf 1 msLadung
begrenzt,
danach wird
innerhalb
von 1 ms linear auf Null verrin
1
von u1 betrgtsenkung
10 ns beierfolgt
voller Bandbreite
des
DAC.
Die
Dauer
des
Spannungssprungs
so langsam, dass in dieser Zeit die Amplitude ist
des ber C0 flieenden S
auf 1 ms begrenzt, danach wird u1 innerhalb von 1 ms linear auf Null verringert. Die SpanNull ist. Mit drei steckbaren Kondensatoren mit 1 pF, 10 pF und 50 pF lassen sich Ladu
nungsabsenkung erfolgt so langsam, dass in dieser Zeit die Amplitude des ber C0 flieenden
werten
zwischen
1000 Kondensatoren
pC erzeugen.mit
Nicht
3.1 eingezeichnet und hie
Stromes praktisch
gleich
Null ist. 0,5
Mit pC
drei und
steckbaren
1 pF,in10Bild
pF und
handelt
ist ein
DAC zurzwischen
Erzeugung
von
50 pF lassen sich
Ladungen
mitzweiter
Bemessungswerten
0,5 pC
undSinusspannungen.
1000 pC erzeugen. Die Kalibrierimpulse
nung
in
beliebiger
Phasenlage
berlagert
werden,
sich
damit die Anzeige des TE
Nicht in Bild 24.2 eingezeichnet und hier auch nicht weiter behandelt ist so
eindass.
zweiter
DAC
lich
des
angezeigten
Phasenwinkels
berprfen
lsst.
zur Erzeugung von Sinusspannungen. Die Kalibrierimpulse knnen der Sinusspannung in
beliebiger Phasenlage berlagert werden, so dass. sich damit die Anzeige des TE-Messgertes
hinsichtlich des angezeigten Phasenwinkels berprfen lsst.
3.3
Beispiele fr die Kalibrierimpulse
Im Hauptmen von PICOR sind vier einprogrammierte Grundformen von Kalibrierimpuls

24.3.2 Beispiele fr die Kalibrierimpulse
Einzelimpulse (Single Pulses, SP)
Doppelimpulse (Double Pulses, DP)
Im Hauptmen von
PICOR sind vierImpulse
einprogrammierte
Grundformen
Oszillierende
(Oscillating
Pulses,von
OP)Kalibrierimpulsen
whlbar:
Folge von Impulsen mit unterschiedlicher Einzelladung (Random Pulses, RP).
In einem
Men werden fr den gewhlten Kalibrierimpuls die einzelnen Param
Einzelimpulse
(Singleweiteren
Pulses, SP)
Doppelimpulse
(Double
Pulses,
DP)
Impulsbreite, Wiederholrate,
Polaritt usw. eingegeben. Als Beispiel zeigt Bild 3.2 das E
Oszillierende
Impulse
(Oscillating
Pulses, OP)
rameter des Einzelimpulses
SP. Die Eingaben entsprechen einem positiven Impuls mit e
Folge vonund
Impulsen
unterschiedlicher
Pulses,
RP).
einermit
Impulsbreite
vonEinzelladung
80 ns, der(Random
mit einer
Wiederholrate
von 100 Hz erzeugt wer
Impuls wird schematisch im Men rechts oben eingeblendet. Mit Start wird der Datens
der DAC das entsprechende analoge Signal u1(t) an seinem Ausgang erzeugt. Nach Umfo
densator C0 entsteht der gewnschte Kalibrierimpuls i(t) zur Einspeisung in das TE-Messg
238
In einem weiteren Men werden fr den gewhlten Kalibrierimpuls die einzelnen Parameter
wie Impulsladung, Impulsbreite, Wiederholrate, Polaritt usw. eingegeben. Als Beispiel zeigt
Bild 24.3 das Eingabemen fr die Parameter des Einzelimpulses SP. Die Eingaben entsprechen
einem positiven Impuls mit einer Ladung von 50 pC und einer Impulsbreite von 80 ns, der mit
einer Wiederholrate von 100 Hz erzeugt werden soll. Der gewhlte Impuls wird schematisch
im Men rechts oben eingeblendet. Mit Start wird der Datensatz berechnet, mit dem der
DAC das entsprechende analoge Signal u1 (t) an seinem Ausgang erzeugt. Nach Umformung
durch den Kondensator C0 entsteht der gewnschte Kalibrierimpuls i(t) zur Einspeisung in
das TE-Messgert.
Bild 3.224.3:
Eingabemen
fr die Parameter vonfr
Einzelimpulsen
SP
Abb.
Eingabemen
die Parameter
von Einzelimpulsen
Bild 3.2 Eingabemen fr die Parameter von Einzelimpulsen SP

In Bild 3.3 sind die mit einem Digitalrecorder gemessenen Zeitverlufe von u1 und u2 fr den Einzelimpuls SP
wiedergegeben. Die Anstiegszeit der Sprungspannung u1 kann durch Begrenzung der Bandbreite des DAC und
durch Erhhung der Anzahl der Sttzstellen im Abstand von 20 ns verringert werden. Dies fhrt zu einer Abnahme der Impulsamplitude und Verlngerung der Impulsdauer des Kalibrierimpulses u2 (siehe Bild 3.4). Die
Ladung bleibt jedoch gem (3.1) fr alle Impulse 1 bis 6 konstant, da U0 nicht verndert wird. Eine zunehmende Impulsdauer bedeutet, dass der Frequenzgang der Impulse verkrzt wird. Mit diesen Impulsen lsst sich das
dynamische
Verhalten von TE-Messgerten berprfen, das unabhngig von der Impulsform den gleichen Wert
2
fr die Ladung anzeigen muss.
In den folgenden Bildern sind die mit einem Digitalrecorder gemessenen Zeitverlufe von u1
(s. Bild 24.4) und u (s. Bild 24.5) fr den Einzelimpuls SP wiedergegeben.
In Bild 3.3 sind die mit einem Digitalrecorder gemessenen Zeitverlufe

wiedergegeben. Die Anstiegszeit der Sprungspannung u1 kann durch B
durch Erhhung der Anzahl der Sttzstellen im Abstand von 20 ns ve
nahme der Impulsamplitude und Verlngerung der Impulsdauer des K
Ladung bleibt jedoch gem (3.1) fr alle Impulse 1 bis 6 konstant, da U
de Impulsdauer bedeutet, dass der Frequenzgang der Impulse verkrzt
dynamische Verhalten von TE-Messgerten berprfen, das unabhngig
fr die Ladung anzeigen muss.
a)
b)
a)
Abb. 24.4: Sprungspannung u1 (t) am DAC-Ausgang
Die Anstiegszeit der Sprungspannung u1 kann durch Begrenzung der Bandbreite des DAC
und durch Erhhung der Anzahl der Sttzstellen im Abstand von 20 ns verringert werden.
Dies fhrt zu einer Abnahme der Impulsamplitude und Verlngerung der Impulsdauer des
Kalibrierimpulses u2 (s. Bild 24.6). Die Ladung bleibt jedoch gem Gleichung (24.1) fr
alle Impulse 1 bis 6 konstant, da U0 nicht verndert wird. Eine zunehmende Impulsdauer
bedeutet, dass der Frequenzgang der Impulse verkrzt wird. Mit diesen Impulsen lsst sich das
3
dynamische Verhalten
von TE-Messgerten berprfen,
das unabhngig von der Impulsform
Schon/Lucas: ETG-Beitrag Typ-Prfung TE 6. Juni 2006
den gleichen Wert fr die Ladung anzeigen muss.
Durch Verndern der Wiederholfrequenz der Einzelimpulse wird die Impulsfolgeantwort
des TE-Messgertes ermittelt. Sie soll nach [14] auf 40% abnehmen, wenn sich die Wieder-
239
Bild 3.3 Erzeugung von positiven Einzelimpulsen

a) Sprungspannung u1(t) am DAC-Ausgang
b) Ladungsimpuls u2(t) am Messwiderstand Rm
Abb. 24.5: Ladungsimpuls u2 (t) am Messwiderstand Rm
a)
b)
Abb. 24.6: Einfluss der Anstiegszeit auf die Impulsform u2 (t) der Ladungsimpulse
Bild 3.4 Erzeugung von Einzelimpulsen gleicher Ladung aber unterschiedlicher Impulsbreite
a) Sprungspannungen u1 am DAC-Ausgang
b) Ladungsimpulse u2 am Messwiderstand Rm
Durch
Verndern
der Wiederholfrequenz
der Einzelimpulse
wird
die Impulsfolgeantwort
TE-Messgertes
holfrequenz
von
100 Hz
auf 1 Hz verringert.
Damit
wird
der Einfluss des
von
groen, aber nur
ermittelt. Sie soll nach [4] auf die Hlfte abnehmen, wenn sich die Wiederholfrequenz von 100 Hz auf 2 Hz vergelegentlich
auftretenden
Impulsladungen
begrenzt.
Anforderung
gilt insbesondere
ringert.
Damit wird der Einfluss
von groen, aber nur
gelegentlich Diese
auftretenden
Impulsladungen begrenzt.
Diese
gilt insbesondere fr digitale TE-Messgerte zum Nachweis, dass ihr Verhalten mit dem analoger
fr digitaleAnforderung
TE-Messgerte
zum
Nachweis,
dass
ihr
Verhalten
mit
dem
analoger
Messgerte
Messgerte bereinstimmt.
4
bereinstimmt. Mit
Doppelimpulsen,
Zeitabstand
zwischen 1 s und 100 s einstellbar
Schon/Lucas:
ETG-Beitrag Typ-Prfung TE 6. deren
Juni 2006
Mit Doppelimpulsen, deren Zeitabstand zwischen 1 s und 100 s einstellbar ist, wird das Auflsungsvermgen
ist, wird das
Auflsungsvermgen
der3.5).
TE-Messgerte untersucht (s. Beispiel Bild 24.7).
der TE-Messgerte
untersucht (siehe Bild
a)
Bild 3.5 Beispiel fr Doppelimpulse DP

a) Doppelimpuls mit geringem Zeitabstand
b) Doppelimpuls mit grerem Zeitabstand
Bild 3.6 zeigt zwei Beispiele fr oszillierende Ladungsimpulse mit unterschiedlicher Frequenz. Mit diesen Impulsen kann insbesondere die richtige Funktionsweise von TE-Messgerten bei positiven und negativen Ladungsanteilen nachgewiesen werden.
a)
b)
Bild 3.5 Beispiel fr DoppelimpulseAbb.
DP
24.7:
a) Doppelimpuls mit geringem Zeitabstand
b) Doppelimpuls mit grerem Zeitabstand
Doppelimpuls
Bild 3.6 zeigt zwei Beispiele fr oszillierende Ladungsimpulse mit unterschiedlicher Frequenz. Mit diesen Im-
richtige
Funktionsweise von
TE-Messgerten bei positiven
und negativen
LaBild 24.8 pulsen
zeigtkann
eininsbesondere
Beispieldiefr
oszillierende
Ladungsimpulse.
Mit diesen
Impulsen
kann
dungsanteilen nachgewiesen werden.
insbesondere die richtige Funktionsweise von TE-Messgerten bei positiven und negativen
a)
Ladungsanteilen
nachgewiesen werden.
b)
Schon/Lucas: ETG-Beitrag Typ-Prfung TE
6. Juni 2006
b)
Bild 3.6 Oszillierender Impuls OP
Abb. 24.8:
a) Impuls mit geringer Oszillation
b) Impuls mit grerer Oszillation
Oszillierender Impuls
Schlielich zeigt Bild 3.7 eine Impulspaket mit zehn Einzelimpulsen unterschiedlicher Einzelladung. Aufgetragen sind die Impulse u1(t) am Ausgang des DAC, die jeweils aus dem positiven Sprung und der anschlieenden
negativen Rampe bestehen. Der Abstand der Einzelimpulse ist variabel zwischen 20 s bis 250 s. Diese Impulsserie dient dazu, die in [4] geforderte Anzeige eines TE-Messgertes hinsichtlich der grten, regelmig
wiederkehrenden Ladung zu berprfen.
Bild 3.6 Oszillierender Impuls OP
a) Impuls mit geringer Oszillation
240
Schlielich zeigt Bild 24.9 eine Impulspaket mit zehn Einzelimpulsen unterschiedlicher Einzelladung. Aufgetragen sind die Impulse u1 (t) am Ausgang des DAC, die jeweils aus dem
positiven Sprung und der anschlieenden negativen Rampe bestehen. Der Abstand der Einzelimpulse ist variabel zwischen 20 s bis 250 s. Diese Impulsserie dient dazu, die in [14]
geforderte Anzeige eines TE-Messgertes hinsichtlich der grten, regelmig wiederkehrenden Ladung zu berprfen.
10ms
50!s
Abb. 24.9: Impulspaket mit zehn Einzelimpulsen unterschiedlicher Ladung (schematisch)
24.3.3 Unsicherheit der erzeugten Kalibrierimpulse

Die von PICOR erzeugte Kalibrierladung ist hnlich wie die eines konventionellen TEKalibrators unter Annahme idealisierter Einsatzbedingungen grundstzlich nach (24.1) berechenbar. Eine weitere Mglichkeit bietet die numerische Berechnung der Ladung q aus dem
Stromverlauf i(t) entsprechend der Gleichung:
q=
t=0
1
i(t)dt =
Rm
u2 (t)dt
(24.4)
t=0
wobei u2 (t) nach Bild 24.2 als Spannungsabfall ber den externen Messwiderstand Rm =
50 mit einem Digitalrecorder aufgezeichnet wird. Die Kalibrierung und Rckfhrung von
PICOR erfolgt durch Vergleich mit dem PTB-Normal fr die Impulsladung. Die erweiterte
Unsicherheit (k = 2) von PICOR betrgt maximal (0,01 q + 0,1 pC) fr die im Bereich 0,5 pC
bis 1000 pC erzeugten Ladungen. Weiterhin wurde PICOR im Rahmen eines Ringvergleichs
von 13 europischen Metrologieinstituten und Kalibrierlaboratorien eingemessen [117, 131].
Im Bereich 1 pC bis 500 pC stimmen die Ergebnisse der Teilnehmer innerhalb von (0,03 q
+ 0,1 pC) berein. Diese gute bereinstimmung und die deutlich geringeren Unsicherheiten,
als sie in [14] gefordert sind, lsst erwarten, dass Typprfungen an TE-Kalibratoren und
TE-Messgerten keine grundstzlichen Probleme bereiten drften.
24.4 Typprfung nach IEC 60270

24.4.1 Anforderungen der IEC60270 fr die Typprfung
Die IEC60270:2000-12 schreibt fr TE-Messsysteme, die nach Dezember 2000 entwickelt
wurden, eine Typprfung vor. Folgende Teilprfungen sind Bestandteil der Norm:
Bestimmung des Mastabsfaktors k des TE-Messsystems und der Linearitt bei mindestens drei unterschiedlichen Ladungsamplituden, die von 100% bis 10% der Auflsung des
241
Messbereichs reichen. Die Impulswiederholrate sollte niedrig sein, z.B. 100 Impulse pro
Sekunde. Die Abweichungen vom Mastabsfaktor k mssen innerhalb 5% liegen.
Bestimmung der Impulsauflsezeit Tr (Doppelimpulsdiagramm) des TE-Messsystems
durch Anlegen von Kalibrierimpulsen mit gleicher Ladung aber abnehmenden Zeitversatz
zwischen aufeinanderfolgenden Impulsen. Die Impulsauflsezeit muss fr den zugehrigen Ankoppelvierpol und bei kleinster und grter Kapazitt des Koppelkondensators
durchgefhrt werden. Der gemessene Wert der Ladung im Verhltnis zur Ladung des
Einzelimpulses darf sich um nicht mehr als 10% ndern.
Bestimmung der Impulsfolgeantwort R des TE-Messsystems durch Anlegen von Kalibrierimpulsen gleicher Ladung Q aber unterschiedlicher Wiederholfrequenz f . Die
Kalibrierung erfolgt bei einer Wiederholfrequenz von 100 Hz mit einer Ladungsamplitude,
die gleich 100% gesetzt wird. Die Impulsfolgeantwort muss folgenden Anforderungen
gengen (s. Tabelle 24.1):
f in Hz
Rmin in %
Rmax in %
1 2 5 10 50 100
35 55 76 85 94
95
45 65 86 95 104 105
Tabelle 24.1: Grenzwerte fr die Impulsfolgeantwort

Bestimmung der Transferimpedanz Z(f ) und der unteren und oberen Grenzfrequenz f1
und f2 des Messsystems ber einen Frequenzbereich bis 20% unterhalb des Scheitelwertes
des jeweiligen Bandpasses. Die Eingangsgren sollen dabei sinusfrmige Stromsignale
sein.
Folgende zustzliche Kontrollen fr digitale Messsysteme werden empfohlen:
Bestimmung der Anzahl der Impulse in einem definierten Zeitabschnitt mit einstellbarer
Wiederholfrequenz bis zur Impulsauflsezeit. Die gemessene Anzahl der Impulse muss
mit einer maximalen Abweichung von 2% mit der bekannten Anzahl der angelegten
Kalibrierimpulse bereinstimmen.
Bestimmung der Anzahl der Impulse mit maximaler Erfassungszeit bei konstanter Wiederholfrequenz. Auch hier ist eine Abweichung von 2% zulssig.
24.4.2 Durchfhrung der Typprfung und Besonderheiten

24.4.2.1 Bestimmung des Mastabsfaktors
Die Bestimmung des Mastabsfaktors erfolgte mit Hilfe eines von der PTB kalibrierten
TE-Kalibrators. Dieser TE-Kalibrator besitzt folgende technische Eigenschaften:
Anstiegszeit der Impulse
1,4 . . . 6,8 ns
(10% bis 90%)
Pulsdauer
39 . . . 126 ns
(Zeitntervall zwischen den 10% Werten)
Impulsladungen
1/2/5/10 pC . . .
1/2/5/10 nC
Wiederholfrequenz der Impulse
0,1/0,2/0,5 Hz . . .
200/500/1000 kHz
Einstellbarer Doppelimpulsabstand
0,5 s . . . 125 s,
Schrittweite 0,5 s
Tabelle 24.2: Technische Daten TE-Kalibrator 1
242
In einem mittleren Messbereich (eingestellte Bandbreite f = 300 kHz; Mittenfrequenz fm =

1 MHz) wurde bei einer TE-Amplitude von 50 pC der Mastabsfaktor des TE-Messgertes
bestimmt. Anschlieend erfolgte die Kontrolle der Mastabsfaktoren in allen 8 einstellbaren
Messbereichen. Die maximalen Abweichungen vom eingestellten Wert des Kalibrators zeigt
Tabelle 24.3.
Messbereich Referenzwert
relative
zulssige
Kalibrator
Abweichung Abweichung
Qr Uq in pC Qp Qr
Qp Qr
1
2
3
4
5
6
7
8
-(9890 198)
-(1968 40)
-(981 20)
-(496,5 10,2)
-(198,6 4,3)
-(49,6 1,3)
-(19,8 0,7)
-(9,97 0,5)
5%
5%
5%
5%
5%
5%
5%
5%
-2,4%
-0,3%
-0,1%
-0,2%
-0,2%
0,0%
-0,4%
-0,5%
Tabelle 24.3: Kontrolle Mastabsfaktor
24.4.2.2 Linearittstest
Die Kalibrierung erfolgte mit einem Kalibrator, der ber eine externe Ladespannungsversorgung verfgt. Die ausgegebene Ladung dieses Gertes ist streng proportional zur Ladespannung. Die Kalibrierung dieses Kalibrators erfolgte unmittelbar vor der Linearittsprfung. Als
Bewertungskriterium wurde das Verhltnis Ladespannung Udc zur vom Prfling angezeigten
Ladungsamplitude Qp gewhlt. Jeder einzelne Messwert ist ein Mittelwert aus 10 Einzelmessungen, gemessen bei einer eingestellten Bandbreite f = 300 kHz und einer Mittenfrequenz
fm = 1 MHz.
Die Daten dieses TE-Kalibrators sind in Tabelle 24.4 zusammengefasst:
Anstiegszeit der Impulse
(10% bis 90%)
Pulsdauer
(Zeitntervall zwischen den 10% Werten)
Impulsladungen
Widerholfrequenz der Impulse
2 ns
16/135/1500ns
1 . . . 2500 pC
100 Hz
Tabelle 24.4: Technische Daten TE-Kalibrator 2
Der Linearittstest wurde sowohl in jedem einzelnen der 8 Messbereiche als auch in der
Betriebsart automatische Messbereichsumschaltung vorgenommen. Des weiteren erfolgte
eine Untersuchung der Abhngigkeit der Linearittseigenschaften von der Impulsdauer. Die
Messergebnisse sind in den Bildern 24.10 und 24.11 sowie Tabelle 24.5 dargestellt.
24.4.2.3 Bestimmung der Impulsfolgeantwort R

Die Bestimmung der Impulsfolgeantwort erfolgte mit Hilfe des von der PTB kalibrierten
TE-Kalibrators 1 (s. Tabelle 24.2).
In einem mittleren Messbereich (eingestellte Bandbreite f = 300 kHz; Mittenfrequenz
fm = 1 MHz) wurde bei einer TE-Strke von 200 pC die Bewertung der TE-Strke in Abhngigkeit von der Wiederholfrequenz im Frequenzbereich von 0,5 Hz bis 1000 Hz berprft.
Die Ladungsamplitude bei der Wiederholfrequenz von 100 Hz wurde mit 100% bewertet
(s. Bild 24.12).
erfolgte eine Untersuchung der Abhngigkeit der Linearittseigenschaften von der

Impulsdauer. Die Messergebnisse sind in den Bildern 1 bis 3 dargestellt.
Bild 1:
Linearittsfehler bei automatischer Messbereichsumschaltung und einer Pulsdauer von 16ns
243
Bereich AUTO negative Ladungen
20%
10%
Abweichung vom
Mastabsfaktor
0%
-10%
-20%
-30%
-40%
-50%
1
10
100
1000
Q in pC
10000
Abb.
Messbereichsumschaltung und einer PulsBild
2: 24.10: Linearittsfehler bei automatischer
Bereich AUTO positive Ladungen
dauer
von
16
ns
(negative
Kalibrierimpulse)
Linearittsfehler
bei
automatischer
Messbereichsumschaltung
und einer variablen Pulsdauer
20%
Bereich AUTO negative Ladungen
10%
10%
Abweichung
vom vom
Abweichung
Mastabsfaktor
Mastabsfaktor
0%
-10%
0%
-20%
-30%
-10%
-40%
-50%
-20%
Impulsdauer 1500ns
10
Impulsdauer
16ns
100
1000
10000
Q in pC
Impulsdauer 135ns
-30%
1
10
100
1000
10000
Q in pC
100000
Abb. 24.11: Linearittsfehler bei automatischer Messbereichsumschaltung

und Ladungen
einer vaBereich AUTO positive
10% riablen Pulsdauer (negative Kalibrierimpulse)
Abweichung vom
Mastabsfaktor
0%
-10%
-20%
-30%
1
Eingestellter Maximaler
Anzahl der Qmin Qmax
Messbereich Linearittsfehler
Messpunkte in pC in pC
1
< (0,6%+ 1 pC)
6
500 2000
2
< (0,6%+ 1 pC)
8
200 2000
3
< (2%+ 0,5 pC)
14
100 2000
4
< (1,3% + 1 pC)
16
20
800
Impulsdauer 1500ns
5
< (0,3% + 0,1 pC)
18
10
400
Impulsdauer 16ns
6
< (0,3% + 0,1 pC)
18
5
160
Impulsdauer
7
< (0,3%135ns
+ 0,1 pC)
18
2
68
8
< (0,3% + 0,1 pC)
16
0,7
26
AUTO 10 < (1% + 0,2 pC)
38
1 2000 10000 Q in pC
100
1000
100000
Tabelle 24.5: Ergebnisse des Linearittstests

Tabelle 3: Ergebnisse des Linearittstests
Eingestellter
der Kleinster
Grter
24.4.2.4
BestimmungMaximaler
der Impulsauflsezeit TAnzahl
r (Doppelimpulsdiagramm)
Messbereich
Linearittsfehler
Messpunkte Wert
der Wert
der
Ladung
Ladung
Es erfolgte die Bestimmung des krzesten Zeitabstandes zwischen zwei aufeinanderfolgenden
1
< (0,6%+ 1pC)
6
500pC
2000pC
Impulsen von sehr kurzer Dauer, derselben Form, Polaritt und Ladungsgre, bei dem sich der
2
< (0,6%+
1pC)
8 im Vergleich200pC
2000pC
angezeigte
Ladungswert
als Folge der
zwei Impulse
zu einem Impuls
um nicht
mehr als 10% nderte. Bezugswert fr die relative Darstellung ist der Wert der angezeigten
3
< (2%+ 0,5pC)
14
100pC
2000pC
Ladung bei 100 s (Qb ) Impulsabstand. Die Messungen erfolgten an einem kompletten TE4
< (1,3%Koppelkondensatoren
+ 1pC)
16 (0,1/1/10 20pC
800pC
Messkreis
mit drei verschiedenen
nF), einem Ankoppelvierpol
MPD501CPL
und
dem
TE
Messgert
MPD540.
Die
Messergebnisse
sind
in
Tabelle
24.6 und
5
< (0,3% + 0,1pC) 18
10pC
400pC
Bild 24.13 dargestellt.
< (0,3% + 0,1pC) 18
5pC
160pC
Bei Variation des Koppelkondensators zwischen 100 pF und 10 nF (und fester Mittenfrequenz
7
(0,3%
+ 0,1pC) 18beim MPD5402pC
68pC
und Bandbreite)
ndert<sich
die Impulsauflsezeit
praktisch nicht.
< (0,3% + 0,1pC)

16die Messbandbreite
0,7pCverndert,
26pC
Wird8bei konstanter Koppelkapazitt
(hier: 10 nF)
so nimmt
erwartungsgem
die
Impulsauflsezeit
mit
fallender
Bandbreite
zu
(s.
Tabelle
24.7 und
AUTO
< (1% + 0,2pC)
38
1pC
2000pC
Bild 24.14).
von 0,5Hz bis 1000Hz berprft. Die Ladungsstrke bei der Wiederholfrequenz von
100Hz wurde mit 100% bewertet.
Bild 3: Ergebnis der Impulsfolgeantwortmessung
244
Impulsfolgeantwort
Bewertung in % der
Ladung
120%
Messwerte
100%
80%
60%
Grenzwerte
nach
IEC60270
40%
20%
Folgefrequenz in Hz
Tabelle 4: Messergebnis
bei einer Mittenfrequenz von 300kHz und einer Bandbreite von 100kHz
0%
Wert
des Impulsauflsezeit
0,1
1
10
100
1000
Koppelkondensators CK
in nF
T in24.12:
s
Abb.
Ergebnis der Impulsfolgeantwortmessung
0,1
7,4
1
7,3
10
7,3
CK
Tr
0,1
1
7,4
7,3
4.2.4 Bestimmung der Impulsauflsezeit

in nF in Ts r (Doppelimpulsdiagramm)
Verhltnis Q / Qb
Es erfolgte die Bestimmung des 10krzesten

Zeitabstandes zwischen zwei
7,3
aufeinanderfolgenden
von sehr kurzer
Dauer,
Form,
Bild 4: Messergebnis Impulsen
bei einer Mittenfrequenz
von 300kHz
undderselben
einer Bandbreite
vonPolaritt
100kHz inund
Abhngigkeit bei
vom dem
Koppelkondensator
Ladungsgre,
sich
der
Tabelle
24.6:
Trangezeigte
(CK ) bei fm =Ladungswert
300 kHz und fals
= Folge
100 kHzder zwei Impulse im
Vergleich zu einem Impuls um nicht mehr als 10% nderte. Bezugswert fr die relative
Darstellung2,0ist der Wert der angezeigten Ladung bei 100s (Qb) Impulsabstand.
Die Messungen erfolgten an einem kompletten Teilentladungsmesskreis mit 3
1,5
Ck=10nF
verschiedenen
Koppelkondensatoren (0,1nF; 1nF und 10nF), einem Ankoppelvierpol
Ck=1nF
MPD501CPL und dem TE Messgert MPD540.
1,0
Ck=0,1nF
0,5
0,0
0,1
10
T in !s
100
Abb. 24.13:
fm = 300 kHz
f =100 kHz
r (CK ) bei
Tabelle 5: Messergebnis
bei Tvariabler
Bandbreite
bzw. und
Mittenfrequenz
bei festem Wert des
Koppelkondensators (10nF)
Tr
Mittenfrequenz
/ Impulsauflsezeit fm /f
in kHz
in s
Bandbreite
300 / 300
1,9
T in s
300 / 100
7,3
300kHz / 300kHz
1,9
600 / 300
3,0
300kHz / 100kHz
7,3
600kHz
/ 300kHz
3,0
Tabelle
24.7: Impulsauflsezeit
Tr bei variabler Bandbreite bzw. Mittenfrequenz und
festem Wert des Koppelkondensators (10nF)
Bild 5: Messergebnis bei

Koppelkondensators (10nF)
variabler
Bandbreite
bzw.
Mittenfrequenz
bei
festem
Wert
Verhltnis Q / Qb
2,5 Bestimmung der Transferimpedanz Z(f )

24.4.2.5
2,0
300/300kHz-10nF
Die Transferimpedanz Z(f ) ist im MPD540 TE-Messsystem digital realisiert.

