BMW Group Standard GS 95006--7--2

2008--03

Deskriptoren: Leitungssatz, Steckverbinder, Kraftfahrzeug, Prüfung,

Slow-Motion-Prüfung
Descriptors: Wiring harness, Plug connector, Motor vehicle, Testing,
Slow-motion testing

Leitungssätze in Kraftfahrzeugen
Steckverbinder
Slow-Motion-Prüfung

Wiring-harnesses in motor vehicles

Plug connectors
Slow-motion testing

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Fortsetzung Seite 2 bis 17

Continued on pages 2 to 17

BMW AG Normung: 80788 München

E BMW AG Alle Rechte vorbehalten / All rights reserved

interleaf-doc Bearbeiter / Editor: Robert Maier
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GS 95006--7--2 : 2008--03
Maße in mm
Inhalt
Seite
1 Anwendungsbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
2 Normative Verweisungen . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
3 Definitionen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
3.1 Klimabedingungen RT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
3.2 Genauigkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
3.3 Dokumentation der Messergebnisse . . . . . . . . . 3
4 Slow-Motion-Prüfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
4.1 Prüfgegenstand und Losgrößen . . . . . . . . . . . . . 4
4.2 Widerstandsmessung und Datenspeicherung . 5
4.3 Vorkonditionierung mittels Temperaturschock . 8
4.4 Slow-Motion-Prüfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
4.5 Grenzwerte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
Anhang A (normativ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
A.1 Die “4-Punkt-Messung“ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
Vorwort
Grundlage dieses Group Standards ist die LV 214--2 “Kfz-
Kontaktierungen; Slow-Motion-Prüfung”.
ANMERKUNG Abweichungen zur abgestimmten Fassung
der LV 214--2 werden in dieser Werknorm in kursiver Schrift
dargestellt.
Diese Prüfrichtlinie wurde in Zusammenarbeit mit den Firmen
Audi AG, DaimlerChrysler AG, Porsche AG, Volkswagen AG
erarbeitet.
1 Anwendungsbereich
Das Ziel der folgenden Prüfung ist, die Eigenschaften der An-
bindung Leitung zum Kontakt (”Crimp”) zu erfassen. Mit den
aktuell definierten Messgeräteparametern können Leitungen
bis 4 mm2 vermessen werden. Die Leitungen müssen den
entsprechenden Standards entsprechen (für metrische Lei-
tungen siehe GS 95007--1).
Diese Norm gilt für alle elektrischen Fahrzeugkontaktierun-
gen. Bestehende Prüfrichtlinien werden hierdurch nicht außer
Kraft gesetzt (z. B. GS 95006--7--1: ”Steckverbinder”).
2 Normative Verweisungen
Diese Norm enthält Festlegungen aus anderen Publikatio-
nen. Diese normativen Verweisungen sind an den jeweiligen
Stellen im Text zitiert und die Publikationen sind nachstehend
aufgeführt. Es gilt die letzte Ausgabe der in Bezug genomme-
nen Publikation.
GS 95006--7--1 Leitungssätz in Kraftfahrzeugen; Steckver-
binder; Prüfungen
GS 95007--1 Niederspannungsleitungen für Kraftfahr-
zeuge; Einadrig, ungeschirmt mit dünnwan-
diger Isolierung; Anforderungen, Prüfungen
Dimensions in mm
In case of dispute the Geman wording shall be valid
Contents
Page
1 Scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
2 Normative references . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
3 Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
3.1 Climatic conditions RT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
3.2 Accuracy . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
3.3 Documentation of the measured results . . . . . 3
4 Slow-motion test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
4.1 Object of testing and batch sizes . . . . . . . . . . . 4
4.2 Resistance measurement and data storage . . 5
4.3 Pre-conditioning by means of temperature
shock . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
4.4 Slow-motion test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
4.5 Limit values . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
Annex A (normative) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
A.1 The “4-Point Measurement” . . . . . . . . . . . . . . 13
Foreword
This Group Standard is based on LV 214--2 “Plug connectors
in motor vehicles; Slow-motion testing”.
NOTE Deviations with respect to the harmonized version
of LV 214--2 are shown in this Works Standard in italic type-
face.
This test guideline has been compiled jointly by the following
companies: Audi AG, DaimlerChrysler AG, Porsche AG,
Volkswagen AG.
1 Scope
The objective of the following test is to define the properties
of the connection of the line (cable) to the contact (”crimp”).
The current measuring devices can measure lines up to 4
mm2 The lines shall comply to the respective standards (for
metric lines see GS 95007--1).
The standard applies to all electrical vehicle contacts. Existing
test guidelines are not overruled by this standard (e.g.
GS 95006--7--1: ”Plug connectors”).
2 Normative references
This Standard incorporates provisions from other
publications. These normative references are cited at the
appropriate places in the text and the publications are listed
hereafter. The respective latest edition of the publication is
applicable.
GS 95006--7--1 Wiring-harnesses in motor vehicles; Plug
connectors; Testings
GS 95007--1 Low tension cables for motor vehicles;
Single-core, unscreened with thin-walled
insulation; Requirements, tests

