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DIN 50022:2007-11

Inhalt

Seite

Vorwort ........................................................................................................................................................... 3
Einleitung........................................................................................................................................................ 3
1 Anwendungsbereich ........................................................................................................................ 4
2 Normative Verweisungen................................................................................................................. 4
3 Prüfeinrichtung ................................................................................................................................. 4
3.1 Aufbau der Messzelle ....................................................................................................................... 4
3.2 Zusammensetzung der Testlösung ................................................................................................ 5
4 Anforderungen .................................................................................................................................. 6
5 Probenahme ...................................................................................................................................... 6
6 Faktoren, die die Messgenauigkeit beeinflussen .......................................................................... 6
6.1 Elektrolyt............................................................................................................................................ 6
6.2 Konditionierung ................................................................................................................................ 6
6.3 Ni-Ablagerungen ............................................................................................................................... 6
6.4 Oberflächensauberkeit..................................................................................................................... 6
6.5 Anpressdruck.................................................................................................................................... 6
6.6 Elektrischer Kontakt ......................................................................................................................... 7
6.7 Vollständige Ablösung..................................................................................................................... 7
7 Durchführung .................................................................................................................................... 7
7.1 Allgemeines....................................................................................................................................... 7
7.2 Messung ............................................................................................................................................ 7
7.3 Auswertung ....................................................................................................................................... 7
8 Messunsicherheit............................................................................................................................ 11
9 Prüfbericht....................................................................................................................................... 11
Literaturhinweise ......................................................................................................................................... 12

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 DIN 50022:2007-11

Vorwort
Diese Norm wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-01-61 AA „Mess- und Prüfverfahren für metallische und
andere anorganische Überzüge“ des Normenausschusses Materialprüfung (NMP) ausgearbeitet.

Einleitung
Die Abkürzung STEP-Test steht für den Begriff „Simultaneous Thickness and Electrode Potential deter-
mination“.

Mit dem STEP-Test können die für den Korrosionsverlauf in einem Nickel-Mehrfachschichtsystem relevanten
Parameter (Schichtdicken der einzelnen Nickelschichten und deren Potentialdifferenzen untereinander) in
einem Arbeitsschritt gemessen und — bei Verwendung geeigneter Geräte — dokumentiert werden.

Der Test ist eine Modifikation der bekannten coulometrischen Methode zur Schichtdickenmessung. Hierbei
macht man sich die Tatsache zu Nutze, dass nach dem anodischen Ablösen einer Nickelschicht ein
Potentialsprung erfolgt, dessen Größe gegen eine Referenzelektrode gemessen werden kann.

Obwohl der STEP-Test inzwischen in etliche Werksnormen, insbesondere der Automobilindustrie,

aufgenommen wurde, liegen bislang keine einheitlichen und allgemein anerkannten Werte für die
Potentialdifferenzen vor. Derzeit geht man bei Doppelnickelüberzügen von Werten zwischen 80 mV und
150 mV aus, wobei der Halbglanznickelüberzug gegenüber dem Glanznickelüberzug immer der edlere ist.

Auch für die Potentialdifferenz zwischen Glanznickelüberzug und vorhandenen Spezialnickelüberzügen (z. B.
bei der mikroporigen Verchromung) liegen bislang keine verbindlichen Zahlenwerte vor. Nach derzeit
vorliegenden praktischen Erfahrungen liegt die Potentialdifferenz zwischen etwa 20 mV und 60 mV, wobei der
Glanznickelüberzug unedler sein muss als der Spezialnickelüberzug.

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DIN 50022:2007-11

1 Anwendungsbereich
Diese Norm gilt zur Messung der Schichtdicken der einzelnen Nickelschichten in galvanisch abgeschiedenen
Mehrfach-Nickelschichtsystemen sowie zur Messung der Potentialdifferenzen zwischen den einzelnen
Nickelschichten in galvanisch abgeschiedenen Mehrfach-Nickelschichtsystemen.