Die Frequenzen,
300/100kHz-10nF
1,5
bei denen die Transferimpedanz Z(f ) um 6 dB gegenber dem Scheitelwert
des Bandpasswer600/300kHz-10nF
tes gefallen
ist, sind mit dem komplexen Frequenzgang H(e ) eines FIR-Filters festgelegt (n
1,0
Ordnung des Filters, i Filterkoeffizienten, Kreisfrequenz):
0,5
0,0
H(e ) =
5
n
X
i=0
i z i
8
10
11
12
(24.5)
13
14
t in !s
15
In Bild 24.15 wird eine berechneter Betragsfrequenzgang fr die Einstellung 300 kHz Bandbreite und 300 kHz Mittenfrequenz dargestellt. Das entspricht einer unteren -6 dB-Grenzfrequenz
von 150 kHz und einer oberen -6 dB-Grenzfrequenz von 450 kHz. Der Einfluss der begrenzten
Dynamik des analogen Eingangteils und der Einfluss der Quantisierungstiefe (14-Bit-A/DWandlung) wurden in Bild 24.15 nicht bercksichtigt.
des
300kHz / 100kHz
7,3
600kHz / 300kHz
3,0
Bild 5: Messergebnis bei variabler

24.4 Typprfung nach
IEC 60270
Koppelkondensators
(10nF)
Bandbreite
bzw.
Mittenfrequenz
bei
festem
Wert des
245
Verhltnis Q / Qb
2,5
2,0
300/300kHz-10nF
1,5
300/100kHz-10nF
600/300kHz-10nF
1,0
0,5
0,0
0
10
11
12
13
14
t in !s
15
Abb. 24.14: Messergebnis bei variabler Bandbreite bzw. Mittenfrequenz bei festem Wert
des Koppelkondensators (10nF)
Eine Messung des Frequenzgangs der Transferimpedanz mit sinusfrmigen Eingangssignalen,

wie es in der Norm IEC 60270 zu Kontrollzwecken gefordert wird, kann beim MPD540 z.Z.
nicht durchgefhrt werden. Es ist vorgesehen, die Software dahingehend zu modifizieren,
dass das Ausgangssignal des digitalen Bandpassfilters vor Durchlaufen des digitalen PeakDetektors ausgegeben wird, um so die geforderte Kontrolle als auch den direkten Vergleich
mit der Filterdefinition nach Formel 24.5 zu ermglichen.
Frequenzgang
0
-20
-40
-60
[dB]
-80
-100
-120
-140
-160
-180
-200
500
1000
1500
[kHz]
2000
2500
3000
Abb. 24.15: Beispiel fr digitales Filter mit fm = 300 kHz und f = 300 kHz
24.4.3 Ergnzende Untersuchungen

24.4.3.1 Messung der Impulswiederholfrequenz
Mit Hilfe eines Kalibrators, der die Vernderung der Impulsfolgefrequenz von 100 Hz bis
1 MHz gestattet, werden Kalibrierimpulse (200 pC) in einem definierten Zeitintervall auf
das Teilentladungsmessgert gegeben und die Anzahl der erfassten Impulse registriert. Die
aufgezeichnete Anzahl der Impulse muss mit 2% mit der bekannten Anzahl der Kalibrierimpulse bereinstimmen. Das Messzeitintervall variierte dabei zwischen 30 s und 6 Minuten, die
Impulsfolge von 100 Hz bis 1 MHz. Die gemessenen Abweichungen lagen im Bereich 0%
bis +0,1%
246
24.4.3.2 Messungen mit Kalibrierimpulsfolgen

Die Messung wurde mit Hilfe des Kalibrators PICOR bei der PTB in Braunschweig durchgefhrt. Dazu wurde eine Kalibrierimpulsfolge mit unterschiedlicher Anzahl und Ladungsstrke
der einzelnen Impulse programmiert, die dann mit einer konstanten Frequenz wiederholt
wurde. Ziel war der Nachweis, dass das Messgert den hchsten periodisch auftretenden
Teilentladungsimpuls anzeigt.
Fr eine Impulsfolge mit zehn Einzelimpulsen unterschiedlicher Ladung wurde zunchst
wurde die Abhngigkeit von der Anzahl der Impulse bei gleichem Impulsabstand von 50 s
untersucht (eingestellte Bandbreite / Mittenfrequenz: 300 kHz / 300 kHz).
Anzahl
der
Impulse
3
5
10
Ladung
der Einzelimpulse
166,0 . . . 300,6
166,3 . . . 301,0
167,0 . . . 301,6
Abweichung der
Anzeige des TEMessgertes
-0,2%
-4,8%
-7,9%
Tabelle 24.8: Abhngigkeit von der Anzahl der Impulse

Beim nchsten Test wurden die Anzahl der Impulse (10), die Impulsabstnde (50s) und
die Ladungsstrken der Einzelimpulse konstant gehalten, dafr aber die Bandbreiten- und
Mittenfrequenzeinstellungen verndert:
Mittenfrequenz Bandbreite
in kHz
in kHz
300
1000
1000
3000
300
300
1000
3000
Ladung
Abweichung der
der Einzel- Anzeige des TEimpulse
Messgertes
167,0 . . . 301,6
-7,6%
167,0 . . . 301,6
-7,5%
167,0 . . . 301,6
-8,5%
167,0 . . . 301,6
-12,8%
Tabelle 24.9: Abhngigkeit von der Filtereinstellung am TE-Messgert

Nun wurden die Anzahl der Impulse (10), die Bandbreiteneinstellung (300 kHz / 300 kHz) und
die Ladung der Einzelimpulse konstant gehalten, die Abstnde zwischen den Einzelimpulsen
aber variiert:
Abstand der
Ladung
Abweichung der
der Impulse
der EinzelAnzeige des TEin s
impulse
Messgertes
20
167,0 . . . 301,6
-7,6%
50
167,0 . . . 301,6
-8,0%
250
166,3 . . . 301,0
-7,9%
Tabelle 24.10: Abhngigkeit vom Abstand der Einzelimpulse
Eine genaue Analyse der Messungen mit Kalibrierimpulsfolgen ergab, dass die qIEC Bewertung beim MPD540 eine Mittelwertbildung der auftretenden Kalibrierimpulse durchfhrt, wenn sich diese Einzelimpulse innerhalb eines bestimmten Toleranzbandes (hier: 10%)
befinden, auch wenn die Impulsfolgefrequenz jedes einzelnen Kalibrierimpulses 100 Hz betrgt.
Dies erklrt auch, weshalb bei einer geringen Anzahl von Impulsen der Anzeigewert nur
eine geringe Abweichung vom wahren Wert zeigt (s.Tabelle

24.8), da dann die Impulse nicht
mehr in einem Toleranzband liegen und so der grte Impuls der Sequenz den Anzeigewert
bestimmt.
247
Nimmt die Anzahl der Impulse innerhalb der Sequenz zu, so steigt die Wahrscheinlichkeit,
dass mehrere Impulse in einem Toleranzband landen, von denen dann der Mittelwert bestimmt
und zur Anzeige gebracht wird.
24.4.3.3 Messungen mit oszillierenden Impulsen

Diese Messung wurde ebenfalls in Zusammenarbeit mit der PTB in Braunschweig unter
Verwendung des programmierbaren TE-Kalibrators PICOR durchgefhrt. Das TE-Messgert
wurde mit oszillierenden Impulsen (f = 5 MHz) unterschiedlicher Dmpfung D und konstanter Impulswiederholrate (150 Hz) beaufschlagt. Das Messgert muss den maximalen
periodisch auftretenden Ladungswert anzeigen (s.Tabelle

24.11).
Dmpfung Referenzwert Abweichung der
D
Qmax
Anzeige des TEin pC
Messgertes
0,1
298,3
3,0%
0,01
302,5
1,2%
Tabelle 24.11: Abhngigkeit von der Dmpfung osz. Impulse
24.5 Fazit
Die Ergebnisse zeigen, dass insbesondere zur Kontrolle der qIEC -Anzeige eines digitalen TEMessgertes die Verwendung quidistanter, gleichhoher, nichtschwingender Kalibrierimpulse
keinesfalls ausreicht.
Es erscheint daher geboten, auch Tests mit schwingenden Impulsen und Referenz-Impulssequenzen
in die nchste Revision der IEC 60270 aufzunehmen. Hierbei knnte hnlich verfahren werden
wie bei der IEC 61083-2, wo bereits standartisierte nichtkonventionelle Kurvenformen fr den
Test der Auswertesoftware von Transientenrecordern definiert wurden.
Fr digitale TE-Messgerte sollten darberhinaus auch nach einer Software-nderung einige
aussagefhige Tests durchgefhrt werden, um die Vergleichbarkeit der TE-Messergebnisse
sicherzustellen, ohne eine komplette Typprfung durchfhren zu mssen.
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Teil VI
Dielektrische Diagnostik
Kapitel 25
Dynamik der Isolierstoffe
25.1 Isolierstoffe im Zeitbereich

Polarisations- und Depolarisationsstrommessung
25.2 Isolierstoffe im Frequenzbereich

Kapazitts- und Verlustfaktormessung
257
Kapitel 26
Diagnose VPE-isolierter Mittelspannungskabel
26.1 Vergleich von Diagnosesystemen zur Beurteilung des

Alterungszustandes PE/VPE-isolierter Mittelspannungskabel
26.1.1 Einleitung
Wirtschaftliche Erwgungen veranlassen die Energieversorgungsunternehmen zunehmend
zu einer zustandsorientierten Instandhaltung ihrer Einrichtungen [1]. Fr die Betreiber von
Kabelnetzen ergab sich hierfr eine zustzliche Motivation aus der z.T. hohen Ausfallrate
von kunststoffisolierten Mittelspannungskabeln, die Mitte der 70er bis etwa Mitte der 80er
Jahre hergestellt worden waren und aufgrund ihrer starken Anflligkeit gegen water treeing
schon nach kurzer Lebensdauer zu einer erhhten Fehlerhufigkeit fhrten. Somit stellte sich
das Problem, den Alterungszustand dieser Kabel unter Vor-Ort-Bedingungen zu bestimmen,
um die weitere Betriebsfhigkeit feststellen und auf dieser Basis die Auswechslung stark
gealterter, ausfallgefhrdeter Strecken planen zu knnen.
Da auf dem Markt mehrere, nach unterschiedlichen Kriterien und Prinzipien arbeitende Kabeldiagnosesysteme erhltlich sind, deren Aussagefhigkeit und Vergleichbarkeit nicht ohne
weiteres beurteilt werden kann, beauftragte eine Gruppe von Energieversorgungsunternehmen
das Institut fr Elektrische Energietechnik, Fachgebiet Hochspannungstechnik der TU Berlin
mit der Durchfhrung einer Vergleichsuntersuchung1 . Die fr die Untersuchungen erforderlichen Diagnosesysteme wurden von den jeweiligen Gerteherstellern leihweise bereitgestellt.
Die beteiligten EVU stellten die betriebsgealterten Kabel zur Verfgung und ermglichten
umfangreiche Untersuchungen vor Ort.
Fr die Vor-Ort-Prfung kunststoffisolierter Mittelspannungskabelanlagen sehen die VDEBestimmungen bisher nur Spannungsprfungen vor [2]. Dabei wird die Gleichspannungsprfung fr VPE-isolierte Kabel heute nicht mehr empfohlen, da allgemein anerkannt ist, da sie
keine Informationen zur Betriebsfhigkeit liefert und auerdem das Risiko der Vorschdigung
noch betriebsfhiger Kabel birgt. Wechselspannungsprfungen (mit 2 U0 , 45. . . 65 Hz bzw.
mit 3 U0 , 0,1 Hz, jeweils 60 min) gestatten dagegen immerhin das Auffinden massivster Kabelschdigungen [35], durch die Beschrnkung auf die Aussage bestandennicht bestanden
naturgem jedoch keine Alterungsdiagnose.
Die zum Feststellen und Lokalisieren von singulren Fehlstellen in Frage kommende Teilentladungsmessung bietet selbst bei Sicherstellung ausreichender Empfindlichkeit keine
Hilfe bei der Diagnose der water-tree-Degradation der Kabelisolierung, da diese Alterungsart
i.a. nicht mit Teilentladungen verbunden ist. TE treten bei WT-geschdigten Kabeln lediglich
auf, wenn z.B. infolge erhhter Spannungsbeanspruchungen an der Spitze groer vented trees
ein Umschlag in electrical treeing stattgefunden hat.
1
R. Plath, IPH Berlin; W. Kalkner, TU Berlin, 1997. Das Forschungsvorhaben wurde durch mehrere Energieversorgungsunternehmen untersttzt, vertreten durch R. Bach, VEW Eurotest, P. Craatz, BEWAG Berlin; R.
Findel, Isar-Amperwerke Mnchen; K.-H. Krefter, VEW Energie AG Dortmund; H. Mangels, NH Bremen;
H. Oldehoff, EWE Oldenburg; U. Schmidt, DEW Dortmund; E. Zinburg, GEW Kln.
259
260
26 Diagnose VPE-isolierter Mittelspannungskabel
Fr die Vor-Ort-Beurteilung des integralen Alterungszustandes von PE- bzw. VPE-isolierten

Mittelspannungskabelanlagen kommen daher nur Diagnosesysteme in Betracht, die speziell
auf die Detektion der alterungs-(WT-) bedingten Vernderungen des Kabeldielektrikums ausgerichtet sind, also auf Vernderungen des Verlustfaktors (bei Messungen im Frequenzbereich)
oder Vernderungen der Wiederkehrspannung bzw. des Depolarisationsstromes reagieren
(Messung des Relaxationsverhaltens im Zeitbereich, nach vorheriger DC-Aufladung). Die
hierzu kommerziell erhltlichen Diagnosesysteme basieren auf unterschiedlichen Meprinzipien. Sie erfassen und bewerten demzufolge auch unterschiedliche Megren. Sie werden
teilweise bereits seit mehreren Jahren von einigen EVU zur Kabeldiagnose eingesetzt. In
der Regel setzen die Anwender aber jeweils nur ein Diagnosesystem eines Herstellers ein.
Der direkte Vergleich verschiedener Diagnosesysteme beschrnkt sich daher auf sporadische
Flle, in denen der Anwender z.B. eine Vorfhrung verschiedener Diagnosesysteme wnscht.
Bisher fehlen systematisch gewonnene Anwendererfahrungen, die einen direkten Vergleich
der angebotenen Diagnosesysteme gestatten wrden.
26.1.2 Ziel der Untersuchung

Ziel dieser Untersuchung ist der Vergleich verschiedener, bereits kommerziell erhltlicher Diagnosesysteme zur Beurteilung des integralen Alterungszustandes (WT-Schdigungszustandes)
PE/VPE-isolierter Mittelspannungskabel. Zu untersuchen war dabei nicht nur die Frage, inwieweit sich die einzelnen Verfahren zur sicheren Detektion WT-gealterter Kabel eignen, sondern
auch, ob sich bei Vorliegen unterschiedlicher WT-Schdigung mit den einzelnen Verfahren
dieselbe Beurteilungsrangfolge ergibt. Der Stand der Diagnosesysteme entsprach dem zum
Beginn des Projektes im Dezember 1995 von den Prftechnikherstellern vertriebenen Gerten:
isotherme Relaxationsstromanalyse (IRC-Analyse), Gert der Fa. Seba Dynatronic
Wiederkehrspannungsmessung (CD-Verfahren), Gert der Fa. Hagenuk
VLF-(0,1 Hz)-Verlustfaktormessung, Gert der Fa. Baur
Depolarisationsladungsmessung, Gert (Prototyp-Ausfhrung) der Fa. LDIC
Von den Herstellern dieser Diagnosesysteme wurden jeweils nach mehr oder weniger
umfangreichen Voruntersuchungen und Erprobungen bei einigen EVU systemspezifische
Kriterien bzw. Grenzwerte angegeben und den Anwendern empfohlen, die sowohl eine qualitative Aussage (wenig - mittel - stark gealtert ) als auch eine eher quantitative Beurteilung
des Alterungszustandes an Hand numerischer Diagnoseergebnisse ermglichen sollen.
Neben der Untersuchung der Diagnosequalitt (Eindeutigkeit der Aussage, Reproduzierbarkeit)
der Systeme sollte bei den Vergleichsuntersuchungen auch die Praxistauglichkeit der Gerte
bercksichtigt werden.
Als Prflinge fr den Vergleich der Diagnosesysteme dienten berwiegend betriebsgealterte PEund VPE-isolierte Kabel der ersten Generation aus dem Zeitraum 1973 bis ca. 1980, die heute
besonders auffllig sind und im Betrieb Probleme bereiten oder bereits zur Auswechslung
vorgesehen sind.
26.1.3 Vorstellung der Diagnosesysteme

Die untersuchten Diagnosesysteme beruhen auf der Auswertung integraler dielektrischer Messungen, d.h. sie erfassen alterungsbedingte Eigenschaftsnderungen der gesamten Kabelstrecke.
Drei der Verfahren arbeiten mit einer Gleichspannungsvorbeanspruchung, an die sich die Messung der zeitabhngigen dielektrischen Antwort (Strom, Spannung oder Ladung) anschliet.
Das vierte Verfahren bestimmt den Verlustfaktor bei sinusfrmiger 0,1-Hz-Wechselspannung.
Die Auswerteverfahren sind von uerst unterschiedlicher Komplexitt. Whrend ein Verfahren eine direkte physikalische Megre (tan oder tan ) als Ma fr die Alterung
26.1 Vergleich von Diagnosesystemen
261
benutzt, ergibt sich dieses Ma bei anderen Verfahren z.B. aus der Festlegung bestimmter Kenngren oder aus der mathematischen Behandlung einer zeitabhngigen Megre
(Depolarisationsstrom).
Drei der untersuchten Diagnosesysteme arbeiten computergesttzt (mit Notebook oder
Industrie-PC) nahezu automatisch. Bei einphasig messenden Diagnosesystemen mssen allerdings zur Messung eines Kabelsystems die Prflinge manuell umgeklemmt werden. Das
LDIC-Gert, das nur als Prototyp verfgbar war, erforderte noch erheblichen manuellen
Bedienaufwand.
Zum besseren Verstndnis werden die Meprinzipien und die wesentlichen Parameter der vier
Verfahren im folgenden kurz beschrieben (s.a. Tabelle 26.1).
Spannungsart
Amplitude
Ladezeit
Kurzschluzeit
Mezeit pro Spannungsstufe
Messung 1- bzw. 3-phasig
Pausenzeit
Diagnosedauer 3-phasig
IRC-Analyse CD-Verfahren
VLF-tan
Depol.-Ladung
DC
DC
0,1 Hz AC
DC
1 kV
0,5 / 1 / 1,5 / 2 U0 0,5 / 1 / 1,5 / 2 U0 1 kV, 10 kV
30 min
5 min
5 * 30 s
5s
2s
10 s
30 min
max. 40 min
ca. 2 min
4*20 s + 10 min
1
3
1
1
Faustformel
0
undefiniert
3h
bis 3,5 h
ca. 1 h
ca. 30 min
Tabelle 26.1: berblick ber die wesentlichen Parameter der vier Diagnosesysteme
26.1.3.1 Isotherme Relaxationsstromanalyse (IRC-Analyse) der Fa. Seba Dynatronic

Die IRC-Analyse beruht auf der Messung des Depolarisationsstromes nach vorheriger Formierung mit Gleichspannung. Der Prfling wird fr die Zeit von 30 min mit einer Gleichspannung
von 1 kV geladen, anschlieend fr 5 s zur Entladung der geometrischen Kapazitt kurzgeschlossen. Dann wird der abklingende Depolarisationsstrom whrend 30 min gemessen und
aufgezeichnet. Unter der Annahme dreier klar separierter (physikalisch begrndeter) alterungsabhngiger Polarisationseffekte wird der gemessene Stromverlauf durch drei exponentiell
abklingende Funktionen approximiert, deren Parameter dann zur Berechnung des Alterungsbeiwertes A (im folgenden A-Faktor genannt) dienen. Der A-Faktor ist nach Aussage des
Herstellers ein direktes Ma fr den Grad der Alterung. Als Grenzwert zur Unterscheidung
von stark und weniger stark gealterten Kabeln gibt der Hersteller 2,25 an. Die Messung
erfolgt einphasig, d.h. die Diagnosezeit fr ein Kabelsystem betrgt etwa drei Stunden [6].
26.1.3.2 Wiederkehrspannungsmessung (CD-Verfahren) der Fa. Hagenuk

Das CD-Verfahren wertet die Ladespannungsabhngigkeit der Wiederkehrspannungsmaxima
aus. Die drei Leiter eines Kabelsystems werden zeitgleich 5 min mit Gleichspannung formiert,
dann 2 s kurzgeschlossen. Danach wird die Wiederkehrspannung fr 10 bis 40 min (abhngig
von der Kabellnge) an den drei Prflingen gemessen. Dieser Versuchsablauf wird fr die
Ladespannungen 0,5 - 1,0 - 1,5 - 2,0 U0 DC (bzw. nur bei 1,0 und 2,0 U0 DC in einer Kurzvariante) wiederholt und die Wiederkehrspannungsmaxima als Funktion der Ladespannung
bestimmt. Der Quotient aus dem 2 U0 - und dem 1 U0 -Wiederkehrspannungsmaximum wird
als Linearittsfaktor (im folgenden L-Faktor genannt) bezeichnet. Die Nichtlinearitt, d.h.
die Abweichung von der Proportionalitt zwischen Ladespannung und Wiederkehrspannungsmaximum (L-Faktor = 2) gilt als Ma fr die Alterung. Laut Hersteller deutet ein L-Faktor
3,0 auf stark WT-gealterte Kabel hin. Die Diagnosezeit fr ein Kabelsystem betrgt bis zu 3,5
Stunden [7].
262
26.1.3.3 VLF-(0,1 Hz)-Verlustfaktormessung der Fa. Baur

Ursprnglich wurde die sinusfrmige 0,1-Hz-Wechselspannung nur als alternative Prfspannung diskutiert. Durch die Realisierung der Verlustfaktormessung bei 0,1 Hz bietet sich
jedoch die Mglichkeit, Spannungsprfung und Diagnose zu kombinieren [810]. Der 0,1Hz-Verlustfaktor bei 2 U0 und/oder die nderung des Verlustfaktors von 1 U0 auf 2 U0 dienen
als Diagnosekriterien. Die vom Hersteller genannten Grenzwerte fr stark WT-gealterte,
VPE-Homopolymer-isolierte Kabel betragen 1 103 fr den tan bei 2 U0 und 6 104
fr den Gradienten (tan 2 U0 - tan 1 U0 ). Die Verlustfaktormessung erfolgt einphasig.
Die reine Mezeit fr ein Kabelsystem betrgt etwa 30 min und kann bei Beschrnkung auf
die Spannungsstufen 1 und 2 U0 halbiert werden. Vor Ort bedingt die Anschlutechnik eine
Diagnosezeit von ca. 1 h. Sollte bei sehr langen Kabeln vor Ort die Leistungsfhigkeit der
Prfspannungsquelle nicht ausreichen, kann durch Frequenzabsenkung auf minimal 0,01 Hz
noch eine Spannungsprfung bis zur maximalen Prfspannung von 3 U0 erfolgen.
26.1.3.4 Depolarisationsladungsmessung (CDA-Verfahren) der Fa. LDIC

Der Prototyp zur Messung der Depolarisationsladung ist eine Diagnosekomponente des CDASystems, das schwerpunktmig der TE-Messung dient [11]. Bedingt durch die Parameter
bei der TE-Messung wurden hier sehr kurze DC-Ladezeiten (30 s) und Mezeiten gewhlt.
Beim CDA-Verfahren wird der Prfling zur TE-Messung wiederholt mit einer sehr langsamen
Impulsspannung beansprucht. Dies hat eine mehrfache kurzzeitige DC-Vorbelastung zur Folge.
Obwohl fr die Diagnose beim CDA-Verfahren nur eine DC-Formierung erforderlich wre,
mu wegen des Einflusses der Vorbelastung auf die Diagnoseergebnisse die mehrfache
DC-Vorbelastung auch dann erfolgen, wenn wie in dieser Untersuchung keine TE-Messung
erfolgt. Ausgewertet werden beim CDA-System das Verhltnis von Depolarisationsladung zur
Gesamtladung bei Ladespannungsamplituden von 1 kV und 10 kV. Herstellergrenzwerte lagen
zum Zeitpunkt der hier vorgestellten Untersuchung noch nicht vor.
26.1.4 Vergleich der Diagnosesysteme im Labor

26.1.4.1 Prflinge
Fr die umfangreichen Laboruntersuchungen wurden betriebsgealterte PE- bzw. VPE-isolierte
Mittelspannungskabel aus den Netzen der das Forschungsvorhaben untersttzenden EVU als
Prflinge verwendet. Dabei wurde einerseits besonderer Wert darauf gelegt, mglichst unterschiedliche Kabel mit unterschiedlichen Alterungszustnden zu erhalten, andererseits wurden
Gruppen von Kabelprflingen hnlicher Parameter (Hersteller, Baujahr, Verlegebedingungen
usw.) gebildet, um statistisch abgesicherte Ergebnisse zu gewinnen. Die Lnge der Kabelprflinge betrug i.a. 30 m. Diese Lnge stellt einen Kompromi zwischen noch akzeptabler
Handhabbarkeit im Labor und der Ausrichtung der kommerziellen Diagnosesysteme auf vor
Ort typische Kabellngen dar. In einigen Fllen standen auch grere Lngen (bis 2000 m)
betriebsgealterter Kabel zur Verfgung, so da auch eine mgliche Lngenabhngigkeit der
Diagnoseergebnisse untersucht werden konnte.
Veranlat durch Ergebnisse und Interpretationsfragen bei den Vor-Ort-Untersuchungen wurde
im Labor auch beispielhaft der Einflu einiger Garnituren (Verbindungsmuffen) auf die Diagnoseergebnisse untersucht. Dabei wurden neue und betriebsgealterte Muffen unterschiedlicher
Konstruktion in die Untersuchungen einbezogen.
263
26.1.4.2 Durchfhrung der Vergleichsuntersuchungen

Die angelieferten betriebsgealterten Kabel wurden nach Eintreffen im Labor zunchst eindeutig
gekennzeichnet. Die verfgbaren Kabeldaten wurden in eine Datenbank aufgenommen. Dazu
gehrten u.a.:
Kabeltyp: Nennspannung, Einleiter- bzw. Dreileiterkabel, graphitierte oder extrudierte
uere Leitschicht, Leiteraufbau (Querschnitt, eindrhtig oder mehrdrhtig)
Materialien: Isolierwerkstoff (PE oder VPE), Mantelwerkstoff (PVC oder PE), Schirm
(Al oder Cu)
Sonstige: Hersteller, Baujahr, Verlegedatum, Fehler- und Prfgeschichte, Aufnahme- und
Anlieferungsdatum, Besonderheiten
Prflingsparameter: Montagedatum, Prflingslnge, Prflingskapazitt
Untersuchungsergebnisse: Diagnoseergebnisse (Erst- und Reproduzierbarkeitsmessungen), Wassergehalt, Restfestigkeit im FGH-Stufentest, Ergebnisse von Sonderuntersuchungen
Die Kabeldiagnosen und die Bestimmung der Restfestigkeit wurden i.a. innerhalb von 5 Tagen
durchgefhrt, um Vernderungen der Kabelprflinge whrend der Untersuchungen (z.B. durch
Austrocknung) so gering wie mglich zu halten.
Zur Vorgehensweise wurde festgelegt, an jedem Prfling nacheinander mit den einzelnen
Diagnosesystemen eine Beurteilung vorzunehmen, um so trotz von Prfling zu Prfling
mglicherweise unterschiedlichen WT-Schdigungszustandes direkte Vergleiche vornehmen
zu knnen.
In einer umfangreichen Voruntersuchung wurde daher zunchst geprft, inwieweit die Reihenfolge beim Einsatz der Diagnosesysteme infolge diagnosebedingter Vorbeanspruchungen zu
einer Beeinflussung der nachfolgenden Diagnoseergebnisse fhrt. Dabei wurde festgestellt,
da die untersuchten Diagnosesysteme erwartungsgem unterschiedlich empfindlich auf
Vorbelastungen reagieren.
Als Fazit der Voruntersuchungen und nach Rcksprache mit den Gerteherstellern wurde
eine feste Reihenfolge beim Einsatz der Diagnosesysteme und der Zusatzuntersuchungen
gewhlt und im weiteren beibehalten. Das gegenber Prfvorbelastungen empfindlichste
Diagnosesystem (Seba-Gert) wurde zuerst eingesetzt, das toleranteste (Baur-Gert) zum
Schlu.
Das Diagnosesystem der Fa. Seba Dynatronic erfordert laut Herstellerangaben zudem eine
lngere Vorbeanspruchung der Prflinge mit betriebsfrequenter Wechselspannung unmittelbar
vor der Diagnose. Fr die Laboruntersuchungen wurde deshalb vorsichtshalber eine zustzliche
100 h-Konditionierungsphase mit 50 Hz-Wechselspannung vorgesehen.
Somit ergab sich folgende Reihenfolge beim Einsatz der Diagnosesysteme und der Zusatzuntersuchungen:
1. 100 h-Vorbelastung mit 50 Hz-Wechselspannung, 1 U0
2. Isotherme Relaxationsstromanalyse (IRC-Analyse)
3. Depolarisationsladungsmessung (Depol.-Ladung)
4. Wiederkehrspannungsmessung (CD-Verfahren)
5. VLF-(0,1 Hz)-Verlustfaktormessung (VLF tan )
6. Sondermessungen (s. Ausblick)
7. FGH-Stufentest
Bei der Untersuchung von Verbindungsmuffen wurde analog verfahren. Falls die Muffe
Bestandteil eines Kabelprflings war, wurde zunchst dieser Prfling mit Muffe untersucht,
264
dann die Muffe allein, d.h. mit sehr kurzen Kabelenden (< 0,5 m). Mit den im Zeitbereich
arbeitenden Diagnosesystemen von Hagenuk und Seba Dynatronic konnten trotz der geringen
Kapazitt einer Muffe Diagnoseergebnisse erzielt werden. Mit dem Diagnosesystem von Baur
ist es nicht mglich, an derart kurzen Kabellngen den 0,1-Hz-Verlustfaktor zu bestimmen.
Deshalb wurde in diesem Fall das frequenzvariable Przisions-Verlustfaktormesystem der
TU Berlin eingesetzt, das auch an kleinen Kapazitten Messungen ermglicht [12].
26.1.4.3 Zusatzuntersuchungen
Um ein mglichst umfassendes Bild des Alterungszustandes der untersuchten Kabel zu
gewinnen und damit eine Beurteilung (Kontrolle) der Diagnoseergebnisse zu ermglichen,
wurden neben den dielektrischen Messungen mit den einzelnen Verfahren noch folgende
Zusatzuntersuchungen durchgefhrt:
Wassergehaltsbestimmung: Aus allen untersuchten Kabeln wurden bei Anlieferung Isolierungsproben fr die Wassergehaltsbestimmung mittels der Karl-Fischer-Titration und fr
die mikroskopische Auswertung (s.u.) entnommen.
Mikroskopische Auswertung (WT-Bild): Die Einfrbung der WT-Strukturen erfolgte mit
der Blockfrbemethode (Einfrbung mit Methylenblau eines ca. 3 cm langen Kabelstckes
ohne uere Leitschicht). Nach dem Einfrben wurden die Kabelstcke mit einem Mikrotom in jeweils 30 Dnnschnitte 200 m geschnitten und die Lnge des lngsten
Wasserbumchens notiert.
Restfestigkeit im FGH-Stufentest: Zur Bestimmung der Wechselspannungsrestfestigkeit wurde der FGH-Stufentest herangezogen [13]. Beim Stufentest wurden kapazitiv
gesteuerte Aufschiebeendverschlsse verwendet. Bei ca. 85 kV traten Endverschluberschlge auf, die als Restfestigkeit > 84 kV , d.h. > 7 U0 bei 12/20- bzw. > 14 U0 bei
6/10-kV-Kabeln gewertet wurden. Vereinzelt aufgetretene Durchschlge whrend der VLFVerlustfaktormessung wurden als Durchschlagswerte des Stufentests gewertet. Fr jede
statistische Gruppe (s. Gruppenbildung, Abschnitt 26.1.6.1) wurde der Weibull-Nennwert
u63 und der Weibull-Exponent (slope) der Verteilung bestimmt.
26.1.5 Vor-Ort-Untersuchungen
Zwei mehrwchige Vor-Ort-Untersuchungen in den Versorgungsgebieten der VEW Energie
AG, der DEW und der EWE (insgesamt 34 Strecken mit ca. 40 Systemkilometer), sowie je
eine Vergleichsmessung bei der RWE Energie AG und der Bewag (je 1 Strecke mit ca. 1
Systemkilometer) ergnzten die Laboruntersuchungen durch zustzliche Erkenntnisse, die
bei reinen Laboruntersuchungen nicht zu gewinnen wren. U.a. zeigten sich dabei deutliche
Grenzen in der Bewertung der Diagnosesicherheit, da bei Vor-Ort-Untersuchungen zustzliche
Informationen ber den Alterungszustand der jeweiligen Kabel (s. Zusatzuntersuchungen,
Abschnitt 26.1.4.3) nicht zur Verfgung stehen. Der Vor-Ort-Vergleich der Diagnosesysteme
konzentrierte sich auf die berprfung des Vorhandenseins einer direkten Korrelation der mit
den verschiedenen Verfahren erzielten Diagnoseergebnisse und auf die Bewertung der Praxistauglichkeit der Diagnosesysteme im Vor-Ort-Einsatz. Wesentliche Kriterien zur Beurteilung
der Praxistauglichkeit waren:
Diagnosedauer: Vorbereitungszeit, Mezeit, Umbauzeit
Anschlutechnik: Kompaktstationen, Kabelauffhrungsmaste, Kabelstecker
Anwenderfreundlichkeit: Handhabbarkeit, Handbuch, Hilfefunktionen, Bedienoberflche
Strsicherheit: Beeinflussung der Diagnosesysteme durch Strgren wie z.B. parallel
liegende Kabelstrecken, Bundesbahn- und Umrichteranlagen, angeschlossene Spannungswandler, Antennenwirkung von Lasttrennschaltern
265
Robustheit: Wettereinflu, Erschtterungen

Mebereich: Messung auch groer Kabellngen bzw. groer Prflingskapazitten (s. Lngeneinflu,
Abschnitt 26.1.6.1)
Beeinflubarkeit der Diagnoseergebnisse durch vorausgegangene Mantelprfung oder
Kabelfehlerortung
Zur berprfung der Reproduzierbarkeit der im Herbst 1996 vor Ort gewonnenen Diagnoseergebnisse wurden auerdem im Frhjahr 1997, d.h. 8 Monate nach den ersten Vor-OrtMessungen, Wiederholungsmessungen an den bereits frher gemessenen Kabelstrecken durchgefhrt.
26.1.6 Ergebnisse und Diskussion

Bei der Beurteilung des Alterungszustandes betriebsgealterter Kabel stellt sich die prinzipielle
Frage nach dem objektiven Referenzmastab, der eine absolute Bewertung von Diagnoseergebnissen erlaubt. Nach heutigem Kenntnisstand gestattet kein Diagnoseverfahren eine solche
objektive Bewertung. Dies ist bei der Komplexitt der Alterungsprozesse, der oft inhomogenen
Alterung und der statistischen Verteilung der Schwachstellen auch nicht zu erwarten.
Die Bewertung der Diagnoseergebnisse geschah deshalb unter Bezugnahme auf die Ergebnisse
der Zusatzuntersuchungen (s. Abschnitt 26.1.4.3), die in ihrer Gesamtheit am ehesten eine
objektive Beurteilung des Alterungszustandes einer Kabelisolierung ermglichen.
Nach umfangreichen Voruntersuchungen wurde ferner entschieden, das LDIC-Gert in diesem
Vergleich nicht weiter zu untersuchen. Der bereitgestellte Prototyp erwies sich im Vor-OrtEinsatz als zu leistungsschwach, um die Kabel innerhalb der vorgegebenen Zeitparameter
aufzuladen bzw. zu formieren. Auerdem erforderte der nicht-automatisierte Meablauf umfangreiche zeitkritische Benutzereingriffe, die neben dem ungewhnlich hohen Bedienaufwand
einen benutzerabhngigen Einflu auf die Reproduzierbarkeit der Meergebnisse zur Folge
hatten. Als kritisch erschienen auch die vom Hersteller vorgegebenen Zeitparameter (Lade-,
Kurzschlu- und Mezeit), die beim bisherigen Kenntnisstand bezweifeln lieen, mit diesem
System alterungsrelevante Informationen an kunststoffisolierten Kabeln gewinnen zu knnen.
26.1.6.1 Ergebnisse der Laboruntersuchungen

Direkte Korrelation
Die berechtigte Erwartung der Anwender bestand zunchst darin, da die verschiedenen
Diagnosesysteme unabhngig von der absoluten Bewertung eine gleiche oder sehr hnliche
Rangfolge bei der Bewertung des Alterungszustandes betriebsgealterter, kunststoffisolierter
Kabel liefern sollten. Demzufolge wurden als erster Schritt der vergleichenden Beurteilung
der Diagnosesysteme die Einzelergebnisse korreliert.
Zur berprfung der bereinstimmung der mit den verschiedenen Verfahren erzielten Bewertungen wurde die Korrelation der Einzelergebnisse graphisch ermittelt (s. Abb. 26.1a-c, in
denen die Diagnoseergebnisse sowohl der Labor- als auch der Vor-Ort-Messungen zusammen
wiedergegeben sind).
Durch die Grenzwerte der Gertehersteller wurden die Diagramme in vier Quadranten geteilt.
In Abbildung 26.1a ist dies beispielsweise fr die VLF-tan -Messung und die IRC-Analyse
dargestellt. Man erkennt, da fr viele Messungen eine Korrelation niedriger tan und
kleiner A-Faktor bzw. hoher tan und groer A-Faktor gegeben ist (Quadranten I
und III), da aber auch zahlreiche Ergebnisse sich widersprechen (z.B. niedriger tan / sehr
groer A-Faktor und umgekehrt, Quadranten II und IV). Sie fhren also fr den Anwender zu
ganz unterschiedlichen Beurteilungen. Zunchst bleibt offen, welches der Diagnosesysteme
266
richtige Ergebnisse liefert. Sinngem gelten diese Aussagen auch fr die Diagramme 26.1b
und 26.1c.
Bei einer nicht unerheblichen Anzahl von Messungen (32 = 36%) mit dem Seba-Verfahren
war zudem keine A-Faktor-Bestimmung mglich (s. gesondert gekennzeichnete Mepunkte in
Abb. 26.1a und Abb. 26.1.10).
Abb. 26.1: Direkte Korrelation der Einzelmewerte der Labor und Vor-OrtUntersuchungen fr die drei untersuchten Diagnosesysteme
a) 0,1-Hz-tan bei 2 U0 ber A-Faktor

b) 0,1-Hz-tan bei 2 U0 ber L-Faktor
c) L-Faktor ber A-Faktor
267
Gruppenbildung
Da der direkte Vergleich der Einzelmewerte somit keine klaren Ergebnisse zur Einstufung
der Diagnosequalitt lieferte, wurde durch Gruppenbildung von Kabelprflingen hnlicher
Eigenschaften (WT-Bild, Restfestigkeit, Kabelaufbau, Wassergehalt) versucht, statistisch
besser abgesicherte Aussagen zu gewinnen. Die folgende Tabelle zeigt die Charakteristik der
gebildeten Gruppen:
Gruppe Anzahl
Kabel
A1
Typ
Her- Bau- Wassergehalt WT-Bild

steller jahr
6/10 kV
PE (TGL)
NA2YHCaY
1980 unter Nach- keine WT-
weisgrenze
< 50 ppm
Strukturen
gefunden
Stufen- Beurteilung
test u63
8,2 U0 kaum dielek = 2,0 trisch gealtert
A2
12/20 kV
PE
NA2YSY
1979 unter Nach- keine WTweisgrenze Strukturen