3 Definitionen
3.1 Klimabedingungen RT
Für alle Messungen bei Raumtemperatur (RT) gilt:
Temperatur: T = (23 ± 2) °C
Luftfeuchte: rF = 50 % bzw. ungeregelt
Alle Messungen müssen in zertifizierten Wärmeschränken
oder Klimaschränken durchgeführt und nachgewiesen wer-
den. Anderenfalls müssen die Temperaturverläufe und
Feuchteverläufe der Schränke aufgenommen werden.
3.2 Genauigkeit
Die Messgenauigkeit der Widerstandsmessung (bzw. Span-
nungsmessung inkl. Strommessung) muss mindestens um
den Faktor 10 genauer als die zu messenden Widerstände
der Prüflinge sein.
3.3 Dokumentation der Messergebnisse
3.3.1 Zu übergebende Unterlagen
a) Dokumentation des Prüfaufbaus (inkl. Messtechnik, Be-
wegungsrichtung, Abtastraten und Bildern der Probanden)
b) Produktbezeichnung mit Sachnummern
c) Prüfungsergebnis: ”Bestanden” oder ”Nicht bestanden”
d) Angabe der Kontaktierungsteile und Leitungen aller Her-
steller, für die die Testberichte Gültigkeit haben (Hersteller,
Leitungsbezeichnung)
e) Aufgetretene Auffälligkeiten
f) Verarbeitungsspezifikationen (inkl. Crimpparameter)
g) Genau gemessene Crimpdaten der Kontakte im Test
(Höhe und Breite)
h) Messergebnisse der Crimpwiderstände in Tabellenform
und Diagrammform. In Tabellen sind folgende Werte anzu-
geben: Für Ausgangswert und Endwert bzw. die Wider-
standsänderung der jeweiligen Prüfung jeweils Maximal-
wert, Mittelwert und Minimalwert sowie die Standardab-
weichung für alle Proben
i) Alle Ergebnisse (Diagramme und Tabellen) müssen
-- die verwendeten Messparameter, Umgebungsparame-
ter und Geräteparameter enthalten
-- die Ordinaten der Diagramme in einem geeigneten
Maßstab aufweisen (Default -- Wertebereich = 0 bis
50 mΩ)
j) Ein Schliffbild je Prüfgruppe
Alle Widerstandswerte sind immer inkl. des Leitungswider-
stands anzugeben. Die Leitung oder der Einfluss der Tempe-
ratur darf nicht aus den Ergebnissen herausgerechnet wer-
den.
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GS 95006--7--2 : 2008--03
3 Definitions
3.1 Climatic conditions RT
For all measurements at room temperature (RT) the following
applies:
Temperature: T = (23 ± 2) °C
Humidity: rF = 50 % or uncontrolled
All measurements shall be performed and substantiated in
certified heating or conditioning cabinets. Otherwise the
temperature curves and the humidity curves shall be
recorded.
3.2 Accuracy
The measuring accuracy of the resistance measurement (or
voltage measurement incl. current measurement) shall be
more accurate than the resistances of the specimens by at
least factor 10.
3.3 Documentation of the measured results
3.3.1 Documents to be submitted
a) Documentation of test setup (incl. measuring technology,
direction of motion, sampling rates and figures of the speci-
mens)
b) Product designation including part numbers
c) Test result: “passed” or “failed”
d) Specification of the contacting parts and lines of all manu-
facturers for which the tests reports are valid (manufactu-
rer, line designation)
e) perceived particularities, deviations, etc.
f) Processing specs (incl. crimp parameters)
g) exactly measured crimp data of the contacts during test
(height and width)
h) Measured crimp resistances in tabular arrangement and
as diagrams. The following values shall be specified in the
tables: for initial value and final value or, respectively,
change of resistance of respective test, maximum value,
mean value and minimum value each and standard devia-
tion for all samples.
i) All results (diagrams and tables) shall
-- include the used measuring paramter, ambient
parameter and device parameter
-- exhibit the ordinates of the diagrams in a suitable scale
(default -- value range = 0 to 50 mΩ)
j) one microsection per test group
All resistance values shall always be specified including line
resistance. The line or the influence of the temperature shall
nor be exluded by calcualtions.
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GS 95006--7--2 : 2008--03
4 Slow-Motion-Prüfung
4.1 Prüfgegenstand und Losgrößen
Gegenstand der Messung ist jeweils die Verbindung zwi-
schen Kontakt und Leitung (nach GS 95007--1).
Hierbei werden metallische Übergänge innerhalb des Kon-
takts mitgemessen (Schweisspunkte oder Verprägungen zwi-
schen Kontakt-Grundkörper und Kontakt-Lamellen). Der
Übergang vom Kontakt auf potentielle Gegenstecker oder
Gegenkupplungen (z. B. Oberflächen etc.) dürfen das Mes-
sergebnis nicht beeinflussen (siehe Abschnitt 4.2).
Prüfumfang:
-- Losgrößen 10 Stück
-- Alle in der Verarbeitungsspezifikation beschrieben Crimp-
formen
-- Bei Leitungen: Alle Querschnitte, Litzenaufbau Typ B, alle
Oberflächen und alle Isolationsmaterialien (aktuell: PVC
105 °C, weitere Leitungen werden noch näher spezifiziert)
Prüfbedingungen:
-- Crimphöhen jeweils an der oberen Toleranzgrenze (gering-
ste Verpressung)
-- Prüfrichtung der Leitungsbewegung: Waagrecht (siehe
Bild 1)
Senkrecht
vertical
Bild 1 Definition der Leitungsbewegungen
Zur Kontrolle des Messaufbaus muss mindestens ein Refe-
renzbauteil in jedem Messdurchgang mit gemessen werden.
Das Referenzbauteil besteht aus den gleichen Teilen wie die
Prüflinge (gleiche Sachnummern, gleiche Verbindungen, glei-
che Leitungslängen usw.). Zusätzlich wird die Verbindung
zwischen Leitung und Kontakt verlötet.
4 Slow-motion test
4.1 Object of testing and batch sizes
In each case the object of measuring is the conncetion
between the contact and the line (as per GS 95007--1).
Here, metallic transitions within the contact are included in the
measurement (weld spots or embossings between the
contact body and the contact lamellae) The transition from the
contact to potential counter plugs or counter couplings (e.g.
surfaces etc.) shall not have an influence on the measuring
result (see Subsection 4.2).
Test scope:
-- Batch size. 10 pieces
-- All crimp forms described in the processing specification
-- In case of lines: all cross-sections, strand structure type B,
all surfaces and insulation materials (currently: PVC
105 °C, further lines will be specified in detail)
Testing conditions:
-- Crimp heights on upper tolerance limit (lowest level of
pressing)
-- Test direction of line movement: horizontal (see Figure 1)
Waagrecht
horizontal
Figure 1 Definition of line movement
Checking of the measuring setup requires that at least one
reference part is included in each measuring cycle. The
reference part is made up of the same parts as the specimens
(same part number, same connection, same line lengths etc.).
Additionally, the connction between the line and the contact is
soldered.