Die Messung anderer Schichten oder Schichtsysteme als galvanisch abgeschiedene Mehrfach-Nickelschicht-
systeme gehören nicht zum Anwendungsbereich dieser Norm.

2 Normative Verweisungen
Die folgenden zitierten Dokumente sind für die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten
Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte
Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschließlich aller Änderungen).

E DIN 53100, Metallische Überzüge — Galvanische Nickel-Chrom- und Kupfer-Nickel-Chrom-Überzüge auf

Kunststoffen

DIN EN 12540, Galvanische Nickel-Überzüge und Nickel-Chrom-Überzüge, Kupfer-Nickel-Überzüge und

Kupfer-Nickel-Chrom-Überzüge

DIN EN ISO 2177, Metallische Überzüge — Schichtdickenmessung — Coulometrisches Verfahren durch

anodisches Ablösen

DIN ISO 2859-1, Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler
(Attributprüfung) — Teil 1: Nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) geordnete Stichprobenpläne für
die Prüfung einer Serie von Losen

DIN ISO 2859-2, Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler
(Attributprüfung) — Nach der zurückweisenden Qualitätsgrenzlage (LQ) geordnete Stichprobenanweisungen
für die Prüfung einzelner Lose anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten

DIN ISO 3696, Wasser für analytische Zwecke — Anforderungen und Prüfungen

3 Prüfeinrichtung

3.1 Aufbau der Messzelle

Bild 1 zeigt zwei Beispiele für den typischen schematischen Aufbau einer Messzelle zur gleichzeitigen
Bestimmung von Schichtdicken und Potentialdifferenzen in Nickel-Mehrfachschichtsystemen. Die Zellen
unterscheiden sich in der Realisierung der Referenzelektrode. In Bild 1 a) ist die Referenzelektrode ein mit
Silberchlorid überzogener Silberdraht am Rand der Messzelle, in Bild 1 b) ein mit Silberchlorid überzogener
Silberring am Boden der Messzelle. Unabhängig von der konkreten Realisierung der Referenzelektrode liefern
beide Varianten im Rahmen der Messunsicherheit für die Potentialdifferenzmessung und (nach durchge-
führter Kalibrierung) für die Schichtdickenmessung das gleiche Ergebnis.

ANMERKUNG 1 Der in Bild 1 b) als Referenzelektrode verwendete Silberring hat den Vorteil, dass das sonst notwendige
Justieren des Silberdrahtes entfällt, wodurch genauere und reproduzierbarere Ergebnisse erzielt werden.
3
ANMERKUNG 2 Das umgewälzte Volumen der Elektrolytlösung beträgt typischerweise einige 100 mm je Sekunde.

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 DIN 50022:2007-11

a) Messzelle mit Silberdraht, überzogen mit AgCl, b) Messzelle mit Silberring, überzogen mit AgCl
als Referenzelektrode an der Elektrolytbenetzung,
als Referenzelektrode
Legende
1 Pumpe
2 Messgerät (mit Konstantstromquelle und Spannungsmesser)
3 Referenzelektrode
4 mit Elektrolyt benetzte Elektrodenoberfläche
5 Ablöseelektrolyt
6 Gegenelektrode (Kathode)
7 Dichtung
8 Arbeitselektrode (Anode, Messobjekt mit Nickelschichtsystem)

Bild 1 — Typische schematische Aufbauten einer Messzelle

3.2 Zusammensetzung der Testlösung

Nickelchlorid-Hexahydrat (NiCl2 · 6 H2O) 300 g/l

Natriumchlorid (NaCl) 50 g/l

Borsäure (H3BO3) 25 g/l

pH-Wert 3,0

Wasser der Qualität 3 nach DIN ISO 3696

ANMERKUNG Der pH-Wert sollte möglichst genau eingehalten werden. Er wird bei Bedarf mit verdünnter Salzsäure
oder Natronlauge eingestellt.