< 50 ppm
gefunden
A3
12/20 kV
PE
NA2YSY
1973 unter Nach- viele bow-tie-trees 3,2 U0 starke inhomoweisgrenze bis 100 m,
= 4,2 gene Alterung
< 50 ppm
stellenweise viele
lange VT bis 1 mm
B1
6/10 kV
VPE
NA2XS2Y
1985 gering
mige Anzahl
bow-tie-trees
bis 200 m
12 U0 kaum dielek = 4,9 trisch gealtert
B2
11
6/10 kV
PE
Dreileiter
NA2YHSY
C/E
1979 mittel
800 ppm
vereinzelte
bow-tie-trees
bis 400 m
7,2 U0 mittlere
= 9,7 homogene
6/10 kV
VPE
NA2XSY
B3
18
6,3 U0 kaum dielek = 4,1 trisch gealtert,

singulre
Fehlstellen
Alterung
1978 mittel
mittlere Anzahl
1000 ppm bow-tie-trees
bis 200 m
5,5 U0 mittlere
= 2,7 inhomogene
Alterung
B4
13
12/20 kV
VPE
NA2XSY
C/E
1978 hoch
keine VT, lange
> 2000 ppm bow-tie-trees
bis 1 mm
5,5 U0 mittlere
= 2,7 Alterung
B5
15
12/20 kV
VPE
NA2XSY
B/C
1979 hoch
lange VT> 2000 ppm Wlder
bis 1 mm
3,4 U0 starke
= 5,8 homogene
Alterung
Tabelle 26.2: Charakteristik der Kabelgruppen
Beispielhaft sind in Abb. 26.2, 26.3 und 26.4 die Diagnoseergebnisse wiedergegeben, die
mit den drei verbliebenen Verfahren an den Kabeln der Gruppen A3, B3 und B5 erzielt
wurden. Zwei dieser Gruppen (A3 und B5) wurden durch die Zusatzuntersuchungen als stark
geschdigt klassifiziert. Derartige Alterungszustnde sollten von den Diagnoseverfahren
sicher erkannt werden. Die Gruppe B3 wurde als Beispiel fr einen mittleren , inhomogenen
Alterungszustand gewhlt.
Die Diagnoseergebnisse wurden mittels Division der Einzelergebnisse durch den jeweiligen
gertespezifischen Grenzwert normiert, damit ein direkter Vergleich in einem Diagramm
mglich ist. Das Diagnoseergebnis 1,0 entspricht damit genau dem gertespezifischen
Grenzwert und wird in den Diagrammen durch eine durchgehende rote Linie markiert.
Die Kabel der Gruppe A3, die eine sehr niedrige Restfestigkeit von etwa 3 U0 aufwiesen und
durch die Zusatzuntersuchungen als stark inhomogen gealtert einzustufen sind, wurden
durch die IRC-Analyse relativ einheitlich als schlecht beurteilt. Bei drei der neun Prflinge
konnte allerdings kein A-Faktor bestimmt werden. Zwei Kabel zeigten bzgl. des A-Faktors
nur knappe Grenzwertberschreitungen. Das CD-Verfahren beurteilte die Kabel der Gruppe
A3 dagegen als einheitlich gut , drei Kabel erreichten aber fast den Alterungsgrenzwert.
Bei der VLF-tan -Messung traten zwei Durchschlge auf. Der berwiegende Teil der VLFtan -Mewerte lag deutlich oberhalb des Grenzwertes, drei Kabel wurden allerdings als gut
2688
normierte
Diagnoseergebnisse
normierte
Diagnoseergebnisse
8
7
A301
A302
A303
A304
A301
A305
A302
A306
A303
Durchschlag bereits bei

der VLF-tan ! -Diagnose
Durchschlag bereits bei

der VLF-tan ! -Diagnose
A321
A322
A323
A304
A305
A306
7
6 *) keine Messung, da mit
A321
A322
A323
Durchschlagsstelle
6 *) keine
angeliefert
Messung, da mit
5
Durchschlagsstelle
LEW-Gruppe
angeliefert
LEW-Gruppe
5
4
4
3
3
2
2
1
*)
*)
1
0
A-Faktor
L-Faktor
A-Faktor
L-Faktor
" tan !
*)
tan ! (2Uo)
*)
(2Uo -1Uo)
" tan !
tan ! (2Uo)
(2Uo -1Uo)
Abb. 26.2: Diagnoseergebnisse der Gruppe A3 (Labormessungen)

1,6
normierte
Diagnoseergebnisse
normierte
Diagnoseergebnisse
1,6
1,4
1,4
1,2
1,2
1,0
B311
B312
B313
B321
B322
B323
B331
B311
B332
B312
B333
B313
B341
B321
B342
B322
B343
B323
B351
B331
B352
B332
B353
B333
B361
B341
B362
B342
B363
B343
*) 3x keine Messungen durchgefhrt

B351
B352
B353
B361
B362
**) ! tan " # 0
B363
DEW-Gruppe
DEW-Gruppe
*) 3x keine Messungen durchgefhrt

**) ! tan " # 0
1,0
0,8
0,8
0,6
0,6
0,4
0,4
0,2
*)
0,2
0,0
A-Faktor
L-Faktor
*)
*)
tan " (2Uo)
**)
! tan "
**)
*)
**)
**)
(2Uo
-1Uo) **)
**)
0,0
! tan "
A-Faktor
L-Faktor
(2Uo)
Abb.
26.3: Diagnoseergebnisse
der Gruppetan
B3" (Labormessungen)
1000
(2Uo -1Uo)
NH M2[4] A=2,35 (338pF)
NH
A=2,31
(456pF)
beurteilt.
U0 M4[3]
zeigten
auch
keine
1000 Die Prflinge mit den niedrigen VLF-tan -Mewerten bei 2NH
(344pF)
NHm6[4]
M2[4]A=k.d.Z.
A=2,35 (338pF)
bzw. nur eine sehr geringe Spannungsabhngigkeit des VerlustfaktorsLEW
(
tan
Kriterium).
NHM4[5]
M4[3]A=3,65
A=2,31(620pF)
(456pF)
LEW
(633pF)
Die hohen VLF-tan -Mewerte korrespondierten mit einer starken Spannungsabhngigkeit
NHM5[5]
m6[4]A=3,75
A=k.d.Z.
(344pF)
LEW
LEWM6[5]
M4[5]A=2,60
A=3,65(1,04nF]
(620pF)
des tan .
BEW 1.1[2] A=2,14 (1,1nF)
LEW M5[5] A=3,75 (633pF)
100
3.1[1]
A=2,06
LEW
M6[5]
A=2,60(1,7nF)
(1,04nF]
Die 15 stark homogen gealterteten Kabel der Gruppe B5 mit ebenfallsBEW
sehr
niedriger
RestfesBEW 1.1[2] A=2,14 (1,1nF)
tigkeit100
von 3,4 U0 wurden von den Diagnoseverfahren mehrheitlich, besonders
sicher aber mit
BEW 3.1[1] A=2,06 (1,7nF)
der 0,1-Hz-tan -Messung durch Grenzwertberschreitungen erkannt. Bei der IRC-Analyse
konnte
in zwei Fllen kein A-Faktor bestimmt werden, bei fnf Kabeln wurde der Grenzwert
log
I [pA]
knapp erreicht bzw. nur knapp berschritten. Das CD-Verfahren zeigte in sechs Fllen Grenz10
wertunterschreitungen
und bei weiteren zwei Kabeln wurde der Grenzwert nur knapp erreicht.
log
I [pA]
Die VLF-tan -Mewerte zeigten teilweise sehr starke Grenzwertberschreitungen an, eins der
10
15 Kabel
lieferte eine nur knappe Grenzwertber- (VLF-tan bei 2 U0 ) bzw. -unterschreitung
( tan ). Zwei Kabel der Gruppe B5 schlugen infolge der starken WT-Schdigung bereits
whrend der VLF-Verlustfaktormessung durch.
1
Die Beurteilung
der Kabel der Gruppe B3, die eine mittlere Restfestigkeit von 5,5 U0 auf1 durch die Zusatzuntersuchungen
10
1000
10000
wiesen und
als 100
mittel inhomogen gealtert
charakterisiert
log t [s]
10
100
log t [s]
1000
10000
Depolarisationsstrm
von verschiedenen
Depolarisationsstrm
Garnituren
von verschiedenen
Garnituren
0,0E+0
A-Faktor
L-Faktor
tan ! (2Uo)
" tan ! (2Uo -1Uo)
269
5,0
B561
B562
B563
B564
B565
B566
B571
B572
B591
B592
B593
B510
B5131
B5132
B5133
4,5
normierte Diagnoseergebnisse
4,0
3,5
3,0
2,5
EWE-Gruppe
12.3.3.(B5)
*) keine tan ! - Messungen

da Ausfall bei 2Uo
2,0
1,5
1,0
0,5
*)
*)
0,0
A-Faktor
L-Faktor
tan ! (2Uo)
" tan !
(2Uo -1Uo)
Abb. 26.4: Diagnoseergebnisse der Gruppe B5 (Labormessungen)
wurden, ergab mittels der IRC-Analyse kein einheitliches Bild bzw. blieb unvollstndig. Bei
11 von 18 Kabeln war eine Bestimmung des A-Faktors nicht mglich. Die 7 erfolgreichen
A-Faktor-Bestimungen zeigten vier deutliche Grenzwertberschreitungen, zwei knappe und
eine deutliche Grenzwertunterschreitung. Das CD-Verfahren beurteilte die Gruppe B3 dagegen als einheitlich gut, es traten nur geringe Abweichungen zwischen den Einzelmewerten
auf. Die VLF-Verlustfaktormessung lieferte meist sehr kleine tan -Werte, nur bei einem
Kabel wurde der Grenzwert des Verlustfaktors und des Verlustfaktoranstieges ( tan ) knapp
unterschritten.
Die Bilder 5-8 zeigen die Darstellung der Diagnoseergebnisse aller Kabelprflinge in Abhngigkeit von der im FGH-Stufentest ermittelten Restfestigkeit. Obwohl die Restfestigkeit von
einer singulren Schwachstelle des Prflings bestimmt wird und damit in der Regel, besonders
bei inhomogener Alterung, stark streut, war doch durch die Zusatzuntersuchungen der generelle Zusammenhang zwischen dem Grad der WT-Schdigung und der Durchschlagsspannung
deutlich erkennbar.
Stark gealterte Kabel (mit sehr niedriger Restfestigkeit von 3 U0 ) wurden mit der IRCAnalyse in 12 Fllen (= ca. 50 %) korrekt beurteilt, in 2 Fllen wurden die Kabel dagegen
als gut eingeschtzt und in 11 Fllen war keine A-Faktor-Bestimmung mglich (Bild 5). Bei
der VLF-Verlustfaktormessung wurde der grte Teil (17 Flle = ca. 70 %) der Kabel korrekt
als stark gealtert erkannt, whrend 8 Kabel als gut eingestuft wurden (Bilder 7 u. 8). Das
CD-Verfahren stellte nur in wenigen Fllen (4 von insgesamt 25) berhaupt Grenzwertberschreitungen fest (Bild 6), diese vier Flle korrespondierten aber (immerhin) mit niedriger
Restfestigkeit der Prflinge. Der Groteil stark gealterter Kabel blieb beim CD-Verfahren
jedoch unentdeckt.
Bei Restfestigkeiten 4 U0 lieferten alle Diagnoseverfahren Ergebnisse, die keine klare
Differenzierung der Alterungszustnde zulieen. Die Restfestigkeit von 4 U0 stellte fr die
VLF-Verlustfaktormessung eine Art Schwellwert dar: beim Gradientenkriterium ( tan )
wurde keine einzige Grenzwertberschreitung festgestellt, beim VLF-tan bei 2 U0 nur in
Einzelfllen. Bei der IRC-Analyse war kein klarer Zusammenhang zwischen Restfestigkeit und
A-Faktor erkennbar, die Diagnoseergebnisse lagen bis zu den hchsten Restfestigkeiten sowohl
unterhalb als auch oberhalb des Grenzwertes, d.h. auch durchaus betriebsfhige Kabel wurden
als gealtert bzw. stark gealtert diagnostiziert. Beim CD-Verfahren ergaben sich bei Restigkeiten
4 U0 nur in drei Fllen Grenzwertberschreitungen, die meisten Ergebnisse lagen in einem
kleinen Streuband um den Wert 2, weitgehend unabhngig von der Restfestigkeit.
270
Einflu von Kabellnge bzw. Prflingskapazitt

IRC-Analyse: Eine Untersteuerung, die z.B. bei Prflingslngen von ca. 30 m im Labor
insbesondere bei wenig gealterten und damit wenig polarisierbaren PE-Kabeln auftrat,
fhrt zu einem schnellen Abklingen des Depolarisationsstromes unter die Rauschgrenze (typ. 1,5 pA). In diesen Fllen war dann keine Auswertung (A-Faktor-Bestimmung)
mglich. Eine bersteuerung tritt vor Ort bei sehr groen Kabelkapazitten auf (Depolarisationsstrme > 12 nA), der abklingende Depolarisationsstrom luft aber i.a. whrend
der Mezeit in das Mefenster, so da die A-Faktor-Bestimmung trotzdem oft gelingt.
Offen bleibt, inwieweit eine anfngliche bersteuerung das Diagnoseergebnis beeinflut.
Der A-Faktor zeigte sich in exemplarischen Versuchen als wenig lngenabhngig, sofern
die Auswertung mglich war.
CD-Verfahren: Eine Untersteuerung tritt hier nicht auf, das Diagnosesystem mit auch
schon im Leerlauf die Wiederkehrspannung der eigenen Anschlukabel. Eine bersteuerung wurde bisher nur bei EPR-Kabeln (sehr hohe Wiederkehrspannung im Vegleich
zu PE und VPE) beobachtet. Bei sehr groen Kabelkapazitten (vor Ort) kann das System
seine eigenen Zeitparameter nicht einhalten (kein Absinken der Wiederkehrspannung
innerhalb der maximalen Mezeit von 40 min).
0,1-Hz-Verlustfaktormessung: Eine Untersteuerung infolge kleiner Prflingskapazitten
fhrt zunchst zu einer Erhhung der Mewertstreuung. Bei Prflingskapazitten CP <
10 nF (und einer Prfspannung 12 kV) kann keine Messung durchgefhrt werden.
Eine bersteuerung des Verlustfaktormebereiches ist nicht mglich, bei zu groen
Kapazitten kann die max. Ausgangsspannung nur durch Frequenzabsenkung erreicht
werden (Strombegrenzung). Die Verlustfaktormewerte sind (bei homogener Alterung)
lngenunabhngig.
Einflu von Garnituren

IRC-Analyse: Die Depolarisationsstrme von Kabel und Garnituren addieren sich im Bereich kurzer und mittlerer Mezeiten. Bei langen Mezeiten sind die berlagerungseffekte
nicht mehr eindeutig. Es ist nicht auszuschlieen, da Vorbelastungen durch vorangegangene Versuche trotz zwischenzeitlicher Beanspruchung mit 50-Hz-Wechselspannung (1 U0 ,
100 h) einen Einflu auf die nachfolgende Messung haben und damit berlagerungseffekte
von Kabel und Garnitur im Bereich langer Mezeiten verdecken. Bei vor-Ort-typischen
Kabellngen zwischen den Muffen ist allerdings kein Einflu der Garnituren auf die
Bestimmung des A-Faktors zu erwarten. Oberflchenwiderstnde durch verschmutzte
Kabelendverschlsse haben prinzipbedingt (Messung im Kurzschlu) keinen Einflu auf
das Diagnoseergebnis.
CD-Verfahren: Der berlagerungseffekt Garnitur-Kabel fhrt zu einem Wiederkehrspannungsverlauf, der etwa dem Mittelwert der einzeln an Kabel und Garnitur gemessenen Verlufe entspricht, wobei die Kapazitten von Kabel und Garnitur mageblich
eingehen. Auch beim CD-System ist deshalb kein Einflu der Garnituren bei vor-Orttypischen Kabellngen zu erwarten. Oberflchenwiderstnde an Endverschlssen knnen
den Verlauf der Wiederkehrspannung beeinflussen, wenn sie in der Grenordnung des
Mewiderstandes (10 G) des CD-Systems liegen. Die Diagnoseergebnisse sind durch
die Verhltnisbildung zur Bestimmung des L-Faktors wenig betroffen, solange ein evtl.
Oberflchenwiderstand spannungsunabhngig ist.
0,1-Hz-Verlustfaktormessung: Die berlagerung der VLF-tan -Mewerte von Kabel
und Garnituren erfolgt entsprechend dem Kapazittsverhltnis, daher kann ein Garnitureneinflu bei vor-Ort-typischen Kabellngen sicher ausgeschlossen werden. Fehlstrme
durch Oberflchenwiderstnde mssen durch die vorgesehenen Ableitwickel auf den
Kabelendverschlssen abgeleitet werden, um eine Beeinflussung der Meergebnisse zu
verhindern.
271
26.1.6.2 Ergebnisse der Vor-Ort-Messungen

Vergleich der Diagnoseergebnisse
Eine wesentliche Forderung fr den Einsatz und die Akzeptanz der Kabeldiagnose ist, da die
unterschiedlichen, am Markt erhltlichen Diagnosesysteme zu einer vergleichbaren, zumindest
aber nicht widersprchlichen Bewertung gealterter Kabel fhren. Hierfr kann als gnstiges
Beispiel eine beim RWE durchgefhrte Vor-Ort-Vergleichsmessung dienen: die Verfahren
von Seba, Baur und Hagenuk lieferten in diesem Fall praktisch bereinstimmende Aussagen
(s. Tabelle 26.3); eine der drei gemessenen Phasen (L2) unterscheidet sich signifikant von den
beiden anderen; alle drei Kabel liegen allerdings noch im nicht als kritisch bewerteten Bereich.
Diagnoseverfahren Phase L1 Phase L2 Phase L3
Seba A-Faktor
1,6
2,0
1,7
Hagenuk L-Faktor
2,3
2,6
2,3
Baur tan
2, 2 104 3, 4 104 2, 6 104
0, 2 104 0, 6 104 0, 6 104
Baur tan
Tabelle 26.3: Beispiel einer Vor-Ort-Vergleichsmessung mit trendmig einheitlicher
Aussage
Da dieses Einzelbeispiel leider nicht zu verallgemeinern ist, belegen die in Abb. 26.1a-c
dargestellten Ergebnisse der direkten Korrelation aller Kabeldiagnosen einschlielich der VorOrt-Ergebnisse. Die dort eingetragenen Grenzwerte der jeweiligen Diagnosesysteme teilen
die Diagramme in 4 Sektoren (I-IV). Zwei der Sektoren signalisieren die bereinstimmung
der Aussagen (I, III), Datenpunkte in den beiden anderen Sektoren belegen gegenstzliche
Aussagen (II, IV).
Allgemein ist festzustellen, da zahlenmig nur wenige Vor-Ort-Diagnoseergebnisse Grenzwertberschreitungen zeigten, der grte Anteil liegt im I. Quadranten. Innerhalb dieses
Quadranten ist keine klare Korrelation zu erkennen. Dies besttigt das schon bei den Laboruntersuchungen festgestellte geringe Differenzierungsvermgen der Diagnosesysteme bei
schwach und mittel gealterten Kabeln.
Bei den Vor-Ort-Untersuchungen war bei vier Kabelstrecken die Restfestigkeit infolge starker,
durch die Verlustfaktormessung nachgewiesener Alterung so gering, da die Kabel bereits bei
Beanspruchung mit 2 U0 0,1-Hz-Prfspannung ausfielen. Besonders hervorhebenswert ist, da
diese eindeutig nicht mehr betriebssicheren Kabel, wie aus den Abb. 26.1a hervorgeht, nur
vom Baur-System (durch starke Grenzwertberschreitung des 0,1-Hz-tan ) detektiert wurden,
von den beiden anderen Diagnosesystemen jedoch gar nicht erkannt und stattdessen in einen
unkritischen Bereich (unterhalb der jeweiligen Alterungsgrenzwerte des A- bzw- L-Faktors)
eingestuft wurden.
Auch vor Ort waren mit dem Seba-System wie bei den Labormessungen in zahlreichen Fllen
keine Beurteilungen (A-Faktor-Bestimmungen) mglich (Abb. 26.1a und 26.1c).
Ergebnisse der Reproduzierbarkeitsmessungen

Die berprfung der Reproduzierbarkeit erfolgte durch zwei Vor-Ort-Messungen an ca. 40
Kabeln in einem Abstand von 8 Monaten. Die Diagnosesysteme von Seba und Hagenuk
zeigten hierbei relative Abweichungen von 20%, Baur von 40%. In Einzelfllen lagen
die Abweichungen noch hher. Der Vergleich der absoluten Diagnoseergebnisse ergab, da
die relativ groen Abweichungen beim Baur-Diagnosesystem durch die (positiv zu wertende)
groe Dynamik, z.T. aber auch durch die von den EVU verwendeten Kabelstecker zu erklren
1.0E-04
0.5
1.5
U/U26
0
Diagnose VPE-isolierter Mittelspannungskabel
272
EWE13L3 (40nF)
EWE13L3+NH M4[3] (41nF)berechnet
(11,8nF)
DieNH
i.a.Kabel
recht
guten Reproduzierbarkeiten
NH Kabel (11,8nF)+NH M4[3] berechnet
EWE13L3+NH M4[3] (41nF)

NH M4[3] (456pF)
NH Kabel (11,8nF)+NH M4[3]
Hagenuk-Diagnosesystem
sind.
beim
sind andererseits durch die geringe Dynamik (bzw. geringe Differenzierungsfhigkeit) bedingt (Abb. 26.5
und 26.6).
A-Faktor 96
1E+00
2.50
A-Faktor 97
tan d(1U0) 96
tan d(1U0) 97
tan d(2U0) 96
tan d(2U0) 97
NH M4[3] Ueff = 12kV1.25E-03
NH M4[3] Ueff = 20kV

A-Faktor
Grenzwer

2.00
1E-01
BEW 1.1[2] Ueff = 12kV1.00E-03

tan !(2U0)
BEW 1.1[2] Ueff = 20kV
Grenzwert
LEW M4 [5] Ueff = 6kV
Bild 12.3.6. a
absolute Abweichung
Bild 12.3.5. d
Garnitureneinflu
frequenzvariabel
LEW M4 [5] Ueff = 12kV
1.50
7.50E-04
1E-02
A-Faktor
tan !
1.00
5.00E-04
tan !
1E-03
0.50
2.50E-04
1E-04
0.00
0,01 VEW02
DEW01 DEW04 DEW03 EWE05

VEW03 VEW07 0,1
1 EWE04
EWE06
EWE07 10
EWE09 EWE08 EWE10
0.00E+00
100
f [Hz]
Abb. 26.5: Abweichungen bei Wiederholungsmessungen (absolut)

10000
A-Faktoren der IRC-Analyse
L1=1,641
L2=1,652
L3=1,657
100
L2 nach 100 Impulsen 20kV
80
L1 nach 100 Impulsen 50kV
60
L3 im Grundzustand
40
log I [pA]
relative Abweichung in [ % ]
1000
Bild 12.3.6. b
relative Abweichung
Bild 12.3.7.
Stofehlerortung
20100
0
-20
10
-40
-60
-80 1
-100
Seba
Hagenuk
1 Baur 1 U0
Baur 2 U0
VEW02
VEW03
10
100
1000
10000
log t [s]
VEW07
DEW01 DEW04
DEW03 EWE05
EWE04
EWE06
EWE07
EWE08
EWE09
EWE10
Abb. 26.6: Abweichungen bei Wiederholungsmessungen (relativ)

10000
A-Faktoren der IRCAnalyse
L1=1,633
L2=1,611
L3=1,621
L1 Mantelprfung mit 2,5kV(DC 5min)

L2 Mantelprfung mit 5kV(DC 5min)
Bild 12.3.7.
Mantelfehlerortung
L3 Grundzustand
1000
26.1.7
Zusammenfassende Beurteilung der Diagnosesysteme
log I [pA]
Die Unterscheidung sehr stark betriebsgealterter Kabel von mittel bzw. schwach gealterten
100
Kabeln
ist mit den Diagnosesystemen von Seba Dynatronic und Baur mglich. Das CDVerfahren der Fa. Hagenuk weist eine geringe Diagnosedynamik auf, so da Alterungsgrade
nur schlecht differenziert werden knnen.
10
Das Differenzierungsvermgen
zwischen mittel und schwach gealterten Kabeln ist bei allen
Diagnosesystemen nur gering ausgeprgt, u.U. besteht auch ein stark nichtlinearer Zusam-
1
1
10
100
log t [s]
1000
10000
273
menhang zwischen dem Grad der WT-Schdigung (als mageblichem Alterungsproze)

und mebaren nderungen der dielektrischen Eigenschaften von PE/VPE-isolierten Kabeln.
Generell sind fr die Interpretation der Diagnoseergebnisse durch den Anwender weitere
Informationen zur Kabelanlage hilfreich (Hersteller, Baujahr, Isolierstoff, usw.).
Singulre Schwachstellen werden mit den hier betrachteten integralen dielektrischen Meverfahren erwartungsgem nicht bemerkt. Lediglich beim Baur-Verfahren knnen einzelne
gravierende Schwachstellen aufgrund der prinzipbedingten Spannungsbeanspruchung mit 2 U0
(zerstrend) aufgedeckt werden.
Aufgrund der vielschichtigen Problematik kann die vergleichende Bewertung der verschiedenen Verfahren in Tabelle 26.4 nur einen orientierenden Charakter haben.
IRC-Analyse CD-Verfahren VLF-tan
Diagnosequalitt
Erkennung stark gealterter Kabel
Differenzierung zwischen mittel
und schwach gealterten Kabeln
Reproduzierbarkeit
Gesamturteil Diagnose
Praxistauglichkeit
Strsicherheit
Robustheit
Wiederholbarkeit der Messung
Einflu einer Vorbelastung
Eignung fr lange Strecken
Anschlutechnik
Handhabbarkeit
Gre, Gewicht
Zeitaufwand
+3
+
+
+
+
+5
+
+
+
+
+
+
+
6
+
7
+
Kombination mit WS-Prfung

Durchschlag bei Diagnose mglich
nein
nein
++ sehr gut (nicht vergeben)
+ gut
nein
ja
ja
ja
befriedigend schlecht
Tabelle 26.4: Vergleich der Diagnosesysteme
26.1.8 Offene Fragen und Probleme

Um die Diagnoseergebnisse betriebsgealterter Kabel besser bewerten zu knnen, bestand bei
den EVU das Bestreben, Referenzwerte fr neue (ungealterte) Kabel zu gewinnen. Bei diesen
Messungen stuften die Diagnosesysteme fabrikneue Kabel in einigen Fllen unerwartet als
gealtert ein. Dies lt sich z.T. durch die dielektrischen Eigenschaften der fertigungsbedingten
Vernetzungsspaltprodukte erklren. Der wesentliche Einflu besteht aber in den verwendeten
Isoliercompounds selbst: Wurden in der Vergangenheit vorwiegend VPE-Homopolymere
eingesetzt und die Diagnosesysteme auf die Bewertung derartiger Kabel ausgerichtet, so
werden heute nahezu ausschlielich Copolymere verwendet. Im Labor wurden deshalb von
den Verfassern auch neuwertige Kabel mit Copolymerisolierungen verschiedener Hersteller
untersucht.
2
mehrfach keine Auswertung mglich

wegen geringer Medynamik scheinbar gute Reproduzierbarkeit
4 wegen groer Medynamik z.T. nur befriedigende Reproduzierbakeit
5 wegen geringer Medynamik scheinbar gute Wiederholbarkeit
6 Ableitwickel, virtuelle Schutzerde, Kugel
7 aufgrund Kombination WS-Prfung mit Diagnose
3
274
Dabei zeigte sich bereits im Neuzustand eine groe Bandbreite dielektrischer Eigenschaften,
auf die auch die untersuchten Diagnosesysteme unterschiedlich reagieren. Es besttigte sich,
da neuwertige Kabel teilweise nach den Kriterien der Diagnosesystemhersteller als stark
gealtert beurteilt werden. Zudem werden copolymerisolierte Kabel eines Typs durch die
verschiedenen Diagnosesysteme nicht einheitlich, sondern teilweise als neu und teilweise als
gealtert beurteilt (und umgekehrt). Da ber das Alterungsverhalten copolymerisolierter Kabel
unter Betriebsbedingungen bisher keine Langzeiterfahrungen vorliegen, kann dies von den
heute existierenden Diagnosesystemen unter Umstnden nicht richtig erfat werden. Schon
heute werden aber zu Reparaturzwecken und bei Netzerweiterungen neue Copolymer-isolierte
Kabel in alte (Homopolymer-isolierte) Strecken eingeflickt , die bei entsprechender Reparaturlnge die Diagnoseergebnisse signifikant beeinflussen knnen. So konnte whrend einer
knstlichen Alterung im Labor ein geringerer Anstieg der Verluste ber der Alterungsdauer an
Copolymer-isolierten Kabeln als an Homopolymer-isolierten Kabeln festgestellt werden, wie
Bild 1 zeigt [1].
Zustzlich werden die Verluste im Neuzustand durch die dielektrischen Eigenschaften der
fertigungsbedingten Vernetzungsspaltprodukte mageblich beeinflut. Einige EVU stellten in
einigen Fllen bei Diagnosemessungen an fabrikneuen (ungealterten) Kabeln fest, da diese
bereits als gealtert einzustufen seien. Der Einflu der Vernetzungsspaltprodukte auf die
Diagnoseergebnisse der im Vortrag betrachteten Diagnosesysteme wurde daher an neuwertigen
Copolymer-isolierten Kabeln verschiedener Hersteller untersucht.
In Bild 2a sind die auf den jeweiligen Alterungs-Grenzwert normierten Diagnoseergebnisse
fr fnf verschiedene Copolymer-isolierte Kabel ohne thermische Konditionierung (d.h. mit
noch hohem Gehalt an Vernetzungsspaltprodukten) fr die drei untersuchten Diagnosesysteme
dargestellt. Der Wert eins entspricht demnach jeweils dem derzeit angegebenen Grenzwert der
einzelnen Diagnosesysteme fr stark gealterte PE/VPE-(Homopolymer-)isolierte Kabel (A
2,25; L 3; 0,1-Hz-tan bei 2 U0 1 103 bzw. tan 6 104 ).
Bei allen Diagnosesystemen treten demnach in einigen Fllen fr neue Copolymer-isolierte
Kabel Grenzwertberschreitungen auf. Die Erfahrungen der EVU knnen damit besttigt
werden.
Um den Einflu der Vernetzungsspaltprodukte auf die Diagnoseergebnisse festzustellen,
wurden die gleichen Kabel dann einer thermischen Konditionierung bei 90C / 200 h ausgesetzt
mit dem Ziel, einen greren Teil der (polaren) Vernetzungsspaltprodukte auszuheizen. Die
gewonnenen Ergebnisse an den thermisch konditionierten Kabeln sind in Bild 2b dargestellt:
Erwartungsgem konnte ein Abfall des 0,1-Hz-Verlustfaktors festgestellt werden. Auch der
Linearittsfaktor (L-Faktor) fiel unter den gealterte Kabel kennzeichnenden Grenzwert.
Unverstndlich und unerwartet mute jedoch ein deutlicher Anstieg des Depolarisationsstromes und damit des darauf basierenden Alterungsbeiwertes (A-Faktors) verzeichnet werden.
Eine Erklrung fr dieses Verhalten gibt es bisher nicht. Festzuhalten ist, da der A-Faktor bei
neuen, thermisch konditionierten Copolymer-isolierten VPE-Kabeln deutlich ber dem bei
diesem Verfahren angegebenen Alterungs-Grenzwert liegt.
Die Diagnose Copolymer-isolierter Kabel wird somit Gegenstand weiterer Forschungsttigkeiten sein. Zu einer sicheren Diagnose betriebsgealterter VPE-Copolymer-isolierter Kabel
mssen zudem noch Erfahrungen bezgl. des Alterungsverhaltens im Betrieb gesammelt
werden. In jedem Falle wird die Alterungs-Charakteristik dabei von zwei gegenlufigen Prozessen bestimmt: Im Anfangsstadium werden die dielektrischen Verluste mageblich durch die
produktionsbedingten Vernetzungsspaltprodukte beeinflut und daher mit der Zeit abnehmen,
wobei ihre Abnahme im wesentlichen von der thermischen Belastung und somit der Last
des Kabels abhngt; z.B. sind nach [5] die Vernetzungsspaltprodukte erst nach 2 Jahren im
VDE-Langzeittest, d.h. bei einer konstanten thermischen Beanspruchung mit 50C, nahezu
vollstndig ausgeschieden. Erst nach lngerer Zeit berlagert sich diesem Proze dann merkbar die Degradation des Dielektrikums, die wiederum zu einer Erhhung der dielektrischen
Verluste fhrt.
Nur exemplarisch wurde untersucht, inwieweit sich die Kabelsanierung durch Silikonisierung
(cable-cure-Methode) auf die Diagnoseergebnisse auswirkt. Nach ersten Erkenntnissen ist
davon auszugehen, da die Diagnoseverfahren eine Verschlechterung der Kabel anzeigen,
wohingegen die Restfestigkeit nach der Behandlung ansteigen soll.
275
Es ist bekannt, da einige Kabelhersteller bestrebt sind, durch die Anwendung der Diagnoseverfahren zur Begleitung des VDE-Langzeittests einerseits zustzliche Informationen ber
das Alterungsverhalten der verwendeten Polymere zu erzielen und andererseits fr den Anwender Referenzwerte fr neue und unterschiedlich stark gealterte Kabel mitzuliefern. Zu
einem Diagnosesystem wurden dazu bereits entsprechende Ergebnisse verffentlicht [14]. Eine
generelle bertragbarkeit der Diagnoseergebnisse von (knstlicher) Labor- auf (natrliche)
Betriebsalterung kann durch prinzipielle Unterschiede, beispielsweise durch Echtzeiteffekte
und die Wahl der Alterungsparameter, nicht erwartet werden. Dies belegen u.a. auch starke
Unterschiede im WT-Bild und in der Restfestigkeit (alterungsbedingte Ausflle im Betrieb bei
1 U0 ; nach 2 Jahren VDE-Langzeittest Restfestigkeiten 9 U0 gefordert).
26.1.9 Aktueller Entwicklungsstand und wnschenswerte