4.2 Widerstandsmessung und Datenspeicherung
4.2.1 Messaufbau
Es ist darauf zu achten, dass das Prinzip einer 4-Punkt-Mes-
sung umgesetzt wird (siehe Anhang A.1). Der Spannungsab-
griff und die Stromeinprägung dürfen nie in demselben Punkt
am Probanden (z. B. Lötpunkt) erfolgen.
Zur Dokumentation muss der Widerstandswert in mΩ ange-
geben werden. Dieser muss aus dem Spannungsabfall und
dem gemessenen Strom (über Mess-Shunt) errechnet wer-
den.
Aufbau
Die Prüflinge müssen nach Bild 2 und Bild 3 aufgebaut wer-
den. Die Lötpunkte dürfen nicht zu nahe am Crimp gesetzt
werden. Der erste Lötpunkt in der Leitung darf erst im Abstand
von l1 + l2 erfolgen. Die Lötung muss alle Litzen beinhalten.
Die Leitung darf in Position 4 nicht getrennt werden (Aderiso-
lation entfernen, ohne die Kupferlitzen zu trennen).
UCrimp
d D
l2
l3
Shunt
UStrom
Bild 2 Bild 4-Punkt-Messung (Übersicht)
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4.2 Resistance measurement and data storage
4.2.1 Measuring setup
The principle of 4-point measurment shall be complied with
(see Annex A.1). Voltage tapping and current input shall never
take place at the same location on the specimen (e.g.
soldering location).
For documentation the resistance value shall be specified in
mΩ. The resistance shall be calculated from the voltage drop
and the measured current (via measuring shunt).
Setup
The setup of the specimens shall comply with the
arrangements depicted in Figure 2 and Figure 3. The
soldering points shall not be placed too close to the crimp. The
first solder spot shall be at a distance of at least l1 + l2. The
soldering shall comprise all strands. the line shall not be
separated at position 4 (wire insulation to be removed with
separation of copper strands).
l1
I = const.
Figure 2 4-point measurement (overview)
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Bild 3 Bild 4-Punkt-Messung (Detail) Figure 3 4-point measurement (detail)

Legende zu Bild 2 und Bild 3 Legend to Figure 2 and Figure 3

Pos 1 Platinen-Kamm an Oberseite und Unterseite mit Pos 1 PCB comb connector on top side and bottom side
Kupferbahn (siehe Bild 4) (see Figure 4)
Pos 2 Lötpunkt an der Oberseite (zum Spannungsab- Pos 2 Solder spot on top side (for voltage tap)
griff)
Pos 3 Lötpunkt an der Unterseite (zum Strom einspei- Pos 3 Solder spot on bottom side (for current feed)
sen)
Pos 4 Lötpunkt an der Leitung (zum Spannungsabgriff) Pos 4 Soder spot on the line (for voltage tap)
Pos 5 Lötpunkt an der Leitung (zum Strom einspeisen) Pos 5 Solder spot on the line (for current feed)
Pos 6 Bewegungsschlitten mit Durchgangsloch zur Lei- Pos 6 Motion sled with through-hole for cable routing
tungsführung
Pos 7 Leitung zur Spannungserfassung (möglichst Pos 7 Line for voltage recording (cross-sections as
kleine Querschnitte wegen Temperatureffekte ver- small as possible due to temp. effects; max.
wenden; max. 0,35 mm2) 0.35 mm2)
Pos 8 Leitung für Konstantstrom (max. 0,5 mm2) Pos 8 Lines for constant current (max. 0.5 mm2)
Pos 9 Zu prüfender Kontakt in einem Kontaktierungsge- Pos 9 Contact to be tested in a contacting housing
häuse (Kontakte können alternativ auch geklemmt (alternatively, contacts may be clamped)
werden)
l1, l2, l3 Leitungslängen (siehe ”Parameter”) l1, l2, l3 Line lengths (see ”Parameter”)