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DIN 50022:2007-11

4 Anforderungen
Die Geometrie der zu prüfenden Teile muss so beschaffen sein, dass die Messzelle an dem jeweils zu
messenden Punkt flüssigkeitsdicht auf die Oberfläche aufgesetzt werden kann.

Die zu messende Oberfläche muss zuvor in geeigneter Weise entchromt und aktiviert werden (z. B. in
chemisch reiner, konzentrierter Salzsäure). Bei der Auswahl der Entchromungs- und Aktivierungsverfahren ist
darauf zu achten, dass der Nickelüberzug nicht sichtbar angegriffen wird.

5 Probenahme
Die Entnahme von Produktionsteilen für die notwendigen Qualitätsprüfungen erfolgt nach DIN ISO 2859-1 und
DIN ISO 2859-2. Die tolerierbare Fehlerquote wird vom Auftraggeber festgelegt.

6 Faktoren, die die Messgenauigkeit beeinflussen

6.1 Elektrolyt

Jede Messung ist mit frischem Elektrolyt durchzuführen. Gebrauchter Elektrolyt kann zu einer Verfälschung
des Messergebnisses führen.

6.2 Konditionierung

Neue oder längere Zeit unbenutzte Referenzelektroden müssen vor dem Gebrauch konditioniert werden
(Erzeugung einer Silberchloridschicht an der Elektrodenoberfläche). Eine fehlende oder mangelhafte
Konditionierung führt zu verfälschten bzw. untypischen Messverläufen, die nicht korrekt auswertbar sind. Die
Konditionierung und eine eventuell notwendige Reinigung werden entsprechend der Angaben des
Geräteherstellers durchgeführt.

ANMERKUNG Die Überprüfung der Qualität der Konditionierung erfolgt mithilfe von Vergleichsmessungen an
Referenznormalen mit bekannter Potentialdifferenz und Schichtdicke.

6.3 Ni-Ablagerungen

Infolge wiederholter Messungen lagert sich allmählich Ni an der Kathodenoberfläche ab. Ab einer bestimmten
Dicke können sich diese Ni-Ablagerungen von der Kathode lösen und sich als „Flocken“ im Elektrolyt
bewegen, was zu stark verrauschten Messkurven und fehlerhafter Auswertung führt. Ni-Ablagerungen
müssen deshalb rechtzeitig von der Kathodenoberfläche entfernt werden (mechanisch oder bei hartnäckigen
Ablagerungen chemisch).

6.4 Oberflächensauberkeit

Zur Realisierung eines gleichmäßigen Ablöseprozesses über die gesamte Messfläche muss die Oberfläche
des Prüflings frei von Verunreinigungen und Oxidschichten sein (siehe auch Abschnitt 4).

6.5 Anpressdruck

Der Anpressdruck der Messzelle auf den Prüfling muss ausreichend groß sein, um ein leckfreies Abdichten
der Zelle zur Probenoberfläche zu ermöglichen. Ein zu großer Druck kann andererseits zu einer Reduzierung
der aktiven Ablösefläche führen (Zunahme der Dichtungsfläche gegenüber einer vorherigen Kalibrierung),
wodurch Messfehler verursacht werden. Entsprechende Herstellervorgaben sind beim Aufsetzen der
Messzelle zu beachten.

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 DIN 50022:2007-11

6.6 Elektrischer Kontakt

Bei den elektrischen Verbindungen der Anlage sind gute Kontakte sicherzustellen. Insbesondere mangelnde
Sauberkeit oder Korrosion der Kontaktflächen führt zu erhöhten Übergangswiderständen, die in stark
verrauschten Messverläufen resultieren können.

6.7 Vollständige Ablösung

Für eine korrekte Schichtdickenmessung muss nach Abschluss der Messung die letzte Ni-Schicht vollständig
vom Grundmaterial abgelöst sein. Das ist nach dem Entfernen der Messzelle visuell zu überprüfen (ggf. mit
optischen Hilfsmitteln). Sind noch Ni-Reste nachweisbar und damit der Ablöseprozess unvollständig, ist die
Messung zu verwerfen.