Weiterentwicklungen
Bei der Bewertung der hier vorgestellten Ergebnisse ist zu bercksichtigen, da die Diagnosesysteme whrend der Projektdauer von den Herstellern weiterentwickelt wurden und
auch noch weitere Verbesserungen zu erwarten sind. Fr die einzelnen Verfahren sind dabei
insbesondere die nachfolgenden Verbesserungen relevant:
Isotherme Relaxationsstromanalyse (IRC) der Fa. Seba Dynatronic: Fr das IRCMesystem wurde eine neue, von Seba fr die vorliegende Untersuchung noch nicht
bereitgestellte Auswertesoftware entwickelt, bei der unter Verwendung einer NeuroFuzzy-Datenbank zustzlich zu den Diagnoseergebnissen ergnzende Informationen wie
Kabeltyp, Kabellnge u.s.f. in die Bewertung einbezogen werden. Der bisher ermittelte
A-Faktor geht nur noch zu einem Teil in die Alterungsbewertung ein. Die Gertetechnik
wurde inzwischen so erweitert, da die drei Kabel eines Systems gleichzeitig angeschlossen werden knnen. Die Messung erfolgt aber weiterhin nacheinander, so da durch
diese Verbesserung der Zeitaufwand nur unwesentlich verringert wird. Eine entscheidende
Reduzierung der Diagnosedauer wre durch die zeitgleiche Messung aller drei Phasen zu
erreichen. Erforderlich ist eine deutliche Reduzierung der groen Anzahl von Messungen,
bei denen keine A-Faktor-Bestimmung mglich ist. Dies schliet eine Mebereichserweiterung und eine Reduzierung der Str- und Vorbelastungsempfindlichkeit ein. Zudem
wre eine unmittelbare Wiederholbarkeit der Diagnosemessung wnschenswert. In der
Praxis erwies sich der Akku des Diagnosesystems aufgrund seiner geringen Kapazitt und
mangelnden Lademanagements als Schwachpunkt. Hier wre eine Verbesserung sicher
sinnvoll.
Wiederkehrspannungsmessung der Fa. Hagenuk: Das Verfahren weist z.Z. im Vergleich
zu den beiden anderen eine geringere Fhigkeit zur Differenzierung betriebsgealterter
Kabel auf. Hier knnte u.U. durch die Optimierung der Diagnoseparameter (Ladezeit,
Kurzschludauer, Mezeit) und insbesondere durch die bessere Verwertung der in den
Mekurven enthaltenen Informationen (zeitabhngige Wiederkehrspannung) eine hhere
Differenzierungsfhigkeit erreicht werden. So wird beispielsweise derzeit die laut Handbuch vorgesehene Messung bei 0,5 U0 und 1,5 U0 nicht in die Bewertung einbezogen. Die
sperrigen Wanderwellenwiderstnde haben sich in der praktischen Anwendung als unhandlich, teilweise als hinderlich erwiesen. Hier wre eine Verbesserung wnschenswert.
VLF-(0,1 Hz)-Verlustfaktormessung der Fa. Baur: Das System der Firma Baur ist das
einzige Diagnosesystem, das zugleich eine VDE-konforme Spannungsprfung ermglicht.
Hier wre eine Erweiterung in Richtung TE-Messung bei 0,1 Hz mglich und wnschenswert, die dann auch das sichere Aufdecken singulrer TE-Fehlstellen gestatten wrde.
Die derzeit vom Hersteller angegebenen Alterungsgrenzwerte basieren auf den Erfahrungen mit homopolymerisolierten Kabeln, fr Copolymere liegen noch keine geeigneten
Erfahrungswerte vor. Hier ist, wie auch fr die anderen beiden Diagnoseverfahren, noch
Forschungsbedarf ntig. Die Mebereiche sind optimiert fr vor-Ort-typische Kabellngen, eine Erweiterung des Mebereiches wrde fr sehr kurze Lngen eine Messung
ermglichen bzw. zu einer Reduzierung der Mewertstreuung fhren. Das System der Fa.
Baur erfordert z.Z. die aufwendigste Anschlutechnik. Die berarbeitung der Anschlu-
276
technik durch den Hersteller steht kurz vor dem Abschlu. Sie soll dann einen einfachen
Anschlu selbst unter beengten Verhltnissen (z.B. an Kompaktstationen) ermglichen.
Depolarisationsladungsmessung der Fa. LDIC (Prototyp-Ausfhrung): Bei der Bewertung
dieses Systems ist zu bercksichtigen, da hier bisher nur ein Prototyp in die Untersuchungen einbezogen wurde, der hinsichtlich der Alterungsdiagnose noch nicht marktreif
war. Die angefhrten Kritikpunkte lassen eine umfangreiche berarbeitung notwendig
erscheinen (siehe Abschnitt 6).
26.1.10 Ausblick
Die vorgestellten Ergebnisse zeigen, da durch Anwendung der Diagnosesysteme zumindest
stark geschdigte Kabel sehr niedriger Restfestigkeit i.a. erkannt werden knnen, so da
hiermit eine zustandsbezogene Instandhaltung lterer (Homopolymer-isolierter) Kabelstrecken
ermglicht wird. Generell jedoch knnen die Ergebnisse aufgrund der geringen Differenzierungsfhigkeit aller Verfahren noch nicht befriedigen. Hier besteht noch Bedarf, basierend
auf einem besseren Verstndnis der Zusammenhnge von Alterungsvorgngen im Isolierstoff
und der korrespondierenden nderung der dielektrischen Eigenschaften, aussagefhigere
Diagnoseverfahren zu entwickeln.
Die dielektrischen Eigenschaften knnen prinzipiell im Zeit- und Frequenzbereich erfat werden und sind unter bestimmten Annahmen theoretisch gleichwertig und ineinander berfhrbar.
Gegenstand laufender Forschungsttigkeiten ist daher, diesen Zusammenhang durch Verlustfaktormessungen in Abhngigkeit von der Frequenz und durch die Messung des zeitabhngigen
Depolarisationsstromes nher zu untersuchen [12, 15, 16].
Die zumindest bei stark gealterten Kabeln nachweisbare Nichtlinearitt der dielektrischen
Eigenschaften bzgl. der Ladespannung bzw. der Prfwechselspannung wird bei den Diagnoseverfahren der Firmen Hagenuk und Baur bereits als Kriterium mit verwendet. Die in der
Nichtlinearitt bestehende Zusatzinformation wird anscheinend noch nicht optimal genutzt,
zudem zeigen Copolymere teilweise schon im Neuzustand ein nichtlineares Verhalten.
Alle hier untersuchten integral arbeitenden Diagnoseverfahren stoen bei singulren Fehlstellen prinzipbedingt an ihre Grenzen. Hier bietet sich die TE-Messung als sinnvolle Ergnzung
an. Die TE-Messung kann auch bei nicht-betriebsfrequenter Wechselspannung, z.B. bei 0,1 Hz
erfolgreich durchgefhrt werden. Erste Ergebnisse deuten darauf hin, da auch bei sehr niederfrequenter Prfwechselspannung (0,1 Hz) die TE-Pegel bei kabeltypischen Fehlern mit den
TE-Pegeln bei 50 Hz vergleichbar sind [17].
Danksagung
Herrn Dipl.-Ing. M. Kuschel wird fr die wissenschaftliche Untersttzung, den Herren cand.Ing. A. Bollmacher, cand.-Ing. J. Hoerstel und cand.-Ing. L. Segebarth fr die Durchfhrung
der umfangreichen experimentellen Untersuchungen und Auswertungen besonderer Dank
ausgesprochen. Die Autoren danken ferner den VEW, DEW, EWE, RWE und Bewag fr die
Ermglichung von Messungen in deren Kabelnetzen sowie den Lechwerken, der HASTRA und
der PESAG fr die freundliche Bereitstellung betriebsgealterter Kabel. Den Prfgerteherstellern wird fr die kooperative Zusammenarbeit und die Bereitstellung ihrer Diagnosesysteme
gedankt.
12 Anhang 12.1 Abbildungen der untersuchten Diagnosesysteme 12.1.1 IRC-Analyse, Seba
Dynatronic Bild a: Seba-System Bild b: typ. Bildschirm 12.1.2 CD-Verfahren, Hagenuk Bild
a: Hagenuk-System Bild b: typ. Bildschirm 12.1.3 VLF-Verlustfaktormesystem, Baur Bild
a: Baur-System Bild b: typ. Bildschirm 12.1.4 CDA-Verfahren, LDIC Bild a: LDIC-System
Bild b: typ. Bildschirm 12.2 Versuchseinrichtungen der TU Berlin 12.2.1 Wassergehaltsbestimmung Bild: Wassergehaltsbestimmung nach Karl Fischer 12.2.2 Mikroskopierarbeitsplatz
Bild: Arbeitsplatz zur WT-Auswertung 12.2.3 Verlustfaktormesystem Bild: Frequenzvariables Verlustfaktormesystem 12.2.4 Versuchsstand zur Bestimmung der Restfestigkeit Bild:
Versuchsstand zur Bestimmung der Restfestigkeit im FGH-Stufentest 12.3 Untersuchungsergebnisse 12.3.1 Typische WT-Bilder der verschiedenen Prflingsgruppen Bild a: A1, A2, A3
277
Bild b: B1, B2, B3 Bild c: B4, B5 12.3.2 Direkte Korrelation der Einzelmewerte der Laborund Vor-Ort-Messungen
12.3.3 Diagnoseergebnisse der Prflingsgruppen Bild (): Diagnoseergebnisse der Gruppe A1
(Labormessungen) Bild (): Diagnoseergebnisse der Gruppe A2 (Labormessungen) Bild (2):
Diagnoseergebnisse der Gruppe A3 (Labormessungen) Bild (): Diagnoseergebnisse der Gruppe
B1 (Labormessungen) Bild (): Diagnoseergebnisse der Gruppe B2 (Labormessungen) Bild
(4): Diagnoseergebnisse der Gruppe B3 (Labormessungen) Bild (): Diagnoseergebnisse der
Gruppe B4 (Labormessungen) Bild (3): Diagnoseergebnisse der Gruppe B5 (Labormessungen)
12.3.4 Korrelation der Diagnoseergebnisse zur Restfestigkeit Bild (5): Korrelation des AFaktors zur Restfestigkeit (Labormessungen) Bild (6): Korrelation des L-Faktors zur Restfestigkeit (Labormessungen) Bild (7): Korrelation des 0,1-Hz-tan bei 2 U0 zur Restfestigkeit
(Labormessungen) Bild (8): Korrelation des 0,1-Hz- tan zur Restfestigkeit (Labormessungen) 12.3.5 Einflu der Garnituren auf die Diagnoseergebnisse Bild a: Garnitureneinflu Seba
Bild b: Garnitureneinflu Hagenuk Bild c: Garnitureneinflu Baur 12.3.6 Ergebnisse der Reproduzierbarkeitsmessungen Bild a: Abweichungen bei Wiederholungsmessungen (absolut) Bild
b: Abweichungen bei Wiederholungsmessungen (relativ) 12.3.7 Einflu von Vor-Ort-typischen
Beanspruchungen auf die Diagnoseergebnisse Bild a: Einflu einer Mantelfehlerortung Bild
b: Einflu einer Stofehlerortung 12.3.8 Diagnoseergebnisse an neuen copolymer-isolierten
Mittelspannungskabeln Bild a: Seba Bild b: Hagenuk Bild c: Baur
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
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[16] M. Kuschel, R. Plath und W. Kalkner. Dielectric response as a tool for insulation
diagnosis comparison between time and frequency domain. In: I.C.D.I. Budapest,
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cables at variable frequencies. In: 10th ISH. Montral, Qubec, Canada, 1997.
Teil VII
Vor-Ort-Prftechnik
Kapitel 27
Vor-Ort-Prfung und Diagnose von

Energiekabelanlagen

Mittelspannungskabelanlagen
Die Spannungsprfung liefert prinzipbedingt die Aussage bestanden oder nicht bestanden,
eine Beurteilung des Alterungszustandes ist so prinzipiell nicht mglich.
Fr die Vor-Ort-Prfung kunststoffisolierter Mittelspannungskabelanlagen sehen die VDE-Bestimmungen nur VLF- (very low frequency, 0,1 Hz) oder betriebsfrequente Wechselspannungsprfungen vor [1]. Die Prfung von kunststoffisolierten Kabelanlagen mit Gleichspannung ist
nicht normkonform. ber Erfahrungen mit unterschiedlichen Prfspannungsarten fr verlegte
Mittelspannungskabel wurde z.B. in [2] berichtet.
Fr Mischkabelstrecken gibt es in den VDE-Vorschriften fr Mittelspannungskabelanlagen
keine explizite Regelung. Da Masse-Papier-Kabel auch mit Wechselspannung geprft werden
knnen, kunststoffisolierte Kabel aber nicht mit Gleichspannung, erfolgt die Spannungsprfung
von Mischkabelstrecken mit Wechselspannung.
27.1.1 DC-Prfung
Die Gleichspannungsprfung ist vor Ort nur noch zur Prfung von Masse-Papier-isolierten
Mittelspannungskabeln zugelassen. In der Praxis wird oft parallel der Ableitstrom (nach
Abklingen der Aufladestrme) bzw. das zeitliche Verhalten des Ableitstromes gemessen. Die
Ableitstrommessung hat in der Regel nur orientierenden Charakter.
Wie in Abschnitt 27.2 ausgefhrt, eignet sich die Gleichspannungsbeanspruchung nicht fr
TE-Messungen. Aus dem gleichen Grund ist sie auch ineffektiv bei der Aufdeckung von
Schwachstellen: Defekte, die bei Wechselspannung zum electrical treeing und damit zum
Durchschlag innerhalb kurzer Prfdauer fhren wrden, werden bei Gleichspannungsbeanspruchungen durch Raumladungsaufbau entschrft und nicht detektiert.
27.1.2 Wechselspannungsprfung mit 45-65 Hz bzw. 20-300 Hz

Die Wechselspannungsprfung von kunststoffisolierten, stark water tree (WT)-geschdigten
Mittelspannungskabeln mit Resonanzspannungen im Frequenzbereich 45-65 Hz hatte bei der
Einfhrung zunchst Probleme verursacht: prfte man mit vergleichsweise hohen Prfpegeln
und kurzer Prfdauer (z.B. 3 U0 , 15 min), so fand bei WT-Strukturen ein Umschlag in electrical
treeing statt, der aber whrend der verbleibenden Prfdauer nicht zum Durchschlag fhrte und
damit unentdeckt blieb. Der Durchschlag erfolgte dann spter im Betrieb.
281
282
27 Vor-Ort-Prfung und Diagnose von Energiekabelanlagen
Grundlagenuntersuchungen an Mittelspannungskabeln zeigten, dass die Kanalwachstumsgeschwindigkeit beim electrical treeing bei 50 Hz deutlich geringer als bei 0,1 Hz ist. Das
Risiko unbemerkter Vorschdigungen stark WT-gealterter Kabel ist bei Prfungen mit 0,1Hz-Wechselspannung geringer [3, 4]. Derartige Untersuchungsergebnisse fanden schlielich
Eingang in die entsprechende Norm [1]: so betrgt die Prfdauer einheitlich 1 Stunde, die
Prfpegel variieren nach Art der Prfspannung (AC 45-65 Hz: 2 U0 , VLF 0,1 Hz: 3 U0 ).
27.1.3 Wechselspannungsprfung mit 0,1 Hz

Die Einfhrung von 0,1-Hz-Wechselspannungen zu Prfzwecken erfolgte ursprnglich wegen
des gegenber 50 Hz drastisch verringerten Blindleistungsbedarfs. Dadurch knnen sehr
kompakte und leichte Prfsysteme fr groe kapazitive Lasten realisiert werden. Es existieren
zwei kommerzielle Realisierungen, die sich insbesondere in der Kurvenform unterscheiden:
Sinus und Cosinus-Rechteck.
Bei der Prfung stark WT-gealterter Mittelspannungskabel stellte sich die hohe relative Kanalwachstumsgeschwindigkeit gegenber 50 Hz als Vorteil heraus. Die 0,1-Hz-Prfwechselspannung
(Sinusform) wurde frhzeitig mit der Verlustfaktormessung kombiniert und eignet sich damit
auch fr die integrale Diagnostik (s. Abschnitt 27.3.1).
Konzepte fr mobile VLF-Prfsysteme fr Inbetriebnahmeprfungen an kunststoffisolierten
Hochspannungskabel wurden bereits vorgestellt, aber bisher noch nicht kommerziell realisiert.
Die Normen [5, 6] fr Hochspannungskabel sehen keine VLF-Prfung vor, Prfungen mit
VLF sind beim jetzigen Normenstand nicht normkonform.
Durch Entstrungsmanahmen eignen sich beide 0,1-Hz-Spannungen Sinus und CosinusRechteck auch fr eine begleitende TE-Messung (s. Abschnit 27.2). Die Vergleichbarkeit
der TE-Messergebnisse bei 50 Hz und 0,1 Hz sowie die grundstzliche Frequenzabhngigkeit
der TE-Messung ist Gegenstand laufender Untersuchungen, s. z.B. [7, 8].
In der Praxis konnten TE-verursachende Fehlstellen auch mit 0,1 Hz erfolgreich detektiert und
geortet werden [9].
27.2 TE-Messung und Ortung

Die TE-Messung und Ortung gestattet bei Sicherstellung ausreichender Empfindlichkeit das
Auffinden singulrer Fehlstellen in Energiekabelanlagen.
Um aber singulre Fehlstellen an Masse-Papier- als auch an kunststoffisolierten Mittelspannungskabeln und insbesondere ihren Garnituren zu detektieren, stehen unterschiedliche Verfahren zur Verfgung [9]. Zur Diagnose WT-gealterter Mittelspannungskabel eignet sich
die TE-Messung nicht, da diese Alterungsart i.a. nicht mit TE verbunden ist. TE treten bei
WT-geschdigten Kabeln nur dann auf, wenn z.B. durch erhhte Spannungsbeanspruchungen
an der Spitze groer vented trees ein Umschlag in electrical treeing stattgefunden hat.
TE treten bei sich zeitlich ndernden Spannungsbeanspruchungen auf. Deshalb eignen sich
prinzipiell alle Prfspannungsarten fr die TE-Messung, auer die Gleichspannungsprfung.
Der Einfluss der Prfspannungsart auf die TE-Messergebnisse wurde bereits im Abschnitt
27.1.3 erwhnt.
Bei folgenden Prfspannungsarten existieren kommerzielle Lsungen fr die Vor-Ort-TEMessung und Ortung:
283
27.2.1 TE-Messung bei Wechselspannungsprfungen mit 0,1 Hz

Die Kombination VLF und TE-Messung erfolgte deutlich spter als die in Abschnitt 27.3.1
beschriebene Realisierung der VLF-Verlustfaktormessung. Zunchst stand bei der Einfhrung
von VLF als Prfspannung fr Mittelspannungskabel die Diagnose der WT-Alterung im
Mittelpunkt, die geeignete integrale Diagnoseverfahren und keine TE-Messung bentigte.
Erschwerend kam hinzu, dass VLF-Prfanlagen hohe Strpegel aufweisen, die zunchst eine
empfindliche TE-Messung verhindern. Erst durch Einsatz aufwendiger Hochspannungsfilter
und Schirmungsmanahmen kann bei VLF-Prfquellen eine hinreichend empfindliche TEMessung realisiert werden [10].
27.2.2 TE-Messung bei Prfungen mit

oszillierenden Impulsspannungen
Bevor leistungsstarke und mobile Resonanzspannungsanlagen fr die Vor-Ort-Prfung kunststoffisolierter Hochspannungskabelanlagen verfgbar waren, erschien die Verwendung oszillierender Impulsspannungen (OW, oscillating waves, auch oscillating voltages) als eine
attraktive Alternative. Hierbei wird das zu prfende Kabel zunchst mit hoher Gleichspannung aufgeladen und unmittelbar nach Erreichen der gewnschen Ladespannung auf eine
Drossel entladen. Der Prfling selbst dient als Energiespeicher, die Ladeeinrichtung fr hohe
Gleichspannungen kann vergleichsweise klein und leicht realisiert werden [11].
UDC
RV
CS
S
CP
L
OV-A
UDC
RV
CS
CP
OV-B
UDC
RV
CS
S
CP
OV-C
Abb. 27.1: Varianten oszillierender Schaltstospannungen
(Ersatzschaltbilder)
Die Induktivitt der Drossel ist so gewhlt, dass sie zusammen mit der Kabelkapazitt einen
Schwingkreis bildet, dessen ResonanzfrequenzRegler
im Bereich 20-1000 Hz liegen sollte [12].
Motor-Generator
Um Strungen zu minimieren, werden Halbleiterschalter eingesetzt. Z.Z werden Scheitel60mH
spannungen von 250 kV erreicht. Die Schwingkreisverluste verursachen
eine Dmpfung
G
M
AKV
der Schwingung. Zur Akkumulation von TE-Messdaten mssen die OW-Beanspruchungen
400 / 0...1000V
vielfach wiederholt werden [13, 14].
120kVA
Reson
drosse
CK
200kV
5MVA
284
OV-A
1.0
0.5
!0.5
OV-B
1.0
0.5
!0.5
OV-C
1.5
1.0
0.5
Abb. 27.2: Varianten oszillierender Schaltstospannungen

(Kurvenformen)
27.2.3 TE-Messung bei Wechselspannungsprfungen mit 20-300 Hz

27.3 Integrale Diagnoseverfahren
Die Verfahren der integralen Diagnostik beruhen auf der Vernderung dielektrischer Eigenschaften durch Alterungsprozesse. Die dielektrischen Eigenschaften knnen prinzipiell im
Zeit- und Frequenzbereich erfasst werden [15]. Bei linearen Verhalten der dielektrischen
Eigenschaften ist eine Umrechnung der Messergebnisse vom Zeit- in den Frequenzbereich
und umgekehrt mglich. Moderne Diagnosesysteme nutzen diese quivalenz und nutzen
Zeitbereichsmessungen fr langsame dielektrische Prozesse und Frequenzbereichsmessungen
bei schnelleren Vorgngen.
Die z.Z. kommerziell verfgbaren integralen Diagnoseverfahren sind fr die Beurteilung
der water tree-(WT)-Alterung von VPE-isolierten Kabeln vorgesehen [16]. Sie arbeiten
prinzipbedingt integral, d.h. sie erfassen den Mittelwert der dielektrischen Eigenschaften
einer Kabelstrecke. Homogen WT-gealterte Kabelstrecken knnen demzufolge besser bewertet
werden als stark inhomogen gealterte Strecken, bei denen eine lokal begrenzte WT-Schdigung
das Diagnoseergebnis beeinflusst. Ebenfalls kritisch ist die Mischung von kunststoffisolierten
Kabeln mit unterschiedlichen Isoliercompounds (VPE homopolymer, copolymer) oder
praktisch nicht diagnostizierbaren Mischkabelstrecken (Kunststoff- und Masse-Papierisolierte Teilstrecken), deren Zusammensetzung den Betreibern oft nicht genau bekannt ist
[17].
Der Einfluss der Kabelgarnituren auf das Diagnoseergebnis ist in der Regel vernachlssigbar,
da deren (dielektrischer) Anteil im Vergleich zur Kabellnge sehr klein ist. Als Ausnahme
sind hier z.B. resistive Feldsteuerungen zu erwhnen, die das integrale Diagnoseergebnis
u.U. signifikant beeinflussen knnen. Hierzu liegen bisher nur wenige abgesicherten Erkenntnisse vor, die darauf hin deuten, dass der Einfluss der Muffen auf die Ergebnisse integraler
Diagnoseverfahren bisher unterschtzt wurde [18].
27.3 Integrale Diagnoseverfahren
285
Fr reine Masse-Papier- bzw. l-Papier-isolierte Kabelanlagen liegen bisher nur einige Diagnoseergebnisse vor [19, 20]. Ob sich integrale Diagnoseverfahren, die fr die Beurteilung
des Alterungszustandes kunststoffisolierter Kabel entwickelt wurden, prinzipiell auch fr die
Diagnose anderer Isoliersysteme (z.B. Masse-Papier) eignen wrden, bleibt z.Z. noch offen.
Vielversprechender erscheint der Einsatz der Teilentladungsmessung zur Feststellung singlulrer Schwachstellen (s. Abschnit 27.2).
Bei den kunststoffisolierten und wasserdichten Hochspannungskabeln ist noch kein relevanter Degradationsmechanismus bekannt. Demzufolge beschrnkt sich hier das diagnostische
Interesse auf die mglichst empfindliche Detektion von Montagefehlern mittels TE-Mesung.
Integrale Diagnoseverfahren haben fr kunststoffisolierte Hochspannungskabel keine Bedeutung.
Folgende integrale Diagnoseverfahren fr kunststoffisolierte Mittelspannungskabel befinden
sich als kommerzielle Realisierungen seit lngerer Zeit im praktischen Einsatz:
Verlustfaktormessung bei 0,1 Hz (Abschnitt 27.3.1)
Depolarisationsstrommessung (Abschnitt 27.3.2)
Messung der Wiederkehrspannung (Abschnitt 27.3.3)
27.3.1 Verlustfaktormessung bei 0,1 Hz

Eine Verlustfaktormessung bestimmt die dielektrischen Verluste zusammen mit den Leitfhigkeitsverlusten. Da die Leitfhigkeit bei kunststoffisolierten Kabeln bei entsprechendem
Messaufbau (guard) praktisch vernachlssigbar sind, basiert das Diagnoseverfahren VLF
tan auf der Erhhung der dielektrischen Verluste durch WT-Alterung. Zustzlich wird als
Diagnosekriterium die nur bei starker WT-Alterung auftretende Spannungsabhngigkeit des
Verlustfaktors mit herangezogen. Da es sich bei VLF um eine normkonforme Prfspannung
fr Mittelspannungskabel handelt, kann hier Spannungsprfung und Kabeldiagnose vorteilhaft
verbunden werden [10, 21, 22].
27.3.2 Depolarisationsstromanalyse
Die Depolarisationsstromanalyse wurde ursprnglich zur begleitenden Diagnose von VPEisolierten Mittelspannungskabeln in der VDE-Langzeitalterung eingesetzt [23]. Die gute
Korrelation der Diagnosegre mit den festgestellten Restfestigkeiten (Durchschlagsspannungen) bei homogener Alterung im Labor fhrten zum Einsatz dieses Diagnoseverfahren auch bei
kompletten Mittelspannungskabelanlagen vor Ort. Das Verfahren bestimmt die dielektrische
Antwort in folgender Weise: zunchst wird das Kabel mit einer kleinen Gleichspannung
(z.B. 2 kV) fr eine bestimmte Dauer (z.B. 15 min) aufgeladen und anschlieend niederohmig
kurzgeschlossen. Dieser Kurzschluss dient der Entladung der geometrischen Kapazitt des
Kabels. Nach kurzer Dauer (z.B. 1 s) wird in den Entladestrompfad ein hochempfindliches
Amperemeter geschaltet, dass nun fr eine bestimmte Dauer den Zeitverlauf des Depolarisationsstromes aufzeichnet. Aus dem Zeitverlauf werden schlielich Diagnosekenngren
abgeleitet, die eine Bestimmung des Alterungszustandes gestatten sollen [2428].
27.3.3 Messung der Wiederkehrspannung

Die Wiederkehrspannungsmessung folgt zunchst dem Verfahren der Depolarisationsstromanalyse (s. Abschnitt 27.3.2). Der wesentliche Unterschied besteht nun darin, den Kurzschluss
286
nach kurzer Entladung wieder aufzuheben. Dadurch entldt sich das Kabel nicht weiter, es
kommt stattdessen zu einem Umladevorgang: die durch die Gleichspannungsformierung polarisierten Anteile im Kabeldielektrikum laden die geometrische Kapazitt teilweise wieder
auf, man spricht von wiederkehrender Spannung. Die Messung der Wiederkehrspannung
erfolgte zuerst an l-Papier-Isolierstoffsystemen von Transformatoren, spter dann auch an
Masse- und l-Papier-isolierten Kabeln [2934].

Hochspannungskabelanlagen
Fr die Inbetriebnahmeprfungen an kunstoffisolierten Hochspannungskabeln sind in den
relevanten Normen [5, 6] ausschlielich Wechselspannungsprfungen in einem erweiterten
Frequenzbereich vorgesehen (s. Abschnitt 27.1.2).
Bei Mischkabelstrecken im 110- kV-Netz wird i.d.R. der Prfpegel gegenber reinen VPEKabelstrecken reduziert.
27.4.1 DC-Prfung
Die Gleichspannungsprfung ist vor Ort nur noch zur Prfung von l-Papier-isolierten Hochspannungskabeln zugelassen. Ansonsten gelten auch fr Hochspannungskabel die Ausfhrungen in Abschnitt 27.1.1.
27.4.2 AC-Resonanzprfung
Bei der Wechselspannungsprfung von Hochspannungskabelanlagen groer Lnge treten hohe
Prfscheinleistungen auf:
S = U I = U 2 C
(27.1)
VPE-isolierte Kabel weisen sehr geringe dielektrische Verluste auf:
Pdiel = tan U 2 C
mit tan 2 104
(27.2)
Es liegt deshalb nahe, die kapazitive Blindleistung induktiv zu kompensieren1 und nur die
Verluste aus der Prfspannungsquelle zu decken. Die vollstndige Kompensation wird als
Resoananz bezeichnet. Fr diesen Fall gilt u.a.:
r
C
U2
2
S=U
=
(27.3)
L
Z0
Serienresonanzprfanlagen mit variabler Induktivitt befinden sich seit langer Zeit fr die
Wechselspannungsprfung von Hochspannungskabeln im Labor im Einsatz. Gegen den VorOrt-Einsatz sprachen aber die mangelnde Robustheit (mechanische Luftspaltverstellung),
der begrenzte Stellbereich (Anpassung an unterschiedliche Prflingskapazitten), die (im
Vergleich zu Festdrosseln) geringere Gte und das ungnstige Leistungs-Gewichts-Verhltnis.
Mit der Verfgbarkeit von umrichtergespeisten Resonanzprfanlagen wurde es mglich, alle
o.g. Nachteile deutlich zu vermindern. Anstelle von Luftspalt-verstellbaren Drosseln konn1
Steht ein leistungsstarker Prftransformator zur Verfgung, kann zur Entlastung des Stelltransformators
und des speisenden Netzes die induktive Kompensation auch auf der Speiseseite des Prftransformators
erfolgen. Hierbei muss der Stelltransformator die Verluste und die Differenz zwischen kapazitiven Laststrom
und induktiven Kompensationsstrom bereit stellen.
Hochspannungskabelanlagen
287
ten nun Festdrosseln eingesetzt werden, die sowohl robuster sind als auch einen hheren
Wirkungsgrad aufweisen.
Der hohe Wirkungsgrad zusammen mit einem groen Lastbereich ermglichten die Realisierung modularer und mobiler Resonanzprfanlagen, die auch sehr lange Hchstspannungskabel
normkonform prfen knnen [35].
Um ein optimales Leistungs-Gewichtsverhltnis zu erzielen, werden Resonanzdrosseln mit
fester Induktivitt eingesetzt, die mit Frequenzumrichtern gespeist werden (s. Bild 27.12).
Resonanzdrossel L und Kapazitt C der zu prfenden Kabelanlage bilden einen Schwingkreis,
dessen Verluste P vereinfachend in einem Widerstand R zusammengefasst werden. Resonanz
tritt bei der Resonanzfrequenz f0 = 0 /2 gem Formel (27.4) auf.
f0 =
2 LC
(27.4)
Die Schwingkreisimpedanz Z0 berechnet sich zu:

r
L
C
Z0 =
(27.5)
Das Maximum der Schwingkeisgte Q0 wird im Resonanzfall erreicht:
0 =
1
LC
Z0
S
Q0 =2 =LC
f0 =
(27.6)
Die Frequenzabhngigkeit der Schwingkreisgte Q() zeigt Formel (27.7) und Abb. 27.3. Im
Resonanzfall, d.h. fr = 0 ergibt sich wiederum Q(0 ) = Q0 .
!
"
"
"
"
"
"
#
L
Z0Q()
= =1
C Q
2
1

2
(27.7)
Gte
Z
Q(0) = 0
R
Q() =
!
"
"
"
#
( ZR )2 + ( 0 )2
0
!0
Frequenz
Abb. 27.3: Frequenzabhngigkeit der Resonanzgte
Die aus Formel (27.7) ableitbare -6 dB-Bandbreite f6dB der frequenzabhngigen Resonanzgte kann mit sehr guter Genauigkeit wie folgt approximiert werden:

1
f6dB = f0 1
(27.8)
Q0
288
Die Abweichung der Approximation gem Formel (27.8) zum tatschlichen Wert unterschreitet fr Q0 50 den Wert 0,3% und kann deshalb in der Praxis vernachlssigt werden
(s. Abb. 27.4).
1.004
Abweichung
1.002
1.000
0.998
0.996
60
80
100
120
140
160
180
200
Resonanzgte Q0
Abb. 27.4: Abweichung der tatschlichen -6 dB-Bandbreite als Funktion der Resonanzgte
Eine hohe Gte ist bei Resonanzprfungen von Kabelanlagen unbedingt erforderlich, um
bei groen Prfscheinleistungen S den Wirkleistungsbedarf gem P = S/Q0 zu minimieren. Eine hohe Gte von z.B. Q0 = 100 fhrt aber nach Formel (27.8) auch zu einem
sehr schmalen Resonanzspitze, die wiederum eine przise Einstellung der Resonanfrequenz
erfordert. Dies wird vorteilhaft mit Stromrichtern realisiert, die zur Erzielung geringer Verluste im Schaltbetrieb arbeiten. Bei hoher Gte wirkt der Schwingkreis vorteilhafter Weise
wie ein grundwellenselektiver Filter, der die Oberwellen des Rechteck-Signals wirkungsvoll
unterdrckt. Die normkonforme Kurvenformqualitt einer Prfwechselspannung, d.h. die
Abweichung zur geforderten Sinusform wird nach [36] durch die T HD (total harmonic
distortion) beschrieben:
s
P
Ui2
T HD =
i=2
U1
5%
(27.9)
Eine ideale Rechteckspannung (Stromrichter) berschreitet natrlich den Grenzwert gem

Formel (27.9):
v
r
u
uX
1
1 1 2
t
T HDRechteck =
=
( 8) ' 48, 3%
(27.10)
(2i + 1)2
2 2
i=1
Die Filterwirkung eines Resonanzkreises mit der Gte Q0 = 50 reduziert den T HD bereits
auf . 0, 3%, aus der speisenden Rechteckspannung wird so eine nahezu ideal sinusfrmige
Prfwechselspannung.
Die bisherigen Betrachtungen beruhten auf der vereinfachenden Annahme, dass sich die
Verluste des Schwingkreises in einem Wirkwiderstand R zusammenfassen lassen. In einem
Resonanzprfkreis mit Festdrossel wrde ein konstanter Wirkwiderstand zu einem linearen
Anstieg der Gte mit der Resonanzfrequenz fhren. Abbildung 27.5 zeigt aber ein deutlich
nichtlineares Verhalten der Gte als Funktion der Frequenz [37].
289
250
Quality factor
200
150
100
50
1 system
3 systems in parallel
0
0
50
100
2 systems in parallel
2 systems in series
150
200
250
300
Resonant frequency [Hz]
Abb. 27.5: Resonanzgten in der Praxis
VPE-isolierte Kabel liefern im Frequenzbereich 20-300 Hz keinen signifikanten Beitrag zu den

Schwingkreisverlusten, da ihr Verlustfaktor sehr klein (tan 103 ) und ihr Schirm- und
Leiterwiderstand RCu 1 ist. Eine Drossel zeigt aber neben ihrem Wicklungswiderstand
noch andere, nichtlineare Verlustbeitrge: so steigen bei tiefen Frequenzen die Eisenverluste
(Sttigung) an und bei hohen Frequenzen fhren Skin- bzw. Proximityeffekt ebenfalls zu
einem Verlustanstieg.
Im Unterschied zu VPE-isiolierten Mittelspannungskabeln ist die electrical treeing Kanalwachstumsgeschwindigkeit bei Prfspannungen fr Hochspannungskabel sehr hoch, das Risiko
unbemerkter Vorschdigungen entsprechend gering. Eine weitere Steigerung der Aussagefhigkeit ist mit einer begleitenden Teilentladungs-(TE)-Messung zu erreichen (s. Abschnitt 27.5.1).
Die WT-Alterung ist bei modernen kunststoffisolierten Hochspannungskabeln konstruktionsbedingt ausgeschlossen. Nur bei nicht querwasserdichten Kabelkonstruktionen der ersten
Generation kann eine WT-Alterung auch bei Hochspannungskabeln auftreten (etz ?).