ANMERKUNG 1 Kann ein Platinenkamm nicht zum Ein-
satz kommen (z. B. wegen Rundkontakt), muss die Mess-
leitung zum Spannungsabgriff elektrisch leitend auf den
Kontaktkörper aufgeklebt werden. Die Leitung darf nicht ge-
lötet werden (in der Nähe des Crimps ist keine Lötung zu-
lässig). Bei geklebten Verbindungen muss die Messung
aus Abschnitt 4.2.4 zu Beginn und am Ende des Messa-
blaufes durchgeführt werden.
ANMERKUNG 2 Bei Stiftkontakten müssen (statt des
Platinenkammes) ”Kelvin-Klemmen” verwendet werden.
NOTE 1 If a PCB comb connector can not be used (e.g.
due to round contact) the measuring line for voltage tapping
shall be bonded to the contact body in an electroconductive
way. The line shall not be soldered (soldering not allowed
close to the crimp). In case of bonded joints the
measurement from Subsection 4.2.4 shall be performed at
the start and at the end of the measuring procedure.
NOTE 2 In case of pin contacts “Kelvin clamps” shall be
used instead of the PCB comb connector.

Bild 4 Platinenkamm mit beidseitiger Oberflächenbeschich-
tung
Parameter zu Bild 4
Material: Handelsübliche Platine (PCB) mit Cu-Leiter-
bahnen mit porenfreier Au-Oberfläche
PCB-Dicke: Muss zu der Stiftdimension des zu prüfenden
Kontakts passen (übliche Dicken: 0,6 mm bzw.
0,8 mm). Die Toleranzen der Stiftausführungs-
vorschrift (für Serienteile) müssen nicht erfüllt
werden. Die Nominaldicke muss inklusive der
Leiterbahndicke der Cu-Schicht erreicht wer-
den.
Rastermaß: Das Rastermaß muss dem für den Test ver-
wendeten Kontaktgehäuse entsprechen (z. B.
2,54 mm). Hierbei muss berücksichtigt wer-
den, dass ggf. nur jede zweite Kammer des
Gehäuses bestückt werden darf. (siehe Di-
mensionen des ”Durchmesser D des Durch-
bruchs der Leitungsführung”)
Bemerkung: siehe Anhang A.1.3.4
4.2.2 Datenerfassung und Datenfilterung
Bei der Datenerfassung ist darauf zu achten, dass vor und
nach den Belastungen (sowohl Voralterung als auch Slow-
Motion-Prüfung) jeweils 30 Minuten lang Daten aufgezeich-
net werden (bei RT, ohne Bewegungen).
Anhand der konstanten Widerstandswerte am Anfang und am
Ende müssen die Grenzwerte gebildet werden können.
Bei der Datenerfassung ist zwischen Rohdaten und gefilter-
ten Daten zu unterscheiden.
-- Rohdaten: Der Widerstand der Prüflinge wird kontinuierlich
mit 1 Hz abgetastet. Der Messstrom fließt konstant (ohne
Unterbrechung, keine Taktung). Diese Rohdaten müssen
aufgezeichnet werden.
-- Gefilterte Daten (optional): Die Rohdaten dürfen zusätzlich
gefiltert und gespeichert werden (”MMM-Daten”: Maximal-
wert, Mittelwert, Minimalwert). Hierbei werden aus den Roh-
daten z. B. aus jeweils 3 Minuten 3 Werte ermittelt:
• Der Maximalwert in diesen 3 Minuten
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Figure 4 PCB comb connector with surface coating on both
sides
Parameters to Figure 4
Material: commercially available PCB with Cu tracks
and pore-free Au surface
PCB-Dicke: shall match the pin dimension of the contact
to be tested (common thicknesses: 0.6 mm
or 0.8 mm). The tolerances of the pin
design specs (for series parts) need not to
be met. The nominal thickness shall be
reached including the (PCB) track
thickness of the Cu layer.
Grid dimension: The grid dimension shall correspond to the
contact housing applied in the test (e.g.
2.54 mm). It shall be considered that
probably only every second chamber of the
housing may be assembled (see
dimensions of ”diamter D of throughlet of
line routing”)
Note: see Appendix A.1.3.4
4.2.2 Data acquisition and data filtering
Data acquisition requires to record data for 30 minutes each,
before and after load subjection (pre-ageing and slow-motion
test) at RT, without motion.
It shall be possibkle to generate the limit values based on the
constant resistance values at the start and at the end.
Data acquisition shall differentiate beetween raw data and
filtered data.
-- Raw data: the resistance of the specimens is sampled
continuously with 1 Hz. The measuring current flows
constantly (without interruption, no clocking/pulsing). The
raw data shall be recorded.
-- Filtered data (optional): The raw data may be filtered and
stored additionally (”MMM-Data”: Maximal value, mean
value, minimum value). From 3 min of raw data 3 values will
be determined, for example.
• The max. values during these 3 minutes
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• Der Mittelwert in diesen 3 Minuten (geometrisches Mit-
tel)
• Der Minimalwert in diesen 3 Minuten (Beispiel: 9 Minu-
ten Rohdaten ergeben somit 9 Werte)
4.2.3 Speicherung der Messdaten
Die Daten müssen während der Vorkonditionierung und dem
Slow-Motion-Test gespeichert werden.
Schlussendlich werden nur die MMM-Daten benötigt. Es
empfiehlt sich jedoch, die Rohdaten bis nach der Datenaufbe-
reitung und Diskussion der Ergebnisse aufzubewahren.
4.2.4 Abschlussmessung