7 Durchführung

7.1 Allgemeines

Nickel kann sowohl aus zusatzfreien Bädern als matter oder halbglänzender Überzug oder aus zusatzhaltigen
Bädern mit unterschiedlichen Eigenschaften hinsichtlich Glanz, Einebnung, Duktilität, Härte, innerer
Spannung, Porosität, Abriebfestigkeit usw. abgeschieden werden. Die Zusätze verändern die Struktur des
Niederschlages und werden zum Teil als solche, zum Teil in Form ihrer Abbauprodukte mit eingebaut.

Struktur und Zusammensetzung äußern sich in einer bestimmten Aktivität des Nickelniederschlages, die
durch stationäre elektrochemische Messungen bestimmt werden kann.

Die Schichtdicken werden beim STEP-Test durch Messung der Ablösezeit bestimmt, wobei die
Schichtdickenberechnung nach DIN EN ISO 2177 erfolgt. Die Auflösungspotentiale der unterschiedlichen
Nickelüberzugstypen werden durch Messung der elektrischen Spannung zwischen Referenzelektrode und
Anode (Prüfling) erhalten.

ANMERKUNG 1 Bei beiden Messungen wird durch Vorgabe eines konstanten Ablösestroms eine gleichmäßige
Ablösegeschwindigkeit realisiert.

ANMERKUNG 2 Bei den meisten handelsüblichen Geräten wird die abgelöste Schichtdicke automatisch aus der
Ablösezeit berechnet und die gemessenen Potentialkurven als Funktion der Schichtdicke [µm] zur Erleichterung der
Auswertung angezeigt.

7.2 Messung

Das zuvor in geeigneter Weise entchromte und aktivierte Werkstück (siehe Abschnitt 4 bzw. 6.2 und 6.4) wird
entsprechend Bild 1 a) bzw. 1 b) unter der Messzelle positioniert und von unten flüssigkeitsdicht gegen die
Dichtung gepresst (beachte 6.5). Nach dem Befüllen der Messzelle mit der Testlösung (siehe 3.2) sowie ggf.
dem Justieren der konditionierten Referenzelektrode wird entsprechend den Vorgaben des Geräteherstellers
gemessen.

Die Messgenauigkeit des Gerätes ist in regelmäßigen Abständen mithilfe einer Kalibrierprobe zu überprüfen.

Die Kalibrierprobe liefert sowohl Kalibrierwerte für die einzelnen Schichtdicken eines Mehrfach-Nickelsystems
als auch die Potentialdifferenz zwischen den einzelnen Nickelschichten. Für Kontrollzwecke ist die
Gesamtdicke aller Nickelschichten angegeben (gemessen z. B. mit dem Röntgenfluoreszenz-Verfahren nach
DIN EN ISO 3497).

7.3 Auswertung

Die Bilder 2 und 4 zeigen typische Verläufe von Schichtdicke-Potentialkurven in Nickel-Mehrfachschicht-

systemen, in Bild 3 ist der dem Messverlauf in Bild 2 entsprechende Schichtaufbau schematisch dargestellt.

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DIN 50022:2007-11

Bild 2 — Gemessene Potential-Schichtdicken-Kurve für das Ni-Schichtsystem nach Bild 3,

Auswertung für die Bestimmung der Potentialdifferenzen

Legende
I mikroporiges Nickel
II Glanznickel
III Halbglanznickel
IV Grundwerkstoff (z. B. Messing, Cu, Kunststoff, Stahl)
a
Schichtdicke
b
Potentialdifferenz

Bild 3 — Schematische Darstellung des Schichtaufbaus für das Ni-Schichtsystem in Bild 2

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 DIN 50022:2007-11

Bild 4 — Gemessene Potential-Schichtdicken-Kurve für das Ni-Schichtsystem; (I) 2 µm mikroporiges

Ni; (II) 6 µm Glanznickel; (IIA) 2 µm hochschwefelhaltiges Ni; (III) 14 µm Halbglanznickel; (IV) (auf
Grundwerkstoff Messing), Auswertung für die Bestimmung der Potentialdifferenzen