Bei lngeren Kabelsystemen nimmt die Empfindlichkeit fr eine TE-Messung vom Kabelende
stark ab. Durch in die Kabelmuffen integrierte TE-Sensoren kann unabhngig von der Kabellnge eine gleichbleibend hohe TE-Messempfindlichkeit erzielt werden, s. Abschnitt 21.1.2.2
und [38].
Stehen keine TE-Sensoren in den Muffen zur Verfgung, kann bei Zugnglichkeit von Crossbonding-Verbindungen mit induktiver TE-Auskopplung trotzdem eine gute Messempfindlichkeit erzielt werden [39, 40].
27.5.1 TE-Messung bei AC-Resonanzprfungen mit 20-300 Hz

Bei der Inbetriebnahme von kunststoffisolierten Hoch- und Hchstspannungskabelanlagen hat
sich die Kombination von TE-Messung und Resonanzwechselspannungsprfung hervorragend
bewhrt [4143].
290
27.6 Fallstudie 1: 400-kV-VPE-Kabelanlage in London

27.6.1 Einleitung
Im Jahre 1997 wurde vom nationalen Betreiber der bertragungsnetze in England, der NGT
(National Grid Transco), beschlossen, die Infrastruktur von London grundlegend zu berarbeiten. Bei den berlegungen standen Systemaspekte, Versorgungssicherheit sowie das Schaffen
von Redundanzen im Vordergrund. Zudem werden eine Vielzahl der existierenden 275 kVSysteme in den nchsten Jahren ihre vorher- und zugesagte Lebensdauergrenze erreichen.
Eine besondere Bedeutung in diesem Konzept hat die neue 400 kV-Kabelverbindung zwischen
Abb. 27.6: Der Elstree-Kabeltunnel

St. Johns Wood und Elstree. Ein 400 kV-VPE-Kabelsystem (Kabeltyp 2XS(FL)2Y 1x2500
RMS/400 230/400 kV), installiert in einem 20 km langen und durchschnittlich 30 m tiefen
Tunnel (s. Bild 27.6), verbindet den nrdlichen Randbezirk von London (Elstree) mit Zentrallondon (St. Johns Wood). Mit einem Leiterquerschnitt von 2500 mm2 Kupfer knnen hier
1600 MVA Nennleistung bertragen werden. Der Kabelaufbau ist in Bild 27.7 dargestellt. Der
Auendurchmesser des Kabels betrgt 150 mm und das Gewicht 40 kg / m. Erstmalig wurde
bei diesem Projekt zwecks spteren Temperaturmonitorings der Kabelstrecke im Kabelschirm
ein dnnes Stahlrohr integriert, in welches nach dem Prozessschritt der Kabelschirmung
ein Lichtwellenleiter eingezogen wurde. Somit wurde ber die gesamte Kabelstrecke ein
reprsentatives Temperaturmonitoring eingerichtet. Das Kabelsystem besteht aus insgesamt
60 Cross-Bonding-Muffen und 6 SF6 -Schaltanlageneinfhrungsendverschlssen. Die Menge
der gelieferten Kabel betrgt 60 km.
291
Abb. 27.7: Aufbau des 400 kV-Elstree-Kabels
Der Tunnel ist so ausgelegt, dass zu einem spteren Zeitpunkt ein zweites 400 kV-System mit
gleicher bertragungsleistung eingebaut werden kann. Zudem luft derzeit die Realisierung
weiterer 132 kV-Kabelsysteme, die in Dreiecksanordnung unter dem 400 kV-Kabelsystem
verlegt werden sollen. Auf einer Strecke von ca. 10 km wird 2007 in der ersten Jahreshlfte
eine Verbindung zwischen Elstree und Hendon entstehen. Fr diese Optionen wurden in
der Planungsphase des Projektes zwischen den beiden Endpunkten insgesamt fnf weitere
Zugangs- bzw. Versorgungsschchte eingeplant (s. Bild 27.6). Das 400 kV-System besteht aus
Abb. 27.8: Elstree-Tunnelprofil
292
drei bereinander angeordneten Einleiter-VPE-Kabeln (s. Bild 27.8). Der Kabelmittenabstand

betrgt 500 mm, der Tunneldurchmesser 3 m.
Die Kabelschirme sind am Tunnelanfang und am Tunnelende mit der jeweiligen Schaltanlagenerde verbunden und geerdet. An jeder Muffe wird der Kabelschirm nach ca. 957 m ausgekreuzt.
Hinter diesem Konzept verbirgt sich zur Reduktion von induzierten Mantelstrmen die technische Lsung des sogenannten Cross-Bondings (s. Bild 27.9). Mit Blick auf die Begrenzung von
Abb. 27.9: System- und Schirmerdungskonzept (schematisch)

berspannungen ber der Cross-Bonding-Isoliertrennstelle in der Muffe wurde eine gegen die
Tunnelrhre isoliert aufgestellte berspannungsableiteranordnung entwickelt (s. Bild 27.10).
Da an allen Auskreuzstellen der Muffen keine Systemerde vorhanden ist, spricht man bei
Abb. 27.10: Elstree-berspannungsableiteranordnung

dieser speziellen Variante vom kontinuierlichen Cross-Bonding. In diesem speziellen Fall
wird die Tunnelrhre als nicht geerdet betrachtet, jedoch befinden sich fr Installations- und
Wartungsarbeiten an jeder der zwanzig Auskreuzstellen Tiefen- bzw. Arbeitserder, welche bei
Arbeiten im Tunnel zur Erdung der Arbeitsplattform verwendet werden. Aufgrund der enormen
Lnge des Kabelsystems entsteht dennoch wegen der bereinanderliegenden Kabelanordnung
bei Betrieb mit Nennleistung im Kabelschirm eine signifikante induzierte Spannung. Die
unsymmetrische Spannungsverteilung fhrt dann im Betrieb aufgrund der beidseitigen Erdung
zu Ausgleichsstrmen, welche die bertragungsleistung vermindern. Die Belastbarkeitsberechnungen zeigten, dass dieser Einfluss nicht vernachlssigt werden durfte. Zur perfekten
Ausbalancierung des Systems wurden daher insgesamt drei gleich lange Abschnitte in der Route festgelegt. Durch die systematische Positionsnderung der Kabel in jedem dieser Abschnitte
wird im Gesamtsystem die induzierte Spannung im Kabelschirm zu Null ausbalanciert. Die
Phasendrehung findet zwischen den Muffenpunkten 6 und 7 bzw. 13 und 14 statt. Mit dieser
Manahme konnte die bertragungsleistung um 5% erhht werden.
Da die Tunnelrhre nun als ungeerdet betrachtet wird, ist eine Begrenzung der Kabelschirmspannung durch berspannungsableiter (Kabelschirm gegen Tunnelwand) nicht vorgesehen.
Dennoch muss die Cross-Bonding-Isoliertrennstelle der Muffe gegen berspannungen geschtzt sein. Dazu wurde an den Auskreuzstellen aller Muffen berspannungsableiter installiert, die bezogen auf das dreiphasige Schirmsystem im Dreieck geschaltet sind (s. Bild 27.10).
293
Die Auslegung der berspannungsableiter wurde im Vorfeld des Projektes durch eine berspannungsstudie untersucht und abgesichert. Hierbei wurden alle betriebsrelevanten berspannungsszenarien simuliert:
Kurzschlsse (quasi-stationr und transient)
Schaltberspannugen
Blitzstospannungen
Die CB-Isoliertrennstelle in der Muffe wurde in Anlehnung an Annex D der IEC 62067 so
ausgelegt, dass bzgl. Impulsbeanspruchungen 125 kV ber der Trennstelle bzw. 62,5 kV Schirm
gegen Erde sicher gehalten werden. Aufgrund der Abstnde (>3m) der Muffen untereinander
wurden gem Tabelle D1 aus IEC 62067 die erhhten Anforderungswerte fr die Prfung der
CB-Isoliertrennstelle angezogen.
Alle Garnituren (60 Muffen und 6 SF6 -Endverschlsse) wurden mit kapazitiven TE-Sensoren
ausgestattet [38]. Die Besonderheit bei den Muffen ist, dass speziell fr dieses Projekt zwei
TE-Sensoren je Muffe vorgesehen wurden (s. Bild 27.11).
Abb. 27.11: Zwei TE-Sensoren in der Muffe VMEVCB 420
Aufgrund der direkten Ankopplung ber das im Silikonstresskonus integrierte Feldsteuerelement zeichnet sich der Sensor durch eine Art Richtcharakteristik aus, dessen Anteil sich
entsprechend der ber die Muffe verteilten kapazitiven Kopplung beschreiben lsst. Im Vorfeld
zeigte sich bei knstlich aufgebrachten Defekten innerhalb der Muffe an verschiedenen Stellen,
dass die Intensitt der knstlich erzeugten TE-Signale sowohl von dem Ort der Strung, der
Natur der Strung und insbesondere auch dem Ort der Signalauskopplung abhngt. Bei dem
in diesem Projekt verwirklichten Konzept sollten so fr den Bedarfsfall innerhalb der Muffe
Vergleichsmessungen (linke gegen rechte Seite) ermglicht und gegebenenfalls Vorhersagen
ber den Ort und die Natur eines Defektes gemacht werden knnen.
Nach der Auftragsvergabe im Jahre 2001 wurden die Systemkomponenten in 2002 und
2003 gefertigt, vorgeprft und ausgeliefert. Die Montage begann in 2004 und endete Mitte
2005. Die Inbetriebnahme wurde im Juli 2005 erfolgreich mit der Wechselspannungsprfung
abgeschlossen.
27.6.2 Projektierungsphase
Bereits whrend der Projektierung wurde auch die Inbetriebnahmeprfung detailliert geplant.
Zu diesem Zeitpunkt (2000) gab es noch kein geeignetes mobiles Wechselspannungsprfsystem [35], das ber eine ausreichende Leistungsfhigkeit verfgt htte. Die technische Lsung
bestand schlielich in der Ergnzung bereits vorhandener mobiler Prfausrstungen, um auch
294
bei einer Kabellnge von 20 km eine Wechselspannungsprfung mit 280 kV realisieren zu knnen. So wurden zwei existierende Resonanzdrosseln mit jeweils 254 kV / 80 A / 16 H um eine
baugleiche dritte Drossel ergnzt, die dann zusammen in Parallelschaltung betrieben werden
sollten. Zum Erreichen der vorgegebenen Prfwechselspannung von 280 kV war eine vierte
Drossel (30 kV / 240 A) in Serienschaltung vorgesehen. Das vereinfachte Ersatzschaltbild
dieser Prfschaltung zeigt Bild 27.12. Bei einer Kabelkapazitt von 4,4 F pro Phase ergab
3 x (30kV / 80A / 2,1H)

Resonanzdrossel
3 x (254kV / 80A / 16H)

Resonanzdrosseln
4,4F
Kabelkapazitt
4 x 200kVA
Umrichter
4 x 200kVA
step-up-Transformatoren
Abb. 27.12: AC-Prfsystem (schematisch)

diese Anordnung eine Resonanzfrequenz von ca. 31 Hz bei einem Prfstrom von 240 A und
einer Prfscheinleistung von ca. 67 MVA. Zur Speisung der Schwingkreisverluste bei einer
angenommenen worst case Kreisgte von Q = 100 waren vier Umrichter mit einer Leistung
von je 200 kVA und vier entsprechende step-up-Transformatoren zur Spannungsanpassung
erforderlich. Da fr derart hohe Prfparameter weltweit keinerlei Erfahrungen vorlagen, wurde
entschieden, dieses Prfsystem zunchst an einer Kondensatorenbatterie (bestehend aus ca.
750 Leistungskondensatoren) mit entsprechender Kapazitt im Hochleistungsprffeld IPH
Berlin zu erproben, um ggf. noch rechtzeitig nderungen am Prfkonzept zu realisieren
(s. Bild 27.13). Diese Vorprfung verlief erfolgreich, so dass auf konzeptionelle nderungen
verzichtet werden konnte.
Abb. 27.13: Vorprfung des mobilen AC-Prfsystems
Die TE-Messung sollte zeitgleich an allen Kabelgarnituren einer Phase, d.h. simultan an
2 Schaltanlageneinfhrungsendverschlssen und 20 Cross-Bonding-Muffen ber eine Distanz
von insgesamt 20 km erfolgen.
Auch fr eine derart umfangreiche Vor-Ort-TE-Messung lagen in der Planungsphase noch
keine ausreichenden Erfahrungen vor. Basierend auf den ersten Erfahrungen mit der zeitgleichen TE-Messung an allen Garnituren einer 6,5 km langen 400 kV-VPE-Kabelanlage in Berlin
[41] wurde die TE-Messtechnik so weiterentwickelt, dass eine synchrone TE-Erfassung auf
295
bis zu 25 Kanlen mglich wurde (s. Bild 27.14). Mit Hilfe von Kalibrierimpulsen wurde die
Synchronitt des Gesamtsystems zu 20 ns bestimmt.
Abb. 27.14: Erprobung des 25-Kanal-TE-Messsystems

Die Eigenschaften des verwendeten TE-Messsystems sind detailliert in [44] dargestellt. Die
Vorzge der zeitgleichen TE-Messung an allen Kabelgarnituren wurden beispielsweise in
[4549] erlutert.
27.6.3 Prqualifikationsprfung
Wegen der auerordentlichen Bedeutung und des Umfangs des Elstree-Projektes wurde nach
erfolgreichem Abschluss der Typprfung und vor Errichtung der Kabelanlage eine Prqualifikationsprfung nach IEC 62067 durchgefhrt. Diese Prfung beinhaltet eine einjhrige Wechselspannungsbeanspruchung einer mindestens 100 m langen Kabelschleife inkl. aller Garnituren
mit 1,7 U0 , d.h. hier mit 400 kV Leiter-Erdspannung. Zustzlich sind 180 Heizzyklen mit einer
maximalen Leitertemperatur von 90C (Toleranz +5/-0C) zu absolvieren. Bild 27.15 zeigt
einen Teil des Prqualifikationsaufbaus zusammen mit dem Hochspannungsprftransformator. Die 400 kV-Prqualifikationsprfung wird mit einer 1425 kV-Blitzstospannungsprfung
an einem Kabelstck aus der Jahresbeanspruchung und mit der visuellen Inspektion aller
Kabelgarnituren abgeschlossen.
Die Prqualifikationsprfung wurde erfolgreich bestanden.
27.6.4 Projektspezifische Besonderheiten

Der Betreiber verlangte sowohl vom Montagepersonal des Kabelherstellers als auch vom
Prfpersonal die Teilnahme an speziellen Schulungen, ohne die ein Zugang zur Baustelle
und insbesondere zum Tunnel nicht gestattet wurde. Die Stufen der Rangfolge, die mit
erfolgreich abgeschlossenen Schulungseinheiten erklommen wurden, waren individual, person
und schlielich competent person. Fr die Zugangsberechtigung zum Tunnel war ein spezielles
confined space training zu absolvieren, dass erfreulicherweise auch in Deutschland von der
Bergbauakademie Leipzig angeboten wird.
Da die Kabelstrecke beidseitig in SF6 -Schaltanlageneinfhrungsendverschlssen endete, konnte die Wechselspannungsprfung nur ber eine 400 kV-Freiluft-SF6 -Prfdurchfhrung erfolgen. Der Wechsel zwischen den drei Phasen erforderte u.a. wegen der Gasarbeiten erhebliche
Umbauzeiten. Bild 27.16 zeigt die 400 kV-Prfdurchfhrung nach erfolgter Montage.
296
Abb. 27.15: 400 kV-Prqualifikationsprfung
Abb. 27.16: 400 kV-Prfdurchfhrung
Fr den Aufbau des Resonanz-Prfsystems stand nur ein sehr begrenzter Platz zur Verfgung.
Entgegen ersten Annahmen wurde beispielsweise die dreiphasige 400 kV-Kompensationsdrossel
bereits vor der Inbetriebnahmeprfung aufgestellt. Dies erforderte einerseits einen sehr kompakten Prfaufbau und andererseits eine ca. 40 m lange, TE-freie Zuleitung der 280 kVPrfwechselspannung zur 400 kV-Prfdurchfhrung (s. Bild 27.17). Diese Zuleitung wirkte
sowohl als Antenne fr Strungen als auch als Wasserleitung bei Regenwetter.
Die Ausdehnung des Tunnels und die hohe Anzahl der TE-Messorte erforderte fr den Phasenwechsel und den begleitenden Batteriewechsel ca. 4-5 h. Die Fortbewegung im unbeleuchteten
Tunnel erfolgte hierbei mit Fahrrdern.
297
Abb. 27.17: Aufbau 280 kV-AC-Prfung
27.6.5 Inbetriebnahme - Prfprogramm

Die Wechselspannung wurde ber den TE-freien Prfanschluss mit Rohrleiter und Abschirmelektroden an den Drosseln, Sttzern und am Spannungsteiler zur Prfdurchfhrung geleitet.
Die Prfspannung zur Messung der Spannung und Steuerung der vier Umrichter lieferte ein
kapazitiver Spannungsteiler mit nachgeschaltetem AC/DC-Peak-Voltmeter MU18.
Die berprfung der verteilten TE-Messtechnik erfolgte in drei Stufen: zunchst wurden nacheinander die internen Testsignalgeneratoren aktiviert, um die vollstndige Funktionsbereitschaft aller 22 Messkanle festzustellen. Anschlieend wurden ber die 400 kVPrfdurchfhrung (s. Bild 27.16) Kalibrierimpulse von 500 pC eingespeist. Der eingesetzte
Kalibrator wurde mit den TE-Messkanlen ber den optischen Bus angesteuert und lieferte zur
TE-Messung kohrente Signale. Dadurch war es mglich, durch Mittelwertbildung das 500 pCKalibriersignal und dessen Teilreflektion an der nchsten Muffe selbst nach 20 km Distanz
eindeutig aus dem Strpegel herauszuheben (s. oszillografische Darstellung in Bild 27.18).
Abb. 27.18: Ausbreitung von Kalibrierimpulsen

Die durch Mittelwertbildung an allen Garnituren detektierbaren Kalibrierimpulse wurden per
FFT parallel in eine spektrale Darstellung berfhrt. Ein Teilergebnis zeigt Bild 27.19, in
dem die starke Dmpfung hherfrequenter Signalkomponenten mit zunehmenden Abstand
zum Einspeiseort der Kalibriersignale klar erkennbar ist. Der Einbruch der Spektren bei ca.
298
Abb. 27.19: Spektren von Kalibrierimpulsen
4,5 MHz kann auf die Bedingungen der Kalibrierimpuls-Einspeisung zurckgefhrt werden.
Als dritter Schritt der Funktionsberprfung der TE-Messtechnik wurde unmittelbar vor jeder
Spannungsprfung einer Phase ein Drahtversuch eingefgt, der darin bestand, die Teilentladungen an einem an Spannung angeschlossenen und gegen Erde gerichteten Kupferdraht
zu messen zum Nachweis der Funktionstchtigkeit aller eingebauten TE-Stationen und des
Verarbeitungsrechners. Die frequenzabhngige Dmpfung dieser TE-Signale kann sehr vorteilhaft fr den Nachweis der Selektivitt der TE-Messung an den einzelnen Garnituren genutzt
werden. Mit der frei einstellbaren Mittenfrequenz der verwendeten TE-Messgerte wurde
unter Bercksichtigung der bertragungsbandbreite der kapazitiven TE-Sensoren die
Messfrequenz so eingestellt, dass Strer vom Prfaufbau praktisch keine Rolle spielen.
In Bild 27.20 ist dieser Einfluss der Messfrequenz dargestellt. Die linke Bildhlfte zeigt
die TE-Muster aller TE-Stationen bei 6 MHz Mittenfrequenz (Ausnahme: TE-Station 1.24
ferner SF6 -Endverschluss Mittenfrequenz 1 MHz). Die TE-Stationen 1.1, 1.2 und 1.3
wurden mit einem kapazitiven und zwei induktiven TE-Sensoren am nahen (speiseseitigen)
SF6 -Endverschluss gemessen und zeigen hnliche TE-Amplituden des Drahtversuchs. Die
TE-Stationen 1.4, 1.5, 1.6 und 1.7 an den ersten vier Muffen zeigen eine starke Abnahme
der TE-Amplitude mit wachsender Distanz von der Speiseseite. Ab TE-Station 1.8 (5. Muffe)
konnten nur noch uniforme Grundstrpegel gemessen werden.
Abb. 27.20: Einfluss der Messfrequenz

In der rechten Bildhlfte von Bild 27.20 wurde die Mittenfrequenz auf 600 kHz gesenkt.
Korrespondierend zu den Spektren in Bild 27.19 ist die abstandsabhngige Dmpfung der TESignale soweit vermindert, dass die TE-Muster des Drahtversuchs an allen Kabelgarnituren
noch klar ber dem Grundstrpegel detektiert werden konnten. Bei dieser Messfrequenz
traten auch die durch die Wechselrichter der Resonanzanlage verursachten, vier phasenstarren
Strimpulse in allen TE-Mustern deutlich hervor.
299
Nach Entfernen des Drahtes wurde eine Spannung von 50 kV fr eine Dauer von ca. 5 min
eingestellt. In diesem Zeitraum wurden alle angeschlossenen TE-Stationen hinsichtlich eventuell auftretender Teilentladung berprft. Dieser Vorgang wiederholte sich jeweils in 50 kVSchritten bis zum Erreichen der Prfspannung von 280 kV, die dann 60 min aufrecht erhalten
wurde. Whrend dieser Zeit erfolgte eine stndige berwachung smtlicher TE-Stationen.
Abb. 27.21: TE-Muster an einem SF6 -Endverschluss

Bild 27.21 zeigt ein TE-Muster, das whrend der maximalen Prfspannung an einem (fernen)
SF6 -Endverschluss festgestellt wurde. Whrend der einstndigen Beanspruchung mit 280 kV
nahm die ohnehin minimale TE-Amplitude weiter ab. Dieser Effekt wurde auf Formierungsprozesse zurckgefhrt.
Neben der Wechselspannungsprfung mit begleitender TE-Messung wurden weitere Teilprfungen und Messungen vor Ort durchgefhrt:
1. Messung des Isolationswiderstandes
2. Mantelprfung
3. Messung des Leiterwiderstandes
4. Messung aller Schirmkontaktwiderstnde
5. Messung der Impedanzen (Mit- und Nullimpedanz)
6. Messung des Einflusses von Cross-Bonding-Fehlern auf die Impedanz
7. Prfung aller (!) berspannungsableiter (Mantelableiter) an den Cross-Bonding-Stellen
Ein Teil der Messungen wurden vor, ein weiterer Teil nach der Wechselspannungsprfung
durchgefhrt und mit einer visuellen Inspektion der Muffengruppen im Tunnel kombiniert.
27.6.6 Ausblick
Die Kombination von Resonanz-Wechselspannungsprfung und verteilter, synchroner TEMessung an allen Kabelgarnituren hat sich auch bei der Inbetriebnahmeprfung einer 20 km
langen Hchstspannungskabelanlage hervorragend bewhrt. Die mit zunehmender Kabellnge
ansteigende Dmpfung externer Strungen fhrte zu TE-Messempfindlichkeiten an den Kabelgarnituren, die Laborbedingungen gleich kamen oder diese sogar bertrafen. Die zeitgleiche
TE-Messung garantierte dabei im Zusammenspiel mit einer langsamen Spannungssteigerung
300
die geringstmgliche Latenz bei der Erkennung von evtl. kritischen TE-Fehlern, ein minimales
Vorschdigungs- bzw. Durchschlagsrisiko und die bestmgliche Selektivitt, d.h. ggf. die
eindeutige Zuordnung eines TE-Fehlers zu einer Kabelgarnitur.
Auch fr den speiseseitigen Kabelendverschluss, bei dem externe Strsignale ohne jede
Dmpfung einwirken und Selektivitt bisher nicht ohne weiteres sicher gestellt werden konnte,
erffnet die synchrone Mehrkanal-TE-Messung neuartige, deutliche verbesserte Mglichkeiten
zur eindeutigen TE-Bewertung [49].
Eine Wechselspannungsprfung mit begleitender TE-Messung kann prinzipiell nur die Fehler
aufdecken, die whrend der Prfzeit zum Durchschlag fhren oder die zumindest TE-Pegel
verursachen, die oberhalb des jeweiligen Grundstrpegels liegen und damit erst detektierbar
werden. Diese Bedingungen werden durch Montagefehler in der Regel erfllt. Fehler, die erst
durch lngeren Betrieb verursacht werden, z.B. durch thermisch-mechanische Degradation
oder durch Undichtigkeiten an lisolierten Endverschlssen, knnen ggf. nur durch Monitoring
rechtzeitig erkannt werden [50].
Kapitel 28
Gasisolierte Schaltanlagenprfung vor Ort
301
Kapitel 29
Prfung von Leistungstransformatoren vor Ort
29.1 Fallstudie 1: HG-Transformatoren in Mosambik

29.1.1 Einleitung
Cahora Bassa ging 1978 als seinerzeit grtes Wasserkraftwerk der Welt mit einer Gesamtleistung von ca. 2000 MVA in Betrieb (s. Bild 29.1 nach [51]).
Abb. 29.1: Staudamm Cahora Bassa 1976

Der Stausee im Nordosten von Mosambik an der Grenze zu Zimbabwe erstreckt sich ber
246 km und bedeckt eine Flche von 2739 km2 (s. Bild 29.2). Der Stauinhalt betrgt ca.
65 Milliarden m3 Wasser.
Die eigentliche Besonderheit von Cahora Bassa besteht aber in der 533 kV-Hochspannungs-Gleichstrom-bertragung (HG), die erstmals vollstndig mit Thyristoren ausgefhrt
wurde. Die HG verbindet Mosambik (Songo) mit Sdafrika (Apollo). Die Umrichterstation
Songo befindet sich auf einem knstlich errichteten Hochplateau 600 m oberhalb des Stausees.
Bild 29.3 zeigt die Ventilbaugruppen in Freiluftausfhrung. Die primre Khlung erfolgt ber
einen lkreislauf, der ber die Sttzisolatoren gefhrt wird.
Gegenber den Ventilbaugruppen befinden sich 24 HG-Transformatoren mit einer Einphasenleistung
von jeweils 96,7 MVA (s. Bild
29.4). Die Nennspannung der AC-Wicklung betrgt
230 / 3 kV, die der Ventilwicklung 114 / 3 kV.