Nach Abschluss der gesamten Messung müssen alle Strom-
kreise und Spannungskreise mit 2-Punkt-Messung nachge-
messen und dokumentiert werden. Hierzu werden alle Mess-
geräte entfernt und nacheinander durch Widerstandsmess-
geräte ersetzt.
ANMERKUNG Die entsprechenden Übergangswider-
stände (leitfähige Klebestellen, Lötungen,Platinensteckun-
gen usw.) dürfen nicht in Größenordnungen liegen, welche
die 4-Punkt-Messung beeinflussen würden (siehe An-
hang A.1).
4.3 Vorkonditionierung mittels Temperaturschock
Während der Vorkonditionierung müssen die Widerstands-
werte ermittelt werden.
Die Vorkonditionierung muss an den fertig konfektionierten
Probanden erfolgen (d. h. Kontakte im Kontaktierungsge-
häuse, alle Messleitungen angebracht, Bewegungsschlitten
ist eingefädelt usw.).
Parameter:
Obere Temperatur TO = 125 °C
Untere Temperatur TU = -- 40 °C
Umlagerungszeit < 10 s
Haltezeit to = tu = 0,5 h
Anzahl Zyklen 100
4.4 Slow-Motion-Prüfung
Die Bewegungszyklen (Slow-Motion) werden von einem
Temperaturwechsel überlagert.
Der Messaufbau muss so gestaltet sein, dass er in einen Kli-
maschrank eingestellt werden kann, damit die Bewegungszy-
klen unter verschiedenen klimatischen Bedingungen durch-
geführt werden können. Die Messleitungen müssen hierzu
aus dem Klimaschrank herausgeführt werden.
4.4.1 Definition des Bewegungsablaufs
Die Vorkonditionierung der konfektionierten Bauteile und
Messleitungen kann mit oder ohne Bewegungsapparat ge-
schehen. In jedem Fall muss auf einen möglichst schonenden
Einbau (ohne Krafteinwirkung auf die Kontakte) geachtet wer-
den. Die Kontakte werden nicht aus den verwendeten Ge-
häuseteilen entnommen.
Während des laufenden Tests dürfen die Bauteile keiner zu-
sätzlichen mechanischen Belastung unterliegen. Ein Schüt-
teln, Rütteln, Wackeln oder auch nur Berühren der Leitungen
oder Kontakte ist nicht zulässig.
• The mean value during these 3 minutes (geometric
mean value)
• The minimum value during these 3 minutes (example:
9 minutes raw data yield 9 values)
4.2.3 Storage of the measured data
The data shall be stored during pre-conditioning and the
slow-motion test.
Finally only the MMM data are required. It is however
recommended to store the raw data until the data processing
and the discussion of the results is completed.
4.2.4 Final measurement
After completion of the entire measurement all current- and
voltage circuits shall be measured by means of 2-point
measuring and be documented. For that purpose all
measuring devices are removed and replaced successively
by resistance measuring devices.
NOTE The corresponding transition resistances
(conductive bonds, solderings, PCB pluggings etc.) shall
not exhibit levels that interfer with 4-point measurement
(see Appendix A.1).
4.3 Pre-conditioning by means of temperature
shock
During pre-conditioning the resistance values shall be
determined.
Pre-conditioning shall be performed on the completely
assembled specimens (i.e. contacts in the contacting
housing, all measuring lines attached, motion sled ready etc.).
Parameter:
Upper temperature TO = 125 °C
Lower temperature TU = -- 40 °C
Time to switch storage < 10 s
Holding time to = tu = 0,5 h
Number of cycles 100
4.4 Slow-motion test
The motion cycles (slow-motion) are superimposed by a
temperature change.
The measuring setup shall be designed as to fit into a climate
cabinet where the motion cycles will be performed under
various climatic conditions. The measuring lines shall be lead
out of the climatic cabinet.
4.4.1 Definition of the motion
Pre-conditioning of the assembled components and
measuring lines can be done with or without motion device. In
any case the installation shall be performed as “considerately”
(without force excerted on the contacts) as possible. The
contacts are not removed from the used housing components.
During testing the components shall not be subject to any
additional mechanical load. Shaking, rattling etc. or just
touching of the lines or contacts is not permitted.
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Aufbau
Der gesamte Prüfaufbau muss möglichst aus ”leichten” Mate-
rialien (geringe Masse) aufgebaut werden, um bei dem über-
lagerten Temperaturwechsel (TW) eine kurze Zeitdauer bis
zur Beharrung zu erreichen.
Die Kontakte können in einem unter Serienbedingungen her-
gestellten Gehäuse verbaut werden.
Kontakte mit Dichtungselementen (ELA = Einzeladerabdich-
tung usw.) müssen mit passenden ELAs in Seriengehäusen
getestet werden.
Setup
To the extent possible, the entire test setup shall be made of
light materials (low mass) in oder to achieve a short period
until “freezing” during the superimposed temperature test.
The contacts may be fitted in a hosuing manufactured under
series concitions.
Contacts with sealing elements (single wire sealings “ELA”,
etc.) shall be tested with matching ELAs in series housings.