Im Fall eines idealen Messverlaufes ergeben sich im Ablöseverlauf der einzelnen Nickelschichten jeweils
konstante Potentialverläufe (kein Anstieg). Im Fall der Kurvenverläufe der Bilder 2 bzw. 4 ist diese Situation
näherungsweise realisiert. Hier ist die zu ermittelnde Potentialdifferenz direkt die Differenz der jeweiligen
Potentialhöhen, die Wahl der Ablösetiefe zur Bestimmung der Potentialhöhe ist nahezu unerheblich.

In praktischen Messverläufen können zusätzliche leichte Driften eine vergleichbare Auswertung erschweren,
d. h. die Potentialhöhe variiert mit der Ablösetiefe. Um ein eindeutiges Ergebnis für die Potentialdifferenz zu
erhalten, ist nach folgender Auswertungsmethode zu verfahren (siehe Bild 5): Es wird der Übergangspunkt
zwischen dem ansteigenden (oder abfallenden) Potentialverlauf der Nickelschicht NiA und der anschließenden
Flanke des Übergangsbereiches bestimmt (Pfeil A). Ausgehend von diesem Punkt wird 2 µm in Richtung
kleinerer Schichttiefe an der Stelle dA der zugehörige Wert ϕA abgelesen. ϕA repräsentiert das Potential der
Nickelschicht NiA. Ausgehend vom folgenden Übergangspunkt zwischen der Flanke und dem sich
anschließenden ansteigenden (oder abfallenden) Potentialverlauf der Nickelschicht NiB (Pfeil B) wird 2 µm in
Richtung größerer Ablösetiefe an der Stelle dB die Potentialhöhe ϕB abgelesen. ϕB repräsentiert das Potential
der Nickelschicht NiB. Der Betrag der gesuchte Potentialdifferenz ϕΑΒ = | ϕA – ϕB | ergibt sich aus der
Differenz beider Potentiale.

Entsprechend dieser Herangehensweise sind die Marker in den Bildern 2 bzw. 4 zur Auswertung gesetzt. Im
Bild 2 ergibt sich beispielsweise die Potentialdifferenz zwischen dem mikroporigen Nickel (I) und dem
Glanznickel (II) aus der Differenz der Potentiale, die an den Stellen der Marker 1 bzw. 2 abgelesen werden,
die Potentialdifferenz zwischen dem Glanznickel (II) und dem Halbglanznickel (III) entsprechend aus der
Differenz der Potentiale, die an den Stellen der Marker 3 bzw. 4 abgelesen werden.

ANMERKUNG Falls die Dicke der betroffenen Ni-Schicht für die beschriebene Auswertung (2 µm Verschiebung) zu
klein ist (d < 2 ... 4 µm), wird das Potential in der Mitte des Potentialverlaufs bestimmt (z. B. Bild 2, Marker 1 sowie Bild 4,
Marker 1 und 4).

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Bild 5 — Schematische Darstellung der Bestimmung der Potentialdifferenz

zweier aufeinander folgender Nickelschichten mit Driftverhalten

Bild 6 zeigt die Herangehensweise zur Bestimmung der Schichtdicken. Als Auswertekriterium werden hier die
Flanken zwischen den Ablösebereichen der einzelnen Schichten benutzt. Auf halber Höhe der Flanken wird
die dazugehörige Ablösetiefe abgelesen. Die Differenz der Ablösetiefen, die zu zwei aufeinander folgenden
Flanken gehören, entspricht der Schichtdicke der eingeschlossenen Schicht. Im Beispiel des Bildes 6 ist die
Ablösetiefe der ersten Flanke die Schichtdicke des mikroporigen Nickels (I), die Differenz der Ablösetiefe der
Flanken 2 und 1 die Schichtdicke des Glanznickels (II) usw. Beim Übergang der untersten Nickelschicht (hier
Halbglanznickel (III)) zum Basismaterial wird die Differenz zu dem Punkt bestimmt, an welchem die
Messkurve beginnt, stark zu streuen (Marker 3). Ist das Basismaterial eine Kupferlegierung, beginnt die
Ablösekurve leicht anzusteigen. Im Falle einer Eisenlegierung als Basismaterial beginnt die Ablösekurve leicht
abzufallen. Bei Bedarf ist diese Position im Einzelfall konkret zu vereinbaren, um eindeutige Ergebnisse zu
erhalten.