Die ca. 1400 km lange Freileitung von Cahora Bassa (Mosambik) nach Apollo (Sdafrika) wurde whrend des lang andauernden Brgerkriegs sabotiert, was bei ca. 4200 HG303
304
29 Prfung von Leistungstransformatoren vor Ort
Abb. 29.2: Stausee Cahora Bassa
Abb. 29.3: Ventilbaugruppen in der Station Songo, Mosambik
Abb. 29.4: HG-Transformatoren in der Station Songo
Freileitungsmasten in Mosambik ca. 1985 zu einem vollstndigen Erliegen der Energiebertragung nach Sdafrika fhrte. Nach Beendigung des Brgerkriegs 1992 konnte mit der
Erneuerung der Freileitungen begonnen werden, die dann Ende 1997 abgeschlossen wurde. Die volle bertragungsleistung nach Sdafrika wurde im August 1998 erstmals wieder
erreicht.
305
Im regulren Betrieb musste jedoch festgestellt werden, dass die mittlerweile ber 30 Jahre
alten Grokomponenten (Generatoren, Maschinentransformatoren, HG-Transformatoren)
ebenfalls berholt werden mssen, obwohl sie die meiste Zeit nicht oder zur Aufrechterhaltung des Eigenbedarfs nur mit einem Bruchteil ihrer Nennleistung belastet wurden.
Eine Reparatur bzw. berholung der HG-Transformatoren beim Hersteller schied dabei
aus, da die einzige entsprechend tragfhige Brcke ber den Sambesi im Brgerkrieg zerstrt
worden war.
Die verbleibende Alternative bestand in der Vor-Ort-Reparatur von zunchst zwei HGTransformatoren.
29.1.2 Projektspezifische Besonderheiten

Voruntersuchungen vor Ort zeigten, dass zwar umfangreiche technische Ausrstungen in Cahora Bassa zur Verfgung standen, die aber im wesentlichen nur fr Routinearbeiten geeignet
waren. Fr die geplanten Prf- und Diagnosearbeiten an den HG-Transformatoren wurde deshalb entschieden, die gesamte Prfausrstung von Deutschland nach Cahora Bassa zu bringen.
Die Prfausrstung umfasste vier Container, von denen drei die greren Komponenten aufnahmen (Motor-Generator-Satz 1750 kVA, 16. . . 100 Hz, Dreiphasen-Anpasstransformator 2 MVA
und Dreiphasen-Stelltransformator 500 kVA). Der vierte Container war fr den Transport der
600 kV-DC-Prfanlage, der Messtechnik und sonstiger Komponenten (Toroide, Leitungen,
Kleinmaterial, Werkzeug) erforderlich. Der Transport der vier Container erfolgte auf Grund
Abb. 29.5: Lufttransport der Prfausrstung

enger zeitlicher Randbedingungen per Luftftracht (s. Bild 29.5) nach Johannisburg, Sdafrika.
Von dort ging der Transport per LKW ber Zimbabwe nach Mosambik, da die direkte Straenverbindung von Sdafrika wegen starker Regenflle (Regenzeit) fr LKW streckenweise
nicht passierbar war. Der Rcktransport nach abgeschlossener Prfung erfolgte per Strae und
Schiff.
Die groe Distanz zum Prfort und die damit verbundene lange Transportzeit fhrte zu einer Risikoanalyse und zu einer darauf basierenden sorgfltigen Planung ggf. erforderlicher
Ersatzteile und Reservekomponenten. So wurden alle bentigten Messgerte in doppelter
Ausfertigung vorgesehen. Wegen der geringen Erfahrung mit den lokalen klimatischen Bedingungen wurde hierbei jeweils ein digitales und falls noch verfgbar auch ein analoges
Messgert als funktionale Redundanz eingesetzt.
306
29.1.3 Instandsetzung
Die Instandsetzungsarbeiten beinhalteten neue Wicklungen und Durchfhrungen sowie umfangreiche Erneuerung des Isolationsaufbaus. Verfahrensprozesse mussten den Bedingungen
vor Ort sowie den eingeschrnkten Infrastrukturvoraussetzungen angepasst werden.
Im Februar 2006 konnten die Reparaturen an diesen beiden HG-Transformatoren abgeschlossen werden.
29.1.4 Prfprogramm
Da bereits weitere Transformatoren als auffllig diagnostiziert wurden und das Retrofitprogramm fortgesetzt wird, galt es, mit geeigneten Messverfahren die Betriebstchtigkeit
der reparierten Einheiten festzustellen sowie ggf. Mglichkeiten der Verfahrensoptimierung
aufzuzeigen. Basierend auf den Werksprfberichten wurde ein umfangreiches Prf- und
Diagnoseprogramm mit dem Betreiber HCB (Hydroelctrica de Cahora Bassa) vereinbart:
Messung der bersetzung
Messung der Wicklungswiderstnde in allen Stufenschalterpositionen
Messung des Verlustfaktors und der Kapazitt
Messung des Leerlaufstromes
Messung der Kurzschlussimpedanz
Prfung mit angelegter Wechselspannung
Prfung mit induzierter Wechselspannung und TE-Messung
Gleichspannungsprfung und TE-Messung
Wiederholung der Prfung mit induzierter Wechselspannung und TE-Messung
Obwohl eine Norm fr Transformatoren fr HG-Anwendungen existiert (DIN EN 613782:2001 bzw. VDE 0532-42) wurde das Prfprogramm in Anlehnung an die Werksprfung
formuliert. Diese Entscheidung beruhte auf der berlegung, dass die HG-Transformatoren
so konstruiert waren, dass sie ihren ursprnglichen Prfanforderungen entsprachen.
In den folgenden Abschnitten werden die jeweiligen Mess- und Prfschritte mit einem vereinfachten Ersatzschalt illustriert. Der HG-Transformator (s. Bild 29.6) wird dabei auf seine
wesentlichen Anschlsse reduziert: u x (AC-Wicklung), U X (Ventilwicklung) und 14 (Prfdurchfhrung). Die Prfdurchfhrung ermglichte, die induzierte Spannungsprfung als auch
die Messung des Leerlaufstromes mit moderaten Prfspannungen (ca. 20 kV) durchzufhren.
Nach Abschluss der Prfungen wurde die Prfdurchfhrung entfernt.
29.1.4.1 Messung der bersetzung

Die Messung der bersetzung wurde mit einer klassischen bersetzungsmessbrcke nach
Keller durchgefhrt (s. Bild 29.7). Diese Messung erfolgte auf allen Stufenschalterpositionen.
Um ggf. Einflsse der Bewegungsrichtung zu erkennen, wurde die bersetzungsmessung von
Position 1 nach 27 und dann von 27 nach 1 vorgenommen.
29.1.4.2 Messung der Wicklungswiderstnde

Fr die Messung der Wicklungswiderstnde wurde ein speziell fr Trafomessungen geeignetes digitales Widerstandsmessgert eingesetzt (Schtz, Typ MCR7100, s. Bild 29.8). Dieses
THE TEST EXPERTS
307
Member of CESI Group
Abb. 29.6: Ausschnitt aus dem Typenschild

Basic: Transformer
Ratio
U1
14
Ratio =
THE TEST EXPERTS
21/02/2006
U2
U1
U2
Abb. 29.7: Messung der bersetzung
03
MRC 7100
14
21/02/2006
Abb. 29.8: Messung des Wicklungswiderstandes
04
Messgert automatisiert den bei Transformatoren erforderlichen Ablauf (z.B. Abwarten des
L/R-Einlaufverhaltens). Analog zur bersetzungsmessung erfolgte die Widerstandsmessung
in allen Stufenschalterpositionen in beiden Richtungen.
THE TEST EXPERTS

308

29.1.4.3 Messung des Verlustfaktors und der Kapazitt
CU-u
i
u
14
21/02/2006
Abb. 29.9: Messung des Verlustfaktors und der Kapazitt
08
Kapazitt und Verlustfaktor in Abhngigkeit der Prfspannungshhe wurden mit einem digitalen Messsystem bestimmt (Mtronix, Typ MI540). Die Prfspannung wurde dabei mit
einem einstellbaren 10 kV-Prfgert variiert (s. Bild 29.9, links). Neben den beiden HGTransformatoren wurde zustzlich auch der Verlustfaktor von verschiedenen Reservedurchfhrungen gemessen (s. Bild 29.9, mitte).
THE TEST EXPERTS
29.1.4.4 Messung der Kurzschlussimpedanz
i
u
14
Uk =
21/02/2006
Abb. 29.10: Messung der Kurzschlussimpedanz
u
i
06
Zur Bestimmung der Kurzschlussimpedanz wurde bei kurzgeschlossener Ventilwicklung

U X eine Spannung an die AC-Wicklung u x angelegt und dabei der Strom in die ACWicklung gemessen (s. Bild 29.10). Diese Messung erfolgte in den Stufenschalterpositionen 1,
7 und 14. Als Messgert kam ein Wattmeter (Norma) und als Spannungsquelle der 500 kVAStelltransformator mit dem 2 MVA-Anpasstransformator zum Einsatz.
29.1.4.5 Messung des Leerlaufstromes

Der Leerlaufstrom und die Leerlaufverlustleistung wurden bei Nennspannung bestimmt. Die
Speisung erfolgte ber die Prfdurchfhrung (14), als Spannungsquelle wurde die Kombinati-
309
on aus 500 kVA-Stelltransformator und 2 MVA-Anpasstransformator verwendet (s. Bild 29.11).
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i
u
14
Pos. 1
THE TEST EXPERTS

21/02/2006
Member of CESI Gro
Abb. 29.11: Messung des Leerlaufstromes
10
29.1.4.6 Prfung mit angelegter Wechselspannung
14
Abb. 29.12: Prfung mit angelegter Wechselspannung

Die Prfung erfolgte mit 28,6 kV, da das erdnahe Ende der AC-Wicklung (x) keine hhere
Prfspannung zulie. Fr die Ventilwicklung war eine angelegte Wechselspannungsprfung
nicht vorgesehen. Als Spannungsquelle wurde wiederum die Kombination aus 500 kVAStelltransformator und 2 MVA-Anpasstransformator eingesetzt (s. Bild 29.12).
21/02/2006
29.1.4.7 Prfung mit induzierter Spannung
Die induzierte Spannungsprfung erfordert eine gegenber der Betriebsfrequenz hherfrequente Wechselspannung, um Sttigung zu vermeiden. In diesem Fall erfolgte die induzierte
Spannungsprfung mit 100 Hz. Zur Bereitstellung dieser Prfspannung wurde der MotorGenerator-Satz zusammen mit dem Anpasstransformator verwendet (s. Bild 29.13). Die begleitende TE-Messung wird im Abschnitt 29.1.4.9 behandelt.
310
i
AC
DC
THE TEST EXPERTS
14
100-Hz-Generator
Pos. 8
Abb. 29.13: Prfung mit induzierter Spannung
RD
u
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14
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Abb. 29.14: Gleichspannungsprfung
12
DC
13
29.1.4.8 Gleichspannungsprfung
Die DC-Prfung mit 319 bzw. 480 kV und begleitender TE-Messung erforderte einen aufwendigen Prfaufbau, um das Risiko uerer Entladungen mglichst klein zu halten (s. Bilder 29.14,
29.15 und 29.16). Im Unterschied zur TE-Messung bei Wechselspannung ist die Unterscheidung von Strern und mglichen inneren TE sehr schwierig, da das wichtigste Hilfsmittel zur
Interpretation, die Korrelation der TE zur Phase der Prfwechselspannung bei Gleichspannung
naturgem nicht zur Verfgung steht.
Die Hhe der Ventildurchfhrungen fhrte dazu, dass das Eigengewicht der langen Metallschluche zur Spannungszufhrung das Reien der Schluche verursachte. Deshalb wurde
es erforderlich, den Abstand der DC-Prfspannungsquelle zur Ventildurchfhrung erheblich
zu verkrzen. Dies gelang, indem die DC-Prfspannungsquelle auf den Containern aufgebaut wurde. Der Durchhang der Metallschlauchverbindung machte zudem eine zustzliche
Absttzung erforderlich (s. Bilder 29.15 und 29.16).
Whrend der DC-Prfung wurde die AC-Wicklung komplett geerdet.
29.1.4.9 TE-Messung
Die TE-Auskopplung erfolgte ber die Messbelge der Durchfhrungen (u und U bei der induzierten Spannungsprfung, s. Bild 29.17 u, U und X bei der DC-Spannungsprfung).
Zustzlich wurde bei der induzierten Spannungsprfung der TE-Pegel mit einem 1 nFKoppelkondensator an der Prfdurchfhrung und mit einem HF-Transformator am geerdeten
Ende der Ventilwicklung X gemessen.
Die TE-Messungen wurden mit einem digitalen, synchronen Mehrkanal-TE-Messsystem
(Mtronix, Typ MPD540) durchgefhrt [49, 52].
311
29.1.5 Ergebnisse
Alle Spannungsprfungen an beiden reparierten HG-Transformatoren wurden bestanden.
Die Messung der bersetzung und der Wicklungswiderstnde zeigten eine sehr gute bereinstimmung mit dem Werksprfbericht (s. Bild 29.18). Dies galt auch fr die Messergebnisse
der Kurzschlussimpedanz (s. Bild 29.19), die nur minimale Abweichungen zu den Werksprfergebnissen aufwiesen.
Die Verlustfaktormessungen ergaben bei einem der beiden HG-Transformatoren eine klare
Abhngigkeit von der Prfspannungshhe (s. Bild 29.20). Die Unterschiede zu den Messergebnissen, die praktisch keine Spannungsabhngikeit zeigten, konnte auf die Verwendung von
neuen und von wiederaufbereiteten alten Wicklungen zurckgefhrt werden.
Die Ergebnisse der Leerlaufverlustmessungen wichen deutlich von den Werksprfergebnissen
ab: bei den Vor-Ort-Messungen wurden niedrigere Verluste festgestellt. Dies galt in noch strkerem Ma fr die Leerlaufstrommessergebnisse. Dieser Effekt ist wahrscheinlich durch die
Abweichungen der Prfspannung von der Sinusform zu erklren (s. Bild 29.21). In Bild 29.21
sind auch typische phasenstarre Strer zu erkennen, die aus der im Betrieb befindlichen
HG-Station mit ca. 100 bis 200 pC einkoppeln.
Die genaueren Eigenschaften dieser Strimpulse sind in Bild 29.22 im Zeit- und Frequenzbereich dargestellt. Die Darstellung im Frequenzbereich beinhaltet hierbei eine Aussage ber
die Wahrscheinlichkeit spektraler Ereignisse, so dass impulsfrmige Strimpulse (rote Kurve)
vom Grundstrpegel (z.B. Rundfunksender) unterschieden werden knnen. Bei 2 MHz ist als
lila Balken der aktuelle Bandpassfilter fr die TE-Messung zu erkennen.
Ein typisches TE-Messergebnis bei der induzierten Spannungsprfung zeigt Bild 29.23. Die
netzsynchronen Strimpulse aus Bild 29.21 schwebten zur 104 Hz-Prffrequenz und konnten
im TE-Muster keine Phasenkorrelation, sondern nur horizontale Bnder verursachen. Die
farblich hervortretenden Muster korrelierten dagegen deutlich zur Prfwechselspannung. Die
TE-Pegel lagen hierbei immer unter 100 pC.
Nach Abschluss aller offline-Prfungen und Messungen an den beiden reparierten HGTransformatoren bestand noch die Mglichkeit, an insgesamt 9 in Betrieb befindlichen HGTransformatoren online-TE-Messungen durchzufhren. Dabei wurden zunchst jeweils drei
Transformatoren parallel gemessen. Nach Identifizierung eines Transformators, der auch bei
der Gas-in-l-Analyse auffllig war, wurden dann noch dreikanalig TE an den Messbelgen
312
der Durchfhrungen u, U und X ausgekoppelt. Bild 29.24 zeigt auch die drei gemessenen Spannungen (blau: AC-Wicklung, rot und violett: Ventilwicklung), wobei die Ventilspannungen
durch die kapazitive Kopplung gleichanteilsfrei detektiert wurden.
313
i
AC
DC
14
THE TEST EXPERTS

Abb. 29.17: TE-Auskopplung an den Messbelgen der Durchfhrungen
21/02/2006
THE TEST EXPERTS
Abb. 29.18: Ergebnisse der bersetzungs- und Widerstandsmessung
21/02/2006
Pos.
U [ kV ]
i[A]
Z[]
Uk
2,113
50,5
41,8
17,1%
1,614
55,7
29,0
15,9%
14
1,011
51,7
19,6
15,2%
05
Abb. 29.19: Ergebnisse der Kurzschlussimpedanzmessung

21/02/2006
07
17
THE TEST
EXPERTS
314
0,040
td U - (u + tank)
td u - (U + tank)
td Uu - tank
td u - U
td u - tank
td U - u
td U - tank
0,035
0,030
tan delta
0,025
0,020
0,015
0,010
0,005
0,000
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
11000
U [V]
21/02/2006
Abb. 29.20: Ergebnisse der Verlustfaktormessung
Abb. 29.21: Netzsynchrone Strer bei der Messung des Leerlaufstromes
09
Abb. 29.22: Strimpulse im Zeit- und Frequenzbereich
Abb. 29.23: TE-Muster bei der induzierten Spannungsprfung
315
316
Abb. 29.24: online-TE-Muster
317
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[50] R. Plath. System Concept for Partial Discharge Monitoring on HV/EHV Cable
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[51] A nosa energia abraa Moambique. 25 aniversrio da Hidroelctrica de Cahora
Bassa. HCB, 2000. ISBN: 972-95054-9-7.
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Teil VIII
Monitoring
Kapitel 30
Anforderungen an Messtechnik und

Informationsverarbeitung fr Monitoring-Systeme
30.1 berblick
Dieses Kapitel behandelt Anforderungen an Diagnosesysteme, die zur Zustandsbeurteilung
oder berwachung energietechnischer Gerte whrend des normalen Betriebes eingesetzt werden. Derartige Online-Diagnosesysteme erfordern im Unterschied zur Offline-Diagnostik keine
Freischaltung des Betriebsmittels und z.B. keine externen Prfspannungsquellen, sondern
gewinnen ihre Diagnosegren aus den betrieblich erfassbaren Messwerten. Online-Diagnostik
kann in Abhngigkeit von den betriebsmittelspezifischen Verschlei - und Alterungsprozessen sowohl in greren zeitlichen Abstnden als auch kontinuierlich (Online-Monitoring)
zum Einsatz kommen. Insbesondere durch Online-Monitoring kann die Verfolgung des zeitlichen Verlaufs der aufgezeichneten Diagnosegren erfolgen, deren Trends frhzeitige Hinweise auf sich anbahnende Fehler geben knnen.
Die Anforderungen an Online-Diagnosesysteme werden aus drei unterschiedlichen Blickwinkeln betrachtet. Zunchst werden die Anforderungen des Anwenders behandelt. Anhand
der Struktur typischer Online-Diagnosesysteme werden dann die einzelnen Komponenten
vorgestellt und die jeweiligen Anforderungen przisiert. Daran schliet sich die Behandlung
der weitergehenden funktionalen Anforderungen an.
30.2 Einleitung
Die Diagnostik energietechnischer Betriebsmittel gewinnt ihre zunehmende Bedeutung aus den
aktuellen Anforderungen der liberalisierten Energiemrkte. Hier liefert die Online-Diagnostik
einen wichtigen Beitrag, um Betriebs- und Instandhaltungsstrategien wirtschaftlich zu optimieren, ohne die Versorgungssicherheit zu verringern. Dies geschieht beispielsweise dadurch,
dass zyklische durch zustandsorientierte Methoden der Instandhaltung ersetzt werden, die
Ausfallwahrscheinlichkeit der Betriebsmittel durch frhzeitiges Erkennen von Fehlern vermindert oder ihre Restnutzungsdauer zustandsabhngig verlngert wird. Das Ziel der Diagnostik
besteht also generell darin, Aussagen zum Zustand energietechnischer Gerte oder Systeme zu liefern, die dem Betreiber ein planvolles, vorausschauendes Handeln ermglichen
(Asset-Management). Dies setzt allerdings voraus, dass die Entwicklung eines erkannten, aber
noch unkritischen Fehlerzustandes bis zum kritischen Zustand mit der Gefahr des Versagens
ausreichend Zeit fr geeignete Gegenmanahmen lsst.
Im Unterschied zur Schutztechnik, die bei berschreitung von einzelnen Grenzwerten zur
sofortigen Abschaltung des geschtzten Betriebsmittels fhrt und somit der Schadensminimierung bei bereits eingetretenen Fehlern dient, beinhaltet die Online-Diagnostik in der Regel
die Bewertung mehrerer Betriebszustnde, Betriebsmesswerte und Diagnosegren, ihre ggf.
gegenseitige Abhngigkeit und ihre jeweilige zeitliche Entwicklung. Eine direkte Abschaltung
des diagnostizierten Betriebsmittels aufgrund aktueller Online-Diagnoseergebnisse ist z.Z.
nicht die Regel. Bisher beurteilen Experten die Online-Diagnoseergebnisse und gelangen unter
Einbeziehung weiterer Daten, z.B. von Offline-Diagnosen, zu einer Zustandsbeurteilung.
323
324
30 Anforderungen an Monitoring-Systeme
Um diesen (und weiteren) Ansprchen gerecht zu werden, mssen hohe Anforderungen an die
zu Grunde liegende Messtechnik und Informationsverarbeitung von Online-Diagnosesystemen
gestellt werden. Obwohl auer Frage steht, dass die computerbasierte Messtechnik hier
wesentliche Fortschritte erst ermglicht hat, resultieren aus dem zunehmenden Einsatz kostengnstiger Standardkomponenten (PC, Windows [1]) neuartige Probleme. Dazu zhlen
insbesondere die Kurz- und Langzeitstabilitt, die Sicherheit (Kommunikation via Internet [2])
und die Zuverlssigkeit, die u.a. mit der Lebensdauer bzw. der Innovationsgeschwindigkeit von
Hard- und Software zusammenhngen. Die Gegenberstellung der typischen Produktzyklen
der Energie- und Informationstechnik liefert hierzu interessante Aussagen, um die aktuellen
Mglichkeiten und Grenzen der Diagnostik energietechnischer Betriebsmittel zu bestimmen
und Hinweise fr zuknftige Entwicklungen zu gewinnen.
30.3 Anforderungen an die Online-Diagnostik aus Anwendersicht

Der Einsatz von Online-Diagnostik und Online-Monitoring befindet sich im berwiegend noch
in der Phase exemplarischer Erprobung durch die Betreiber, die so die Kosten-Nutzen-Relation
im praktischen Einsatz kennenlernen und Erfahrungen mit unterschiedlichen Systemkonzepten
gewinnen (s. z.B. [3]).
Online-Diagnosesysteme kommen i.a. an Betriebsmitteln mit erheblicher strategischer Bedeutung oder an aufflligen Betriebsmitteln, bei denen die Betriebsgeschichte eine detaillierte,
kontinuierliche Beobachtung rechtfertigt, zum Einsatz. In diesen Fllen fllt die KostenNutzen-Analyse schon heute positiv aus. Ein flchendeckender Einsatz zumindest in der
Hchstspannungsebene steht bei den momentan sehr niedrigen Fehlerraten zumindest in
Deutschland noch nicht zur Debatte.
Es bleibt abzuwarten, ob der erwartete Nutzen und die dann erfolgende Rckwirkung auf
Betriebsweisen und Instandhaltungsstrategien in Zukunft zu einem stark vermehrten Einsatz
von Online-Diagnostik fhren wird.
30.3.1 Nutzen aus Anwendersicht

30.3.1.1 Zustandsbestimmung
Die wesentliche Anforderung an die Online-Diagnostik ist die eindeutige Besttigung eines
zufriedenstellenden Istzustandes [4]. Eine Abweichung vom normalen Betriebszustand muss
zuverlssig, empfindlich und bei Online-Monitoring umgehend festgestellt werden.
Werden diese Anforderungen erfllt, ist ein zustandsabhngiges Lebensdauer-Management
mglich: die kontrollierte Ausschpfung der Restnutzungsdauer des Betriebsmittels [5].
30.3.1.2 Fehlerfrherkennung
Bei ohnehin geringen Fehlerraten soll die Online-Diagnostik zu einer noch weitgehenderen
Vermeidung von Strungen fhren. Eine mglichst frhzeitige Erkennung von Fehlern soll die
rechtzeitige Einleitung von Wartungs-, Instandhaltungs- bzw. Reparaturmanahmen ermglichen. Dadurch wrden Folgekosten und Stillstandszeiten gegenber einem Ausfall im Betrieb
drastisch reduziert und die Verfgbarkeit erhht.
Darberhinaus sollte die Online-Diagnostik Hinweise zu Fehlerart und Fehlerort liefern, um
so gezielte Manahmen einleiten zu knnen.
Die Vermeidung katastrophaler Fehler (Explosion, Feuer) wrde zudem auch das Risiko von
Personenschden weiter vermindern.
30.3 Anforderungen aus Anwendersicht
325
30.3.1.3 Optimierung der Instandhaltungsstrategien

Eine zuverlssige Zustandsbeurteilung durch Online-Diagnostik wrde den Abschied von
der zyklischen Instandhaltung und die Etablierung einer zustandsorientierten Instandhaltung
ermglichen: Revisions- und Reparaturarbeiten wrden planbar, ebenso Austausch und Reinvestitionen [6].
30.3.1.4 Lastoptimierung
Online-Temperaturmonitoring in Kombination mit entsprechenden Modellberechnungen erlaubt bei Transformatoren [7] und Kabelanlagen [8] bereits die Generierung dynamischer
berlastprognosen fr den Betrieb. Es ist zu erwarten, dass derartige Funktionen im liberalisierten Energiemarkt noch weiter an Bedeutung gewinnen.
Die Austattung von Online-Temperaturmonitoringsystemen mit Steuerungsfunktionen ermglicht bei Transformatoren beispielsweise die Optimierung der Lfterregelung oder das
Einstellen einer konstanten Betriebstemperatur bei variabler Last.
30.3.1.5 Perspektive
Die weitere Integration von Online-Monitoring-, Schutz- und Steuerungs- und Leitsystemen erscheint aus heutiger Sicht sowohl sinnvoll als auch notwendig. So knnten OnlineMonitoringsysteme bei Grenzwertberschreitung kritischer Diagnosegren die unmittelbare Abschaltung des berwachten Betriebsmittels veranlassen. Digitale Schutzsysteme
knnten ihrerseits von ihnen erfasste Betriebsgren (Strme, Spannungen) an das OnlineMonitoringsystem bermitteln. Die Integration von Steuerungssystemen wurde bereits im
vorigen Abschnitt (30.3.1.4) erwhnt.
Die Integration von Online-Monitoring in die (zentrale) Leittechnik erzwingt eine weitgehende
Verdichtung der Originaldaten, um eine Informationsberflutung zu verhindern.
Ob bei der fortschreitenden Integration erkennbare Redundanzen zu Einsparzwecken aufgegeben oder aus Sicherheitsaspekten als notwendig betrachtet und beibehalten werden, muss
sorgfltig erwogen werden.
30.3.2 Kosten
30.3.2.1 Investitionskosten
Bei der Erstinstallation von Online-Diagnosesystemen fallen Investitionskosten an, die vom
Diagnoseumfang (Anzahl der Sensoren, Erfassung nur quasi-stationrer oder auch transienter Diagnosegren) und der Analysetiefe (nur Anzeige von Messwerten oder automatische
Interpretation mit Expertensystemen usw.) bestimmt werden. Zu den Investitionskosten knnen auch die Kosten fr die Schulung des Personals und die Integration in bergeordnete
Leitsysteme gezhlt werden [9].
Unterschiede in den Investionskosten sind darber hinaus davon abhngig, ob ein OnlineDiagnosesystem an einem neuen Betriebsmittel vom Hersteller dieses Betriebsmittels installiert
wird oder ob ein altes Betriebsmittel nachtrglich mit einem Online-Diagnosesystem ausgestattet werden soll. Bei alten Betriebsmitteln sind Zusatzkosten fr die Adaption bzw. Integration
der Sensoren usw. zu erwarten.
Online-Diagnosesysteme werden z.Z. hauptschlich vom Betriebsmittelhersteller als Option,
aber auch von unabhngigen Herstellern von Mess- und Diagnosesystemen angeboten.
326
30.3.2.2 Betriebskosten
Der Betrieb von Online-Diagnosesystemen erfordert eine Reihe von Aufwendungen, die
als Betriebskosten zusammengefasst werden. Dazu zhlt die Instandhaltung des OnlineDiagnosesystems, fr die hnliche berlegungen gelten wie fr die von ihnen berwachten
Betriebsmittel. So wre eine zustandsorientierte Instandhaltung der Diagnosesysteme selbst
wnschenswert, die eine zuverlssige Selbstdiagnose voraussetzt. Die eigenstndige Meldung
von Fehlfunktionen des Diagnosesystems an eine bergeordnete Instanz (Servicetechniker oder
Leitzentrale) sollte idealerweise eine zyklische Vor-Ort-Kontrolle berflssig machen, erforderliche Wartungsintervalle maximieren und vor allem Fehlalarme oder fehlerhafte Diagnosen
des berwachten Betriebsmittels ausschlieen.
Die lngerfristigen Betriebskosten werden u.a. durch Parameter wie Robustheit, Modularitt, einfacher Austausch defekter Komponenten, einfache Erweiterbarkeit und erforderliche
Ersatzteilhaltung mitbestimmt.
Weiterhin sind die Personalkosten nicht nur fr die Instandhaltung, sondern insbesondere
fr das Bedien- und berwachungspersonal zu bercksichtigen. Bei allem Optimismus hinsichtlich der Ntzlichkeit automatisierter Beurteilungen von Diagnoseergebnissen, z.B. mit
Expertensystemen, werden weitreichende Entscheidungen vorerst die Domne menschlicher
Experten bleiben.
Offen bleibt, ob der zuknftige Anfall grerer Diagnose-Datenmengen von den Betreibern
selbst (Betriebserfahrung), durch die Hersteller der Betriebsmittel (spezifische interne Kenntnisse aus Entwicklung und Herstellung) oder ggf. durch neue, externe Dienstleister (betreiberund herstellerunabhngige Akkumulation von Interpretations-know-how) sinnvoll verarbeitet
werden kann.
30.3.2.3 Kostenminimierung
Bei erfolgreichem Einsatz der Online-Diagnostik knnen folgende Kosten vermieden bzw.
minimiert werden [10]:
ungeplante Stillstandskosten
Regressforderungen bei garantierten Leistungen
Kosten fr ungeplanten Fremdbezug von elektrischer Energie
Ersatzkosten bei schweren (vermeidbaren) Schden
30.4 Umgebungsbedingungen
Die Online-Diagnostik ist einer Reihe von Umgebungsbedingungen ausgesetzt, die sowohl
die Diagnosegren beinflussen als auch die Zuverlssigkeit und Lebensdauer einzelner
Komponenten des Diagnosesystems selbst beeintrchtigen knnen.
30.4.1 Umwelt
Temperatur, Temperaturwechsel
Luftfeuchte, Kondensation
Verschmutzung, Staub, Fremdschichten
30.5 Betriebliche elektrische Beanspruchungen
327
30.4.2 Betriebszustand
Die folgenden Last- und Schaltzustnde sollten dem Online-Diagnosesystem bekannt sein und
von diesem zustzlich zu den Diagnosegren aufgezeichnet werden, um ggf. Vergleiche von
Diagnoseergebnissen bei mglichst hnlichem Betriebszustand gewhrleisten zu knnen:
Strme und Spannungen
Wirk- und Blindleistung
Leerlauf, Volllast
Schalter ein/aus
Stufenschalterposition
Schaltzustand Lfter, Pumpen
30.4.3 Netztopologie
Bei einigen Online-Diagnoseverfahren beeinflusst die aktuelle Netztopologie u.U. die Diagnosegren. Dies gilt z.B. fr die Online-FRA (Frequency Response Analysis [11]) und die
Online-TE-Messung (Streintrag vom Netz).
30.5 Betriebliche elektrische Beanspruchungen

Gegenber der Offline-Diagnostik, bei der beispielsweise Prfspannungsquellen mit frei
stellbarer Spannung zum Einsatz kommen knnen und z.B. auch Prfungen bei erhhten
Beanspruchungen mglich sind, ist die Online-Diagnostik auf die betrieblich auftretenden
stationren und transienten elektrischen Beanspruchungen beschrnkt. Dies schrnkt die
Mglichkeiten gegenber der Offline-Diagnostik zum Teil ein.
Andererseits ermglicht nur die Online-Diagnostik Messungen unter realen Betriebsbedingungen. In der Praxis ergnzen sich deshalb Online-und Offline-Diagnoseverfahren.
30.5.1 Stationre Spannungen und Strme

Die wesentlichen elektrischen Beanspruchungen energietechnischer Betriebsmittel sind die
(quasi-stationren) Betriebsspannungen und -strme, die eine permanente elektrische und
magnetische Belastung des Betriebsmittels bewirken. Ein groer Teil der im Abschnitt 30.6
genannten Diagnosegren lassen sich als Wirkungen, die betrieblichen elektrischen Beanspruchungen als Ursachen auffassen. So versursachen Strme und Spannungen Verluste (z.B.
ohmsche Leitungsverluste, Wirbelstromverluste, ggf. Eisenverluste, dielektrische Verluste),
die summarisch zur Erwrmung des Betriebsmittels fhren.
30.5.2 Transiente Spannungen

Die Erfassung transienter Schalt- oder Blitzberspannungen fhrt im Unterschied zur Betriebspannung (50/60 Hz und Oberwellen) zu einer breitbandigen elektrischen Anregung, die z.B.
bei der Online-FRA ausgewertet wird.
328
30.5.3 Transiente Strme

Dazu zhlen Kurzschluss- und Inrushstrme, die bei Transformatoren eine erhebliche mechanische Beanspruchung der Wicklung verursachen, die indirekt zur Diagnose der Kurzschlussfestigkeit herangezogen werden kann [12].
30.6 Diagnosegren fr Online-Diagnosesysteme

In diesem Abschnitt wird ein berblick ber Diagnosegren gegeben, die sich prinzipiell
fr die Online-Diagnostik eignen und zum Teil bereits genutzt werden. Bei der Auswahl der
Diagnosegren sollte denjenigen der Vorzug gegeben werden, die einen mglichst direkten
Rckschluss auf relevante Fehlerprozesse zulassen. Weiterhin sollten diese Diagnosegren
eindeutige, reproduzierbare Messergebnisse garantieren und mglichst wenig von anderen
Diagnosegren beeinflusst werden.
Fr nicht direkt erfassbare Diagnosegren wird ersatzweise eine Modellrechnung mit anderen
Diagnosegren durchgefhrt. Dieser indirekte Zugang zu Diagnosegren ist allerdings mit
hheren Unsicherheiten (Genauigkeit der Modellierung) und i.a. hherem Aufwand verbunden.
30.6.1 Temperatur
Die Temperatur ist in doppelter Hinsicht eine wichtige Diagnosegre: die Temperatur trgt
zum einen als mittlere Temperatur zur Beschleunigung der integralen Alterung des Isoliersystems bei, als lokale bertemperatur (hot spot) kann sie zur ernsthaften Vorschdigung
begrenzter Bereiche oder sogar zum Versagen des Isoliersystems (Wrmedurchschlag) fhren.
30.6.2 Mechanische Gren

30.6.2.1 Vibrationen
Die Vibrationsanalyse gestattet z.B. die Erkennung von Lagerschden bei rotierenden Maschinen.
30.6.2.2 Gerusche
Schallemissionsanalyse
akustische TE-Messung
30.6.2.3 Krfte
Torsion
Wicklungseinspannkraft
Drehmoment, Drehmoment-Zeit-Verhalten
Federspannung
30.6 Diagnosegren fr Online-Diagnosesysteme
329
30.6.2.4 Position, Weg, Geschwindigkeit

Schalterantriebe: Weg-Zeit-Verhalten, Anzahl Schaltspiele
Stufenschalterstellung
Schaltzeiten, Schaltgeschwindigkeiten
lstand
30.6.2.5 Strmungen
Die Strmungsgeschwindigkeit ist eine wichtige Diagnosegre zur Zustandsbeurteilung von
Khlsystemen [13]. Sie lsst sich bei allen technisch blichen Khlmedien einfach bestimmen.
30.6.2.6 Druck
SF6 -Gasdichte
Dichtigkeit, Gas- oder Flssigkeitsverlust
transienter ldruck
30.6.3 Chemische Gren

Online-DGA (Dissolved Gas Analysis, Gas-in-l-Analyse) [14] [15]
Ozon in der Khlluft
Wassergehalt im l
30.6.4 Elektrische Gren

30.6.4.1 Spannungen, Strme
transiente Signale
Oberwellenanalyse
Online-FRA
s. Abschnitt 30.5
30.6.4.2 Verlustfaktor
Der dielektrische Verlustfaktor eignet sich prinzipiell als Diagnosegre fr den integralen
Isolationszustand insbesondere von l-Papier-Isoliersystemen. In der Praxis kommt die Verlustfaktormessung wegen der erforderlichen Referenzkondensatoren bei der Online-Diagnostik
nicht zum Einsatz. Messungen des kapazitiven Ableitstromes wurden zur berwachung von
Hochspannungsdurchfhrungen mit Messbelag eingesetzt.
330
30.6.4.3 Teilentladungen
Die TE-Messung stellt fr Hochspannungsisoliersysteme das empfindlichste Diagnoseverfahren zur Feststellung singulrer Schwachstellen dar und hat Eingang in praktisch alle
Prfvorschriften fr energietechnische Gerte und Systeme gefunden.
Die Online-TE-Messung hat ihre wesentliche aktuelle Bedeutung bei Betriebsmitteln, deren
Isoliersysteme TE bis zu einem gewissen Pegel tolerieren knnen und bei denen eine nennenswerte Zeit zwischen dem Auftreten von (ber dem Vor-Ort-Strpegel) detektierbaren TE und
dem Versagen des Isoliersystems liegt.
30.7 Betriebsmittel und Online-Diagnosegren