Einspannung in ein
Seriengehäuse
keine feste Einspannung Clamping into
no fixed clamping series housing Doppelseitige Platine
double-sided PCB

L2 L1

L3

Bewegung ± 25 mm
Motion

U
Bewegung
Motion

Zeit
Time

Bild 5 Prinzip-Aufbau Figure 5 Principle setup

Parameter:
Länge Crimp-Schlitten L1 = 100 mm (Länge der Length crimp sled L1 = 100 mm (length of
Litzen in Nullstellung der strands in zero position of
Bewegung) motion)
Länge Schlitten-Span- L2 = 50 mm Length sled voltage tap L2 = 50 mm
nungsabgriff
Länge Spannungs- / Strom- L3 = 50 mm Length voltage/current tap L3 = 50 mm
abgriff
Abweichung Leitungsfüh- 3° Line routing in sled deviating 3°
rung im Schlitten von der from the crimp axle (Figure
Crimp-Achse (Bild 2 und 2 and Figure 3, Pos. 6)
Bild 3, Pos 6)
Durchmesser D des Durch- D = Leitungsdurchmesser 20 Diamter D of throughlet of
bruchs der Leitungsführung % oder max. 5 mm line routing Figure 2 and Fi-
(Bild 2 und Bild 3, Pos 6) gure 3, Pos 6)
Strom (I_Const) 100 mA Current (I_Const) 100 mA
Abtastrate 1 Hz Sampling rate 1 Hz
Bewegungsamplitude (ef- ± 25 mm (innerhalb einer Motion amplitude (effective) ± 25 mm (within one second,
fektiv) Sekunde, Sinus) sine)
Anzahl Bewegungszyklen 720 Number of motion cycles 720
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4.4.2 Definition des Temperaturwechsels (TW) 4.4.2 Definition of temperature change (TC)
Der folgende TW (siehe Bild 6) ist dem Bewegungsablauf The following temperatrure change (see Figure 6) is
überlagert. superimposed onto the motion.
Temperaturwechsel (TW) TU = RT, tu = 1 h Temperature change TU = RT, tu = 1 h
TO = 80 °C, tO = 3,5 h TO = 80 °C, tO = 3,5 h
Gradient 1,33 K/min Gradient 1,33 K/min
(= 45 min Wechselzeit ⇒1 TW (= 45 min change time ⇒1 TC
dauert 6 h) takes 6 h)
Anzahl TW-Zyklen 30 Number of TC cycles 30

[°C]
Verlauf eines Temperaturwechsels (TW)
TC curve
Temperature
Temperatur

Zeit [h]
Time [h]
Bild 6 Temperaturwechsel Figure 6 Temperature change
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4.5 Grenzwerte 4.5 Limit values

Für die Grenzwertbildung gibt es drei Kriterien (siehe Bild 7 For limit value generation 3 criteria are applicable (see
bis 9): Figure 7 to 9):

Grenzwertbildung
R mΩ Limit value generation

∆R3

Zeitachse
Time axis

Bild 7 Kriterium 1: Max. Streuung der Messwerte (Min-Max- Figure 7 Criterion 1: Maximum scattering of the measured
Differenz) aller Prüflinge am Beginn der Messung values (Min-Max-Difference) of all specimens at
(Darstellung nur schematisch) start of measuring (only schematic presentation)

Grenzwertbildung
Limit value generation
R mΩ

∆R2

Zeitachse
Time axis

Bild 8 Kriterium 2: Maximale Änderung jedes einzelnen Prüf- Figure 8 Criterion 2: Maximum change of each single speci-
lings (Darstellung nur schematisch) men (only schematic presentation)
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Grenzwertbildung
Limit value generation
R mΩ

∆R3

Zeitachse
Time axis

Bild 9 Kriterium 3: Maximale Änderung (auch während des
Testverlaufes) jedes einzelnen Prüflings (Darstellung
nur schematisch)
Maximal zulässige Widerstandsänderung ∆R (gilt für kleine
Leitungs-Querschnitte < 1 mm2)
≤ 1 mΩ für ∆R1 Streuung aller Prüflinge (Neuzustand)
≤ 3 mΩ für ∆R2, ∆R3 je Prüfling (von Testbeginn bis Testende)
Figure 9 Criterion 3: Maximum change (also during test pro-
cedure) of each specimen (only schematic presen-
tation)
Maximum permitted resistance change ∆R (applies to small
line cross-sections < 1 mm2)
≤ 1 mΩ for ∆R1 scattering of all specimens (new condition)
≤ 3 mΩ für ∆R2, ∆R3 per specimen (from test start to test end)
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Anhang A. (informativ) Annex A. (informative)

A.1 Die ”4-Punkt-Messung” A.1 The ”4-Point Measurement”
A.1.2 Beschreibung einer 4-Punkt-Messung A.1.2 Description of a 4-point Measurement

IM ≈ 0

hochohmige Spannungsmessung
high ohmic voltage measurement

konstante Stromquelle
constant current source

Bild A.1.1 Prinzip-Schaltbild 4-Punkt-Messung Figure A.1.1 Principle circuit diagram 4-point measurement