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Bild 6 — Gemessene Potential-Schichtdicken-Kurve für das Ni-Schichtsystem nach Bild 3

(auf Grundwerkstoff Messing), Auswertung für die Schichtdickenbestimmung

ANMERKUNG Von einigen Herstellern wird eine entsprechende Software angeboten, die nach Festlegung der
Auswertepunkte an den Messkurven die resultierenden Potentialdifferenzen bzw. Schichtdicken automatisch berechnet
und dokumentiert.

8 Messunsicherheit
Die Messunsicherheit hängt wesentlich vom Umgang mit der Messeinrichtung ab (Abschnitt 6) sowie von den
Unsicherheiten der zur Kalibrierung verwendeten Normale. Mit handelsüblichen Messeinrichtungen lassen
sich für Potential- und Schichtdickenmessungen Unsicherheiten von etwa 10 % erreichen.

ANMERKUNG Eine vollständige Berechnung der Messunsicherheit sollte nach dem Leitfaden zur Angabe der
Unsicherheit beim Messen (GUM) erfolgen.

9 Prüfbericht
Von den Messergebnissen ist ein Prüfbericht anzufertigen. Dieser sollte folgende Punkte enthalten:

a) „Schichtdicken- und Potentialdifferenzmessung nach DIN 50022“;

b) Beschreibung des Werkstücks (einschließlich Grundmaterial);

c) Angabe des Aufbaus des Gesamtschichtsystems unter Nennung aller Einzelschichten nach
DIN EN 12540 (bzw. E DIN 53100);

d) Beschreibung des Entchromungsverfahrens sowie der Aktivierung der Nickelschicht;

e) Lage der Messpunkte (ggf. Zeichnung beifügen);

f) Angaben über die Größe der Ablösefläche (Durchmesser der Messzellendichtung) und die Größe des
Ablösestromes sowie der verwendeten Messgeräte;

g) Messergebnisse an den einzelnen Ablesepunkten oder der arithmetische Mittelwert mit der dazu-
gehörigen Streuung (nach Vereinbarung).

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Literaturhinweise

ASTM B 764, Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential Determination of
Individual Layers in Multilayer Nickel Deposits (STEP Test)

DIN 50960-1, Galvanische Überzüge — Teil 1: Bezeichnung in technischen Dokumenten

DIN 50960-2, Galvanische Überzüge — Teil 2: Zeichnungsangaben

DIN EN 1403, Korrosionsschutz von Metallen — Galvanische Überzüge — Verfahren für die Spezifizierung
allgemeiner Anforderungen

DIN EN 12508, Korrosionsschutz von Metallen und Legierungen — Oberflächenbehandlung, metallische und
andere anorganische Überzüge — Wörterbuch

DIN EN ISO 2064, Metallische und andere anorganische Schichten — Definitionen und Festlegungen, die die
Messung der Schichtdicke betreffen

DIN EN ISO 3497, Metallische Schichten — Schichtdickenmessung — Röntgenfluoreszenz-Verfahren

DIN EN ISO 3882, Metallische und andere anorganische Überzüge — Übersicht über Verfahren zur
Schichtdickenbestimmung

Neumaier, P.; Sauermann U.: Nach der Beschichtung — Messung von Mehrfachnickelschichten,
QZ 5/2004, Carl Hanser Verlag

Leitfaden zur Angabe der Unsicherheit beim Messen, 1. Auflage, 1995, Beuth Verlag GmbH Berlin, Wien,
Zürich

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