In Abschnitt 30.6 wurden mgliche Diagnosegren fr die Online-Diagnostik nach physikalischen Aspekten gegliedert. Es liegt jedoch auf der Hand, dass fr die unterschiedlichen
energietechnischen Betriebsmittel jeweils nur betriebsmittelspezifisch relevante Diagnosegren zur Anwendung kommen.
30.7.1 berspannungsableiter
Die bei berspannungsableitern vielfach eingesetzten Kontrollfunkenstrecken und Ansprechzhler knnen nicht zur Online-Diagnostik gezhlt werden, da sie nur einen begrenzten
Einblick in das bereits vergangene Ableitgeschehen, nicht aber eine aktuelle Zustandsberwachung bieten. Fr Metalloxidableiter, die im Unterschied zu Siliziumkarbidableitern mit Funkenstrecken nicht galvanisch vom Netz getrennt sind und damit einen betrieblichen Leckstrom
aufweisen, kme die Analyse dieses Leckstromes prinzipiell fr die Online-Diagnostik in
Frage. Dieser hngt jedoch u.a. von der Ableitertemperatur, ueren Ableitstrmen (Verschmutzung, Feuchtigkeit) und der Kurvenform der Betriebsspannung ab. Als direkte und
zuverlssige Diagnosegre bietet sich die Online-Temperaturberwachung des Ableiteraktivteils an, deren Anwendung bei der hohen Zuverlssigkeit von Metalloxidableitern den damit
verbundenen bisher nur in besonderen Fllen berechtigt erscheinen lsst [16].
30.7.2 Kabelanlagen
Bei Kabelanlagen muss zunchst die Spannungsebene bercksichtigt werden, da diese die
Bedeutung der Verbindung und die Kosten-Nutzen-Relation stark beeinflusst. Mittelspannungskabel sind fr den Betreiber i.a. nicht von strategischer Bedeutung, so dass eine Onlineberwachung bisher nur in Einzelfllen zur Anwendung kam. Die Zustandsbeurteilung von
Mittelspannungskabelanlagen erfolgt in aller Regel offline.
In der Hochspannungsebene bieten sich fr VPE-isolierte Kabelsysteme Temperatur- und
Wassermonitoring zur Online-Diagnose an. Mittels im Schirmbereich des Kabels integrierter
Glasfasern zur optischen, lngsaufgelsten Temperaturmessung knnen die aktuelle Kabeltemperatur berwacht, hot spots geortet und das berlastverhalten prognostiziert werden (RTTR,
Real-Time Thermal Rating). Mit einem ebenfalls im Kabelschirm angeordneten Wassersensor kann das Eindringen von Feuchtigkeit durch einen beschdigten Kabelschichtenmantel
im Betrieb erkannt und geortet werden, so dass Folgeschden bei rascher Reparatur des
Mantelfehlers minimiert werden [8].
Die kontinuierliche berwachung des Isolationszustandes von Hochspannungskabelgarnituren
kann durch Online-TE-Monitoring realisiert werden [17]. Da bisher aber kein Degradationsprozess bekannt ist, der den erheblichen Aufwand gerechtfertigt erscheinen lsst, bietet die
30.7 Betriebsmittel und Online-Diagnosegren
331
zur Inbetriebnahme durchgefhrte Spannungsprfung mit begleitender, empfindlicher TEMessung als Offline-Diagnose eine hohe Sicherheit, evtl. Fehler bei der Garniturenmontage
aufzudecken [18].
Bei l-Papier-isolierten Hochspannungskabelanlagen sind wegen des hermetisch abgeschlossenen lkreislaufs bei Einhaltung der Temperaturgrenzwerte keine nennenswerten Alterungsprozesse bekannt, die eine Online-Diagnose notwendig machen. Die betriebliche berwachung
des ldrucks sowie der Kabeltemperatur bzw. des Gasdrucks und des Korrosionsschutzes bei
Gasinnen- und Gasauendruckkabeln erscheinen aus heutiger Sicht als vllig ausreichend.
30.7.3 Schalter und Schaltanlagen

Schalter und Schaltgerte sind im Betrieb sowohl mechanischem als auch elektrischem Verschlei ausgesetzt, der mit der Anzahl und Art der Schalthandlungen (Ausschalten von Kurzschlssen, Ein- und Ausschalten unterschiedlichster Laststrme) sowie mit dem Schaltertyp
(SF6 , Vakuum, larm, Druckluft) im Zusammenhang steht.
Zur Online-Diagnostik von Schaltern und Schaltanlagen bieten sich damit einerseits Verfahren
zur berwachung des Isolationszustandes (SF6 -Gasdichte, TE [19]) und andererseits des
mechanischen Zustandes (Antrieb, Drehmoment, Hydraulikdruck bzw. Federspannung, WegZeit-Kennlinie usw.) an. Der Verschleiss der Schaltkammer bzw. des Kontaktsystems ist
nicht direkt erfassbar. Mit Hilfe von Modellrechnungen unter Einbeziehung der bei den
Schaltvorgngen gemessenen Strme und Spannungen wird versucht, indirekt auf den Zustand
zu schlieen [20].
30.7.4 Motoren und Generatoren

Neben der Temperaturberwachung und der Online-Vibrationsanalyse hat die Online-TEMessung an rotierenden Hochspannungsmaschinen eine groe Bedeutung erlangt. Die weitgehende TE-Resistenz typischer Maschinenisolierungen erzwingt nicht unbedingt eine kontinuierliche TE-berwachung (TE-Monitoring), sondern lsst je nach Wichtigkeit auch grere
zeitliche Abstnde zwischen zwei Online-TE-Messungen zu. Die TE-Muster bei rotierenden
elektrischen Maschinen sind stark temperaturabhngig und sollten deshalb unter mglichst
identischen Lastbedingungen durchgefhrt werden.
30.7.5 Transformatoren
Die Online-Diagnostik an lisolierten Leistungstransformatoren umfasst die Temperaturberwachung (inkl. Bestimmung der Heipunkttemperatur) sowie die berwachung des Isoliersystems mit Hilfe Gassensoren, Online-DGA und Sensoren zur Bestimmung der lfeuchte.
Wnschenswert wre auch das Online-TE-Monitoring, das wegen der hohen elektrischen
Strpegel zum Teil auch akustisch realisiert wird. Zur Bestimmung der Kurzschlussfestigkeit
bieten sich die Online-FRA und die Messung des transienten ldrucks an.
Die Online-Diagnose des Stufenschalters erfolgt wegen der groen Wichtigkeit und der hufigen Schaltvorgnge kontinuierlich. Das Stufenschalter-Monitoring gestattet die berwachung
des komplexen Schaltvorganges in einer Weise, dass hochkritische Fehler selbst whrend
dieses Schaltvorgangs noch zur rechtzeitigen kompletten Abschaltung des Transformators
fhren wrden.
332
30.8 Komponenten von Online-Diagnosesystemen

Ein Online-Diagnosesystem besteht aus den Komponenten Sensorik, Messwertwerfassung und
-bertragung sowie Datenverarbeitung. Die Grenzen zwischen diesen Komponenten verndern
sich durch die fortschreitende Miniaturisierung und Integration, Sensoren werden intelligent,
Signale werden digital bertragen, die Datenverarbeitung kommt nher zum Prozess [21].
30.8.1 Sensorik
Fr die Online-Diagnostik geeignete Sensoren sollten die interessierenden Diagnosegren
mglichst direkt erfassen, rckwirkungsfrei arbeiten (keine Strung des Betriebes) und eine
leichte Installation bzw. einen einfachen Tausch im Fehlerfall zulassen. Fr den Dauereinsatz
der Sensoren sollte der Langzeitstabilitt besondere Beachtung zukommen: dies bedeutet
u.a. mglichst keine Rekalibrierung bzw. bei intelligenten Sensoren Selbstkalibrierung und
Selbstdiagnose. Die erforderliche Robustheit der Sensoren wird im Abschnitt 30.9.7 behandelt.
Optische Sensoren weisen prinzipielle Vorteile auf (z.B. EMV, prinzipbedingte Potentialtrennung zum Prozess), die sich bisher nicht in der Verbreitung derartiger Sensoren spiegeln.
30.8.2 Messwertbertragung
Die Messwertbertragung erfolgt i.a. noch drahtgebunden. Im Unterschied zu binren Signalen
(z.B. Schaltzustnde), bei denen hohe Signalpegel und Eingangs-Tiefpassfilter eine weitgehend strsichere bertragung ermglichen, muss bei analogen Signalen auf eine geeignete
Schirmung bzw. auf mglichst kurze Leitungslngen geachtet werden. Durch zunehmend
intelligente Sensoren verschiebt sich die Grenze der digitalen Signalbertragung in Richtung
Sensorik. Fr die bertragung digitaler Signale bieten sich Glasfasern zur optischen Datenbertragung an. Die optische bertragung garantiert weitestgehende EMV, allerdings sollten auch
mgliche Streinkopplungen im Sende- und Empfangsteil optischer bertragungsstrecken
bercksichtigt werden.
30.8.3 Messwerterfassung
Bei der Messwerterfassung ist jedes Signal mit einem eindeutigen Zeitstempel zu versehen,
um nachtrgliche Korrelationen unterschiedlichster Diagnosegren zeitrichtig zu ermglichen. Bei der mehrkanaligen Erfassung transienter Signale (z.B. berspannungen) wre fr
detaillierte Auswertungen die Synchronitt aller erfassten Daten erforderlich.
Je nach Diagnosegre kann entweder eine kontinuierliche Aufzeichnung oder eine ereignisgetriggerte Aufzeichnung sinnvoll sein. Fr eine kontinuierliche Aufzeichnung bieten sich
Temperaturen, Effektivwerte der Betriebsspannungen und -strme und andere, quasi-stationre
oder sich nur langsam ndernde Diagnosegren an. Schnell vernderliche, aber nur kurzzeitig
auftretende Signale wie transiente berspannungen knnen nur ereignisgetriggert fr ein
kurzes Zeitintervall aufgezeichnet werden.
In Abhngigkeit von den Diagnosegren sind weiterhin die Amplituden- und Zeitquantisierung festzulegen. Die Amplitudenquantisierung wird durch Dynamik- und Genauigkeitserfordernisse bestimmt. Fr die meisten Diagnosegren erscheint eine Quantisierung mit 12 Bit
bei entsprechender Signalkonditionierung (Aussteuerung des A/D-Wandlers) als ausreichend.
Die Zeitquantisierung bzw. die Messintervalle werden ebenfalls durch die Diagnosegre
sowie durch die relevanten Zeitkonstanten determiniert. So knnen Temperaturen in Minuten-
30.9 Funktionale Anforderungen
333
intervallen digitalisiert werden, transiente berspannungen erfordern Samplingraten oberhalb

der doppelten Nyquistfrequenz.
30.8.4 Datenverarbeitung
Die Einheit zur Datenverarbeitung kann aus einer SPS, einem Industrie-PC oder einer auch
einer anderen Hardware bestehen. Die Datenverarbeitungs-Hardware sollte lokal (d.h. in
unmittelbarer Nhe des berwachten Betriebsmittels) die wichtigsten Diagnosegren zur
Anzeige bringen und eine Parametrierung der Eingangskanle, der Grenzwerte usw. gestatten.
Selbsttestroutinen sollten ebenfalls lokal aktivierbar sein. Auerdem wren Schaltkontakte
vorzusehen, die eine Abschaltung des Betriebsmittels in Schnellzeit gestatten, wenn kritische
Fehlerzustnde diagnostiziert wurden.
Die Messwerte (Rohdaten) sollten lokal gespeichert und nach einer gewissen Zeit zur Datenreduktion verdichtet oder komprimiert werden. Die lokale Speicherkapazitt sollte so bemessen
sein, dass die Rohdaten fr mindestens eine Woche unkomprimiert gespeichert werden knnen.
Die Datenverarbeitungs-Hardware sollte ber geeignete, standardisierte Schnittstellen verfgen, um leicht in bergeordnete Systeme (z.B. Leittechnik) integriert werden zu knnen.

30.9.1 Modularitt
Ersatzteilhaltung, Austauschbarkeit, Erweiterbarkeit, Redundanz
30.9.2 Schnittstellen
30.9.2.1 Analoge Schnittstellen
Stromschnittstellen fr Sensoren: DC 0. . . 20 mA oder 4. . . 20 mA (Drahtbrucherkennung)
Stromschnittstellen fr Stromwandler: AC 0. . . 1 A oder 0. . . 5 A
Spannungsschnittstellen fr Sensoren: DC 10 V
Spannungsschnittstellen fr Spannungswandler: AC 0. . . 100 V
30.9.2.2 Digitale Schnittstellen

Binre Schnittstellen: z.B. an DC 24 V, aus DC 0 V
Gerte- bzw. Sensorschnittstellen: RS232C, RS485, IEEE488 (bzw. GP-IB- oder IECBus), Ethernet, zunehmend Feldbusse [22], bisher kaum USB, Firewire
Feldbusse: Profibus, Interbus-S, Can-Bus u.a.
LAN: Ethernet & TCP/IP (optisch ber Glasfaser), OPC
334
30.9.3 Kommunikation
30.9.3.1 Kommunikation Sensor - Datenerfassung
Die Kommunikation der Sensoren mit dem Diagnosesystem erfolgt drahtgebunden, optisch
(Glasfaser) oder ber Funk (WLAN, Bluetooth).
30.9.3.2 Fernberwachung und -steuerung

Die Mglichkeit zur Fernberwachung und -steuerung ist unabdingbarer Bestandteil von
Online-Diagnosesystemen, um die Integration in bergeordnete berwachungs- oder Leitsysteme zu garantieren. Zustzlich ist so die Fernwartung des Online-Diagnosesystems mglich.
30.9.3.3 Integration in die Leittechnik

Zur Sicherstellung langfristiger Stabilitt der Kommunikation wurde der Standard IEC 61850
(Communication networks and systems in substations) geschaffen [23]. Dieser Standard
dient vorrangig der Integration von Schutz-, Steuerungs- und berwachungssystemen innerhalb der Stationsautomatisierung, indem er Kommunikationsmechanismen, Netzwerke
und Datenmodelle spezifiziert. Dadurch eignet sich dieser offene Standard auch, um fr
Online-Diagnosesysteme kompatible Schnittstellen zu definieren.
30.9.4 Benutzerschnittstelle
Die Anforderungen an die Benutzerschnittstellen von Online-Diagnosesystemen werden durch
den Nutzertyp bestimmt. Der Inbetriebnahme- bzw. Wartungsspezialist bentigt einen vollstndigen Zugriff auf die Parametrisierung, die direkten Messdaten am Eingang und die erforderlichen Testroutinen. Der Nutzer in der Leitwarte fordert von einem Online-Diagnosesystem
grtmglichste Verdichtung der Information, die nahtlose Integration in bersichtsdarstellungen von mehreren berwachten Betriebsmitteln, die Priorisierung von Alarmmeldungen usw.
Der Betriebsmittelspezialist braucht wiederum den Zugang zu Detailinformationen, ggf. mit
hoher zeitlicher Auflsung, um detaillierte Bewertungen der Online-Diagnose durchfhren zu
knnen.
30.9.5 Datenverarbeitung
Synchronitt aller erfassten Daten, Zeitstempel
Datenreduktion, Datenkomprimierung
Datenbank, Datenarchivierung [24]
30.9.6 Interpretation
Um eine zuverlssige Interpretation der Diagnoseergebnisse zu gewhrleisten, sollten folgende
Aspekte einbezogen werden:
335
Erkennung von Anomalien

Bercksichtigung von physikalischen Zusammenhngen (z.B. Gasgehalt und ltemperatur)
Korrelationen, Trendverhalten, datenbankbasierte Vergleiche mit gleichen Betriebsmitteln
Bercksichtigung von Offline-Diagnosen, Umwelt- und Betriebszustnden [25]
Beobachtbarkeit von sich anbahnenden Fehlern (Unterschied zwischen direkten und
indirekte Verfahren, z.B. Heitemperatur-Bestimmung aus Modellrechnungen)
30.9.6.1 Prognose
Mit Hilfe von Modellen werden indirekte Diagnosegren bestimmt und Prognosen mglich.
Folgende Teilmodelle kommen zum Einsatz:
Alterungsmodelle (Temperatureinfluss bei l-Papier-Isoliersystemen)
Verschleismodelle (Schaltanzahl, Lichtbogenzeiten, Kurzschlussstrme bei Leistungsschaltern)
berlastmodelle (thermische Reserve, Real-Time Thermal Rating)
30.9.6.2 Entscheidungsfindung
Die Interpretation der Online-Diagnoseergebnisse muss letztendlich zu einer Entscheidung
fhren [26]:
Normalbetrieb, alles in Ordnung
Abweichung vom Normalbetrieb, weiterer Betrieb bei genauerer Beobachtung, Verkrzung von Wartungs- und Instandhaltungsintervallen, ggf. zustzliche Offline-Diagnosen
kritischer Zustand, sofortige Abschaltung zur Vermeidung katastrophaler Fehler
30.9.7 Robustheit
In Abhngigkeit von der Nhe der Komponenten zum Prozess (Betriebsmittel) mssen die
Umweltbedingungen und die Umgebungsmedien bercksichtigt werden.
30.9.7.1 Umgebungsklima
Temperatur, kondensierende Feuchte, Salznebel, Korrosion
30.9.7.2 Mechanische Bestndigkeit

Vibrationen (bei Transformatoren und rotierenden Maschinen), Erschtterung (bei Schaltgerten)
336
30.9.7.3 Chemische Bestndigkeit

Umgebungsmedien der Sensoren (Luft, SF6 unter Druck, heies l), Bestndigkeit aller
verwendeten Materialien
30.9.7.4 EMV
elektrische und magnetischer Felder, Schalt- und Blitzberspannungen, VFT bei SF6 Trennerschaltungen, Mobiltelefone
30.9.8 Zuverlssigkeit
Die Zuverlssigkeit eines Online-Diagnosesystems sollte idealerweise hher sein als die des
zu diagnostizierenden Betriebsmittels. Beim heutigen technischen Stand kann eher vom umgekehrten Zustand ausgegangen werden: energietechnische Systeme sind bedeutend zuverlssiger
als informationstechnische Systeme.
Demzufolge mssen Diagnosesysteme umfangreiche Selbsttests durchfhren, um Fehlfunktionen des Diagnosesystems sofort zu erkennen und Fehlalarme zu vermeiden. Dies erfordert bei
besonders wichtigen Betriebsmitteln u.U. redundante Komponenten oder Systeme.
30.9.9 Lebensdauer
Die im Vergleich zur Energietechnik sehr kurzen Innovationszyklen der Informationstechnik
sowohl bei Hard- als auch bei Software verursachen beim langfristigen Einsatz digitaler
Systeme zur berwachung energietechnischer Betriebsmitte eine Reihe von kritischen Fragen.
Erfahrungen liegen in Teilbereichen, z.B. durch den zunehmenden Einsatz digitaler Schutzgerte vor. Erforderliche Softwareupdates in kurzen Intervallen oder ggf. neue Hardware
relativieren die Vorteile gegenber konventieller Schutztechnik.
Es ist zu erwarten, dass Online-Diagnosesysteme hnlichen Regeln unterworfen sind. Erschwerend kommt gegenber der digitalen Schutztechnik hinzu, dass die Datenintegritt
ber sehr lange Zeitrume gewhrleistet werden muss, um Trendanalysen oder differientielle
Zustandsbeurteilungen auch noch nach Jahrzehnten zu ermglichen.
Die unterschiedlichen Lebensdauern und Innovationszyklen bei Energietechnik und Informationstechnik fhren aller Wahrscheinlichkeit nach zu einem mehrfachen Ersatz aller informationstechnischen Komponenten des Diagnosesystems whrend der Lebensdauer des
berwachten energietechnischen Betriebsmittels.
Neben einer modulare Systemarchitektur ist deshalb die Standardisierung von Datenmodellen
und Schnittstellen erforderlich, um eine hohe Langlebigkeit der Diagnosefunktionen unabhngig von der jeweiligen gertetechnischen Realisierung (Hard- und Software) zu gewhrleisten.
Kapitel 31
Monitoring an Leistungstransformatoren
Abb. 31.1: Leistungstransformator
337
Kapitel 32
Monitoring an Hochspannungskabelgarnituren
339
Kapitel 33
Monitoring an gasisolierten Schaltanlagen
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
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Technologies in the Electricity Transmission Industry. In: AUPEC. Australasian
Universities Power Engineering Conference. Melbourne, 2002.
Teil IX
Anhang
Kapitel 34
IEC-Normen
34.1 Querschnittsnormen
Norm
Ed. Status Datum Bezeichnung
IEC 60038
6.2
IEC 60052-1
2002-07 IEC standard voltages

2002
Voltage measurements by means of standard

air gaps
IEC 60060-1
2.0
1989-11 High voltage test techniques Part 1: General

definitions and test requirements
IEC 60060-1
3.0 CD
2006-04 High voltage test techniques Part 1: General

definitions and test requirements
IEC 60060-2
2.0
1994-11 High voltage test techniques Part 2: Measuring systems
IEC 60060-2-A1 2.0
1996-03 am1
IEC 60060-2
3.0 CD
2007-01 High voltage test techniques Part 2: Measuring systems
IEC 60060-3
1.0
2006
IEC 60071-1
8.0
2006-01 Insulation co-ordination Part 1: Definitions,

principles and rules
IEC 60071-2
3.0
1996-12 Insulation co-ordination Part 2: Application

guide
IEC 60270
3.0
2000-12 High-voltage test techniques Partial discharge

measurements
IEC 61083-1
2.0
2001-06 Instruments and software used for measurement in high-voltage impulse tests Part 1:
Requirements for instruments
IEC 61083-2
1.0
1996-07 Digital recorders for measurement in highvoltage impulse tests Part 2: Evaluation of
software used for the determination of the parameters of impulse waveforms
IEC 61083-2
2.0 CD
2006-04 Instruments and software used for measurements in high-voltage impulse test Part 2:
Requirements for software
High voltage test techniques Part 3: Definitions and requirements for on-site tests
345
346
34 IEC-Normen
Norm
IEC 61934 TS
1.0
2006-03 Electrical insulating materials and systems

Electrical measurement of partial discharges
(pd) under short rise time and repetitive voltage
impulses
IEC 62475
1.0 CD
2007-03 High current test techniques: General definitions and test requirements, measuring systems
IEC 42/198
1.0 NP
2006-10 Measurement of PD by electromagnetic (e.g.

UHF) and acoustic methods
ISO/IEC 17025 2.0
2005-08 General requirements for the competence of

testing and calibration laboratories
Table 34.1: Querschnittsnormen
34.2 Produktnormen
34.2.1 Kabelnormen
Norm
IEC 60055-1
5.1
2005-05 Paper-insulated metal-sheathed cables for rated

voltages up to 18/30 kV (with copper or aluminium conductors and excluding gas-pressure
and oil-filled cables) Part 1: Tests on cables
and their accessories
IEC 60141-1
3.0
1993-08 Tests on oil-filled and gas-pressure cables and

their accessories Part 1: Oil-filled, paperinsulated, metal-sheathed cables and accessories for alternating voltages up to and including 400 kV
IEC 60141-1-A1 3.0
1995-02 am1
IEC 60141-1-A2 3.0
1998-08 am2
IEC 60228
3.0
2004-11 Conductors of insulated cables
IEC 60502-1
2.0
2004-04 Power cables with extruded insulation and their

accessories for rated voltages from 1 kV (Um
= 1,2 kV) up to 30 kV (Um = 36 kV) Part 1:
Cables for rated voltages of 1 kV ((Um = 1,2
kV) and 3 kV (Um = 3,6 kV)
IEC 60502-2
2.0

= 1,2 kV) up to 30 kV (Um = 36 kV) Part 2:
Cables for rated voltages from 6 kV (Um = 7,2
kV) up to 30 kV (Um = 36 kV)
34.2 Produktnormen
347
Norm
IEC 60502-4
2.0

= 1,2 kV) up to 30 kV (Um = 36 kV) Part
4: Test requirements on accessories for cables
with rated voltages from 6 kV (Um = 7,2 kV)
up to 30 kV (Um = 36 kV)
IEC 60840
3.0

accessories for rated voltages above 30 kV (Um
= 36 kV) up to 150 kV (Um = 170 kV) Test
methods and requirements
IEC 60859 TS
2.0
IEC 60859 TS
IEC 60859 TS
2.0
2.0
1999-07 Cable connections for gas-insulated metalenclosed switchgear for rated voltages of 72,5
kV and above Fluid-filled and extruded insulation cables Fluid-filled and dry type cableterminations
2000-02 Corrigendum 1
IEC 60986
2.0
2000-10 Short-circuit temperature limits of electric cables with rated voltages from 6 kV (Um = 7,2
kV) up to 30 kV (Um = 36 kV)
IEC 61238-1
2.0
2003-05 Compression and mechanical connectors for

power cables for rated voltages up to 30 kV
(Um = 36 kV) Part 1: Test methods and
requirements
IEC 61443
1.0
1999-07 Short-circuit temperature limits of electric cables with rated voltages above 30 kV (Um = 36
kV)
IEC 62067
1.1

accessories for rated voltages above 150 kV
(Um = 170 kV) up to 500 kV (Um = 550 kV)
Test methods and requirements
Table 34.2: Kabelnormen
34.2.2 Trafonormen
Norm
IEC 60076-1
2.1
2000-04 Power transformers Part 1: General
IEC 60076-2
2.0
1993-04 Power transformers Part 2: Temperature rise
IEC 60076-3
2.0
2000-03 Power transformers Part 3: Insulation levels,

dielectric tests and external clearances in air
IEC 60076-4
1.0
2002-06 Power transformers Part 4: Guide to the lightning impulse and switching impulse testing
Power transformers and reactors
348
34 IEC-Normen
Norm
IEC 60076-5
3.0
2006-02 Power transformers Part 5: Ability to withstand short circuit
IEC 60076-6
1.0
2007-12 Power transformers Part 6: Reactors
IEC 60076-7
1.0
2005-12 Power transformers Part 7: Loading guide for

oil-immersed power transformers
IEC 60076-8
1.0
1997-10 Power transformers Part 8: Application guide
IEC 60076-10
1.0
2001-05 Power transformers Part 10: Determination

of sound levels
2005-10 Power transformers Part 10-1: Determination
of sound levels Application guide
IEC 60076-10-1 1.0

IEC 60076-11
1.0
2004-05 Power transformers Part 11:

transformers
Dry-type
IEC 60076-12
1.0
2008-11 Power transformers Part 12: Loading guide

for dry-type power transformers
IEC 60076-13
1.0
2006-05 Power transformers Part 13: Self-protected

liquid filled transformers
IEC 60076-14
2.0
2009-05 Power transformers Part 14: Design and application of liquid-immersed power transformers
using high-temperature insulation materials
IEC 60076-15
1.0
2008-02 Power transformers Part 15: Gas-filled power

transformers
IEC 60214-1
1.0
2003-02 Tap-changers Part 1: Performance requirements and test methods
IEC 61378-1
1.0
1997-09 Convertor transformers - Part 1: Transformers

for industrial applications
IEC 61378-2
1.0
2001-02 Convertor transformers - Part 2: Transformers

for HVDC applications
IEC 61378-3
1.0
2006-04 Convertor transformers - Part 3: Application

guide
Table 34.3: Trafonormen
34.2.3 Wandlernormen
Norm
IEC 60044-1 1.2

IEC 60044-1 2.0 CD
2003-02 Instrument transformers Part 1: Current

transformers
2005-04 Instrument transformers Part 1: Current
transformers
IEC 60044-2 1.1
2000-11 Instrument transformers Part 2: Inductive

voltage transformers
IEC 60044-3 2.0
2002-12 Instrument transformers Part 3: Combined

transformers
34.2 Produktnormen
Norm
349
IEC 60044-5 1.0
2004-04 Instrument transformers Part 5: Capacitor

IEC 60044-6 1.0
1992-03 Instrument transformers Part 6: Requirements for protective current transformers for
transient performance
IEC 60044-7 1.0
1999-12 Instrument transformers Part 7: Electronic

IEC 60044-8 1.0
2002-07 Instrument transformers Part 8: Electronic

current transformers
Table 34.4: Wandlernormen
34.2.4 Maschinennormen
Norm
IEC 60034-27 TS 1.0
2006-12 Rotating electrical machines Part 27: Offline partial discharge measurements on the stator winding insulation of rotating electrical
machines
Table 34.5: Maschinennormen
34.2.5 Niederspannungsschalternormen
Norm
IEC 60439-1 4.1
2004-04 Low-voltage switchgear and controlgear assemblies Part 1: Type-tested and partially typetested assemblies
IEC 60439-2 3.1
2005-10 Low-voltage switchgear and controlgear assemblies Part 2: Particular requirements for busbar trunking systems (busways)
IEC 60439-3 1.2
2001-05 Low-voltage switchgear and controlgear assemblies Part 3: Particular requirements for lowvoltage switchgear and controlgear assemblies
intended to be installed in places where unskilled persons have access for their use Distribution boards
IEC 60439-4 1.2
1999-07 Low-voltage switchgear and controlgear assemblies Part 4: Particular requirements for assemblies for construction sites (ACS)
350
34 IEC-Normen
Norm
IEC 60439-5 1.1
1998-10 Low-voltage switchgear and controlgear assemblies Part 5: Particular requirements for
assemblies intended to be installed outdoors
in public places Cable distribution cabinets
(CDCs) for power distribution in networks
IEC 60898-1 1.1
2002-08 Circuit-breakers for overcurrent protection for

household and similar installations Part 1:
Circuit-breakers for a.c. operation
IEC 60898-2 1.1
2003-07 Circuit-breakers for overcurrent protection for

household and similar installations Part 2:
Circuit-breakers for a.c. and d.c. operation
IEC 60947-1 4.0
2004-03 Low-voltage switchgear and controlgear Part

1: General rules
IEC 60947-2 3.0
2003-04 Low-voltage switchgear and controlgear Part

2: Circuit-breakers
IEC 60947-3 2.1
2001-05 Low-voltage switchgear and controlgear

Part 3: Switches, disconnectors, switchdisconnectors and fuse-combination units
Table 34.6: Niederspannungsschalternormen
34.2.6 Hochspannungsschalternormen
Norm
IEC 60265-1
3.0
1998-01 High-voltage switches Part 1: Switches for

rated voltages above 1 kV and less than 52 kV
IEC 60427
3.0
2000-04 Synthetic testing of high-voltage alternating

current circuit-breakers
IEC 60694
2.2
2002-01 Common specifications for high-voltage

switchgear and controlgear standards
IEC 62271-1
1.0
2007-10 High-voltage switchgear and controlgear Part

1: Common specifications
IEC 62271-100
2.0

100: Alternating current circuit-breakers
IEC 62271-101
1.0

101: Synthetic testing
IEC 62271-102
1.0
IEC 62271-102
IEC 62271-102
IEC 62271-102
1.0
1.0
1.0

102: High-voltage alternating current disconnectors and earthing switches
34.2 Produktnormen
351
Norm
IEC 62271-104
1.0
2009-04 High-voltage switchgear and controlgear - Part

104: Alternating current switches for rated voltages of 52 kV and above
IEC 62271-105
1.0
2002-08 High-voltage switchgear and controlgear

Part 105: Alternating current switch-fuse
combinations
IEC 62271-107
1.0

107: Alternating current fused circuit-switchers
for rated voltages above 1 kV up to and including 52 kV
IEC 62271-108
1.0

108: High-voltage alternating current disconnecting circuit-breakers for rated voltages of
72,5 kV and above
IEC 62271-109
2.0

109: Alternating-current series capacitor bypass switches
IEC 62271-110
2.0

110: Inductive load switching
IEC 62271-200
1.0

200: AC metal-enclosed switchgear and controlgear for rated voltages aband including 52
kV
IEC 62271-201
1.0

201: AC insulation-enclosed switchgear and
controlgear for rated voltages above 1 kV and
up to and including 52 kV
IEC 62271-202
1.0

202: High-voltage/low voltage prefabricated
substation
IEC 62271-203
1.0

203: Gas-insulated metal-enclosed swithgearfor rated voltages above 52 kV
IEC 62271-205
1.0

205: Compact switchgear assemblies for rated
voltages above 52 kV
IEC 62271-207
1.0

207: Seismic qualification for gas-insulated
switchgear assemblies for rated voltages above
52 kV
IEC 62271-209
1.0

209: Cable connections for gas-insulated metalenclosed switchgear for rated voltages above 52
kV - Fluid-filled and extruded insulation cables
- Fluid-filled and dry-type cable-terminations
IEC 62271-305
1.0 CD

305: Cable connections for gas-insulated metalenclosed switchgear for rated voltages of 72,5
kV and above - Fluid-filled and extruded insulation cables - Fluid-filled and dry type cableterminations
352
34 IEC-Normen
Norm
IEC 62271-308 TR 1.0