Eine 4-Punkt-Messung (auch 4-Leiter-Messung genannt)
dient zur genauen Erfassung von Widerständen ohne die Be-
einflussung von Zuleitungswiderständen oder Klemmenwi-
derständen bzw. deren Temperaturgängen.
Der Messaufbau ist stets wie in Bild A.1.2 dargestellt.
In den zu messenden Widerstand wird ein konstanter Gleich-
strom eingespeist (Strompfad). Möglichst nahe (siehe Ab-
schnitt 4.4.1) an dem zu messenden Widerstand wird beidsei-
tig jeweils ein Spannungsabgriff angebracht (Spannungs-
pfad).
A 4-point measurement (also referred to as 4-conductor
measurement) serves for the exact determination of resistors
(resistance values) without the influence from feed line
resistances of clamp resistances or their temperature inputs,
respectively.
The measuring setup shall be as shown in Figure A.1.2
A constant direct current is fed into the resistor subject to
testing (current path). Close to the resistor (see Figure 4.4.)
a voltage tap (voltage path) is applied on both sides.
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Ersatzwiderstand
Verbindung (Lötpunkt)
Equivalent resistor
Connection (solder spot)
R

RV
U-Umlauf
IM ≈ 0 U-circu-
lation
RL
Ersatzwiderstand Leitung
Equivalent resistor line

UMess

IK
Bild A.1.2 Ersatzschaltbild einer 4-Punkt-Messung Figure A.1.2 Equivalent circuit of a 4-point measurement

Hierbei ist darauf zu achten, dass die Einspeisung des Stroms
und der Abgriff des Spannungspfades nicht im einem gemein-
samen Punkt geschieht (z. B. nicht an demselben Lötpunkt).
Im Spannungspfad wird nun ein hochohmiges (MOhm) Span-
nungsmessgerät angeschlossen (d. h. im Spannungspfad
fließt bedingt durch das Messgerät nur ein Strom von I << mA
(dieser ist im Vergleich zum eingeprägten Strom in Strompfad
näherungsweise = 0).
Mit einem ”Spannungsumlauf” im Spannungspfad erhält man:
It shall be ensured that feed-in of the current and tapping of the
voltage path is not realized in one common point (e.g. not at
the same solder spot).
A high-ohmic voltage (MOhm) measuring device is then
connected in the voltage path (that means that now a current
of I << mA flows in the voltage path due to the measuring
device). This current is approximately 0 as compared to the
current fed into the current path.
A “voltage circulation” in the voltage path yields:

0 = --UMess + 2 • (IM • RL) + 2 • (IM • RV) + (IK • R)

Man erkennt, dass Leitungswiderstände oder Übergangswi-
derstände des Strompfads nicht in der Gleichung enthalten
sind und somit das Messergebnis nicht beeinflussen können.
Mit näherungsweise IM = 0 entfällt die Messverkabelung in-
klusive der Übergangswiderstände der Verbindungstechnik
des Spannungspfads und es folgt:
It shall be noticed that above equation does not contain line
resistances or transition resistances which can consequently
not influence the measuring result.
With approximately IM = 0, the measuring wiring including the
transition resistances of the connection technology of the
voltage paths is omitted, yielding:

UMess = IK • R
bzw. or

R = UMess / IK
Bild A.1.3 und Bild A.1.4 verdeutlichen die Schaltung der Figure A.1.3 and Figure A.1.4 illustrate the wiring of the
4-Punkt-Messung mit beidseitig beschichtetem Platinen- 4-point measurement with PCB-comb (yellow) coated on both
kamm (gelb). sides.
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RLtg Rcrimp ROben

RKontakt RUnten

UMess

IK
Bild A.1.3 Ersatzschaltbild der 4-Punkt-Messung mit Plati- Figure A.1.3 Equivalent circuit of the 4-point measurement
nen-Kamm with PCB-board

ROben
RLtg Rcrimp RKontakt

RUnten
U-Umlauf
IM ≈ 0 U-circu-
lation
RL

UMess

IK
Bild A.1.4 Ersatzschaltbild der 4-Punkt-Messung mit Plati- Figure A.1.4 Equivalent circuit of the 4-point measurement
nen-Kamm with PCB-comb

A.1.3 Mögliche Fehler bei 4-Punkt-Messungen A.1.3 Possible “mistakes” at 4-point

measurement
Es gibt folgende Fehlermöglichkeiten beim Aufbau und Be- At the installation and operation of the 4-point measurement
trieb von 4-Punkt-Messungen, die sich auf das Messergebnis the following mistakes can be made. These may effect the
auswirken können. measuring result.

A.1.3.1 Gemeinsamer U-Lötpunkt und I-Lötpunkt A.1.3.1 Common U solder spot and I solder spot
Der Spannungsumlauf ergibt nun: The voltage circulation now yields:

0 = --UMess + 2 • (IM • RL) + 2 • (IK • RV) + (IK • R)

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Mit IM = 0 folgt: IM = 0 yields:

UMess = IK • (R + 2 • RV)
bzw. or

R = UMess / IK -- 2 • RV
D. h. die Verbindung der Messleitungen, deren Betrag des Wi- i.e. the connection of the measuring lines, for which the
derstands nicht bekannt ist, geht direkt in das Messergebnis resistance value is not known, does flow directly into the
ein. measuring result.
⇒Das Messergebnis UMess ist zu groß und kann sich wäh- ⇒Thea measured result UMeas is too large and may change
rend der Messzeit ändern (Standardabweichung vergrößert during the measuring time (standard deviation increases).
sich).