308: Guide for asymmetrical short-circuit
breaking test duty T100a
Table 34.7: Hochspannungsschalternormen
34.2.7 Ableiternormen
Norm
IEC 60099-1
3.1
1999-12 Surge arrester Part 1: Non-linear resistor type

gapped surge arresters for a.c. systems
IEC/TR 60099-3 1.0
1990-09 Surge arrester Part 3: Artificial pollution testing of surge arresters
IEC 60099-4
2.2
2009-05 Surge arrester Part 4: Metal-oxide surge arresters without gaps for a.c. systems
IEC 60099-6
1.0
2002-08 Surge arrester Part 6: Surge arresters containing both series and parallel gapped structures Rated 52 kV and less
Table 34.8: Ableiternormen
34.2.8 Kondensatornormen
Norm
IEC 60110-1 1.0
1998-06 Power capacitors for induction heating installations Part 1: General
IEC 60110-2 1.0
2000-02 Power capacitors for induction heating installations Part 2: Ageing test, destruction test and
requirements for disconnecting internal fuses
IEC 60143-2 1.0
1994-07 Series capacitors for power systems Part 2:

Potective equipment for series capacitor banks
IEC 60358
1990-05 Coupling capacitors and capacitor dividers
2.0
Table 34.9: Kondensatornormen
34.2 Produktnormen
353
34.2.9 Durchfhrungsnormen
Norm
IEC 60137 6.0
2008-07 Insulated bushings for alternating voltages

above 1000 V
Table 34.10: Durchfhrungsnormen
34.2.10 Isolatorennormen
Norm
IEC 61462 1.0
2007-02 Composite hollow insulators - Pressurized and

unpressurized insulators for use in electrical
equipment with rated voltage greater than 1
000 V - Definitions, test methods, acceptance
criteria and design recommendations
IEC 62155 1.0
2003-05 Hollow pressurized and unpressurized ceramic

and glass insulators for use in electrical equipment with rated voltages greater than 1000 V
Table 34.11: Isolatorennormen
34.2.11 Sicherungsnormen
Norm
IEC 60269-1 4.1
2009-07 Low-voltage fuses Part 1:

requirements
IEC 60269-2 3.0
2006-11 Low-voltage fuses Part 2: Supplementary requirements for fuses for use by authorized persons (fuses mainly for industrial application)
2006-11 Low-voltage fuses Part 3: Supplementary
requirements for fuses for use by unskilled persons (fuses mainly for household and similar
application)
IEC 60269-3 3.0
General
IEC 60269-4 5.0
2009-05 Low-voltage fuses Part 4: Supplementary

requirements for fuse-links for the protection
of semiconductor devices
IEC 60282-1 7.0
2009-10 High-voltage fuses Part 1: Current-limiting

fuses
IEC 60282-2 3.0
2008-04 High-voltage fuses Part 2: Expulsion fuses
354
34 IEC-Normen
Norm
Table 34.12: Sicherungsnormen
34.2.12 Konverternormen
Norm
IEC 60146-1-1 4.0
2009-06 Semiconductor converters General requirements and line commutated converters - Part
1-1: Specification of basic requirements
IEC 60146-2
1999-11 Semiconductor converters Part 2: Selfcommutated semiconductor converters including direct d.c. converters
2.0
Table 34.13: Konverternormen
34.3 Umwelt- und Materialnormen

Norm
IEC 60068-2-9 1.0
1975-01 Basic environmental testing procedures Part

2: Tests. Guidance for solar radiation testing
IEC 60068-2-11 3.0
1981-01 Basic environmental testing procedures Part

2: Tests. Test Ka: Salt mist
IEC 60376
2.0
2005-06 Specification of technical grade sulfur hexafluoride (SF6 ) for use in electrical equipment
IEC 60529
2.1
2001-02 Degrees of protection by enclosures (IP Code)
IEC 60587
3.0
2007-05 Electrical insulating materials used under severe ambient conditions - Test methods for evaluating resistance to tracking and erosion
IEC 60672-2
2.0
1999-12 Ceramic and glass insulating materials Part

2: Methods of test
IEC 60672-3
2.0
1997-10 Ceramic and glass insulating materials Part

3: Specifications for individual materials
IEC 60815-1
1.0
2008-10 Selection and dimensioning of high-voltage insulators intended for use in polluted conditions
- Part 1: Definitions, information and general
principles
34.3 Umwelt- und Materialnormen
355
Norm
IEC 60815-2
1.0
- Part 2: Ceramic and glass insulators for a.c.
systems
IEC 60815-3
1.0
- Part 3: Polymer insulators for a.c. systems
IEC 60846-1
1.0
2009-04 Radiation protection instrumentation - Ambient

and/or directional dose equivalent (rate) meters
and/or monitors for beta, X and gamma radiation - Part 1: Portable workplace and environmental meters and monitors
IEC 60846-2
1.0
2007-07 Radiation protection instrumentation - Ambient

and/or directional dose equivalent (rate) meters
and/or monitors for beta, X and gamma radiation - Part 2: High range beta and photon dose
and dose rate portable instruments for emergency radiation protection purposes
Table 34.14: Umwelt- und Materialnormen
Liste der noch zu erledigenden Punkte

Bild 8.6 und 8.7 neu zeichnen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
Bild 10.6 neu zeichnen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
Bild 11.10 neu zeichnen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
Bild 11.13 neu zeichnen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122
Quasi-Integration im Frequenzbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164
Bild 21.4 neu zeichnen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 168
bersetzen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
Abbildung: 21.30 TE-Trend bei DC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
Abbildung: 21.31 Digitales TE-Messsystem (vereinfacht) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
Abbildung: 21.33 Modernes digitales TE-Messsystem (vereinfacht) . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
Abbildungsverzeichnis
1.1
bersicht Prfarten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2
bersicht Vor-Ort-Prfungen an Kabelanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.1
bersicht Prfspannungsarten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2
bersicht Prfstromartenarten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.1
400 kV-VPE-Kabel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
3.2
GIL - Gasiolierter Rohrleiter von innen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
3.3
GIL - Gasiolierter Rohrleiter im Tunnel (links), Aufbau (rechts) . . . . . . . . . . . 16
3.4
ltransformator im Prffeld . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3.5
Trockentransformator (Aufbau) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
3.6
850 kV-HG-Transformator im Prffeld, Siemens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
3.7
Widerstands- und bersetzungsmessgert Schuetz Messtechnik Typ

MRC 7100 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
3.8
Phasenanwahlgert Schuetz Messtechnik Typ PAW 7100 . . . . . . . . . . . . . . . . 20
3.9
Leistungsmesssystem Haefely TMS 580 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
3.10
400 kV-Kompensationsdrossel, Siemens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.11
TFH-Sperrdrossel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
3.12
500 kV-HG-Glttungsdrossel, Siemens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
3.13
Direkte Prfung des Schaltvermgens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.14
Schaltungsvarianten des Siemens-Stoleistungsgenerators . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.15
Stokurzschlusstransformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.16
Schaltungsvarianten der Stokurzschlusstransformatoren im Siemens

Schaltwerk Berlin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
3.17
Elementarschaltplan der synthetische Prfschaltung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
3.18
Synthetische Prfschaltung nach F. Weil und G. Dobke . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
3.19
Synthetische Prfschaltung nach E. Slamecka (Siemens-Schaltung) . . . . . . . . 28
3.20
Vereinfachter Ersatzschaltplan der Siemens-Schaltung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
3.21
Arbeitsprfung von Ableitern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
4.1
Kalibrierhierarchie in Deutschland . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
4.2
Kalibrierhierarchie aus Sicht eines Herstellers . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36

357
358
4.3
Aufgaben der PTB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
5.1
Der Normendschungel - Beispiel Telekomunikation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
5.2
Die Welt der Normung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
5.3
Zusammenarbeit ISO-CEN und IEC-CENELEC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
5.4
IEC - Projekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
5.5
IEC - Zeitablauf . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
5.6
IEC - Optionen im Projektablauf . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
5.7
Mitgliedslnder von CENELEC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
5.8
Organistation von CENELEC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
5.9
DKE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
5.10
Werdegang einer DIN-Norm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
5.11
IEEE - Organisation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
5.12
CIGRE - Organisation seit 2002 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
5.13
CIGRE-Aktivitten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
5.14
CIGRE-Struktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
6.1
Ersatzschaltbild Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
6.2
Ersatzschaltbild kapazitiver Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
6.3
Pressgaskondensatoren 5. . . 800 kV (Haefely) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
6.4
Kapazitiver Spannungsteiler mit verteilten Erdkapazitten A . . . . . . . . . . . . . . 63
6.5
Kapazitiver Spannungsteiler mit verteilten Erdkapazitten B . . . . . . . . . . . . . . 64
6.6
Scheitelwertmessung nach Davis, Bowdler und Standring . . . . . . . . . . . . . . . . 65
6.7
Zur Erluterung der Aufladung des Kondensators . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
6.8
Zweiwegschaltung nach Rabus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
6.9
Zweiwegschaltung, Bauart Siemens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
6.10
Peakvoltmeter Haefely DMI551 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
6.11
Blockschaltbild Peakvoltmeter Haefely 51 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
6.12
Peakvoltmeter Highvolt MU17 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
6.13
Blockschaltbild Peakvoltmeter Highvolt MU16 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
7.1
Ohmscher Vorwiderstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
7.2
Ohmscher Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
7.3
Streukapazitten beim ohmschen Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
7.4
Einflu der Streukapazitten beim ohmschen Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
7.5
Schutzschaltung beim ohmschen Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
8.1
Stospannungsmesskreis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
8.2
Messaufbau zur Ermittlung der transienten bertragungseigenschaften . . . . . 76
8.3
Rechteckstoantwort eines 2,4MV-Stospannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
8.4
Frequenzgang des Prfspannungsfaktors k(f ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
8.5
Stospannungsteilertypen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
359
8.6
Anwendung der Stospannungsteilertypen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
8.7
Frequenzspektren voller und abgeschnittener Blitzstospannungen . . . . . . . . . 80
8.8
Ohmscher Spannungsteiler mit verteilten Erd- und Parallelkapazitten . . . . . . 80
8.9
Berechnete Sprungantwort ohmscher Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
8.10
Kapazitiv gesteuerter ohmscher Teiler 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
8.11
Kapazitiv gesteuerter ohmscher Teiler 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
8.12
Dmpfungswiderstand in der Teilerzuleitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
8.13
Gedmpft-kapazitiver Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
8.14
bergangsfunktion rein kapazitiver Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
8.15
bergangsfunktion fr gedmpft kapazitive Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . 84
8.16
Sprungantwort eines optimal gedmpft kapazitiven Spannungsteilers . . . . . . . 85
8.17
Sprungantwort eines optimal gedmpft kapazitiven Spannungsteilers . . . . . . . 85
8.18
Spannungsanstiegs beim optimal gedmpften kapazitiven Spannungsteiler . . 86
8.19
Rckwirkung ohne Belastungskapazitt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 86
8.20
Ersatzschaltbild zur Bestimmung des Spannungsanstiegs beim schwach

gedmpften kapazitiven Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
8.21
Einflu von Widerstand und Induktivitt im Niederspannungsteil . . . . . . . . . . 87
8.22
Induktivittsarmer Aufbau des Niederspannungsteils . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
8.23
Ersatzschaltbild Universalteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
8.24
Universalteiler - Aufbau TUB-IHS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
8.25
Kabel- und Messgerteanschluss ohmscher Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
8.26
Kabel- und Messgerteanschluss kapazitiver Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
8.27
Kabel- und Messgerteanschluss gedmpft kapazitiver Teiler . . . . . . . . . . . . . 91
8.28
Burch-Abschluss als Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
8.29
Schaltung zur Scheitelwertmessung von Stospannungen . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
8.30
Scheitelspannungsmesseinrichtung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
8.31
Grundstzlicher Aufbau eines digitalen Speichersystems . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
8.32
Digitale Abtastung eines analogen Signals . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
8.33
Stospannungsmesssystem Haefely HIAS 743 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
8.34
Stospannungsmesssystem Dr. Strauss TR-AS 100-12 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
8.35
Einfluss der Auflsung eines A/D-Wandlers . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
8.36
Abtastfehler eines Digitizers . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
8.37
Integrale Nichtlinearitt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
8.38
Differentielle Nichtlinearitt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
9.1
Zeitparameter Exponential-Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
9.2
Zeitparameter Langwellen-Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107
10.1
Stostromkreis mit kapazitivem Energiespeicher . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
10.2
Einfluss der Dmpfung auf die Stostrom-Kurvenform . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
10.3
Impulsstrom-Generator, Fa. Haefely . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
360
10.4
Impulsstrom-Generator 200 kA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
10.5
Wellenleiter zur Erzeugung von Rechteck-Stostrmen A . . . . . . . . . . . . . . . . 112
10.6
Wellenleiter zur Erzeugung von Rechteck-Stostrmen B . . . . . . . . . . . . . . . . 113
10.7
Kettenleiter zur Erzeugung von Rechteck-Stostrmen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
10.8
Impulsstrom-Generator fr Rechteck-Stostrme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
11.1
Strommesssystem mit Messwiderstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
11.2
Strommesssystems ohne Bercksichtigung der Stromverdrngung . . . . . . . . . 115
11.3
berlagerung des ohmschen und induktiven Anteils im Messsignal . . . . . . . . 116
11.4
Bifilarer Messwiderstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
11.5
Koaxialer Rohrwiderstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
11.6
Koaxialer Rohrwiderstand Ofenrohr, Fa. IPH . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
11.7
Schnelle koaxialer Rohrwiderstnde, Fa. Hilo Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
11.8
Langsamer Reusenwiderstand, Fa. IPH . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
11.9
Koaxialer Reusenwiderstand, Fa. IPH . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
11.10 Ersatzschaltbild Reusenwiderstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120

11.11 Koaxialer Flchenshunt, Fa. IPH . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121
11.12 Prinzip einer Rogowski-Spule . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121
11.13 Integrator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122
11.14 Strminimierung bei Messungen mit Rogowski-Spulen . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
12.1
Entladen eines auf 100 kV aufgeladenen Kondensators . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
13.1
Beeinflussungsmechanismus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129
14.1
berblick Strquellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
14.2
Kommunikationssender . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132
14.3
Belegung der Frequenzbnder durch Kommunikationssender . . . . . . . . . . . . . 132
17.1
Netzfilter Fa. Siemens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139
17.2
Anschluss Kabelschirm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
17.3
Schematische Darstellung eines Stostromentladekreises . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
17.4
Aufbau Triaxial-Kabel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
17.5
Ferrite zur Erhhung der Kabelmantelimpedanz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
17.6
berblick Strfestigkeitsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
17.7
Auszug aus einer EMV-Spezifikation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
18.1
TE-berblick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150
18.2
TE-Fehlstellen in Gasen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
18.3
TE-Fehlstellen in Flssigkeiten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
18.4
TE-Fehlstellen in Feststoffen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
18.5
TE-Klassifikation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 152
361
18.6
Polarittseffekt bei ueren TE durch Raumladungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153
18.7
Hohlraumentladung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
18.8
electrical trees in Plexiglas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155
19.1
TE-Impuls bei electrical treeing in PE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
19.2
Akustischer TE-Impuls in l im Zeitbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
19.3
Akustischer TE-Impuls in l im Frequenzbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
19.4
Spannungsabhngigkeit der EL-Intensitt bei LDPE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
19.5
Spannungsabhngigkeit der EL-Spektren bei LDPE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160
19.6
TE-Lichtemissionsspektrum in SF6 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160
19.7
TE-Lichtemissionsspektrum in l . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161
19.8
Spannungsabhngigkeit des TE-Lichtemissionsspektrums in l . . . . . . . . . . . 161
19.9
Lichterscheinungen bei electrical treeing in Plexiglas (Aufnahme mit

Restlichtverstrker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161
19.10 Korona- und Tageslicht-Spektrum (Korona 100-mal verstrkt) . . . . . . . . . . . . 162

19.11 Doppelexponentialimpulse im Zeitbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
19.12 Doppelexponentialimpulse im Frequenzbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164
19.13 Impulsantwort Hochpass-Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165
20.1
TE-Messung berblick . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
20.2
abc-Ersatzschaltbild . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 168
20.3
Spannungsverlauf bei Erreichen der Hohlraum-Zndspannung . . . . . . . . . . . . 168
20.4
Umladung nach Verlschen der TE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
20.5
Lokale Feldberhhung in Abhngigkeit der Hohlraumgeometrie . . . . . . . . . . 171
20.6
TE-Koppelverhltnis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 172
20.7
Einfluss der Koppelkapazitt auf die untere TE-Messfrequenz . . . . . . . . . . . . . 172
20.8
Messbandbreiten von TE-Ankoppelvierpolen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 173
20.9
TE-Auskopplung in Reihe mit dem Koppelkondensator . . . . . . . . . . . . . . . . . . 174
20.10 TE-Auskopplung in Reihe mit dem Prfling . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 174

20.11 TE-Kalibrierung A . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
20.12 TE-Kalibrierung B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
20.13 Kalibrierung eines TE-Kalibrators . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
20.14 Kalibrierung eines TE-Kalibrators . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
20.15 Methoden der TE-Detektion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
20.16 TE-Messbandbreiten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
20.17 CISPR-Frequenzbnder . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 178
20.18 CISPR-Anforderungen fr Quasi-Peak-Detektoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 178
20.19 CISPR-Anforderungen fr Quasi-Peak-Detektoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 179
20.20 Detektor-Einfluss auf den Anzeigewert im CISPR Band B . . . . . . . . . . . . . . . . 179
20.21 CISPR Band B Bewertungsfunktion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
20.22 Strspannungs-Messempfnger Siemens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
362
20.23 Strspannungs-Messempfnger Typ ESPI, Rohde & Schwarz . . . . . . . . . . . . . 181

20.24 Schmalbandiges TE-Messsystem (Funktionsprinzip) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
20.25 Doppelimpulsantwort eines schmalbandigen TE-Messgerts . . . . . . . . . . . . . . 182
20.26 Doppelimpulsantwort eines schmalbandigen TE-Messgerts . . . . . . . . . . . . . . 183
20.27 Quasi-breitbbandiges TE-Messsystem (Funktionsprinzip) . . . . . . . . . . . . . . . . 184
20.28 Quasi-breitbbandiges TE-Messsystem ERA Detector Model 5 . . . . . . . . . . . . 184
20.29 Doppelimpulsantwort eines quasi-breitbandigen TE-Messgerts . . . . . . . . . . . 185
20.30 TE-Trend bei Gleichspannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
20.31 Digitales TE-Messsystem (vereinfacht) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
20.32 Lissajous-Figur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 187
20.33 Modernes digitales TE-Messsystem (vereinfacht) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
20.34 Digitales TE-Messsystem Omicron mtronix MPD600 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189
20.35 Schnittdarstellung koaxiales Prfgef fr UHF-TE-Auskopplung . . . . . . . . . 189
20.36 Strquellen bei der TE-Messung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 190
20.37 Notwendige Mindestradien zur Vermeidung uerer TE . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192
20.38 TE-Auskopplung in Brckenschaltung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 194
20.39 Impulsdiskriminatorsystem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195
20.40 Komplexe Ausbreitung von TE-Impulsen 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 196
20.41 Komplexe Ausbreitung von TE-Impulsen 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197
20.42 TE-Impulsformanalyse im Frequenzbereich: Toleranzband . . . . . . . . . . . . . . . 198
20.43 TE-Impulsformanalyse im Zeitbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 198
20.44 TE-Impulsformanalyse im Zeitbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 199
20.45 TE-Impulsformanalyse im Zeit-Frequenzbereich: TF map . . . . . . . . . . . . . . . . 200
20.46 3PARD-Konstruktion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 200
20.47 3PARD Mehrstellen-TE-Separation und Rcktransformation . . . . . . . . . . . . . . 201
20.48 3PTRD Visualisierungsabschnitte von Messzeitreihenfolgen der TE-Impulse
eines Tripels . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
20.49 3PTRD vier Kombinationen von Zeitabstnden zwischen den Impuls-Tripeln 203
20.50 3PTRD Mehrstellen-TE-Separation an einem Hochspannungsmotor . . . . . . . 203
20.51 3CFRD Einstellung der drei Bandpassfilter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 204
20.52 3CFRD Versuchsaufbau (proof-of-concept) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 204
20.53 3CFRD TE-Impuls-Oszillogramme und Spektren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 204
20.54 3CFRD Auswertung und Rcktransformation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205
20.55 3CFRD Versuchsaufbau 20 kV Spannungswandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205
20.56 TE-Muster 20 kV Spannungswandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 206
20.57 3CFRD-Auswertung 20 kV Spannungswandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 206
20.58 TE-Muster 20 kV Spannungswandler nach 3CFRD-Separierung . . . . . . . . . . . 207
20.59 Ladungsanzeige des TE-Messsystem ERA Detector Model 5 . . . . . . . . . . . . . 208
20.60 TE-Spannungsabhngigkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 208
20.61 Ellipsendarstellung von TE-Impulsen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
363
20.62 TDR Oszillogramm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 210

20.63 TDR statistische Auswertung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 210
20.64 Ultraschall-Richtmikrophon zur Ortung uerer TE (Korona) . . . . . . . . . . . . . 210
20.65 Funktionsweise einer UV-Tageslichtkamera . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211
20.66 Ortung uerer TE (Korona) mit einer UV-Tageslichtkamera . . . . . . . . . . . . . . 211
20.67 2D und 3D PRPD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
20.68 2D PRPD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
20.69 PSA-Muster . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
21.1
Richtkoppler-TE-Sensoren in einer Muffe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215
21.2
Kapazitiver TE-Sensor fr Kabelgarnituren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 216
21.3
Induktiver TE-Sensor HF-Transformator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 216
21.4
Kalibrierung bei Transformatoren mit gesteuerten Durchfhrungen . . . . . . . . 217
21.5
Kalibrierung bei Transformatoren ohne gesteuerte Durchfhrungen . . . . . . . . 217
21.6
TE-Messung bei der offline-Prfung rotierender Maschinen . . . . . . . . . . . . . . . 219
21.7
TE-Kalibrierung bei rotierenden Maschinen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219
21.8
TE-Bewertung bei rotierenden Maschinen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220
21.9
UHF-TE-Sensor fr GIS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 221
21.10 Akustischer TE-Sensor fr GIS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 221

21.11 Optische TE-Detektion fr GIS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
21.12 Kalibrierung bei GIS ber kapazitive Sensoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
22.1
Koske-Gert . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 224
22.2
Koske-Gert (Funktionsprinzip) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 224
22.3
Vorwort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 224
22.4
Lissajous-Darstellung von Korona nahe der TE-Einsetzspannung . . . . . . . . . . 225
24.1
MPD540: Design und Funktionsprinzip (schematisch) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 236
24.2
Schaltprinzip des programmierbaren Impulskalibrators PICOR . . . . . . . . . . . . 237
24.3
Eingabemen fr die Parameter von Einzelimpulsen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 238
24.4
Sprungspannung u1 (t) am DAC-Ausgang . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 238
24.5
Ladungsimpuls u2 (t) am Messwiderstand Rm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
24.6
Einfluss der Anstiegszeit auf die Impulsform der Ladungsimpulse . . . . . . . . . 239
24.7
Doppelimpuls . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
24.8
Oszillierender Impuls . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
24.9
Impulspaket mit zehn Einzelimpulsen unterschiedlicher Ladung . . . . . . . . . . . 240
24.10 Linearittsfehler bei automatischer Messbereichsumschaltung A . . . . . . . . . . . 243

24.11 Linearittsfehler bei automatischer Messbereichsumschaltung B . . . . . . . . . . . 243
24.12 Ergebnis der Impulsfolgeantwortmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 244
24.13 Tr (CK ) bei fm = 300 kHz und f =100 kHz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 244
24.14 Messergebnis bei variabler Bandbreite bzw. Mittenfrequenz . . . . . . . . . . . . . . 245
364
24.15 Beispiel fr digitales Filter mit fm = 300 kHz und f = 300 kHz . . . . . . . . . 245
26.1
Direkte Korrelation der Einzelmewerte der Labor und Vor-OrtUntersuchungen fr die drei untersuchten Diagnosesysteme . . . . . . . . . . . . . . 266
26.2
Diagnoseergebnisse der Gruppe A3 (Labormessungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 268
26.3
Diagnoseergebnisse der Gruppe B3 (Labormessungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 268
26.4
Diagnoseergebnisse der Gruppe B5 (Labormessungen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 269
26.5
Abweichungen bei Wiederholungsmessungen (absolut) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 272
26.6
Abweichungen bei Wiederholungsmessungen (relativ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 272
27.1
Varianten OV . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 283
27.2
Varianten OV . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 284
27.3
Frequenzabhngigkeit der Resonanzgte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 287
27.4
Abweichung der tatschlichen -6 dB-Bandbreite als Funktion der

Resonanzgte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 288
27.5
Resonanzgten in der Praxis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 289
27.6
Der Elstree-Kabeltunnel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 290
27.7
Aufbau des 400 kV-Elstree-Kabels . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 291
27.8
Elstree-Tunnelprofil . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 291
27.9
System- und Schirmerdungskonzept (schematisch) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 292
27.10 Elstree-berspannungsableiteranordnung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 292

27.11 Zwei TE-Sensoren in der Muffe VMEVCB 420 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 293
27.12 AC-Prfsystem (schematisch) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 294
27.13 Vorprfung des mobilen AC-Prfsystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 294
27.14 Erprobung des 25-Kanal-TE-Messsystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 295
27.15 400 kV-Prqualifikationsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 296
27.16 400 kV-Prfdurchfhrung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 296
27.17 Aufbau 280 kV-AC-Prfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
27.18 Ausbreitung von Kalibrierimpulsen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
27.19 Spektren von Kalibrierimpulsen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 298
27.20 Einfluss der Messfrequenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 298
27.21 TE-Muster an einem SF6 -Endverschluss . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 299
29.1
Staudamm Cahora Bassa 1976 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
29.2
Stausee Cahora Bassa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
29.3
Ventilbaugruppen in der Station Songo, Mosambik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
29.4
HG-Transformatoren in der Station Songo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
29.5
Lufttransport der Prfausrstung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 305
29.6
Ausschnitt aus dem Typenschild . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 307
29.7
Messung der bersetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 307
29.8
Messung des Wicklungswiderstandes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 307
29.9
Messung des Verlustfaktors und der Kapazitt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 308
365
29.10 Messung der Kurzschlussimpedanz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 308

29.11 Messung des Leerlaufstromes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 309
29.12 Prfung mit angelegter Wechselspannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 309
29.13 Prfung mit induzierter Spannung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 310
29.14 Gleichspannungsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 310
29.17 TE-Auskopplung an den Messbelgen der Durchfhrungen . . . . . . . . . . . . . . . 313
29.18 Ergebnisse der bersetzungs- und Widerstandsmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
29.19 Ergebnisse der Kurzschlussimpedanzmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
29.20 Ergebnisse der Verlustfaktormessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 314
29.21 Netzsynchrone Strer bei der Messung des Leerlaufstromes . . . . . . . . . . . . . . 314
29.22 Strimpulse im Zeit- und Frequenzbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 315
29.23 TE-Muster bei der induzierten Spannungsprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 315
29.24 online-TE-Muster . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 316
31.1
Leistungstransformator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 337
Tabellenverzeichnis
5.1
STL-Mitglieder . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
5.2
CIGRE study commitees . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
8.1
Vergleich: optimal und schwach gedmpfter kapazitiver Teiler . . . . . . . . . . . . 88
8.2
Vergleich: Stooszilloskop und Standardoszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
8.3
A/D-Wandlung: Anzahl Bit und Auflsung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
15.1
Zusammenfassung der mglichen Strbeeinflussungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
19.1
Bindungsenergie organischer Isolierstoffe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161
20.1
Fortschritt digitaler TE-Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
23.1
Zusammenstellung von zulssigen TE-Strken von elektrischen

Betriebsmitteln (Stand: 31.01.2007) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230
24.1
Grenzwerte fr die Impulsfolgeantwort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241
24.2
Technische Daten TE-Kalibrator 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241
24.3
Kontrolle Mastabsfaktor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 242
24.4
Technische Daten TE-Kalibrator 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 242
24.5
Ergebnisse des Linearittstests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
24.6
Tr (CK ) bei fm = 300 kHz und f = 100 kHz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 244
24.7
Impulsauflsezeit Tr bei variabler Bandbreite bzw. Mittenfrequenz und

festem Wert des Koppelkondensators (10nF) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 244
24.8
Abhngigkeit von der Anzahl der Impulse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 246
24.9
Abhngigkeit von der Filtereinstellung am TE-Messgert . . . . . . . . . . . . . . . . . 246
24.10 Abhngigkeit vom Abstand der Einzelimpulse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 246

24.11 Abhngigkeit von der Dmpfung osz. Impulse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 247
26.1
berblick ber die wesentlichen Parameter der vier Diagnosesysteme . . . . . . 261
26.2
Charakteristik der Kabelgruppen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267
26.3
Beispiel einer Vor-Ort-Vergleichsmessung mit trendmig einheitlicher

Aussage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 271
26.4
Vergleich der Diagnosesysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273

367
368
Tabellenverzeichnis
34.1
Querschnittsnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 346
34.2
Kabelnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 347
34.3
Trafonormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 348
34.4
Wandlernormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 349
34.5
Maschinennormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 349
34.6
Niederspannungsschalternormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 350
34.7
Hochspannungsschalternormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 352
34.8
Ableiternormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 352
34.9
Kondensatornormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 352
34.10 Durchfhrungsnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353

34.11 Isolatorennormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353
34.12 Sicherungsnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 354
34.13 Konverternormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 354
34.14 Umwelt- und Materialnormen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 355
Sachverzeichnis
Akkreditierung, 4
Isolationskoordination, 7
Korona, 153
Normen, 3, 39
international, 3
Materialnormen, 354, 355
national, 3
Produktnormen, 346
Ableiter, 352
Durchfhrungen, 353
Elektrische Maschinen, 349
Isolatoren, 353
Kabel, 346, 347
Kondensatoren, 352
Konverter, 354
Schalter, Hochspannung, 350,
352
Schalter, Niederspannung,
349, 350
Sicherungen, 353, 354
TE, 230
Transformatoren, 347, 348
Wandler, 348, 349
Querschnittsnormen, 345, 346
Umweltnormen, 355
Werksnorm, 3
Prfspannung, 7
Gleichspannung, 9
Impulsspannung, 9
Wechselspannung, 8
Prfstrom, 7
Gleichstrom, 9
Stostrom, 9
Wechselstrom, 9
Prfung
Auswahlprfung
Kabel, 14
Entwicklungsprfung, 6
Kabel, 12
Inbetriebnahmeprfung, 6
Kabel, 12
Prqualifikationsprfung, 5
Kabel, 14
Prfarten, 3
Schaltgert, 25
Sonderprfung, 5
Stckprfung, 4
Kabel, 14
Transformator, 17
Typprfung, 4
Kabel, 13
Vor-Ort-Prfung, 5
Wiederholungsprfung, 6
Schaltvermgen, 26
Spannungsteiler, 61
Synthetische Prfung, 26
TE
uere TE, 153, 191, 192
Ausbreitung, 166
Feld, 166
induktiv, 166
kapazitiv, 166
leitungsgebunden, 166
Eigenschaften, 157
electrical treeing, 154
Entstehung, 149
freies Potential, 191
Gleitentladungen, 153
innere TE, 154
Klassifikation, 149
Ladungstransfer, 167
Lebensdauer, 160
Messung, 167
Oberflchenentladungen, 153
Philippow-Ersatzschild, 167
Signale, 163
Strunterdrckung, 192
berkopplung, 166
Wirkung
akustisch, 157
chemisch, 159
elektrisch, 157
optisch, 158
Teilerverhltnis, 61
369

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ISIS e-learning portal

Inbetriebnahmeprfungen von Neuanlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Prfspannungen und Prfstrme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Kabel und Kabelgarnituren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11

Die Prfung von Kabeln und Kabelgarnituren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12

Qualittssicherung vor Ort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15

Die Prfung von Transformatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17

Messung der Wicklungswiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17

bersetzung und Phasengruppe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20

Kurzschluverluste und Kurzschluimpedanz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20

Leerlaufverluste und Magnetisierungsstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

Fremdspannungsprfung und Verlustfaktormessung . . . . . . . . . . . . . . . 22

Induzierte Spannungsprfung und Teilentladungsmessung . . . . . . . . . . 22

Blitz- und Schaltstoprfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

Qualittssicherung vor Ort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

Die Prfung von Schaltgerten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

Direkte Prfung des Schaltvermgens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

Synthetische Prfung des Schaltvermgens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26

Aufbau und Wirkungsweise von Ableitern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

3.14 Die Prfung von berspannungsableitern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

Kalibrierung und Rckfhrbarkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35

Normen, Erluterungen und Empfehlungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39

Internationale und nationale Normen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41

DIN, VDE und DKE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46

ANSI und IEEE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52

Teil II Messung hoher Spannungen

Elektronische und abtastende Scheitelwertmesseinrichtungen . . . . . . . 66

Messung mit Spannungswandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69

Messung mit Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61

Hochohmige Vorwiderstnde und Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71

Messung mit Spannungsteiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72

Einflu der Streukapazitten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72

Messkreis und bertragungsverhalten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75

Bestimmung der Impulsparameter der Blitzstospannung . . . . . . . . . . . 76

Kabel- und Messgerteanschluss . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89

Gedmpft kapazitiver Teiler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91

Digitale Oszilloskope, Transientenrecorder . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94

Teil III Erzeugung und Messung hoher Strme

Definitionen und Bestimmungsgren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105

Stationrer Gleichstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105

Stationrer Wechselstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105

Rechteck-Stostrom, Langwellen-Stostrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106

Erzeugung hoher Strme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109

Messung hoher Strme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115

Anforderungen an Stostrom-Messwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116

Bifilare Messwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116

Koaxiale Rohrwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116

Koaxiale Reusenwiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119

Koaxiale Flchenwiderstndewiderstnde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120

11.2 Rogowski-Spulen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120

11.3 Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123

Konventionelle Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123

Flusskompensierte Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123

Nicht-konventionelle Stromwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123

Teil IV Elektromagnetische Vertrglichkeit

EMV in der Hochspannungs-Prftechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139

Kopplung direkt zum Oszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141

Kopplung zum Innenleiter des Messkabels . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141

Strquelle verseuchtes Netz galvanische Kopplung . . . . . . . . . . . . . . 141

Messkabelmantel- und Gehusestrme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142

Spannungsflle am Schutzleiter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143

Induktive und kapazitive Einkopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143

Potentialanhebungen im Erdsystem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143