RV RV
RV
IM ≈ 0 U-Umlauf
U-circul.
RL

UMess

IK
Bild A.1.5 Ersatzschaltbild mit gemeinsamen Lötpunkt Figure A.1.5 Equivalent diagram with common solder spot

Detail X und Y siehe Bild A.1.6. Gleiches gilt für eine ”ge- Detail X and Y see Figure A1.6 The same applies to a “cut line”
schnittene Leitung” zu dem zu messenden Widerstand. relative to the resistor (resistance) to be measured.

Lötpunkt
Lötpunkt Solder spot
Solder spot

Geschnittene Leitung
Cut line

Bild A.1.6 Detailansichten aus Bild A.1.5 Figure A.1.6 Detail views from Figure A1.5

A.1.3.2 Widerstände im Spannungspfad zu groß
Betrifft üblicherweise die Spannungsabgriffe RV (z. B. Löt-
punkt), die sich während der Messzeit verändern können. Ein
gravierender Messfehler tritt dann auf, wenn sich RV in die
gleiche Größenordnung wie der Eingangswiderstand des U-
Messgerätes (hochohmiger Spannungsteiler) entwickelt.
Bei Verwendung von U-Messgeräten mit Eingangswiderstän-
den ≥ 1 MΩ sind diese Effekte vernachlässigbar bis RV < 1 kΩ
(siehe Abschnitt 4.2.4).
A.1.3.3 Widerstände im Strompfad lassen Kon-
stantstrom ”zusammenbrechen”
Betrifft meistens die Stromabgriffe RV (z. B. Lötpunkt) oder ei-
nen während der Messzeit auffälligen Probanden. Es emp-
fiehlt sich, die Messdaten des eingespeisten Konstantstroms
I öfters zu kontrollieren. Bei einer Unterbrechung oder einem
unkontrollierbaren Probanden kann eine Messreihe ”gerettet”
werden, indem man die Unterbrechung oder die Probe an ge-
eigneter Stelle mit einem geeigneten Widerstand (z. B. 1 Ω
Drahtwiderstand) überbrückt. Eine Qualifikationsprüfung
kann sofort beendet werden.
A.1.3.4 Einteilige und zweiteilige Kontaktlamellen
Einteilige Lamelle
Single-part lamellae
Zweiteilige Lamelle
Two-part lamellae
Bild A.1.7 Einteilige und zweiteilige Kontaktlamellen
Bei der Prüfung von Kontakten, deren obere und untere La-
melle durch einen einzigen Blechstreifen ausgebildet sind,
kann die Reihenfolge für die Beschaltung von Stromabgriff
und Spannungsabgriff am Platinenkamm prinzipiell beliebig
gewählt werden.
Werden dagegen Kontakte geprüft, bei denen die Kontaktnor-
malkraft durch 2 unterschiedliche Materialien gebildet wird
(ggf. mit unterschiedlichen Leitwerten), so ist der Spannungs-
abgriff an der Seite vorzunehmen, die durch den Kontaktkör-
per ausgeprägt ist (i. d. R. das besser leitfähige Material). Der
Strom, der auf der anderen Seite eingespeist wird, muss in
diesem Fall nicht nur gemessen und kontrolliert werden, son-
dern es muss auch die Spannung der Stromquelle aufge-
zeichnet werden, um zu erkennen, ob die Stromquelle an der
Grenze ihrer Leistungsfähigkeit ist.
Durch diesen Aufbau kann der Strom -- als quasi unsichere
Größe -- über die ganze Messzeit nachträglich kontrolliert
werden; bei der Spannung ist dies nicht möglich.
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A.1.3.2 Excessive resistance in voltage path
Does usually affect the voltage taps RV (e.g. solder spot) with
potential to change during measuring. A significant measuring
error occurs if RV develops itself into the same dimension as
the input resistance of the voltage (U) measuring device
(high-ohmic voltage divider).
When voltage (U) measuring devices are used with input
resistances ≥ 1 MΩ these effects are negligible up to RV < 1 kΩ
(see Subsection 4.2.4).
A.1.3.3 Resistors (resistances) in the current path
let “collapse” constant current
Affects usually the current taps RV (e.g. solder spot) or a
specimen with distinctive behavior while measuring. It is
recommended to check the measuring data of the fed
constant current I frequently. In case of an interruption or an
uncontrolled specimen a test series may be “saved” by
bridging the interruption or the specimen at an appropriate
location with a suitable resistor (e.g. 1 Ω wire resistor).
A.1.3.4 Single-part and two-part contact lamellae
U- oder I-Abgriff
U- or I-tap
I- oder U-Abgriff
U- or I-tap
I-Abgriff
I-tap
U-Abgriff
U-tap
Figure A.1.7 Single-part and two-part contact lamellae
When testing contacts of which the upper and lower lamellae
are made up of a single sheet metal strip the sequence for the
wiring of the current tap and the voltage tap on the PCB comb
connector may be selected arbitrarily.
If, in contrast, contacts are tested at which the normal contact
force is established by 2 different materials (probably with
different conductance) the voltage tap shall be realized at the
side profiled by the contact body (usually the material with
better conductivity). In this case, the current fed-in on the
other side shall not only be measured and checked but the
voltage of the current source shall be recorded in order to
detect whether the current source is at the limit of its rating.
This setup allows for a subsequent check of the curent -- as
quasi uncertain paramter -- over the entire measuring time,
whereas “voltage” does not allow for this.